JPH11211772A - 電力機器のインパルス試験方法 - Google Patents
電力機器のインパルス試験方法Info
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- JPH11211772A JPH11211772A JP1247098A JP1247098A JPH11211772A JP H11211772 A JPH11211772 A JP H11211772A JP 1247098 A JP1247098 A JP 1247098A JP 1247098 A JP1247098 A JP 1247098A JP H11211772 A JPH11211772 A JP H11211772A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 時間波形の変化が僅かであっても供試器の良
否を判定可能であり、さらに該供試器に絶縁破壊が起き
た場合には絶縁破壊箇所の特定も可能とした電力機器の
インパルス試験方法を提供する。 【解決手段】 分圧器３およびシャント抵抗４により供
試器２における印加電圧および接地電流の時間波形を測
定し、続いて、デジタルメモリ５にて時間波形をデジタ
ル化して記憶し、さらに、コンピュータ６においてデジ
タル化された印加電圧および接地電流の時間波形をフー
リエ変換して２つの周波数特性９、１０を導き、これら
２つの周波数特性９、１０の比である伝達関数１１を求
める。そして、伝達関数１１の変化の有無に基づいて供
試器２の良否を判定する。
否を判定可能であり、さらに該供試器に絶縁破壊が起き
た場合には絶縁破壊箇所の特定も可能とした電力機器の
インパルス試験方法を提供する。 【解決手段】 分圧器３およびシャント抵抗４により供
試器２における印加電圧および接地電流の時間波形を測
定し、続いて、デジタルメモリ５にて時間波形をデジタ
ル化して記憶し、さらに、コンピュータ６においてデジ
タル化された印加電圧および接地電流の時間波形をフー
リエ変換して２つの周波数特性９、１０を導き、これら
２つの周波数特性９、１０の比である伝達関数１１を求
める。そして、伝達関数１１の変化の有無に基づいて供
試器２の良否を判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電力機器が規格に
定められた電圧に耐えることを確認するためのインパル
ス試験方法に関するものである。
定められた電圧に耐えることを確認するためのインパル
ス試験方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に、電力機器に対しては規格に定め
られた電圧に電力機器が耐えられるかどうかを確認する
ためにインパルス試験が行われている。このようなイン
パルス試験を行う場合、試験に供される供試器に対しイ
ンパルス電圧を印加するインパルスジェネレータ、印加
電圧の時間波形を測定する分圧器、さらには供試器接地
電流の時間波形を測定するシャント抵抗などが使用され
ている。ここで図９を参照して、インパルス試験方法の
従来例について具体的に説明する。
られた電圧に電力機器が耐えられるかどうかを確認する
ためにインパルス試験が行われている。このようなイン
パルス試験を行う場合、試験に供される供試器に対しイ
ンパルス電圧を印加するインパルスジェネレータ、印加
電圧の時間波形を測定する分圧器、さらには供試器接地
電流の時間波形を測定するシャント抵抗などが使用され
ている。ここで図９を参照して、インパルス試験方法の
従来例について具体的に説明する。
【０００３】図９はインパルス試験を行う際の回路図を
示している。電力機器である供試器１９にはインパルス
ジェネレータ１８および分圧器２０が接続されている。
インパルスジェネレータ１８とは多数のコンデンサを並
列に充電し、それらをいっせいに直列に接続することに
よって開閉サージなどの過電圧に匹敵する高電圧を人工
的に発生させる装置である。分圧器２０は供試器１９に
印加された印加電圧を分圧するものである。また、供試
器１９のアース側端子にはシャント抵抗２２が接続され
ており、これを通して接地されている。さらに、分圧器
２０およびシャント抵抗２２には時間波形を表示するた
めのオシロスコープ２１が接続されている。
示している。電力機器である供試器１９にはインパルス
ジェネレータ１８および分圧器２０が接続されている。
インパルスジェネレータ１８とは多数のコンデンサを並
列に充電し、それらをいっせいに直列に接続することに
よって開閉サージなどの過電圧に匹敵する高電圧を人工
的に発生させる装置である。分圧器２０は供試器１９に
印加された印加電圧を分圧するものである。また、供試
器１９のアース側端子にはシャント抵抗２２が接続され
ており、これを通して接地されている。さらに、分圧器
２０およびシャント抵抗２２には時間波形を表示するた
めのオシロスコープ２１が接続されている。
【０００４】以上のような機器を用いて、次のようなイ
ンパルス試験を行っている。まず、インパルスジェネレ
ータ１８が蓄えた電荷を供試器１９の端子に印加する。
この印加電圧を分圧器２０が分圧して供試器１９におけ
る印加電圧の時間波形を測定する。また、放電時にシャ
ント抵抗２２の両端に発生する電圧を測定することによ
り供試器１９における接地電流の時間波形を測定する。
ンパルス試験を行っている。まず、インパルスジェネレ
ータ１８が蓄えた電荷を供試器１９の端子に印加する。
この印加電圧を分圧器２０が分圧して供試器１９におけ
る印加電圧の時間波形を測定する。また、放電時にシャ
ント抵抗２２の両端に発生する電圧を測定することによ
り供試器１９における接地電流の時間波形を測定する。
【０００５】そして、分圧器２０およびシャント抵抗２
２が測定した時間波形をオシロスコープ２１にて表示す
る。このとき、測定された時間波形が前後の測定にて相
違の無ければ供試器１９に絶縁破壊が無いと判断し、反
対に、測定された時間波形が前後の測定にて変化してい
れば供試器１９に絶縁破壊があると判断することができ
る。さらに、上記のインパルス試験方法では時間波形が
変化したときに供試器１９の絶縁破壊を判定するので、
絶縁破壊が発生した時間も判断可能である。
２が測定した時間波形をオシロスコープ２１にて表示す
る。このとき、測定された時間波形が前後の測定にて相
違の無ければ供試器１９に絶縁破壊が無いと判断し、反
対に、測定された時間波形が前後の測定にて変化してい
れば供試器１９に絶縁破壊があると判断することができ
る。さらに、上記のインパルス試験方法では時間波形が
変化したときに供試器１９の絶縁破壊を判定するので、
絶縁破壊が発生した時間も判断可能である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記のイン
パルス試験方法は、印加電圧または接地電流の時間波形
が変化したことをオシロスコープ２１にて確認すること
により、供試器１９の絶縁破壊を把握している。そのた
め、時間波形の変化が僅かしか無い場合には、これを見
落としてしまうおそれがあった。また、時間波形の変化
に基づいて供試器１９の良否を判定する今までの試験方
法では、供試器１９の絶縁破壊の有無や絶縁破壊発生時
間は分かるものの、供試器１９における絶縁破壊箇所を
特定することは極めて困難であった。
パルス試験方法は、印加電圧または接地電流の時間波形
が変化したことをオシロスコープ２１にて確認すること
により、供試器１９の絶縁破壊を把握している。そのた
め、時間波形の変化が僅かしか無い場合には、これを見
落としてしまうおそれがあった。また、時間波形の変化
に基づいて供試器１９の良否を判定する今までの試験方
法では、供試器１９の絶縁破壊の有無や絶縁破壊発生時
間は分かるものの、供試器１９における絶縁破壊箇所を
特定することは極めて困難であった。
【０００７】本発明は、上記の問題点を解消するために
提案されたものであり、その目的は、時間波形の変化が
僅かであって供試器の良否を判定可能であり、さらに該
供試器に絶縁破壊が起きた場合には絶縁破壊箇所の特定
も可能とした電力機器のインパルス試験方法を提供する
ことにある。
提案されたものであり、その目的は、時間波形の変化が
僅かであって供試器の良否を判定可能であり、さらに該
供試器に絶縁破壊が起きた場合には絶縁破壊箇所の特定
も可能とした電力機器のインパルス試験方法を提供する
ことにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項１の発明は、電力機器である供試器にイン
パルス電圧を印加するインパルスジェネレータと、前記
供試器に印加された印加電圧を分圧して前記供試器にお
ける印加電圧の時間波形を測定する分圧器と、前記供試
器を接地して前記供試器における接地電流の時間波形を
測定するシャント抵抗と、前記分圧器および前記シャン
ト抵抗が測定した時間波形をデジタル化して記憶するデ
ジタルメモリと、このデジタルメモリ内のデータを取込
んで演算処理するコンピュータとを用いた電力機器のイ
ンパルス試験方法であって、まず、前記分圧器および前
記シャント抵抗により前記供試器における印加電圧およ
び接地電流の時間波形を測定し、続いて、前記デジタル
メモリにて前記時間波形をデジタル化して記憶し、さら
に、前記コンピュータにおいてデジタル化された前記印
加電圧および前記接地電流の時間波形をフーリエ変換し
て２つの周波数特性を導き、これら２つの周波数特性の
比である伝達関数を求めることを特徴とする。
めに、請求項１の発明は、電力機器である供試器にイン
パルス電圧を印加するインパルスジェネレータと、前記
供試器に印加された印加電圧を分圧して前記供試器にお
ける印加電圧の時間波形を測定する分圧器と、前記供試
器を接地して前記供試器における接地電流の時間波形を
測定するシャント抵抗と、前記分圧器および前記シャン
ト抵抗が測定した時間波形をデジタル化して記憶するデ
ジタルメモリと、このデジタルメモリ内のデータを取込
んで演算処理するコンピュータとを用いた電力機器のイ
ンパルス試験方法であって、まず、前記分圧器および前
記シャント抵抗により前記供試器における印加電圧およ
び接地電流の時間波形を測定し、続いて、前記デジタル
メモリにて前記時間波形をデジタル化して記憶し、さら
に、前記コンピュータにおいてデジタル化された前記印
加電圧および前記接地電流の時間波形をフーリエ変換し
て２つの周波数特性を導き、これら２つの周波数特性の
比である伝達関数を求めることを特徴とする。
【０００９】以上のような請求項１の発明では、デジタ
ルメモリにてデジタル化された印加電圧および接地電流
の時間波形に基づいてコンピュータが伝達関数を求める
ので、時間波形の変化が僅かであっても、伝達関数の変
化としてこれを正確に把握することができる。時間波形
が変化した場合、供試器の内部で絶縁破壊が起きたとす
ると供試器の等価回路が変化するため伝達関数が変化す
る。これに対して、供試器の外部で絶縁破壊が起きても
供試器の等価回路には変化が無いため伝達関数は変化し
ない。このような関係から、伝達関数の変化した場合は
供試器の内部で絶縁破壊が起きていることが分かる。す
なわち、請求項１の発明においては、伝達関数の変化か
ら絶縁破壊の有無を確認することができ、これにより供
試器の良否を確実に判定することができる。
ルメモリにてデジタル化された印加電圧および接地電流
の時間波形に基づいてコンピュータが伝達関数を求める
ので、時間波形の変化が僅かであっても、伝達関数の変
化としてこれを正確に把握することができる。時間波形
が変化した場合、供試器の内部で絶縁破壊が起きたとす
ると供試器の等価回路が変化するため伝達関数が変化す
る。これに対して、供試器の外部で絶縁破壊が起きても
供試器の等価回路には変化が無いため伝達関数は変化し
ない。このような関係から、伝達関数の変化した場合は
供試器の内部で絶縁破壊が起きていることが分かる。す
なわち、請求項１の発明においては、伝達関数の変化か
ら絶縁破壊の有無を確認することができ、これにより供
試器の良否を確実に判定することができる。
【００１０】請求項２の発明は、請求項１記載の電力機
器のインパルス試験方法において、前記供試器に絶縁破
壊が起きた場合、前記コンピュータにおいて絶縁破壊が
起きた時間以降の時間波形のみから前記伝達関数を求め
ることを特徴とする。
器のインパルス試験方法において、前記供試器に絶縁破
壊が起きた場合、前記コンピュータにおいて絶縁破壊が
起きた時間以降の時間波形のみから前記伝達関数を求め
ることを特徴とする。
【００１１】以上のような請求項２の発明では、供試器
に絶縁破壊が起きた場合に、時間波形全体から伝達関数
を計算するのではなく、絶縁破壊が起きた時間以降の時
間波形のみから伝達関数を求めるので、絶縁破壊前後に
おける伝達関数の合成を防いで、供試器の等価回路に変
化させたときの正確な伝達関数のみを導くことができ
る。したがって、この伝達関数から供試器の絶縁破壊箇
所を特定することが可能となる。
に絶縁破壊が起きた場合に、時間波形全体から伝達関数
を計算するのではなく、絶縁破壊が起きた時間以降の時
間波形のみから伝達関数を求めるので、絶縁破壊前後に
おける伝達関数の合成を防いで、供試器の等価回路に変
化させたときの正確な伝達関数のみを導くことができ
る。したがって、この伝達関数から供試器の絶縁破壊箇
所を特定することが可能となる。
【００１２】請求項３の発明は、請求項１または２記載
の電力機器のインパルス試験方法において、任意の電圧
を前記供試器に印加したときの電流時間波形を、前記伝
達関数から計算することを特徴とする。
の電力機器のインパルス試験方法において、任意の電圧
を前記供試器に印加したときの電流時間波形を、前記伝
達関数から計算することを特徴とする。
【００１３】以上の請求項３の発明では、伝達関数が計
算されていれば、任意の電圧における時間波形をフーリ
エ変換して周波数応答を計算し、これを伝達関数とかけ
あわせて得られた周波数特性を逆フーリエ変換すること
により、任意の電圧を供試器に印加したときの電流の時
間波形を、実際に測定することなく、計算から求めるこ
とができ、きめ細かなインパルス試験を簡単に行うこと
が可能である。
算されていれば、任意の電圧における時間波形をフーリ
エ変換して周波数応答を計算し、これを伝達関数とかけ
あわせて得られた周波数特性を逆フーリエ変換すること
により、任意の電圧を供試器に印加したときの電流の時
間波形を、実際に測定することなく、計算から求めるこ
とができ、きめ細かなインパルス試験を簡単に行うこと
が可能である。
【００１４】請求項４の発明は、請求項１または２記載
の電力機器のインパルス試験方法において、任意の電流
を前記供試器に印加したときの電圧時間波形を、前記伝
達関数から計算することを特徴とする。
の電力機器のインパルス試験方法において、任意の電流
を前記供試器に印加したときの電圧時間波形を、前記伝
達関数から計算することを特徴とする。
【００１５】以上の請求項４の発明では、上記請求項３
の発明と同様、伝達関数が計算されていれば、任意の電
流における時間波形をフーリエ変換して周波数応答を計
算し、これを伝達関数とかけあわせて得られた周波数特
性を逆フーリエ変換することにより、任意の電流を供試
器に印加したときの電圧の時間波形を実際に測定するの
ではなく、計算により導くことができる。
の発明と同様、伝達関数が計算されていれば、任意の電
流における時間波形をフーリエ変換して周波数応答を計
算し、これを伝達関数とかけあわせて得られた周波数特
性を逆フーリエ変換することにより、任意の電流を供試
器に印加したときの電圧の時間波形を実際に測定するの
ではなく、計算により導くことができる。
【００１６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図１〜図９を参照して詳細に説明する。本実施形態
は請求項１および２を包含するものであり、図１は本実
施形態における回路図を示している。
て、図１〜図９を参照して詳細に説明する。本実施形態
は請求項１および２を包含するものであり、図１は本実
施形態における回路図を示している。
【００１７】（１）インパルス試験に用いる機器 図１に示すように、供試器２にはインパルスジェネレー
タ１および分圧器３が接続されており、供試器２のアー
ス側端子にはシャント抵抗４が接続されている。また、
分圧器３およびシャント抵抗４にはデジタルメモリ５が
接続されている。デジタルメモリ５は分圧器３およびシ
ャント抵抗４が測定した時間波形をデジタル化して記憶
するものである。さらに、デジタルメモリ５にはデジタ
ルメモリ５内のデータを取込んで演算処理するコンピュ
ータ６が接続されている。
タ１および分圧器３が接続されており、供試器２のアー
ス側端子にはシャント抵抗４が接続されている。また、
分圧器３およびシャント抵抗４にはデジタルメモリ５が
接続されている。デジタルメモリ５は分圧器３およびシ
ャント抵抗４が測定した時間波形をデジタル化して記憶
するものである。さらに、デジタルメモリ５にはデジタ
ルメモリ５内のデータを取込んで演算処理するコンピュ
ータ６が接続されている。
【００１８】（２）インパルス試験方法 以上のような機器を用いて、次のようなインパルス試験
を行っている。まず、インパルスジェネレータ１が蓄え
た電荷を供試器２の端子に印加し、この印加電圧を分圧
器３が分圧して供試器２における印加電圧の時間波形を
測定する。また、放電時にシャント抵抗４の両端に発生
する電圧を測定することにより供試器２における接地電
流の時間波形を測定する。ここまでは従来の試験方法と
同じである。
を行っている。まず、インパルスジェネレータ１が蓄え
た電荷を供試器２の端子に印加し、この印加電圧を分圧
器３が分圧して供試器２における印加電圧の時間波形を
測定する。また、放電時にシャント抵抗４の両端に発生
する電圧を測定することにより供試器２における接地電
流の時間波形を測定する。ここまでは従来の試験方法と
同じである。
【００１９】本実施形態の特徴は次の点にある。すなわ
ち、分圧器３およびシャント抵抗４により供試器２にお
ける印加電圧および接地電流の時間波形を測定した後、
デジタルメモリ５にてこれらの時間波形をデジタル化し
て記憶する。図２および図３はデジタルメモリ５に記憶
された電圧の時間波形７および電流の時間波形８を示し
ている。
ち、分圧器３およびシャント抵抗４により供試器２にお
ける印加電圧および接地電流の時間波形を測定した後、
デジタルメモリ５にてこれらの時間波形をデジタル化し
て記憶する。図２および図３はデジタルメモリ５に記憶
された電圧の時間波形７および電流の時間波形８を示し
ている。
【００２０】続いてコンピュータ６において、デジタル
化された印加電圧および接地電流の時間波形７、８をフ
ーリエ変換して、電圧周波数特性９および電流周波数特
性１０（共に図４に図示）を導き、これら２つの周波数
特性９、１０の比である伝達関数１１（図５に図示）を
求めるようになっている。この伝達関数１１には供試器
２の等価回路により決まる共振周波数にピーク１２が現
れるようになっている。また、本実施形態では、供試器
２に絶縁破壊が起きたと判定される場合、コンピュータ
６において絶縁破壊が起きた時間以降の時間波形のみか
ら伝達関数を求めるようになっている。
化された印加電圧および接地電流の時間波形７、８をフ
ーリエ変換して、電圧周波数特性９および電流周波数特
性１０（共に図４に図示）を導き、これら２つの周波数
特性９、１０の比である伝達関数１１（図５に図示）を
求めるようになっている。この伝達関数１１には供試器
２の等価回路により決まる共振周波数にピーク１２が現
れるようになっている。また、本実施形態では、供試器
２に絶縁破壊が起きたと判定される場合、コンピュータ
６において絶縁破壊が起きた時間以降の時間波形のみか
ら伝達関数を求めるようになっている。
【００２１】（３）作用効果 以上のような本実施形態における作用効果は次の通りで
ある。すなわち、デジタルメモリ５にてデジタル化され
た印加電圧および接地電流の時間波形７、８に基づい
て、コンピュータ６が伝達関数１１を求めるので、時間
波形７、８の変化が僅かであっても、伝達関数１１の変
化となって現れることになり、これを正確に把握するこ
とができる。前述したように、時間波形が変化した場
合、供試器２内部で絶縁破壊が起きていれば供試器２の
等価回路が変化するため伝達関数１１が変化する。した
がって、伝達関数１１が変化した場合は供試器２内部で
絶縁破壊が起きているということになる。以上のような
本実施形態によれば、伝達関数１１の変化の有無により
供試器２の良否を確実に判定することができる。
ある。すなわち、デジタルメモリ５にてデジタル化され
た印加電圧および接地電流の時間波形７、８に基づい
て、コンピュータ６が伝達関数１１を求めるので、時間
波形７、８の変化が僅かであっても、伝達関数１１の変
化となって現れることになり、これを正確に把握するこ
とができる。前述したように、時間波形が変化した場
合、供試器２内部で絶縁破壊が起きていれば供試器２の
等価回路が変化するため伝達関数１１が変化する。した
がって、伝達関数１１が変化した場合は供試器２内部で
絶縁破壊が起きているということになる。以上のような
本実施形態によれば、伝達関数１１の変化の有無により
供試器２の良否を確実に判定することができる。
【００２２】また、本実施形態によれば、供試器２に絶
縁破壊が起きた場合、時間波形全体から伝達関数を計算
するのではなく、絶縁破壊が起きた時間以降の時間波形
のみから伝達関数を求めている。これにより、供試器２
に絶縁破壊が起きた場合の絶縁破壊箇所を特定すること
ができる。
縁破壊が起きた場合、時間波形全体から伝達関数を計算
するのではなく、絶縁破壊が起きた時間以降の時間波形
のみから伝達関数を求めている。これにより、供試器２
に絶縁破壊が起きた場合の絶縁破壊箇所を特定すること
ができる。
【００２３】この点について、図６〜図８を用いて具体
的に説明する。電圧の時間波形１３（図６参照）および
電流の時間波形１４（図７参照）は、時間ｔ１にて供試
器２が絶縁破壊を起こしたことを示しており、図８にお
いて伝達関数１６は時間波形全てを用いて計算したも
の、伝達関数１７は絶縁破壊が起きた時間ｔ１以降の時
間波形のみを用いて計算したものを示している。
的に説明する。電圧の時間波形１３（図６参照）および
電流の時間波形１４（図７参照）は、時間ｔ１にて供試
器２が絶縁破壊を起こしたことを示しており、図８にお
いて伝達関数１６は時間波形全てを用いて計算したも
の、伝達関数１７は絶縁破壊が起きた時間ｔ１以降の時
間波形のみを用いて計算したものを示している。
【００２４】図８中の伝達関数１６は絶縁破壊前後の２
つの等価回路の伝達関数を含むことになるので、正確な
等価回路での故障を模擬することができない。これに対
して、図８中の伝達関数１７は絶縁破壊後の等価回路の
伝達関数のみを含むため、供試器２の等価回路から、等
価回路を変化させたときの伝達関数を波形計算ソフトで
計算することができる。そして、これを測定結果と比較
することによって供試器２の絶縁破壊箇所を正確に特定
することができる。
つの等価回路の伝達関数を含むことになるので、正確な
等価回路での故障を模擬することができない。これに対
して、図８中の伝達関数１７は絶縁破壊後の等価回路の
伝達関数のみを含むため、供試器２の等価回路から、等
価回路を変化させたときの伝達関数を波形計算ソフトで
計算することができる。そして、これを測定結果と比較
することによって供試器２の絶縁破壊箇所を正確に特定
することができる。
【００２５】（４）他の実施形態 なお、本発明は以上のような実施形態に限定されるもの
ではなく、請求項３あるいは４に対応するものとして、
供試器２の伝達関数を求めておき、任意の電圧あるいは
電流を供試器２に印加したときの電流時間波形あるいは
電圧時間波形を計算するようにしても良い。つまり、伝
達関数１１（図５）が計算してあれば、電圧周波数特性
９（図４）を伝達関数１１で割ることにより、この時の
電流周波数特性１０（図４）を計算から導くことがで
き、これを逆フーリエ変換することによって、電圧時間
波形７（図２）を計算することができる。同様に、電流
周波数特性１０（図４）を伝達関数１１で割れば、この
時の電圧周波数特性９（図４）を計算でき、これを逆フ
ーリエ変換して電流時間波形８（図３）を計算すること
ができる。このような電力機器のインパルス試験方法に
よれば、任意の電圧を供試器に印加したときの電流の時
間波形、あるいは任意の電流を供試器に印加したときの
電圧の時間波形に関して、実際に測定することなく、計
算から求めることができ、きめ細かなインパルス試験を
簡単に行うことが可能となる。
ではなく、請求項３あるいは４に対応するものとして、
供試器２の伝達関数を求めておき、任意の電圧あるいは
電流を供試器２に印加したときの電流時間波形あるいは
電圧時間波形を計算するようにしても良い。つまり、伝
達関数１１（図５）が計算してあれば、電圧周波数特性
９（図４）を伝達関数１１で割ることにより、この時の
電流周波数特性１０（図４）を計算から導くことがで
き、これを逆フーリエ変換することによって、電圧時間
波形７（図２）を計算することができる。同様に、電流
周波数特性１０（図４）を伝達関数１１で割れば、この
時の電圧周波数特性９（図４）を計算でき、これを逆フ
ーリエ変換して電流時間波形８（図３）を計算すること
ができる。このような電力機器のインパルス試験方法に
よれば、任意の電圧を供試器に印加したときの電流の時
間波形、あるいは任意の電流を供試器に印加したときの
電圧の時間波形に関して、実際に測定することなく、計
算から求めることができ、きめ細かなインパルス試験を
簡単に行うことが可能となる。
【００２６】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の電力機器のインパルス試験方法によれば、分圧器およ
びシャント抵抗により測定した供試器の印加電圧および
接地電流の時間波形を、コンピュータにてフーリエ変換
して２つの周波数特性を導き、これら２つの周波数特性
の比である伝達関数を求めることによって、伝達関数の
変化の有無に伴って供試器の良否を確実に判定すること
ができた。さらに、供試器に絶縁破壊が起きた場合、絶
縁破壊状態時のみの伝達関数を計算することにより、供
試器内部の等価回路から絶縁破壊箇所を正確に特定する
ことができた。
の電力機器のインパルス試験方法によれば、分圧器およ
びシャント抵抗により測定した供試器の印加電圧および
接地電流の時間波形を、コンピュータにてフーリエ変換
して２つの周波数特性を導き、これら２つの周波数特性
の比である伝達関数を求めることによって、伝達関数の
変化の有無に伴って供試器の良否を確実に判定すること
ができた。さらに、供試器に絶縁破壊が起きた場合、絶
縁破壊状態時のみの伝達関数を計算することにより、供
試器内部の等価回路から絶縁破壊箇所を正確に特定する
ことができた。
【図１】本発明の実施形態における回路図
【図２】デジタルメモリ５に記憶された電圧の時間波形
７を示すグラフ
７を示すグラフ
【図３】デジタルメモリ５に記憶された電流の時間波形
８を示すグラフ
８を示すグラフ
【図４】時間波形７、８をフーリエ変換して得られる２
つの周波数特性９、１０を示すグラフ
つの周波数特性９、１０を示すグラフ
【図５】周波数特性９、１０の比である伝達関数１１を
示すグラフ
示すグラフ
【図６】時間ｔ１にて供試器２が絶縁破壊を起こした際
の電圧の時間波形１３を示すグラフ
の電圧の時間波形１３を示すグラフ
【図７】時間ｔ１にて供試器２が絶縁破壊を起こした際
の電流の時間波形１４を示すグラフ
の電流の時間波形１４を示すグラフ
【図８】伝達関数１６、１７を示すグラフ
【図９】従来例における回路図
１，１８…インパルスジェネレータ ２，１９…供試器 ３，２０…分圧器 ４，２２…シャント抵抗 ５…デジタルメモリ ６…コンピュータ ７，１３…電圧の時間波形 ８，１４…電流の時間波形 ９…電圧周波数特性 １０…電流周波数特性 １１，１６，１７…伝達関数 １２…伝達関数１１のピーク ２１…オシロスコープ ｔ１…供試器２が絶縁破壊を起こした時間
Claims (4)
- 【請求項１】 電力機器である供試器にインパルス電圧
を印加するインパルスジェネレータと、前記供試器に印
加された印加電圧を分圧して前記供試器における印加電
圧の時間波形を測定する分圧器と、前記供試器を接地し
て前記供試器における接地電流の時間波形を測定するシ
ャント抵抗と、前記分圧器および前記シャント抵抗が測
定した時間波形をデジタル化して記憶するデジタルメモ
リと、このデジタルメモリ内のデータを取込んで演算処
理するコンピュータとを用いた電力機器のインパルス試
験方法であって、 まず、前記分圧器および前記シャント抵抗により前記供
試器における印加電圧および接地電流の時間波形を測定
し、 続いて、前記デジタルメモリにて前記時間波形をデジタ
ル化して記憶し、 さらに、前記コンピュータにおいてデジタル化された前
記印加電圧および前記接地電流の時間波形をフーリエ変
換して２つの周波数特性を導き、これら２つの周波数特
性の比である伝達関数を求めることを特徴とする電力機
器のインパルス試験方法。 - 【請求項２】 前記供試器に絶縁破壊が起きた場合、前
記コンピュータにおいて絶縁破壊が起きた時間以降の時
間波形のみから前記伝達関数を求めることを特徴とする
請求項１記載の電力機器のインパルス試験方法。 - 【請求項３】 任意の電圧を前記供試器に印加したとき
の電流時間波形を、前記伝達関数から計算することを特
徴とする請求項１または２記載の電力機器のインパルス
試験方法。 - 【請求項４】 任意の電流を前記供試器に印加したとき
の電圧時間波形を、前記伝達関数から計算することを特
徴とする請求項１または２記載の電力機器のインパルス
試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1247098A JPH11211772A (ja) | 1998-01-26 | 1998-01-26 | 電力機器のインパルス試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1247098A JPH11211772A (ja) | 1998-01-26 | 1998-01-26 | 電力機器のインパルス試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11211772A true JPH11211772A (ja) | 1999-08-06 |
Family
ID=11806267
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1247098A Pending JPH11211772A (ja) | 1998-01-26 | 1998-01-26 | 電力機器のインパルス試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11211772A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168474A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-30 | Nippon Technart Inc | 絶縁耐電圧試験方法及び装置 |
| KR100996141B1 (ko) | 2008-11-12 | 2010-11-24 | 한국전기연구원 | 전력품질 측정 시스템, 및 거기에 이용되는 디바이더 회로 |
| JP2011169694A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 電圧監視装置 |
| JP2017150828A (ja) * | 2016-02-22 | 2017-08-31 | 中部電力株式会社 | 雷撃の推測方法及び推測装置 |
-
1998
- 1998-01-26 JP JP1247098A patent/JPH11211772A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009168474A (ja) * | 2008-01-10 | 2009-07-30 | Nippon Technart Inc | 絶縁耐電圧試験方法及び装置 |
| KR100996141B1 (ko) | 2008-11-12 | 2010-11-24 | 한국전기연구원 | 전력품질 측정 시스템, 및 거기에 이용되는 디바이더 회로 |
| JP2011169694A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 電圧監視装置 |
| JP2017150828A (ja) * | 2016-02-22 | 2017-08-31 | 中部電力株式会社 | 雷撃の推測方法及び推測装置 |
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Legal Events
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|
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Effective date: 20061113 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
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| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070213 |