JPH1121693A - 錫−銀合金めっき浴及びめっき物 - Google Patents
錫−銀合金めっき浴及びめっき物Info
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Abstract
(A)非シアンの2価の錫化合物及び1価の銀化合物、
並びに(B)錫の主錯化剤として、モル比で錫の2倍以
上のピロリン酸、クエン酸、酒石酸又はグルコン酸若し
くはそれらのアルカリ金属塩から選ばれた錯化剤の1種
又は2種以上を含む浴に、さらに(C)銀の主錯化剤と
して、モル比で銀の2倍以上の濃度の含窒素五員複素環
式化合物、ヒダントイン化合物、こはく酸イミド又はマ
レイン酸イミド、並びに尿素、チオ尿素又はチオアセト
アミドから選ばれた錯化剤の1種又は2種以上を添加し
てなることを特徴とする。また、この浴は、(D)銀の
主錯化剤として、モル比で銀の2倍以上の濃度のヨウ素
イオン又はモル比で銀の2倍以上の濃度のメルカプトカ
ルボン酸及びそれらのアルカリ金属塩若しくはアンモニ
ウム塩の1種又は2種以上を含有でき、この場合には銀
の補助錯化剤として、 モル比で銀の0.1〜5倍の範囲
の濃度のアミンカルボン酸及びそれらのアルカリ金属塩
の1種又は2種を以上含有する。
Description
し、特に錫−銀系のろう材に対するはんだ付け性の良好
な錫−銀系合金皮膜を形成するための非シアンの電気め
っき浴に関する。
るはんだ( ろう材) による接合は不可欠の技術として広
く行われている。はんだ付けを迅速かつ確実に行うため
に、はんだ付けしようとする部品に予めはんだ付け性の
良好な皮膜を施しておくことが行われるが、このはんだ
付け性皮膜として錫−鉛合金めっき皮膜が一般に利用さ
れている。
影響が懸念され、有害な鉛を含む錫−鉛はんだを規制し
ようとする考えが急速に広まりつつある。工業的な生産
条件並びに使用条件という観点から勘案すると、錫−鉛
はんだに代替できる特性を有するような鉛を含まないは
んだは今のところなく、日欧米を中心として研究開発が
行われているところである。 錫−鉛はんだの代替として
は第一元素としては錫が利用されると考えられるが、 第
二元素としては銀、ビスマス、銅、インジウム、アンチ
モン、亜鉛などが候補として挙げられており、 それらの
二元合金或いはさらに第三元素を添加した多元合金が候
補として挙げられている。 その中で錫−銀系合金は、最
も有力な代替合金候補の一つである。
付け用のめっき皮膜(はんだ付け性皮膜)もまた鉛を含
まないものに変更していく必要がある。これに対して、
錫−銀合金めっき皮膜を得るためのめっき浴は、銀を主
成分とするものは古くからあるが、錫を主成分とする非
シアン錫−銀合金めっき浴には満足するものがなく、工
業的に行われていない。
ン浴が用いられてきた。公害防止上好ましくないシアン
浴に代わって、硝酸銀浴、スルファミン酸浴、塩化銀
浴、チオシアン酸浴、チオ硫酸浴などが検討されてきた
が、シアン以外の銀の錯化剤は安定度定数が小さいの
で、シアン浴に比べて析出物の結晶が粗く工業的な応用
を満足する性能を有しなかった。最近、これらに比べて
微細な粒子の析出物が得られる浴として、有機スルホン
酸の銀塩とヨウ化カリウムを含むめっき浴にスルファニ
ル酸の誘導体を添加した浴が特開平2−290993号
に、こはく酸イミド又はその誘導体を錯化剤とする浴が
特開平7−166391号に記載されているが、錫との
合金めっきの可能性については記載されていない。
れること自体は、古くから知られており、一般にシアン
浴が利用されてきた。例えば、シアン−ピロリン酸混合
浴から、松下は1971年に(金属表面技術 22,6
0(1971))、また、久保田らは1983年に(金
属表面技術 34,37(1983)、特開昭60−2
6691)、錫−銀合金皮膜を得ている。
生・公害・毒劇物管理の観点から好ましくないため、シ
アン以外の浴も検討されており、近年はそれが主流とな
っている。シアン浴以外の錫−銀合金めっき浴として
は、最近、伊勢らによってスズ酸カリウム(4価の錫)
−ヒダントイン浴(表面技術協会第93回講演大会予講
集 205(1996)、表面技術協会第94回講演大
会予講集 80(1996)、表面技術協会第95回講
演大会予講集 183(1997))が、また、新井ら
によって、ピロリン酸−ヨウ化物浴(表面技術協会第9
3回講演大会予講集 195(1996)、表面技術協
会第94回講演大会予講集 83(1996))が報告
されている。新井は、また、ピロリン酸−ヨウ化物浴を
錫−銀−銅の三元合金系にも適用し、その結果を報告し
ている(表面技術協会第94回講演大会予講集 85
(1996))。
んだ付け性に優れためっき皮膜を得るため、鋭意研究を
重ね、各種有機化合物の添加によって皮膜の平滑性等が
改善されることを見出し、特許を出願している(特願平
8−143481)。また、さらに、光沢剤の添加後に
経時熟成を行うことによって光沢めっきが可能な浴を見
出し、この浴を用いてめっきを施すことによって、錫−
銀系ろう材を用いてはんだ接合するに適した電気・電子
回路部品を作成し特許出願している(特願平8−207
683)。また、その後、アミン−アルデヒド反応生成
物を用いて経時熟成が不要な光沢浴を出願(特願平8−
278593)している。
ンの浴では単独浴でさえ銀めっきは困難であることに加
え、錫と銀とはそれぞれの電極電位が大きく異なるの
で、皮膜中の錫−銀組成を制御することが難しく、さら
に、銀が陰極であるめっき面にさえ置換析出し易いが故
に、そのような置換析出を完全にゼロにするためには、
析出表面に吸着して析出を妨げる作用の大きいいわゆる
光沢剤を用いなければできなかった。
けにおいてゼロクロスタイムが小さいというような長所
がある一方、めっき皮膜への有機物の吸蔵量が多いとい
う短所もあり、めっき対象物によっては、無光沢ないし
は半光沢めっきの方が望ましい場合も多い。これに対し
て、上述のような従来の浴においては、工業的に満足さ
れるレベルに銀の置換析出が完全に抑制され、かつ平滑
で緻密な無光沢ないしは半光沢の皮膜が得られなかっ
た。
として、めっき皮膜への有機物の吸蔵量が少ないと考え
られる無光沢ないしは半光沢状皮膜であって、かつ、銀
の置換析出が完全に抑制され、平滑で緻密な錫−銀系合
金めっき皮膜を得るための浴が求められており、本発明
もこれを目的とした。
合金めっき浴の工業的操業を可能にすべく鋭意検討の結
果、めっき浴中の錫イオンの錯化剤としてピロリン酸又
はオキシカルボン酸を用いた浴に、銀イオンの錯化剤と
して−N−X=(ここで、Xは炭素又は窒素原子を表
す。)の構造を持つ化合物を添加することによって、或
いは銀イオンの錯化剤としてヨウ素イオン又はメルカプ
トカルボン酸を添加し、さらに、銀イオンに対してモル
比で銀の0.1〜5倍の範囲の濃度で、銀の補助錯化剤
としてアミンカルボン酸を添加することによって、平滑
で、銀の置換析出のない半光沢の錫−銀合金めっき皮膜
が得られることを見い出し、本発明を完成した。
っき浴は、基本成分として2価の錫とその錯化剤である
ピロリン酸又はオキシカルボン酸を含む浴であるが、そ
れらの錯化剤と銀の錯化剤である−N−X=(ここで、
Xは炭素又は窒素原子を表す。)の構造を有する化合物
を併用した浴は、検討されたことがなかった。これらの
錯化剤は銀に対する安定度定数はそれほど大きくなく、
これらの錯化剤を用いた銀単独の浴は不安定で、2価の
錫との合金浴を調製する上で銀の錯化剤としては不適切
であると考えれてきたからである。例えば、塩素イオン
の存在で塩化銀の沈殿が生成してしまう。しかしなが
ら、本発明者らは、銀並びに上記の錫の錯化剤を含む浴
にこれらを添加してなる浴は予想に反して安定であり、
塩素イオンを添加しても塩化銀の沈殿は生成せず、錫−
銀合金めっき浴として利用し得ることを発見し、銀含有
率の低い錫−銀合金めっきが得られるめっき浴を開発
し、本発明を完成した。
ン又はメルカプトカルボン酸を用いる液において、銀イ
オンに対してモル比で銀の0.1〜5倍の範囲の濃度
で、銀の補助錯化剤としてアミンカルボン酸を添加して
なる錫−銀合金めっき浴について説明を加えれば次のと
おりである。
アミンカルボン酸を用いることによって良好な錫−銀合
金めっき皮膜が得られることについては、既に本発明者
らによって特許出願(特願平8−143481)されて
いる。しかし、該出願においては、アミンカルボン酸は
錫イオンの錯化剤として、錫よりも多量に用いることに
よって錫を浴中に安定に溶解保持するために用いられて
いた。
はんだ付け性皮膜用の錫−銀合金めっきは、その融点が
銀の含有率が3.5wt%で最低になるため、そのよう
な組成に近い皮膜を得るためには、一般に浴中の錫濃度
に対して10%以下の濃度の銀濃度が用いられる。この
ことに対応して、錫イオンの安定化のための錯化剤とし
てのアミンカルボン酸も、結果的に銀濃度の10倍以上
の濃度が添加されていた。
と等量付近(10分の1から数倍)の濃度で添加するこ
とによって、銀の置換析出を防止して、めっき皮膜の平
滑性が驚くほど改善されるとともに、銀の優先析出を抑
制し、めっき皮膜中の銀含有率を安定化させる効果のあ
ることを見い出し、本発明を完成したのである。
った。即ち、EDTAを初めとするアミンカルボン酸は
金属錯化剤として広く用いられている錯化剤であるが、
銀に対する錯化力は小さく、銀イオンに対する錯化剤と
して有用であるとは考えられていなかった。即ち、銀単
独浴においても、シアンに匹敵する錯化力を有した錯化
剤がないために、工業的に利用され得る非シアン銀めっ
き浴が出現しなかったという経緯があり、近年になっ
て、既述のように非シアンの銀めっき浴も開発されてき
たが、ヨウ素、こはく酸イミド、チオシアン酸など非シ
アンの錯化剤の中でも銀に対する錯化力がアミンカルボ
ン酸類に比べて相当に大きいもののみが利用されてお
り、アミンカルボン酸を錯化剤として用いる銀めっき浴
は工業的に操業しうる浴の開発は困難であったのであ
る。銀に対するアミンカルボン酸類の錯化力が小さく、
利用が困難であったことは、めっき以外の分野、例えば
銀のキレート滴定等においても、液中に銀を可溶化させ
ることはできても、小さい錯平衡定数の故に、測定誤差
が大きくなるため、アミンカルボン酸類の使用は推奨さ
れない(上野景平著 キレート滴定法、210頁 南江
堂(昭和37年))というような事実からもそのことが
容易に理解できる。
気めっき浴の第一の態様は、必須成分として、(A)非
シアンの2価の錫化合物及び1価の銀化合物、並びに
(B)錫の主錯化剤として、モル比で錫の2倍以上のピ
ロリン酸、クエン酸、酒石酸又はグルコン酸若しくはそ
れらのアルカリ金属塩から選ばれた錯化剤の1種又は2
種以上を含む浴に、さらに(C)銀の主錯化剤として、
モル比で銀の2倍以上の濃度の後述する一般式(1)で
表される含窒素五員複素環式化合物、式(2)で表され
るヒダントイン化合物、こはく酸イミド又はマレイン酸
イミド及びそれらの誘導体、並びに式(3)で表される
尿素、チオ尿素又はチオアセトアミド及びそれらの誘導
体から選ばれた錯化剤の1種又は2種以上を添加してな
ることを特徴とする非シアンの錫−銀合金めっき浴であ
る。
の第二の態様は、必須成分として、(A)非シアンの2
価の錫化合物及び1価の銀化合物、並びに(B)錫の主
錯化剤として、モル比で錫の2倍以上のピロリン酸、ク
エン酸、酒石酸又はグルコン酸若しくはそれらのアルカ
リ金属塩から選ばれた錯化剤の1種又は2種以上を含む
浴に、さらに、(D)銀の主錯化剤として、モル比で銀
の2倍以上の濃度のヨウ素イオン又はモル比で銀の2倍
以上の濃度の後述する一般式(I)で表されるメルカプ
トカルボン酸及びそれらのアルカリ金属塩若しくはアン
モニウム塩の1種又は2種以上、及び(E)銀の補助錯
化剤として、 モル比で銀の0.1〜5倍の範囲の濃度の
後述する一般式(II)で表されるアミンカルボン酸及び
それらのアルカリ金属塩の1種又は2種以上を添加して
なることを特徴とする非シアンの錫−銀合金電気めっき
浴である。
ある非シアンの2価の錫の供給源として、硫酸塩、ハロ
ゲン化物、ホウフッ化物、ケイフッ化物、スルファミン
酸塩、ピロリン酸塩、酢酸塩或いは後記の一般式(A)
〜(E)で表されるスルホン酸の錫塩など一般に広く用
いられる錫塩の他に、水酸化錫や酸化錫を本発明のめっ
き浴の必須の成分であるピロリン酸、クエン酸、酒石酸
又はグルコン酸又はそれらのアルカリ金属塩の中から選
ばれた錯化剤によって錯形成され可溶化された錫錯体の
うちから選ばれた1種又は2種以上を単独又は適宜混合
して使用できる。
のアルケニル基を表し、該Rの水素原子は、0〜3個の
範囲でヒドロキシル基、アルキル基、アリール基、アル
キルアリール基、カルボキシル基又はスルホン酸基で置
換されていてよく、そして該Rの任意の位置にあってよ
い。]で表される脂肪族スルホン酸の塩、
素及び(又は)フッ素のハロゲン原子を表し、該Rの任
意の位置にあってよく、該Rの水素原子と置換された該
ハロゲン原子の置換数n1は1から該Rに配位したすべ
ての水素原子が飽和置換されたものまでを表し、置換さ
れたハロゲン原子種は1種類又は2種類である。ヒドロ
キシル基は、該Rの任意の位置にあってよく、該Rの水
素原子と置換された該ヒドロキシル基の置換数n2は0
又は1である。Yはスルホン酸基を表し、該Rの任意の
位置にあってよく、Yで表されるスルホン酸基の置換数
n3は0から2の範囲にある。]で表されるハロゲン原
子化アルカンスルホン酸又はハロゲン原子化アルカノー
ルスルホン酸、
基、アルキルアリール基、アルデヒド基、カルボキシル
基、ニトロ基、メルカプト基、スルホン酸基又はアミノ
基を表し、或いは2個のXはベンゼン環と一緒になって
ナフタリン環を形成でき、該基の置換数nは0〜3の範
囲にある。]で表される芳香族スルホン酸、
6 のアルケニレン基を表し、該Rの水素原子はヒドロキ
シル基又はカルボキシル基で置換されていてよい。]で
表される脂肪族スルホ(ヒドロキシ)カルボン酸、
シル基を表す。スルホン酸基、カルボキシル基及びXは
任意の位置にあってよい。]で表される芳香族スルホ
(ヒドロキシ)カルボン酸。
ホン酸の中で好適なものを例示すれば、メタンスルホン
酸、メタンジスルホン酸、メタントリスルホン酸、トリ
フルオロメタンスルホン酸、エタンスルホン酸、プロパ
ンスルホン酸、2−プロパンスルホン酸、ブタンスルホ
ン酸、2−ブタンスルホン酸、ペンタンスルホン酸、2
−ヒドロキシエタン−1−スルホン酸、2−ヒドロキシ
プロパン−1−スルホン酸、2−ヒドロキシブタンスル
ホン酸、2−ヒドロキシペンタンスルホン酸、1カルボ
キシエタンスルホン酸、1,3−プロパンジスルホン
酸、アリールスルホン酸、2−スルホ酢酸、2−又は3
−スルホプロピオン酸、スルホこはく酸、スルホメチル
こはく酸、スルホマレイン酸、スルホフマル酸、ベンゼ
ンスルホン酸、トルエンスルホン酸、キシレンスルホン
酸、ニトロベンゼンスルホン酸、ベンズアルデヒドスル
ホン酸、フェノールスルホン酸、フェノール−2,4−
ジスルホン酸、2−スルホ安息香酸、3−スルホ安息香
酸、5−スルホサリチル酸、4−スルホフタール酸、5
−スルホイソフタール酸、2−スルホテレフタール酸が
挙げられる。
やめっき対象物によって増減することが望ましいが、錫
分として概ね1〜150g/lが適当であり、好ましく
は5〜80g/l程度とする。
アンの1価の銀の供給源として、例えば、硝酸塩、亜硝
酸塩、硫酸塩、チオ硫酸塩、チオシアン酸塩、亜硫酸
塩、重亜硫酸塩、メタ重亜硫酸塩、塩化物、塩素酸塩、
過塩素酸塩、臭化物、臭素酸塩、ヨウ化物、ヨウ素酸
塩、ホウフッ化物、ケイフッ化物、安息香酸塩、スルフ
ァミン酸塩、クエン酸塩、乳酸塩、リン酸塩、トリフル
オロ酢酸塩、ピロリン酸塩、1−ヒドロキシエタン−
1,1−ビスホスホン酸塩、又は上記の一般式(A)〜
(E)で表されるスルホン酸の銀塩、など一般に広く用
いられる銀塩の他に、水酸化銀や酸化銀をヨウ素、メル
カプトカルボン酸類等の錯化剤或いはアンモニアによっ
て錯形成され可溶化された銀錯体のうちから選ばれた1
種又は2種以上を単独又は適宜混合して使用できる。
好適なものは、前節の錫化合物において記載したものと
同様である。
っき対象物によって増減することが望ましいが、銀分と
して概ね0.05〜10g/l程度が適当であり、好ま
しくは0.1〜5g/l程度とする。ただし、銀含有量
の多い錫−銀合金めっき皮膜を得ようとする場合には、
これに限定されるものではなく、概ね50g/l程度の
銀濃度とすることができる。
は、必須の成分として、錫の主錯化剤として、ピロリン
酸、クエン酸、酒石酸又はグルコン酸又はそれらのアル
カリ金属塩から選ばれた錯化剤の1種又は2種以上が用
いられる。
上が用いられる。上限に明瞭な限界点はないが、溶解度
の観点から、1mol/l以下で用いられる。
は、必須の成分として、銀の主錯化剤として、モル比で
銀の2倍以上の濃度の下記一般式(1)〜(3)から選
ばれた錯化剤の1種又は2種以上が用いられる。
子を表し、各X1 〜X4が窒素原子を表すときは各Xに
結合するR1 〜R4 は存在しない。全てのXが同時に窒
素原子であることはない。R1 、R2 、R3 及びR4 は
それぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基又はC1 〜C
4 のアルキル基を表し、該アルキル基の水素原子はヒド
ロキシル基、カルボキシル基又はハロゲン原子で置換さ
れていてよい。R1 はR2 とメチレン基を介してベンゼ
ン環を形成してよく、該ベンゼン環の水素原子はハロゲ
ン原子、C1 〜C4 のアルキル基、C1 〜C4 のアルコ
キシ基、ヒドロキシル基又はカルボキシル基で置換され
ていてよい。R5 は水素原子又はC1 〜C5 のアルキル
若しくはアルケニル基又はフェニル基を表し、該アルキ
ル基、アルケニル基及び(又は)フェニル基の水素原子
はヒドロキシル基又はアミノ、モノメチルアミノ若しく
はジメチルアミノ基で置換されていてよい。]で表され
る含窒素五員複素環式化合物、即ち、ピロール類、ピロ
リン類、インドール類、イソインドール類、イミダゾー
ル類、ベンゾイミダゾール類、イミダゾリン類、トリア
ゾール類、ベンゾトリアゾール類又はテトラゾール類。
れ独立に、水素原子又はC1 〜C5 のアルキル若しくは
アルコキシ基を表す。Xは窒素又は炭素原子を表し、X
が窒素原子のときは、R4 は存在しない。]で表される
ヒダントイン化合物、こはく酸イミド又はマレイン酸イ
ミド及びそれらの誘導体。
C1 〜C5 のアルキル基を表す。R3 及びR4 はそれぞ
れ独立に水素原子、C1 〜C5 のアルキル若しくはアル
ケニル基又はフェニル基を表し、該アルキル基、アルケ
ニル基及び(又は)フェニル基の水素原子はヒドロキシ
ル基又はアミノ、モノメチルアミノ若しくはジメチルア
ミノ基で置換されていてよく、R3 とR4 は結合して環
を形成してよい。R5 はアルキル基、アリル基又はヒド
ロキシル基を表す。Xは窒素又は炭素原子を表し、Yは
酸素又は硫黄原子を表す。Xが窒素原子のときは、R5
は存在しない。]で表される尿素、チオ尿素又はチオア
セトアミド及びそれらの誘導体。
き浴には、必須の成分として、銀の主錯化剤として、モ
ル比で銀の2倍以上の濃度のヨウ素イオン或いは下記一
般式(I)で表されるメルカプトカルボン酸及び(又
は)それらのアルカリ金属塩若しくはアンモニウム塩の
1種又は2種以上が用いられる。 ・一般式(I) HS−R−COOH (I) [ここで、RはC1 〜C2 のアルキレン基を表し、該R
の水素原子原子は1個のメチル基、カルボキシル基又は
アミノ基で置換されていてよく、その位置は限定されな
い。該アミノ基はさらにその水素原子原子がアセチル基
で置換されていてよい。]表されるメルカプトカルボン
酸。
ちで好適なものとしては、ピロール、ピロリン、インド
ール、イソインドール、イミダゾール、イミダゾリン、
ベンゾイミダゾール、2−エチルイミダゾール、トリア
ゾール、ベンゾトリアゾール、2−(又は4−)メチル
ベンゾトリアゾール、4−ヒドロキシベンゾトリアゾー
ル、4−カルボキシベンゾトリアゾール、テトラゾール
等が挙げられる。
適なものとしては、ヒダントイン、5−n−プロピルヒ
ダントイン、5,5−ジメチルヒダントイン、2,2−
ジメチルこはく酸イミド、2−メチル−2−エチルこは
く酸イミド、2−メチルこはく酸イミド、2−エチルこ
はく酸イミド、1,1,2,2−テトラメチルこはく酸
イミド、1,1,2−トリメチルこはく酸イミド、2−
ブチルこはく酸イミド、2−エチルマレイン酸イミド、
1−メチル−2−エチルマレイン酸イミド、2−ブチル
マレイン酸イミド等が挙げられる。
適なものとしては、イミダゾリジノン、2−イミダゾリ
ジンチオン、チオ尿素、トリメチルチオ尿素、N,N’
−ジ−n−ブチルチオ尿素、テトラメチルチオ尿素、1
−アリル−2−チオ尿素、N,N’−ジエチルチオ尿
素、1,3−ビス(ジメチルアミノプロピル)−2−チ
オ尿素、N,N−ジメチルチオ尿素、N,N−ジメチロ
ール尿素、チオセミカルバジド、4−フェニル−3−チ
オセミカルバジド、2−メチルバルビツル酸等が挙げら
れる。
ン酸の中で、好適に用いられるものの例を列挙すれば、
チオグリコール酸、2−メルカプトプロピオン酸、3−
メルカプトプロピオン酸、チオリンゴ酸、システイン、
N−アセチルシステイン等を挙げることができる。
上の濃度が用いられる。好適には、一般式(1)〜
(3)の−N−X=を含む化合物の場合には銀の2〜2
0倍、ヨウ素に関しては銀の10倍〜300倍、メルカ
プトカルボン酸に関しては銀の2〜5倍が用いられる。
は、銀の主錯化剤としてヨウ素イオン又はメルカプトカ
ルボン酸が選ばれた場合には、必須の成分として、 さら
に、銀の補助錯化剤として、下記一般式(II)で表され
るアミンカルボン酸の1種又は2種以上又はそれらのア
ルカリ金属塩が添加される。 ・一般式(II)
Hを表し、Yは−CH2COOH又は−C2 H4 COO
H或いは−CH2 OHを表し、Zは−CH2 COOH又
は−C2 H4 COOH或いは−CH2 OH或いは水素原
子を表す。Aは単結合、−CH(0H)−又は−CH2
−N(CH2 COOH)−CH2 −を表し、Bは水素原
子を表すか或いはAが単結合の場合には、B同志がメチ
レン基を介して結合して飽和6員環を形成してもよ
い。]で表されるアミンカルボン酸又はそれらのアルカ
リ金属塩。
げれば、エチレンジアミン四酢酸、1,2−ジアミノシ
クロヘキサン−N,N,N’,N’−四酢酸、1,3−
ジアミノ−2−ヒドロキシプロパン−N,N,N’,
N’−四酢酸、ジエチレントリアミン−N,N,N’,
N”,N”−五酢酸、N,N−ビス(2−ヒドロキシエ
チル)グリシン、イミノ二酢酸、ニトリロ三酢酸、ニト
リロ三プロピオン酸などのアミンカルボン酸又はそれら
のアルカリ金属塩等が挙げられる。
金属塩は、モル比で銀に対して0.1〜5倍の範囲の濃
度で用いられる。添加量を0から増大していくと、めっ
き皮膜中の錫含有率は次第に低下し、ほぼ等量以上の添
加で一定となる。したがって、めっき皮膜中の銀含有率
を一定にするためには、等量〜5倍量程度が望ましい。
それ以上の添加はかえって平滑性を低下させる。一方、
皮膜の平滑性を重視する用途には、0.2倍程度の添加
が最も望ましい結果を与える。
は、めっき皮膜の平滑化効果の為に、さらに、 錫の補助
錯化剤として下記一般式(III)で表されるアミノ酸及び
(又は)トリエタノールアミンを添加することができ
る。 ・一般式(III) R−CH(NH2 )−COOH (III) [ここで、Rは水素原子又はC1 〜C4 のアルキル基を
表し、該Rの水素原子はメチル基、ヒドロキシル基、ア
ミノ基、カルボキシル基及び(又は)−S−CH3 で置
換されていてよい。]で表されるアミノ酸。
グリシン、アラニン、バリン、ロイシン、イソロイシ
ン、リジン、セリン、トレオニン、アスパラギン酸、グ
ルタミン酸、メチオニン、オルニチン、ノルロイシン、
オキシグルタミン酸等を挙げることができる。
てモル比で1〜6倍量を用いる。さらに好適には、トリ
エタノールを用いる場合には、1〜3倍、アミノ酸を用
いる場合には、1〜4倍の範囲で用いる。該範囲を越え
る過剰の添加は、皮膜外観をかえって黒っぽくするとい
う不都合を生じる可能性がある。添加の不足は、該補助
錯化剤によるめっき皮膜の平滑化効果という所期の目的
を達成しない。
き浴は、さらに、電導塩、pH緩衝剤、酸化防止剤及び
(又は)界面活性剤を添加して用いることができる。錫
及び錫合金めっき浴においては、このような成分が添加
されることは公知であり、本発明のめっき浴にもこれら
を添加することができる。これら、電導塩、pH緩衝
剤、酸化防止剤、界面活性剤には、錫及び錫合金めっき
浴において公知の化合物が利用できる。
は、従来から錫及び錫合金めっき浴において用いられて
きた硫酸、塩酸、スルホン酸などのナトリウム、カリウ
ムあるいはアンモニウム塩などが、適宜単独または併用
して用いられる。その使用量は、明確な限界はないが、
一般に5〜200g/lが用いられ、さらに好適には1
0〜100g/lが用いられる。
には、従来から錫及び錫合金めっき浴において用いられ
てきたリン酸、酢酸、炭酸、硼酸、クエン酸などのナト
リウム、カリウムあるいはアンモニウム塩及び(又は)
それらの酸性塩などが、適宜単独または併用して用いら
れる。同一の塩をもって電導塩とpH緩衝剤とを兼ねて
使用することもできる。その使用量は、明確な限界はな
いが、一般に5〜200g/lが用いられ、さらに好適
には10〜100g/lが用いられる。
によって操業中に徐々に酸化され4価の錫に変化し、沈
殿を生成するか、或いは錯化剤の種類によっては浴中に
溶解した状態で蓄積され、これらはいずれもめっきにと
って有害な影響を及ぼす。これを抑制或いは防止するた
めに、酸化防止剤が使用できる。
き浴において用いられてきたハイドロキノン、カテコー
ル、レゾルシノール、フロログリシノール、ピロガロー
ル、3−アミノフェノール、ハイドロキノン(又は、カ
テコール、レゾルシノール)スルホン酸(及びそれらの
エステル)、没食子酸、3,4−ジヒドロキシ安息香
酸、4−メチルピロカテコール、ピロリン酸、酒石酸、
クエン酸、アスコルビン酸などが、適宜単独又は併用し
て用いられる。
〜20g/lが用いられ、さらに好適には0.01〜1
0g/lが用いられる。
浸漬した際にめっき液がめっき対象物を十分に濡らすた
めに、また、めっき皮膜の平滑化のために添加される。
界面活性剤としては、公知のものが利用できるが、その
中でも特に好適に用いられるものには、下記一般式(I
V)〜(XVI)で表される界面活性剤があり、それらの1
種又は2種以上が添加される。
H2 −C(CH3 )H−O−を表し、それらの存在位置
は限定されない。m及びnは0〜40の整数を表す。た
だし、m及びnの和は1から40の範囲内にある。]で
表されるポリオキシアルキレン系界面活性剤、例えば、
エチレングノコール、ジ−(トリ−、テトラ−、オクタ
−・・・)エチレングリコールのようなポリエチレング
リコール、プロピレングリコール、ジ−(トリ−、テト
ラ−、オクタ−・・・)プロピレングリコールのような
ポリプロピレングリコール、エチレンオキサイドとプロ
ピレンオキサイドとの縮合物等、
H2 −C(CH3 )H−O−を表し、それらの存在位置
は限定されない。m及びnは0〜40の整数を表す。た
だし、m及びnの和は1から40の範囲内にある。Rは
炭素数1〜22のアルキル基 又は炭素数1〜25の脂
肪酸でエステル化したソルビタンを表す。Dは−O−又
は−COO−を表す。]で表されるポリオキシアルキレ
ンアルキルエーテル(又はエステル)系界面活性剤、例
えば、上記のポリエチレングリコール、ポリプロピレン
グリコール等のアルキル(例えば、オレイル、セチル、
ステアリル、ラウリル・・・)エーテル若しくは脂肪酸
エステル、ソルビタンエステル等、
H2 −C(CH3 )H−O−を表し、それらの存在位置
は限定されない。m及びnは0〜40の整数を表す。た
だし、m及びnの和は1から40の範囲内にある。Rは
フェニル基又はC1 〜C25のアルキル基で置換したフェ
ニル基を表わす。]で表されるポノオキシアルキレンフ
ェニル(又はアルキル若しくはアルキルフェニル)エー
テル系界面活性剤、例えば、上記のポリエチレングリコ
ール、ポリプロピレングリコール等のフェラルエーテル
又はアルキル置換フェニルエーテル等、
H2 −C(CH3 )H−O−を表し、それらの存在位置
は限定されない。m及びnは0〜40の整数を表す。た
だし、m及びnの和は1から40の範囲内にある。Rは
水素原子又はC1〜C25のアルキル基を表す。]で表さ
れるポリオキシアルキレンナフチル(又はアルキルナフ
チル)エーテル系界面活性剤、例えば、ナフトール又は
アルキルナフトールのエチレンオキサイド及び(又は)
プロピレンオキサイド付加物等、
−CH2 −O−又は−CH2 −C(CH3 )H−O−を
表し、それらの存在位置は限定されず、m及びnは0〜
40の整数を表す。ただし、m及びnの和は1から40
の範囲内にある。xは1〜3の整数を表す。Ra 、R
b 、Rc 及びRd は、それぞれ独立に水素原子、フェニ
ル基、C1 〜C4 のアルキル基又は−CH(CH3 )−
φを表わす。ただし、少なくとも1つはフェニル基又は
−CH(CH3 )−φであるものとする。]で表される
ポリオキシアルキレンレンスチレン化フェニルエーテル
系界面活性剤、例えば、スチレン化フェノール又はα−
メチルスチレン化フェノールのエチレンオキサイド及び
(又は)プロピレンオキサイド付加物、
−CH2 −O−又は−CH2 −C(CH3 )H−O−を
表し、それらの存在位置は限定されない。 Rc1及びR
c2は、それぞれ独立に水素原子、フェニル基又はC1 〜
C4 のアルキル基を表し、Rd 及びRe は、それぞれ独
立に水素原子又は−CH3 を表し、m1、m2、n1及
びn2はそれぞれ独立に0〜40の整数を表す。ただ
し、m1及びn1、さらにm2及びn2の和は1から4
0の範囲内にある。]で表されるポリオキシアルキレン
スチレン化フェニルエーテルのフェニル基にさらにポリ
オキシアルキレン鎖を付加した界面活性剤、例えば、ビ
スフェノールのビス(エチレンオキサイド及び(又は)
プロピレンオキサイド)付加物等、
アルケニル基又はC2 〜C30のアシル基を表し、A及び
Bは−CH2 −CH2 −O−又は−CH2 −C(CH
3 )H−O−を表し、それらの存在位置は限定されな
い。m1、m2、n1及びn2はそれぞれ独立に0〜6
の整数を表す。ただし、m1及びn1、さらにm2及び
n2の和は1から6の範囲内にある。−CH2 −CH
(CH3 )−Oの付加モル数が−CH2 −CH2 −Oの
付加モル数より多いことはない。]で表されるポリオキ
シアルキレンアルキル(又はアルケニル)アミン(又は
アミド)系界面活性剤等、例えば、アルキル(又はアル
ケニル)アミン(又はアミド)のエチレンオキサイド及
び(又は)プロピレンオキサイド付加物等、
H2 −C(CH3 )H−O−を表し、それらの存在位置
は限定されない。m1、m2、m3、m4、n1、n
2、n3及びn4は整数で、m1+m2+m3+m4=
5〜70、n1+n2+n3+n4=5〜70である。
m1、m2、n1及びn2はそれぞれ独立に0〜6の整
数を表す。ただし、m1及びn1、さらにm2及びn2
の和は1から6の範囲内にある。xは2又は3の整数を
表す。Rは水素原子、C1 〜C30のアルキル基又はC2
〜C30のアルケニル基を表す。]で表されるアルキレン
ジアミンのアルキレンオキシド付加物系界面活性剤、例
えば、エチレンジアミンのエチレンオキサイド及び又は
プロピレンオキサイドN付加物。
O)n (ここでnは1〜40の整数)を表し、Aは酸素
又は単結合を表す。Mは水素原子又はアルカリ金属を表
す。]で表されるアルキル(又はアルコキシ)ナフタレ
ンスルホン酸又はそれらのアルカリ金属塩等、例えば、
アルキル(プロピル、ブチル・・・)ナフタレンスルホ
ン酸のナトリウム塩等、
O)n (ここでnは1〜40の整数)を表し、Aは酸素
又は単結合を表す。ベンゼン環上の各基の置換位置は限
定されない。Mは水素原子又はアルカリ金属を表す。]
で表されるアルキルジフェニルエーテルスルホン酸又は
それらのアルカリ金属塩等。
COO- 又はアルカンスルホン酸基(C1 〜C5 )を表
し、EOは−CH2 CH2 0−を表し、m及びnは独立
に0〜40の整数を表す。Qはピリジン環又はキノリン
環を表す。Ra はC1 〜C20のアルキル基又はRg OC
H2 (OH)−CHCH2 −(ここでRgはC12〜C18
のアルキル基を表す)を表し、Rb 及びRc は水素原
子、C1 〜C20のアルキル基又はC1 〜C10のアルコキ
シル基を表し、Rd は水素原子又はC1 〜C20のアルキ
ル基、ベンジル基又は脂肪酸−(CH2 )n COOH
(ここで、nは1〜18の整数を表す)を表し、Re は
C8 〜C20のアルキル基を表し、ピリジン環又はキノリ
ン環の窒素に結合している。Rf は水素原子又はアルキ
ル基(C1 〜C4 )を表し、ピリジン環又はキノリン環
の窒素以外のいずれの位置にあってもよい。]で表され
るアンモニウム、ピリジニウム又はキノリニウム4級塩
系界面活性剤、例えば、ラウリル(オレイル、セチル、
ステアリル、ベヘニル・・・)トリ(ジ)メチルアンモ
ニウム塩、アルキルベンジルアンモニウム塩、ジアルキ
ルジメチルアンモニウム塩、アルキルアミンオレエート
等。
b は、(CH2 )m OH又は(CH2 )m OCH2 CO
O- 又はC2 H3 (OH)(COOH)を表し、Rc は
C1 〜C4 のアルキル基、(CH2 )n COO- 、(C
H2 )n SO3 -、CH(OH)CH2 SO3 -を表し、m
及びnは1〜4の整数を表す。Mはアルカリ金属を表
し、Xはハロゲン原子、ヒドロキシル基又はアルカンス
ルホン酸基(C1 〜C5 )を表す。Rc がアルキル基の
場合には、Mは存在せず、Rc がアルキル基以外の場合
には、Mは存在してもしなくてもよく、Mが存在しない
ときにはXも存在しない。]で表されるアルキルイミダ
ゾリニウムベタイン系界面活性剤、例えば、2−ラウリ
ル(オレイル、セチル、ステアリル、ベヘニル・・・)
−N−メチルヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイ
ン等、
合がなくてもよい。Rbは水素原子又はメチル基若しく
はエチル基を表し、該アルキル基の水素原子の一つがエ
ーテル結合を介してアシルオキシ基と結合していてもよ
い。Rc はC5 〜C20のアルキル基を表す。カルボキシ
ル基は水素原子又はアルカリ金属とイオン結合していて
もよい。mは1〜4の整数を、nは0〜4の整数を表
す。]で表されるアルキル(又はアミド又はアミン)ベ
タイン系界面活性剤、例えば、ジメチルラウリル(オレ
イル、セチル、ステアリル、ベヘニル・・・)ベタイ
ン、N−アルキル−β−アミノプロピオン酸塩、アルキ
ルアミノエチルグリシン、N−アルキル−N−メチル−
β−アラニンナトリウム塩等。
に入手されるものの例には、一般式(IV)で表されるも
のとして、エパン740、エパン450(第一工業製薬
( 株) 社製)、プルロニックL64、プルロニックP1
03(旭電化工業( 株) 社製)、ニッコールBO−20
(日光ケミカルズ( 株) 社製)、エマルゲンL−40
(花王( 株) 社製)、50HB−2000/5000
(三洋化成( 株) 社製)等が、一般式(V)で表される
ものとして、ブラウノンEL−1303、ブラウノンC
H−310(青木油脂工業(株)社製)、ニューコール
1110(日本乳化剤(株)社製)、ニッコールBL
(日光ケミカルズ(株)社製)、ノイゲンET−170
(第一工業製薬(株)社製)等が、一般式(VI)で表さ
れるものとして、ノイゲンEA−150、ノイゲンEA
−130T(第一工業製薬(株)社製))、ブラウノン
NK−808、N−512、DP−9(青木油脂工業
(株)社製)、ニューコール704、ニューコール71
4、ブラウノンLPE−1007(青木油脂工業(株)
社製)、アデカトールNP−720(旭電化工業(株)
社製)等が、一般式(VII) で表されるものとして、ブラ
ウノンBN−18(青木油脂工業(株)社製)、アデカ
トールPC−10(旭電化工業(株)社製)、ノイゲン
EN−10(第一工業製薬(株)社製)等が、一般式(V
III)で表されるものとして、ニューコール2607(日
本乳化剤(株)社製)、ブラウノンDSP−9(青木油
脂工業(株)社製)等が、一般式(IX)で表されるもの
として、リポノックスNC−100(ライオン)等が、
一般式(X)で表されるものとして、ナイミーンL20
7、ナイミーンT2−210、ナイミーンS−215
(日本油脂(株)社製)、ニューコール420(日本乳
化剤(株)社製)、ブラウノンO−205(青木油脂工
業(株)社製)等が、一般式(XI)で表されるものとし
て、テトロニックTR−701、テトロニックTR−7
02(旭電化工業(株)社製)等が、一般式(XII) で表
されるものとして、ペレックスNB−L、デモールN
(花王( 株) )社製等が、一般式(XIII)で表されるもの
として、ニューコール217A等が、一般式(XIV) で表
されるものとして、ニッコールCA2150、、ニッコ
ールCA101(日光ケミカルズ(株)社製)、テクス
ノールR−5(日本乳化剤(株)社製)等が、一般式(X
V)で表されるものとして、ソフタゾリンCH、ソフタゾ
リンNS(川研ファインケミカル(株)社製)、ニッサ
ンアノンGLM−R(日本油脂(株)社製)、レボン1
01−H(三洋化成工業(株)社製)、ニッコールAM
−103EX(日本乳化剤(株)社製)等が、一般式(X
VI)で表されるものとして、アセタミン24(花王
(株)社製)、エナジコール L−30AN(ライオ
ン)、オバノール516(東邦)、デリファット151
C(第一ゼネラル)等が挙げられる。
金皮膜の結晶成長を調整したり、融点を低下させるため
に、さらにビスマス、銅、アンチモン、亜鉛、インジウ
ム、パラジウム、ヒ素、ニッケルから選ばれた第三金属
の1種及び(又は)2種以上を添加することができる。
て該合金皮膜の融点を低下させることは、既述の新井の
報告(表面技術協会第94回講演大会予講集 85(1
996))にも認めることができるが、本発明のめっき
浴においても少量の該金属を添加して用いることができ
る。
錫めっきや錫−鉛合金めっきを施すに先立って下地めっ
きが利用されるように、該錫−銀合金めっきの下地とし
て、電気めっき及び(又は)無電解めっきによって銅/
又はニッケル及びそれらの合金めっきを下地とめっきし
て施すことができる。
っき、ラックめっき、連続めっき等に対応して前記の範
囲内にて任意に選択することができる。
け性皮膜を適用できるはんだ接合箇所を有した電気・電
子回路部品には、例えば、IC半導体等の電子デバイス
等、抵抗器、コンデンサ等の受動部品等、コネクタ、ス
イッチ、プリント配線基板等の接合部品などが挙げられ
る。
に説明するが、本願発明はこれら数例によって限定され
るものではなく、前述した目的に沿ってめっき浴の組成
及びめっき条件は適宜、任意に変更することができる。
(a)を用いて、電流密度1A/dm2 及び3A/dm
2 で銅板試料にめっきを施し、めっき外観の観察、電着
物組成の分析を行った。1A/dm2 では約1.5wt
%−Ag、3A/dm2 では約3wt%−Agの組成の
平滑な半光沢の電着物が得られた。 ・めっき浴(a) Sn2+(硫酸錫として添加) 0.20 mol/l Ag+ (酢酸銀として添加) 0.008 mol/l 酒石酸カリウムナトリウム 0.8 mol/l イミダゾール 0.02 mol/l pH 8 温度 30 ℃
(b)を用いて、電流密度1A/dm2 及び3A/dm
2 で銅板試料にめっきを施し、めっき外観の観察、電着
物組成の分析を行った。1A/dm2 では約1wt%−
Ag、3A/dm2 では約3wt%−Agの組成の平滑
な半光沢の電着物が得られた。 ・めっき浴(b) Sn2+(塩化錫として添加) 0.20 mol/l Ag+ (酢酸銀として添加) 0.008 mol/l 酒石酸カリウムナトリウム 0.8 mol/l ヒダントイン 0.02 mol/l pH 8 温度 30 ℃
記のめっき浴(c)を用いて、電流密度1A/dm2 及
び3A/dm2 で銅板試料にめっきを施し、めっき外観
の観察、電着物組成の分析を行った。1A/dm2 では
約1.5wt%−Ag、3A/dm2 では約3wt%−
Agの組成の平滑な半光沢の電着物が得られた。 ・めっき浴(c) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.20 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.008 mol/l 酒石酸カリウムナトリウム 0.8 mol/l こはく酸イミド 0.017 mol/l pH 7 温度 30 ℃
き浴(d)を用いて、電流密度1A/dm2 及び3A/
dm2 で銅板試料にめっきを施し、めっき外観の観察、
電着物組成の分析を行った。1A/dm2 では約1wt
%−Ag、3A/dm2 では約3wt%−Agの組成の
平滑な半光沢の電着物が得られた。 ・めっき浴(d) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.20 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.008 mol/l 酒石酸カリウムナトリウム 0.8 mol/l イミダゾリジノン 0.02 mol/l pH 7 温度 30 ℃
き浴(e)を用いて、電流密度1A/dm2 及び3A/
dm2 で銅板試料にめっきを施し、めっき外観の観察、
電着物組成の分析を行った。1A/dm2 では約1wt
%−Ag、3A/dm2 では約3wt%−Agの組成の
平滑な半光沢の電着物が得られた。 ・めっき浴(e) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.20 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.008 mol/l 酒石酸カリウムナトリウム 0.8 mol/l マレイン酸イミド 0.02 mol/l pH 7 温度 30 ℃
き浴(f)を用いて、電流密度1A/dm2 及び3A/
dm2 で銅板試料にめっきを施し、めっき外観の観察、
電着物組成の分析を行った。1A/dm2 では約1wt
%−Ag、3A/dm2 では約3wt%−Agの組成の
平滑な半光沢の電着物が得られた。 ・めっき浴(f) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.20 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.008 mol/l 酒石酸カリウムナトリウム 0.8 mol/l チオアセトアミド 0.02 mol/l pH 7 温度 30 ℃
銅板試料にめっきを施し、めっき外観の観察、電着物組
成の分析を行い、下記実施例1と比較した。 ・めっき浴(g) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.012 mol/l グルコン酸ナトリウム 0.8 mol/l ヨウ化カリウム 1.5 mol/l グリシン 0.6 mol/l 2−アルキル−N−カルボキシメチル−N− ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン 20 g/l カテコール 0.5 g/l pH 10 温度 30 ℃
添加しためっき浴(h)を用いて、比較例1と同じめっ
き条件でめっきを施し、めっき外観の観察、電着物組成
の分析を行った。比較例1のEDTA無添加の場合と実
施例7の添加した場合とでは、明らかに表面の外観は異
なり、EDTA添加によって、皮膜の平滑性が向上し
た。 ・めっき浴(h) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.012 mol/l グルコン酸ナトリウム 0.8 mol/l ヨウ化カリウム 1.5 mol/l グリシン 0.6 mol/l EDTA4ナトリウム塩 0.004 mol/l 2−アルキル−N−カルボキシメチル−N− ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン 20 g/l カテコール 0.5 g/l pH 10 温度 30 ℃
添加し、EDTAの濃度と電着物中の銀の含有率の関係
を測定した。電流密度は3A/dm2 とした。結果を図
1に示した。EDTA濃度の上昇とともに電着物中の銀
含有率は低下し、等量付近以降は一定の含有率になっ
た。銀の優先析出が抑制されることを示している。 ・めっき浴(i) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.20 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.005 mol/l グルコン酸ナトリウム 0.8 mol/l ヨウ化カリウム 1.5 mol/l グリシン 0.6 mol/l EDTA4ナトリウム塩 0.001〜0.04 mol/l pH 10 温度 35 ℃
た。結果を実施例7の結果とともに図1に示した。実施
例8と同様の効果が認められた。
った。結果を実施例7の結果とともに図1に示した。実
施例8及び9と同様の効果が認められた。
た。結果を実施例7の結果とともに図1に示した。実施
例8〜10と同様の効果が認められた。
銅板試料にめっきを施し、めっき外観の観察を行い、下
記の実施例12以下のめっき浴と比較した。 ・めっき浴(j) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.015 mol/l ピロリン酸カリウム 0.8 mol/l アセチルシステイン 0.045 mol/l トリエタノールアミン 0.4 mol/l 酢酸ナトリウム 0.48 mol/l ポリオキシエチレンアルキルアミン 0.4 g/l pH 5 温度 30 ℃
件でめっきを施し、めっき外観の観察を行った。比較例
2のEDTA無添加の場合と実施例12の添加した場合
とでは、明らかに表面の外観は異なり、EDTA添加に
よって、皮膜の平滑性が向上した。 ・めっき浴(k) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.015 mol/l ピロリン酸カリウム 0.8 mol/l アセチルシステイン 0.045 mol/l トリエタノールアミン 0.4 mol/l 酢酸ナトリウム 0.48 mol/l EDTA4ナトリウム塩 0.01 mol/l ポリオキシエチレンアルキルアミン 0.4 g/l ポリオキシエチレン−β−ナフトールエーテル 0.5 g/l pH 5 温度 30 ℃
めっきを施し、外観の評価を行った。
1に比べて格段に良好であった。 ・めっき浴(l) Sn2+(硫酸錫として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.01 mol/l グルコン酸ナトリウム 0.8 mol/l ヨウ化カリウム 1.5 mol/l EDTA4ナトリウム塩 0.004 mol/l グリシン 0.6 mol/l ジメチルヤシアルキルベタイン 20 g/l アルキルジフェニルエーテルジスルホン酸 ナトリウム 0.1 g/l ポリオキシエチレンポリオキシプロピレン ブロックポリマー 0.1 g/l ヒドロキノン 0.1 g/l pH 10 温度 40 ℃
1に比べて格段に良好であった。 ・めっき浴(m) Sn2+(塩化錫として添加) 0.15 mol/l Ag+ (硝酸銀として添加) 0.01 mol/l グルコン酸ナトリウム 0.6 mol/l ヨウ化カリウム 0.5 mol/l EDTA4ナトリウム塩 0.01 mol/l グルタミン酸ナトリウム 0.3 mol/l 炭酸水素ナトリウム 0.2 mol/l ヤシ油脂肪酸アミドプロピルジメチルアミノ 酢酸ベタイン 5 g/l ポリオキシエチレンヤシアルコールエーテル 0.1 g/l ヒドロキノン 0.1 g/l pH 10 温度 30 ℃
1に比べて格段に良好であった。 ・めっき浴(n) Sn2+(塩化錫として添加) 0.35 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.017 mol/l グルコン酸ナトリウム 1.0 mol/l ヨウ化カリウム 1.0 mol/l EDTA4ナトリウム塩 0.003 mol/l アスパラギン酸ナトリウム 0.4 mol/l 炭酸水素ナトリウム 0.5 mol/l N−ラウリル−N−メチル−β−アラニン ナトリウム 0.5 g/l ノニルフェノールEO12モル付加アルキル アリールエーテル 0.2 g/l レゾルシノール 0.1 g/l pH 10 温度 30 ℃
1に比べて格段に良好であった。 ・めっき浴(o) Sn2+(メタンスルホン錫溶液として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.01 mol/l グルコン酸ナトリウム 0.8 mol/l ヨウ化カリウム 1.5 mol/l DTPA 0.01 mol/l グリシン 0.3 mol/l 2−アルキル−N−カルボキシメチル−N− ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン 10 g/l ジメチルヤシアルキルベタイン 0.3 g/l ポリオキシエチレンスチレン化フェニルエーテル0.2 g/l レゾルシノール 3 g/l pH 10 温度 30 ℃
1に比べて格段に良好であった。 ・めっき浴(p) Sn2+(メタンスルホン錫溶液として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.01 mol/l グルコン酸ナトリウム 0.8 mol/l ヨウ化カリウム 1.5 mol/l DTPA 0.003 mol/l グリシン 0.7 mol/l 2−アルキル−N−カルボキシメチル−N− ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン 30 g/l やしアルキルベンジルアンモニウムクロライド 0.1 g/l ポリオキシエチレンビスフェノールエーテル 0.1 g/l レゾルシノール 0.5 g/l pH 8.5 温度 20 ℃
2に比べて格段に良好であった。 ・めっき浴(q) Sn2+(メタンスルホン酸錫溶液として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.015 mol/l ピロリン酸カリウム 0.8 mol/l アセチルシステイン 0.04 mol/l トリエタノールアミン 0.4 mol/l 酢酸ナトリウム 0.48 mol/l ポリオキシエチレンアルキルプロピレンジアミン0.4 g/l pH 5 温度 30 ℃
2に比べて格段に良好であった。 ・めっき浴(r) Sn2+(ピロリン酸錫として添加) 0.25 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.015 mol/l ピロリン酸カリウム 0.8 mol/l アセチルシステイン 0.04 mol/l トリエタノールアミン 0.25 mol/l イミノジ酢酸 0.06 mol/l リン酸2水素ナトリウム 0.25 mol/l ジメチルヤシアルキルベタイン 0.5 g/l ヒドロキノン 0.5 g/l pH 5 温度 30 ℃
2に比べて格段に良好であった。 ・めっき浴(s) Sn2+(2−ヒドロキシプロパンスルホン酸錫 溶液として添加) 0.5 mol/l Ag+ (スルホマレイン酸銀溶液として添加) 0.03 mol/l 酒石酸カリウムナトリウム 0.8 mol/l チオグリコール酸 0.5 mol/l トリエタノールアミン 0.6 mol/l DPTA 0.001 mol/l リン酸2水素ナトリウム 0.2 mol/l 2−アルキル−N−カルボキシメチル−N− ヒドロキシエチルイミダゾリニウムベタイン 0.1 g/l β−ナフタレンスルホン酸ホルマリン縮合物 0.5 g/l レゾルシノール 0.5 g/l pH 4 温度 30 ℃
電着物の組成を分析した。外観が比較例2に比べて格段
に良好であったとともに、銀が約6%、銅が約5%の電
着物を得た。 ・めっき浴(t) Sn2+(ピロリン酸錫として添加) 0.195 mol/l Ag+ (メタンスルホン酸銀溶液として添加) 0.005 mol/l Cu2+(ピロリン酸銅として添加) 0.005 mol/l ピロリン酸カリウム 0.54 mol/l ヨウ化カリウム 2.0 mol/l グリシン 0.6 mol/l EDTA4ナトリウム塩 0.002 mol/l ヒドロキノン 0.5 g/l pH 9 温度 25 ℃
ンカルボン酸の銀の析出に対する抑制効果を表したもの
であり、実施例8〜11において述べた通り、銀の濃度
(0.005mol/l)以下の添加量から抑制効果を
示し、概ね1:1以上の添加量で電着物中の銀比率は一
定値となる。銀比率の安定化を第一義的目的とする場合
には、等モル〜数倍の範囲で用いればよいことを示して
いる。外観の美麗さを第一義的目的にする場合には、
0.1〜0.2倍の付近で用いるのが好適である。
錯化剤としてピロリン酸又はオキシカルボン酸を含む浴
に、銀イオンの錯化剤として−N−X=(ここで、Xは
炭素又は窒素原子を表す。)の構造を持つ化合物を添加
してなるか、或いは銀イオンの錯化剤としてヨウ素イオ
ン又はメルカプトカルボン酸を添加し、さらに銀イオン
に対してモル比で銀の0.1〜5倍の範囲の濃度で、銀
の補助錯化剤としてアミンカルボン酸を添加してなる非
シアン錫−銀合金めっき浴は、従来検討されてきた非シ
アン錫−銀合金めっき浴に比べて、銀の置換析出がな
く、且つ、平滑性及び外観に優れた半光沢状のめっき皮
膜を与える。
物中の銀含有率に及ぼす銀の補助錯化剤の抑制効果を示
すグラフである。
Claims (6)
- 【請求項1】 必須成分として、(A)非シアンの2価
の錫化合物及び1価の銀化合物、並びに(B)錫の主錯
化剤として、モル比で錫の2倍以上のピロリン酸、クエ
ン酸、酒石酸又はグルコン酸若しくはそれらのアルカリ
金属塩から選ばれた錯化剤の1種又は2種以上を含む浴
に、さらに(C)銀の主錯化剤として、モル比で銀の2
倍以上の濃度の下記一般式(1)〜(3): ・式(1) 【化1】 [ここで、X1 、X2 、X3 及びX4 は炭素又は窒素原
子を表し、各X1 〜X4が窒素原子を表すときは各Xに
結合するR1 〜R4 は存在しない。全てのXが同時に窒
素原子であることはない。R1 、R2 、R3 及びR4 は
それぞれ独立に水素原子、ヒドロキシル基又はC1 〜C
4 のアルキル基を表し、該アルキル基の水素原子はヒド
ロキシル基、カルボキシル基又はハロゲン原子で置換さ
れていてよい。R1 はR2 とメチレン基を介してベンゼ
ン環を形成してよく、該ベンゼン環の水素原子はハロゲ
ン原子、C1 〜C4 のアルキル基、C1 〜C4 のアルコ
キシ基、ヒドロキシル基又はカルボキシル基で置換され
ていてよい。R5 は水素原子又はC1 〜C5 のアルキル
若しくはアルケニル基又はフェニル基を表し、該アルキ
ル基、アルケニル基及び(又は)フェニル基の水素原子
はヒドロキシル基又はアミノ、モノメチルアミノ若しく
はジメチルアミノ基で置換されていてよい。]で表され
る含窒素五員複素環式化合物、 ・式(2) 【化2】 [ここで、R1 、R2 、R3 、R4 及びR5 は、それぞ
れ独立に、水素原子又はC1 〜C5 のアルキル若しくは
アルコキシ基を表す。Xは窒素又は炭素原子を表し、X
が窒素原子のときは、R4 は存在しない。]で表される
ヒダントイン化合物、こはく酸イミド又はマレイン酸イ
ミド及びそれらの誘導体、及び ・式(3) 【化3】 [ここで、R1 及びR2 はそれぞれ独立に水素原子又は
C1 〜C5 のアルキル基を表す。R3 及びR4 はそれぞ
れ独立に水素原子、C1 〜C5 のアルキル若しくはアル
ケニル基又はフェニル基を表し、該アルキル基、アルケ
ニル基及び(又は)フェニル基の水素原子はヒドロキシ
ル基又はアミノ、モノメチルアミノ若しくはジメチルア
ミノ基で置換されていてよく、R3 とR4 は結合して環
を形成してよい。R5 はアルキル基、アリル基又はヒド
ロキシル基を表す。Xは窒素又は炭素原子を表し、Yは
酸素又は硫黄原子を表す。Xが窒素原子のときは、R5
は存在しない。]で表される尿素、チオ尿素又はチオア
セトアミド及びそれらの誘導体から選ばれた錯化剤の1
種又は2種以上を添加してなることを特徴とする非シア
ンの錫−銀合金めっき浴。 - 【請求項2】 必須成分として、(A)非シアンの2価
の錫化合物及び1価の銀化合物、並びに(B)錫の主錯
化剤として、モル比で錫の2倍以上のピロリン酸、クエ
ン酸、酒石酸又はグルコン酸若しくはそれらのアルカリ
金属塩から選ばれた錯化剤の1種又は2種以上を含む浴
に、さらに(D)銀の主錯化剤として、モル比で銀の2
倍以上の濃度のヨウ素イオン又はモル比で銀の2倍以上
の濃度の下記一般式(I) HS−R−COOH (I) [ここで、RはC1 〜C2 のアルキレン基を表し、該R
の水素原子は1個のメチル基、カルボキシル基又はアミ
ノ基で置換されていてよく、その位置は限定されない。
該アミノ基はさらにその水素原子がアセチル基で置換さ
れていてよい。]で表されるメルカプトカルボン酸及び
それらのアルカリ金属塩若しくはアンモニウム塩の1種
又は2種以上、及び(E)銀の補助錯化剤として、 モル
比で銀の0.1〜5倍の範囲の濃度の下記一般式(II) 【化4】 [ここで、Xは−CH2 COOH又は−C2 H4 COO
Hを表し、Yは−CH2COOH又は−C2 H4 COO
H或いは−CH2 OHを表し、Zは−CH2 COOH又
は−C2 H4 COOH或いは−CH2 OH或いは水素原
子を表す。Aは単結合、−CH(0H)−又は−CH2
−N(CH2 COOH)−CH2 −を表し、Bは水素原
子を表すか或いはAが単結合の場合には、B同志がメチ
レン基を介して結合して飽和6員環を形成してもよ
い。]で表されるアミンカルボン酸及びそれらのアルカ
リ金属塩の1種又は2種以上を添加してなることを特徴
とする非シアンの錫−銀合金電気めっき浴。 - 【請求項3】 さらに、 錫の補助錯化剤としてトリエタ
ノールアミン及び(又は)下記一般式(III) R−CH(NH2 )−COOH (III) [ここで、Rは水素原子又はC1 〜C4 のアルキル基を
表し、該Rの水素原子はメチル基、ヒドロキシル基、ア
ミノ基、カルボキシル基及び(又は)−S−CH3 で置
換されていてよい。]で表されるアミノ酸を添加してな
ることを特徴とする請求項1又は2に記載の錫−銀合金
電気めっき浴。 - 【請求項4】 さらに、 電導塩、pH緩衝剤、酸化防止
剤及び(又は)界面活性剤を添加してなることを特徴と
する請求項1〜3のいずれかに記載の錫−銀合金電気め
っき浴。 - 【請求項5】 さらに、銅、ビスマス、アンチモン、亜
鉛、インジウム、パラジウム、ヒ素及びニッケルから選
ばれた第三金属の1種及び(又は)2種以上を添加して
なることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の
錫−銀合金電気めっき浴。 - 【請求項6】 請求項1〜5のいずれかに記載の電気め
っき浴を用いて、電気・電子回路部品に合金めっきを施
しためっき物。
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