JPH11218530A - クロマトグラフ用データ処理装置 - Google Patents
クロマトグラフ用データ処理装置Info
- Publication number
- JPH11218530A JPH11218530A JP3680498A JP3680498A JPH11218530A JP H11218530 A JPH11218530 A JP H11218530A JP 3680498 A JP3680498 A JP 3680498A JP 3680498 A JP3680498 A JP 3680498A JP H11218530 A JPH11218530 A JP H11218530A
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- JP
- Japan
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- data
- peak
- chromatogram
- analysis
- identification table
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- Pending
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- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 使用者が介在することなく、ピークパラメー
タや同定テーブルを自動的に生成することのできるクロ
マトグラフ用データ処理装置を提供する。 【解決手段】 既知の成分を既知量だけ含む標準試料の
クロマトグラフ分析を行ない、検出器からの信号を逐次
デジタルデータに変換してメモリに時系列的に記憶して
ゆく（Ｓ１）。メモリに記憶されたデータを読み出し、
クロマトグラムを構成して、そのベースライン部分より
スロープ値、最小ピーク面積（又は高さ）等の波形処理
パラメータを決定する（Ｓ２）。そして、これを用いて
クロマトグラムのピークを検出し（Ｓ３）、既知成分の
同定テーブルを作成する（Ｓ４）。これらをメモリに記
憶した後、未知試料の分析を行ない、そのクロマトグラ
ムをこれらのデータに基づいて解析し、成分の定量を行
なう（Ｓ５）。
タや同定テーブルを自動的に生成することのできるクロ
マトグラフ用データ処理装置を提供する。 【解決手段】 既知の成分を既知量だけ含む標準試料の
クロマトグラフ分析を行ない、検出器からの信号を逐次
デジタルデータに変換してメモリに時系列的に記憶して
ゆく（Ｓ１）。メモリに記憶されたデータを読み出し、
クロマトグラムを構成して、そのベースライン部分より
スロープ値、最小ピーク面積（又は高さ）等の波形処理
パラメータを決定する（Ｓ２）。そして、これを用いて
クロマトグラムのピークを検出し（Ｓ３）、既知成分の
同定テーブルを作成する（Ｓ４）。これらをメモリに記
憶した後、未知試料の分析を行ない、そのクロマトグラ
ムをこれらのデータに基づいて解析し、成分の定量を行
なう（Ｓ５）。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガスクロマトグラ
フ、液体クロマトグラフ等のクロマトグラフ用データ処
理装置に関する。
フ、液体クロマトグラフ等のクロマトグラフ用データ処
理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年市販されるクロマトグラフには、パ
ーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピ
ュータが接続可能となっており、クロマトグラフの制御
や検出器で採取されたデータの処理等をこれらのコンピ
ュータ等で行なうことができるようになっている。この
うち、採取データの処理に関しては、従来、検出器から
時々刻々と送信されてくる信号をデジタルデータに変換
し、クロマトグラムを作成し、作成されたクロマトグラ
ムからピークを検出するとともに、その位置（保持時
間）及び高さ又は面積（強度）を算出するというデータ
処理が自動的に行なわれるようになっていた。
ーソナルコンピュータやワークステーション等のコンピ
ュータが接続可能となっており、クロマトグラフの制御
や検出器で採取されたデータの処理等をこれらのコンピ
ュータ等で行なうことができるようになっている。この
うち、採取データの処理に関しては、従来、検出器から
時々刻々と送信されてくる信号をデジタルデータに変換
し、クロマトグラムを作成し、作成されたクロマトグラ
ムからピークを検出するとともに、その位置（保持時
間）及び高さ又は面積（強度）を算出するというデータ
処理が自動的に行なわれるようになっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】例えばクロマトグラム
からピークを検出する場合には、ピークの開始点及び終
了点を定義するための立ち上がり／立ち下がりの傾斜の
値（スロープ値）や、ピークと見なすための最小の大き
さ（最小ピーク高さ又は面積）を予め定めておく必要が
ある。従来のクロマトグラフ用データ処理装置では、こ
れらのパラメータは予め使用者が手動で定め、装置（具
体的にはデータ解析プログラムで動作するコンピュー
タ）に与えてやる必要があった。
からピークを検出する場合には、ピークの開始点及び終
了点を定義するための立ち上がり／立ち下がりの傾斜の
値（スロープ値）や、ピークと見なすための最小の大き
さ（最小ピーク高さ又は面積）を予め定めておく必要が
ある。従来のクロマトグラフ用データ処理装置では、こ
れらのパラメータは予め使用者が手動で定め、装置（具
体的にはデータ解析プログラムで動作するコンピュー
タ）に与えてやる必要があった。
【０００４】また、そのピークが何の成分のものである
かを決定するためには、既知成分の保持時間とピークの
相対高さ又は面積を予め参照テーブルの形で持っていな
ければならないが、このようなテーブル（同定テーブ
ル）も、従来は使用者が予め作成しておかなければなら
なかった。
かを決定するためには、既知成分の保持時間とピークの
相対高さ又は面積を予め参照テーブルの形で持っていな
ければならないが、このようなテーブル（同定テーブ
ル）も、従来は使用者が予め作成しておかなければなら
なかった。
【０００５】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その目的とするところは、ピーク
パラメータや同定テーブルを自動的に生成することので
きるクロマトグラフ用データ処理装置を提供することに
ある。
成されたものであり、その目的とするところは、ピーク
パラメータや同定テーブルを自動的に生成することので
きるクロマトグラフ用データ処理装置を提供することに
ある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明に係るクロマトグラフ用データ処理装
置は、 a)クロマトグラフの検出器からの信号を逐次デジタルデ
ータに変換し、時系列的に記憶する分析データ記憶手段
と、 b)標準試料について分析データ記憶手段に記憶されたデ
ータに基づき、波形処理パラメータ及び同定テーブルを
作成する基準データ作成手段と、 を備えることを特徴としている。
に成された本発明に係るクロマトグラフ用データ処理装
置は、 a)クロマトグラフの検出器からの信号を逐次デジタルデ
ータに変換し、時系列的に記憶する分析データ記憶手段
と、 b)標準試料について分析データ記憶手段に記憶されたデ
ータに基づき、波形処理パラメータ及び同定テーブルを
作成する基準データ作成手段と、 を備えることを特徴としている。
【０００７】
【発明の実施の形態】未知試料の分析を行なう前に、分
析を行なおうとする成分を既知の量だけ含む標準試料を
用意し、クロマトグラフにより分析する。クロマトグラ
フの検出器から出力される信号は分析データ記憶手段に
送られ、そこで逐次デジタルデータに変換されて時系列
的に記憶される。基準データ作成手段は、分析データ記
憶手段に記憶された標準試料のデータに基づき、波形処
理パラメータ及び同定テーブルを作成する。通常は、分
析データ記憶手段に時系列的に記憶されているデータか
らクロマトグラムを作成し、それに基づいて波形処理パ
ラメータ及び同定テーブルを作成する。例えば、標準試
料のクロマトグラムのベースライン部分よりスロープ値
や最小ピーク高さ／面積等を決定する。また、そのよう
にして決定した波形処理パラメータを用いて、試料溶出
部分でピーク検出を行ない、検出されたピークを基に、
標準試料に含まれる成分の同定テーブルを作成する。ま
た、検出されたピークの高さ／面積と標準試料中のその
成分の既知の濃度に基づいて検量線を作成し、そのパラ
メータも同定テーブルに記入する。
析を行なおうとする成分を既知の量だけ含む標準試料を
用意し、クロマトグラフにより分析する。クロマトグラ
フの検出器から出力される信号は分析データ記憶手段に
送られ、そこで逐次デジタルデータに変換されて時系列
的に記憶される。基準データ作成手段は、分析データ記
憶手段に記憶された標準試料のデータに基づき、波形処
理パラメータ及び同定テーブルを作成する。通常は、分
析データ記憶手段に時系列的に記憶されているデータか
らクロマトグラムを作成し、それに基づいて波形処理パ
ラメータ及び同定テーブルを作成する。例えば、標準試
料のクロマトグラムのベースライン部分よりスロープ値
や最小ピーク高さ／面積等を決定する。また、そのよう
にして決定した波形処理パラメータを用いて、試料溶出
部分でピーク検出を行ない、検出されたピークを基に、
標準試料に含まれる成分の同定テーブルを作成する。ま
た、検出されたピークの高さ／面積と標準試料中のその
成分の既知の濃度に基づいて検量線を作成し、そのパラ
メータも同定テーブルに記入する。
【０００８】上記各要素に加え、 c)オートサンプラを制御して標準試料及び未知試料を自
動的にクロマトグラフにセットするサンプリング手段
と、 d)基準データ作成手段により上記のように作成された波
形処理パラメータ及び同定テーブルと、未知試料につい
て分析データ記憶手段に記憶されたデータと、に基づ
き、該未知試料の各成分を同定する成分同定手段と、 を設け、標準試料の分析から未知試料の同定までの一連
の分析を全て自動化することもできる。
動的にクロマトグラフにセットするサンプリング手段
と、 d)基準データ作成手段により上記のように作成された波
形処理パラメータ及び同定テーブルと、未知試料につい
て分析データ記憶手段に記憶されたデータと、に基づ
き、該未知試料の各成分を同定する成分同定手段と、 を設け、標準試料の分析から未知試料の同定までの一連
の分析を全て自動化することもできる。
【０００９】
【発明の効果】本発明に係るクロマトグラフ用データ処
理装置では、使用者が手動で操作することなく、装置が
自動的に波形処理パラメータ及び同定テーブルを作成す
る。従って、オートサンプラと組み合わせることによ
り、予め標準試料と分析対象試料をオートサンプラにセ
ットし、分析スケジュールを指定しておくだけで、標準
試料から未知試料までの一連の分析をデータ解析まで自
動的に行なうことができるようになる。これは特に、試
料の数及び分析目的成分の数が多数になる場合、分析の
省力化効果が非常に大きい。
理装置では、使用者が手動で操作することなく、装置が
自動的に波形処理パラメータ及び同定テーブルを作成す
る。従って、オートサンプラと組み合わせることによ
り、予め標準試料と分析対象試料をオートサンプラにセ
ットし、分析スケジュールを指定しておくだけで、標準
試料から未知試料までの一連の分析をデータ解析まで自
動的に行なうことができるようになる。これは特に、試
料の数及び分析目的成分の数が多数になる場合、分析の
省力化効果が非常に大きい。
【００１０】
【実施例】本発明の一実施例であるガスクロマトグラフ
を図１〜図８により説明する。本実施例のガスクロマト
グラフには、注入器１１、カラム１２、検出器１３、本
体制御装置１４を含む本体１０の他に、オートサンプラ
２０が併設されている。オートサンプラ２０の動作はサ
ンプラ制御装置２１により制御され、このサンプラ制御
装置２１は本体制御装置１４とデータ及びコマンドを授
受することにより、本体１０と同期して動作するように
なっている。本体制御装置１４内にはＣＰＵ１５、メモ
リ１６、入力装置（キーボード、マウス等）１７及び出
力装置（ＣＲＴ、プリンタ等）１８が設けられ、ＣＰＵ
１５は上述のサンプラ制御装置２１の他、注入器１１、
カラムオーブン１９等に（それぞれ図示せぬインタフェ
イスを介して）接続され、それらの動作を制御してい
る。ＣＰＵ１５はカラム１２の検出器１３とも接続さ
れ、そこからの信号を受けて後述の各種データ処理を行
なう。従って、本体制御装置１４は上記データ処理装置
としても動作する。
を図１〜図８により説明する。本実施例のガスクロマト
グラフには、注入器１１、カラム１２、検出器１３、本
体制御装置１４を含む本体１０の他に、オートサンプラ
２０が併設されている。オートサンプラ２０の動作はサ
ンプラ制御装置２１により制御され、このサンプラ制御
装置２１は本体制御装置１４とデータ及びコマンドを授
受することにより、本体１０と同期して動作するように
なっている。本体制御装置１４内にはＣＰＵ１５、メモ
リ１６、入力装置（キーボード、マウス等）１７及び出
力装置（ＣＲＴ、プリンタ等）１８が設けられ、ＣＰＵ
１５は上述のサンプラ制御装置２１の他、注入器１１、
カラムオーブン１９等に（それぞれ図示せぬインタフェ
イスを介して）接続され、それらの動作を制御してい
る。ＣＰＵ１５はカラム１２の検出器１３とも接続さ
れ、そこからの信号を受けて後述の各種データ処理を行
なう。従って、本体制御装置１４は上記データ処理装置
としても動作する。
【００１１】本ガスクロマトグラフによる分析の手順を
次に説明する。まず、分析対象である未知試料に対し、
それに含まれると思われる分析目的成分を定める。これ
は、予め定性分析で決定するようにしてもよい。そし
て、その目的成分を所定量だけ含有する標準試料を作成
する。この標準試料と、分析対象である未知試料（単数
又は複数）をオートサンプラ２０のターンテーブル２２
にセットする。そして、本体制御装置１４の入力装置１
７により、標準試料及び未知試料のターンテーブル２２
におけるセット位置を入力し（図３）、自動分析の開始
を指示する。
次に説明する。まず、分析対象である未知試料に対し、
それに含まれると思われる分析目的成分を定める。これ
は、予め定性分析で決定するようにしてもよい。そし
て、その目的成分を所定量だけ含有する標準試料を作成
する。この標準試料と、分析対象である未知試料（単数
又は複数）をオートサンプラ２０のターンテーブル２２
にセットする。そして、本体制御装置１４の入力装置１
７により、標準試料及び未知試料のターンテーブル２２
におけるセット位置を入力し（図３）、自動分析の開始
を指示する。
【００１２】これらのデータ及びコマンドを受けたＣＰ
Ｕ１５は、図２に示すような手順で自動分析を行なう。
まず最初に、第１スケジュール（スケジュール＃１）と
して、標準試料のクロマトグラフ分析を行なう（ステッ
プＳ１）。具体的には、入力された標準試料のターンテ
ーブル位置をサンプラ制御装置２１に与えて標準試料を
サンプリングさせ、注入器１１に注入させる。そして、
検出器１３から送信されてくる検出信号をＡ／Ｄ変換器
（図示せず）によりデジタルデータに変換し、時系列性
を失わないように逐次メモリ１６に記憶させてゆく。
Ｕ１５は、図２に示すような手順で自動分析を行なう。
まず最初に、第１スケジュール（スケジュール＃１）と
して、標準試料のクロマトグラフ分析を行なう（ステッ
プＳ１）。具体的には、入力された標準試料のターンテ
ーブル位置をサンプラ制御装置２１に与えて標準試料を
サンプリングさせ、注入器１１に注入させる。そして、
検出器１３から送信されてくる検出信号をＡ／Ｄ変換器
（図示せず）によりデジタルデータに変換し、時系列性
を失わないように逐次メモリ１６に記憶させてゆく。
【００１３】目的成分の保持時間を十分経過した後、デ
ータサンプリングを終わり、メモリ１６に記憶されたデ
ータに基づいて波形処理パラメータの作成を行なう（Ｓ
２）。すなわち、まず、メモリ１６に記憶されたデータ
を時系列的に順次取り出し、クロマトグラム（図４）を
作成する。そして、ベースライン部分（図４の区間Ａ）
より、スロープ値を計算する。この区間Ａは、例えば試
料の溶出時間前となるように、注入後ｔ1分〜ｔ2分等と
予め定めておく。また、スロープ値の計算自体は、従来
より用いられている方法を用いることができる。次に、
この区間Ａで部分的にピーク検出して得られたピークの
高さ又は面積の最大値を、「最小ピーク高さ」又は「最
小ピーク面積」と定める。なお、これらの各波形処理パ
ラメータについては、予め標準の（デフォルトの）値を
定めておき、標準試料のクロマトグラムに基づいてそれ
を修正する（最適化する）ようにしてもよい。
ータサンプリングを終わり、メモリ１６に記憶されたデ
ータに基づいて波形処理パラメータの作成を行なう（Ｓ
２）。すなわち、まず、メモリ１６に記憶されたデータ
を時系列的に順次取り出し、クロマトグラム（図４）を
作成する。そして、ベースライン部分（図４の区間Ａ）
より、スロープ値を計算する。この区間Ａは、例えば試
料の溶出時間前となるように、注入後ｔ1分〜ｔ2分等と
予め定めておく。また、スロープ値の計算自体は、従来
より用いられている方法を用いることができる。次に、
この区間Ａで部分的にピーク検出して得られたピークの
高さ又は面積の最大値を、「最小ピーク高さ」又は「最
小ピーク面積」と定める。なお、これらの各波形処理パ
ラメータについては、予め標準の（デフォルトの）値を
定めておき、標準試料のクロマトグラムに基づいてそれ
を修正する（最適化する）ようにしてもよい。
【００１４】次に、ステップＳ２で生成した波形処理パ
ラメータを用いて、標準試料のクロマトグラムのピーク
検出を行なう（Ｓ３）。そして、検出された各ピークに
ついて、そのピークトップの時間（保持時間）を検出
し、面積（高さでもよい）を算出する（図５）。これら
の値より、目的成分の同定テーブルを作成する（Ｓ４、
図６）。同定テーブルには、検出されたピークトップ時
間に加え、各成分毎にその許容幅も入れておく。また、
標準試料に投入した目的成分の含有量（既知）に基づ
き、検量線 [濃度]＝Ｆ1×[面積]＋Ｆ2 を算出し、その係数Ｆ1、Ｆ2もこの同定テーブルに入れ
る。
ラメータを用いて、標準試料のクロマトグラムのピーク
検出を行なう（Ｓ３）。そして、検出された各ピークに
ついて、そのピークトップの時間（保持時間）を検出
し、面積（高さでもよい）を算出する（図５）。これら
の値より、目的成分の同定テーブルを作成する（Ｓ４、
図６）。同定テーブルには、検出されたピークトップ時
間に加え、各成分毎にその許容幅も入れておく。また、
標準試料に投入した目的成分の含有量（既知）に基づ
き、検量線 [濃度]＝Ｆ1×[面積]＋Ｆ2 を算出し、その係数Ｆ1、Ｆ2もこの同定テーブルに入れ
る。
【００１５】ここで、成分名やその成分の保持時間の許
容幅のパーセント値、及び、標準試料中の濃度のデータ
（テンプレート。図７）を予め本体制御装置１４に与え
ておくことにより、図８に示すような、より具体的な同
定テーブルを作成することもできる。
容幅のパーセント値、及び、標準試料中の濃度のデータ
（テンプレート。図７）を予め本体制御装置１４に与え
ておくことにより、図８に示すような、より具体的な同
定テーブルを作成することもできる。
【００１６】こうして作成した波形処理パラメータ及び
同定テーブルはメモリ１６に記憶させておき、次に、ス
ケジュール＃２以降の未知試料の分析を行なう（Ｓ
５）。この未知試料のデータ解析の際に、メモリ１６に
記憶された波形処理パラメータ及び同定テーブルを使用
し、成分の含有量を算出して、出力装置１８に出力す
る。
同定テーブルはメモリ１６に記憶させておき、次に、ス
ケジュール＃２以降の未知試料の分析を行なう（Ｓ
５）。この未知試料のデータ解析の際に、メモリ１６に
記憶された波形処理パラメータ及び同定テーブルを使用
し、成分の含有量を算出して、出力装置１８に出力す
る。
【００１７】なお、スケジュール＃１でブランク分析
（試料を注入せず、キャリヤのみで行なう分析）を行な
い、波形処理パラメータを決定した後、スケジュール＃
２で標準試料の分析を行なって同定テーブルを自動作成
するという方法をとることもできる。
（試料を注入せず、キャリヤのみで行なう分析）を行な
い、波形処理パラメータを決定した後、スケジュール＃
２で標準試料の分析を行なって同定テーブルを自動作成
するという方法をとることもできる。
【図１】 本発明の一実施例であるガスクロマトグラフ
の概略構成図。
の概略構成図。
【図２】 実施例であるガスクロマトグラフによる自動
分析の手順を示すフローチャート。
分析の手順を示すフローチャート。
【図３】 分析のスケジュール表の一例。
【図４】 クロマトグラムの一例。
【図５】 図４のクロマトグラムのピーク時間及びピー
ク面積の表。
ク面積の表。
【図６】 同定テーブルの一例。
【図７】 テンプレートの一例。
【図８】 より具体的に記述した同定テーブルの一例。
１０…本体 １４…本体制御装置 １９…カラムオーブン ２０…オートサンプラ
Claims (1)
- 【請求項１】 a)クロマトグラフの検出器からの信号を
逐次デジタルデータに変換し、時系列的に記憶する分析
データ記憶手段と、 b)標準試料について分析データ記憶手段に記憶されたデ
ータに基づき、波形処理パラメータ及び同定テーブルを
作成する基準データ作成手段と、 を備えることを特徴とするクロマトグラフ用データ処理
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3680498A JPH11218530A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3680498A JPH11218530A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11218530A true JPH11218530A (ja) | 1999-08-10 |
Family
ID=12479982
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3680498A Pending JPH11218530A (ja) | 1998-02-02 | 1998-02-02 | クロマトグラフ用データ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11218530A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007225420A (ja) * | 2006-02-23 | 2007-09-06 | Dkk Toa Corp | オートサンプラ及び分析システム |
| JP2017191002A (ja) * | 2016-04-13 | 2017-10-19 | 株式会社島津製作所 | データ処理装置 |
| JP2019074391A (ja) * | 2017-10-16 | 2019-05-16 | 日本電子株式会社 | 質量分析用データ処理装置及び質量分析用データ処理方法 |
-
1998
- 1998-02-02 JP JP3680498A patent/JPH11218530A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007225420A (ja) * | 2006-02-23 | 2007-09-06 | Dkk Toa Corp | オートサンプラ及び分析システム |
| JP2017191002A (ja) * | 2016-04-13 | 2017-10-19 | 株式会社島津製作所 | データ処理装置 |
| JP2019074391A (ja) * | 2017-10-16 | 2019-05-16 | 日本電子株式会社 | 質量分析用データ処理装置及び質量分析用データ処理方法 |
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