JPH11219678A - 荷電粒子線装置の収差補正方法および荷電粒子線装置 - Google Patents
荷電粒子線装置の収差補正方法および荷電粒子線装置Info
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- JPH11219678A JPH11219678A JP10019780A JP1978098A JPH11219678A JP H11219678 A JPH11219678 A JP H11219678A JP 10019780 A JP10019780 A JP 10019780A JP 1978098 A JP1978098 A JP 1978098A JP H11219678 A JPH11219678 A JP H11219678A
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- Japan
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- aberration
- δhdis
- correction
- charged particle
- particle beam
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 動的補正器の取り付け位置を調整し直すのは
困難である。 【解決手段】 3個の焦点補正コイル9および3個の非
点補正器10から成る動的補正系を備え、偏向量の2乗
および3乗に比例する3次収差や偏向量の2〜5乗に比
例する5次収差を補正するように焦点補正コイル9およ
び非点補正器10の各励磁電流を制御装置16により調
整することにより、焦点補正コイル9や非点補正器10
の取り付け位置を設定し直さなくとも、3次収差や5次
収差を低減することができる。
困難である。 【解決手段】 3個の焦点補正コイル9および3個の非
点補正器10から成る動的補正系を備え、偏向量の2乗
および3乗に比例する3次収差や偏向量の2〜5乗に比
例する5次収差を補正するように焦点補正コイル9およ
び非点補正器10の各励磁電流を制御装置16により調
整することにより、焦点補正コイル9や非点補正器10
の取り付け位置を設定し直さなくとも、3次収差や5次
収差を低減することができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、荷電粒子線装置お
よびその収差補正方法に関する。
よびその収差補正方法に関する。
【0002】
【従来の技術】今日、半導体の高集積化が進むにつれて
より高解像度の露光装置が要求されているが、そのよう
な中にあって電子線に代表される荷電粒子線露光装置に
対して大きな関心を寄せられている。そのような露光装
置の一つに、レチクル(マスクとも言う)上に形成され
た回路パターンを電子線でウェハ上に露光転写する電子
線投影露光装置がある。電子線投影露光装置では一度に
一括して投影露光できる領域(サブフィールドと呼ばれ
る)は回路パターン全体に比べて非常に小さいため、レ
チクル上の回路パターンは複数のサブフィールドに分割
して形成される。露光の際には、レチクルとウェハを互
に逆方向に連続移動させながら電子線を連続移動方向に
対して直交する方向に偏向し、ウェハ上で各サブフィー
ルドの像を繋ぎ合わせるように露光することによって半
導体チップ一個分の全回路パターンをウェハ上に転写す
る。このように、磁場または電場を利用した偏向器によ
り電子線を偏向して光軸外のパターンを露光転写するこ
とにより、露光装置の時間当りのウェハ処理能力を高め
るようにしている。このようにサブフィールドと呼ばれ
る複数の小領域を繋ぎ合わせて1つのチップを露光する
分割露光方式の電子線投影露光装置としては、例えば特
開平8−64522号公報に開示されている。
より高解像度の露光装置が要求されているが、そのよう
な中にあって電子線に代表される荷電粒子線露光装置に
対して大きな関心を寄せられている。そのような露光装
置の一つに、レチクル(マスクとも言う)上に形成され
た回路パターンを電子線でウェハ上に露光転写する電子
線投影露光装置がある。電子線投影露光装置では一度に
一括して投影露光できる領域(サブフィールドと呼ばれ
る)は回路パターン全体に比べて非常に小さいため、レ
チクル上の回路パターンは複数のサブフィールドに分割
して形成される。露光の際には、レチクルとウェハを互
に逆方向に連続移動させながら電子線を連続移動方向に
対して直交する方向に偏向し、ウェハ上で各サブフィー
ルドの像を繋ぎ合わせるように露光することによって半
導体チップ一個分の全回路パターンをウェハ上に転写す
る。このように、磁場または電場を利用した偏向器によ
り電子線を偏向して光軸外のパターンを露光転写するこ
とにより、露光装置の時間当りのウェハ処理能力を高め
るようにしている。このようにサブフィールドと呼ばれ
る複数の小領域を繋ぎ合わせて1つのチップを露光する
分割露光方式の電子線投影露光装置としては、例えば特
開平8−64522号公報に開示されている。
【0003】ところで、電子光学系の収差理論により、
電子線を偏向すると集束レンズによる収差に加えて新た
に偏向収差が生じ、偏向しないときに比べて像のぼけと
歪みが増大することが知られている。例えば、電子線を
偏向した場合には電子線が光軸から離れた別の軌道を通
るため、集束レンズの結像力が光軸とは異なり、一般的
には、偏向距離が大きくなると結像力が強くなる。その
ため、偏向した電子線は偏向していないときに比べてウ
ェハ面よりもレチクル側で焦点を結ぶ偏向像面湾曲収差
が生じ、ウェハ面で像がぼけることになる。
電子線を偏向すると集束レンズによる収差に加えて新た
に偏向収差が生じ、偏向しないときに比べて像のぼけと
歪みが増大することが知られている。例えば、電子線を
偏向した場合には電子線が光軸から離れた別の軌道を通
るため、集束レンズの結像力が光軸とは異なり、一般的
には、偏向距離が大きくなると結像力が強くなる。その
ため、偏向した電子線は偏向していないときに比べてウ
ェハ面よりもレチクル側で焦点を結ぶ偏向像面湾曲収差
が生じ、ウェハ面で像がぼけることになる。
【0004】また、電子線を偏向することにより電子線
がレンズ中心外を通るため、レンズから受ける磁場また
は電場は電子線の軸に対しては回転対称でなくなり、結
像力が電子線内の方位角によって異なるようになる。そ
のため、焦点位置が電子線内の方位角によって異なる、
いわゆる偏向非点収差が発生する。
がレンズ中心外を通るため、レンズから受ける磁場また
は電場は電子線の軸に対しては回転対称でなくなり、結
像力が電子線内の方位角によって異なるようになる。そ
のため、焦点位置が電子線内の方位角によって異なる、
いわゆる偏向非点収差が発生する。
【0005】従来、これらの偏向像面湾曲収差および偏
向非点収差を取除くために、焦点補正コイルや8極子か
ら成る非点補正器を用いて偏向収差の動的補正が行われ
ている。例えば、X.Zhu等(X.Zhu,H.Liu and E.Mu
nro,SPIE,Proceedings,Voi.2522(1995)66-77)により、
3次の偏向歪みおよびハイブリッド歪み収差に対する収
差補正器としてこれらの焦点補正コイルおよび非点補正
器を用いることが提唱されている。ここで、ハイブリッ
ド歪み収差とは、一度の露光で転写される領域(サブフ
ィールド像)自身が変形することに対応しており、ハイ
ブリッド歪み収差は取除くことが困難な収差として知ら
れている。X.Zhu等は、2個の焦点補正コイルおよ
び2個の非点補正器を導入し、露光装置内におけるそれ
らの設置位置を最適化することにより偏向歪み収差の消
去およびハイブリッド歪み収差の低減を図っている。
向非点収差を取除くために、焦点補正コイルや8極子か
ら成る非点補正器を用いて偏向収差の動的補正が行われ
ている。例えば、X.Zhu等(X.Zhu,H.Liu and E.Mu
nro,SPIE,Proceedings,Voi.2522(1995)66-77)により、
3次の偏向歪みおよびハイブリッド歪み収差に対する収
差補正器としてこれらの焦点補正コイルおよび非点補正
器を用いることが提唱されている。ここで、ハイブリッ
ド歪み収差とは、一度の露光で転写される領域(サブフ
ィールド像)自身が変形することに対応しており、ハイ
ブリッド歪み収差は取除くことが困難な収差として知ら
れている。X.Zhu等は、2個の焦点補正コイルおよ
び2個の非点補正器を導入し、露光装置内におけるそれ
らの設置位置を最適化することにより偏向歪み収差の消
去およびハイブリッド歪み収差の低減を図っている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、実際の電子
光学系では、レンズ,偏向器,動的補正器等の部品の加
工誤差や組立誤差などにより実際に得られる収差が計算
上の収差からずれることがある。このような場合、上述
したX.Zhu等の提案する装置では、導入された2個
の焦点補正コイルと2個の非点補正器の設置位置を計算
によって再度最適化し、実際の取り付け位置を調整し直
す必要があった。しかしながら、実際に取り付け位置を
調整し直すのは大変困難であって、事実上はほとんど不
可能である。
光学系では、レンズ,偏向器,動的補正器等の部品の加
工誤差や組立誤差などにより実際に得られる収差が計算
上の収差からずれることがある。このような場合、上述
したX.Zhu等の提案する装置では、導入された2個
の焦点補正コイルと2個の非点補正器の設置位置を計算
によって再度最適化し、実際の取り付け位置を調整し直
す必要があった。しかしながら、実際に取り付け位置を
調整し直すのは大変困難であって、事実上はほとんど不
可能である。
【0007】本発明の目的は、荷電粒子線装置の収差を
焦点補正コイルや非点補正器からなる動的補正系によっ
て低減し、かつ、当該補正器の設置位置の再調整を不要
とすることができる収差補正方法および荷電粒子線装置
を提供することにある。
焦点補正コイルや非点補正器からなる動的補正系によっ
て低減し、かつ、当該補正器の設置位置の再調整を不要
とすることができる収差補正方法および荷電粒子線装置
を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】発明の実施の形態を示す
図1に対応付けて説明する。 (1)請求項1の発明は、荷電粒子線の偏向量の2乗お
よび3乗に比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例
する5次収差とを、焦点補正コイル9および非点補正器
10で構成される動的補正系により補正する荷電粒子線
装置であって、補正すべき収差に関する焦点補正コイル
および非点補正器の各々の個数を、各種の収差とそれら
を補正するために必要な焦点補正コイルおよび非点補正
器の数との関係を示す表2に基づいて決定し、動的補正
系を構成する焦点補正コイル9および非点補正器10の
各々の個数を表2に基づいて決定された個数以上とする
ことによって上述の目的を達成する。例えば、補正すべ
き収差がMx,1(5)α3<γ>2の場合には、表2より非点補
正器の個数を1と決定する。
図1に対応付けて説明する。 (1)請求項1の発明は、荷電粒子線の偏向量の2乗お
よび3乗に比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例
する5次収差とを、焦点補正コイル9および非点補正器
10で構成される動的補正系により補正する荷電粒子線
装置であって、補正すべき収差に関する焦点補正コイル
および非点補正器の各々の個数を、各種の収差とそれら
を補正するために必要な焦点補正コイルおよび非点補正
器の数との関係を示す表2に基づいて決定し、動的補正
系を構成する焦点補正コイル9および非点補正器10の
各々の個数を表2に基づいて決定された個数以上とする
ことによって上述の目的を達成する。例えば、補正すべ
き収差がMx,1(5)α3<γ>2の場合には、表2より非点補
正器の個数を1と決定する。
【表2】 (2)請求項2の発明は、荷電粒子線の偏向量の2乗お
よび3乗に比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例
する5次収差とを、焦点補正コイル9および非点補正器
10で構成される動的補正系により補正する荷電粒子線
装置の収差補正方法であって、3次および5次収差の内
の補正すべき収差の各々に関して、(a)その補正すべ
き収差に関する収差項、(b)焦点補正コイル9の励磁
電流に基づいて算出される焦点補正コイル9による収差
補正項および(c)非点補正器10の励磁電流に基づい
て算出される非点補正器10による収差補正項の線形式
を形成し、前記線形式から成る連立方程式が成立するよ
うに焦点補正コイル9および非点補正器10の個数をそ
れぞれ決定するとともに、焦点補正コイル9および非点
補正器10の励磁電流をそれぞれ連立方程式から算出さ
れる電流に調整することによって上述の目的を達成す
る。 (3)請求項3の発明は、荷電粒子線の偏向量の2乗お
よび3乗に比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例
する5次収差とを、焦点補正コイル9および非点補正器
10で構成される動的補正系により補正する荷電粒子線
装置の収差補正方法であって、3次収差に関する式(1
44)〜(152)
よび3乗に比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例
する5次収差とを、焦点補正コイル9および非点補正器
10で構成される動的補正系により補正する荷電粒子線
装置の収差補正方法であって、3次および5次収差の内
の補正すべき収差の各々に関して、(a)その補正すべ
き収差に関する収差項、(b)焦点補正コイル9の励磁
電流に基づいて算出される焦点補正コイル9による収差
補正項および(c)非点補正器10の励磁電流に基づい
て算出される非点補正器10による収差補正項の線形式
を形成し、前記線形式から成る連立方程式が成立するよ
うに焦点補正コイル9および非点補正器10の個数をそ
れぞれ決定するとともに、焦点補正コイル9および非点
補正器10の励磁電流をそれぞれ連立方程式から算出さ
れる電流に調整することによって上述の目的を達成す
る。 (3)請求項3の発明は、荷電粒子線の偏向量の2乗お
よび3乗に比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例
する5次収差とを、焦点補正コイル9および非点補正器
10で構成される動的補正系により補正する荷電粒子線
装置の収差補正方法であって、3次収差に関する式(1
44)〜(152)
【数18】 および前記5次収差に関する式(153)〜(214)
【数19】
【数20】
【数21】
【数22】
【数23】
【数24】
【数25】 から補正すべき収差に関する式を選んで連立方程式を形
成し、その連立方程式を成立させるNcを焦点補正コイ
ル9の個数に、Nsを非点補正器10の個数に決定し、
Nc個の焦点補正コイル9の各励磁電流を前記連立方程
式から算出されるIc(2),j、Ic(4),jに調整するととも
に、Ns個の非点補正器の各励磁電流を前記連立方程式
から算出されるIs(2),j、Is(4),jに調整することによ
って上述の目的を達成する。ただし、式(144)〜
(214)において、(a)α、β、γは順に荷電粒子
線の開き半角、転写像内の位置および偏向量であり、
(b)Mfc(3)、Mas(3)、Mdis(3)、Hdis,1(3)、Hdi
s,2(3)は3次収差の収差係数であり、(c)Mx,1(5)〜
Mx,3(5)、Mcoma,1(5)〜Mcoma,3(5)、Hcoma,1(5)〜
Hcoma,5(5)、Mfc(5)、Hfc,1(5)〜Hfc,5(5)、Mas
(5)、Has,1(5)〜Has,4(5)、Mdis(5)、Hdis,1(5)〜
Hdis,8(5)は5次収差の収差係数であり、(d)ΔMf
c,c,j(3)、ΔMdis,c,j(3)、ΔHdis,c,j(3)は焦点補正
コイル9の3次収差に関する収差補正係数であり、
(e)ΔMas,s,j(3)、ΔMdis,s,j(3)、ΔHdis,s,j
(3)は非点補正器10の3次収差に関する収差補正係数
であり、(f)ΔMx,2c,j(5)、ΔMcoma,1c,j(5)、Δ
Mcoma,2c,j(5)、ΔHcoma,1c,j(5)、ΔHcoma,4c,j
(5)、ΔMfc,c,j(5)、ΔHfc,1c,j(5)、ΔHfc,2c,j
(5)、ΔHfc,4c,j(5)、ΔMas,c,j(5)、ΔHas,2c,j
(5)、ΔHas,4c,j(5)、ΔMdis,c,j(5)、ΔHdis,1c,j
(5)、ΔHdis,2c,j(5)、ΔHdis,4c,j(5)、ΔHdis,5c,
j(5)、ΔHdis,7c,j(5)は焦点補正コイル9の5次収差
に関する収差補正係数であり、(g)ΔMx,1s,j(5)、
ΔMx,3s,j(5)、ΔMcoma,1s,j(5)〜ΔMcoma,3s,j
(5)、ΔHcoma,2s,j(5)、ΔHcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,
5s,j(5)、ΔMfc,s1,j(5)、ΔMfc,s2,j(5)、ΔHfc,1
s,j(5)、ΔHfc,2s,j(5)、ΔHfc,3s,j(5)、ΔHfc,5s,
j(5)、ΔMas,s,j(5)、ΔHas,1s,j(5)〜ΔHas,3s,j
(5)、ΔMdis,s1,j(5)、ΔMdis,s2,j(5)、ΔHdis,1s,
j(5)、ΔHdis,2s1,j(5)、ΔHdis,2s2,j(5)、ΔHdis,
3s,j(5)〜ΔHdis,6s,j(5)、ΔHdis,8s,j(5)は非点補
正器10の5次収差に関する収差補正係数であり、< >
は複素共役を表す。 (4)請求項4の発明では、Nc個の焦点補正コイル9
およびNs個の非点補正器10から成り、荷電粒子線の
偏向量の2乗および3乗に比例する3次収差を補正する
動的補正系と、その動的補正系を制御する制御装置16
とを備える荷電粒子線装置であって、Nc、Nsを、3次
収差に関する次式(215)〜(223)からなる連立
方程式が成立する値とし、前記制御装置は前記各焦点補
正コイルの励磁電流を前記連立方程式から算出されるI
c(2),jに調整するとともに、前記各非点補正器の励磁電
流を前記連立方程式から算出されるIs(2),jに調整する
ことにより上述の目的を達成する。
成し、その連立方程式を成立させるNcを焦点補正コイ
ル9の個数に、Nsを非点補正器10の個数に決定し、
Nc個の焦点補正コイル9の各励磁電流を前記連立方程
式から算出されるIc(2),j、Ic(4),jに調整するととも
に、Ns個の非点補正器の各励磁電流を前記連立方程式
から算出されるIs(2),j、Is(4),jに調整することによ
って上述の目的を達成する。ただし、式(144)〜
(214)において、(a)α、β、γは順に荷電粒子
線の開き半角、転写像内の位置および偏向量であり、
(b)Mfc(3)、Mas(3)、Mdis(3)、Hdis,1(3)、Hdi
s,2(3)は3次収差の収差係数であり、(c)Mx,1(5)〜
Mx,3(5)、Mcoma,1(5)〜Mcoma,3(5)、Hcoma,1(5)〜
Hcoma,5(5)、Mfc(5)、Hfc,1(5)〜Hfc,5(5)、Mas
(5)、Has,1(5)〜Has,4(5)、Mdis(5)、Hdis,1(5)〜
Hdis,8(5)は5次収差の収差係数であり、(d)ΔMf
c,c,j(3)、ΔMdis,c,j(3)、ΔHdis,c,j(3)は焦点補正
コイル9の3次収差に関する収差補正係数であり、
(e)ΔMas,s,j(3)、ΔMdis,s,j(3)、ΔHdis,s,j
(3)は非点補正器10の3次収差に関する収差補正係数
であり、(f)ΔMx,2c,j(5)、ΔMcoma,1c,j(5)、Δ
Mcoma,2c,j(5)、ΔHcoma,1c,j(5)、ΔHcoma,4c,j
(5)、ΔMfc,c,j(5)、ΔHfc,1c,j(5)、ΔHfc,2c,j
(5)、ΔHfc,4c,j(5)、ΔMas,c,j(5)、ΔHas,2c,j
(5)、ΔHas,4c,j(5)、ΔMdis,c,j(5)、ΔHdis,1c,j
(5)、ΔHdis,2c,j(5)、ΔHdis,4c,j(5)、ΔHdis,5c,
j(5)、ΔHdis,7c,j(5)は焦点補正コイル9の5次収差
に関する収差補正係数であり、(g)ΔMx,1s,j(5)、
ΔMx,3s,j(5)、ΔMcoma,1s,j(5)〜ΔMcoma,3s,j
(5)、ΔHcoma,2s,j(5)、ΔHcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,
5s,j(5)、ΔMfc,s1,j(5)、ΔMfc,s2,j(5)、ΔHfc,1
s,j(5)、ΔHfc,2s,j(5)、ΔHfc,3s,j(5)、ΔHfc,5s,
j(5)、ΔMas,s,j(5)、ΔHas,1s,j(5)〜ΔHas,3s,j
(5)、ΔMdis,s1,j(5)、ΔMdis,s2,j(5)、ΔHdis,1s,
j(5)、ΔHdis,2s1,j(5)、ΔHdis,2s2,j(5)、ΔHdis,
3s,j(5)〜ΔHdis,6s,j(5)、ΔHdis,8s,j(5)は非点補
正器10の5次収差に関する収差補正係数であり、< >
は複素共役を表す。 (4)請求項4の発明では、Nc個の焦点補正コイル9
およびNs個の非点補正器10から成り、荷電粒子線の
偏向量の2乗および3乗に比例する3次収差を補正する
動的補正系と、その動的補正系を制御する制御装置16
とを備える荷電粒子線装置であって、Nc、Nsを、3次
収差に関する次式(215)〜(223)からなる連立
方程式が成立する値とし、前記制御装置は前記各焦点補
正コイルの励磁電流を前記連立方程式から算出されるI
c(2),jに調整するとともに、前記各非点補正器の励磁電
流を前記連立方程式から算出されるIs(2),jに調整する
ことにより上述の目的を達成する。
【数26】 ただし、式(215)〜(223)において、(a)
α、β、γは順に荷電粒子線の開き半角、転写像内の位
置および偏向量であり、(b)Mfc(3),Mas(3),Mdi
s(3),Hdis,1(3),Hdis,2(3)は3次収差の収差係数で
あり、(c)ΔMfc,c,j(3),ΔMdis,c,j(3),ΔHdi
s,c,j(3)は焦点補正コイル9の3次収差に関する収差補
正係数であり、(d)ΔMas,s,j(3),ΔMdis,s,j
(3),ΔHdis,s,j(3)は非点補正器10の3次収差に関
する収差補正係数であり、< >は複素共役を表す。 (5)請求項5の発明では、Nc個の焦点補正コイル9
およびNs個の非点補正器10から成り、荷電粒子線の
偏向量の2〜5乗に比例する5次収差を補正する動的補
正系と、動的補正系を制御する制御装置16とを備える
荷電粒子線装置であって、Nc、Nsを、5次収差に関す
る次式(224)〜(285)からなる連立方程式が成
立する値とし、前記制御装置は前記各焦点補正コイルの
励磁電流を前記連立方程式から算出されるIc(2),j、I
c(4),jに調整するとともに、前記各非点補正器の励磁電
流を前記連立方程式から算出されるIs(2),j、Is(4),j
に調整することにより上述の目的を達成する。
α、β、γは順に荷電粒子線の開き半角、転写像内の位
置および偏向量であり、(b)Mfc(3),Mas(3),Mdi
s(3),Hdis,1(3),Hdis,2(3)は3次収差の収差係数で
あり、(c)ΔMfc,c,j(3),ΔMdis,c,j(3),ΔHdi
s,c,j(3)は焦点補正コイル9の3次収差に関する収差補
正係数であり、(d)ΔMas,s,j(3),ΔMdis,s,j
(3),ΔHdis,s,j(3)は非点補正器10の3次収差に関
する収差補正係数であり、< >は複素共役を表す。 (5)請求項5の発明では、Nc個の焦点補正コイル9
およびNs個の非点補正器10から成り、荷電粒子線の
偏向量の2〜5乗に比例する5次収差を補正する動的補
正系と、動的補正系を制御する制御装置16とを備える
荷電粒子線装置であって、Nc、Nsを、5次収差に関す
る次式(224)〜(285)からなる連立方程式が成
立する値とし、前記制御装置は前記各焦点補正コイルの
励磁電流を前記連立方程式から算出されるIc(2),j、I
c(4),jに調整するとともに、前記各非点補正器の励磁電
流を前記連立方程式から算出されるIs(2),j、Is(4),j
に調整することにより上述の目的を達成する。
【数27】
【数28】
【数29】
【数30】
【数31】
【数32】
【数33】 ただし、式(224)〜(285)において、(a)
α、β、γは順に荷電粒子線の開き半角,転写像内の位
置および偏向量であり、(b)Mx,1(5)〜Mx,3(5)、Mc
oma,1(5)〜Mcoma,3(5)、Hcoma,1(5)〜Hcoma,5(5)、
Mfc(5)、Hfc,1(5)〜Hfc,5(5)、Mas(5)、Has,1(5)
〜Has,4(5)、Mdis(5)、Hdis,1(5)〜Hdis,8(5)は5
次収差の収差係数であり、(c)ΔMfc,c,j(3),ΔMd
is,c,j(3),ΔHdis,c,j(3),は焦点補正コイル9の3
次収差に関する収差補正係数であり、(d)ΔMas,s,j
(3),ΔMdis,s,j(3),ΔHdis,s,j(3)は非点補正器1
0の3次収差に関する収差補正係数であり、(e)ΔM
x,2c,j(5)、ΔMcoma,1c,j(5)、ΔMcoma,2c,j(5)、Δ
Hcoma,1c,j(5)、ΔHcoma,4c,j(5)、ΔMfc,c,j(5)、
ΔHfc,1c,j(5)、ΔHfc,2c,j(5)、ΔHfc,4c,j(5)、Δ
Mas,c,j(5)、ΔHas,2c,j(5)、ΔHas,4c,j(5)、ΔMd
is,c,j(5)、ΔHdis,1c,j(5)、ΔHdis,2c,j(5)、ΔHd
is,4c,j(5)、ΔHdis,5c,j(5)、ΔHdis,7c,j(5)は焦点
補正コイル9の5次収差に関する収差補正係数であり、
(f)ΔMx,1s,j(5)、ΔMx,3s,j(5)、ΔMcoma,1s,j
(5)〜ΔMcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,2s,j(5)、ΔHcoma,
3s,j(5)、ΔHcoma,5s,j(5)、ΔMfc,s1,j(5)、ΔMfc,
s2,j(5)、ΔHfc,1s,j(5)、ΔHfc,2s,j(5)、ΔHfc,3
s,j(5)、ΔHfc,5s,j(5)、ΔMas,s,j(5)、ΔHas,1s,j
(5)〜ΔHas,3s,j(5)、ΔMdis,s1,j(5)、ΔMdis,s2,j
(5)、ΔHdis,1s,j(5)、ΔHdis,2s1,j(5)、ΔHdis,2s
2,j(5)、ΔHdis,3s,j(5)〜ΔHdis,6s,j(5)、ΔHdis,
8s,j(5)は非点補正器10の5次収差に関する収差補正
係数であり、< >は複素共役を表す。 (6)請求項6の発明は、荷電粒子線の偏向量の2乗以
上に比例する収差を、焦点補正コイル9および非点補正
器10で構成される動的補正系により補正する荷電粒子
線装置であって、動的補正系を、補正すべき収差の種類
に応じて決められた数の焦点補正コイル9および非点補
正器10で構成したことにより上述の目的を達成する。 (7)請求項7の発明は、レチクル2の像をウエハ4上
に転写する荷電粒子線露光装置において、レチクル2の
像を偏向する際に発生する収差を補正光学系で補正する
収差補正方法であって、荷電粒子線の開き半角α、転写
像内の位置β、偏向位置γの依存性が次式に示す4種の
形で表される収差の中で、
α、β、γは順に荷電粒子線の開き半角,転写像内の位
置および偏向量であり、(b)Mx,1(5)〜Mx,3(5)、Mc
oma,1(5)〜Mcoma,3(5)、Hcoma,1(5)〜Hcoma,5(5)、
Mfc(5)、Hfc,1(5)〜Hfc,5(5)、Mas(5)、Has,1(5)
〜Has,4(5)、Mdis(5)、Hdis,1(5)〜Hdis,8(5)は5
次収差の収差係数であり、(c)ΔMfc,c,j(3),ΔMd
is,c,j(3),ΔHdis,c,j(3),は焦点補正コイル9の3
次収差に関する収差補正係数であり、(d)ΔMas,s,j
(3),ΔMdis,s,j(3),ΔHdis,s,j(3)は非点補正器1
0の3次収差に関する収差補正係数であり、(e)ΔM
x,2c,j(5)、ΔMcoma,1c,j(5)、ΔMcoma,2c,j(5)、Δ
Hcoma,1c,j(5)、ΔHcoma,4c,j(5)、ΔMfc,c,j(5)、
ΔHfc,1c,j(5)、ΔHfc,2c,j(5)、ΔHfc,4c,j(5)、Δ
Mas,c,j(5)、ΔHas,2c,j(5)、ΔHas,4c,j(5)、ΔMd
is,c,j(5)、ΔHdis,1c,j(5)、ΔHdis,2c,j(5)、ΔHd
is,4c,j(5)、ΔHdis,5c,j(5)、ΔHdis,7c,j(5)は焦点
補正コイル9の5次収差に関する収差補正係数であり、
(f)ΔMx,1s,j(5)、ΔMx,3s,j(5)、ΔMcoma,1s,j
(5)〜ΔMcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,2s,j(5)、ΔHcoma,
3s,j(5)、ΔHcoma,5s,j(5)、ΔMfc,s1,j(5)、ΔMfc,
s2,j(5)、ΔHfc,1s,j(5)、ΔHfc,2s,j(5)、ΔHfc,3
s,j(5)、ΔHfc,5s,j(5)、ΔMas,s,j(5)、ΔHas,1s,j
(5)〜ΔHas,3s,j(5)、ΔMdis,s1,j(5)、ΔMdis,s2,j
(5)、ΔHdis,1s,j(5)、ΔHdis,2s1,j(5)、ΔHdis,2s
2,j(5)、ΔHdis,3s,j(5)〜ΔHdis,6s,j(5)、ΔHdis,
8s,j(5)は非点補正器10の5次収差に関する収差補正
係数であり、< >は複素共役を表す。 (6)請求項6の発明は、荷電粒子線の偏向量の2乗以
上に比例する収差を、焦点補正コイル9および非点補正
器10で構成される動的補正系により補正する荷電粒子
線装置であって、動的補正系を、補正すべき収差の種類
に応じて決められた数の焦点補正コイル9および非点補
正器10で構成したことにより上述の目的を達成する。 (7)請求項7の発明は、レチクル2の像をウエハ4上
に転写する荷電粒子線露光装置において、レチクル2の
像を偏向する際に発生する収差を補正光学系で補正する
収差補正方法であって、荷電粒子線の開き半角α、転写
像内の位置β、偏向位置γの依存性が次式に示す4種の
形で表される収差の中で、
【数34】 打ち消すべき収差に対応した前記補正光学系の励磁電流
を偏向位置γに対応して変化させることによって、各偏
向位置γにおける前記収差が十分に補正精度範囲内とな
るように補正することにより上述の目的を達成する。f
(γ,<γ>),fi(γ,<γ>),fi,j(γ,<γ>),fi,j,k(γ,<
γ>)はγ,<γ>の関数であり、X1=α,X2=<α>,X
3=β,X4=<β>であり、i,j,kはi≧j≧kを満
たす1から4までの整数であって(i,j,k)=
(2,2,2),(4,2,2),(4,4,2),
(4,4,4)の場合は除く。< >は複素共役を表す。
を偏向位置γに対応して変化させることによって、各偏
向位置γにおける前記収差が十分に補正精度範囲内とな
るように補正することにより上述の目的を達成する。f
(γ,<γ>),fi(γ,<γ>),fi,j(γ,<γ>),fi,j,k(γ,<
γ>)はγ,<γ>の関数であり、X1=α,X2=<α>,X
3=β,X4=<β>であり、i,j,kはi≧j≧kを満
たす1から4までの整数であって(i,j,k)=
(2,2,2),(4,2,2),(4,4,2),
(4,4,4)の場合は除く。< >は複素共役を表す。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明による収差補正方法では、
複数の焦点補正コイルと複数の非点補正器からなる多段
動的補正系を設けることにより、それらの設置位置を変
更することなく、励磁電流を調整することにより3次お
よび5次の収差の動的補正を行うことができる。3次収
差は偏向量に無関係な収差および偏向量の1〜3乗に比
例する収差から成り、5次収差は偏向量に無関係な収差
および偏向量の1〜5乗に比例する収差から成るが、本
実施の形態では偏向量の2乗以上に比例する収差を低減
させる。
複数の焦点補正コイルと複数の非点補正器からなる多段
動的補正系を設けることにより、それらの設置位置を変
更することなく、励磁電流を調整することにより3次お
よび5次の収差の動的補正を行うことができる。3次収
差は偏向量に無関係な収差および偏向量の1〜3乗に比
例する収差から成り、5次収差は偏向量に無関係な収差
および偏向量の1〜5乗に比例する収差から成るが、本
実施の形態では偏向量の2乗以上に比例する収差を低減
させる。
【0010】図1は本発明による収差補正方法の実施の
形態を説明する図であり、電子線投影露光装置の電子光
学系の概略構成を示す模式図である。不図示の照明光学
系によりマスク2のサブフィールドの1つに電子線EB
が照射され、マスク2を通過した電子線EBは投影レン
ズ5,6により感応基板であるウェハ4上に所定の縮小
率で結像される。このとき、マスク2を通過した電子線
EBの内、散乱アパーチャー3の開口を通過したものの
みが結像される。9および10はそれぞれ動的補正系を
構成する焦点補正コイルおよび非点補正器である。これ
らの焦点補正コイル9,非点補正器10は、記憶装置1
5に記憶された補正データに基づいて制御装置16によ
り制御される。8は電子線EBを偏向する偏向器であ
る。なお、5a,6aは投影レンズ5,6の投影レンズ
磁極であり、5b,6bはそれぞれのレンズ用コイルで
ある。
形態を説明する図であり、電子線投影露光装置の電子光
学系の概略構成を示す模式図である。不図示の照明光学
系によりマスク2のサブフィールドの1つに電子線EB
が照射され、マスク2を通過した電子線EBは投影レン
ズ5,6により感応基板であるウェハ4上に所定の縮小
率で結像される。このとき、マスク2を通過した電子線
EBの内、散乱アパーチャー3の開口を通過したものの
みが結像される。9および10はそれぞれ動的補正系を
構成する焦点補正コイルおよび非点補正器である。これ
らの焦点補正コイル9,非点補正器10は、記憶装置1
5に記憶された補正データに基づいて制御装置16によ
り制御される。8は電子線EBを偏向する偏向器であ
る。なお、5a,6aは投影レンズ5,6の投影レンズ
磁極であり、5b,6bはそれぞれのレンズ用コイルで
ある。
【0011】図1では動的補正系は3つの焦点補正コイ
ルと3つの非点補正器で構成されているが、以下に説明
するように、その個数は補正すべき収差の数に応じて各
個数が決定される。以下では焦点補正コイルの数をN
c、それらの励磁電流をIcj(j=1,2,…,Nc)と
し、非点補正器の数をNs、それらの励磁電流をIsj
(j=1,2,…,Ns)とする。図2に示すように、
非点補正器は独立に制御できる2組の4極子から成り、
各コイル20には励磁電流Ia,Ibに関してそれぞれ図
2に示すような電流(Ia−Ibなど)が与えられ、一般
的には複素表示Isj(=Ia,j+i・Ib,j)を用いて表
す。
ルと3つの非点補正器で構成されているが、以下に説明
するように、その個数は補正すべき収差の数に応じて各
個数が決定される。以下では焦点補正コイルの数をN
c、それらの励磁電流をIcj(j=1,2,…,Nc)と
し、非点補正器の数をNs、それらの励磁電流をIsj
(j=1,2,…,Ns)とする。図2に示すように、
非点補正器は独立に制御できる2組の4極子から成り、
各コイル20には励磁電流Ia,Ibに関してそれぞれ図
2に示すような電流(Ia−Ibなど)が与えられ、一般
的には複素表示Isj(=Ia,j+i・Ib,j)を用いて表
す。
【0012】ところで、動的補正により収差を補正する
場合には、偏向量γ、<γ>の2乗量に比例する励磁電流
で補正する。そのため、上述した励磁電流Icj、Isjを
Ic(2),j、Is(2),jと表せば、この励磁電流Ic(2),j、
Is(2),jは以下のように偏向量γ、<γ>の2乗量で表さ
れる。ただし、< >は複素共役を表す。
場合には、偏向量γ、<γ>の2乗量に比例する励磁電流
で補正する。そのため、上述した励磁電流Icj、Isjを
Ic(2),j、Is(2),jと表せば、この励磁電流Ic(2),j、
Is(2),jは以下のように偏向量γ、<γ>の2乗量で表さ
れる。ただし、< >は複素共役を表す。
【数35】 Ic(2),j=C2,jγ<γ> Is(2),j=S2,jγ2 …(287) ここで、C2,j、S2,jは比例係数であり、C2,jは実
数、S2,jは複素数である。
数、S2,jは複素数である。
【0013】最初に、3次収差の動的補正について説明
する。なお、上述したように、本実施の形態では偏向量
の2乗以上に比例する収差について補正を行うこととし
たが、3次収差の場合には、偏向量の2乗以上に比例す
る収差は偏向像面湾曲収差,偏向非点収差,偏向
歪み収差およびハイブリッド歪み収差である。本発明
による補正方法では、上述した〜の各収差に対応し
て次式(288)〜(292)を満足するように励磁電
流Ic(2),jおよびIs(2),jを設定する。
する。なお、上述したように、本実施の形態では偏向量
の2乗以上に比例する収差について補正を行うこととし
たが、3次収差の場合には、偏向量の2乗以上に比例す
る収差は偏向像面湾曲収差,偏向非点収差,偏向
歪み収差およびハイブリッド歪み収差である。本発明
による補正方法では、上述した〜の各収差に対応し
て次式(288)〜(292)を満足するように励磁電
流Ic(2),jおよびIs(2),jを設定する。
【数36】 ただし、αは電子線の開き半角、βは転写像内(ウエハ
上のサブフィールド像内)の位置、γはウエハ上におけ
るサブフィールド像(つまり電子線)の偏向量を表して
おり、< >は複素共役を表す。尚、α、β、γは各々複
素数で表すことができ、下記の様になる。
上のサブフィールド像内)の位置、γはウエハ上におけ
るサブフィールド像(つまり電子線)の偏向量を表して
おり、< >は複素共役を表す。尚、α、β、γは各々複
素数で表すことができ、下記の様になる。
【数37】 但し、x、yは転写像(サブフィールド像)内の位置を
表し、x’、y’はx,yを光軸方向位置zで各々微分
したものを表し、X、Yはウエハ4内のサブフィールド
像の中心位置を表す。
表し、x’、y’はx,yを光軸方向位置zで各々微分
したものを表し、X、Yはウエハ4内のサブフィールド
像の中心位置を表す。
【0014】上式において、式(288)は偏向像面湾
曲収差に、式(289)は偏向非点収差に、式(29
0)は偏向歪み収差に関する式であり、式(291)お
よび式(292)はハイブリッド歪み収差に関する式で
ある。また、Mfc(3)、Mas(3),Mdis(3)、Hdis,1
(3)、Hdis,2(3)はそれぞれ3次収差係数、ΔMfc,c,j
(3),ΔMas,s,j(3),ΔMdis,c,j(3),ΔHdis,c,j
(3),ΔHdis,s,j(3)はそれぞれ3次収差補正係数であ
り、各式の左辺第1項は集束用レンズ5,6と偏向器8
とにより生じる収差を表し、左辺第2項(ただし、式
(290)に関しては第2および第3項)は動的補正系
が生成する収差補正項である。各収差補正係数は焦点補
正コイル9や非点補正器10の各々について予め求めら
れている。例えば、像面湾曲収差に関係する収差補正係
数ΔMfc,c,j(3)について説明すると、j番目の焦点補
正コイルに電流Ic(2),jを流したときに、像面湾曲収差
についてΔMfc,c,j(3)・Ic(2),jだけ収差が補正される
ことが予め測定されており、その測定結果より収差係数
ΔMfc,c,j(3)が算出される。そして、動的補正系を構
成する各焦点補正コイル9および非点補正器10の励磁
電流Ic(2)j,Is(2)jは、集束用レンズ5,6と偏向器
8とにより生じる各収差と動的補正系9,10によって
生成される収差補正項とが互いに打ち消し合うよう設定
される。
曲収差に、式(289)は偏向非点収差に、式(29
0)は偏向歪み収差に関する式であり、式(291)お
よび式(292)はハイブリッド歪み収差に関する式で
ある。また、Mfc(3)、Mas(3),Mdis(3)、Hdis,1
(3)、Hdis,2(3)はそれぞれ3次収差係数、ΔMfc,c,j
(3),ΔMas,s,j(3),ΔMdis,c,j(3),ΔHdis,c,j
(3),ΔHdis,s,j(3)はそれぞれ3次収差補正係数であ
り、各式の左辺第1項は集束用レンズ5,6と偏向器8
とにより生じる収差を表し、左辺第2項(ただし、式
(290)に関しては第2および第3項)は動的補正系
が生成する収差補正項である。各収差補正係数は焦点補
正コイル9や非点補正器10の各々について予め求めら
れている。例えば、像面湾曲収差に関係する収差補正係
数ΔMfc,c,j(3)について説明すると、j番目の焦点補
正コイルに電流Ic(2),jを流したときに、像面湾曲収差
についてΔMfc,c,j(3)・Ic(2),jだけ収差が補正される
ことが予め測定されており、その測定結果より収差係数
ΔMfc,c,j(3)が算出される。そして、動的補正系を構
成する各焦点補正コイル9および非点補正器10の励磁
電流Ic(2)j,Is(2)jは、集束用レンズ5,6と偏向器
8とにより生じる各収差と動的補正系9,10によって
生成される収差補正項とが互いに打ち消し合うよう設定
される。
【0015】ところで、上述した式(288)〜(29
2)において、係数Mfc(3)およびΔMfc(3)は実数であ
るがその他の係数は複素数で表されるため、式(28
9)〜(292)は各々2つの式からなる。その結果、
5つの式(288)〜(292)は、実際には以下に示
す9つの式(294)〜(302)から成る。
2)において、係数Mfc(3)およびΔMfc(3)は実数であ
るがその他の係数は複素数で表されるため、式(28
9)〜(292)は各々2つの式からなる。その結果、
5つの式(288)〜(292)は、実際には以下に示
す9つの式(294)〜(302)から成る。
【数38】
【0016】以上のことから、動的補正系を設計する際
には、励磁電流Ic(2),j,Is(2),jおよび<Is(2),j>に
関する上記9つの式(294)〜(302)で表される
連立線形方程式が成立するに充分な数の焦点補正コイル
9と非点補正器10を導入し、各焦点補正コイル9およ
び非点補正器10の励磁電流をこの連立線形方程式から
得られる励磁電流Ic(2),j,Is(2),jとなるように調整
することにより、所望の3次収差を打消す動的補正系を
得ることができる。
には、励磁電流Ic(2),j,Is(2),jおよび<Is(2),j>に
関する上記9つの式(294)〜(302)で表される
連立線形方程式が成立するに充分な数の焦点補正コイル
9と非点補正器10を導入し、各焦点補正コイル9およ
び非点補正器10の励磁電流をこの連立線形方程式から
得られる励磁電流Ic(2),j,Is(2),jとなるように調整
することにより、所望の3次収差を打消す動的補正系を
得ることができる。
【0017】上述のような動的補正系を構成する場合に
必要となる動的補正器(焦点補正コイル9及び非点補正
器10)の数であるが、焦点補正コイルの励磁電流は実
数で表され、非点補正器の励磁電流は複素数で表される
ことと、3次の収差のうち偏向像面湾曲以外は複素数で
表されることを考慮すると、3次の各々の収差を補正す
るために必要な補正器(焦点補正コイル9および非点補
正器10)の数は表3のようになる。
必要となる動的補正器(焦点補正コイル9及び非点補正
器10)の数であるが、焦点補正コイルの励磁電流は実
数で表され、非点補正器の励磁電流は複素数で表される
ことと、3次の収差のうち偏向像面湾曲以外は複素数で
表されることを考慮すると、3次の各々の収差を補正す
るために必要な補正器(焦点補正コイル9および非点補
正器10)の数は表3のようになる。
【表3】 尚、上記の補正器の数は補正すべき各収差に最低限必要
な数である。例えば、式(290)で表される偏向歪み
収差の補正は焦点補正コイル9のみで補正を行う場合に
は少なくとも焦点補正コイル9が2個必要であり、非点
補正器10のみで補正を行う場合には少なくとも非点補
正器10が1個必要である。更に、補正器の数は増える
が、焦点補正コイル9と非点補正器10の両方を用いて
この補正を行うことも可能である。
な数である。例えば、式(290)で表される偏向歪み
収差の補正は焦点補正コイル9のみで補正を行う場合に
は少なくとも焦点補正コイル9が2個必要であり、非点
補正器10のみで補正を行う場合には少なくとも非点補
正器10が1個必要である。更に、補正器の数は増える
が、焦点補正コイル9と非点補正器10の両方を用いて
この補正を行うことも可能である。
【0018】ところで、光軸外への偏向領域を大きくす
るほど露光装置の処理能力を高めることができるが、電
子線の偏向領域が大きくなると、3次の偏向収差に加え
て5次の偏向収差がサブフィールド像のぼけと歪みに対
して無視できない影響を与えるようになる。特に、5次
収差の内のハイブリッド歪み収差はサブフィールド像の
形状を歪めてしまう収差であり、サブフィールド像が歪
むと隣接するサブフィールド像の間の繋ぎ精度が悪くな
る。このことは、サブフィールド像を繋いで回路パター
ン全体を露光転写する方式では致命的な影響を与え、例
えば、サブフィールド像の歪みによって隣接するサブフ
ィールド間にまたがる回路パターンが切れてしまった
り、逆に、パターン像が重なってしまってその部分のパ
ターン線幅が理想値からずれてしまったりするおそれが
ある。また、パターンの重ね合わせ精度も低下するおそ
れがある。そこで、以下では5次の収差を低減するため
の動的補正系について説明する。
るほど露光装置の処理能力を高めることができるが、電
子線の偏向領域が大きくなると、3次の偏向収差に加え
て5次の偏向収差がサブフィールド像のぼけと歪みに対
して無視できない影響を与えるようになる。特に、5次
収差の内のハイブリッド歪み収差はサブフィールド像の
形状を歪めてしまう収差であり、サブフィールド像が歪
むと隣接するサブフィールド像の間の繋ぎ精度が悪くな
る。このことは、サブフィールド像を繋いで回路パター
ン全体を露光転写する方式では致命的な影響を与え、例
えば、サブフィールド像の歪みによって隣接するサブフ
ィールド間にまたがる回路パターンが切れてしまった
り、逆に、パターン像が重なってしまってその部分のパ
ターン線幅が理想値からずれてしまったりするおそれが
ある。また、パターンの重ね合わせ精度も低下するおそ
れがある。そこで、以下では5次の収差を低減するため
の動的補正系について説明する。
【0019】5次の収差に関しても、偏向量γの2乗以
上に比例する収差を動的補正により打消すには、次式
(303)〜(333)を満足するように励磁電流Ic
(2),j,Ic(4),j,Is(2),j,Is(4),jを設定すればよ
いことがわかった。
上に比例する収差を動的補正により打消すには、次式
(303)〜(333)を満足するように励磁電流Ic
(2),j,Ic(4),j,Is(2),j,Is(4),jを設定すればよ
いことがわかった。
【数39】
【数40】
【数41】
【数42】
【0020】上述した式(303)〜(333)におい
て、式(303)〜(305)は5次固有の収差に、式
(306)〜(308)は偏向コマ収差に、式(30
9)〜(313)はハイブリッド偏向コマ収差に、式
(314)は偏向像面湾曲収差に、式(315)〜(3
19)はハイブリッド偏向像面湾曲収差に、式(32
0)は偏向非点収差に、式(321)〜(323)はハ
イブリッド偏向非点収差に、式(325)は偏向歪み収
差に、式(326)〜(333)はハイブリッド偏向歪
み収差に関する式である。そして、各式の左辺第1項は
集束用レンズ5,6と偏向器8とにより生じる収差を表
し、それ以外の項は動的補正系9,10によって生成さ
れる収差補正項である。なお、3次偏向像面湾曲収差を
除く他の3次収差補正の場合と同様に、式(303)〜
(333)の式の各収差係数は複素数で表されるため、
それぞれ複素共役の式と合わせて2つの式からなり、次
式(334)〜(395)で表される。
て、式(303)〜(305)は5次固有の収差に、式
(306)〜(308)は偏向コマ収差に、式(30
9)〜(313)はハイブリッド偏向コマ収差に、式
(314)は偏向像面湾曲収差に、式(315)〜(3
19)はハイブリッド偏向像面湾曲収差に、式(32
0)は偏向非点収差に、式(321)〜(323)はハ
イブリッド偏向非点収差に、式(325)は偏向歪み収
差に、式(326)〜(333)はハイブリッド偏向歪
み収差に関する式である。そして、各式の左辺第1項は
集束用レンズ5,6と偏向器8とにより生じる収差を表
し、それ以外の項は動的補正系9,10によって生成さ
れる収差補正項である。なお、3次偏向像面湾曲収差を
除く他の3次収差補正の場合と同様に、式(303)〜
(333)の式の各収差係数は複素数で表されるため、
それぞれ複素共役の式と合わせて2つの式からなり、次
式(334)〜(395)で表される。
【数43】
【数44】
【数45】
【数46】
【数47】
【数48】
【数49】 また、Mx,1(5)〜Mx,3(5)、Mcoma,1(5)〜Mcoma,3
(5)、Hcoma,1(5)〜Hcoma,5(5)、Mfc(5)、Hfc,1(5)
〜Hfc,5(5)、Mas(5)、Has,1(5)〜Has,4(5)、Mdis
(5)、Hdis,1(5)〜Hdis,8(5)は5次収差係数を表し、
ΔMx,2c,j(5)、ΔMx,1s,j(5)、ΔMx,3s,j(5)、ΔMc
oma,1c,j(5)、ΔMcoma,2c,j(5)、ΔMcoma,1s,j(5)〜
ΔMcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,1c,j(5)、ΔHcoma,4c,j
(5)、ΔHcoma,2s,j(5)、ΔHcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,
5s,j(5)、ΔMfc,c,j(5)、ΔMfc,s1,j(5)、ΔMfc,s2,
j(5)、ΔHfc,1c,j(5)、ΔHfc,2c,j(5)、ΔHfc,4c,j
(5)、ΔHfc,1s,j(5)〜ΔHfc,3s,j(5)、ΔHfc,5s,j
(5)、ΔMas,c,j(5)、ΔMas,s,j(5)、ΔHas,2c,j
(5)、ΔHas,4c,j(5)、ΔHas,1s,j(5)〜ΔHas,3s,j
(5)、ΔMdis,c,j(5)、ΔMdis,s1,j(5)、ΔMdis,s2,j
(5)、ΔHdis,1c,j(5)、ΔHdis,2c,j(5)、ΔHdis,4c,
j(5)、ΔHdis,5c,j(5)、ΔHdis,7c,j(5)ΔHdis,1s,j
(5)、ΔHdis,2s1,j(5)、ΔHdis,2s2,j(5)、ΔHdis,3
s,j(5)〜ΔHdis,6s,j(5)、ΔHdis,8s,j(5)は5次収差
補正係数を表している。なお、ΔMfc,c,j(3),ΔMas,
s,j(3),ΔMdis,c,j(3),ΔMdis,s,j(3),ΔHdis,c,
j(3),ΔHdis,s,j(3)は前述した3次収差補正係数であ
り、< >は複素共役を表す。
(5)、Hcoma,1(5)〜Hcoma,5(5)、Mfc(5)、Hfc,1(5)
〜Hfc,5(5)、Mas(5)、Has,1(5)〜Has,4(5)、Mdis
(5)、Hdis,1(5)〜Hdis,8(5)は5次収差係数を表し、
ΔMx,2c,j(5)、ΔMx,1s,j(5)、ΔMx,3s,j(5)、ΔMc
oma,1c,j(5)、ΔMcoma,2c,j(5)、ΔMcoma,1s,j(5)〜
ΔMcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,1c,j(5)、ΔHcoma,4c,j
(5)、ΔHcoma,2s,j(5)、ΔHcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,
5s,j(5)、ΔMfc,c,j(5)、ΔMfc,s1,j(5)、ΔMfc,s2,
j(5)、ΔHfc,1c,j(5)、ΔHfc,2c,j(5)、ΔHfc,4c,j
(5)、ΔHfc,1s,j(5)〜ΔHfc,3s,j(5)、ΔHfc,5s,j
(5)、ΔMas,c,j(5)、ΔMas,s,j(5)、ΔHas,2c,j
(5)、ΔHas,4c,j(5)、ΔHas,1s,j(5)〜ΔHas,3s,j
(5)、ΔMdis,c,j(5)、ΔMdis,s1,j(5)、ΔMdis,s2,j
(5)、ΔHdis,1c,j(5)、ΔHdis,2c,j(5)、ΔHdis,4c,
j(5)、ΔHdis,5c,j(5)、ΔHdis,7c,j(5)ΔHdis,1s,j
(5)、ΔHdis,2s1,j(5)、ΔHdis,2s2,j(5)、ΔHdis,3
s,j(5)〜ΔHdis,6s,j(5)、ΔHdis,8s,j(5)は5次収差
補正係数を表している。なお、ΔMfc,c,j(3),ΔMas,
s,j(3),ΔMdis,c,j(3),ΔMdis,s,j(3),ΔHdis,c,
j(3),ΔHdis,s,j(3)は前述した3次収差補正係数であ
り、< >は複素共役を表す。
【0021】動的補正により5次収差を補正する場合に
は、3次収差の補正の場合と同様に偏向量γ,<γ>の2
乗量に比例する電流を各補正器に流すことにより補正を
行う。但し、上記式(332)〜(393)中のΔMf
c,c,j(3),ΔMas,s,j(3),<ΔMas,s,j(3)>,ΔMdi
s,c,j(3),<ΔMdis,c,j(3)>,ΔMdis,s,j(3),<Δ
Mdis,s,j(3)>,ΔHdis,c,j(3),<ΔHdis,c,j(3)
>,ΔHdis,s,j(3),<ΔHdis,s,j(3)>の3次収差補
正係数にかかる励磁電流は偏向量γ,<γ>の4乗量に比
例しており、以下の式で表すことができる。
は、3次収差の補正の場合と同様に偏向量γ,<γ>の2
乗量に比例する電流を各補正器に流すことにより補正を
行う。但し、上記式(332)〜(393)中のΔMf
c,c,j(3),ΔMas,s,j(3),<ΔMas,s,j(3)>,ΔMdi
s,c,j(3),<ΔMdis,c,j(3)>,ΔMdis,s,j(3),<Δ
Mdis,s,j(3)>,ΔHdis,c,j(3),<ΔHdis,c,j(3)
>,ΔHdis,s,j(3),<ΔHdis,s,j(3)>の3次収差補
正係数にかかる励磁電流は偏向量γ,<γ>の4乗量に比
例しており、以下の式で表すことができる。
【数50】 Ic(4),j=C4,jγ2<γ>2 (j=1,・・・Nc) Is(4),j=S4,jγ3<γ> (j=1,・・・Ns)…(396) ここで、C4,j,S4,jは比例係数であり、C4,jは実
数、S4,jは複素数である。
数、S4,jは複素数である。
【0022】ところで、Mfc(5)、Mas(5)、Mdis(5)、
Hdis,1(5)、Hdis,2(5)に対応する5次収差の補正に用
いられる3次収差補正係数ΔMfc,c,j(3),ΔMas,s,j
(3),ΔMdis,c,j(3),ΔMdis,s,j(3),ΔHdis,s,j
(3)、ΔHdis,c,j(3)は3次収差の補正に用いられる係
数と同じであるため、この補正係数を用いて3次収差及
び5次収差の補正を行う場合には共通の補正器を用いる
ことができるのでこれら5次収差のための補正器を追加
する必要は無い。
Hdis,1(5)、Hdis,2(5)に対応する5次収差の補正に用
いられる3次収差補正係数ΔMfc,c,j(3),ΔMas,s,j
(3),ΔMdis,c,j(3),ΔMdis,s,j(3),ΔHdis,s,j
(3)、ΔHdis,c,j(3)は3次収差の補正に用いられる係
数と同じであるため、この補正係数を用いて3次収差及
び5次収差の補正を行う場合には共通の補正器を用いる
ことができるのでこれら5次収差のための補正器を追加
する必要は無い。
【0023】例えば、3次の偏向歪み収差と5次の偏向
歪み収差を補正する場合を考える。上述したとおり、3
次の偏向歪みを補正する場合には焦点補正コイル2個ま
たは非点補正器1個が少なくとも必要となる。焦点補正
コイルの場合を考えると2つの焦点補正コイルの各々の
励磁電流Ic(2),1、Ic(2),2はそれぞれ
歪み収差を補正する場合を考える。上述したとおり、3
次の偏向歪みを補正する場合には焦点補正コイル2個ま
たは非点補正器1個が少なくとも必要となる。焦点補正
コイルの場合を考えると2つの焦点補正コイルの各々の
励磁電流Ic(2),1、Ic(2),2はそれぞれ
【数51】 Ic(2),1=C2,1γ<γ> Ic(2),2=C2,2γ<γ> …(397) となる。また、5次の偏向歪みを補正する場合も、焦点
補正コイルが2個あれば補正することができ、式(32
5)の第2項によって補正することもできるが、ここで
は、第5項を使って補正する。この場合、5次の偏向歪
みを補正する場合の各焦点補正コイルの励磁電流I
c(4),1、Ic(4),2はそれぞれ
補正コイルが2個あれば補正することができ、式(32
5)の第2項によって補正することもできるが、ここで
は、第5項を使って補正する。この場合、5次の偏向歪
みを補正する場合の各焦点補正コイルの励磁電流I
c(4),1、Ic(4),2はそれぞれ
【数52】 Ic(4),1=C4,1γ2<γ>2 Ic(4),2=C4,2γ2<γ>2 …(398) となる。
【0024】従って、3次の偏向歪み収差と5次の偏向
歪み収差を2つの焦点補正コイルを用いて補正する場合
には、3次収差及び5次収差を補正するための励磁電流
の線形和で表され、以下の様な式で表される。
歪み収差を2つの焦点補正コイルを用いて補正する場合
には、3次収差及び5次収差を補正するための励磁電流
の線形和で表され、以下の様な式で表される。
【数53】 Ic,1=Ic(2),1+Ic(4),1=C2,1γ<γ>+C4,1γ2<γ>2 Ic,2=Ic(2),2+Ic(4),2=C2,2γ<γ>+C4,2γ2<γ>2 …(399) また、非点補正器を用いて式(325)の第6項を用い
て補正する場合も焦点補正コイルを用いた場合と同様に
3次収差及び5次収差を補正するための励磁電流の線形
和で表される。
て補正する場合も焦点補正コイルを用いた場合と同様に
3次収差及び5次収差を補正するための励磁電流の線形
和で表される。
【0025】よって、同じ補正項を用いて3次の収差と
5次の収差を同じ補正器で補正する場合には、各次数の
収差を補正するため励磁電流の線形和で表され、下記の
ようになる。
5次の収差を同じ補正器で補正する場合には、各次数の
収差を補正するため励磁電流の線形和で表され、下記の
ようになる。
【数54】 Ic,j=Ic(2),j+Ic(4),j=C2,jγ<γ>+C4,jγ2<γ>2 (j=1,・・・Nc) Is,j=Is(2),j+Is(4),j=S2,jγ2+S4,jγ3<γ> (j=1,・・・Ns)…(40 0) ここで、C2,j,C4,j,S2,j,S4,jは比例係数であ
り、C2,j,C4,jは実数、S2,j,S4,jは複素数であ
る。
り、C2,j,C4,jは実数、S2,j,S4,jは複素数であ
る。
【0026】ここで、3次の収差に関する動的補正の場
合と同様に、5次の収差に関する動的補正系を構成する
場合に必要となる補正器の数を求めると表4に示すよう
になる。なお、表4では前述の3次の収差を補正する場
合の動的補正器の個数も含めて示してある。
合と同様に、5次の収差に関する動的補正系を構成する
場合に必要となる補正器の数を求めると表4に示すよう
になる。なお、表4では前述の3次の収差を補正する場
合の動的補正器の個数も含めて示してある。
【表4】 なお、5次の像面湾曲収差係数(Mfc(5))は複素数で
表されるが、実際に効いてくる収差項は殆どが実数であ
るため、少なくとも焦点補正コイル1個で補正すること
ができる。また、5次の収差を補正する場合には、大抵
の場合が3次の収差も補正することになるので同一の動
的補正器を用いることとした。また、同一の収差(例え
ば、No.16および17に示す収差)に対して非点補正
器で補正する場合と、焦点補正コイルで補正する場合の
2通りについて示したが、この場合、どちらの組み合わ
せを取っても対応する収差に対して同等の補正効果を有
するため、非点補正器を用いるか焦点補正コイルを用い
るかに応じて選択すればよい。
表されるが、実際に効いてくる収差項は殆どが実数であ
るため、少なくとも焦点補正コイル1個で補正すること
ができる。また、5次の収差を補正する場合には、大抵
の場合が3次の収差も補正することになるので同一の動
的補正器を用いることとした。また、同一の収差(例え
ば、No.16および17に示す収差)に対して非点補正
器で補正する場合と、焦点補正コイルで補正する場合の
2通りについて示したが、この場合、どちらの組み合わ
せを取っても対応する収差に対して同等の補正効果を有
するため、非点補正器を用いるか焦点補正コイルを用い
るかに応じて選択すればよい。
【0027】3次および5次収差の動的補正を行う際に
は、先ず露光動作を行う前に、3次収差に関する式(2
94)〜(302)と5次収差に関する式(334)〜
(395)との連立線形方程式を解いて各励磁電流Ic
(2),j、Ic(4),j、Is(2),j、Is(4),jを求め、算出さ
れた励磁電流Ic,j,Is,jを記憶装置15に予め記憶さ
せておく。露光動作時には、制御装置16はマスク2の
サブフィールドを電子線EBで照射する際の偏向量γに
応じた励磁電流データIc,j,Is,jを記憶装置15から
読み込み、各焦点補正コイル9の励磁電流をIc,jに、
各非点補正器10の励磁電流をIs,jにそれぞれ調整す
る。
は、先ず露光動作を行う前に、3次収差に関する式(2
94)〜(302)と5次収差に関する式(334)〜
(395)との連立線形方程式を解いて各励磁電流Ic
(2),j、Ic(4),j、Is(2),j、Is(4),jを求め、算出さ
れた励磁電流Ic,j,Is,jを記憶装置15に予め記憶さ
せておく。露光動作時には、制御装置16はマスク2の
サブフィールドを電子線EBで照射する際の偏向量γに
応じた励磁電流データIc,j,Is,jを記憶装置15から
読み込み、各焦点補正コイル9の励磁電流をIc,jに、
各非点補正器10の励磁電流をIs,jにそれぞれ調整す
る。
【0028】このように、各焦点補正コイル9の励磁電
流をIc,jに、各非点補正器10の励磁電流をIs,jにそ
れぞれ調整することにより、偏向量γの2乗以上に比例
する3次および5次の収差を高精度に補正することがで
きる。また、電子線光学部品の加工誤差や組立誤差等に
よって実際の収差と計算上の収差との間にずれが生じた
場合でも、それに応じて励磁電流Ic,j,Is,jを微調整
することによって収差ずれを容易に補正することができ
る。
流をIc,jに、各非点補正器10の励磁電流をIs,jにそ
れぞれ調整することにより、偏向量γの2乗以上に比例
する3次および5次の収差を高精度に補正することがで
きる。また、電子線光学部品の加工誤差や組立誤差等に
よって実際の収差と計算上の収差との間にずれが生じた
場合でも、それに応じて励磁電流Ic,j,Is,jを微調整
することによって収差ずれを容易に補正することができ
る。
【0029】ところで、電子光学系の製造、組立が設計
通りではなく誤差を含んでいる場合には、該収差の偏向
位置γ、<γ>依存性が設計値からずれることがある。
しかし、そのような場合でも、焦点補正コイルと非点補
正器の励磁電流を偏向位置の関数として適切に変化させ
ることにより、理想的な光学系の場合の3次、5次収差
の補正と同様に補正を行うことができる。補正の対象で
ある上述の収差を、偏向位置γ、<γ>依存部分を一般
の関数として書き直し、開き半角αと転写像(サブフィ
ールド像)内の位置βとをこの関数の外に分離して書き
直すと、上述した収差は
通りではなく誤差を含んでいる場合には、該収差の偏向
位置γ、<γ>依存性が設計値からずれることがある。
しかし、そのような場合でも、焦点補正コイルと非点補
正器の励磁電流を偏向位置の関数として適切に変化させ
ることにより、理想的な光学系の場合の3次、5次収差
の補正と同様に補正を行うことができる。補正の対象で
ある上述の収差を、偏向位置γ、<γ>依存部分を一般
の関数として書き直し、開き半角αと転写像(サブフィ
ールド像)内の位置βとをこの関数の外に分離して書き
直すと、上述した収差は
【数55】 と記述される。上式(401)の関数f,fi,fi,j,
fi,j,kは偏向位置γとその複素共役<γ>の関数であ
る。ただし、X1=α,X2=<α>,X3=β,X4=<β>
であり、i,j,kはi≧j≧kを満たす1から4まで
の整数であって(i,j,k)=(2,2,2),
(4,2,2),(4,4,2),(4,4,4)の場
合は除く。このような場合には、補正光学系の励磁電流
を(399)式のように偏向位置γ、<γ>の2次及び
4次に比例すると規定せずに、式(401)に対応した
偏向位置の関数として変化させることにより、前記収差
係数を十分な補正精度範囲内で打ち消すことができる。
実際の収差補正においては、収差に対して影響の大きい
関数に関連する(打ち消す必要のある)収差のみを除去
するように構成すれば良い。
fi,j,kは偏向位置γとその複素共役<γ>の関数であ
る。ただし、X1=α,X2=<α>,X3=β,X4=<β>
であり、i,j,kはi≧j≧kを満たす1から4まで
の整数であって(i,j,k)=(2,2,2),
(4,2,2),(4,4,2),(4,4,4)の場
合は除く。このような場合には、補正光学系の励磁電流
を(399)式のように偏向位置γ、<γ>の2次及び
4次に比例すると規定せずに、式(401)に対応した
偏向位置の関数として変化させることにより、前記収差
係数を十分な補正精度範囲内で打ち消すことができる。
実際の収差補正においては、収差に対して影響の大きい
関数に関連する(打ち消す必要のある)収差のみを除去
するように構成すれば良い。
【0030】以下に、焦点補正コイルおよび非点補正器
の個数の具体例を示す。 (1)6個の焦点補正コイルおよび7個の非点補正器か
ら成る動的補正系を導入することにより、3次の偏向
像面湾曲収差(Mfc(3)),偏向非点収差(Mas
(3)),ハイブリッド歪み収差(Hdis,1(3),Hdis,2
(3))と、5次の偏向像面湾曲収差(Mfc(5)),偏
向非点収差(Mas(5)),ハイブリッド歪み収差(Hd
is,1(5)〜Hdis,8(5))を消去することができる。この
場合には、式(294)〜(296)、(299)〜
(302)、(356)、(357)、(368)、
(379)、(380)〜(395)による連立方程式
を解くことにより、各焦点補正コイルおよび非点補正器
の励磁電流が決定される。上述したように、3次の収差
補正係数を含む式(368)、(369)、(380)
〜(383)については、新たに焦点補正コイルや非点
補正器を導入しなくても励磁電流のγの4乗の項により
式を成立させることができ、さらに、式(361)は殆
ど収差を発生させないため考慮しなくても良い。
の個数の具体例を示す。 (1)6個の焦点補正コイルおよび7個の非点補正器か
ら成る動的補正系を導入することにより、3次の偏向
像面湾曲収差(Mfc(3)),偏向非点収差(Mas
(3)),ハイブリッド歪み収差(Hdis,1(3),Hdis,2
(3))と、5次の偏向像面湾曲収差(Mfc(5)),偏
向非点収差(Mas(5)),ハイブリッド歪み収差(Hd
is,1(5)〜Hdis,8(5))を消去することができる。この
場合には、式(294)〜(296)、(299)〜
(302)、(356)、(357)、(368)、
(379)、(380)〜(395)による連立方程式
を解くことにより、各焦点補正コイルおよび非点補正器
の励磁電流が決定される。上述したように、3次の収差
補正係数を含む式(368)、(369)、(380)
〜(383)については、新たに焦点補正コイルや非点
補正器を導入しなくても励磁電流のγの4乗の項により
式を成立させることができ、さらに、式(361)は殆
ど収差を発生させないため考慮しなくても良い。
【0031】(2)4個の焦点補正コイルおよび5個の
非点補正器から成る動的補正系を導入することにより、
3次の偏向像面湾曲収差(Mfc(3))、偏向非点収
差(Mas(3))、ハイブリッド歪み収差(Hdis,1
(3),Hdis,2(3))と、5次の偏向像面湾曲収差(Mf
c(5))、偏向非点収差(Mas(5))、ハイブリッド
歪み収差(Hdis,1(5)〜Hdis,5(5))を消去することが
できる。この場合には、式(294)〜(296)、
(299)、(300)、(356)、(357)、
(368)、(369)、(380)〜(389)によ
る連立方程式を解くことにより、各焦点補正コイルおよ
び非点補正器の励磁電流が決定される。
非点補正器から成る動的補正系を導入することにより、
3次の偏向像面湾曲収差(Mfc(3))、偏向非点収
差(Mas(3))、ハイブリッド歪み収差(Hdis,1
(3),Hdis,2(3))と、5次の偏向像面湾曲収差(Mf
c(5))、偏向非点収差(Mas(5))、ハイブリッド
歪み収差(Hdis,1(5)〜Hdis,5(5))を消去することが
できる。この場合には、式(294)〜(296)、
(299)、(300)、(356)、(357)、
(368)、(369)、(380)〜(389)によ
る連立方程式を解くことにより、各焦点補正コイルおよ
び非点補正器の励磁電流が決定される。
【0032】(3)4個の焦点補正コイルおよび9個の
非点補正器から成る動的補正系を導入することにより、
3次の偏向像面湾曲収差(Mfc(3))、偏向非点収
差(Mas(3))、ハイブリッド歪み収差(Hdis,1
(3),Hdis,2(3))と、5次の偏向像面湾曲収差(Mf
c(5))、ハイブリッド像面湾曲収差(Hfc,1(5),Hf
c,2(5))、偏向非点収差(Mas(5))、ハイブリッ
ド非点収差(Has,1(5),Has,2(5)),ハイブリッド
歪み収差(Hdis,1(5)〜Hdis,5(5))を消去することが
できる。この場合には、式(294)〜(296)、
(299)〜(302)、(356)〜(361)、
(368)〜(373)、(380)〜(389)によ
る連立方程式を解くことにより、各焦点補正コイルおよ
び非点補正器の励磁電流が決定される。
非点補正器から成る動的補正系を導入することにより、
3次の偏向像面湾曲収差(Mfc(3))、偏向非点収
差(Mas(3))、ハイブリッド歪み収差(Hdis,1
(3),Hdis,2(3))と、5次の偏向像面湾曲収差(Mf
c(5))、ハイブリッド像面湾曲収差(Hfc,1(5),Hf
c,2(5))、偏向非点収差(Mas(5))、ハイブリッ
ド非点収差(Has,1(5),Has,2(5)),ハイブリッド
歪み収差(Hdis,1(5)〜Hdis,5(5))を消去することが
できる。この場合には、式(294)〜(296)、
(299)〜(302)、(356)〜(361)、
(368)〜(373)、(380)〜(389)によ
る連立方程式を解くことにより、各焦点補正コイルおよ
び非点補正器の励磁電流が決定される。
【0033】(4)4個の焦点補正コイルおよび12個
の非点補正器から成る動的補正系を導入することによ
り、3次の偏向像面湾曲収差(Mfc(3))、偏向非
点収差(Mas(3))、ハイブリッド歪み収差(Hdis,1
(3),Hdis,2(3))と、5次の偏向コマ収差(Mcoma,
1(5)〜Mcoma,3(5))、偏向像面湾曲収差(Mfc
(5))、ハイブリッド像面湾曲収差(Hfc,1(5),Hf
c,2(5))、偏向非点収差(Mas(5))、ハイブリッ
ド非点収差(Has,1(5),Has,2(5))、ハイブリッド
歪み収差(Hdis,1(5)〜Hdis,5(5))を消去することが
できる。この場合には、式(294)〜(296)、
(299)〜(302)、(340)〜(345)、
(356)〜(361)、(368)〜(373)、
(380)〜(389)による連立方程式を解くことに
より、各焦点補正コイルおよび非点補正器の励磁電流が
決定される。
の非点補正器から成る動的補正系を導入することによ
り、3次の偏向像面湾曲収差(Mfc(3))、偏向非
点収差(Mas(3))、ハイブリッド歪み収差(Hdis,1
(3),Hdis,2(3))と、5次の偏向コマ収差(Mcoma,
1(5)〜Mcoma,3(5))、偏向像面湾曲収差(Mfc
(5))、ハイブリッド像面湾曲収差(Hfc,1(5),Hf
c,2(5))、偏向非点収差(Mas(5))、ハイブリッ
ド非点収差(Has,1(5),Has,2(5))、ハイブリッド
歪み収差(Hdis,1(5)〜Hdis,5(5))を消去することが
できる。この場合には、式(294)〜(296)、
(299)〜(302)、(340)〜(345)、
(356)〜(361)、(368)〜(373)、
(380)〜(389)による連立方程式を解くことに
より、各焦点補正コイルおよび非点補正器の励磁電流が
決定される。
【0034】
【実施例】図1に示すように3個の焦点補正コイル9お
よび3個の非点補正器10から成る動的補正系を導入し
て、3次の偏向像面湾曲収差(Mfc(3))、偏向非
点収差(Mas(3))、偏向歪み収差(Mdis(3))、
ハイブリッド歪み収差(Hdis,1(3),Hdis,2(3))を消
去する場合について説明する。この場合には、式(15
0)〜(158)よりなる連立方程式を解くことによ
り、各焦点補正コイルおよび非点補正器の励磁電流が決
定される。それらの解は次式(399)により与えられ
る。
よび3個の非点補正器10から成る動的補正系を導入し
て、3次の偏向像面湾曲収差(Mfc(3))、偏向非
点収差(Mas(3))、偏向歪み収差(Mdis(3))、
ハイブリッド歪み収差(Hdis,1(3),Hdis,2(3))を消
去する場合について説明する。この場合には、式(15
0)〜(158)よりなる連立方程式を解くことによ
り、各焦点補正コイルおよび非点補正器の励磁電流が決
定される。それらの解は次式(399)により与えられ
る。
【数56】 [I]=−G-1・[M] …(402) 式(402)において、[I]は成分が(Ic,1,Ic,
2,Ic,3,Is,1,<Is,1>,Is,2,<Is,2>,Is,3,<
Is,3>)である列ベクトル、[M]は成分が(Mfc(3)・
αγ<γ>,Mas(3)・<α>γ2,<Mas(3)>・α<γ>2,Mdi
s(3)・γ2<γ>,<Mdis(3)>・<γ>2γ,Hdis,1(3)・βγ<
γ>,<Hdis,1(3)>・<β><γ>γ,Hdis,2(3)・<β>γ2,
<Hdis,2(3)>・β<γ>2)である列ベクトル、G-1は成分
Gi,jが次式(403)のように表される9行9列のマ
トリックスGの逆マトリックスである。
2,Ic,3,Is,1,<Is,1>,Is,2,<Is,2>,Is,3,<
Is,3>)である列ベクトル、[M]は成分が(Mfc(3)・
αγ<γ>,Mas(3)・<α>γ2,<Mas(3)>・α<γ>2,Mdi
s(3)・γ2<γ>,<Mdis(3)>・<γ>2γ,Hdis,1(3)・βγ<
γ>,<Hdis,1(3)>・<β><γ>γ,Hdis,2(3)・<β>γ2,
<Hdis,2(3)>・β<γ>2)である列ベクトル、G-1は成分
Gi,jが次式(403)のように表される9行9列のマ
トリックスGの逆マトリックスである。
【数57】 G1,j=αΔMfc,c,j(3),G1,j+3=G1,j+6=0 G2,2+2j=<α>ΔMas,s,j(3),G2,j=G2,3+2j=0 G3,3+2j=<G2,2+2j>,G3,j=G3,2+2j=0 G4,j=γΔMdis,c,j(3),G4,2+2j=γΔMdis,s,j(3),G4,3+2j=0 G5,j=<G4,j>,G5,3+2j=<G4,2+2j>,G5,2+2j=0 G6,j=βΔHdis,1c,j(3),G6,j+3=G6,j+6=0 G7,j=<G6,j>,G7,j+3=G7,j+6=0 G8,2+2j=<β>ΔHdis,2s,j(3),G8,j=G8,3+2j=0 G9,3+2j=<G8,2+2j>,G9,j=G9,2+2j=0 …(403) ただし1≦j≦3である。
【0035】レチクル面からウェハ面までの鏡筒長が4
00mm,電子線の開き半角α=6mrad,サブフィ
ールドサイズ250μm,電子線加速電圧100kVに
おいて、10mmの偏向領域の端で収差を計算してみた
ところ、上記〜の収差は動的補正により完全に打消
されることが確認された。
00mm,電子線の開き半角α=6mrad,サブフィ
ールドサイズ250μm,電子線加速電圧100kVに
おいて、10mmの偏向領域の端で収差を計算してみた
ところ、上記〜の収差は動的補正により完全に打消
されることが確認された。
【0036】上述した実施の形態では電磁コイル型の焦
点補正コイルおよび非点補正器で動的補正系を構成した
が、静電型の非点補正器,焦点補正器で動的補正系を構
成してもよい。その場合、上述した各式は電流に関する
式ではなく電圧に関する式となる。図3は静電型の非点
補正器を示す図であり、8つの電極30を備え、各電極
30には図に示すような電圧(Va−Vbなど)が印加さ
れる。このとき、印加電圧は複素表示Vs=Va+i・V
bで表される。なお、図3(a)は非点補正器の断面図
で、図3(b)は斜視図である。
点補正コイルおよび非点補正器で動的補正系を構成した
が、静電型の非点補正器,焦点補正器で動的補正系を構
成してもよい。その場合、上述した各式は電流に関する
式ではなく電圧に関する式となる。図3は静電型の非点
補正器を示す図であり、8つの電極30を備え、各電極
30には図に示すような電圧(Va−Vbなど)が印加さ
れる。このとき、印加電圧は複素表示Vs=Va+i・V
bで表される。なお、図3(a)は非点補正器の断面図
で、図3(b)は斜視図である。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
動的補正系を構成する焦点補正コイルや非点補正器の取
り付け位置を調整し直さなくとも、動的な収差補正を容
易に行うことができる。
動的補正系を構成する焦点補正コイルや非点補正器の取
り付け位置を調整し直さなくとも、動的な収差補正を容
易に行うことができる。
【図1】電子光学系の概略構成を示す模式図。
【図2】磁場による非点補正器を示す図。
【図3】電場による非点補正器を示す図であり、(a)
は断面図、(b)は斜視図。
は断面図、(b)は斜視図。
2 マスク 4 ウェハ 5,6 投影レンズ 8 偏向器 9 焦点補正コイル 10 非点補正器 15 記憶装置 16 制御装置
Claims (7)
- 【請求項1】 荷電粒子線の偏向量の2乗および3乗に
比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例する5次収
差とを、焦点補正コイルおよび非点補正器で構成される
動的補正系により補正する荷電粒子線装置であって、 補正すべき収差に関する焦点補正コイルおよび非点補正
器の各々の個数を、各種の収差とそれらを補正するため
に必要な焦点補正コイルおよび非点補正器の数との関係
を示す表1に基づいて決定し、前記動的補正系を構成す
る焦点補正コイルおよび非点補正器の各々の個数を前記
表1に基づいて決定された個数以上としたことを特徴と
する荷電粒子線装置。 【表1】 - 【請求項2】 荷電粒子線の偏向量の2乗および3乗に
比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例する5次収
差とを、焦点補正コイルおよび非点補正器で構成される
動的補正系により補正する荷電粒子線装置の収差補正方
法であって、前記3次および5次収差の内の補正すべき
収差の各々に関して、(a)その補正すべき収差に関す
る収差項、(b)前記焦点補正コイルの励磁電流に基づ
いて算出される焦点補正コイルによる収差補正項および
(c)前記非点補正器の励磁電流に基づいて算出される
非点補正器による収差補正項の線形式を形成し、 前記線形式から成る連立方程式が成立するように前記焦
点補正コイルおよび非点補正器の個数をそれぞれ決定す
るとともに、前記焦点補正コイルおよび非点補正器の励
磁電流をそれぞれ連立方程式から算出される電流に調整
することを特徴とする荷電粒子線装置の収差補正方法。 - 【請求項3】 荷電粒子線の偏向量の2乗および3乗に
比例する3次収差と偏向量の2〜5乗に比例する5次収
差とを、焦点補正コイルおよび非点補正器で構成される
動的補正系により補正する荷電粒子線装置の収差補正方
法であって、前記3次収差に関する式(1)〜(9) 【数1】 および前記5次収差に関する式(10)〜(71) 【数2】 【数3】 【数4】 【数5】 【数6】 【数7】 【数8】 から補正すべき収差に関する式を選んで連立方程式を形
成し、その連立方程式を成立させるNcを前記焦点補正
コイルの個数に、Nsを前記非点補正器の個数に決定
し、 前記Nc個の焦点補正コイルの各励磁電流を前記連立方
程式から算出されるIc(2),j、Ic(4),jに調整するとと
もに、前記Ns個の非点補正器の各励磁電流を前記連立
方程式から算出されるIs(2),j、Is(4),jに調整するこ
とを特徴とする荷電粒子線装置の収差補正方法。ただ
し、式(1)〜(71)において、(a)α、β、γは
順に荷電粒子線の開き半角、転写像内の位置および偏向
量であり、(b)Mfc(3)、Mas(3)、Mdis(3)、Hdis,
1(3)、Hdis,2(3)は前記3次収差の収差係数であり、
(c)Mx,1(5)〜Mx,3(5)、Mcoma,1(5)〜Mcoma,3
(5)、Hcoma,1(5)〜Hcoma,5(5)、Mfc(5)、Hfc,1(5)
〜Hfc,5(5)、Mas(5)、Has,1(5)〜Has,4(5)、Mdis
(5)、Hdis,1(5)〜Hdis,8(5)は前記5次収差の収差係
数であり、(d)ΔMfc,c,j(3)、ΔMdis,c,j(3)、Δ
Hdis,c,j(3)は前記焦点補正コイルの前記3次収差に関
する収差補正係数であり、(e)ΔMas,s,j(3)、ΔMd
is,s,j(3)、ΔHdis,s,j(3)は前記非点補正器の前記3
次収差に関する収差補正係数であり、(f)ΔMx,2c,j
(5)、ΔMcoma,1c,j(5)、ΔMcoma,2c,j(5)、ΔHcoma,
1c,j(5)、ΔHcoma,4c,j(5)、ΔMfc,c,j(5)、ΔHfc,1
c,j(5)、ΔHfc,2c,j(5)、ΔHfc,4c,j(5)、ΔMas,c,j
(5)、ΔHas,2c,j(5)、ΔHas,4c,j(5)、ΔMdis,c,j
(5)、ΔHdis,1c,j(5)、ΔHdis,2c,j(5)、ΔHdis,4c,
j(5)、ΔHdis,5c,j(5)、ΔHdis,7c,j(5)は前記焦点補
正コイルの前記5次収差に関する収差補正係数であり、
(g)ΔMx,1s,j(5)、ΔMx,3s,j(5)、ΔMcoma,1s,j
(5)〜ΔMcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,2s,j(5)、ΔHcoma,
3s,j(5)、ΔHcoma,5s,j(5)、ΔMfc,s1,j(5)、ΔMfc,
s2,j(5)、ΔHfc,1s,j(5)、ΔHfc,2s,j(5)、ΔHfc,3
s,j(5)、ΔHfc,5s,j(5)、ΔMas,s,j(5)、ΔHas,1s,j
(5)〜ΔHas,3s,j(5)、ΔMdis,s1,j(5)、ΔMdis,s2,j
(5)、ΔHdis,1s,j(5)、ΔHdis,2s1,j(5)、ΔHdis,2s
2,j(5)、ΔHdis,3s,j(5)〜ΔHdis,6s,j(5)、ΔHdis,
8s,j(5)は前記非点補正器の前記5次収差に関する収差
補正係数であり、< >は複素共役を表す。 - 【請求項4】 Nc個の焦点補正コイルおよびNs個の非
点補正器から成り、荷電粒子線の偏向量の2乗および3
乗に比例する3次収差を補正する動的補正系と、 前記動的補正系を制御する制御装置とを備える荷電粒子
線装置であって、 前記Nc、Nsを、前記3次収差に関する次式(72)〜
(80)からなる連立方程式が成立する値とし、 前記制御装置は前記各焦点補正コイルの励磁電流を前記
連立方程式から算出されるIc(2),jに調整するととも
に、前記各非点補正器の励磁電流を前記連立方程式から
算出されるIs(2),jに調整することを特徴とする荷電粒
子線装置。 【数9】 ただし、式(72)〜(80)において、(a)α、
β、γは順に荷電粒子線の開き半角、転写像内の位置お
よび偏向量であり、(b)Mfc(3),Mas(3),Mdis
(3),Hdis,1(3),Hdis,2(3)は前記3次収差の収差係
数であり、(c)ΔMfc,c,j(3),ΔMdis,c,j(3),Δ
Hdis,c,j(3)は前記焦点補正コイルの前記3次収差に関
する収差補正係数であり、(d)ΔMas,s,j(3),ΔMd
is,s,j(3),ΔHdis,s,j(3)は前記非点補正器の前記3
次収差に関する収差補正係数であり、< >は複素共役を
表す。 - 【請求項5】 Nc個の焦点補正コイルおよびNs個の非
点補正器から成り、荷電粒子線の偏向量の2〜5乗に比
例する5次収差を補正する動的補正系と、 前記動的補正系を制御する制御装置とを備える荷電粒子
線装置であって、 前記Nc、Nsを、前記5次収差に関する次式(81)〜
(142)からなる連立方程式が成立する値とし、 前記制御装置は前記各焦点補正コイルの励磁電流を前記
連立方程式から算出されるIc(2),j、Ic(4),jに調整す
るとともに、前記各非点補正器の励磁電流を前記連立方
程式から算出されるIs(2),j、Is(4),jに調整すること
を特徴とする荷電粒子線装置。 【数10】 【数11】 【数12】 【数13】 【数14】 【数15】 【数16】 ただし、式(81)〜(142)において、(a)α、
β、γは順に荷電粒子線の開き半角,転写像内の位置お
よび偏向量であり、(b)Mx,1(5)〜Mx,3(5)、Mcoma,
1(5)〜Mcoma,3(5)、Hcoma,1(5)〜Hcoma,5(5)、Mfc
(5)、Hfc,1(5)〜Hfc,5(5)、Mas(5)、Has,1(5)〜Ha
s,4(5)、Mdis(5)、Hdis,1(5)〜Hdis,8(5)は前記5次
収差の収差係数であり、(c)ΔMfc,c,j(3),ΔMdi
s,c,j(3),ΔHdis,c,j(3),は前記焦点補正コイルの3
次収差に関する収差補正係数であり、(d)ΔMas,s,j
(3),ΔMdis,s,j(3),ΔHdis,s,j(3)は前記非点補正
器の前記3次収差に関する収差補正係数であり、(e)
ΔMx,2c,j(5)、ΔMcoma,1c,j(5)、ΔMcoma,2c,j
(5)、ΔHcoma,1c,j(5)、ΔHcoma,4c,j(5)、ΔMfc,c,
j(5)、ΔHfc,1c,j(5)、ΔHfc,2c,j(5)、ΔHfc,4c,j
(5)、ΔMas,c,j(5)、ΔHas,2c,j(5)、ΔHas,4c,j
(5)、ΔMdis,c,j(5)、ΔHdis,1c,j(5)、ΔHdis,2c,j
(5)、ΔHdis,4c,j(5)、ΔHdis,5c,j(5)、ΔHdis,7c,
j(5)は前記焦点補正コイルの前記5次収差に関する収差
補正係数であり、(f)ΔMx,1s,j(5)、ΔMx,3s,j
(5)、ΔMcoma,1s,j(5)〜ΔMcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,
2s,j(5)、ΔHcoma,3s,j(5)、ΔHcoma,5s,j(5)、ΔMf
c,s1,j(5)、ΔMfc,s2,j(5)、ΔHfc,1s,j(5)、ΔHfc,
2s,j(5)、ΔHfc,3s,j(5)、ΔHfc,5s,j(5)、ΔMas,s,
j(5)、ΔHas,1s,j(5)〜ΔHas,3s,j(5)、ΔMdis,s1,j
(5)、ΔMdis,s2,j(5)、ΔHdis,1s,j(5)、ΔHdis,2s
1,j(5)、ΔHdis,2s2,j(5)、ΔHdis,3s,j(5)〜ΔHdi
s,6s,j(5)、ΔHdis,8s,j(5)は前記非点補正器の前記5
次収差に関する収差補正係数であり、< >は複素共役を
表す。 - 【請求項6】 荷電粒子線の偏向量の2乗以上に比例す
る収差を、焦点補正コイルおよび非点補正器で構成され
る動的補正系により補正する荷電粒子線装置であって、 前記動的補正系を、補正すべき収差の種類に応じて決め
られた数の焦点補正コイルおよび非点補正器で構成した
ことを特徴とする荷電粒子線装置。 - 【請求項7】 レチクルの像をウエハ上に転写する荷電
粒子線露光装置において、前記レチクルの像を偏向する
際に発生する収差を補正光学系で補正する収差補正方法
であって、 荷電粒子線の開き半角α、転写像内の位置β、偏向位置
γの依存性が次式に示す4種の形で表される収差の中
で、 【数17】 打ち消すべき収差に対応した前記補正光学系の励磁電流
を偏向位置γに対応して変化させることによって、各偏
向位置γにおける前記収差が十分に補正精度範囲内とな
るように補正することを特徴とする収差補正方法。ただ
し、f(γ,<γ>),fi(γ,<γ>),fi,j(γ,<γ>),fi,j,k
(γ,<γ>)はγ,<γ>の関数であり、X1=α,X2=<α
>,X3=β,X4=<β>、i,j,kはi≧j≧kを満
たす1から4までの整数であって(i,j,k)=
(2,2,2),(4,2,2),(4,4,2),
(4,4,4)の場合は除く。< >は複素共役を表す。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10019780A JPH11219678A (ja) | 1998-01-30 | 1998-01-30 | 荷電粒子線装置の収差補正方法および荷電粒子線装置 |
| US09/138,356 US6222197B1 (en) | 1997-08-21 | 1998-08-21 | Charged-particle-beam pattern-transfer methods and apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10019780A JPH11219678A (ja) | 1998-01-30 | 1998-01-30 | 荷電粒子線装置の収差補正方法および荷電粒子線装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11219678A true JPH11219678A (ja) | 1999-08-10 |
Family
ID=12008850
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10019780A Pending JPH11219678A (ja) | 1997-08-21 | 1998-01-30 | 荷電粒子線装置の収差補正方法および荷電粒子線装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11219678A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001244195A (ja) * | 2000-01-27 | 2001-09-07 | Nikon Corp | 荷電粒子線投影系における偏向収差補正 |
| FR2823008A1 (fr) * | 2001-08-06 | 2002-10-04 | Centre Nat Rech Scient | Procede de reglage d'un faisceau d'ions |
| US7238956B2 (en) | 2001-11-20 | 2007-07-03 | Centre National De La Recherche Scientifique | Device for controlling an apparatus generating a charged particle beam |
| JP2010080136A (ja) * | 2008-09-24 | 2010-04-08 | Jeol Ltd | 収差補正装置および該収差補正装置を備える荷電粒子線装置 |
-
1998
- 1998-01-30 JP JP10019780A patent/JPH11219678A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001244195A (ja) * | 2000-01-27 | 2001-09-07 | Nikon Corp | 荷電粒子線投影系における偏向収差補正 |
| FR2823008A1 (fr) * | 2001-08-06 | 2002-10-04 | Centre Nat Rech Scient | Procede de reglage d'un faisceau d'ions |
| US7238956B2 (en) | 2001-11-20 | 2007-07-03 | Centre National De La Recherche Scientifique | Device for controlling an apparatus generating a charged particle beam |
| US7365348B2 (en) | 2001-11-20 | 2008-04-29 | Centre National De La Recherche Scientifique | Adjusting device of an apparatus for generating a beam of charged particles |
| JP2010080136A (ja) * | 2008-09-24 | 2010-04-08 | Jeol Ltd | 収差補正装置および該収差補正装置を備える荷電粒子線装置 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20061010 |