JPH11220013A - 静電チャック - Google Patents

静電チャック

Info

Publication number
JPH11220013A
JPH11220013A JP3353398A JP3353398A JPH11220013A JP H11220013 A JPH11220013 A JP H11220013A JP 3353398 A JP3353398 A JP 3353398A JP 3353398 A JP3353398 A JP 3353398A JP H11220013 A JPH11220013 A JP H11220013A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating layer
electrostatic chuck
electrode
projection
resin sheet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3353398A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3933289B2 (ja
Inventor
Mamoru Ishii
守 石井
Seiichi Tanji
清一 丹治
Keizo Tsukamoto
恵三 塚本
Hirozo Ishimoto
博三 石本
Noriyuki Kamata
範幸 鎌田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Taiheiyo Cement Corp
Original Assignee
Jeol Ltd
Taiheiyo Cement Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd, Taiheiyo Cement Corp filed Critical Jeol Ltd
Priority to JP3353398A priority Critical patent/JP3933289B2/ja
Publication of JPH11220013A publication Critical patent/JPH11220013A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3933289B2 publication Critical patent/JP3933289B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 吸着した被吸着体の汚染が少ない静電チャッ
クを提供すること。 【解決手段】 電極2と、その上に設けられた絶縁層3
とを有し、電極2に電圧を印加することにより、絶縁層
3上に被吸着体Wを静電吸着する静電チャックであり、
絶縁層3の表面に突起6を有し、さらに突起6を有する
絶縁層4が樹脂シート7により覆われている。また、絶
縁層の表面に存在する突起の上面の面積が、絶縁層全面
積に対して5〜30%である。また、絶縁層の表面に存
在する突起の高さが5〜25μmである。また、電極
と、その上に設けられた絶縁層とを有し、電極に電圧を
印加することにより、絶縁層上に被吸着体を静電吸着す
る静電チャックであって、電極の表面に突起を有し、突
起を有する電極が絶縁層として機能する樹脂シートによ
り覆われている。また、樹脂シートの厚さが100μm
以下である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電極上に絶縁層を
有し、電極に電圧を印加することにより、絶縁層上に半
導体ウエハ等の被吸着体を静電吸着する静電チャックに
関する。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置においては、減圧雰囲気
中で半導体ウエハ等の被処理基板を吸着固定するための
治具として静電チャックが用いられている。静電チャッ
クは、電極とその上に設けられた絶縁層とを有し、絶縁
層上に被処理基板を載置するとともに、電極に給電する
ことにより、被処理基板を静電吸着するものである。
【0003】このような静電チャック用絶縁部材の材料
としては、ポリイミド等の樹脂や、アルミナ等のセラミ
ックスが知られている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、静電チ
ャックは、静電吸着力で半導体ウエハ等を吸着する際
に、埃や塵も吸着しやすく、静電チャックに半導体ウエ
ハ等を接触させた際に、その裏面がパーティクルにより
汚染されやすいという問題がある。これに対して、セラ
ミックス等の絶縁層表面を加工して突起を形成すること
により、絶縁層と非吸着物との接触面積を減少させるこ
とが報告されているが、加工して突起を形成した場合、
突起の端部よりパーティクルが発生しやすい問題があっ
た。
【0005】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであって、吸着した被吸着体の汚染が少ない静電チャ
ックを提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記課題
を解決すべく鋭意研究を重ねた結果、突起を加工した絶
縁層全面を樹脂シートで覆うことにより、埃や塵等のパ
ーティクルのみならず、加工して突起を形成した場合に
突起の端部より発生するパーティクルの問題も解決され
ることを知見した。
【0007】本発明は、このような知見に基づいてなさ
れたものであり、以下の(1)〜(5)を提供するもの
である。 (1)電極と、その上に設けられた絶縁層とを有し、電
極に電圧を印加することにより、絶縁層上に被吸着体を
静電吸着する静電チャックであって、前記絶縁層の前記
被吸着体側の表面に突起を有し、さらに突起を有する絶
縁層が樹脂シートにより覆われていることを特徴とする
静電チャック。 (2)前記絶縁層の表面に存在する突起の上面の面積
が、絶縁層全面積に対して5〜30%であることを特徴
とする静電チャック。 (3)前記絶縁層の表面に存在する突起の高さが5〜2
5μmであることを特徴とする静電チャック。 (4)電極と、その上に設けられた絶縁層とを有し、電
極に電圧を印加することにより、絶縁層上に被吸着体を
静電吸着する静電チャックであって、前記電極の表面に
突起を有し、突起を有する電極が絶縁層として機能する
樹脂シートにより覆われていることを特徴とする静電チ
ャック。 (5)前記樹脂シートの厚さが100μm以下であるこ
とを特徴とする静電チャック。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の実施の形態について説明する。図1および図2は、
本発明の実施形態に係る静電チャックを示す断面図であ
り、図1は単極型のものを示し、図2は双極型ものを示
す。
【0009】図1の単極型の静電チャック1は、上下の
絶縁層3の間に電極2が設けられて構成されており、基
台4の上に固定されている。電極2は例えば銅で構成さ
れており、この電極2には直流電源5が接続されてい
る。そして、この直流電源5から電極2に給電されるこ
とにより、上の絶縁層3に被吸着体、例えば半導体ウエ
ハWが静電吸着される。
【0010】図2の双極型の静電チャック1’は、上下
の絶縁層3の間に一対の電極2a、2bが設けられてお
り、これらに電源5が接続されており、電源5からこれ
らの電極にそれぞれ逆極性の電荷が供給されて上の絶縁
層3に被吸着体、例えば半導体ウエハWが静電吸着され
る。
【0011】図1および図2のいずれの静電チャック
も、図示するように絶縁層3の半導体ウエハが吸着され
る表面3aに突起6が設けられており、さらに突起6が
形成された絶縁層3の全面を覆うように樹脂シート7が
設けられている。このように絶縁層3の表面3aに突起
6を設け、さらにその上に樹脂シート7を設けることに
より、絶縁層3と半導体ウエハW等の被吸着体との接触
面積が減少して吸着した半導体ウエハW等の汚染を少な
くすることがでるとともに、突起6の加工した部分から
のパーティクルも防止することができる。
【0012】樹脂シート7を樹脂で構成したのは、樹脂
はセラミックス等に比較してパーティクルの発生が少な
く、被吸着体の汚染を少なくすることができるからであ
る。樹脂シート7を構成する樹脂は特に限定されるもの
ではないが、ポリイミド系樹脂、4フッ化エチレン樹脂
等の耐プラズマ性を有する樹脂であることが好ましく、
中でも特に耐プラズマ性に優れたポリイミド系樹脂で構
成することが好ましい。
【0013】樹脂シート7の厚さは特に限定されるもの
でないが、100μm以下が望ましい。樹脂の厚さが1
00μmを超えると静電吸着力が大幅に減少する。
【0014】突起6の材質および形成方法は特に限定さ
れない。材質としてはセラミックスあるいは樹脂を用い
ることができる。また、突起の形成方法は、セラミック
ス系あるいは樹脂系静電チャックの吸着面を加工して形
成してもよく、吸着面に樹脂テープ等を貼り付けて形成
してもよい。なお、吸着面に樹脂テープ等を貼り付けた
場合は、材料自身から発生するパーティクルの問題はな
いが、繰り返し使用していると貼り付けた樹脂テープが
剥離する問題がある。この樹脂テープの剥離に対して
も、樹脂テープを貼り付けることにより形成した突起を
樹脂テープにより覆うことにより、解消することができ
る。
【0015】また、絶縁層3の全面積に対して突起6の
面積が占める割合は5〜30%であることが好ましい。
5%未満では吸着力が弱くなり、半導体ウエハ等の被吸
着体を十分に保持することができなくなるおそれがあ
り、また、30%を超えると被吸着体と絶縁層との接触
面積が増加することにより、埃や塵等のパーティクルの
付着が増加する。
【0016】さらに、突起6の高さは5〜25μmが望
ましい。5μm未満では突起6以外の絶縁層部分にも被
吸着体が接触して埃や塵等のパーティクルが増加するお
それがあり、25μmを超えると静電吸着力が弱くな
り、被吸着体を十分に保持することができなくなるおそ
れがある。
【0017】突起6は、例えば、図3に示すように絶縁
層3の表面3aに多数配置することができる。この場合
に突起の形状は特に限定されるものではなく、円形、楕
円形、長方形等種々の形状を採用することができる。ま
た、突起6はこのような配置に限らず他の種々の配置を
採用することができ、例えば図4、図5、図6、図7に
示すように、リング状、メッシュ状、格子状、放射状等
の配置を採用することができる。
【0018】突起6は全面に亘って形成されていてもよ
いが、吸着面に内部の電極形状が浮き出る構造の静電チ
ャックの場合は、電極に対応する部分のみに配置するこ
とにより、吸着した半導体ウエハ等の被吸着体の平面度
を高くすることができる。
【0019】いずれの場合にも、突起6は絶縁層3の表
面3aに均等に形成することが望ましい。このように表
面3aに均等に突起を形成することにより、吸着した半
導体ウエハ等の被吸着体の平面度を高くすることができ
る。さらに、半導体ウエハ等の被吸着体との接触面積を
最小にしかつ被吸着体に十分な吸着力を発生させる観点
からも、突起6は電極直上に配置するのがよい。
【0020】また、図8に示すように、電極2に突起
6’を形成して、その上に絶縁層として機能する樹脂シ
ート7’を形成してもよい。この場合にも前記理由によ
り樹脂シート7’の厚さは100μm以下であることが
好ましい。
【0021】このように、突起を形成してその上を樹脂
シートで覆うことにより、突起の剥離や加工した部分か
らパーティクルを発生するおそれもなく、吸着した半導
体ウエハW等の被吸着体の汚染が少ない静電チャックを
得ることができる。
【0022】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。 (実施例1)アルミナ絶縁層を有するφ300mmの双
極型静電チャックの絶縁層表面を加工し、φ10mm×
0.020tmmの突起を形成した。この突起上面の絶
縁層全面積に対する割合は20%であった。さらに、突
起を形成した絶縁層全面を厚さ30μmのポリイミドシ
ートで覆った。得られた静電チャックの電極に±500
Vの電圧を印加し、Siウエハを静電吸着させ、吸着力
を測定した。吸着力は、静電チャックに吸着させたSi
ウエハを上方向に引っ張り、そのときの力をばね秤によ
り測定した。さらに、静電チャックに吸着させたウエハ
の裏面のパーティクル数を、異物検査装置を用いて測定
した。その結果、吸着力は60g/cm2、パーティク
ル数は150個/300mmウエハ)であった。
【0023】(実施例2)電極を形成したφ300mm
のアルミナ基板に、φ3mm×0.020tmmのポリ
イミドテープを貼り、突起を形成した。この突起上面の
絶縁層全面積に対する割合は15%であった。さらに、
突起を形成した絶縁層全面を厚さ70μmのポリイミド
シートを貼り、絶縁層として、静電チャックを作製し
た。得られた静電チャックの吸着力は48g/cm2
あり、パーティクル数は130個/300mmウエハで
あった。また、ウエハの吸着・脱離を500回繰り返し
たが、絶縁層表面に形成された突起の剥離は認められな
かった。
【0024】(比較例1)アルミナ絶縁層を有するφ3
00mmの双極型静電チャックの絶縁層表面を加工し、
φ20mm×0.020tmmの突起を形成した。この
突起上面の絶縁層全面積に対する割合は15%であっ
た。得られた静電チャックの吸着力は、70g/cm2
であり、パーティクル数は800個/300mmウエハ
であった。
【0025】(比較例2)電極を形成したφ300mm
のアルミナ基板に、厚さ70μmのポリイミドシートを
貼り、絶縁層として、突起のない静電チャックを作製し
た。得られた静電チャックの吸着力は80g/cm2
あり、パーティクル数は600個/300mmウエハで
あった。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
突起を形成した絶縁層または電極を樹脂シートで覆うこ
とにより、突起を加工した部分からパーティクルを発生
することなく、吸着した被吸着体の汚染が少ない静電チ
ャックを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る単極型の静電チャッ
クを示す断面図。
【図2】本発明の他の実施形態に係る双極型の静電チャ
ックを示す断面図。
【図3】本発明における突起配置の一例を示す模式図。
【図4】本発明における突起配置の他の例を示す模式
図。
【図5】本発明における突起配置のさらに他の例を示す
模式図。
【図6】本発明における突起配置のさらに他の例を示す
模式図。
【図7】本発明における突起配置のさらに他の例を示す
模式図。
【図8】本発明のさらに他の実施形態に係る単極型の静
電チャックを示す断面図。
【符号の説明】
1,1’……静電チャック 2,2a,2b……電極 3……絶縁層 4……基台 5……電源 6、6’……突起 7、7’……樹脂シート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石本 博三 埼玉県草加市新栄町167−6 (72)発明者 鎌田 範幸 東京都昭島市武蔵野三丁目1番2号 日本 電子株式会社内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電極と、その上に設けられた絶縁層とを
    有し、電極に電圧を印加することにより、絶縁層上に被
    吸着体を静電吸着する静電チャックであって、前記絶縁
    層の前記被吸着体側の表面に突起を有し、さらに突起を
    有する絶縁層が樹脂シートにより覆われていることを特
    徴とする静電チャック。
  2. 【請求項2】 前記絶縁層の表面に存在する突起の上面
    の面積が、絶縁層全面積に対して5〜30%であること
    を特徴とする請求項1に記載の静電チャック。
  3. 【請求項3】 前記絶縁層の表面に存在する突起の高さ
    が5〜25μmであることを特徴とする請求項1または
    請求項2に記載の静電チャック。
  4. 【請求項4】 電極と、その上に設けられた絶縁層とを
    有し、電極に電圧を印加することにより、絶縁層上に被
    吸着体を静電吸着する静電チャックであって、前記電極
    の表面に突起を有し、突起を有する電極が絶縁層として
    機能する樹脂シートにより覆われていることを特徴とす
    る静電チャック。
  5. 【請求項5】 前記樹脂シートの厚さが100μm以下
    であることを特徴とする請求項1ないし請求項4に記載
    の静電チャック。
JP3353398A 1998-02-02 1998-02-02 静電チャック Expired - Fee Related JP3933289B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3353398A JP3933289B2 (ja) 1998-02-02 1998-02-02 静電チャック

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3353398A JP3933289B2 (ja) 1998-02-02 1998-02-02 静電チャック

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11220013A true JPH11220013A (ja) 1999-08-10
JP3933289B2 JP3933289B2 (ja) 2007-06-20

Family

ID=12389204

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3353398A Expired - Fee Related JP3933289B2 (ja) 1998-02-02 1998-02-02 静電チャック

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3933289B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003511856A (ja) * 1999-10-01 2003-03-25 バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド 表面構造およびその製造方法,ならびに表面構造を組み込む,静電ウエハクランプ
JP2006287210A (ja) * 2005-03-07 2006-10-19 Ngk Insulators Ltd 静電チャック及びその製造方法
WO2007007731A1 (ja) * 2005-07-12 2007-01-18 Creative Technology Corporation 基板の異物除去装置及び基板の異物除去方法
WO2007013619A1 (ja) * 2005-07-28 2007-02-01 Kyocera Corporation 試料保持具とこれを用いた試料吸着装置およびこれを用いた試料処理方法
CN103227124A (zh) * 2012-01-27 2013-07-31 三菱电机株式会社 异物除去装置、异物除去方法
JP7810957B1 (ja) * 2024-12-13 2026-02-04 住友電気工業株式会社 支持部材、ウエハ保持台、および支持部材の製造方法

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003511856A (ja) * 1999-10-01 2003-03-25 バリアン・セミコンダクター・エクイップメント・アソシエイツ・インコーポレイテッド 表面構造およびその製造方法,ならびに表面構造を組み込む,静電ウエハクランプ
JP2006287210A (ja) * 2005-03-07 2006-10-19 Ngk Insulators Ltd 静電チャック及びその製造方法
US8196594B2 (en) 2005-07-12 2012-06-12 Creative Technology Corporation Apparatus for removing foreign material from substrate and method for removing foreign material from substrate
JPWO2007007731A1 (ja) * 2005-07-12 2009-01-29 株式会社クリエイティブ テクノロジー 基板の異物除去装置及び基板の異物除去方法
JP4616346B2 (ja) * 2005-07-12 2011-01-19 株式会社クリエイティブ テクノロジー 基板の異物除去装置及び基板の異物除去方法
CN101223637B (zh) 2005-07-12 2012-01-18 创意科技股份有限公司 基板的异物去除装置以及基板的异物去除方法
WO2007007731A1 (ja) * 2005-07-12 2007-01-18 Creative Technology Corporation 基板の異物除去装置及び基板の異物除去方法
KR101202559B1 (ko) * 2005-07-12 2012-11-19 가부시키가이샤 크리에이티브 테크놀러지 기판의 이물 제거장치 및 기판의 이물 제거방법
TWI420579B (zh) * 2005-07-12 2013-12-21 創意科技股份有限公司 And a foreign matter removing method for a substrate
WO2007013619A1 (ja) * 2005-07-28 2007-02-01 Kyocera Corporation 試料保持具とこれを用いた試料吸着装置およびこれを用いた試料処理方法
JPWO2007013619A1 (ja) * 2005-07-28 2009-02-12 京セラ株式会社 試料保持具とこれを用いた試料吸着装置およびこれを用いた試料処理方法
JP4782788B2 (ja) * 2005-07-28 2011-09-28 京セラ株式会社 試料保持具とこれを用いた試料吸着装置およびこれを用いた試料処理方法
CN103227124A (zh) * 2012-01-27 2013-07-31 三菱电机株式会社 异物除去装置、异物除去方法
JP7810957B1 (ja) * 2024-12-13 2026-02-04 住友電気工業株式会社 支持部材、ウエハ保持台、および支持部材の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3933289B2 (ja) 2007-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3693895B2 (ja) 可撓性フィルムの静電吸着装置、可撓性フィルムの静電吸着方法、可撓性フィルムの表面処理方法
CN105917457A (zh) 等离子体处理装置以及晶片搬送用托盘
JPH11214494A (ja) 静電チャック
JP2006287210A (ja) 静電チャック及びその製造方法
JP6765761B2 (ja) 静電チャック装置及び静電吸着方法
JP3933289B2 (ja) 静電チャック
JP4159926B2 (ja) 静電把持装置及びそれを製造する方法
JP4030361B2 (ja) 静電吸着方法
JP2019220503A (ja) 静電チャック及びその製造方法
JP2006040993A (ja) 静電チャック
JPH11168132A (ja) 静電吸着装置
JP2000340640A (ja) 非接触型静電吸着装置
JPH11186372A (ja) 静電チャック
JP2004319700A (ja) 静電チャック
KR102698029B1 (ko) 탈착 장치
JP2503364B2 (ja) ウエハの静電吸着装置、ウエハの静電吸着方法、ウエハの離脱方法及びドライエッチング方法
JP4934907B2 (ja) 静電チャック
JPH06198533A (ja) 静電チャック
JP2003266354A (ja) バキュームチャック
JPH11186371A (ja) 双極型静電チャック
JP4046424B2 (ja) 基板載置装置、及び真空処理装置
JP2006253352A (ja) 吸着装置
JPH05206254A (ja) 静電チャック
JPH07321186A (ja) 静電吸着装置
JP4590314B2 (ja) ウェハキャリア

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040720

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20040720

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20040720

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060620

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060818

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20061031

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061228

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20070109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070227

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070313

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100330

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100330

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100330

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110330

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110330

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120330

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120330

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130330

Year of fee payment: 6

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees