JPH11225062A - 出力回路 - Google Patents

出力回路

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JPH11225062A
JPH11225062A JP10024192A JP2419298A JPH11225062A JP H11225062 A JPH11225062 A JP H11225062A JP 10024192 A JP10024192 A JP 10024192A JP 2419298 A JP2419298 A JP 2419298A JP H11225062 A JPH11225062 A JP H11225062A
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JP
Japan
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output buffer
circuit
output
power supply
voltage
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JP10024192A
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English (en)
Inventor
Takashi Sato
高史 佐藤
Kenichi Fukui
健一 福井
Yoji Nishio
洋二 西尾
Yoshinobu Nakagome
儀延 中込
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】送出した信号が負荷に到達するまでの遅延時間
のばらつきを抑える出力回路を提供する。 【解決手段】内部回路と最終段出力バッファ回路との間
に、出力バッファ制御回路313,314を設け、この
出力バッファ制御回路313,314には内部回路から
の入力信号と、出力バッファ用の電源電圧と出力バッフ
ァ用のグランド電圧の少なくとも一方を入力して、出力
バッファ用の電源電圧および出力バッファ用グランド電
圧の変動にともなって変動するような最終段出力バッフ
ァ回路の制御信号を発生する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は出力回路、特に、半
導体集積回路装置の出力段に構成される出力バッファ回
路に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路装置間を結ぶ伝送線路の
動作周波数を高めて高速な信号伝送を行うために、伝送
する信号の振幅を1V程度の小振幅とするさまざまな低
振幅インタフェースが提案されている。こうした低振幅
インタフェースを用いて高速にデータ転送を行う装置の
一例として、半導体記憶装置であるシンクリンクDRAM
(Dynamic Random Access Memory)が挙げられる。
【0003】シンクリンクDRAMについては、例えば
岡島著,シンクリンクDRAMのI/Oインタフェース
技術,電子通信情報学会技術研究報告,ICD97−2
3,1997年5月に詳しく記載されている。このシン
クリンクDRAMでは、400Mbps以上のデータ転送
速度を達成することを目標としている。
【0004】データ転送速度を400Mbpsとすると
き、データ転送の周期は2.5nsとなる。この一周期
の時間内に誤りなくデータを伝送するためには、データ
の受信を行う装置のセットアップ・ホールド時間と、デ
ータの送信装置,受信装置やその間を結ぶデータ転送経
路の特性が変化することにより生じるデータ転送遅延時
間のばらつきの最大値との和を2.5ns 以内に抑える
必要がある。上記半導体装置の入出力特性を変えるばら
つきの代表的なものとして、例えばプロセス変動,電源
電圧変動,動作温度変動,データ配線間のクロストーク
等がある。
【0005】いま、データ転送の周期から、種々の要因
による遅延時間のばらつきを引いたものをウィンドウマ
ージンTwmと定義する。例として、データ転送速度が
400Mbps,プロセス・電源電圧・動作温度・クロス
トーク等による変動分の総和を1.9ns とするとき、
ウィンドウマージンTwmはTwm=2.5ns−1.9
ns=0.6nsとなる。このウィンドウマージンTw
mは、大きいほど動作に余裕があることを意味する。ま
た、ウィンドウマージンTwmが負であるときは、ばら
つきの条件によっては誤りなしでデータ転送することが
不可能になることを意味する。
【0006】近年のデータ転送速度の高速化により、信
号波形の立上り・立下りは一層急峻となってきている。
このため、前述したばらつきの中で、特にデータ送信側
の出力回路の電源電圧変動が大きくなり、データ転送に
要する遅延時間のばらつきに大きな影響を与えるように
なってきている。以下、従来の技術の一例である図1お
よび図2を用いて、出力回路の電源電圧変動が、出力回
路から負荷までのデータ転送に要する遅延時間をばらつ
かせる理由について説明する。
【0007】図1は、従来の出力回路の構成の一例であ
り、内部回路,出力回路,パッケージのリードインダク
タンスと出力回路が駆動する負荷を、それぞれモデル化
して記述したものである。電源配線101,102はそ
れぞれ、半導体装置内部の出力回路用電源配線と出力回
路用グランド配線であり、半導体装置外部の電源105
および106から、半導体装置パッケージの電源ピンの
リードインダクタンス103および104を通じて給電
される。出力回路用電源と出力回路用グランド配線は、
内部回路用電源および内部回路用グランドとそれぞれ共
有される場合もあるが、高速なデータ出力を行う半導体
装置では、出力回路用電源と内部回路用電源は分離され
ることが多い。
【0008】また、図1中の信号配線110は内部回路
から出力回路へ信号を伝達する配線であり、この例で
は、それぞれ111,112で示すバッファ回路を経て
最終段出力バッファ回路113を駆動する。最終段出力
バッファ回路113から出力された信号は、パッケージ
のリードインダクタンス114を経て、負荷115へ供
給される。出力信号はさらに、マッチング抵抗116を
経て、負荷容量121を充放電する。この例では、SS
TL(Stub Series Terminated
Logic)で構成する負荷を示してあり、終端抵抗
117および118は119にて終端電圧に接続する。
【0009】図2には、図1の最終段出力バッファ11
3を例として、最終段出力バッファの典型的な構成例を
示した。この例では、pMOSトランジスタ201とnM
OSトランジスタ202のプッシュプル構成となってい
る。最終段出力バッファ回路が有効な信号を出力してい
る間には、pMOSトランジスタ201とnMOSトラ
ンジスタ202は相補的に動作する。この相補的動作を
実現するため、バッファ111および112からは同一
の論理信号が最終段出力バッファ回路113に入力され
る。
【0010】すなわち、最終段出力バッファ回路が論理
“H”を信号配線213より送出する場合には、pMO
Sトランジスタ201とnMOSトランジスタ202の
ゲート211および212にはそれぞれ論理“L”が入
力される。その結果、pMOSトランジスタ201が導通、
nMOSトランジスタ202が非導通となって、信号配
線213に論理“H”が出力される。逆に、最終段出力
バッファ回路が論理“L”を信号配線213より送出す
る場合には、pMOSトランジスタ201とnMOSト
ランジスタ202のゲート211および212にはそれ
ぞれ論理“H”が入力される。その結果、pMOSトラ
ンジスタ201が非導通、nMOSトランジスタ202
が導通となり、信号配線213に論理“L”が出力され
る。
【0011】この最終段出力バッファでは、pMOSト
ランジスタ201またはnMOSトランジスタ202の
いずれか一方が出力回路用電源と導通することで負荷に
電流を供給する。出力回路用電源とグランドへの電流供
給は、図1の電源ピンインダクタンス103と104を
通じて行われる。
【0012】いま、例えば最終段出力バッファの出力す
る論理が“L”から“H”に切り替わると、負荷容量1
21に向かって電流が流れる。電流はpMOSトランジ
スタ201を通じて出力回路用電源101から供給され
るが、この電流は、電源ピンインダクタンス103を通
じて外部電源105から供給されたものである。このと
き、出力回路用電源には、電源ピンインダクタンス10
3に電流が流れたことによる逆起電力ΔVが発生して、
電源電圧の変動が生じる。この起電力は、電源ピンのリ
ードインダクタンス103の実効値をL,同時に動作す
る最終段出力回路数をNとするとΔV=NL di/d
t と表され、電流の時間変化率が大きいほど、また、
電源ピンインダクタンスが大きいほど電源電圧変動ΔV
は大きい。
【0013】図1に示したように、半導体装置の出力回
路が複数ある場合には、これら複数の出力回路は、一般
に出力回路用電源配線とグランド配線に対して並列に接
続される。このため、複数の最終段出力バッファ回路1
13,133,143,153の論理遷移が同時に同じ方
向に起こると、最終段出力バッファ回路が一つだけ動作
した場合に対して電源電圧変動量は4倍となる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】いま、データの送端で
ある最終段出力バッファ113の出力信号配線213の
電圧が論理しきい値Vthを横切る時間から、信号受端
である負荷容量121の端子122の電圧が論理しきい
値Vthを横切るまでの時間を、信号転送の遅延時間T
pdと定義する。最終段出力バッファ113についてT
pdを測定すると、前述した出力回路用電源電圧の変動
により、この遅延時間Tpdが変化する。特に、出力回
路用の電源と内部回路用の電源が分離されている半導体
装置では、出力回路用電源の電圧が変動しても内部回路
の電源電圧はほとんど変動しないために、nMOS,p
MOSトランジスタのゲートソース間電圧の変動が大き
くなり、遅延時間Tpdのばらつきが大きくなる傾向に
ある。
【0015】また、各最終段出力バッファ回路の電源配
線の抵抗が大きい場合には、各出力バッファに供給され
る電源電圧に差が生じ、出力回路相互の遅延時間にも差
が生じる。例えば、最終段出力バッファ回路113と1
53に供給される電源電圧値が異なると、最終段出力バ
ッファ113と153へ同時に信号を入力しても、負荷
122と162への遅延時間はそれぞれ異なることにな
る。
【0016】前述したように、出力回路の動作周波数が
高く出力信号の立上り/立下り時間が短いほど、また同
一の出力回路用電源に接続して同時に動作する出力回路
数が多いほど電源電圧の変動量が増して、遅延時間のば
らつきが大きくなる。今後、データ転送速度が向上して
いくにつれて、出力回路用電源電圧の変動はますます大
きく、またこの電源電圧変動に起因する遅延時間のばら
つきは増していき、ウィンドウマージンTwmの確保が
困難になっていくと考えられる。
【0017】本発明の目的は、こうした出力回路用電源
電圧の変動に起因する出力信号の遅延時間のばらつきを
低減する出力回路を提供することである。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明においては内部回路と最終段出力バッファ回
路との間に、出力バッファ制御回路を設ける。この出力
バッファ制御回路は、内部回路からの入力信号と、出力
バッファ用の電源電圧と出力バッファ用のグランド電圧
の少なくとも一方を入力として、出力バッファ用の電源
電圧および出力バッファ用グランド電圧の変動にともな
って変動するような最終段出力バッファ回路の制御信号
を発生する。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を、図面を
用いて説明する。
【0020】図3において、内部回路からの信号は、バ
ッファ111および112を通じて、信号配線311お
よび312により出力回路に供給される。313と31
4は、出力バッファ制御回路であり、313には出力バ
ッファが出力すべき論理を伝達する信号配線311と、
出力バッファ用の電源電圧を伝達する信号配線315が
入力されている。ここで、出力バッファ制御回路313
は、次のような信号を出力する。
【0021】(1)信号配線311が論理“H”であると
き、信号配線317を論理“H”に相当する電圧VHと
する。
【0022】(2)信号配線311が論理“L”であると
き、信号配線317を論理“L”に相当する電圧VLa
を出力する。
【0023】ここで、出力バッファ制御回路313は、
出力バッファ用の電源315の本来の電圧値からの変動
量をΔVとするとき、信号配線317の電圧VLa=V
L+kΔVとするように調整する。ここで、VLは論理
“L”に相当する電圧である。係数kは常に1とするこ
とが望ましいが、実現が困難である場合には1に近い値
とすればよい。この理由については、後で明らかにす
る。また、出力バッファ用電源配線101と315は図
3では同電位として表わされているが、配線の抵抗等に
より同一の電源配線上でも場所により電位が異なる場合
があるから、信号配線315は、pMOSトランジスタ
319のできるだけ近傍で電源配線に接続することが望
ましい。
【0024】同様に、出力バッファ制御回路314に
は、出力バッファが出力すべき論理を伝達する信号配線
312と、出力バッファ用の電源電圧を伝達する信号配
線316が入力されている。出力バッファ制御回路314
は、次のような信号を出力する。
【0025】(1)信号配線312が論理“L”のとき、
信号配線318を論理“L”に相当する電圧VLとす
る。
【0026】(2)信号配線312が論理“H”のとき、
信号配線318を論理“H”に相当する電圧VHaを出
力する。
【0027】ここで、出力バッファ制御回路314は、
出力バッファ用のグランド316の変動量をΔVとする
とき、信号配線318の電圧VHa=VH+kΔVとな
るように調整する。ここで、VHは論理“H”に相当す
る電圧である。
【0028】以下、こうした最終段出力バッファを制御
する出力バッファ制御回路の出力電圧の調整について説
明する。
【0029】いま、内部回路から伝達された信号311
が論理“H”であるとき、出力バッファ制御回路313
は論理“H”に相当する電圧を信号配線317に出力す
るから、pMOSトランジスタ319は非導通状態とな
る。一方このとき、出力バッファ制御回路314は論理
“H”に相当する電圧Vを信号線318に出力するか
ら、nMOSトランジスタ320は導通状態となる。こ
のときnMOSトランジスタは飽和領域で動作するか
ら、nMOSトランジスタを流れる電流Idnは次の数
1で表される。
【0030】
【数1】Idn=βn/2(Vgs−Vthn)2 ここに、βnはnMOSトランジスタの製造プロセスや
サイズ等により決まる定数である。VgsはnMOSト
ランジスタのゲートソース間の電圧であり、図2では配
線212と102間、図3では、配線318と316間
の電位差である。また、VthnはnMOSトランジス
タのしきい値電圧である。
【0031】図2に示した従来例では、nMOSトラン
ジスタのゲート電圧は、バッファ112により供給され
る。バッファ112には、比較的電圧変動の小さい内部
電源が供給されているため、出力信号212はほぼ一定
値をとる。一方、バッファ113自身の動作やその近傍
の出力バッファの動作により、出力バッファ用グランド
電圧は変動するため、nMOSトランジスタのソース電
圧が変動する。このため、従来例では、Idsがグラン
ド電圧の変動量ΔVによって異なり、一定にならないこ
とから負荷容量の充電に要する時間が異なり、遅延時間
Tpdのばらつきが生じる。
【0032】一方、図3に示すように、出力バッファ制
御回路を介して、nMOSトランジスタのゲート電圧3
18を、出力バッファ用電源の電圧変動量ΔVに応じて
VHa=VH+kΔVのように変化させると、Vgs=
VH+(k−1)ΔVとなり、kが1に近いときにはΔV
が無視できて、グランド電圧が変動しても、Vgsを一定
値VHに保つことができる。このため、負荷容量の充電
に要する時間をほぼ一定にできるため、遅延時間Tpd
のばらつきを小さくすることができる。
【0033】以上の説明にはnMOSトランジスタの動
作を用いたが、pMOSトランジスタについても全く同
様である。
【0034】出力バッファ制御回路に電源供給が必要な
場合は、内部回路用電源または出力バッファ制御回路用
の専用電源など、出力バッファ用電源以外の電源を供給
することが望ましい。また、必要ならば、出力バッファ
制御回路には、出力バッファ用電源よりも広い範囲の電
圧範囲をとることのできる専用の電源を供給するとよ
い。しかし、出力バッファ制御回路による電圧調整を、
出力バッファ用電源の変動から得る場合にはこの限りで
はない。
【0035】次に、図3における出力バッファ制御回路
の具体例を、nMOSトランジスタ側の出力バッファ制
御回路314を例として説明する。pMOSトランジス
タ側の出力バッファ制御回路313は、以下の説明から
nMOSトランジスタ側の出力バッファ制御回路と同様
にして構成できる。
【0036】出力バッファ制御回路314を実現する回
路の具体例を図4に示す。図4では、出力バッファ用グ
ランド316の変動は、容量401を介して信号配線3
18に結合される。このとき、バッファ112が接続す
る電源との分離を行い、また信号配線318の容量結合
による電位変動をしばらくの間保つために、抵抗402を
挿入することが望ましい。
【0037】出力バッファ制御回路を実現する具体的な
回路の別の例を図5に示す。図5では、定電圧回路50
1を用いる。定電圧回路501は、出力バッファ用グラ
ンド電圧316を基準として、信号配線505と316
間を常に一定の電圧に保つ回路とする。図5の例では、
信号配線312により排他的に動作するMOSトランジ
スタ対で構成したスイッチ502と503を用いて、信
号配線318に基準電圧504の電圧または定電圧回路
の出力電圧505を供給する。ここで、基準電圧504
を0Vとすれば出力バッファのnMOSトランジスタを
制御する出力バッファ制御回路が実現できる。
【0038】以上述べたように、出力バッファ制御回路
は様々な回路として構成可能であり、図4や図5に示し
た回路に制限されるものではない。
【0039】また、全体の回路構成についても、図3に
示したように出力バッファ制御回路を複数設ける構成だ
けでなく、例えば、図6のように構成することも可能で
ある。図6は、最終段出力バッファ回路のトランジスタ
319と320のゲート電圧を同一電位とする構成であ
る。このような場合には、出力バッファ制御回路を60
1のように接続して、601の具体的内部回路として
は、図5に示した出力バッファ制御回路を2系統持っ
て、内部回路からの信号配線312の論理にしたがって
適宜片方の系統のみ使用するように切り替えればよい。
【0040】さらに、これまでの例では、最終段出力バ
ッファ回路を相補型MOS構成によるプッシュプル回路
として示したが、本発明は、最終段出力バッファ回路が
シングルエンド型等の回路形式である場合にも適用可能
であることは明らかである。
【0041】
【発明の効果】本発明によれば、出力バッファ制御回路
が出力する制御信号により、最終段出力バッファ回路を
構成するトランジスタのゲートソース間の電位差を一定
に保つことができるために、出力バッファを構成するト
ランジスタの電流供給能力が一定となる。このため、出
力回路用の電源電圧およびグランド電圧が変動した場合
にも、負荷までの信号遅延時間を一定に保つことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の出力回路と、出力回路が駆動する負荷を
説明する図。
【図2】従来の出力回路の回路構成を説明する図。
【図3】本発明による出力回路の回路構成を説明するブ
ロック図。
【図4】本発明による出力バッファ制御回路の第1の具
体的回路例。
【図5】本発明による出力バッファ制御回路の第2の具
体的回路例。
【図6】本発明による出力回路の回路構成を説明する別
のブロック図。
【符号の説明】
101,102…最終段出力バッファ用電源配線,グラ
ンド配線、103,104,114…パッケージピンの
インダクタンス、110…内部回路からの信号配線、1
11,112…バッファ、113,133,143,1
53…最終段出力バッファ、115…負荷回路の例、3
13,314,701…出力バッファ制御回路。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中込 儀延 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力信号を受けてそれに対応する出力電流
    を外部負荷に供給する出力回路において、外部負荷を直
    接駆動する最終段出力バッファ回路と内部回路との間
    に、入力信号と出力バッファ用の電源電圧および出力バ
    ッファ用のグランド電圧の少なくとも一方を入力とし
    て、最終段出力バッファ回路を制御するための信号を出
    力する出力バッファ制御回路を有し、前記出力バッファ
    制御回路が発生する制御信号は、出力バッファ用の電源
    電圧および出力バッファ用グランド電圧の変動にともな
    って変動することを特徴とする出力回路。
JP10024192A 1998-02-05 1998-02-05 出力回路 Pending JPH11225062A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003047105A1 (en) * 2001-11-27 2003-06-05 Koninklijke Philips Electronics N.V. Output driver comprising an improved control circuit
KR100400311B1 (ko) * 2001-06-29 2003-10-01 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 신호 지연 제어 장치
KR100429871B1 (ko) * 2001-06-07 2004-05-04 삼성전자주식회사 다수개의 출력 신호들을 갖는 반도체 장치

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WO2003047105A1 (en) * 2001-11-27 2003-06-05 Koninklijke Philips Electronics N.V. Output driver comprising an improved control circuit

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