JPH1123232A - 透明体面間距離測定装置及び方法 - Google Patents

透明体面間距離測定装置及び方法

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JPH1123232A
JPH1123232A JP18274297A JP18274297A JPH1123232A JP H1123232 A JPH1123232 A JP H1123232A JP 18274297 A JP18274297 A JP 18274297A JP 18274297 A JP18274297 A JP 18274297A JP H1123232 A JPH1123232 A JP H1123232A
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Nobuyuki Magai
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 被測定物として、特に厚さが10μm前後或
いはそれ以上で数100μm以内の透明体の厚さ、すな
わち面間距離を測定する。 【解決手段】 平行な第1、第2面S1,S2を持つ被
測定透明体8の面間距離を光学的に測定するものであ
り、レーザ発振器11と、入射レーザ光を電気信号に変
換する2分割受光素子18と、レーザ光を第1面S1上
に垂直に集光すると共に第1,第2面S1,S2にて反
射されたレーザ光を2分割受光素子18上に導くコリメ
ータレンズ12,対物レンズ13,ミラー部14Mと、
対物レンズ13の焦点位置と第1及び第2面S1,S2
の位置との間の光軸方向の変位量を各受光素子への光入
射量の差に変換するナイフエッジ部14Eとを有し、各
受光素子からの電気信号の差から得たS字特性に基づい
て第1、第2面S1,S2の面間距離を計算する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定対象物とし
て、特に透明体の面間距離を測定する透明体面間距離測
定装置及び方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、非接触方式による被測定物の
厚さ測定方法としては、いわゆる三角測定方式、光干渉
方式等が挙げられる。上記三角測定方式は三角法を使用
して厚さを測定する方式であり、上記光干渉方式は光の
干渉を観測する干渉計を使用して厚さを測定する方式で
ある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記三角測
定方式の場合は、被測定物の厚みの測定範囲が約300
μm以上となっており、また、上記光干渉方式の場合
は、被測定物の厚みの測定範囲が数μm以下となってい
る。
【0004】したがって、被測定物の厚さが例えば10
μm前後或いはそれ以上で数100μm以内の場合に
は、それらの測定方式では測定できない。
【0005】そこで、本発明はこのような課題に鑑みて
なされたものであり、被測定物として、特に厚さが10
μm前後或いはそれ以上で数100μm以内の透明体の
厚さ、すなわち面間距離を測定可能な透明体面間距離測
定装置及び方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、少なくとも第
1、第2の平行な2つの面を持つ被測定透明体の面間の
距離を光学的に測定する透明体面間距離測定装置及び方
法であり、光源光を被測定透明体の第1面上に垂直に集
光し、第1、第2面にて反射された光源光を2分割受光
素子上に導き、光源光を集光する際の焦点位置と第1及
び第2面の位置との間の光軸方向の変位量を各受光素子
への光入射量の差に変換し、各受光素子からの電気信号
に基づいて面間距離を計算することにより、上述した課
題を解決する。
【0007】ここで、本発明では、ナイフエッジ方式を
用いて上記変位量を各受光素子への光入射量の差に変換
するようにしている。また、本発明では、各受光素子か
らの電気信号の差に基づいて面間距離を演算し、この面
間距離の演算の際には被測定透明体の屈折率による係数
演算を行う。
【0008】すなわち本発明によれば、被測定透明体に
レーザ光を照射し、この被測定透明体の第1、第2面の
反射光をナイフエッジ方式で構成された光学系で検出
し、2面間の距離をS字特性から読み取り、さらに屈折
率による係数演算にて被測定透明体の厚さを測定するよ
うにしている。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態について、図面を参照しながら説明する。
【0010】本発明実施の形態の透明体面間距離測定装
置のシステム全体構成を図1に示す。
【0011】この図1に示す透明体面間距離測定装置
は、主要構成要素として、測定ヘッド1と、載置台7上
に置かれた被測定物(例えば後述する被測定透明体)8
に対して上記測定ヘッド1を接離方向に移動させる測定
ヘッド移動駆動機構3と、当該測定ヘッド移動駆動機構
3を基台6に対して水平及び垂直方向に移動させる水平
垂直移動駆動機構4と、後述するような数値演算及び各
種回路を電気的に制御する信号処理及び制御系とを有す
るものである。なお、信号処理及び制御系の詳細につい
ては後述する。
【0012】測定ヘッド1は、図2に示すように、その
筺体内にナイフエッジ方式の光学系10が組み込まれて
いる。この光学系10は、少なくともレーザ発振器(例
えばレーザダイオード)11と、ナイフエッジとしての
機能を有するミラー(以下、ナイフエッジ付きミラー1
4と呼ぶ)と、出射レーザ光を平行光にするコリメータ
レンズ12と、対物レンズ13と、光検出器18とを有
して構成されている。これら光学部品のうち、ナイフエ
ッジ付きミラー14のナイフエッジ部14Eとコリメー
タレンズ12及び対物レンズ13がレーザ発振器11の
出射光路上に順に配されており、ナイフエッジ付きミラ
ー14のミラー面14Mは、上記被測定物8からの反射
光が通る光路上で、且つその反射光を光検出器18側に
導く位置に配されている。なお、被測定物8の測定面
は、レーザ光軸に対して垂直に配置され、レーザ発振器
11と光検出器18は、光学的距離において等しい距離
に配置されている。
【0013】また、上記レーザ発振器11から出射され
るレーザ光Lの光軸と被測定物8の表面(後述する透明
体の第1の反射面S1及び第2の反射面S2)とが垂直
の関係になるように、測定ヘッド1が位置決めされてい
る。光検出器18は、この例では、互いに分離された2
つの受光素子(フォトダイオード、後述する図3の例で
は受光素子18A、18Bとして示す)で構成されてい
る。また、対物レンズ13は、測定ヘッド1の筺体に対
して、例えば着脱自在とされたホルダ(図1の対物レン
ズホルダ2)内に組み込まれており、適宜その交換を行
えるようになっている。
【0014】また、この測定ヘッド1の筺体は、図1に
示すように上記測定ヘッド移移動駆動機構3に取り付け
られている。この測定ヘッド移動駆動機構3は、図示は
省略するが、駆動ギヤとこの駆動ギヤが噛合されるラッ
クとが設けられている。ラックは、多数のギヤ歯の配列
方向が、上記測定ヘッド1の筺体の上下方向に沿うよう
に設けられている。従って、駆動ギヤが回転することに
よって、当該測定ヘッド1が上下方向に移動することに
なる。なお、図1及び図2においては、この測定ヘッド
1の筺体の上下方向の移動を図中矢印のみで示してい
る。
【0015】さらに、この測定ヘッド移動駆動機構3
は、図示は省略するが、駆動源であるモータと、このモ
ータの回転力を減速して上記駆動ギヤに伝達する減速機
構が設けられて構成されている。この減速機構として
は、例えばベルト伝達機構やギヤ列にて構成される。な
お、詳細な説明及び図示は省略するが、この測定ヘッド
移動駆動機構3には測定ヘッド1の移動量を検出する移
動量検出機構も設けられている。
【0016】図1の例では、測定ヘッド1を上記測定ヘ
ッド移動駆動機構3にて上下させる例を挙げたが、上記
載置台7を上下方向に移動させるようにしてもよい。
【0017】上記測定ヘッド移動駆動機構3もまた、図
1に示すように水平垂直移動駆動機構4に取り付けられ
ている。この水平垂直移動駆動機構4は、基台6に垂直
に固定された固定板5に取り付けられており、この水平
垂直移動駆動機構4には、図示は省略するが、水平及び
垂直(左右及び上下)用の水平及び垂直駆動ギヤとこれ
ら駆動ギヤが噛合される水平及び垂直用のラックとが設
けられている。従って、上記水平又は垂直用の駆動ギヤ
が回転することによって、上記測定ヘッド移動駆動機構
3が水平(左右)又は垂直(上下)方向に移動すること
になる。
【0018】また、図示は省略するが、この水平垂直移
動駆動機構4にも、駆動源であるモータと、このモータ
の回転力を減速して上記水平及び垂直用の駆動ギヤに伝
達する減速機構が設けられて構成されている。
【0019】次に、本発明の透明体面間距離測定方法を
実現する本実施の形態の測定装置の動作について説明す
るが、その前に、上記測定ヘッド1の光学系10の動作
原理について図3及び図4を参照しながら説明する。
【0020】レーザ発振器11から出射されたレーザ光
Lは、ナイフエッジ付きミラー14のナイフエッジ部1
4Eにより、そのスポット形状が半円となり、前記コリ
メータレンズ12及び対物レンズ13を通って被測定物
8に結像する。この被測定物8で反射したレーザ光L
は、対物レンズ13及びコリメータレンズ12を逆に戻
り、前記ナイフエッジ付きミラー14のミラー面14M
にて反射し、光検出器18に入射する。但し、図3の例
では、図示と説明を容易にするため、上記レーザ発振器
11及び上記ミラー面14Mによる反射経路を省略し
て、上記被測定物8で反射したレーザ光Lが真っ直ぐに
光検出器18に入射する様子を描いている。
【0021】この光検出器18は、図3に示すように、
互いに分割された2つの受光素子(フォトダイオード)
18A、18Bにて構成されており、これら第1、第2
の受光素子18A,18Bの配置は、図3(B)に示す
ように、対物レンズ13の焦点距離に被測定物8の表面
(反射面)が存在する場合に、すなわち被測定物8の反
射面がジャスト・フォーカス点(以下、単にJ・F点と
記す)と一致するときに、ちょうど2つのフォトダイオ
ード18A,18Bの中間点に反射光Lが結像するよう
に上記2つのフォトダイオード18A,18Bの位置を
合わせておく。
【0022】このような配置関係にすると、例えば、被
測定物8の反射面がJ・F点から遠ざかったとき、すな
わち対物レンズ13と被測定物8の反射面との距離がJ
・F点よりも遠ざかっている後フォーカスの場合は、図
3(A)に示すように、反射光Lの半円スポットが、第
1の受光素子18Aの方へ移動する。ここで、第1の受
光素子18Aの受光レベルをPA、第2の受光素子18
Bの受光レベルをPBとすると、上記図3(A)のよう
な後フォーカスの場合の各受光素子18の受光特性は、
図4(A)の特性曲線aに示すように、第1の受光素子
18Aにおける受光レベルPAが大きくなる。この受光
レベルPAの特性曲線aは、被測定物8の反射面がJ・
F点から徐々に遠ざかって、第1の受光素子18Aの受
光面内に半円スポットが完全に入った位置をレベルピー
クとする略々ガウス分布に近似した曲線となる。
【0023】一方、例えば、被測定物8の反射面がJ・
F点から対物レンズ13側に近づいたとき、すなわち対
物レンズ13と被測定物8の反射面との距離がJ・F点
よりも近くになる前フォーカスの場合は、図3(C)に
示すように、反射光Lの半円スポットが、第2の受光素
子18Bの方へ移動する。この図3(C)のような前フ
ォーカスの場合の各受光素子18の受光特性は、図4
(A)の特性曲線bに示すように、第2の受光素子18
Bにおける受光レベルPBが大きくなる。この受光レベ
ルPBの特性曲線bは、被測定物8の反射面がJ・F点
から対物レンズ13側に徐々に近づいて、第2の受光素
子18Bの受光面内に半円スポットが完全に入った位置
をレベルピークとする略々ガウス分布に近似した曲線と
なる。
【0024】ここで、上記図4(A)で示す各受光レベ
ルPA,PBの差(PA−PB)をとると、図4(B)
に示すように、略々S字状の特性(以下、S字特性と呼
ぶ)が得られ、その中間点(ゼロクロス点)がJ・F点
に対応する。
【0025】ところで、上記被測定物8が透明体ではな
く、非透明の鏡面を有するものである場合、当該鏡面で
反射された反射光を上記受光素子18にて受光すると、
得られるS字特性は、図5のようになる。すなわち、1
つの鏡面でのみ反射された反射光より得られるS字特性
は、上記J・F点に対応する中間点(ゼロクロス点)が
1ヶ所しか得られない。言い換えれば、S字特性自体が
1つしか現れない。
【0026】これに対して、上記被測定物8が透明体で
ある場合には、複数個のS字特性が得られる可能性があ
る。すなわち、透明体の場合、入射する光は全て透過す
るわけではなく、通常はその表面や内面(底面)にて光
の一部が反射されるものであり、当該内面(底面)にて
反射された光からも上記同様のS字特性が得られること
になる。したがって、例えば、表面及び内面(底面)が
平行な透明な膜状(或いは板状)の被測定物(以下、被
測定透明体8とする)の場合、当該被測定透明体8に照
射されたレーザ光は、一部がその表面(以下、第1の反
射面S1とする)にて反射されて前記受光素子18に到
達し、さらに当該被測定透明体8内部に入射したレーザ
光もその一部が上記内面(以下、第2の反射面S2とす
る)にて反射されて前記受光素子18に到達することに
なり、これら第1の反射面S1及び第2の反射面S2で
の反射により得られる2つのS字特性の関係は、図6に
表すようになる。
【0027】このため、この図6に示す2つのS字特性
のゼロクロス点ZAとZBと間の距離に基づいて、上記
被測定透明体8の上記第1の反射面S1と第2の反射面
S2間の距離、すなわち当該被測定透明体8の厚さを計
算することが可能となる。
【0028】ただし、上記第2の反射面S2での反射光
は、被測定透明体8の屈折率の影響を受けるため、上記
S字特性の基準点となるゼロクロス点ZAとZBの位相
は、当該被測定透明体8の厚さとは一致しない。したが
って、上記2つのゼロクロス点ZAとZBの距離に基づ
いて当該被測定透明体8の厚さを計算する際には、上記
2つのゼロクロス点ZAとZBの距離に対して上記屈折
率による係数演算を行う必要がある。
【0029】図7には、上記2つのゼロクロス点ZAと
ZBの距離を得て、さらに上記屈折率による係数演算を
行った結果を示す。なお、図7Aには、被測定透明体の
サンプルと、各サンプルの膜厚代表値と、各サンプルの
測定値と、各サンプルの測定値の偏差を示している。ま
た図7Bには、各サンプルの膜厚代表値と各サンプルの
測定値のグラフを示している。この図7の例から、10
μm前後及びそれ以上の膜厚を測定できることがわか
る。
【0030】次に、上述のように受光素子18の受光レ
ベルとゼロクロス点及び屈折率から、被測定透明体8の
厚さを計算するための回路構成、すなわち前記信号処理
及び制御系の構成を、図8を用いて説明する。
【0031】この図8において、第1、第2の受光素子
18A、18Bは、前記被測定透明体8からの反射光を
それぞれ受光し、電気信号(前記受光レベルPA,PB
の信号)に変換する。これら受光素子18A、18Bか
らの信号は、演算器21に送られる。この演算器21で
は、上記第1の受光素子18Aの信号から上記第2の受
光素子18Bに信号を減算し、その演算信号を出力す
る。この演算器21の出力信号が、前記PA−PBすな
わちS字特性に相当する。
【0032】上記演算器21からの出力信号は、A/D
(アナログ/ディジタル)変換器22にてディジタル信
号に変換され。処理装置24に送られる。当該処理装置
24は、前記レーザ発信器11の制御と、ステージ23
の制御すなわち前記測定ヘッド移動駆動機構3及び水平
垂直移動駆動機構4の制御を行う。更に、処理装置24
では、上記ディジタル変換された上記演算器21からの
出力信号すなわちS字特性に基づいて、上記被測定透明
体8の第1の反射面S1及び第2の反射面S2の2面間
の距離を判断すると共に屈折率による係数演算を行い、
当該被測定透明体8の厚さを計算する。
【0033】この処置装置24にて求められた測定結果
は、例えばCRT(陰極線管)や液晶ディスプレイ等の
表示装置25に送られて表示される。
【0034】なお、上述の説明では、各ゼロクロス点間
の距離に基づく膜厚計算の例を述べたが、膜厚の計算に
使用する点は特に上記ゼロクロス点である必要はなく、
上記第1の反射面S1と第2の反射面S2での反射の特
徴を得られる点であればよく、例えばピーク間の距離或
いはボトム間の距離に基づいて計算することも可能であ
る。ただし、この場合の係数演算はゼロクロス点を用い
る場合と変わることになる。このように、本実施の形態
の測定装置は、被測定透明体8から得られる反射特性が
判別できれば、被測定透明体の厚みを求めることができ
る。
【0035】また、上述の例では、被測定透明体の第1
の反射面と第2の反射面間の距離を求める例を挙げた
が、例えば、多数の境界面を持つ多層構成の透明体の各
層間の距離の測定や、多数枚の透明体を張り合わせた時
の各張り合わせ面の間隔も測定が可能である。すなわ
ち、上記多数の境界面を持つ多層構成の透明体を上記被
測定透明体とした場合には、各層の境界面に対応する複
数のS字特性が得られ、したがって各S字特性間の距離
と各層の屈折率とに基づいて、各層間の距離を計算す
る。また、上記多数枚の透明体を張り合わせたものを上
記被測定透明体とした場合には、各透明体の張り合わせ
面に対応する複数のS字特性が得られ、したがって各S
字特性間の距離と各透明体の屈折率とに基づいて、各透
明体の張り合わせ間隔を計算する。
【0036】上述したように、本発明の実施の形態によ
れば、被測定透明体の厚さ測定の分野では従来不可能で
あった10μm前後及びそれ以上の測定が実現可能とな
っている。したがって、例えば10μm前後〜数100
μmの厚さのガラス、誘電体、レジスト等の測定が可能
となる。また、本発明実施の形態の測定装置を、各種プ
ロセスに組み込むことにより、製造時の歩留まりを改善
できるようになる。更に、本発明の透明体の厚さ測定方
法は、非破壊検査でないため、即時性が高い。また前述
のように、複数枚の透明体の張り合わせ間隔や多層構造
の各層の厚さの測定も可能である。
【0037】なお、上記被測定透明体8の厚さが例えば
10μm未満になると、前記2つのゼロクロス点ZA,
ZB間の距離が近接し、判別が困難となることが考えら
れる。このような場合、本実施の形態の測定装置では、
光学系10の構成及び前記処理装置24でのデータ処理
にてその判別の困難性を克服可能である。
【0038】すなわち、上記光学系10を変更して対処
する場合には、レーザ発振器11の次段の対物レンズの
F値を大きくする。上記被測定透明体8の厚さが10μ
m前後及びそれ以上の場合のF値としては、例えばF4
0を使用しているが、上記10μm未満の被測定透明体
8の厚さを測定する場合には、F40以上の対物レンズ
を有する対物レンズホルダ2を使用する。
【0039】また、上記処理装置24のデータ処理にて
対処する場合には、次のような演算を行う。
【0040】例えば、上記被測定透明体8として上述し
たように厚さが10μm未満のものを使用することによ
って、前記第1の反射面と第2の反射面による2つのS
字特性が非常に近接してこれら2つのS字特性が合成さ
れてしまい、例えば図9Aの特性曲線raに示すような
反射特性になってしまったとする。
【0041】このような場合に備えて、非透明体の鏡面
での反射特性(S字特性)を予め測定しておく。この非
透明体の鏡面での反射特性(S字特性)は、図9Bの特
性曲線rbに示すようなものとなる。ここで、上記図9
Aの特性曲線raの+側のピーク値RAと上記図9Bの
特性曲線rbの+側のピーク値RBを基にして、当該特
性曲線rbを正規化する。上記正規化は、RA/RBを
特性曲線rbの全体に乗ずることにより行う。次に、上
記特性曲線raから、当該正規化した特性曲線rbを減
算する。
【0042】すなわち、このような正規化及び減算の演
算により、上記非測定透明体8の第2の反射面による反
射特性(S字特性)が得られることになる。この時の第
2の反射面による反射特性(S字特性)は、図9Cの特
性曲線rcに示すようになる。
【0043】さらに、上記被測定透明体8の第1の反射
面のS字特性のゼロクロス点は、本来は前記図6のゼロ
クロス点ZAの位置にあるべきもの、すなわち図9Bの
非透明体鏡面でのS字特性のゼロクロス点と同じ位置に
あるはずなので、当該図9Bの特性曲線rbのゼロクロ
ス点と上記演算により求めた被測定透明体8の第2の反
射面による特性曲線rcのゼロクロス点との距離を求め
ることにより、当該被測定透明体8の厚さの光学距離を
得ることができる。
【0044】なお、例えば特開平5−18716号公報
には光学式非接触厚み測定装置が開示されているが、こ
の公報記載の技術では、1つの受光素子にて膜厚を測定
することが行われており、したがって、反射特性のピー
ク値を分離して判別する必要があり、また、面状態が荒
れている場合や膜厚が薄い場合にはその判別が難しい。
【0045】これに対して、本発明実施の形態の透明体
面間距離測定手法においては、ナイフエッジ付きミラー
と2分割の光検出器を用い、2つの受光素子の出力の差
分により得られる反射特性(2つのS字特性)から、被
測定透明体の膜厚を測定するようにしており、したがっ
て、上記特開平5−18716号公報に記載の技術のよ
うに反射特性のピーク値を分離して判別する必要はな
く、2つのS字特性のゼロクロス点を判別するだけでそ
の厚み測定が可能となる。また、面状態が荒れていたり
膜厚が薄い場合であっても、正負に振れる2つのS字特
性のゼロクロス点を判別するだけでその厚み測定が可能
となる。
【0046】
【発明の効果】上述のように、本発明の透明体面間距離
測定装置及び方法によれば、光源光を被測定透明体の第
1面上に垂直に集光し、第1、第2面にて反射された光
源光を2分割受光素子上に導き、光源光を集光する際の
焦点位置と第1及び第2面の位置との間の光軸方向の変
位量を各受光素子への光入射量の差に変換し、各受光素
子からの電気信号に基づいて面間距離を計算することに
より、特に厚さが10μm前後或いはそれ以上で数10
0μm以内の透明体の厚さ、すなわち面間距離を測定可
能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明実施の形態の透明体面間距離測定装置の
全体構成を示す構成図である。
【図2】本発明実施の形態の透明体面間距離測定装置の
測定ヘッドの概略構成を示す構成図である。
【図3】本発明実施の形態の透明体面間距離測定装置に
適用されるナイフエッジ方式の原理説明に用いる図であ
る。
【図4】受光素子の受光レベルとS字特性の説明に用い
る図である。
【図5】鏡面反射により得られるS字特性を示す特性図
である。
【図6】透明体の2面反射により得られるS字特性を示
す特性図である。
【図7】透明体の2面反射により得られる2つのS字特
性のゼロクロス点間の距離と屈折率による係数演算とか
ら求めた複数サンプルの膜厚の測定結果例を示す図であ
る。
【図8】本発明実施の形態の透明体面間距離測定装置の
信号処理及び制御系の回路構成を示すブロック回路図で
ある。
【図9】本発明実施の形態の透明体面間距離測定装置に
おいて、厚さが10μm未満の被測定透明体の膜厚を、
データ処理にて測定する場合の原理説明に用いる図であ
る。
【符号の説明】 1 測定ヘッド、 2 対物レンズホルダ、 3 測定
ヘッド移動駆動機構、4 水平垂直移動駆動機構、 5
固定板、 6 基台、 7 載置台、 10 光学
系、 11 レーザ発振器、 14 ナイフエッジ付き
ミラー、 12コリメータレンズ、 13 対物レンズ
13、 18 光検出器、 21 演算器、 24 処
理装置、 25 測定値表示装置

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも第1、第2の平行な2つの面
    を持つ被測定透明体の面間の距離を光学的に測定する透
    明体面間距離測定装置において、 光を発生する光源と、 入射した光を電気信号に変換する2分割受光素子と、 上記光源光を上記被測定透明体の上記第1面上に垂直に
    集光すると共に、上記被測定透明体の第1、第2面にて
    反射された上記光源光を上記2分割受光素子上に導く光
    学系と、 上記光学系の焦点位置と上記被測定透明体の上記第1及
    び第2面の位置との間の光軸方向の変位量を、上記2分
    割受光素子の各受光素子への光入射量の差に変換する変
    換手段と、 上記2分割受光素子の各受光素子からの電気信号に基づ
    いて上記被測定透明体の第1、第2面の面間距離を計算
    する計算手段とを有することを特徴とする透明体面間距
    離測定装置。
  2. 【請求項2】 上記変換手段は、ナイフエッジ方式を用
    いて、上記変位量を上記2分割受光素子の各受光素子へ
    の光入射量の差に変換することを特徴とする請求項1記
    載の透明体面間距離測定装置。
  3. 【請求項3】 上記計算手段は、上記2分割受光素子の
    各受光素子からの電気信号の差を演算する第1の演算手
    段と、上記第1の演算手段の出力信号に基づいて上記面
    間距離を演算する第2の演算手段とを有することを特徴
    とする請求項1記載の透明体面間距離測定装置。
  4. 【請求項4】 上記第2の演算手段は、上記第1の演算
    手段の出力信号に基づいて求めた距離に、上記被測定透
    明体の屈折率による係数演算を施すことを特徴とする請
    求項3記載の透明体面間距離測定装置。
  5. 【請求項5】 上記第2の演算手段は、上記第1の演算
    手段の出力信号のゼロクロス点に基づいて上記面間距離
    を演算することを特徴とする請求項3記載の透明体面間
    距離測定装置。
  6. 【請求項6】 上記被測定透明体は複数の境界面を持つ
    多層構造を有してなり、 上記光学系は上記各境界面にて反射された上記光源光を
    上記2分割受光素子上に導き、 上記変換手段は上記焦点位置と上記各境界面の位置との
    間の光軸方向の変位量を上記2分割受光素子の各受光素
    子への光入射量の差に変換し、 上記計算手段は上記各受光素子からの電気信号に基づい
    て上記各境界面間の距離を計算するを有することを特徴
    とする請求項1記載の透明体面間距離測定装置。
  7. 【請求項7】 上記被測定透明体は複数枚の透明体を張
    り合わせてなり、 上記光学系は上記各張り合わせ面にて反射された上記光
    源光を上記2分割受光素子上に導き、 上記変換手段は上記焦点位置と上記各張り合わせ面の位
    置との間の光軸方向の変位量を上記2分割受光素子の各
    受光素子への光入射量の差に変換し、 上記計算手段は上記各受光素子からの電気信号に基づい
    て上記各張り合わせ面間の距離を計算するを有すること
    を特徴とする請求項1記載の透明体面間距離測定装置。
  8. 【請求項8】 少なくとも第1、第2の平行な2つの面
    を持つ被測定透明体の面間の距離を光学的に測定する透
    明体面間距離測定方法において、 光源光を上記被測定透明体の上記第1面上に垂直に集光
    し、 上記被測定透明体の第1、第2面にて反射された上記光
    源光を2分割受光素子上に導き、 上記光源光を集光する際の焦点位置と上記被測定透明体
    の上記第1及び第2面の位置との間の光軸方向の変位量
    を、上記2分割受光素子の各受光素子への光入射量の差
    に変換し、 上記2分割受光素子の各受光素子からの電気信号に基づ
    いて上記被測定透明体の第1、第2面の面間距離を計算
    するを有することを特徴とする透明体面間距離測定方
    法。
  9. 【請求項9】 ナイフエッジ方式を用いて、上記変位量
    を上記2分割受光素子の各受光素子への光入射量の差に
    変換することを特徴とする請求項8記載の透明体面間距
    離測定方法。
  10. 【請求項10】 上記2分割受光素子の各受光素子から
    の電気信号の差を演算し、 当該電気信号の差信号に基づいて上記面間距離を演算す
    ることを特徴とする請求項8記載の透明体面間距離測定
    方法。
  11. 【請求項11】 上記電気信号の差信号に基づく面間距
    離演算の際には、上記電気信号の差信号に基づいて求め
    た距離に、上記被測定透明体の屈折率による係数演算を
    施すことを特徴とする請求項10記載の透明体面間距離
    測定方法。
  12. 【請求項12】 上記電気信号の差信号に基づく面間距
    離演算の際には、上記電気信号の差信号のゼロクロス点
    に基づいて上記面間距離を演算することを特徴とする請
    求項10記載の透明体面間距離測定方法。
  13. 【請求項13】 上記被測定透明体は複数の境界面を持
    つ多層構造を有してなり、 上記各境界面にて反射された上記光源光を上記2分割受
    光素子上に導き、 上記焦点位置と上記各境界面の位置との間の光軸方向の
    変位量を上記2分割受光素子の各受光素子への光入射量
    の差に変換し、 上記各受光素子からの電気信号に基づいて上記各境界面
    間の距離を計算するを有することを特徴とする請求項8
    記載の透明体面間距離測定方法。
  14. 【請求項14】 上記被測定透明体は複数枚の透明体を
    張り合わせてなり、 上記各張り合わせ面にて反射された上記光源光を上記2
    分割受光素子上に導き、 上記焦点位置と上記各張り合わせ面の位置との間の光軸
    方向の変位量を上記2分割受光素子の各受光素子への光
    入射量の差に変換し、 上記各受光素子からの電気信号に基づいて上記各張り合
    わせ面間の距離を計算するを有することを特徴とする請
    求項8記載の透明体面間距離測定方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113654471A (zh) * 2021-08-04 2021-11-16 河北光兴半导体技术有限公司 玻璃管厚度测量方法及装置

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