JPH1123624A - 電力系統の高調波測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 着目高調波を挟む系統基本周波数の非整数倍
の２周波数の電流を注入して系統上位側の高調波特性を
測定する際に、両周波数の電流を注入する装置の電圧階
級を低くして小型かつ簡素な構成で安価に測定し得るよ
うにする。 【解決手段】 系統１の高調波計測点ｂより下位低圧側
に高調波注入点ａを設定し、電流注入装置１６から注入
点ａに計測対象の着目高調波を挟む系統基本周波数の非
整数倍の２周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の電流を中間高調波の電流
としてそれぞれ注入し、計測点ｂの周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の
電流，電圧を検出して計測点ｂより上位の周波数ｆ₁ ，
ｆ₂ の中間高調波それぞれについての等価回路のアドミ
タンスを求め、両アドミタンスから計測点ｂより上位の
着目高調波についての等価回路９のアドミタンス１０を
補間演算して決定し、注入点ａの上位に設定した計測点
ｂより上位の着目高調波についての高調波特性を測定す
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電力系統の高調波
計測点より上位の着目高調波についての特性（高調波特
性）を測定する電力系統の高調波測定方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】電力系統の送，配電系統においては、高
調波を低減することが重要である。

【０００３】ところで、高調波の周波数は、系統基本周
波数ｆ_s の整数倍であり、代表的な第５調波の周波数は
５×ｆ_s である。

【０００４】また、高調波の低減は高調波のレベルを予
測等し、適当な周波数のフィルタを設置して行われる。

【０００５】そして、高調波の電圧レベルの予測等を行
うには、電力系統のフィルタ設備の接続点を高調波計測
点とし、この計測点より上位（上流），下位（下流）の
高調波に対する特性を把握してその等価回路を求める必
要がある。

【０００６】この高調波等価回路は、ノートンの定理で
表現されたアドミタンスと電流源との並列回路とみなす
ことができる。

【０００７】そして、電気学会論文誌Ｂ，１０１巻８
号，ｐ．４５１−４５８，（昭５６−８）には、配電線
の第５調波についての高調波等価回路を求める際、系統
の基本波の電圧，電流を計測し、その結果から等価回路
のアドミタンス，電流源の大きさ、位相等を算出して推
定することが記載されている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】前記論文誌に記載の高
調波測定方法で電力系統のｎ次の着目高調波（周波数ｎ
×ｆ_s ）についての等価回路を求める場合、系統の基本
波電圧・電流の計測結果から高調波アドミタンス、高調
波電流源の大きさ、位相を推定して決定するため、高調
波等価回路のアドミタンス等を精度よく求めることがで
きない。

【０００９】すなわち、前記従来の高調波測定方法の場
合、計測対象の着目高調波についての等価回路のアドミ
タンスや電流源を実測して求めたわけではなく、基本波
の計測情報に基づき、基本波の大きさ（ベクトル値）か
ら着目高調波の大きさ（ベクトル値）を推定して求める
に過ぎないため、その等価回路を精度よく求めることは
できない。

【００１０】この結果、電力系統の高調波特性を正確に
把握して適当なフィルタを設ける等することができず、
高調波レベルの良好な低減が困難になる。

【００１１】そこで、本出願人は特願平８−３１０１９
２号の出願により、電力系統の高調波注入点に測定調波
（着目高調波）の上，下両側の基本波の非整数倍周波数
の電流（中間高調波の電流）それぞれを注入し、その注
入点における注入周波数の電圧及び注入点の上位，下位
に流れる注入周波数の電流の実測結果に基づき、系統の
注入点の上位，下位それぞれにつき、着目高調波の上，
下両側の注入周波数の等価回路のアドミタンスを求め、
それらの補間処理により着目高調波の等価回路のアドミ
タンスを決定してその高調波等価回路を求めることを既
に発明している。

【００１２】この場合、前記注入周波数の電流が系統に
本来存在しない基本波の非整数倍周波数の電流であり、
注入周波数についての等価回路のアドミタンスが実測に
より精度よく求まるため、この結果を用いて着目高調波
についての高調波特性を精度よく把握し得る。

【００１３】しかし、前記既出願の測定方法は、高調波
注入点と高調波計測点とが同じ点になるため、例えば、
系統の上位の高調波特性を測定する場合、高調波注入点
を高電圧の上位母線等に設定しなければならない。

【００１４】この場合、高調波注入点が高電圧になるた
め、この注入点に前記中間高調波の電流を注入する装置
の電圧階級（絶縁階級）を十分に高くする必要があり、
しかも、その十分な保護対策を講じる必要もある。

【００１５】そのため、装置が大型かつ複雑になって高
価になり、小型かつ簡素な構成で安価に系統上位側の高
調波特性を精度よく測定することができない問題点があ
る。

【００１６】本発明は、着目高調波を挟む２周波数
ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波の電流を注入して系統上位側の
高調波特性を測定する際に、両中間高調波の電流を注入
する装置に必要な電圧階級を低くし、小型かつ簡素な構
成で安価に測定し得るようにすることを課題とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、本発明の電力系統の高調波測定方法においては、
系統の高調波計測点より下位低圧側に高調波注入点を設
定し、この高調波注入点に接続した電流注入装置から高
調波注入点に、計測対象のｎ次の着目高調波を挟む系統
基本周波数ｆ_s の非整数倍の２周波数ｆ₁ ，ｆ₂ （ｆ₁
＜ｎ×ｆ_s ＜ｆ₂ ）の電流を中間高調波の電流としてそ
れぞれ注入し、高調波計測点の周波数ｆ₁ ，ｆ₂ それぞ
れの電流，電圧を検出して高調波計測点より上位の周波
数ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波それぞれについての等価回路
のアドミタンスを求め、両アドミタンスから高調波計測
点より上位の着目高調波についての等価回路のアドミタ
ンスを補間演算して決定し、高調波注入点の上位に設定
した高調波計測点より上位の着目高調波についての高調
波特性を測定する。

【００１８】したがって、高調波注入点が高調波計測点
より下位低圧側に設定され、高調波注入点に周波数
ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波の電流を注入する電流注入装置
は、高調波注入点が高調波計測点と同じ点になる場合よ
り電圧階級を低くすることができ、その保護回路等も簡
素化することができる。そのため、電流注入装置を小型
かつ簡素な構成にして安価にすることができる。

【００１９】そして、電流注入装置から高調波注入点に
系統に本来は存在しない周波数ｆ₁，ｆ₂ の中間高調波
の電流を注入し、高調波計測点における周波数ｆ₁ ，ｆ
₂ の中間高調波の電流，電圧を検出し、この検出に基づ
いて高調波計測点より上位側の両中間高調波についての
等価回路のアドミタンスを求め、この両アドミタンスか
ら高調波計測点より上位の着目高調波についての等価回
路のアドミタンスを決定してその高調波特性を測定する
ため、小型かつ簡素な構成で安価に、高調波注入点の上
位に設定した高調波計測点より上位の着目高調波につい
ての高調波特性の精度の高い測定が行える。

【００２０】

【発明の実施の形態】本発明の実施の１形態につき、図
１を参照して説明する。図１は例えば電力系統１の７７
ｋＶ系高圧母線２の高調波特性を、その下位低圧側の
６．６ｋＶ系配電母線３に電流を注入して測定する場合
の単線系統図を示す。

【００２１】そして、高圧母線２に遮断器４，上位線路
インピーダンス５，上位変電所（２次変電所）トランス
６，例えば２２ｋＶの第２の高圧母線７，配電用変電所
トランス８を介して配電母線３が接続され、この配電線
３のトランス８の２次側近傍に高調波注入点ａが設定さ
れ、トランス８の１次側近傍に高調波計測点ｂが設定さ
れる。

【００２２】このとき、電力系統１には系統基本周波数
ｆ_s の整数倍の種々の高調波が存在し、測定対象のｎ次
の着目高調波（ｎ×ｆ_s ）についての高圧母線２を含む
上位の等価回路９は、ノートンの定理で表現すると、ア
ドミタンス１０と電流源１１との並列回路になる。

【００２３】なお、着目高調波についての高調波注入点
ａの下位の等価回路１２も、ノートンの定理で表現する
と、アドミタンス１３と電流源１４との並列回路にな
る。

【００２４】そして、高調波注入点ａに高調波測定装置
１５の電流注入装置１６が接続され、この注入装置１６
は高調波特性をくり返し測定するため、系統基本周波数
ｆ_sの非整数倍の周波数ｆ₁ ，ｆ₂ （ｆ₁ ＜ｎ×ｆ_s ＜
ｆ₂ ）の中間高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ を一定時間ずつ順
に高調波注入点ａに注入することを、例えば３０分周期
でくり返えす。

【００２５】このとき、中間高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ が
系統電源に同期，非同期のいずれの電流であっても測定
可能であるが、後述の注入周波数の電流，電圧の検出を
ＤＦＴ，ＦＦＴ等のデジタル周波数解析で行うことが現
実的であるため、実用上は、電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ を系統電源
に同期して形成する必要がある。

【００２６】したがって、例えば高調波測定装置１５に
図示省略された同期装置が設けられ、この同期装置が配
電母線３の系統基本周波数ｆ_s の系統電圧に同期したそ
の逓倍周波数の同期制御信号を形成し、この同期制御信
号が電流注入装置１６に供給され、この電流注入装置１
６は同期制御信号に基づくＰＬＬ同期発振により周波数
ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ を形成する。

【００２７】さらに、前記の３０分毎に、形成した中間
高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ を、例えばタイマ動作で順次に
一定時間ずつ出力して高調波注入点ａに注入する。

【００２８】なお、着目高調波を第５調波（ｎ＝５）と
すると、中間高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ は、具体的には、
例えば着目調波から０．５調波ずれた４．５調波，５．
５調波の電流に設定される。

【００２９】そして、高調波注入点ａに注入された中間
高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ が電力系統１に本来は存在しな
い周波数の電流であるため、電流注入装置１６を電流容
量が小さい小型の装置にしても、高調波注入点ａの上位
側及び下位側において、計測可能なレベルの中間高調波
の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ を確保できる。

【００３０】また、高調波計測点ｂからみた周波数
ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波についての高圧母線２の等価回
路，高調波注入点ａからみた配電系統３の下位の等価回
路は、ノートンの定理で表現すると、いずれも等価回路
９，１２のアドミタンス１０，１３と同様のアドミタン
スのみとなる。

【００３１】そして、説明を簡単にするため、線路イン
ピーダンス５等を無視し、高調波計測点ｂより上位が等
価回路９で表されるとし、かつ、高調波注入点ａから分
流して高調波計測点ｂを上位方向に通流する周波数
ｆ₁ ，ｆ₂ の電流をＩ_iu（ｉ＝１，２）とし、その電圧
をＶ_iu（ｉ＝１，２）とすると、高調波計測点ｂからみ
たその上位の等価回路のアドミタンスＹ_iu（ｉ＝１，
２）は、つぎの数１の式の演算から求まる。

【００３２】

【数１】Ｙ_iu＝Ｉ_iu／Ｖ_iu

【００３３】さらに、周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波に
ついてのアドミタンスＹ_iu（＝Ｙ_1u，Ｙ_2u）が求まれ
ば、最も簡単には、例えば（Ｙ_1u＋Ｙ_2u）／２の補間演
算により、その中間の周波数ｎ×ｆ_s の着目高調波につ
いての等価回路９のアドミタンス１０がＹ_u(_n)として求
まる。

【００３４】そして、着目高調波についてのアドミタン
スＹ_u(_n)が求まると、高調波計測点ｂを流れる着目高調
波の電流Ｉ(_n)，電圧Ｖ(_n)の実測に基づき、着目高調波
についての等価回路９の電流源１１がつぎの数２の式の
演算から、電流源Ｉ_Gu(_n)として求まる。

【００３５】

【数２】Ｉ_Gu(_n)＝Ｉ(_n)−Ｖ(_n)×Ｙ_u(_n)

【００３６】なお、数１の式の演算から求まるアドミタ
ンスＹ_iu 及びアドミタンスＹ_u(_n)，数２の式の演算か
ら求まる電流源Ｉ_Gu(_n)は、高圧母線７から上位側をみ
たとき の値であり、例えば、アドミタンスＹ_u(_n)，電
流源Ｉ_Gu(_n)を、トランス６の変 圧比等に基づき、高圧
母線２から上位側をみたときの値に換算して求めてもよ
い。

【００３７】また、アドミタンスＹ_iu，Ｙ_u(_n)及び電流
源Ｉ_Gu(_n)は、線路インピーダンス５等による電圧降下
を考慮することにより、一層精度よく求まる。

【００３８】そして、アドミタンスＹ_u(_n)，電流源Ｉ_Gu
(_n)等を求めるため、高調波計測点ｂに計器用変圧器１
７の１次側が接続されるとともに、計測点ｂの上位側近
傍に計器用変流器１８が設けられ、高調波計測点ｂの電
圧及びこの計測点ｂを通流する系統電流が計測される。

【００３９】そして、計器用変圧器１７の電圧の計測出
力，計器用変流器１８の電流の計測出力が高調波計測装
置１５のＡ／Ｄ変換器１９に供給され、このＡ／Ｄ変換
器１９はそれぞれサンプリングしてデジタルの計測デー
タに変換する。

【００４０】このとき、後段の周波数解析を正確に行う
ため、Ａ／Ｄ変換器１９のサンプリングは、系統基本波
に同期したタイミングで行う必要がある。

【００４１】そのため、同期装置の同期制御信号がＡ／
Ｄ変換器１９に計測指令信号として伝送され、この計測
指令信号のタイミング制御に基づき、高調波注入点ａに
中間高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ が注入されたときに、Ａ／
Ｄ変換器１９は系統基本波すなわち両中間高調波に同期
して計器用変圧器１７，計器用変流器１８の計測出力を
サンプリングする。

【００４２】なお、Ａ／Ｄ変換器１９のサンプリング周
波数は周波数ｆ₁ ，ｆ₂ それぞれより十分高い周波数で
ある。

【００４３】また、この実施の形態にあっては、高調波
注入点ａより下位側の着目高調波についての等価回路１
２についてもそのアドミタンス１３，電流源１４を求め
て同定するため、電流注入装置１６の注入ラインに計器
用変流器２０が設けられ、この変流器２０が中間高調波
の注入電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ を計測し、その計測出力もＡ／Ｄ
変換器１９によりサンプリングされる。

【００４４】そして、Ａ／Ｄ変換器１９の各計測データ
が信号処理装置２１に供給され、この信号処理装置２１
は計器用変圧器１７の系統電圧，計器用変流器１８の系
統電流のＤＦＴ解析，ＦＦＴ解析等のデジタル周波数解
析により、それぞれの計測データに含まれた高調波計測
点ｂの周波数ｆ₁ ，ｆ₂ それぞれの中間高調波の電圧Ｖ
_iu及び電流Ｉ_iuを検出する。

【００４５】この電圧Ｖ_iu ，電流Ｉ_iu のデータが演算
処理装置２２に供給され、この演算処理装置２２は電圧
Ｖ_iu ，電流Ｉ_iu に基づき、前記数１の式の演算からア
ドミタンスＹ_iuを求める。

【００４６】つぎに、演算処理装置２２はアドミタンス
Ｙ_iuを用いた前記の補間演算により、着目高調波につい
てのアドミタンス１０，すなわちアドミタンスＹ_u(_n)を
決定し、高調波計測点ｂより上位の高圧母線２の高調波
特性を測定する。

【００４７】ところで、この実施の形態にあっては、高
調波特性の測定により、電流源１１も決定して等価回路
９を完全に同定する。

【００４８】そのため、高調波計測装置１５は前記の同
期制御信号の受信停止等により中間高調波の電流注入の
終了を検知すると、Ａ／Ｄ変換器１９の計測データに基
づく信号処理装置２１の周波数分析により電力系統１に
存在する着目高調波の電流Ｉ(_n)，電圧Ｖ(_n)を実測す
る。

【００４９】そして、決定したアドミタンスＹ_u(_n)と実
測した電流Ｉ(_n)，電圧Ｖ(_n)とに基づき、演算処理装置
２２は前記数２の式の演算から着目高調波についての電
流源１１をＩ_Gu(_n)として決定し、アドミタンスＹ_u(_n)
及び電流源Ｉ_Gu(_n)により等価回路９を完全に同定す
る。

【００５０】また、高調波注入点ａより下位の等価回路
１２を同定するため、演算処理装置２２は、電流Ｉ_iu，
電圧Ｖ_iuをそれぞれ高調波注入点ａからみた値に換算
し、換算後の電流Ｉ_iu，すなわち電流Ｉ_1u，Ｉ_2uと、実
測した注入電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ とに基づき、Ｉ_1d＝Ｉ₁ −Ｉ
_1u，Ｉ_2d＝Ｉ₂ −Ｉ_2uの演算により、高調波注入点ａか
ら下位に分流した周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波の電流
Ｉ_1d，Ｉ_2dを求める。

【００５１】さらに、中間高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ の注
入に基づく高調波注入点ａの下位の周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の
電圧Ｖ_1d，Ｖ_2dが換算後の電圧Ｖ_iu（＝Ｖ_1u，Ｖ_2u）に
等しくなるため、電流Ｉ_1d，Ｉ_2dと換算後の電圧Ｖ_1u，
Ｖ_2uとに基づき、数１の式の演算と同様の演算により、
高調波注入点ａの下位の周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波
についての等価回路のアドミタンスＹ_id（ｉ＝１，２）
も求める。

【００５２】そして、アドミタンスＹ_idを用いた補間演
算により、アドミタンス１０と同様にして、着目高調波
についてのアドミタンス１３，すなわちアドミタンスＹ
_d(_n)を決定し、配電系統３の下位の高調波特性を測定す
る。

【００５３】また、アドミタンスＹ_d(_n)と着目高調波の
電流Ｉ(_n)，電圧Ｖ(_n)とに基づき、前記数２の式の演算
と同様の演算により、電流源１０を電流源Ｉ_gd(_n)とし
て決定し、アドミタンスＹ_d(_n)及び電流源Ｉ_Gd(_n)によ
り等価回路１２を同定する。

【００５４】そして、周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波の
電流が注入される毎に、前記と同様にしたアドミタンス
Ｙ_u(_n)，Ｙ_d(_n)，電流源Ｉ_Gu(_n)，Ｉ_Gd(_n)が求められ、
着目高調波についての上位側，下位側それぞれの最新の
等価回路９，１２がくり返し同定される。

【００５５】さらに、その結果は、表示部２３に例えば
図１のような等価回路図でモニタ表示されるとともに、
記憶部２４に記録情報として保持される。

【００５６】そして、高調波注入点ａが高圧母線７の高
調波計測点ｂより下位低圧側の配電母線３に設定される
ため、電流注入装置１６の電圧階級を、高調波注入点ａ
と高調波計測点ｂとを同じ点に設定する場合より低くす
ることができ、その小型化が図れるとともに保護回路構
成を簡素化することができる。

【００５７】したがって、電力系統１に本来存在しない
周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ を流入
するため、電流注入装置１６の電流容量を低減してその
小型化を図ることができるだけでなく、前記の電圧階級
の低減に基づいて電流注入装置１６の一層の小型化及び
簡素化を図ることができ、電流注入装置１６が極めて小
型かつ簡素な構成で安価になる。

【００５８】そのため、小型かつ簡素で安価な高調波計
測装置１５により、高調波注入点ａの上位に高調波計測
点ｂを設け、この計測点ｂより上位の着目高調波につい
ての高調波特性を精度よく測定することができる。

【００５９】しかも、この実施の形態にあっては、高調
波計測装置ｂより上位の高調波特性の測定に用いたデー
タを流用して、この測定と同時に、高調波注入点ａより
下位の着目高調波についての高調波特性も精度よく測定
することができる。

【００６０】ところで、Ａ／Ｄ変換器１９，信号処理装
置２１，演算処理装置２２はコンピュータのソフトウエ
アにより実現することが可能であり、この場合、Ａ／Ｄ
変換器１９，信号処理装置２１，演算処理装置２２及び
表示部２３，記憶部２４をいわゆる携帯型のパソコン等
の１台のコンピュータ装置により形成することができ
る。

【００６１】また、計器用変圧器１７及び計器用変換器
１８，２０の計測出力は無線でＡ／Ｄ変換器１９に伝送
するようにしてもよい。

【００６２】そして、高調波注入点ａ及び高調波計測点
ｂは、高調波注入点ａが高調波計測点ｂの下位側に位置
するように電力系統１に任意に設定することができる。

【００６３】そのため、例えば、配電系統３に高調波計
測点ｂを設定してその下位のポールトランス２次側に高
調波注入点ａを設定し、配電系統３を含む上位の高調波
特性をその下位側から電流を注入して測定することもで
き、本発明は電力系統１の任意の点より上位の高調波特
性の測定に適用することができる。

【００６４】その際、周波数ｆ₁ ，ｆ₂ は着目高調波を
挟む系統基本周波数ｆ_s の非整数倍の適当な中間高調波
の周波数に設定してよいのは勿論である。

【００６５】なお、実際の系統にあっては、相毎に、中
間高調波の電流Ｉ₁ ，Ｉ₂ を注入して等価回路９，１２
を同定することになる。

【００６６】

【発明の効果】本発明は、以下に記載する効果を奏す
る。高調波注入点ａを高調波計測点ｂより下位低圧側に
設定したため、高調波注入点ａに周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の中
間高調波の電流を注入する電流注入装置１６の電圧階級
を、高調波注入点ａが高調波計測点ｂと同じ点になる場
合より低くすることができ、その保護回路等も簡素化す
ることができる。

【００６７】そのため、電流注入装置１６を小型かつ簡
素な構成にして安価にすることができる。

【００６８】そして、電流注入装置１６から高調波注入
点ａに系統１に本来は存在しない周波数ｆ₁ ，ｆ₂ の中
間高調波の電流を注入し、高調波計測点ｂにおける周波
数ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波の電流，電圧を検出し、この
検出に基づき、高調波計測点ｂより上位側の両中間高調
波についての等価回路のアドミタンスを求め、この両ア
ドミタンスから着目高調波についての高調波計測点ｂよ
り上位の着目高調波についての等価回路９のアドミタン
スを決定してその高調波特性を測定することができる。

【００６９】そのため、小型かつ簡素な構成で安価に、
高調波注入点ａの上位に設定した高調波計測点ｂより上
位の着目高調波についての高調波特性の精度の高い測定
を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の１形態の回路結線図である。

【符号の説明】

１ 電力系統 ９，１２ 等価回路 １０，１３ アドミタンス １１，１４ 電流源 ａ 高調波注入点 ｂ 高調波計測点

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西村 荘治 京都市右京区梅津高畝町47番地 日新電機 株式会社内 (72)発明者 鵜野 克彦 京都市右京区梅津高畝町47番地 日新電機 株式会社内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 系統の高調波計測点より下位低圧側に高
   調波注入点を設定し、 該高調波注入点に接続した電流注入装置から前記高調波
   注入点に、計測対象のｎ次の着目高調波（周波数ｎ×ｆ
   _s ）を挟む系統基本周波数ｆ_s の非整数倍の２周波数ｆ
   ₁ ，ｆ₂ （ｆ₁ ＜ｎ×ｆ_s ＜ｆ₂ ）の電流を中間高調波
   の電流としてそれぞれ注入し、 前記高調波計測点の前記周波数ｆ₁ ，ｆ₂ それぞれの電
   流，電圧を検出して前記高調波計測点より上位の前記周
   波数ｆ₁ ，ｆ₂ の中間高調波それぞれについての等価回
   路のアドミタンスを求め、 該両アドミタンスから前記高調波計測点より上位の前記
   着目高調波についての等価回路のアドミタンスを補間演
   算して決定し、 前記高調波注入点の上位に設定した前記高調波計測点よ
   り上位の前記着目高調波についての高調波特性を測定す
   ることを特徴とする電力系統の高調波測定方法。