JPH11241984A - ビッカース硬さ試験機 - Google Patents
ビッカース硬さ試験機Info
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- JPH11241984A JPH11241984A JP5886398A JP5886398A JPH11241984A JP H11241984 A JPH11241984 A JP H11241984A JP 5886398 A JP5886398 A JP 5886398A JP 5886398 A JP5886398 A JP 5886398A JP H11241984 A JPH11241984 A JP H11241984A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 平坦でない表面形状の試料の硬さ試験におい
て、適正な圧子点を表示する。 【解決手段】 試料を載置可能な微動台９の上方に、ア
ナログ式デプスゲージ型の表面形状検出機構８を設け、
デプスゲージの指針を試料表面に当接しながら微動台９
をＸ方向、Ｙ方向に移動して試料の上端凸部（又は下端
凹部）を目視により検出し、そのときの試料位置を微動
台９に付設のマイクロメータ９Ｘ，９Ｙで計測し、表示
器20に表示する。
て、適正な圧子点を表示する。 【解決手段】 試料を載置可能な微動台９の上方に、ア
ナログ式デプスゲージ型の表面形状検出機構８を設け、
デプスゲージの指針を試料表面に当接しながら微動台９
をＸ方向、Ｙ方向に移動して試料の上端凸部（又は下端
凹部）を目視により検出し、そのときの試料位置を微動
台９に付設のマイクロメータ９Ｘ，９Ｙで計測し、表示
器20に表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビッカース硬さ試
験機に関し、特に表面が平坦でない試料の硬さ試験にお
いて、適正な圧子点（圧子を押し付けるポイント）を表
示する機能をそなえたビッカース硬さ試験機に関する。
験機に関し、特に表面が平坦でない試料の硬さ試験にお
いて、適正な圧子点（圧子を押し付けるポイント）を表
示する機能をそなえたビッカース硬さ試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】試料が円筒体や球体の場合、あるいは凹
球面体の場合、図７(ａ),(ｂ)に示すように、圧子１を
試料２の表面２ａに押し付けるとき、試料２の上端凸部
ａ（あるいは下端凹部ｂ）すなわち適正圧子点以外で
は、圧子１が試料面２ａを滑り、正規なくぼみを形成で
きない。
球面体の場合、図７(ａ),(ｂ)に示すように、圧子１を
試料２の表面２ａに押し付けるとき、試料２の上端凸部
ａ（あるいは下端凹部ｂ）すなわち適正圧子点以外で
は、圧子１が試料面２ａを滑り、正規なくぼみを形成で
きない。
【０００３】そこで従来、試料の円筒形状面あるいは球
面部についてビッカース硬さ試験機で硬さ試験を行なう
場合、図８に示すようにくぼみ測定用の光学顕微鏡01の
焦点合わせ操作と、（試料）微動台９のＸ−Ｙ方向移動
操作とにより、試料02を微動させながら焦点合わせして
測定したい面すなわち試料面02ａの上端凸部ａあるいは
下端凹部ｂ（図９参照）すなわち試料02の適正圧子点
（硬さ試験点）を見つけ出すという操作を必要とした。
なお微動台９は機枠に、Ｘ方向およびＹ方向に移動可能
に支持されており、光学顕微鏡01は微動台９の上方で機
枠に回転可能に支持されたターレットに取り付けられて
いる。ターレットには圧子機構も取り付けられている。
面部についてビッカース硬さ試験機で硬さ試験を行なう
場合、図８に示すようにくぼみ測定用の光学顕微鏡01の
焦点合わせ操作と、（試料）微動台９のＸ−Ｙ方向移動
操作とにより、試料02を微動させながら焦点合わせして
測定したい面すなわち試料面02ａの上端凸部ａあるいは
下端凹部ｂ（図９参照）すなわち試料02の適正圧子点
（硬さ試験点）を見つけ出すという操作を必要とした。
なお微動台９は機枠に、Ｘ方向およびＹ方向に移動可能
に支持されており、光学顕微鏡01は微動台９の上方で機
枠に回転可能に支持されたターレットに取り付けられて
いる。ターレットには圧子機構も取り付けられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な従来の技術において、光学顕微鏡に焦点深度の深い対
物レンズを用いると、上端凸部ａの検出を容易に行なう
ことができるが、通常、くぼみ測定用レンズで焦点合わ
せする場合が多い。くぼみ測定レンズは倍率が高いため
視野範囲が狭く、したがって上端凸部の検出（確認）は
容易でないという問題点がある。また、上述のとおり複
雑な操作となるため、測定者の熟練を必要とし、また非
能率的であるという問題点もある。本発明は、これらの
問題点を解決しようとするものである。
な従来の技術において、光学顕微鏡に焦点深度の深い対
物レンズを用いると、上端凸部ａの検出を容易に行なう
ことができるが、通常、くぼみ測定用レンズで焦点合わ
せする場合が多い。くぼみ測定レンズは倍率が高いため
視野範囲が狭く、したがって上端凸部の検出（確認）は
容易でないという問題点がある。また、上述のとおり複
雑な操作となるため、測定者の熟練を必要とし、また非
能率的であるという問題点もある。本発明は、これらの
問題点を解決しようとするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、機枠と、同機
枠にＸ方向およびＹ方向に移動可能に支持されるととも
に試料を載置可能な微動台と、同微動台の上方で上記機
枠に回転可能に取り付けられたターレットとをそなえる
とともに、同ターレットに取り付けられた試料表面形状
検出機構と、上記微動台のＸ方向およびＹ方向の各移動
情報を入力されて同微動台の位置を演算可能なマイクロ
コンピュータとをそなえたビッカース硬さ試験機におい
て、上記検出機構の出力値に基づいて上記試料の適正圧
子点が検出されたときに同適正圧子点の位置を上記マイ
クロコンピュータを介して表示器に表示するように構成
して課題解決の手段としているまた、上記試料表面形状
検出機構として、アナログ式ゲージを用いて課題解決の
手段としている。
枠にＸ方向およびＹ方向に移動可能に支持されるととも
に試料を載置可能な微動台と、同微動台の上方で上記機
枠に回転可能に取り付けられたターレットとをそなえる
とともに、同ターレットに取り付けられた試料表面形状
検出機構と、上記微動台のＸ方向およびＹ方向の各移動
情報を入力されて同微動台の位置を演算可能なマイクロ
コンピュータとをそなえたビッカース硬さ試験機におい
て、上記検出機構の出力値に基づいて上記試料の適正圧
子点が検出されたときに同適正圧子点の位置を上記マイ
クロコンピュータを介して表示器に表示するように構成
して課題解決の手段としているまた、上記試料表面形状
検出機構として、アナログ式ゲージを用いて課題解決の
手段としている。
【０００６】さらに、上記試料表面形状検出機構とし
て、上記試料の表面形状をデジタル信号として出力可能
なデジタル式計測器を用い、上記マイクロコンピュータ
に同デジタル式計測器の上記出力と上記微動台のＸ方向
およびＹ方向の各移動情報とを入力して上記試料の適性
圧子点の位置の演算を行ない、同マイクロコンピュータ
で演算された上記試料の適性圧子点の位置を表示部に表
示させるようにして課題解決の手段としている。
て、上記試料の表面形状をデジタル信号として出力可能
なデジタル式計測器を用い、上記マイクロコンピュータ
に同デジタル式計測器の上記出力と上記微動台のＸ方向
およびＹ方向の各移動情報とを入力して上記試料の適性
圧子点の位置の演算を行ない、同マイクロコンピュータ
で演算された上記試料の適性圧子点の位置を表示部に表
示させるようにして課題解決の手段としている。
【０００７】本発明によると、 試料表面形状検出機構
で検出された試験点の位置を、試験機に内蔵のマイクロ
コンピュータを介して表示器に表示できるようにしたた
め、試料の適正な試験点の割り出しが容易となる。
で検出された試験点の位置を、試験機に内蔵のマイクロ
コンピュータを介して表示器に表示できるようにしたた
め、試料の適正な試験点の割り出しが容易となる。
【０００８】また、試料表面形状検出機構として、アナ
ログ式ゲージを用いて、試験機の低コスト化をはかるこ
とができる。
ログ式ゲージを用いて、試験機の低コスト化をはかるこ
とができる。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、図面により本発明の一実施
形態としてのビッカース硬さ試験機について説明する
と、図１はその斜視図、図２はそのターレットを斜め下
方から見た斜視図、図３はそのアナログ式デプスゲージ
の正面図、図４はその差動変圧器型計測器の平面図、図
５(ａ)〜(ｃ)はそのアナログ式デプスゲージを用いた場
合の使用状態の説明図、図６はデジタル式測長器を用い
た場合の手順を示すフローチャートである。
形態としてのビッカース硬さ試験機について説明する
と、図１はその斜視図、図２はそのターレットを斜め下
方から見た斜視図、図３はそのアナログ式デプスゲージ
の正面図、図４はその差動変圧器型計測器の平面図、図
５(ａ)〜(ｃ)はそのアナログ式デプスゲージを用いた場
合の使用状態の説明図、図６はデジタル式測長器を用い
た場合の手順を示すフローチャートである。
【００１０】図１，２に示すように、ビッカース硬さ試
験機10に、従来と同様に機枠10ａ上をＸ方向およびＹ方
向に移動可能に支持されて、試料を載置可能な微動台９
が設けられている。
験機10に、従来と同様に機枠10ａ上をＸ方向およびＹ方
向に移動可能に支持されて、試料を載置可能な微動台９
が設けられている。
【００１１】さらに、微動台９の上方で機枠10ａに回転
可能に、図２に示すようなターレット５が回転可能に設
けられており、このターレット５に、従来の試験機と同
様に、圧子機構６，くぼみ測定用レンズ７が設けられて
おり、そのほかに試料表面形状検出機構８が取り付けら
れている。符号13はくぼみ測定用レンズ７に光学的に連
なる測微鏡を示している。
可能に、図２に示すようなターレット５が回転可能に設
けられており、このターレット５に、従来の試験機と同
様に、圧子機構６，くぼみ測定用レンズ７が設けられて
おり、そのほかに試料表面形状検出機構８が取り付けら
れている。符号13はくぼみ測定用レンズ７に光学的に連
なる測微鏡を示している。
【００１２】試料表面形状検出機構８としては、図３に
示すようなアナログ式のデプスゲージ（Depth Gauge）
（ダイヤルゲージ）11や、図４に示すような測定値をデ
ジタル信号として出力可能な差動変圧器型計測器12が好
適である。図４中の符号12ａは一次コイル，符号12ｂは
コア，符号12ｃはコア12ｂと一体の計測棒，符号12ｄは
二次コイルをそれぞれ示していて、コア12ｃすなわち計
測棒12ｂの動きに比例した出力電圧がリード12ｅからデ
ジタル信号として取り出せるようになっている。試料表
面形状検出機構８として、上記の接触式のもののほか、
渦電流式や光反射式などの非接触式のものを用いてもよ
い。
示すようなアナログ式のデプスゲージ（Depth Gauge）
（ダイヤルゲージ）11や、図４に示すような測定値をデ
ジタル信号として出力可能な差動変圧器型計測器12が好
適である。図４中の符号12ａは一次コイル，符号12ｂは
コア，符号12ｃはコア12ｂと一体の計測棒，符号12ｄは
二次コイルをそれぞれ示していて、コア12ｃすなわち計
測棒12ｂの動きに比例した出力電圧がリード12ｅからデ
ジタル信号として取り出せるようになっている。試料表
面形状検出機構８として、上記の接触式のもののほか、
渦電流式や光反射式などの非接触式のものを用いてもよ
い。
【００１３】上述の構成において、デプスゲージ11を用
いる場合、図５(ａ)に示すように、計測棒11ａの先端部
11ｂを試料表面に当接したまま微動台９をＸ方向および
Ｙ方向に手動で移動させる、つまりデプスゲージ11の計
測棒11ａの先端部11ｂで試料表面をなぞり、その出力
（ゲージ目盛：図５(ｂ)）を視認することにより試料の
上端凸部ａの検出を行なう。すなわち、試料02が蒲鉾型
の場合、図５(ａ)において試料１を矢印ｘ方向に移動さ
せるとき、デプスゲージ11の各位置Ａ，Ｂ，Ｃにおける
ゲージ出力は図５(ｂ)に示すようになる。したがってこ
の例の場合、試料の上端凸部ａはデプスゲージ11の
「Ｂ」の位置にある。
いる場合、図５(ａ)に示すように、計測棒11ａの先端部
11ｂを試料表面に当接したまま微動台９をＸ方向および
Ｙ方向に手動で移動させる、つまりデプスゲージ11の計
測棒11ａの先端部11ｂで試料表面をなぞり、その出力
（ゲージ目盛：図５(ｂ)）を視認することにより試料の
上端凸部ａの検出を行なう。すなわち、試料02が蒲鉾型
の場合、図５(ａ)において試料１を矢印ｘ方向に移動さ
せるとき、デプスゲージ11の各位置Ａ，Ｂ，Ｃにおける
ゲージ出力は図５(ｂ)に示すようになる。したがってこ
の例の場合、試料の上端凸部ａはデプスゲージ11の
「Ｂ」の位置にある。
【００１４】そして、微動台９のＸ方向およびＹ方向の
各移動量を、微動台９に付設のマイクロメータ９Ｘ，９
Ｙ（図５(ｃ)参照）で計測し、その計測値を硬度計10に
内蔵のマイクロコンピュータ21に入力し、試料の上端凸
部ａの位置（座標）を試験機10の正面に設けた表示器20
に表示させるようになっている。
各移動量を、微動台９に付設のマイクロメータ９Ｘ，９
Ｙ（図５(ｃ)参照）で計測し、その計測値を硬度計10に
内蔵のマイクロコンピュータ21に入力し、試料の上端凸
部ａの位置（座標）を試験機10の正面に設けた表示器20
に表示させるようになっている。
【００１５】差動変圧器型測長器12、すなわちデジタル
信号を用いる場合には、図６のフローチャートに示すよ
うに、測長器12からの出力すなわち表面形状情報を試験
機内部のマイクロコンピュータ（ＣＰＵ）21に取り込む
（ステップＡ1）とともに、微動台９をＸ方向，Ｙ方向
に移動してＸ方向およびＹ方向の移動情報、すなわち微
動台位置情報をＣＰＵに入力し（ステップＡ2）、これ
らの情報の解析をＣＰＵで行なって、上端凸部ａ（ある
いは下端凹部ｂ）の位置（座標）すなわち測定可能位置
情報を演算（ステップＡ3）して、機枠正面の表示部20
に表示させる（ステップＡ4）ようになっている。測定
者は表示部に表示された位置に移動台を操作して試験を
行なう。
信号を用いる場合には、図６のフローチャートに示すよ
うに、測長器12からの出力すなわち表面形状情報を試験
機内部のマイクロコンピュータ（ＣＰＵ）21に取り込む
（ステップＡ1）とともに、微動台９をＸ方向，Ｙ方向
に移動してＸ方向およびＹ方向の移動情報、すなわち微
動台位置情報をＣＰＵに入力し（ステップＡ2）、これ
らの情報の解析をＣＰＵで行なって、上端凸部ａ（ある
いは下端凹部ｂ）の位置（座標）すなわち測定可能位置
情報を演算（ステップＡ3）して、機枠正面の表示部20
に表示させる（ステップＡ4）ようになっている。測定
者は表示部に表示された位置に移動台を操作して試験を
行なう。
【００１６】このように、この実施形態の場合、試験機
10に内蔵のマイクロコンピュータにより試料の適正圧子
点の位置を演算し、かつ表示器20に表示でき、従来面倒
であった操作は全く不必要となり、簡単に適正圧子点、
すなわち測定位置の割り出しおよび硬度試験を行なうこ
とができる。
10に内蔵のマイクロコンピュータにより試料の適正圧子
点の位置を演算し、かつ表示器20に表示でき、従来面倒
であった操作は全く不必要となり、簡単に適正圧子点、
すなわち測定位置の割り出しおよび硬度試験を行なうこ
とができる。
【００１７】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明のビッカー
ス硬さ試験機によれば次のような効果が得られる。 (1) 試料表面形状検出機構で検出された試験点の位置
を、試験機に内蔵のマイクロコンピュータを介して表示
器に表示できるようにしたため、試料の適正な試験点の
割り出しが容易となる。 (2) 試料表面形状検出機構として、アナログ式ゲージを
用いて、試験機の低コスト化をはかることができる。
ス硬さ試験機によれば次のような効果が得られる。 (1) 試料表面形状検出機構で検出された試験点の位置
を、試験機に内蔵のマイクロコンピュータを介して表示
器に表示できるようにしたため、試料の適正な試験点の
割り出しが容易となる。 (2) 試料表面形状検出機構として、アナログ式ゲージを
用いて、試験機の低コスト化をはかることができる。
【図１】本発明の一実施形態としてのビッカース硬さ試
験機を示す斜視図。
験機を示す斜視図。
【図２】同ターレットの斜視図。
【図３】同アナログ式デプスゲージの正面図。
【図４】同差動変圧器型計測器の平面図。
【図５】(ａ) 同アナログ式デプスゲージを用いたとき
の操作手順を示す模式図。 (ｂ) 同デプスゲージの出力値を示すグラフ。 (ｃ) 同微動台とマイクロコンピュータとの結線を示す
模式図。
の操作手順を示す模式図。 (ｂ) 同デプスゲージの出力値を示すグラフ。 (ｃ) 同微動台とマイクロコンピュータとの結線を示す
模式図。
【図６】同差動変圧器型計測器を用いたときの操作手順
を示すフローチャート。
を示すフローチャート。
【図７】(ａ) 円筒体状試料の硬さ試験を示す模式図。 (ｂ) 円弧状くぼみ形状試料の硬さ試験を示す模式図。
【図８】従来の試験点の割り出し操作を示す模式図。
１ 圧子 ２ 試料 ２ａ 表面 ５ ターレット ６ 圧子機構 ７ くぼみ測定用レンズ ８ 試料表面形状検出機構 ９ 微動台 ９Ｘ，９Ｙ マイクロメータ 10 ビッカース硬さ試験機 11 アナログ式デプスゲージ 12 差動変圧器型計測器 20 表示器 21 マイクロコンピュータ
Claims (3)
- 【請求項１】 機枠と、同機枠にＸ方向およびＹ方向に
移動可能に支持されるとともに試料を載置可能な微動台
と、同微動台の上方で上記機枠に回転可能に取り付けら
れたターレットとをそなえるとともに、同ターレットに
取り付けられた試料表面形状検出機構と、上記微動台の
Ｘ方向およびＹ方向の各移動情報を入力されて同微動台
の位置を演算可能なマイクロコンピュータとをそなえ、
上記検出機構の出力値に基づいて上記試料の適正圧子点
が検出されたときに同適正圧子点の位置が上記マイクロ
コンピュータを介して表示器に表示されるように構成さ
れていることを特徴とする、ビッカース硬さ試験機。 - 【請求項２】 上記試料表面形状検出機構として、アナ
ログ式ゲージが用いられていることを特徴とする、請求
項１に記載のビッカース硬さ試験機。 - 【請求項３】 上記試料表面形状検出機構として、上記
試料の表面形状をデジタル信号として出力可能なデジタ
ル式計測器が用いられ、上記マイクロコンピュータに同
デジタル式計測器の上記出力と上記微動台のＸ方向およ
びＹ方向の各移動情報とが入力されて上記試料の適性圧
子点の位置の演算が行なわれることを特徴とする、請求
項１に記載のビッカース硬さ試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05886398A JP3877023B2 (ja) | 1998-02-24 | 1998-02-24 | ビッカース硬さ試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05886398A JP3877023B2 (ja) | 1998-02-24 | 1998-02-24 | ビッカース硬さ試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11241984A true JPH11241984A (ja) | 1999-09-07 |
| JP3877023B2 JP3877023B2 (ja) | 2007-02-07 |
Family
ID=13096571
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05886398A Expired - Fee Related JP3877023B2 (ja) | 1998-02-24 | 1998-02-24 | ビッカース硬さ試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3877023B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100941172B1 (ko) | 2009-10-09 | 2010-02-10 | (주) 대진유압기계 | 전수검사용 브리넬 경도시험기 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5910407B2 (ja) * | 2012-08-09 | 2016-04-27 | 株式会社島津製作所 | 硬さ試験機および硬さ試験機における硬さ試験方法 |
-
1998
- 1998-02-24 JP JP05886398A patent/JP3877023B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100941172B1 (ko) | 2009-10-09 | 2010-02-10 | (주) 대진유압기계 | 전수검사용 브리넬 경도시험기 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3877023B2 (ja) | 2007-02-07 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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