JPH11243132A - 位置決め装置およびこれを用いた露光装置 - Google Patents

位置決め装置およびこれを用いた露光装置

Info

Publication number
JPH11243132A
JPH11243132A JP10115890A JP11589098A JPH11243132A JP H11243132 A JPH11243132 A JP H11243132A JP 10115890 A JP10115890 A JP 10115890A JP 11589098 A JP11589098 A JP 11589098A JP H11243132 A JPH11243132 A JP H11243132A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
positioning device
mass body
moving
inertial force
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10115890A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3963410B2 (ja
Inventor
Kotaro Tsui
浩太郎 堆
Hirohito Ito
博仁 伊藤
Eiji Osanai
英司 小山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP11589098A priority Critical patent/JP3963410B2/ja
Publication of JPH11243132A publication Critical patent/JPH11243132A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3963410B2 publication Critical patent/JP3963410B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Auxiliary Devices For Machine Tools (AREA)
  • Machine Tool Units (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成でステージ加振力増大に伴う振動
の伝達を防止し、高速かつ高精度な位置決めを可能にす
る。 【解決手段】 移動可能なステージと、該ステージを所
定方向へ移動させる第1リニアモータと、該移動手段を
支持する定盤とを備えた位置決め装置において、質量体
と、該質量体を支持案内するガイドと、該質量体を移動
させる第2リニアモータと、該第2リニアモータを制御
する制御手段とを有し、該第1リニアモータによって該
ステージを移動した際に生じる該定盤に働く力を打消す
力を付与する慣性力付与手段を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造のリソ
グラフィ工程で使用する露光装置、あるいは各種精密加
工機あるいは各種精密測定器等での位置決めに好適に使
用される位置決め装置、またこの位置決め装置を用いた
露光装置やデバイス製造方法に関する。 【0002】 【従来の技術】従来、半導体素子製造に用いられる露光
装置として、いわゆるステッパと呼ばれる装置が知られ
ている。このステッパは、半導体ウエハを投影レンズ下
でステップ移動させながら、レチクル上に形成されてい
るパターン像を投影レンズでウエハ上に縮小投影し、1
枚のウエハ上の複数箇所に順次露光していくものであ
る。ステッパは、解像度および重ね合わせ精度の性能面
から露光装置の主流と見られている。 【0003】図24は従来の露光装置における本体構造
体およびウエハステージの搭載例を示す正面図である。
同図において、1はレチクルパターンを照明する照明
部、2は転写すべきパターンを有するレチクル、3はレ
チクル2上に形成されたパターンをウエハ上に投影する
投影レンズ、4は投影レンズを支持する鏡筒支持体であ
る。5は不図示のウエハを載置するトップステージであ
り、θ方向、Z方向、α方向およびβ方向に移動可能な
機能を有している。6はトップステージ5を搭載しX方
向およびY方向に移動可能なXYステージ、8は上面に
案内面を有しXYステージ6および可動ガイド7を静圧
エア軸受部を介してZ方向に非接触で支持するステージ
ベースである。9はステージベース8を搭載し支持固定
する定盤であり、鏡筒支持体4が一体的に結合されてい
る。11は鏡筒支持体4を支持するために4か所に配置
されたエアーマウントである。鏡筒支持体4は定盤9を
介してエアーマウント11に支持されている。33aは
投影レンズ3とXYステージ6との相対位置を計測する
ためのレーザ干渉計、16aは投影レンズ3の焦点位置
とウエハ上面間の距離を計測するフォーカス検出部の投
光部、16bは同じくフォーカス検出部の受光部であ
る。 【0004】このような構成の露光装置で処理される半
導体ウエハについては、半導体素子の大面積化およびコ
スト低減を図るために、大口径、大サイズの半導体ウエ
ハを用いる傾向にある。また、半導体素子の高集積化と
共に、高速かつ高精度なウエハステージの位置合わせ、
および高スループット化等が切望されている。 【0005】しかしながら、このような従来の露光装置
においては、搭載する半導体ウエハの大口径化に対応
し、高速・高精度にXYステージ6を動かすためには、
XYステージ6の動特性の向上を図らなければならな
い。このためガイド剛性を上げる等の必要が生じ、ステ
ージ重量は単にストロークアップによる重量増加分より
さらに増大せざるを得ない。さらに、高スループット化
に対応するためにXYステージ6の移動加速度および移
動速度のアップを図り移動時間短縮を狙うと、ステージ
移動の加速度による加振力は益々大きくなる。投影レン
ズ3の重量増加によるレンズ保持等の構造体の相対的な
剛性の低下と併せて、上記従来例では、 構造体強化による装置の大型化、コストアップが生じ
る。 加振力増大に伴い、防振マウント11に支持された装
置全体および装置に搭載される機構系の固有振動が励起
され、ウエハステージ5やレーザ干渉計33aに外乱振
動が伝わり、高速・高精度な位置決めが妨げられる。 XYステージ6が移動するとステージ自体の重量で鏡
筒支持体4および定盤9で支えられている装置全体のX
Y方向の重心位置が変化し、複数のエアーマウント11
の支持力の配分が変化する。こうした支持力バランスの
変化は、XYステージ6の位置および姿勢を計測するレ
ーザ干渉計33aやフォーカスセンサ16a,16bの
基準となっている鏡筒支持体4を変形させ、ウエハの重
ね合わせ精度等を劣化させる。 等の問題点が生じる。 【0006】例えばUSP5610686や特開平−3
35538号公報等に記載された位置決め装置は、基盤
上でステージを駆動した時の基盤の揺れに起因する基盤
とステージとの相対的なズレを防ぐため、リニアモータ
が基盤の揺れに対応する加速度をステージに与えてい
る。 【0007】しかし、ステージが移動するとステージ自
体の重量により装置全体のXY方向の重心位置が変化
し、位置決め装置全体を支持している複数の支持体の支
持力配分が変化する。こうした支持力のバランス変化
は、XYステージ位置および姿勢を計測するレーザ干渉
計やフォーカスセンサの基準となっている支持体を変形
させ、ウエハの重ね合わせ精度等を劣化させるという問
題を生じる。 【0008】また、上記公報に記載された従来例では、
ボールネジで駆動しているステージの駆動反力を相殺す
べくリニアモータによって加速度を与えているが、同一
の固定子もしくはテーブルに2つのアクチュエータ(ボ
ールネジとリニアモータ)を取付けているため、加速度
がうまく伝わらず実現が困難である。また、ステージの
駆動源(ボールネジ)と異なる種類のアクチュエータ
(リニアモータ)を用いているため、ステージの駆動反
力によって発生する微小振動を適切に相殺することは非
常に困難である。 【0009】また、特開平3−21894号公報、特開
平3−107639号公報、および特開平3−1250
48号公報等に記載された位置決め装置は、基盤の揺れ
やステージの振動を防ぐため、バランス部材をボールね
じで駆動し、振動に対する加速度を基盤やステージに与
えている。 【0010】しかし、ステージの移動やバランス部材の
移動にボールねじを用いているため、ボールねじの軸回
りにモーメントが生じる原因となっている。このため、
基盤やステージに回転モーメントが働き、外乱振動を引
き起こすことになり、ステージの位置決め精度を低下さ
せる原因となる恐れがある。また、ボールねじを用いる
と潤滑材等が必要になるため、ステージの清浄度やメン
テナンス性が低下する。 【0011】さらに、機械的な接触があるボールねじを
用いた系は、固有振動を完全に抑えることができず、残
留振動が生じてしまう。したがってバランス部材に対し
てさらに高度な制御系を構築する必要がある。 【0012】近年では、半導体ウエハの高集積回路の線
幅はサブミクロンのオーダーとなり、このようなボール
ねじによる振動の励起は、露光装置の性能に大きな悪影
響を与える原因となる。 【0013】 【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の問題に
鑑みて成されたものであり、簡単な構成でステージ加振
力増大に伴う振動の伝達を防止し、高速かつ高精度な位
置決めを可能とすることを目的とする。 【0014】また、本発明の他の目的は、ステージの移
動に伴って生じた慣性力の伝達を打ち消すような慣性力
を付与することにより、ステージの移動に伴う振動の伝
達を防止することにある。 【0015】また、本発明の更に他の目的は、ステージ
の2次元の位置決めを行なう装置において、装置全体の
重心を一定に保ち、高速・高精度な位置決めを可能とす
ることにある。 【0016】 【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明の一態様によれば、移動可能なステージと、該
ステージを所定方向へ移動させる第1リニアモータと、
該移動手段を支持する定盤と、該第1リニアモータによ
って該ステージを移動した際に生じる該定盤に働く力を
打消す力を付与する慣性力付与手段とを有し、該慣性力
付与手段は、質量体と、該質量体を支持案内するガイド
と、該質量体を移動させる第2リニアモータと、該第2
リニアモータを制御する制御手段とを含むことを特徴と
する位置決め装置が提供される。 【0017】また、本発明によれば、上述の位置決め装
置を適用した露光装置が提供される。更に、本発明によ
れば、上述の露光装置を用いて半導体デバイスの製造を
行なう製造方法が提供される。 【0018】 【実施例】以下、図面を用いて、本発明の他の特徴や利
点を説明する。なお、各図面において、共通または対応
する部分には同一の符号を付している。 <第1実施例>以下の実施例では、特に半導体リソグラ
フィに用いられる投影露光装置の位置決め装置に本発明
を適用して説明する。第1実施例の投影露光装置は、図
1に示されるように投影光学系3と、半導体ウエハを搭
載するステージ6と、該ステージを投影光学系3に対し
直交平面上に1次元または2次元に移動させるためのス
テージ移動機構と、前記投影光学系3を支持する鏡筒支
持体4と、前記ステージ移動機構を支持するステージベ
ース8と、このステージベース8に装着された慣性力付
与機構とを具備する。 【0019】鏡筒支持体4とステージベース8は、定盤
9を介して一体的に結合されており、定盤9はエアーマ
ウント11に支持される。なお、鏡筒支持体4とステー
ジベース8を搭載する基台12(図8、12または19
参照)を設け、エアーマウント11と81により鏡筒支
持体4とステージベース8を分離独立させてもよい。こ
の点については第2実施例で説明する。 【0020】慣性力付与機構は、ステージ6の加減速度
に応じた慣性力の作用平面近傍に、すなわち、図2に示
すように、ステージベース8または定盤9に4個配置さ
れ、前記ステージ6の慣性力を打ち消すように駆動制御
する。この慣性力付与機構は、質量体13(13a〜1
3d)と質量体13を支持案内するガイド14(14a
〜14d)と、質量体13を移動させるリニアモータ5
2,53(図3)と、このリニアモータを制御する制御
部(図5で後述のコントローラ153および質量体駆動
用ドライバ155)とで構成される。また、ガイド14
は図3で説明する静圧空気軸受け51を含む。以下第1
実施例を詳細に説明する。 【0021】図1は本発明の第1実施例による投影露光
装置の正面図、図2は図1のステージ部分の上面図であ
る。 【0022】同図において、2は転写すべきパターンを
有するレチクル、1はレチクル2を露光光で照明する照
明部であり、光源や照明用レンズを含む。3はレチクル
2上に形成されたパターンをウエハ上に投影する投影レ
ンズ、4は投影レンズを支持する鏡筒支持体である。 【0023】5は不図示のウエハを載置するトップステ
ージであり、θ方向、Z方向、α方向およびβ方向に移
動可能な機能を有している。6はトップステージ5を搭
載しX方向およびY方向に移動可能なXYステージ、7
はXYステージ6を静圧エア軸受部を介してY方向に非
接触で支持しX方向に移動可能なように案内する可動ガ
イド、8は上面に案内面を有しXYステージ6および可
動ガイド7を静圧エア軸受部を介してZ方向に非接触で
支持するステージベース、21はステージベース8に一
体的に取り付けられ可動ガイド7を静圧エア軸受部を介
してX方向に非接触で支持しY方向に移動可能なように
案内するヨーガイドである。22はXYステージ6をX
方向に駆動するリニアモータの固定子である。このリニ
アモータは固定子22が可動ガイド7に固定され、不図
示の可動子はXYステージ6に取り付けられている。2
3aおよび23bは可動ガイド7をY方向に駆動するリ
ニアモータの固定子であり、相互に対向するようにステ
ージベース8に配置固定されている。24aおよび24
bは可動ガイド7をY方向に駆動するリニアモータの可
動子であり、相互に対向するように可動ガイド7に取り
付けられている。 【0024】9はステージベース8を搭載する定盤であ
る。定盤9と鏡筒支持体4は一体的に結合されている。
また、定盤9とステージベース8も一体的に結合されて
いる。11は鏡筒支持体4および定盤9を支持するため
に4か所に配置されたエアーマウント(ダンパ)であ
る。エアーマウント11は床から鏡筒支持体4および定
盤9に伝わる振動を絶縁する。 【0025】33aは投影レンズ3とXYステージ6と
の相対位置を計測するためのレーザ干渉計、16aは投
影レンズ3の焦点位置とウエハ上面間の距離を計測する
フォーカス検出部の投光部、16bは同じくフォーカス
検出部の受光部である。これらの投光部16aと受光部
16bは各々投影レンズ3に固定されている。32a,
32bはトップステージ5に取り付けられた反射ミラー
である。 【0026】13(13a,13b,13c,13d)
は定盤9に慣性力を付与するための質量体、14(14
a,14b,14c,14d)は質量体13を支持案内
するガイドであり定盤9に固定されている。 【0027】図3は慣性力付与機構の詳細構成を示す断
面図である。同図において、51は質量体13を1軸方
向に支持案内する静圧空気軸受けである。52は質量体
13を駆動するリニアモータの可動子であり質量体に固
定されている。53はリニアモータの固定子でありその
両端あるいは一方の端がガイド14に固定されている。 【0028】このとき、リニアモータの駆動力の作用軸
と、質量体の重心位置がほぼ一致していることが望まし
い。そのため本実施例では、前記要件を満たすため、筒
状の質量体を採用しているが、質量体の形状はこれに限
られるものではない。 【0029】図4は、本実施例の露光装置のXYステー
ジ用測定系(レーザ計測システム)の配置を示す斜視図
であり、図1のトップステージ5の周辺のレーザ干渉計
33a等の部分を詳細に表わした図である。 【0030】図4において、31は光源であるレーザヘ
ッド、32aおよび32bは図1のトップステージ5に
取り付けられた反射ミラー、33aはX方向を計測する
干渉計、33bはY方向を計測する干渉計、33cはト
ップステージ5のヨーイングすなわち投影レンズの光軸
に対するθ方向を計測する干渉計である。34a,34
b,34cは干渉縞を電気信号に変換するレシーバであ
り、34aはX方向用、34bはY方向用、34cはθ
方向用である。 【0031】図5は本実施例の制御系のシステム図であ
る。同図において、151は図4で示したX,Y,θレ
ーザ測定システムであり、トップステージ5が搭載され
たXYステージ6の位置を測定する。153はXYステ
ージ6およびトップステージ5の位置信号(x,y,
θ)をフィードバックし各駆動軸に所定の動作指令を行
なうコントローラである。156はコントローラ153
の指令信号を基に図2のリニアモータ固定子22および
23a,23bのコイル部に電流を流しXYステージ6
をドライブするリニアモータドライバ、155はコント
ローラ153からの指令により図1中の質量体13(1
3a,13b,13c,13d)をドライブする質量体
駆動用ドライバ、157はトップステージ5の各駆動軸
をドライブするトップステージ用ドライバである。質量
体13の駆動制御は、質量体13の位置あるいは加速度
を計測し(不図示)フィードバックすることで行なわれ
る。 【0032】上記構成において、まず露光すべきウエハ
(図示しない)をトップステージ5に載置し、コントロ
ーラ153(図5)からXYステージ6およびトップス
テージ5に駆動信号を与え、上記ウエハを投影レンズ3
下の所定の位置および姿勢に駆動する。ここで、上記ウ
エハのX方向、Y方向、Z方向および各軸の回転方向
(それぞれα方向、β方向、θ方向)の目標とする位置
に対する偏差が、レーザ計測システムおよびフォーカス
検出システムの出力を基にコントローラ153および外
部のコントローラにより計算され、リニアモータドライ
バ156やトップステージ用ドライバ157等各々の駆
動部にフィードバックされ、ウエハは所定の位置、姿勢
に位置決め制御される。そして露光後、次の所定の位置
にウエハ(トップステージ5)を移動し露光するという
動作を繰り返す。 【0033】XYステージ6の移動は、所定の速度曲線
に倣うようにコントローラ153からリニアモータドラ
イバ156に指令信号が与えられ、リニアモータが前記
指令信号に応じた駆動力を発生することにより行なわれ
る。前記駆動力の大きさはXYステージ6の質量と所定
の加減速度とで決まる慣性力と等しく、その駆動反力が
ステージベース8に作用し、定盤9に伝わる。このと
き、コントローラ153からは質量体駆動用ドライバ1
55に前記駆動反力を打ち消すように指令信号が与えら
れ、質量体13a,13b,13c,13dが定盤9の
変位を極力小さくするように駆動される。 【0034】例えば、前記指令信号は次のように求めら
れる。図6においてX方向駆動時を想定し、XYステー
ジ6とトップステージ5を駆動するときの反力をFx、
質量体13a,13bを駆動するときに発生する反力を
Ra,Rb、可動ガイド7上のリニアモータ固定子22
の中心軸と質量体13a,13bの移動軸との距離をL
a,Lbとすると、各力の作用点間の距離La,Lbは
予め求められ、力の釣り合い式とモーメントの釣り合い
式より反力Ra,Rbは以下の式(1)で表わされる。 【0035】 【数1】 【0036】質量体13a,13bの質量をMa,M
b、トップステージ5とXYステージ6をあわせたX方
向の移動体質量をMxとすると、質量体13a,13b
の必要な駆動ストロークSa,SbはXYステージのX
方向のストロークSxに対する質量比で決まる。必要最
大ストロークは以下の式(2)で表わされる。 【0037】 【数2】 【0038】また、図7に示すように、Y方向駆動時に
ついても同様に、駆動反力をFy1,Fy2、質量体1
3c,13dを駆動して発生させる反力をRc,Rd、
トップステージ5の中心軸とトップステージ5のY方向
駆動軸および質量体13c,13dの駆動軸との距離を
Ly1,Ly2,Lc,Ldとすると、反力Rcおよび
Rdは以下の式(3)で表わされる。 【0039】 【数3】 【0040】質量体13c,13dの質量をMc,M
d、トップステージ5とXYステージ6と可動ガイド7
をあわせたY方向の移動体質量をMyとすると、質量体
13c,13dの必要な駆動ストロークSc,SdはX
YステージのY方向のストロークSyに対する質量比で
決まる。必要最大ストロークは以下の式(4)で表わさ
れる。 【0041】 【数4】【0042】以上述べたように、加減速時にステージベ
ース8を介して定盤9に作用するX方向、Y方向および
θ方向の大きな駆動反力は、質量体13a,13b,1
3c,13dを反対方向に駆動し逆向きの駆動反力を発
生させることにより打ち消され、鏡筒支持体4は揺すら
れない。α方向、β方向のモーメント反力は定盤9に伝
わり鏡筒支持体4を揺するが、この反力は他の方向の力
に比べ非常に小さい。 【0043】したがって、エアーマウント11に支持さ
れた装置全体および装置に搭載された機構系各部の固有
振動が励起されることもなく、ウエハステージやレーザ
計測システムおよびフォーカス検出システムに外乱振動
が伝わらない。 【0044】本実施例の特徴は、XYステージ6の加減
速時に発生する慣性力に伴い、ステージベース8に伝わ
る大きな反力(X方向、Y方向、θ方向)を定盤9に取
り付けられた質量体13a,13b,13c,13dを
駆動し前記反力を打ち消すようにしたことである。これ
により、エアーマウント11に支持された装置全体およ
び装置に搭載された機構系各部の固有振動が励起される
ことなく、ウエハステージやレーザ計測システムおよび
フォーカス検出システムに外乱振動が伝わらないため、
高速・高精度な位置決めを達成できる。 【0045】また、本実施例では、ステージおよび質量
体の駆動にリニアモータを用いている。そのためボール
ねじのような、ふれ回りが生じず、定盤やステージに回
転モーメントが伝達されず、外乱振動が軽減されるた
め、高速・高精度な露光を行なうことができる。さら
に、ステージおよび質量体とも、非接触駆動が可能であ
るため、ボールねじの場合に起きがちな固有振動による
残留振動を抑えることができる。また、ステージの駆動
手段と質量体の駆動手段が、ともにリニアモータである
ため、異種の駆動手段では打ち消すことが困難であった
微小な振動も容易に相殺することができる。 【0046】<第2実施例>図8は本発明の第2の実施
例を示す装置の正面図である。同図において、図1〜7
に示した第1実施例と同じ部材には同一番号を付けてい
る。図8において、81はステージベース8を支持する
ために3カ所あるいはそれ以上の箇所に配置されたエア
ーマウント、12はエアーマウント11を介して鏡筒支
持体4を支持し、かつエアーマウント81を介してステ
ージベース8を支持する基台である。慣性力付与機構を
構成するところのガイド14a〜14dはステージベー
ス8に固定されている。 【0047】上記構成の露光装置においても、第1実施
例と同様にXYステージ6およびトップステージ5を所
定の位置に移動するときの加減速に応じて移動体13
(13a,13b,13c,13d)を駆動しステージ
ベース8に直接慣性力を付与することにより、ステージ
ベース8は揺すられない。したがって、エアーマウント
81に支持されたウエハステージの固有振動が励起され
ることはない。また鏡筒支持体4はエアーマウント81
およびエアーマウント11によりウエハステージと振動
絶縁されているため、装置機構系各部の固有振動が励起
されることもなく、レーザ計測システムおよびフォーカ
ス検出システムに外乱振動が伝わらない。 【0048】本実施例の特徴は、鏡筒支持体とウエハス
テージが別体で構成されている露光装置において、XY
ステージ6の加減速時に発生する慣性力が、ステージベ
ース8に伝わって生じる大きな反力(X方向、Y方向、
θ方向)を打ち消すようにステージベース8に取り付け
られた質量体13(13a,13b,13c,13d)
を駆動し、エアーマウント81に支持されたウエハステ
ージの固有振動が励起されないようにしたこと、かつ鏡
筒支持体4はエアーマウント81およびエアーマウント
11によりウエハステージと振動絶縁して装置機構系各
部の固有振動が励起されないようにしたことである。こ
のため、レーザ計測システムおよびフォーカス検出シス
テムに外乱振動が伝わらず、高速・高精度な位置決めを
達成することができる。 【0049】<第3実施例>図9は本発明の第3の実施
例を示すステージ部分の上面図である。図9において、
図1〜7に示した第1実施例と同じ部材には同一番号を
付けている。図9において、113a,113b,11
3c,113dはステージベース8に慣性力を付与する
ための質量体である。また、114a,114b,11
4c,114dは質量体113a,113b,113
c,113dを支持案内するガイドでありステージベー
ス8に固定されている。 【0050】上記構成において、XYステージをX方向
に駆動するときに発生する駆動反力を打ち消すときは、
質量体113aおよび113bを駆動し、XYステージ
をY方向に駆動するときは質量体113cおよび質量体
113dを駆動することにより、第2実施例と同等の効
果が得られる。 【0051】第3実施例の特徴は、装置全体の大きさを
大きくすることなく、質量体113a,113b,11
3c,113dの移動ストロークを長くし、質量体11
3a,113b,113c,113dの質量を軽くし、
装置全体の質量を軽量化することができることである。 【0052】以上の実施例によれば、XYステージ6の
移動加速度による加振力は、慣性力付与手段13,11
3により打ち消されるため、装置全体および装置に搭載
される機構系の固有振動が励起されることがない。した
がって、ステージの露光用光学系等に対する高速、 高精
度な位置決めを行なうことができる。 【0053】さらに、XYステージ6が移動するとステ
ージ自体の重量で複数のエアーマウントの支持力の配分
が変化するが、本発明による慣性力付与手段としての質
量体がステージの重心移動を打ち消す。したがって、鏡
筒支持体および定盤(装置本体構造体)を支持するエア
ーマウントの支持力バランスが変化しない。したがっ
て、定盤および鏡筒支持体等の姿勢変動や構造体変形が
生じず高精度な位置決めが行なわれる。 【0054】また、ステージ移動に伴う装置本体(鏡筒
支持体および定盤)の変形を抑えることができるため、
ウエハの大型化に伴いウエハステージが大型化されても
装置本体の高剛性化、大型化によるコストアップを抑え
ることができる。 【0055】<第4実施例>第4の実施例では、X方向
に慣性力を付与するための機構をステージとともにY方
向ヘ移動可能とし、より効果的に反力を作用させてステ
ージ移動時の振動を軽減させる。 【0056】図10は第4実施例による投影露光装置の
概観を表わす図である。また、図11は図10のステー
ジ部分の平面図である。図10、図11において、図1
および図2と同様の構成には同一の参照番号を付してあ
る。 【0057】13x,13yは定盤9に慣性力を付与す
るための質量体、14x,14yは質量体13を支持案
内するガイドであり、14xは可動ガイド7に、14y
は定盤9にそれぞれ固定されている。ここで、定盤9は
ステージベース8と一体となっているため、14yはス
テージベース8に設けても良い。14xは可動ガイド7
に固定されているため、質量体13xおよびガイド14
x等で構成されるX方向慣性力付与機構は、トップステ
ージ5およびXYステージ6とともにY方向に移動可能
である。このとき質量体Ι3xを駆動するときに発生す
る力の作用軸は、トップステージ5およびXYステージ
6をX方向に駆動するときに発生する力の作用軸と、ベ
ースの基準面に垂直な方向から見たときにほぼ一致する
ように配置されている。また、質量体13yを駆動する
ときに発生する力の作用軸は、トップステージ5、XY
ステージ6、可動ガイド7およびX方向慣性力付与手段
等をY方向に駆動するときに発生する力の作用軸と、ベ
ースの基準面に垂直な方向から見たときにほぼ一致する
ように配置されている。どちらの場合も望ましくは、ベ
ースの基準面に水平な方向から見たときにも、ほぼ一致
している方が良い。 【0058】質量体13x,13yおよびガイド14
x,14yで構成される慣性力付与機構の構造は第1実
施例(図3)で説明したとおりである。また、レーザ計
測システム、および制御系についても、第1実施例(図
4、図5)で説明したとおりである。ただし、質量体駆
動用ドライバ155は図11の質量体13x,13yを
ドライブすることになる。 【0059】上記構成において、まず露光すべきウエハ
(不図示)をトップステージ5に載置し、不図示の外部
コントローラからXYステージ6およびトップステージ
5に駆動信号を与え、上記ウエハを投影レンズ3下の所
定の位置および姿勢に駆動する。ここで、上記ウエハの
X方向、Y方向、Z方向および各軸の回転方向(それぞ
れα方向、β方向、θ方向)の目標とする位置に対する
偏差が、レーザ計測システムの出力を基に外部コントロ
ーラにより計算され、各々の駆動部にフィードバックさ
れ、ウエハは所定の位置および姿勢に位置決め制御され
る。露光後、次の所定の位置に移動し露光する動作を繰
り返す。XYステージ6の移動は、所定の速度曲線に倣
うようにコントローラ153からリニアモータドライバ
156に指令信号が与えられ、リニアモータが前記指令
信号に応じた駆動力を発生することにより行なわれる。
前記駆動力の大きさはXYステージ6の質量と所定の加
減速度とで決まる慣性力と等しく、その駆動反力がステ
ージベース8に作用し定盤9に伝わる。このとき、コン
トローラ153からは質量駆動用ドライバ155に前記
駆動反力を打ち消すように指令信号が与えられ、質量体
13x,13yが定盤9の変位を極力抑えて駆動され
る。 【0060】例えば前記駆動信号は次のように求められ
る。図10においてX方向駆動時を想定すると、XYス
テージ6とトップステージ5を駆動するときの反力をF
x、質量体13xを駆動するときに発生する反力をRx
とする。力の釣り合い式より反力Rxは以下の式(5)
で表わされる。 【0061】 【数5】 このとき、質量体13xは可動ガイド7とともにY方向
に移動するため、FxとRxの作用軸はベースの基準面
に垂直な方向から見たときにほぼ一致している。そのた
め、FxとRxの合力による回転トルクは発生しない。
質量体13xの質量をmx、トップステージ5とXYス
テージ6を合わせたX方向の移動体質量をMxとする
と、質量体13xの必要な駆動ストロークsxはXYス
テージのX方向のストロークSxに対してMxとmxの
質量比で決まり、以下の式(6)で表わされる。 【0062】 【数6】このとき、mxを大きくして質量比Mx/mxを小さく
し、駆動ストロークsxを小さくするほど、質量体13
xを駆動するために必要なエネルギーは小さくすること
が可能である。しかし、この場合は質量体13xを含む
Y方向移動質量は大きくなるため、Y方向の移動に必要
なエネルギーは大きくなる。したがって、Mxとmxの
質量比はステージの駆動パターンによって最適に決める
必要がある。例えば、X方向の移動に対し、Y方向の移
動が多い場合には、mxを小さくしてY方向の移動質量
を小さくしたほうが、トータルの駆動エネルギーを小さ
くすることができる。逆に、X方向の移動に対し、Y方
向の移動が少ない場合には、mxを大きくして質量比M
x/mxを小さくしたほうが、トータルの駆動エネルギ
ーを小さくすることができる。 【0063】また、図11に示すように、Y方向駆動に
ついても同様に、駆動反力をFy1,Fy2、質量体1
3yを駆動して発生させる反力をRyとする。したがっ
て反力は以下の式(7)で表わされる。 【0064】 【数7】 通常Fy1とFy2の合力の作用軸がY方向の移動質量
の重心を通るように、Fy1とFy2の比率が決定され
る。質量13xを適切に駆動すると、Y方向の移動質量
の重心はほぼ一定に保たれる。そのため、Fy1とFy
2の比率も一定に保つことができる。このとき、質量体
13yを駆動して発生させる反力Ryの作用軸がFy1
とFy2の合力の作用軸と一致するように、質量体13
yを配置しておくことにより、Fy1、Fy2、Ryの
合力による回転トルクは発生しない。 【0065】質量体13yの質量をmy、トップステー
ジ5とXYステージ6と可動ガイド7を合わせたY方向
の移動体質量をMyとすると、質量体13yの必要な駆
動ストロークsyはXYステージのY方向のストローク
Syに対する質量比で決まる。必要最大ストロークは以
下の式(8)で表わされる。 【0066】 【数8】 このとき、myを大きくして質量比My/myを小さく
し、駆動ストロークsyを小さくするほど、質量体13
yを駆動するために必要なエネルギーは小さくすること
が可能である。 【0067】以上述べたように、加減速時にステージベ
ース9に作用するX方向、Y方向およびθ方向の大きな
駆動反力は、質量体13x,13yを反対方向に駆動
し、逆向きの駆動反力を発生させることにより打ち消さ
れ、鏡筒支持体4は揺すられない。また、質量体13
x,13yをそれぞれX方向駆動反力、Y方向駆動反力
の作用軸上に配置することによって、回転トルクの発生
を防止することができる。α方向、β方向のモーメント
反力は基盤に伝わり鏡筒支持体を揺するが、この反力は
他の方向の力に比べ非常に小さい。 【0068】したがって、エアーマウント11に支持さ
れた装置全体および装置に搭載された機構系各部の固有
振動が励起されることなく、ウエハステージやレーザ計
測システムおよびフォーカス検出システムに外乱振動が
伝わらない。 【0069】本実施例によれば、XYステージ6の加減
速時に発生する慣性力に伴い、ステージベース8に伝わ
る大きな反力(X方向、Y方向、θ方向)を質量体13
x,13yを駆動し前記反力を打ち消すようにしたこと
により、エアーマウント11に支持された装置全体およ
び装置に搭載された機構系各部の固有振動が励起される
ことなく、ウエハステージやレーザ計測システムおよび
フォーカス検出システムに外乱振動が伝わらないため、
高速・高精度な位置決めを達成できる。 【0070】特に、X方向に慣性力を発生させる慣性力
付与手段がY方向に移動可能な構成になっているため、
ステージ移動時に発生する振動を可動ガイドに直接反力
を作用させて軽減させることができる。 【0071】さらに、XYステージの移動にともない慣
性力付与手段の質量が移動するため、エアーマウントで
支えられている位置決め装置全体の重心位置が一定に保
たれ、ウエハの重ね合わせ精度が向上する。 【0072】<第5実施例>図12は本発明の第5の実
施例を示す露光装置の正面図である。図13は図12の
位置決めステージ装置の上面図である。図中、図10〜
11で示す構成と同様のものには同一番号をつけてい
る。 【0073】図12において、81はステージベースを
支持するために3ヶ所あるいはそれ以上の箇所に配置さ
れたエアーマウント(ダンパ)、12はエアーマウント
11を介して鏡筒支持体4を支持し、かつエアーマウン
ト81を介してステージベース8を支持する基台であ
る。慣性力付与機構を構成する所のガイドl4xは可動
ガイド7に、ガイド14yはステージベース8にそれぞ
れ固定されている。ガイド14xは可動ガイド7に固定
されているため、質量体13xおよび14x等で構成さ
れるX方向の慣性力付与機構は、トップステージ5およ
びXYステージ6とともにY方向に移動可能である。こ
のとき質量体13xを駆動するときに発生する力の作用
軸は、トップステージ5およびXYステージ6をX方向
に駆動するときに発生する力の作用軸と、ベースの基準
面に垂直な方向から見たときにほぼ一致するように配置
されている。また、質量体13yを駆動するときに発生
する力の作用軸は、トップステージ5、XYステージ
6、可動ガイド7およびX方向慣性力付与手段をY方向
に駆動するときに発生する力の作用軸と、ベースの基準
面に垂直な方向から見たときにほぼ一致するように配置
されている。どちらの場合も、ベースの基準面に水平な
方向から見たときにも、ほぼ一致していることが望まし
い。 【0074】上記構成の露光装置においても第4実施例
と同様にXYステージ6およびトップステージ5を所定
の位置に移動するときに加減速に応じて質量体13(1
3x,13y)を駆動しステージベース8に直接慣性力
を付与することにより、ステージベース8は揺すられな
い。したがって、エアーマウント81に支持されたウエ
ハステージの固有振動が励起されることはなく、また鏡
筒支持体4はエアーマウント81およびエアーマウント
11によりウエハステージと振動絶縁されているため、
装置機構系各部の固有振動が励起されることもない。こ
のため、レーザ計測システムおよびフォーカス検出シス
テムに外乱振動が伝わらない。 【0075】本実施例では、鏡筒支持体とウエハステー
ジが別体で構成されている露光装置において、XYステ
ージ6の加減速時に発生する慣性力に伴い、ステージベ
ース8に伝わる大きな反力(X方向、Y方向、θ方向)
をステージベース8に取り付けられた質量体13(13
x、13y)を駆動し前記反力を打ち消すようにしてい
る。これにより、エアーマウント81に支持されたウエ
ハステージの固有振動が励起されることなく、また鏡筒
支持体4はエアーマウント81およびエアーマウント1
1によりウエハステージと振動絶縁されているため、装
置機構系各部の固有振動が励起されることがない。よっ
て、レーザ計測システムおよびフォーカス検出システム
に外乱振動が伝わることがないため、高速・高精度な位
置決めを達成できる。 【0076】さらに、XYステージの移動にともない慣
性力付与機構の質量が移動するため、エアーマウントで
支えられている位置決め装置全体の重心位置が一定に保
たれ、ウエハの重ね合わせ精度が向上する。 【0077】<第6実施例>図14は本発明の第6の実
施例を示す位置決めステージ装置の上面図である。図
中、先の図10、図11の実施例と同じ部材には同一番
号をつけている。 【0078】図14において、13x1,13x2,1
3y1,3y2はステージベース8に慣性力を付与する
ための質量体、14x1,14x2,14y1,14y
2はそれぞれ質量体13x1,13x2,13y1,1
3y2を支持案内するガイドである。このうちのガイド
14x1,14x2は可動ガイド7に固定されており、
質量体13x1,13x2およびガイド14x1,14
x2等で構成されるX方向慣性力付与手段は、トップス
テージ5およびXYステージ6とともにY方向に移動可
能である。 【0079】質量体13x1,13x2を移動させるた
めの駆動力の作用軸は、トップステージ5およびXYス
テージ6をX方向に移動させる駆動力の作用軸と、ベー
スの基準面に垂直な方向から見たときにほぼ一致するよ
うに配置されている。また、質量体13y1,13y2
を移動させるための駆動力の作用軸は、トップステージ
5、XYステージ6、可動ガイド7およびX方向慣性力
付与機構等をY方向に駆動するときの駆動力の作用軸
と、ベースの基準面に垂直な方向から見たときにほぼ一
致するように配置されている。どちらの場合も望ましく
は、ベースの基準面に水平な方向から見たときにも、ほ
ぼ一致している方が良い。 【0080】上記構成において、XYステージをX方向
に駆動するときに発生する駆動反力を打ち消すために質
量体13x1,13x2を駆動してX方向に沿ってXY
ステージとは反対方向に移動させる。一方、XYステー
ジをY方向に駆動するときは質量体13y1,13y2
を駆動してY方向に沿ってXYステージとは反対方向に
移動させる。 【0081】本実施例によれば、質量体13x1,13
x2を可動ガイド7の両脇に配置することにより、質量
体駆動時の力の作用軸とトップステージ5およびXYス
テージ6駆動時の力の作用軸とをほぼ一致させることが
できる。また、複数個の慣性力付与手段によって質量体
の配置の制約を軽減させ、設計上の自由度を高めてい
る。 【0082】さらに、XYステージの移動にともない慣
性力付与機構の質量が移動するため、エアーマウントで
支えられている位置決め装置全体の重心位置が一定に保
たれ、ウエハの重ね合わせ精度が向上する。 【0083】また、質量体13y1,13y2を左右対
称的に配置することにより、複数の各エアーマウント8
1にかかる荷重負荷を分散して、特定のエアーマウント
に過大な荷重がかかることを防ぐことができる。 【0084】<第7実施例>第7の実施例では、前述の
X方向およびY方向に慣性力を付与するための直動慣性
力付与機構の他に、回転慣性力を付与するための回転慣
性力付与機構を設け、より効果的に反力を作用させてス
テージ移動時の振動を軽減させる。 【0085】図15は本発明の第7実施例を示す露光装
置の正面図である。図16は図15における位置決めス
テージ装置の上面図である。図中、図1〜4で示す構成
と同様のものには同一番号をつけている。 【0086】図において、13(13x,13y)は定
盤9に慣性力を付与するための質量体、14(14x,
14y)は質量体13を支持案内するガイドであり、定
盤9に固定されている。 【0087】35は定盤9に回転慣性力を付与するため
の回転質量体、36は回転質量体35を支持案内するガ
イドであり、定盤9に固定されている。回転質量体35
を駆動するモータ(不図示)は、回転トルクのみを発生
させ、並進力は発生させないものが望ましい。そのた
め、回転質量体35を駆動するモータとしては、例えば
電磁力を用いて非接触にトルクを発生させられるものが
好ましい。 【0088】質量体13x,13yおよびガイド14
x,14yで構成される慣性力付与機構の構造は第1実
施例(図3)で説明した通りである。また、レーザ計測
システム、および制御系についても、第1実施例(図
4、図5)で説明した通りである。ただし、質量体駆動
用ドライバによる質量体13x,13yおよび35のド
ライブ方法については後述する。 【0089】上記構成において、まず露光すべきウエハ
(不図示)をトップステージ5に載置し、不図示の外部
のコントローラからXYステージ6およびトップステー
ジ5に駆動信号を与え、上記ウエハを投影レンズ3下の
所定の位置および姿勢に駆動する。ここで、上記ウエハ
のX方向、Y方向、Z方向および各軸の回転方向(それ
ぞれα方向、β方向、θ方向)の目標とする位置に対す
る偏差が、レーザ計測システムの出力を基に外部のコン
トローラにより計算され、各々の駆動部にフィードバッ
クされ、ウエハは所定の位置、姿勢に位置決め制御され
る。そして露光後、次の所定の位置に移動し露光すると
いう動作を繰り返す。XYステージ6の移動は、所定の
速度曲線に倣うように図5のコントローラ153からリ
ニアモータドライバ156に指令信号が与えられ、リニ
アモータが前記指令信号に応じた駆動力を発生すること
により行なわれる。前記駆動力の大きさはXYステージ
6の質量と所定の加減速度とで決まる慣性力と等しく、
その駆動反力がステージベース8に作用し定盤9に伝わ
る。このとき、コントローラ153からは質量体駆動用
ドライバ155に前記駆動反力を打ち消すように指令信
号が与えられ、質量体13x,13y,35が定盤9の
変位を極力小さくなるように駆動される。 【0090】例えば、前記駆動信号(駆動反力を打ち消
すための指令信号)は次のように求められる。図17に
おいて、X方向駆動時を想定する。XYステージ6とト
ップステージ5を駆動するときの反力をFx、質量体1
3xを駆動するときに発生する反力をRx、質量体35
を回転させるときに発生する反力トルクをTθとし、定
盤9と定盤9上に設置されて駆動反力を受けるすべての
ものを合わせた重心をGとし、重心Gから可動ガイド上
のリニアモータ固定子22の中心までの距離をLx、重
心Gから質量体13xを駆動するリニアモータ固定子5
3の中心までの距離をlxとすると、各力の作用点間の
距離Lx、lxは予め求められ、力の釣合い式とモーメ
ントの釣合い式より反力Rx、Tθは次式(9)で表わ
される。 【0091】 【数9】 質量体13xの質量をmx、トップステージ5とXYス
テージ6を合わせたX方向の移動体質量をMxとする
と、質量体13xの必要な駆動ストロークsxはXYス
テージ6のX方向のストロークSxに対する質量比で決
まる。必要最大ストロークは次式(10)で表わされ
る。 【0092】 【数10】 また、図18に示すように、Y方向駆動についても同様
に、駆動反力をFy1、Fy2、質量体13yを駆動し
て発生させる反力をRy、重心Gから各力の作用点まで
の距離をLy1、Ly2、lyとする。質量体35を回
転させるときに発生する反力トルクをTθとすると、反
力Ry、Tθは次式(11)で表わされる。 【0093】 【数11】 質量体13yの質量をmy、トップステージ5とXYス
テージ6と可動ガイド7をあわせたY方向の移動体質量
をMyとすると、質量体13yの必要な駆動ストローク
syはXYステージ6のY方向のストロークSyに対す
る質量比で決まる。必要最大ストロークは次式(12)
で表わされる。 【0094】 【数12】 また、質量体13x,13yの作用軸が重心G上にある
と、lx、lyが0となり、反力トルクTθの計算が容
易となる。 【0095】以上述べたように、加減速時にステージベ
ース9に作用するX方向、Y方向およびθ方向の大きな
駆動反力は、質量体13x,13y,35を反対方向に
駆動し逆向きの駆動反力を発生させることにより打ち消
され、鏡筒支持体4は揺すられない。α方向、β方向の
モーメント反力は定盤9に伝わり鏡筒支持体4を揺する
が、この反力は他の方向の力に比べ非常に小さい。 【0096】したがって、エアーマウント11に支持さ
れた装置全体および装置に搭載された機構系各部の固有
振動が励起されることなく、ウエハステージやレーザ計
測システムおよびフォーカス検出システムに外乱振動が
伝わらない。 【0097】本実施例によれば、XYステージ6の加減
速時に発生する慣性力に伴い、ステージベース8に伝わ
る大きな反力(X方向、Y方向、θ方向)を、定盤9に
取り付けられた質量体13x,13y,35を駆動し前
記反力を打ち消すようにしたことにある。これによれ
ば、エアーマウント11に支持された装置全体および装
置に搭載された機構系各部の固有振動が励起されること
なく、ウエハステージやレーザ計測システムおよびフォ
ーカス検出システムに外乱振動が伝わらないため、高速
・高精度な位置決めを達成できる。 【0098】さらに、XYステージ6が移動するとステ
ージ自体の重量で、複数のエアーマウント11の支持力
の配分が変化するが、慣性力付与手段の質量体がステー
ジの重心移動を打ち消す。したがって、鏡筒支持体4お
よび定盤9(装置本体構造体)を支持するエアーマウン
ト11の支持力バランスが変化しない。したがって、定
盤9および鏡筒支持体4の姿勢変動や構造体変形が生じ
ず高精度な位置決めが行なわれる。 【0099】また、ステージ移動に伴う装置本体(鏡筒
支持体および定盤)の変形を抑えることができるため、
ウエハの大型化に伴いウエハステージが大型化されても
装置本体の高剛性化、大型化によるコストアップを抑え
ることができる。 【0100】<第8実施例>図19は本発明の第8の実
施例に係る露光装置の正面図である。同図において、前
述の第7実施例と同じ部材には同一番号をつけている。
図19において、81はステージベース8を支持するた
めに3ヵ所あるいはそれ以上の箇所に配置されたエアー
マウント、12はエアーマウント11を介して鏡筒支持
体4を支持し、且つエアーマウント81を介してステー
ジベース8を支持する基台である。慣性力付与手段を構
成するところのガイド14x,14y,36はステージ
ベース8に固定されている。 【0101】上記構成の露光装置においても、第7実施
例と同様にXYステージ6およびトップステージ5を所
定の位置に移動するときの加減速に応じて質量体13
(13x,13y)、35を駆動しステージベース8に
直接慣性力を付与することにより、ステージベース8は
揺すられない。したがって、エアーマウント81に支持
されたウエハステージの固有振動が励起されることはな
く、また鏡筒支持体4はエアーマウント81およびエア
ーマウント11によりウエハステージと振動絶縁されて
いるため、装置機構系各部の固有振動が励起されること
もない。このため、レーザ計測システムおよびフォーカ
ス検出システムに外乱振動が伝わらない。 【0102】本実施例によれば、鏡筒支持体4とウエハ
ステージ8が別体で構成構成されている露光装置におい
て、XYステージ6の加減速時に発生する慣性力に伴
い、ステージベース8に伝わる大きな反力(X方向、Y
方向、θ方向)を、ステージベース8に取り付けられた
質量体13(13x,13y)、35を駆動して打ち消
すようにしたことにある。これによれば、エアーマウン
ト81に支持されたウエハステージの固有振動が励起さ
れることがない。また鏡筒支持体4はエアーマウント8
1およびエアーマウント11によりウエハステージと振
動絶縁されているため、装置機構系各部の固有振動が励
起されることがない。したがって、レーザ計測システム
およびフォーカス検出システムに外乱振動が伝わらず、
高速・高精度な位置決めを達成できる。 【0103】<第9実施例>図20は本発明の第9の実
施例に係る露光装置のステージ部分の上面図である。こ
の図において、前述の実施例と同じ部材には同一番号を
つけている。図20において、13x1,13x2,1
3y1,13y2,35はステージべース8に慣性力を
付与するための質量体、14x1,14x2,14y
1,14y2,36は質量体13x1、13x2、13
y1、13y2、35を支持案内するガイドでありステ
ージべース8に固定されている。 【0104】上記構成において、XYステージをX方向
に駆動するときに発生する駆動反力を打ち消すときは、
質量体13x1、13x2および35を駆動し、XYス
テージをY方向に駆動するときは質量体13y1、13
y2および35を駆動することにより、第8実施例と同
等の効果が得られる。 【0105】本実施例によれば、質量体13x1,13
x2,13y1,13y2を対称に配置したことにあ
り、これによれば、エアーマウント8にかかる負荷を一
定にし、特定のエアーマウントに過大な荷重が架かるの
を防ぐことができる。 【0106】<第10実施例>図21は、本発明の第1
0の実施例に係る露光装置のステージ部分の上面図であ
る。同図において、前述の実施例と同じ部材には同一番
号をつけている。図21において、13x1,13x
2,13y1,13y2,35はステージべース8に慣
性力を付与するための質量体、14x1,14x2,1
4y1,14y2,36は質量体13x1,13x2,
13y1,13y2,35を支持案内するガイドであり
ステージべース8に固定されている。 【0107】上記構成において、XYステージをX方向
に駆動するときに発生する駆動反力を打ち消すときは、
質量体13x1、13x2および35を駆動し、XYス
テージをY方向に駆動するときは質量体13y1、13
y2および35を駆動することにより、第8実施例と同
等の効果が得られる。 【0108】本実施例によれば、装置全体の大きさを大
きくすることなく、質量体13x1,13x2,13y
1,13y2の移動ストロークを長くし、質量体13x
1,13x2,13y1,13y2質量を軽くしたこと
にある。これによれば、装置全体の質量を軽量化するこ
とができる。 【0109】 【デバイス生産方法の実施例】次に上記説明した露光装
置を利用したデバイスの生産方法の実施例を説明する。
図22は微小デバイス(ICやLSI等の半導体チッ
プ、液晶パネル、CCD、薄膜磁気ヘッド、マイクロマ
シン等)の製造のフローを示す。ステップ1(回路設
計)ではデバイスのパターン設計を行なう。ステップ2
(マスク製作)では設計したパターンを形成したマスク
を製作する。一方、ステップ3(ウエハ製造)ではシリ
コンやガラス等の材料を用いてウエハを製造する。ステ
ップ4(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、上記用意
したマスクとウエハを用いて、リソグラフィ技術によっ
てウエハ上に実際の回路を形成する。次のステップ5
(組み立て)は後工程と呼ばれ、ステップ4によって作
製されたウエハを用いて半導体チップ化する工程であ
り、アッセンブリ工程(ダイシング、ボンディング)、
パッケージング工程(チップ封入)等の工程を含む。ス
テップ6(検査)ではステップ5で作製された半導体デ
バイスの動作確認テスト、耐久性テスト等の検査を行な
う。こうした工程を経て半導体デバイスが完成し、これ
が出荷(ステップ7)される。 【0110】図23は上記ウエハプロセスの詳細なフロ
ーを示す。ステップ11(酸化)ではウエハの表面を酸
化させる。ステップ12(CVD)ではウエハ表面に絶
縁膜を形成する。ステップ13(電極形成)ではウエハ
上に電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオ
ン打込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ1
5(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ス
テップ16(露光)では上記説明したアライメント装置
を有する露光装置によってマスクの回路パターンをウエ
ハに焼付露光する。ステップ17(現像)では露光した
ウエハを現像する。ステップ18(エッチング)では現
像したレジスト像以外の部分を削り取る。ステップ19
(レジスト剥離)ではエッチングが済んで不要となった
レジストを取り除く。これらのステップを繰り返し行な
うことによって、ウエハ上に多重に回路パターンが形成
される。本実施例ではこの繰り返しの各プロセスにおい
て、上記述べたように慣性力付与手段を適切に駆動制御
するすることで、プロセスに影響を受けず正確な位置合
わせを可能としている。本実施例の生産方法を用いれ
ば、従来は製造が難しかった高集積度のデバイスを低コ
ストに製造することができる。 【0111】 【効果の説明】以上のように、上記各実施例によれば、
ステージの移動加速度による加振力は、リニアモータを
用いた慣性力付与機構により打ち消されるため、装置全
体および装置に搭載される機構系の固有振動が励起され
ることがない。したがって、ステージに搭載されたウエ
ハの投影レンズに対する位置決めを高速、 高精度に行な
うことができる。 【0112】また、上記実施例では、ステージおよび質
量体の駆動にリニアモータを用いている。そのためボー
ルねじのような、ふれ回りが生じず、定盤やステージに
回転モーメントが伝達されず、外乱振動が軽減されるた
め、高速・高精度な露光を行なうことができる。さら
に、ステージおよび質量体とも、非接触駆動が可能であ
るため、ボールねじの場合に起きがちな固有振動による
残留振動を抑えることができる。また、ステージの駆動
手段と質量体の駆動手段が、ともにリニアモータである
ため、異種の駆動手段では打ち消すことが困難であった
微小な振動も容易に相殺することができる。 【0113】また、ステージが移動するとステージ自体
の重量で複数の振動除去機構の支持力の配分が変化する
が、慣性力付与機構の質量体がステージの重心移動を打
ち消す。したがって、定盤を支持する振動除去機構の支
持力バランスが変化しない。したがって、定盤およびそ
れらに搭載されているウエハや投影光学系の姿勢変動や
構造体変形が生じず高精度な位置決めが行なわれる。 【0114】また、ステージ移動に伴う装置本体の変形
を抑えることができるため、ウエハの大型化に伴いステ
ージが大型化されても装置本体の高剛性化、大型化によ
るコストアップを抑えることができる。以上のように、
所定の方向に所望の慣性力を発生させる慣性力付与機構
により、ステージの移動加速度による振動の励起を当該
所定方向に関して打ち消すことができる。また、慣性力
付与機構に質量体の移動を利用しているため、ステージ
の移動加速度による慣性力を軽減するほかに、ステージ
の重心位置の変化も打ち消す効果がある。特に、第4〜
6実施例によれば、第2方向に慣性力を発生させる慣性
力付与機構がステージとともに第1の方向に移動可能な
構成になっている。このため、ステージの第2方向への
移動時に発生する振動を可動ガイドに直接反力を作用さ
せて軽減させることができる。したがって、位置決め装
置の高速・高精度な位置決めを行なうことができる。 【0115】また、回転モーメントを発生するための回
転慣性力付与手段により、モーメント反力を容易に打ち
消すことができる。したがって、エアーマウントに支持
された装置全体および装置に搭載された機構系各部の固
有振動が励起されることなく、ウエハステージやレーザ
計測システムおよびフォーカスシステムに外乱が伝達さ
れないため、高速・高精度な位置決めを達成できる。 【0116】また、二次元のステージの移動加速度によ
る加振力は、慣性力付与機構により打ち消されるため、
装置全体および装置に搭載される機構系の固有振動が励
起されることがない。したがって、ステージの露光用光
学系等に対する高速・高精度な位置決めを行なうことが
できる。 【0117】また、慣性力付与機構を複数設置すること
で、慣性力付与機構の配置に対する設計上の自由度を上
げることができ、ステージ駆動機構の力作用軸と慣性力
付与機構の力作用軸とを略一致させることが容易にな
る。 【0118】さらに、慣性力付与機構の質量体がステー
ジの重心移動を打ち消すので、鏡筒支持体および基盤
(装置本体構造)を支持するエアーマウントの支持力の
バランスが変化しない。したがって、位置決め装置全体
および鏡筒支持体の姿勢変動や構造体変形が生じず、高
精度な半導体露光装置が実現する。本発明は、本発明の
精神と観点を外れない範囲で種々変更することができ、
クレームに限定される以外、特定の実施例に限定される
ものではない。
【図面の簡単な説明】 【図1】 本発明の第1の実施例に係る投影露光装置を
表わす正面図である。 【図2】 図1に示した投影露光装置におけるウエハ搭
載ステージ部分の上面図である。 【図3】 図1に示した投影露光装置の質量体およびそ
のガイド部分の詳細構成を示す図である。 【図4】 図1に示した投影露光装置におけるレーザ計
測システムの配置を説明する図である。 【図5】 図1に示した投影露光装置の制御系の構成を
示すブロック図である。 【図6】 図1に示した投影露光装置のウエハ搭載ステ
ージ部分における、X方向の作用、反作用を説明する図
である。 【図7】 図1に示した投影露光装置のウエハ搭載ステ
ージ部分における、Y方向の作用、反作用を説明する図
である。 【図8】 本発明の第2の実施例に係る投影露光装置を
表わす正面図である。 【図9】 本発明の第3の実施例に係るウエハ搭載ステ
ージ部分の上面図である。 【図10】 本発明の第4の実施例に係る投影露光装置
を表わす正面図である。 【図11】 図10に示した投影露光装置におけるウエ
ハ搭載ステージ部分の上面図である。 【図12】 本発明の第5の実施例に係る投影露光装置
を表わす正面図である。 【図13】 図12に示した投影露光装置におけるウエ
ハ搭載ステージ部分の上面図である。 【図14】 本発明の第6の実施例に係る投影露光装置
のウエハ搭載ステージ部分の上面図である。 【図15】 本発明の第7の実施例に係る投影露光装置
を表わす正面図である。 【図16】 図15に示した投影露光装置におけるウエ
ハ搭載ステージ部分の上面図である。 【図17】 図15に示した投影露光装置のウエハ搭載
ステージ部分における、X方向の作用、反作用を説明す
る図である。 【図18】 図15に示した投影露光装置のウエハ搭載
ステージ部分における、Y方向の作用、反作用を説明す
る図である。 【図19】 本発明の第8の実施例に係る投影露光装置
を表わす正面図である。 【図20】 本発明の第9の実施例に係る投影露光装置
を表わすウエハ搭載ステージ部分の上面図である。 【図21】 本発明の第10の実施例に係る投影露光装
置を表わすウエハ搭載ステージ部分の上面図である。 【図22】 第1〜10実施例で説明した投影露光装置
を適用できるデバイス製造工程を説明する図である。 【図23】 第1〜10実施例で説明した投影露光装置
を適用できるデバイス製造工程を説明する図である。 【図24】 従来の投影露光装置を表わす上面図であ
る。 【符号の説明】 1:照明部、2:レチクル、3:投影レンズ、4:鏡筒
支持体、5:トップステージ、6:XYステージ、7:
可動ガイド、8:ステージベース、9:定盤、11,8
1:エアーマウント、12:基台、13(13a,13
b,13c,13d),113(113a,113b,
113c,113d):質量体、14(14a,14
b,14c,14d),114(114a,114b,
114c,114d):ガイド、16a:フォーカス検
出部の投光部、16b:フォーカス検出部の受光部、2
2,22a,22b,53:リニアモータ固定子、24
a,24b,52:リニアモータ可動子、35:回転質
量体、36:回転質量体ガイド、155:質量体駆動用
ドライバ、156:リニアモータドライバ。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI B23Q 1/14 B 1/30

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 基準面を有する定盤と、移動可能なステ
    ージと、該ステージを所定方向へ移動させる第1リニア
    モータと、慣性力を発生させる慣性力付与手段とを備
    え、 該慣性力付与手段は、質量体と、該質量体を支持するガ
    イドと、該質量体を移動させる第2リニアモータと、該
    第2リニアモータを制御する制御手段とを含むことを特
    徴とする位置決め装置。 【請求項2】 前記慣性力付与手段は、前記定盤に働く
    力を打ち消すように定盤に対して慣性力を付与すること
    を特徴とする請求項1記載の位置決め装置。 【請求項3】 前記慣性力付与手段は、前記ステージの
    移動に応じた慣性力の作用平面近傍に配置されることを
    特徴とする請求項1または2記載の位置決め装置。 【講求項4】 前記慣性力付与手段は、複数の質量体を
    含むことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記
    載の位置決め装置。 【請求項5】 前記ガイドが静圧軸受を有することを特
    徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の位置決め
    装置。 【請求項6】 前記第1リニアモータの力作用軸と、前
    記慣性力付与手段の力作用軸とが、実質的に一致してい
    ることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載
    の位置決め装置。 【請求項7】 前記質量体が筒形状を有することを特徴
    とする請求項1〜6のいずれか1つに記載の位置決め装
    置。 【請求項8】 定盤上で第1方向に移動可能な第1移動
    体と、第1方向に直交する第2方向に移動可能な第2移
    動体とを含み、2軸方向に移動可能なステージと、 該第1移動体を第1方向へ移動させる第1移動手段と、 該第2移動体を第2方向に移動させる第2移動手段と、 慣性力を発生させる第1慣性力付与手段とを有し、 該第1慣性力付与手段は、該第1移動体と共に第1方向
    に移動し且つ第2方向に所望の慣性力を発生することを
    特徴とする位置決め装置。 【請求項9】 前記第1慣性力付与手段は、質量体と、
    該質量体を支持案内するガイドと、該質量体を移動させ
    る質量体移動手段と、該質量体移動手段を制御する制御
    手段とを具備し、 前記第2移動体と反対方向へ該質量体を第2方向に移動
    し、前記第2移動体の移動によって生じる慣性力を打ち
    消すことを特徴とする請求項8記載の位置決め装置。 【請求項10】 前記ガイドが静圧軸受を有することを
    特徴とする請求項8または9記載の位置決め装置。 【請求項11】 前記移動手段はリニアモータを有する
    ことを特徴とする請求項8〜10のいずれか1つに記載
    の位置決め装置。 【請求項12】 前記第2移動手段の力作用軸と、前記
    第1慣性力付与手段の力作用軸とが、前記定盤の基準面
    に垂直な方向から見た時にほぼ一致していることを特徴
    とする請求項8〜11のいずれか1つに記載の位置決め
    装置。 【請求項13】 前記定盤に配置され、前記第1方向へ
    の所望の慣性力を付与するための第2慣性力付与手段を
    更に含むことを特徴とする請求項8〜12のいずれか1
    つに記載の位置決め装置。 【請求項14】 前記第1移動手段の力作用軸と、前記
    第2慣性力付与手段の力作用軸とが、前記基準面に垂直
    な方向から見た時にほぼ一致していることを特徴とする
    請求項13記載の位置決め装置。 【請求項15】 前記第1および第2慣性力付与手段
    は、前記第1もしくは第2移動体の移動に伴う重心位置
    変化または慣性力が軽減するように、該第1もしくは第
    2移動体の移動とほぼ同時に、慣性力付与のための質量
    体を移動させることを特徴とする請求項13または14
    記載の位置決め装置。 【請求項16】 前記第1および第2慣性力付与手段の
    少なくとも一方が複数の質量体を含むことを特徴とする
    請求項8〜15のいずれか1つに記載の位置決め装置。 【請求項17】 前記第1および第2移動体の位置情報
    または加速度情報を得るための計測手段を更に備え、 前記第1および第2慣性力付与手段は、前記計測手段で
    得られた情報に基づいて慣性力を付与するための質量体
    の移動を制御することを特徴とする請求項8〜16のい
    ずれか1つに記載の位置決め装置。 【請求項18】 前記計測手段は、レーザ干渉計を有す
    ることを特徴とする請求項8〜17のいずれか1つに記
    載の位置決め装置。 【請求項19】 基準面を有する定盤と、移動可能なス
    テージと、該ステージを所定方向へ移動させる移動手段
    と、力を発生する力付与手段とを有し、 該力付与手段は、並進慣性力を発生するための並進慣性
    力付与手段と、回転モーメントを発生するための回転力
    付与手段を有することを特徴とする位置決め装置。 【請求項20】 前記並進慣性力付与手段と前記回転力
    付与手段の少なくとも一方により、前記定盤に生じる力
    を打ち消すように定盤に対して力を付与することを特徴
    とする請求項19記載の位置決め装置。 【請求項21】 前記並進慣性力付与手段は、質量体
    と、該質量体を支持案内するガイドと、該質量体を移動
    させる質量体移動手段と、この質量体移動手段を制御す
    る制御手段とを具備することを特徴とする請求項19ま
    たは20記載の位置決め装置。 【請求項22】 前記並進慣性力付与手段のガイドは、
    静圧空気軸受を有することを特徴とする請求項19〜2
    1のいずれか1つに記載の位置決め装置。 【請求項23】 前記移動手段は、リニアモータである
    ことを特徴とする請求項19〜22のいずれか1つに記
    載の位置決め装置。 【請求項24】 前記回転力付与手段は、前記ステージ
    および前記並進慣性力付与手段の加減速に応じて前記定
    盤に作用する回転トルクを打ち消すように駆動制御され
    ることを特徴とする請求項19〜23のいずれか1つに
    記載の位置決め装置。 【請求項25】 前記回転力付与手段は、回転質量体
    と、該回転質量体を支持案内するガイドと、該回転質量
    体を回転させる回転質量体回転手段と、この回転質量体
    回転手段を制御する制御手段とを具備することを特徴と
    する請求項19〜24のいずれか1つに記載の位置決め
    装置。 【請求項26】 前記回転力付与手段のガイドは、静圧
    軸受を有することを特徴とする請求項25のいずれか1
    つに記載の位置決め装置。 【請求瑣27】 前記回転質量体の回転軸は、前記定盤
    の基準面と直交することを特徴とする請求項25または
    26記載の位置決め装置。 【請求項28】 請求項1〜27のいずれか1つに記載
    の位置決め装置をウエハステージに用いたことを特徴と
    する露光装置。 【請求項29】 前記定盤が、床に除振手段を介して配
    置され、該定盤上に投影光学系が搭載されていることを
    特徴とする請求項28記載の露光装置。 【請求項30】 前記定盤が、床に除振手段を介して配
    置され、投影光学系は該除振手段とは別の除振手段を介
    して床に設置されたほかの定盤上に搭載されていること
    を特徴とする請求項28記載の露光装置。 【請求項31】 請求項28〜30のいずれか1つに記
    載の露光装置を用意するステップと、ウエハにレチクル
    パターンを転写するステップを有することを特徴とする
    デバイス製造方法。 【請求項32】 ウエハに露光された部分を現像するス
    テップと、ウエハ上に形成されたチップを切り離すステ
    ップとを更に有することを特徴とする請求項31記載の
    デバイス製造方法。
JP11589098A 1997-04-22 1998-04-13 位置決め装置およびこれを用いた露光装置 Expired - Fee Related JP3963410B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11589098A JP3963410B2 (ja) 1997-04-22 1998-04-13 位置決め装置およびこれを用いた露光装置

Applications Claiming Priority (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11740997 1997-04-22
JP26866597 1997-10-01
JP36672197 1997-12-26
JP9-268665 1997-12-26
JP9-117409 1997-12-26
JP9-366721 1997-12-26
JP11589098A JP3963410B2 (ja) 1997-04-22 1998-04-13 位置決め装置およびこれを用いた露光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11243132A true JPH11243132A (ja) 1999-09-07
JP3963410B2 JP3963410B2 (ja) 2007-08-22

Family

ID=27470297

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11589098A Expired - Fee Related JP3963410B2 (ja) 1997-04-22 1998-04-13 位置決め装置およびこれを用いた露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3963410B2 (ja)

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002001629A (ja) * 2000-04-19 2002-01-08 Inks:Kk マシニングセンタにおける機体のゆれ防止装置
JP2002184838A (ja) * 2000-09-15 2002-06-28 Leica Microsystems Lithography Gmbh 無磁界スペースを有する6軸位置決めシステム
US6538348B2 (en) 2000-02-21 2003-03-25 Sharp Kabushiki Kaisha Stage device capable of moving an object to be positioned precisely to a target position
EP1111469A3 (en) * 1999-12-21 2004-08-18 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus with a balanced positioning system
US6836093B1 (en) 1999-12-21 2004-12-28 Nikon Corporation Exposure method and apparatus
KR100488400B1 (ko) * 2001-02-27 2005-05-11 캐논 가부시끼가이샤 스테이지장치, 노광장치 및 디바이스제조방법과이동안내방법
US7202937B2 (en) 1999-12-21 2007-04-10 Asml Netherlands B.V. Balanced positioning system for use in lithographic apparatus
US7224432B2 (en) 2004-05-14 2007-05-29 Canon Kabushiki Kaisha Stage device, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2007258695A (ja) * 2006-03-03 2007-10-04 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置、リソグラフィ装置のコンポーネントを制御する方法およびデバイス製造方法
US7321418B2 (en) 2004-10-14 2008-01-22 Canon Kabushiki Kaisha Stage apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2008134252A (ja) * 2007-11-27 2008-06-12 Canon Inc 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法
US20090039575A1 (en) * 2005-12-09 2009-02-12 Satoshi Umemoto Vibration Control Mass Body
JP2009260339A (ja) * 2008-04-14 2009-11-05 Asml Netherlands Bv 位置決めシステム、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法
JP2011106380A (ja) * 2009-11-19 2011-06-02 Toyota Motor Corp 内燃機関の可変圧縮比システム
JP2012176456A (ja) * 2011-02-25 2012-09-13 Okuma Corp 構造体の振動抑制装置
JP2014027061A (ja) * 2012-07-25 2014-02-06 Nsk Ltd 位置決め装置、露光装置及び工作機械
CN114078724A (zh) * 2020-08-12 2022-02-22 捷进科技有限公司 芯片贴装装置及半导体器件的制造方法
CN117140078A (zh) * 2023-08-15 2023-12-01 上海发那科机器人有限公司 一种刚性增强的机器人钻孔攻螺纹装置及其方法
JP2023179277A (ja) * 2022-06-07 2023-12-19 キヤノン株式会社 位置決め装置、リソグラフィ装置及び物品の製造方法

Cited By (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7202937B2 (en) 1999-12-21 2007-04-10 Asml Netherlands B.V. Balanced positioning system for use in lithographic apparatus
EP1111469A3 (en) * 1999-12-21 2004-08-18 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus with a balanced positioning system
US6836093B1 (en) 1999-12-21 2004-12-28 Nikon Corporation Exposure method and apparatus
US6538348B2 (en) 2000-02-21 2003-03-25 Sharp Kabushiki Kaisha Stage device capable of moving an object to be positioned precisely to a target position
EP1128216B1 (en) * 2000-02-21 2008-11-26 Sharp Kabushiki Kaisha Precision stage device
JP2002001629A (ja) * 2000-04-19 2002-01-08 Inks:Kk マシニングセンタにおける機体のゆれ防止装置
JP2002184838A (ja) * 2000-09-15 2002-06-28 Leica Microsystems Lithography Gmbh 無磁界スペースを有する6軸位置決めシステム
KR100488400B1 (ko) * 2001-02-27 2005-05-11 캐논 가부시끼가이샤 스테이지장치, 노광장치 및 디바이스제조방법과이동안내방법
US7224432B2 (en) 2004-05-14 2007-05-29 Canon Kabushiki Kaisha Stage device, exposure apparatus, and device manufacturing method
US7321418B2 (en) 2004-10-14 2008-01-22 Canon Kabushiki Kaisha Stage apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
KR101314701B1 (ko) * 2005-12-09 2013-10-07 가부시끼가이샤 아라이도 마테리아루 진동제어용 질량체
US20090039575A1 (en) * 2005-12-09 2009-02-12 Satoshi Umemoto Vibration Control Mass Body
JP2007258695A (ja) * 2006-03-03 2007-10-04 Asml Netherlands Bv リソグラフィ装置、リソグラフィ装置のコンポーネントを制御する方法およびデバイス製造方法
JP2008134252A (ja) * 2007-11-27 2008-06-12 Canon Inc 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法
US8144310B2 (en) 2008-04-14 2012-03-27 Asml Netherlands B.V. Positioning system, lithographic apparatus and device manufacturing method
JP2009260339A (ja) * 2008-04-14 2009-11-05 Asml Netherlands Bv 位置決めシステム、リソグラフィ装置、およびデバイス製造方法
US9122173B2 (en) 2008-04-14 2015-09-01 Asml Netherlands B.V. Positioning system, lithographic apparatus and device manufacturing method
JP2011106380A (ja) * 2009-11-19 2011-06-02 Toyota Motor Corp 内燃機関の可変圧縮比システム
JP2012176456A (ja) * 2011-02-25 2012-09-13 Okuma Corp 構造体の振動抑制装置
JP2014027061A (ja) * 2012-07-25 2014-02-06 Nsk Ltd 位置決め装置、露光装置及び工作機械
CN114078724A (zh) * 2020-08-12 2022-02-22 捷进科技有限公司 芯片贴装装置及半导体器件的制造方法
JP2023179277A (ja) * 2022-06-07 2023-12-19 キヤノン株式会社 位置決め装置、リソグラフィ装置及び物品の製造方法
CN117140078A (zh) * 2023-08-15 2023-12-01 上海发那科机器人有限公司 一种刚性增强的机器人钻孔攻螺纹装置及其方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3963410B2 (ja) 2007-08-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6028376A (en) Positioning apparatus and exposure apparatus using the same
JP4146952B2 (ja) 露光装置およびデバイス製造方法
KR100383699B1 (ko) 스테이지 장치, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법
JP3963410B2 (ja) 位置決め装置およびこれを用いた露光装置
US6987558B2 (en) Reaction mass for a stage device
JPH07254555A (ja) 露光装置
US20020003616A1 (en) Stage system for exposure apparatus and device manufacturing method using the same
JP3720613B2 (ja) 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法ならびに位置決め方法
KR20010067452A (ko) 전사장치에 사용하는 균형화 위치결정 시스템
KR20010067456A (ko) 전사 장치용 균형화 위치결정시스템
KR100766059B1 (ko) 리소그래피 시스템에서 반작용 부하를 관리하기 위한 시스템 및 장치
US7586218B2 (en) Moving apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method
EP1357432B1 (en) Driving apparatus
WO2005048325A1 (ja) ステージ駆動方法及びステージ装置並びに露光装置
EP1111469A2 (en) Lithographic apparatus with a balanced positioning system
JP2001023894A (ja) ステージ装置及び露光装置
JP2001230178A (ja) 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法
JP4685084B2 (ja) 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法
JP2004152902A (ja) 位置決め装置
JP2000182931A (ja) 露光装置
US20030139044A1 (en) Moving apparatus and control method therefor, and device manufacturing method
JP2001230177A (ja) 位置決め装置、露光装置およびデバイス製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20061227

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070131

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070402

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070425

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070521

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110601

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120601

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120601

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130601

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees