JPH11243223A - 電解析出槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、それを用いた光起電力素子および製造方法、および半導体素子基板の製造方法 - Google Patents
電解析出槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、それを用いた光起電力素子および製造方法、および半導体素子基板の製造方法Info
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- JPH11243223A JPH11243223A JP10045081A JP4508198A JPH11243223A JP H11243223 A JPH11243223 A JP H11243223A JP 10045081 A JP10045081 A JP 10045081A JP 4508198 A JP4508198 A JP 4508198A JP H11243223 A JPH11243223 A JP H11243223A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電解析出方法を用いて、導電性基体の全面に
わたり均一かつ安定的に酸化亜鉛薄膜を堆積することが
できる酸化亜鉛薄膜の堆積装置を可能とする。 【解決手段】 水溶液中で導電性基体110と電極11
1とに通電して、基体110上に酸化物薄膜を形成する
電解析出槽103と、これを通過した基体110を水洗
する水洗手段104,105と、これを通過した基体1
10を強制乾燥する乾燥手段107とを備えている酸化
物薄膜の堆積装置であって、基体110の裏面に接触し
て給電する導電性部材109aに、その表面に水または
水溶液を供給する液供給手段109bが備えられてい
る。
わたり均一かつ安定的に酸化亜鉛薄膜を堆積することが
できる酸化亜鉛薄膜の堆積装置を可能とする。 【解決手段】 水溶液中で導電性基体110と電極11
1とに通電して、基体110上に酸化物薄膜を形成する
電解析出槽103と、これを通過した基体110を水洗
する水洗手段104,105と、これを通過した基体1
10を強制乾燥する乾燥手段107とを備えている酸化
物薄膜の堆積装置であって、基体110の裏面に接触し
て給電する導電性部材109aに、その表面に水または
水溶液を供給する液供給手段109bが備えられてい
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、水溶液中で導電性
基体と電極とに通電して、基体上に酸化物薄膜を形成す
る電解析出槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、
それを用いた光起電力素子および製造方法、および半導
体素子基板の製造方法に関する。
基体と電極とに通電して、基体上に酸化物薄膜を形成す
る電解析出槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、
それを用いた光起電力素子および製造方法、および半導
体素子基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、水素化非晶質シリコン、水素
化非晶質シリコンゲルマニウム、水素化非晶質シリコン
カーバイトまたは微結晶シリコンなどからなる光起電力
素子は、長波長における収集効率を改善するため、裏面
反射層を有している。この反射層は、半導体材料のバン
ド端に近く、その吸収の小さくなる波長、即ち800n
mから1200nmの波長において、有効な反射特性を
示すことが望ましい。この条件を十分に満たすのが、
金、銀、銅、アルミニウムといった金属の層である。
化非晶質シリコンゲルマニウム、水素化非晶質シリコン
カーバイトまたは微結晶シリコンなどからなる光起電力
素子は、長波長における収集効率を改善するため、裏面
反射層を有している。この反射層は、半導体材料のバン
ド端に近く、その吸収の小さくなる波長、即ち800n
mから1200nmの波長において、有効な反射特性を
示すことが望ましい。この条件を十分に満たすのが、
金、銀、銅、アルミニウムといった金属の層である。
【0003】また、光閉じ込めとして知られる所定の波
長範囲において、光学的に透明な凹凸層を設けることも
行なわれており、一般的には、上記の金属層と半導体層
との間に凹凸層が設けられ、反射層を有効に利用して短
絡電流密度Jscを改善することもある。
長範囲において、光学的に透明な凹凸層を設けることも
行なわれており、一般的には、上記の金属層と半導体層
との間に凹凸層が設けられ、反射層を有効に利用して短
絡電流密度Jscを改善することもある。
【0004】さらに、シャントパスによる特性低下を防
止するため、金属層と半導体層との間に導電性を示す透
光性の材料による層、即ち透明導電性層を設けることが
行われている。極めて一般的には、これらの層は、真空
蒸着法やスパッタリング法といった方法にて堆積され、
短絡電流密度Jscにして1mA/cm2以上の改善を
示している。
止するため、金属層と半導体層との間に導電性を示す透
光性の材料による層、即ち透明導電性層を設けることが
行われている。極めて一般的には、これらの層は、真空
蒸着法やスパッタリング法といった方法にて堆積され、
短絡電流密度Jscにして1mA/cm2以上の改善を
示している。
【0005】その例として、先行技術1:「29p−M
F−22ステンレス基板上のa−SiGe太陽電池にお
ける光閉じ込め効果」(1990年秋季)第51回応用
物理学会学術講演会p747、先行技術2:”P−IA
−15a−SiC/a−Si/a−SiGe・Mult
i−Bandgap・Stacked・Solar・C
ells・With・Bandgap・Profili
ng”Sannomiyaet・al.,Techni
cal・Digest・of・the・Interna
tional・PVSEC−5,Kyoto,Japa
n,p381,1990などにおいて、銀原子から構成
される反射層の反射率とテクスチャー構造の検討がなさ
れている。
F−22ステンレス基板上のa−SiGe太陽電池にお
ける光閉じ込め効果」(1990年秋季)第51回応用
物理学会学術講演会p747、先行技術2:”P−IA
−15a−SiC/a−Si/a−SiGe・Mult
i−Bandgap・Stacked・Solar・C
ells・With・Bandgap・Profili
ng”Sannomiyaet・al.,Techni
cal・Digest・of・the・Interna
tional・PVSEC−5,Kyoto,Japa
n,p381,1990などにおいて、銀原子から構成
される反射層の反射率とテクスチャー構造の検討がなさ
れている。
【0006】これらの例においては、基板温度を変えて
銀を堆積させた2層の反射層とすることで有効な凹凸を
形成し、これこよって酸化亜鉛層とのコンビネーション
により、光閉じ込め効果による短絡電流の増大を達成し
ている。
銀を堆積させた2層の反射層とすることで有効な凹凸を
形成し、これこよって酸化亜鉛層とのコンビネーション
により、光閉じ込め効果による短絡電流の増大を達成し
ている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来より、光閉じ込め
層として用いられる透明導電層は、抵抗加熱や電子ビー
ムによる真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレー
ティング法、CVD法などによって堆積されているが、
ターゲット材料などの作成工賃が高いことや、真空装置
の償却費が大きいことや、材料の利用効率が高くないこ
とが、これらの技術を用いる光起電力素子のコストを極
めて高いものとし、太陽電池を産業的に応用する上での
大きなバリアとなっている。
層として用いられる透明導電層は、抵抗加熱や電子ビー
ムによる真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレー
ティング法、CVD法などによって堆積されているが、
ターゲット材料などの作成工賃が高いことや、真空装置
の償却費が大きいことや、材料の利用効率が高くないこ
とが、これらの技術を用いる光起電力素子のコストを極
めて高いものとし、太陽電池を産業的に応用する上での
大きなバリアとなっている。
【0008】これらの対策の一つとして液相堆積法によ
る酸化亜鉛作製技術(先行技術3:「水溶液電解による
ZnO膜の作製」(1995年秋季)第65回応用物理
学会学術講演会講演予稿集p410が報告されている。
る酸化亜鉛作製技術(先行技術3:「水溶液電解による
ZnO膜の作製」(1995年秋季)第65回応用物理
学会学術講演会講演予稿集p410が報告されている。
【0009】これらの方法によれば、高価な真空装置や
ターゲットを必要としないため、酸化亜鉛の製造コスト
を飛躍的に低減することができる。また、大面積基板上
にも堆積することができるため、太陽電池のように大面
積の光起電力素子には有望である。しかしながら、これ
らの電気化学的方法を用いて、酸化亜鉛薄膜を長尺の導
電性基板上に連続的に堆積するには、以下のような問題
がある。
ターゲットを必要としないため、酸化亜鉛の製造コスト
を飛躍的に低減することができる。また、大面積基板上
にも堆積することができるため、太陽電池のように大面
積の光起電力素子には有望である。しかしながら、これ
らの電気化学的方法を用いて、酸化亜鉛薄膜を長尺の導
電性基板上に連続的に堆積するには、以下のような問題
がある。
【0010】すなわち、一方の電極の役割を担う導電性
部材と長尺の導電性基板の裏面との電気的な接触が不十
分になることがあり、電圧が降下し、それが原因で導電
性基板の全面にわたって均一かつ安定的に酸化亜鉛薄膜
を堆積することができないという問題があった。
部材と長尺の導電性基板の裏面との電気的な接触が不十
分になることがあり、電圧が降下し、それが原因で導電
性基板の全面にわたって均一かつ安定的に酸化亜鉛薄膜
を堆積することができないという問題があった。
【0011】特に、高温下で長時間にわたり、長尺の導
電性基板上に酸化亜鉛薄膜を形成する場合には、導電性
部材が導電性基板と接触する位置と、導電性基板が水溶
液に浸漬する位置との間で、基板表面が乾燥してムラが
発生することがあるという問題があった。また、乾燥す
る際に、うっすらと白い膜が析出し、それが水溶液中に
搬送されて液を汚してしまうことがある。さらに、水蒸
気が結露して基板上に付いたまま乾燥することがあり、
基板表面にムラが発生することがあるという問題があっ
た。
電性基板上に酸化亜鉛薄膜を形成する場合には、導電性
部材が導電性基板と接触する位置と、導電性基板が水溶
液に浸漬する位置との間で、基板表面が乾燥してムラが
発生することがあるという問題があった。また、乾燥す
る際に、うっすらと白い膜が析出し、それが水溶液中に
搬送されて液を汚してしまうことがある。さらに、水蒸
気が結露して基板上に付いたまま乾燥することがあり、
基板表面にムラが発生することがあるという問題があっ
た。
【0012】これらのムラや溶液の汚れが、酸化亜鉛薄
膜中にミクロンオーダーを超えるような針状、球状、樹
枝上などの形状をした異常成長を生成する場合もあり、
この酸化亜鉛薄膜を光起電力素子の一部として用いたの
では、基板表面のムラや異常成長が光起電力素子のシャ
ントパスを誘発する原因となる。
膜中にミクロンオーダーを超えるような針状、球状、樹
枝上などの形状をした異常成長を生成する場合もあり、
この酸化亜鉛薄膜を光起電力素子の一部として用いたの
では、基板表面のムラや異常成長が光起電力素子のシャ
ントパスを誘発する原因となる。
【0013】本発明は、低コスト化技術である電解析出
方法を用いて、長尺の導電性基体の全面にわたり均一か
つ安定的に酸化亜鉛薄膜を堆積することができる酸化亜
鉛薄膜の堆積装置および堆積方法を提供し、またこの酸
化亜鉛薄膜を光起電力素子の形成過程に組み込むことに
より、量産性に優れ、低コストで、高性能な光起電力素
子および光起電力素子の製造方法を提供し、さらに太陽
光発電の本格的な普及に寄与することができる半導体素
子基板の製造方法を提供することを目的とする。
方法を用いて、長尺の導電性基体の全面にわたり均一か
つ安定的に酸化亜鉛薄膜を堆積することができる酸化亜
鉛薄膜の堆積装置および堆積方法を提供し、またこの酸
化亜鉛薄膜を光起電力素子の形成過程に組み込むことに
より、量産性に優れ、低コストで、高性能な光起電力素
子および光起電力素子の製造方法を提供し、さらに太陽
光発電の本格的な普及に寄与することができる半導体素
子基板の製造方法を提供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】請求項1〜7の発明は、
水溶液中で導電性基体と電極とに通電して、基体上に酸
化物薄膜を形成する電解析出槽に関するものであり、基
体の裏面に接触して給電する導電性部材に、その表面に
水または水溶液を供給する液供給手段が備えられている
点に特徴を有する。
水溶液中で導電性基体と電極とに通電して、基体上に酸
化物薄膜を形成する電解析出槽に関するものであり、基
体の裏面に接触して給電する導電性部材に、その表面に
水または水溶液を供給する液供給手段が備えられている
点に特徴を有する。
【0015】また、請求項8〜14の発明は、水溶液中
で導電性基体と電極とに通電して、基体上に酸化物薄膜
を形成する電解析出槽と、これを通過した基体を水洗す
る水洗手段と、これを通過した基体を強制乾燥する乾燥
手段とを備えている酸化物薄膜の堆積装置に関するもの
であり、基体の裏面に接触して給電する導電性部材に、
その表面に水または水溶液を供給する液供給手段が備え
られている点に特徴を有する。
で導電性基体と電極とに通電して、基体上に酸化物薄膜
を形成する電解析出槽と、これを通過した基体を水洗す
る水洗手段と、これを通過した基体を強制乾燥する乾燥
手段とを備えている酸化物薄膜の堆積装置に関するもの
であり、基体の裏面に接触して給電する導電性部材に、
その表面に水または水溶液を供給する液供給手段が備え
られている点に特徴を有する。
【0016】さらに、請求項15〜21の発明は、少な
くとも硝酸イオン、亜鉛イオン、および炭水化物を含有
してなる水溶液に浸漬された導電性基体と、該溶液中に
浸漬された電極との間に通電することにより、基体上に
酸化物薄膜を形成する酸化物薄膜の堆積方法において、
基体の裏面に接触して給電する導電性部材の表面に水ま
たは水溶液を供給しながら通電する点に特徴を有する。
くとも硝酸イオン、亜鉛イオン、および炭水化物を含有
してなる水溶液に浸漬された導電性基体と、該溶液中に
浸漬された電極との間に通電することにより、基体上に
酸化物薄膜を形成する酸化物薄膜の堆積方法において、
基体の裏面に接触して給電する導電性部材の表面に水ま
たは水溶液を供給しながら通電する点に特徴を有する。
【0017】また、請求項22の発明は、光起電力素子
に関するものであり、請求項15〜21のいずれかの堆
積方法により形成された酸化物薄膜を透明導電層として
有する点に特徴を有する。
に関するものであり、請求項15〜21のいずれかの堆
積方法により形成された酸化物薄膜を透明導電層として
有する点に特徴を有する。
【0018】さらに、請求項23〜29の発明は、少な
くとも硝酸イオン、亜鉛イオン、および炭水化物を含有
してなる水溶液に浸漬された導電性基体と、該溶液中に
浸漬された電極との間に通電することにより、基体上に
酸化物薄膜を形成する工程と、半導体層を形成する工程
とを含む光起電力素子の製造方法に関するものであり、
基体の裏面に接触して給電する導電性部材の表面に水ま
たは水溶液を供給しながら通電して酸化物薄膜を形成す
る点に特徴を有する。
くとも硝酸イオン、亜鉛イオン、および炭水化物を含有
してなる水溶液に浸漬された導電性基体と、該溶液中に
浸漬された電極との間に通電することにより、基体上に
酸化物薄膜を形成する工程と、半導体層を形成する工程
とを含む光起電力素子の製造方法に関するものであり、
基体の裏面に接触して給電する導電性部材の表面に水ま
たは水溶液を供給しながら通電して酸化物薄膜を形成す
る点に特徴を有する。
【0019】そして、請求項30〜36の発明は、少な
くとも硝酸イオン、亜鉛イオン、および炭水化物を含有
してなる水溶液に浸漬された導電性基体と、該溶液中に
浸漬された電極との間に通電することにより、基体上に
酸化物薄膜を形成する半導体素子基板の製造方法に関す
るものであり、基体の裏面に接触して給電する導電性部
材の表面に水または水溶液を供給しながら通電する点に
特徴を有する。
くとも硝酸イオン、亜鉛イオン、および炭水化物を含有
してなる水溶液に浸漬された導電性基体と、該溶液中に
浸漬された電極との間に通電することにより、基体上に
酸化物薄膜を形成する半導体素子基板の製造方法に関す
るものであり、基体の裏面に接触して給電する導電性部
材の表面に水または水溶液を供給しながら通電する点に
特徴を有する。
【0020】上記のように、本発明は、新規な電解析出
槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、それを用い
た光起電力素子および製造方法に係り、各発明の構成お
よび作用について以下に更に説明する。
槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、それを用い
た光起電力素子および製造方法に係り、各発明の構成お
よび作用について以下に更に説明する。
【0021】1)導電性基体の裏面に接触して給電する
導電性部材の表面に水または水溶液を供給しながら通電
している。これにより、一方の電極の役割を担う導電性
部材と導電性基体の裏面との電気的な接触が十分とな
り、電圧が降下することなく、導電性基体の長さ方向、
幅方向の全面にわたり均一に、安定的に酸化物薄膜を堆
積することができる。
導電性部材の表面に水または水溶液を供給しながら通電
している。これにより、一方の電極の役割を担う導電性
部材と導電性基体の裏面との電気的な接触が十分とな
り、電圧が降下することなく、導電性基体の長さ方向、
幅方向の全面にわたり均一に、安定的に酸化物薄膜を堆
積することができる。
【0022】2)液供給手段から供給される水溶液は、
少なくとも硝酸イオンを含んでいることにより、電気的
な導通が促進される。
少なくとも硝酸イオンを含んでいることにより、電気的
な導通が促進される。
【0023】3)導電性部材が基体と接触する位置と基
体が水溶液に浸漬する位置との間に、基体の両面に給水
する水供給手段が備えられている。これにより、特に、
高温下で長時間にわたり長尺の導電性基体上に酸化亜鉛
薄膜を形成する場合に、導電性基体の乾燥が避けられ、
導電性基体の表面にムラや異常成長を生成させることな
く酸化物薄膜を堆積することができる。
体が水溶液に浸漬する位置との間に、基体の両面に給水
する水供給手段が備えられている。これにより、特に、
高温下で長時間にわたり長尺の導電性基体上に酸化亜鉛
薄膜を形成する場合に、導電性基体の乾燥が避けられ、
導電性基体の表面にムラや異常成長を生成させることな
く酸化物薄膜を堆積することができる。
【0024】4)導電性部材が給電ローラーとして形成
されていることにより、比較的容易に電気的な接触が可
能となり、均一な酸化物薄膜の量産性に優れている。
されていることにより、比較的容易に電気的な接触が可
能となり、均一な酸化物薄膜の量産性に優れている。
【0025】5)導電性基体が、その堆積面に予め酸化
亜鉛薄膜を堆積させた導電性基板であることにより、比
較的容易に異常成長の少ない酸化亜鉛薄膜を効率良く均
一に堆積することができる。
亜鉛薄膜を堆積させた導電性基板であることにより、比
較的容易に異常成長の少ない酸化亜鉛薄膜を効率良く均
一に堆積することができる。
【0026】6)導電性基体が長尺基体であり、ロール
間に掛け渡した長尺基体を移動させながら膜堆積するロ
ール・ツー・ロール法を用いることにより、基体上に均
一な酸化物薄膜を連続して堆積させることができる。
間に掛け渡した長尺基体を移動させながら膜堆積するロ
ール・ツー・ロール法を用いることにより、基体上に均
一な酸化物薄膜を連続して堆積させることができる。
【0027】7)このようにして形成された酸化亜鉛薄
膜等の酸化物薄膜を用いた光起電力素子は安価で、品質
が高く(短絡電流、変換効率、密着性に優れた)、量産
性に優れている。特に、酸化亜鉛層の製造コストはスパ
ッタリング法に比較して100分の1程度に低減するこ
とができる。
膜等の酸化物薄膜を用いた光起電力素子は安価で、品質
が高く(短絡電流、変換効率、密着性に優れた)、量産
性に優れている。特に、酸化亜鉛層の製造コストはスパ
ッタリング法に比較して100分の1程度に低減するこ
とができる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の好適な実施の形
態を説明するが、本発明は本実施形態に限定されるもの
ではない。
態を説明するが、本発明は本実施形態に限定されるもの
ではない。
【0029】(酸化亜鉛薄膜の堆積装置)図1は、本発
明の酸化亜鉛薄膜の堆積装置を模式的に示す概略図であ
る。図1に示す。図1において、本発明の堆積装置は、
送り出しローラー101、給電室103a、オーバーフ
ロー室103b、酸化亜鉛堆積浴103cで構成される
電解析出槽103、シャワー洗浄槽104、水洗槽10
5、エアーナイフ106、乾燥ヒータ107、蛇行修正
ローラー108、および巻き取りローラー102を備え
ている。
明の酸化亜鉛薄膜の堆積装置を模式的に示す概略図であ
る。図1に示す。図1において、本発明の堆積装置は、
送り出しローラー101、給電室103a、オーバーフ
ロー室103b、酸化亜鉛堆積浴103cで構成される
電解析出槽103、シャワー洗浄槽104、水洗槽10
5、エアーナイフ106、乾燥ヒータ107、蛇行修正
ローラー108、および巻き取りローラー102を備え
ている。
【0030】また、給電室103aには、酸化亜鉛薄膜
堆積時に陰極となる導電性部材109a、導電性部材1
09a上に少なくとも硝酸イオンを含む水溶液を吹き付
けるためのシャワー109b、および基板110表面が
乾燥しないように水溶液を吹き付けるためのシャワー1
09c、109dが備えられている。
堆積時に陰極となる導電性部材109a、導電性部材1
09a上に少なくとも硝酸イオンを含む水溶液を吹き付
けるためのシャワー109b、および基板110表面が
乾燥しないように水溶液を吹き付けるためのシャワー1
09c、109dが備えられている。
【0031】さらに、酸化亜鉛堆積浴103c内には、
酸化亜鉛薄膜堆積時に陽極となる対向電極111が設置
され、導電性部材109aとともにDC電源112に接
続されている。基板110および/または導電性部材1
09aは、電気的に接地されている。
酸化亜鉛薄膜堆積時に陽極となる対向電極111が設置
され、導電性部材109aとともにDC電源112に接
続されている。基板110および/または導電性部材1
09aは、電気的に接地されている。
【0032】なお、酸化亜鉛堆積浴103c中の少なく
とも亜鉛イオンと硝酸イオン、さらにサッカロースまた
はデキストリンを含有してなる水溶液は、不図示の予備
槽により所望の温度に昇温され、不図示のポンプで水溶
液の液面が所望の高さを維持するように酸化亜鉛堆積浴
103cへと循環、供給される。
とも亜鉛イオンと硝酸イオン、さらにサッカロースまた
はデキストリンを含有してなる水溶液は、不図示の予備
槽により所望の温度に昇温され、不図示のポンプで水溶
液の液面が所望の高さを維持するように酸化亜鉛堆積浴
103cへと循環、供給される。
【0033】(電解析出による酸化亜鉛薄膜の堆積方
法)次に、本発明の酸化亜鉛薄膜の堆積方法を、例えば
図1に示す堆積装置を用いて説明する。図1において、
送り出しローラー101に巻き付けられた基板110
は、図示するような経路で搬送され、蛇行修正ローラー
108により基板110の僅かなずれを修正しながら、
巻き取りローラー102に整然と巻き取られる。
法)次に、本発明の酸化亜鉛薄膜の堆積方法を、例えば
図1に示す堆積装置を用いて説明する。図1において、
送り出しローラー101に巻き付けられた基板110
は、図示するような経路で搬送され、蛇行修正ローラー
108により基板110の僅かなずれを修正しながら、
巻き取りローラー102に整然と巻き取られる。
【0034】基板110は、給電室103a内の導電性
部材109aに接触し、これが陰極、対向電極111が
陽極となるように、DC電源112により直流電力を印
可する。このとき、導電性部材109aと基板110と
の接触をより確実なものとするために、少なくとも硝酸
イオンを含む水溶液をシャワー109bから吹き付け
る。また、基板110の表面および裏面が乾燥しないよ
うに、上記の水溶液をシャワー109c、109dから
吹き付ける。
部材109aに接触し、これが陰極、対向電極111が
陽極となるように、DC電源112により直流電力を印
可する。このとき、導電性部材109aと基板110と
の接触をより確実なものとするために、少なくとも硝酸
イオンを含む水溶液をシャワー109bから吹き付け
る。また、基板110の表面および裏面が乾燥しないよ
うに、上記の水溶液をシャワー109c、109dから
吹き付ける。
【0035】導電性部材109aは、少なくとも基板1
10と接する部分が導電性であればよく、例えば、ステ
ンレス鋼、表面を金、白金等でめっきしたもの、樹脂や
ゴム等に導電性のカーボン等の粉末等を分散させた導電
性樹脂、およびゴムなどが用いられる。また、導電性部
材109aの形状も特に限定されず、例えば、棒状のも
の、ローラーなどが用いられる。ローラーを用いる場合
には、基板の搬送速度に同期させて、ローラーを回転駆
動させても構わない。
10と接する部分が導電性であればよく、例えば、ステ
ンレス鋼、表面を金、白金等でめっきしたもの、樹脂や
ゴム等に導電性のカーボン等の粉末等を分散させた導電
性樹脂、およびゴムなどが用いられる。また、導電性部
材109aの形状も特に限定されず、例えば、棒状のも
の、ローラーなどが用いられる。ローラーを用いる場合
には、基板の搬送速度に同期させて、ローラーを回転駆
動させても構わない。
【0036】シャワー109bから吹き付けられる水溶
液の硝酸イオン濃度は、0.004mol/l〜6.0
mol/l、好ましくは0.01mol/l〜1.5m
ol/l、さらに好ましくは0.1mol/l〜1.4
mol/lである。この水溶液には、後述する電解析出
水溶液と同じ水溶液を採用してもよい。この場合、給電
室103aの排水経路を不図示の予備槽に直接戻して循
環させることにより、効率良く電解析出水溶液を利用す
ることができる。
液の硝酸イオン濃度は、0.004mol/l〜6.0
mol/l、好ましくは0.01mol/l〜1.5m
ol/l、さらに好ましくは0.1mol/l〜1.4
mol/lである。この水溶液には、後述する電解析出
水溶液と同じ水溶液を採用してもよい。この場合、給電
室103aの排水経路を不図示の予備槽に直接戻して循
環させることにより、効率良く電解析出水溶液を利用す
ることができる。
【0037】シャワー109c、dから吹き付けられる
水溶液は、長尺の導電性基板の両面が乾燥しないもので
あれば、どのような液を、どのように吹き付けても構わ
ない。しかしながら、不純物の混入などを避けるため、
純水、少なくとも硝酸イオンを含む水溶液、後述する電
解析出水溶液と同じ水溶液等を用いることが好ましい。
後述する電解析出水溶液と同じ水溶液等を採用する場合
には、給電室103aの排水経路とオーバーフロー室1
03bの排水経路とを分離する必要がなく、ともに不図
示の予備槽にもどして循環させることにより、効率良く
電解析出水溶液を利用することができる。
水溶液は、長尺の導電性基板の両面が乾燥しないもので
あれば、どのような液を、どのように吹き付けても構わ
ない。しかしながら、不純物の混入などを避けるため、
純水、少なくとも硝酸イオンを含む水溶液、後述する電
解析出水溶液と同じ水溶液等を用いることが好ましい。
後述する電解析出水溶液と同じ水溶液等を採用する場合
には、給電室103aの排水経路とオーバーフロー室1
03bの排水経路とを分離する必要がなく、ともに不図
示の予備槽にもどして循環させることにより、効率良く
電解析出水溶液を利用することができる。
【0038】また、図1に示すように、給電室103a
と酸化亜鉛堆積浴103cとが一体的に形成された装置
では、特に、高温下で長時間にわたって長尺の導電性基
板上に酸化亜鉛薄膜を形成する場合に、シャワー109
c、dから基板へ水溶液を吹き付けて、その表面の乾燥
を防止することが重要である。これは、乾燥により基板
表面にムラが発生することがあるからである。
と酸化亜鉛堆積浴103cとが一体的に形成された装置
では、特に、高温下で長時間にわたって長尺の導電性基
板上に酸化亜鉛薄膜を形成する場合に、シャワー109
c、dから基板へ水溶液を吹き付けて、その表面の乾燥
を防止することが重要である。これは、乾燥により基板
表面にムラが発生することがあるからである。
【0039】また、乾燥する際に、うっすらと白い膜が
析出し、それが水溶液中まで搬送されて液を汚してしま
う場合があるからである。さらに、水蒸気が結露して基
板上に付いたままで乾燥することがあり、それがムラと
なるからである。
析出し、それが水溶液中まで搬送されて液を汚してしま
う場合があるからである。さらに、水蒸気が結露して基
板上に付いたままで乾燥することがあり、それがムラと
なるからである。
【0040】これらのムラや溶液の汚れが、酸化亜鉛薄
膜堆積中にミクロンオーダーを超えるような針状、球
状、樹枝上などの形状をした異常成長を生成する場合も
あり、この酸化亜鉛薄膜を光起電力素子の一部として用
いると、基板表面のムラや異常成長が光起電力素子のシ
ャントパスを誘発する原因となる。
膜堆積中にミクロンオーダーを超えるような針状、球
状、樹枝上などの形状をした異常成長を生成する場合も
あり、この酸化亜鉛薄膜を光起電力素子の一部として用
いると、基板表面のムラや異常成長が光起電力素子のシ
ャントパスを誘発する原因となる。
【0041】酸化亜鉛堆積浴103c内には、少なくと
も硝酸イオン、亜鉛イオン、サッカロースまたはデキス
トリンを含む電解析出水溶液が収容されている。この電
解析出水溶液の亜鉛イオン濃度は、0.002mol/
l〜3.0mol/l、好ましくは0.01mol/l
〜1.5mol/l、さらに好ましくは0.05mol
/l〜0.7mol/lである。
も硝酸イオン、亜鉛イオン、サッカロースまたはデキス
トリンを含む電解析出水溶液が収容されている。この電
解析出水溶液の亜鉛イオン濃度は、0.002mol/
l〜3.0mol/l、好ましくは0.01mol/l
〜1.5mol/l、さらに好ましくは0.05mol
/l〜0.7mol/lである。
【0042】また、硝酸イオン濃度は、0.004mo
l/l〜6.0mol/l、好ましくは0.01mol
/l〜1.5mol/l、さらに好ましくは0.1mo
l/l〜1.4mol/lである。
l/l〜6.0mol/l、好ましくは0.01mol
/l〜1.5mol/l、さらに好ましくは0.1mo
l/l〜1.4mol/lである。
【0043】さらに、サッカロースの濃度は、1g/l
〜500g/l、さらに好ましくは3g/l〜100g
/lであり、デキストリンの濃度は、0.01g/l〜
10g/l、さらに好ましくは0.025g/l〜1g
/lである。
〜500g/l、さらに好ましくは3g/l〜100g
/lであり、デキストリンの濃度は、0.01g/l〜
10g/l、さらに好ましくは0.025g/l〜1g
/lである。
【0044】電解析出水溶液の濃度をこのように調整す
ることで、光閉じ込め効果に適したテクスチャー構造の
酸化亜鉛薄膜を効率よく堆積することができる。
ることで、光閉じ込め効果に適したテクスチャー構造の
酸化亜鉛薄膜を効率よく堆積することができる。
【0045】DC電源112は、一定の電流を流すよう
に制御されている。ここでの電流は0.1mA/cm2
〜100mA/cm2、好ましくは1mA/cm2〜30
mA/cm2、さらに好ましくは3mA/cm2〜15m
A/cm2である。溶液温度は、50℃以上とすること
で、異常成長の少ない均一な酸化亜鉛薄膜を効率よく堆
積することができる。
に制御されている。ここでの電流は0.1mA/cm2
〜100mA/cm2、好ましくは1mA/cm2〜30
mA/cm2、さらに好ましくは3mA/cm2〜15m
A/cm2である。溶液温度は、50℃以上とすること
で、異常成長の少ない均一な酸化亜鉛薄膜を効率よく堆
積することができる。
【0046】図2は、このようにして堆積される酸化亜
鉛薄膜を有する本発明の光起電力素子の断面構造を模式
的に示す概略図である。図2において、201は支持
体、202は金属層、203は六方晶系多結晶からなる
酸化亜鉛の透明導電層、204は半導体層、205は透
明電極、206は集電電極である。
鉛薄膜を有する本発明の光起電力素子の断面構造を模式
的に示す概略図である。図2において、201は支持
体、202は金属層、203は六方晶系多結晶からなる
酸化亜鉛の透明導電層、204は半導体層、205は透
明電極、206は集電電極である。
【0047】支持体201と金属層202が本発明でい
う光反射性の金属基板を形成している。なお、透明基板
側から光が入射する構成の場合、基板を除いて各層が逆
の順序で形成される。
う光反射性の金属基板を形成している。なお、透明基板
側から光が入射する構成の場合、基板を除いて各層が逆
の順序で形成される。
【0048】次に本発明の光起電力素子の各構成要素に
付いて説明する。
付いて説明する。
【0049】(基体)基体201としては、ステンレス
鋼板、鋼板、銅板、真鍮板、アルミニウム板等の金属
板、または導電性材料をコーティングした樹脂、ガラ
ス、セラミックス等が用いられる。基体の表面には、微
細な凹凸を有していてもよい。透明基板を用いて、基板
側から光が入射する構成としてもよい。
鋼板、鋼板、銅板、真鍮板、アルミニウム板等の金属
板、または導電性材料をコーティングした樹脂、ガラ
ス、セラミックス等が用いられる。基体の表面には、微
細な凹凸を有していてもよい。透明基板を用いて、基板
側から光が入射する構成としてもよい。
【0050】また、基体を長尺のシート状の形状にする
ことによって、コイル状に巻くことができるので、連続
成膜に対応させることができ、保管や輸送も容易にな
る。特に、ステンレス、ポリイミド等は、可撓性を有す
るため好適である。
ことによって、コイル状に巻くことができるので、連続
成膜に対応させることができ、保管や輸送も容易にな
る。特に、ステンレス、ポリイミド等は、可撓性を有す
るため好適である。
【0051】(金属層)金属層202は、電極としての
役割と、基体にまで到達した光を反射して半導体層で再
利用させる反射層としての役割がある。Al、Cu、A
g、Auなどを蒸着法、スパッタリング法、電解析出
法、印刷等の方法で形成する。
役割と、基体にまで到達した光を反射して半導体層で再
利用させる反射層としての役割がある。Al、Cu、A
g、Auなどを蒸着法、スパッタリング法、電解析出
法、印刷等の方法で形成する。
【0052】金属層の表面に凹凸を有することにより、
反射光の半導体層内での光路長を延ばし、短絡電流を増
大させる作用がある。
反射光の半導体層内での光路長を延ばし、短絡電流を増
大させる作用がある。
【0053】基体自体が導電性を有する場合には、金属
層は形成しなくてもよい。
層は形成しなくてもよい。
【0054】(透明導電層)透明導電層203は、入射
光及び反射光の乱反射を増大し、反射層内での光路長を
延ばす。また、金属層の元素が半導体層への拡散あるい
はマグレーションを起こし、光起電力素子がシャントす
ることを防止する。さらに、適度な抵抗を持つことによ
り、半導体層のピンホール等の欠陥によるショートを防
止する。
光及び反射光の乱反射を増大し、反射層内での光路長を
延ばす。また、金属層の元素が半導体層への拡散あるい
はマグレーションを起こし、光起電力素子がシャントす
ることを防止する。さらに、適度な抵抗を持つことによ
り、半導体層のピンホール等の欠陥によるショートを防
止する。
【0055】さらに、金属層と同様にその表面に凹凸を
有していることが好ましい。透明導電層203は、Zn
O、ITO等の導電性酸化物を蒸着法、スパッタリング
法、CVD法、電解析出法等の方法を用いて形成され
る。本実施形態では、装置コストおよび材料コストの安
価な電解析出法を用いている。
有していることが好ましい。透明導電層203は、Zn
O、ITO等の導電性酸化物を蒸着法、スパッタリング
法、CVD法、電解析出法等の方法を用いて形成され
る。本実施形態では、装置コストおよび材料コストの安
価な電解析出法を用いている。
【0056】(半導体層)半導体層の材料としては、ア
モルファスあるいは微結晶のSi、C、Ge、またはこ
れらの合金である。同時に、水素および/またはハロゲ
ン原子が含有される。その好ましい含有量は、0.1〜
40原子%である。さらに酸素、窒素などを含有しても
よい。これらの不純物濃度は、5×1019cm-3以下が
望ましい。さらに、p型半導体とするにはIII属元
素、n型半導体とするにはV属元素を含有する。
モルファスあるいは微結晶のSi、C、Ge、またはこ
れらの合金である。同時に、水素および/またはハロゲ
ン原子が含有される。その好ましい含有量は、0.1〜
40原子%である。さらに酸素、窒素などを含有しても
よい。これらの不純物濃度は、5×1019cm-3以下が
望ましい。さらに、p型半導体とするにはIII属元
素、n型半導体とするにはV属元素を含有する。
【0057】スタックセルの場合、光入射側に近いpi
n接合のi型半導体層はバンドギャップが広く、遠いp
in接合になるにしたがいバンドギャップが狭くなるの
が好ましい。また、i層の内部ではその膜厚の中央より
もp層寄りにバンドギャップの極小値があるのが好まし
い。
n接合のi型半導体層はバンドギャップが広く、遠いp
in接合になるにしたがいバンドギャップが狭くなるの
が好ましい。また、i層の内部ではその膜厚の中央より
もp層寄りにバンドギャップの極小値があるのが好まし
い。
【0058】光入射側のドープ層は、光吸収の少ない結
晶性の半導体か、またはバンドギャップの広い半導体が
適している。
晶性の半導体か、またはバンドギャップの広い半導体が
適している。
【0059】半導体層を形成するには、マイクロ波(M
W)、プラズマCVD法または高周波(RF)CVD法
が適している。
W)、プラズマCVD法または高周波(RF)CVD法
が適している。
【0060】この半導体堆積技術としては、特開平4−
119843号公報に開示されている「i層はGrad
ed SiGeでGe組成20〜70atm%」などを
用いることができる。
119843号公報に開示されている「i層はGrad
ed SiGeでGe組成20〜70atm%」などを
用いることができる。
【0061】(透明電極)透明電極207は、その膜厚
を適当に設定することにより反射防止膜の役割を兼ねる
ことが出来る。透明電極207は、ITO、ZnO、I
nO3等の材料を、蒸着法、CVD法、スプレー法、ス
ピオン法、浸漬法などの方法を用いて形成される。これ
らの化合物に導電率を変化させる物質を含有してもよ
い。
を適当に設定することにより反射防止膜の役割を兼ねる
ことが出来る。透明電極207は、ITO、ZnO、I
nO3等の材料を、蒸着法、CVD法、スプレー法、ス
ピオン法、浸漬法などの方法を用いて形成される。これ
らの化合物に導電率を変化させる物質を含有してもよ
い。
【0062】(集電電極)集電電極208は、集電効率
を向上させるために設けられる。その形成方法として、
マスクを用いてスパッタによって電極パターンの金属を
形成する方法や、導電性ペーストあるいは半田ペースト
を印刷する方法、金属線を導電性ペーストで固着する方
法などがある。
を向上させるために設けられる。その形成方法として、
マスクを用いてスパッタによって電極パターンの金属を
形成する方法や、導電性ペーストあるいは半田ペースト
を印刷する方法、金属線を導電性ペーストで固着する方
法などがある。
【0063】なお、必要に応じて光起電力素子の両面に
保護層を形成することがある。同時に、鋼板等の補強材
を使用してもよい。
保護層を形成することがある。同時に、鋼板等の補強材
を使用してもよい。
【0064】
【実施例】以下に、本発明の好適な実施例を詳細に説明
するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものでは
ない。
するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものでは
ない。
【0065】(実施例1)実施例1は、図1に示した堆
積装置を用いて、酸化亜鉛薄膜の堆積を行った。すなわ
ち、幅120mm、長さ100m、厚さ0.15mmの
ステンレス鋼(SUS430BA)製の長尺の導電性基
板110を、送り出しローラー101に装着し、図示す
る経路に沿って、基板110を搬送速度200cm/m
inで搬送し、巻き取りローラー102に巻き取る。
積装置を用いて、酸化亜鉛薄膜の堆積を行った。すなわ
ち、幅120mm、長さ100m、厚さ0.15mmの
ステンレス鋼(SUS430BA)製の長尺の導電性基
板110を、送り出しローラー101に装着し、図示す
る経路に沿って、基板110を搬送速度200cm/m
inで搬送し、巻き取りローラー102に巻き取る。
【0066】酸化亜鉛の堆積に用いる電解析出水溶液
は、水1リットル中に硝酸亜鉛・6水塩60g、デキス
トリン0.1gを含んでおり、不図示の予備槽にて予め
53℃に昇温され、不図示のポンプで電解析出槽へと循
環、供給される。このとき、電解析出水溶液の液温は5
0℃に保持され、pHは4.0〜6.4に保持されてい
る。この水溶液は、温度むら、濃度むら等をできるだけ
少なくするために、エアー攪拌を行った。
は、水1リットル中に硝酸亜鉛・6水塩60g、デキス
トリン0.1gを含んでおり、不図示の予備槽にて予め
53℃に昇温され、不図示のポンプで電解析出槽へと循
環、供給される。このとき、電解析出水溶液の液温は5
0℃に保持され、pHは4.0〜6.4に保持されてい
る。この水溶液は、温度むら、濃度むら等をできるだけ
少なくするために、エアー攪拌を行った。
【0067】陽極の対向電極111には表面をバフ研磨
した亜鉛を用いており、陰極には表面がステンレス製の
給電ローラーを導電性部材109aとして用いている。
シャワー109bから給電ローラーの全面に電解析出水
溶液と同じ水溶液が均一にうっすらとかかるように、不
図示のバルブを調整してより供給した。
した亜鉛を用いており、陰極には表面がステンレス製の
給電ローラーを導電性部材109aとして用いている。
シャワー109bから給電ローラーの全面に電解析出水
溶液と同じ水溶液が均一にうっすらとかかるように、不
図示のバルブを調整してより供給した。
【0068】このとき、給電ローラーと対向電極との間
で、5.0mA/cm2(0.5A/dm2)の電流密度
が一定に維持されるように通電し、電解析出を行った。
このように、陰極である給電ローラーの表面にうっすら
と水溶液を供給してやることにより、給電ローラーと導
電性基板との電気的な接触が十分となり電解析出中にお
ける電圧降下は全く見られなかった。なお、本実施例で
は、図1に示したシャワー109c、dは使用しなかっ
た。
で、5.0mA/cm2(0.5A/dm2)の電流密度
が一定に維持されるように通電し、電解析出を行った。
このように、陰極である給電ローラーの表面にうっすら
と水溶液を供給してやることにより、給電ローラーと導
電性基板との電気的な接触が十分となり電解析出中にお
ける電圧降下は全く見られなかった。なお、本実施例で
は、図1に示したシャワー109c、dは使用しなかっ
た。
【0069】その後、長尺の導電性基板110は、シャ
ワー洗浄槽104、水洗槽105で順に水洗された後、
エアーナイフ106で水切りが行われ、乾燥ヒーター1
07で乾燥され、金属層202、酸化亜鉛の透明導電層
203を形成した基板として巻き取りローラー102に
巻き取られる。
ワー洗浄槽104、水洗槽105で順に水洗された後、
エアーナイフ106で水切りが行われ、乾燥ヒーター1
07で乾燥され、金属層202、酸化亜鉛の透明導電層
203を形成した基板として巻き取りローラー102に
巻き取られる。
【0070】このようにして得られた酸化亜鉛薄膜の膜
厚は、長尺の導電性基板の長手方向、幅方向の全面にわ
たって、1.50±0.07μmと均一であった。
厚は、長尺の導電性基板の長手方向、幅方向の全面にわ
たって、1.50±0.07μmと均一であった。
【0071】(比較例1)シャワー109bから給電ロ
ーラーヘの水溶液の供給を停止した以外は、実施例1と
同様に酸化亜鉛薄膜を堆積した。
ーラーヘの水溶液の供給を停止した以外は、実施例1と
同様に酸化亜鉛薄膜を堆積した。
【0072】酸化亜鉛薄膜の堆積後、基板表面を観察す
ると、所々に明らかに膜厚が薄い部分が見られた。この
部分の膜厚を数ヶ所測ると、5000Å、7000Å、
1μm等の値が得られた。また、場所によっては薄過ぎ
て、光学的測定により膜厚を求めることはできなかっ
た。
ると、所々に明らかに膜厚が薄い部分が見られた。この
部分の膜厚を数ヶ所測ると、5000Å、7000Å、
1μm等の値が得られた。また、場所によっては薄過ぎ
て、光学的測定により膜厚を求めることはできなかっ
た。
【0073】これらは、酸化亜鉛の堆積中に、給電ロー
ラーと導電性基板の電気的接触が不十分になることがあ
り、基板への通電が不十分になり、実施例1のように均
一な膜厚が長尺の導電性基板の全面にわたって得られな
かったものと思われる。
ラーと導電性基板の電気的接触が不十分になることがあ
り、基板への通電が不十分になり、実施例1のように均
一な膜厚が長尺の導電性基板の全面にわたって得られな
かったものと思われる。
【0074】(実施例2)実施例2は、図3に示す堆積
装置を用いて、酸化亜鉛薄膜の堆積を行った。図3にお
いて、幅120mm、長さ100m、厚さ0.15mm
のステンレス鋼(SUS430BA)製の長尺の導電性
基板310を、送り出しローラー301に装着し、図示
する経路に沿って、基板310を搬送速度300cm/
minで搬送し、巻き取りローラー302に巻き取る。
装置を用いて、酸化亜鉛薄膜の堆積を行った。図3にお
いて、幅120mm、長さ100m、厚さ0.15mm
のステンレス鋼(SUS430BA)製の長尺の導電性
基板310を、送り出しローラー301に装着し、図示
する経路に沿って、基板310を搬送速度300cm/
minで搬送し、巻き取りローラー302に巻き取る。
【0075】酸化亜鉛の堆積に用いる電解析出水溶液
は、水1リットル中に硝酸亜鉛・6水塩65g、デキス
トリン0.2gを含んでおり、不図示の予備槽にて予め
75℃に昇温され、不図示のポンプで電解析出槽303
へと循環、供給される。
は、水1リットル中に硝酸亜鉛・6水塩65g、デキス
トリン0.2gを含んでおり、不図示の予備槽にて予め
75℃に昇温され、不図示のポンプで電解析出槽303
へと循環、供給される。
【0076】このとき、電解析出水溶液の温度は72℃
に保持され、pHは4.0〜6.4に保持されている。
この水溶液は、温度むら、濃度むら等をできるだけ少な
くするために、エアー攪拌を行った。
に保持され、pHは4.0〜6.4に保持されている。
この水溶液は、温度むら、濃度むら等をできるだけ少な
くするために、エアー攪拌を行った。
【0077】陽極の対向電極311には表面をバフ研磨
した亜鉛を用いており、陰極には表面がステンレス製の
給電ローラーを導電性部材309aとして用いた。給電
ローラーと対向電極との間で5.0mA/cm2(0.
5A/dm2)の電流密度が一定に維持されるようにD
C電源312から通電し、電解析出を行った。
した亜鉛を用いており、陰極には表面がステンレス製の
給電ローラーを導電性部材309aとして用いた。給電
ローラーと対向電極との間で5.0mA/cm2(0.
5A/dm2)の電流密度が一定に維持されるようにD
C電源312から通電し、電解析出を行った。
【0078】このとき、シャワー309bから給電ロー
ラーの全面へ硝酸イオン濃度が0.2mol/lの水溶
液が均一にうっすらとかかるように不図示のバルブを調
整して供給した。このように、陰極である給電ローラー
の表面にうっすらと水溶液を供給してやることにより給
電ローラーと導電性基板との電気的な接触が十分とな
り、電解析出中における電圧降下は全く見られなかっ
た。
ラーの全面へ硝酸イオン濃度が0.2mol/lの水溶
液が均一にうっすらとかかるように不図示のバルブを調
整して供給した。このように、陰極である給電ローラー
の表面にうっすらと水溶液を供給してやることにより給
電ローラーと導電性基板との電気的な接触が十分とな
り、電解析出中における電圧降下は全く見られなかっ
た。
【0079】その後、シャワー洗浄槽304、水洗槽3
05で順に水洗された後、エアーナイフ306で水切り
が行われ、乾燥ヒーター307で乾燥され、金属層20
2、酸化亜鉛の透明導電層203を形成した基板として
巻き取りローラー302に巻き取られる。このようにし
て得られた酸化亜鉛薄膜の膜厚は、長尺の導電性基板の
長手方向、幅方向の全面にわたって、1.70±0.0
8μmと均一であった。
05で順に水洗された後、エアーナイフ306で水切り
が行われ、乾燥ヒーター307で乾燥され、金属層20
2、酸化亜鉛の透明導電層203を形成した基板として
巻き取りローラー302に巻き取られる。このようにし
て得られた酸化亜鉛薄膜の膜厚は、長尺の導電性基板の
長手方向、幅方向の全面にわたって、1.70±0.0
8μmと均一であった。
【0080】なお、図3において、303aは給電室で
あり、電解析出槽303と一体的に形成されている。
あり、電解析出槽303と一体的に形成されている。
【0081】(実施例3)実施例3は、図1に示した堆
積装置を用いて、酸化亜鉛薄膜の堆積を行った。本実施
例では、幅120mm、長さ100m、厚さ0.15m
mのステンレス鋼(SUS430BA)上にDCマグネ
トロンスパッタ法によりアルミニウムを2000Å堆積
し、その上にDCマグネトロンスパッタ法により酸化亜
鉛を1000Å堆積したものを長尺の導電性基板110
として用いた。これを、送り出しローラー101に装着
し、図示する経路に沿って、基板110を搬送速度20
0cm/minで搬送し、巻き取りローラー102に巻
き取る。
積装置を用いて、酸化亜鉛薄膜の堆積を行った。本実施
例では、幅120mm、長さ100m、厚さ0.15m
mのステンレス鋼(SUS430BA)上にDCマグネ
トロンスパッタ法によりアルミニウムを2000Å堆積
し、その上にDCマグネトロンスパッタ法により酸化亜
鉛を1000Å堆積したものを長尺の導電性基板110
として用いた。これを、送り出しローラー101に装着
し、図示する経路に沿って、基板110を搬送速度20
0cm/minで搬送し、巻き取りローラー102に巻
き取る。
【0082】酸化亜鉛の堆積に用いる電解析出水溶液
は、水1リットル中に硝酸亜鉛・6水塩70g、デキス
トリン0.5gを含んでおり、不図示の予備槽にて予め
90℃に昇温され、不図示のポンプで電解析出槽103
へ循環、供給される。
は、水1リットル中に硝酸亜鉛・6水塩70g、デキス
トリン0.5gを含んでおり、不図示の予備槽にて予め
90℃に昇温され、不図示のポンプで電解析出槽103
へ循環、供給される。
【0083】このとき、電解析出水溶液の温度は85℃
に保持され、pHは4.0〜6.0に保持されている。
この水溶液は、温度むら、濃度むら等をできるだけ少な
くするために、エアー攪拌を行った。
に保持され、pHは4.0〜6.0に保持されている。
この水溶液は、温度むら、濃度むら等をできるだけ少な
くするために、エアー攪拌を行った。
【0084】陽極の対向電極111には表面をバフ研磨
した亜鉛を用い、陰極には表面がステンレス製の給電ロ
ーラーを導電性部材109aとして用いた。シャワー1
09bから給電ローラーの全面に電解析出水溶液と同じ
水溶液が均一にうっすらとかかるように、不図示のバル
ブを調整して供給した。
した亜鉛を用い、陰極には表面がステンレス製の給電ロ
ーラーを導電性部材109aとして用いた。シャワー1
09bから給電ローラーの全面に電解析出水溶液と同じ
水溶液が均一にうっすらとかかるように、不図示のバル
ブを調整して供給した。
【0085】このとき、給電ローラーと対向電極との間
で5.0mA/cm2(0.5A/dm2)の電流密度が
一定に維持されるように通電し、電解析出を行った。こ
のように、陰極である給電ローラーの表面にうっすらと
水溶液を供給してやることにより、給電ローラーと導電
性基板との電気的な接触が充分となり、電解析出中にお
ける電圧降下は全く見られなかった。
で5.0mA/cm2(0.5A/dm2)の電流密度が
一定に維持されるように通電し、電解析出を行った。こ
のように、陰極である給電ローラーの表面にうっすらと
水溶液を供給してやることにより、給電ローラーと導電
性基板との電気的な接触が充分となり、電解析出中にお
ける電圧降下は全く見られなかった。
【0086】さらに、給電ローラーと導電性基板とが接
触する位置と、導電性基板が酸化亜鉛堆積浴103cに
到達する位置との途中にあるシャワー109c、dから
純水を不図示のバルブによって流量を調整しながら供給
し、導電性基板の表面が乾燥しないようにする。
触する位置と、導電性基板が酸化亜鉛堆積浴103cに
到達する位置との途中にあるシャワー109c、dから
純水を不図示のバルブによって流量を調整しながら供給
し、導電性基板の表面が乾燥しないようにする。
【0087】その後、シャワー洗浄槽104、水洗槽1
05で順に水洗された後、エアーナイフ106で水切り
が行われ、乾燥ヒータ107で乾燥されて、金属層20
2、酸化亜鉛の透明導電層203を形成した基板として
巻き取りローラー102に巻き取られる。
05で順に水洗された後、エアーナイフ106で水切り
が行われ、乾燥ヒータ107で乾燥されて、金属層20
2、酸化亜鉛の透明導電層203を形成した基板として
巻き取りローラー102に巻き取られる。
【0088】このようにして支持体201上に金属層2
02と酸化亜鉛の透明導電層203とを形成したものを
基板として、トリプル構造の半導体層204をロール対
応のCVD装置により形成した。
02と酸化亜鉛の透明導電層203とを形成したものを
基板として、トリプル構造の半導体層204をロール対
応のCVD装置により形成した。
【0089】すなわち、まずシランとフォスフィンと水
素の混合ガスを用い、支持体201上に金属層202と
透明導電層203とを形成した基板を340℃に加熱
し、400WのRFパワーを投入してn型半導体層を形
成した。
素の混合ガスを用い、支持体201上に金属層202と
透明導電層203とを形成した基板を340℃に加熱
し、400WのRFパワーを投入してn型半導体層を形
成した。
【0090】次に、シランとゲルマンと水素の混合ガス
を用い、基板温度を450℃としてマイクロ波パワーを
投入してi型半導体層を形成した。
を用い、基板温度を450℃としてマイクロ波パワーを
投入してi型半導体層を形成した。
【0091】さらに、基板温度を250℃として、三フ
ッ化ボロンとシランと水素の混合ガスからp型半導体層
を形成し、ボトムnip層とした。
ッ化ボロンとシランと水素の混合ガスからp型半導体層
を形成し、ボトムnip層とした。
【0092】続いて、i型半導体層におけるシランとゲ
ルマンの混合比を増やし、同様の手順にて、ミドルni
p層を形成し、さらにに同様の手順でi型半導体層をシ
ランと水素から堆積してトップnip層を形成した。
ルマンの混合比を増やし、同様の手順にて、ミドルni
p層を形成し、さらにに同様の手順でi型半導体層をシ
ランと水素から堆積してトップnip層を形成した。
【0093】その後、ロール対応のスパッタリング装置
により、ITOを透明電極層205として堆積せしめ
た。そして、銀ペーストで集電電極層206を作成し
た。
により、ITOを透明電極層205として堆積せしめ
た。そして、銀ペーストで集電電極層206を作成し
た。
【0094】こうして得られた光起電力素子をソーラー
シュミレーター(AM1.5、100mW/cm2、表
面温度25℃)を用いて、短絡電流密度、変換効率を測
定した結果、23〜25mA/cm2、9.5〜10.
5%の特性に優れた光起電力素子が、長尺の導電性基板
の長手方向、幅方向の全面にわたって得られた。
シュミレーター(AM1.5、100mW/cm2、表
面温度25℃)を用いて、短絡電流密度、変換効率を測
定した結果、23〜25mA/cm2、9.5〜10.
5%の特性に優れた光起電力素子が、長尺の導電性基板
の長手方向、幅方向の全面にわたって得られた。
【0095】(比較例実施例1)シャワー109c、d
から基板表面への水溶液の供給を停止した以外は、実施
例3と同様に酸化亜鉛薄膜を堆積した。
から基板表面への水溶液の供給を停止した以外は、実施
例3と同様に酸化亜鉛薄膜を堆積した。
【0096】酸化亜鉛薄膜の唯積後、基板表面を観察す
ると、所々に白い斑点状の模様が見られた。これは、給
電ローラーに85℃の高温の水溶液を吹き付けたため
に、基板表面の一部分で水溶液が乾燥してムラができ、
その上に酸化亜鉛薄膜が形成される際に、白い斑点模様
になったためと思われる。
ると、所々に白い斑点状の模様が見られた。これは、給
電ローラーに85℃の高温の水溶液を吹き付けたため
に、基板表面の一部分で水溶液が乾燥してムラができ、
その上に酸化亜鉛薄膜が形成される際に、白い斑点模様
になったためと思われる。
【0097】こうして得られた酸化亜鉛薄膜上に実施例
3と同様に半導体層等を形成して光起電力素子を作製
し、特性を評価したが、斑点模様の上に形成した光起電
力素子はシャントしてしまい、特性を測定することがで
きなかった。
3と同様に半導体層等を形成して光起電力素子を作製
し、特性を評価したが、斑点模様の上に形成した光起電
力素子はシャントしてしまい、特性を測定することがで
きなかった。
【0098】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
水溶液から電解析出により長尺の導電性基体上に酸化亜
鉛薄膜等の酸化物薄膜を連続的に形成することができ
る。その際に、導電性部材と基体の裏面との電気的な接
触が確実になることにより、電圧が降下することなく、
導電性基体の長さ方向、幅方向の全面にわたって均一か
つ安定的に酸化物薄膜を堆積することができる。
水溶液から電解析出により長尺の導電性基体上に酸化亜
鉛薄膜等の酸化物薄膜を連続的に形成することができ
る。その際に、導電性部材と基体の裏面との電気的な接
触が確実になることにより、電圧が降下することなく、
導電性基体の長さ方向、幅方向の全面にわたって均一か
つ安定的に酸化物薄膜を堆積することができる。
【0099】また、導電性部材が基体と接触する位置と
基体が水溶液に浸漬する位置との間で、基体の両面に給
水するすることにより、特に、高温下で長時間にわたり
長尺の導電性基体上に酸化亜鉛薄膜を形成する場合に、
導電性基体の表面にムラや異常成長を生成させることな
く酸化物薄膜を堆積することができる。
基体が水溶液に浸漬する位置との間で、基体の両面に給
水するすることにより、特に、高温下で長時間にわたり
長尺の導電性基体上に酸化亜鉛薄膜を形成する場合に、
導電性基体の表面にムラや異常成長を生成させることな
く酸化物薄膜を堆積することができる。
【0100】さらに、この酸化物薄膜の作成技術を透明
導電層として光起電力素子の作製プロセスに導入するこ
とにより、短絡電流密度、変換効率の増加等の特性を向
上させることができる。また、スパッタリング法や蒸着
法に比べて、材料コスト、ランニングコストが約100
分の1と非常に有利であるため、太陽光発電の本格的な
普及に寄与することができる。
導電層として光起電力素子の作製プロセスに導入するこ
とにより、短絡電流密度、変換効率の増加等の特性を向
上させることができる。また、スパッタリング法や蒸着
法に比べて、材料コスト、ランニングコストが約100
分の1と非常に有利であるため、太陽光発電の本格的な
普及に寄与することができる。
【図1】本発明による酸化亜鉛薄膜の堆積装置の一例を
模式的に示す概略図である。
模式的に示す概略図である。
【図2】本発明の光起電力素子の断面構造を模式的に示
す概略図である。
す概略図である。
【図3】本発明による酸化亜鉛薄膜の堆積装置の他例を
模式的に示す概略図である。
模式的に示す概略図である。
101 送り出しローラー 102 巻き取りローラー 103 電解析出槽 103a 給電室 103b オーバーフロー室 103c 酸化亜鉛堆積浴 104 シャワー洗浄槽 105 水洗槽 106 エアーナイフ 107 乾燥ヒーター 108 蛇行修正ローラー 109a 導電性部材 109b、109c、109d シャワー 110 導電性基板 111 対向電極 112 DC電源 201 支持体 202 金属層 203 透明導電層 204 半導体層 205 透明電極層 206 集電電極層 301 送り出しローラー 302 巻き取りローラー 303 電解析出槽 303a 給電室 303b オーバーフロー室 303c 酸化亜鉛堆積浴 304 シャワー洗浄槽 305 水洗槽 306 エアーナイフ 307 乾燥ヒーター 308 蛇行修正ローラー 309a 導電性部材 309b シャワー 310 導電性基板 311 対向電極 312 DC電源
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // H01L 21/288 H01L 21/288 E
Claims (36)
- 【請求項1】 水溶液中で導電性基体と電極とに通電し
て、基体上に酸化物薄膜を形成する電解析出槽におい
て、 基体の裏面に接触して給電する導電性部材に、その表面
に水または水溶液を供給する液供給手段が備えられてい
ることを特徴とする電解析出槽。 - 【請求項2】 液供給手段から供給される水溶液が、少
なくとも硝酸イオンを含んでいることを特徴とする請求
項1に記載の電解析出槽。 - 【請求項3】 導電性部材が給電ローラーとして形成さ
れていることを特徴とする請求項1または2に記載の電
解析出槽。 - 【請求項4】 導電性部材が基体と接触する位置と基体
が水溶液に浸漬する位置との間に、基体の両面に給水す
る水供給手段が備えられていることを特徴とする請求項
1〜3のいずれかに記載の電解析出槽。 - 【請求項5】 導電性基体が、その堆積面に予め酸化亜
鉛薄膜を堆積させた導電性基板であることを特徴とする
請求項4に記載の電解析出槽。 - 【請求項6】 導電性基体が、長尺基体であることを特
徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の電解析出槽。 - 【請求項7】 ロール間に掛け渡した長尺基体を移動さ
せながら膜堆積するロール・ツー・ロール装置に備えら
れていることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記
載の電解析出槽。 - 【請求項8】 水溶液中で導電性基体と電極とに通電し
て、基体上に酸化物薄膜を形成する電解析出槽と、これ
を通過した基体を水洗する水洗手段と、これを通過した
基体を強制乾燥する乾燥手段とを備えている酸化物薄膜
の堆積装置において、 基体の裏面に接触して給電する導電性部材に、その表面
に水または水溶液を供給する液供給手段が備えられてい
ることを特徴とする酸化物薄膜の堆積装置。 - 【請求項9】 液供給手段から供給される水溶液が、少
なくとも硝酸イオンを含んでいることを特徴とする請求
項8に記載の酸化物薄膜の堆積装置。 - 【請求項10】 導電性部材が給電ローラーとして形成
されていることを特徴とする請求項8または9に記載の
酸化物薄膜の堆積装置。 - 【請求項11】 導電性部材が基体と接触する位置と基
体が水溶液に浸漬する位置との間に、基体の両面に給水
する水供給手段が備えられていることを特徴とする請求
項8〜10のいずれかに記載の酸化物薄膜の堆積装置。 - 【請求項12】 導電性基体が、その堆積面に予め酸化
亜鉛薄膜を堆積させた導電性基板であることを特徴とす
る請求項11に記載の酸化物薄膜の堆積装置。 - 【請求項13】 導電性基体が、長尺基体であることを
特徴とする請求項8〜12のいずれかに記載の酸化物薄
膜の堆積装置。 - 【請求項14】 ロール間に掛け渡した長尺基体を移動
させながら膜堆積するロール・ツー・ロール装置に備え
られていることを特徴とする請求項8〜13のいずれか
に記載の酸化物薄膜の堆積装置。 - 【請求項15】 少なくとも硝酸イオン、亜鉛イオン、
および炭水化物を含有してなる水溶液に浸漬された導電
性基体と、該溶液中に浸漬された電極との間に通電する
ことにより、基体上に酸化物薄膜を形成する酸化物薄膜
の堆積方法において、 基体の裏面に接触して給電する導電性部材の表面に水ま
たは水溶液を供給しながら通電することを特徴とする酸
化物薄膜の堆積方法。 - 【請求項16】 導電性部材に供給される水溶液が、少
なくとも硝酸イオンを含んでいることを特徴とする請求
項15に記載の酸化物薄膜の堆積方法。 - 【請求項17】 導電性部材として給電ローラーを採用
することを特徴とする請求項15または16に記載の酸
化物薄膜の堆積方法。 - 【請求項18】 導電性部材が基体と接触する位置と基
体が水溶液に浸漬する位置との間で、基体の両面に給水
することを特徴とする請求項15〜17のいずれかに記
載の酸化物薄膜の堆積方法。 - 【請求項19】 導電性基体として、その堆積面に予め
酸化亜鉛薄膜を堆積させた導電性基板を採用することを
特徴とする請求項18に記載の酸化物薄膜の堆積方法。 - 【請求項20】 導電性基体として、長尺基体を採用す
ることを特徴とする請求項15〜19のいずれかに記載
の酸化物薄膜の堆積方法。 - 【請求項21】 ロール間に掛け渡した長尺基体を移動
させながら膜堆積するロール・ツー・ロール法により行
うことを特徴とする請求項15〜20のいずれかに記載
の酸化物薄膜の堆積方法。 - 【請求項22】 請求項15〜21のいずれかの堆積方
法により形成された酸化物薄膜を透明導電層として有す
ることを特徴とする光起電力素子。 - 【請求項23】 少なくとも硝酸イオン、亜鉛イオン、
および炭水化物を含有してなる水溶液に浸漬された導電
性基体と、該溶液中に浸漬された電極との間に通電する
ことにより、基体上に酸化物薄膜を形成する工程と、半
導体層を形成する工程とを含む光起電力素子の製造方法
において、 基体の裏面に接触して給電する導電性部材の表面に水ま
たは水溶液を供給しながら通電して酸化物薄膜を形成す
ることを特徴とする光起電力素子の製造方法。 - 【請求項24】 導電性部材に供給される水溶液が、少
なくとも硝酸イオンを含んでいることを特徴とする請求
項23に記載の光起電力素子の製造方法。 - 【請求項25】 導電性部材として給電ローラーを採用
することを特徴とする請求項23または24に記載の光
起電力素子の製造方法。 - 【請求項26】 導電性部材が基体と接触する位置と基
体が水溶液に浸漬する位置との間で、基体の両面に給水
することを特徴とする請求項23〜25のいずれかに記
載の光起電力素子の製造方法。 - 【請求項27】 導電性基体として、その堆積面に予め
酸化亜鉛薄膜を堆積させた導電性基板を採用することを
特徴とする請求項26に記載の光起電力素子の製造方
法。 - 【請求項28】 導電性基体として、長尺基体を採用す
ることを特徴とする請求項23〜27のいずれかに記載
の光起電力素子の製造方法。 - 【請求項29】 ロール間に掛け渡した長尺基体を移動
させながら膜堆積するロール・ツー・ロール法により行
うことを特徴とする請求項23〜28のいずれかに記載
の光起電力素子の製造方法。 - 【請求項30】 少なくとも硝酸イオン、亜鉛イオン、
および炭水化物を含有してなる水溶液に浸漬された導電
性基体と、該溶液中に浸漬された電極との間に通電する
ことにより、基体上に酸化物薄膜を形成する半導体素子
基板の製造方法において、 基体の裏面に接触して給電する導電性部材の表面に水ま
たは水溶液を供給しながら通電することを特徴とする半
導体素子基板の製造方法。 - 【請求項31】 導電性部材に供給される水溶液が、少
なくとも硝酸イオンを含んでいることを特徴とする請求
項30に記載の半導体素子基体の製造方法。 - 【請求項32】 導電性部材として給電ローラーを採用
することを特徴とする請求項30または31に記載の半
導体素子基板の製造方法。 - 【請求項33】 導電性部材が基体と接触する位置と基
体が水溶液に浸漬する位置との間で、基体の両面に給水
することを特徴とする請求項30〜32のいずれかに記
載の半導体素子基板の製造方法。 - 【請求項34】 導電性基体として、その堆積面に予め
酸化亜鉛薄膜を堆積させた導電性基板を採用することを
特徴とする請求項33に記載の半導体素子基板の製造方
法。 - 【請求項35】 導電性基体として、長尺基体を採用す
ることを特徴とする請求項30〜34のいずれかに記載
の半導体素子基板の製造方法。 - 【請求項36】 ロール間に掛け渡した長尺基体を移動
させながら膜堆積するロール・ツー・ロール法により行
うことを特徴とする請求項30〜35のいずれかに記載
の半導体素子基板の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10045081A JPH11243223A (ja) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | 電解析出槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、それを用いた光起電力素子および製造方法、および半導体素子基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10045081A JPH11243223A (ja) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | 電解析出槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、それを用いた光起電力素子および製造方法、および半導体素子基板の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11243223A true JPH11243223A (ja) | 1999-09-07 |
Family
ID=12709389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10045081A Pending JPH11243223A (ja) | 1998-02-26 | 1998-02-26 | 電解析出槽、酸化物薄膜の堆積装置および堆積方法、それを用いた光起電力素子および製造方法、および半導体素子基板の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11243223A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015222815A (ja) * | 2009-05-14 | 2015-12-10 | ユニヴェルシテ ドゥ テクノロジー ドゥ トロワイUniversite De Technologie De Troyes | 金属酸化物タイプまたは半導体タイプの物質からなる膜またはウエハをナノ構造化する方法 |
| CN116103714A (zh) * | 2021-11-10 | 2023-05-12 | 天津大学 | 一种碳钢表面原位生长zif-8防腐薄膜及其制备方法 |
-
1998
- 1998-02-26 JP JP10045081A patent/JPH11243223A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015222815A (ja) * | 2009-05-14 | 2015-12-10 | ユニヴェルシテ ドゥ テクノロジー ドゥ トロワイUniversite De Technologie De Troyes | 金属酸化物タイプまたは半導体タイプの物質からなる膜またはウエハをナノ構造化する方法 |
| CN116103714A (zh) * | 2021-11-10 | 2023-05-12 | 天津大学 | 一种碳钢表面原位生长zif-8防腐薄膜及其制备方法 |
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