JPH1124828A - タブレット装置 - Google Patents
タブレット装置Info
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- JPH1124828A JPH1124828A JP17192297A JP17192297A JPH1124828A JP H1124828 A JPH1124828 A JP H1124828A JP 17192297 A JP17192297 A JP 17192297A JP 17192297 A JP17192297 A JP 17192297A JP H1124828 A JPH1124828 A JP H1124828A
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- JP
- Japan
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- input
- electrode
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- tablet
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 部品点数、製造工程数及び作業工数を縮減す
る。 【解決手段】 タブレット入力板２にはＸ軸方向に延長
されたＹ電極ＹｉがＹ軸方向に等間隔に配列されるが、
Ｙ電極に直角のＸ電極は無い。入力ペン３からタブレッ
ト入力板２の任意の点に試験信号波形（矩形波、正弦波
等）を時間間隔Ｔごとに送出し、Ｙ信号セレクタ５で各
電極Ｙｉの端子Ｃ（Ｘ＝０）の波形ＶＹｉをＴごとに選
択し、増幅し、Ａ／Ｄ変換してＣＰＵ１０に入力し、各
波形ＶＹｉ′の振幅より入力ペンのＹ座標を計測する。
次にＣＰＵはそのＹ座標に最も近い電極Ｙｊの波形ＶＹ
ｊを選択するようにＹ信号セレクタ５を制御し、対応す
るＡ／Ｄ変換出力を入力して、入力ペン３からＣＰＵま
での伝搬遅延時間τ（ｊ）を測定し、その測定値から入
力ペンのＸ座標（ｘ）を計測する。Ｙ電極のＸ座標
（ｘ）と、Ｘ＝ｘの点より端子Ｃまでの伝搬時間Δτと
の関係及び各電極の端子ＣよりＣＰＵ入力までの遅延時
間τａ（ｊ）（ｊ＝１〜Ｍ）は予め求めてある。
る。 【解決手段】 タブレット入力板２にはＸ軸方向に延長
されたＹ電極ＹｉがＹ軸方向に等間隔に配列されるが、
Ｙ電極に直角のＸ電極は無い。入力ペン３からタブレッ
ト入力板２の任意の点に試験信号波形（矩形波、正弦波
等）を時間間隔Ｔごとに送出し、Ｙ信号セレクタ５で各
電極Ｙｉの端子Ｃ（Ｘ＝０）の波形ＶＹｉをＴごとに選
択し、増幅し、Ａ／Ｄ変換してＣＰＵ１０に入力し、各
波形ＶＹｉ′の振幅より入力ペンのＹ座標を計測する。
次にＣＰＵはそのＹ座標に最も近い電極Ｙｊの波形ＶＹ
ｊを選択するようにＹ信号セレクタ５を制御し、対応す
るＡ／Ｄ変換出力を入力して、入力ペン３からＣＰＵま
での伝搬遅延時間τ（ｊ）を測定し、その測定値から入
力ペンのＸ座標（ｘ）を計測する。Ｙ電極のＸ座標
（ｘ）と、Ｘ＝ｘの点より端子Ｃまでの伝搬時間Δτと
の関係及び各電極の端子ＣよりＣＰＵ入力までの遅延時
間τａ（ｊ）（ｊ＝１〜Ｍ）は予め求めてある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明はタブレット装置に
関し、特にタブレット入力板の電極を一面にのみ形成し
たものである。
関し、特にタブレット入力板の電極を一面にのみ形成し
たものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の静電結合型のタブレット装置（以
下単にタブレット装置と言う）１は図６に示すように、
タブレット入力板２の上面側（入力ペン側）に上下方向
（Ｙ軸方向）に延長されたＸ電極Ｘ１〜ＸＮ（Ｎ≧２）
がＸ軸方向に等間隔に配列される。また、タブレット入
力板２の底面側に左右方向（Ｘ軸方向）に延長されたＹ
電極Ｙ１〜ＹＭ（Ｍ≧２）が上下方向（Ｙ軸方向）に等
間隔に配列される。
下単にタブレット装置と言う）１は図６に示すように、
タブレット入力板２の上面側（入力ペン側）に上下方向
（Ｙ軸方向）に延長されたＸ電極Ｘ１〜ＸＮ（Ｎ≧２）
がＸ軸方向に等間隔に配列される。また、タブレット入
力板２の底面側に左右方向（Ｘ軸方向）に延長されたＹ
電極Ｙ１〜ＹＭ（Ｍ≧２）が上下方向（Ｙ軸方向）に等
間隔に配列される。
【０００３】入力ペン３をタブレット入力板２上の任意
の点に接触させると、入力ペン３とＸ電極及びＹ電極と
の間に静電容量が形成される。入力ペン３から時間間隔
Ｔごとに矩形波の試験電圧をタブレット入力板２に印加
し（図７Ｂ）、Ｘ信号セレクタ４により時間間隔Ｔごと
に各Ｘｉ電極の試験電圧を順次切り換え選択して（図７
Ｃ）、増幅器６に入力する。増幅器６で必要なレベルま
で増幅された信号はＡ／Ｄ変換器８でデジタル信号に変
換されてＣＰＵ１０に入力される。ＣＰＵ１０は入力さ
れた各電極Ｘｉの試験電圧ＶＸｉ′の振幅より入力ペン
３のＸ座標（ｘ）を計測する。
の点に接触させると、入力ペン３とＸ電極及びＹ電極と
の間に静電容量が形成される。入力ペン３から時間間隔
Ｔごとに矩形波の試験電圧をタブレット入力板２に印加
し（図７Ｂ）、Ｘ信号セレクタ４により時間間隔Ｔごと
に各Ｘｉ電極の試験電圧を順次切り換え選択して（図７
Ｃ）、増幅器６に入力する。増幅器６で必要なレベルま
で増幅された信号はＡ／Ｄ変換器８でデジタル信号に変
換されてＣＰＵ１０に入力される。ＣＰＵ１０は入力さ
れた各電極Ｘｉの試験電圧ＶＸｉ′の振幅より入力ペン
３のＸ座標（ｘ）を計測する。
【０００４】同様にＹ電極Ｙ１〜ＹＭの試験電圧がＹ信
号セレクタ５で順次選択され（図７Ｄ）、増幅器７で増
幅され、Ａ／Ｄ変換器９でデジタル信号に変換されてＣ
ＰＵ１０に入力され、前と同様にして入力ペン３のＹ座
標（ｙ）が計測される。ＣＰＵ１０は入力ペン３を制御
すると共に同期信号Ｓａを供給する（図７Ａ）。またＸ
信号セレクタ４及びＹ信号セレクタ５に制御信号（クロ
ックを含む）ＳＸ，ＳＹをそれぞれ供給する。
号セレクタ５で順次選択され（図７Ｄ）、増幅器７で増
幅され、Ａ／Ｄ変換器９でデジタル信号に変換されてＣ
ＰＵ１０に入力され、前と同様にして入力ペン３のＹ座
標（ｙ）が計測される。ＣＰＵ１０は入力ペン３を制御
すると共に同期信号Ｓａを供給する（図７Ａ）。またＸ
信号セレクタ４及びＹ信号セレクタ５に制御信号（クロ
ックを含む）ＳＸ，ＳＹをそれぞれ供給する。
【０００５】タブレット入力板２は図８に示すように、
内面にＸ電極Ｘ１〜ＸＮが形成された絶縁基板１３と内
面にＹ電極Ｙ１〜ＹＭの形成された絶縁基板１４とが間
に絶縁板１５を挟んで一枚の平板に貼り合わされる。特
にＬＣＤやＣＲＴ等の表示画面に重ねて画面入力タブレ
ットとする場合は、絶縁基板１３，１４として透明ガラ
スが使用され、Ｘ電極及びＹ電極には透明なＩＴＯが用
いられる。また絶縁板１５として透明な接着シートが用
いられる。
内面にＸ電極Ｘ１〜ＸＮが形成された絶縁基板１３と内
面にＹ電極Ｙ１〜ＹＭの形成された絶縁基板１４とが間
に絶縁板１５を挟んで一枚の平板に貼り合わされる。特
にＬＣＤやＣＲＴ等の表示画面に重ねて画面入力タブレ
ットとする場合は、絶縁基板１３，１４として透明ガラ
スが使用され、Ｘ電極及びＹ電極には透明なＩＴＯが用
いられる。また絶縁板１５として透明な接着シートが用
いられる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】 従来のタブレット装置に使用するタブレット入力板
２はＸ電極を形成した絶縁基板１３とＹ電極を形成した
絶縁基板１４と絶縁板１５が必要であり、部品点数及び
工程数が多くなる問題があった。 タブレット入力板２はＸ電極とＹ電極とが精度よく
直交するように両基板を位置合わせし、その位置を保持
しながら接合しなければならず、貼り合わせの作業工数
が大きくなる問題があった。
２はＸ電極を形成した絶縁基板１３とＹ電極を形成した
絶縁基板１４と絶縁板１５が必要であり、部品点数及び
工程数が多くなる問題があった。 タブレット入力板２はＸ電極とＹ電極とが精度よく
直交するように両基板を位置合わせし、その位置を保持
しながら接合しなければならず、貼り合わせの作業工数
が大きくなる問題があった。
【０００７】この発明は、これら従来の問題を解決し
て、部品点数、製造工程数及び作業工数が少なくて済む
経済的なタブレット装置を提供しようとするものであ
る。
て、部品点数、製造工程数及び作業工数が少なくて済む
経済的なタブレット装置を提供しようとするものであ
る。
【０００８】
（１）請求項１のタブレット装置は、ＸＹ直交座標のＸ
軸方向にＹ電極Ｙ１，Ｙ２…，ＹＭ（Ｍ≧２）がＹ軸方
向に等間隔に配列され、それらのＹ電極に直交するＸ電
極を持たないタブレット入力板と、そのタブレット入力
板の上面に任意の点に接触して、所定の時間間隔Ｔごと
に試験信号波形を印加する入力ペンと、タブレット入力
板のＹ電極Ｙ１，Ｙ２…，ＹＭの各一端（各一端のＸ座
標をＸ＝０とする）に伝搬された試験信号波形ＶＹ１，
ＶＹ２…，ＶＹＭを時間間隔Ｔごとに切り換え選択する
Ｙ信号セレクタと、そのＹ信号セレクタにより選択され
たＹ電極の試験信号波形ＶＹ１，ＶＹ２…，ＶＹＭをデ
ジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、そのＡ／Ｄ変換
器の出力を入力して、試験信号波形ＶＹｉ（ｉ＝１〜
Ｍ）の振幅より入力ペンのＹ座標を計測する手段と、そ
の計測されたＹ座標に最も近いＹ電極Ｙｊの試験信号波
形ＶＹｊを選択するようにＹ信号セレタクタを制御し、
その試験信号波形ＶＹｊのＡ／Ｄ変換器出力を入力し
て、入力ペンからの伝搬遅延時間τ（ｊ）を測定し、そ
の測定値から入力ペンのＸ座標を計測する手段と、を具
備する。
軸方向にＹ電極Ｙ１，Ｙ２…，ＹＭ（Ｍ≧２）がＹ軸方
向に等間隔に配列され、それらのＹ電極に直交するＸ電
極を持たないタブレット入力板と、そのタブレット入力
板の上面に任意の点に接触して、所定の時間間隔Ｔごと
に試験信号波形を印加する入力ペンと、タブレット入力
板のＹ電極Ｙ１，Ｙ２…，ＹＭの各一端（各一端のＸ座
標をＸ＝０とする）に伝搬された試験信号波形ＶＹ１，
ＶＹ２…，ＶＹＭを時間間隔Ｔごとに切り換え選択する
Ｙ信号セレクタと、そのＹ信号セレクタにより選択され
たＹ電極の試験信号波形ＶＹ１，ＶＹ２…，ＶＹＭをデ
ジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、そのＡ／Ｄ変換
器の出力を入力して、試験信号波形ＶＹｉ（ｉ＝１〜
Ｍ）の振幅より入力ペンのＹ座標を計測する手段と、そ
の計測されたＹ座標に最も近いＹ電極Ｙｊの試験信号波
形ＶＹｊを選択するようにＹ信号セレタクタを制御し、
その試験信号波形ＶＹｊのＡ／Ｄ変換器出力を入力し
て、入力ペンからの伝搬遅延時間τ（ｊ）を測定し、そ
の測定値から入力ペンのＸ座標を計測する手段と、を具
備する。
【０００９】（２）請求項２の発明では、前記（１）に
おいて、入力ペンよりタブレット入力板に印加する試験
信号波形が矩形波または正弦波とされる。 （３）請求項３の発明では、前記（１）において、入力
ペンはタブレット入力板と静電結合される。 （４）請求項４の発明では、前記（１）において、Ｘま
たはＹ座標を計測する手段がマイクロプロセッサより構
成される。
おいて、入力ペンよりタブレット入力板に印加する試験
信号波形が矩形波または正弦波とされる。 （３）請求項３の発明では、前記（１）において、入力
ペンはタブレット入力板と静電結合される。 （４）請求項４の発明では、前記（１）において、Ｘま
たはＹ座標を計測する手段がマイクロプロセッサより構
成される。
【００１０】（５）請求項５の発明では、前記（１）に
おいて、Ｙ電極上の座標Ｘ＝ｘと、その座標Ｘ＝ｘの点
からＸ＝０の点までの試験信号の伝搬遅延時間Δτとの
間の変換テーブルを格納したメモリが備えられている。 （６）請求項６の発明では、前記（１）において、試験
信号のＹ電極Ｙｉ（ｉ＝１〜Ｍ）の出力端（端子Ｃ）か
らＸ座標を計測する手段までの伝搬遅延時間τａ（ｉ）
を格納したメモリが備えられている。
おいて、Ｙ電極上の座標Ｘ＝ｘと、その座標Ｘ＝ｘの点
からＸ＝０の点までの試験信号の伝搬遅延時間Δτとの
間の変換テーブルを格納したメモリが備えられている。 （６）請求項６の発明では、前記（１）において、試験
信号のＹ電極Ｙｉ（ｉ＝１〜Ｍ）の出力端（端子Ｃ）か
らＸ座標を計測する手段までの伝搬遅延時間τａ（ｉ）
を格納したメモリが備えられている。
【００１１】
【発明の実施の形態】この発明の実施例を図１，図２
に、図６，図８と対応する部分に同じ符号を付けて示
す。この発明で用いるタブレット入力板２は、その上面
側（入力ペン側）または底面側にＹ電極Ｙ１，Ｙ２…，
ＹＭが等間隔で配される。図２の例では絶縁基板１４の
底面にＹ電極Ｙｉ（ｉ＝１〜Ｍ）が形成される。この発
明で用いられるタブレット入力板２には従来例のような
Ｘ電極は設けられない。
に、図６，図８と対応する部分に同じ符号を付けて示
す。この発明で用いるタブレット入力板２は、その上面
側（入力ペン側）または底面側にＹ電極Ｙ１，Ｙ２…，
ＹＭが等間隔で配される。図２の例では絶縁基板１４の
底面にＹ電極Ｙｉ（ｉ＝１〜Ｍ）が形成される。この発
明で用いられるタブレット入力板２には従来例のような
Ｘ電極は設けられない。
【００１２】電極Ｙｉ（ｉ＝１〜Ｍ）の一端（Ｘ座標を
Ｘ＝０とする）はＹ信号セレクタ５に接続され、Ｙ信号
セレクタ５で選択された試験信号は増幅器７で必要なレ
ベルまで増幅され、Ａ／Ｄ変換器９でデジタル信号に変
換されてＣＰＵ１０に入力される。ＣＰＵ１０から同期
信号Ｓａが入力ペン３に与えられ、また同期信号を含む
制御信号ＳＹがＹ信号セレクタ５に与えられる。ＣＰＵ
１０は例えば１個または複数個のＬＳＩチップより成る
マイクロプロセッサで構成される。
Ｘ＝０とする）はＹ信号セレクタ５に接続され、Ｙ信号
セレクタ５で選択された試験信号は増幅器７で必要なレ
ベルまで増幅され、Ａ／Ｄ変換器９でデジタル信号に変
換されてＣＰＵ１０に入力される。ＣＰＵ１０から同期
信号Ｓａが入力ペン３に与えられ、また同期信号を含む
制御信号ＳＹがＹ信号セレクタ５に与えられる。ＣＰＵ
１０は例えば１個または複数個のＬＳＩチップより成る
マイクロプロセッサで構成される。
【００１３】入力ペン３のＹ座標を検出する場合の動作
は従来例で述べたのと同じであるので説明を省略する。
ＣＰＵ１０は入力ペン３のＹ座標（ｙ）の計測が終了す
ると、Ｙ信号セレクタ５を制御して、いま求めた座標
（ｙ）に最も近い位置にあるＹ電極Ｙｊの信号を選択す
るようにＹ信号セレクタ５を制御する。その結果、ＣＰ
Ｕ１０は自身に入力された試験信号ＶＹｊ′について、
入力ペン３から送出された時点からＣＰＵ１０に入力さ
れるまでの伝搬遅延時間τ（ｊ）を計測する。
は従来例で述べたのと同じであるので説明を省略する。
ＣＰＵ１０は入力ペン３のＹ座標（ｙ）の計測が終了す
ると、Ｙ信号セレクタ５を制御して、いま求めた座標
（ｙ）に最も近い位置にあるＹ電極Ｙｊの信号を選択す
るようにＹ信号セレクタ５を制御する。その結果、ＣＰ
Ｕ１０は自身に入力された試験信号ＶＹｊ′について、
入力ペン３から送出された時点からＣＰＵ１０に入力さ
れるまでの伝搬遅延時間τ（ｊ）を計測する。
【００１４】伝搬遅延時間τ（ｊ）には、電極Ｙｊの端
子ＣからＣＰＵ１０までの遅延時間τａ（ｊ）が含まれ
るが、このτａ（ｊ）（ｊ＝１〜Ｍ）は予め実験的に測
定され、ＲＡＭ２１に格納される。入力ペン３から電極
Ｙｊの端子Ｃまでの伝搬時間Δτ＝τ（ｊ）−τａ
（ｊ）は、入力ペン３の座標（ｙ）に応じてｊの値が変
化しても、座標ｘが同じであれば、どのＹ電極について
もほゞ同じ値を示す。従って、 Δτ＝τ（ｊ）−τａ（ｊ）；ｊ＝１，２…，Ｍ ………（１） Δτ＝ｆ（ｘ） ………（２） と表せる。Δτは各Ｙ電極の座標Ｘ＝ｘの点から端子Ｃ
（Ｘ＝０）までの伝搬時間にほゞ等しい。（２）式より
座標ｘは ｘ＝ｇ（Δτ） ………（３） と表せる。（２），（３）式の関係は図５に示すように
予め実験的に求められ、ＲＡＭ２１に格納される。ＲＡ
Ｍ２１にΔτからｘへの変換テーブルを備えてもよい。
子ＣからＣＰＵ１０までの遅延時間τａ（ｊ）が含まれ
るが、このτａ（ｊ）（ｊ＝１〜Ｍ）は予め実験的に測
定され、ＲＡＭ２１に格納される。入力ペン３から電極
Ｙｊの端子Ｃまでの伝搬時間Δτ＝τ（ｊ）−τａ
（ｊ）は、入力ペン３の座標（ｙ）に応じてｊの値が変
化しても、座標ｘが同じであれば、どのＹ電極について
もほゞ同じ値を示す。従って、 Δτ＝τ（ｊ）−τａ（ｊ）；ｊ＝１，２…，Ｍ ………（１） Δτ＝ｆ（ｘ） ………（２） と表せる。Δτは各Ｙ電極の座標Ｘ＝ｘの点から端子Ｃ
（Ｘ＝０）までの伝搬時間にほゞ等しい。（２）式より
座標ｘは ｘ＝ｇ（Δτ） ………（３） と表せる。（２），（３）式の関係は図５に示すように
予め実験的に求められ、ＲＡＭ２１に格納される。ＲＡ
Ｍ２１にΔτからｘへの変換テーブルを備えてもよい。
【００１５】ＣＰＵ１０は伝搬遅延時間τ（ｊ）を測定
し、（１）式から電極Ｙｊの伝搬時間Δτを求め、
（３）式より座標（ｘ）を求めることができる。なお、
入力ペン３より出力される試験信号は図３に示した矩形
波に限らず他の波形でもよい。正弦波を用いた場合を図
４に示す。図１におけるＲＯＭ２２にはタブレット装置
１の動作を規定するシステムプログラムが格納され、Ｃ
ＰＵ１０はこのプログラムを解読実行して必要な動作を
行っている。
し、（１）式から電極Ｙｊの伝搬時間Δτを求め、
（３）式より座標（ｘ）を求めることができる。なお、
入力ペン３より出力される試験信号は図３に示した矩形
波に限らず他の波形でもよい。正弦波を用いた場合を図
４に示す。図１におけるＲＯＭ２２にはタブレット装置
１の動作を規定するシステムプログラムが格納され、Ｃ
ＰＵ１０はこのプログラムを解読実行して必要な動作を
行っている。
【００１６】これまでの説明では、タブレット入力板２
の図において左右方向をＸ軸方向、上下方向をＹ軸方向
としたが、上下方向をＸ軸方向、左右方向をＹ軸方向と
してもよい。また、これまでの説明では、入力ペン３と
タブレット入力板２とは静電結合するものとしたが、こ
の発明はその場合に限定する必要はなく、電磁結合であ
ってもよい。
の図において左右方向をＸ軸方向、上下方向をＹ軸方向
としたが、上下方向をＸ軸方向、左右方向をＹ軸方向と
してもよい。また、これまでの説明では、入力ペン３と
タブレット入力板２とは静電結合するものとしたが、こ
の発明はその場合に限定する必要はなく、電磁結合であ
ってもよい。
【００１７】
【発明の効果】 この発明に使用するタブレット入力板２はＹ電極を
形成した絶縁基板１４があればよく、従来のＸ電極を形
成した絶縁基板１３を必要としないので、それだけ部品
点数及び製造工程数を縮減できる。 従来の技術において、多くの工数を必要とした絶縁
基板１３と１４の貼り合わせ作業がないので、と合わ
せて作業工数を大幅に減少でき、経済的なタブレット装
置を提供できる。
形成した絶縁基板１４があればよく、従来のＸ電極を形
成した絶縁基板１３を必要としないので、それだけ部品
点数及び製造工程数を縮減できる。 従来の技術において、多くの工数を必要とした絶縁
基板１３と１４の貼り合わせ作業がないので、と合わ
せて作業工数を大幅に減少でき、経済的なタブレット装
置を提供できる。
【００１８】 タブレット入力板２はＸ電極は必要で
なく、Ｙ電極を形成した絶縁基板１４がのればよいの
で、薄型で、透過率に優れた画面入力タブレットが得ら
れる。
なく、Ｙ電極を形成した絶縁基板１４がのればよいの
で、薄型で、透過率に優れた画面入力タブレットが得ら
れる。
【図１】この発明の実施例を示すブロック図。
【図２】図１のタブレット入力板２の斜視図。
【図３】図１の要部の信号波形の一例を示す図。
【図４】図１の要部の信号波形の他の例を示す図。
【図５】図１のＹ電極の座標Ｘ＝ｘと、Ｘ＝ｘの点か
ら、端子Ｃ（Ｘ＝０）までの伝搬時間Δτとの関係を示
すグラフ。
ら、端子Ｃ（Ｘ＝０）までの伝搬時間Δτとの関係を示
すグラフ。
【図６】従来の静電結合型タブレット装置のブロック
図。
図。
【図７】図６の要部の動作波形図。
【図８】図６のタブレット入力板２の分解斜視図。
Claims (6)
- 【請求項１】 ＸＹ直交座標のＸ軸方向に延長されたＹ
電極Ｙ１，Ｙ２…，ＹＭ（Ｍ≧２）がＹ軸方向に等間隔
に配列され、それらのＹ電極に直交するＸ電極を持たな
いタブレット入力板と、 そのタブレット入力板の上面の任意の点に接触して、所
定の時間間隔Ｔごとに試験信号波形を印加する入力ペン
と、 前記タブレット入力板の前記Ｙ電極Ｙ１，Ｙ２…，ＹＭ
の各一端（各一端のＸ座標をＸ＝０とする）に伝搬され
た試験信号波形ＶＹ１，ＶＹ２…，ＶＹＭを前記時間間
隔Ｔごとに切り換え選択するＹ信号セレクタと、 そのＹ信号セレクタにより選択されたＹ電極の試験信号
波形ＶＹ１，ＶＹ２…，ＶＹＭをデジタル信号に変換す
るＡ／Ｄ変換器と、 そのＡ／Ｄ変換器の出力を入力して、前記試験信号波形
ＶＹｉ（ｉ＝１〜Ｍ）の振幅より前記入力ペンのＹ座標
を計測する手段と、 その計測されたＹ座標に最も近い前記Ｙ電極Ｙｊの試験
信号波形ＶＹｊを選択するように前記Ｙ信号セレタクタ
を制御し、その試験信号波形ＶＹｊの前記Ａ／Ｄ変換器
出力を入力して、前記入力ペンからの伝搬遅延時間τ
（ｊ）を測定し、その測定値から入力ペンのＸ座標を計
測する手段と、を具備することを特徴とするタブレット
装置。 - 【請求項２】 請求項１において、前記入力ペンより前
記タブレット入力板に印加する試験信号波形が矩形波ま
たは正弦波であることを特徴とするタブレット装置。 - 【請求項３】 請求項１において、前記入力ペンは前記
タブレット入力板と静電結合されることを特徴とするタ
ブレット装置。 - 【請求項４】 請求項１において、前記ＸまたはＹ座標
を計測する手段がマイクロプロセッサより構成されるこ
とを特徴とするタブレット装置。 - 【請求項５】 請求項１において、前記Ｙ電極上のＸ座
標Ｘ＝ｘと、そのＸ＝ｘの点からＸ＝０の点までの前記
試験信号の伝搬時間Δτとの間の変換テーブルを格納し
たメモリが備えられていることを特徴とするタブレット
装置。 - 【請求項６】 請求項１において、前記試験信号の前記
Ｙ電極Ｙｉ（ｉ＝１〜Ｍ）の出力端（端子Ｃ）から前記
Ｘ座標を計測する手段までの伝搬遅延時間τａ（ｉ）を
格納したメモリが備えられていることを特徴とするタブ
レット装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17192297A JPH1124828A (ja) | 1997-06-27 | 1997-06-27 | タブレット装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17192297A JPH1124828A (ja) | 1997-06-27 | 1997-06-27 | タブレット装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1124828A true JPH1124828A (ja) | 1999-01-29 |
Family
ID=15932345
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17192297A Withdrawn JPH1124828A (ja) | 1997-06-27 | 1997-06-27 | タブレット装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1124828A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018028790A (ja) * | 2016-08-18 | 2018-02-22 | ぺんてる株式会社 | 静電容量式入力装置 |
-
1997
- 1997-06-27 JP JP17192297A patent/JPH1124828A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2018028790A (ja) * | 2016-08-18 | 2018-02-22 | ぺんてる株式会社 | 静電容量式入力装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040907 |