JPH11248646A - 容器内面検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】食品容器等の内面の濃淡画像から暗い欠陥を検
査する際、微細黒点等の暗さは濃いが無害な欠陥を不良
とせず、破れ，肉薄等の暗さは薄いが致命的な欠陥を不
良とする。 【解決手段】（ａ）は薄い欠陥Ｄ１、（ｂ）は濃い欠陥
Ｄ２の夫々を通る走査線上の濃淡画像分布を示す。本発
明では走査線上の各画素についての、当該画素からその
前後に幅αだけ離れた２つの背景画素に対する濃淡値の
差分（暗さの深まり量）を所定のしきい値で２値化して
暗い欠陥を検出するが、ここで２つのしきい値ＴＨＤ
１、ＴＨＤ２を設け、ＴＨＤ１＜Ｌ１、Ｌ１＜ＴＨＤ２
＜Ｌ２、但しＬ１：欠陥Ｄ１の濃淡値差分の最大値、Ｌ
２：欠陥Ｄ２の濃淡値差分の最大値とする。（ａ），
（ｂ）に対応するしきい値ＴＨＤ１での２値画像分布は
（ｃ），（ｄ）、同じくＴＨＤ２での２値画像分布は
（ｅ），（ｆ）となり、２つの２値画像から欠陥Ｄ１，
Ｄ２を区分し、欠陥の面積値で夫々の良否を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、２次元撮像装置に
より生産ライン上の樹脂容器，紙容器のような食品容器
等の内面を撮像し、そのデジタル濃淡画像（多値濃淡画
像又は単に濃淡画像ともいう）をもとに、容器の内面に
生ずる暗い欠陥部を検査する容器内面検査装置に関す
る。

【０００２】なお以下各図において同一の符号は同一も
しくは相当部分を示す。

【０００３】

【従来の技術】この種の容器の内面に発生する、暗く見
える欠陥としては、黒点、破れ、肉薄等があるが、これ
らの欠陥のうち微小な欠陥までを検出する方法として、
容器内面の濃淡画像に各種の微分を施して欠陥部分の画
像を強調した上、この画像を２値化する方法が知られて
いる。

【０００４】なお、ここでいう欠陥とは、正常部分とは
異なって見える部分をいい、この欠陥が直ちに容器の不
良につながるものではない。また、近傍の背景より暗い
微小部分のみを検出するように工夫された特殊な２値化
を用いる方法も、本出願人の先願になる特開平５−１０
７２００号公報において提案されている。

【０００５】この後者（先願）の方法は、近傍の背景と
の多値濃淡画像信号（単に濃淡画像信号ともいう）のレ
ベル（濃淡値、画素値、或いは輝度情報ともいう）の差
が一定のしきい値以上の画素の値を“１”、その他の画
素の値を“０”とする２値化を行うことにより、２値化
画素値“１”の画素からなる欠陥部分のみを検出するも
ので、この方法によれば、容器内面の明るさが一様でな
く、明るさに多少の変化があっても欠陥を検出すること
ができる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、黒点と共に
破れや肉薄等が発生する樹脂容器のような食品容器を前
記した後者の方法で検査しようとする場合、黒点、破
れ、肉薄等の欠陥部分は、何れもその近傍の背景より暗
くはなるものの、欠陥部分とその近傍の背景との濃淡画
像信号のレベル差は、黒点よりも破れや肉薄の方が小さ
いため、同一の２値化しきい値で欠陥部分を検出しよう
とすると、破れや肉薄の方が検出感度が低くなる。

【０００７】しかし、欠陥としては黒点よりも破れや肉
薄のほうが致命的であり、高い検出精度が要求される。
そこで検出感度を高くするため２値化しきい値を小さく
すると、今度は不良とする必要のないような、非常に微
細な黒点までも検出されて、無駄な不良判定が行われて
しまう。そこで、本発明は暗さは薄いが致命的な欠陥で
ある破れや肉薄を不良と一方で、暗さは濃いが無害な欠
陥である微細な黒点を不良としないようにすることがで
きる容器内面検査装置を提供することを課題とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに請求項１の容器内面検査装置は、２次元の撮像手段
（１）を介し撮像された容器内面の映像をラスタ走査し
て得られる映像信号を（Ａ／Ｄ変換手段１’を介して）
Ａ／Ｄ変換し、この変換出力から作られる容器内面の濃
淡画像を画像メモリ（２）に記憶し、この画像メモリの
全体または一部の検査領域を（走査手段３を介し）水平
方向または垂直方向に走査して容器内面の暗い欠陥部を
検査する容器内面検査装置において、前記検査領域の走
査によって読み出される濃淡画像信号を用い、この検査
領域の濃淡画像を所定のしきい値で２値化する２値化手
段（４など）と、この２値化手段により得られる２値化
画像を互いに離れた白画像部分毎に分離する画像分離手
段（５など）との組を、前記しきい値を異にして複数組
（４と５の組、８と９の組など）備え、さらに、この各
組毎に、当該組の画像分離手段によって分離された白画
像の内、前記しきい値が当該組に次いで大きい組の白画
像と空間的に重なりを持たない白画像毎の面積値を夫々
当該組に対応する所定の基準値と比較する手段（面積検
出手段６，１０、判定手段７，１１など）を備えたもの
とする。

【０００９】また請求項２の容器内面検査装置では、請
求項１に記載の容器内面検査装置において、前記２値化
手段が、前記検査領域の走査によって読み出される濃淡
画像信号上の各画素についての、当該画素の所定の近傍
を背景とする暗さの深まり量を前記しきい値で２値化す
るものであるようにする。

【００１０】また請求項３の容器内面検査装置では、請
求項２に記載の容器内面検査装置において、前記２値化
手段が、当該走査線上において着目画素（正常部着目点
５１，欠陥部着目点５４など）の前後に着目画素から所
定の幅（画素数α）だけ離れた各背景画素（正常部背景
点５２，５３、欠陥部背景点５５，５６など）の値から
夫々、着目画素の値を減じた２つの差分の画素値（Ｌ
１，Ｌ２など）を前記暗さの深まり量とし、この２つの
差分の画素値が共に前記しきい値より大きいか否かに応
じて、着目画素の値を夫々“１”，“０”に２値化する
ものであるようにする。

【００１１】また請求項４の容器内面検査装置では、請
求項３に記載の容器内面検査装置において、前記背景画
素の値に代えて、当該走査線上におけるこの背景画素を
含む一連の所定個数分の画素の画素値の平均値を用いる
ようにする。また請求項５の容器内面検査装置では、請
求項１ないし４のいずれかに記載の容器内面検査装置に
おいて、前記画像分離手段が、前記２値化手段から得ら
れる２値化信号の“１”の画素数を投影データ（１５，
１６など）として走査線ごとに検出し、走査線毎の１以
上の前記投影データが走査線間で連続して並ぶ投影デー
タの部分（Ｐ１１〜Ｐ１５、Ｐ２２，Ｐ２３，Ｐ２５な
ど）が前記白画像の１つに対応するものと見做すように
する。

【００１２】

【発明の実施の形態】図１は本発明の一実施例としての
構成を示すブロック図である。この例では検査対象の軸
対称の食品容器の内面がその軸方向から軸対称に照明さ
れるものとする。 同図において、１はこの容器の内面
をその軸方向から撮像してその映像をラスタ走査し、映
像信号（ビデオ信号）として出力するＴＶカメラなどの
２次元の撮像手段、１’はこの映像信号をを順次サンプ
リングしつつＡ／Ｄ変換して多値の画素データ列（つま
り画素別の多値濃淡画像信号の列）とするＡ／Ｄ変換手
段である。

【００１３】２はこの各画素別の多値濃淡画像信号を、
撮像手段１によって撮像された映像に対応する多値濃淡
画像として記憶する濃淡画像メモリ、３は濃淡画像メモ
リ２に格納された画像のうち、検査を要する部分を水平
方向または垂直方向に走査して読み出す走査手段であ
る。濃淡画像メモリ２の後段には、第１の２値化手段
４，第１の画像分離手段５，第１の面積検出手段６，第
１の判定手段７の配列と、第２の２値化手段８，第２の
画像分離手段９，第２の面積検出手段１０，第２の判定
手段１１の配列との２組の配列が並列に設けられてい
る。

【００１４】ここで濃淡画像メモリ２から走査手段３に
より読み出された濃淡画像は、一方では第１の２値化手
段４により或るしきい値で２値化されて２値化画像とな
り、この２値化画像は第１の画像分離手段５により互い
に分離した白画像部分ごとに分離され、この各白画像部
分ごとの面積値が第１の面積検出手段６により求められ
る。そしてこの白画像部分ごとの面積値の内、次に述べ
る第２の画像分離手段９によって分離された白画像と空
間的に重なりを持たない白画像部分ごとの面積値が第１
の判定手段７により基準値と比較され、容器の良否が判
定される。

【００１５】他方、濃淡画像メモリ２から走査手段３に
より読み出された同じ濃淡画像は、第２の２値化手段８
により、第１の２値化手段４より大きいしきい値で２値
化され、この２値化画像は第１の画像分離手段５の場合
と同様に、第２の画像分離手段９により互いに分離した
白画像部分ごとに分離され、この各白画像部分ごとの面
積値が第１の面積検出手段６の場合と同様に、第２の面
積検出手段１０により求められ、この求められた白画像
部分ごとの面積値が第２の判定手段１１により、第１の
判定手段７とは別の基準値と比較され、容器の良否が判
定される。

【００１６】図２は、近傍の背景より暗い微小部分のみ
を検出するように工夫された特殊な２値化手段としての
第１の２値化手段４及び第２の２値化手段８の動作原理
の説明図であり、同図は前記した特開平５−１０７２０
０号公報中の図１と同等のものである。次にこの図２を
用いてこの２値化手段４及び８の動作原理を簡単に説明
する。

【００１７】同図（ａ）は２値化手段に入力された多値
濃淡画像のｊ列目（つまり垂直座標ｙ＝ｊの水平走査線
Ｑ−Ｑ１上の画素列）の多値濃淡画像信号ＰＯ（ｘ，
ｙ）の例を示す。但しｘは当該画素の水平座標としての
行番号で、この図の横軸の座標に相当する。ここで、５
１は正常部分（黒汚れの無い部分）における着目点、５
２と５３は夫々この着目点５１に対し、ｊ列目上で所定
の幅、即ち前と後に画素数αだけ離れた背景点としての
正常部前方背景点と正常部後方背景点である。

【００１８】同様に５４は欠陥部分（黒汚れの存在する
部分）における着目点、５５と５６は夫々この着目点５
４に対し、ｊ列目上で同じく所定の幅、即ち前と後に画
素数αだけ離れた背景点としての欠陥部前方背景点と欠
陥部後方背景点である。いま、着目点の座標をｘ＝ｉ，
ｙ＝ｊとすると、前方背景点の座標はｘ＝ｉ＋α，ｙ＝
ｊ、後方背景点の座標はｘ＝ｉ−α，ｙ＝ｊで表され、
そこで着目点，前方背景点，後方背景点の夫々の多値濃
淡画像信号の値（濃淡値，画素値）をＰＯ（ｉ，ｊ），
ＰＯ（ｉ＋α，ｊ），ＰＯ（ｉ−α，ｊ）としたとき、

【００１９】

【数１】 ＰＯ（ｉ−α，ｊ）−ＰＯ（ｉ，ｊ）＞ＴＨＤ ・・・（１） ＰＯ（ｉ＋α，ｊ）−ＰＯ（ｉ，ｊ）＞ＴＨＤ ・・・（２） 但しＴＨＤは所定のしきい値（正値）とする。上記
（１），（２）式の関係があれば、着目点における２値
化関数値ＰＯＤ（ｉ，ｊ）＝“１”として、この着目点
を谷（即ち黒汚れ有り）と判断し、一方、その他の場合
にはＰＯＤ（ｉ，ｊ）＝“０”として、この着目点を正
常部（即ち黒汚れ無し）と判断する。従って、この２値
化手段は、図２（ａ）の正常部分では上式（２）が成立
しないので黒汚れ無しと判断して出力し、欠陥部分では
上式（１），（２）が共に成立するので黒汚れ有りと判
断して出力する（図２（ｂ）参照）。

【００２０】なお、ここで前方背景点の濃淡値（画素
値）を、その自らを含み、更に予め定める数だけその前
方までの画素の濃淡値（画素値）の平均に置換え、且つ
後方背景点の濃淡値（画素値）を、その自らを含み、更
に予め定める数だけその後方までの画素の濃淡値（画素
値）の平均に置換えて、上式（１），（２）の成立可否
を判断するようにすると、画素値に含まれるノイズの影
響を軽減させることが可能であり、好都合である。

【００２１】次に第１の２値化手段４及び第２の２値化
手段８の実際の動作を図３，図４を用いて説明する。図
３は欠陥を含む容器内面の画像の一例を示したものであ
る。同図において１２は容器を示し、Ｄ１〜Ｄ５は欠陥
を示す。このうち、Ｄ１，Ｄ４は薄い欠陥、Ｄ２，Ｄ
３，Ｄ５は濃い欠陥とする。また１３は薄い欠陥Ｄ１を
通る走査線を示し、１４は濃い欠陥Ｄ２を通る走査線を
示す。

【００２２】図４はこの２つの走査線上の画像分布を示
し、同図（ａ）は走査線１３上の濃淡値（画素値）の分
布を、また同図（ｂ）は走査線１４上の濃淡値（画素
値）の分布を夫々示す。ところで、次式（３）で定義さ
れる、画素の濃淡値の差分Ｌ（ｉ，ｊ）を用いるとき、
式（１），（２）の関係は以下の式（４）の関係に置き
換えることができる。

【００２３】

【数２】 Ｌ（ｉ，ｊ）＝ｍｉｎ｛ＰＯ（ｉ−α，ｊ）−ＰＯ（ｉ，ｊ） ，ＰＯ（ｉ＋α，ｊ）−ＰＯ（ｉ，ｊ）｝ ・・・（３） Ｌ（ｉ，ｊ）＞ＴＨＤ ・・・（４） 即ち、式（４）を満たす濃淡値ＰＯ（ｉ，ｊ）の画素の
み、その２値化関数値ＰＯＤ（ｉ，ｊ）が“１”とな
る。

【００２４】いま、図４（ａ）に示すように薄い欠陥Ｄ
１における画素濃淡値の差分Ｌ（ｉ，ｊ）の最大値をＬ
１とし、また同図（ｂ）に示すように濃い欠陥Ｄ２にお
ける画素濃淡値の差分Ｌ（ｉ，ｊ）の最大値をＬ２とす
ると、Ｌ１≦Ｌ２である。この最大値Ｌ１，Ｌ２を用い
て、下式（５），（６）が満たされるように、式（４）
のしきい値ＴＨＤに相当する２値化手段４のしきい値Ｔ
ＨＤ１と、同じく２値化手段８のしきい値ＴＨＤ２とを
定める。

【００２５】

【数３】 ＴＨＤ１＜Ｌ１ ・・・（５） Ｌ１＜ＴＨＤ２＜Ｌ２ ・・・（６） 図４（ｃ）は走査線１３上の濃淡画像を第１の２値化手
段４により、しきい値ＴＨＤ１で２値化した画像の分布
を、同図（ｅ）は同じく走査線１３上の濃淡画像を第２
の２値化手段８により、しきい値ＴＨＤ２で２値化した
画像の分布を夫々示す。 同様に同図（ｄ）は走査線１
４上の濃淡画像を第１の２値化手段４により、しきい値
ＴＨＤ１で２値化した画像の分布を、同図（ｆ）は同じ
く走査線１４上の濃淡画像を第２の２値化手段８によ
り、しきい値ＴＨＤ２で２値化した画像の分布を夫々示
す。

【００２６】即ち、図４（ｃ），（ｅ）のように、薄い
欠陥Ｄ１は、第１の２値化手段４では２値化されるが、
第２の２値化手段８では２値化されない。他方、同図
（ｄ），（ｆ）のように、濃い欠陥Ｄ２は、第１の２値
化手段４でも、第２の２値化手段８でも２値化される。
以上の動作に基づき、図３に示した欠陥を含む容器内面
の画像全体を第１の２値化手段４で２値化した画像を図
５（ａ）に、同じく第２の２値化手段８で２値化した画
像を図６（ａ）に夫々示す。

【００２７】次に第１の画像分離手段５及び第２の画像
分離手段９の動作を夫々図５及び図６により説明する。
図５（ｂ）の１５は第１の画像分離手段５により、同図
（ａ）に示した２値化画像において、各水平走査線ごと
に２値化関数値ＰＯＤ（ｉ，ｊ）＝“１”となる画素の
数を求めて得られた水平方向の投影データを示す。ここ
でＰ１１〜Ｐ１５は、夫々欠陥Ｄ１〜Ｄ５に対応した投
影データの部分である。

【００２８】この各投影データ部分Ｐ１１〜Ｐ１５の夫
々の画素数の総和を第１の面積検出手段６により求め、
この各総和をＳ１１〜Ｓ１５とすると、Ｓ１１〜Ｓ１５
は欠陥Ｄ１〜Ｄ５をしきい値ＴＨＤ１で２値化したとき
の各欠陥Ｄ１〜Ｄ５部分の夫々の面積値を表す。同様に
図６（ｂ）の１６は第２の画像分離手段９により、同図
（ａ）に示した２値化画像において、各水平走査線ごと
に２値化関数値ＰＯＤ（ｉ，ｊ）＝“１”となる画素の
数を求めて得られた水平方向の投影データを示す。ここ
でＰ２２，Ｐ２３，Ｐ２５は、夫々欠陥Ｄ２，Ｄ３，Ｄ
５に対応した投影データの部分である。

【００２９】この各投影データ部分Ｐ２２，Ｐ２３，Ｐ
２５の夫々の画素数の総和を第２の面積検出手段１０に
より求め、この各総和をＳ２２，Ｓ２３，Ｓ２５とする
と、Ｓ２２，Ｓ２３，Ｓ２５は欠陥Ｄ２，Ｄ３，Ｄ５を
しきい値ＴＨＤ２で２値化したときの各欠陥Ｄ２，Ｄ
３，Ｄ５部分の夫々の面積値を表す。次に第１の判定手
段７の動作を説明する。

【００３０】図７は第１の判定手段７が実行する、薄い
欠陥と濃い欠陥との分離方法を示す図で、この図は図５
（ｂ）の投影データ１５と図６（ｂ）の投影データ１６
とを垂直座標を共通にして対応させたものである。第１
の判定手段７は、投影データ１５において、垂直座標上
の投影値が０以外の値を持つ各区間について、投影デー
タ１６における同一の水平走査線上の投影値を読み出
し、当該区間内で投影データ１６のこの読み出した投影
値が０以外の値を持たなければ、その区間は薄い欠陥に
対応すると判断し、他方、当該区間内で投影データ１６
のこの読み出した投影値が０以外の値を持てば、その区
間は濃い欠陥に対応すると判断する。

【００３１】このようにして、第１の判定手段７は、投
影データ１５の各部分Ｐ１１〜Ｐ１５のうち、Ｐ１１，
Ｐ１４は薄い欠陥に対応する部分、Ｐ１２，Ｐ１３，Ｐ
１５は濃い欠陥に対応する部分と判断する。そして第１
の判定手段７は、薄い欠陥と判断した各投影データ部分
ごとに、第１の面積検出手段６により検出された面積値
（一般にＳ１ｋとする）を所定の判定基準値ＳＴＤ１と
比較し、次式（７）に該当する欠陥があれば、その容器
は不良とする。

【００３２】

【数４】 Ｓ１ｋ＞ＳＴＤ１ ・・・（７） 次に第２の判定手段１１の動作を説明する。第２の画像
分離手段９により検出された各投影データ部分ごとに、
第２の面積検出手段１０で求められた面積値（一般にＳ
２ｋとする）を所定の判定基準値ＳＴＤ２と比較し、次
式（８）に該当する欠陥があれば、その容器は不良とす
る。

【００３３】

【数５】 Ｓ２ｋ＞ＳＴＤ２ ・・・（８） なお、第１の判定手段７により、濃い欠陥と判断された
各投影データ部分ごとに、第１の面積検出手段６により
求められた面積値Ｓ１ｋを判定基準値ＳＴＤ２と比較
し、次式（９）に該当する欠陥があれば、その容器を不
良とする方法もある。

【００３４】

【数６】 Ｓ１ｋ＞ＳＴＤ２ ・・・（９） ところで、第１，第２の画像分離手段５，９の上述した
画像分離方法においては、投影データを生成した際に、
共通の水平走査線が複数の欠陥領域を通過する場合、こ
の複数の欠陥が１個の欠陥と見做されてしまうことがあ
る。

【００３５】このような問題を回避するには、一般的な
ラベリング処理を適用し、欠陥２値化画像を含む容器全
体の画面をラスタ走査しつつ、欠陥２値化画像の連結す
る領域を抽出してラベル付けを行う、２次元での画像分
離を行えば良い。ただし、ラベリング処理は複雑になる
ため、処理に時間が掛かって現実的でない場合もある。
このような場合には、水平方向の走査による欠陥部分の
分離だけでなく、垂直方向の走査によっても同様に欠陥
部分の分離を行い、分離された欠陥数の多い方の分離結
果を採用すれば良い。

【００３６】

【発明の効果】本発明によれば、食品容器等の内面に発
生する黒点，破れ，肉薄等の暗く見える欠陥を、容器内
面の検査対象領域の多値濃淡画像内の各画素について
の、当該画素の近傍を背景とする暗さの深まり量を所定
のしきい値で２値化することによって検出することと
し、この際、暗い欠陥を別々のしきい値で検出して薄い
欠陥部分と濃い欠陥部分とを区分したのち、欠陥の面積
値に応じて夫々の良，不良を判定するようにしたので、
微細黒点等の暗さは濃いが無害な欠陥を不良とすること
なく、容器の破れ，肉薄等の暗さは薄いが致命的な欠陥
を不良とすることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例としての装置の要部の構成を
示すブロック図

【図２】欠陥近傍の背景より暗い微小部分のみを検出す
るように工夫された、本発明に関わる２値化手段の動作
原理を説明する図

【図３】欠陥を含む容器内面の画像の例を示す図

【図４】本発明に基づく走査線上の画像分布の実施例を
示す図

【図５】図３の画像全体を図１の第１の２値化手段で２
値化した画像を示す図

【図６】図３の画像全体を図１の第２の２値化手段で２
値化した画像を示す図

【図７】本発明に基づく薄い欠陥と濃い欠陥の分離方法
を示す図

【符号の説明】

１ 撮像手段 １’ Ａ／Ｄ変換手段 ２ 濃淡画像メモリ ３ 走査手段 ４ 第１の２値化手段 ５ 第１の画像分離手段 ６ 第１の面積検出手段 ７ 第１の判定手段 ８ 第２の２値化手段 ９ 第２の画像分離手段 １０ 第２の面積検出手段 １１ 第２の判定手段 １２ 容器 １３ 薄い欠陥Ｄ１を通る走査線 １４ 濃い欠陥Ｄ２を通る走査線 １５ 第１の２値化手段で２値化した画像の投影デー
タ １６ 第２の２値化手段で２値化した画像の投影デー
タ ５１ 正常部着目点 ５２ 正常部前方背景点 ５３ 正常部後方背景点 ５４ 欠陥部着目点 ５５ 欠陥部前方背景点 ５６ 欠陥部後方背景点 Ｌ１ 薄い欠陥Ｄ１における近傍背景との濃淡値の差
分の最大値 Ｌ２ 濃い欠陥Ｄ２における近傍背景との濃淡値の差
分の最大値 α 着目点と背景点との幅の画素数 Ｄ１ 薄い欠陥 Ｄ２，Ｄ３ 濃い欠陥 Ｄ４ 薄い欠陥 Ｄ５ 濃い欠陥 Ｐ１１〜Ｐ１５ 投影データ１５の欠陥に対応する部
分 Ｐ２２，Ｐ２３，Ｐ２５ 投影データ１６の欠陥に対
応する部分

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】２次元の撮像手段を介し撮像された容器内
   面の映像をラスタ走査して得られる映像信号をＡ／Ｄ変
   換し、この変換出力から作られる容器内面の濃淡画像を
   画像メモリに記憶し、この画像メモリの全体または一部
   の検査領域を水平方向または垂直方向に走査して容器内
   面の暗い欠陥部を検査する容器内面検査装置において、 前記検査領域の走査によって読み出される濃淡画像信号
   を用い、この検査領域の濃淡画像を所定のしきい値で２
   値化する２値化手段と、 この２値化手段により得られる２値化画像を互いに離れ
   た白画像部分毎に分離する画像分離手段との組を、前記
   しきい値を異にして複数組備え、 さらに、この各組毎に、当該組の画像分離手段によって
   分離された白画像の内、前記しきい値が当該組に次いで
   大きい組の白画像と空間的に重なりを持たない白画像毎
   の面積値を夫々当該組に対応する所定の基準値と比較す
   る手段を備えたことを特徴とする容器内面検査装置。
2. 【請求項２】請求項１に記載の容器内面検査装置におい
   て、 前記２値化手段が、前記検査領域の走査によって読み出
   される濃淡画像信号上の各画素についての、当該画素の
   所定の近傍を背景とする暗さの深まり量を前記しきい値
   で２値化するものであることを特徴とする容器内面検査
   装置。
3. 【請求項３】請求項２に記載の容器内面検査装置におい
   て、 前記２値化手段が、当該走査線上において着目画素の前
   後に着目画素から所定の幅だけ離れた各背景画素の値か
   ら夫々、着目画素の値を減じた２つの差分の画素値を前
   記暗さの深まり量とし、この２つの差分の画素値が共に
   前記しきい値より大きいか否かに応じて、着目画素の値
   を夫々“１”，“０”に２値化するものであることを特
   徴とする容器内面検査装置。
4. 【請求項４】請求項３に記載の容器内面検査装置におい
   て、 前記背景画素の値に代えて、当該走査線上におけるこの
   背景画素を含む一連の所定個数分の画素の画素値の平均
   値を用いるようにしたことを特徴とする容器内面検査装
   置。
5. 【請求項５】請求項１ないし４のいずれかに記載の容器
   内面検査装置において、 前記画像分離手段が、前記２値化手段から得られる２値
   化信号の“１”の画素数を投影データとして走査線ごと
   に検出し、走査線毎の１以上の前記投影データが走査線
   間で連続して並ぶ投影データの部分が前記白画像の１つ
   に対応するものと見做すことを特徴とする容器内面検査
   装置。