JPH11249749A - 処理空間内で処理すべき物品の温度の制御方法及び装置 - Google Patents
処理空間内で処理すべき物品の温度の制御方法及び装置Info
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- JPH11249749A JPH11249749A JP10357916A JP35791698A JPH11249749A JP H11249749 A JPH11249749 A JP H11249749A JP 10357916 A JP10357916 A JP 10357916A JP 35791698 A JP35791698 A JP 35791698A JP H11249749 A JPH11249749 A JP H11249749A
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- G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
- G05D23/1927—Control of temperature characterised by the use of electric means using a plurality of sensors
- G05D23/193—Control of temperature characterised by the use of electric means using a plurality of sensors sensing the temperaure in different places in thermal relationship with one or more spaces
- G05D23/1931—Control of temperature characterised by the use of electric means using a plurality of sensors sensing the temperaure in different places in thermal relationship with one or more spaces to control the temperature of one space
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- Control Of Temperature (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 制御回路システムにて、被処理物品−殊に小
室セル−培養物を、欠陥又は構成部分−ドリフトに基づ
く温度の加熱ないし温度の冷却による破壊から保護する
こと。 【解決手段】 温度実際値が相互に無関係な少なくとも
２つの温度センサにより求められ、そして、それぞれ、
第１及び第２温度センサ−信号（Ｓ１，Ｓ２）が、比較
モジュール（１４）の第１，第２入力側に、両センサ信
号相互間の妥当性のチェックのため、又は設定値（Ｗ
１）からの所定の偏差のチェックのため供給されるよう
にし、妥当性−条件の充足の場合、第１出力側を介し
て、第１制御回路の部分としての実際値−信号が制御器
−モジュールへ転送されるようにしたこと。
室セル−培養物を、欠陥又は構成部分−ドリフトに基づ
く温度の加熱ないし温度の冷却による破壊から保護する
こと。 【解決手段】 温度実際値が相互に無関係な少なくとも
２つの温度センサにより求められ、そして、それぞれ、
第１及び第２温度センサ−信号（Ｓ１，Ｓ２）が、比較
モジュール（１４）の第１，第２入力側に、両センサ信
号相互間の妥当性のチェックのため、又は設定値（Ｗ
１）からの所定の偏差のチェックのため供給されるよう
にし、妥当性−条件の充足の場合、第１出力側を介し
て、第１制御回路の部分としての実際値−信号が制御器
−モジュールへ転送されるようにしたこと。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、周囲雰囲気に対し
て閉鎖された処理空間の雰囲気内で、処理空間内で処理
すべき物品の温度の制御方法であって、ここで、少なく
とも１つの制御回路にて温度センサにより温度実際値と
所定の温度設定値との比較により、制御偏差を求め、該
制御偏差により処理空間−雰囲気の温度調節のための調
整操作信号が導出されるようにした当該の温度制御方法
及び該方法を実施するための装置に関する。
て閉鎖された処理空間の雰囲気内で、処理空間内で処理
すべき物品の温度の制御方法であって、ここで、少なく
とも１つの制御回路にて温度センサにより温度実際値と
所定の温度設定値との比較により、制御偏差を求め、該
制御偏差により処理空間−雰囲気の温度調節のための調
整操作信号が導出されるようにした当該の温度制御方法
及び該方法を実施するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＤＥ２１３３１１９Ｂ２からは孵化器が
公知であり、該孵化器では、水が回転する流体として使
用され、ここで、水は温度制御により、一定の温度レベ
ル、例えば、３７°ｃに保持される。障害エラーが機器
の加熱システムにて生じると問題が起こり、ここで例え
ば過熱により、有効利用空間内で存在する品物−例えば
小室セル−培養物−の損壊が生じるおそれがある。この
ことは、亦、加熱の全面的停止の場合における所定の温
度を下回る場合についても当てはまる。更に、制御回路
の個別素子に対しても、例えば、温度センサの障害と
か、非制御の状況が生じ、それにより、小室セル−培養
物の破壊を惹起し得る。
公知であり、該孵化器では、水が回転する流体として使
用され、ここで、水は温度制御により、一定の温度レベ
ル、例えば、３７°ｃに保持される。障害エラーが機器
の加熱システムにて生じると問題が起こり、ここで例え
ば過熱により、有効利用空間内で存在する品物−例えば
小室セル−培養物−の損壊が生じるおそれがある。この
ことは、亦、加熱の全面的停止の場合における所定の温
度を下回る場合についても当てはまる。更に、制御回路
の個別素子に対しても、例えば、温度センサの障害と
か、非制御の状況が生じ、それにより、小室セル−培養
物の破壊を惹起し得る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題とすると
ころは、制御回路システムにて、被処理物品−殊に小室
セル−培養物を、欠陥又は構成部分−ドリフトに基づく
温度の加熱ないし温度の冷却による破壊−例えば温度セ
ンサにおけるセンサドリフトにより、又は欠陥のある調
整操作素子により生じ得るような−から保護することに
ある。；更にシステムエラーの場合においても、操作者
の迅速な投入の可能性をも創出するものである。
ころは、制御回路システムにて、被処理物品−殊に小室
セル−培養物を、欠陥又は構成部分−ドリフトに基づく
温度の加熱ないし温度の冷却による破壊−例えば温度セ
ンサにおけるセンサドリフトにより、又は欠陥のある調
整操作素子により生じ得るような−から保護することに
ある。；更にシステムエラーの場合においても、操作者
の迅速な投入の可能性をも創出するものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】前記課題は、次のように
して解決される、即ち、周囲雰囲気に対して閉鎖された
処理空間の雰囲気内で、処理空間内で処理すべき物品の
温度の制御であって、ここで、少なくとも１つの制御回
路にて温度センサにより温度実際値と所定の温度設定値
との比較により、制御偏差を求め、該制御偏差により処
理空間−雰囲気の温度調節のための調整操作信号が導出
されるようにした当該の温度制御方法において、温度実
際値が相互に無関係な少なくとも２つの温度センサによ
り、求められ、それぞれ、第１及び第２温度センサ−信
号が、比較モジュールの第１，第２入力側に、両センサ
信号相互間の妥当性のチェックのため、又は設定値から
の所定の偏差のチェックのため供給されるようにし、妥
当性−条件の充足の場合、第１出力側を介して、実際値
−信号が制御器−モジュールへ第１制御回路の部分とし
て転送され、そして、実際値が設定値に対する可調整の
トレランスバンド値だけ上回るか下回る際又は妥当性−
条件の非充足の際、第２出力側を介して、出力信号が、
障害防止機能を有する第２制御回路の部分として制御器
／コントロール装置へ転送されるようにしたのである。
して解決される、即ち、周囲雰囲気に対して閉鎖された
処理空間の雰囲気内で、処理空間内で処理すべき物品の
温度の制御であって、ここで、少なくとも１つの制御回
路にて温度センサにより温度実際値と所定の温度設定値
との比較により、制御偏差を求め、該制御偏差により処
理空間−雰囲気の温度調節のための調整操作信号が導出
されるようにした当該の温度制御方法において、温度実
際値が相互に無関係な少なくとも２つの温度センサによ
り、求められ、それぞれ、第１及び第２温度センサ−信
号が、比較モジュールの第１，第２入力側に、両センサ
信号相互間の妥当性のチェックのため、又は設定値から
の所定の偏差のチェックのため供給されるようにし、妥
当性−条件の充足の場合、第１出力側を介して、実際値
−信号が制御器−モジュールへ第１制御回路の部分とし
て転送され、そして、実際値が設定値に対する可調整の
トレランスバンド値だけ上回るか下回る際又は妥当性−
条件の非充足の際、第２出力側を介して、出力信号が、
障害防止機能を有する第２制御回路の部分として制御器
／コントロール装置へ転送されるようにしたのである。
【０００５】有利であることが判明しているところによ
れば、完全に揃った制御回路が、それのセンサ及び調整
操作素子と共に付加的に、コントロール装置により監視
され、その結果、制御回路ないしセンサシステムにおい
て場合によりエラーが起こっても、−場合により過熱又
は温度冷却のため−処理されるべき物品例えば小室セル
−被処理物品の損壊を生じさせ得ないようになる。
れば、完全に揃った制御回路が、それのセンサ及び調整
操作素子と共に付加的に、コントロール装置により監視
され、その結果、制御回路ないしセンサシステムにおい
て場合によりエラーが起こっても、−場合により過熱又
は温度冷却のため−処理されるべき物品例えば小室セル
−被処理物品の損壊を生じさせ得ないようになる。
【０００６】本発明の方法の有利な実施形態によれば、
両センサ信号のうちの少なくとも１つが、両センサ信号
間の所定の差値を越えることは、妥当性条件の非充足で
あると評価されるようにしたのである。ここで、差値
は、設定値−実際値差ないし絶対値に依存して可変に調
整できる。
両センサ信号のうちの少なくとも１つが、両センサ信号
間の所定の差値を越えることは、妥当性条件の非充足で
あると評価されるようにしたのである。ここで、差値
は、設定値−実際値差ないし絶対値に依存して可変に調
整できる。
【０００７】妥当性条件の非充足の際、制御器／コント
ロール装置によりエラー信号及び／又は調整操作信号
が、有効利用空間−雰囲気の温度調節のため出力される
ようにしたのである、つまり、実際上、制御器／コント
ロール装置は、有効利用空間雰囲気の温度調整のためエ
ネルギ供給を遮断するようにしたのである。
ロール装置によりエラー信号及び／又は調整操作信号
が、有効利用空間−雰囲気の温度調節のため出力される
ようにしたのである、つまり、実際上、制御器／コント
ロール装置は、有効利用空間雰囲気の温度調整のためエ
ネルギ供給を遮断するようにしたのである。
【０００８】特に有利には、有効利用空間温度が、２つ
の別個の検出システムを介して検出される；ここで、前
記の両温度ないしそれのセンサ信号値は、サイクリック
に相互に比較される、有利に判明しているところによれ
ば、選択された測定−及び制御領域の所定の妥当性−バ
ンド外でのセンサ信号値の場合、永続的な遮断がエラー
メッセージを以て行われる。
の別個の検出システムを介して検出される；ここで、前
記の両温度ないしそれのセンサ信号値は、サイクリック
に相互に比較される、有利に判明しているところによれ
ば、選択された測定−及び制御領域の所定の妥当性−バ
ンド外でのセンサ信号値の場合、永続的な遮断がエラー
メッセージを以て行われる。
【０００９】２つのセンサ信号に対する妥当性条件充足
のもとで、可調整のトレランスバンドだけの設定値を上
回ったり、又は下回ったとき、制御器／コントロール装
置及びそれの出力側に接続された調整操作素子が制御を
上位制御回路として引き受け、引継ぐようにしたのであ
る；測定された温度がトレランスバンドを下回り、障害
エラー時間が経過した場合、エラーメッセージ“温度不
足”が生じ、これに反し、温度がトレランスバンドを上
回った場合エラーメッセージ“過熱温度”が生じ、そし
て、調整操作素子として、網遮断リレーの接続された制
御器／コントロール装置におけるプログラム“物品−保
護”による温度制御の引継ぎ、引き受けが行われる。
のもとで、可調整のトレランスバンドだけの設定値を上
回ったり、又は下回ったとき、制御器／コントロール装
置及びそれの出力側に接続された調整操作素子が制御を
上位制御回路として引き受け、引継ぐようにしたのであ
る；測定された温度がトレランスバンドを下回り、障害
エラー時間が経過した場合、エラーメッセージ“温度不
足”が生じ、これに反し、温度がトレランスバンドを上
回った場合エラーメッセージ“過熱温度”が生じ、そし
て、調整操作素子として、網遮断リレーの接続された制
御器／コントロール装置におけるプログラム“物品−保
護”による温度制御の引継ぎ、引き受けが行われる。
【００１０】特に有利であることは判明しているのは、
上方のトレランスバンド値を上回ったとき、何れの極性
でもスイッチングする網遮断リレーを介して調整セッテ
ィングされた設定値へ制御できる。
上方のトレランスバンド値を上回ったとき、何れの極性
でもスイッチングする網遮断リレーを介して調整セッテ
ィングされた設定値へ制御できる。
【００１１】前記課題を解決するための、本発明の方法
を実施するための装置によれば、処理空間内で処理すべ
き物品の温度の制御装置において、次のようにして解決
される、即ち、周囲に対して閉鎖可能な雰囲気を有する
処理空間内で処理されるべき品物の温度制御装置であっ
て、制御器を有する少なくとも１つの制御回路が設けら
れており、前記制御器の入力側は、それぞれ処理空間内
の温度実際値−センサと温度設定値−発生器とに接続さ
れており、前記制御器の出力側は、処理空間雰囲気の温
度調節のため調整操作素子に接続されている当該の温度
制御装置において、少なくとも２つの温度センサが設け
られており、前記温度センサのうちの第１のセンサが比
較モジュールの第１入力側に接続され、第２センサが第
１のセンサのほかに付加的に比較モジュールの第２入力
側に接続されており、前記のセンサと比較モジュールと
の接続構成は、所定の値だけの設定値を上回ったり、又
は下回ったりしているか否かについてセンサ信号のチェ
ック検査をするため、及びセンサ信号−差値生成のため
なされており、ここで、比較モジュールの出力側は、そ
れぞれ、制御器の入力側と、固有の制御器を有するコン
トロール装置の入力側とに接続されているのである。こ
こで、前記装置の有利な構成形態では、両温度センサの
うちの一方が薄膜−測定抵抗として構成され、他方が半
導体ベースのデジタルセンサとして構成されているので
ある。
を実施するための装置によれば、処理空間内で処理すべ
き物品の温度の制御装置において、次のようにして解決
される、即ち、周囲に対して閉鎖可能な雰囲気を有する
処理空間内で処理されるべき品物の温度制御装置であっ
て、制御器を有する少なくとも１つの制御回路が設けら
れており、前記制御器の入力側は、それぞれ処理空間内
の温度実際値−センサと温度設定値−発生器とに接続さ
れており、前記制御器の出力側は、処理空間雰囲気の温
度調節のため調整操作素子に接続されている当該の温度
制御装置において、少なくとも２つの温度センサが設け
られており、前記温度センサのうちの第１のセンサが比
較モジュールの第１入力側に接続され、第２センサが第
１のセンサのほかに付加的に比較モジュールの第２入力
側に接続されており、前記のセンサと比較モジュールと
の接続構成は、所定の値だけの設定値を上回ったり、又
は下回ったりしているか否かについてセンサ信号のチェ
ック検査をするため、及びセンサ信号−差値生成のため
なされており、ここで、比較モジュールの出力側は、そ
れぞれ、制御器の入力側と、固有の制御器を有するコン
トロール装置の入力側とに接続されているのである。こ
こで、前記装置の有利な構成形態では、両温度センサの
うちの一方が薄膜−測定抵抗として構成され、他方が半
導体ベースのデジタルセンサとして構成されているので
ある。
【００１２】有利な実施形態では、デジタルコンピュー
タは、比較モジュール、制御器及びコントロール装置の
機能を引き受け、ここで、デジタルセンサは、バスシス
テムを介して比較モジュールの部分としての主プロセッ
サに接続され、薄膜−測定抵抗及び後置接続のアンプ回
路を有する温度センサは、接続されたＡ／Ｄ変換器を有
し、該Ａ／Ｄ変換器は同様にバスシステムに接続され
る。コントロール装置の信号出力側は、警報装置と調整
操作素子とに接続されており、また、調整操作素子は、
制御器／コントロール装置の制御器により可制御である
ように構成されているのである。
タは、比較モジュール、制御器及びコントロール装置の
機能を引き受け、ここで、デジタルセンサは、バスシス
テムを介して比較モジュールの部分としての主プロセッ
サに接続され、薄膜−測定抵抗及び後置接続のアンプ回
路を有する温度センサは、接続されたＡ／Ｄ変換器を有
し、該Ａ／Ｄ変換器は同様にバスシステムに接続され
る。コントロール装置の信号出力側は、警報装置と調整
操作素子とに接続されており、また、調整操作素子は、
制御器／コントロール装置の制御器により可制御である
ように構成されているのである。
【００１３】有利であると判明しているところによれ
ば、装置機器加熱システムにおけるループ閉成状態（例
えば調整操作素子における永続的閉成状態）を一義的に
検出できる。測定された温度値が妥当性ある場合（即
ち、両温度センサ信号が妥当性−バンド内に位置する場
合）、制御器／コントロール装置において、調整操作素
子としての、いずれの極性でもスイッチングする上位の
スイッチング素子を用いて及び特別なソフトウエアモジ
ュールを用いて加熱システムの作動が引き受けられる。
それにより、調整セッティングされた設定値に再び制御
され、そして当該の設定値にて更に制御され得る。ここ
で、トレランスバンドは、機能“物品−保護”−機能の
起動のためのトリガバンドとして使用される。
ば、装置機器加熱システムにおけるループ閉成状態（例
えば調整操作素子における永続的閉成状態）を一義的に
検出できる。測定された温度値が妥当性ある場合（即
ち、両温度センサ信号が妥当性−バンド内に位置する場
合）、制御器／コントロール装置において、調整操作素
子としての、いずれの極性でもスイッチングする上位の
スイッチング素子を用いて及び特別なソフトウエアモジ
ュールを用いて加熱システムの作動が引き受けられる。
それにより、調整セッティングされた設定値に再び制御
され、そして当該の設定値にて更に制御され得る。ここ
で、トレランスバンドは、機能“物品−保護”−機能の
起動のためのトリガバンドとして使用される。
【００１４】以下図１〜図３を用いて本発明の対象を詳
細に説明する。
細に説明する。
【００１５】
【実施例】図１は、孵化装置ないし処理空間付の孵化器
及び制御器、温度調節装置及びコントロール装置のよう
な所属の周辺装置の構成略図であり、図２は、トレラン
スバンド妥当性値内での基準参照−実際値の時間的温度
経過及び欠陥事由ケースの場合におけるコントロール実
際値Ｓ２が妥当性トレランスバンドを離脱する様子及び
コントロール実際値Ｓ１が３７°Ｃに調整セッティング
された設定値を温度上昇−これはセンサドリフトにより
誤認され得る−の方向で離脱する様子を示す特性図であ
りここで、トレランスバンドは、設定値到達後わずかに
制限され得る；時間軸はｔ1で示し、温度軸は、Ｔで示
す（図２−ａ）。欠陥事由ケースの発生後装置は冷却
し、その結果基準参照−実際値もコントロール実際値も
時間的温度低下をも受ける（図２−ｂ）。
及び制御器、温度調節装置及びコントロール装置のよう
な所属の周辺装置の構成略図であり、図２は、トレラン
スバンド妥当性値内での基準参照−実際値の時間的温度
経過及び欠陥事由ケースの場合におけるコントロール実
際値Ｓ２が妥当性トレランスバンドを離脱する様子及び
コントロール実際値Ｓ１が３７°Ｃに調整セッティング
された設定値を温度上昇−これはセンサドリフトにより
誤認され得る−の方向で離脱する様子を示す特性図であ
りここで、トレランスバンドは、設定値到達後わずかに
制限され得る；時間軸はｔ1で示し、温度軸は、Ｔで示
す（図２−ａ）。欠陥事由ケースの発生後装置は冷却
し、その結果基準参照−実際値もコントロール実際値も
時間的温度低下をも受ける（図２−ｂ）。
【００１６】図３は、所定の設定値−実際値差（誤差ト
レランスバンド）を越える場合に生じ得る欠陥事由ケー
スに対する特性図である。時間軸をｔで示し、温度軸を
Ｔで示す。
レランスバンド）を越える場合に生じ得る欠陥事由ケー
スに対する特性図である。時間軸をｔで示し、温度軸を
Ｔで示す。
【００１７】図１に示すように、被処理物品１は、孵化
装置３の孵化室２内に収容されており、この被処理物品
はここでは単に略示してある。被処理物品−例えば、小
室セル−培養物−の温度調節は、温度調節素子４を介し
て行われ、前記温度調節素子は、調整操作素子６，７を
介しての制御を、制御器として用いられる制御器−モジ
ュール５及び／コントロール装置８（制御器機能付き）
を介して受け取る；Ｙ１で示す制御器−モジュール５の
調整操作信号の伝送は、線路９を介して行われる。処理
空間２内に温度センサ１１が設けられており、該温度セ
ンサ１１は、有利に測定抵抗−例えば白金抵抗Ｐｔ１０
００−を有する；第１温度センサ１１は、具体的構成で
は電子的アンプ回路を有する。温度センサ１１は、Ａ／
Ｄ変換器３４及び線路１２を介して、比較モジュール１
４の第１の入力側１３に接続されており、ここで処理空
間２にて測定された温度がセンサ信号Ｓ１の形態で比較
モジュール１４の入力側１３へ伝送される；比較モジュ
ール１４は、２つの出力側を有し、該２つの出力側のう
ち第１の出力側１５は、Ｓ１に比例する信号Ｘ１の伝送
のため制御モジュール５の入力側１７に接続されてい
る；同時に制御モジュール５は、それの第２入力側１８
を介して信号発生器２０と接続されており、該信号発生
器は、温度設定値Ｗ１を設定する；設定値は時間に関し
て一定であってもよいし、又は時間関数として形成され
得る（温度のタイムパターン制御ないし時間プログラム
制御）。
装置３の孵化室２内に収容されており、この被処理物品
はここでは単に略示してある。被処理物品−例えば、小
室セル−培養物−の温度調節は、温度調節素子４を介し
て行われ、前記温度調節素子は、調整操作素子６，７を
介しての制御を、制御器として用いられる制御器−モジ
ュール５及び／コントロール装置８（制御器機能付き）
を介して受け取る；Ｙ１で示す制御器−モジュール５の
調整操作信号の伝送は、線路９を介して行われる。処理
空間２内に温度センサ１１が設けられており、該温度セ
ンサ１１は、有利に測定抵抗−例えば白金抵抗Ｐｔ１０
００−を有する；第１温度センサ１１は、具体的構成で
は電子的アンプ回路を有する。温度センサ１１は、Ａ／
Ｄ変換器３４及び線路１２を介して、比較モジュール１
４の第１の入力側１３に接続されており、ここで処理空
間２にて測定された温度がセンサ信号Ｓ１の形態で比較
モジュール１４の入力側１３へ伝送される；比較モジュ
ール１４は、２つの出力側を有し、該２つの出力側のう
ち第１の出力側１５は、Ｓ１に比例する信号Ｘ１の伝送
のため制御モジュール５の入力側１７に接続されてい
る；同時に制御モジュール５は、それの第２入力側１８
を介して信号発生器２０と接続されており、該信号発生
器は、温度設定値Ｗ１を設定する；設定値は時間に関し
て一定であってもよいし、又は時間関数として形成され
得る（温度のタイムパターン制御ないし時間プログラム
制御）。
【００１８】制御器５内で、入力側１７，１８に加わる
信号Ｘ１とＷ１との差形成により制御偏差が時間関数に
て求められ、そして所定の設定値Ｗ１への求められた温
度実際値Ｘ１のできる限り迅速な整合のため、出力側２
２を介して調整操作信号Ｙ１が調整操作素子６の入力側
２３へ供給され、それにより、温度調節素子４、例え
ば、加熱素子、ヒータが制御される。
信号Ｘ１とＷ１との差形成により制御偏差が時間関数に
て求められ、そして所定の設定値Ｗ１への求められた温
度実際値Ｘ１のできる限り迅速な整合のため、出力側２
２を介して調整操作信号Ｙ１が調整操作素子６の入力側
２３へ供給され、それにより、温度調節素子４、例え
ば、加熱素子、ヒータが制御される。
【００１９】実際上、温度センサ１１を備えた処理空間
１２及び温度調節素子４により形成された制御区間の制
御器−モジュールのパラメータが、実際的な試行により
適合調整される。同様に比較モジュール１４に接続され
た制御器／コントロール装置８の制御器は、制御器モジ
ュール５に相応する構成を有し、ここで、信号発生器２
０により出力されるのと同じ設定値Ｗ１も基礎とされ
る。有利な実施例では比較モジュール、制御器モジュー
ル及びコントロール装置がデジタルコンピュータのプロ
グラミングモジュールとして構成されている。
１２及び温度調節素子４により形成された制御区間の制
御器−モジュールのパラメータが、実際的な試行により
適合調整される。同様に比較モジュール１４に接続され
た制御器／コントロール装置８の制御器は、制御器モジ
ュール５に相応する構成を有し、ここで、信号発生器２
０により出力されるのと同じ設定値Ｗ１も基礎とされ
る。有利な実施例では比較モジュール、制御器モジュー
ル及びコントロール装置がデジタルコンピュータのプロ
グラミングモジュールとして構成されている。
【００２０】制御過程の監視を確保するため、付加的な
−即ち、第２の有利にはデジタルの温度センサ２５が処
理空間２内に設置されており、温度センサ２５は、線路
２６及び入力側２８を介して比較モジユール１４に接続
されている。前記比較モジュールは、例えば、デジタル
コンピュータとして構成されている。ここで第１の温度
センサ１１及び第２コントロール−温度センサ２５（半
導体素子として構成）を用いて、処理空間２内で支配す
る温度が測定される；このために、制御器５を有する制
御回路に無関係に、比較モジュール１４を用いて次のこ
とが検出される、即ち、入力側１３に加わる、第１セン
サ１１の信号Ｓ１に比して、比較モジュール１４の入力
側２８に加わる温度センサ２５の信号Ｓ２が、許容され
た温度差−これは妥当性領域（以降Ｗ３と称される）−
内に位置しているか、又は、既に制御器５を有する制御
回路が非作動状態におかれ、不活性化されなければなら
ないかが検出される。そのように非作動状態におかれ、
不活性化されなければならない訳は、両温度−測定信号
Ｓ１，Ｓ２間の温度差が、比較モジュール１４の出力側
２９に接続された制御器／コントロール装置８によりコ
ントロールを行わなければならない程大になるからであ
る；温度センサ信号Ｓ１及び相応の電気的信号値Ｘ１に
類似して、Ｓ２は温度センサ信号を表し、Ｘ２は制御器
／コントロール装置８の入力側３３に供給される電気的
信号値を表す。
−即ち、第２の有利にはデジタルの温度センサ２５が処
理空間２内に設置されており、温度センサ２５は、線路
２６及び入力側２８を介して比較モジユール１４に接続
されている。前記比較モジュールは、例えば、デジタル
コンピュータとして構成されている。ここで第１の温度
センサ１１及び第２コントロール−温度センサ２５（半
導体素子として構成）を用いて、処理空間２内で支配す
る温度が測定される；このために、制御器５を有する制
御回路に無関係に、比較モジュール１４を用いて次のこ
とが検出される、即ち、入力側１３に加わる、第１セン
サ１１の信号Ｓ１に比して、比較モジュール１４の入力
側２８に加わる温度センサ２５の信号Ｓ２が、許容され
た温度差−これは妥当性領域（以降Ｗ３と称される）−
内に位置しているか、又は、既に制御器５を有する制御
回路が非作動状態におかれ、不活性化されなければなら
ないかが検出される。そのように非作動状態におかれ、
不活性化されなければならない訳は、両温度−測定信号
Ｓ１，Ｓ２間の温度差が、比較モジュール１４の出力側
２９に接続された制御器／コントロール装置８によりコ
ントロールを行わなければならない程大になるからであ
る；温度センサ信号Ｓ１及び相応の電気的信号値Ｘ１に
類似して、Ｓ２は温度センサ信号を表し、Ｘ２は制御器
／コントロール装置８の入力側３３に供給される電気的
信号値を表す。
【００２１】つまり、第１の温度センサ１１の温度信号
値Ｓ１に対して、ないし、Ｓ１の周りにエラー及び妥当
性−バンドがセッティングされ、該エラー及び妥当性−
バンドは、温度センサ１１の基準参照−温度センサ信号
値Ｓ１と、同様に処理空間２内に配置された第２温度セ
ンサ２５のコントロール信号Ｓ２との間の近似的に同方
向の時間的経過に対する時間的比較領域を形成すべきも
のである。両温度センサ−信号値Ｓ１，Ｓ２間の差が所
定の妥当性値を上回ると直ちに、比較モジュール１４に
より制御器／コントロール装置８と共に、出力側３６を
介して警報信号がトリガされ、該警報信号は、例えば通
信線路を介して遠隔の場所に伝送され得る；更に、同時
に、制御信号Ｙ２が、線路３１を介して調整操作素子７
の入力側３２に、電気コンタクトの開放の目的で供給さ
れ、調整操作素子７を永続的に遮断する。ここで問題と
なるのは、制御線路３１への切換と共に、調整操作信号
Ｙ２により同時に操作者への警報−これはシンボリック
にＡで示す−が行われる。調整操作素子７への電流給電
のための接続端子を４１，４２で示す。
値Ｓ１に対して、ないし、Ｓ１の周りにエラー及び妥当
性−バンドがセッティングされ、該エラー及び妥当性−
バンドは、温度センサ１１の基準参照−温度センサ信号
値Ｓ１と、同様に処理空間２内に配置された第２温度セ
ンサ２５のコントロール信号Ｓ２との間の近似的に同方
向の時間的経過に対する時間的比較領域を形成すべきも
のである。両温度センサ−信号値Ｓ１，Ｓ２間の差が所
定の妥当性値を上回ると直ちに、比較モジュール１４に
より制御器／コントロール装置８と共に、出力側３６を
介して警報信号がトリガされ、該警報信号は、例えば通
信線路を介して遠隔の場所に伝送され得る；更に、同時
に、制御信号Ｙ２が、線路３１を介して調整操作素子７
の入力側３２に、電気コンタクトの開放の目的で供給さ
れ、調整操作素子７を永続的に遮断する。ここで問題と
なるのは、制御線路３１への切換と共に、調整操作信号
Ｙ２により同時に操作者への警報−これはシンボリック
にＡで示す−が行われる。調整操作素子７への電流給電
のための接続端子を４１，４２で示す。
【００２２】装置的構成は、実質的に、通常の孵化装
置、例えば、ＤＥ２９２４４４６ないしＤＥ３３１５０
８５Ｃ２から公知のものである。
置、例えば、ＤＥ２９２４４４６ないしＤＥ３３１５０
８５Ｃ２から公知のものである。
【００２３】図２−ａには、加熱フェーズｌ及び孵化フ
ェーズのＩＩの時間的温度特性を示す；加熱フェーズＩ
において比較的大きなセンサ質量体に基づき著しい温度
変動が生じ得るので、温度センサ信号値Ｓ１，Ｓ２の妥
当性−トレランスバンドＷ２、例えば第１の温度センサ
信号値Ｓ１に対して例えば±５°Ｃ内で行うべきであ
る；設定値Ｗ１′（例えば３７°に相応する温度設定
値）に到達の後、第１の温度センサ−信号値Ｓ１の周り
の、時点ｔｏ以降、“シャープ化”（即ち狭隘化）され
た妥当性トレランスバンドＷ３（例えば±２°Ｃ）を以
て孵化フェーズＩＩが始まり、その結果両温度信号値Ｓ
１，Ｓ２の妥当性への高められた要求が課せられる。
ェーズのＩＩの時間的温度特性を示す；加熱フェーズＩ
において比較的大きなセンサ質量体に基づき著しい温度
変動が生じ得るので、温度センサ信号値Ｓ１，Ｓ２の妥
当性−トレランスバンドＷ２、例えば第１の温度センサ
信号値Ｓ１に対して例えば±５°Ｃ内で行うべきであ
る；設定値Ｗ１′（例えば３７°に相応する温度設定
値）に到達の後、第１の温度センサ−信号値Ｓ１の周り
の、時点ｔｏ以降、“シャープ化”（即ち狭隘化）され
た妥当性トレランスバンドＷ３（例えば±２°Ｃ）を以
て孵化フェーズＩＩが始まり、その結果両温度信号値Ｓ
１，Ｓ２の妥当性への高められた要求が課せられる。
【００２４】図２−ｂは、孵化フェーズＩＩの更なる経
過（図２−ａによるフェーズＩＩの継続）を示す。
過（図２−ａによるフェーズＩＩの継続）を示す。
【００２５】図２−ｂから明らかになるところによれ
ば、温度センサ１１（図１）はそれの温度センサ−信号
値Ｓ１がドリフト（例えば正のドリフト）を受け、そし
て、第２温度センサ−信号値Ｓ２は、妥当性−トレラン
スバンドＷ３のところを離脱する。つまり、妥当性コン
トロール、チェックにより明らかになるところは、温度
差がトレランスバンド値を下回り、従って、両温度セン
サ−信号値の一義性がもはや与えられないということで
ある；換言すれば、両温度センサ１１，２５のうちの少
なくとも１つないし所属の周辺に欠陥がある；この場合
において、制御器／コントロール装置８を用いて、温度
調節素子４−温度調節素子４が加熱素子である限り−の
永続的な遮断及び装置の処理空間の冷却が行われる。
ば、温度センサ１１（図１）はそれの温度センサ−信号
値Ｓ１がドリフト（例えば正のドリフト）を受け、そし
て、第２温度センサ−信号値Ｓ２は、妥当性−トレラン
スバンドＷ３のところを離脱する。つまり、妥当性コン
トロール、チェックにより明らかになるところは、温度
差がトレランスバンド値を下回り、従って、両温度セン
サ−信号値の一義性がもはや与えられないということで
ある；換言すれば、両温度センサ１１，２５のうちの少
なくとも１つないし所属の周辺に欠陥がある；この場合
において、制御器／コントロール装置８を用いて、温度
調節素子４−温度調節素子４が加熱素子である限り−の
永続的な遮断及び装置の処理空間の冷却が行われる。
【００２６】図２−ｂの時点ｔ1にて妥当性−トレラン
スバンドＷ３は、第１の温度センサ−信号値Ｓ１の上昇
に基づき高められ、一方、第２温度センサ−信号値Ｓ２
は、トレランスバンドのところから、妥当性値の下限の
通過によりトレランスバンドを離脱し、そして比較モジ
ュール１４（図１）を介して両温度センサ−信号値Ｓ
１，Ｓ２の妥当性の欠如、欠格が検出される。
スバンドＷ３は、第１の温度センサ−信号値Ｓ１の上昇
に基づき高められ、一方、第２温度センサ−信号値Ｓ２
は、トレランスバンドのところから、妥当性値の下限の
通過によりトレランスバンドを離脱し、そして比較モジ
ュール１４（図１）を介して両温度センサ−信号値Ｓ
１，Ｓ２の妥当性の欠如、欠格が検出される。
【００２７】両温度センサ１１又は２５のうちのどれが
欠陥のある温度センサ−信号値を送出するかが明らかで
ないので時点ｔ２にて、所謂“欠陥事由ケース”がトリ
ガされ、そして、温度調節素子４のエネルギ供給が調整
セッティングされる；実際上そのことの意味するところ
は、図１に示すように、調整操作素子７は、温度調節素
子４の電流回路をいずれの極性に対しても遮断し、その
結果先行の加熱過程（孵化フェーズ）において、両温度
センサ−信号値Ｓ１，Ｓ２はフェーズＩＩＩ（時間に関
して見て）にて欠陥事由ケースに基づき低下する。
欠陥のある温度センサ−信号値を送出するかが明らかで
ないので時点ｔ２にて、所謂“欠陥事由ケース”がトリ
ガされ、そして、温度調節素子４のエネルギ供給が調整
セッティングされる；実際上そのことの意味するところ
は、図１に示すように、調整操作素子７は、温度調節素
子４の電流回路をいずれの極性に対しても遮断し、その
結果先行の加熱過程（孵化フェーズ）において、両温度
センサ−信号値Ｓ１，Ｓ２はフェーズＩＩＩ（時間に関
して見て）にて欠陥事由ケースに基づき低下する。
【００２８】図３を用いて所謂“物品−保護”−機能を
説明する。該所謂“物品−保護”−機能は、制御回路に
て場合により、欠陥のある場合−例えば図１の調整操作
素子６のコンタクトが、永続的に閉成される−作用状態
におかれるようにしたものである。
説明する。該所謂“物品−保護”−機能は、制御回路に
て場合により、欠陥のある場合−例えば図１の調整操作
素子６のコンタクトが、永続的に閉成される−作用状態
におかれるようにしたものである。
【００２９】温度センサ１１により測定された温度−信
号値Ｓ１が、図１の比較モジュール１４にて、温度設定
値Ｗ１の周りの自由に規定可能なエラー欠陥−トレラン
スバンドＷ４内にある限り、制御器／コントロール装置
８は、処理空間の温度調節にに関して非アクティブであ
る；センサ欠陥（図２−ａ，ｂ）と異なって、温度セン
サにより求められた温度センサ−信号値Ｓ１，Ｓ２の妥
当性は、与えられているが、時点ｔ1から、両温度セン
サ−信号値Ｓ１，Ｓ２の上昇が明らかであり、ここで場
合によりエラー、誤差−トレランスバンドの限界値を上
回る際、時点ｔ2にて、直ちに温度調節素子４の接続が
図１に示すように調整操作素子７を介して、非作動状態
におかれ、不活性化され、そして、調整セッティングさ
れた温度設定値Ｗ１への制御が、デジタル制御器として
作用する制御器／コントロール装置８により引き受けら
れる。
号値Ｓ１が、図１の比較モジュール１４にて、温度設定
値Ｗ１の周りの自由に規定可能なエラー欠陥−トレラン
スバンドＷ４内にある限り、制御器／コントロール装置
８は、処理空間の温度調節にに関して非アクティブであ
る；センサ欠陥（図２−ａ，ｂ）と異なって、温度セン
サにより求められた温度センサ−信号値Ｓ１，Ｓ２の妥
当性は、与えられているが、時点ｔ1から、両温度セン
サ−信号値Ｓ１，Ｓ２の上昇が明らかであり、ここで場
合によりエラー、誤差−トレランスバンドの限界値を上
回る際、時点ｔ2にて、直ちに温度調節素子４の接続が
図１に示すように調整操作素子７を介して、非作動状態
におかれ、不活性化され、そして、調整セッティングさ
れた温度設定値Ｗ１への制御が、デジタル制御器として
作用する制御器／コントロール装置８により引き受けら
れる。
【００３０】図３に示すように、或１つの欠陥事由ケー
スの発生の様子を示してあり、ここで、制御回路にて欠
陥に基づき（温度センサ１１，２５を除いて）２つの求
められた温度センサ−信号Ｓ１，Ｓ２がエラー、誤差−
トレランスバンドＷ４の上限ＯＧの所を離脱し、ｔ2に
て制御の開始後始めて、設定値信号の平均値ＷないしＷ
１に向かう。つまり、制御器又は操作素子は、欠陥を有
し、ここで、この場合において、操作素子は、当然、温
度調節素子４をも共に含むものである。。
スの発生の様子を示してあり、ここで、制御回路にて欠
陥に基づき（温度センサ１１，２５を除いて）２つの求
められた温度センサ−信号Ｓ１，Ｓ２がエラー、誤差−
トレランスバンドＷ４の上限ＯＧの所を離脱し、ｔ2に
て制御の開始後始めて、設定値信号の平均値ＷないしＷ
１に向かう。つまり、制御器又は操作素子は、欠陥を有
し、ここで、この場合において、操作素子は、当然、温
度調節素子４をも共に含むものである。。
【００３１】当該の“接続関係”の特別な利点とすると
ころは、欠陥事由ケース発生の場合、制御区間にて再び
ユーザにより所望される温度設定値Ｗ１へ制御し得るこ
とである。
ころは、欠陥事由ケース発生の場合、制御区間にて再び
ユーザにより所望される温度設定値Ｗ１へ制御し得るこ
とである。
【００３２】
【発明の効果】本発明によれば、制御回路システムに
て、被処理物品−殊に小室セル−培養物を、欠陥又は構
成部分−ドリフトに基づく温度の加熱ないし温度の冷却
による破壊−例えば温度センサにおけるセンサドリフト
により、又は欠陥のある調整操作素子により生じ得るよ
うな−から保護することができ、更にシステムエラーの
場合においても、操作用員の迅速な投入の可能性をも創
出することができるという効果が得られる。
て、被処理物品−殊に小室セル−培養物を、欠陥又は構
成部分−ドリフトに基づく温度の加熱ないし温度の冷却
による破壊−例えば温度センサにおけるセンサドリフト
により、又は欠陥のある調整操作素子により生じ得るよ
うな−から保護することができ、更にシステムエラーの
場合においても、操作用員の迅速な投入の可能性をも創
出することができるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図１】孵化装置ないし処理空間付の孵化器及び制御
器、温度調節装置及びコントロール装置のような所属の
周辺装置の構成略図。
器、温度調節装置及びコントロール装置のような所属の
周辺装置の構成略図。
【図２】トレランスバンド妥当性値内での基準参照−実
際値の時間的温度経過及び欠陥事由ケースの場合におけ
るコントロール実際値Ｓ２が妥当性トレランスバンドを
離脱する様子及びコントロール実際値Ｓ１が３７°Ｃに
調整セッティングされた設定値を温度上昇−これはセン
サドリフトにより誤認され得る−の方向で離脱する様子
を示す特性図。
際値の時間的温度経過及び欠陥事由ケースの場合におけ
るコントロール実際値Ｓ２が妥当性トレランスバンドを
離脱する様子及びコントロール実際値Ｓ１が３７°Ｃに
調整セッティングされた設定値を温度上昇−これはセン
サドリフトにより誤認され得る−の方向で離脱する様子
を示す特性図。
【図３】所定の設定値−実際値差（トレランスバンド）
を越える場合に生じ得る欠陥事由ケースに対する特性
図。
を越える場合に生じ得る欠陥事由ケースに対する特性
図。
１ 被処理物品 ２ 処理空間 ３ 孵化装置 ４ 温度調整素子 ５ 制御器モジュール ６ 操作素子 ７ 操作素子 ８ 制御器／コントロール装置 ９ 線路 １１ 温度センサ １２ 線路 １３ 入力側 １４ 比較モジュール １５ 出力側 １７ 入力側 １８ 第２入力側 ２０ 信号発生器 ２２ 出力側 ２３ 入力側 ２５ 温度センサ ２８ 入力側 ２９ 出力側 ３１ 制御線路 ３２ 入力側 ３６ 出力側
Claims (13)
- 【請求項１】 周囲雰囲気に対して閉鎖された処理空間
の雰囲気内で、前記処理空間内で処理すべき物品の温度
の制御方法であって、ここで、少なくとも１つの制御回
路にて温度センサにより温度実際値と所定の温度設定値
との比較により、制御偏差を求め、該制御偏差により処
理空間−雰囲気の温度調節のための調整操作信号が導出
されるようにした当該の温度制御方法において、 温度実際値が相互に無関係な少なくとも２つの温度セン
サにより求められ、そして、それぞれ、第１及び第２温
度センサ−信号（Ｓ１，Ｓ２）が、比較モジュール（１
４）の第１，第２入力側（２８，１３）に、両センサ信
号（Ｓ１，Ｓ２）相互間の妥当性のチェックのため、又
は設定値（Ｗ１）からの所定の偏差のチェックのため供
給されるようにし、妥当性−条件の充足の場合、第１出
力側（１５）を介して、実際値−信号（Ｘ１）が第１制
御回路の部分としての制御器−モジュール（５）へ転送
され、そして、実際値が設定値（Ｗ１）の周りの可調整
のトレランスバンド値を上回るか下回る際又は妥当性−
条件の非充足の際、第２出力側を介して、出力信号（Ｘ
２）が、障害防止機能を有する第２制御回路の部分とし
て制御器／コントロール装置（８）へ転送されるように
したことを特徴とする処理空間内で処理すべき物品の温
度の制御方法。 - 【請求項２】 ２つのセンサ信号（Ｓ１，Ｓ２）の妥当
性の条件が充足されている場合、可調整のトレランスバ
ンドだけ設定値（Ｗ１）を上回ったり、又は下回ったと
き、制御を、制御器／コントロール装置（８）及び所属
の調整操作素子（７）が、上位制御回路として、引き受
け、引継ぐようにしたことを特徴とする請求項１記載の
方法。 - 【請求項３】 両センサ信号（Ｓ１，Ｓ２）のうちの少
なくとも１つが、両センサ信号（Ｓ１，Ｓ２）間の所定
の差値を超えることは、妥当性条件の非充足であると評
価されるようにしたことを特徴とする請求項１記載の方
法。 - 【請求項４】 妥当性条件の非充足の際、制御器／コン
トロール装置によりエラー信号及び／又は調整操作信号
が、有効利用空間−雰囲気の温度調節のため出力される
ようにしたことを特徴とする請求項１又は２記載の方
法。 - 【請求項５】 制御器／コントロール装置は、有効利用
空間雰囲気の温度調節のためエネルギ供給を遮断するよ
うにしたことを特徴とする請求項１から３までのうちい
ずれか１項記載の方法。 - 【請求項６】 制御器／コントロール装置は、有効利用
空間内で、制御回路に依存しない温度−制御を引き受け
るようにしたことを特徴とする請求項１から４までのう
ちいずれか１項記載の方法。 - 【請求項７】 熱制御の場合、物品にとって一層よりク
リティカルな温度−実際値がコントロール装置により制
御過程の基礎として選択されるようにしたことを特徴と
する請求項４記載の方法。 - 【請求項８】 周囲に対して閉鎖可能な雰囲気を有する
処理空間内で処理されるべき品物の温度制御装置であっ
て、制御器を有する少なくとも１つの制御回路が設けら
れており、前記制御器の入力側は、それぞれ処理空間内
の温度実際値−センサと温度設定値−発生器に接続され
ており、前記制御器の出力側は、処理空間雰囲気の温度
調節のため調整操作素子に接続されている当該の温度制
御装置において、 少なくとも２つの温度センサが設けられており、前記温
度センサのうちの第１のセンサ（１１）が比較モジュー
ル（１４）の第１入力側（１３）に接続され、第２セン
サ（２５）が第１のセンサのほかに付加的に比較モジュ
ール（１４）の第２入力側（２８）に接続されており、
前記のセンサと比較モジュールとの接続構成は、所定の
値だけ設定値を上回ったり、又は下回ったりしているか
否かについてセンサ信号のチェック検査をするため、及
びセンサ信号−差値生成のためなされており、ここで、
比較モジュールの出力側（１５，２９）は、それぞれ、
制御器（５）の入力側（１７）と、固有の制御器を有す
るコントロール装置（８）の入力側とに接続されている
ことを特徴とする処理空間内で処理すべき物品の温度の
制御装置。 - 【請求項９】 両温度センサのうちの一方（１１）が薄
膜−測定抵抗として構成され、他方（２５）が半導体ベ
ースのデジタルセンサとして構成されていることを特徴
とする請求項８記載の装置。 - 【請求項１０】 デジタルセンサ（２５）のみならず、
薄膜測定抵抗及びアンプ回路に後置接続されたＡ／Ｄ変
換器（３４）もバスシステムとして比較モジュール（１
４）の部分としての主プロセッサに接続されていること
を特徴とする請求項８又は９記載の装置。 - 【請求項１１】 制御器／コントロール装置（８）の信
号出力側は、警報装置と調整操作素子とに接続されてい
ることを特徴とする請求項８から１０までのうちいずれ
か１項記載の装置。 - 【請求項１２】 調整操作素子は、制御器／コントロー
ル装置（８）の制御器により可制御であることを特徴と
する請求項１１記載の装置。 - 【請求項１３】 比較モジュール（１４）、制御器（１
５）及び制御器／コントロール装置（８）がデジタルコ
ンピュータのプログラミングにより作成されていること
を特徴とする請求項８間ら１２までのうちいずれか１項
記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19756510.7 | 1997-12-19 | ||
| DE19756510A DE19756510C1 (de) | 1997-12-19 | 1997-12-19 | Verfahren zur Regelung der Temperatur eines in einem Behandlungsraum zu behandelnden Gutes sowie Vorrichtung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11249749A true JPH11249749A (ja) | 1999-09-17 |
Family
ID=7852523
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10357916A Pending JPH11249749A (ja) | 1997-12-19 | 1998-12-16 | 処理空間内で処理すべき物品の温度の制御方法及び装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6173903B1 (ja) |
| EP (1) | EP0924587A1 (ja) |
| JP (1) | JPH11249749A (ja) |
| DE (1) | DE19756510C1 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002318162A (ja) * | 2001-02-01 | 2002-10-31 | Canon Inc | 異常の検知方法および保護装置、並びに、温度の推定方法および推定装置 |
| DE10128822B4 (de) * | 2001-06-15 | 2007-04-26 | Binder Gmbh | Verfahren zum Konstanthalten der Konzentration eines Gases in der Nutzraumatmosphäre eines Begasungsbrutschrankes |
| DE10248655A1 (de) * | 2002-10-18 | 2004-04-29 | Still Wagner Gmbh & Co. Kg | Flurförderzeug mit einem Hubgerüst und einem Temperaturschalter |
| DE10320031A1 (de) * | 2003-05-06 | 2004-12-16 | Samson Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen der Betriebssicherheit eines Prozessstellgeräts |
| DE102006040408A1 (de) * | 2006-08-29 | 2008-03-13 | Abb Patent Gmbh | Verfahren zum Betrieb einer Fühleranordnung |
| DE102006044091A1 (de) | 2006-09-20 | 2008-04-03 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Steuermodul und Steuersystem zur Beeinflussung von Probenumgebungsparametern eines Inkubationssystems, Verfahren zur Steuerung einer Mikroskopanordnung und Computerprogrammprodukt |
| WO2009047812A1 (en) * | 2007-10-11 | 2009-04-16 | Ansaldo Segnalamento Ferroviario S.P.A. | Fail-safe temperature detection device |
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