JPH1125536A - 記録再生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 超解像光記録媒体に、記録条件の制御と再生
条件の制御とを行うことを可能とする記録再生装置を提
供する。 【解決手段】 テストライト時には、テスト信号発生回
路９が発生するテストパターンを光磁気ディスク１に記
録し、これを磁気ヘッド５による外部磁界を印加せずに
再生し、その再生信号を制御回路８で解析して、最適記
録条件を求める。テストリード時には、光磁気ディスク
１に記録されている情報を、磁気ヘッド５による外部磁
界を印加する場合としない場合の両方で再生し、これら
の再生信号を制御回路８で解析して、最適再生条件を求
める。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光記録媒体に外部
磁界を加える事によって、該媒体上に光ビームのスポッ
ト面積よりも小さいアパーチャ（開口部）が生じる磁気
的超解像を利用した光記録媒体に対して、最適な記録／
再生条件を求めるためのテストライトまたはテストリー
ドを行う記録再生装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】近年、記録密度を向上させるために、記
録層の上に再生層を設け、光ビームのスポット面積より
も小さい開口部（以下、アパーチャと称する）を再生層
に発生させ、記録層のマークを高密度で読み出す光記録
媒体の開発が行われている。例えば特開平３−９３０５
６号公報に開示された光磁気記録媒体は、記録マークを
記録するための記録層と、記録層との交換結合によって
記録マークが転写される再生層と、記録層と再生層との
交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有し、
再生時は再生磁界を加えて光スポットの後方に発生した
高温部分をマスクとして磁気的超解像を発生させること
により、高密度の記録マークを再生している。

【０００３】この方式は、光スポットの前方にアパーチ
ャが生じるので、一般にＦＡＤ（Front Aperture Detec
tion) と呼ばれている。この他に、光スポットの中央に
アパーチャが生じるＣＡＤ（Center Aperture Detectio
n)、中央にアパーチャが生じるＲＡＤ（Rear Aperture
Detection)などが知られている。

【０００４】これらのディスクは、再生層における高温
部分によって光スポットの一部をマスクすることによ
り、スポット面積よりも小さな部分、いわゆるアパーチ
ャによって記録マークを読み出す。このとき、環境温度
の変化やディスクの特性ばらつきによって高温部分の大
きさが変動するため、これにつれてアパーチャの面積も
変動する。このため、アパーチャの大きさを制御し、安
定した再生を行う必要がある。

【０００５】例えば、ＣＡＤ方式においてアパーチャの
制御を行う方法として、特開平８−６３８１７号公報に
開示されたテストリード方法では、短マークと長マーク
とを再生し、再生信号の振幅比が一定となるように再生
光量を制御することによって、アパーチャの大きさを制
御していた。この方法は、再生光量の制御によって、高
温部分の大きさを制御するので、他のＦＡＤ方式にＲＡ
Ｄ方式においても使用可能と考えられる。

【０００６】また、上述の環境温度の変化やディスクの
特性ばらつきは再生時に限らず、記録時の記録マークの
大きさも変動させる。磁気的超解像が生じない従来の光
記録媒体に、一定の記録マークを記録する方法として特
開平７−２４９２２６号公報に開示されたテストライト
方法があった。この方法では、あらかじめ記録光量を変
化させながらテストパターンを記録し、これを再生した
テスト信号が最適な信号レベルとなるように記録光量を
制御している。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記従来の
構成では、磁気的超解像を生じる光記録媒体に上述のテ
ストリードを行うと、記録マークがあらかじめ正確に記
録されている場合は最適な再生光量に制御できるが、も
し、上述の環境温度の変化などによって不正確な大きさ
の記録マークが記録されている場合には誤った再生光量
に制御されるという問題が生じる。

【０００８】このため、従来のテストライトによって磁
気的超解像を生じる光記録媒体に対して、あらかじめ記
録光量の制御を行う方法が考えられる。ところが、テス
トパターンを再生して記録状態を検出する場合に、上述
の環境温度の変化などによってアパーチャの大きさが変
動するため、誤った記録状態を検出するという問題が生
じる。

【０００９】つまり、上記超解像を生じる光記録媒体に
対して従来のテストライトを行っても記録光量を最適に
制御することができず、これにより正確な大きさの記録
マークも記録できないため、テストリードを行っても再
生光量も最適に制御できないという問題が生じる。

【００１０】本発明は、上記の問題点を解決するために
なされたもので、その目的は、環境温度の変動等の影響
を受けることなく、テストライトおよびテストリードを
行い、最適な記録条件および再生条件を求めることがで
きる記録再生装置を提供することにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】請求項１の記録再生装置
は、記録マークを記録するための記録層と、記録層に磁
気記録されている情報が切断層を介した交換結合力によ
って転写される再生層と、光ビームが照射されたときに
所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の交換結合
力を切断する切断層とによる多層構造を有している光磁
気記録媒体に対して、該光磁気記録媒体に外部磁界を加
えながら、再生層に光ビームを照射してデータの記録再
生を行うものであり、上記の課題を解決するために、光
記録媒体に情報を記録するための記録手段と、光記録媒
体の情報を再生するための再生手段と、光記録媒体に外
部磁界を印加する磁界印加手段と、上記再生手段による
再生によって得られた再生信号の信号レベルを検出する
再生信号検出手段と、上記記録手段を制御して上記光記
録媒体に情報を記録させ、上記再生手段を制御して上記
情報を再生させると共に、上記再生信号検出手段により
再生信号の信号レベルを検出する場合には、上記情報の
再生時に上記外部磁界が選択的に印加されるように磁界
印加手段を制御する制御手段とを備えていることを特徴
としている。

【００１２】上記の構成によれば、制御手段は、記録手
段を制御して、上記光記録媒体に情報を記録させ、再生
手段によってこの情報を再生させる。情報の再生時にお
いて再生信号の信号レベルを検出したい時には、制御手
段は磁界印加手段を制御することによって選択的に外部
磁界を印加することができる。そして、上記再生信号検
出手段が、再生によって得られた再生信号のレベルを検
出する。

【００１３】これにより、情報の読み出しを行う場合、
すなわち通常の再生時において、外部磁界を印加するこ
とによって、光記録媒体の再生層にアパーチャを生じさ
せて高分解能の再生を行うことができると同時に、外部
磁界を印加せずに情報の再生を行い、この再生信号のレ
ベルを再生信号検出手段で検出することによって、アパ
ーチャを生じさせずに再生を行うこともでき、この場合
は、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されず
に、光記録媒体上の記録マークの記録状態を検出でき
る。

【００１４】また、例えば、外部磁界を印加しながら情
報の再生を行った場合の再生信号のレベルと、外部磁界
を印加せずに情報の再生を行った場合の再生信号のレベ
ルとを検出し、これらを比較することによって、再生信
号からの分解能の変化を正確に検出することができる。

【００１５】請求項２の記録再生装置は、上記の課題を
解決するために、請求項１の構成に加えて、テスト信号
を発生するテスト信号発生手段と、記録条件を設定する
記録条件設定手段とを備え、上記制御手段は、上記記録
条件設定手段を制御して記録条件を上記記録手段に設定
させ、上記記録手段を制御して上記光記録媒体に上記テ
スト信号発生手段が発生するテスト信号からテストパタ
ーンを記録させ、上記再生手段を制御して上記テストパ
ターンを外部磁界を印加しない状態で再生させ、この再
生によって得られた再生信号のレベルが上記再生信号検
出手段によって検出されると、該再生信号のレベルに基
づいて記録条件の制御を行い、最適な記録条件を求める
ことを特徴としている。

【００１６】上記の構成によれば、記録条件とは、例え
ば記録時に光記録媒体に照射される光ビームの光量や、
光記録媒体に印加される磁界強度のことである。制御手
段は、記録条件設定手段を制御して、上記記録手段に、
例えばある適当な範囲内の、特定の記録条件を設定させ
る。そして、記録手段を制御して、上記光記録媒体にテ
ストパターンを記録させ、再生手段によってこのテスト
パターンを再生させる。上記再生時には、磁界印加手段
による外部磁界は印加されない。そして、上記再生信号
検出手段が、この再生によって得られた再生信号のレベ
ルを検出し、制御手段に伝達する。このように、制御手
段は、上記範囲内における複数の記録条件に対応した再
生信号のレベルを取得することができる。そして、制御
手段は、これら取得した再生条件のレベルを比較して、
最適な再生信号を記録した記録条件を、最適な記録条件
として決定する。

【００１７】これにより、光記録媒体の再生層にアパー
チャを発生させて再生を行う記録再生装置における最適
な記録条件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに
影響されずに正確に求めることが可能となる。従って、
この記録条件を用いて上記光記録媒体に記録を行えば、
最適な条件で記録を行うことが可能となる。このため、
エラーの少ない情報の記録を行うことが可能である。

【００１８】請求項３の記録再生装置は、請求項２の構
成に加えて、上記テストパターンが、上記再生手段が光
記録媒体に対して照射する光ビームのスポット径よりも
大きい記録マークを形成するパターンであることを特徴
としている。

【００１９】上記の構成により、大きい記録マークによ
って外部磁界が印加されない場合の分解能の低下を補う
ことができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出でき
る。

【００２０】請求項４の記録再生装置は、上記の課題を
解決するために、請求項１の構成に加えて、再生条件を
設定する再生条件設定手段を備え、上記制御手段は、上
記再生条件設定手段を制御して再生条件を上記再生手段
に設定させ、上記再生手段を制御して光記録媒体に記録
されている情報を、外部磁界を印加する状態と、印加し
ない状態との両方で再生させ、これらの再生によって得
られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段によっ
て検出されると、該再生信号のレベルに基づいて再生条
件の制御を行い、最適な再生条件を求めることを特徴と
している。

【００２１】上記の構成によれば、再生条件とは、例え
ば再生時に光記録媒体に照射される光ビームの光量や、
光記録媒体に印加される磁界の強度のことである。制御
手段は、再生条件設定手段を制御して、再生手段に、例
えばある適当な範囲内の、特定の再生条件を設定させ
る。そして、この再生手段を制御して、外部磁界を印加
する状態と、印加しない状態との両方の状態において、
光記録媒体に記録された情報を再生させる。そして、こ
れらの再生によって得られた再生信号のレベルが上記再
生信号検出手段によって検出されると、制御手段は、こ
のレベルを解析し、得られた再生信号が最適な再生信号
であるかどうか判断する。最適な再生信号でない場合に
は、再生条件を変えて、再度再生信号のレベルを取得
し、解析する。そして、最適な再生信号であると判断し
た場合には、この再生における再生条件を、最適な再生
条件として決定する。

【００２２】これにより、光記録媒体に外部磁界を印加
する場合、すなわち再生層に光ビームのスポット径より
小さいアパーチャを発生させて再生を行う場合と、外部
磁界を印加しない場合、すなわち再生層にアパーチャを
発生させずに再生を行う場合との両方の状態において再
生信号のレベルを検出しているので、これらのレベルを
比較することによって、分解能の変化を知ることがで
き、その比較結果が所定の値となるように再生条件を最
適化することができる。

【００２３】請求項５の記録再生装置は、請求項４の構
成に加えて、上記再生手段が、該再生手段が光記録媒体
に対して照射する光ビームのスポット径よりも小さい記
録マークを再生し、上記制御手段は、この再生信号のレ
ベルに基づいて再生条件の制御を行うことを特徴として
いる。

【００２４】上記の構成により、小さい記録マークによ
って外部磁界を印加する場合と印加しない場合との分解
能を大きく変化させることができ、高いＳ／Ｎ比によっ
て情報再生時の再生光量または再生磁界強度を制御する
ことができる。

【００２５】

【発明の実施の形態】本発明の実施の一形態について図
１ないし図１３に基づいて説明すれば、以下の通りであ
る。

【００２６】図１は、本実施の形態にかかる記録再生装
置（以下、本装置とする）の構成を示すブロック図であ
る。図１に示すように、本装置は、光ピックアップ２
と、送りモータ３と、レーザドライバ４と、磁気ヘッド
５と、磁気ヘッドドライバ６と、再生信号検出手段とし
ての再生信号検出回路７と、制御手段、再生条件設定手
段および記録条件設定手段としての制御回路８と、テス
ト信号発生手段としてのテスト信号発生回路９とから構
成されており、光記録媒体としての光磁気ディスク１に
対して記録再生を行う。また、記録手段は、光ピックア
ップ２、レーザドライバ４、磁気ヘッド５および磁気ヘ
ッドドライバ６から構成され、再生手段は、光ピックア
ップ２、レーザドライバ４から構成される。さらに、磁
気ヘッド５は、磁界印加手段としても作用する。

【００２７】光ピックアップ２は、光磁気ディスク１に
光ビームｂを照射することによって、光磁気ディスク１
に記録されている情報を読み取るためのものである。さ
らに光ピックアップ２は、読み取った情報を再生信号ｈ
として再生信号検出回路７に送出する。

【００２８】送りモータ３は、制御回路８の指示によ
り、光ピックアップ２を移動させ、光磁気ディスク１の
所定部分に光ビームｂが照射されるようにするためのも
のである。また、レーザドライバ４は、制御回路８の指
示により、光ピックアップ２に光ピックアップ駆動信号
ｅを伝達することによって、光ピックアップ２が照射す
る光ビームのパワーを制御するためのものである。

【００２９】磁気ヘッド５は、情報を記録するために光
磁気ディスク１に磁界を印加するためのものである。ま
た、磁気ヘッドドライバ６は、制御回路８の指示によ
り、磁気ヘッド５に磁気ヘッド駆動信号ｄを伝達するこ
とによって、この磁気ヘッド５が印加する磁界の強度を
制御するためのものである。

【００３０】また、再生信号検出回路７は、光ピックア
ップ２によって読み出された再生信号のレベルを検出し
て、信号レベルデータｉとして制御回路８に伝達するた
めのものである。ここで、再生信号のレベルとは、再生
信号の振幅の大きさのことである。

【００３１】制御回路８は、送りモータ３に移動制御信
号ａを伝達することによって、送りモータ３を制御する
ためのものである。また、制御回路８は、光量制御信号
ｇをレーザドライバ４に伝達することによって、このレ
ーザドライバ４を制御する。さらに、制御回路８は、磁
気ヘッドドライバ６に磁界制御信号ｆを伝達することに
よって、この磁気ヘッドドライバ６を制御する。

【００３２】テスト信号発生回路９は、後述する記録条
件の制御のためのテスト信号を、テスト信号ｃとしてレ
ーザドライバ４および磁気ヘッドドライバ６に伝達する
ためのものである。

【００３３】本装置で用いられる光磁気ディスク１は、
例えば、図２に示すように、その外周部に、テストライ
ト時においてテストパターンを書き込むテストライト領
域１１が形成されており、その内側に通常の記録情報を
書き込む情報記録領域１２が形成されている。

【００３４】図４は、上記の磁気ヘッドドライバ６およ
びレーザドライバ４における、制御回路８からの磁界制
御信号ｆおよび光量制御信号ｇの処理のための構成を示
すブロック図である。図４に示すように、磁気ヘッドド
ライバ６は、磁気ヘッド駆動回路２１と、Ｄ／Ａコンバ
ータ２２とを備えており、レーザドライバ４は、光ピッ
クアップ駆動回路２３とＤ／Ａコンバータ２４とを備え
ている。また、光ピックアップ２は、光ビームｂを発す
るための半導体レーザ２５を備えている。

【００３５】制御回路８から送られてくる磁界制御信号
ｆは、例えば８ビットのバイナリデータであり、Ｄ／Ａ
コンバータ２２は、この磁界制御信号ｆを受け取り、ア
ナログ信号に変換し、磁気ヘッド駆動回路２１に送る。
磁気ヘッド駆動回路２１は、このアナログ信号に基づい
た磁気ヘッド駆動信号ｄを磁気ヘッド５に送り、磁気ヘ
ッド５の発生する磁界を制御する。このようにして、磁
気ヘッドドライバ６は、制御回路８の指示に基づいて、
磁気ヘッド５の発生する外部磁界を正確に制御すること
ができる。これにより、制御回路８の指示に基づいて外
部磁界の強度をアパーチャが生じないレベルまで正確に
減じたり、オフさせることができる。

【００３６】また、制御回路８から送られてくる光量制
御信号ｇは、磁界制御信号ｆと同様に、例えば８ビット
のバイナリデータであり、Ｄ／Ａコンバータ２４は、こ
の光量制御信号ｇを受け取り、アナログ信号に変換して
光ピックアップ駆動回路２３に送る。光ピックアップ駆
動回路２３は、このアナログ信号に基づいた光ピックア
ップ駆動信号ｅを光ピックアップ２に備えられている半
導体レーザ２５に送り、半導体レーザ２５の発生する光
ビームｂの光量を制御する。このようにして、レーザド
ライバ４は、制御回路８の指示に基づいて、光ピックア
ップ２の発生する光ビームｂの光量を正確に制御するこ
とができる。

【００３７】図５は、再生信号検出回路７の構成を示す
ブロック図である。図５に示すように、再生信号検出回
路７は、アンプ３１と、ローパスフィルタ３２と、振幅
検出回路３３と、Ａ／Ｄコンバータ３４とから構成され
ている。

【００３８】光ピックアップ２から送られてくる再生信
号ｈはアナログ信号であり、アンプ３１は、この再生信
号ｈを受け取り、増幅してローパスフィルタ３２に送
る。ローパスフィルタ３２は、この増幅された再生信号
ｈのＳ／Ｎ比を向上させ、振幅検出回路３３に送る。振
幅検出回路３３は、この増幅され、Ｓ／Ｎ比が向上され
た再生信号ｈの信号レベルを検出し、Ａ／Ｄコンバータ
３４に送る。Ａ／Ｄコンバータ３４は、この信号レベル
を、例えば８ビットのバイナリデータに変換し、信号レ
ベルデータｉとして制御回路８に伝達する。このように
して、再生信号検出回路７は、正確な再生信号のレベル
を制御回路８に伝達することができる。

【００３９】上記構成の本装置によって、光磁気ディス
ク１上の記録情報を読み出す場合を図６を用いて以下に
説明する。ただし、読み出し時において、外部磁界をオ
ンにする場合と、外部磁界をオフにする場合とでは、読
み出し特性は異なる。

【００４０】先ず、上記外部磁界がオンにされた場合
を、図６（ａ）に示す。上記光磁気ディスク１は、再生
層４１、切断層４２、および記録層４３を有する多層構
造となっており、記録層４３に磁気記録されたパターン
が交換結合によって再生層４１に転写されている。

【００４１】上記光磁気ディスク１に記録された情報の
読み出し時には、該光磁気ディスク１の再生層４１に光
スポットｐが照射される。上記光スポットｐの前方、す
なわち、記録媒体の移動方向（図６中のｘ方向）側に
は、高温部ｑ（図６中の斜線部）が発生する。高温部ｑ
の領域では、切断層４２の温度がキュリー温度以上に上
昇し、切断層４２の磁界が消滅する。したがって、記録
層４３と再生層４１との交換結合が切断される。尚、上
記の説明は、ＦＡＤ方式の場合を例示している。

【００４２】このとき、上記光磁気ディスク１に、磁気
ヘッド５によって外部磁界Ｈｅｘが加えられると、高温
部ｑの再生層４１では該外部磁界Ｈｅｘの方向へ磁化が
そろえられる。このため、高温部ｑでは記録層４３に記
録された記録マークがマスクされることとなる。したが
って、この場合には、光スポットｐから高温部ｑを除い
た低温部分がアパーチャｒとなり、該アパーチャｒが読
み出し領域（図６（ａ）中の横線部）となる。外部磁界
がオンにされた場合には、このように光スポットｐより
もアパーチャｒが小さくなるため、光磁気ディスク１に
対して高密度に記録された情報を再生できる。尚、本実
施の形態では、上記外部磁界Ｈｅｘのみが、特許請求の
範囲に記載の外部磁界に相当する。

【００４３】一方、外部磁界がオフにされた場合は、図
６（ｂ）に示すように、高温部ｑによって、切断層４２
の磁界が消滅しても、外部磁界Ｈｅｘが与えられていな
いため、再生層４１には記録層４３からの漏洩磁界Ｈｌ
ｋにより、記録層４３と同じパターンが転写される。し
たがって、外部磁界がオンにされた場合のように、高温
部ｑによるマスクは生じず、光スポットｐの照射領域の
すべてがそのまま読み出し領域（図６（ｂ）中の横線
部）となり、環境温度の変化等に関係なく記録マークを
再生することができる。

【００４４】尚、図６（ｂ）において外部磁界Ｈｅｘを
オフする以外に、その強度を減じることによって漏洩磁
界Ｈｌｋよりも小さくすればマスクの効果は無くなっ
て、実質上外部磁界Ｈｅｘがオフされた状態になり、記
録マークの転写が行われることは言うまでもない。

【００４５】これより、本装置による光磁気ディスク１
の記録再生動作を詳細に説明する。図７は、上記記録再
生動作を示すフローチャートである。尚、本装置では、
光磁気ディスク１に対する記録動作と、該光磁気ディス
ク１に記録された情報の再生動作とは、別々に行うこと
ができるが、以下の説明では、記録動作に続けて再生動
作が行われるものとする。

【００４６】まず、本装置が光磁気ディスク１への記録
動作を行う前には、該光磁気ディスク１に照射する光ビ
ームｂの光量を適切に調節するためにテストライトを行
う。そのため、光ピックアップ２が光磁気ディスク１の
テストライト領域１１へ移動させられ（Ｓ１）、記録光
量や記録磁界強度等の記録条件を変化させながらテスト
ライトを行う（Ｓ２）。上記テストライトが終了し、光
ビームｂの光量が調節されると、光ピックアップ２が光
磁気ディスク１の情報記録領域１２へ移動させられ（Ｓ
３）、最適化された記録条件を使用しての情報の記録が
行われる（Ｓ４）。

【００４７】上記記録動作に続いて再生動作が行われる
が、該再生動作の前においても、光ビームｂの光量を調
節するために、再生光量や再生磁界強度などの再生条件
を変化させながら、情報記録領域に記録された情報を再
生してテストリードが行われる（Ｓ５）。テストリード
が終了すると、最適化された再生条件に基づいて情報の
再生が行われる（Ｓ６）。

【００４８】図７におけるテストライトの動作を、以下
に詳細に説明する。テストライトは光磁気ディスク１の
テストライト領域１１にテストパターンを記録する工程
と、これを再生して記録状態を検出する工程と、検出し
た記録状態に基づいて最適な記録光量や磁界強度を決定
する工程に分けられる。

【００４９】まず、テストパターンの記録工程では、図
１に示すように、制御回路８から送りモータ３に移動制
御信号ａが出力され、光ピックアップ２が図２に示す光
磁気ディスク１のテストライト領域１１へ移動される。
テスト信号発生回路９からはテスト信号ｃが発せられ、
レーザドライバ４に送られ、光ピックアップ駆動信号ｅ
が光ピックアップ２内の半導体レーザに送られる。さら
に、制御回路８から磁界制御信号ｆが磁気ヘッドドライ
バ６に送られ、該磁気ヘッドドライバ６で上記磁界制御
信号ｆが磁気ヘッド駆動信号ｄに変換されて磁気ヘッド
５に送られる。そして、上記磁気ヘッド５は磁気ヘッド
駆動信号ｄに基づいて光磁気ディスク１に外部磁界を印
加する。また制御回路８からは光量制御信号ｇがレーザ
ドライバ４に送られ、光ビームｂの記録光量を変化させ
ながらテスト信号ｃを記録する。

【００５０】次に、テスト信号ｃの再生工程では、まず
磁界制御信号ｆにより外部磁界がオフされる。これによ
り、再生時の超解像の発生を一時的に停止させ、環境温
度の変動などに影響されずに、記録されたテストパター
ンの再生を行うことができる。次に、光ピックアップ２
によってテストパターンが読み出され、テストパターン
信号ｈが再生信号検出回路７に送られる。再生信号検出
回路７では、テストパターン信号ｈの信号レベルデータ
ｉを検出して制御回路８へ送り、図示しないメモリに記
憶しておく。

【００５１】テストパターンの再生が終わると、再び磁
界制御信号ｆにより外部磁界をオンし、記録光量を微増
して、テスト信号ｃの記録へ戻る。このように記録光量
を微増させながら、あらかじめ決められた光量範囲にお
いてテスト信号ｃを記録し、そのときの記録状態を検出
する。尚、上述の外部磁界のオフ動作には、実質上超解
像が生じないレベルまで外部磁界を減じる場合も含む。

【００５２】次に最適な記録光量を決定する工程では、
メモリに記憶された記録状態の中から最適なものを探
し、このときの記録光量を最適な記録光量と決定する。

【００５３】テストライトが終了すると、光ピックアッ
プ２を図２における情報記録領域１２に移動し、最適な
記録光量に基づいて情報の記録を行うことができる。記
録された情報は、テストリード時に読み出され、最適な
再生光量の制御を行うことができる。上記テストリード
動作については後述する。

【００５４】上記の動作を主に図８のフローチャートを
用いてさらに詳しく説明する。テストライトの動作命令
によってテストライトが開始されると、本装置は、磁気
ヘッド５による外部磁界をオンする（Ｓ１１）。次に、
記録光量の初期値を設定し（Ｓ１２）、光磁気ディスク
１のテストライト領域にテストパターンを磁界変調記録
する（Ｓ１３）。この時、図９（ａ）に示すように、光
磁気ディスク１のトラックＴ₀ に記録マークｍ１が記録
される。次に、外部磁界をオフし（Ｓ１４）、トラック
Ｔ₀ を再生する（Ｓ１５）。こうして、図９（ｄ）に実
線で示される再生信号の振幅Ｖ₀ が検出される（Ｓ１
６）。

【００５５】尚、上記Ｓ１１においてオンされる外部磁
界は、光磁気ディスク１にテストパターンを書き込むた
めに与えられるものである。つまり、上記外部磁界は、
再生時において再生層４１上にアパーチャを生じさせる
ために与えられる外部磁界Ｈｅｘとは異なり、磁気ヘッ
ド駆動回路２１から送られる磁気ヘッド駆動信号ｄによ
り制御される。

【００５６】続いて、再び外部磁界をオンして（Ｓ１
７）、図９（ｂ）に示すように隣接トラックＴ₁ を消去
し、続いて反対側の隣接トラックＴ_-1を消去する（Ｓ１
８）。そして、上記外部磁界をオフして（Ｓ１９）、図
９（ｃ）に示すように、再びトラックＴ₀ を再生する
（Ｓ２０）。こうして、図９（ｄ）に破線で示される再
生信号の振幅Ｖ₁ が検出される（Ｓ２１）。尚、上記Ｓ
１７においてオンされる外部磁界は、光磁気ディスク１
のテストパターンを消去するために与えられるものであ
り、磁界の向きおよび大きさは一定であるが、再生層４
１上にアパーチャを生じさせるために与えられる外部磁
界Ｈｅｘとは異なる。

【００５７】ここで、記録光量が大きすぎると、光スポ
ットｐのスポット面積が大きくなり、図９（ｃ）に示す
ように、記録マークｍ２は消去前の記録マークｍ１に比
べて、マークの両脇が消去されたものとなる。したがっ
て、振幅Ｖ₁ は振幅Ｖ₀ に比べて小さくなる。逆に、記
録光量が小さいと、記録マークｍ２の両脇は消去されな
いため、振幅Ｖ₀ と振幅Ｖ₁ とは等しくなる。

【００５８】再生信号の振幅Ｖ₁ が検出されると、再び
外部磁界（Ｓ１１でオンされる外部磁界と同様）をオン
に戻す（Ｓ２２）。次に、振幅減少率Ｖ₀ −Ｖ₁ を算出
して、該振幅減少率Ｖ₀ −Ｖ₁ とこの時の記録光量とを
メモリに記憶し（Ｓ２３）、上記記録光量が予め決めら
れた光量範囲を越えているかを否かを判断する（Ｓ２
４）。上記記録光量が予め決められた光量範囲を越えて
いなければ（Ｓ２４でＮＯ）、記録光量を所定の変化分
だけ増加し（Ｓ２５）、トラックＴ₀ への記録動作、す
なわちＳ１３へ戻る。こうして、上記記録光量が予め決
められた光量範囲を越えるまで（Ｓ２４でＹＥＳ）、Ｓ
１３からＳ２５までのステップが繰り返し行われ、メモ
リには、各記録光量とこれに対応する振幅減少率Ｖ₀ −
Ｖ₁ とが記憶される。設定されている記録光量が上記光
量範囲を越えれば（Ｓ２４でＹＥＳ）、上記メモリに記
憶された記録光量の中から最適な記録光量を選択し、
（Ｓ２６）テストライトを終了する。

【００５９】ここで、記録光量、振幅減少量Ｖ₀ −Ｖ₁
およびＳ／Ｎ比の関係を図１０を用いて説明する。記録
光量が低い場合には、上述したように、トラックＴ₀ 上
の記録マークの両脇が消去されないため、振幅減少量Ｖ
₀ −Ｖ₁ はほぼゼロとなりノイズによる検出誤差δＶの
範囲内に収まる。ところが、しだいに記録光量を上げて
行くと、ある記録光量において記録マークの両脇が消去
され始め、徐々に振幅減少量Ｖ₀ −Ｖ₁ が増加し始め
る。

【００６０】上記振幅減少量Ｖ₀ −Ｖ₁ が増加を始める
直前、すなわち振幅減少量Ｖ₀ −Ｖ₁ が検出誤差δＶを
超える直前の記録光量Ｐ_w0においては、光スポットｐの
スポット径がトラック幅とほぼ等しくなるため、記録マ
ークの両脇は消去されず、しかも最も大きな記録マーク
を記録できる。つまり、最適記録光量Ｐ_w0では、記録マ
ークのＳ／Ｎ比を最も大きくすることができる。したが
って、上記Ｓ２６では、振幅減少量Ｖ₀ −Ｖ₁ ＜δＶと
なり、かつ最も高い記録光量が最適な記録光量として選
択される。

【００６１】尚、上記図８のフローチャートにおいて、
Ｓ２３のステップで振幅減少量Ｖ₀−Ｖ₁ の代わりに振
幅Ｖ₁ を記憶し、Ｓ２６のステップで振幅Ｖ₁ が最も大
きい記録光量を最適記録光量として選択してもよい。

【００６２】また、上記の説明では、トラックＴ₁ とＴ
_-1の両方を消去しているが、どちらか一方だけ消去して
も同様な効果を得ることができる。しかし、トラックＴ
₁ とＴ_-1の両方を消去した方が、図９（ｄ）に示した振
幅減少量Ｖ₀ −Ｖ₁ が大きくなり、検出感度を高くする
ことができる。また、上述の例では磁界変調記録を示し
たが、これに限らず光変調記録の場合も同様の動作でテ
ストライトが行える。

【００６３】さらに、図９（ａ）および図９（ｃ）で
は、外部磁界Ｈｅｘをオフにした状態で、光スポットｐ
全体で記録マークｍ１やｍ２を再生している。したがっ
て、外部磁界Ｈｅｘをオンにし、超解像を発生させて情
報再生する場合に比べて分解能が下がるが、環境温度の
変動などに影響されない安定した記録状態の検出が可能
となる。尚、分解能の低下に関しては、記録マークｍ１
の大きさが光スポット径以上となるようにテストパター
ンを記録することにより、分解能の低下によるＳ／Ｎ比
の低下を補うことができる。

【００６４】尚、上述のテストライトでは、テストパタ
ーン記録時の外部磁界強度を固定し、記録光量を最適化
する例を示しているが、これ以外に、記録光量を固定と
し、図８のＳ２５において、上記記録光量の代わりに外
部磁界強度を増加させてもよい。これにより記録時の外
部磁界強度を最適化することができる。すなわち、図９
では、説明を簡単にするため、光スポットｐを完全な円
で示し、該光スポットｐが照射された領域で記録マーク
の転写が生じるようになっているが、実際には、上記光
スポットは例えばガウス分布のような温度分布を有して
おり、記録マークの転写領域は上記光スポットの温度分
布と外部磁界強度によって決定される。したがって、記
録光量を固定とした場合でも外部磁界強度が変化すれば
記録マークの大きさも変化し、外部磁界強度を増加させ
続ければ振幅減少量Ｖ₀ −Ｖ₁ が０から増加に転じるよ
うな外部磁界強度が発生する。このため、記録時の外部
磁界強度の最適値を求めることができる。

【００６５】続いて、図７におけるテストリードの動作
を、以下に詳細に説明する。テストリード時において
は、まず制御回路８からの光量制御信号ｇに基づいて、
光ビームｂの再生光量が設定する。次に外部磁界Ｈｅｘ
をオフして超解像が生じない時の記録マークからの再生
信号レベルを検出する。次に外部磁界Ｈｅｘをオンして
超解像を発生させ、再生信号レベルを検出する。外部磁
界がオン状態とオフ状態での再生信号レベルを比較する
と、光スポット面積に対するアパーチャの大きさを測定
できるため、所定のアパーチャの大きさとなるように再
生光量の制御を行うことができる。

【００６６】上記テストリード動作を、主に図１１のフ
ローチャートを用いてさらに詳しく説明する。テストリ
ードの動作命令によってテストリードが開始されると、
本装置は、まず再生光量の初期値を設定する（Ｓ３
１）。次に、外部磁界Ｈｅｘをオフして（Ｓ３２）、記
録マークから再生された信号の振幅Ｖ₀ を検出する（Ｓ
３３）。このとき、図１２（ａ）の左側の部分に示すよ
うに、光スポットｐのスポット全体によって記録マーク
が再生され、上記振幅Ｖ₀ は、図１２（ｂ）の左側の部
分に破線で示された再生信号より得られる。

【００６７】次に、外部磁界Ｈｅｘをオンに戻し（Ｓ３
４）、記録マークから再生された信号の振幅Ｖ₁ を検出
する（Ｓ３５）。このとき、図１２（ａ）の右側の部分
に示すように、光磁気ディスク１上の記録マークは、破
線で示されるアパーチャｒによって再生され、上記振幅
Ｖ₁ は、図１２（ｂ）の右側の部分に破線で示された再
生信号より得られる。上記アパーチャｒの面積は光スポ
ットｐのスポット面積よりも小さいため、外部磁界Ｈｅ
ｘをオンにした場合は、オフにした場合に比べて分解能
が上がる。このため、上記振幅Ｖ₁ は、外部磁界Ｈｅｘ
をオフにした場合に得られる振幅Ｖ₀ に比べ、わずかに
大きくなる。

【００６８】上述のように、振幅Ｖ₀ およびＶ₁ が検出
されると、Ｖ₁ ／Ｖ₀ を算出し、該Ｖ₁ ／Ｖ₀ より現在
の再生光量が適切であるか否かを判断する（Ｓ３６）。
上記再生光量が適切でないと判断されれば（Ｓ３６でＮ
Ｏ）、再生光量を所定量だけ増加させて（Ｓ３７）、Ｓ
３２へ戻る。こうして、上記再生光量が適切であると判
断されるまで（Ｓ３６でＹＥＳ）、Ｓ３２〜Ｓ３７のス
テップを繰り返し行う。

【００６９】ここで、上記Ｓ３６における再生光量の判
断方法の一例を説明する。先ず、図１２を用いて、再生
光量の増加に伴うＶ₁ ／Ｖ₀ の変化を説明する。光スポ
ットｐの再生光量が上がると、外部磁界Ｈｅｘがオフさ
れている場合は、図１２（ｂ）の左側部分における実線
で示すように再生信号の振幅Ｖ₀ が増加する。次に、外
部磁界Ｈｅｘをオンにすると高温部のマスク領域が広が
り、図１２（ａ）の右側部分において実線で示すよう
に、読みだし部分であるアパーチャｒの面積が小さくな
る。これにより分解能がさらに上がった分だけ、図１２
（ｂ）の右側部分において実線で示すように、再生信号
の振幅Ｖ₁ が大きくなる。

【００７０】上記振幅Ｖ₁ の増加率は振幅Ｖ₀ の増加率
よりも大きいため、再生光量が増加するにつれて、Ｖ₁
／Ｖ₀ も増加する。図１３は、光ビームｂの再生光量、
Ｖ₁／Ｖ₀ 、および再生信号のＳ／Ｎ比の関係を示す図
である。上述のように、光ビームｂの再生光量が大きく
なるにつれてＶ₁ ／Ｖ₀ はしだいに大きくなる。また、
再生信号の振幅Ｖ₁ も最初は増加するため、Ｓ／Ｎ比も
これにつれて増加するが、しだいに記録層の温度がキュ
リー点に近くなると逆に振幅Ｖ₁ が小さくなり始め、Ｓ
／Ｎ比が減少し始める。したがって、これらの兼ね合い
によりＳ／Ｎ比が最大となる再生光量Ｐ_r0が存在する。
このときのＶ₁ ／Ｖ₀ を基準値Ａとすると、この基準値
Ａが得られるようにテストリードにおいて再生光量を制
御すれば、再生エラーを最も低減することが可能とな
る。

【００７１】すなわち、Ｓ３６のステップでは、Ｖ₁ ／
Ｖ₀ が基準値Ａとほぼ等しい値となるときに、再生光量
が適切であると判断するようにすればよい。具体的に
は、例えば、Ｖ₁ ／Ｖ₀ を予め設定された基準値Ａと比
較し、該Ｖ₁ ／Ｖ₀ が最初に基準値Ａを越えたときの再
生光量をもって適切な再生光量とするか、あるいは、上
記基準値Ａを中心の値とする基準範囲を予め設定してお
き、Ｖ₁ ／Ｖ₀ が上記基準範囲内の値となるときの再生
光量をもって適切な再生光量とする等の方法が考えられ
る。

【００７２】上記Ｓ３６のステップで、適切な再生光量
が選択されれば、テストリードを終了し、上記再生光量
の光ビームｂで、光磁気ディスク１に記録されている情
報の読み出しがなされる。

【００７３】尚、テストリードによって最適化されるの
は、再生光量のみに限らず、再生磁界強度を最適化する
場合には、再生光量を一定とし、再生磁界強度を変化さ
せながら再生信号の振幅を検出する。すなわち、再生光
量が一定であっても、再生磁界強度が増加すれば、光ス
ポットｐの温度分布と再生磁界強度との影響により高温
部のマスク領域が増加するため、アパーチャｒの面積が
小さくなる。このため、外部磁界Ｈｅｘをオンにした場
合の分解能が上がり、振幅Ｖ₁ が増加するので、再生磁
界強度の最適化が行える。

【００７４】また、テストリードにおいて光スポットｐ
よりも小さいマークｍ３を再生することにより、外部磁
界がオン／オフしたときの分解能の変化を検出すること
ができる。尚、マークｍ３が光スポットｐよりも大きい
と、分解能力の変化を検出することはできない。

【００７５】以上のように、本実施の形態に係る記録再
生装置は、テストライト時には、ある適当な範囲内の、
特定の記録条件、例えば記録光量または記録磁界強度な
どを設定し、該記録条件の下で光磁気ディスク１にテス
トパターンを記録する。上記テストパターンを再生する
場合には、外部磁界Ｈｅｘをオフにするため、環境温度
の変動やディスクのばらつきの影響を受けることなく、
この再生によって得られる再生信号のレベルを検出でき
る。上記再生信号のレベルは、制御回路８に伝達され、
メモリに記憶される。

【００７６】そして、上記記録条件を所定量ずつ変化さ
せながら、複数の記録条件に対応した再生信号のレベル
をメモリに記憶したのち、制御回路８は、これらの記憶
した再生条件のレベルを比較して、最適な再生信号を記
録した記録条件を、最適な記録条件として決定する。

【００７７】これにより、本装置における最適な記録条
件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響され
ずに正確に求めることが可能となる。したがって、この
記録条件を用いて上記光記録媒体に記録を行えば、最適
な条件で記録を行うことが可能となり、エラーの少ない
情報の記録を行うことができる。

【００７８】さらに、このとき上記テストパターンを、
光ピックアップ２が光磁気ディスク１に対して照射する
光ビームｂのスポット径よりも大きい記録マークを形成
するパターンとすれば、大きい記録マークによって、外
部磁界Ｈｅｘがオフにされる場合の分解能の低下を補う
ことができ、高いＳ／Ｎ比によって記録状態を検出でき
る。

【００７９】また、本実施の形態に係る記録再生装置
は、テストリード時には、例えばある適当な範囲内の、
特定の再生条件、例えば再生光量または再生磁界強度な
どを設定し、この再生条件の下で、外部磁界Ｈｅｘを印
加する状態と、印加しない状態との両方の状態におい
て、光磁気ディスク１に記録された情報を再生させる。
これらの再生によって得られた再生信号のレベルを比較
することにより、外部磁界Ｈｅｘを印加することによる
分解能の変化が検出できる。

【００８０】そして、上記再生条件を所定量ずつ変化さ
せながら、複数の再生条件に対応した再生信号のレベル
の比較結果をメモリに記憶したのち、制御回路８は、こ
れらの記憶した再生条件のレベルの比較結果から、最適
な再生信号を得た再生条件を、最適な再生条件として決
定する。

【００８１】これにより、本装置における最適な再生条
件を、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響され
ずに正確に求めることが可能となる。したがって、この
再生条件を用いて上記光記録媒体の再生を行えば、最適
な条件で再生を行うことが可能となり、エラーの少ない
情報の再生を行うことができる。

【００８２】さらに、上記再生時に、光ピックアップ２
が光磁気ディスク１に対して照射する光ビームｂのスポ
ット径よりも小さい記録マークを再生し、この再生信号
のレベルに基づいて再生条件を求めるようにすれば、外
部磁界を印加する場合と印加しない場合との分解能を大
きく変化させることができ、高いＳ／Ｎ比によって情報
再生時の再生光量または再生磁界強度を制御することが
できる。

【００８３】尚、本装置で用いられる光磁気ディスク１
は、図２に示したものに限らず、図３に示すように、テ
ストライト領域１１をディスクの周方向の周期的部分に
設け、この領域にテストライト専用のテストパターンを
記録してもよい。また、テストリードにおいては、記録
された情報における光スポットよりも小さいマークを再
生したが、これに限らず上記図３に示した周期的部分を
テストリード領域に置き換えて、この領域に光スポット
よりも小さいマークを含んだテストリードパターンを記
録してもよい。

【００８４】

【発明の効果】請求項１の発明の記録再生装置は、以上
のように、光記録媒体に情報を記録するための記録手段
と、光記録媒体の情報を再生するための再生手段と、光
記録媒体に外部磁界を印加する磁界印加手段と、上記再
生手段による再生によって得られた再生信号の信号レベ
ルを検出する再生信号検出手段と、上記記録手段を制御
して上記光記録媒体に情報を記録させ、上記再生手段を
制御して上記情報を再生させると共に、上記再生信号検
出手段により再生信号の信号レベルを検出する場合に
は、上記情報の再生時に上記外部磁界が選択的に印加さ
れるように磁界印加手段を制御する制御手段とを備えて
いる構成である。

【００８５】それゆえ、情報の読み出しを行う場合、す
なわち通常の再生時において、外部磁界を印加すること
によって、光記録媒体の再生層にアパーチャを生じさせ
て高分解能の再生を行うことができると同時に、外部磁
界を印加せずに情報の再生を行い、この再生信号のレベ
ルを再生信号検出手段で検出することによって、アパー
チャを生じさせずに再生を行うこともできる。この場合
は、環境温度の変動やディスクのばらつきに影響されず
に、光記録媒体上の記録マークの記録状態を検出できる
という効果を奏する。

【００８６】また、外部磁界を印加しながら情報の再生
を行った場合の再生信号のレベルと、外部磁界を印加せ
ずに情報の再生を行った場合の再生信号のレベルとを検
出し、これらを比較することによって、再生信号からの
分解能の変化を正確に検出することができるという効果
を奏する。

【００８７】請求項２の発明の記録再生装置は、以上の
ように、請求項１の構成に加えて、テスト信号を発生す
るテスト信号発生手段と、記録条件を設定する記録条件
設定手段とを備え、上記制御手段は、上記記録条件設定
手段を制御して記録条件を上記記録手段に設定させ、上
記記録手段を制御して上記光記録媒体に上記テスト信号
発生手段が発生するテスト信号からテストパターンを記
録させ、上記再生手段を制御して上記テストパターンを
外部磁界を印加しない状態で再生させ、この再生によっ
て得られた再生信号のレベルが上記再生信号検出手段に
よって検出されると、該再生信号のレベルに基づいて記
録条件の制御を行い、最適な記録条件を求め構成であ
る。

【００８８】それゆえ、請求項１の構成による効果に加
えて、光記録媒体の再生層にアパーチャを発生させて再
生を行う記録再生装置における最適な記録条件を、環境
温度の変動やディスクのばらつきに影響されずに正確に
求めることが可能となる。従って、この記録条件を用い
て上記光記録媒体に記録を行えば、最適な条件で記録を
行うことができるという効果を奏する。

【００８９】請求項３の発明の記録再生装置は、以上の
ように、請求項２の構成に加えて、上記テストパターン
が、上記再生手段が光記録媒体に対して照射する光ビー
ムのスポット径よりも大きい記録マークを形成するパタ
ーンである構成である。

【００９０】それゆえ、請求項２の構成による効果に加
えて、大きい記録マークによって外部磁界が印加されな
い場合の分解能の低下を補うことができ、高いＳ／Ｎ比
によって記録状態を検出できるという効果を奏する。

【００９１】請求項４の発明の記録再生装置は、以上の
ように、請求項１の構成に加えて、再生条件を設定する
再生条件設定手段を備え、上記制御手段は、上記再生条
件設定手段を制御して再生条件を上記再生手段に設定さ
せ、上記再生手段を制御して光記録媒体に記録されてい
る情報を、外部磁界を印加する状態と、印加しない状態
との両方で再生させ、これらの再生によって得られた再
生信号のレベルが上記再生信号検出手段によって検出さ
れると、該再生信号のレベルに基づいて再生条件の制御
を行い、最適な再生条件を求める構成である。

【００９２】それゆえ、請求項１の構成による効果に加
えて、光記録媒体に外部磁界を印加する場合、すなわち
再生層に光ビームのスポット径より小さいアパーチャを
発生させて再生を行う場合と、外部磁界を印加しない場
合、すなわち再生層にアパーチャを発生させずに再生を
行う場合との両方の状態において再生信号のレベルを検
出しているので、これらのレベルを比較することによっ
て、分解能の変化を知ることができ、その比較結果が所
定の値となるように再生条件を最適化することができる
という効果を奏する。

【００９３】請求項５の発明の記録再生装置は、以上の
ように、請求項４の構成に加えて、上記再生手段が、該
再生手段が光記録媒体に対して照射する光ビームのスポ
ット径よりも小さい記録マークを再生し、上記制御手段
は、この再生信号のレベルに基づいて再生条件の制御を
行う構成である。

【００９４】それゆえ、請求項４の構成による効果に加
えて、小さい記録マークによって外部磁界を印加する場
合と印加しない場合との分解能を大きく変化させること
ができ、高いＳ／Ｎ比によって情報再生時の再生光量ま
たは再生磁界強度を制御することができるという効果を
奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態を示すものであり、記録再
生装置の構成を示すブロック図である。

【図２】上記記録再生装置で用いられる光記録媒体の構
成を示す斜視図である。

【図３】上記記録再生装置で用いられる光記録媒体の他
の例を示す斜視図である。

【図４】上記記録再生装置における磁気ヘッドドライバ
およびレーザドライバの構成の一部を示すブロック図で
ある。

【図５】上記記録再生装置における再生信号検出回路の
構成を示すブロック図である。

【図６】上記記録再生装置において、図６（ａ）は、外
部磁界オンの場合の再生動作を示す説明図であり、図６
（ｂ）は、外部磁界オフの場合の再生動作を示す説明図
である。

【図７】上記記録再生装置の動作の流れを示すフローチ
ャートである。

【図８】上記記録再生装置の動作のうち、テストライト
に関する動作の流れを示すフローチャートである。

【図９】図９（ａ）は、図２に示した光記録媒体のトラ
ックに記録マークが記録された様子を示す説明図であ
り、図９（ｂ）は、上記トラックに隣接したトラックが
消去された様子を示す説明図であり、図９（ｃ）は、上
記トラックに記録された記録マークが再生される様子を
示す説明図であり、図９（ｄ）は、上記記録マークを再
生して得られた信号レベルデータを示すグラフである。

【図１０】図１に示した記録再生装置による記録条件の
制御によって得られた、光ビームの記録光量と振幅減少
量およびＳ／Ｎ比との関係を表すグラフである。

【図１１】上記記録再生装置の動作のうち、テストリー
ドに関する動作の流れを示すフローチャートである。

【図１２】図１２（ａ）は、図２に示した光記録媒体に
記録されている情報を再生する様子を示す説明図であ
り、図１２（ｂ）は、上記の再生によって得られた信号
レベルデータを示すグラフである。

【図１３】図１に示した記録再生装置による再生条件の
制御によって得られた、光ビームの再生光量とＶ₁ ／Ｖ
₀ およびＳ／Ｎ比との関係を表すグラフである。

【符号の説明】 １ 光磁気ディスク（光記録媒体） ２ 光ピックアップ（記録手段・再生手段） ４ レーザドライバ（記録手段・再生手段） ５ 磁気ヘッド（記録手段・磁界印加手段） ６ 磁気ヘッドドライバ（記録手段） ７ 再生信号検出回路（再生信号検出手段） ８ 制御回路（制御手段・再生条件設定手段・記録条件
設定手段） ９ テスト信号発生回路（テスト信号発生手段） ４１ 再生層 ４２ 切断層 ４３ 記録層

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 池谷 直泰 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 高橋 明 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内 (72)発明者 佐藤 秀朗 大阪府大阪市阿倍野区長池町22番22号 シ ャープ株式会社内

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】記録マークを記録するための記録層と、記
   録層に磁気記録されている情報が切断層を介した交換結
   合力によって転写される再生層と、光ビームが照射され
   たときに所定の温度以上となる領域で記録層と再生層の
   交換結合力を切断する切断層とによる多層構造を有して
   いる光記録媒体に対して、該光記録媒体に外部磁界を加
   えながら、再生層に光ビームを照射してデータの記録再
   生を行う記録再生装置において、 光記録媒体に情報を記録するための記録手段と、 光記録媒体の情報を再生するための再生手段と、 光記録媒体に外部磁界を印加する磁界印加手段と、 上記再生手段による再生によって得られた再生信号の信
   号レベルを検出する再生信号検出手段と、 上記記録手段を制御して上記光記録媒体に情報を記録さ
   せ、上記再生手段を制御して上記情報を再生させると共
   に、上記再生信号検出手段により再生信号の信号レベル
   を検出する場合には、上記情報の再生時に上記外部磁界
   が選択的に印加されるように磁界印加手段を制御する制
   御手段とを備えていることを特徴とする記録再生装置。
2. 【請求項２】テスト信号を発生するテスト信号発生手段
   と、 記録条件を設定する記録条件設定手段とを備え、 上記制御手段は、上記記録条件設定手段を制御して記録
   条件を上記記録手段に設定させ、上記記録手段を制御し
   て上記光記録媒体に上記テスト信号発生手段が発生する
   テスト信号からテストパターンを記録させ、上記再生手
   段を制御して上記テストパターンを外部磁界を印加しな
   い状態で再生させ、この再生によって得られた再生信号
   のレベルが上記再生信号検出手段によって検出される
   と、該再生信号のレベルに基づいて記録条件の制御を行
   い、最適な記録条件を求めることを特徴とする請求項１
   記載の記録再生装置。
3. 【請求項３】上記テストパターンが、上記再生手段が光
   記録媒体に対して照射する光ビームのスポット径よりも
   大きい記録マークを形成するパターンであることを特徴
   とする請求項２記載の記録再生装置。
4. 【請求項４】再生条件を設定する再生条件設定手段を備
   え、 上記制御手段は、上記再生条件設定手段を制御して再生
   条件を上記再生手段に設定させ、上記再生手段を制御し
   て光記録媒体に記録されている情報を、外部磁界を印加
   する状態と、印加しない状態との両方で再生させ、これ
   らの再生によって得られた再生信号のレベルが上記再生
   信号検出手段によって検出されると、該再生信号のレベ
   ルに基づいて再生条件の制御を行い、最適な再生条件を
   求めることを特徴とする請求項１に記載の記録再生装
   置。
5. 【請求項５】上記再生手段が、該再生手段が光記録媒体
   に対して照射する光ビームのスポット径よりも小さい記
   録マークを再生し、 上記制御手段は、この再生信号のレベルに基づいて再生
   条件の制御を行うことを特徴とする請求項４記載の記録
   再生装置。