JPH11259338A - Ｏｓ自動テスト方式およびｏｓ自動テスト用プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
Ｏｓ自動テスト方式およびｏｓ自動テスト用プログラムを記録した記録媒体Info
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- JPH11259338A JPH11259338A JP10060987A JP6098798A JPH11259338A JP H11259338 A JPH11259338 A JP H11259338A JP 10060987 A JP10060987 A JP 10060987A JP 6098798 A JP6098798 A JP 6098798A JP H11259338 A JPH11259338 A JP H11259338A
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 26
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
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- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＯＳデバッガによるＯＳのテストを自動化
し、さらに、システムリブート後でもＯＳのテストが自
動的に継続できるようにする。 【解決手段】 プロセス１０はＮＶＳＲＡＭ３０ａの入
力データ番号保持エリア３２を参照し、その番号と同一
の入力データを入力データエリア３３に記述し、ＯＳデ
バッガ２０を起動させる。ＯＳデバッガ２０は入力デー
タをＮＶＳＲＡＭ３０ａから取得するかどうかを判断す
る取得フラグ３１が設定されていれば、入力データエリ
ア３３のデータを入力とし動作を開始し、結果を出力デ
ータエリア３４に出力する。ＯＳデバッガ２０のすべて
の入力データの処理が終了すれば、プロセス１０は処理
を終了する。未処理の入力データが存在すれば、新たに
ＮＶＳＲＡＭ３０ａに入力データを設定し、再度ＯＳデ
バッガ２０を起動する。システムがリブート後も自動的
にＯＳデバッガ２０を起動させてテストを継続する。
し、さらに、システムリブート後でもＯＳのテストが自
動的に継続できるようにする。 【解決手段】 プロセス１０はＮＶＳＲＡＭ３０ａの入
力データ番号保持エリア３２を参照し、その番号と同一
の入力データを入力データエリア３３に記述し、ＯＳデ
バッガ２０を起動させる。ＯＳデバッガ２０は入力デー
タをＮＶＳＲＡＭ３０ａから取得するかどうかを判断す
る取得フラグ３１が設定されていれば、入力データエリ
ア３３のデータを入力とし動作を開始し、結果を出力デ
ータエリア３４に出力する。ＯＳデバッガ２０のすべて
の入力データの処理が終了すれば、プロセス１０は処理
を終了する。未処理の入力データが存在すれば、新たに
ＮＶＳＲＡＭ３０ａに入力データを設定し、再度ＯＳデ
バッガ２０を起動する。システムがリブート後も自動的
にＯＳデバッガ２０を起動させてテストを継続する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はＯＳ（Operating Sy
stem）自動テスト方式およびＯＳ自動テスト用プログラ
ムを記録した記録媒体に関し、特にＯＳデバッガを使用
してコンピュータシステムのＯＳのテストを行うＯＳ自
動テスト方式およびＯＳ自動テスト用プログラムを記録
した記録媒体に関する。
stem）自動テスト方式およびＯＳ自動テスト用プログラ
ムを記録した記録媒体に関し、特にＯＳデバッガを使用
してコンピュータシステムのＯＳのテストを行うＯＳ自
動テスト方式およびＯＳ自動テスト用プログラムを記録
した記録媒体に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のコンピュータシステムのＯＳデバ
ッガによるテスト方式が特開平０５−０６１７０６号公
報に記載されている。図６は構成を示すブロック図であ
る。検査するコマンド６０６を格納するコマンド格納手
段６６０およびコマンド６０６に関わる正常値６０７を
格納する正常値格納手段６７０に結合されたデバッガ検
査装置において、コマンドを取得するコマンド取得手段
６０１と、このコマンド取得手段６０１で取得されたコ
マンドに基づき被デバッグプログラムに対しデバッグを
行うコマンド実行手段６０２と、コマンドが実行された
時にデバッガが出力すべき正しい結果を取得する正常値
取得手段６０３と、コマンド実行手段の結果と正常値取
得手段６０３より取得した正しい結果を照合する照合手
段６０４と、この照合手段６０４で照合された結果を編
集して出力する照合結果編集出力手段６０５とを備えて
いる。
ッガによるテスト方式が特開平０５−０６１７０６号公
報に記載されている。図６は構成を示すブロック図であ
る。検査するコマンド６０６を格納するコマンド格納手
段６６０およびコマンド６０６に関わる正常値６０７を
格納する正常値格納手段６７０に結合されたデバッガ検
査装置において、コマンドを取得するコマンド取得手段
６０１と、このコマンド取得手段６０１で取得されたコ
マンドに基づき被デバッグプログラムに対しデバッグを
行うコマンド実行手段６０２と、コマンドが実行された
時にデバッガが出力すべき正しい結果を取得する正常値
取得手段６０３と、コマンド実行手段の結果と正常値取
得手段６０３より取得した正しい結果を照合する照合手
段６０４と、この照合手段６０４で照合された結果を編
集して出力する照合結果編集出力手段６０５とを備えて
いる。
【０００３】この公報に記載されている内容は、デバッ
ガを自動的に動作させテストする一般的な方式について
述べているが、ＯＳデバッガの自動テストまで言及して
いない。
ガを自動的に動作させテストする一般的な方式について
述べているが、ＯＳデバッガの自動テストまで言及して
いない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ＯＳデバッガとＯＳ
は、一方が動作しているときは、もう一方は全く動作し
ないため、相互間のデータのやりとりが困難であるとい
う問題点がある。
は、一方が動作しているときは、もう一方は全く動作し
ないため、相互間のデータのやりとりが困難であるとい
う問題点がある。
【０００５】また、ＯＳのテストではシステムをパニッ
クさせることもある。このときシステムはリブートして
新たにセットアップされるので、パニック前後で継続し
てテストを動作させることが困難であるという問題点が
ある。
クさせることもある。このときシステムはリブートして
新たにセットアップされるので、パニック前後で継続し
てテストを動作させることが困難であるという問題点が
ある。
【０００６】本発明の目的は、ＯＳデバッガによるＯＳ
のテストを自動化し、さらに、システムリブート後でも
ＯＳのテストが自動的に継続できるＯＳ自動テスト方式
およびＯＳ自動テスト用プログラムを記録した記録媒体
を提供することにある。
のテストを自動化し、さらに、システムリブート後でも
ＯＳのテストが自動的に継続できるＯＳ自動テスト方式
およびＯＳ自動テスト用プログラムを記録した記録媒体
を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明のＯＳ自動テスト
方式は、ＯＳデバッガを使用したコンピュータシステム
のＯＳ自動テスト方式において、前記ＯＳデバッガが処
理するコマンドを含む入力データと前記ＯＳデバッガの
処理結果データとを保持する不揮発性メモリを備えたこ
とを特徴とする。
方式は、ＯＳデバッガを使用したコンピュータシステム
のＯＳ自動テスト方式において、前記ＯＳデバッガが処
理するコマンドを含む入力データと前記ＯＳデバッガの
処理結果データとを保持する不揮発性メモリを備えたこ
とを特徴とする。
【０００８】本発明のＯＳ自動テスト方式は、前記コン
ピュータシステムをリブートしたときに前記ＯＳ自動テ
ストのプロセスが自動起動するように設定するようにし
てもよい。
ピュータシステムをリブートしたときに前記ＯＳ自動テ
ストのプロセスが自動起動するように設定するようにし
てもよい。
【０００９】本発明のＯＳ自動テスト方式は、ＯＳデバ
ッガを使用したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト
方式において、前記ＯＳデバッガに処理を行わせるプロ
セスと、前記ＯＳデバッガが処理するコマンドを含む入
力データと前記ＯＳデバッガの処理結果データと前記Ｏ
Ｓデバッガの入力データ中の処理済コマンド数とを保持
する不揮発性メモリとを備え、前記プロセスは、前記Ｏ
Ｓデバッガが次に処理するべき入力データを前記不揮発
性メモリに設定し、前記ＯＳデバッガを起動させ、前記
不揮発性メモリに保持された前記ＯＳデバッガの入力デ
ータ中の処理済コマンド数を前記ＯＳデバッガが処理す
るべき入力データのコマンド数と比較し、同一数であれ
ばさらに前記ＯＳデバッガが次に処理するべき入力デー
タを前記不揮発性メモリに設定し、前記ＯＳデバッガが
未処理の入力データがなくなるまで前記ＯＳデバッガを
起動させるようにしてもよい。
ッガを使用したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト
方式において、前記ＯＳデバッガに処理を行わせるプロ
セスと、前記ＯＳデバッガが処理するコマンドを含む入
力データと前記ＯＳデバッガの処理結果データと前記Ｏ
Ｓデバッガの入力データ中の処理済コマンド数とを保持
する不揮発性メモリとを備え、前記プロセスは、前記Ｏ
Ｓデバッガが次に処理するべき入力データを前記不揮発
性メモリに設定し、前記ＯＳデバッガを起動させ、前記
不揮発性メモリに保持された前記ＯＳデバッガの入力デ
ータ中の処理済コマンド数を前記ＯＳデバッガが処理す
るべき入力データのコマンド数と比較し、同一数であれ
ばさらに前記ＯＳデバッガが次に処理するべき入力デー
タを前記不揮発性メモリに設定し、前記ＯＳデバッガが
未処理の入力データがなくなるまで前記ＯＳデバッガを
起動させるようにしてもよい。
【００１０】本発明のＯＳ自動テスト方式は、ＯＳデバ
ッガを使用したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト
方式において、前記ＯＳデバッガに処理を行わせるプロ
セスと、前記ＯＳデバッガが処理するコマンドを含む入
力データと前記ＯＳデバッガの処理結果データと前記Ｏ
Ｓデバッガが入力データ中の処理するべきコマンドを完
了したことを示すフラグとを保持する不揮発性メモリと
を備え、前記プロセスは、前記ＯＳデバッガが次に処理
するべき入力データを前記不揮発性メモリに設定し、前
記ＯＳデバッガを起動させ、前記フラグが前記ＯＳデバ
ッガが入力データ中の処理するべきコマンドを完了した
ことを示す値となったときはさらに前記ＯＳデバッガが
次に処理するべき入力データを前記不揮発性メモリに設
定し、前記ＯＳデバッガが未処理の入力データがなくな
るまで前記ＯＳデバッガを起動させるようにしてもよ
い。
ッガを使用したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト
方式において、前記ＯＳデバッガに処理を行わせるプロ
セスと、前記ＯＳデバッガが処理するコマンドを含む入
力データと前記ＯＳデバッガの処理結果データと前記Ｏ
Ｓデバッガが入力データ中の処理するべきコマンドを完
了したことを示すフラグとを保持する不揮発性メモリと
を備え、前記プロセスは、前記ＯＳデバッガが次に処理
するべき入力データを前記不揮発性メモリに設定し、前
記ＯＳデバッガを起動させ、前記フラグが前記ＯＳデバ
ッガが入力データ中の処理するべきコマンドを完了した
ことを示す値となったときはさらに前記ＯＳデバッガが
次に処理するべき入力データを前記不揮発性メモリに設
定し、前記ＯＳデバッガが未処理の入力データがなくな
るまで前記ＯＳデバッガを起動させるようにしてもよ
い。
【００１１】本発明のＯＳ自動テスト方式は、前記ＯＳ
デバッガの処理結果データの出力を行う出力データ部を
備え、前記プロセスは、前記不揮発性メモリから前記Ｏ
Ｓデバッガの処理結果データを取得して前記出力データ
部へ送るようにしてもよい。
デバッガの処理結果データの出力を行う出力データ部を
備え、前記プロセスは、前記不揮発性メモリから前記Ｏ
Ｓデバッガの処理結果データを取得して前記出力データ
部へ送るようにしてもよい。
【００１２】本発明のＯＳ自動テスト方式は、前記不揮
発性メモリは、ＮＶＳＲＡＭであるようにしてもよい。
発性メモリは、ＮＶＳＲＡＭであるようにしてもよい。
【００１３】本発明の記録媒体は、ＯＳデバッガを使用
したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト方式におい
て、前記ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを
不揮発性メモリに設定して前記ＯＳデバッガを起動させ
る処理と、前記不揮発性メモリに保持された前記ＯＳデ
バッガの入力データ中の処理済コマンド数を前記ＯＳデ
バッガが処理するべき入力データのコマンド数と比較し
て同一数であればさらに前記ＯＳデバッガが次に処理す
るべき入力データを前記不揮発性メモリに設定する処理
と、前記ＯＳデバッガが未処理の入力データがなくなる
まで前記ＯＳデバッガを起動させる処理とをコンピュー
タに実行させるプログラムを記録したことを特徴とす
る。
したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト方式におい
て、前記ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを
不揮発性メモリに設定して前記ＯＳデバッガを起動させ
る処理と、前記不揮発性メモリに保持された前記ＯＳデ
バッガの入力データ中の処理済コマンド数を前記ＯＳデ
バッガが処理するべき入力データのコマンド数と比較し
て同一数であればさらに前記ＯＳデバッガが次に処理す
るべき入力データを前記不揮発性メモリに設定する処理
と、前記ＯＳデバッガが未処理の入力データがなくなる
まで前記ＯＳデバッガを起動させる処理とをコンピュー
タに実行させるプログラムを記録したことを特徴とす
る。
【００１４】本発明の記録媒体は、ＯＳデバッガを使用
したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト方式におい
て、前記ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを
不揮発性メモリに設定して前記ＯＳデバッガを起動させ
る処理と、前記不揮発性メモリに保持される完了フラグ
が前記ＯＳデバッガが入力データ中の処理するべきコマ
ンドを完了したことを示す値となったときはさらに前記
ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを前記不揮
発性メモリに設定する処理と、前記ＯＳデバッガが未処
理の入力データがなくなるまで前記ＯＳデバッガを起動
させる処理とをコンピュータに実行させるプログラムを
記録するようにしてもよい。
したコンピュータシステムのＯＳ自動テスト方式におい
て、前記ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを
不揮発性メモリに設定して前記ＯＳデバッガを起動させ
る処理と、前記不揮発性メモリに保持される完了フラグ
が前記ＯＳデバッガが入力データ中の処理するべきコマ
ンドを完了したことを示す値となったときはさらに前記
ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを前記不揮
発性メモリに設定する処理と、前記ＯＳデバッガが未処
理の入力データがなくなるまで前記ＯＳデバッガを起動
させる処理とをコンピュータに実行させるプログラムを
記録するようにしてもよい。
【００１５】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
て図面を参照して詳細に説明する。
【００１６】図１は本発明の第１の実施の形態の構成を
示すブロック図である。図１を参照すると、第１の実施
の形態は、プロセス１０と、ＯＳデバッガ２０と、ＮＶ
ＳＲＡＭ（Nonvolatile Static Raodom Access Memor
y）３０ａと、入力データ部４０と、出力データ部５０
とによって構成される。
示すブロック図である。図１を参照すると、第１の実施
の形態は、プロセス１０と、ＯＳデバッガ２０と、ＮＶ
ＳＲＡＭ（Nonvolatile Static Raodom Access Memor
y）３０ａと、入力データ部４０と、出力データ部５０
とによって構成される。
【００１７】入力データ部４０が扱う一つの入力データ
４１は、ＯＳデバッガ２０の複数のコマンドからなる。
出力データ部５０はログファイルでデータを出力する
が、さらに、ディスプレイまたはプリンタにデータを出
力するようにしてもよい。
４１は、ＯＳデバッガ２０の複数のコマンドからなる。
出力データ部５０はログファイルでデータを出力する
が、さらに、ディスプレイまたはプリンタにデータを出
力するようにしてもよい。
【００１８】ＮＶＳＲＡＭ３０ａは、ＯＳデバッガ２０
の入力データをＮＶＳＲＡＭ３０から取得することを表
す取得フラグ３１と、処理する入力データ４１の番号を
保持する入力データ番号保持エリア３２と、入力データ
エリア３３と、出力データエリア３４と、入力データ中
の処理を完了したコマンド数を保持する処理済コマンド
数保持エリア３５とを含む。
の入力データをＮＶＳＲＡＭ３０から取得することを表
す取得フラグ３１と、処理する入力データ４１の番号を
保持する入力データ番号保持エリア３２と、入力データ
エリア３３と、出力データエリア３４と、入力データ中
の処理を完了したコマンド数を保持する処理済コマンド
数保持エリア３５とを含む。
【００１９】なお、本実施の形態ではＮＶＳＲＡＭを使
用しているが、これに限定されるものではなく、不揮発
性のメモリであればよい。
用しているが、これに限定されるものではなく、不揮発
性のメモリであればよい。
【００２０】次に、第１の実施の形態の動作について説
明する。図２はプロセス１０の動作を示すフローチャー
トであり、図３はＯＳデバッガ２０の動作を示すフロー
チャートである。
明する。図２はプロセス１０の動作を示すフローチャー
トであり、図３はＯＳデバッガ２０の動作を示すフロー
チャートである。
【００２１】まず、入力データ番号保持エリア３２に、
まだ処理が開始していないことを表す値ＮＳを設定す
る。次に、システムをリブートしてもプロセス１０が起
動する設定をする。その後、プロセス１０を起動する。
まだ処理が開始していないことを表す値ＮＳを設定す
る。次に、システムをリブートしてもプロセス１０が起
動する設定をする。その後、プロセス１０を起動する。
【００２２】プロセス１０は、取得フラグ３１を「ＯＳ
デバッガ２０の入力をＮＶＳＲＡＭ３０ａから取得す
る」ことを表す値に設定する（ステップ１０１）。
デバッガ２０の入力をＮＶＳＲＡＭ３０ａから取得す
る」ことを表す値に設定する（ステップ１０１）。
【００２３】次に、プロセス１０は入力データ番号保持
エリア３２がＮＳであることを確認し（ステップ１０
２）、入力データ番号保持エリア３２に１、処理済コマ
ンド数保持エリア３５に０を設定し（ステップ１０
３）、入力データ番号保持エリア３２と同じ番号を持つ
入力データを入力データ部４０から取得してＮＶＳＲＡ
Ｍ３０ａの入力データエリア３３に設定する（ステップ
１０４）。次に、ＯＳデバッガ２０を起動する（ステッ
プ１０５）。
エリア３２がＮＳであることを確認し（ステップ１０
２）、入力データ番号保持エリア３２に１、処理済コマ
ンド数保持エリア３５に０を設定し（ステップ１０
３）、入力データ番号保持エリア３２と同じ番号を持つ
入力データを入力データ部４０から取得してＮＶＳＲＡ
Ｍ３０ａの入力データエリア３３に設定する（ステップ
１０４）。次に、ＯＳデバッガ２０を起動する（ステッ
プ１０５）。
【００２４】起動されたＯＳデバッガ２０は、ＮＶＳＲ
ＡＭ３０ａの取得フラグ３１を参照する（ステップ２０
１）。この取得フラグ３１が入力データをＮＶＳＲＡＭ
３０ａから取得することを表す値なので、ＯＳデバッガ
２０は、処理済コマンド数保持エリア３５の値を１増加
させ（ステップ２０２）、処理済コマンド数保持エリア
３５の値と同じ番号のコマンドをＮＶＳＲＡＭ３０ａの
入力データエリア３３から取得し（ステップ２０３）、
コマンドを実行する（ステップ２０４）。動作の結果
は、ＮＶＳＲＡＭ３０ａの出力データエリア３４に出力
する（ステップ２０５）。
ＡＭ３０ａの取得フラグ３１を参照する（ステップ２０
１）。この取得フラグ３１が入力データをＮＶＳＲＡＭ
３０ａから取得することを表す値なので、ＯＳデバッガ
２０は、処理済コマンド数保持エリア３５の値を１増加
させ（ステップ２０２）、処理済コマンド数保持エリア
３５の値と同じ番号のコマンドをＮＶＳＲＡＭ３０ａの
入力データエリア３３から取得し（ステップ２０３）、
コマンドを実行する（ステップ２０４）。動作の結果
は、ＮＶＳＲＡＭ３０ａの出力データエリア３４に出力
する（ステップ２０５）。
【００２５】プロセス１０は、入力データ４１のコマン
ド数と処理済コマンド数保持エリア３５の値が同一かど
うかを一定間隔で調べ（ステップ１０６）、同一であれ
ばＯＳデバッガ２０が入力データ４１のすべてのコマン
ドを処理したと判断し、ＮＶＳＲＡＭ３０ａの出力デー
タエリア３４からデータを取得し、出力データ部５０へ
データを送り（ステップ１０７）、入力データ番号保持
エリア３２の値を１増加させる（ステップ１０８）。
ド数と処理済コマンド数保持エリア３５の値が同一かど
うかを一定間隔で調べ（ステップ１０６）、同一であれ
ばＯＳデバッガ２０が入力データ４１のすべてのコマン
ドを処理したと判断し、ＮＶＳＲＡＭ３０ａの出力デー
タエリア３４からデータを取得し、出力データ部５０へ
データを送り（ステップ１０７）、入力データ番号保持
エリア３２の値を１増加させる（ステップ１０８）。
【００２６】次に、入力データ番号保持エリア３２の値
と入力データ部４０で保持している入力データ数とを比
較し（ステップ１０９）、処理する入力データがまだ存
在するなら、処理済コマンド数保持エリア３５を０に設
定し（ステップ１１０）、入力データ部４０から入力デ
ータを取得し、そのデータを入力データエリア３３に設
定し（ステップ１０４）、再度ＯＳデバッガ２０を起動
させ（ステップ１０５）、ステップ１０６からステップ
１０９の処理を行う。ステップ１０９により、処理する
入力データが存在しなければ、プロセス１０の動作は終
了する。
と入力データ部４０で保持している入力データ数とを比
較し（ステップ１０９）、処理する入力データがまだ存
在するなら、処理済コマンド数保持エリア３５を０に設
定し（ステップ１１０）、入力データ部４０から入力デ
ータを取得し、そのデータを入力データエリア３３に設
定し（ステップ１０４）、再度ＯＳデバッガ２０を起動
させ（ステップ１０５）、ステップ１０６からステップ
１０９の処理を行う。ステップ１０９により、処理する
入力データが存在しなければ、プロセス１０の動作は終
了する。
【００２７】以上の動作により、ＮＶＳＲＡＭを利用し
たＯＳデバッガによるテストを自動的に行うことが可能
となる。
たＯＳデバッガによるテストを自動的に行うことが可能
となる。
【００２８】システムがパニックしたときに、システム
が行う動作を確認するために、テスト施行者が意図的に
システムをパニックさせることがある。入力データ４１
のコマンドを処理した結果、システムがパニックしたと
きは、システムリブート後、自動起動設定により、プロ
セス１０は起動する。
が行う動作を確認するために、テスト施行者が意図的に
システムをパニックさせることがある。入力データ４１
のコマンドを処理した結果、システムがパニックしたと
きは、システムリブート後、自動起動設定により、プロ
セス１０は起動する。
【００２９】このとき、入力データ番号保持エリア３２
がＮＳでないので（ステップ１０２）、プロセス１０は
システムがリブートしたことを知り、出力データエリア
３４の出力データを取得し、リブートした旨と一緒に出
力データを出力データ部５０へ送る（ステップ１１
１）。次に入力データ番号保持エリア３２の値を１増加
し、処理する入力データが存在すれば、処理を続行し、
存在しなければ終了する（ステップ１０９）。
がＮＳでないので（ステップ１０２）、プロセス１０は
システムがリブートしたことを知り、出力データエリア
３４の出力データを取得し、リブートした旨と一緒に出
力データを出力データ部５０へ送る（ステップ１１
１）。次に入力データ番号保持エリア３２の値を１増加
し、処理する入力データが存在すれば、処理を続行し、
存在しなければ終了する（ステップ１０９）。
【００３０】これにより、パニックによるシステムリブ
ート後でも、ＯＳデバッガ２０が自動的に起動するの
で、ＯＳデバッガ２０によるテストを自動的に継続する
ことが可能となる。
ート後でも、ＯＳデバッガ２０が自動的に起動するの
で、ＯＳデバッガ２０によるテストを自動的に継続する
ことが可能となる。
【００３１】次に、本発明の第２の実施の形態について
説明する。図４は第２の実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。図４を参照すると、第２の実施の形態で
は、図１を用いて説明した第１の実施の形態から処理済
コマンド数保持エリア３５を削除し、代わりに、ＯＳデ
バッガ２０が入力データ４１のすべてのコマンドを完了
したことを表す完了フラグ３６を追加する。
説明する。図４は第２の実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。図４を参照すると、第２の実施の形態で
は、図１を用いて説明した第１の実施の形態から処理済
コマンド数保持エリア３５を削除し、代わりに、ＯＳデ
バッガ２０が入力データ４１のすべてのコマンドを完了
したことを表す完了フラグ３６を追加する。
【００３２】さらに、ＯＳデバッガに、「ＮＶＳＲＡＭ
３０ｂの完了フラグ３６を入力データのすべてのコマン
ドを完了したことを表す値を設定する」機能を満たすコ
マンドを追加する。また、すべての入力データ４１の最
終コマンドは、この機能を満たすコマンドとする。ただ
し、意図的にパニックさせる場合は除くものとする。こ
れにより、ＯＳデバッガ２０は入力データ４１の最後の
コマンド処理で、完了フラグ３６をすべてのコマンドを
完了した値に設定する。
３０ｂの完了フラグ３６を入力データのすべてのコマン
ドを完了したことを表す値を設定する」機能を満たすコ
マンドを追加する。また、すべての入力データ４１の最
終コマンドは、この機能を満たすコマンドとする。ただ
し、意図的にパニックさせる場合は除くものとする。こ
れにより、ＯＳデバッガ２０は入力データ４１の最後の
コマンド処理で、完了フラグ３６をすべてのコマンドを
完了した値に設定する。
【００３３】プロセス１０は一定間隔でこの完了フラグ
３６の値を参照するようにし、完了フラグ３６の値がＯ
Ｓデバッガ２０がすべてのコマンドを完了した値であれ
ば、入力データ番号保持エリア３２の値を参照し、動作
を終了するか継続するかを決定する。
３６の値を参照するようにし、完了フラグ３６の値がＯ
Ｓデバッガ２０がすべてのコマンドを完了した値であれ
ば、入力データ番号保持エリア３２の値を参照し、動作
を終了するか継続するかを決定する。
【００３４】次に、本発明の第３の実施の形態について
説明する。図５は第３の実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。図５を参照すると、第３の実施の形態は、
ＯＳデバッガ２０と、ＮＶＳＲＡＭ３０ａと、コンピュ
ータ６０と、記録媒体７０とを含む。この記録媒体７０
は磁気ディスク、半導体メモリ、光ディスクその他の記
録媒体であってよい。
説明する。図５は第３の実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。図５を参照すると、第３の実施の形態は、
ＯＳデバッガ２０と、ＮＶＳＲＡＭ３０ａと、コンピュ
ータ６０と、記録媒体７０とを含む。この記録媒体７０
は磁気ディスク、半導体メモリ、光ディスクその他の記
録媒体であってよい。
【００３５】ＮＶＳＲＡＭ３０ａの構成は第１の実施の
形態と同じである。コンピュータ６０は出力データ部５
０を含む。記録媒体７０は入力データ部４０を含む。
形態と同じである。コンピュータ６０は出力データ部５
０を含む。記録媒体７０は入力データ部４０を含む。
【００３６】ＯＳ自動テスト用プログラムは記録媒体７
０からコンピュータ６０に読み込まれ、コンピュータ６
０の動作を制御する。すなわち、第１の実施の形態にお
けるプロセス１０による処理と同一の処理を実行する。
０からコンピュータ６０に読み込まれ、コンピュータ６
０の動作を制御する。すなわち、第１の実施の形態にお
けるプロセス１０による処理と同一の処理を実行する。
【００３７】取得フラグ３１を「ＯＳデバッガ２０の入
力をＮＶＳＲＡＭ３０ａから取得する」ことを表す値に
設定する。
力をＮＶＳＲＡＭ３０ａから取得する」ことを表す値に
設定する。
【００３８】次に、入力データ番号保持エリア３２がＮ
Ｓであることを確認し、入力データ番号保持エリア３２
に１、処理済コマンド数保持エリア３５に０を設定し、
入力データ番号保持エリア３２と同じ番号を持つ入力デ
ータを入力データ部４０から取得してＮＶＳＲＡＭ３０
の入力データエリア３３に設定する。次に、ＯＳデバッ
ガ２０を起動し、第１の実施の形態で説明した図３に示
すステップ２０１〜ステップ２０５の動作を行わせる。
Ｓであることを確認し、入力データ番号保持エリア３２
に１、処理済コマンド数保持エリア３５に０を設定し、
入力データ番号保持エリア３２と同じ番号を持つ入力デ
ータを入力データ部４０から取得してＮＶＳＲＡＭ３０
の入力データエリア３３に設定する。次に、ＯＳデバッ
ガ２０を起動し、第１の実施の形態で説明した図３に示
すステップ２０１〜ステップ２０５の動作を行わせる。
【００３９】さらに、入力データ４１のコマンド数と処
理済コマンド数保持エリア３５の値が同一かどうかを一
定間隔で調べ、同一であればＯＳデバッガ２０が入力デ
ータ４１のすべてのコマンドを処理したと判断し、ＮＶ
ＳＲＡＭ３０の出力データエリア３４からデータを取得
し、出力データ部５０へデータを送り、入力データ番号
保持エリア３２の値を１増加させる。
理済コマンド数保持エリア３５の値が同一かどうかを一
定間隔で調べ、同一であればＯＳデバッガ２０が入力デ
ータ４１のすべてのコマンドを処理したと判断し、ＮＶ
ＳＲＡＭ３０の出力データエリア３４からデータを取得
し、出力データ部５０へデータを送り、入力データ番号
保持エリア３２の値を１増加させる。
【００４０】次に、入力データ番号保持エリア３２の値
と入力データ部４０で保持している入力データ数とを比
較し、処理する入力データがまだ存在するなら、処理済
コマンド数保持エリア３５を０に設定し、入力データ部
４０から入力データを取得し、そのデータを入力データ
エリア３３に設定し、再度ＯＳデバッガ２０を起動させ
る。処理する入力データが存在しなくなると、動作は終
了する。
と入力データ部４０で保持している入力データ数とを比
較し、処理する入力データがまだ存在するなら、処理済
コマンド数保持エリア３５を０に設定し、入力データ部
４０から入力データを取得し、そのデータを入力データ
エリア３３に設定し、再度ＯＳデバッガ２０を起動させ
る。処理する入力データが存在しなくなると、動作は終
了する。
【００４１】なお、本実施の形態では、入力データ部４
０を記録媒体７０に含む例を説明したが、入力データ部
４０は記録媒体７０に含まれなくてもよく、あるいは、
コンピュータ６０に含まれてもよい。また、出力データ
部５０は、コンピュータ６０に含まれる例を説明した
が、コンピュータ６０の外部にあってもよい。
０を記録媒体７０に含む例を説明したが、入力データ部
４０は記録媒体７０に含まれなくてもよく、あるいは、
コンピュータ６０に含まれてもよい。また、出力データ
部５０は、コンピュータ６０に含まれる例を説明した
が、コンピュータ６０の外部にあってもよい。
【００４２】次に、本発明の第４の実施の形態について
説明する。第４の実施の形態の構成は、第３の実施の形
態で説明した図５において、ＮＶＳＲＡＭ３０ａを図４
のＮＶＳＲＡＭ３０ｂに置き換えたものである。すなわ
ち、ＯＳ自動テスト用プログラムは記録媒体７０からコ
ンピュータ６０に読み込まれ、第２の実施の形態のプロ
セス１０による処理と同一の処理を実行する。
説明する。第４の実施の形態の構成は、第３の実施の形
態で説明した図５において、ＮＶＳＲＡＭ３０ａを図４
のＮＶＳＲＡＭ３０ｂに置き換えたものである。すなわ
ち、ＯＳ自動テスト用プログラムは記録媒体７０からコ
ンピュータ６０に読み込まれ、第２の実施の形態のプロ
セス１０による処理と同一の処理を実行する。
【００４３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ＮＶＳ
ＲＡＭを利用することによってＯＳデバッガが自動的に
動作するため、ＯＳデバッガによるＯＳのテストが自動
化できるという効果がある。
ＲＡＭを利用することによってＯＳデバッガが自動的に
動作するため、ＯＳデバッガによるＯＳのテストが自動
化できるという効果がある。
【００４４】また、リブート後もＯＳデバッガが自動的
に起動し動作するため、システムをパニックさせたりし
て、リブートした後でも、ＯＳデバッガによるＯＳのテ
ストが自動的に継続できることにある。
に起動し動作するため、システムをパニックさせたりし
て、リブートした後でも、ＯＳデバッガによるＯＳのテ
ストが自動的に継続できることにある。
【図１】本発明の第１の実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図２】プロセスの動作を示すフローチャートである。
【図３】ＯＳデバッガの動作を示すフローチャートであ
る。
る。
【図４】本発明の第２の実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図５】本発明の第３の実施の形態の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図６】従来技術の構成を示すブロック図である。
１０ プロセス ２０ ＯＳデバッガ ３０ａ ＮＶＳＲＡＭ ３０ｂ ＮＶＳＲＡＭ ３１ 取得フラグ ３２ 入力データ番号保持エリア ３３ 入力データエリア ３４ 出力データエリア ３５ 処理済コマンド数保持エリア ３６ 完了フラグ ４０ 入力データ部 ４１ 入力データ ５０ 出力データ部 ６０ コンピュータ ７０ 記録媒体
Claims (8)
- 【請求項１】 ＯＳデバッガを使用したコンピュータシ
ステムのＯＳ自動テスト方式において、前記ＯＳデバッ
ガが処理するコマンドを含む入力データと前記ＯＳデバ
ッガの処理結果データとを保持する不揮発性メモリを備
えたことを特徴とするＯＳ自動テスト方式。 - 【請求項２】 前記コンピュータシステムをリブートし
たときに前記ＯＳ自動テストのプロセスが自動起動する
ように設定したことを特徴とする請求項１記載のＯＳ自
動テスト方式。 - 【請求項３】 ＯＳデバッガを使用したコンピュータシ
ステムのＯＳ自動テスト方式において、前記ＯＳデバッ
ガに処理を行わせるプロセスと、前記ＯＳデバッガが処
理するコマンドを含む入力データと前記ＯＳデバッガの
処理結果データと前記ＯＳデバッガの入力データ中の処
理済コマンド数とを保持する不揮発性メモリとを備え、
前記プロセスは、前記ＯＳデバッガが次に処理するべき
入力データを前記不揮発性メモリに設定し、前記ＯＳデ
バッガを起動させ、前記不揮発性メモリに保持された前
記ＯＳデバッガの入力データ中の処理済コマンド数を前
記ＯＳデバッガが処理するべき入力データのコマンド数
と比較し、同一数であればさらに前記ＯＳデバッガが次
に処理するべき入力データを前記不揮発性メモリに設定
し、前記ＯＳデバッガが未処理の入力データがなくなる
まで前記ＯＳデバッガを起動させることを特徴とするＯ
Ｓ自動テスト方式。 - 【請求項４】 ＯＳデバッガを使用したコンピュータシ
ステムのＯＳ自動テスト方式において、前記ＯＳデバッ
ガに処理を行わせるプロセスと、前記ＯＳデバッガが処
理するコマンドを含む入力データと前記ＯＳデバッガの
処理結果データと前記ＯＳデバッガが処理するべき入力
データ中のコマンドを完了したことを示すフラグとを保
持する不揮発性メモリとを備え、前記プロセスは、前記
ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを前記不揮
発性メモリに設定し、前記ＯＳデバッガを起動させ、前
記フラグが前記ＯＳデバッガが入力データ中の処理する
べきコマンドを完了したことを示す値となったときはさ
らに前記ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを
前記不揮発性メモリに設定し、前記ＯＳデバッガが未処
理の入力データがなくなるまで前記ＯＳデバッガを起動
させることを特徴とするＯＳ自動テスト方式。 - 【請求項５】 前記ＯＳデバッガの処理結果データの出
力を行う出力データ部を備え、前記プロセスは、前記不
揮発性メモリから前記ＯＳデバッガの処理結果データを
取得して前記出力データ部へ送ることを特徴とする請求
項３または４記載のＯＳ自動テスト方式。 - 【請求項６】 前記不揮発性メモリは、ＮＶＳＲＡＭで
あることを特徴とする請求項１、２、３または４記載の
ＯＳ自動テスト方式。 - 【請求項７】 ＯＳデバッガを使用したコンピュータシ
ステムのＯＳ自動テスト方式において、前記ＯＳデバッ
ガが次に処理するべき入力データを不揮発性メモリに設
定して前記ＯＳデバッガを起動させる処理と、前記不揮
発性メモリに保持された前記ＯＳデバッガの入力データ
中の処理済コマンド数を前記ＯＳデバッガが処理するべ
き入力データのコマンド数と比較して同一数であればさ
らに前記ＯＳデバッガが次に処理するべき入力データを
前記不揮発性メモリに設定する処理と、前記ＯＳデバッ
ガが未処理の入力データがなくなるまで前記ＯＳデバッ
ガを起動させる処理とをコンピュータに実行させるプロ
グラムを記録したことを特徴とする記録媒体。 - 【請求項８】 ＯＳデバッガを使用したコンピュータシ
ステムのＯＳ自動テスト方式において、前記ＯＳデバッ
ガが次に処理するべき入力データを不揮発性メモリに設
定して前記ＯＳデバッガを起動させる処理と、前記不揮
発性メモリに保持される完了フラグが前記ＯＳデバッガ
が入力データ中の処理するべきコマンドを完了したこと
を示す値となったときはさらに前記ＯＳデバッガが次に
処理するべき入力データを前記不揮発性メモリに設定す
る処理と、前記ＯＳデバッガが未処理の入力データがな
くなるまで前記ＯＳデバッガを起動させる処理とをコン
ピュータに実行させるプログラムを記録したことを特徴
とする記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10060987A JPH11259338A (ja) | 1998-03-12 | 1998-03-12 | Ｏｓ自動テスト方式およびｏｓ自動テスト用プログラムを記録した記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10060987A JPH11259338A (ja) | 1998-03-12 | 1998-03-12 | Ｏｓ自動テスト方式およびｏｓ自動テスト用プログラムを記録した記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11259338A true JPH11259338A (ja) | 1999-09-24 |
Family
ID=13158307
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10060987A Pending JPH11259338A (ja) | 1998-03-12 | 1998-03-12 | Ｏｓ自動テスト方式およびｏｓ自動テスト用プログラムを記録した記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11259338A (ja) |
-
1998
- 1998-03-12 JP JP10060987A patent/JPH11259338A/ja active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010123 |