JPH11260242A - 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 - Google Patents
電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法Info
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- JPH11260242A JPH11260242A JP6090598A JP6090598A JPH11260242A JP H11260242 A JPH11260242 A JP H11260242A JP 6090598 A JP6090598 A JP 6090598A JP 6090598 A JP6090598 A JP 6090598A JP H11260242 A JPH11260242 A JP H11260242A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 高品位画像形成装置を実現し得る電子ビーム
源としての電子放出素子を提供する。 【解決手段】 電極2,3間に、高さ1nm〜10μm
の範囲の凸部7を有する磁性粒子からなる下地層6を形
成し、この下地層6上に導電性膜4を形成した後、通電
フォーミングを行って電子放出部5を形成する。 【効果】 電子放出部5の位置と形状を精度良く制御で
き、素子特性の均一化が実現される。
源としての電子放出素子を提供する。 【解決手段】 電極2,3間に、高さ1nm〜10μm
の範囲の凸部7を有する磁性粒子からなる下地層6を形
成し、この下地層6上に導電性膜4を形成した後、通電
フォーミングを行って電子放出部5を形成する。 【効果】 電子放出部5の位置と形状を精度良く制御で
き、素子特性の均一化が実現される。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子、該
電子放出素子を多数個配置してなる電子源、及び該電子
源を用いて構成した表示装置や露光装置等の画像形成装
置に関する。
電子放出素子を多数個配置してなる電子源、及び該電子
源を用いて構成した表示装置や露光装置等の画像形成装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、電子放出素子には大別して熱
電子放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られて
いる。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「F
E型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「M
IM型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有
る。
電子放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られて
いる。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「F
E型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「M
IM型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有
る。
【0003】FE型の例としては、W.P. Dyke
and W.W. Dolan,“Field Em
ission”, Advance in Elect
ron Physics, 8,89(1956)ある
いはC.A. Spindt, “Physical
Properties of thin−filmfi
eld emission cathodes wit
h molybdenum cones”, J. A
ppl. Phys. ,47,5248(1976)
等に開示されたものが知られている。
and W.W. Dolan,“Field Em
ission”, Advance in Elect
ron Physics, 8,89(1956)ある
いはC.A. Spindt, “Physical
Properties of thin−filmfi
eld emission cathodes wit
h molybdenum cones”, J. A
ppl. Phys. ,47,5248(1976)
等に開示されたものが知られている。
【0004】MIM型の例としては、C.A. Mea
d, “Operation ofTunnel−Em
ission Devices”, J. Appl.
Phys., 32,646(1961)等に開示され
たものが知られている。
d, “Operation ofTunnel−Em
ission Devices”, J. Appl.
Phys., 32,646(1961)等に開示され
たものが知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、
M.I. Elinson, Radio Eng.
Electron Phys., 10,1290(1
965)等に開示されたものがある。
M.I. Elinson, Radio Eng.
Electron Phys., 10,1290(1
965)等に開示されたものがある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は、絶縁性基板上
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“Thin Solid
Films”, 9,317(1972)]、In2
O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwell
and C.G. Fonstad:“IEEE T
rans. ED Conf.”, 519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“Thin Solid
Films”, 9,317(1972)]、In2
O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwell
and C.G. Fonstad:“IEEE T
rans. ED Conf.”, 519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図1
4に模式的に示す。同図において1は基板である。4は
導電性膜で、H型形状のパターンに形成された金属酸化
物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる
通電処理により電子放出部5が形成される。尚、図中の
間隔Lは、0.5〜1mm、W’は、0.1mmで設定
されている。
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図1
4に模式的に示す。同図において1は基板である。4は
導電性膜で、H型形状のパターンに形成された金属酸化
物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる
通電処理により電子放出部5が形成される。尚、図中の
間隔Lは、0.5〜1mm、W’は、0.1mmで設定
されている。
【0008】これらの表面伝導型電子放出素子において
は、電子放出を行う前に導電性膜4を予め通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理によって電子放出部5を形成す
るのが一般的である。即ち、通電フォーミングとは、前
記導電性膜4の両端に電圧を印加通電し、導電性膜4を
局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を変化さ
せ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部5を形成する処
理である。尚、電子放出部5では導電性膜4の一部に亀
裂が発生しており、その亀裂付近から電子放出が行われ
る。
は、電子放出を行う前に導電性膜4を予め通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理によって電子放出部5を形成す
るのが一般的である。即ち、通電フォーミングとは、前
記導電性膜4の両端に電圧を印加通電し、導電性膜4を
局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を変化さ
せ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部5を形成する処
理である。尚、電子放出部5では導電性膜4の一部に亀
裂が発生しており、その亀裂付近から電子放出が行われ
る。
【0009】上述の表面伝導型電子放出素子は、構造が
単純であることから、大面積に亙って多数素子を配列形
成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすための
種々の応用が研究されている。例えば、荷電ビーム源、
表示装置等の画像形成装置への利用が挙げられる。
単純であることから、大面積に亙って多数素子を配列形
成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすための
種々の応用が研究されている。例えば、荷電ビーム源、
表示装置等の画像形成装置への利用が挙げられる。
【0010】従来、多数の表面伝導型電子放出素子を配
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯子型配置とも呼ぶ)した電子源が挙
げられる(例えば、特開昭64−31332号公報、特
開平1−283749号公報、同2−257552号公
報)。
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯子型配置とも呼ぶ)した電子源が挙
げられる(例えば、特開昭64−31332号公報、特
開平1−283749号公報、同2−257552号公
報)。
【0011】また、特に表示装置においては、液晶を用
いた表示装置と同様の平板型表示装置とすることが可能
で、しかもバックライトが不要な自発光型の表示装置と
して、表面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源
と、この電子源からの電子線の照射により可視光を発光
する蛍光体とを組み合わせた表示装置が提案されている
(アメリカ特許第5066883号明細書)。
いた表示装置と同様の平板型表示装置とすることが可能
で、しかもバックライトが不要な自発光型の表示装置と
して、表面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源
と、この電子源からの電子線の照射により可視光を発光
する蛍光体とを組み合わせた表示装置が提案されている
(アメリカ特許第5066883号明細書)。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】前記電子源、画像形成
装置等に用いられる電子放出素子については、明るい表
示画像を安定して提供できるよう更に安定な電子放出特
性及び電子放出の効率向上が要望されている。
装置等に用いられる電子放出素子については、明るい表
示画像を安定して提供できるよう更に安定な電子放出特
性及び電子放出の効率向上が要望されている。
【0013】上記電子放出の効率とは、例えば前述の表
面伝導型電子放出素子であれば、導電性膜の両端に電圧
を印加した際に、これに流れる電流(以下、「素子電
流」と呼ぶ。)と真空中に放出される電流(以下、「放
出電流」と呼ぶ。)との比で評価されるものであり、素
子電流が小さく、放出電流が大きい電子放出素子が望ま
れている。
面伝導型電子放出素子であれば、導電性膜の両端に電圧
を印加した際に、これに流れる電流(以下、「素子電
流」と呼ぶ。)と真空中に放出される電流(以下、「放
出電流」と呼ぶ。)との比で評価されるものであり、素
子電流が小さく、放出電流が大きい電子放出素子が望ま
れている。
【0014】安定的に制御し得る電子放出特性と効率の
より一層の向上がなされれば、例えば蛍光体を画像形成
部材とする画像形成装置においては、低電流で明るい高
品位な画像形成装置、例えばフラットテレビが実現され
る。また、低電流化に伴い、画像形成装置を構成する駆
動回路等のローコスト化も図れる。
より一層の向上がなされれば、例えば蛍光体を画像形成
部材とする画像形成装置においては、低電流で明るい高
品位な画像形成装置、例えばフラットテレビが実現され
る。また、低電流化に伴い、画像形成装置を構成する駆
動回路等のローコスト化も図れる。
【0015】しかしながら、上述のM.ハートウェルの
電子放出素子にあっては、次のような問題があるため、
安定な電子放出特性及び電子放出効率について、必ずし
も満足のゆくものが得られておらず、これを用いて高輝
度で動作安定性に優れた画像形成装置を提供することは
極めて難しいというのが実状である。
電子放出素子にあっては、次のような問題があるため、
安定な電子放出特性及び電子放出効率について、必ずし
も満足のゆくものが得られておらず、これを用いて高輝
度で動作安定性に優れた画像形成装置を提供することは
極めて難しいというのが実状である。
【0016】(1)すなわち、通電フォーミングによっ
て形成される導電性膜の局所的な破壊、変形もしくは変
質は、素子電流によって発生するジュール熱が起因とな
って生ずるものであるため、導電性膜の形成条件あるい
は通電処理の通電条件等によっては、導電性膜に発生す
る亀裂の位置にばらつきが生じ、導電性膜内の所定の位
置に正確に電子放出部を形成することが困難であった。
て形成される導電性膜の局所的な破壊、変形もしくは変
質は、素子電流によって発生するジュール熱が起因とな
って生ずるものであるため、導電性膜の形成条件あるい
は通電処理の通電条件等によっては、導電性膜に発生す
る亀裂の位置にばらつきが生じ、導電性膜内の所定の位
置に正確に電子放出部を形成することが困難であった。
【0017】(2)また、前記導電性膜に発生する亀裂
は、実際には、導電性膜の幅W’方向に蛇行して形成さ
れ、その蛇行の長さは素子毎にかなり変化し、導電性膜
の形成条件あるいは通電処理の通電条件等によっては、
電子放出部の実効的な長さが設計できないばかりではな
く、複数の電子放出素子において、各素子の電子放出量
のばらつきを生じ、均一で動作安定性に優れた画像形成
装置を提供することは極めて困難であった。
は、実際には、導電性膜の幅W’方向に蛇行して形成さ
れ、その蛇行の長さは素子毎にかなり変化し、導電性膜
の形成条件あるいは通電処理の通電条件等によっては、
電子放出部の実効的な長さが設計できないばかりではな
く、複数の電子放出素子において、各素子の電子放出量
のばらつきを生じ、均一で動作安定性に優れた画像形成
装置を提供することは極めて困難であった。
【0018】本発明の目的は、上述した解決すべき技術
的課題を解決し、安定で均一な電子放出特性を有し、且
つ電子放出の効率向上を図った電子放出素子を提供する
ことにある。本発明の別の目的は、高輝度で動作安定性
に優れた画像形成装置を提供することにある。
的課題を解決し、安定で均一な電子放出特性を有し、且
つ電子放出の効率向上を図った電子放出素子を提供する
ことにある。本発明の別の目的は、高輝度で動作安定性
に優れた画像形成装置を提供することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべく
成された本発明の構成は、以下の通りである。
成された本発明の構成は、以下の通りである。
【0020】すなわち、本発明の第一は、対向する電極
間に、高さ1nm〜10μmの範囲の凸部を有する磁性
粒子からなる下地層を備え、該下地層上に前記電極間を
連絡する導電性膜を有し、前記凸部に対応する前記導電
性膜の領域に電子放出部が形成されていることを特徴と
する電子放出素子にある。
間に、高さ1nm〜10μmの範囲の凸部を有する磁性
粒子からなる下地層を備え、該下地層上に前記電極間を
連絡する導電性膜を有し、前記凸部に対応する前記導電
性膜の領域に電子放出部が形成されていることを特徴と
する電子放出素子にある。
【0021】また、本発明の第二は、対向する電極間
に、電子放出部を有する導電性膜を備える電子放出素子
の製造方法において、少なくとも、電極間に磁性粒子か
らなる下地層を形成する工程と、該下地層に高さ1nm
〜10μmの範囲の凸部を形成する工程と、該凸部を有
する下地層上に導電性膜を形成する工程と、該導電性膜
に電子放出部を形成するフォーミング工程とを含むこと
を特徴とする電子放出素子の製造方法にある。
に、電子放出部を有する導電性膜を備える電子放出素子
の製造方法において、少なくとも、電極間に磁性粒子か
らなる下地層を形成する工程と、該下地層に高さ1nm
〜10μmの範囲の凸部を形成する工程と、該凸部を有
する下地層上に導電性膜を形成する工程と、該導電性膜
に電子放出部を形成するフォーミング工程とを含むこと
を特徴とする電子放出素子の製造方法にある。
【0022】上記本発明第二の製造方法は、更にその特
徴として、「前記磁性粒子からなる下地層に凸部を形成
する工程が、静磁界による磁性粒子の凝集を伴うもので
ある」こと、「前記磁性粒子が強磁性体からなる粒子で
あって、該強磁性体からなる粒子からなる下地層に凸部
を形成する工程に続いて、更に酸化雰囲気下で加熱焼成
することで該粒子を常磁性体からなる粒子とする工程を
含む」こと、をも含む。
徴として、「前記磁性粒子からなる下地層に凸部を形成
する工程が、静磁界による磁性粒子の凝集を伴うもので
ある」こと、「前記磁性粒子が強磁性体からなる粒子で
あって、該強磁性体からなる粒子からなる下地層に凸部
を形成する工程に続いて、更に酸化雰囲気下で加熱焼成
することで該粒子を常磁性体からなる粒子とする工程を
含む」こと、をも含む。
【0023】また、本発明の第三は、基体上に、複数の
電子放出素子が配列された電子源において、前記電子放
出素子が、上記本発明第一の電子放出素子であることを
特徴とする電子源にある。
電子放出素子が配列された電子源において、前記電子放
出素子が、上記本発明第一の電子放出素子であることを
特徴とする電子源にある。
【0024】上記本発明第三の電子源は、更にその特徴
として、「前記複数の電子放出素子が、マトリクス状に
配線されている」こと、「前記複数の電子放出素子が、
梯子状に配線されている」こと、をも含む。
として、「前記複数の電子放出素子が、マトリクス状に
配線されている」こと、「前記複数の電子放出素子が、
梯子状に配線されている」こと、をも含む。
【0025】また、本発明の第四は、基体上に、複数の
電子放出素子が配列された電子源の製造方法において、
前記電子放出素子が、上記本発明第二の方法にて製造さ
れることを特徴とする電子源の製造方法にある。
電子放出素子が配列された電子源の製造方法において、
前記電子放出素子が、上記本発明第二の方法にて製造さ
れることを特徴とする電子源の製造方法にある。
【0026】また、本発明の第五は、基体上に、複数の
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置において、前記電子源が、上記
本発明第三の電子源であることを特徴とする画像形成装
置にある。
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置において、前記電子源が、上記
本発明第三の電子源であることを特徴とする画像形成装
置にある。
【0027】更に、本発明の第六は、基体上に、複数の
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置の製造方法において、前記電子
源が、上記本発明第四の方法にて製造されることを特徴
とする画像形成装置の製造方法にある。
電子放出素子が配列された電子源と、該電子源から放出
される電子線の照射により画像を形成する画像形成部材
とを有する画像形成装置の製造方法において、前記電子
源が、上記本発明第四の方法にて製造されることを特徴
とする画像形成装置の製造方法にある。
【0028】本発明によれば、電極間に予め磁性粒子を
用いて凸部を形成することにより、この凸部に対応する
導電性膜の領域を他の領域に比べ薄く形成することがで
き、当該領域のみを高抵抗化することができる。このた
め、フォーミング処理において当該領域に選択的に亀裂
を形成することができ、位置及び形状が制御された均一
な電子放出部を形成することができる。これにより、均
一で安定な電子放出特性を有する電子放出素子を実現で
き、さらには動作安定性に優れ、良好な画像を形成し得
る画像形成装置を実現できる。
用いて凸部を形成することにより、この凸部に対応する
導電性膜の領域を他の領域に比べ薄く形成することがで
き、当該領域のみを高抵抗化することができる。このた
め、フォーミング処理において当該領域に選択的に亀裂
を形成することができ、位置及び形状が制御された均一
な電子放出部を形成することができる。これにより、均
一で安定な電子放出特性を有する電子放出素子を実現で
き、さらには動作安定性に優れ、良好な画像を形成し得
る画像形成装置を実現できる。
【0029】
【発明の実施の形態】次に、本発明の好ましい実施態様
を示す。
を示す。
【0030】本発明を適用し得る電子放出素子は、先述
したような冷陰極型の電子放出素子に分類されるもの
で、それらの中でも電子放出特性等の観点から特に表面
伝導型の電子放出素子が好適である。このため、以下で
は表面伝導型電子放出素子を例に挙げて説明する。
したような冷陰極型の電子放出素子に分類されるもの
で、それらの中でも電子放出特性等の観点から特に表面
伝導型の電子放出素子が好適である。このため、以下で
は表面伝導型電子放出素子を例に挙げて説明する。
【0031】図1は、本発明の表面伝導型電子放出素子
の一構成例を示す模式図であり、図1(a)は平面図、
図1(b)は縦断面図である。図1において、1は基
板、2と3は電極(素子電極)、4は導電性膜、5は電
子放出部、6は磁性粒子からなる下地層、7は下地層6
に形成された凸部である。
の一構成例を示す模式図であり、図1(a)は平面図、
図1(b)は縦断面図である。図1において、1は基
板、2と3は電極(素子電極)、4は導電性膜、5は電
子放出部、6は磁性粒子からなる下地層、7は下地層6
に形成された凸部である。
【0032】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラ
スにスパッタ法等によりSiO2 を積層した積層体、ア
ルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用いることが
できる。
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラ
スにスパッタ法等によりSiO2 を積層した積層体、ア
ルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用いることが
できる。
【0033】対向する素子電極2,3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi、C
r、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等
の金属或は合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd
−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択され
る。
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi、C
r、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等
の金属或は合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd
−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択され
る。
【0034】素子電極間隔L、素子電極長さW1、導電
性膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して、設計
される。素子電極間隔Lは、好ましくは、数百nmから
数百μmの範囲とすることができ、より好ましくは、素
子電極間に印加する電圧等を考慮して数μmから数十μ
mの範囲とすることができる。
性膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して、設計
される。素子電極間隔Lは、好ましくは、数百nmから
数百μmの範囲とすることができ、より好ましくは、素
子電極間に印加する電圧等を考慮して数μmから数十μ
mの範囲とすることができる。
【0035】素子電極長さW1は、電極の抵抗値、電子
放出特性を考慮して、数μmから数百μmの範囲とする
ことができる。素子電極2,3の膜厚dは、数十nmか
ら数μmの範囲とすることができる。
放出特性を考慮して、数μmから数百μmの範囲とする
ことができる。素子電極2,3の膜厚dは、数十nmか
ら数μmの範囲とすることができる。
【0036】下地層6は磁性粒子からなるもので、この
磁性粒子は粒径10nm〜3μm程度の強磁性体からな
る磁性粒子であることが望ましく、その材料として例え
ばγ−酸化鉄等を用いることができる。
磁性粒子は粒径10nm〜3μm程度の強磁性体からな
る磁性粒子であることが望ましく、その材料として例え
ばγ−酸化鉄等を用いることができる。
【0037】下地層6に形成されている凸部7は、1n
m〜10μmの範囲の高さを有する。この様な凸部7を
形成しておくことにより、詳しくは後述するが、凸部7
に対応する導電性膜4の領域に電子放出部5を選択的に
形成することができる。
m〜10μmの範囲の高さを有する。この様な凸部7を
形成しておくことにより、詳しくは後述するが、凸部7
に対応する導電性膜4の領域に電子放出部5を選択的に
形成することができる。
【0038】導電性膜4を構成する材料としては、例え
ばPd,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,
Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金属、P
dO,SnO2 ,In2 O3 ,PbO,Sb2 O3 等の
酸化物、HfB2 ,ZrB2,LaB6 ,CeB6 ,Y
B4 ,GdB4 等の硼化物、TiC,ZrC,HfC,
TaC,SiC,WCなどの炭化物、TiN,ZrN,
HfN等の窒化物、Si,Ge等の半導体、カーボン等
が挙げられる。
ばPd,Pt,Ru,Ag,Au,Ti,In,Cu,
Cr,Fe,Zn,Sn,Ta,W,Pb等の金属、P
dO,SnO2 ,In2 O3 ,PbO,Sb2 O3 等の
酸化物、HfB2 ,ZrB2,LaB6 ,CeB6 ,Y
B4 ,GdB4 等の硼化物、TiC,ZrC,HfC,
TaC,SiC,WCなどの炭化物、TiN,ZrN,
HfN等の窒化物、Si,Ge等の半導体、カーボン等
が挙げられる。
【0039】導電性膜4には、良好な電子放出特性を得
るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが好
ましい。その膜厚は、素子電極2,3へのステップカバ
レージ、素子電極2,3間の抵抗値及び後述するフォー
ミング条件等を考慮して適宜設定されるが、通常は、数
Å〜数百nmの範囲とするのが好ましく、より好ましく
は1nm〜50nmの範囲とするのが良い。その抵抗値
は、Rsが102 Ω/□から107 Ω/□の値であるの
が好ましい。なお、Rsは、幅がwで長さがlの薄膜の
抵抗Rを、R=Rs(l/w)と置いたときの値であ
る。
るために、微粒子で構成された微粒子膜を用いるのが好
ましい。その膜厚は、素子電極2,3へのステップカバ
レージ、素子電極2,3間の抵抗値及び後述するフォー
ミング条件等を考慮して適宜設定されるが、通常は、数
Å〜数百nmの範囲とするのが好ましく、より好ましく
は1nm〜50nmの範囲とするのが良い。その抵抗値
は、Rsが102 Ω/□から107 Ω/□の値であるの
が好ましい。なお、Rsは、幅がwで長さがlの薄膜の
抵抗Rを、R=Rs(l/w)と置いたときの値であ
る。
【0040】ここで述べる微粒子膜とは、複数の微粒子
が集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、あ
るいは重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、
全体として島状構造を形成している場合も含む)をとっ
ている。微粒子の粒径は、数Å〜数百nmの範囲、好ま
しくは、1nm〜20nmの範囲である。
が集合した膜であり、その微細構造は、微粒子が個々に
分散配置した状態のみならず、微粒子が互いに隣接、あ
るいは重なり合った状態(いくつかの微粒子が集合し、
全体として島状構造を形成している場合も含む)をとっ
ている。微粒子の粒径は、数Å〜数百nmの範囲、好ま
しくは、1nm〜20nmの範囲である。
【0041】なお、本明細書では頻繁に「微粒子」とい
う言葉を用いるので、その意味について説明する。
う言葉を用いるので、その意味について説明する。
【0042】小さな粒子を「微粒子」と呼び、これより
も小さなものを「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」より
もさらに小さく、原子の数が数百個程度以下のものを
「クラスター」と呼ぶことは広く行われている。
も小さなものを「超微粒子」と呼ぶ。「超微粒子」より
もさらに小さく、原子の数が数百個程度以下のものを
「クラスター」と呼ぶことは広く行われている。
【0043】しかしながら、それぞれの境は厳密なもの
ではなく、どの様な性質に注目して分類するかにより変
化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して「微
粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこれに
沿ったものである。
ではなく、どの様な性質に注目して分類するかにより変
化する。また「微粒子」と「超微粒子」を一括して「微
粒子」と呼ぶ場合もあり、本明細書中での記述はこれに
沿ったものである。
【0044】例えば、「実験物理学講座14 表面・微
粒子」(木下是雄 編、共立出版1986年9月1日発
行)では、「本稿で微粒子と言うときにはその直径がだ
いたい2〜3μm程度から10nm程度までとし、特に
超微粒子というときは粒径が10nm程度から2〜3n
m程度までを意味することにする。両者を一括して単に
微粒子と書くこともあってけっして厳密なものではな
く、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の数が
2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼
ぶ。」(195ページ 22〜26行目)と記述されて
いる。
粒子」(木下是雄 編、共立出版1986年9月1日発
行)では、「本稿で微粒子と言うときにはその直径がだ
いたい2〜3μm程度から10nm程度までとし、特に
超微粒子というときは粒径が10nm程度から2〜3n
m程度までを意味することにする。両者を一括して単に
微粒子と書くこともあってけっして厳密なものではな
く、だいたいの目安である。粒子を構成する原子の数が
2個から数十〜数百個程度の場合はクラスターと呼
ぶ。」(195ページ 22〜26行目)と記述されて
いる。
【0045】付言すると、新技術開発事業団の“林・超
微粒子プロジェクト”での「超微粒子」の定義は、粒径
の下限はさらに小さく、次のようなものであった。
微粒子プロジェクト”での「超微粒子」の定義は、粒径
の下限はさらに小さく、次のようなものであった。
【0046】「創造科学技術推進制度の“超微粒子プロ
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ
(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを“超微粒
子”(ultra fine particle)と呼
ぶことにした。すると1個の超微粒子はおよそ100〜
108 個くらいの原子の集合体という事になる。原子の
尺度でみれば超微粒子は大〜巨大粒子である。」(「超
微粒子−創造科学技術」林主税、上田良二、田崎明
編;三田出版 1988年 2ページ1〜4行目)/
「超微粒子よりさらに小さいもの、すなわち原子が数個
〜数百個で構成される1個の粒子は、ふつうクラスター
と呼ばれる」(同書2ページ12〜13行目)。
ジェクト”(1981〜1986)では、粒子の大きさ
(径)がおよそ1〜100nmの範囲のものを“超微粒
子”(ultra fine particle)と呼
ぶことにした。すると1個の超微粒子はおよそ100〜
108 個くらいの原子の集合体という事になる。原子の
尺度でみれば超微粒子は大〜巨大粒子である。」(「超
微粒子−創造科学技術」林主税、上田良二、田崎明
編;三田出版 1988年 2ページ1〜4行目)/
「超微粒子よりさらに小さいもの、すなわち原子が数個
〜数百個で構成される1個の粒子は、ふつうクラスター
と呼ばれる」(同書2ページ12〜13行目)。
【0047】上記のような一般的な呼び方をふまえて、
本明細書において「微粒子」とは多数の原子・分子の集
合体で、粒径の下限は数Å〜1nm程度、上限は数μm
程度のものを指すこととする。
本明細書において「微粒子」とは多数の原子・分子の集
合体で、粒径の下限は数Å〜1nm程度、上限は数μm
程度のものを指すこととする。
【0048】電子放出部5は、導電性膜4の一部に形成
された高抵抗の亀裂により構成され、下地層6に形成さ
れた凸部7のパターンに依存するものである。電子放出
部5の内部には、数Åから数十nmの範囲の粒径の導電
性微粒子が存在する場合もある。この導電性微粒子は、
導電性膜4を構成する材料の元素の一部、あるいは全て
の元素を含有するものとなる。電子放出部5及びその近
傍の導電性膜4には、炭素あるいは炭素化合物を有する
場合もある。
された高抵抗の亀裂により構成され、下地層6に形成さ
れた凸部7のパターンに依存するものである。電子放出
部5の内部には、数Åから数十nmの範囲の粒径の導電
性微粒子が存在する場合もある。この導電性微粒子は、
導電性膜4を構成する材料の元素の一部、あるいは全て
の元素を含有するものとなる。電子放出部5及びその近
傍の導電性膜4には、炭素あるいは炭素化合物を有する
場合もある。
【0049】本発明の表面伝導型電子放出素子の製造方
法としては様々な方法があるが、その一例を図2に基づ
いて説明する。尚、図2においても図1に示した部位と
同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付してい
る。
法としては様々な方法があるが、その一例を図2に基づ
いて説明する。尚、図2においても図1に示した部位と
同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付してい
る。
【0050】1)基板1を洗剤、純水及び有機溶剤等を
用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等により
素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィー技
術を用いて基板1上に素子電極2,3を形成する(図2
(a))。
用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等により
素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィー技
術を用いて基板1上に素子電極2,3を形成する(図2
(a))。
【0051】2)素子電極2,3間に、磁性粒子からな
る下地層6を形成する(図2(b))。
る下地層6を形成する(図2(b))。
【0052】具体的には、例えば磁性粒子を適当な分散
剤に分散させ、スプレー法、ドクターブレードによる塗
布法、インクジェット法、ピエゾジェット法、バブルジ
ェット法、あるいはディッピング法等を用いて、基板1
上に付与することで形成することができる。上記の分散
剤としては、有機溶媒、熱可塑性のビニール樹脂,ウレ
タン樹脂と有機溶媒を混合したもの、あるいは界面活性
剤を加えた純水等を用いることができるが、これに限る
ものではない。
剤に分散させ、スプレー法、ドクターブレードによる塗
布法、インクジェット法、ピエゾジェット法、バブルジ
ェット法、あるいはディッピング法等を用いて、基板1
上に付与することで形成することができる。上記の分散
剤としては、有機溶媒、熱可塑性のビニール樹脂,ウレ
タン樹脂と有機溶媒を混合したもの、あるいは界面活性
剤を加えた純水等を用いることができるが、これに限る
ものではない。
【0053】3)続いて、基板1上に付与された下地層
6が乾燥して固着する前に、すなわち磁性粒子の流動性
が残存している状態であるときに、外部より磁性粒子に
静磁界を加え、磁性粒子を凝集あるいは配向させて、1
nm〜10μmの範囲の高さを有する凸部7を形成する
(図2(c))。このような凸部7を形成しておくこと
により、後述のフォーミング工程において凸部7に対応
する導電性膜4の領域に電子放出部5を選択的に形成す
ることができる。凸部7の高さが1nmよりも低い場合
には、電子放出部5の位置と形状を制御することが困難
となり、10μmよりも高い場合には、フォーミングが
困難となり良好な電子放出部を形成することが困難であ
る。
6が乾燥して固着する前に、すなわち磁性粒子の流動性
が残存している状態であるときに、外部より磁性粒子に
静磁界を加え、磁性粒子を凝集あるいは配向させて、1
nm〜10μmの範囲の高さを有する凸部7を形成する
(図2(c))。このような凸部7を形成しておくこと
により、後述のフォーミング工程において凸部7に対応
する導電性膜4の領域に電子放出部5を選択的に形成す
ることができる。凸部7の高さが1nmよりも低い場合
には、電子放出部5の位置と形状を制御することが困難
となり、10μmよりも高い場合には、フォーミングが
困難となり良好な電子放出部を形成することが困難であ
る。
【0054】前記磁性粒子に静磁界を加えて凸部7を形
成する方法としては、例えば図2(c)に示すように、
磁極8と対向磁極9を使用する方法がある。この方法に
おいては、磁性粒子は粒径10nm〜3μmの強磁性体
からなる磁性粒子であることが望ましく、具体的な材料
としては例えばγ−酸化鉄等が好適である。磁極8と対
向磁極9は磁気的に連結された電磁石であって、これら
は下地層6の幅W2より広い幅を持つ板状の電磁石であ
る。また、磁極8の基板1側の先端は、その幅tが0.
1μm〜1μmに加工されており、基板1上の磁性粒子
との間の距離を適当な値に保たれている。この状態で磁
極8と対向磁極9の電磁石を作動させると、磁極8と対
向磁極9との間に形成される磁束により、磁性粒子に磁
極8の先端の幅tに相当する幅で静磁界を加えることが
でき、磁性粒子は凝集して凸部7が形成される。
成する方法としては、例えば図2(c)に示すように、
磁極8と対向磁極9を使用する方法がある。この方法に
おいては、磁性粒子は粒径10nm〜3μmの強磁性体
からなる磁性粒子であることが望ましく、具体的な材料
としては例えばγ−酸化鉄等が好適である。磁極8と対
向磁極9は磁気的に連結された電磁石であって、これら
は下地層6の幅W2より広い幅を持つ板状の電磁石であ
る。また、磁極8の基板1側の先端は、その幅tが0.
1μm〜1μmに加工されており、基板1上の磁性粒子
との間の距離を適当な値に保たれている。この状態で磁
極8と対向磁極9の電磁石を作動させると、磁極8と対
向磁極9との間に形成される磁束により、磁性粒子に磁
極8の先端の幅tに相当する幅で静磁界を加えることが
でき、磁性粒子は凝集して凸部7が形成される。
【0055】上記のように凝集して凸部7を形成する磁
性粒子の持つ磁気の影響は、磁性粒子の材料を適当に選
択することにより、後工程として酸化雰囲気下で加熱焼
成処理を施すことで、強磁性体からなる粒子を、常磁性
体からなる粒子に性質を変えることができる。例えば上
述のγ−酸化鉄は常温で強磁性体であるが、酸化雰囲気
下で400℃以上で加熱焼成することにより、常磁性体
のα−酸化鉄になる。
性粒子の持つ磁気の影響は、磁性粒子の材料を適当に選
択することにより、後工程として酸化雰囲気下で加熱焼
成処理を施すことで、強磁性体からなる粒子を、常磁性
体からなる粒子に性質を変えることができる。例えば上
述のγ−酸化鉄は常温で強磁性体であるが、酸化雰囲気
下で400℃以上で加熱焼成することにより、常磁性体
のα−酸化鉄になる。
【0056】4)続いて、素子電極2,3間に有機金属
溶液を塗布して、有機金属膜を形成する。有機金属溶液
には、前述の導電性膜4の材料の金属を主元素とする有
機化合物の溶液を用いることができる。有機金属膜を加
熱焼成処理し、リフトオフ、エッチング等によりパター
ニングし、導電性膜4を形成する(図2(d))。ここ
では、有機金属溶液の塗布法を挙げて説明したが、導電
性膜4の形成法はこれに限られるものではなく、真空蒸
着法、スパッタ法、化学的気相堆積法、分散塗布法、デ
ィッピング法、スピンナー法等を用いることもできる。
溶液を塗布して、有機金属膜を形成する。有機金属溶液
には、前述の導電性膜4の材料の金属を主元素とする有
機化合物の溶液を用いることができる。有機金属膜を加
熱焼成処理し、リフトオフ、エッチング等によりパター
ニングし、導電性膜4を形成する(図2(d))。ここ
では、有機金属溶液の塗布法を挙げて説明したが、導電
性膜4の形成法はこれに限られるものではなく、真空蒸
着法、スパッタ法、化学的気相堆積法、分散塗布法、デ
ィッピング法、スピンナー法等を用いることもできる。
【0057】5)続いて、フォーミング工程を施す。こ
のフォーミング工程の方法の一例として通電処理による
方法を説明する。素子電極2,3間に、不図示の電源よ
り通電すると、導電性膜4の部位に亀裂が発生し、電子
放出部5が形成される(図2(d))。
のフォーミング工程の方法の一例として通電処理による
方法を説明する。素子電極2,3間に、不図示の電源よ
り通電すると、導電性膜4の部位に亀裂が発生し、電子
放出部5が形成される(図2(d))。
【0058】本発明においては、下地層6に予め凸部7
を形成しているため、この上に形成形成された導電性膜
4では、凸部7に対応する領域が、他の領域よりも薄く
なっている。そのため、上記の通電フォーミングによっ
て、凸部7に対応する導電性膜4の領域に選択的に亀裂
を形成でき、電子放出部の位置と形状を制御することが
できる。
を形成しているため、この上に形成形成された導電性膜
4では、凸部7に対応する領域が、他の領域よりも薄く
なっている。そのため、上記の通電フォーミングによっ
て、凸部7に対応する導電性膜4の領域に選択的に亀裂
を形成でき、電子放出部の位置と形状を制御することが
できる。
【0059】通電フォーミングの電圧波形の例を図4に
示す。
示す。
【0060】電圧波形は、特にパルス波形が好ましい。
これにはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に
印加する図3(a)に示した手法と、パルス波高値を増
加させながらパルスを印加する図3(b)に示した手法
がある。
これにはパルス波高値を定電圧としたパルスを連続的に
印加する図3(a)に示した手法と、パルス波高値を増
加させながらパルスを印加する図3(b)に示した手法
がある。
【0061】まず、パルス波高値を定電圧とした場合に
ついて図3(a)で説明する。図3(a)におけるT1
及びT2は電圧波形のパルス幅とパルス間隔である。三
角波の波高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、
表面伝導型電子放出素子の形態に応じて適宜選択され
る。このような条件のもと、例えば、数秒から数十分間
電圧を印加する。パルス波形は、三角波に限定されるも
のではなく、矩形波等の所望の波形を採用することがで
きる。
ついて図3(a)で説明する。図3(a)におけるT1
及びT2は電圧波形のパルス幅とパルス間隔である。三
角波の波高値(通電フォーミング時のピーク電圧)は、
表面伝導型電子放出素子の形態に応じて適宜選択され
る。このような条件のもと、例えば、数秒から数十分間
電圧を印加する。パルス波形は、三角波に限定されるも
のではなく、矩形波等の所望の波形を採用することがで
きる。
【0062】次に、パルス波高値を増加させながら電圧
パルスを印加する場合について図3(b)で説明する。
図3(b)におけるT1及びT2は、図3(a)に示し
たのと同様とすることができる。三角波の波高値(通電
フォーミング時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステ
ップ程度づつ、増加させることができる。
パルスを印加する場合について図3(b)で説明する。
図3(b)におけるT1及びT2は、図3(a)に示し
たのと同様とすることができる。三角波の波高値(通電
フォーミング時のピーク電圧)は、例えば0.1Vステ
ップ程度づつ、増加させることができる。
【0063】通電フォーミング処理の終了は、パルス間
隔T2中に、導電性膜4を局所的に破壊,変形しない程
度の電圧を印加し、電流を測定して検知することができ
る。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる電流を
測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示した
時、通電フォーミングを終了させる。
隔T2中に、導電性膜4を局所的に破壊,変形しない程
度の電圧を印加し、電流を測定して検知することができ
る。例えば0.1V程度の電圧印加により流れる電流を
測定し、抵抗値を求めて、1MΩ以上の抵抗を示した
時、通電フォーミングを終了させる。
【0064】6)フォーミングを終えた素子には活性化
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。この活性化工
程により、素子電流If,放出電流Ieを、著しく変化
させることができる。
工程と呼ばれる処理を施すのが好ましい。この活性化工
程により、素子電流If,放出電流Ieを、著しく変化
させることができる。
【0065】活性化工程は、例えば、有機物質のガスを
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、素子
電極2,3間にパルスの印加を繰り返すことで行うこと
ができる。この雰囲気は、例えば油拡散ポンプやロータ
リーポンプなどを用いて真空容器内を排気した場合に雰
囲気内に残留する有機ガスを利用して形成することがで
きる他、イオンポンプなどにより一旦十分に排気した真
空中に適当な有機物質のガスを導入することによっても
得られる。このときの好ましい有機物質のガス圧は、前
述の素子の形態、真空容器の形状や、有機物質の種類な
どにより異なるため、場合に応じ適宜設定される。適当
な有機物質としては、アルカン、アルケン、アルキンの
脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素類、アルコール類、
アルデヒド類、ケトン類、アミン類、フェノール、カル
ボン、スルホン酸等の有機酸類等を挙げることが出来、
具体的には、メタン、エタン、プロパンなどCn H2n+2
で表される飽和炭化水素、エチレン、プロピレンなどC
n H2n等の組成式で表される不飽和炭化水素、ベンゼ
ン、トルエン、メタノール、エタノール、ホルムアルデ
ヒド、アセトアルデヒド、アセトン、メチルエチルケト
ン、メチルアミン、エチルアミン、フェノール、蟻酸、
酢酸、プロピオン酸等が使用できる。この処理により、
雰囲気中に存在する有機物質から、炭素あるいは炭素化
合物が素子上に堆積し、素子電流If,放出電流Ie
が、著しく変化するようになる。
含有する雰囲気下で、通電フォーミングと同様に、素子
電極2,3間にパルスの印加を繰り返すことで行うこと
ができる。この雰囲気は、例えば油拡散ポンプやロータ
リーポンプなどを用いて真空容器内を排気した場合に雰
囲気内に残留する有機ガスを利用して形成することがで
きる他、イオンポンプなどにより一旦十分に排気した真
空中に適当な有機物質のガスを導入することによっても
得られる。このときの好ましい有機物質のガス圧は、前
述の素子の形態、真空容器の形状や、有機物質の種類な
どにより異なるため、場合に応じ適宜設定される。適当
な有機物質としては、アルカン、アルケン、アルキンの
脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素類、アルコール類、
アルデヒド類、ケトン類、アミン類、フェノール、カル
ボン、スルホン酸等の有機酸類等を挙げることが出来、
具体的には、メタン、エタン、プロパンなどCn H2n+2
で表される飽和炭化水素、エチレン、プロピレンなどC
n H2n等の組成式で表される不飽和炭化水素、ベンゼ
ン、トルエン、メタノール、エタノール、ホルムアルデ
ヒド、アセトアルデヒド、アセトン、メチルエチルケト
ン、メチルアミン、エチルアミン、フェノール、蟻酸、
酢酸、プロピオン酸等が使用できる。この処理により、
雰囲気中に存在する有機物質から、炭素あるいは炭素化
合物が素子上に堆積し、素子電流If,放出電流Ie
が、著しく変化するようになる。
【0066】炭素あるいは炭素化合物とは、例えばグラ
ファイト(いわゆるHOPG,PG,GCを包含するも
ので、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、P
Gは結晶粒が20nm程度で結晶構造がやや乱れたも
の、GCは結晶粒が2nm程度になり結晶構造の乱れが
さらに大きくなったものを指す。)、非晶質カーボン
(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと
前記グラファイトの微結晶の混合物を指す。)であり、
その膜厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、
30nm以下の範囲とすることがより好ましい。
ファイト(いわゆるHOPG,PG,GCを包含するも
ので、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、P
Gは結晶粒が20nm程度で結晶構造がやや乱れたも
の、GCは結晶粒が2nm程度になり結晶構造の乱れが
さらに大きくなったものを指す。)、非晶質カーボン
(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと
前記グラファイトの微結晶の混合物を指す。)であり、
その膜厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、
30nm以下の範囲とすることがより好ましい。
【0067】活性化工程の終了判定は、素子電流Ifと
放出電流Ieを測定しながら、適宜行うことができる。
なお、パルス幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜
設定される。
放出電流Ieを測定しながら、適宜行うことができる。
なお、パルス幅、パルス間隔、パルス波高値などは適宜
設定される。
【0068】7)このような工程を経て得られた電子放
出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程
は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープ
ションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げる
ことが出来る。
出素子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程
は、真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空
容器を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイ
ルが素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用
しないものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープ
ションポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げる
ことが出来る。
【0069】前記活性化の工程で、排気装置として油拡
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素あるいは炭素化合物がほぼ
新たに堆積しない分圧で1×10-6Pa以下が好まし
く、さらには1×10-8Pa以下が特に好ましい。さら
に真空容器内を排気するときには、真空容器全体を加熱
して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着した有機物
質分子を排気しやすくするのが好ましい。このときの加
熱条件は、80〜250℃好ましくは150℃以上で、
できるだけ長時間処理するのが望ましいが、特にこの条
件に限るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子
放出素子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件に
より行う。真空容器内の圧力は極力低くすることが必要
で、1×10-5Pa以下が好ましく、さらには1×10
-6Pa以下が特に好ましい。
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素あるいは炭素化合物がほぼ
新たに堆積しない分圧で1×10-6Pa以下が好まし
く、さらには1×10-8Pa以下が特に好ましい。さら
に真空容器内を排気するときには、真空容器全体を加熱
して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着した有機物
質分子を排気しやすくするのが好ましい。このときの加
熱条件は、80〜250℃好ましくは150℃以上で、
できるだけ長時間処理するのが望ましいが、特にこの条
件に限るものではなく、真空容器の大きさや形状、電子
放出素子の構成などの諸条件により適宜選ばれる条件に
より行う。真空容器内の圧力は極力低くすることが必要
で、1×10-5Pa以下が好ましく、さらには1×10
-6Pa以下が特に好ましい。
【0070】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、結果として素子電流If,放出電流Ie
が、安定する。
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、結果として素子電流If,放出電流Ie
が、安定する。
【0071】上述した工程を経て得られた本発明の電子
放出素子の基本特性について、図4,図5を参照しなが
ら説明する。
放出素子の基本特性について、図4,図5を参照しなが
ら説明する。
【0072】図4は、真空処理装置の一例を示す模式図
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図4においても、図1に示した部
位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付し
ている。
であり、この真空処理装置は測定評価装置としての機能
をも兼ね備えている。図4においても、図1に示した部
位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付し
ている。
【0073】図4において、55は真空容器であり、5
6は排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素
子が配されている。また、51は電子放出素子に素子電
圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,3間
の導電性膜4を流れる素子電流Ifを測定するための電
流計、54は素子の電子放出部5より放出される放出電
流Ieを捕捉するためのアノード電極、53はアノード
電極54に電圧を印加するための高圧電源、52は電子
放出部5より放出される放出電流Ieを測定するための
電流計である。一例として、アノード電極54の電圧を
1KV〜10KVの範囲とし、アノード電極54と電子
放出素子との距離Hを2〜8mmの範囲として測定を行
うことができる。
6は排気ポンプである。真空容器55内には電子放出素
子が配されている。また、51は電子放出素子に素子電
圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,3間
の導電性膜4を流れる素子電流Ifを測定するための電
流計、54は素子の電子放出部5より放出される放出電
流Ieを捕捉するためのアノード電極、53はアノード
電極54に電圧を印加するための高圧電源、52は電子
放出部5より放出される放出電流Ieを測定するための
電流計である。一例として、アノード電極54の電圧を
1KV〜10KVの範囲とし、アノード電極54と電子
放出素子との距離Hを2〜8mmの範囲として測定を行
うことができる。
【0074】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。
【0075】排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータ
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とにより構成されてい
る。ここに示した電子放出素子基板を配した真空処理装
置の全体は、不図示のヒーターにより250℃まで加熱
できる。従って、この真空処理装置を用いると、前述の
通電フォーミング以降の工程も行うことができる。
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とにより構成されてい
る。ここに示した電子放出素子基板を配した真空処理装
置の全体は、不図示のヒーターにより250℃まで加熱
できる。従って、この真空処理装置を用いると、前述の
通電フォーミング以降の工程も行うことができる。
【0076】図5は、図4に示した真空処理装置を用い
て測定された放出電流Ie及び素子電流Ifと、素子電
圧Vfとの関係を模式的に示した図である。図5におい
ては、放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さ
いので、任意単位で示している。尚、縦・横軸ともリニ
アスケールである。
て測定された放出電流Ie及び素子電流Ifと、素子電
圧Vfとの関係を模式的に示した図である。図5におい
ては、放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著しく小さ
いので、任意単位で示している。尚、縦・横軸ともリニ
アスケールである。
【0077】図5からも明らかなように、本発明を適用
可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関し
て次の3つの特徴的性質を有する。
可能な表面伝導型電子放出素子は、放出電流Ieに関し
て次の3つの特徴的性質を有する。
【0078】即ち、第1に、本素子はある電圧(閾値電
圧と呼ぶ;図5中のVth)以上の素子電圧を印加する
と急激に放出電流Ieが増加し、一方閾値電圧Vth以
下では放出電流Ieが殆ど検出されない。つまり、放出
電流Ieに対する明確な閾値電圧Vthを持った非線形
素子である。
圧と呼ぶ;図5中のVth)以上の素子電圧を印加する
と急激に放出電流Ieが増加し、一方閾値電圧Vth以
下では放出電流Ieが殆ど検出されない。つまり、放出
電流Ieに対する明確な閾値電圧Vthを持った非線形
素子である。
【0079】第2に、放出電流Ieが素子電圧Vfに単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
【0080】第3に、アノード電極54(図4参照)に
捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に
依存する。つまり、アノード電極54に捕捉される電荷
量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間に
依存する。つまり、アノード電極54に捕捉される電荷
量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御できる。
【0081】以上の説明より理解されるように、本発明
を適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に応
じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。こ
の性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成し
た電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可能とな
る。
を適用可能な表面伝導型電子放出素子は、入力信号に応
じて、電子放出特性を容易に制御できることになる。こ
の性質を利用すると複数の電子放出素子を配して構成し
た電子源、画像形成装置等、多方面への応用が可能とな
る。
【0082】図5においては、素子電流Ifが素子電圧
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を示したが、素子電流Ifが素子電圧Vfに対
して電圧制御型負性抵抗特性(VCNR特性)を示す場
合もある(不図示)。これらの特性は、前述の工程を制
御することで制御できる。
Vfに対して単調増加する(以下、「MI特性」とい
う。)例を示したが、素子電流Ifが素子電圧Vfに対
して電圧制御型負性抵抗特性(VCNR特性)を示す場
合もある(不図示)。これらの特性は、前述の工程を制
御することで制御できる。
【0083】本発明を適用可能な電子放出素子の応用例
について以下に述べる。本発明を適用可能な表面伝導型
電子放出素子を複数個基板上に配列し、例えば電子源あ
るいは、画像形成装置が構成できる。
について以下に述べる。本発明を適用可能な表面伝導型
電子放出素子を複数個基板上に配列し、例えば電子源あ
るいは、画像形成装置が構成できる。
【0084】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動する梯子状配置のものがある。これと
は別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス配
置について以下に詳述する。
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動する梯子状配置のものがある。これと
は別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス配
置について以下に詳述する。
【0085】本発明を適用可能な表面伝導型電子放出素
子については、前述した通り3つの特性がある。即ち、
表面伝導型電子放出素子からの放出電子は、閾値電圧以
上では、対向する素子電極間に印加するパルス状電圧の
波高値と幅で制御できる。一方、閾値電圧以下では、殆
ど放出されない。この特性によれば、多数の電子放出素
子を配置した場合においても、個々の素子にパルス状電
圧を適宜印加すれば、入力信号に応じて、表面伝導型電
子放出素子を選択して電子放出量を制御できる。
子については、前述した通り3つの特性がある。即ち、
表面伝導型電子放出素子からの放出電子は、閾値電圧以
上では、対向する素子電極間に印加するパルス状電圧の
波高値と幅で制御できる。一方、閾値電圧以下では、殆
ど放出されない。この特性によれば、多数の電子放出素
子を配置した場合においても、個々の素子にパルス状電
圧を適宜印加すれば、入力信号に応じて、表面伝導型電
子放出素子を選択して電子放出量を制御できる。
【0086】以下この原理に基づき、本発明を適用可能
な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につい
て、図6を用いて説明する。図6において、71は電子
源基板、72はX方向配線、73はY方向配線である。
74は表面伝導型電子放出素子、75は結線である。
な電子放出素子を複数配して得られる電子源基板につい
て、図6を用いて説明する。図6において、71は電子
源基板、72はX方向配線、73はY方向配線である。
74は表面伝導型電子放出素子、75は結線である。
【0087】m本のX方向配線72は、Dx1,Dx
2,……,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパ
ッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成するこ
とができる。配線の材料、膜厚、幅は適宜設計される。
Y方向配線73は、Dy1,Dy2,……,Dynのn
本の配線よりなり、X方向配線72と同様に形成され
る。これらm本のX方向配線72とn本のY方向配線7
3との間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、
両者を電気的に分離している(m,nは、共に正の整
数)。
2,……,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパ
ッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成するこ
とができる。配線の材料、膜厚、幅は適宜設計される。
Y方向配線73は、Dy1,Dy2,……,Dynのn
本の配線よりなり、X方向配線72と同様に形成され
る。これらm本のX方向配線72とn本のY方向配線7
3との間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、
両者を電気的に分離している(m,nは、共に正の整
数)。
【0088】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
【0089】表面伝導型電子放出素子74を構成する一
対の素子電極(不図示)は、それぞれm本のX方向配線
72とn本のY方向配線73に、導電性金属等からなる
結線75によって電気的に接続されている。
対の素子電極(不図示)は、それぞれm本のX方向配線
72とn本のY方向配線73に、導電性金属等からなる
結線75によって電気的に接続されている。
【0090】配線72と配線73を構成する材料、結線
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、また夫々異なってもよい。これらの材料は、例えば
前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を
構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子電
極に接続した配線は素子電極ということもできる。
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、また夫々異なってもよい。これらの材料は、例えば
前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を
構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子電
極に接続した配線は素子電極ということもできる。
【0091】X方向配線72には、X方向に配列した表
面伝導型電子放出素子74の行を選択するための走査信
号を印加する不図示の走査信号印加手段が接続される。
一方、Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導
型電子放出素子74の各列を入力信号に応じて変調する
ための、不図示の変調信号発生手段が接続される。各電
子放出素子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加さ
れる走査信号と変調信号の差電圧として供給される。
面伝導型電子放出素子74の行を選択するための走査信
号を印加する不図示の走査信号印加手段が接続される。
一方、Y方向配線73には、Y方向に配列した表面伝導
型電子放出素子74の各列を入力信号に応じて変調する
ための、不図示の変調信号発生手段が接続される。各電
子放出素子に印加される駆動電圧は、当該素子に印加さ
れる走査信号と変調信号の差電圧として供給される。
【0092】上記構成においては、単純なマトリクス配
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
【0093】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像形成装置について、図7と図8及び
図9を用いて説明する。図7は、画像形成装置の表示パ
ネルの一例を示す模式図であり、図8は、図7の画像形
成装置に使用される蛍光膜の模式図である。図9は、N
TSC方式のテレビ信号に応じて表示を行うための駆動
回路の一例を示すブロック図である。
用いて構成した画像形成装置について、図7と図8及び
図9を用いて説明する。図7は、画像形成装置の表示パ
ネルの一例を示す模式図であり、図8は、図7の画像形
成装置に使用される蛍光膜の模式図である。図9は、N
TSC方式のテレビ信号に応じて表示を行うための駆動
回路の一例を示すブロック図である。
【0094】図7において、71は電子放出素子を複数
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82には、リアプ
レート81、フェースプレート86がフリットガラス等
を用いて接続されている。88は外囲器であり、例えば
大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範囲
で10分間以上焼成することで、封着して構成される。
配した電子源基板、81は電子源基板71を固定したリ
アプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85等が形成されたフェースプレートで
ある。82は支持枠であり、該支持枠82には、リアプ
レート81、フェースプレート86がフリットガラス等
を用いて接続されている。88は外囲器であり、例えば
大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範囲
で10分間以上焼成することで、封着して構成される。
【0095】74は、図1に示したような電子放出素子
である。72,73は、表面伝導型電子放出素子の一対
の素子電極と接続されたX方向配線及びY方向配線あ
る。
である。72,73は、表面伝導型電子放出素子の一対
の素子電極と接続されたX方向配線及びY方向配線あ
る。
【0096】外囲器88は、上述の如く、フェースプレ
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。一方、フェースプレート86とリ
アプレート81の間に、スぺーサーと呼ばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器88を構成することもできる。
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。一方、フェースプレート86とリ
アプレート81の間に、スぺーサーと呼ばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器88を構成することもできる。
【0097】図8は、蛍光膜を示す模式図である。蛍光
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成する
ことができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配列
により、ブラックストライプ(図8(a))あるいはブ
ラックマトリクス(図8(b))等と呼ばれる黒色導電
材91と蛍光体92とから構成することができる。ブラ
ックストライプ、ブラックマトリクスを設ける目的は、
カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の各蛍光体
92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を目立たな
くすることと、蛍光膜84における外光反射によるコン
トラストの低下を抑制することにある。黒色導電材91
の材料としては、通常用いられている黒鉛を主成分とす
る材料の他、導電性があり、光の透過及び反射が少ない
材料を用いることができる。
膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成する
ことができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配列
により、ブラックストライプ(図8(a))あるいはブ
ラックマトリクス(図8(b))等と呼ばれる黒色導電
材91と蛍光体92とから構成することができる。ブラ
ックストライプ、ブラックマトリクスを設ける目的は、
カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の各蛍光体
92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を目立たな
くすることと、蛍光膜84における外光反射によるコン
トラストの低下を抑制することにある。黒色導電材91
の材料としては、通常用いられている黒鉛を主成分とす
る材料の他、導電性があり、光の透過及び反射が少ない
材料を用いることができる。
【0098】ガラス基板83に蛍光体を塗布する方法
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバ
ック85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート8
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その
後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製でき
る。
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバ
ック85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート8
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その
後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製でき
る。
【0099】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0100】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが不可欠となる。
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが不可欠となる。
【0101】図7に示した画像形成装置は、例えば以下
のようにして製造される。
のようにして製造される。
【0102】外囲器88内は、前述の安定化工程と同様
に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープションポ
ンプ等のオイルを使用しない排気装置により不図示の排
気管を通じて排気し、10-5Pa程度の真空度の有機物
質の十分に少ない雰囲気にした後、封止が成される。外
囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲッター
処理を行うこともできる。これは、外囲器88の封止を
行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるいは高周波加
熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所定の位置に
配置されたゲッター(不図示)を加熱し、蒸着膜を形成
する処理である。ゲッターは通常Ba等が主成分であ
り、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×10-5Pa
以上の真空度を維持するものである。ここで、表面伝導
型電子放出素子のフォーミング処理以降の工程は、適宜
設定できる。
に、適宜加熱しながら、イオンポンプ、ソープションポ
ンプ等のオイルを使用しない排気装置により不図示の排
気管を通じて排気し、10-5Pa程度の真空度の有機物
質の十分に少ない雰囲気にした後、封止が成される。外
囲器88の封止後の真空度を維持するために、ゲッター
処理を行うこともできる。これは、外囲器88の封止を
行う直前あるいは封止後に、抵抗加熱あるいは高周波加
熱等を用いた加熱により、外囲器88内の所定の位置に
配置されたゲッター(不図示)を加熱し、蒸着膜を形成
する処理である。ゲッターは通常Ba等が主成分であ
り、該蒸着膜の吸着作用により、例えば1×10-5Pa
以上の真空度を維持するものである。ここで、表面伝導
型電子放出素子のフォーミング処理以降の工程は、適宜
設定できる。
【0103】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図9を用いて説明する。図9において、10
1は画像表示パネル、102は走査回路、103は制御
回路、104はシフトレジスタ、105はラインメモ
リ、106は同期信号分離回路、107は変調信号発生
器、Vx及びVaは直流電圧源である。
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図9を用いて説明する。図9において、10
1は画像表示パネル、102は走査回路、103は制御
回路、104はシフトレジスタ、105はラインメモ
リ、106は同期信号分離回路、107は変調信号発生
器、Vx及びVaは直流電圧源である。
【0104】表示パネル101は、端子Dx1乃至Dx
m、端子Dy1乃至Dyn及び高圧端子87を介して外
部の電気回路と接続している。端子Dx1乃至Dxmに
は、表示パネル101内に設けられている電子源、即
ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された表面伝導
型電子放出素子群を1行(n素子)づつ順次駆動する為
の走査信号が印加される。端子Dy1乃至Dynには、
前記走査信号により選択された1行の表面伝導型電子放
出素子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信
号が印加される。高圧端子87には、直流電圧源Vaよ
り、例えば10K[V]の直流電圧が供給されるが、こ
れは表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビーム
に、蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する
為の加速電圧である。
m、端子Dy1乃至Dyn及び高圧端子87を介して外
部の電気回路と接続している。端子Dx1乃至Dxmに
は、表示パネル101内に設けられている電子源、即
ち、m行n列の行列状にマトリクス配線された表面伝導
型電子放出素子群を1行(n素子)づつ順次駆動する為
の走査信号が印加される。端子Dy1乃至Dynには、
前記走査信号により選択された1行の表面伝導型電子放
出素子の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信
号が印加される。高圧端子87には、直流電圧源Vaよ
り、例えば10K[V]の直流電圧が供給されるが、こ
れは表面伝導型電子放出素子から放出される電子ビーム
に、蛍光体を励起するのに十分なエネルギーを付与する
為の加速電圧である。
【0105】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1乃至Dxmと電気的に接
続される。各スイッチング素子S1乃至Smは、制御回
路103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作
するものであり、例えばFETのようなスイッチング素
子を組み合わせることにより構成することができる。
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dx1乃至Dxmと電気的に接
続される。各スイッチング素子S1乃至Smは、制御回
路103が出力する制御信号Tscanに基づいて動作
するものであり、例えばFETのようなスイッチング素
子を組み合わせることにより構成することができる。
【0106】直流電圧源Vxは、本例の場合には表面伝
導型電子放出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づ
き、走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子
放出閾値電圧以下となるような一定電圧を出力するよう
設定されている。
導型電子放出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づ
き、走査されていない素子に印加される駆動電圧が電子
放出閾値電圧以下となるような一定電圧を出力するよう
設定されている。
【0107】制御回路103は、外部より入力される画
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる機能を有する。制御回路103は、同
期信号分離回路106より送られる同期信号Tsync
に基づいて、各部に対してTscan,Tsft及びT
mryの各制御信号を発生する。
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる機能を有する。制御回路103は、同
期信号分離回路106より送られる同期信号Tsync
に基づいて、各部に対してTscan,Tsft及びT
mryの各制御信号を発生する。
【0108】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信
号と表した。このDATA信号は、シフトレジスタ10
4に入力される。
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信
号と表した。このDATA信号は、シフトレジスタ10
4に入力される。
【0109】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであると言い換えてもよ
い。)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
のデータ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフ
トレジスタ104より出力される。
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであると言い換えてもよ
い。)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
のデータ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn個の並列信号として前記シフ
トレジスタ104より出力される。
【0110】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容は、Id’1乃至Id’nとして出力され、変調
信号発生器107に入力される。
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容は、Id’1乃至Id’nとして出力され、変調
信号発生器107に入力される。
【0111】変調信号発生器107は、画像データI
d’1乃至Id’nの各々に応じて、表面伝導型電子放
出素子の各々を適切に駆動変調する為の信号源であり、
その出力信号は、端子Dy1乃至Dynを通じて表示パ
ネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
d’1乃至Id’nの各々に応じて、表面伝導型電子放
出素子の各々を適切に駆動変調する為の信号源であり、
その出力信号は、端子Dy1乃至Dynを通じて表示パ
ネル101内の表面伝導型電子放出素子に印加される。
【0112】前述したように、本発明を適用可能な電子
放出素子は放出電流Ieに関して以下の基本特性を有し
ている。即ち、電子放出には明確な閾値電圧Vthがあ
り、Vth以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生
じる。電子放出閾値以上の電圧に対しては、素子への印
加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。このことか
ら、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、例えば電
子放出閾値電圧以下の電圧を印加しても電子放出は生じ
ないが、電子放出閾値電圧以上の電圧を印加する場合に
は電子ビームが出力される。その際、パルスの波高値V
mを変化させることにより、出力電子ビームの強度を制
御することが可能である。また、パルスの幅Pwを変化
させることにより、出力される電子ビームの電荷の総量
を制御することが可能である。
放出素子は放出電流Ieに関して以下の基本特性を有し
ている。即ち、電子放出には明確な閾値電圧Vthがあ
り、Vth以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生
じる。電子放出閾値以上の電圧に対しては、素子への印
加電圧の変化に応じて放出電流も変化する。このことか
ら、本素子にパルス状の電圧を印加する場合、例えば電
子放出閾値電圧以下の電圧を印加しても電子放出は生じ
ないが、電子放出閾値電圧以上の電圧を印加する場合に
は電子ビームが出力される。その際、パルスの波高値V
mを変化させることにより、出力電子ビームの強度を制
御することが可能である。また、パルスの幅Pwを変化
させることにより、出力される電子ビームの電荷の総量
を制御することが可能である。
【0113】従って、入力信号に応じて電子放出素子を
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
【0114】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0115】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を表面伝導型
電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅
器を付加することもできる。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要があるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を表面伝導型
電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅
器を付加することもできる。
【0116】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて表面伝導型電子放出素子の駆動電圧に
まで電圧増幅するための増幅器を付加することもでき
る。
【0117】このような構成をとり得る本発明を適用可
能な画像形成装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dx1乃至Dxm、Dy1乃至Dynを介して電
圧を印加することにより、電子放出が生じる。高圧端子
87を介してメタルバック85あるいは透明電極(不図
示)に高圧を印加し、電子ビームを加速する。加速され
た電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形
成される。
能な画像形成装置においては、各電子放出素子に、容器
外端子Dx1乃至Dxm、Dy1乃至Dynを介して電
圧を印加することにより、電子放出が生じる。高圧端子
87を介してメタルバック85あるいは透明電極(不図
示)に高圧を印加し、電子ビームを加速する。加速され
た電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形
成される。
【0118】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついてはNTSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL、SECAM方式等の他、
これらよりも多数の走査線からなるTV信号(例えば、
MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも採用
できる。
明を適用可能な画像形成装置の一例であり、本発明の技
術思想に基づいて種々の変形が可能である。入力信号に
ついてはNTSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限
られるものではなく、PAL、SECAM方式等の他、
これらよりも多数の走査線からなるTV信号(例えば、
MUSE方式をはじめとする高品位TV)方式をも採用
できる。
【0119】次に、前述の梯子型配置の電子源及び画像
形成装置について、図10及び図11を用いて説明す
る。
形成装置について、図10及び図11を用いて説明す
る。
【0120】図10は、梯子型配置の電子源の一例を示
す模式図である。図10において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は、電子放出
素子111を接続するための共通配線D1〜D10であ
り、これらは外部端子として引き出されている。電子放
出素子111は、基板110上に、X方向に並列に複数
個配置されている(これを素子行と呼ぶ)。この素子行
が複数個配置されて、電子源を構成している。各素子行
の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子行を
独立に駆動させることができる。即ち、電子ビームを放
出させたい素子行には、電子放出閾値以上の電圧を印加
し、電子ビームを放出させたくない素子行には、電子放
出閾値以下の電圧を印加する。各素子行間に位置する共
通配線D2〜D9は、例えばD2とD3,D4とD5,
D6とD7,D8とD9を夫々一体の同一配線とするこ
ともできる。
す模式図である。図10において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は、電子放出
素子111を接続するための共通配線D1〜D10であ
り、これらは外部端子として引き出されている。電子放
出素子111は、基板110上に、X方向に並列に複数
個配置されている(これを素子行と呼ぶ)。この素子行
が複数個配置されて、電子源を構成している。各素子行
の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子行を
独立に駆動させることができる。即ち、電子ビームを放
出させたい素子行には、電子放出閾値以上の電圧を印加
し、電子ビームを放出させたくない素子行には、電子放
出閾値以下の電圧を印加する。各素子行間に位置する共
通配線D2〜D9は、例えばD2とD3,D4とD5,
D6とD7,D8とD9を夫々一体の同一配線とするこ
ともできる。
【0121】図11は、梯子型配置の電子源を備えた画
像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図であ
る。120はグリッド電極、121は電子が通過するた
めの開口、D1乃至Dmは容器外端子、G1乃至Gnは
グリッド電極120と接続された容器外端子である。1
10は各素子行間の共通配線を同一配線とした電子源基
板である。図11においては、図7、図10に示した部
位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符号
を付している。ここに示した画像形成装置と、図7に示
した単純マトリクス配置の画像形成装置との大きな違い
は、電子源基板110とフェースプレート86の間にグ
リッド電極120を備えているか否かである。
像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図であ
る。120はグリッド電極、121は電子が通過するた
めの開口、D1乃至Dmは容器外端子、G1乃至Gnは
グリッド電極120と接続された容器外端子である。1
10は各素子行間の共通配線を同一配線とした電子源基
板である。図11においては、図7、図10に示した部
位と同じ部位には、これらの図に付したのと同一の符号
を付している。ここに示した画像形成装置と、図7に示
した単純マトリクス配置の画像形成装置との大きな違い
は、電子源基板110とフェースプレート86の間にグ
リッド電極120を備えているか否かである。
【0122】図11においては、基板110とフェース
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型電子放出素
子111から放出された電子ビームを変調するためのも
のであり、梯子型配置の素子行と直交して設けられたス
トライプ状の電極に電子ビームを通過させるため、各素
子に対応して1個ずつ円形の開口121が設けられてい
る。グリッド電極の形状や配置位置は、図11に示した
ものに限定されるものではない。例えば、開口としてメ
ッシュ状に多数の通過口を設けることもでき、グリッド
電極を表面伝導型電子放出素子の周囲や近傍に設けるこ
ともできる。
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、表面伝導型電子放出素
子111から放出された電子ビームを変調するためのも
のであり、梯子型配置の素子行と直交して設けられたス
トライプ状の電極に電子ビームを通過させるため、各素
子に対応して1個ずつ円形の開口121が設けられてい
る。グリッド電極の形状や配置位置は、図11に示した
ものに限定されるものではない。例えば、開口としてメ
ッシュ状に多数の通過口を設けることもでき、グリッド
電極を表面伝導型電子放出素子の周囲や近傍に設けるこ
ともできる。
【0123】容器外端子D1乃至Dm及びグリッド容器
外端子G1乃至Gnは、不図示の制御回路と電気的に接
続されている。
外端子G1乃至Gnは、不図示の制御回路と電気的に接
続されている。
【0124】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
つ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
【0125】以上説明した本発明の画像形成装置は、テ
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
【0126】
【実施例】以下に、具体的な実施例を挙げて本発明を説
明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものでは
なく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素の置
換や設計変更がなされたものをも包含する。
明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものでは
なく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素の置
換や設計変更がなされたものをも包含する。
【0127】[実施例1]本実施例に係る電子放出素子
の構成は、図1と同様である。図1において、1は基
板、2と3は素子電極、4は導電性膜、5は電子放出
部、6は磁性粒子からなる下地層、7は下地層6に形成
された凸部である。
の構成は、図1と同様である。図1において、1は基
板、2と3は素子電極、4は導電性膜、5は電子放出
部、6は磁性粒子からなる下地層、7は下地層6に形成
された凸部である。
【0128】本実施例に係る電子放出素子の製造法は、
基本的には図2と同様であり、以下、図1及び図2を用
いて、本実施例に係る素子の構成及び製造法を順を追っ
て説明する。
基本的には図2と同様であり、以下、図1及び図2を用
いて、本実施例に係る素子の構成及び製造法を順を追っ
て説明する。
【0129】(1)基板1として石英ガラス基板を用
い、これを有機溶剤によって十分に洗浄後、該基板1上
に、Ptからなる素子電極2,3を形成した(図2
(a))。このとき、素子電極間隔Lは3μmとし、素
子電極の幅W1を500μm、その膜厚dを100nm
とした。
い、これを有機溶剤によって十分に洗浄後、該基板1上
に、Ptからなる素子電極2,3を形成した(図2
(a))。このとき、素子電極間隔Lは3μmとし、素
子電極の幅W1を500μm、その膜厚dを100nm
とした。
【0130】(2)次に、素子電極2,3間に、界面活
性剤を添加した純水に分散した粒径5nmのγ−酸化鉄
をインクジェット法で塗布し、下地層6を形成した(図
2(b))。
性剤を添加した純水に分散した粒径5nmのγ−酸化鉄
をインクジェット法で塗布し、下地層6を形成した(図
2(b))。
【0131】(3)次に、Fe−Al−Si(センダス
ト系合金)の先端の幅tを0.3μmに加工した幅60
0μmの磁極8を下地層6に近接させ、同じく幅600
μmの対向磁極9を基板1の裏側に近接させて、電磁石
を作動させ、γ−酸化鉄からなる磁性粒子を凝集させて
高さ200nmの凸部7を形成した(図2(c))。続
いて、酸化雰囲気下で450℃で加熱焼成した。これに
より、γ−酸化鉄からなる磁性粒子はα−酸化鉄にな
り、後工程における磁気の影響を除くことができる。
ト系合金)の先端の幅tを0.3μmに加工した幅60
0μmの磁極8を下地層6に近接させ、同じく幅600
μmの対向磁極9を基板1の裏側に近接させて、電磁石
を作動させ、γ−酸化鉄からなる磁性粒子を凝集させて
高さ200nmの凸部7を形成した(図2(c))。続
いて、酸化雰囲気下で450℃で加熱焼成した。これに
より、γ−酸化鉄からなる磁性粒子はα−酸化鉄にな
り、後工程における磁気の影響を除くことができる。
【0132】(4)次に、基板1上に有機パラジウム
(ccp−4230;奥野製薬(株)製)含有溶液を塗
布した後、300℃で10分間の加熱処理をして、酸化
パラジウム(PdO)微粒子(平均粒径:7nm)から
なる導電性膜4を形成した。ここで導電性膜4は、その
幅W2を300μmとし、素子電極2,3のほぼ中央に
配置した(図2(d))。また、この導電性膜4の膜厚
は10nm程度、抵抗値Rsは5×104 Ω/□程度で
あった。
(ccp−4230;奥野製薬(株)製)含有溶液を塗
布した後、300℃で10分間の加熱処理をして、酸化
パラジウム(PdO)微粒子(平均粒径:7nm)から
なる導電性膜4を形成した。ここで導電性膜4は、その
幅W2を300μmとし、素子電極2,3のほぼ中央に
配置した(図2(d))。また、この導電性膜4の膜厚
は10nm程度、抵抗値Rsは5×104 Ω/□程度で
あった。
【0133】次に、図3(a)に示すようなパルス電圧
を素子電極2,3間に印加して、通電処理(フォーミン
グ処理)を施すと、下地層6の凸部7に対応する導電性
膜4の領域から微粒子膜の構造変化が起こり、当該領域
に亀裂からなる電子放出部5が形成された(図2
(d))。この電子放出部5は、凸部7の位置及び形状
をそのまま転写したように直線的且つ連続的な亀裂であ
り、その長さは導電性膜4の幅W2と同じ300μmで
あった。
を素子電極2,3間に印加して、通電処理(フォーミン
グ処理)を施すと、下地層6の凸部7に対応する導電性
膜4の領域から微粒子膜の構造変化が起こり、当該領域
に亀裂からなる電子放出部5が形成された(図2
(d))。この電子放出部5は、凸部7の位置及び形状
をそのまま転写したように直線的且つ連続的な亀裂であ
り、その長さは導電性膜4の幅W2と同じ300μmで
あった。
【0134】なお、本実施例では、図3(a)中、パル
ス幅T1を1m秒、パルス間隔T2を10m秒とし、三
角波の波高値(フォーミング時のピーク電圧)は5Vと
し、フォーミング処理は約1×10-4Paの真空雰囲気
下で60秒間行った。
ス幅T1を1m秒、パルス間隔T2を10m秒とし、三
角波の波高値(フォーミング時のピーク電圧)は5Vと
し、フォーミング処理は約1×10-4Paの真空雰囲気
下で60秒間行った。
【0135】このようにして作成された電子放出部5
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は約3nmであ
った。
は、パラジウム元素を主成分とする微粒子が分散配置さ
れた状態となり、その微粒子の平均粒径は約3nmであ
った。
【0136】次に、上記素子を図4の真空処理装置の真
空容器55内に設置し、ロータリーポンプ56にて排気
し、真空容器55内を適当な真空度とした後、電源51
より素子電極2,3間に電圧を印加して活性化処理を行
った。活性化処理に用いた電圧波形は図3(a)に示し
たものである。
空容器55内に設置し、ロータリーポンプ56にて排気
し、真空容器55内を適当な真空度とした後、電源51
より素子電極2,3間に電圧を印加して活性化処理を行
った。活性化処理に用いた電圧波形は図3(a)に示し
たものである。
【0137】本実施例の活性化処理では、電圧波形のパ
ルス幅T1を1m秒、パルス間隔T2を10m秒とし、
三角波の波高値(活性化時のピーク電圧)は16Vと
し、1時間行った。
ルス幅T1を1m秒、パルス間隔T2を10m秒とし、
三角波の波高値(活性化時のピーク電圧)は16Vと
し、1時間行った。
【0138】その後、排気ポンプをイオンポンプを用い
た超真空排気装置に切り換え、真空容器55内の真空度
を約1×10-4Paとした後、電子放出特性を評価し
た。
た超真空排気装置に切り換え、真空容器55内の真空度
を約1×10-4Paとした後、電子放出特性を評価し
た。
【0139】本実施例では、アノード電極54と電子放
出素子間の距離Hを5mm、アノード電極の電位を1K
Vとし、素子電極2,3間に素子電圧を印加し、その時
に流れる素子電流If及び放出電流Ieを測定したとこ
ろ、図5に示したような電圧−電流特性が得られた。本
素子では、素子電圧8V程度から急激に放出電流Ieが
増大し、素子電圧16Vでは素子電流Ifが2.2m
A、放出電流Ieが1.1μAとなり、電子放出効率η
=Ie/If(%)は0.05%であった。
出素子間の距離Hを5mm、アノード電極の電位を1K
Vとし、素子電極2,3間に素子電圧を印加し、その時
に流れる素子電流If及び放出電流Ieを測定したとこ
ろ、図5に示したような電圧−電流特性が得られた。本
素子では、素子電圧8V程度から急激に放出電流Ieが
増大し、素子電圧16Vでは素子電流Ifが2.2m
A、放出電流Ieが1.1μAとなり、電子放出効率η
=Ie/If(%)は0.05%であった。
【0140】また、同様な測定を同時に作成した500
個の素子について行ったが、素子電圧を16Vに保った
ときのIf及びIeの値は、いずれの素子も±0.1%
以内に入っていることが確認された。 [比較例1]実施例1において、凸部7を有する下地層
6を形成しなかった以外は、実施例1と全く同様にして
電子放出素子を作成した。
個の素子について行ったが、素子電圧を16Vに保った
ときのIf及びIeの値は、いずれの素子も±0.1%
以内に入っていることが確認された。 [比較例1]実施例1において、凸部7を有する下地層
6を形成しなかった以外は、実施例1と全く同様にして
電子放出素子を作成した。
【0141】同時に作成した500個の素子について、
実施例1と同様に素子特性を評価した。その結果、素子
電圧を16Vに保ったときの素子電流Ifは0.8〜
2.4mA、放出電流Ieは3〜12μAの範囲で大き
くばらついていた。
実施例1と同様に素子特性を評価した。その結果、素子
電圧を16Vに保ったときの素子電流Ifは0.8〜
2.4mA、放出電流Ieは3〜12μAの範囲で大き
くばらついていた。
【0142】[実施例2]本実施例は、多数の表面伝導
型電子放出素子を単純マトリクス配置した電子源を用い
て、画像形成装置を作製した例である。
型電子放出素子を単純マトリクス配置した電子源を用い
て、画像形成装置を作製した例である。
【0143】複数の導電性膜がマトリクス配線された基
板の一部の平面図を図12に示す。また、図中のA−
A’断面図を図13に示す。但し、図12、図13で同
じ符号で示したものは、同じ部材を示す。ここで71は
電子源基板、72は図6のDxmに対応するX方向配線
(下配線とも呼ぶ)、73は図6のDynに対応するY
方向配線(上配線とも呼ぶ)、2と3は素子電極、4は
導電性膜、6は下地層、7は凸部、131は層間絶縁
層、132は素子電極2と下配線72との電気的接続の
ためのコンタクトホールである。
板の一部の平面図を図12に示す。また、図中のA−
A’断面図を図13に示す。但し、図12、図13で同
じ符号で示したものは、同じ部材を示す。ここで71は
電子源基板、72は図6のDxmに対応するX方向配線
(下配線とも呼ぶ)、73は図6のDynに対応するY
方向配線(上配線とも呼ぶ)、2と3は素子電極、4は
導電性膜、6は下地層、7は凸部、131は層間絶縁
層、132は素子電極2と下配線72との電気的接続の
ためのコンタクトホールである。
【0144】本実施例の電子源の製造方法は、下配線7
2、層間絶縁層131、上配線73の作製工程を除き、
基本的には実施例1の素子の製造方法における素子電極
2,3、下地層6、導電性膜4等の作製パターンを拡張
して行うことができるため、その説明はここでは省略す
る。
2、層間絶縁層131、上配線73の作製工程を除き、
基本的には実施例1の素子の製造方法における素子電極
2,3、下地層6、導電性膜4等の作製パターンを拡張
して行うことができるため、その説明はここでは省略す
る。
【0145】次に、上記の複数の導電性膜4がマトリク
ス配線された電子源基板71(図12)を用いて画像形
成装置を作製した。作製手順を図7と図8を用いて説明
する。
ス配線された電子源基板71(図12)を用いて画像形
成装置を作製した。作製手順を図7と図8を用いて説明
する。
【0146】先ず、上記複数の導電性膜がマトリクス配
線された電子源基板71(図12)をリアプレート81
上に固定した後、電子源基板71の5mm上方に、フェ
ースプレート86(ガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85が形成されて構成される)を支持枠
82を介して配置し、フェースプレート86、支持枠8
2、リアプレート81の接合部にフリットガラスを塗布
し、大気中で430℃で10分以上焼成することで封着
した(図7)。なお、リアプレート81への電子源基板
71の固定もフリットガラスで行った。
線された電子源基板71(図12)をリアプレート81
上に固定した後、電子源基板71の5mm上方に、フェ
ースプレート86(ガラス基板83の内面に蛍光膜84
とメタルバック85が形成されて構成される)を支持枠
82を介して配置し、フェースプレート86、支持枠8
2、リアプレート81の接合部にフリットガラスを塗布
し、大気中で430℃で10分以上焼成することで封着
した(図7)。なお、リアプレート81への電子源基板
71の固定もフリットガラスで行った。
【0147】蛍光膜84は、カラーを実現するために、
ストライプ形状(図8(a)参照)の蛍光体とし、先に
ブラックストライプを形成し、その間隙部にスラリー法
により各色蛍光体92を塗布して蛍光膜84を作製し
た。ブラックストライプの材料としては、黒鉛を主成分
とする材料を用いた。
ストライプ形状(図8(a)参照)の蛍光体とし、先に
ブラックストライプを形成し、その間隙部にスラリー法
により各色蛍光体92を塗布して蛍光膜84を作製し
た。ブラックストライプの材料としては、黒鉛を主成分
とする材料を用いた。
【0148】また、蛍光膜84の内面側にはメタルバッ
ク85を設けた。メタルバック85は、蛍光膜84の作
製後、蛍光膜84の内面側表面の平滑化処理(通常、フ
ィルミングと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸
着することで作製した。
ク85を設けた。メタルバック85は、蛍光膜84の作
製後、蛍光膜84の内面側表面の平滑化処理(通常、フ
ィルミングと呼ばれる)を行い、その後、Alを真空蒸
着することで作製した。
【0149】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極を設ける場合もあるが、本実施例ではメタルバック8
5のみで十分な導電性が得られたので省略した。
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極を設ける場合もあるが、本実施例ではメタルバック8
5のみで十分な導電性が得られたので省略した。
【0150】以上のようにして完成した外囲器88内の
雰囲気を排気管(不図示)を通じロータリーポンプにて
排気し、十分な真空度に達した後、容器外端子Dx1乃
至DxmとDy1乃至Dynを通じ素子電極2,3間に
実施例1と同様のパルス電圧を印加し、フォーミング処
理と活性化処理を行った。
雰囲気を排気管(不図示)を通じロータリーポンプにて
排気し、十分な真空度に達した後、容器外端子Dx1乃
至DxmとDy1乃至Dynを通じ素子電極2,3間に
実施例1と同様のパルス電圧を印加し、フォーミング処
理と活性化処理を行った。
【0151】その後、不図示の排気管を通じ、外囲器8
8内を約1×10-4Pa程度の真空度まで排気し、該排
気管をガスバーナーで熱することで融着し、外囲器88
の封止を行った。最後に、封止後の真空度を維持するた
めに、高周波加熱法でゲッター処理を行った。
8内を約1×10-4Pa程度の真空度まで排気し、該排
気管をガスバーナーで熱することで融着し、外囲器88
の封止を行った。最後に、封止後の真空度を維持するた
めに、高周波加熱法でゲッター処理を行った。
【0152】以上のようにして作製した表示パネルの容
器外端子Dx1乃至DxmとDy1乃至Dyn、及び高
圧端子87を夫々必要な駆動系に接続し、画像形成装置
を完成した。各電子放出素子に、容器外端子Dx1乃至
DxmとDy1乃至Dynを通じて、走査信号及び変調
信号を不図示の信号発生手段より夫々印加することによ
り電子放出させ、高圧端子87を通じてメタルバック8
5に数KV以上の高圧を印加して、電子ビームを加速
し、蛍光膜84に衝突させ、励起・発光させることで画
像を表示した。
器外端子Dx1乃至DxmとDy1乃至Dyn、及び高
圧端子87を夫々必要な駆動系に接続し、画像形成装置
を完成した。各電子放出素子に、容器外端子Dx1乃至
DxmとDy1乃至Dynを通じて、走査信号及び変調
信号を不図示の信号発生手段より夫々印加することによ
り電子放出させ、高圧端子87を通じてメタルバック8
5に数KV以上の高圧を印加して、電子ビームを加速
し、蛍光膜84に衝突させ、励起・発光させることで画
像を表示した。
【0153】本実施例における画像形成装置は、高輝度
で均一な画像を安定して表示することができた。
で均一な画像を安定して表示することができた。
【0154】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明によれば、電
子放出素子の電子放出部の位置及び形状を、各素子間で
一定にすることができるので、均一な素子特性を持った
素子が得られる。
子放出素子の電子放出部の位置及び形状を、各素子間で
一定にすることができるので、均一な素子特性を持った
素子が得られる。
【0155】また、多数の電子放出素子を配列形成し、
入力信号に応じて電子を放出する電子源においては、各
電子放出素子の電子放出特性の均一化が実現され、かか
る電子源を用いた画像形成装置においては、輝度むら・
輝度低下等の画像品位の低下の問題も解消され、高品位
な画像形成装置、例えばカラーフラットテレビが実現さ
れる。
入力信号に応じて電子を放出する電子源においては、各
電子放出素子の電子放出特性の均一化が実現され、かか
る電子源を用いた画像形成装置においては、輝度むら・
輝度低下等の画像品位の低下の問題も解消され、高品位
な画像形成装置、例えばカラーフラットテレビが実現さ
れる。
【図1】本発明の電子放出素子の一例である表面伝導型
電子放出素子を模式的に示した平面図及び縦断面図であ
る。
電子放出素子を模式的に示した平面図及び縦断面図であ
る。
【図2】図1の表面伝導型電子放出素子の製造方法の一
例を説明するための図である。
例を説明するための図である。
【図3】フォーミング処理に用いる電圧波形の一例であ
る。
る。
【図4】本発明の電子放出素子の製造に用いることので
きる真空処理装置(測定評価装置)の一例を示す概略構
成図である。
きる真空処理装置(測定評価装置)の一例を示す概略構
成図である。
【図5】本発明に好適な表面伝導型電子放出素子の放出
電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関係の典
型的な例を示す図である。
電流Ieおよび素子電流Ifと素子電圧Vfの関係の典
型的な例を示す図である。
【図6】単純マトリクス配置の本発明の電子源の概略構
成図である。
成図である。
【図7】単純マトリクス配置の電子源を用いた本発明の
画像形成装置に用いる表示パネルの概略構成図である
画像形成装置に用いる表示パネルの概略構成図である
【図8】図7の表示パネルにおける蛍光膜を示す図であ
る。
る。
【図9】図7の表示パネルを駆動する駆動回路の一例を
示す図である。
示す図である。
【図10】梯子型配置の本発明の電子源の概略平面図で
ある。
ある。
【図11】梯子型配置の電子源を用いた本発明の画像形
成装置に用いる表示パネルの概略構成図である。
成装置に用いる表示パネルの概略構成図である。
【図12】実施例2にて示す単純マトリクス配置の電子
源基板の部分平面図である。
源基板の部分平面図である。
【図13】図12の電子源基板の部分断面図である。
【図14】従来例の表面伝導型電子放出素子の平面図で
ある。
ある。
1 基板 2,3 素子電極 4 導電性膜 5 電子放出部 6 磁性粒子からなる下地層 7 凸部 8 磁極 9 対向磁極 50 導電性膜4を流れる素子電流Ifを測定するため
の電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための電
源 52 電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定
するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源 54 電子放出部5より放出される電子を捕捉するため
のアノード電極 55 真空容器 56 排気ポンプ 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 110 電子源基板 111 電子放出素子 112 電子放出素子を配線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための開口 131 層間絶縁層 132 コンタクトホール
の電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための電
源 52 電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定
するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源 54 電子放出部5より放出される電子を捕捉するため
のアノード電極 55 真空容器 56 排気ポンプ 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 表面伝導型電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 110 電子源基板 111 電子放出素子 112 電子放出素子を配線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための開口 131 層間絶縁層 132 コンタクトホール
Claims (11)
- 【請求項1】 対向する電極間に、高さ1nm〜10μ
mの範囲の凸部を有する磁性粒子からなる下地層を備
え、該下地層上に前記電極間を連絡する導電性膜を有
し、前記凸部に対応する前記導電性膜の領域に電子放出
部が形成されていることを特徴とする電子放出素子。 - 【請求項2】 前記電子放出素子が、表面伝導型電子放
出素子であることを特徴とする請求項1に記載の電子放
出素子。 - 【請求項3】 対向する電極間に、電子放出部を有する
導電性膜を備える電子放出素子の製造方法において、 少なくとも、電極間に磁性粒子からなる下地層を形成す
る工程と、該下地層に高さ1nm〜10μmの範囲の凸
部を形成する工程と、該凸部を有する下地層上に導電性
膜を形成する工程と、該導電性膜に電子放出部を形成す
るフォーミング工程とを含むことを特徴とする電子放出
素子の製造方法。 - 【請求項4】 前記磁性粒子からなる下地層に凸部を形
成する工程が、静磁界による磁性粒子の凝集を伴うもの
であることを特徴とする請求項3に記載の電子放出素子
の製造方法。 - 【請求項5】 前記磁性粒子が強磁性体からなる粒子で
あって、該強磁性体からなる粒子からなる下地層に凸部
を形成する工程に続いて、更に酸化雰囲気下で加熱焼成
することで該粒子を常磁性体からなる粒子とする工程を
含むことを特徴とする請求項3に記載の電子放出素子の
製造方法。 - 【請求項6】 基体上に、複数の電子放出素子が配列さ
れた電子源において、前記電子放出素子が、請求項1ま
たは2に記載の電子放出素子であることを特徴とする電
子源。 - 【請求項7】 前記複数の電子放出素子が、マトリクス
状に配線されていることを特徴とする請求項6に記載の
電子源。 - 【請求項8】 前記複数の電子放出素子が、梯子状に配
線されていることを特徴とする請求項6に記載の電子
源。 - 【請求項9】 基体上に、複数の電子放出素子が配列さ
れた電子源の製造方法において、前記電子放出素子が、
請求項3〜5のいずれかに記載の方法にて製造されるこ
とを特徴とする電子源の製造方法。 - 【請求項10】 基体上に、複数の電子放出素子が配列
された電子源と、該電子源から放出される電子線の照射
により画像を形成する画像形成部材とを有する画像形成
装置において、前記電子源が、請求項6〜8のいずれか
に記載の電子源であることを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項11】 基体上に、複数の電子放出素子が配列
された電子源と、該電子源から放出される電子線の照射
により画像を形成する画像形成部材とを有する画像形成
装置の製造方法において、前記電子源が、請求項9に記
載の方法にて製造されることを特徴とする画像形成装置
の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6090598A JPH11260242A (ja) | 1998-03-12 | 1998-03-12 | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6090598A JPH11260242A (ja) | 1998-03-12 | 1998-03-12 | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11260242A true JPH11260242A (ja) | 1999-09-24 |
Family
ID=13155854
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6090598A Withdrawn JPH11260242A (ja) | 1998-03-12 | 1998-03-12 | 電子放出素子、それを用いた電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11260242A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006210226A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Seiko Epson Corp | 電子放出素子および電子放出素子の製造方法、画像表示装置および電子機器 |
-
1998
- 1998-03-12 JP JP6090598A patent/JPH11260242A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006210226A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Seiko Epson Corp | 電子放出素子および電子放出素子の製造方法、画像表示装置および電子機器 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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