JPH11260968A - 複合半導体装置 - Google Patents

複合半導体装置

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Publication number
JPH11260968A
JPH11260968A JP10082599A JP8259998A JPH11260968A JP H11260968 A JPH11260968 A JP H11260968A JP 10082599 A JP10082599 A JP 10082599A JP 8259998 A JP8259998 A JP 8259998A JP H11260968 A JPH11260968 A JP H11260968A
Authority
JP
Japan
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semiconductor device
heat sink
insulating case
composite semiconductor
thermal expansion
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Pending
Application number
JP10082599A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuo Shirai
和夫 白井
Eigo Fukuda
永吾 福田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nihon Inter Electronics Corp
Original Assignee
Nihon Inter Electronics Corp
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Publication date
Application filed by Nihon Inter Electronics Corp filed Critical Nihon Inter Electronics Corp
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Publication of JPH11260968A publication Critical patent/JPH11260968A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/851Dispositions of multiple connectors or interconnections
    • H10W72/874On different surfaces
    • H10W72/884Die-attach connectors and bond wires

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 絶縁ケースと放熱板との接着工程を不要と
し、作業工数を減少させ、製造原価を低減する。 【解決手段】 導体パターン4上に半導体チップ3、外
部導出端子等の電子部品を搭載し、所定の電気回路を構
成した絶縁基板2と、この絶縁基板2を搭載する放熱板
11と、この放熱板11に被せられる両端開口の絶縁ケ
ース16と、この絶縁ケース16の開口部に配置される
蓋体とを有する複合半導体装置において、前記絶縁ケー
ス16の下端に前記放熱板11をインサートモールドし
て一体化する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複合半導体装置に関
し、特に放熱板を絶縁ケースにインサートモールドした
構造の複合半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の複合半導体装置を図7及
び図8を参照して説明する。なお、図7は蓋体を取り除
いた複合半導体装置の内部を示す断面図、図7は完成状
態を示す複合半導体装置の斜視図である。図7におい
て、1は放熱板であり、この放熱板1上に絶縁基板2が
載置・固着されるが、該絶縁基板2上には所定の形状の
導体パターン4が形成され、この導体パターン4上に半
導体チップ3等の電子部品搭載・固着される。また、上
記半導体チップ3の上面電極と絶縁基板2上の導体パタ
ーン4とがボンディングワイヤ5で結線される。次に、
放熱板1上に上記の絶縁基板2が搭載・固着された後、
両端開口の絶縁ケース6の下端に形成した切欠部に接着
剤7を塗布して放熱板1の外周部に被せる。次で必要に
応じ、絶縁ケース6の内部に封止用樹脂を充填した後、
図示を省略した蓋体を被せる。また、蓋体から導出した
外部導出端子8及び信号端子9は図8に示すように、蓋
体表面で水平に折曲げられて図示のような複合半導体装
置10を得る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで上記のような
複合半導体装置の場合、絶縁ケース6の下端に形成した
切欠部に接着剤7を塗布し、放熱板1と接着する工程を
必要とし、作業工数が増加し、そのため製造原価の増加
を招来させていた。
【0004】
【発明の目的】本発明は、上記のような課題を解決する
ためのなされたもので、絶縁ケースと放熱板との接着工
程を不要とし、作業工数を減少させ、製造原価を低減し
得る複合半導体装置を提供することを目的とするもので
ある。本発明の他の目的は、絶縁ケースと放熱板とを一
体化する場合に、両者の熱膨張率の差による放熱板の反
り及び絶縁ケースに加わる機械的ストレスを緩和する構
造の複合半導体装置を提供することを目的とするもので
ある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の複合半導体装置
は、導体パターン上に半導体チップ、外部導出端子等の
電子部品を搭載し、所定の電気回路を構成した絶縁基板
と、この絶縁基板を搭載する放熱板と、この放熱板に被
せられる両端開口の絶縁ケースと、この絶縁ケースの開
口部に配置される蓋体とを有する複合半導体装置におい
て、前記絶縁ケースの下端に前記放熱板をインサートモ
ールドして一体化したことことを特徴とするものであ
る。また、本発明の複合半導体装置は、前記放熱板の外
周部に熱膨張吸収用溝を設けたことを特徴するものであ
る。さらに、本発明の複合半導体装置は、前記熱膨張吸
収用溝が放熱板の両面の外周部に形成されていることを
特徴とするものである。さらに、本発明の複合半導体装
置は、前記放熱板として、低熱膨張特性と高熱伝導特性
を備えた異種金属を多層に積層し、熱間静水圧プレスを
利用して接合して得られた異種金属複合材を使用したこ
とを特徴とするものである。
【0006】
【実施例】以下、本発明の複合半導体装置を図を参照し
て説明する。図1は本発明の第1の実施例を示す絶縁ケ
ースの断面図であり、図2はその裏面図である。図にお
いて、11は放熱板であり、この放熱板11の外周には
絶縁ケース16の内部にインサートされる突出部12が
形成されている。上記放熱板11の両面には、該放熱板
11の全周に亘って熱膨張吸収用溝13が形成されてい
る。この熱膨張吸収用溝13の溝の本数は、この実施例
では上面及び下面に各1本ずつ形成されているが、これ
に限定されず必要に応じて複数本設けることもできる。
また、該溝13の深さについても放熱板11の機械的強
度を損なわない範囲内で任意に決定し得る。
【0007】以上のように加工された放熱板11を樹脂
成形用金型の中に仮固定して樹脂成形することにより、
図1に示すように、絶縁ケース16の側壁内に放熱板1
1の突出部12がインサートモールドされた形状の絶縁
ケース16が完成する。後の工程は、従来と同様の工程
を経て所定の複合半導体装置を得るものである。
【0008】次に、図3は、本発明の第2の実施例を示
す絶縁ケースの断面図であり、図4はその裏面図であ
る。この実施例では、放熱板11の下面側のみに熱膨張
吸収用溝13を設け、その溝の本数を1本としたもので
ある。なお、該溝13の加工方法は切削若しくはプレス
により行なわれ、通常の手段により容易に加工すること
が可能できる。
【0009】次に、本発明の第3の実施例を図5及び図
6を参照して説明する。この実施例では、放熱板16と
して低熱膨張と高熱伝導特性に優れた金属複合材を使用
する。この金属複合料は、例えば鉄(Fe)−ニッケル
(Ni)合金と銅(Cu)とを熱間静水圧プレスを利用
して接合したもので、それらの低熱膨張材料と高熱伝導
材料を多層かつ超微細複合構造としたものである。
【0010】図6は上記の金属複合材の外観図である。
図において、金属複合材17は、Cu板18とFe−N
i合金板19とが交互に積層され、熱間静水圧プレスを
利用して超微細複合組織により接合されている。この金
属複合材17の熱膨張係数αは、図示の横方向Tと縦方
向Lでは異なっており、例えばT方向のα=14×10
↑−6/℃程度、L方向のα=7×10↑−6/℃程度
である。本発明では、この熱膨張率の差を考慮してL方
向が絶縁ケース16の長手方向になるようにしてインサ
ートモールドする。このようにすることにより放熱板1
1の反り、樹脂製の絶縁ケース16への機械的ストレス
を小さくすることができる。
【0011】
【発明の効果】以上のように、本発明の複合半導体装置
は、放熱板をインサートモールドし、一体化した絶縁ケ
ースを使用するようにしたので、概略次のような効果を
奏する。 (1)絶縁ケースと放熱板とを接着剤により接着する工
程が不要となり、工数が削減され製造原価を低減するこ
とができる。 (2)放熱板の外周に熱膨張吸収用溝を形成したので、
絶縁ケースと放熱板との熱膨張差を吸収し、放熱板の反
りを減少させることができる。 (3)インサートモールドする放熱板に金属複合材を使
用する場合には、熱膨張吸収用溝を設けなくても低熱膨
張特性により、放熱板の反りをさらに減少させることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の複合半導体装置に使用する第1の実施
例を示す絶縁ケースの断面図である。
【図2】上記絶縁ケースの裏面図である。
【図3】本発明の第2の実施例を示す絶縁ケースの断面
図である。
【図4】上記第2の実施例の絶縁ケースの裏面図であ
る。
【図5】本発明の第3の実施例を示す絶縁ケースの断面
図である。
【図6】上記第3の実施例を示す絶縁ケースに使用する
金属複合材の外観図である。
【図7】従来の複合半導体装置の断面図である。
【図8】上記従来の複合半導体装置の外観図である。
【符号の説明】
11 放熱板 12 突出部 13 熱膨張吸収用溝 16 絶縁ケース 17 金属複合材 18 Cu板 19 Fe−Ni合金板

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 導体パターン上に半導体チップ、外部導
    出端子等の電子部品を搭載し、所定の電気回路を構成し
    た絶縁基板と、この絶縁基板を搭載する放熱板と、この
    放熱板に被せられる両端開口の絶縁ケースと、この絶縁
    ケースの開口部に配置される蓋体とを有する複合半導体
    装置において、 前記絶縁ケースの下端に前記放熱板をインサートモール
    ドして一体化したことを特徴とする複合半導体装置。
  2. 【請求項2】 前記放熱板の外周部に熱膨張吸収用溝を
    設けたことを特徴する請求項1に記載の複合半導体装
    置。
  3. 【請求項3】 前記熱膨張吸収用溝が放熱板の両面の外
    周部に形成されていることを特徴とする請求項2に記載
    の複合半導体装置。
  4. 【請求項4】 前記放熱板として、低熱膨張特性と高熱
    伝導特性を備えた異種金属を多層に積層し、熱間静水圧
    プレスを利用して接合して得られた異種金属複合材を使
    用したことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれ
    かに記載の複合半導体装置。
JP10082599A 1998-03-13 1998-03-13 複合半導体装置 Pending JPH11260968A (ja)

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