JPH11261653A - 信号品質監視回路 - Google Patents
信号品質監視回路Info
- Publication number
- JPH11261653A JPH11261653A JP10062977A JP6297798A JPH11261653A JP H11261653 A JPH11261653 A JP H11261653A JP 10062977 A JP10062977 A JP 10062977A JP 6297798 A JP6297798 A JP 6297798A JP H11261653 A JPH11261653 A JP H11261653A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- threshold voltage
- electric signal
- comparator
- signal
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電気通信網における伝送特性の劣化を調べる
ための信号品質監視回路において、信号フォーマットに
依存しない簡便な回路を提供する。 【解決手段】 比較器に一定の間隔で変化する閾値電圧
を供給する閾値電圧発生手段、多値の電気信号を一定の
間隔で変化する閾値電圧と比較する比較器、比較器の出
力をカウントするカウンター、閾値電圧とカウンター出
力とから電気信号の強度分布を求める演算回路を具備
し、電気信号中の雑音分布を測定するように構成され
る。閾値を変化させる代わりに、複数の比較器にそれぞ
れ異なる閾値電圧を供給する閾値電圧発生手段、及び複
数のカウンターを設けてもよい。
ための信号品質監視回路において、信号フォーマットに
依存しない簡便な回路を提供する。 【解決手段】 比較器に一定の間隔で変化する閾値電圧
を供給する閾値電圧発生手段、多値の電気信号を一定の
間隔で変化する閾値電圧と比較する比較器、比較器の出
力をカウントするカウンター、閾値電圧とカウンター出
力とから電気信号の強度分布を求める演算回路を具備
し、電気信号中の雑音分布を測定するように構成され
る。閾値を変化させる代わりに、複数の比較器にそれぞ
れ異なる閾値電圧を供給する閾値電圧発生手段、及び複
数のカウンターを設けてもよい。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気通信網におけ
る伝送特性の劣化を調べるための信号品質監視回路に関
するものである。
る伝送特性の劣化を調べるための信号品質監視回路に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】電気通信網の伝送品質を特定するための
ファクタとして符号誤り率或いはＱ値が用いられる。符
号誤り率を測定する方法の一つにＳＤＨ伝送方式におけ
るＢＩＰ−８と呼ばれる監視方式がある。ＢＩＰ−８
は、全てのビットから符号誤り率を推定するのではな
く、或る周期毎に特定のビットのみを抜き出してそのビ
ットから符号誤り率を推定する。しかしこのＢＩＰ−８
はＳＤＨ伝送方式に限られたものであり、他の信号系、
例えばＰＨＤのような場合には、別の方法を用いなけれ
ばならないので、ＳＤＨ符号誤り監視回路はＰＨＤには
適用できない。
ファクタとして符号誤り率或いはＱ値が用いられる。符
号誤り率を測定する方法の一つにＳＤＨ伝送方式におけ
るＢＩＰ−８と呼ばれる監視方式がある。ＢＩＰ−８
は、全てのビットから符号誤り率を推定するのではな
く、或る周期毎に特定のビットのみを抜き出してそのビ
ットから符号誤り率を推定する。しかしこのＢＩＰ−８
はＳＤＨ伝送方式に限られたものであり、他の信号系、
例えばＰＨＤのような場合には、別の方法を用いなけれ
ばならないので、ＳＤＨ符号誤り監視回路はＰＨＤには
適用できない。
【０００３】その他のＱ値測定方法の従来例には、マー
ク又はスペースを判断する閾値を変えて、その各々の値
に対して符号誤り率を測定した結果からＱ値を算出する
ものがある（N.S.Bergano et al.,IEEE Photon.Techno
l.Lett.,Vol.5,No.3,pp304-306,1993参照）。しかし、
この方法では、回路の規模が大きくなり、測定に多くの
時間を要し、また、高価であるという問題があった。
ク又はスペースを判断する閾値を変えて、その各々の値
に対して符号誤り率を測定した結果からＱ値を算出する
ものがある（N.S.Bergano et al.,IEEE Photon.Techno
l.Lett.,Vol.5,No.3,pp304-306,1993参照）。しかし、
この方法では、回路の規模が大きくなり、測定に多くの
時間を要し、また、高価であるという問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述の問題
点に鑑み、信号フォーマットに依存しない簡便な信号品
質監視回路を提供することを目的とする。
点に鑑み、信号フォーマットに依存しない簡便な信号品
質監視回路を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の信号品質監視回
路は、上記の目的を達成するため、比較器に一定の間隔
で変化する閾値電圧を供給する閾値電圧発生手段、多値
の電気信号を一定の間隔で変化する閾値電圧と比較する
比較器、比較器の出力をカウントするカウンター、閾値
電圧とカウンター出力とを記録するメモリー、及び、メ
モリーのデータを読込み電気信号の強度分布を求める演
算回路を具備し、電気信号中の雑音分布を測定するよう
に構成されたことを特徴とする。
路は、上記の目的を達成するため、比較器に一定の間隔
で変化する閾値電圧を供給する閾値電圧発生手段、多値
の電気信号を一定の間隔で変化する閾値電圧と比較する
比較器、比較器の出力をカウントするカウンター、閾値
電圧とカウンター出力とを記録するメモリー、及び、メ
モリーのデータを読込み電気信号の強度分布を求める演
算回路を具備し、電気信号中の雑音分布を測定するよう
に構成されたことを特徴とする。
【０００６】本発明の他の信号品質監視回路は、複数の
比較器にそれぞれ異なる閾値電圧を供給する閾値電圧発
生手段、多値の電気信号から分岐された電気信号をそれ
ぞれ閾値電圧と比較する複数の比較器、比較器と対をな
す複数のカウンター、及び、閾値電圧とカウンター出力
とから電気信号の強度分布を求める演算回路を具備し、
電気信号中の雑音分布を測定するように構成されたこと
を特徴とする。
比較器にそれぞれ異なる閾値電圧を供給する閾値電圧発
生手段、多値の電気信号から分岐された電気信号をそれ
ぞれ閾値電圧と比較する複数の比較器、比較器と対をな
す複数のカウンター、及び、閾値電圧とカウンター出力
とから電気信号の強度分布を求める演算回路を具備し、
電気信号中の雑音分布を測定するように構成されたこと
を特徴とする。
【０００７】光多中継伝送において、ファイバを伝搬し
た光信号の強度損失を補償して光信号の強度を一定に保
つために各中継点で光増幅器が使用される。しかし、光
増幅器は自然放出光による雑音（amplified spontaneou
s emission noise: ＡＳＥ雑音）を発生させ、このＡＳ
Ｅ雑音は光信号と共に光ファイバ中を伝搬して中継点で
増幅される。従って、中継器の数の増加に伴ってＡＳＥ
雑音が増加し、他の雑音と比較して支配的なものとな
る。
た光信号の強度損失を補償して光信号の強度を一定に保
つために各中継点で光増幅器が使用される。しかし、光
増幅器は自然放出光による雑音（amplified spontaneou
s emission noise: ＡＳＥ雑音）を発生させ、このＡＳ
Ｅ雑音は光信号と共に光ファイバ中を伝搬して中継点で
増幅される。従って、中継器の数の増加に伴ってＡＳＥ
雑音が増加し、他の雑音と比較して支配的なものとな
る。
【０００８】ＡＳＥ雑音が重畳された光信号を受信し復
調すると、スペース及びマークに対応する出力電圧の分
布がそれぞれ正規分布（ガウス分布）で近似できるよう
になる。ＡＳＥ雑音がない場合の信号の時間波形及び強
度分布を図１(a) に、ＡＳＥ雑音が重畳された場合の信
号の時間波形及び強度分布を図１(b) に示す。図１(b)
において、σ0 及びσ1 は、それぞれスペース及びマー
クに対応する出力電圧の標準偏差、μ0 及びμ1 は、そ
れぞれスペース及びマークに対応する出力電圧の平均値
である。スペース及びマークに対応する出力電圧が正規
分布で表されるとき、Ｑ値及び符号誤り率は次式で表さ
れる。
調すると、スペース及びマークに対応する出力電圧の分
布がそれぞれ正規分布（ガウス分布）で近似できるよう
になる。ＡＳＥ雑音がない場合の信号の時間波形及び強
度分布を図１(a) に、ＡＳＥ雑音が重畳された場合の信
号の時間波形及び強度分布を図１(b) に示す。図１(b)
において、σ0 及びσ1 は、それぞれスペース及びマー
クに対応する出力電圧の標準偏差、μ0 及びμ1 は、そ
れぞれスペース及びマークに対応する出力電圧の平均値
である。スペース及びマークに対応する出力電圧が正規
分布で表されるとき、Ｑ値及び符号誤り率は次式で表さ
れる。
【０００９】
【数１】 このように、符号誤り率ＢＥＲは２値の電気信号からＱ
値を直接測定して得られ、信号系の種類に依存せずに信
号品質を監視することができる。本発明はこの原理に基
づくものである。
値を直接測定して得られ、信号系の種類に依存せずに信
号品質を監視することができる。本発明はこの原理に基
づくものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に図面を用いて本発明の実施例
を説明する。 〔実施例１〕図２は本発明の信号品質監視回路の第１実
施例の構成を示す図である。図中、１は入力光信号、２
はＯ／Ｅ変換及びクロック抽出を行う受光器、３はクロ
ック信号、４は出力電圧に対する増幅器、５は出力電
圧、６は閾値電圧発生手段（図示せず）で発生される閾
値電圧、７は比較器、８はカウンター、９はカウンター
８の出力信号（カウント数）、10は演算回路、11はメモ
リー、12はメモリー11のデータである。
を説明する。 〔実施例１〕図２は本発明の信号品質監視回路の第１実
施例の構成を示す図である。図中、１は入力光信号、２
はＯ／Ｅ変換及びクロック抽出を行う受光器、３はクロ
ック信号、４は出力電圧に対する増幅器、５は出力電
圧、６は閾値電圧発生手段（図示せず）で発生される閾
値電圧、７は比較器、８はカウンター、９はカウンター
８の出力信号（カウント数）、10は演算回路、11はメモ
リー、12はメモリー11のデータである。
【００１１】受光器２では入力光信号１のＯ／Ｅ変換及
びクロック抽出を行う。抽出されたクロック信号３は比
較器７及びカウンター８に入力される。受光器２でＯ／
Ｅ変換された入力光信号１は、増幅器４で増幅されて出
力電圧５（＝ｖ）の電気信号になる。閾値電圧６（＝ｖ
i :i=0,1,...,n）は間隔Δｖ＝ｖi −ｖi-1 で変化し、
比較器７は、増幅器４の出力電圧５を１ビット毎に閾値
電圧６と比較してｖ＜ｖi の場合に信号を出力する。カ
ウンター８では、閾値電圧６がｖi からｖi+1に変化す
る度に一旦リセットしてから比較器７の出力をカウント
し、カウント数９をメモリー11に入力する。メモリー11
は閾値電圧６とその時のカウント数９（＝Ｆ (ｖi ) ）
を記録する。演算回路10では、メモリー11のデータ12か
らＱ値を求める。
びクロック抽出を行う。抽出されたクロック信号３は比
較器７及びカウンター８に入力される。受光器２でＯ／
Ｅ変換された入力光信号１は、増幅器４で増幅されて出
力電圧５（＝ｖ）の電気信号になる。閾値電圧６（＝ｖ
i :i=0,1,...,n）は間隔Δｖ＝ｖi −ｖi-1 で変化し、
比較器７は、増幅器４の出力電圧５を１ビット毎に閾値
電圧６と比較してｖ＜ｖi の場合に信号を出力する。カ
ウンター８では、閾値電圧６がｖi からｖi+1に変化す
る度に一旦リセットしてから比較器７の出力をカウント
し、カウント数９をメモリー11に入力する。メモリー11
は閾値電圧６とその時のカウント数９（＝Ｆ (ｖi ) ）
を記録する。演算回路10では、メモリー11のデータ12か
らＱ値を求める。
【００１２】図３(a) は、閾値電圧ｖi と出力電圧ｖが
閾値電圧未満であると判定した回数Ｆ (ｖi ) との関係
の一例を示す図である。ここで、 ｆ (ｖi ) ＝Ｆ (ｖi ) −Ｆ (ｖi-1 ) （２） とおくと、ｆ (ｖi ) は、出力電圧ｖがｖi-1 ≦ｖ＜ｖ
i の範囲にあると判定できる回数を表している。即ち、
出力電圧ｖの分布を示す図３(b) は、出力電圧ｖがｖ
i-1 ≦ｖ＜ｖi となると判定した回数を示す。従って、
閾値電圧ｖi の設定は、出力電圧ｖの度数分布を求めて
いることになり、出力電圧そのものの分布を表してい
る。
閾値電圧未満であると判定した回数Ｆ (ｖi ) との関係
の一例を示す図である。ここで、 ｆ (ｖi ) ＝Ｆ (ｖi ) −Ｆ (ｖi-1 ) （２） とおくと、ｆ (ｖi ) は、出力電圧ｖがｖi-1 ≦ｖ＜ｖ
i の範囲にあると判定できる回数を表している。即ち、
出力電圧ｖの分布を示す図３(b) は、出力電圧ｖがｖ
i-1 ≦ｖ＜ｖi となると判定した回数を示す。従って、
閾値電圧ｖi の設定は、出力電圧ｖの度数分布を求めて
いることになり、出力電圧そのものの分布を表してい
る。
【００１３】ここで、前に述べたように、復調された出
力電圧の度数分布はＡＳＥ雑音の影響で、スペース又は
マークに対応する値を平均とする二つの正規分布の和で
表される。図３(b) において、ｖm0及びｖm1は、
力電圧の度数分布はＡＳＥ雑音の影響で、スペース又は
マークに対応する値を平均とする二つの正規分布の和で
表される。図３(b) において、ｖm0及びｖm1は、
【数２】 となる時の閾値電圧である。
【００１４】正規分布の一般式
【数３】 から、スペースに対応する出力電圧の分布ｆ0(ｖi ) 及
びマークに対応する出力電圧の分布ｆ1(ｖi ) は、
びマークに対応する出力電圧の分布ｆ1(ｖi ) は、
【数４】 となる。但し、Ｋ0 及びＫ1 はカウント数の総数に依存
する。σ0 及びσ1 はそれぞれスペース及びマークに対
応する出力電圧の標準偏差、ｖm0及びｖm1はそれぞれス
ペース及びマークに対応する出力電圧の平均値である。
する。σ0 及びσ1 はそれぞれスペース及びマークに対
応する出力電圧の標準偏差、ｖm0及びｖm1はそれぞれス
ペース及びマークに対応する出力電圧の平均値である。
【００１５】標準偏差σ0 及びσ1 を求める際には、ｖ
m0＜ｖi ＜ｖm1では、ｆ0(ｖi ) とｆ1(ｖi ) とが重な
っているため、ｖ1 ＜ｖi ＜ｖm0（図３(c) ）、ｖm1＜
ｖi＜ｖn （図３(d) ）の範囲の値を用いる。
m0＜ｖi ＜ｖm1では、ｆ0(ｖi ) とｆ1(ｖi ) とが重な
っているため、ｖ1 ＜ｖi ＜ｖm0（図３(c) ）、ｖm1＜
ｖi＜ｖn （図３(d) ）の範囲の値を用いる。
【００１６】一般に、平均がμである度数分布ｇ（ｘ）
の標準偏差σは次式で表される。
の標準偏差σは次式で表される。
【数５】
【００１７】式（３）及び（６）から
【数６】 となる。
【００１８】平均値ｖm0及びｖm1並びに標準偏差σ0 及
びσ1 が分かれば、Ｑ値及び符号誤り率は式（１）から
求められる。演算回路10で、以上の式（１）、（２）、
（３）及び（７）の演算を行い、出力電圧５の度数分布
ｆ（ｖi ）、平均値ｖm0及びｖm1、標準偏差σ0 及びσ
1 並びにＱ値を求める。
びσ1 が分かれば、Ｑ値及び符号誤り率は式（１）から
求められる。演算回路10で、以上の式（１）、（２）、
（３）及び（７）の演算を行い、出力電圧５の度数分布
ｆ（ｖi ）、平均値ｖm0及びｖm1、標準偏差σ0 及びσ
1 並びにＱ値を求める。
【００１９】〔実施例２〕図４は本発明の信号品質監視
回路の第２実施例の構成を示す図である。図中、6-
0,...,6-n は閾値電圧発生手段（図示せず）で発生され
る閾値電圧、7-0,...,7-n は比較器、8-0,...,8-n はカ
ウンター、9-0,...,9-n はカウンター8-0,...,8-n の出
力信号即ちカウント数であり、その他は図２の同符号の
部分と同一である。
回路の第２実施例の構成を示す図である。図中、6-
0,...,6-n は閾値電圧発生手段（図示せず）で発生され
る閾値電圧、7-0,...,7-n は比較器、8-0,...,8-n はカ
ウンター、9-0,...,9-n はカウンター8-0,...,8-n の出
力信号即ちカウント数であり、その他は図２の同符号の
部分と同一である。
【００２０】出力電圧５は、分岐されてそれぞれ比較器
7-0,...,7-n に入力される。閾値電圧6-0,...,6-n は固
定値ｖi ＝ｖ0 ＋ｉ・Δｖ（ｉ＝0,1,...,n ）に設定さ
れており、比較器7-0,...,7-n では、出力電圧５（＝
ｖ）と閾値電圧6-0,...,6-n （＝ｖi ）とを比較してｖ
＜ｖi の場合に信号を出力する。カウンター8-0,...,8-
n は、比較器7-0,...,7-n の出力をカウントしてカウン
ト数9-0,...,9-n を演算回路10に入力する。
7-0,...,7-n に入力される。閾値電圧6-0,...,6-n は固
定値ｖi ＝ｖ0 ＋ｉ・Δｖ（ｉ＝0,1,...,n ）に設定さ
れており、比較器7-0,...,7-n では、出力電圧５（＝
ｖ）と閾値電圧6-0,...,6-n （＝ｖi ）とを比較してｖ
＜ｖi の場合に信号を出力する。カウンター8-0,...,8-
n は、比較器7-0,...,7-n の出力をカウントしてカウン
ト数9-0,...,9-n を演算回路10に入力する。
【００２１】カウント数9-0,...,9-n は出力電圧５が閾
値電圧6-0,...,6-n 未満の累積度数Ｆ (ｖi ) に相当す
るので、演算回路10では、実施例１と同様にして式
（１）、（２）、（３）及び（７）の演算を行い、出力
電圧５の度数分布ｆ（ｖi ）、平均値ｖm0及びｖm1、標
準偏差σ0 及びσ1 並びにＱ値を求める。
値電圧6-0,...,6-n 未満の累積度数Ｆ (ｖi ) に相当す
るので、演算回路10では、実施例１と同様にして式
（１）、（２）、（３）及び（７）の演算を行い、出力
電圧５の度数分布ｆ（ｖi ）、平均値ｖm0及びｖm1、標
準偏差σ0 及びσ1 並びにＱ値を求める。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の信号品質
監視回路によれば、信号系に依存せずに直接Ｑ値を測定
して信号品質を監視できるという効果を奏する。
監視回路によれば、信号系に依存せずに直接Ｑ値を測定
して信号品質を監視できるという効果を奏する。
【図１】ＡＳＥ雑音がない場合(a) 及びＡＳＥ雑音が重
畳された場合(b) の信号の時間波形及び強度分布を示す
図である。
畳された場合(b) の信号の時間波形及び強度分布を示す
図である。
【図２】本発明の信号品質監視回路の第１実施例の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図３】閾値電圧とカウンターのカウント数及び出力電
圧の分布との関係を示す図である。
圧の分布との関係を示す図である。
【図４】本発明の信号品質監視回路の第２実施例の構成
を示す図である。
を示す図である。
１ 入力光信号 ２ 受光器 ３ クロック信号 ４ 増幅器 ５ 出力電圧 ６ 閾値電圧 ７ 比較器 ８ カウンター ９ カウンターの出力信号（カウント数） １０ 演算回路 １１ メモリー １２ メモリーのデータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 市野 晴彦 東京都新宿区西新宿３丁目19番２号 日本 電信電話株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 比較器に一定の間隔で変化する閾値電圧
を供給する閾値電圧発生手段、多値の電気信号を一定の
間隔で変化する閾値電圧と比較する比較器、比較器の出
力をカウントするカウンター、閾値電圧とカウンター出
力とを記録するメモリー、及び、メモリーのデータを読
込み電気信号の強度分布を求める演算回路を具備し、電
気信号中の雑音分布を測定するように構成されたことを
特徴とする信号品質監視回路。 - 【請求項２】 複数の比較器にそれぞれ異なる閾値電圧
を供給する閾値電圧発生手段、多値の電気信号から分岐
された電気信号をそれぞれ閾値電圧と比較する複数の比
較器、比較器と対をなす複数のカウンター、及び、閾値
電圧とカウンター出力とから電気信号の強度分布を求め
る演算回路を具備し、電気信号中の雑音分布を測定する
ように構成されたことを特徴とする信号品質監視回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06297798A JP3410356B2 (ja) | 1998-03-13 | 1998-03-13 | 信号品質監視回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06297798A JP3410356B2 (ja) | 1998-03-13 | 1998-03-13 | 信号品質監視回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11261653A true JPH11261653A (ja) | 1999-09-24 |
| JP3410356B2 JP3410356B2 (ja) | 2003-05-26 |
Family
ID=13215937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06297798A Expired - Fee Related JP3410356B2 (ja) | 1998-03-13 | 1998-03-13 | 信号品質監視回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3410356B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001076121A1 (en) * | 2000-03-31 | 2001-10-11 | Anritsu Corporation | Autocorrelation bit error detection device and method for optical signal by optical branching method |
| WO2009016742A1 (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-05 | Fujitsu Limited | 半導体装置及びノイズ計測方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0442061A (ja) * | 1990-06-06 | 1992-02-12 | Fujitsu Ltd | 信号レベル検出方法及び信号レベル検出装置 |
| JPH06237231A (ja) * | 1993-01-11 | 1994-08-23 | Nec Corp | 波形識別装置 |
-
1998
- 1998-03-13 JP JP06297798A patent/JP3410356B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0442061A (ja) * | 1990-06-06 | 1992-02-12 | Fujitsu Ltd | 信号レベル検出方法及び信号レベル検出装置 |
| JPH06237231A (ja) * | 1993-01-11 | 1994-08-23 | Nec Corp | 波形識別装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001076121A1 (en) * | 2000-03-31 | 2001-10-11 | Anritsu Corporation | Autocorrelation bit error detection device and method for optical signal by optical branching method |
| US7035553B2 (en) | 2000-03-31 | 2006-04-25 | Anritsu Corporation | Autocorrelation bit error detection device and method for optical signal by optical branching method |
| WO2009016742A1 (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-05 | Fujitsu Limited | 半導体装置及びノイズ計測方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3410356B2 (ja) | 2003-05-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Bergano et al. | Margin measurements in optical amplifier system | |
| US10826606B1 (en) | Quantum detection and tracking of pulsed optical signals | |
| JP2775721B2 (ja) | ディジタルデータリンクの評価方法及びデータタイミングジッタの評価回路 | |
| JP4180738B2 (ja) | デジタル信号品質モニタ方法とこの方法を用いた通信装置 | |
| US6907197B2 (en) | Method and apparatus for measuring and estimating optical signal to noise ratio in photonic networks | |
| US7233962B2 (en) | Optical error simulation system | |
| JP2003032187A (ja) | 光受信装置、光データ信号の波形最適化方法及び光データ信号の波形最適化プログラム | |
| KR101817544B1 (ko) | 개선된 반송파 주파수 오프셋 보상을 사용하는 블루투스 수신 방법 및 장치 | |
| JP2530904B2 (ja) | 最適識別レベル制御方式 | |
| US6433899B1 (en) | Eye quality monitor for a 2R regenerator | |
| US7418212B1 (en) | Electrical detection of optical symbols | |
| JPH11261653A (ja) | 信号品質監視回路 | |
| US20020171885A1 (en) | Circuit for measurement of the signal quality in digital optical fiber transmission networks by interpreting the signal histogram | |
| US6836620B1 (en) | Method for monitoring the signal quality in transparent optical networks | |
| JP3930886B2 (ja) | 光信号品質モニタ | |
| Downie et al. | Performance monitoring of optical networks with synchronous and asynchronous sampling | |
| EP1602189A1 (en) | Bit error rate monitoring method and device | |
| Winzer | Receiver noise modeling in presence of optical amplification | |
| Luis et al. | Performance monitoring in optical networks using asynchronously acquired samples with nonideal sampling systems and intersymbol interference | |
| EP2214331A1 (en) | Optical channel quality monitor | |
| US7149661B1 (en) | Method and circuit for statistical estimation | |
| JP3504902B2 (ja) | 光信号品質評価方法および光信号品質評価装置並びに記憶媒体 | |
| JP3459213B2 (ja) | 光信号品質評価方法および光信号品質評価装置並びに記憶媒体 | |
| EP1800422A1 (en) | Method and apparatus for recognizing a disturbing effect in an information channel | |
| CN116232597B (zh) | 基于不可信源的即插即用测量设备无关量子数字签名方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080320 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090320 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090320 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100320 Year of fee payment: 7 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |