JPH1126284A - チップ状電子部品とその製造方法 - Google Patents

チップ状電子部品とその製造方法

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JPH1126284A
JPH1126284A JP9189285A JP18928597A JPH1126284A JP H1126284 A JPH1126284 A JP H1126284A JP 9189285 A JP9189285 A JP 9189285A JP 18928597 A JP18928597 A JP 18928597A JP H1126284 A JPH1126284 A JP H1126284A
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chip
chip body
electronic component
shaped electronic
conductor
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Haruo Tajima
春男 田島
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 チップ素体13の端部の部位にかかわらず、
一定の寸法の外部電極を形成することができ、これによ
って小形のチップ状電子部品でも、寸法のばらつきの小
さな外部電極を形成する。 【解決手段】 チップ状電子部品は、内部に導体膜から
なる内部電極15、15…が形成されたチップ素体13
と、前記内部電極15、15…が露出したチップ素体1
3の端部に形成された導体膜からなる外部電極14、1
4とを有する。前記外部電極14、14が、内部電極1
5、15…が露出したチップ素体13の端面に形成され
た厚膜導体22と、この厚膜導体22に導通し、少なく
ともチップ素体13の端部周面に形成された薄膜導体2
3とからなる。厚膜導体22は、チップ素体13の端面
に塗布された導電ペーストを焼き付けて形成される。ま
た、薄膜導体23は、チップ素体13の端部にメッキ膜
を施すことにより形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は積層セラミックコンデン
サや積層セラミックインダクタ等のチップ状電子部品の
製造方法に関し、特に、チップ素体の端部に形成される
導体膜からなる外部電極の形状を改善したチップ状電子
部品とその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】チップ状電子部品としては、積層セラミ
ックコンデンサと積層セラミックインダクタがその代表
的なものであるが、さらにこれらを組み合わせたLC部
品等の複合素子等が多く開発されている。チップ状電子
部品の代表的な例である積層セラミックコンデンサは、
層状の内部電極がセラミック層を介して多数積み重ねら
れ、内部電極がセラミック層のチップ素体の端面に引き
出されている。そして、これらの内部電極が引き出され
たチップ素体の端面に導体膜からなる外部電極が形成さ
れている。
【0003】このような積層セラミックコンデンサの一
般的な製造方法は、例えば、誘電体セラミック粉末を有
機バインダーに分散させたセラミックスラリーをシート
状に成形してセラミックグリーンシートを作り、スクリ
ーン印刷法等により、このセラミックグリーンシートの
上に導電ペーストで内部電極パータンを印刷する。そし
て、この内部電極パターンが印刷されたセラミックグリ
ーンシートを積層し、さらにその両側に内部電極パター
ンが印刷されてないセラミックグリーンシートを複数枚
積み重ねる。こうして得られたチップ素体を内部電極が
端面に露出するようにしてチップ状に切断し、これを焼
成する。そして、この焼成されたチップ素体の端部に導
電ペーストを塗布し、これを焼き付けて外部電極を形成
することにより、積層チップコンデンサが完成する。
【0004】また、他の積層セラミックコンデンサの製
造方法として、セラミックのチップ素体を焼成する前
に、その端部に予め導電ペーストを塗布し、その後セラ
ミックのチップ素体を焼成すると同時に、導電ペースト
を焼き付けるという製造方法もある。さらに、チップ素
体を得る方法も、セラミックグリーンシートを使用す
る、いわゆるシート法の他に、セラミックペーストと導
電ペーストとを交互に印刷していく、いわゆるスラリビ
ルト法も採用されている。このような積層セラミックコ
ンデンサに代表されるチップ状電子部品は、小型化と共
に、大容量化や高インダクタンス化等が要求されてい
る。
【0005】このようなチップ状電子部品の前記外部電
極は、チップ素体の端部に導電ペーストを、いわゆるデ
ィップ塗装により塗布することにより形成されている。
すなわち、導電ペーストを均一な厚さに展開した平坦な
面にチップ素体の端面を押し当て、これによってチップ
素体の端面からその近傍の周面にわたって導電ペースト
を塗布する。その後、この導電ペーストを焼き付けるこ
とにより、外部電極が形成される。
【0006】
【発明が解決しようとしている課題】前記のようにして
外部電極を形成するための導電ペーストは、数千ポイズ
の粘度の高い導電性塗料であり、表面張力が高い。この
ため、チップ素体が特に角形の場合、チップ素体の角部
では、チップ素体の平坦な面に比べて、導電ペーストの
接触面積が異なる。すなわち、ほぼ90度のコーナ部分
は、平坦な面に比べて、導電ペーストの単位容積当たり
の接触面積が広いため、導電ペーストの表面張力が強く
働き、導電ペーストが濡れにくくなる。このため、チッ
プ素体の端部を導電ペーストに浸漬したとき、導電ペー
ストが比較的濡れやすいチップ素体の平坦な面では、そ
の面に沿って導電ペーストが濡れ上がるが、導電ペース
トが濡れにくいチップ素体の角部では、導電ペーストが
濡れ上がらない。そのため、チップ素体の部位によっ
て、その端部に付着する導電ペーストの寸法にばらつき
が生じる。
【0007】図7は、このようなチップ状電子部品を示
すもので、チップ素体3は、セラミック層7と内部電極
5、6とを積層してなり、このチップ素体3の端部に導
電ペーストを塗布し、焼き付けた外部電極4、4が形成
され、この外部電極4、4が前記内部電極5、6に接続
されている。外部電極4、4を形成するための導電ペー
ストは、チップ素体3の角部では、その表面張力が強
く、濡れにくい一方で、平坦な面では、角部より表面張
力が弱いため、導電ペーストが濡れやすい。これによ
り、図7に示すように、チップ素体3の角部では、外部
電極4の寸法が小さくなり、その間の平坦部分では外部
電極4が円弧状に突出する。
【0008】チップ状電子部品は、益々小型化が図られ
ており、外部電極4を形成するためのチップ素体3の端
部寸法も極端に小さくなっている。このため、チップ素
体3の部位による外部電極4の側面寸法のばらつきはで
きるだけ小さくすることが要請されている。にもかかわ
らず、前記のような角形のチップ素体3では、その角部
と平坦部に作用する導電ペーストの表面張力のアンバラ
ンスによって、チップ素体3の部位による外部電極4の
側面寸法のばらつきが生じる。
【0009】このようなチップ状電子部品では、これを
回路基板に搭載したとき、チップ状電子部品の搭載位置
や姿勢によって、回路基板上のランド電極への半田付け
不良等が発生する原因となる。外部電極4の側面寸法の
ばらつきを抑えるため、外部電極を真空蒸着やスパッタ
リング等で形成する手段もある。しかしこれらの手段で
は、外部電極4の側面寸法のばらつきが小さくなるが、
バッチ式工程のため、生産性が低く、コスト高になると
う課題がある。
【0010】本発明は、このような従来の課題に鑑み、
チップ素体の端部の部位にかかわらず、一定の寸法の外
部電極を形成することができ、これによって小形のチッ
プ状電子部品でも、寸法のばらつきの小さな外部電極を
形成することができるチップ状電子部品とその製造方法
を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明では、前記の目的
を達成するため、導電ペーストを塗布し、焼き付けて形
成する厚膜導体22をチップ素体13の端面のみに形成
し、この端面に連なるチップ素体13の周面には、薄膜
導体23を形成し、これにより外部電極14、14を形
成したものである。薄膜導体23は、メッキや真空蒸着
等により形成することができるので、表面張力の影響は
なく、チップ素体13の端部に一様な寸法で形成するこ
とができる。
【0012】すなわち、本発明によるチップ状電子部品
は、内部に導体膜からなる内部電極15、16が形成さ
れたチップ素体13と、前記内部電極15、16が露出
したチップ素体13の端部に形成された導体膜からなる
外部電極14、14とを有し、前記外部電極14、14
が、内部電極15、16が露出したチップ素体13の端
面に形成された厚膜導体22と、この厚膜導体22に導
通し、少なくともチップ素体13の端部周面に形成され
た薄膜導体23とからなることを特徴とするものであ
る。
【0013】このようなチップ状電子部品を製造する方
法は、内部に導体膜からなる内部電極15、16を有す
るチップ素体13の端部に導体膜からなる外部電極1
4、14を形成するための工程として、内部電極15、
16が露出したチップ素体13の端面に厚膜導体22を
形成する工程と、この厚膜導体22の形成工程の後、同
厚膜導体22と導通するよう、チップ素体13の少なく
とも端部周面に薄膜導体23を形成する工程とを有す
る。
【0014】厚膜導体22は、チップ素体13の端面に
塗布された導電ペーストを焼き付けて形成される。ま
た、薄膜導体23は、チップ素体13の端部にメッキ膜
を施すことにより形成される。このようにして薄膜導体
23をメッキ膜により形成するに当たり、セラミック層
21に、チップ素体13の端面とそれに隣接した周面に
露出する導体膜16、17を形成すると、チップ素体1
3の端部付近の周面にメッキ膜が容易に付着する。この
ような薄膜導体23は、導電ペーストを塗布したときの
ように、表面張力の影響を全く受けないので、チップ素
体13の端面近くの周面に均一に導体膜が形成され、寸
法のばらつきが生じない。
【0015】
【発明の実施の形態】次に、図面を参照しながら、本発
明の実施の形態について、チップ状電子部品の例とし
て、積層電子部品を主な例として具体的且つ詳細に説明
する。まず、セラミック原料粉末を、溶剤に溶解した有
機バインダーに均一に分散してセラミックスラリを作
り、これをポリエチレンテレフタレートフィルム等のベ
ースフィルム上に薄く均一な厚さで塗布し、乾燥し、膜
状のセラミックグリーンシートを作る。その後、このセ
ラミックグリーンシートを適当な大きさに裁断する。
【0016】次に、この裁断したセラミックグリーンシ
ートの上に内部電極パターンを各々印刷する。内部電極
パターンが印刷されたセラミックグリーンシートを積み
重ね、さらにその両側に内部電極パターンが印刷されて
ないセラミックグリーンシート、いわゆるダミーシート
を積み重ね、これらを圧着し、チップ素体を得る。この
チップ素体を縦横に裁断し、個々のチップ状のチップ素
体に分割する。その後、これらのチップ素体を焼成する
ことで、焼成済みのチップ素体を得る。
【0017】このチップ素体13は、図4に示すような
内部電極15、16を有する誘電体からなるセラミック
層21が積層され、その両側に内部電極が形成されてな
いセラミック層21、21が各々積み重ねられたもので
ある。このようなチップ素体13において、内部電極1
5、15…は、上下のセラミック層21において、その
対向する一対の端辺に交互に導出されている。これら内
部電極15、15…は、セラミック層21を介して対向
しており、これによりコンデンサとしての静電容量を得
る。またこれら内部電極15、15…はチップ素体13
の端辺とそれに隣接する側片にも導出されている。従っ
て、図4に示す例では、内部電極15、15…が概ねT
字形を呈している。内部電極15、15…がチップ素体
13の端辺だけでなく、それに隣接する側片にも導出さ
れているのは、後述するメッキ膜がチップ素体13の側
面の端部付近に着きやすくすると共に、その外部電極1
4、14とチップ素体13との密着強度を高めるためで
ある。
【0018】セラミック層21の前記内部電極15、1
5…が導出されたのと反対側の端の角部に導体膜16、
16…が形成され、この導体膜16、16…がセラミッ
ク層21の端辺とそれに連なる側辺の端部付近に導出さ
れている。その形状は、両側に分離した三角形状を呈し
ている。この導体膜16、16…は、メッキ膜がチップ
素体13の端部とその付近の周面に着きやすくするため
のものである。さらに、対向電極を構成する内部電極1
5、15…を形成していない、いわゆるダミーの上下の
セラミック層21、21には、その両端辺側に帯状の導
体膜17、17が形成されている。図4において上側の
ダミーのセラミック層21には、上面側に帯状の導体膜
17、17が形成され、図4において下側のダミーのセ
ラミック層21には、下面側に帯状の導体膜17、17
が形成されている。これらの導体膜17、17…もま
た、メッキ膜がチップ素体13の端部付近の側面に付き
やすくするためである。
【0019】Ag、Ag−Pd等の導体粉末を、溶剤で
溶解した有機バインダに分散した導電ペーストを用意す
る。図1(a)及び図2に示すように、前記の内部電極
15、16が導出しているチップ素体13の両端に前記
導電ペーストが塗布され、これが例えば800℃程度の
温度で焼き付けられ、厚膜導体22、22が形成され
る。この厚膜導体22、22は、チップ素体13の端面
だけを導電ペーストに浸漬し、焼き付けることにより形
成される。もちろん、導電ペーストへの浸漬深さのばら
つきにより、チップ素体13の端面を越えてその周面に
導電ペーストが若干回り込むことはあるが、チップ素体
13の周面の外部電極14、14が形成される範囲内で
あればよい。しかし、基本的には、厚膜導体22、22
をチップ素体13のほぼ端面だけに限定して形成するほ
うが、外観の面からより好ましい。
【0020】さらに、チップ素体13の端部にメッキを
施す。例えば、Sn溶液のセンシタイザとPd溶液のア
クチベータとを用意し、チップ素体13の端面を含む両
端部を、センシタイザとアクチベータとにそれぞれ一定
の深さ浸漬する。これによって、チップ素体13の両端
を活性化する。次に、チップ素体13を水洗した後、こ
のチップ素体13を45℃に保温されたNiメッキ浴に
浸漬し、同チップ素体13の端面を含む端部に無電界メ
ッキを施し、図1(b)及び図3に示すように、薄膜導
体23を形成する。
【0021】チップ素体13には、その側面に内部電極
15、15…が導出されていると共に、導体膜16、1
6…、17、17…が形成されているため、チップ素体
13の端部付近の周面にメッキ膜が容易に付着する。ま
た、外部電極14、14とチップ素体13との密着強度
が増大する。前記厚膜導体22と薄膜導体23とによ
り、チップ素体13の端部に外部電極14、14が形成
される。これにより、チップ状電子部品としての積層コ
ンデンサが完成する。なお、薄膜導体23を、前記のよ
うな無電界メッキ法によらず、電界メッキ法により形成
してもよい。
【0022】このようなチップ状電子部品では、チップ
素体13の端部を、粘性のある導電ペーストに浸漬して
その導電ペーストを塗布するものではなく、導電ペース
トは、チップ素体13の端面のみに塗布し、これを焼き
付けた後、チップ状部品13の端面を含む端部を、粘性
のごく小さなメッキ用の活性化剤に浸漬し、その部分に
メッキを施す。これにより、処理剤の粘性に殆ど影響さ
れずに、チップ素体13の周面に導体膜を形成して外部
電極を形成することができる。従って、図3に示すよう
に、チップ素体13の角部と平面部とで、外部電極1
4、14の寸法の違いが生じない。
【0023】図5で示した例は、内部電極15、15…
のセラミック層21の端辺側に導出された部分の両側
に、導体膜を分離して形成したものである。この両側に
分離された導体膜は、メッキ膜がチップ素体13の端部
とその付近の周面に着きやすくするためのものである。
図6で示した例は、メッキ膜の付着性を得るための導体
膜16、16…を、セラミック層21の角部だでなく、
他方の内部電極15が導出されたセラミック層21の一
方の端縁側と対向する他方の端縁の全長にわたって帯状
に形成している。
【0024】なお本発明では、静電容量を得るコンデン
サ用の内部電極だけでなく、インダクタンス値を得る周
回状の電極を磁性体セラミックに形成したものや、この
ようなインダクタ電極を有する磁性体セラミック層と、
前記のような対向電極を有する誘電体セラミック層、或
いはその他の層を複合して積層してチップ素体を構成す
ることもできる。また、薄膜導体23の形成手段は、前
記のようなメッキの他、チップ素体13の中間部をマス
クした状態で、真空蒸着やスパッタリング等により形成
することもできる。
【0025】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によるチップ
状電子部品では、チップ素体13の端部の部位によって
外部電極14、14の寸法がばらつくことが解消され、
チップ素体13の端部の全周にわたって均一な寸法を有
する外部電極14、14が形成できる。これによって、
チップ状電子部品を回路基板上に搭載したときに、チッ
プ状部品の外部電極の半田付け不良等を起こすことがな
くなる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるチップ状電子部品の例の外部電極
の薄膜導体を形成する前と後の状態をそれぞれ示す縦断
側面図である。
【図2】同チップ状電子部品の例の外部電極の薄膜導体
を形成する前の状態を示す一部縦断斜視図である。
【図3】同チップ状電子部品の例の外部電極の薄膜導体
を形成した後の状態を示す一部縦断斜視図である。
【図4】同チップ状電子部品の例の積層体の積層構造を
示す各セラミック層の分離斜視図である。
【図5】本発明によるチップ状電子部品の他の例の積層
体の積層構造を示す各セラミック層の分離斜視図であ
る。
【図6】本発明によるチップ状電子部品の他の例の積層
体の積層構造を示す各セラミック層の分離斜視図であ
る。
【図7】チップ状電子部品の従来例を示す一部縦断斜視
図である。
【符号の説明】
13 チップ素体 14 外部電極 15 内部電極 16 内部電極 22 厚膜導体 23 薄膜導体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01G 13/00 391 H01F 15/10 C

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 内部に導体膜からなる内部電極(1
    5)、(15)…が形成されたチップ素体(13)と、
    前記内部電極(15)、(15)…が露出したチップ素
    体(13)の端部に形成された導体膜からなる外部電極
    (14)、(14)とを有するチップ状電子部品におい
    て、前記外部電極(14)、(14)が、内部電極(1
    5)、(15)…が露出したチップ素体(13)の端面
    に形成された厚膜導体(22)と、この厚膜導体(2
    2)に導通し、少なくともチップ素体(13)の端部周
    面に形成された薄膜導体(22)とからなることを特徴
    とするチップ状電子部品。
  2. 【請求項2】 厚膜導体(22)が、チップ素体(1
    3)の端面に塗布された導電ペーストを焼き付けて形成
    されていることを特徴とする請求項1に記載のチップ状
    電子部品。
  3. 【請求項3】 薄膜導体(23)が、チップ素体(1
    3)の端部に施されたメッキ膜からなることを特徴とす
    る請求項1または2に記載のチップ状電子部品。
  4. 【請求項4】 セラミック層(21)に、チップ素体
    (13)の端面とそれに隣接した周面に露出する導体膜
    (16)、(17)が形成されていることを特徴とする
    請求項3に記載のチップ状電子部品。
  5. 【請求項5】 内部に内部電極(15)、(15)…を
    形成したチップ素体を得る工程と、内部電極(15)、
    (15)…が露出したチップ素体(13)の端部に導体
    膜からなる外部電極(14)、(14)を形成する工程
    とを有するチップ状電子部品の製造方法において、内部
    電極(15)、(15)…が露出したチップ素体(1
    3)の端面に厚膜導体(22)を形成する工程と、この
    厚膜導体(22)を形成する工程の後、同厚膜導体(2
    2)と導通するよう、チップ素体(13)の少なくとも
    端部周面に薄膜導体(23)を形成する工程とを有する
    ことを特徴とするチップ6電子部品の製造方法。
  6. 【請求項6】 厚膜導体(22)を形成する工程が、チ
    ップ素体(13)の端面に導電ペーストを塗布し、この
    導電ペーストを焼き付ける工程であることを特徴とする
    請求項5に記載のチップ状電子部品。
  7. 【請求項7】 薄膜導体(23)を形成する工程が、チ
    ップ素体(13)の端部をメッキする工程であることを
    特徴とする請求項4または5に記載のチップ状電子部
    品。
  8. 【請求項8】 セラミック層(21)に内部電極(1
    5)、(15)…を形成するのと同時に、同セラミック
    層(21)にチップ素体(13)の端面とそれに隣接し
    た周面に露出する導体膜(16)、(17)を形成する
    ことを特徴とする請求項7に記載のチップ状電子部品。
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