JPH11262862A - 両面研磨装置及びスラリー供給方法 - Google Patents
両面研磨装置及びスラリー供給方法Info
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- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
- B24B37/07—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool
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- B24B37/107—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces characterised by the movement of the work or lapping tool for single side lapping the workpieces or work carriers being actively moved by a drive, e.g. in a combined rotary and translatory movement in a rotary movement only, about an axis being stationary during lapping
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Abstract
盤全体に均等に行き渡るようにして、ワークの研磨精度
の高精度化を図った両面研磨装置及びスラリー供給方法
を提供する。 【解決手段】 サンギア1と下定盤2とインターナルギ
ア3と上定盤4と下定盤2にスラリーを供給するスラリ
ー供給機構5とを具備する。具体的には、下定盤2の中
心孔20を上定盤4の中心孔40よりも小さく設定し
て、下定盤2の研磨面21の内側にスラリー受け面22
を形成している。そして、スラリー供給機構5を、上定
盤4に取り付けられ且つスラリー受け面22に向くスラ
リー供給管50と、上定盤4の径方向に略等間隔で穿設
された複数のスラリー供給孔51〜54と、チューブ5
6等を介してスラリーをスラリー供給管50及びスラリ
ー供給孔51〜54に供給するスラリー供給源59とで
構成した。
Description
しながら回転する上及び下定盤でワークの両面を研磨す
るための両面研磨装置及びスラリー供給方法に関し、特
に、スラリーを下定盤の研磨面に供給する機構に特徴を
有する両面研磨装置及びスラリー供給方法に関するもの
である。
す断面図である。図8に示すように、両面研磨装置は、
サンギア101とインターナルギア102とに噛合され
たキャリア110をサンギア101の駆動回転によっ
て、自公転させ、下定盤100と上定盤120とを互い
に逆回転させることにより、ワークWの両面を同時に研
磨する装置である。また、両面研磨装置には、ワークW
の研磨効率を高めると共に研磨時に上及び下定盤10
0,120に生じる熱を冷却するためのスラリーを下定
盤100側に供給するスラリー供給機構が設けられてい
る。このスラリー供給機構は、スラリーをチューブ20
1を通じて上定盤120に穿設したスラリ−供給孔20
2に供給し、スラリ−供給孔202の下端開口から下定
盤100側に流出する機構である。複数のスラリ−供給
孔202の穿設位置は、下定盤100及び上定盤120
が静止している状態で、スラリーがスラリ−供給孔20
2の下端開口から流出したときに、スラリーが下定盤1
00の研磨面に均等に行き渡るように設定している。例
えば、図9に示すように、上定盤120の径方向に4つ
のスラリ−供給孔202を等間隔で穿設し、これら4つ
のスラリ−供給孔202を上定盤120の周方向に等間
隔に穿設している。
の両面研磨装置では次のような問題があった。下定盤1
00及び上定盤120が静止している状態でスラリーが
均等に下定盤100に行き渡るように、複数のスラリ−
供給孔202の穿設位置を設定しているので、下定盤1
00及び上定盤120の回転時にスラリーの下定盤10
0への流出分布が偏ってしまう。すなわち、図10に示
すように、各スラリ−供給孔202から下定盤100の
研磨面上に流出されたスラリーSが下定盤100の遠心
力によって下定盤100の径方向外側に移動させられ
る。このため、スラリ−供給孔202から流出されたス
ラリーSが下定盤100の研磨面上の内側部分100a
に行き渡らない。この結果、内周部100aの熱が他の
部分より上昇し、ワークWの研磨精度に悪影響を与えて
いた。
なされたもので、上定盤及び下定盤の回転時にスラリー
を下定盤全体に均等に行き渡るようにして、ワークの研
磨精度の高精度化を図った両面研磨装置及びスラリー供
給方法を提供することを目的とするものである。
に、請求項1の発明は、サンギアと、サンギアの外側に
同心上に配され且つワークの下面を研磨するための研磨
面を有するドーナッツ状の下定盤と、下定盤の外側に同
心上に配されたインターナルギアと、下定盤と対向する
ように配され且つサンギアとインターナルギアとに噛合
されたキャリアに保持されたワークの上面を研磨するた
めの研磨面を有する上定盤と、下定盤に向けてスラリー
を供給するスラリー供給機構とを具備する両面研磨装置
において、下定盤の中心孔を上定盤の中心孔よりも小さ
く設定して、下定盤の研磨面の内側にスラリー受け面を
形成し、スラリー供給機構を、上定盤の中心孔内に配さ
れ且つその下端開口が下定盤のスラリー受け面に向くス
ラリー供給管と、上定盤を上下方向に貫通しスラリー供
給管と共に上定盤の径方向に略等間隔で配設された複数
のスラリー供給孔と、これら複数のスラリー供給孔とス
ラリー供給管とにスラリーを供給するスラリー供給源と
で構成した。かかる構成により、上定盤と下定盤とを互
いに逆方向に回転させると共に、サンギア及びインター
ナルギアの少なくとも一方を回転させると、キャリアが
サンギアの周りで自転し、キャリアに保持されたワーク
の両面が上定盤及び下定盤の研磨面によって同時に研磨
される。そして、スラリー供給機構のスラリー供給源か
ら複数のスラリー供給孔とスラリー供給管とにスラリー
を供給すると、スラリーが下定盤の遠心力でスラリー受
け面から研磨面側に移動し、スラリーが下定盤の研磨面
全体に均等に行き渡る。また、キャリアの自転方向が公
転方向と逆方向になるように、サンギア及びインターナ
ルギアの少なくとも一方の回転方向を設定することで、
研磨面上のスラリーがキャリアの下側に取り込まれる。
ンギアの外側に同心上に配され且つワークの下面を研磨
するための研磨面を有するドーナッツ状の下定盤と、下
定盤の外側に同心上に配されたインターナルギアと、下
定盤と対向するように配され且つサンギアとインターナ
ルギアとに噛合されたキャリアに保持されたワークの上
面を研磨するための研磨面を有する上定盤と、下定盤に
向けてスラリーを供給するスラリー供給機構とを具備す
る両面研磨装置において、スラリー供給機構を、上記上
定盤を上下方向に貫通し上定盤の径方向に略等間隔で配
設された複数のスラリー供給孔と、各スラリー供給孔と
上定盤中心との距離に略反比例した流量のスラリーを各
スラリー供給孔に供給するスラリー供給源とで構成し
た。かかる構成により、スラリーが上定盤の径方向に配
設された複数のスラリー供給孔から、下定盤に流出され
る。すると、下定盤の回転に基づく遠心力の作用により
下定盤に流出されたスラリーが下定盤の径方向外側に移
動する。このとき、各スラリー供給孔と上定盤中心との
距離に略反比例した流量のスラリーが下定盤に流出され
続けるので、下定盤の研磨面の内周部から外周部に向か
って多量のスラリーが移動し、スラリーが当該研磨面に
均等に行き渡ることとなる。
等に行き渡らせる方法は発明として成立すると考えられ
る。そこで、請求項3の発明は、研磨面を対向させて上
定盤と下定盤とを互いに逆方向に回転させ、下定盤の内
側に同心上に配されたサンギア及び下定盤の外側に同心
上に配されたインターナルギアの少なくとも一方を回転
させることで、ワークを保持し且つサンギア及びインタ
ーナルギアに噛合されたキャリアをサンギア周りに公転
させると共に当該公転方向と逆方向に自転させ、上定盤
の径方向に略等間隔で穿設された複数のスラリー供給孔
から下定盤の研磨面にスラリーを流出すると共に、複数
のスラリー供給孔と同列上に位置した状態で上定盤の中
心孔内に配されたスラリー供給管から、下定盤の中心孔
を上定盤の中心孔よりも小さく設定して研磨面内側に形
成したスラリー受け面にスラリーを流出させる構成とし
た。なお、スラリーのキャリアの下側への取り込みは、
キャリアの公転速度と下定盤の公転速度との差が大きい
ほど効率的に行われると解される。そこで、請求項4の
発明は、請求項3に記載のスラリー供給方法において、
下定盤をキャリアの公転方向と逆方向に回転させる構成
とした。
せて上定盤と下定盤とを互いに逆方向に回転させ、下定
盤の内側に同心上に配されたサンギア及び下定盤の外側
に同心上に配されたインターナルギアの少なくとも一方
を回転させることで、ワークを保持し且つ上記サンギア
及びインターナルギアに噛合されたキャリアをサンギア
周りに公転させると共に当該公転方向と逆方向に自転さ
せ、上定盤の径方向に略等間隔で穿設された複数のスラ
リー供給孔から、当該各スラリー供給孔と上定盤中心と
の距離に略反比例した流量のスラリーを下定盤の研磨面
に流出する構成とした。さらに、請求項6の発明は、請
求項5に記載のスラリー供給方法において、下定盤をキ
ャリアの公転方向と逆方向に回転させる構成とした。
いて図面を参照して説明する。 (第1の実施形態)図1は、この発明の第1の実施形態
に係る両面研磨装置を示す部分断面図である。図1に示
すように、この両面研磨装置は、サンギア1と下定盤2
とインターナルギア3と上定盤4とスラリー供給機構5
とを具備している。
れており、このサンギア1の上には縦溝11aを有した
ドライバ11が取り付けられ、図示しないモータで回転
軸10を回転させることで、サンギア1とドライバ11
とが一体に回転する。
配され、図示しないモータで回転される台座29の上に
載置固定されたドーナッツ状の盤体である。この下定盤
2の中心孔20の径は後述する上定盤4の中心孔40よ
りも小さく設定され、上定盤4の幅と略同一の幅の研磨
面21の内側に、スラリー受け面22が形成されてい
る。
2の外側に同心上に配されており、図示しないモータに
より回転されている。
2の研磨面21と対向するように配され、吊り板42の
下側に取り付けられている。吊り板42は、シリンダ4
3のピストンロッド43aの先端部にベアリング44を
介して回転自在に連結さている。これにより、シリンダ
43によって上定盤4を下降させ、ドライバ11の縦溝
11aと上定盤4に固着されたフック45とを係合させ
て、回転軸10を回転させると、上定盤4がサンギア1
と同方向に回転する。
2側に供給する機構であり、上定盤4の径方向に一列状
に設けられたスラリー供給管50及び4つのスラリー供
給孔51〜54と、スラリー供給源59とを有してい
る。スラリー供給管50は、上定盤4の中心孔40内に
配され、その下端開口50aが下定盤2のスラリー受け
面22の真上に位置するように、上定盤4に固定された
取付金具55に取り付けられている。スラリー供給孔5
1〜54は、上定盤4を上下方向に貫通しており、各ス
ラリー供給孔51〜54の間隔は略等しく設定されてい
る。上記した一列状のスラリー供給管50及びスラリー
供給孔51〜54は、図2に示すように、上定盤4の周
方向に45゜間隔で8組設けられており、スラリーを下
定盤2の全面にまんべんなく流出するようになってい
る。図1において、スラリー供給源59は、上記スラリ
ー供給管50及びスラリー供給孔51〜54にスラリー
を供給する機器であり、スラリー供給管50,スラリー
供給孔51〜54に至る流通経路を介してスラリーを送
り出す。具体的には、スラリー供給管50及びスラリー
供給孔51〜54のそれぞれにチューブ56が取り付け
られ、各チューブ56の上端開口が吊り板42の外周面
に取り付けられたリング状の樋57の下面開口に連結さ
れている。そして、流通管58がスラリー供給源59か
ら樋57の上方まで延出され、この樋57にコック58
aが取り付けられている。これにより、スラリーをスラ
リー供給源59から流通管58に送り出すと共に、コッ
ク58aを開くことで、スラリーが樋57に供給され
る。そして、スラリーがチューブ56を通ってスラリー
供給管50及びスラリー供給孔51〜54に至り、スラ
リー供給管50及びスラリー供給孔51〜54の下端開
口から下定盤2に向かって流出する。
動作について説明する。なお、この動作は、請求項3及
び請求項4の発明に係るスラリー供給方法を具体的に実
行するものである。図3は、研磨動作を示すための両面
研磨装置の部分断面図である。図3に示すように、保持
孔60にワークWを収納したキャリア6をサンギア1と
インターナルギア3に噛合させた後、シリンダ43によ
り上定盤4を下降させ、ドライバ11の縦溝11aにフ
ック45を係合させた状態で、サンギア1と下定盤2と
を逆方向に回転させることで、キャリア6がサンギア1
の周りを自公転し、ワークWの両面が互いに逆回転する
下定盤2と上定盤4とによって同時に研磨される。この
とき、サンギア1とインターナルギア3との回転速度比
を調整して、図4に示すように、キャリア6の自転方向
Bと公転方向Cとが逆になるようにすると共に、キャリ
ア6の公転方向Cと下定盤2の回転方向Dとが逆になる
ようにしておく。
供給機構5のスラリー供給源59を作動させ、上定盤4
に設けられたスラリー供給管50及びスラリー供給孔5
1〜54から下定盤2に向けてスラリーを流出すること
で、ワークWを研磨する。このとき、図4に示すよう
に、キャリア6の公転方向Cがその自転方向B及び下定
盤2の回転方向Dと逆向きであるので、スラリー供給管
50,スラリー供給孔51〜54から流出したスラリー
がワークWの下面と研磨面21との間に取り込まれ、ワ
ークWがこのスラリーによって効率的に研磨されること
となる。ところで、ワークWの研磨に寄与する下定盤2
の面は、全てのワークWが接触する研磨面21である。
したがって、研磨時に生ずる熱がこの研磨面21の径方
向で偏ると、ワークWの研磨精度が劣化することとな
る。図8に示した従来の両面研磨装置では、この研磨面
21にのみスラリーを供給していたため、下定盤2の遠
心力によって研磨面21の内側部分のスラリーが外側に
移動して、研磨面21の内側部分の熱が高くなってい
た。しかし、この実施形態の両面研磨装置では、スラリ
ー供給孔51〜54から研磨面21にスラリーを流出す
る他に、スラリー供給管50からもスラリーを流出する
ので、研磨面21の熱が径方向において略均等になる。
すなわち、図5に示すように、スラリー供給管50の下
端開口50aが下定盤2のスラリー受け面22の真上に
位置しているので、スラリー供給管50からのスラリー
は、スラリー受け面22に流出し続けることとなる。し
たがって、スラリー供給孔51〜54から下定盤2の研
磨面21上に流出されたスラリーSは、下定盤2の遠心
力によって、下定盤2の外方に移動し、研磨面21の内
側部分21aより外側の部分を冷却し続けることとな
る。そして、スラリー供給管50からスラリー受け面2
2上に流出されたスラリーSは下定盤2の遠心力によっ
て 内側部分21aを冷却しながら下定盤2の外方に移
動することとなる。この結果、下定盤2の研磨面21全
体がスラリー供給管50,スラリー供給孔51〜54か
らのスラリーSによって冷却され続けることとなり、研
磨面21全体の温度が略均等になる。
によれば、ワークWの研磨に寄与する研磨面21全体を
スラリー供給管50,スラリー供給孔51〜54から流
出したスラリーSによって常に冷却し続けるので、研磨
面21の温度分布に偏りが生ぜず、この結果、ワークW
を高精度に研磨することができる。
2の実施形態にかかる両面研磨装置を示す部分断面図で
ある。なお、図1から図5に示した部材と同一部材につ
いては同一符号を付して説明する。この実施形態は、ス
ラリー供給機構5のスラリー供給管50や下定盤2のス
ラリー受け面22を特設せず、スラリー供給孔51〜5
4から流出するスラリーの単位時間当たりの流量を異な
らせることで、下定盤2の研磨面21の温度を均等にす
る構造とした点が、上記第1の実施形態と異なる。
孔20が上定盤4の中心孔40と同じ大きさに設定され
ている。また、スラリー供給機構5′において、樋57
の下側に取り付けられた接続管57aに、スラリー供給
孔51〜54にそれぞれ連結された4本のチューブ56
が連結されている。そして、4本のチューブ56にそれ
ぞれ流量調整バルブ56a〜56dが介設されている。
流量調整バルブ56a〜56dは、スラリー供給孔51
〜54から流出されるスラリーの流量が上定盤4の中心
からの距離に略反比例するように、調整されている。す
なわち、下定盤2上のスラリーが下定盤2の中心からの
距離に比例する遠心力を受けることに対応させている。
動作について説明する。なお、この動作は、請求項5及
び請求項6の発明に係るスラリー供給方法を具体的に実
行するものである。図7は、スラリーが下定盤2の研磨
面21上を流れる状態を示す部分断面図である。図7に
示すように、スラリー供給孔51から最も多量のスラリ
ーSがスラリー供給孔51真下の領域21bに流出され
る。そして、このスラリーSが流出される位置の遠心力
は最も小さい。このため、スラリー供給孔51から流出
されたスラリーSの一部が下定盤2の中心孔20側に向
かい、中心孔20から落下し又は弱い遠心力によって引
き戻される。したがって、領域21bはスラリー供給孔
51から流出された多量の流量のスラリーSによって冷
却されることとなる。また、スラリー供給孔52から領
域21cに流出されると、領域21cはスラリー供給孔
52から流出された流量のスラリーSと領域21b側か
ら流れてくるスラリーSとによって冷却されることとな
り、スラリー供給孔53からの領域21dに流出される
と、領域21dはスラリー供給孔53から流出された流
量のスラリーSと領域21c及び21b側から流れてく
るスラリーSとによって冷却されることとなり、スラリ
ー供給孔54から領域21eに流出されると、領域21
eはスラリー供給孔54から流出された流量のスラリー
Sと領域21d,21c,21b側から流れてくるスラ
リーSとによって冷却されることとなる。この結果、領
域21b〜21e上を流れるスラリーSの流量がほぼ等
しくなり、領域21b〜21eの温度が略均等になる。
ば、下定盤2の径方向に渡って略等しい流量のスラリー
を流すことができるので、下定盤2の温度均等性をさら
に向上させることができる。その他の構成,作用効果は
上記第1の実施形態と同様であるので、その記載は省略
する。
れるものではなく、発明の要旨の範囲内において種々の
変形や変更が可能である。例えば、上記実施形態では、
上定盤4に4つのスラリー供給孔51〜54を穿設した
が、2つ又は3つ、さらに5つ以上のスラリー供給孔を
穿設することを除外することを意味するものではない。
また、上記実施形態では、キャリア6の公転方向Cと下
定盤2の回転方向Dとを逆にしたが、同方向であって
も、キャリア6と下定盤2とに速度差が生じればよい。
よれば、スラリーが下定盤の研磨面の径方向に均等に行
き渡るので、当該面の径方向の温度が略均等になり、こ
の結果、ワークの高精度な研磨が可能となるという優れ
た効果がある。また、下定盤の回転方向をキャリアの公
転方向と逆方向にすることで、スラリーのキャリアの下
側への取り込みを確実に行うことができ、スラリーを介
したワークの研磨を確実に行うことができる。
を示す部分断面図である。
る。
図である。
す概略平面図である。
示す部分断面図である。
置を示す部分断面図である。
示す部分断面図である。
る。
る。
を示す部分断面図である。
ア、 4…上定盤、 5…スラリー供給機構、 6…キ
ャリア、 50…スラリー供給管、 51〜54…スラ
リー供給孔、 59…スラリー供給源、 S…スラリ
ー、 W…ワーク。
Claims (6)
- 【請求項1】 サンギアと、 上記サンギアの外側に同心上に配され且つワークの下面
を研磨するための研磨面を有するドーナッツ状の下定盤
と、 上記下定盤の外側に同心上に配されたインターナルギア
と、 上記下定盤と対向するように配され且つ上記サンギアと
インターナルギアとに噛合されたキャリアに保持された
上記ワークの上面を研磨するための研磨面を有する上定
盤と、 上記下定盤に向けてスラリーを供給するスラリー供給機
構とを具備する両面研磨装置において、 上記下定盤の中心孔を上定盤の中心孔よりも小さく設定
して、上記下定盤の研磨面の内側にスラリー受け面を形
成し、 上記スラリー供給機構を、上記上定盤の中心孔内に配さ
れ且つその下端開口が上記下定盤のスラリー受け面に向
くスラリー供給管と、上記上定盤を上下方向に貫通し上
記スラリー供給管と共に上定盤の径方向に略等間隔で配
設された複数のスラリー供給孔と、これら複数のスラリ
ー供給孔とスラリー供給管とにスラリーを供給するスラ
リー供給源とで構成した、 ことを特徴とする両面研磨装置。 - 【請求項2】 サンギアと、 上記サンギアの外側に同心上に配され且つワークの下面
を研磨するための研磨面を有するドーナッツ状の下定盤
と、 上記下定盤の外側に同心上に配されたインターナルギア
と、 上記下定盤と対向するように配され且つ上記サンギアと
インターナルギアとに噛合されたキャリアに保持された
上記ワークの上面を研磨するための研磨面を有する上定
盤と、 上記下定盤に向けてスラリーを供給するスラリー供給機
構とを具備する両面研磨装置において、 上記スラリー供給機構を、上記上定盤を上下方向に貫通
し上定盤の径方向に略等間隔で配設された複数のスラリ
ー供給孔と、上記各スラリー供給孔と上定盤中心との距
離に略反比例した流量のスラリーを各スラリー供給孔に
供給するスラリー供給源とで構成した、 ことを特徴とする両面研磨装置。 - 【請求項3】 研磨面を対向させて上定盤と下定盤とを
互いに逆方向に回転させ、 上記下定盤の内側に同心上に配されたサンギア及び上記
下定盤の外側に同心上に配されたインターナルギアの少
なくとも一方を回転させることで、ワークを保持し且つ
上記サンギア及びインターナルギアに噛合されたキャリ
アを上記サンギア周りに公転させると共に当該公転方向
と逆方向に自転させ、 上記上定盤の径方向に略等間隔で穿設された複数のスラ
リー供給孔から上記下定盤の研磨面にスラリーを流出す
ると共に、 上記複数のスラリー供給孔と同列上に位置した状態で上
記上定盤の中心孔内に配されたスラリー供給管から、上
記下定盤の中心孔を上記上定盤の中心孔よりも小さく設
定して研磨面内側に形成したスラリー受け面にスラリー
を流出させる、ことを特徴とするスラリー供給方法。 - 【請求項4】 請求項3に記載のスラリー供給方法にお
いて、 上記下定盤を上記キャリアの公転方向と逆方向に回転さ
せる、 ことを特徴とするスラリー供給方法。 - 【請求項5】 研磨面を対向させて上定盤と下定盤とを
互いに逆方向に回転させ、 上記下定盤の内側に同心上に配されたサンギア及び上記
下定盤の外側に同心上に配されたインターナルギアの少
なくとも一方を回転させることで、ワークを保持し且つ
上記サンギア及びインターナルギアに噛合されたキャリ
アを上記サンギア周りに公転させると共に当該公転方向
と逆方向に自転させ、 上記上定盤の径方向に略等間隔で穿設された複数のスラ
リー供給孔から、当該各スラリー供給孔と上定盤中心と
の距離に略反比例した流量のスラリーを上記下定盤の研
磨面に流出する、 ことを特徴とするスラリー供給方法。 - 【請求項6】 請求項5に記載のスラリー供給方法にお
いて、 上記下定盤を上記キャリアの公転方向と逆方向に回転さ
せる、 ことを特徴とするスラリー供給方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10088016A JPH11262862A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 両面研磨装置及びスラリー供給方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10088016A JPH11262862A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 両面研磨装置及びスラリー供給方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11262862A true JPH11262862A (ja) | 1999-09-28 |
Family
ID=13931052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10088016A Pending JPH11262862A (ja) | 1998-03-17 | 1998-03-17 | 両面研磨装置及びスラリー供給方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11262862A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6939204B2 (en) | 2002-10-25 | 2005-09-06 | Fujikoshi Machinery Corp. | Abrasive machine and method of abrading work piece |
| US7485029B2 (en) | 2006-09-01 | 2009-02-03 | Fujikoshi Machinery Corp. | Double face polishing apparatus |
| US7727053B2 (en) | 2005-07-19 | 2010-06-01 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Double-side polishing method for wafer |
| US20110263183A1 (en) * | 2010-04-26 | 2011-10-27 | Sumco Corporation | Polishing solution distribution apparatus and polishing apparatus having the same |
| US20120184190A1 (en) * | 2011-01-18 | 2012-07-19 | Tadakazu Miyashita | Double-side polishing apparatus |
| CN107097151A (zh) * | 2017-07-04 | 2017-08-29 | 大连桑姆泰克工业部件有限公司 | 抛光液管路系统和上下盘研磨机构 |
| KR20190041635A (ko) * | 2017-10-13 | 2019-04-23 | 에스케이실트론 주식회사 | 웨이퍼 랩핑 장치 |
| WO2019159603A1 (ja) * | 2018-02-14 | 2019-08-22 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨方法 |
| CN110842755A (zh) * | 2019-11-26 | 2020-02-28 | 湖南大合新材料有限公司 | 一种碲锌镉晶片表面研磨装置 |
| CN119609908A (zh) * | 2024-11-28 | 2025-03-14 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | 双面研磨装置及方法 |
-
1998
- 1998-03-17 JP JP10088016A patent/JPH11262862A/ja active Pending
Cited By (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100400235C (zh) * | 2002-10-25 | 2008-07-09 | 不二越机械工业株式会社 | 研磨机和研磨工件的方法 |
| KR101051214B1 (ko) * | 2002-10-25 | 2011-07-21 | 후지코시 기카이 고교 가부시키가이샤 | 연마기와 워크피스 연마 방법 |
| US6939204B2 (en) | 2002-10-25 | 2005-09-06 | Fujikoshi Machinery Corp. | Abrasive machine and method of abrading work piece |
| US7727053B2 (en) | 2005-07-19 | 2010-06-01 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Double-side polishing method for wafer |
| US7485029B2 (en) | 2006-09-01 | 2009-02-03 | Fujikoshi Machinery Corp. | Double face polishing apparatus |
| US20110263183A1 (en) * | 2010-04-26 | 2011-10-27 | Sumco Corporation | Polishing solution distribution apparatus and polishing apparatus having the same |
| US9017145B2 (en) * | 2010-04-26 | 2015-04-28 | Sumco Corporation | Polishing solution distribution apparatus and polishing apparatus having the same |
| US20120184190A1 (en) * | 2011-01-18 | 2012-07-19 | Tadakazu Miyashita | Double-side polishing apparatus |
| US8888562B2 (en) * | 2011-01-18 | 2014-11-18 | Fujikoshi Machinery Corp. | Double-side polishing apparatus |
| CN107097151B (zh) * | 2017-07-04 | 2023-09-22 | 大连桑姆泰克工业部件有限公司 | 抛光液管路系统和上下盘研磨机构 |
| CN107097151A (zh) * | 2017-07-04 | 2017-08-29 | 大连桑姆泰克工业部件有限公司 | 抛光液管路系统和上下盘研磨机构 |
| KR20190041635A (ko) * | 2017-10-13 | 2019-04-23 | 에스케이실트론 주식회사 | 웨이퍼 랩핑 장치 |
| JP2019136837A (ja) * | 2018-02-14 | 2019-08-22 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨方法 |
| CN111405963A (zh) * | 2018-02-14 | 2020-07-10 | 信越半导体株式会社 | 双面研磨方法 |
| KR20200117982A (ko) * | 2018-02-14 | 2020-10-14 | 신에쯔 한도타이 가부시키가이샤 | 양면연마방법 |
| WO2019159603A1 (ja) * | 2018-02-14 | 2019-08-22 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨方法 |
| TWI817982B (zh) * | 2018-02-14 | 2023-10-11 | 日商信越半導體股份有限公司 | 雙面研磨方法 |
| CN110842755A (zh) * | 2019-11-26 | 2020-02-28 | 湖南大合新材料有限公司 | 一种碲锌镉晶片表面研磨装置 |
| CN110842755B (zh) * | 2019-11-26 | 2021-12-31 | 湖南大合新材料有限公司 | 一种碲锌镉晶片表面研磨装置 |
| CN119609908A (zh) * | 2024-11-28 | 2025-03-14 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | 双面研磨装置及方法 |
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