JPH11264807A - 熱分析装置 - Google Patents
熱分析装置Info
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- JPH11264807A JPH11264807A JP8928898A JP8928898A JPH11264807A JP H11264807 A JPH11264807 A JP H11264807A JP 8928898 A JP8928898 A JP 8928898A JP 8928898 A JP8928898 A JP 8928898A JP H11264807 A JPH11264807 A JP H11264807A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 支持管内に立てた状態で載置される試料の姿
勢の安定性を高め、正確な測定が容易に行なえる熱分析
装置を提供する。 【解決手段】 支持管１内に立てた状態で載置される薄
板試料Ｂの端部に検出棒を接触させ、この検出棒により
試料Ｂの温度特性を測定する熱分析装置である。支持管
１内に試料ガイド１０を配置する。この試料ガイド１０
は、試料ガイド本体１１に試料Ｂが差込まれて支持され
る差込み支持部１２，１３を備え、その差込み支持部１
２，１３は試料Ｂが倒れないようにその試料Ｂの側面を
支持する。
勢の安定性を高め、正確な測定が容易に行なえる熱分析
装置を提供する。 【解決手段】 支持管１内に立てた状態で載置される薄
板試料Ｂの端部に検出棒を接触させ、この検出棒により
試料Ｂの温度特性を測定する熱分析装置である。支持管
１内に試料ガイド１０を配置する。この試料ガイド１０
は、試料ガイド本体１１に試料Ｂが差込まれて支持され
る差込み支持部１２，１３を備え、その差込み支持部１
２，１３は試料Ｂが倒れないようにその試料Ｂの側面を
支持する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば熱機械分析
などに用いられる熱分析装置に関し、特に、支持管内に
立てた状態で載置される試料の支持構造に工夫を施して
なるものである。
などに用いられる熱分析装置に関し、特に、支持管内に
立てた状態で載置される試料の支持構造に工夫を施して
なるものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の熱分析装置、例えば特開
平８−２６１９６５号公報等に開示されているような試
料の圧縮荷重の測定に用いられる熱機械分析装置におい
ては、図７に示すように、支持管１の周囲を保護管２に
て保護し、この保護管２の周囲に電気炉３を設けるとと
もに、支持管１内の底面上に基準試料Ａと測定試料Ｂと
を載置し、これら基準試料Ａ及び測定試料Ｂの各々の上
端部に検出棒４ａ，４ｂをそれぞれ接触させてなる構成
を有するものがある。
平８−２６１９６５号公報等に開示されているような試
料の圧縮荷重の測定に用いられる熱機械分析装置におい
ては、図７に示すように、支持管１の周囲を保護管２に
て保護し、この保護管２の周囲に電気炉３を設けるとと
もに、支持管１内の底面上に基準試料Ａと測定試料Ｂと
を載置し、これら基準試料Ａ及び測定試料Ｂの各々の上
端部に検出棒４ａ，４ｂをそれぞれ接触させてなる構成
を有するものがある。
【０００３】このような熱機械分析装置では、基準試料
Ａ側の検出棒４ａの上端に分銅５を載置し、その途中を
天秤６によって支持することにより、基準試料Ａに一定
の荷重を付与する。一方、測定試料Ｂ側の検出棒４ｂに
は、差動トランス７と荷重発生器８とを取り付け、これ
ら差動トランス７と荷重発生器８との間の途中を天秤９
によって支持する。この荷重発生器８は、検出棒４ｂの
上端に固定された磁石８ａと、この磁石８ａの周囲に配
置される電磁荷重コイル８ｂとを含んで構成される。電
磁荷重コイル８ｂに電流を流すことにより、検出棒４ｂ
を介して測定試料Ｂに対し所望の荷重を荷重方向Ｘに付
与するようになっている。
Ａ側の検出棒４ａの上端に分銅５を載置し、その途中を
天秤６によって支持することにより、基準試料Ａに一定
の荷重を付与する。一方、測定試料Ｂ側の検出棒４ｂに
は、差動トランス７と荷重発生器８とを取り付け、これ
ら差動トランス７と荷重発生器８との間の途中を天秤９
によって支持する。この荷重発生器８は、検出棒４ｂの
上端に固定された磁石８ａと、この磁石８ａの周囲に配
置される電磁荷重コイル８ｂとを含んで構成される。電
磁荷重コイル８ｂに電流を流すことにより、検出棒４ｂ
を介して測定試料Ｂに対し所望の荷重を荷重方向Ｘに付
与するようになっている。
【０００４】また、差動トランス７は、測定試料Ｂ側の
検出棒４ｂに固定された鉄芯７ａと、この鉄芯７ａの周
囲に配置されるように基準試料Ａ側の検出棒４ａに固定
された検出コイル７ｂとを含んで構成される。この差動
トランス７は、二つの検出棒４ａ，４ｂの変位の差を検
出し、その変位差に基づいて検出棒４ａ，４ｂや支持管
１などの膨張及び収縮を相殺する。そしてその結果、測
定試料Ｂの膨張及び収縮だけを高精度に検出することが
できる。
検出棒４ｂに固定された鉄芯７ａと、この鉄芯７ａの周
囲に配置されるように基準試料Ａ側の検出棒４ａに固定
された検出コイル７ｂとを含んで構成される。この差動
トランス７は、二つの検出棒４ａ，４ｂの変位の差を検
出し、その変位差に基づいて検出棒４ａ，４ｂや支持管
１などの膨張及び収縮を相殺する。そしてその結果、測
定試料Ｂの膨張及び収縮だけを高精度に検出することが
できる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来装置にあっては、特に、測定試料Ｂの厚さが、例
えば３ｍｍ以下の薄板状の形態であると、支持管１内の
底面上に試料を立てた状態で載置する場合に、図８に鎖
線で示すように、測定試料Ｂの姿勢が検出棒４ｂによる
荷重方向Ｘに対して不安定となるために、正確な測定を
行なうことが困難であるという問題があった。
た従来装置にあっては、特に、測定試料Ｂの厚さが、例
えば３ｍｍ以下の薄板状の形態であると、支持管１内の
底面上に試料を立てた状態で載置する場合に、図８に鎖
線で示すように、測定試料Ｂの姿勢が検出棒４ｂによる
荷重方向Ｘに対して不安定となるために、正確な測定を
行なうことが困難であるという問題があった。
【０００６】本発明は、上記した従来の熱分析装置にお
ける問題点に鑑みてなされたものであって、支持管内に
立てた状態で載置される薄板状の試料の姿勢の安定性を
高め、正確な測定を容易に行なうことができるようにし
た熱分析装置を提供することを目的とする。
ける問題点に鑑みてなされたものであって、支持管内に
立てた状態で載置される薄板状の試料の姿勢の安定性を
高め、正確な測定を容易に行なうことができるようにし
た熱分析装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】（１） 上記の目的を達
成するために、本発明に係る熱分析装置は、支持管内に
立てた状態で載置される試料の端部に検出棒を接触さ
せ、この検出棒により前記試料の温度特性を測定する熱
分析装置において、前記支持管内に配置される試料ガイ
ドを有し、この試料ガイドは前記試料が差込まれ更に支
持される差込み支持部を備え、その差込み支持部は試料
が倒れないようにその試料の側面を支持することを特徴
とする。
成するために、本発明に係る熱分析装置は、支持管内に
立てた状態で載置される試料の端部に検出棒を接触さ
せ、この検出棒により前記試料の温度特性を測定する熱
分析装置において、前記支持管内に配置される試料ガイ
ドを有し、この試料ガイドは前記試料が差込まれ更に支
持される差込み支持部を備え、その差込み支持部は試料
が倒れないようにその試料の側面を支持することを特徴
とする。
【０００８】この熱分析装置において、試料は試料ガイ
ドの差込み支持部に支持されて支持管内に立てた状態で
載置される。このようにすれば、試料ガイドの差込み支
持部に試料が倒れないように支持されるために、薄板状
の試料を立てた状態で安定に支持でき、その結果、試料
の姿勢の安定性が高められ、信頼性の高い熱分析測定を
正確に行なうことができる。しかも、差込み支持部が溝
によって形成されているので、その加工が容易に行なえ
る。
ドの差込み支持部に支持されて支持管内に立てた状態で
載置される。このようにすれば、試料ガイドの差込み支
持部に試料が倒れないように支持されるために、薄板状
の試料を立てた状態で安定に支持でき、その結果、試料
の姿勢の安定性が高められ、信頼性の高い熱分析測定を
正確に行なうことができる。しかも、差込み支持部が溝
によって形成されているので、その加工が容易に行なえ
る。
【０００９】（２） 上記構成の熱分析装置において、
差込み支持部として作用する溝は、試料が立つ方向に試
料ガイドを貫通するように設けることができる。こうす
れば、試料の底面が支持管の底面に直接に載ることにな
り、これにより、試料の姿勢が一層安定になる。
差込み支持部として作用する溝は、試料が立つ方向に試
料ガイドを貫通するように設けることができる。こうす
れば、試料の底面が支持管の底面に直接に載ることにな
り、これにより、試料の姿勢が一層安定になる。
【００１０】（３） 上記構成の熱分析装置において、
差込み支持部として作用する溝は、試料ガイド本体の側
方に開放するように設けることが望ましい。こうすれ
ば、試料ガイドの横方向から試料を差込むことができる
ので、検出棒を大きく移動させなくても試料を装着で
き、よって、試料の着脱が容易になる。これにより、試
料の差込み及び取出しの作業性が向上する。
差込み支持部として作用する溝は、試料ガイド本体の側
方に開放するように設けることが望ましい。こうすれ
ば、試料ガイドの横方向から試料を差込むことができる
ので、検出棒を大きく移動させなくても試料を装着で
き、よって、試料の着脱が容易になる。これにより、試
料の差込み及び取出しの作業性が向上する。
【００１１】（４） 上記構成の熱分析装置において、
差込み支持部は試料ガイドの異なる箇所に複数個放射状
に配列することができ、その場合、それらの差込み支持
部の幅は試料の厚さに応じて異ならせることできる。試
料を差込む際には、各差込み支持部の中から適宜のもの
を選択することにより、厚さの異なる複数種類の試料を
１個の試料ガイドによって安定に支持することができ
る。
差込み支持部は試料ガイドの異なる箇所に複数個放射状
に配列することができ、その場合、それらの差込み支持
部の幅は試料の厚さに応じて異ならせることできる。試
料を差込む際には、各差込み支持部の中から適宜のもの
を選択することにより、厚さの異なる複数種類の試料を
１個の試料ガイドによって安定に支持することができ
る。
【００１２】（５） 上記（２）又は（３）記載の熱分
析装置、すなわち差込み支持部を溝によって構成した熱
分析装置において、その溝は試料ガイドの異なる箇所に
複数個設けることができ、その場合、それらの溝の幅は
試料の厚さに応じて異ならせることできる。この実施態
様によっても、厚さの異なる複数種類の試料を１個の試
料ガイドによって安定に支持することができる。
析装置、すなわち差込み支持部を溝によって構成した熱
分析装置において、その溝は試料ガイドの異なる箇所に
複数個設けることができ、その場合、それらの溝の幅は
試料の厚さに応じて異ならせることできる。この実施態
様によっても、厚さの異なる複数種類の試料を１個の試
料ガイドによって安定に支持することができる。
【００１３】（６） 上記（５）の熱分析装置におい
て、複数の溝は試料ガイドに放射状に配列することがで
きる。
て、複数の溝は試料ガイドに放射状に配列することがで
きる。
【００１４】（７） 上記（１）〜（５）記載の熱分析
装置に関しては、試料ガイドを支持管内に着脱可能に配
置することができる。こうすれば、試料毎に支持管を交
換することなく、多種類の試料の測定が行なえる。
装置に関しては、試料ガイドを支持管内に着脱可能に配
置することができる。こうすれば、試料毎に支持管を交
換することなく、多種類の試料の測定が行なえる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図１か
ら図６に示す図面に基づいて詳細に説明する。なお、本
発明の実施形態において、図７及び図８に示す従来の熱
分析装置と構成が重複する部分は同一符号を用いて説明
する。
ら図６に示す図面に基づいて詳細に説明する。なお、本
発明の実施形態において、図７及び図８に示す従来の熱
分析装置と構成が重複する部分は同一符号を用いて説明
する。
【００１６】図１及び図２は、本発明に係る熱分析装置
の一実施形態の主要部である試料ガイド及びその近傍を
示している。また、試料ガイド以外の熱分析装置は、図
７に示した構成を用いるものとして、それについての説
明は省略する。ここに示す試料ガイド１０は、測定温度
範囲や測定雰囲気、試料との反応等を考慮した上で適宜
の材料によって形成され、例えば石英（ＳｉＯ2）、ア
ルミナ（Ａｌ2Ｏ3）、アルミニウム（Ａｌ）あるいは真
鍮などによって形成される。また、試料ガイド１０の本
体１１は円筒状に形成される。
の一実施形態の主要部である試料ガイド及びその近傍を
示している。また、試料ガイド以外の熱分析装置は、図
７に示した構成を用いるものとして、それについての説
明は省略する。ここに示す試料ガイド１０は、測定温度
範囲や測定雰囲気、試料との反応等を考慮した上で適宜
の材料によって形成され、例えば石英（ＳｉＯ2）、ア
ルミナ（Ａｌ2Ｏ3）、アルミニウム（Ａｌ）あるいは真
鍮などによって形成される。また、試料ガイド１０の本
体１１は円筒状に形成される。
【００１７】この本体１１には、差込み支持部として作
用する一対の割溝１２，１３が切欠き加工によって形成
されている。これら割溝１２，１３は、試料、例えば薄
板状の測定試料Ｂが立てた状態で倒れないようにその試
料の側面を支持して差込まれるものであり、検出棒４ｂ
による荷重方向Ｘ、すなわち試料が立つ方向（本実施形
態では上下方向）Ｙに沿って形成されている。これらの
割溝１２，１３は、測定試料Ｂの厚さｔに応じた一定の
幅ｗを有し、図２に示すように、前記測定試料Ｂを立て
た状態で差し込んだ際、それらの間の隙間ａが約０．２
〜０．３ｍｍ程度に維持されるような幅に形成されてい
る。
用する一対の割溝１２，１３が切欠き加工によって形成
されている。これら割溝１２，１３は、試料、例えば薄
板状の測定試料Ｂが立てた状態で倒れないようにその試
料の側面を支持して差込まれるものであり、検出棒４ｂ
による荷重方向Ｘ、すなわち試料が立つ方向（本実施形
態では上下方向）Ｙに沿って形成されている。これらの
割溝１２，１３は、測定試料Ｂの厚さｔに応じた一定の
幅ｗを有し、図２に示すように、前記測定試料Ｂを立て
た状態で差し込んだ際、それらの間の隙間ａが約０．２
〜０．３ｍｍ程度に維持されるような幅に形成されてい
る。
【００１８】試料ガイド１０は、図７に示す熱分析装置
における支持管１内の底面上に着脱自在に配置される。
そして、差込み支持部である割溝１２，１３に測定試料
Ｂを上方または側方から差込み、これによって、測定試
料Ｂが支持管１内の底面上に立てた状態で倒れないよう
に位置決めする。こうして、薄板状の試料を立てた状態
で安定に支持でき、その結果、信頼性の高い熱分析測定
を正確に行なうことができる。その上、割溝１２，１３
は、試料ガイド本体１１の側方に開放しているので、検
出棒４ｂを大きく移動させることなく、測定試料Ｂの着
脱が容易になり、これにより、測定試料Ｂの差込み及び
取出しの作業性を高めることができる。
における支持管１内の底面上に着脱自在に配置される。
そして、差込み支持部である割溝１２，１３に測定試料
Ｂを上方または側方から差込み、これによって、測定試
料Ｂが支持管１内の底面上に立てた状態で倒れないよう
に位置決めする。こうして、薄板状の試料を立てた状態
で安定に支持でき、その結果、信頼性の高い熱分析測定
を正確に行なうことができる。その上、割溝１２，１３
は、試料ガイド本体１１の側方に開放しているので、検
出棒４ｂを大きく移動させることなく、測定試料Ｂの着
脱が容易になり、これにより、測定試料Ｂの差込み及び
取出しの作業性を高めることができる。
【００１９】図３は本発明に係る熱分析装置に用いられ
る試料ガイドの第２の実施形態を示している。ここに示
す試料ガイド２０は、柱状体である本体２１を有してお
り、この本体２１に差込み支持部としての割溝２２が、
試料を立てる方向Ｙに形成される。この形成の仕方は、
切削加工、その他の機械加工や樹脂成形等といった任意
の方法を採用できるため、その加工が容易に行なえる。
この場合も、割溝２２の幅ｗは、測定試料Ｂの厚さｔに
応じた一定の幅に形成され、その上、側方に開放してい
るので、検出棒４ｂを大きく移動させることなく、測定
試料Ｂの着脱が容易になり、これにより、測定試料Ｂの
差込み及び取出しの作業性を高める。
る試料ガイドの第２の実施形態を示している。ここに示
す試料ガイド２０は、柱状体である本体２１を有してお
り、この本体２１に差込み支持部としての割溝２２が、
試料を立てる方向Ｙに形成される。この形成の仕方は、
切削加工、その他の機械加工や樹脂成形等といった任意
の方法を採用できるため、その加工が容易に行なえる。
この場合も、割溝２２の幅ｗは、測定試料Ｂの厚さｔに
応じた一定の幅に形成され、その上、側方に開放してい
るので、検出棒４ｂを大きく移動させることなく、測定
試料Ｂの着脱が容易になり、これにより、測定試料Ｂの
差込み及び取出しの作業性を高める。
【００２０】図４は本発明に係る熱分析装置に用いられ
る試料ガイドの第３の実施形態を示している。ここに示
した試料ガイド３０は、上記した第２の実施形態と同様
に、柱状体からなる本体３１に差込み支持部としての貫
通溝３２が、試料を立てる方向Ｙに貫通して形成され
る。この形成の仕方も、切削加工、その他の機械加工や
樹脂成形等といった任意の方法を採用できるため、その
加工が容易に行なえる。この場合も、前記貫通溝３２の
幅ｗは、測定試料Ｂの厚さｔに応じた一定の幅に形成さ
れ、これにより、測定試料Ｂは、上方から差込みまたは
取出し可能になっている。
る試料ガイドの第３の実施形態を示している。ここに示
した試料ガイド３０は、上記した第２の実施形態と同様
に、柱状体からなる本体３１に差込み支持部としての貫
通溝３２が、試料を立てる方向Ｙに貫通して形成され
る。この形成の仕方も、切削加工、その他の機械加工や
樹脂成形等といった任意の方法を採用できるため、その
加工が容易に行なえる。この場合も、前記貫通溝３２の
幅ｗは、測定試料Ｂの厚さｔに応じた一定の幅に形成さ
れ、これにより、測定試料Ｂは、上方から差込みまたは
取出し可能になっている。
【００２１】図１及び図３に示した実施形態では、差込
み支持部としての割溝１２，１３及び２２が試料ガイド
本体１１，２１の途中位置で終わっているが、図４に示
す実施形態では、貫通溝３２が試料ガイド本体３１を上
下に貫通している。図１及び図３に示した実施形態にお
ける割溝１２，１３及び２２は、加工の関係上、その底
面の隅部にＲ形状が残り、このＲ形状の存在により、各
々の割溝１２，１３及び２２に差し込まれた測定試料Ｂ
が不安定になることが考えられる。これに対して、図４
に示す実施形態における貫通溝３２によれば、測定試料
Ｂの底面が支持管１の底面に直接に載ることになるの
で、測定試料Ｂの姿勢が一層安定になる。
み支持部としての割溝１２，１３及び２２が試料ガイド
本体１１，２１の途中位置で終わっているが、図４に示
す実施形態では、貫通溝３２が試料ガイド本体３１を上
下に貫通している。図１及び図３に示した実施形態にお
ける割溝１２，１３及び２２は、加工の関係上、その底
面の隅部にＲ形状が残り、このＲ形状の存在により、各
々の割溝１２，１３及び２２に差し込まれた測定試料Ｂ
が不安定になることが考えられる。これに対して、図４
に示す実施形態における貫通溝３２によれば、測定試料
Ｂの底面が支持管１の底面に直接に載ることになるの
で、測定試料Ｂの姿勢が一層安定になる。
【００２２】図５は本発明に係る熱分析装置に用いられ
る試料ガイドの第４の実施形態を示している。ここに示
す試料ガイド４０は、本体４１を上下に貫通する差込み
支持部としての貫通溝４２を有し、この貫通溝４２は、
本体４１の側方に形成した開放部４２ａによって外部へ
開放している。
る試料ガイドの第４の実施形態を示している。ここに示
す試料ガイド４０は、本体４１を上下に貫通する差込み
支持部としての貫通溝４２を有し、この貫通溝４２は、
本体４１の側方に形成した開放部４２ａによって外部へ
開放している。
【００２３】この第４の実施形態によれば、貫通溝４２
が試料ガイド本体４１を貫通するので、図４に示した実
施形態の場合と同様にして測定試料Ｂを安定に支持でき
る。その上、貫通溝４２は、側方に開放しているので、
測定試料Ｂの着脱が容易になり、しかも、検出棒４ｂを
大きく移動させることなく、測定試料Ｂの差込み及び取
出しの作業性を高める。
が試料ガイド本体４１を貫通するので、図４に示した実
施形態の場合と同様にして測定試料Ｂを安定に支持でき
る。その上、貫通溝４２は、側方に開放しているので、
測定試料Ｂの着脱が容易になり、しかも、検出棒４ｂを
大きく移動させることなく、測定試料Ｂの差込み及び取
出しの作業性を高める。
【００２４】図６は本発明に係る熱分析装置に用いられ
る試料ガイドの第５の実施形態を示している。ここに示
す試料ガイド５０は、本体５１の異なる箇所に差込み支
持部として放射状に配列される複数個（本実施形態の場
合は４個）の貫通溝５２，５３，５４，５５を有する。
これらの貫通溝５２〜５５の個々は、図５に示した実施
形態の場合と同様にして、試料ガイド本体５１を貫通
し、さらにそれらの側方に形成した開放部５２ａ，５３
ａ，５４ａ，５５ａによって外部へ開放している。
る試料ガイドの第５の実施形態を示している。ここに示
す試料ガイド５０は、本体５１の異なる箇所に差込み支
持部として放射状に配列される複数個（本実施形態の場
合は４個）の貫通溝５２，５３，５４，５５を有する。
これらの貫通溝５２〜５５の個々は、図５に示した実施
形態の場合と同様にして、試料ガイド本体５１を貫通
し、さらにそれらの側方に形成した開放部５２ａ，５３
ａ，５４ａ，５５ａによって外部へ開放している。
【００２５】この第５の実施形態では、貫通溝５２〜５
５の各溝幅ｗ１〜ｗ４が互いに異なった寸法に形成され
ている。従って、本実施形態によれば、測定試料Ｂを差
込む際には、各貫通溝５２〜５５の中から適宜のものを
選択することにより、厚さの異なる複数種類の測定試料
Ｂを１個の試料ガイド５０によって安定に支持すること
ができる。その上、各貫通溝５２〜５５は、側方に開放
しているので、測定試料Ｂの着脱が容易になり、しか
も、検出棒４ｂを大きく移動させることなく、測定試料
Ｂの差込み及び取出しの作業性を高める。
５の各溝幅ｗ１〜ｗ４が互いに異なった寸法に形成され
ている。従って、本実施形態によれば、測定試料Ｂを差
込む際には、各貫通溝５２〜５５の中から適宜のものを
選択することにより、厚さの異なる複数種類の測定試料
Ｂを１個の試料ガイド５０によって安定に支持すること
ができる。その上、各貫通溝５２〜５５は、側方に開放
しているので、測定試料Ｂの着脱が容易になり、しか
も、検出棒４ｂを大きく移動させることなく、測定試料
Ｂの差込み及び取出しの作業性を高める。
【００２６】なお、図１から図６に示した試料ガイド１
０，２０，３０，４０，５０は、支持管１内に着脱可能
に配置される。こうすれば、試料毎に支持管１を交換す
る必要が無くなるので、多種類の試料の測定が行なえ
る。
０，２０，３０，４０，５０は、支持管１内に着脱可能
に配置される。こうすれば、試料毎に支持管１を交換す
る必要が無くなるので、多種類の試料の測定が行なえ
る。
【００２７】以上、好ましい実施形態を挙げて本発明を
説明したが、本発明はその実施形態に限定されるもので
なく、請求の範囲に記載した発明の範囲内で種々に改変
できる。例えば、上記した本発明に係る熱分析装置の各
実施形態においては、対象とする試料として測定試料Ｂ
を例にして説明したが、基準試料Ａにも適用することが
可能である。また、試料ガイドは、支持管１内の底面上
に着脱自在に載置されるように別体に形成したが、支持
管１の内底面の試料Ａ若しくはＢが載置される部位に、
試料Ａ若しくはＢが差込み保持可能な凹溝を形成し、こ
の凹溝を試料ガイド本体の差込み支持部として一体に形
成することも可能である。さらに、支持管１の内側壁面
に試料ガイド本体を一体または着脱自在に突出させて設
け、この試料ガイド本体に試料Ａ若しくはＢの差込み支
持部としての溝を形成しても良い。
説明したが、本発明はその実施形態に限定されるもので
なく、請求の範囲に記載した発明の範囲内で種々に改変
できる。例えば、上記した本発明に係る熱分析装置の各
実施形態においては、対象とする試料として測定試料Ｂ
を例にして説明したが、基準試料Ａにも適用することが
可能である。また、試料ガイドは、支持管１内の底面上
に着脱自在に載置されるように別体に形成したが、支持
管１の内底面の試料Ａ若しくはＢが載置される部位に、
試料Ａ若しくはＢが差込み保持可能な凹溝を形成し、こ
の凹溝を試料ガイド本体の差込み支持部として一体に形
成することも可能である。さらに、支持管１の内側壁面
に試料ガイド本体を一体または着脱自在に突出させて設
け、この試料ガイド本体に試料Ａ若しくはＢの差込み支
持部としての溝を形成しても良い。
【００２８】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
に係る熱分析装置によれば、支持管内に試料が試料ガイ
ドの差込み支持部に差込み保持されて立てた状態で載置
されることから、試料の姿勢の安定性を高めることがで
き、これによって、正確な測定を容易に行なうことがで
きるという優れた効果を奏する。
に係る熱分析装置によれば、支持管内に試料が試料ガイ
ドの差込み支持部に差込み保持されて立てた状態で載置
されることから、試料の姿勢の安定性を高めることがで
き、これによって、正確な測定を容易に行なうことがで
きるという優れた効果を奏する。
【図１】本発明に係る熱分析装置に用いられる試料ガイ
ドの第１の実施形態を示す斜視図である。
ドの第１の実施形態を示す斜視図である。
【図２】図１の試料ガイドに試料を差し込んだ状態を示
す斜視図である。
す斜視図である。
【図３】本発明に係る熱分析装置に用いられる試料ガイ
ドの第２の実施形態を示す斜視図である。
ドの第２の実施形態を示す斜視図である。
【図４】本発明に係る熱分析装置に用いられる試料ガイ
ドの第３の実施形態を示す斜視図である。
ドの第３の実施形態を示す斜視図である。
【図５】本発明に係る熱分析装置に用いられる試料ガイ
ドの第４の実施形態を示す斜視図である。
ドの第４の実施形態を示す斜視図である。
【図６】本発明に係る熱分析装置に用いられる試料ガイ
ドの第５の実施形態を示す斜視図である。
ドの第５の実施形態を示す斜視図である。
【図７】従来の熱分析装置の全体構成の一例を示す正面
断面である。
断面である。
【図８】図７に示す熱分析装置の要部を示す斜視図であ
ある。
ある。
１ 支持管 ４ｂ 検出棒 １０、２０，３０，４０，５０ 試料ガイド １１，２１，３１，４１，５１ 本体 １２，１３、２２，３２，４２ 溝（差込み支持部） Ｂ 試料（測定試料） Ｙ 試料が立つ方向
Claims (7)
- 【請求項１】 支持管内に立てた状態で載置される試料
の端部に検出棒を接触させ、この検出棒により前記試料
の温度特性を測定する熱分析装置において、前記支持管
内に配置される試料ガイドを有し、この試料ガイドは前
記試料が差込まれ更に支持される差込み支持部を備え、
その差込み支持部は試料が倒れないようにその試料の側
面を支持することを特徴とする熱分析装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の熱分析装置において、前
記差込み支持部は前記試料を差込むことのできる溝によ
って形成され、その溝は前記試料が立つ方向にその試料
ガイドを貫通することを特徴とする熱分析装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の熱分析装置において、前
記溝は前記試料ガイドの側方へ開放することを特徴とす
る熱分析装置。 - 【請求項４】 請求項１記載の熱分析装置において、前
記差込み支持部は前記試料ガイドの異なる箇所に複数個
設けられ、それらの差込み支持部の幅は前記試料の厚さ
に応じてそれぞれ異なることを特徴とする熱分析装置。 - 【請求項５】 請求項２又は請求項３記載の熱分析装置
において、前記溝は前記試料ガイドの異なる箇所に複数
個設けられ、それらの溝の幅は前記試料の厚さに応じて
それぞれ異なることを特徴とする熱分析装置。 - 【請求項６】 請求項５記載の熱分析装置において、前
記複数の溝は前記試料ガイドに放射状に配列されること
を特徴とする熱分析装置。 - 【請求項７】 請求項１から請求項６のうちの少なくと
もいずれか１つに記載の熱分析装置において、前記試料
ガイドは前記支持管に着脱自在に配置されることを特徴
とする熱分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8928898A JPH11264807A (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 熱分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8928898A JPH11264807A (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 熱分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11264807A true JPH11264807A (ja) | 1999-09-28 |
| JPH11264807A5 JPH11264807A5 (ja) | 2005-03-17 |
Family
ID=13966520
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8928898A Pending JPH11264807A (ja) | 1998-03-18 | 1998-03-18 | 熱分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11264807A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009092625A (ja) * | 2007-10-12 | 2009-04-30 | Takeshi Konno | フィルムの帯電防止性評価装置 |
| CN107144595A (zh) * | 2017-06-06 | 2017-09-08 | 南昌大学 | 热电偶和取样杯可重复利用的铸造铝合金热分析取样装置 |
| KR20200073818A (ko) * | 2018-12-14 | 2020-06-24 | 주식회사 포스코 | 시편측정장치 및 시편측정방법 |
-
1998
- 1998-03-18 JP JP8928898A patent/JPH11264807A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009092625A (ja) * | 2007-10-12 | 2009-04-30 | Takeshi Konno | フィルムの帯電防止性評価装置 |
| CN107144595A (zh) * | 2017-06-06 | 2017-09-08 | 南昌大学 | 热电偶和取样杯可重复利用的铸造铝合金热分析取样装置 |
| CN107144595B (zh) * | 2017-06-06 | 2023-09-01 | 南昌大学 | 热电偶和取样杯可重复利用的铸造铝合金热分析取样装置 |
| KR20200073818A (ko) * | 2018-12-14 | 2020-06-24 | 주식회사 포스코 | 시편측정장치 및 시편측정방법 |
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|---|---|---|---|
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