JPH11265302A - 自動試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】機器の自動試験を行う際の試験時間短縮により
保守作業の効率化を図る。 【解決手段】試験実行時、最初に最も甘い条件で試験を
実行することにより、試験実行時間を短縮すると共に、
異常検出時には自動的に試験深度を変えることで異常箇
所の特定と異常内容の把握を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プログラムに従っ
て各項目の試験または診断を順に実行する装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来の自動試験装置に関しては、例えば
特開平4−70932号公報に記載された方法がある。この方
法では常に同じプログラムにより同じ試験項目を順番に
実行するものである。

【０００３】さらに、記憶されている異常項目に関する
試験項目を先に実行する機能を持ち、異常箇所の修理結
果を最初に得ることが可能となっている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記した従来の技術に
おいては、各項目の試験内容が常に一定の内容・深度で
実行されるため、全ての項目の実行には常に同じ時間が
必要となる。これは、試験基準値の中で一番厳しい条件
から順番に条件を甘くする手法が用いられているためで
ある。

【０００５】また、異常があった場合には、その異常項
目の原因究明のための詳細調査を行う必要があるが、そ
の詳細調査を自動的に実行する手段は準備されていな
い。また、各項目の試験内容を異常時の原因究明が可能
な内容迄詳細なものとした場合には、その分試験時間が
長くなる問題がある。

【０００６】本発明の目的は、被試験機器の良否の判断
が最短時間で得られ、かつ異常検出時には自動的に詳細
試験を実行することにより原因究明に寄与する自動試験
装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、請求項１記載の発明では、各試験項目を良否判定の
みを目的とし、最短時間で実行可能な内容に設定するこ
とを特徴としている。請求項２記載の発明では、前項の
試験において否と判定された項目について自動的に試験
深度を深める機能を持たせることを特徴としている。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、本発明による自動試験装置
の一実施例を図面により詳細に説明する。

【０００９】図１に、本発明を鉄道車両用自動列車制御
装置の自動試験装置に適用した場合の構成図を示す。

【００１０】図１の記憶素子１０には試験制御プログラ
ムが格納されている。このプログラムは、ＣＰＵ１１に
読み出され、そのメモリ１２へロードされる。そして、
ＣＰＵ１１には通信Ｉ／Ｆ１３・伝送路１４を介して試
験対象機器１５（本例では、自動列車制御装置）が接続
されており、ＣＰＵ２２による試験制御プログラムの実
行で機器１５の保守試験が行われている。

【００１１】図２においては試験制御プログラムの構成
が説明されており、そのデータ領域には、試験項目テー
ブル２０，項目情報テーブル２１が用意される。同図の
試験項目テーブル２０には、全ての試験項目とその試験
判定値が格納されており、それらの実行順序は、項目情
報テーブル２１の内容で示される。

【００１２】図３においては、本実施例の作用が流れ図
で説明されており、試験制御プログラムがロードされる
（ステップ１００）と、項目情報テーブル２１が参照
（ステップ１０１）され、試験が実行される。試験実行
時には、正常と判定する基準値の中で一番甘い値を用
い、正常と判定された場合（ステップ１０２でＹＥＳ）
には、次の項目の試験が実行される。

【００１３】一方、異常な試験結果が得られた場合（ス
テップ１０２でＮＯ）には、試験項目テーブル２０に格
納された異常調査手段を用い、異常箇所の特定動作（ス
テップ１０３）を行う。

【００１４】各試験項目の試験結果は記憶素子１０に書
き込まれ、この記憶素子１０を経由して保守員は試験結
果を得ることができる。

【００１５】異常説明したように、本実施例によれば、
機器が正常であれば試験時間を最短とすることができ、
また併せて異常があれば自動的にその異常内容と異常箇
所を特定することが可能となる。

【００１６】

【発明の効果】本発明によれば機器の良否を判定する試
験時間の短縮ができ、また異常検出時に自動的に異常内
容の特定動作を実行することで機器の保守点検の効率化
を図ることが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例である自動試験装置の構成を説
明する図。

【図２】本発明の試験制御プログラムの構成を説明する
図。

【図３】本発明の実施例の作用を説明するフローチャー
ト。

【符号の説明】

１０…記憶素子、１１…ＣＰＵ、１２…メモリ、１３…
通信Ｉ／Ｆ、１４…伝送路、１５…試験対象機器。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】各項目の試験を順に実行する項目試験実行
   手段において、最初に基準値の中の最も甘い条件で試験
   を実行し、被試験機器の良否を出力することを特徴とす
   る自動試験装置。
2. 【請求項２】前項試験装置において、試験結果が否と判
   定された場合には試験深度を上げることにより詳細な試
   験を自動的に行うことを特徴とする請求項１記載の自動
   試験装置。