JPH11271230A - 被検査対象物の欠陥部検出方法 - Google Patents
被検査対象物の欠陥部検出方法Info
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- JPH11271230A JPH11271230A JP7206398A JP7206398A JPH11271230A JP H11271230 A JPH11271230 A JP H11271230A JP 7206398 A JP7206398 A JP 7206398A JP 7206398 A JP7206398 A JP 7206398A JP H11271230 A JPH11271230 A JP H11271230A
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 41
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 21
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 被検査対象物の微小な欠陥部を短時間で容易
に識別する。 【解決手段】 光源１により被検査対象物に多方向から
光を照射して被検査対象物をカメラ４により撮影し、撮
影された画像から暗部を抽出して、暗部となっている被
検査対象物の欠陥部２を識別し且つ欠陥部２の位置を特
定する。
に識別する。 【解決手段】 光源１により被検査対象物に多方向から
光を照射して被検査対象物をカメラ４により撮影し、撮
影された画像から暗部を抽出して、暗部となっている被
検査対象物の欠陥部２を識別し且つ欠陥部２の位置を特
定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検査対象物の表
面に生じた欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を特定する
被検査対象物の欠陥部検出方法に関するものである。
面に生じた欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を特定する
被検査対象物の欠陥部検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】タンク等を建設もしくは補修した際に
は、溶接部に割れや腐食の欠陥部が存在しないよう点検
する必要がある。
は、溶接部に割れや腐食の欠陥部が存在しないよう点検
する必要がある。
【０００３】従来、被検査対象物の溶接部に欠陥部が存
在しないよう点検する方法は、多数知られているが、そ
の代表的なものを例示すれば次の通りである。
在しないよう点検する方法は、多数知られているが、そ
の代表的なものを例示すれば次の通りである。
【０００４】たとえば、カラーテストと呼ばれる浸透探
傷の方法は、カラースプレーを用いて被検査対象物であ
る溶接部にカラー塗料を噴霧して表面に塗布すると共に
欠陥部の割れや腐食に浸透させ、その後、溶接部の表面
に塗布されたカラー塗料を拭き取ると、欠陥部に浸透し
たカラー塗料のみが残留するので、目視により欠陥部を
識別して欠陥部の位置を特定することができるものであ
る。
傷の方法は、カラースプレーを用いて被検査対象物であ
る溶接部にカラー塗料を噴霧して表面に塗布すると共に
欠陥部の割れや腐食に浸透させ、その後、溶接部の表面
に塗布されたカラー塗料を拭き取ると、欠陥部に浸透し
たカラー塗料のみが残留するので、目視により欠陥部を
識別して欠陥部の位置を特定することができるものであ
る。
【０００５】また、カメラを用いる方法は、検査対象物
の溶接部を撮影して、写真により大きな欠陥部を識別し
て欠陥部の位置を特定するものであり、高倍率のカメラ
を用いる方法の場合には、検査対象物の溶接部を拡大し
て撮影し、溶接部の拡大された写真により微小な欠陥部
を識別して欠陥部の位置を特定するものである。
の溶接部を撮影して、写真により大きな欠陥部を識別し
て欠陥部の位置を特定するものであり、高倍率のカメラ
を用いる方法の場合には、検査対象物の溶接部を拡大し
て撮影し、溶接部の拡大された写真により微小な欠陥部
を識別して欠陥部の位置を特定するものである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
浸透探傷の方法では、カラー塗料の塗布及び拭き取りの
作業が必要であるため多くの無駄と手間がかかると共
に、被検査対象物の欠陥部を目視で識別するため多くの
人件費を要するという問題があった。また、カメラを用
いる方法では、被検査対象物の大きな欠陥部しか識別す
ることができないため、微小な欠陥部を特定することが
できなかった。さらに高倍率のカメラを用いる方法にお
いては、ごく限られた狭い範囲しか検査を行うことがで
きないため、被検査対象物の全体の検査に多くの時間を
要するという問題があった。
浸透探傷の方法では、カラー塗料の塗布及び拭き取りの
作業が必要であるため多くの無駄と手間がかかると共
に、被検査対象物の欠陥部を目視で識別するため多くの
人件費を要するという問題があった。また、カメラを用
いる方法では、被検査対象物の大きな欠陥部しか識別す
ることができないため、微小な欠陥部を特定することが
できなかった。さらに高倍率のカメラを用いる方法にお
いては、ごく限られた狭い範囲しか検査を行うことがで
きないため、被検査対象物の全体の検査に多くの時間を
要するという問題があった。
【０００７】本発明は上述の実情に鑑み、短時間で容易
に、被検査対象物の表面に生じた微小な欠陥部を識別し
且つ欠陥部の位置を特定する被検査対象物の欠陥部検出
方法を提供することを目的としたものである。
に、被検査対象物の表面に生じた微小な欠陥部を識別し
且つ欠陥部の位置を特定する被検査対象物の欠陥部検出
方法を提供することを目的としたものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の被検査対象物の
欠陥部検出方法は、光源により被検査対象物に多方向か
ら光を照射して前記被検査対象物をカメラにより撮影
し、撮影された画像から暗部を抽出して、暗部となって
いる被検査対象物の欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を
特定することを特徴とする被検査対象物の欠陥部検出方
法、に係るものである。
欠陥部検出方法は、光源により被検査対象物に多方向か
ら光を照射して前記被検査対象物をカメラにより撮影
し、撮影された画像から暗部を抽出して、暗部となって
いる被検査対象物の欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を
特定することを特徴とする被検査対象物の欠陥部検出方
法、に係るものである。
【０００９】本発明は、多方向を全周囲方向にしてもよ
い。
い。
【００１０】このようにすれば、被検査対象物を直接目
視する必要がなく、また被検査対象物を広範囲に検査で
きるので、短時間で容易に、被検査対象物の表面に生じ
た微小な欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を特定でき
る。
視する必要がなく、また被検査対象物を広範囲に検査で
きるので、短時間で容易に、被検査対象物の表面に生じ
た微小な欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を特定でき
る。
【００１１】光が照射される方向である多方向を全周囲
方向にした場合には、被検査対象物を広範囲で確実に検
出できるので、短時間で容易に、被検査対象物の表面に
生じた微小な欠陥部を正確に識別し且つ欠陥部の位置を
確実に特定できる。
方向にした場合には、被検査対象物を広範囲で確実に検
出できるので、短時間で容易に、被検査対象物の表面に
生じた微小な欠陥部を正確に識別し且つ欠陥部の位置を
確実に特定できる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図示
例と共に説明する。
例と共に説明する。
【００１３】図１〜図４は、本発明を実施する形態の第
一の例と光源により光を照射された被検査対象物の処理
画像を示すもので、本形態例では、環状の光源１を用い
る被検査対象物の欠陥部検出方法を示している。
一の例と光源により光を照射された被検査対象物の処理
画像を示すもので、本形態例では、環状の光源１を用い
る被検査対象物の欠陥部検出方法を示している。
【００１４】本形態例では、図２の割れや腐食等の欠陥
部２を含む被検査対象物の溶接部３の上方に、図１に示
すごとく、環状の光源１が、上側水平面から見て、一定
範囲の溶接部３を取り囲むよう配置されている。また、
環状の光源１は、高輝度の光を照射するハロゲンランプ
であり、照射方向が溶接部３に向くよう設定されてい
る。
部２を含む被検査対象物の溶接部３の上方に、図１に示
すごとく、環状の光源１が、上側水平面から見て、一定
範囲の溶接部３を取り囲むよう配置されている。また、
環状の光源１は、高輝度の光を照射するハロゲンランプ
であり、照射方向が溶接部３に向くよう設定されてい
る。
【００１５】被検査対象物の溶接部３の上方で環状の光
源１の中心空間部には、カメラ４が配置されており、カ
メラ４には、ケーブル５を介して画像処理装置６が接続
されている。
源１の中心空間部には、カメラ４が配置されており、カ
メラ４には、ケーブル５を介して画像処理装置６が接続
されている。
【００１６】以下、本発明の実施の形態の第一の例の作
用を説明する。
用を説明する。
【００１７】被検査対象物の溶接部３に対して、環状の
光源１から高輝度の光を照射すると、図１に示すごとく
欠陥部２に伴う陰影を作りだす。
光源１から高輝度の光を照射すると、図１に示すごとく
欠陥部２に伴う陰影を作りだす。
【００１８】ここで、図３に示すごとく、被検査対象物
の一方（図３では左側）のみから光を照射した場合に
は、溶接部３の凹凸及び欠陥部２に伴う陰影を作りだす
が、本発明のごとく被検査対象物に対して一定間隔を有
し被検査対象物の全周囲方向から光を照射すると、溶接
部３の凹凸の陰影が発生せず欠陥部２のみの陰影を作り
出す。又、光による陰影を利用するため、欠陥部２が微
小なものであっても確実に陰影を作り出す。
の一方（図３では左側）のみから光を照射した場合に
は、溶接部３の凹凸及び欠陥部２に伴う陰影を作りだす
が、本発明のごとく被検査対象物に対して一定間隔を有
し被検査対象物の全周囲方向から光を照射すると、溶接
部３の凹凸の陰影が発生せず欠陥部２のみの陰影を作り
出す。又、光による陰影を利用するため、欠陥部２が微
小なものであっても確実に陰影を作り出す。
【００１９】続いて、環状の光源１により作り出された
陰影は、カメラ４により撮影されて画像となり、予め一
定の陰影濃度で設定されたしきい値により、画像中の濃
度の低い陰影部が取り除かれて画像は白黒化すなわち２
値化されて、図４の実線に示す単純化したものになる。
陰影は、カメラ４により撮影されて画像となり、予め一
定の陰影濃度で設定されたしきい値により、画像中の濃
度の低い陰影部が取り除かれて画像は白黒化すなわち２
値化されて、図４の実線に示す単純化したものになる。
【００２０】白黒化された画像は、カメラ４からケーブ
ル５を介して画像処理装置６にデータとして送られ、画
像処理装置６により画像の暗部が自動的に判別抽出さ
れ、光がどの様な入射角であっても欠陥部２は光を散乱
して常に暗部となることから、被検査対象物の表面に生
じた微小な欠陥部２を識別し且つ欠陥部２の位置を特定
できる。
ル５を介して画像処理装置６にデータとして送られ、画
像処理装置６により画像の暗部が自動的に判別抽出さ
れ、光がどの様な入射角であっても欠陥部２は光を散乱
して常に暗部となることから、被検査対象物の表面に生
じた微小な欠陥部２を識別し且つ欠陥部２の位置を特定
できる。
【００２１】この作業を行った後には、被検査対象物の
溶接部３に沿って環状の光源１及びカメラ４を一体的に
次の検査範囲へ移動させ、上記作業を繰り返すことによ
って被検査対象物の溶接部３全体を検査する。
溶接部３に沿って環状の光源１及びカメラ４を一体的に
次の検査範囲へ移動させ、上記作業を繰り返すことによ
って被検査対象物の溶接部３全体を検査する。
【００２２】溶接部３全体において欠陥部２が識別され
ると共に位置の特定がなされた後には、欠陥部２を再度
溶接により補修して、溶接部３全体に欠陥部２が存在し
ないようにする。
ると共に位置の特定がなされた後には、欠陥部２を再度
溶接により補修して、溶接部３全体に欠陥部２が存在し
ないようにする。
【００２３】このため、被検査対象物を、高倍率のカメ
ラを用いた場合のごとく狭い範囲でなく、広範囲で確実
に検査できるので、短時間で容易に、被検査対象物の表
面に生じた微小な欠陥部２を正確に識別し且つ欠陥部２
の位置を確実に特定できる。
ラを用いた場合のごとく狭い範囲でなく、広範囲で確実
に検査できるので、短時間で容易に、被検査対象物の表
面に生じた微小な欠陥部２を正確に識別し且つ欠陥部２
の位置を確実に特定できる。
【００２４】図５は、本発明の実施の形態の第二の例を
示しており、環状の光源を複数の光源７にしたものであ
る。カメラ４、ケーブル５、画像処理装置６は、図１に
示すものと同じである。
示しており、環状の光源を複数の光源７にしたものであ
る。カメラ４、ケーブル５、画像処理装置６は、図１に
示すものと同じである。
【００２５】本形態例では、図５に示すごとく、被検査
対象物の溶接部３の上方に、複数の光源７（図５では６
個）が、上側水平面から見て、溶接部３を取り囲むよう
環状に配置されている。光源７は、それぞれ高輝度の光
を照射するハロゲンランプであり、照射方向が溶接部３
に向くよう設定されている。
対象物の溶接部３の上方に、複数の光源７（図５では６
個）が、上側水平面から見て、溶接部３を取り囲むよう
環状に配置されている。光源７は、それぞれ高輝度の光
を照射するハロゲンランプであり、照射方向が溶接部３
に向くよう設定されている。
【００２６】被検査対象物の溶接部３の上方で環状に配
置された複数の光源７の中心空間部には、本発明の実施
の形態の第一の例と同様にカメラ４が配置されており、
カメラ４には、ケーブル５を介して画像処理装置６が接
続されている。
置された複数の光源７の中心空間部には、本発明の実施
の形態の第一の例と同様にカメラ４が配置されており、
カメラ４には、ケーブル５を介して画像処理装置６が接
続されている。
【００２７】以下、本発明の実施の形態の第二の例の作
用を説明する。
用を説明する。
【００２８】被検査対象物の溶接部３に対して、環状に
配置された複数の光源７から同時に高輝度の光を照射す
ると、図５に示すごとく欠陥部２に伴う陰影を作りだ
す。
配置された複数の光源７から同時に高輝度の光を照射す
ると、図５に示すごとく欠陥部２に伴う陰影を作りだ
す。
【００２９】複数の光源７により作り出された陰影は、
本発明の実施の形態の第一の例と同様に、カメラ４によ
り撮影されて白黒化すなわち２値化された画像となり、
白黒化された画像は、カメラ４からケーブル５を介して
画像処理装置６にデータとして送られ、画像処理装置６
により画像の暗部が自動的に判別抽出され、被検査対象
物の表面に生じた微小な欠陥部２を識別し且つ欠陥部２
の位置を特定できる。
本発明の実施の形態の第一の例と同様に、カメラ４によ
り撮影されて白黒化すなわち２値化された画像となり、
白黒化された画像は、カメラ４からケーブル５を介して
画像処理装置６にデータとして送られ、画像処理装置６
により画像の暗部が自動的に判別抽出され、被検査対象
物の表面に生じた微小な欠陥部２を識別し且つ欠陥部２
の位置を特定できる。
【００３０】この作業を行った後には、被検査対象物の
溶接部３に沿って光源７及びカメラ４を一体的に次の検
査範囲に移動して検査を繰り返し、被検査対象物の溶接
部３全体を検査する。
溶接部３に沿って光源７及びカメラ４を一体的に次の検
査範囲に移動して検査を繰り返し、被検査対象物の溶接
部３全体を検査する。
【００３１】このため、被検査対象物を、高倍率のカメ
ラを用いた場合のごとく狭い範囲でなく、広範囲に検査
できるので、短時間で容易に、被検査対象物の表面に生
じた微小な欠陥部２を識別し且つ欠陥部２の位置を特定
できる。
ラを用いた場合のごとく狭い範囲でなく、広範囲に検査
できるので、短時間で容易に、被検査対象物の表面に生
じた微小な欠陥部２を識別し且つ欠陥部２の位置を特定
できる。
【００３２】なお、本発明の被検査対象物の欠陥部検出
方法は、上述の形態例にのみ限定されるものではなく、
被検査対象物は溶接部３以外に光沢ある金属表面等でも
良いこと、また、被検査対象物が撮影できるのならば、
カメラ４をどのような位置に配置してもよいこと、さら
に、カメラ４と光源１，７を駆動装置に取付けて、被検
査対象物の検査部分に沿ってカメラ４と光源１，７が自
動的に移動するようにしてもよいこと、その他、本発明
の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得る
ことは勿論である。
方法は、上述の形態例にのみ限定されるものではなく、
被検査対象物は溶接部３以外に光沢ある金属表面等でも
良いこと、また、被検査対象物が撮影できるのならば、
カメラ４をどのような位置に配置してもよいこと、さら
に、カメラ４と光源１，７を駆動装置に取付けて、被検
査対象物の検査部分に沿ってカメラ４と光源１，７が自
動的に移動するようにしてもよいこと、その他、本発明
の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得る
ことは勿論である。
【００３３】
【発明の効果】本発明の被検査対象物の欠陥部検出方法
によれば、下記のごとき、種々の優れた効果を奏し得
る。
によれば、下記のごとき、種々の優れた効果を奏し得
る。
【００３４】Ｉ）請求項１、２においては、被検査対象
物を直接目視する必要がなく、また被検査対象物を広範
囲に検査できるので、短時間で容易に、被検査対象物の
表面に生じた微小な欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を
特定できる。
物を直接目視する必要がなく、また被検査対象物を広範
囲に検査できるので、短時間で容易に、被検査対象物の
表面に生じた微小な欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を
特定できる。
【００３５】ＩＩ）請求項２の場合には、被検査対象物
を広範囲で確実に検出できるので、短時間で容易に、被
検査対象物の表面に生じた微小な欠陥部を正確に識別し
且つ欠陥部の位置を確実に特定できる。
を広範囲で確実に検出できるので、短時間で容易に、被
検査対象物の表面に生じた微小な欠陥部を正確に識別し
且つ欠陥部の位置を確実に特定できる。
【図１】本発明の被検査対象物の欠陥部検出方法におい
て環状の光源から被検査対象物に光を照射した第一の例
を示す状態図である。
て環状の光源から被検査対象物に光を照射した第一の例
を示す状態図である。
【図２】被検査対象物である溶接部を目視した平面図で
ある。
ある。
【図３】被検査対象物である溶接部に左方向から光を照
射して生じる陰影を撮影処理した画像図である。
射して生じる陰影を撮影処理した画像図である。
【図４】画像より暗部を抽出した画像図である。
【図５】本発明の被検査対象物の欠陥部検出方法におい
て複数の光源から被検査対象物に光を照射した第二の例
を示す状態図である。
て複数の光源から被検査対象物に光を照射した第二の例
を示す状態図である。
【符号の説明】 １ 環状の光源（光源） ２ 欠陥部 ４ カメラ ７ 光源
Claims (2)
- 【請求項１】 光源により被検査対象物に多方向から光
を照射して前記被検査対象物をカメラにより撮影し、撮
影された画像から暗部を抽出して、暗部となっている被
検査対象物の欠陥部を識別し且つ欠陥部の位置を特定す
ることを特徴とする被検査対象物の欠陥部検出方法。 - 【請求項２】 多方向を全周囲方向にした請求項１に記
載の被検査対象物の欠陥部検出方法 。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7206398A JPH11271230A (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | 被検査対象物の欠陥部検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7206398A JPH11271230A (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | 被検査対象物の欠陥部検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11271230A true JPH11271230A (ja) | 1999-10-05 |
Family
ID=13478573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7206398A Pending JPH11271230A (ja) | 1998-03-20 | 1998-03-20 | 被検査対象物の欠陥部検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11271230A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007170929A (ja) * | 2005-12-20 | 2007-07-05 | Mitsutech Kk | 光沢平面検査装置 |
| CN115046930A (zh) * | 2022-07-06 | 2022-09-13 | 南通智能感知研究院 | 一种应用于线缆检测的划痕识别装置 |
| CN115100166A (zh) * | 2022-07-05 | 2022-09-23 | 苏州盈科电子有限公司 | 焊点缺陷检测方法及装置 |
| CN115791536A (zh) * | 2022-11-08 | 2023-03-14 | 西安奕斯伟材料科技有限公司 | 检查多线切割机的转轴的线槽中的污染颗粒的系统和方法 |
-
1998
- 1998-03-20 JP JP7206398A patent/JPH11271230A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007170929A (ja) * | 2005-12-20 | 2007-07-05 | Mitsutech Kk | 光沢平面検査装置 |
| CN115100166A (zh) * | 2022-07-05 | 2022-09-23 | 苏州盈科电子有限公司 | 焊点缺陷检测方法及装置 |
| CN115046930A (zh) * | 2022-07-06 | 2022-09-13 | 南通智能感知研究院 | 一种应用于线缆检测的划痕识别装置 |
| CN115791536A (zh) * | 2022-11-08 | 2023-03-14 | 西安奕斯伟材料科技有限公司 | 检查多线切割机的转轴的线槽中的污染颗粒的系统和方法 |
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