JPH11271679A - 同調可能な干渉フィルタを備えた光スペクトル・アナライザ - Google Patents

同調可能な干渉フィルタを備えた光スペクトル・アナライザ

Info

Publication number
JPH11271679A
JPH11271679A JP11018074A JP1807499A JPH11271679A JP H11271679 A JPH11271679 A JP H11271679A JP 11018074 A JP11018074 A JP 11018074A JP 1807499 A JP1807499 A JP 1807499A JP H11271679 A JPH11271679 A JP H11271679A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
interference filter
polarization
optical
light beam
polarized
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP11018074A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11271679A5 (ja
Inventor
David M Brown
デイビッド・エム・ブラウン
Timothy L Bagwell
ティモシー・エル・バッグウェル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HP Inc
Original Assignee
Hewlett Packard Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard Co filed Critical Hewlett Packard Co
Publication of JPH11271679A publication Critical patent/JPH11271679A/ja
Publication of JPH11271679A5 publication Critical patent/JPH11271679A5/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/26Generating the spectrum; Monochromators using multiple reflection, e.g. Fabry-Perot interferometer, variable interference filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/447Polarisation spectrometry

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】光スペクトル・アナライザに、高信号選択性と
高測定感度を備えることを可能とする。 【解決手段】 光スペクトル・アナライザには、偏光修
正装置(12)が、含まれている。偏光修正装置(12)は、加
えられる光信号の直交偏光成分を空間的に分離して、独
立した光ビームにし、光ビームの相対的偏光成分を回転
させて、光ビームが、単一の偏光状態で多重パス構成を
なし、同調可能干渉フィルタ(14)に入射するようにす
る。光ビームは、方向付けられて、実質的に等しい中心
波長の等高線上に位置する干渉フィルタ(14)の領域(14
a,14b)を通り、干渉フィルタ(14)を通る複数のパスのそ
れぞれによって、フィルタ帯域幅の同様の狭まりをもた
らすことになる。狭い帯域幅と低い挿入損出は、実質的
に等しい中心波長の等高線上に位置する干渉フィルタ(1
4)の領域に交差する傾斜軸(A)を中心として干渉フィル
タを傾斜させることによって、広い同調範囲にわたって
維持される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本願の発明は、同調可能な干
渉フィルタを備えた光スペクトル・アナライザ(OSA)
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】信号選択性及び測定感度といった光スペ
クトル・アナライザ(OSA)のクリティカルな性能パラ
メータは、OSA内の光フィルタの特性によって決まる。
狭い帯域幅、低い挿入損失、及び、広い同調範囲を備え
る光フィルタが有利であり、OSAによって、高密度波長
分割多重化(DWDM)光通信システム内におけるような複
雑な光信号のテストが可能になる。現在利用可能なOSA
は、加えられる光信号のビームに対して干渉フィルタの
傾斜角を変えることによってその中心波長が同調される
光フィルタを用いている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、フィルタの中
心波長は、加えられる光信号の偏光状態によって決ま
り、干渉フィルタの傾斜角が変動するにつれて、フィル
タの帯域幅及び挿入損失が増し、OSAは、DWDM通信シス
テム内における光信号の測定に適さなくなる。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の好適な実施態様
に従って構成された光スペクトル・アナライザには、偏
光に依存する波長の拡散を排除し、OSAが高い信号選択
性と高測定感度を備えることを可能にする、偏光修正装
置が含まれている。偏光修正装置は、加えられる光信号
の直交偏光成分を空間的に分離して、独立した光ビーム
にし、光ビームの相対的偏光成分を回転させて、光ビー
ムが、単一の偏光状態で多重パス(multipass)構成を
なし、同調可能干渉フィルタに入射するようにする。光
ビームは、方向付けを施されて、実質的に等しい中心波
長の等高線(contour)上に位置する干渉フィルタの領
域を通過し、干渉フィルタを通る複数のパス(multiple
passes)のそれぞれは、干渉フィルタの帯域幅の同様
の狭まりをもたらすことになる。狭い帯域幅と低い挿入
損失は、実質的に等しい中心波長の等高線上に位置する
干渉フィルタの領域を含む傾斜軸を中心として干渉フィ
ルタを傾斜させることによって、広い同調範囲にわたっ
て維持される。本発明の光スペクトル・アナライザは、
高密度波長分割多重化通信システムで用いられるよう
な、複雑な光信号の測定にうってつけである。
【0005】
【発明の実施の形態】図1には、入力ファイバ2、同調
可能干渉フィルタ4、再帰反射器6、二分の一波長リタ
ーダ(retarder)7、及び、出力ファイバ8を含む、従
来技術による光スペクトル・アナライザ(OSA)9が示
されている。直交偏光成分(S及びP偏光状態として表
示)を備えた平行化された光入力信号1が、同調可能干
渉フィルタ4に入射する。光信号は、次に、再帰反射器
6によって方向付けを施され、もう一度同調可能干渉フ
ィルタ4を通って、出力ファイバ8に送られる。二分の
一波長リターダ7が、光入力信号1のS偏光状態を回転
させて、P偏光状態にし、光入力信号1のP偏光状態を
回転させて、S偏光状態にする。
【0006】同調可能干渉フィルタ4は、干渉フィルタ
4と光入力信号1のビームとの間の傾斜角θを変えるこ
とによって同調される、中心波長λCを備えている。光
スペクトル分析は、同調可能干渉フィルタ4の傾斜角θ
があらかじめ決められた傾斜角範囲にわたって周期的に
変動する際、OSA9によって、出力ファイバ8における
光出力信号を検出することにより実施される。OSA9の
信号選択性は、同調可能干渉フィルタ4の帯域幅によっ
て決まる。
【0007】図2には、20度に等しい傾斜角θに関す
る、従来技術のOSA9における同調可能干渉フィルタ4
の帯域幅特性が示されている。傾斜角θが、0度からそ
れるにつれて、S偏光成分の中心波長λCSが、P偏光成
分の中心波長λCPと異なるようになる。傾斜角θが増す
と、二つの偏光成分の中心波長λCS、λCP間の差が相応
じて増大する。この中心波長の差または、波長拡散によ
って、同調可能干渉フィルタ4の帯域幅が広くなる。帯
域幅が広くなるにつれて、OSA9の信号選択性が低下
し、信号選択性が十分に低くなると、OSA9は、同調可
能干渉フィルタ4の中心波長λCから0.4nmのオフセ
ットにおいて少なくとも40dBのフィルタによる除波を必
要とする可能性のある、高密度波長分割多重化通信シス
テムからの光入力信号の測定に適さなくなる。
【0008】同調可能干渉フィルタ4の帯域幅は、同調
可能干渉フィルタ4の固有の光学的な厚さの不均一性に
よってさらに広くなる。一般に、同調可能干渉フィルタ
4の第一の通過領域における同調可能干渉フィルタ4の
光学的な厚さは、同調可能干渉フィルタ4の第二の通過
領域における同調可能干渉フィルタ4の光学的な厚さに
等しくない。光学的な厚さが等しくないことによって、
同調可能干渉フィルタの帯域幅がさらに広くなる。
【0009】従来技術によるOSA9のもう一つの望まし
くない特性は、S及びP偏光成分の中心波長の拡散、及
び、同調可能干渉フィルタ4の異なる領域における不均
一な光学的厚さによって生じる、同調可能干渉フィルタ
4の挿入損失の増大(すなわち、透過率の低下)であ
る。挿入損失が増大すると、OSA9の信号感度が低下す
る。
【0010】図3、図4、図5、及び図6には、本発明
の好適な実施態様に従って構成された複数の光スペクト
ル・アナライザ(OSAs)が示されている。好適な実施態
様におけるOSAsには、それぞれ、入力光信号11の直交偏
光成分(S及びP偏光状態として表示)を二つの光ビー
ム11a、11bに分割する偏光修正装置12が含まれている。
偏光修正装置12は、光ビーム11a、11bの相対的偏光成分
を回転させて、光ビームが単一の偏光状態で干渉フィル
タ14に入射するようにする。単一の偏光状態が、干渉フ
ィルタ14を通る複数のパスのそれぞれに生じるので、干
渉フィルタ14による光入力信号11のS偏光成分とP偏光
成分との間における波長の拡散は、排除される。
【0011】図3には、本発明の第1の好適な実施態様
に従って構成された光スペクトル・アナライザ(OSA)1
0が示されている。光入力信号11は、光ファイバ42からO
SA10に供給される。一般に、光入力信号11は、レンズ50
によって平行化される。平行化された光入力信号11は、
ビーム・スプリッタ(splitter)19に入射し、さらに偏
光ビーム・スプリッタ16に入射して、光入力信号11のS
偏光成分Sが、方向付けを施されて、第一の光路13a
(時計廻り方向の光路として示された)に沿って伝搬す
る第一のビーム11aになり、光入力信号11のP偏光成分
Pが、方向付けを施されて、第二の光路13b(反時計廻
り方向の光路として示された)に沿って伝搬する第二の
ビーム11bになる。
【0012】第一のビーム11aとして偏光ビーム・スプ
リッタ16から出射するS偏光ビームSは、干渉フィルタ
14の第一の領域14aに入射し、次に、再帰反射器28に入
射して、そこから干渉フィルタ14の第二の領域14bに送
られる。干渉フィルタ14のこの二度目の通過後、第一の
光路13aにおけるS偏光成分は、二分の一波長板17に入
射し、回転させられて、P偏光状態になる。二分の一波
長板17による偏光回転の後、P偏光ビームPは、キュー
ブ・ミラー18及び偏光ビーム・スプリッタ16によってビ
ーム・スプリッタ19に送られ、そこで、再方向付けを施
されて、出力光路3に送られる。
【0013】第二のビーム11bにおける光入力信号11の
P偏光成分Pは、偏光ビーム・スプリッタ16及びキュー
ブ・ミラー18によって、第二の光路13bに沿って二分の
一波長板17に送られ、そこで回転させられて、S偏光状
態になる。その結果生じるS偏光ビームSは、さらに、
干渉フィルタ14の第二の領域14bに入射する。干渉フィ
ルタ14の第二の領域14bを通過した後、S偏光ビーム
は、再帰反射器28に入射し、方向付けを施されて、干渉
フィルタ14の第一の領域14aに通される。干渉フィルタ1
4のこの二度目の通過後、S偏光ビームは、偏光ビーム
・スプリッタ16に入射し、ビーム・スプリッタ19に向け
て方向付けが施される。ビーム・スプリッタ19は、次
に、このS偏光ビームを出力光路3に送る。P偏光ビー
ム及びS偏光ビームは、出力光路3において結合し、光
ファイバ、パワー・メータ、または、光検出器38によっ
て捕捉される。
【0014】光入力信号11のスペクトル分析は、光ビー
ム11a、11bと干渉フィルタ14の平坦な表面に直交する軸
Oとの間に形成される、あらかじめ決められた傾斜角θ
の範囲にわたって、傾斜軸Aを中心として干渉フィルタ
14を回転させることによって、干渉フィルタ14の中心波
長λCを同調させる際に、出力光路3において結合ビー
ムを捕捉して実施される。
【0015】図4には、本発明の第二の好適な実施態様
に従って構成された光スペクトル・アナライザ(OSA)2
0が示されている。光ファイバ42によってOSA20に供給さ
れる光入力信号11は、一般に、レンズ50によって平行化
される。平行化された光入力信号11は、偏光ビーム・ス
プリッタ16に入射し、光入力信号11のS偏光成分Sが方
向付けを施されて、第一の光路23a(時計廻り方向の光
路として示されている)に沿って伝搬する第一のビーム
11aになり、光入力信号11のP偏光成分Pが、方向付け
を施されて、第二の光路23b(反時計廻り方向の光路と
して示されている)に沿って伝搬する第二のビーム11b
になる。
【0016】第一の光路23aにおけるS偏光成分Sは、
伝搬方向が、第一の表面27aから非相反偏光回転子27を
通って第二の表面27bに向かう(第一の光路23aに対応す
る)場合には、偏光を維持し、すなわち偏光を回転させ
ず、加えられる光信号の伝搬方向が、第二の表面27bか
ら非相反偏光回転子27を通って第一の表面27aに向かう
(第二の光路23bに対応する)場合には、加えられる光
信号の偏光状態を90度回転させる特性を備えた、波長板
と組み合わせられたファラデー回転子のような第一の非
相反偏光回転子27に入射する。従って、偏光ビーム・ス
プリッタ16から干渉フィルタ14に伝搬する第一のビーム
11aにおけるS偏光成分Sの偏光は、第一の非相反偏光
回転子27を通ってS偏光状態に維持される。このS偏光
ビームSが、干渉フィルタ14の第一の領域14aに入射
し、さらに、再帰反射器28に入射して、そこから干渉フ
ィルタの第二の領域14bに送られる。干渉フィルタ14の
この二度目の通過後、S偏光ビームSは、伝搬方向が、
第一の表面29aから非相反偏光回転子29を通って第二の
表面29bに向かう(第一の光路23aに対応する)場合に
は、偏光を維持し、すなわち偏光を回転させず、加えら
れる光信号の伝搬方向が、第二の表面29bから非相反偏
光回転子29を通って第一の表面29aに向かう(第二の光
路23bに対応する)場合には、加えられる光信号の偏光
状態を90度回転させる特性を備えた、波長板と組み合わ
せられたファラデー回転子のような第二の非相反偏光回
転子29に入射する。従って、干渉フィルタ14から光路23
aに沿ってキューブ・ミラー18に伝搬するS偏光成分S
の偏光は、第二の非相反偏光回転子29を通って、S偏光
状態に維持される。キューブ・ミラー18によって、結果
として生じるS偏光ビームが、出力光路3に送られる。
【0017】第二のビーム11bにおける光入力信号11の
P偏光成分Pは、第二の光路23bに沿って偏光ビーム・
スプリッタ16からキューブ・ミラー18に送られる。P偏
光成分は、次に、第二の非相反偏光回転子29に入射し、
P偏光状態からS偏光状態に回転させられる。その結果
生じるS偏光ビームSは、さらに、干渉フィルタ14の第
二の領域14bに入射する。干渉フィルタ14の第二の領域1
4bを通過した後、S偏光ビームは、再帰反射器28によっ
て方向付けを施されて、干渉フィルタ14の第一の領域14
aに通される。干渉フィルタ14のこの二度目の通過後、
S偏光ビームは、第一の非相反偏光回転子27によって回
転させられて、P偏光状態になり、偏光ビーム・スプリ
ッタ16に入射して、このP偏光ビームが出力光路3に送
られる。
【0018】P偏光ビーム及びS偏光ビームは、出力光
路3において結合し、光ファイバ、パワー・メータ、ま
たは、光検出器38によって捕捉される。光入力信号11の
スペクトル分析は、光ビーム11a、11bと干渉フィルタ14
の平坦な表面に直交する軸Oとの間に形成される、あら
かじめ決められた傾斜角θの範囲にわたって、傾斜軸A
を中心として干渉フィルタ14を回転させることによっ
て、干渉フィルタ14の中心波長λCを同調させる際に、
出力光路3において結合ビームを捕捉して実施される。
【0019】図5及び図6には、本発明の第三の好適な
実施態様に従って構成された光スペクトル・アナライザ
(OSA)30が示されている。OSA30内における光信号の順
方向伝搬光路及び逆方向伝搬光路が、分かりやすくする
ため、別々に示されている。図5に示す順方向光路にお
いて、光ファイバ42によって供給される光入力信号11
は、光ファイバ42とウォーク・オフ結晶(walk-off cry
stal)32の間に配置されたレンズ(不図示)によって平
行化される。平行化された光入力信号11は、第一のウォ
ーク・オフ結晶32に入射する。第一のウォーク・オフ結
晶32において、ウォーク・オフ軸Cに直交するように偏
光した光信号(この例の場合、P偏光成分)が、第一の
光ビーム11aにおける入射光信号11と同一線上にあるウ
ォーク・オフ結晶32から出射する。ウォーク・オフ軸C
に平行になるように偏光した光信号(この例の場合、S
偏光成分)が、第二の光ビーム11bにおける入射光信号1
1から空間的にオフセットした第一のウォーク・オフ結
晶32から出射する。
【0020】第一のビーム11aは、加えられる光信号の
伝搬方向が、第一の表面37cから非相反偏光回転子37を
通って第二の表面37dに向かう場合、加えられる光信号
の偏光状態を90度回転させる、波長板と組み合わせられ
たファラデー回転子のような第一の非相反回転子37の第
一の部分に入射する。第二のビーム11bは、加えられる
光信号の伝搬方向が、第二の表面37bから非相反回転子3
7を通って第一の表面37aに向かう場合、加えられる光信
号の偏光状態を90度回転させる、第一の非相反偏光回転
子37の第二の部分に入射する。伝搬方向が、第一の表面
37aから非相反偏光回転子37を通って第二の表面37bに向
かう場合には、偏光は維持される。従って、順方向伝搬
光路における第一のビーム11aの偏光状態は、第一の非
相反回転子37の第一の部分によってP偏光状態からS偏
光状態に回転させられる。第二のビーム11bの偏光状態
は、第一の非相反回転子37の第二の部分によってS偏光
状態に維持される。S偏光ビームは、第一の非相反回転
子37から出射すると、第二のウォーク・オフ結晶34に入
射する。入射ビームの偏光は、第二のウォーク・オフ結
晶34のウォーク・オフ軸Dに直交するので、S偏光ビー
ムは、入射ビームと同一直線上に出射し、さらに、第二
の非相反回転子39に入射する。
【0021】順方向伝搬光路において、S偏光ビームの
偏光状態は、第二の非相反偏光回転子39を通って維持さ
れる(すなわち回転しない)。S偏光ビーム35aは、次
に、干渉フィルタ14の第一の領域14aに入射し、S偏光
ビーム35bは、干渉フィルタ14の第二の領域14bに入射す
る。S偏光ビーム35a、35bは、反射器36によって反射さ
れ、図6に示す逆方向伝搬光路に沿って伝搬する。S偏
光ビーム35aは、干渉フィルタ14の第一の領域14aを再透
過し、S偏光ビーム35bは、干渉フィルタ14の第二の領
域14bを再透過する。次に、S偏光ビームは、第二の非
相反回転子39に入射し、逆方向伝搬光路において、S偏
光ビームの偏光状態がS偏光状態からP偏光状態に回転
する。その結果生じるP偏光ビーム41a、41bは、第二の
ウォーク・オフ結晶34に入射する。P偏光ビームの偏光
状態は、ウォーク・オフ軸Dに対して平行なので、第二
のウォーク・オフ結晶の第一の表面34aから出射するP
偏光ビームは、第二のウォーク・オフ結晶34の第二の表
面34bに入射するビーム41a、41bから空間的にオフセッ
トしている。オフセット・ビーム43aは、逆方向伝搬光
路においてP偏光状態を維持する第一の非相反回転子37
の第一の部分に入射する。オフセット・ビーム43bは、
逆方向伝搬光路において、偏光をP偏光状態からS偏光
状態に回転させる第一の非相反回転子37の第二の部分に
入射する。
【0022】S偏光ビーム47b及びP偏光ビーム47aは、
第一のウォーク・オフ結晶32に入射する。第1のウォー
ク・オフ結晶32のウォーク・オフ軸Cに対して垂直な偏
光ビーム47aは、出力光ファイバ44とアライメントのと
れるように出射し、ウォーク・オフ軸Cに対して平行な
S偏光ビーム47bは、やはり、出力光ファイバ44とのア
ライメントがとれるように、入射S偏光ビーム47bから
オフセットして出射する。出力光ファイバ44は、S偏光
信号及びP偏光信号を捕捉し、第一のウォーク・オフ結
晶32によって生じるこれらの信号を結合する。
【0023】光入力信号11のスペクトル分析は、光ビー
ム35a、35bと干渉フィルタ14の平坦な表面に直交する軸
Oとの間に形成される、あらかじめ決められた傾斜角θ
の範囲にわたって、傾斜軸Aを中心として干渉フィルタ
14を回転させることによって、干渉フィルタ14の中心波
長λCを同調させる際に、出力光ファイバ44において結
合されたビームを捕捉して実施される。U.S.P.N.5,278,
929においてタニサワ他によって解説されているよう
な、熱膨張コア(TEC)・ファイバが、入力光ファイバ4
2及び出力光ファイバ44に用いられる場合、結果として
コンパクトなOSA30が得られる。TECファイバによって、
光ファイバ42、44と第一のウォーク・オフ結晶32の間に
配置された二つの独立した平行化レンズ(不図示)の代
わりに、干渉フィルタ14と反射器36の間に配置された単
一の平行化レンズ60を利用することが可能になる。
【0024】図7には、従来技術によるOSA9の広い帯
域幅特性と比較すると狭い、本発明の好適な実施態様に
従って構成されたOSA10、20、30の帯域幅特性が示され
ている。ファブリ・ペロ・フィルタ素子のような、図8
に示す干渉フィルタ14のフィルタ素子は、一般に、フィ
ルタ領域にわたって光学的な厚さが均一というわけでは
なく、フィルタの製造に現在用いられているプロセスの
ために、光学的に厚さの等しい等高線を備えている。光
信号が通る第一の領域14a及び第二の領域14bが、それぞ
れ、光学的に厚さがほぼ等しい等高線a、b、cの一つ
に位置するように、干渉フィルタを配向させることによ
って、干渉フィルタを通る複数のパスによる結果とし
て、帯域幅が狭められることになる。傾斜角Aには、第
一と第二の領域14a、14bの中点が含まれている。干渉フ
ィルタ14は、傾斜軸Aを中心として回転すると、中心波
長λCが変動し、光信号が、領域14a、14bを通過して、
干渉フィルタの同調範囲にわたる狭いフィルタ帯域幅特
性が維持される。
【0025】本発明の好適な実施態様の場合、S偏光状
態は、干渉フィルタ14の傾斜軸Aと平行な電界偏光とア
ライメントがとれるように選択される。代替案では、電
界偏光が、傾斜軸Aと直交するように、または、傾斜軸
Aに対する別の所定の角度をなすように選択される。
【0026】本発明の好適な実施態様では、2パス構成
が示されているが、既知の光学素子を組み込んで、干渉
フィルタ14のパス数をもっと多くすることも可能であ
る。干渉フィルタ14の光学的な厚さのほぼ等しい等高線
上に位置する領域に対する単一の偏光状態の光ビームに
よる干渉フィルタ14を通る追加パスによって、光スペク
トル・アナライザにおける干渉フィルタの帯域幅特性が
順次狭められることになる。
【0027】以下においては、本発明の種々の構成要件
の組み合わせからなる例示的な実施態様を示す。
【0028】1.加えられる光信号(11)に対して選択
的な光スペクトル・アナライザ(10、20、30)であっ
て、回転軸(A)を備え、回転軸(A)と同一平面上に
ある、光学的な厚さのほぼ等しい少なくとも一つの等高
線を備えた、干渉フィルタ(14)と、加えられる光信号
(11)を受信し、加えられる光信号(11)の直交偏光状
態を独立した光ビーム(11a、11b)に空間的に分離し、
ビームの相対的偏光を所定の偏光になるように回転さ
せ、ビームを干渉フィルタ(14)を通る複数のパスを介
して、出力光路(3)に送り、干渉フィルタ(14)を通
る複数のパスのそれぞれが、所定の偏光において、ほぼ
光学的な厚さの等しい少なくとも一つの等高線のあらか
じめ決められた一つに入射する偏光修正装置(12)とか
ら成る光スペクトル・アナライザ。
【0029】2.干渉フィルタ(14)が、回転軸(A)
を中心として干渉フィルタ(14)の回転角(θ)に従っ
て変動する中心波長(λC)を備える、上記1項の光ス
ペクトル・アナライザ(10、20、30)。
【0030】3.偏光修正装置が、出力光路(3)にお
いて、所定の偏光と直交する独立した光ビーム(11a、1
1b)の一方の偏光状態を回転させる、少なくとも一つの
偏光回転子(17)を含む、上記2項の光スペクトル・ア
ナライザ(10、20、30)。
【0031】4.第一の偏光状態が、回転軸(A)に平
行な電界を備えている、上記3項の光スペクトル・アナ
ライザ(10、20、30)。
【0032】5.回転軸(A)が、光学的な厚さのほぼ
等しい少なくとも一つの等高線のあらかじめ決められた
一つに位置する、少なくとも二つのポイントを含む、上
記3項の光スペクトル・アナライザ。
【0033】6.偏光修正装置(12)が、加えられる光
信号(11)を受信し、加えられた光信号の第一の偏光状
態に方向付けを施して、第一の光ビーム(11a)にし、
加えられた光信号の第一の偏光状態に直交する第二の偏
光状態に方向付けを施して、第二の光ビーム(11b)に
する、偏光ビーム・スプリッタ(16)と、偏光ビーム・
スプリッタから第二の光ビーム(11b)を受信し、第二
の光ビーム(11b)の偏光状態を第二の偏光状態から第
一の偏光状態に回転させ、第一の偏光状態にある第二の
光ビーム(11b)に方向付けを施して、干渉フィルタの
光学的な厚さのほぼ等しい少なくとも一つの等高線のう
ちあらかじめ決められた一つにおける第一の入射領域
(14b)に通す二分の一波長板(17)と、第一の入射領
域から第二の光ビーム(11b)を受信し、第二の光ビー
ム(11b)を反射して、干渉フィルタ(14)の光学的な
厚さのほぼ等しい少なくとも一つの等高線のうちあらか
じめ決められた一つにおける第二の入射領域(14a)に
通す再帰反射器(28)と、第一の偏光状態にある第二の
光ビームを第二の入射領域から出力光路に送るビーム・
スプリッタ(19)と、干渉フィルタ(14)が、第二の入
射領域(14a)を介して偏光ビーム・スプリッタ(16)
から第一の光ビーム(11a)を受信し、再帰反射器(2
8)が、第二の入射領域から第一の光ビーム(11a)を受
信し、第一の光ビームに方向付けを施して、第一の入射
領域を介して、二分の一波長板(17)に送り、二分の一
波長板(17)が、第一の光ビーム(11a)の偏光状態を
第一の偏光状態から第二の偏光状態に回転させること
と、第一の光ビーム(11a)を、出力光路(3)におい
て、第一の光ビーム(11a)と第二の光ビーム(11b)を
結合するビーム・スプリッタ(19)に送る、一連の反射
器(18)とを含む上記2項の光スペクトル・アナライザ
(10)。
【0034】7.干渉フィルタ(14)の回転軸が、第一
の入射領域(14a)及び第二の入射領域(14b)と交差す
る上記6項の光スペクトル・アナライザ。
【0035】8.偏光修正装置(12)が、加えられる光
信号(11)を受信し、加えられる光信号(11)の第一の
偏光状態に方向付けを施して、第一の光ビーム(11a)
にし、加えられる光信号の第一の偏光状態に直交する第
二の偏光状態に方向付けを施して、第二の光ビーム(11
b)にする偏光ビーム・スプリッタ(16)と、第一の光
ビーム(11a)を受信し、第一の光ビーム(11a)の第一
の偏光状態を維持し、第一の光ビームに方向付けを施し
て、干渉フィルタ(14)の光学的な厚さのほぼ等しい少
なくとも一つの等高線のうちあらかじめ決められた一つ
における第一の入射領域(14a)に通す第一の非相反偏
光回転子(27)と、第一の入射領域(14a)から第一の
光ビーム(11a)を受信し、第一の光ビーム(11a)を反
射して、干渉フィルタ(14)の光学的な厚さのほぼ等し
い少なくとも一つの等高線のうちあらかじめ決められた
一つにおける第二の入射領域(14b)に送る再帰反射器
(28)と、第一の偏光状態にある第二の入射領域(14
b)から第一の光ビーム(11a)を受信して、第一の光ビ
ーム(11a)の偏光状態を第一の偏光状態から第二の偏
光状態に回転させる第二の非相反偏光回転子(29)と、
第二の偏光状態にある第一の光ビーム(11a)を出力光
路(3)に送る反射器(18)とを含み、前記反射器(1
8)が、第二の光ビーム(11b)を第二の非相反偏光回転
子(29)に送り、前記非相反偏光回転子(29)が、第二
の光ビーム(11b)を第二の偏光状態から第一の偏光状
態に回転させて、第二の光ビーム(11b)を第二の入射
領域(14b)に通し、再帰反射器(28)が、第二の入射
領域(14a)から第二の光ビーム(11b)を受信して、第
二の光ビーム(11b)に方向付けを施し、第一の入射領
域(14a)を介して、第一の非相反偏光回転子(27)に
送り、前記第一の非相反回転子(27)が、第一の偏光状
態にある第二の光ビームの偏光状態を維持して、第二の
光ビームを偏光ビーム・スプリッタ(16)に送り、前記
偏光ビーム・スプリッタ(16)が、出力光路(3)にお
いて、第二の光ビーム(11b)と第一の光ビーム(11a)
を結合することから成る上記2項の光スペクトル・アナ
ライザ(20)。
【0036】9.干渉フィルタ(14)の回転軸(A)
が、第一の入射領域(14a)及び第二の入射領域(14b)
と交差する上記8項の光スペクトル・アナライザ。
【0037】10.偏光修正装置(12)が、第一の表面
において加えられる光信号(11)を受信し、第二の表面
において、加えられる光信号(11)の第一の偏光状態に
方向付けを施して、第一の光ビーム(11a)にし、加え
られる光信号(11)の第二の偏光状態に方向付けを施し
て、第一の光ビーム(11a)から空間的にオフセットし
た第二の光ビーム(11b)にする第一のウォーク・オフ
結晶(32)と、第一の光ビーム(11a)を受信して、第
一の光ビーム(11a)の偏光を第一の偏光状態から第二
の偏光状態に回転させる第一の部分(37c、37d)を備
え、第二の光ビーム(11b)を受信して、第二の光ビー
ム(11b)を第二の偏光状態に維持する第二の部分(37
a、37b)を備える第一の非相反偏光回転子(37)と、第
一の表面において、第一の非相反偏光回転子(37)から
第一の光ビーム(11a)及び第二の光ビーム(11b)を受
信し、第二の表面から第一の光ビーム(11a)及び第二
の光ビーム(11b)を送り出す第二のウォーク・オフ結
晶(34)と、第一の光ビーム(11a)及び第二の光ビー
ム(11b)を受信して、第一の光ビーム(11a)及び第二
の光ビーム(11b)の偏光状態を、第二の偏光状態に維
持し、第一の光ビーム(11a)に方向付けを施して、光
学的な厚さのほぼ等しい少なくとも一つの等高線のうち
あらかじめ決められた一つにおける第一の入射領域(14
a)に通し、第二の光ビーム(11b)に方向付けを施し
て、光学的な厚さのほぼ等しい少なくとも一つの等高線
のうちあらかじめ決められた一つにおける第二の入射領
域(14b)に通す第二の非相反偏光回転子(39)と、干
渉フィルタ(14)から第一の光ビーム及び第二の光ビー
ムを受信して、第一の光ビームに再方向付けを施し、第
一の入射領域(14a)を介して、第二の非相反偏光回転
子(39)に送り、第二の光ビームに再方向付けを施し、
第二の入射領域(14b)を介して、第二の非相反偏光回
転子(39)に送る反射器(36)とが含まれ、第二の非相
反偏光回転子(39)が、第一の光ビーム及び第二の光ビ
ームの偏光状態を第二の偏光状態から第一の偏光状態に
回転させて、第一の光ビーム及び第二の光ビームを第二
のウォーク・オフ結晶(34)に送り、第二のウォーク・
オフ結晶(34)が、第一の光ビーム及び第二の光ビーム
を空間的にオフセットさせて、第一の光ビームを、第一
の光ビームの偏光を第一の偏光状態に維持する第一の非
相反偏光回転子(37)の第一の部分に送り、第二の光ビ
ームを、第二の光ビームの偏光を第一の偏光状態から第
二の偏光状態に回転させる第一の非相反偏光回転子(3
7)の第二の部分に送り、第一のウォーク・オフ結晶(3
2)が、第二の表面において、第一の光ビーム及び第二
の光ビームを受信し、第一の表面によって、出力光路で
第一の光ビームと第二の光ビームを結合する上記2項の
光スペクトル・アナライザ(30)。
【0038】
【発明の効果】DWDM光通信システム内における光信号の
測定に適する光スペクトル・アナライザが提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来技術による光スペクトル・アナライザを示
す図である。
【図2】従来技術による光スペクトル・アナライザに含
まれる同調可能干渉フィルタの帯域幅特性を示す図であ
る。
【図3】本発明の第一の好適な実施態様に従って構成さ
れた光スペクトル・アナライザを示す図である。
【図4】本発明の第二の好適な実施態様に従って構成さ
れた光スペクトル・アナライザを示す図である。
【図5】本発明の第三の好適な実施態様に従って構成さ
れた光スペクトル・アナライザを示す図である。
【図6】本発明の第三の好適な実施態様に従って構成さ
れた光スペクトル・アナライザを示す図である。
【図7】本発明の好適な実施態様に従って構成された光
スペクトル・アナライザの帯域幅特性を示す図である。
【図8】本発明の好適な実施態様に従って構成された光
スペクトル・アナライザに含まれる干渉フィルタの実質
的に等しい中心波長の等高線を示す図である。
【符号の説明】
3 出力光路 27,29
非相反偏光回転子 10,20,30 光スペクトル・アナライザ 28
再帰反射器 11 光入力信号 32,34
ウォーク・オフ結晶 11a 光ビーム 36
反射器 11b 光ビーム 37,39
非相反偏光回転子 12 偏光修正装置 14 干渉フィルタ 16 偏光ビーム・スプリッタ 17 二分の一波長板 19 ビーム・スプリッタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ティモシー・エル・バッグウェル アメリカ合衆国カリフォルニア州94928, ローナート・パーク,サンタ・クルーズ・ ウェイ・1158

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】加えられる光信号(11)に対して選択的な
    光スペクトル・アナライザ(10、20、30)であって、 回転軸(A)を備え、回転軸(A)と同一平面上にあ
    る、光学的な厚さのほぼ等しい少なくとも一つの等高線
    を備えた、干渉フィルタ(14)と、 加えられる光信号(11)を受信し、加えられる光信号
    (11)の直交偏光状態を独立した光ビーム(11a、11b)
    に空間的に分離し、ビームの相対的偏光を所定の偏光に
    なるように回転させ、ビームを干渉フィルタ(14)を通
    る複数のパスを介して、出力光路(3)に送り、干渉フ
    ィルタ(14)を通る複数のパスのそれぞれが、所定の偏
    光において、ほぼ光学的な厚さの等しい少なくとも一つ
    の等高線のあらかじめ決められた一つに入射する偏光修
    正装置(12)とから成る光スペクトル・アナライザ。
JP11018074A 1998-01-30 1999-01-27 同調可能な干渉フィルタを備えた光スペクトル・アナライザ Withdrawn JPH11271679A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US016235 1998-01-30
US09/016,235 US6075647A (en) 1998-01-30 1998-01-30 Optical spectrum analyzer having tunable interference filter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11271679A true JPH11271679A (ja) 1999-10-08
JPH11271679A5 JPH11271679A5 (ja) 2006-03-23

Family

ID=21776076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11018074A Withdrawn JPH11271679A (ja) 1998-01-30 1999-01-27 同調可能な干渉フィルタを備えた光スペクトル・アナライザ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6075647A (ja)
JP (1) JPH11271679A (ja)
DE (1) DE19846255B4 (ja)
GB (1) GB2333857B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012167936A (ja) * 2011-02-10 2012-09-06 Anritsu Corp 光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法
WO2019093128A1 (ja) * 2017-11-10 2019-05-16 横河電機株式会社 分光分析装置

Families Citing this family (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69824516T2 (de) * 1997-10-20 2005-06-23 Nippon Telegraph And Telephone Corp. Scheibenförmiger abstimmbarer optischer Filter
US6560015B1 (en) * 1999-09-23 2003-05-06 Avanex Corporation High-isolation dense wavelength division multiplexer utilizing birefringent plates and a non-linear interferometer
US6337770B1 (en) * 1999-12-31 2002-01-08 Jds Uniphase Corporation Single-pass folded interleaver/deinterleavers
US6697198B2 (en) * 1999-12-31 2004-02-24 Jds Uniphase Corporation Optical interleavers/deinterleavers
US7116848B2 (en) 2000-04-07 2006-10-03 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Optical spectrum analyzer using a diffraction grating and multi-pass optics
US6819429B2 (en) 2000-04-07 2004-11-16 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Multi-pass optical spectrum analyzer having a polarization-dependent tunable filter
EP1150106A1 (de) * 2000-04-27 2001-10-31 Krieg, Gunther, Prof.Dr.Ing. Verfahren und Vorrichtung zur präzisen, quantitativen Stoffanalyse in Flüssigkeiten, Gasen und Feststoffen
US6563641B2 (en) * 2000-06-23 2003-05-13 Cirvine Corporation Fold interleaver
US6362904B1 (en) * 2000-09-01 2002-03-26 Robert H. Cormack Tunable optical filter with retained complementary output
US6587608B2 (en) 2000-11-14 2003-07-01 Chameleon Optics, Inc. Reconfigurable, all optical add/drop nodes using non-interrupting switching apparatus and methods
WO2002084342A1 (en) * 2001-04-13 2002-10-24 Corning Incorporated Optical system having extremely low polarization dependent loss and polarization mode dispersion
US6781757B2 (en) 2001-04-20 2004-08-24 Micron Optics, Inc. Polarization insensitive tunable optical filters
EP1207417B1 (en) 2001-05-22 2004-08-04 Agilent Technologies, Inc. (a Delaware corporation) Polarization-corrected optical measuring unit
US7509048B2 (en) * 2001-07-20 2009-03-24 Essex Corporation Method and apparatus for optical signal processing using an optical tapped delay line
US6975454B1 (en) * 2001-07-31 2005-12-13 General Photonics Corporation Variable polarization-dependent-loss source
EP1415191A1 (en) * 2001-08-02 2004-05-06 Aegis Semiconductor Tunable optical instruments
US6982831B2 (en) * 2001-08-08 2006-01-03 Oplink Communications, Inc. Athermal birefringent optical interleavers with flat-top passbands
US6522467B1 (en) * 2001-09-21 2003-02-18 Ac Photonics, Inc. Polarization insensitive liquid crystal tunable filter
US6836349B2 (en) 2001-12-07 2004-12-28 Jds Uniphase Corporation Optical performance monitoring device
US7035484B2 (en) * 2002-04-12 2006-04-25 Xtellus, Inc. Tunable optical filter
US7154659B1 (en) * 2002-04-18 2006-12-26 General Photonics Corporation Optical depolarizers and DGD generators based on optical delay
TWI238269B (en) * 2002-06-07 2005-08-21 Delta Electronics Inc Fabry-Perot optical filter device
US20040021940A1 (en) * 2002-07-30 2004-02-05 Gunther John E. Optical polarization rotating device
US20050030628A1 (en) * 2003-06-20 2005-02-10 Aegis Semiconductor Very low cost narrow band infrared sensor
US7130505B2 (en) * 2003-07-23 2006-10-31 Jds Uniphase Corporation Optical performance monitor
US7035505B2 (en) * 2003-07-23 2006-04-25 Jds Uniphase Corporation Optical performance monitor
WO2005022900A2 (en) * 2003-08-26 2005-03-10 Redshift Systems Corporation Infrared camera system
US7221827B2 (en) * 2003-09-08 2007-05-22 Aegis Semiconductor, Inc. Tunable dispersion compensator
US7304799B2 (en) * 2003-10-07 2007-12-04 Aegis Lightwave, Inc. Tunable optical filter with heater on a CTE-matched transparent substrate
TWI226763B (en) * 2003-10-17 2005-01-11 Via Tech Inc Signal transmission structure
JP4065229B2 (ja) * 2003-11-26 2008-03-19 松下電器産業株式会社 半導体集積回路の電源ノイズ解析方法
US20060232762A1 (en) * 2005-04-15 2006-10-19 Specialty Minerals (Michigan) Inc. Optical element, measuring apparatus and measuring method
US7945130B2 (en) * 2007-11-15 2011-05-17 General Photonics Corporation Mode scrambling apparatus for multimode fiber
US8384905B2 (en) * 2009-11-10 2013-02-26 Corning Incorporated Tunable light source for label-independent optical reader
JP5950939B2 (ja) * 2010-12-29 2016-07-13 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 屈折型偏波変換器及び偏光色合成器
US8780433B2 (en) 2011-09-28 2014-07-15 General Photonics Corporation Polarization scrambling based on cascaded optical polarization devices having modulated optical retardation
US10397190B2 (en) * 2016-02-05 2019-08-27 Huawei Technologies Co., Ltd. System and method for generating an obfuscated optical signal
US11239626B2 (en) 2018-02-22 2022-02-01 Lightmachinery Inc. Multi-pass etalon filter
US20220390281A1 (en) * 2021-06-04 2022-12-08 Viavi Solutions Inc. Providing polarization diversity and reducing polarization dependent loss (pdl) in a grating-based optical spectrum analyzer (osa)

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4014614A (en) * 1975-12-29 1977-03-29 Rca Corporation High resolution, high contrast Fabry-Perot spectrometer
NL8104123A (nl) * 1981-09-07 1983-04-05 Philips Nv Optische multiplex- en demultiplexinrichting.
US4813756A (en) * 1988-01-25 1989-03-21 Bell Communications Research, Inc. Etalon filters for optical channel selection in wavelength division multiplexed fiber systems
EP0498375B1 (en) * 1991-02-04 1995-06-21 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Electrically tunable wavelength-selective filter
GB2254710B (en) * 1991-04-12 1994-01-26 Northern Telecom Europ Ltd Fabry-perot optical filters
JPH04333808A (ja) * 1991-05-10 1992-11-20 Nec Corp 光半導体モジュール
FR2689345B1 (fr) * 1992-03-26 1995-05-12 Cit Alcatel Filtre optique comprenant un interféromètre Fabry-Perot accordable par rotation.
JPH06235659A (ja) * 1993-02-10 1994-08-23 Sumitomo Cement Co Ltd 波長計
US5710655A (en) * 1993-07-21 1998-01-20 Apeldyn Corporation Cavity thickness compensated etalon filter
JP3033417B2 (ja) * 1993-12-28 2000-04-17 日本電気株式会社 波長可変光フイルタ
US5481402A (en) * 1994-02-22 1996-01-02 Jds Fitel Inc. Tunable optical filter
FI98417C (fi) 1995-05-03 1997-06-10 Lk Products Oy Siirtojohtoresonaattorisuodatin
US5781341A (en) * 1995-06-30 1998-07-14 Dicon Fiberoptics, Inc. Motorized tunable filter and motorized variable attenuator
JP2768320B2 (ja) * 1995-09-04 1998-06-25 日本電気株式会社 波長可変光フィルタ
US5666225A (en) * 1996-02-26 1997-09-09 Jds Fitel Inc. Multi-pass etalon filter

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012167936A (ja) * 2011-02-10 2012-09-06 Anritsu Corp 光スペクトラム測定装置及び光スペクトラム測定方法
WO2019093128A1 (ja) * 2017-11-10 2019-05-16 横河電機株式会社 分光分析装置
JP2019086489A (ja) * 2017-11-10 2019-06-06 横河電機株式会社 分光分析装置
US11105737B2 (en) 2017-11-10 2021-08-31 Yokogawa Electric Corporation Spectroscopic analysis device

Also Published As

Publication number Publication date
GB9901495D0 (en) 1999-03-17
DE19846255B4 (de) 2005-10-06
GB2333857A (en) 1999-08-04
US6075647A (en) 2000-06-13
GB2333857B (en) 2002-04-03
DE19846255A1 (de) 1999-08-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH11271679A (ja) 同調可能な干渉フィルタを備えた光スペクトル・アナライザ
US5481402A (en) Tunable optical filter
CN112485863B (zh) 光模块
US6690513B2 (en) Rhomb interleaver
EP1076934B1 (en) Optical fiber even and odd channel separator with nonlinear interferometers
US6643064B2 (en) Optical signal interleaver
US6570711B2 (en) Virtual waveplate and optical channel interleaver formed therewith
US20030035605A1 (en) Double pass arrangement for a liquid crystal device
US7221452B2 (en) Tunable optical filter, optical apparatus for use therewith and method utilizing same
US6498680B1 (en) Compact tunable optical wavelength interleaver
US20030007225A1 (en) Wide range tunable filter
US6177992B1 (en) Low insertion loss optical monochromator
US6362904B1 (en) Tunable optical filter with retained complementary output
US20020126385A1 (en) Tunable filter
US7173763B2 (en) Optical interleaver and filter cell design with enhanced clear aperture
JP2001244557A (ja) 波長モニタ装置、およびその調整方法、並びに波長安定化光源
US7050671B1 (en) Tunable compensation of chromatic dispersion using etalons with tunable optical path length and non-tunable reflectivity
JP5838532B2 (ja) 波長選択偏波制御器
US6819429B2 (en) Multi-pass optical spectrum analyzer having a polarization-dependent tunable filter
CN115085815A (zh) 波长选择交换装置以及相关方法
US20030067641A1 (en) Apparatus and methods for polarization measurements across a spectral range
JP2897746B2 (ja) 波長可変フィルタ
US20030058534A1 (en) Optical system having extremely low polarization dependent loss and polarization mode dispersion
JP4092986B2 (ja) 光スイッチ
US6646740B2 (en) Optical monochromators having time dispersion correction

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060125

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060125

A761 Written withdrawal of application

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761

Effective date: 20061116