JPH1127211A - 分岐光線路試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 屋外環境等の温度変化が原因で波長選択型光
分岐器の試験チャンネルにドリフトが生じた場合にも、
各光分岐ファイバを個別に試験できるＰＤＳ光伝送シス
テムに使用される分岐光線路試験装置を提供する。 【解決手段】 試験光を出力する光パルス試験装置と、
光パルス試験装置からの試験光を１本の光ファイバに出
力する光結合器と、複数の加入者伝送装置の直前に設置
され、前記試験光を遮断する光フィルタとを備え、光パ
ルス試験装置は、分岐光ファイバの各々に割り当てられ
た試験波長帯域の全ての波長範囲の試験光を出力する波
長可変光源と、波長可変光源からの試験光によって生じ
る分岐光ファイバからのレイリー後方散乱光、もしくは
光フィルタからの反射光を検出する受光器と、受光器の
検出結果に基づき分岐光ファイバの各々に割り当てられ
た試験波長帯域の中で、最大透過波長を識別する識別手
段とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、分岐光線路試験装
置に係わり、特に、光アクセス網を経済的に構築するた
めに有望とされるＰＤＳ光伝送システムの建設・保守に
必要となる光パルス試験装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ファイバ通信網の建設あるいは保守に
あたり、局内のケーブル成端部からユーザ設備直前に到
るまでの光ファイバ心線単位の試験が必須となってい
る。この作業には、建設工事時に光ファイバ心線の良否
を判定する光パルス試験、故障発生時に通信設備とユー
ザ設備との故障判定を行う設備故障切り分け試験、故障
位置を特定するための故障探索試験、あるいは現用回線
の予防保全を目的とした定期試験等がある。

【０００３】現在、ユーザービルあるいは各家庭までを
光化するにあたって、映像分配サービスなどを安価に提
供できるように、１つの局内伝送装置と複数の加入者伝
送装置とをスターカプラ等の波長無依存型の光分岐器を
用いて接続するＰＤＳ（Ｐａｓｓｉｖｅ Ｄｏｕｂｌｅ
Ｓｔａｒ）光伝送システムの開発が進められている。

【０００４】このＰＤＳ光伝送システムは実用実験段階
にあり、マルチメディア通信実験が一部の地区で実施さ
れている（『ＯＰＴＩＣＡＬ ＦＩＢＥＲ ＬＩＮＥ
ＴＥＳＴ ＡＮＤ ＭＥＡＳＵＥＭＥＮＴ ＳＹＳＴＥ
Ｍ ＦＯＲ ＰＡＳＳＩＶＥＤＯＵＢＬＥ ＳＴＡＲ
ＮＥＴＷＯＲＫＳ ＡＮＤ ＷＤＭ ＴＲＡＮＳＭＩＳ
ＳＩＯＮ ＳＹＳＴＥＭＳ』，４４ｔｈ ＩＷＣＳ Ｐ
ｒｏｃｅｅｄｉｎｇｓ，ｐｐ．６４０−６４６参照）。

【０００５】このような波長無依存型の光分岐器は、試
験光を分岐光ファイバの各々に等しく分配するため、波
長無依存型の光分岐器が使用される従来のＰＤＳ光伝送
システムにおいては、分岐前の光ファイバから各分岐光
ファイバの損失分布を個別に測定することができない。
唯一、各分岐光ファイバの長さを全て異なるように設計
し、各分岐光ファイバからの端末反射光の位置情報とそ
のレベル変化から、通信設備が故障なのか、あるいはユ
ーザ設備が故障なのかの設備故障判定が、現在行われて
いる。このため、波長無依存型の光分岐器が使用される
従来のＰＤＳ光伝送システムにおいては、建設・保守の
信頼性が低下するばかりでなく、ＰＤＳ光伝送システム
の設計自由度が制限されることになる。

【０００６】前記問題点を解消するために、１つの局内
伝送装置と複数の加入者伝送装置とを波長依存性のある
波長選択型光分岐器を介して接続するＰＤＳ光伝送シス
テムとその試験方法が検討されている。

【０００７】この通信形態の光分岐器には、石英系ガラ
ス導波路で作られたアレー光導波路格子（ＡＷＧ；Ａｒ
ｒａｙｅｄ Ｗａｖｅｇｕｉｄｅ Ｇｒａｔｉｎｇ）で
構成される光分岐器（以下、ＡＷＧ分岐器と称する。）
が使用される。このＡＷＧ分岐器の透過帯域ポート（チ
ャンネル）は、周期的に繰り返されるため、その中の１
周期を試験波長帯域に用い、各分岐光ファイバの各々に
異なる試験波長（試験チャンネル）を割り当てることが
できる。したがって、光パルス試験装置から出力される
試験光の波長を目的の試験波長に合わせることにより、
各分岐光ファイバを個別に試験することが可能となる
（特願平７−２７００２５号参照）。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たＰＤＳ光伝送システムにおいては、ＡＷＧ分岐器の透
過帯域が温度変化によって変化（以下、ドリフトと称す
る。）するという問題点があった。即ち、ＡＷＧ分岐器
が温度変化を伴うような環境（屋外など）に設置された
場合、その試験チャンネルにドリフトが生じるため、温
度制御を行わずにＡＷＧ光分岐器を用いると、所定の波
長の試験光を光パルス試験装置から出力した場合に、Ａ
ＷＧ光分岐器のドリフトによって異なるチャンネルに入
力されたり、あるいは異なる試験チャンネルに入力され
ないまでも実効的な透過損失が増加し、分岐光ファイバ
の損失分布が測定できない恐れがあった。

【０００９】前記問題点を解決するため、任意の温度環
境下にあるＡＷＧ光分岐器の試験チャンネルを光パルス
試験装置によって予め検知し、各分岐光ファイバの個別
試験を実施する方法が提案されている。

【００１０】図８は、ＰＤＳ光伝送システムの試験チャ
ンネルドリフトを補正する従来の方法を説明するための
図である。

【００１１】以下、図８を用いて、ＰＤＳ光伝送システ
ムの試験チャンネルのドリフトを補正する従来の方法に
ついて説明する。

【００１２】同図において、１は単一光ファイバ、２−
１，２−２，…，２−ｎは分岐光ファイバ、３は波長選
択型光分岐器（ＡＷＧ光分岐器）、４−１，４−２，
…，４−（ｎ−１）は光バンドパスフィルタ、５−１，
５−２，…，５−（ｎ−１）は加入者伝送装置、６は光
パルス試験装置、７は試験光入出力手段、８は局内伝送
装置、１７はミラーである。

【００１３】同図に示すように、波長選択型光分岐器３
に接続された１本の分岐光ファイバ（２−ｎ）（以下、
参照チャンネルと称する。）に全面反射処理したミラー
１７を設置する。そして、光パルス試験装置６から出力
される試験光を試験チャンネルの全てを含む波長範囲で
掃引すると、光パルス試験装置６からの試験光は、参照
チャンネルにおいてはミラー１７で反射されるので、戻
ってくる反射光は、参照チャンネルにおいて相対的に強
く反射される。

【００１４】この反射光の波長を読み取ることによっ
て、任意の温度状況下における参照チャンネルの最大透
過波長を測定できる。ここで、参照チャンネルを含む各
試験チャンネル相互の間隔は温度変化によってほとんど
変化しないため、任意の温度での参照チャンネルが検知
できれば、参照チャンネル分岐光ファイバを個別に試験
することが可能となる（特願平５−２３０２６６号；光
分岐線路監視システム、参照）。

【００１５】しかしながら、この試験方法においては、
分岐光ファイバの１つをドリフト監視用の参照ポートと
して全反射処理をしているため、通信用チャンネルが１
つ減り、ＰＤＳ光伝送システムの経済化効果が減少す
る。また、参照チャンネルから生じる反射光は、ＰＤＳ
光伝送システムを構成する他の光部品より強い反射を伴
うため、局内伝送装置への影響を考慮したＰＤＳ光伝送
システムの設計が必要となるという問題点があった。

【００１６】本発明は、前記従来技術の問題点を解決す
るためになされたものであり、本発明の目的は、ＰＤＳ
光伝送システムに使用される分岐光線路試験装置におい
て、屋外環境等の温度変化が原因で波長選択型光分岐器
の試験チャンネルにドリフトが生じた場合にも、各光分
岐ファイバを個別に試験することが可能となる技術を提
供することにある。

【００１７】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
にする。

【００１８】

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記の通りである。

【００１９】局内伝送装置と、異なる複数の波長の通信
光および試験光を、各々の波長に応じて複数の相異なる
光ファイバに振り分ける波長選択型光分岐器と、前記局
内伝送装置と前記波長選択型光分岐器との間に設けられ
前記通信光および試験光を伝搬させる１本の光ファイバ
と、複数の加入者伝送装置と、前記波長選択型光分岐器
と複数の加入者伝送装置との間に設けられる複数の分岐
光ファイバとを具備するＰＤＳ光伝送システムに使用さ
れる分岐光線路試験装置であって、試験光を出力する光
パルス試験装置と、前記光パルス試験装置からの試験光
を前記１本の光ファイバに入出力させる光結合器と、前
記複数の加入者伝送装置の直前に設置され、前記試験光
を遮断する光フィルタとを備え、前記光パルス試験装置
は、前記分岐光ファイバの各々に割り当てられた試験波
長帯域の全ての波長範囲の試験光を出力する波長可変光
源と、前記波長可変光源からの試験光によって生じる前
記分岐光ファイバからのレイリー後方散乱光、もしくは
前記光フィルタからの反射光を検出する受光器と、前記
受光器の検出結果に基づき、前記分岐光ファイバの各々
に割り当てられた試験波長帯域の中で、最大透過波長を
識別する識別手段とを有する。

【００２０】また、前記光パルス試験装置は、前記分岐
光ファイバの各々に割り当てられた試験波長帯域の全て
の波長を含む広帯域の試験光を出力する少なくとも１つ
の試験用光源と、前記少なくとも１つの試験用光源から
の広帯域の試験光によって生じる前記分岐光ファイバか
らのレイリー後方散乱光、もしくは前記光フィルタから
の反射光の中から、前記分岐光ファイバの各々に割り当
てられた試験波長帯域内の波長を個別に選択して出力す
る透過波長可変型光バンドパスフィルタと、前記透過波
長可変型光バンドパスフィルタからの透過光を検出する
受光器と、前記受光器の検出結果に基づき、前記分岐光
ファイバの各々に割り当てられた試験波長帯域の中で、
最大透過波長を識別する識別手段とを有する。

【００２１】さらに、前記光パルス試験装置は、前記分
岐光ファイバの各々に割り当てられた試験波長帯域の全
ての波長を含む広帯域の試験光を出力する少なくとも１
つの試験用光源と、前記少なくとも１つの試験用光源か
ら出力される広帯域の試験光の中から、前記分岐光ファ
イバの各々に割り当てられた試験波長帯域内の波長を個
別に選択して出力する透過波長可変型光バンドパスフィ
ルタと、前記透過波長可変型光バンドパスフィルタから
の試験光によって生じる前記分岐光ファイバからのレイ
リー後方散乱光、もしくは前記光フィルタからの反射光
を検出する受光器と、前記受光器の検出結果に基づき、
前記分岐光ファイバの各々に割り当てられた試験波長帯
域の中で、最大透過波長を識別する識別手段とを有す
る。

【００２２】即ち、本発明は、波長選択型光分岐器が使
用されるＰＤＳ光伝送システムにおいて、波長選択型光
分岐器の温度変化に伴う試験チャンネルドリフトを、あ
る特定の分岐光ファイバからのレイリー後方散乱光、も
しくは光フィルタからの反射光の最大強度の波長を測定
することによって、全ての分岐光ファイバに割り当てら
れた試験チャンネルを推定し、試験対象となる分岐光フ
ァイバの試験波長光を光パルス試験装置から出力するこ
とにより、各分岐光ファイバを個別に試験できるようし
たことを特徴とする。

【００２３】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。

【００２４】なお、実施の形態を説明するための全図に
おいて、同一機能を有するものは同一符号を付け、その
繰り返しの説明は省略する。

【００２５】［実施の形態１］図１は、本発明の一実施
の形態である分岐光線路試験装置が使用されるＰＤＳ光
伝送システムの概略構成を示すブロック図である。

【００２６】同図において、１は単一光ファイバ、２−
１，２−２，…，２−ｎは分岐光ファイバ、３は波長選
択型光分岐器（ＡＷＧ光分岐器）、４−１，４−２，
…，４−ｎは光バンドパスフィルタ、５−１，５−２，
…，５−ｎは加入者伝送装置、６は光パルス試験装置、
７は試験光入出力手段、８は局内伝送装置である。

【００２７】ここで、局内伝送装置８は、１つ、あるい
は異なる複数の波長の通信光を用いて送受信する局内伝
送装置である。また、波長選択型光分岐器３は、異なる
複数の波長の通信光および試験光を、各々の波長に応じ
て複数の相異なる分岐光ファイバに振り分ける波長選択
型光分岐器、あるいは、１つの波長の通信光を複数の相
異なる光ファイバに等しく分配させ、かつ、異なる複数
の波長の通信光および試験光を、各々の波長に応じて複
数の相異なる分岐光ファイバに振り分ける波長選択型光
分岐器である。

【００２８】図２は、図１に示す波長選択型光分岐器３
の試験チャンネルの透過スペクトラムを示すグラフであ
る。

【００２９】分岐数は１４で、＃１，＃２，…，＃１４
は、各分岐光ファイバに割り当てられた透過チャンネル
を表わす。試験チャンネルの半値全幅は約０．４ｎｍ、
各試験チャンネルの間隔は約１ｎｍ、また挿入損失は平
均で約７．５ｄＢである。

【００３０】図３は、図１に示す波長選択型光分岐器３
における、温度と試験チャンネルドリフト量との関係を
示すグラフである。

【００３１】図３は、１番チャンネルと８番チャンネル
の温度特性を測定したものであるが、各チャンネルのド
リフト量はほぼ同じであり、１℃あたり約０．０１４９
±０．０００６ｎｍである。

【００３２】図４は、本実施の形態の光パルス試験装置
６の概略構成を示すブロック図である。

【００３３】同図において、９は波長可変光源、１０は
音響光学スイッチ、１１は受光素子、１２はタイミング
発生装置、１３は主制御／識別部、１４は光源駆動回
路、１５は加算器である。

【００３４】同図に示す光パルス試験装置６において、
光源駆動回路１４は、主制御／識別部１３の制御を受
け、波長可変光源９をパルス変調駆動する。波長可変光
源９から出力されたパルス試験光は、タイミング発生装
置１２によって光源駆動回路１４のパルス変調駆動と同
期をとりながら動作する音響光学スイッチ１０を通過す
る。ここで、音響光学スイッチ１０は、パルス試験光と
それによって生じる戻り光との送受信の切り替えを行
う。

【００３５】このようにして、光パルス試験装置６から
出力されたパルス試験光は、試験光入出力手段７を介し
て単一光ファイバ１に入射され、さらに波長選択型光分
岐器３によって、パルス試験光の波長に応じて、分岐光
ファイバ（２−１〜２−ｎ）に振り分けられる。

【００３６】即ち、波長選択型光分岐器３の試験チャン
ネルを選択的に通過したパルス試験光は、さらに分岐光
ファイバ（２−１〜２−ｎ）を伝搬し、加入者伝送装置
（５−１〜５−ｎ）の直前に設置された光バンドパスフ
ィルタ（４−１〜４−ｎ）によって遮断され、また同時
に端末反射光として反射され、その前に単一光ファイバ
１や分岐光ファイバ（２−１〜２−ｎ）で生じた戻り光
とともに、パルス試験光と同じ経路を逆に伝搬し、再び
光パルス試験装置６へ回帰し、受光素子１１で受光され
る。受光された戻り光（レイリー後方散乱光、あるいは
端末反射光）は、タイミング発生装置１２と同期して動
作している加算器１５によって加算処理され、主制御／
識別部１３の中にあるモニタにＯＴＤＲ波形として表示
される。

【００３７】次に、本実施の形態の各試験チャンネルの
推定方法について説明する。本実施の形態では、波長選
択型光分岐器３の試験チャンネルをできる限り精度よく
推定するため、チャンネル損失変化が最も急峻なポート
（＃８）を監視用チャンネルに用いる。また、このチャ
ンネル（＃８）の特定温度Ｔｃにおける初期条件を、光
パルス試験装置６に取得させておく。

【００３８】即ち、波長選択型光分岐器３の試験チャン
ネルの参照波長；λ８、試験チャンネルポートの最小挿
入損失；Ｇｃ、試験チャンネルの半値全幅；Ｗｃ、各試
験チャンネル相互の間隔；Δλ１，Δλ２，…，Δλ
（ｎ−１）を光パルス試験装置６に取得させておく。こ
こで、全ての試験チャンネルは温度変化に対して一様に
ドリフトすると仮定する。

【００３９】各分岐光ファイバ（２−１〜２−ｎ）に割
り当てられた試験チャンネルが、波長選択型光分岐器３
の温度変化によりドリフトした場合、参照チャンネル
（＃８）に割り当てられた試験波長を、主制御／識別部
１３の制御を受けた波長可変光源９が、試験チャンネル
（＃８）の半値全幅の半分より小さな刻みで試験波長を
変化させながらパルス試験光を出力し、その各々によっ
て生じる分岐光ファイバからの戻り光を受光素子１１で
測定し、その戻り光の最大強度を主制御／識別部１３で
識別する。その時の最大強度の波長と、光パルス試験装
置６に予め初期条件として取得しておいた波長選択型光
分岐器３の参照波長（λ８）との差から、主制御／識別
部１３でドリフト量（Δλｔ）を求める。

【００４０】これにより、任意の温度環境下にある波長
選択型光分岐器３の試験チャンネルに対しても、そのド
リフト量（Δλｔ）を、波長選択型光分岐器３の各試験
チャンネルの初期条件に補正を加えることによって、各
試験チャンネルの最大透過波長を推定することができる
ため、光パルス試験装置６から目的とする分岐光ファイ
バ（２−１〜２−ｎ）の試験波長光を出力させることに
より、各分岐光ファイバ（２−１〜２−ｎ）を個別に試
験することが可能となる。

【００４１】図５は、波長選択型光分岐器３の温度変化
に伴う、８番分岐光ファイバからの後方散乱光の強度変
化（ＯＴＤＲ波形）を測定したグラフである。

【００４２】図５（ａ）は、波長選択型光分岐器３の温
度が２５℃で、試験波長が１６４８．１ｎｍのときのＯ
ＴＤＲ波形を表し、これは本実施の形態の波長選択型光
分岐器３の８番分岐光ファイバにおいて、２５℃の時の
試験光の最大透過波長（参照波長）であり、そのときの
波長選択型光分岐器３の透過損失（以後、レベル差と呼
ぶ）は約７ｄＢであった。

【００４３】図５（ｂ）は、波長選択型光分岐器３の温
度が４０℃で試験波長が１６４８．１ｎｍのときの、即
ち、波長選択型光分岐器３が２５℃から４０℃へ温度変
化した後のＯＴＤＲ波形を表している。この図５（ｂ）
から、波長選択型光分岐器３の温度が変化し、それによ
り、波長選択型光分岐器３の透過損失が増加し、試験チ
ャンネルが１６４８．１ｎｍから変化（移動）したこと
が分かる。このときの透過損失は約１１ｄＢであった。

【００４４】図５（ｃ）は、波長選択型光分岐器３の温
度が４０℃で試験波長が１６４８．２ｎｍのときＯＴＤ
Ｒ波形を表わしている。この図５（ｃ）は、温度変化に
伴う試験チャンネルのドリフト方向を判断するため、参
照波長からわずか＋０．１ｎｍだけ変化させた時のＯＴ
ＤＲ波形である。そのときの透過損失は約９ｄＢであっ
た。このときレベル差が減少する方向にあることから、
試験チャンネルが長波長側へドリフトしていることが確
認できる。

【００４５】図５（ｄ）は、波長選択型光分岐器３の温
度が４０℃で試験波長が１６４８．４ｎｍのときのＯＴ
ＤＲ波形を表わしている。この図５（ｄ）は、図５
（ｃ）の作業を繰り返し、透過損失が最小になる試験波
長を求めた結果であり、参照波長のときと同じ様な透過
損失７ｄＢを１６４８．４ｎｍのときに見い出すことが
できた。即ち、波長選択型光分岐器３の温度が、２５℃
から４０℃へ変化したことによる試験チャンネルドリフ
ト値Δλｔは０．３ｎｍ程度であった。

【００４６】このように、本実施の形態によれば、屋外
環境などの温度変化によって波長選択型光分岐器３のチ
ャンネルがドリフトするようなＰＤＳ光伝送システムに
おいて、光パルス試験装置６によって特定の試験チャン
ネルのドリフトを監視し、そのドリフト量で各試験チャ
ンネルの初期条件を補正することによって、各分岐光フ
ァイバ（２−１〜２−ｎ）を個別に試験することができ
る。これにより、屋外などの温度変化に制約されない設
計自由度のあるＰＤＳ光伝送システムを構築することが
可能となる。

【００４７】［実施の形態２］図６は、本実施の形態の
光パルス試験装置６’の概略構成を示すブロック図であ
る。

【００４８】本実施の形態は、前記実施の形態１におけ
る光パルス試験装置６を、図６に示す光パルス試験装置
６’と置き換えた以外は、前記実施の形態１と同じであ
る。

【００４９】図６において、６’は光パルス試験装置、
９’は広波長スペクトル幅光源、１０は音響光学スイッ
チ、１１は受光素子、１２はタイミング発生装置、１３
は主制御／識別部、１４は光源駆動回路、１５は加算
器、１６は波長選択用光バンドパスフィルタである。

【００５０】図６に示す光パルス試験装置６’におい
て、光源駆動回路１４は、主制御／識別部１３の制御を
受け、広波長スペクトル幅光源９’をパルス変調駆動す
る。広波長スペクトル幅光源９’から出力されるパルス
試験光は、タイミング発生装置１２によって光源駆動回
路１４のパルス変調駆動と同期しながら動作する音響光
学スイッチ１０を透過する。ここで、音響光学スイッチ
１０は、パルス試験光とそれによって生じる戻り光の送
受信の切り替えを行うものである。

【００５１】このようにして、光パルス試験装置６’か
ら出力されたパルス試験光は、試験光入出力手段７を介
して単一光ファイバ１に入射され、さらに波長選択型光
分岐器３によって、パルス試験光の波長に応じて、分岐
光ファイバ（２−１〜２−ｎ）に振り分けられる。

【００５２】即ち、波長選択型光分岐器３の試験チャン
ネルを選択的に通過したパルス試験光は、さらに各分岐
光ファイバ（２−１〜２−ｎ）を伝搬し、加入者伝送装
置（５−１〜５−ｎ）の直前に設置した光バンドパスフ
ィルタ（４−１〜４−ｎ）によって遮断され、また同時
に端末反射光として反射され、その前に単一光ファイバ
１や分岐光ファイバ（２−１〜２−ｎ）で生じた戻り光
とともに、パルス試験光と同じ経路を逆に伝搬され、再
び光パルス試験装置６’へ回帰し、受光素子１１で受光
される。

【００５３】ここで、光パルス試験装置６’へ回帰した
戻り光は、分岐光ファイバ（２−１〜２−ｎ）に割り当
てられた全ての試験波長スペクトラムを含んでいる。し
たがって、主制御／識別部１３の制御の元に、波長選択
用光バンドパスフィルタ１６において、目的とする分岐
光ファイバ（例えば、＃８）の試験波長を選択し、受光
素子１１で受光する。受光された戻り光は、タイミング
発生装置１２と同期している加算器１５によって加算処
理され、主制御／識別部１３の中にあるモニタにＯＴＤ
Ｒ波形として表示する。

【００５４】このように、本実施の形態によれば、光パ
ルス試験装置６’から各分岐光ファイバ（２−１〜２−
ｎ）に割り当てられた試験波長の全てを含むパルス試験
光を出力し、主制御／識別部１３の制御の元に、光パル
ス試験装置６’の受光素子１１の直前に設置した波長選
択用光バンドパスフィルタ１６を、波長選択型光分岐器
３の試験チャンネルの半値全幅の半分より小さな刻みで
変化させ、特定の分岐光ファイバに割り当てられた試験
チャンネルの戻り光を受光素子１１で測定し、その戻り
光の最大強度を主制御／識別部１３で識別する。その時
の最大強度の試験波長と、予め光パルス試験装置６’側
で把握しておいた波長選択型光分岐器３の試験チャンネ
ルの参照波長との差からドリフト量（Δλｔ）を求める
ことができる。

【００５５】これにより、任意の温度環境下にある波長
選択型光分岐器３の試験チャンネルに対しても、そのド
リフト量（Δλｔ）を、波長選択型光分岐器３の各試験
チャンネルの初期条件に補正を加えることによって、各
試験チャンネルの最大透過波長を推定することができる
ため、前記実施の形態１と同様にして、各分岐光ファイ
バ（２−１〜２−ｎ）を個別に試験することが可能とな
る。

【００５６】このように、本実施の形態によれば、屋外
環境などの温度変化によって波長選択型光分岐器３のチ
ャンネルがドリフトするようなＰＤＳ光伝送システムに
おいて、光パルス試験装置６’によって特定の試験チャ
ンネルのドリフトを監視し、そのドリフト量で各試験チ
ャンネルの初期条件を補正することによって、各分岐光
ファイバ（２−１〜２−ｎ）を個別に試験することがで
きる。これにより、屋外などの温度変化に制約されない
設計自由度のあるＰＤＳ光伝送システムを構築すること
が可能となる。

【００５７】［実施の形態３］図７は、本実施の形態の
光パルス試験装置６’’の概略構成を示すブロック図で
ある。

【００５８】本実施の形態は、前記実施の形態１におけ
る光パルス試験装置６を、図７に示す光パルス試験装置
６’’と置き換えた以外は、前記実施の形態１と同じで
ある。

【００５９】図７において、６’’は光パルス試験装
置、９’’は広波長スペクトル幅光源、１０は音響光学
スイッチ、１１は受光素子、１２はタイミング発生装
置、１３は主制御／識別部、１４は光源駆動回路、１５
は加算器、１６は波長選択用光バンドパスフィルタであ
る。

【００６０】図７に示す光パルス試験装置６’’おい
て、光源駆動回路１４は、主制御／識別部１３の制御を
受け、広波長スペクトル幅光源９’’をパルス変調駆動
する。広波長スペクトル幅光源９’’から出力された試
験光は、分岐光ファイバ（２−１〜２−ｎ）に割り当て
られた全ての試験波長スペクトルを含んでいる。広波長
スペクトル幅光源９’’から出力されたパルス試験光
は、主制御／識別部１３の制御を受けた波長選択用光バ
ンドパスフィルタ１６によって、特定の分岐光ファイバ
（例えば、＃８）の試験波長を選択し、タイミング発生
装置１２によって光源駆動回路１４のパルス変調駆動と
同期しながら動作する音響光学スイッチ１０を通過す
る。ここで、音響光学スイッチ１０は、パルス試験光と
それによって生じる戻り光の送受信の切り替えを行うも
のである。

【００６１】このようにして、光パルス試験装置６’’
から出力されたパルス試験光は、試験光入出力手段７を
介して単一光ファイバ１に入射され、さらに波長選択型
光分岐器３によって、パルス試験光の波長に応じて、分
岐光ファイバ（２−１〜２−ｎ）に振り分けられる。

【００６２】即ち、波長選択型光分岐器３の試験チャン
ネルを選択的に通過したパルス試験光は、さらに分岐光
ファイバ（２−１〜２−ｎ）を伝搬し、加入者伝送装置
（５−１〜５−ｎ）の直前に設置した光バンドパスフィ
ルタ（４−１〜４−ｎ）によって遮断され、また同時に
端末反射光として反射され、前に単一光ファイバ１や分
岐光ファイバ（２−１〜２−ｎ）で生じた戻り光ととも
に、パルス試験光と同じ経路を逆に伝搬され、再び光パ
ルス試験装置６’’へ回帰し、受光素子１１で受光され
る。受光された戻り光（レイリー後方散乱光、もしくは
端末反射光）は、タイミング発生装置１２と同期して動
作している加算器１５によって加算処理され、主制御／
識別部１３の中にあるモニタにＯＴＤＲ波形として表示
する。

【００６３】このように、本実施の形態では、光パルス
試験装置６’’から、特定の分岐光ファイバ（２−１〜
２−ｎ）に割り当てられた試験波長のパルス試験光を選
択的に出力し、主制御／識別部１３の制御によって、波
長選択用光バンドパスフィルタ１６を波長選択型光分岐
器３の試験チャンネルの半値全幅の半分より小さな刻み
で変化させ、特定の分岐光ファイバに割り当てられた試
験チャンネルの戻り光を受光素子１１で測定し、その戻
り光の最大強度を主制御／識別部１３で識別する。その
時の最大強度の試験波長と、予め光パルス試験装置
６’’側で把握しておいた波長選択型光分岐器３の参照
チャンネルの参照波長との差からドリフト量（△λｔ）
を求めることができる。

【００６４】これにより、任意の温度環境下にある波長
選択型光分岐器３の試験チャンネルに対しても、そのド
リフト量（Δλｔ）を、波長選択型光分岐器３の各試験
チャンネルの初期条件に補正を加えることによって、各
試験チャンネルの最大透過波長を推定することができる
ため、前記実施の形態１と同様にして、各分岐光ファイ
バ（２−１〜２−ｎ）を個別に試験することが可能とな
る。

【００６５】このように、本実施の形態によれば、屋外
環境などの温度変化によって波長選択型光分岐器３のチ
ャンネルがドリフトするようなＰＤＳ光伝送システムに
おいて、光パルス試験装置６’’によって特定の試験チ
ャンネルのドリフトを監視し、そのドリフト量で各試験
チャンネルの初期条件を補正することによって、各分岐
光ファイバ（２−１〜２−ｎ）を個別に試験することが
できる。これにより、屋外などの温度変化に制約されな
い設計自由度のあるＰＤＳ光伝送システムを構築するこ
とが可能となる。

【００６６】［実施の形態４］本実施の形態は、前記実
施の形態１で用いられる光バンドパスフィルタ（４−１
〜４−ｎ）を、通常のフレネル反射光より大きな反射強
度特性をもつ反射機能付き光バンドパスフィルタと置き
換える以外は、前記実施の形態１と同じである。

【００６７】反射機能付き光バンドパスフィルタによっ
て生じる反射光は、通常のフレネル反射光、もしくは後
方散乱光より強い反射光として光パルス試験装置６に回
帰するため、光パルス試験装置６のダイナミックレンジ
を拡大できるばかりでなく、試験可能距離が長いＰＤＳ
光伝送システムのチャンネルドリフトを監視する場合、
あるいは監視に伴うアベレージング時間を短縮させる手
段として有効である。

【００６８】このように、本実施の形態では、反射機能
付き光バンドパスフィルタからの反射光をチャンネルド
リフトの試験光に用いながら前記実施の形態１の手順に
従って、ＰＤＳ光伝送システムの特定の試験チャンネル
のドリフトを監視し、そのドリフト量を各試験チャンネ
ルの初期条件に補正を加えることによって、前記実施の
形態１と同様にして、各分岐光ファイバ（２−１〜２−
ｎ）を個別に試験することができる。これにより、屋外
などの温度変化に制約されない設計自由度のあるＰＤＳ
光伝送システムを構築することが可能となる。

【００６９】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明
は、前記実施の形態に限定されるものではなく、その要
旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは
勿論である。

【００７０】

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記の通りである。

【００７１】（１）本発明によれば、屋外などの温度変
化によって波長選択型光分岐器の試験チャンネルが、不
可抗力的に変化するようなＰＤＳ光伝送システムにおい
て、１つの通信チャンネルも犠牲にすることなく、光パ
ルス試験装置のみによって試験チャンネルドリフトを検
知しながら各分岐光ファイバを個別に試験することが可
能となる。

【００７２】（２）本発明によれば、経済的で、かつ外
部温度環境に制約されない設計自由度のあるＰＤＳ光伝
送システムを構築することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態である分岐光線路試験装
置が使用されるＰＤＳ光伝送システムの概略構成を示す
ブロック図である。

【図２】図１に示す波長選択型光分岐器の試験チャンネ
ルの透過スペクトラムを示すグラフである。

【図３】図１に示す波長選択型光分岐器における、温度
と試験チャンネルドリフト量との関係を示すグラフであ
る。

【図４】本実施の形態１の光パルス試験装置の概略構成
を示すブロック図である。

【図５】波長選択型光分岐器の温度変化に伴う、８番分
岐光ファイバからのレイリー後方散乱光の強度変化（Ｏ
ＴＤＲ波形）を測定したグラフである。

【図６】本実施の形態２の光パルス試験装置の概略構成
を示すブロック図である。

【図７】本実施の形態３の光パルス試験装置の概略構成
を示すブロック図である。

【図８】ＰＤＳ光伝送システムの試験チャンネルドリフ
トを補正する従来の方法を説明するための図である。

【符号の説明】

１…単一光ファイバ、２−１〜２−ｎ…分岐光ファイ
バ、３…波長選択型光分岐器、４−１〜４−ｎ…光バン
ドパスフィルタ、５−１〜５−ｎ…加入者伝送装置、
６，６’，６’’…光パルス試験装置、７…試験光入出
力手段、８…局内伝送装置、９…波長可変光源、９’，
９’’…広波長スペクトル幅光源、１０…音響光学スイ
ッチ、１１…受光素子、１２…タイミング発生装置、１
３…主制御／識別部、１４…光源駆動回路、１５…加算
器、１６…波長選択用光バンドパスフィルタ。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 局内伝送装置と、異なる複数の波長の通
   信光および試験光を各々の波長に応じて複数の相異なる
   光ファイバに振り分ける波長選択型光分岐器と、複数の
   加入者伝送装置と、前記局内伝送装置と前記波長選択型
   光分岐器との間に設けられ前記通信光および試験光を伝
   搬させる１本の光ファイバと、前記波長選択型光分岐器
   と複数の加入者伝送装置との間に設けられる複数の分岐
   光ファイバとを具備するＰＤＳ光伝送システムに使用さ
   れる分岐光線路試験装置であって、 試験光を出力する光パルス試験装置と、 前記光パルス試験装置からの試験光を前記１本の光ファ
   イバに入出力させる光結合器と、 前記複数の加入者伝送装置の直前に設置され、前記試験
   光を遮断する光フィルタとを備え、 前記光パルス試験装置は、 前記分岐光ファイバの各々に割り当てられた試験波長帯
   域の全ての波長範囲の試験光を出力する波長可変光源
   と、 前記波長可変光源からの試験光によって生じる前記分岐
   光ファイバからのレイリー後方散乱光、もしくは前記光
   フィルタからの反射光を検出する受光器と、 前記受光器の検出結果に基づき、前記分岐光ファイバの
   各々に割り当てられた試験波長帯域の中で、最大透過波
   長を識別する識別手段とを有することを特徴とする分岐
   光線路試験装置。
2. 【請求項２】 局内伝送装置と、異なる複数の波長の通
   信光および試験光を各々の波長に応じて複数の相異なる
   光ファイバに振り分ける波長選択型光分岐器と、複数の
   加入者伝送装置と、前記局内伝送装置と前記波長選択型
   光分岐器との間に設けられ前記通信光および試験光を伝
   搬させる１本の光ファイバと、前記波長選択型光分岐器
   と複数の加入者伝送装置との間に設けられる複数の分岐
   光ファイバとを具備するＰＤＳ光伝送システムに使用さ
   れる分岐光線路試験装置であって、 試験光を出力する光パルス試験装置と、 前記光パルス試験装置からの試験光を前記１本の光ファ
   イバに入出力させる光結合器と、 前記複数の加入者伝送装置の直前に設置され、前記試験
   光を遮断する光フィルタとを備え、 前記光パルス試験装置は、 前記分岐光ファイバの各々に割り当てられた試験波長帯
   域の全ての波長を含む広帯域の試験光を出力する少なく
   とも１つの試験用光源と、 前記少なくとも１つの試験用光源からの広帯域の試験光
   によって生じる前記分岐光ファイバからのレイリー後方
   散乱光、もしくは前記光フィルタからの反射光の中か
   ら、前記分岐光ファイバの各々に割り当てられた試験波
   長帯域内の波長を個別に選択して出力する透過波長可変
   型光バンドパスフィルタと、 前記透過波長可変型光バンドパスフィルタからの透過光
   を検出する受光器と、 前記受光器の検出結果に基づき、前記分岐光ファイバの
   各々に割り当てられた試験波長帯域の中で、最大透過波
   長を識別する識別手段とを有することを特徴とする分岐
   光線路試験装置。
3. 【請求項３】 局内伝送装置と、異なる複数の波長の通
   信光および試験光を各々の波長に応じて複数の相異なる
   光ファイバに振り分ける波長選択型光分岐器と、複数の
   加入者伝送装置と、前記局内伝送装置と前記波長選択型
   光分岐器との間に設けられ前記通信光および試験光を伝
   搬させる１本の光ファイバと、前記波長選択型光分岐器
   と複数の加入者伝送装置との間に設けられる複数の分岐
   光ファイバとを具備するＰＤＳ光伝送システムに使用さ
   れる分岐光線路試験装置であって、 試験光を出力する光パルス試験装置と、 前記光パルス試験装置からの試験光を前記１本の光ファ
   イバに入出力させる光結合器と、 前記複数の加入者伝送装置の直前に設置され、前記試験
   光を遮断する光フィルタとを備え、 前記光パルス試験装置は、 前記分岐光ファイバの各々に割り当てられた試験波長帯
   域の全ての波長を含む広帯域の試験光を出力する少なく
   とも１つの試験用光源と、 前記少なくとも１つの試験用光源から出力される広帯域
   の試験光の中から、前記分岐光ファイバの各々に割り当
   てられた試験波長帯域内の波長を個別に選択して出力す
   る透過波長可変型光バンドパスフィルタと、 前記透過波長可変型光バンドパスフィルタからの試験光
   によって生じる前記分岐光ファイバからのレイリー後方
   散乱光、もしくは前記光フィルタからの反射光を検出す
   る受光器と、 前記受光器の検出結果に基づき、前記分岐光ファイバの
   各々に割り当てられた試験波長帯域の中で、最大透過波
   長を識別する識別手段とを有することを特徴とする分岐
   光線路試験装置。
4. 【請求項４】 前記光フィルタは、前記通信光を透過さ
   せ、前記試験光を遮断かつ反射させる光バンドパスフィ
   ルタであることを特徴とする請求項１ないし請求項３の
   いずれか１項に記載された分岐光線路試験装置。