JPH11273076A - 光学的情報記録方法および装置 - Google Patents
光学的情報記録方法および装置Info
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- JPH11273076A JPH11273076A JP10073883A JP7388398A JPH11273076A JP H11273076 A JPH11273076 A JP H11273076A JP 10073883 A JP10073883 A JP 10073883A JP 7388398 A JP7388398 A JP 7388398A JP H11273076 A JPH11273076 A JP H11273076A
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
- G11B7/1263—Power control during transducing, e.g. by monitoring
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/004—Recording, reproducing or erasing methods; Read, write or erase circuits therefor
- G11B7/006—Overwriting
- G11B7/0062—Overwriting strategies, e.g. recording pulse sequences with erasing level used for phase-change media
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】光学的情報記録装置において、線記録密度が異
なる場合でも形成するマークの位置精度を向上する記録
補償方法を提供する。 【解決手段】光ディスク１００に光をパルス的に照射し
て始端および終端の位置で記録情報を表すマークを形成
する光学的情報記録装置において、マークの長短に依存
するマークの始端および終端位置のシフトを軽減するた
めの記録補償を行う際に、パワーコントローラ１０４に
よりマークを形成するための照射光の強度をマーク長に
応じて変化させると共に、マーク長方向の記録密度に応
じて照射光の強度をさらに変化させる。
なる場合でも形成するマークの位置精度を向上する記録
補償方法を提供する。 【解決手段】光ディスク１００に光をパルス的に照射し
て始端および終端の位置で記録情報を表すマークを形成
する光学的情報記録装置において、マークの長短に依存
するマークの始端および終端位置のシフトを軽減するた
めの記録補償を行う際に、パワーコントローラ１０４に
よりマークを形成するための照射光の強度をマーク長に
応じて変化させると共に、マーク長方向の記録密度に応
じて照射光の強度をさらに変化させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、記録媒体上に光の
照射によりマークを形成して情報記録を行う光学的情報
記録方法および装置に関する。
照射によりマークを形成して情報記録を行う光学的情報
記録方法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】記録媒体上に光を照射し、発生する熱に
よって光学的に識別可能なマークを形成して記録を行う
光記録媒体の一つに、熱による結晶と非晶質との間の相
変化を利用して記録を行う相変化型媒体がある。相変化
型媒体の記録膜は定常状態では結晶であるが、光が照射
された領域は加熱・熔融された後、冷却されることで非
晶質へと相変化を起こす。この原理を利用して非晶質部
をマークとして形成することにより、情報の記録を行う
ことができる。このような相変化型媒体では、マークの
始端および終端の位置を記録する２値情報に対応させる
ＰＷＭ(Pulse Width Modulation:パルス幅変調）方式が
記録密度向上に有効である。
よって光学的に識別可能なマークを形成して記録を行う
光記録媒体の一つに、熱による結晶と非晶質との間の相
変化を利用して記録を行う相変化型媒体がある。相変化
型媒体の記録膜は定常状態では結晶であるが、光が照射
された領域は加熱・熔融された後、冷却されることで非
晶質へと相変化を起こす。この原理を利用して非晶質部
をマークとして形成することにより、情報の記録を行う
ことができる。このような相変化型媒体では、マークの
始端および終端の位置を記録する２値情報に対応させる
ＰＷＭ(Pulse Width Modulation:パルス幅変調）方式が
記録密度向上に有効である。
【０００３】一般に光ディスクにＰＷＭ方式を適用する
場合、光の照射に伴う蓄熱効果を低減するために、長い
マークを形成するときには、照射光として単一の光パル
スではなく、複数に分割した光パルスを用いていわゆる
マルチパルス記録を行う。図１２に、このようなマルチ
パルス記録の例を示す。図１２は８／１６変調符号で情
報を記録する場合の例であり、記録ウインドウ幅Ｔに対
してマーク長は３Ｔ〜１４Ｔの離散的な値になる。
場合、光の照射に伴う蓄熱効果を低減するために、長い
マークを形成するときには、照射光として単一の光パル
スではなく、複数に分割した光パルスを用いていわゆる
マルチパルス記録を行う。図１２に、このようなマルチ
パルス記録の例を示す。図１２は８／１６変調符号で情
報を記録する場合の例であり、記録ウインドウ幅Ｔに対
してマーク長は３Ｔ〜１４Ｔの離散的な値になる。
【０００４】図１２によると、最短マークである長さ３
Ｔの短マークについては、（ａ）に示すように幅１．５
Ｔのパルス単独で記録するが、長さ４Ｔ以上の長マーク
については、（ｂ）に示すように幅１．５Ｔの先頭パル
スの後に、３Ｔよりも長い分だけ０．５Ｔの消去パワー
期間と０．５Ｔの記録パワー期間を繰り返し設けて、す
なわち幅０．５Ｔの後続パルスを追加して形成する。
Ｔの短マークについては、（ａ）に示すように幅１．５
Ｔのパルス単独で記録するが、長さ４Ｔ以上の長マーク
については、（ｂ）に示すように幅１．５Ｔの先頭パル
スの後に、３Ｔよりも長い分だけ０．５Ｔの消去パワー
期間と０．５Ｔの記録パワー期間を繰り返し設けて、す
なわち幅０．５Ｔの後続パルスを追加して形成する。
【０００５】しかし、このようなマルチパルス記録を行
っても、実際に形成されるマークの始端および後端の位
置はマーク長の長短によって予定の位置から変化すると
いう問題がある。例えば、図１３に示すようにマーク長
の長短やマーク間隔の大小のみに従って同じタイミング
で光パルスの照射開始あるいは照射終了をしても、これ
により形成されるマークは、短マークと比較して長マー
クが短縮される方向に始端位置と後端位置がシフトす
る。
っても、実際に形成されるマークの始端および後端の位
置はマーク長の長短によって予定の位置から変化すると
いう問題がある。例えば、図１３に示すようにマーク長
の長短やマーク間隔の大小のみに従って同じタイミング
で光パルスの照射開始あるいは照射終了をしても、これ
により形成されるマークは、短マークと比較して長マー
クが短縮される方向に始端位置と後端位置がシフトす
る。
【０００６】すなわち、短マークと長マークの形成時に
同じタイミングで光の照射を開始すると、先頭パルス照
射終了までは両者とも同じ加熱条件となるが、先頭パル
スのみを用いる短マーク形成時には媒体の加熱・溶融さ
れた領域はそのまま冷却されて非晶質となるのに対し、
マルチパルス記録を用いる長マーク形成時には先頭パル
スによって加熱・溶融された領域が後続パルスの照射に
よる再加熱を受け、非晶質領域周辺部の再結晶化が促進
されるため、マーク長が短縮される方向へマークの始端
位置がシフトする。
同じタイミングで光の照射を開始すると、先頭パルス照
射終了までは両者とも同じ加熱条件となるが、先頭パル
スのみを用いる短マーク形成時には媒体の加熱・溶融さ
れた領域はそのまま冷却されて非晶質となるのに対し、
マルチパルス記録を用いる長マーク形成時には先頭パル
スによって加熱・溶融された領域が後続パルスの照射に
よる再加熱を受け、非晶質領域周辺部の再結晶化が促進
されるため、マーク長が短縮される方向へマークの始端
位置がシフトする。
【０００７】一方、短マークと長マークの形成時に同じ
タイミングで光照射を終了すると、媒体の熱特性により
光照射終了時の温度分布が必ずしも両者で同じとなら
ず、後続パルスによる加熱直後の媒体温度は、先頭パル
スによる加熱直後の媒体温度よりも低くなるために、光
照射終了時の溶融領域が小さくなる結果、長マークはや
はりマーク長が短縮される方向へ終端位置がシフトす
る。
タイミングで光照射を終了すると、媒体の熱特性により
光照射終了時の温度分布が必ずしも両者で同じとなら
ず、後続パルスによる加熱直後の媒体温度は、先頭パル
スによる加熱直後の媒体温度よりも低くなるために、光
照射終了時の溶融領域が小さくなる結果、長マークはや
はりマーク長が短縮される方向へ終端位置がシフトす
る。
【０００８】このように長マークの始端位置および終端
位置は、短マークの始端位置および終端位置よりもマー
ク長が短縮される方向へシフトする。このようなマーク
の長短に依存するマークの始端位置および終端位置のシ
フトを回避して、マークを精度良く形成するために、何
らかの記録補償を行うことが必要となる。この記録補償
の方法として、例えば特開平７−１２９９５９に見られ
るように、形成しようとするマークの長短によって照射
光パルスの先頭および後尾の位置を予め動かしてマーク
を形成する方法が提案されている。
位置は、短マークの始端位置および終端位置よりもマー
ク長が短縮される方向へシフトする。このようなマーク
の長短に依存するマークの始端位置および終端位置のシ
フトを回避して、マークを精度良く形成するために、何
らかの記録補償を行うことが必要となる。この記録補償
の方法として、例えば特開平７−１２９９５９に見られ
るように、形成しようとするマークの長短によって照射
光パルスの先頭および後尾の位置を予め動かしてマーク
を形成する方法が提案されている。
【０００９】しかしながら、この記録補償法では光パル
スをクロック同期状態から変化させて発生させねばなら
ず、しかもマーク長によってその変化量も変えねばなら
ない。そのためにはプログラマブルディレイラインのよ
うな複雑な回路が必要であり、精度とコストの両立が難
しくなってしまうという問題が起こる。
スをクロック同期状態から変化させて発生させねばなら
ず、しかもマーク長によってその変化量も変えねばなら
ない。そのためにはプログラマブルディレイラインのよ
うな複雑な回路が必要であり、精度とコストの両立が難
しくなってしまうという問題が起こる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、マー
クの長短に依存するマークの始端位置および終端位置の
シフトを回避してマークを精度良く形成するために、マ
ークの長短によって照射光パルスの先頭および後尾の位
置を予め動かしてマークを形成する従来の記録補償法で
は、光パルスをクロック同期状態から変化させて発生さ
せ、かつマーク長によってその変化量を変えるために複
雑な回路が必要であり、形成するマークの精度とコスト
を両立させることが難しいという問題があった。
クの長短に依存するマークの始端位置および終端位置の
シフトを回避してマークを精度良く形成するために、マ
ークの長短によって照射光パルスの先頭および後尾の位
置を予め動かしてマークを形成する従来の記録補償法で
は、光パルスをクロック同期状態から変化させて発生さ
せ、かつマーク長によってその変化量を変えるために複
雑な回路が必要であり、形成するマークの精度とコスト
を両立させることが難しいという問題があった。
【００１１】従って、本発明の目的は、大きなコスト増
を伴うことなく形成するマークの精度を向上させること
可能とした記録補償法を有する光学的情報記録方法およ
び装置を提供することにある。
を伴うことなく形成するマークの精度を向上させること
可能とした記録補償法を有する光学的情報記録方法およ
び装置を提供することにある。
【００１２】本発明の他の目的は、線記録密度が異なる
場合でも形成するマークの位置精度を向上させることが
でき記録補償方法を有する光学的情報記録方法および装
置を提供することにある。
場合でも形成するマークの位置精度を向上させることが
でき記録補償方法を有する光学的情報記録方法および装
置を提供することにある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、本発明は記録媒体上に光をパルス的に照射して始
端および後端の位置に記録情報を表すマークを形成する
光学的情報記録方法において、（ａ）マークを形成する
ための照射光の強度をマーク長に応じてさせると共に、
マーク長方向の記録密度に応じて該照射光の強度をさら
に変化させるか、または（ｂ）マークを形成するための
照射光のパルス幅をマーク長のより短い領域でマーク長
の違い以上にパルス幅が減少するようにマーク長に対し
て非線形に変化させると共に、マーク長方向の記録密度
に応じて照射光のパルス幅をさらに変化させるか、ある
いは（ｃ）マークを形成するための照射光の強度をマー
ク長に応じて変化させ、かつ該照射光のパルス幅をマー
ク長のより短い領域でマーク長の違い以上にパルス幅が
減少するようにマーク長に対して非線形に変化させると
共に、マーク長方向の記録密度に応じて該照射光の強度
およびパルス幅をさらに変化させることを特徴とする。
めに、本発明は記録媒体上に光をパルス的に照射して始
端および後端の位置に記録情報を表すマークを形成する
光学的情報記録方法において、（ａ）マークを形成する
ための照射光の強度をマーク長に応じてさせると共に、
マーク長方向の記録密度に応じて該照射光の強度をさら
に変化させるか、または（ｂ）マークを形成するための
照射光のパルス幅をマーク長のより短い領域でマーク長
の違い以上にパルス幅が減少するようにマーク長に対し
て非線形に変化させると共に、マーク長方向の記録密度
に応じて照射光のパルス幅をさらに変化させるか、ある
いは（ｃ）マークを形成するための照射光の強度をマー
ク長に応じて変化させ、かつ該照射光のパルス幅をマー
ク長のより短い領域でマーク長の違い以上にパルス幅が
減少するようにマーク長に対して非線形に変化させると
共に、マーク長方向の記録密度に応じて該照射光の強度
およびパルス幅をさらに変化させることを特徴とする。
【００１４】本発明の一つの態様によると、マークを形
成するための照射光は、マーク長に応じた幅の単一パル
スとマーク長に応じた数のマルチパルスの少なくも一方
により構成される。
成するための照射光は、マーク長に応じた幅の単一パル
スとマーク長に応じた数のマルチパルスの少なくも一方
により構成される。
【００１５】本発明の他の態様によると、マークを形成
するための照射光のうち、マーク長のより短いマークを
形成するための照射光はマーク長に応じた幅の単一パル
スにより構成され、マーク長のより長いマークを形成す
るための照射光はマーク長に応じた数のマルチパルスに
より構成される。
するための照射光のうち、マーク長のより短いマークを
形成するための照射光はマーク長に応じた幅の単一パル
スにより構成され、マーク長のより長いマークを形成す
るための照射光はマーク長に応じた数のマルチパルスに
より構成される。
【００１６】これらの場合、単一のパルスもしくはマル
チパルスの照射終了後の照射光の強度や、マルチパルス
の各パルス間の照射光の強度をマークを消去するのに必
要な強度より低くしてもよい。
チパルスの照射終了後の照射光の強度や、マルチパルス
の各パルス間の照射光の強度をマークを消去するのに必
要な強度より低くしてもよい。
【００１７】また、マーク長のより短いマークを形成す
るための照射光の強度をマーク長のより長いマークを形
成するための照射光の少なくとも一部の強度よりも低く
してもよい。
るための照射光の強度をマーク長のより長いマークを形
成するための照射光の少なくとも一部の強度よりも低く
してもよい。
【００１８】さらに、マーク長のより長いマークを形成
するための照射光の強度を照射光の先頭と後尾で異なら
せてもよい。本発明は、特に記録媒体として相変化型の
記録膜を有する媒体を用い、照射光による熱で結晶から
非晶質に変化させてマークを形成する光学的情報記録方
法に好適である。
するための照射光の強度を照射光の先頭と後尾で異なら
せてもよい。本発明は、特に記録媒体として相変化型の
記録膜を有する媒体を用い、照射光による熱で結晶から
非晶質に変化させてマークを形成する光学的情報記録方
法に好適である。
【００１９】本発明に係る光学的情報記録装置は、記録
媒体上にマークを形成するための光を照射する照射手段
と、この照射手段による照射光の光強度を制御する光強
度制御手段とを有する。そして、光強度制御手段は、マ
ークを形成するための照射光の強度をマーク長に応じて
変化させると共に、マーク長方向の記録密度に応じてそ
の変化量を変化させるように構成される。
媒体上にマークを形成するための光を照射する照射手段
と、この照射手段による照射光の光強度を制御する光強
度制御手段とを有する。そして、光強度制御手段は、マ
ークを形成するための照射光の強度をマーク長に応じて
変化させると共に、マーク長方向の記録密度に応じてそ
の変化量を変化させるように構成される。
【００２０】本発明に係る他の光学的情報記録装置は、
記録媒体上にマークを形成するための光を照射する照射
手段と、この照射手段による照射光のパルス幅を制御す
るパルス幅制御手段とを有する。そして、パルス幅制御
手段は、マークを形成するための照射光のパルス幅をマ
ーク長のより短い領域でマーク長の違い以上にパルス幅
が減少するようにマーク長に対して非線形的に変化させ
ると共に、マーク長方向の記録密度に応じてその変化量
を変化させるように構成される。
記録媒体上にマークを形成するための光を照射する照射
手段と、この照射手段による照射光のパルス幅を制御す
るパルス幅制御手段とを有する。そして、パルス幅制御
手段は、マークを形成するための照射光のパルス幅をマ
ーク長のより短い領域でマーク長の違い以上にパルス幅
が減少するようにマーク長に対して非線形的に変化させ
ると共に、マーク長方向の記録密度に応じてその変化量
を変化させるように構成される。
【００２１】本発明に係る別の光学的情報記録装置は、
記録媒体上にマークを形成するための光を照射する照射
手段と、この照射手段による照射光の光強度を制御する
光強度制御手段と、照射手段による照射光のパルス幅を
制御するパルス幅制御手段とを有する。そして、光強度
制御手段は、マークを形成するための照射光の強度をマ
ーク長に応じて変化させると共に、マーク長方向の記録
密度に応じてその変化量を変化させ、パルス幅制御手段
は、マークを形成するための照射光のパルス幅をマーク
長のより短い領域でマーク長の違い以上にパルス幅が減
少するようにマーク長に対して非線形に変化させると共
に、マーク長方向の記録密度に応じてその変化量を変化
させるように構成される。
記録媒体上にマークを形成するための光を照射する照射
手段と、この照射手段による照射光の光強度を制御する
光強度制御手段と、照射手段による照射光のパルス幅を
制御するパルス幅制御手段とを有する。そして、光強度
制御手段は、マークを形成するための照射光の強度をマ
ーク長に応じて変化させると共に、マーク長方向の記録
密度に応じてその変化量を変化させ、パルス幅制御手段
は、マークを形成するための照射光のパルス幅をマーク
長のより短い領域でマーク長の違い以上にパルス幅が減
少するようにマーク長に対して非線形に変化させると共
に、マーク長方向の記録密度に応じてその変化量を変化
させるように構成される。
【００２２】本発明によると、基本的に形成しようとす
るマーク長に依存して、（ａ）短マークを形成する際の
照射光（例えば単一パルス）の強度を長マークを形成す
る際の照射光（例えばマルチパルス）の強度より低くす
るか、または、（ｂ）短マークを形成する際の照射光の
パルス幅を長マークを形成する際の照射光のパルス幅に
比較して短マークと長マークとのマーク長の差以上に短
かくすることにより、あるいは、（ｃ）これら照射光の
強度およびパルス幅の両方をマーク長に依存して変化さ
せることにより、マークの始端位置および終端位置のシ
フトが軽減される。
るマーク長に依存して、（ａ）短マークを形成する際の
照射光（例えば単一パルス）の強度を長マークを形成す
る際の照射光（例えばマルチパルス）の強度より低くす
るか、または、（ｂ）短マークを形成する際の照射光の
パルス幅を長マークを形成する際の照射光のパルス幅に
比較して短マークと長マークとのマーク長の差以上に短
かくすることにより、あるいは、（ｃ）これら照射光の
強度およびパルス幅の両方をマーク長に依存して変化さ
せることにより、マークの始端位置および終端位置のシ
フトが軽減される。
【００２３】この場合、形成しようとするマークの長短
によって照射光パルスの先頭および後尾の位置を予め動
かしてマークを形成する従来の記録補償法のように、光
パルスをクロック同期状態から変化させて発生させ、か
つマーク長によってその変化量も変えるためにプログラ
マブルディレイラインのような複雑な回路を必要とする
ことがなく、光ディスク装置のパワーコントローラが本
来持っている強度切り替え機能を利用したり、簡単なパ
ルス幅伸縮操作を行うことで、上述の記録補償を実現で
きる。従って、大きなコスト増を伴うことなく、形成す
るマークの精度を向上させて高い情報記録信頼性を得る
ことができる。
によって照射光パルスの先頭および後尾の位置を予め動
かしてマークを形成する従来の記録補償法のように、光
パルスをクロック同期状態から変化させて発生させ、か
つマーク長によってその変化量も変えるためにプログラ
マブルディレイラインのような複雑な回路を必要とする
ことがなく、光ディスク装置のパワーコントローラが本
来持っている強度切り替え機能を利用したり、簡単なパ
ルス幅伸縮操作を行うことで、上述の記録補償を実現で
きる。従って、大きなコスト増を伴うことなく、形成す
るマークの精度を向上させて高い情報記録信頼性を得る
ことができる。
【００２４】そして、本発明ではさらに形成しようとす
るマーク長に依存して、（ａ）のように短マークを形成
する際の照射光の強度を長マークを形成する際の照射光
（例えばマルチパルス）の強度より低くする際に、
（ａ′）マーク長方向の記録密度に応じて強度低くする
度合いを変化させるか、または、（ｂ）のように短マー
クを形成する際の照射光のパルス幅を長マークを形成す
る際の照射光のパルス幅に比較して短マークと長マーク
とのマーク長の差以上に短くする際に、（ｂ′）マーク
長方向の記録密度に応じてパルス幅を短くする度合いを
変化させるか、あるいは、（ｃ）のように照射光の強度
およびパルス幅の両方をマーク長に依存して変化させる
際に、（ｃ′）照射光の強度およびパルス幅の両方の変
化の度合いをマーク長方向の記録密度に依存させること
により、マークの始端位置および後端位置のシフトが線
記録密度、つまりマーク長方向の記録密度が異なった場
合でも低減される。
るマーク長に依存して、（ａ）のように短マークを形成
する際の照射光の強度を長マークを形成する際の照射光
（例えばマルチパルス）の強度より低くする際に、
（ａ′）マーク長方向の記録密度に応じて強度低くする
度合いを変化させるか、または、（ｂ）のように短マー
クを形成する際の照射光のパルス幅を長マークを形成す
る際の照射光のパルス幅に比較して短マークと長マーク
とのマーク長の差以上に短くする際に、（ｂ′）マーク
長方向の記録密度に応じてパルス幅を短くする度合いを
変化させるか、あるいは、（ｃ）のように照射光の強度
およびパルス幅の両方をマーク長に依存して変化させる
際に、（ｃ′）照射光の強度およびパルス幅の両方の変
化の度合いをマーク長方向の記録密度に依存させること
により、マークの始端位置および後端位置のシフトが線
記録密度、つまりマーク長方向の記録密度が異なった場
合でも低減される。
【００２５】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。 （第１の実施形態）図１に、本発明の第１の実施形態に
よる光ディスク装置の構成を示す。本実施形態では、マ
ーク長の長短に応じて照射光の強度を変化させると共
に、マーク長方向の線密度に応じて変化の度合いを変え
る記録補償法を適用した例について説明する。
施の形態を説明する。 （第１の実施形態）図１に、本発明の第１の実施形態に
よる光ディスク装置の構成を示す。本実施形態では、マ
ーク長の長短に応じて照射光の強度を変化させると共
に、マーク長方向の線密度に応じて変化の度合いを変え
る記録補償法を適用した例について説明する。
【００２６】相変化光ディスク１００への記録時には、
記録クロック１０１およびこれに同期した記録データ１
０２がパワーコントローラ１０４に入力される。パワー
コントローラ１０４は、記録データ１０２およびレーザ
パワー情報１１２に応じた記録波形を生成する。ＬＤド
ライバ１０３は、この記録波形に応じてレーザダイオー
ド（ＬＤ）１１３を駆動してレーザ光を出射させる。こ
こで、レーザパワー情報１１２はマーク長方向の記録密
度情報１１１に基づいてＣＰＵ１１０によって決定され
る。レーザダイオード１１３から出射されたレーザ光
は、ビームスプリッタ１０５を介して対物レンズ１０６
に入射し、この対物レンズ１０６により相変化光ディス
ク１００上に微小スポットとして照射される。
記録クロック１０１およびこれに同期した記録データ１
０２がパワーコントローラ１０４に入力される。パワー
コントローラ１０４は、記録データ１０２およびレーザ
パワー情報１１２に応じた記録波形を生成する。ＬＤド
ライバ１０３は、この記録波形に応じてレーザダイオー
ド（ＬＤ）１１３を駆動してレーザ光を出射させる。こ
こで、レーザパワー情報１１２はマーク長方向の記録密
度情報１１１に基づいてＣＰＵ１１０によって決定され
る。レーザダイオード１１３から出射されたレーザ光
は、ビームスプリッタ１０５を介して対物レンズ１０６
に入射し、この対物レンズ１０６により相変化光ディス
ク１００上に微小スポットとして照射される。
【００２７】相変化光ディスク１００上では、レーザ光
の記録パワーで照射された部分が非晶質となり、記録デ
ータ１０２に応じた非晶質のマークが形成される。この
マークの始端および後端の位置が記録データ１０２の２
値情報に対応する。
の記録パワーで照射された部分が非晶質となり、記録デ
ータ１０２に応じた非晶質のマークが形成される。この
マークの始端および後端の位置が記録データ１０２の２
値情報に対応する。
【００２８】一方、相変化光ディスク１００からの再生
時には、相変化光ディスク１００からの反射光がビーム
スプリッタ１０５を介して光検出器１０７に入射され
る。この光検出器１０７により、相変化光ディスク１０
０上の結晶部と非晶質部との反射率差が検出され、この
反射率差に対応した光検出器１０７の出力信号が再生系
１０８で信号処理されて再生信号１０９が得られる。
時には、相変化光ディスク１００からの反射光がビーム
スプリッタ１０５を介して光検出器１０７に入射され
る。この光検出器１０７により、相変化光ディスク１０
０上の結晶部と非晶質部との反射率差が検出され、この
反射率差に対応した光検出器１０７の出力信号が再生系
１０８で信号処理されて再生信号１０９が得られる。
【００２９】次に、図２および図３を用いて、本実施形
態の特徴をなすパワーコントローラ１０４について説明
する。図２にパワーコントローラ１０４の構成例を示
し、図３にその動作波形を示す。
態の特徴をなすパワーコントローラ１０４について説明
する。図２にパワーコントローラ１０４の構成例を示
し、図３にその動作波形を示す。
【００３０】記録データ１０２は例えば８／１６変調符
号であり、記録クロック１０１に同期してパルスジェネ
レータ２１３に入力される。パルスジェネレータ２１３
は、形成すべきマークが最短マークである長さ３Ｔの場
合のみ出力２に幅１．５Ｔパルスを出力し、長さ４Ｔ以
上のマークでは出力３に幅１．５Ｔのパルスを出力す
る。出力４には、長さ４Ｔ以上のマークを形成する場合
に、期間が３Ｔよりも１Ｔ伸びる毎に幅０．５Ｔのパル
スを１つずつ出力する。出力１は、記録時には常に
“Ｈ”に保持される。この例ではパルスジェネレータ２
１３の出力１〜４は、記録データ１０２の入力に対して
５クロック分遅延されて出力される。これらの出力１〜
４は、スイッチ２０７〜２１０にそれぞれ制御信号とし
て供給されており、これが“Ｈ”のとき対応するスイッ
チをオンとする。
号であり、記録クロック１０１に同期してパルスジェネ
レータ２１３に入力される。パルスジェネレータ２１３
は、形成すべきマークが最短マークである長さ３Ｔの場
合のみ出力２に幅１．５Ｔパルスを出力し、長さ４Ｔ以
上のマークでは出力３に幅１．５Ｔのパルスを出力す
る。出力４には、長さ４Ｔ以上のマークを形成する場合
に、期間が３Ｔよりも１Ｔ伸びる毎に幅０．５Ｔのパル
スを１つずつ出力する。出力１は、記録時には常に
“Ｈ”に保持される。この例ではパルスジェネレータ２
１３の出力１〜４は、記録データ１０２の入力に対して
５クロック分遅延されて出力される。これらの出力１〜
４は、スイッチ２０７〜２１０にそれぞれ制御信号とし
て供給されており、これが“Ｈ”のとき対応するスイッ
チをオンとする。
【００３１】レーザパワー情報１１２は、記録する際の
マーク長方向の記録密度（線記録密度）に応じたパワー
情報を持っており、一旦レジスタ２０１に格納される。
レジスタ２０１は、アドレス２１１とデータ２１２を格
納している。アドレス２１１（レジスタ２０３〜２０６
のどれかを表す情報）に従ってデコーダ２０２によりレ
ジスタ２０３〜２０６のいずれかが選択され、実際のデ
ータ２１２（レーザパワー情報）がその選択されたレジ
スタに格納される。
マーク長方向の記録密度（線記録密度）に応じたパワー
情報を持っており、一旦レジスタ２０１に格納される。
レジスタ２０１は、アドレス２１１とデータ２１２を格
納している。アドレス２１１（レジスタ２０３〜２０６
のどれかを表す情報）に従ってデコーダ２０２によりレ
ジスタ２０３〜２０６のいずれかが選択され、実際のデ
ータ２１２（レーザパワー情報）がその選択されたレジ
スタに格納される。
【００３２】これによって、レジスタ２０３〜２０６に
照射レーザ光の強度（消去パワー、Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３の
記録パワー）が設定され、レジスタ２０３〜２０６の各
出力段のＤ／Ａ変換器により電流または電圧信号２１６
〜２１９に変換される。この電流または電圧信号２１６
〜２１９は、出力１〜４の信号に応じてオン・オフされ
るスイッチ２０７〜２１０により選択され、さらに加算
器２１４により電流加算または電圧加算されることによ
って、図３中に示すレーザ駆動信号２１５が得られる。
このレーザ駆動信号２１５は、図１においてパワーコン
トローラ１０４からＬＤドライバ１０３に供給される。
照射レーザ光の強度（消去パワー、Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３の
記録パワー）が設定され、レジスタ２０３〜２０６の各
出力段のＤ／Ａ変換器により電流または電圧信号２１６
〜２１９に変換される。この電流または電圧信号２１６
〜２１９は、出力１〜４の信号に応じてオン・オフされ
るスイッチ２０７〜２１０により選択され、さらに加算
器２１４により電流加算または電圧加算されることによ
って、図３中に示すレーザ駆動信号２１５が得られる。
このレーザ駆動信号２１５は、図１においてパワーコン
トローラ１０４からＬＤドライバ１０３に供給される。
【００３３】このような構成により、本実施形態では基
本的に、マークを記録する際の記録パワー（照射光の強
度）をマーク長に応じて変化させるようにしている。具
体的には、例えば図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように
長さ３Ｔの短マークを記録するときは、長さ４Ｔ以上の
長マークを記録する際の記録パワーＰからΔＰ１だけ引
いた記録パワー（Ｐ−ΔＰ１）としている。これによ
り、形成されるマークの始端位置および終端位置のシフ
トを補償することができる。
本的に、マークを記録する際の記録パワー（照射光の強
度）をマーク長に応じて変化させるようにしている。具
体的には、例えば図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように
長さ３Ｔの短マークを記録するときは、長さ４Ｔ以上の
長マークを記録する際の記録パワーＰからΔＰ１だけ引
いた記録パワー（Ｐ−ΔＰ１）としている。これによ
り、形成されるマークの始端位置および終端位置のシフ
トを補償することができる。
【００３４】この本実施形態による基本的な効果は、次
のように説明できる。まず、従来の技術では図１３
（ａ）の短マーク（マーク長３Ｔ）および図１３（ｂ）
の長マーク（マーク長５Ｔ）をそれぞれ記録する際、同
じタイミングで光の照射を開始すると、先頭の幅１．５
Ｔの光パルス照射終了までは両者とも同じ加熱条件とな
る。図１３（ａ）は先頭パルスのみであるから、光ディ
スク１００上の加熱・溶融された領域はそのまま冷却さ
れて非晶質となり、マークが形成される。これに対し、
図１３（ｂ）は先頭パルスにより加熱・溶融された領域
の冷却期間中に後続パルスの照射によって若干の再加熱
が生じるため、図１３（ａ）の場合よりも非晶質領域周
辺部の再結晶化が促進され、マーク長が短縮される方向
へマークの始端位置がシフトする。
のように説明できる。まず、従来の技術では図１３
（ａ）の短マーク（マーク長３Ｔ）および図１３（ｂ）
の長マーク（マーク長５Ｔ）をそれぞれ記録する際、同
じタイミングで光の照射を開始すると、先頭の幅１．５
Ｔの光パルス照射終了までは両者とも同じ加熱条件とな
る。図１３（ａ）は先頭パルスのみであるから、光ディ
スク１００上の加熱・溶融された領域はそのまま冷却さ
れて非晶質となり、マークが形成される。これに対し、
図１３（ｂ）は先頭パルスにより加熱・溶融された領域
の冷却期間中に後続パルスの照射によって若干の再加熱
が生じるため、図１３（ａ）の場合よりも非晶質領域周
辺部の再結晶化が促進され、マーク長が短縮される方向
へマークの始端位置がシフトする。
【００３５】一方、図１３（ｃ）の短マーク（マーク長
３Ｔ）および図１３（ｂ）の長マーク（マーク長５Ｔ）
を記録する際、同じタイミングで光の照射を終了する
と、光照射終了時の温度分布が両者で同じになるとは限
らない。これは記録媒体の熱特性に依存するが、加熱領
域が比較的急冷される媒体であれば、図１３（ｂ）の幅
０．５Ｔの後続パルスによる加熱直後の媒体温度は、図
１３（ｃ）の幅１．５Ｔの先頭パルスによる加熱直後の
媒体温度よりも低くなる。従って、図１３（ｂ）は図１
３（ｃ）の場合よりも光照射終了時の溶融領域が小さく
なるため、冷却後に形成される非晶質のマークも、マー
ク長が短縮される方向へ終端位置がシフトすることにな
る。
３Ｔ）および図１３（ｂ）の長マーク（マーク長５Ｔ）
を記録する際、同じタイミングで光の照射を終了する
と、光照射終了時の温度分布が両者で同じになるとは限
らない。これは記録媒体の熱特性に依存するが、加熱領
域が比較的急冷される媒体であれば、図１３（ｂ）の幅
０．５Ｔの後続パルスによる加熱直後の媒体温度は、図
１３（ｃ）の幅１．５Ｔの先頭パルスによる加熱直後の
媒体温度よりも低くなる。従って、図１３（ｂ）は図１
３（ｃ）の場合よりも光照射終了時の溶融領域が小さく
なるため、冷却後に形成される非晶質のマークも、マー
ク長が短縮される方向へ終端位置がシフトすることにな
る。
【００３６】すなわち、短マークの形成時には、マーク
の始端位置および終端位置ともに、同じタイミングで光
の照射開始あるいは照射終了を行って形成される長マー
クの始端位置および終端位置よりも、マーク長が伸張す
る方向へシフトする。このようなマーク長の長短に依存
するマークの始端位置および終端位置のシフトを補償す
るために、本実施形態では基本的にマーク長の長短に応
じて記録パワー（照射レーザ光の強度）を変化させる記
録補償法をとっている。
の始端位置および終端位置ともに、同じタイミングで光
の照射開始あるいは照射終了を行って形成される長マー
クの始端位置および終端位置よりも、マーク長が伸張す
る方向へシフトする。このようなマーク長の長短に依存
するマークの始端位置および終端位置のシフトを補償す
るために、本実施形態では基本的にマーク長の長短に応
じて記録パワー（照射レーザ光の強度）を変化させる記
録補償法をとっている。
【００３７】そして、本実施形態ではさらに光ディスク
１００が同一媒体であっても、図４に示すようにマーク
長方向の記録密度（線記録密度）によって記録パワーを
異ならせるようにする。すなわち、線記録密度が低い場
合には、前述した通り、図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に示す
ように長さ３Ｔの短マークを記録するときのみ、長さ４
Ｔ以上の長マークを記録する際の記録パワーＰからΔＰ
１だけ引いた記録パワー（Ｐ−ΔＰ１）にする。
１００が同一媒体であっても、図４に示すようにマーク
長方向の記録密度（線記録密度）によって記録パワーを
異ならせるようにする。すなわち、線記録密度が低い場
合には、前述した通り、図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に示す
ように長さ３Ｔの短マークを記録するときのみ、長さ４
Ｔ以上の長マークを記録する際の記録パワーＰからΔＰ
１だけ引いた記録パワー（Ｐ−ΔＰ１）にする。
【００３８】一方、線記録密度が高い場合には、図４
（ｄ）（ｅ）（ｆ）に示すように長さ３Ｔの短マークを
記録するときのみ、長さ４Ｔ以上の長マークを記録する
際の記録パワーＰからΔＰ２（≠ΔＰ１）だけ引いた記
録パワー（Ｐ−ΔＰ２）とすることで、さらに高精度な
マークの始端位置および後端位置を形成できる。
（ｄ）（ｅ）（ｆ）に示すように長さ３Ｔの短マークを
記録するときのみ、長さ４Ｔ以上の長マークを記録する
際の記録パワーＰからΔＰ２（≠ΔＰ１）だけ引いた記
録パワー（Ｐ−ΔＰ２）とすることで、さらに高精度な
マークの始端位置および後端位置を形成できる。
【００３９】この本実施形態によるもう一つの効果につ
いて、さらに詳しく説明する。マークの長短に依存する
マークの始端位置および後端位置のシフトを回避するた
めに、マークの長短に応じて照射光の光強度およびパル
ス幅を変化させることで、大きなコスト増を伴うことな
く、形成するマークの始端および後端の位置を高精度に
実現する記録補償法が考えられる。この方法では、媒体
の熱特性から最適な照射光の光強度およびパルス幅の変
化量（補償量）を予め実験やシミュレーション等により
特定し、記録装置に反映させることでマーク位置を高精
度に形成できる。例えば、図５に示すように短マークを
記録する際に記録パワーをΔＰだけ変化させることで、
マークの始端位置と後端位置を合わせることができる。
いて、さらに詳しく説明する。マークの長短に依存する
マークの始端位置および後端位置のシフトを回避するた
めに、マークの長短に応じて照射光の光強度およびパル
ス幅を変化させることで、大きなコスト増を伴うことな
く、形成するマークの始端および後端の位置を高精度に
実現する記録補償法が考えられる。この方法では、媒体
の熱特性から最適な照射光の光強度およびパルス幅の変
化量（補償量）を予め実験やシミュレーション等により
特定し、記録装置に反映させることでマーク位置を高精
度に形成できる。例えば、図５に示すように短マークを
記録する際に記録パワーをΔＰだけ変化させることで、
マークの始端位置と後端位置を合わせることができる。
【００４０】この記録補償法によると、マーク長方向の
記録密度が異なる場合には、同じ媒体でも上述のマーク
始端および後端のシフトの高精度な位置決めが保たれな
い可能性がある。すなわち、マーク長方向の記録密度が
小さい場合には、図５（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すよう
に、長さ３Ｔの短マークを記録するときのみ、長さ４Ｔ
以上の長マークを記録する際の記録パワーＰからΔＰだ
け引いた記録パワー（Ｐ−ΔＰ）にする記録補償法で
も、高精度なマークを形成できる。ところが、線記録密
度が高い場合には、図５（ｄ）（ｅ）（ｆ）に示すよう
に、長さ３Ｔの短マークを記録するときの記録パワーを
（Ｐ−ΔＰ）にしてもマークの始端位置および後端位置
がシフトしてしまう。
記録密度が異なる場合には、同じ媒体でも上述のマーク
始端および後端のシフトの高精度な位置決めが保たれな
い可能性がある。すなわち、マーク長方向の記録密度が
小さい場合には、図５（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すよう
に、長さ３Ｔの短マークを記録するときのみ、長さ４Ｔ
以上の長マークを記録する際の記録パワーＰからΔＰだ
け引いた記録パワー（Ｐ−ΔＰ）にする記録補償法で
も、高精度なマークを形成できる。ところが、線記録密
度が高い場合には、図５（ｄ）（ｅ）（ｆ）に示すよう
に、長さ３Ｔの短マークを記録するときの記録パワーを
（Ｐ−ΔＰ）にしてもマークの始端位置および後端位置
がシフトしてしまう。
【００４１】さらに、パルス幅を変化させて記録補償を
行う場合でも同様であり、マーク長方向の記録密度（線
記録密度）が小さい場合には、図６（ａ）（ｂ）（ｃ）
に示すように、長さ３Ｔの短マークを記録するときのみ
長さ４Ｔ以上の長マーク記録する際のパルス幅の短縮量
（この場合は、幅１．５Ｔの先頭パルスに対する短縮幅
の比）をパルスの前端および後端についてそれぞれΔτ
１，Δτ２にする記録補償法でも、高精度なマークを形
成できる。これに対し、線記録密度が高い場合には図６
（ｄ）（ｅ）（ｆ）に示すように、長さ３Ｔの短マーク
を記録する際のパルス幅の短縮量を同様にΔτ１，Δτ
２にしても、マークの始端位置および後端位置がシフト
してしまう。
行う場合でも同様であり、マーク長方向の記録密度（線
記録密度）が小さい場合には、図６（ａ）（ｂ）（ｃ）
に示すように、長さ３Ｔの短マークを記録するときのみ
長さ４Ｔ以上の長マーク記録する際のパルス幅の短縮量
（この場合は、幅１．５Ｔの先頭パルスに対する短縮幅
の比）をパルスの前端および後端についてそれぞれΔτ
１，Δτ２にする記録補償法でも、高精度なマークを形
成できる。これに対し、線記録密度が高い場合には図６
（ｄ）（ｅ）（ｆ）に示すように、長さ３Ｔの短マーク
を記録する際のパルス幅の短縮量を同様にΔτ１，Δτ
２にしても、マークの始端位置および後端位置がシフト
してしまう。
【００４２】このことから、例えば、高密度記録再生可
能な光ディスク装置で情報を高密度記録する場合には、
長さ３Ｔの短マークを記録するときのみ長さ４Ｔ以上の
長マークを記録する際の記録パワーの９０％にすること
で、最も高精度なマークが形成できても、同じ媒体に従
来の記録再生装置（低密度記録再生装置）で情報を低密
度記録する場合には、長さ３Ｔのマークを記録するとき
のみ長さ４Ｔ以上のマークを記録する際の記録パワーの
９５％した方が高精度なマークが形成できるということ
が起こり得る。
能な光ディスク装置で情報を高密度記録する場合には、
長さ３Ｔの短マークを記録するときのみ長さ４Ｔ以上の
長マークを記録する際の記録パワーの９０％にすること
で、最も高精度なマークが形成できても、同じ媒体に従
来の記録再生装置（低密度記録再生装置）で情報を低密
度記録する場合には、長さ３Ｔのマークを記録するとき
のみ長さ４Ｔ以上のマークを記録する際の記録パワーの
９５％した方が高精度なマークが形成できるということ
が起こり得る。
【００４３】すなわち、高密度記録再生可能な装置で同
一記録媒体に対して高密度記録と低密度記録の両方を実
現する際に、従来までの同一の記録補償量ではマーク位
置の高税度な形成ができない場合がでてくる。
一記録媒体に対して高密度記録と低密度記録の両方を実
現する際に、従来までの同一の記録補償量ではマーク位
置の高税度な形成ができない場合がでてくる。
【００４４】また、仮にマーク長方向の記録密度が異な
る２種類以上の記録媒体および光学的情報記録装置が混
在し、これらの記録再生の互換を確保しようとすると、
マーク位置の高精度な形成ができない場合がでてくる。
る２種類以上の記録媒体および光学的情報記録装置が混
在し、これらの記録再生の互換を確保しようとすると、
マーク位置の高精度な形成ができない場合がでてくる。
【００４５】例えば、マーク長方向の記録密度の高い媒
体（高密度媒体）と、この高密度媒体用の記録再生装置
（高密度記録再生装置）が開発された状況を考えると、
この高密度記録再生装置で既存の低密度媒体に低密度記
録する場合に、高密度記録再生装置で情報を高密度記録
する場合の記録補償量では、逆に記録されるマークの始
端位置および後端位置が所定の位置からずれてしまうこ
とが起こり得る。
体（高密度媒体）と、この高密度媒体用の記録再生装置
（高密度記録再生装置）が開発された状況を考えると、
この高密度記録再生装置で既存の低密度媒体に低密度記
録する場合に、高密度記録再生装置で情報を高密度記録
する場合の記録補償量では、逆に記録されるマークの始
端位置および後端位置が所定の位置からずれてしまうこ
とが起こり得る。
【００４６】さらに、高密度媒体に既存の記録再生装置
（低密度記録再生装置）で情報を低密度記録する場合に
も、同様に記録されるマークの始端位置および後端位置
が所定の位置からずれてしまうことが起こり得る。
（低密度記録再生装置）で情報を低密度記録する場合に
も、同様に記録されるマークの始端位置および後端位置
が所定の位置からずれてしまうことが起こり得る。
【００４７】本実施形態によると、上述したようにマー
クを形成するための照射光の強度をマークの長短に応じ
て変化させると共に、マーク長方向の記録密度に応じて
照射光の光強度をさらに変化させることにより、上述し
た点が解決される。
クを形成するための照射光の強度をマークの長短に応じ
て変化させると共に、マーク長方向の記録密度に応じて
照射光の光強度をさらに変化させることにより、上述し
た点が解決される。
【００４８】図７に、このような本実形態に基づく記録
補償の効果を確認する目的で発明者らが行った実験の結
果を示す。これは相変化光ディスク１００上に０．４１
μｍ／ビット〜０．３１５μｍ／ビットの線記録密度で
８／１６変調符号のランダムデータをＰＷＭ方式により
記録したときのマーク始端間および後端間のジッタ量の
測定結果である。ここで、ジッタとはマークの始端位置
あるいは後端位置の本来の位置からのばらつきを表して
おり、これが小さいほど情報記録信頼性が高いことを意
味する。
補償の効果を確認する目的で発明者らが行った実験の結
果を示す。これは相変化光ディスク１００上に０．４１
μｍ／ビット〜０．３１５μｍ／ビットの線記録密度で
８／１６変調符号のランダムデータをＰＷＭ方式により
記録したときのマーク始端間および後端間のジッタ量の
測定結果である。ここで、ジッタとはマークの始端位置
あるいは後端位置の本来の位置からのばらつきを表して
おり、これが小さいほど情報記録信頼性が高いことを意
味する。
【００４９】図７（ａ）（ｂ）のそれぞれのグラフは、
長さ３Ｔの最短マークを記録する際に記録パワーを長さ
４Ｔ以上の長マークを記録する際の記録パワーの９５％
および９０％にする記録補償を用いた場合のマーク始端
および終端のジッタ量を示している。これらいずれの場
合も、０．４１μｍ／ビット〜０．３５μｍ／ビットの
比較的線記録密度が低い領域では、９５％の記録補償の
方がジッタは少なく、０．３５μｍ／ビット〜０．２８
５μｍ／ビットの比較的線記録密度が高い領域では、９
０％の記録補償の方がジッタは少ないことが分かる。
長さ３Ｔの最短マークを記録する際に記録パワーを長さ
４Ｔ以上の長マークを記録する際の記録パワーの９５％
および９０％にする記録補償を用いた場合のマーク始端
および終端のジッタ量を示している。これらいずれの場
合も、０．４１μｍ／ビット〜０．３５μｍ／ビットの
比較的線記録密度が低い領域では、９５％の記録補償の
方がジッタは少なく、０．３５μｍ／ビット〜０．２８
５μｍ／ビットの比較的線記録密度が高い領域では、９
０％の記録補償の方がジッタは少ないことが分かる。
【００５０】以上のことから、線記録密度に応じて記録
パワー補償量を変化させることにより、線記録密度の高
低によらず、高い情報信頼性を得る本発明の有効性が確
認できる。
パワー補償量を変化させることにより、線記録密度の高
低によらず、高い情報信頼性を得る本発明の有効性が確
認できる。
【００５１】このような処理は、図１に示すように記録
密度情報１１１に応じてパワーコントローラ１０４に入
力されるレーザパワー情報１１２を決定し、これを図２
に示すようにレジスタ２０１を介してレジスタ２０３〜
２０６に格納することで容易に実現することができる。
密度情報１１１に応じてパワーコントローラ１０４に入
力されるレーザパワー情報１１２を決定し、これを図２
に示すようにレジスタ２０１を介してレジスタ２０３〜
２０６に格納することで容易に実現することができる。
【００５２】さらに、本実施形態による記録補償では、
複数種類の記録パワーを記録条件、つまりマーク長や線
記録密度に応じて切り替えるが、このようなパワー切り
替え機能は本来、光ディスク装置のパワーコントローラ
１０４に備わっている機能であるため、本実施形態によ
る記録補償を行うに場合、大きなコスト増を伴うことは
ない。
複数種類の記録パワーを記録条件、つまりマーク長や線
記録密度に応じて切り替えるが、このようなパワー切り
替え機能は本来、光ディスク装置のパワーコントローラ
１０４に備わっている機能であるため、本実施形態によ
る記録補償を行うに場合、大きなコスト増を伴うことは
ない。
【００５３】一方、従来技術として挙げた特開平７−１
２９９５９は、記録するマーク長の長短によってマルチ
パルス中の先頭パルスおよび後尾パルスの位置を予め動
かして記録する記録補償法であるため、記録条件判断回
路の付加のみでなく、パルスの位置を動かすためにプロ
グラマブルディレイライン等の複雑な回路が必要であ
る。本実施形態では、このような複雑かつ高価なハード
ウェアが不要であり、高精度と低コストの両立が容易で
ある。
２９９５９は、記録するマーク長の長短によってマルチ
パルス中の先頭パルスおよび後尾パルスの位置を予め動
かして記録する記録補償法であるため、記録条件判断回
路の付加のみでなく、パルスの位置を動かすためにプロ
グラマブルディレイライン等の複雑な回路が必要であ
る。本実施形態では、このような複雑かつ高価なハード
ウェアが不要であり、高精度と低コストの両立が容易で
ある。
【００５４】（第２の実施形態）図８に、本発明の第２
の実施形態による光ディスク装置の構成を示す。本実施
形態では、マーク長の長短に応じてパルス幅を変化させ
ると共に、線記録密度に応じてマーク長の長短以上にパ
ルス幅を変化させる記録補償法を適用した例について説
明する。
の実施形態による光ディスク装置の構成を示す。本実施
形態では、マーク長の長短に応じてパルス幅を変化させ
ると共に、線記録密度に応じてマーク長の長短以上にパ
ルス幅を変化させる記録補償法を適用した例について説
明する。
【００５５】本実施形態の基本となるパルス幅を変化さ
せる記録補償法は、図５に示したように記録パワーをΔ
Ｐだけ変化させる代わりに、図６に示すようにパルスの
前端および後端でそれぞれΔτ１，Δτ２だけパルス幅
を短縮させることで、マークの始端位置と後端位置を高
精度に位置決めする方法である。
せる記録補償法は、図５に示したように記録パワーをΔ
Ｐだけ変化させる代わりに、図６に示すようにパルスの
前端および後端でそれぞれΔτ１，Δτ２だけパルス幅
を短縮させることで、マークの始端位置と後端位置を高
精度に位置決めする方法である。
【００５６】図１と同一部分に同一符号を付して説明す
ると、本実施形態は図１中のＣＰＵ１１０からパワーコ
ントローラ１０４に供給されるレーザパワー情報１１２
がパルス短縮情報１１４に置き換わった点が第１の実施
形態と異なる。
ると、本実施形態は図１中のＣＰＵ１１０からパワーコ
ントローラ１０４に供給されるレーザパワー情報１１２
がパルス短縮情報１１４に置き換わった点が第１の実施
形態と異なる。
【００５７】次に、図９および図１０を用いて、パワー
コントローラ１０４について説明する。図９は本実施形
態におけるパワーコントローラ１０４の構成例であり、
図１０はその動作波形である。記録データ１０２は先と
同様に例えば８／１６変調符号であり、記録クロック１
０１に同期してパルスジェネレータ２１３に入力され
る。一方、パルス短縮情報１１４はマーク長方向の記録
密度（線記録密度）に応じてＣＰＵ１１０から出力さ
れ、図９のパルス幅短縮部２２１に入力される。
コントローラ１０４について説明する。図９は本実施形
態におけるパワーコントローラ１０４の構成例であり、
図１０はその動作波形である。記録データ１０２は先と
同様に例えば８／１６変調符号であり、記録クロック１
０１に同期してパルスジェネレータ２１３に入力され
る。一方、パルス短縮情報１１４はマーク長方向の記録
密度（線記録密度）に応じてＣＰＵ１１０から出力さ
れ、図９のパルス幅短縮部２２１に入力される。
【００５８】パルスジェネレータ２１３は、マーク長３
Ｔの最短マークの場合にのみ出力２に幅１．５Ｔのパル
スを出力し、長さ４Ｔ以上の長マークでは出力３に幅
１．５Ｔのパルスを出力する。出力４には、長さ４Ｔ以
上の長マークの場合に、期間が３Ｔよりも１Ｔ伸びる毎
に幅０．５Ｔのパルスを１つずつ出力する。出力１は、
記録時には常に“Ｈ”に保持される。この例において
も、出力１〜４は記録データ２１１の入力に対して５ク
ロック分遅延されて出力される。出力２のパルスはパル
ス幅短縮部２２１に入力され、ここでパルス短縮情報１
１４に応じた短縮分Δτ１，Δτ２だけ短縮されて、出
力５となる。そして、ＯＲ回路２２２から出力５、出力
３、出力４の論理和として出力６が得られる。
Ｔの最短マークの場合にのみ出力２に幅１．５Ｔのパル
スを出力し、長さ４Ｔ以上の長マークでは出力３に幅
１．５Ｔのパルスを出力する。出力４には、長さ４Ｔ以
上の長マークの場合に、期間が３Ｔよりも１Ｔ伸びる毎
に幅０．５Ｔのパルスを１つずつ出力する。出力１は、
記録時には常に“Ｈ”に保持される。この例において
も、出力１〜４は記録データ２１１の入力に対して５ク
ロック分遅延されて出力される。出力２のパルスはパル
ス幅短縮部２２１に入力され、ここでパルス短縮情報１
１４に応じた短縮分Δτ１，Δτ２だけ短縮されて、出
力５となる。そして、ＯＲ回路２２２から出力５、出力
３、出力４の論理和として出力６が得られる。
【００５９】レジスタ２０３，２０４には、照射レーザ
光の強度（消去パワー、Ｐ１の記録パワー）が設定さ
れ、各出力段のＤ／Ａ変換器によって電流または電圧信
号２１６，２１７に変換される。これらの電流または電
圧信号２１６，２１７は、出力１，出力６の信号に応じ
てオン・オフされるスイッチ２０７，２０８を介して加
算器２１４により電流加算または電圧加算されることに
よって、図１０に示すレーザ駆動信号２１５が得られ
る。
光の強度（消去パワー、Ｐ１の記録パワー）が設定さ
れ、各出力段のＤ／Ａ変換器によって電流または電圧信
号２１６，２１７に変換される。これらの電流または電
圧信号２１６，２１７は、出力１，出力６の信号に応じ
てオン・オフされるスイッチ２０７，２０８を介して加
算器２１４により電流加算または電圧加算されることに
よって、図１０に示すレーザ駆動信号２１５が得られ
る。
【００６０】このような構成により、本実施形態ではマ
ークを記録する際の照射光パルスのパルス幅をマーク長
に応じて変化させるようにしている。具体的には、例え
ば図１１（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように長さ３Ｔの短
マークを記録するときは、照射光パルスの前縁側または
後縁側からパルス幅を短縮させている。これにより第１
の実施形態と同様に、形成されるマークの始端位置およ
び終端位置のシフトを補償することができる。
ークを記録する際の照射光パルスのパルス幅をマーク長
に応じて変化させるようにしている。具体的には、例え
ば図１１（ａ）（ｂ）（ｃ）に示すように長さ３Ｔの短
マークを記録するときは、照射光パルスの前縁側または
後縁側からパルス幅を短縮させている。これにより第１
の実施形態と同様に、形成されるマークの始端位置およ
び終端位置のシフトを補償することができる。
【００６１】図１３を用いて説明したように、図１２の
照射光パルスで短マーク（例えば、マーク長３Ｔ）を記
録する場合には、マークの始端位置および終端位置とも
に、同じタイミングで照射開始あるいは照射終了を行っ
て記録する長マーク（例えば、マーク長５Ｔ）の始端位
置および終端位置よりも広がる方向へシフトする傾向に
ある。従って、マーク長の長短に依存するマークの始端
位置および終端位置のシフトを補償するためには、本実
施形態のように短マーク記録時に照射光パルスの前縁側
および後縁側からパルス幅を短縮させる方法が有効であ
る。もちろん、前縁側および後縁側のいずれか一方の側
からパルス幅を短縮するのみでも、それなりの補償効果
は期待できる。
照射光パルスで短マーク（例えば、マーク長３Ｔ）を記
録する場合には、マークの始端位置および終端位置とも
に、同じタイミングで照射開始あるいは照射終了を行っ
て記録する長マーク（例えば、マーク長５Ｔ）の始端位
置および終端位置よりも広がる方向へシフトする傾向に
ある。従って、マーク長の長短に依存するマークの始端
位置および終端位置のシフトを補償するためには、本実
施形態のように短マーク記録時に照射光パルスの前縁側
および後縁側からパルス幅を短縮させる方法が有効であ
る。もちろん、前縁側および後縁側のいずれか一方の側
からパルス幅を短縮するのみでも、それなりの補償効果
は期待できる。
【００６２】発明者らの研究によると、記録密度が高い
場合には、特にパルスの前縁側からパルス幅を短縮させ
ることによる効果、すなわち図１１のΔτ１による補償
効果が大きい。Δτ１のみ（Δτ２＝０）で主に補償が
できるのは始端位置のシフトであるが、パルス幅が短縮
されることで照射終了時の温度が低下する結果、終端位
置のシフトに対しても若干の低減効果があることが確認
できている。
場合には、特にパルスの前縁側からパルス幅を短縮させ
ることによる効果、すなわち図１１のΔτ１による補償
効果が大きい。Δτ１のみ（Δτ２＝０）で主に補償が
できるのは始端位置のシフトであるが、パルス幅が短縮
されることで照射終了時の温度が低下する結果、終端位
置のシフトに対しても若干の低減効果があることが確認
できている。
【００６３】そして、本実施形態ではさらに光ディスク
１００が同一媒体でも、図１１に示すようにマーク長方
向の記録密度（線記録密度）によって照射光パルスのパ
ルス幅を異ならせるようにする。すなわち、線記録密度
が低い場合には、前述した通り、図１１（ａ）（ｂ）
（ｃ）に示すように長さ３Ｔの短マークを記録するとき
のみ、長さ４Ｔ以上の長マークを記録する際の先頭パル
スのパルス幅から前端および後端をそれぞれΔτ１，Δ
τ２だけ短縮する。
１００が同一媒体でも、図１１に示すようにマーク長方
向の記録密度（線記録密度）によって照射光パルスのパ
ルス幅を異ならせるようにする。すなわち、線記録密度
が低い場合には、前述した通り、図１１（ａ）（ｂ）
（ｃ）に示すように長さ３Ｔの短マークを記録するとき
のみ、長さ４Ｔ以上の長マークを記録する際の先頭パル
スのパルス幅から前端および後端をそれぞれΔτ１，Δ
τ２だけ短縮する。
【００６４】一方、線記録密度が高い場合には、図１１
（ｄ）（ｅ）（ｆ）に示すように長さ３Ｔの短マークを
記録するときのみ、長さ４Ｔ以上の長マークを記録する
際の先頭パルスのパルス幅から前端および後端をそれぞ
れΔτ３（≠Δτ１），Δτ４（≠Δτ２）だけ短縮す
ることにより、さらに高精度なマークの始端位置および
後端位置を形成できる。
（ｄ）（ｅ）（ｆ）に示すように長さ３Ｔの短マークを
記録するときのみ、長さ４Ｔ以上の長マークを記録する
際の先頭パルスのパルス幅から前端および後端をそれぞ
れΔτ３（≠Δτ１），Δτ４（≠Δτ２）だけ短縮す
ることにより、さらに高精度なマークの始端位置および
後端位置を形成できる。
【００６５】また、高密度記録再生装置で高密度記録と
低密度記録の両方を実現する場合にも、上述のように線
記録密度に応じてパルス幅の短縮量を変化させること
で、高精度なマークを形成できる。
低密度記録の両方を実現する場合にも、上述のように線
記録密度に応じてパルス幅の短縮量を変化させること
で、高精度なマークを形成できる。
【００６６】以上、本発明の実施形態を説明したが、本
発明はその他、次のように種々変形した実施することが
できる。例えば、上記実施形態では線記録密度に依存す
るマークの始端位置、終端位置のシフトを補償する方法
として、線記録密度に応じて照射光強度を制御すること
で補償する方法と、線記録密度に応じてパルス幅を制御
する方法の例を説明したが、両者を組み合わせた補償法
も可能である。例えば、低線記録密度では記録パワーを
９５％にしてパルス幅を固定し、高線記録密度では記録
パワーを９０％にしてパルス幅をＴ／８だけ短縮する
等、線記録密度に応じて両者を組み合わせることが可能
である。
発明はその他、次のように種々変形した実施することが
できる。例えば、上記実施形態では線記録密度に依存す
るマークの始端位置、終端位置のシフトを補償する方法
として、線記録密度に応じて照射光強度を制御すること
で補償する方法と、線記録密度に応じてパルス幅を制御
する方法の例を説明したが、両者を組み合わせた補償法
も可能である。例えば、低線記録密度では記録パワーを
９５％にしてパルス幅を固定し、高線記録密度では記録
パワーを９０％にしてパルス幅をＴ／８だけ短縮する
等、線記録密度に応じて両者を組み合わせることが可能
である。
【００６７】また、以上の例では変調方式を８／１６変
調としたが、これに限るものではない。例えば、（１，
７）変調の場合は最短マークは２Ｔとなる。また、上記
実施形態では記録パルス（照射光パルス）を固定パター
ンのマルチパルスとしたが、記録パルス終了時にパワー
を一旦消去パワー以下に下げる「オフパルス」を設ける
場合、マルチパルス間のパワーを消去パワー以下に下げ
る場合、あるいは矩形パルスや階段状パルス、およびそ
の他のパターンのマルチパルス等にも、本発明による記
録補償法の適用が可能である。
調としたが、これに限るものではない。例えば、（１，
７）変調の場合は最短マークは２Ｔとなる。また、上記
実施形態では記録パルス（照射光パルス）を固定パター
ンのマルチパルスとしたが、記録パルス終了時にパワー
を一旦消去パワー以下に下げる「オフパルス」を設ける
場合、マルチパルス間のパワーを消去パワー以下に下げ
る場合、あるいは矩形パルスや階段状パルス、およびそ
の他のパターンのマルチパルス等にも、本発明による記
録補償法の適用が可能である。
【００６８】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、形成し
ようとするマーク長に依存して、例えば、（ａ）短マー
クを形成する際の照射光（例えば単一パルス）の強度を
長マークを形成する際の照射光（例えばマルチパルス）
の強度より低くすると共に、その低くする度合いをマー
ク長方向の記録密度に応じて変化させるか、（ｂ）短マ
ークを形成する際の照射光のパルス幅を長マークを形成
する際の照射光のパルス幅に比較して、短マークと長マ
ークとのマーク長の差以上に短くすると共に、その短く
する度合いをマーク長方向の記録密度に応じて変化させ
るか、（ｃ）照射光の強度およびパルス幅の両方をマー
ク長に応じて変化させると共に、その変化の度合いをマ
ーク長方向の記録密度に依存させる。
ようとするマーク長に依存して、例えば、（ａ）短マー
クを形成する際の照射光（例えば単一パルス）の強度を
長マークを形成する際の照射光（例えばマルチパルス）
の強度より低くすると共に、その低くする度合いをマー
ク長方向の記録密度に応じて変化させるか、（ｂ）短マ
ークを形成する際の照射光のパルス幅を長マークを形成
する際の照射光のパルス幅に比較して、短マークと長マ
ークとのマーク長の差以上に短くすると共に、その短く
する度合いをマーク長方向の記録密度に応じて変化させ
るか、（ｃ）照射光の強度およびパルス幅の両方をマー
ク長に応じて変化させると共に、その変化の度合いをマ
ーク長方向の記録密度に依存させる。
【００６９】従って、本発明によれば、ハードウェア構
成を複雑にすることなく、マークの長短に依存するマー
クの始終端位置のシフトを回避すると共に、線記録密
度、すなわちマーク長方向の記録密度が異なる場合で
も、マークの始端位置のシフト量を低減することがで
き、精度と低コストの両立を可能とした記録補償を行う
ことができる。
成を複雑にすることなく、マークの長短に依存するマー
クの始終端位置のシフトを回避すると共に、線記録密
度、すなわちマーク長方向の記録密度が異なる場合で
も、マークの始端位置のシフト量を低減することがで
き、精度と低コストの両立を可能とした記録補償を行う
ことができる。
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置
の構成図
の構成図
【図２】同実施形態におけるパワーコントローラの構成
図
図
【図３】同パワーコントローラの動作を説明するための
波形図
波形図
【図４】同実施形態における線記録密度が低いときおよ
び高いときの照射光パルスと光ディスク上の形成マーク
を示す図
び高いときの照射光パルスと光ディスク上の形成マーク
を示す図
【図５】照射光の強度のみによる記録補償における線記
録密度が低いときおよび高いときのマーク始終端位置の
変化を示す図
録密度が低いときおよび高いときのマーク始終端位置の
変化を示す図
【図６】照射光のパルス幅のみによる記録補償における
線記録密度が低いときおよび高いときのマーク始終端位
置の変化を示す図
線記録密度が低いときおよび高いときのマーク始終端位
置の変化を示す図
【図７】同実施形態における線記録密度の違いによって
最適記録補償量が異なることを表す実験結果を示す図
最適記録補償量が異なることを表す実験結果を示す図
【図８】本発明の第２の実施形態に係る光ディスク装置
の構成図
の構成図
【図９】同実施形態におけるパワーコントローラの構成
図
図
【図１０】同パワーコントローラの動作を説明するため
の波形図
の波形図
【図１１】同実施形態における線記録密度が低いときお
よび高いときの照射光パルスと光ディスク上の形成マー
クを示す図
よび高いときの照射光パルスと光ディスク上の形成マー
クを示す図
【図１２】従来技術に基づく照射光パルスの説明図
【図１３】従来技術の問題点を説明するためのマーク長
の長短によるマークの始終端位置の変化を示す図
の長短によるマークの始終端位置の変化を示す図
１００…相変化光ディスク １０１…記録クロック １０２…記録データ １０３…ＬＤドライバ １０４…パワーコントローラ １０５…ビームスプリッタ １０６…対物レンズ １０７…光検出器 １０８…再生系 １０９…再生信号 １１０…ＣＰＵ １１１…記録密度情報 １１２…レーザパワー情報 １１３…ＬＤ（レーザダイオード） １１４…パルス短縮情報
Claims (16)
- 【請求項１】記録媒体上に光をパルス的に照射して始端
および後端の位置で記録情報を表すマークを形成する光
学的情報記録方法において、 前記マークを形成するための照射光の強度をマーク長に
応じて変化させると共に、マーク長方向の記録密度に応
じて該照射光の強度をさらに変化させることを特徴とす
る光学的情報記録方法。 - 【請求項２】記録媒体上に光をパルス的に照射して始端
および後端の位置で記録情報を表すマークを形成する光
学的情報記録方法において、 前記マークを形成するための照射光のパルス幅をマーク
長のより短い領域でマーク長の違い以上にパルス幅が減
少するようにマーク長に対して非線形に変化させると共
に、マーク長方向の記録密度に応じて該パルス幅をさら
に変化させることを特徴とする光学的情報記録方法。 - 【請求項３】記録媒体上に光をパルス的に照射して始端
および後端の位置で記録情報を表すマークを形成する光
学的情報記録方法において、 前記マークを形成するための照射光の強度をマーク長に
応じて変化させ、かつ該照射光のパルス幅をマーク長の
より短い領域でマーク長の違い以上にパルス幅が減少す
るようにマーク長に対して非線形に変化させると共に、
マーク長方向の記録密度に応じて該照射光の強度および
パルス幅をさらに変化させることを特徴とする光学的情
報記録方法。 - 【請求項４】前記マーク長を形成するための照射光をマ
ーク長に応じた幅の単一パルスとマーク長に応じた数の
マルチパルスの少なくとも一方より構成することを特徴
とする請求項１〜３のいずれか１項に記載の光学的情報
記録方法。 - 【請求項５】前記マークを形成するための照射光のう
ち、マーク長のより短いマークを形成するための照射光
はマーク長に応じた単一パルスにより構成し、マーク長
のより長いマークを形成するための照射光はマーク長に
応じた数のマルチパルスにより構成することを特徴とす
る請求項１〜３のいずれか１項に記載の光学的情報記録
方法。 - 【請求項６】マーク長のより短いマークを形成するため
の照射光の強度をマーク長のより長いマークを形成する
ための照射光の少なくとも一部の強度よりも低くするこ
とを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の光
学的情報記録方法。 - 【請求項７】前記マーク長のより短いマークを形成する
ための照射光の強度をマーク長方向の記録密度が高いほ
ど低くすることを特徴とする請求項１〜６のいずれか１
項記載の光学的情報記録方法。 - 【請求項８】前記マーク長のより短いマークを形成する
ための照射光のパルス幅をマーク長方向の記録密度が高
いほど短くすることを特徴とする請求項１〜７記載の光
学的情報記録方法。 - 【請求項９】マーク長のより長いマークを形成するため
の照射光の強度を照射光の先頭と後尾で異ならせること
を特徴とする請求項１〜８のいずれか１項に記載の光学
的情報記録方法。 - 【請求項１０】前記単一パルスもしくはマルチパルスの
照射終了後の前記照射光の強度を前記マークを消去する
のに必要な強度より低くすることを特徴とする請求項１
〜９のいずれか１項に記載の光学的情報記録方法。 - 【請求項１１】前記マルチパルスの各パルス間の前記照
射光の強度を前記マークを消去するのに必要な強度より
低くすることを特徴とする請求項１〜１０のいずれか１
項に記載の光学的情報記録方法。 - 【請求項１２】前記記録媒体として相変化型の記録膜を
有する媒体を用い、前記照射光による熱で結晶から非晶
質に変化させてマークを形成することを特徴とする請求
項１〜１１のいずれか１項に記載の光学的情報記録方
法。 - 【請求項１３】記録媒体上にマークを形成するための光
を照射する照射手段と、この照射手段による照射光の光
強度を制御する光強度制御手段とを有し、 前記光強度制御手段は、前記マークを形成するための照
射光の強度をマーク長に応じて変化させると共に、マー
ク長方向の記録密度に応じてその変化量を変化させるこ
とを特徴とする光学的情報記録装置。 - 【請求項１４】記録媒体上にマークを形成するための光
を照射する照射手段と、この照射手段による照射光のパ
ルス幅を制御するパルス幅制御手段とを有し、 前記パルス幅制御手段は、前記マークを形成するための
照射光のパルス幅をマーク長のより短い領域でマーク長
の違い以上にパルス幅が減少するようにマーク長に対し
て非線形的に変化させると共に、マーク長方向の記録密
度に応じてその変化量を変化させることを特徴とする光
学的情報記録装置。 - 【請求項１５】記録媒体上にマークを形成するための光
を照射する照射手段と、この照射手段による照射光の光
強度を制御する光強度制御手段と、前記照射手段による
照射光のパルス幅を制御するパルス幅制御手段とを有
し、 前記光強度制御手段は、前記マークを形成するための照
射光の強度をマーク長に応じて変化させると共に、マー
ク長方向の記録密度に応じてその変化量を変化させ、前
記パルス幅制御手段は、前記マークを形成するための照
射光のパルス幅をマーク長のより短い領域でマーク長の
違い以上にパルス幅が減少するようにマーク長に対して
非線形に変化させると共に、マーク長方向の記録密度に
応じてその変化量を変化させることを特徴とする光学的
情報記録装置。 - 【請求項１６】前記照射光の光強度情報を記憶する一時
記憶手段を有し、該一時記憶手段に記憶されている光強
度情報をマーク長方向の記録密度に応じて入れ換えてこ
とを特徴とする請求項１４または１５に記載の光学的情
報記録装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10073883A JPH11273076A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 光学的情報記録方法および装置 |
| US09/274,209 US6459670B1 (en) | 1998-03-23 | 1999-03-23 | Optical information recording method and optical information recording device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10073883A JPH11273076A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 光学的情報記録方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11273076A true JPH11273076A (ja) | 1999-10-08 |
| JPH11273076A5 JPH11273076A5 (ja) | 2005-05-26 |
Family
ID=13531066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10073883A Withdrawn JPH11273076A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | 光学的情報記録方法および装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6459670B1 (ja) |
| JP (1) | JPH11273076A (ja) |
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- 1998-03-23 JP JP10073883A patent/JPH11273076A/ja not_active Withdrawn
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