JPH11286469A - 単量体、重合体、単量体製造方法、重合体製造方法、フォトレジスト、フォトレジスト製造方法および半導体素子 - Google Patents
単量体、重合体、単量体製造方法、重合体製造方法、フォトレジスト、フォトレジスト製造方法および半導体素子Info
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- JPH11286469A JPH11286469A JP10367518A JP36751898A JPH11286469A JP H11286469 A JPH11286469 A JP H11286469A JP 10367518 A JP10367518 A JP 10367518A JP 36751898 A JP36751898 A JP 36751898A JP H11286469 A JPH11286469 A JP H11286469A
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Abstract
つ、TMAH水溶液で現像可能であり、接着性が優れたフォ
トレジストを提供する。 【解決手段】 下記式(I)で示される新規のバイサイ
クロアルケン誘導体でなることを特徴とする単量体を重
合させた重合体と、これを含有するフォトレジストであ
る。 【化1】 前記式中、R′及びR″は、それぞれ水素又は炭素数1
〜4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル
であり、mは1〜8の数で、nは1〜6の数である。
Description
半導体装置及びその製造方法に関し、特に親水性基を含
む新規のノルボルネン単量体を重合体の主鎖に導入する
ことにより、1G、4GDRAMへの適用が予想されるKrF
(248nm)、ArF(193nm)、x線、イオンビーム及びE
ビーム等の超短波長光源を利用するリソグラフィ(lith
ography)工程に用いることができる重合体と製造方
法、及びこの重合体を含むフォトレジストに関する。
3nm波長での低い光吸収度、エッチング耐性、接着性等
が求められている。さらに、それに加えて2.38%テ
トラメチルアンモニウム ハイドロキシド(TMAH)水溶
液で現像が可能でなければならないが、このようなフォ
トレジストとしての全ての性質を満足させる重合体を合
成することは非常に難しい。
で透明性を高めエッチング耐性を増加させるための重合
体としてのノボラク系列の重合体探索に集中されてき
た。これに伴いベル研究所(Bell Lab)は、共重合体の
主鎖に脂肪族環形単位体(alicyclic unit)を導入して
エッチング耐性を向上させようと試みた。
e)、アクリレート(acrylate)及びマレイクアンハイ
ドライド(maleic anhydride)に置換された構造を有す
る下記式(IX)の重合体が提案された。
(A部分)は、脂肪族環形単位体(alicyclic olefin u
nit)を重合させるため用いられた。
のマレイクアンハイドライド部分は非露光時にも2.3
8%TMAH水溶液に非常によく溶解される。従って、溶解
抑制のため導入される、t−ブチルが置換されたy部分
をさらに増加させなければならなかった。
的に下端層(substrate)との接着力及び感度を増加さ
せるz部分(カルボキシレート部分)は減少するため、
実質的なパターニング(patterning)時は感光膜がウェ
ーハから剥離する可能性があった。即ち、溶解抑制剤を
別途に用いなければパターン形成が不可能であるだけで
なく、溶解抑制剤を用いてパターンが形成されたとして
も接着力が不十分であるため、実際のパターン形成工程
への適用が困難であった。
の溶解抑制剤を用い、サイクロオレフィンとマレイクア
ンハイドライドの重合体を利用した2成分系レジストを
利用して前述の欠点を解決しようと試みた。
溶解抑制剤を重量比で重合体の30%程度、つまり非常
に多い割合で使用しなければならないため、根本的に再
現性が落ちるとともにコストが増加すること、すなわち
フォトレジスト用重合体としては不適切であることが明
らかになった。
従来技術の問題点を解決するため多数の研究と実験を重
ねた結果、親水性基を含む新規のノルボルネン誘導体を
合成し、このような単量体を重合体の主鎖に導入するこ
とにより、脂肪族環形オレフィン構造の特徴である優れ
た耐エッチング性、耐熱性、及び親水性基(−OH)の導
入に伴う非常に優れた接着力を備えるとともに、優れた
解像度を有する重合体を開発するに至った。
は、下記式(I)で示される新規のバイサイクロアルケ
ン誘導体でなる単量体であることを特徴とする。
〜4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル
であり、mは1〜8の数で、nは1〜6の数である。
載の単量体において、前記バイサイクロアルケン誘導体
は、3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート、4−ヒドロキシブチル 5−ノルボ
ルネン−2−カルボキシレート、5−ヒドロキシペンチ
ル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、6−ヒ
ドロキシヘキシル 5−ノルボルネン−2−カルボキシ
レート、7−ヒドロキシヘプチル 5−ノルボルネン−
2−カルボキシレート、又は8−ヒドロキシオクチル
5−ノルボルネン−2−カルボキシレートを含むことを
特徴とする。
タジエンをテトラヒドロフラン溶媒と混合させる第1段
階と、第1段階の反応物にヒドロキシアルキル アクリ
レートを添加する第2段階と、前記第2段階の反応物を
撹拌して反応させる第3段階と、前記第3段階反応後の
生成物で溶媒を除く第4段階と、前記第4段階後の生成
物で、式(I)のバイサイクロアルケン誘導体を製造す
る第5段階を備える単量体製造方法であることを特徴と
する。
載の単量体製造方法において、前記ヒドロキシアルキル
アクリレートは、3−ヒドロキシプロピル アクリレー
ト、4−ヒドロキシブチル アクリレート、5−ヒドロ
キシペンチル アクリレート、6−ヒドロキシヘキシル
アクリレート、7−ヒドロキシヘプチル アクリレー
ト、又は8−ヒドロキシオクチル アクリレートを含む
ことを特徴とする。
載の単量体製造方法において、前記バイサイクロアルケ
ン誘導体は、3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネ
ン−2−カルボキシレート、4−ヒドロキシブチル 5
−ノルボルネン−2−カルボキシレート、5−ヒドロキ
シペンチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレー
ト、6−ヒドロキシヘキシル 5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート、7−ヒドロキシヘプチル 5−ノル
ボルネン−2−カルボキシレート、又は8−ヒドロキシ
オクチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート中
いずれか一つであることを特徴とする。
(I)及び下記式(II)の一つ又は二つ以上のバイサイ
クロアルケン化合物と、下記式(III)のマレイクアン
ハイドライドを共重合させた重合体であることを特徴と
する。
置換された直鎖又は側鎖アルキル、サイクロアルキル、
アルコキシアルキル又はシクロアルコキシアルキルであ
り、nは1〜6の数である。
載の重合体において、前記共重合体の分子量は、3、0
00〜100、000であることを特徴とする。
載の重合体において、前記バイサイクロアルケン誘導体
は、3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート、4−ヒドロキシブチル 5−ノルボ
ルネン−2−カルボキシレート、5−ヒドロキシペンチ
ル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、6−ヒ
ドロキシヘキシル 5−ノルボルネン−2−カルボキシ
レート、7−ヒドロキシヘプチル 5−ノルボルネン−
2−カルボキシレート、又は8−ヒドロキシオクチル
5−ノルボルネン−2−カルボキシレートを含むことを
特徴とする。
載の重合体において、前記バイサイクロアルケンは、3
−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−カルボ
キシレート、タシャリブチル 5−ノルボルネン−2−
カルボン酸、3−ヒドロキシプロピル バイサイクロ
[2、2、2]オクト−5−エン−3−カルボキシレー
ト、タシャリブチル バイサイクロ[2、2、2]オクト
−5−エン−3−カルボキシレート、又はバイサイクロ
[2、2、2]オクト−5−エン−2−カルボキシレート
を含むことを特徴とする。
記載の重合体において、前記重合体は、下記式(IV)に
示される、ポリ[3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボ
ルネン−2−カルボキシレート/タシャリブチル 5−
ノルボルネン−2−カルボキシレート/5−ノルボルネ
ン−2−カルボン酸/マレイクアンハイドライド]の重
合体を含むことを特徴とする。
記載の重合体において、前記重合体は、下記式(V)に
示されるポリ[4−ヒドロキシブチル 5−ノルボルネ
ン−2−カルボキシレート/タシャリブチル 5−ノル
ボルネン−2−カルボキシレート/5−ノルボルネン−
2−カルボン酸/マレイクアンハイドライド]重合体を
含むことを特徴とする。
記載の重合体において、前記重合体は、下記式(VI)に
示されるポリ[3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボル
ネン−2−カルボキシレート/タシャリブチル 5−ノ
ルボルネン−2−カルボキシレート/モノ−メチル シ
ス−5−ノルボルネン−エンド−2、3−ジカルボキシ
レート/マレイクアンハイドライド]を含むことを特徴
とする。
記載の重合体において、前記重合体は、下記式(VII)
に示されるフォトレジスト用重合体を含むことを特徴と
する。
〜4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル
であり、R1及びR2はそれぞれ水素又は炭素数1〜1
0個の置換又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル、サ
イクロアルキル、アルコキシアルキル又はシクロアルコ
キシアルキルであり、mは1〜8の数、nは1〜6の数
で、x:y:zの比率は(0〜99%):(0〜99
%):(0〜99%)である。
記載の重合体において、前記重合体は、下記式(VIII)
に示されるフォトレジスト用重合体を含むことを特徴と
する。
4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキルで
あり、R1及びR2はそれぞれ水素又は炭素数1〜10
個の置換又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル、サイ
クロアルキル、アルコキシアルキル又はシクロアルコキ
シアルキルであり、mは1〜8の数、nは1〜6の数
で、xは0.005〜0.9モル分率で、y及びzはそれ
ぞれ0.001〜0.9モル分率である。
(I)のバイサイクロアルケン誘導体と、前記式(II)
のRが水素又はタシャリブチルであり、nが1のバイサ
イクロアルケンや3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボ
ルネン−2−カルボキシレート、タシャリブチル 5−
ノルボルネン−2−カルボキシレート、及び5−ノルボ
ルネン−2−カルボン酸で構成された1又は2以上のバ
イサイクロアルケンと、前記式(III)のマレイクアン
ハイドライドを重合溶媒に溶解させる第1段階と、前記
第1段階後の反応物に重合開始剤を投入後、窒素又はア
ルゴン雰囲気で反応させる第2段階と、前記第2段階後
の生成物をエチルエーテル又は核酸に沈澱させる第3段
階と、前記第3段階後の沈澱物を濾過及び乾燥させ、重
合体を製造する第4段階を含んでなる重合体製造方法で
あることを特徴とする。
5記載の重合体製造方法において、前記重合開始剤はベ
ンゾイルパーオキサイド、2、2′−アゾビスイソブチ
ロニトリル(AIBN)、アセチルパーオキサイド、ラウリ
ルパーオキサイド、t−ブチルパーアセテート、又はジ
−t−ブチルパーオキシードを含むことを特徴とする。
6記載の重合体製造方法において、前記重合溶媒として
はシクロヘキサノン、メチルエチルケトン、ベンゼン、
トルエン、ジオキサン及びジメチルホルムアミド中で選
ばれた1種、又は2種以上の溶媒を用いることを特徴と
する。
6記載の重合体製造方法において、3−ヒドロキシプロ
ピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、タシ
ャリブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレー
ト、5−ノルボルネン−2−カルボン酸、及びマレイク
アンハイドライドを利用して前記式(IV)に示される、
ポリ[3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2
−カルボキシレート/タシャリブチル 5−ノルボルネ
ン−2−カルボキシレート/5−ノルボルネン−2−カ
ルボン酸/マレイクアンハイドライド]の重合体を製造
することを特徴とする。
6記載の重合体製造方法において、4−ヒドロキシブチ
ル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、タシャ
リブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸、及びマレイクアン
ハイドライドを用いて前記式(V)に示される、ポリ
[4−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−カ
ルボキシレート/タシャリブチル 5−ノルボルネン−
2−カルボキシレート/5−ノルボルネン−2−カルボ
ン酸/マレイクアンハイドライド]の重合体を製造する
ことを特徴とする。
6記載の重合体製造方法において、3−ヒドロキシプロ
ピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、タシ
ャリブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレー
ト、モノ−メチル シス−5−ノルボルネン−エンド−
2、3−ジカルボキシレート、及びマレイクアンハイド
ライドを利用して前記式(VI)に示される、ポリ[3−
ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキ
シレート/タシャリブチル 5−ノルボルネン−2−カ
ルボキシレート/モノ−メチル シス−5−ノルボルネ
ン−エンド−2、3−ジカルボキシレート/マレイクア
ンハイドライド]の重合体を製造することを特徴とす
る。
〜請求項14のいずれか一つに記載された重合体と有機
溶媒、及び光酸発生剤を含むフォトレジストであること
を特徴とする。
1記載のフォトレジストにおいて、前記重合体を溶媒に
対し10〜30重量%含むことを特徴とする。
1記載のフォトレジストにおいて、前記有機溶媒として
はシクロヘキサノン、メチル 3−メトキシプロピオネ
ート、エチル 3−エトキシプロピオネート、エチラッ
クテート、プロピレングリコール メチルエーテルアセ
テート、又はこれらの混合物を含むグループから選ばれ
たものを用いることを特徴とする。
1記載のフォトレジストにおいて、前記光酸発生剤とし
ては、オニウムソルト又は有機スルホン酸を用いること
を特徴とする。
1記載のフォトレジストにおいて、前記光酸発生剤を重
合体に対し0.01〜10重量%含むことを特徴とす
る。
〜請求項14のいずれか一つに記載された重合体を有機
溶媒に溶解させる第1段階と、前記第1段階の生成物に
光酸発生剤を添加する第2段階と、前記第2段階の反応
物を撹拌、濾過させフォトレジストを形成すること、を
特徴とするフォトレジスト製造方法。
6記載のフォトレジスト製造方法において、前記第1段
階で重合体を溶媒に対し10〜30重量%含むことを特
徴とする。
6記載のフォトレジスト製造方法において、前記第1段
階で有機溶媒としてはシクロヘキサノン、メチル 3−
メトキシ プロピオネート、エチル 3−エトキシ プロ
ピオネート、エチラックテート、プロピレングリコール
メチルエーテルアセテート、又はこれらの混合物を含
むグループから選ばれたものを用いることを特徴とす
る。
6記載のフォトレジスト製造方法において、前記第2段
階で光酸発生剤としてはオニウムソルト、又は有機スル
ホン酸を用いることを特徴とする。
6記載のフォトレジスト製造方法において、前記第2段
階で光酸発生剤を重合体に対し0.01〜10重量%含
むことを特徴とする。
1〜請求項25のいずれかに記載のフォトレジストを用
いてパターンを形成した半導体素子であることを特徴と
する。
る新規のバイサイクロアルケン誘導体でなる単量体であ
る。
サイクロアルケン化合物として好ましい化合物には、3
−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−カルボ
キシレート、4−ヒドロキシブチル 5−ノルボルネン
−2−カルボキシレート、5−ヒドロキシペンチル 5
−ノルボルネン−2−カルボキシレート、6−ヒドロキ
シヘキシル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレー
ト、7−ヒドロキシヘプチル 5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート、8−ヒドロキシオクチル 5−ノル
ボルネン−2−カルボキシレート等を含む。
ン誘導体は、ヒドロキシアルキルアクリレートをシクロ
ペンジエン及びテトラヒドロフランの存在下で反応させ
て製造することができる。ここで、ヒドロキシアルキル
アクリレートとしては、好ましくは3−ヒドロキシプ
ロピル アクリレート、4−ヒドロキシブチル アクリレ
ート、5−ヒドロキシペンチル アクリレート、6−ヒ
ドロキシヘキシル アクリレート、7−ヒドロキシヘプ
チル アクリレート、8−ヒドロキシオクチル アクリレ
ート等を用いる。
I)又は下記式(VIII))は前記式(I)、及び下記式
(II)に示されるバイサイクロアルケン化合物、及び下
記式(III)に示されるマレイクアンハイドライドを重
合開示剤の存在下で重合させて製造することができる。
おいて好ましいバイサイクロアルケンは、前記式(II)
でRが水素又はタシャリブチルのバイサイクロアルケン
と、前記式(I)でmが3でありR′及びR″は、それ
ぞれ水素のバイサイクロアルケンでなるグループ中で選
択された一つ又はそれ以上のものである。
しいバイサイクロアルケンとしては、3−ヒドロキシプ
ロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、タ
シャリブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレー
ト、5−ノルボルネン−2−カルボン酸、3−ヒドロキ
シプロピル バイサイクロ[2、2、2]オクト−5−エ
ン−2−カルボキシレート、タシャリブチルバイサイク
ロ[2、2、2]オクト−5−エン−2−カルボキシレー
ト、又はバイサイクロ[2、2、2]オクト−5−エン−
2−カルボン酸を含む。
前記式(II)でRが水素又はタシャリブチルでありnが
1のバイサイクロアルケン、前記式(I)でR′及び
R″がそれぞれ水素でありmが3のバイサイクロアルケ
ン、即ち、3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン
−2−カルボキシレート、タシャリブチル 5−ノルボ
ルネン−2−カルボキシレート、及び5−ノルボルネン
−2−カルボン酸でなる1又は2以上のバイサイクロア
ルケンと、前記式(II)のマレイクアンハイドライドの
重合体である。
は溶液重合等、通常の重合方法に従い製造することがで
きる。さらに、本発明に係る重合開始剤としてはベンゾ
イルパーオキサイド、2、2′−アゾビスイソブチロニ
トリル(AIBN)、アセチルパーオキサイド、ラウリルパ
ーオキサイド、t−ブチルパーアセテート、ジ−t−ブ
チルパーオキサイド等を用いることができる。
ノン、メチルエチルケトン、ベンゼン、トルエン、ジオ
キサン、ジメチルホルムアミド、テトラヒドロフラン等
の単独溶媒、又はこれらの混合溶媒を用いることができ
る。本発明に係る重合体の製造において、重合反応条件
は一般的なラジカル重合温度及び圧力を反応物の特性に
従い調節して用いることができるが、60〜 200℃
の温度で4〜24時間行うのが好ましい。
(VII)又は前記式(VIII)の重合体は、分子量3、00
0〜100、000を有し、1G又は4GDRAMへの適用
が予想されるKrF又はArF光源やX線・イオン ビーム、
又はEビーム等の超短波長を利用するリソグラフィ工程
(lithography)に有用に用いることができる。
膜組成物の製造方法に従い有機溶媒に通常的な光酸発生
剤と混合してフォトレジスト溶液を製造することによ
り、ポジティブ微細画像形成に用いることができる。
工程において、本発明に係る重合体の使用量は有機溶
媒、光酸発生剤及びリソグラフィ条件等に従い変化する
こともあるが、大凡フォトレジストの製造時に用いる有
機溶媒に対し約10〜30重量%ほど用いる。
の感光膜パターンを形成する方法を具体的に説明すれば
次の通りである。
クロヘキサノン、メチル 3−メトキシ プロピオネー
ト、エチル 3−エトキシ プロピオネート、エチラック
テート、プロピレングリコール メチルエーテルアセテ
ート等に10〜30重量%に溶解させ、光酸発生剤とし
てオニウム酸又は有機スルホン酸を重合体に対し0.0
1〜10重量%に配合した後、超微細フィルタで濾過す
ることにより、感光膜溶液を製造する。
ェニルスルホニウム トリフレート、ジブチルナフチル
スルホニウム トリフレート、2、6−ジメチルフェニル
スルホネート、ビス(アリルスルホニル)−ジアゾメタ
ン、オキシムスルホネート、1、2−ジアゾナフトキノ
ン−4−スルホネート等を含む。
して薄膜を製造した後、80〜150℃のオーブン又は
熱板で1〜5分間電熱処理し、遠紫外線露光装置又はエ
キシマ レーザ露光装置を利用して露光した後、100
〜200℃のオーブン又は熱板で1秒〜5分間後熱処理
する。
%TMAH水溶液中に30秒〜1分 30秒間浸漬すること
により、超微細ポジティブ感光膜パターンを得ることが
できる。
成、これを利用した重合体の合成とこの重合体を含むフ
ォトレジスト製造及び半導体装置の微細パターン、そし
て、その製造方法を下記の実施例等で詳しく説明する。
以下に、製造例及び実施例に基づき本発明を具体的に説
明するが、これ等で本発明の技術的範囲が限定されるも
のと理解してはならない。
−2−カルボキシレートの合成 反応器にシクロペンタジエン66gを投入後、テトラヒ
ドロフラン溶媒を500gを追加して均一に撹拌した。
次に、反応混合物に3−ヒドロキシプロピル アクリレ
ート130gを投入し、−30〜60℃の温度で撹拌し
ながら10時間ほど反応させた。反応完了後、ロータリ
蒸留器で溶媒を除去してから減圧蒸留して3−ヒドロキ
シプロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート
168gを得た(収率:86%)。
ルボルネン−2−カルボキシレートの合成 3−ヒドロキシプロピル アクリレートの代りに、4−
ヒドロキシブチル アクリレート144gを用いること
を除いては実施例1と同一の手続きを行うことにより、
4−ヒドロキシブチル 5−ノルボルネン−2−カルボ
キシレート178gを得た(収率:85%)。
ノルボルネン−2−カルボキシレートの合成 3−ヒドロキシプロピル アクリレートの代りに、5−
ヒドロキシペンチル アクリレート158gを用いるこ
とを除いては実施例1と同一の手続きを行うことによっ
て、5−ヒザロキシペンチル 5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート190gを得た(収率:85%)。
ノルボルネン−2−カルボキシレートの合成 3−ヒドロキシプロピル アクリレートの代りに、6−
ヒドロキシヘキシル アクリレート172gを用いるこ
とを除いては実施例1と同一の手続きを行うことによっ
て、6−ヒドロキシヘキシル−5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート205gを得た(収率:86%)。
ノルボルネン−2−カルボキシレートの合成 3−ヒドロキシプロピル アクリレートの代りに、7−
ヒドロキシヘプチル アクリレート186gを用いるこ
とを除いては実施例1と同一の手続きを行うことによっ
て、7−ヒドロキシヘプチル 5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート204gを得た(収率:81%)。
ノルボルネン−2−カルボキシレートの合成 3−ヒドロキシプロピル アクリレートの代りに、3−
ヒドロキシオクチル アクリレート200gを用いるこ
とを除いては実施例と同一の手続きを行うことによっ
て、8−ヒドロキシオクチル−5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート207gを得た(収率:78%)。
ルボキシレートの合成 反応器にシクロペンタジエン66gを投入後、テトラヒ
ドロフラン溶媒500gを追加して均一に混合した。こ
こに再びタシャリブチル アクリレート128gを投入
後、−30〜60℃の温度で撹拌しながら10時間ほど
反応させた。反応終了後、ロータリ蒸留器で溶媒を除い
てから減圧蒸留することにより、タシャリブチル 5−
ノルボルネン−2−カルボキシレート175gを得た
(収率:90%)。
ン酸の合成 反応器にシクロペンタジエン66gを投入後、テトラヒ
ドロフラン溶媒500gを追加して均一に混合した。こ
こに、再びアクリル酸72gを投入後、−30〜60℃
の温度で撹拌しながら10時間ほど反応させた。反応終
了後、ロータリ蒸留器で溶媒を除いてから減圧蒸留して
5−ノルボルネン−2−カルボン酸124gを得た(収
率:90%)。
ルネン−2−カルボキシレート/タシャリブチル 5−
ノルボルネン−2−カルボキシレート/5−ノルボルネ
ン−2−カルボン酸/マレイクアンハイドライド]重合
体(下記式(IV))の合成
ボキシレート0.05〜0.8モル、タシャリブチル−5
−ノルボルネン−2−カルボキシレート0.5〜0.95
モル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸0.01〜0.
3モル、及びマレイクアンハイドライド1モルをテトラ
ヒドロフラン、ベンゼン又はトルエンに溶解させた。次
いで、これら混合溶液中に重合開始剤で2、2′−アゾ
ビスイソブチロニトリル(AIBN)0.01〜10gを投
入後、60〜70℃の温度で4〜24時間の間反応させ
た。このようにして生成された組生成物をエチルエーテ
ル、或いは核酸に沈澱させた後、沈澱物を濾過、減圧し
て乾燥させ、前記式(IV)のポリ[3−ヒドロキシプロ
ピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/タシ
ャリブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート
/5−ノルボルネン−2−カルボン酸/マレイクアンハ
イドライド]重合体を得ることができた(収率:70%
以上)。図1にこの重合体のNMRデータを示す。
5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/タシャリ
ブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/5
−ノルボルネン−2−カルボン酸/マレイクアンハイド
ライド]重合体(下記式(V))の合成
キシレート0.05〜0.8モル、タシャリブチル−5−
ノルボルネン−2−カルボキシレート0.5〜0.95モ
ル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸0.01〜0.3
モル、及びマレイクアンハイドライド1モルをテトラヒ
ドロフラン、ベンゼン又はトルエンに溶解させた。次い
で、これら混合溶液中に重合開始剤で2、2′−アゾビ
スイソブチロニトリル(AIBN)0.01〜10gを投入
後、60〜70℃の温度で4〜24時間の間反応させ
た。このようにして生成された組成物をエチルエーテ
ル、或いは核酸に沈澱させた後、沈澱物を濾過し減圧し
て乾燥させ、前記式(V)のポリ[4−ヒドロキシブチ
ル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/タシャ
リブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/
5−ノルボルネン−2−カルボン酸/マレイクアンハイ
ドライド]重合体を得た(収率:70%以上)。
ル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/タシャ
リブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/
モノ−メチル シス−5−ノルボルネン−エンド−2、3
−ジカルボキシレート/マレイクアンハイドライド]重
合体(下記式(VI))の合成
ボキシレート0.05〜0.8モル、タシャリブチル 5
−ノルボルネン−2−カルボキシレート0.5〜0.95
モル、モノ−メチル シス−5−ノルボルネン−エンド
−2、3−ジカルボキシレート0.01〜0.3モル、及
びマレイクアンハイドライド1モルをテトラヒドロフラ
ン、ベンゼン又はトルエンに溶解させた。次いで、これ
ら混合溶液中に重合開始剤で2、2′−アゾビスイソブ
チロニトリル(AIBN)0.01〜10gを投入後、60
〜70℃の温度で4〜24時間の間反応させた。このよ
うにして生成された組成物をエチルエーテル、或いは核
酸に沈澱させた後、沈澱物を濾過し減圧して乾燥させ、
前記式(VI)のポリ[3−ヒドロキシプロピル 5−ノ
ルボルネン−2−カルボキシレート/タシャリブチル
5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/モノ−メチ
ル シス−5−ノルボルネン−エンド−2、3−ジカルボ
キシレート/マレイクアンハイドライド]重合体を得た
(収率:74%以上)。
> 実施例12:フォトレジストの製造及びパターン形成の
一実施例 ポリ[3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2
−カルボキシレート/タシャリブチル 5−ノルボルネ
ン−2−カルボキシレート/5−ノルボルネン−2−カ
ルボン酸/マレイクアンハイドライド]重合体(前記式
(IV))10gを、40gの3−メトキシメチルプロピ
オネート溶媒に溶解した後、光酸発生剤としてトリフェ
ニル スルホニウム トリフレート、又はジブチル ナフ
チルスルホニウム トリフレート約0.01〜1gを投入
後撹拌してから、これを0.1μmフィルタで濾過するこ
とにより、フォトレジストを得た。その次に、前記フォ
トレジストをウェーハ表面にコーティングさせた後、熱
処理してから写真現像工程でパターンを形成させた。こ
の時、重合体の厚さ0.6μmで幅の垂直の0.13μmの
垂直L/Sパターンを有する半導体素子を得た。
ターン形成の他の実施例 ポリ[3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2
−カルボキシレート/タシャリブチル 5−ノルボルネ
ン−2−カルボキシレート/モノ−メチル シス−5−
ノルボルネン−エンド−2、3−ジカルボキシレート/
マレイクアンハイドライド]重合体(前記式(VI))1
0gを40gの3−メトキシメチルプロピオネート溶媒
に溶解した後、光酸発生剤としてトリフェニル スルホ
ニウム トリフレート、又はジブチル ナフチルスルホニ
ウム トリフレート約0.01〜1gを投入後撹拌してか
ら、0.1μmフィルタで濾過してフォトレジストを得
た。次いで、前記フォトレジストをウェーハ表面にコー
ティングさせた後、熱処理してから写真及び現像してパ
ターン形成させた。この時、重合体の厚さ0.6μmで幅
0.13μmの垂直のL/Sパターンを有する半導体素子を
得た。
施例は、発明の例示のため開示されたものであり、当業
者等によれば本発明の趣旨及び範囲内で多様な修正、変
更又は付加が当然可能である。
ば、KrF又はArFに対して好適な重合体を利用して形成さ
れ、エッチング耐性及び耐熱性が優れるだけでなく、
2.38w%TMAH水溶液で現像可能であり、かつ、接着性
が優れた、フォトレジストを得られる。また、このフォ
トレジストを利用することにより、例えばレジストの厚
さ0.6μmにおいて0.13μmの垂直のL/Sパターンと
いう、解像度と焦点深度において満足な結果を得ること
ができる。
面である。
Claims (31)
- 【請求項1】下記式(I)で示される新規のバイサイク
ロアルケン誘導体でなることを特徴とする単量体。 【化1】 前記式中、R′及びR″は、それぞれ水素又は炭素数1
〜4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル
であり、mは1〜8の数で、nは1〜6の数である。 - 【請求項2】前記バイサイクロアルケン誘導体は、3−
ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキ
シレート、4−ヒドロキシブチル 5−ノルボルネン−
2−カルボキシレート、5−ヒドロキシペンチル 5−
ノルボルネン−2−カルボキシレート、6−ヒドロキシ
ヘキシル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、
7−ヒドロキシヘプチル 5−ノルボルネン−2−カル
ボキシレート、又は8−ヒドロキシオクチル 5−ノル
ボルネン−2−カルボキシレートを含むことを特徴とす
る請求項1記載の単量体。 - 【請求項3】シクロペンタジエンをテトラヒドロフラン
溶媒と混合させる第1段階と、 第1段階の反応物にヒドロキシアルキル アクリレート
を添加する第2段階と、 前記第2段階の反応物を撹拌して反応させる第3段階
と、 前記第3段階反応後の生成物で溶媒を除く第4段階と、 前記第4段階後の生成物で、下記式(I)のバイサイク
ロアルケン誘導体を製造する第5段階を備えることを特
徴とする単量体製造方法。 【化2】 前記式中、R′、R″、m及びnは、それぞれ水素又は
炭素数1〜4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖
アルキルであり、mは1〜8の数で、nは1〜6の数で
ある。 - 【請求項4】前記ヒドロキシアルキル アクリレート
は、3−ヒドロキシプロピル アクリレート、4−ヒド
ロキシブチル アクリレート、5−ヒドロキシペンチル
アクリレート、6−ヒドロキシヘキシル アクリレー
ト、7−ヒドロキシヘプチル アクリレート、又は8−
ヒドロキシオクチル アクリレートを含むことを特徴と
する請求項3記載の単量体製造方法。 - 【請求項5】前記バイサイクロアルケン誘導体は、3−
ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキ
シレート、4−ヒドロキシブチル 5−ノルボルネン−
2−カルボキシレート、5−ヒドロキシペンチル 5−
ノルボルネン−2−カルボキシレート、6−ヒドロキシ
ヘキシル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、
7−ヒドロキシヘプチル 5−ノルボルネン−2−カル
ボキシレート、又は8−ヒドロキシオクチル 5−ノル
ボルネン−2−カルボキシレート中のいずれか一つであ
ることを特徴とする請求項3記載の単量体製造方法。 - 【請求項6】下記式(I)及び式(II)の一つ又は二つ
以上のバイサイクロアルケン化合物と、下記式(III)
のマレイクアンハイドライドを共重合させたことを特徴
とする重合体。 【化3】 【化4】 【化5】 前記式中、R′及びR″はそれぞれ水素又は炭素数1〜
4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキルで
あり、Rは水素又は炭素数1〜10個の置換又は非置換
された直鎖又は側鎖アルキル、サイクロアルキル、アル
コキシアルキル又はシクロアルコキシアルキルであり、
mは1〜8の数で、nは1〜6の数である。 - 【請求項7】前記共重合体の分子量は、3、000〜1
00、000であることを特徴とする請求項6記載の重
合体。 - 【請求項8】前記バイサイクロアルケン誘導体は、3−
ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキ
シレート、4−ヒドロキシブチル 5−ノルボルネン−
2−カルボキシレート、5−ヒドロキシペンチル 5−
ノルボルネン−2−カルボキシレート、6−ヒドロキシ
ヘキシル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、
7−ヒドロキシヘプチル 5−ノルボルネン−2−カル
ボキシレート、又は8−ヒドロキシオクチル 5−ノル
ボルネン−2−カルボキシレートを含むことを特徴とす
る請求項6記載の重合体。 - 【請求項9】前記バイサイクロアルケンは、3−ヒドロ
キシプロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレー
ト、タシャリブチル 5−ノルボルネン−2−カルボン
酸、3−ヒドロキシプロピル バイサイクロ[2、2、
2]オクト−5−エン−3−カルボキシレート、タシャ
リブチル バイサイクロ[2、2、2]オクト−5−エン
−3−カルボキシレート、又はバイサイクロ[2、2、
2]オクト−5−エン−2−カルボキシレートを含むこ
とを特徴とする請求項6記載の重合体。 - 【請求項10】前記重合体は、下記式(IV)に示され
る、ポリ[3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン
−2−カルボキシレート/タシャリブチル 5−ノルボ
ルネン−2−カルボキシレート/5−ノルボルネン−2
−カルボン酸/マレイクアンハイドライド]の重合体を
含むことを特徴とする請求項6記載の重合体。 【化6】 - 【請求項11】前記重合体は、下記式(V)に示される
ポリ[4−ヒドロキシブチル 5−ノルボルネン−2−
カルボキシレート/タシャリブチル 5−ノルボルネン
−2−カルボキシレート/5−ノルボルネン−2−カル
ボン酸/マレイクアンハイドライド]重合体を含むこと
を特徴とする請求項6記載の重合体。 【化7】 - 【請求項12】前記重合体は、下記式(VI)に示される
ポリ[3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボルネン−2
−カルボキシレート/タシャリブチル 5−ノルボルネ
ン−2−カルボキシレート/モノ−メチル シス−5−
ノルボルネン−エンド−2、3−ジカルボキシレート/
マレイクアンハイドライド]を含むことを特徴とする請
求項6記載の重合体。 【化8】 - 【請求項13】前記重合体は、下記式(VII)に示され
るフォトレジスト用重合体を含むことを特徴とする請求
項6記載の重合体。 【化9】 前記式中、R′及びR″は、それぞれ水素又は炭素数1
〜4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル
であり、R1及びR2はそれぞれ水素又は炭素数1〜1
0個の置換又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル、サ
イクロアルキル、アルコキシアルキル又はシクロアルコ
キシアルキルであり、mは1〜8の数、nは1〜6の数
で、x:y:zの比率は(0〜99%):(0〜99
%):(0〜99%)である。 - 【請求項14】前記重合体は、下記式(VIII)に示され
るフォトレジスト用重合体を含むことを特徴とする請求
項6記載の重合体。 【化10】 前記式中、R′及びR″はそれぞれ水素又は炭素数1〜
4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキルで
あり、R1及びR2はそれぞれ水素又は炭素数1〜10
個の置換又は非置換された直鎖又は側鎖アルキル、サイ
クロアルキル、アルコキシアルキル又はシクロアルコキ
シアルキルであり、mは1〜8の数、nは1〜6の数
で、xは0.005〜0.9モル分率で、y及びzはそれ
ぞれ0.001〜0.9モル分率である。 - 【請求項15】下記式(I)のバイサイクロアルケン誘
導体と、下記式(II)のRが水素又はタシャリブチルで
あり、nが1のバイサイクロアルケンや3−ヒドロキシ
プロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート、
タシャリブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレ
ート、及び5−ノルボルネン−2−カルボン酸で構成さ
れた1又は2以上のバイサイクロアルケンと、下記式
(III)のマレイクアンハイドライドを重合溶媒に溶解
させる第1段階と、 前記第1段階後の反応物に重合開始剤を投入後、窒素又
はアルゴン雰囲気で反応させる第2段階と、 前記第2段階後の生成物をエチルエーテル又は核酸に沈
澱させる第3段階と、 前記第3段階後の沈澱物を濾過及び乾燥させ、重合体を
製造する第4段階を含んでなることを特徴とする重合体
製造方法。 【化11】 【化12】 【化13】 前記式で、R′及びR″はそれぞれ水素又は炭素数1〜
4個の置換、又は非置換された直鎖又は側鎖アルキルで
あり、Rは水素又は炭素数1〜10の置換又は非置換さ
れた直鎖又は側鎖アルキル、アルコキシアルキル又はシ
クロアルコキシアルキルであり、mは1〜8の数で、n
は1〜6の数である。 - 【請求項16】前記重合開始剤はベンゾイルパーオキサ
イド、2、2′−アゾビスイソブチロニトリル(AIB
N)、アセチルパーオキサイド、ラウリルパーオキサイ
ド、t−ブチルパーアセテート、又はジ−t−ブチルパ
ーオキシードを含むことを特徴とする請求項15記載の
重合体製造方法。 - 【請求項17】前記重合溶媒としてはシクロヘキサノ
ン、メチルエチルケトン、ベンゼン、トルエン、ジオキ
サン及びジメチルホルムアミド中で選ばれた1種、又は
2種以上の溶媒を用いることを特徴とする請求項16記
載の重合体製造方法。 - 【請求項18】3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボル
ネン−2−カルボキシレート、タシャリブチル 5−ノ
ルボルネン−2−カルボキシレート、5−ノルボルネン
−2−カルボン酸、及びマレイクアンハイドライドを利
用して下記式(IV)に示される、ポリ[3−ヒドロキシ
プロピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/
タシャリブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレ
ート/5−ノルボルネン−2−カルボン酸/マレイクア
ンハイドライド]の重合体を製造することを特徴とする
請求項16記載の重合体製造方法。 【化14】 - 【請求項19】4−ヒドロキシブチル 5−ノルボルネ
ン−2−カルボキシレート、タシャリブチル 5−ノル
ボルネン−2−カルボキシレート、5−ノルボルネン−
2−カルボン酸、及びマレイクアンハイドライドを用い
て下記式(V)に示される、ポリ[4−ヒドロキシプロ
ピル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/タシ
ャリブチル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート
/5−ノルボルネン−2−カルボン酸/マレイクアンハ
イドライド]の重合体を製造することを特徴とする請求
項16記載の重合体製造方法。 【化15】 - 【請求項20】3−ヒドロキシプロピル 5−ノルボル
ネン−2−カルボキシレート、タシャリブチル 5−ノ
ルボルネン−2−カルボキシレート、モノ−メチル シ
ス−5−ノルボルネン−エンド−2、3−ジカルボキシ
レート、及びマレイクアンハイドライドを利用して下記
式(VI)に示される、ポリ[3−ヒドロキシプロピル
5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/タシャリブ
チル 5−ノルボルネン−2−カルボキシレート/モノ
−メチル シス−5−ノルボルネン−エンド−2、3−ジ
カルボキシレート/マレイクアンハイドライド]の重合
体を製造することを特徴とする請求項16記載の重合体
製造方法。 【化16】 - 【請求項21】請求項6〜請求項14のいずれか一つに
記載された重合体と有機溶媒、及び光酸発生剤を含むこ
とを特徴とするフォトレジスト。 - 【請求項22】前記重合体を溶媒に対し10〜30重量
%含むことを特徴とする請求項21記載のフォトレジス
ト。 - 【請求項23】前記有機溶媒としてはシクロヘキサノ
ン、メチル 3−メトキシプロピオネート、エチル 3−
エトキシプロピオネート、エチラックテート、プロピレ
ングリコール メチルエーテルアセテート、又はこれら
の混合物を含むグループから選ばれたものを用いること
を特徴とする請求項21記載のフォトレジスト。 - 【請求項24】前記光酸発生剤としては、オニウムソル
ト又は有機スルホン酸を用いることを特徴とする請求項
21記載のフォトレジスト。 - 【請求項25】前記光酸発生剤を重合体に対し0.01
〜10重量%含むことを特徴とする請求項21記載のフ
ォトレジスト。 - 【請求項26】請求項6〜請求項14のいずれか一つに
記載された重合体を有機溶媒に溶解させる第1段階と、 前記第1段階の生成物に光酸発生剤を添加する第2段階
と、 前記第2段階の反応物を撹拌、濾過させフォトレジスト
を形成すること、 を特徴とするフォトレジスト製造方法。 - 【請求項27】前記第1段階で重合体を溶媒に対し10
〜30重量%含むことを特徴とする請求項26記載のフ
ォトレジスト製造方法。 - 【請求項28】前記第1段階で有機溶媒としてはシクロ
ヘキサノン、メチル 3−メトキシ プロピオネート、エ
チル 3−エトキシ プロピオネート、エチラックテー
ト、プロピレングリコール メチルエーテルアセテー
ト、又はこれらの混合物を含むグループから選ばれたも
のを用いることを特徴とする請求項26記載のフォトレ
ジスト製造方法。 - 【請求項29】前記第2段階で光酸発生剤としてはオニ
ウムソルト、又は有機スルホン酸を用いることを特徴と
する請求項26記載のフォトレジスト製造方法。 - 【請求項30】前記第2段階で光酸発生剤を重合体に対
し0.01〜10重量%含むことを特徴とする請求項2
6記載のフォトレジスト製造方法。 - 【請求項31】請求項21〜請求項25のいずれかに記
載のフォトレジストを用いてパターンを形成したことを
特徴とする半導体素子。
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