JPH11287737A

JPH11287737A - 光部品評価装置

Info

Publication number: JPH11287737A
Application number: JP10350198A
Authority: JP
Inventors: Takao Tanimoto; 隆生谷本
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 1998-03-31
Filing date: 1998-03-31
Publication date: 1999-10-19

Abstract

(57)【要約】【課題】セッティングが容易で種々の測定に対応でき
るようにする。【解決手段】筐体２１内には、波長可変光源３３、光
分岐手段３５および光レベル検出手段３６が設けられ、
筐体の外表部には波長可変光源の出力光を出力するため
の第１の光出力端子２４、光分岐手段３５からの光をそ
れぞれ出力するための第２、第３の光出力端子２５、２
６、光分岐手段に光を入力するための第１の光入力端子
２７、光レベル検出手段に光を入力するための第２、第
３の光入力端子２８、２９か設けられている。第１の光
出力端子２４と第１の光入力端子２７の間を光回路で接
続し、第２、第３の光出力端子２５、２６のいずれか一
方と第２、第３の光入力端子２８、２９のいずれか一方
との間に被測定光部品を接続して、光レベル検出手段３
６の出力に基づいて光部品の評価を行なう。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光部品の評価を行
なうための光部品評価装置において、セッティングが容
易で種々の光部品に対応できるようにするための技術に
関する。

【０００２】

【従来の技術】光フィルタや光ファイバあるいは光アン
プ等の光デバイスの各種特性を評価する場合、従来で
は、その評価対象の特性に必要な機器を用意して測定系
を組んでいた。

【０００３】例えば、光部品の波長損失特性の評価を行
なう場合には、図１２に示すように、波長が可変できる
光源１１、光分岐装置１２および２つのパワー計１３、
１４を用意し、光源１１の出力光が光分岐装置１２に入
力し、その分岐出力の一方が被測定対象の光部品１に入
力し、光部品１の出力光と分岐出力の他方とがそれぞれ
パワー計１３、１４に入力するようにファイバ接続し
て、光源１１の波長に対する２つのパワー計１３、１４
の出力レベルの比を求めている。

【０００４】また、光部品の偏波損失特性（ＰＤＬ）の
評価を行なう場合には、図１３に示すように、光源１
１、光分岐装置１２、２つのパワー計１３、１４の他
に、偏波スクランブラ１５を用意し、光源１１の出力光
が偏波スクランブラ１５に入力し、偏波スクランブラ１
５の出力光が光分岐装置１２に入力し、その分岐出力の
一方が光部品１に入力し、光部品１の出力光と分岐出力
の他方とがそれぞれパワー計１３、１４に入力するよう
にファイバ接続して、偏波スクランブラ１５によるパワ
ー計１３の出力変動量と、偏波スクランブラ１５による
パワー計１４の出力変動量との比を求めている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記し
たように、評価する特性毎に必要な機器を用意して測定
系を組む従来の方法では、セッティングが煩雑で時間が
かかり、また、測定結果の再現性が低いという問題があ
る。

【０００６】このために、評価する特性毎に一体化され
た専用測定器を構成することも可能であるが、これでは
汎用性が著しく低くなり、評価する特性が多い場合に多
数の専用測定器が必要になってしまう。

【０００７】本発明は、この問題を解決し、セッティン
グが容易で種々の測定に対応できる光部品評価装置を提
供することを目的としている。

【０００８】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の請求項１記載の光部品評価装置は、筐体
（２１）と、前記筐体内に設けられた波長可変光源（３
３）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記波長可変光
源の出力光を出力する第１の光出力端子（２４）と、前
記筐体の外表部に設けられ、前記第１の光出力端子から
の出力光を外部の光回路を通して受光するための第１の
光入力端子（２７）と、前記筐体内に設けられ、前記第
１の光入力端子から入力された光を２光路に分岐して出
力する光分岐手段（３５）と、前記筐体の外表部に設け
られ、前記光分岐手段によって分岐された光をそれぞれ
出力する第２の光出力端子（２５）および第３の光出力
端子（２６）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記第
１の光出力端子、前記第２の光出力端子または前記第３
の光出力端子のいずれかから少なくとも一つの出力光を
被測定光部品を通して受光可能にされた第２の光入力端
子（２８）および第３の光入力端子（２９）と、前記筐
体内に設けられ、前記第２の光入力端子および第３の光
入力端子の少なくとも一方から入力される光のレベルを
検出するための光レベル検出手段（３６）とを具備して
いる。

【０００９】また、本発明の請求項２の光部品評価装置
は、請求項１の光部品評価装置において、前記外部の光
回路は光の偏波または振幅についての変調手段であっ
て、前記第２の光出力端子と前記第２の光入力端子が被
測定光部品を通して光路を形成され、前記第３の光出力
端子と前記第３の光入力端子が光ファイバで光路を形成
され、前記光レベル検出手段で検出された前記第２の光
入力端子と前記第３の光入力端子からの光レベルを比較
することによって評価する。

【００１０】また、本発明の請求項３の光部品評価装置
は、請求項１の光部品評価装置において、前記外部の光
回路は光ファイバであって、前記第２の光出力端子と前
記第２の光入力端子が被測定光部品を通して光路を形成
され、前記第３の光出力端子と前記第３の光入力端子が
光ファイバで光路を形成され、前記光レベル検出手段で
検出された前記第２の光入力端子と前記第３の光入力端
子からの光レベルを比較することによって評価する。

【００１１】また、本発明の請求項４の光部品評価装置
は、請求項１記載の光部品評価装置において、前記第１
の光出力端子と前記第２の光入力端子との間を被測定光
部品を通して光路形成されている。

【００１２】また、本発明の請求項５の光部品評価装置
は、筐体（２１）と、前記筐体内に設けられた波長可変
光源（３３）と、前記筐体の外表部に設けられた第１の
光入力端子（２７）と、前記筐体内に設けられ、前記波
長可変光源の出力光と、前記第１の光入力端子から入力
された光とを受け、前記波長可変光源の出力光が第１光
路へ出力され且つ前記第１の光入力端子から入力された
光が第２光路へ出力される状態と、前記波長可変光源の
出力光が前記第２光路へ出力され且つ前記第１の光入力
端子から入力された光が前記１光路へ出力される状態の
いずれか一方の状態に切り換え可能な光スイッチ（６
１）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記光スイッチ
の前記第１光路の光を出力する第１の光出力端子（２
４）と、前記筐体内に設けられ、前記光スイッチの前記
第２光路の光を２光路に分岐する光分岐手段（３５）
と、前記筐体の外表部に設けられ、前記光分岐手段によ
って分岐された光をそれぞれ出力する第２の光出力端子
（２５）および第３の光出力端子（２６）と、前記筐体
の外表部に設けられた第２の光入力端子（２８）および
第３の光入力端子（２９）と、前記筐体内に設けられ、
前記第２の光入力端子および第３の光入力端子の少なく
とも一方から入力される光のレベルを検出するための光
レベル検出手段（３６）とを具備している。

【００１３】また、本発明の請求項６の光部品評価装置
は、請求項１〜請求項５の光部品評価装置において、前
記光レベル検出手段は、前記第２の光入力端子から入力
される光と、前記第３の光入力端子から入力される光の
いずれか一方を選択する光スイッチ（７１）と、該光ス
イッチによって選択された光のレベルを検出する受光器
（７２）とによって構成されている。

【００１４】また、本発明の請求項７の光部品評価装置
は、請求項１〜請求項６の光部品評価装置において、前
記光レベル検出手段の出力信号を前記筐体の外部へ出力
するためのレベル信号出力端子を備えている。

【００１５】また、本発明の請求項８の光部品評価装置
は、請求項１〜請求項７の光部品評価装置において、制
御用の信号を出力するための信号出力端子を前記筐体の
外表部に設け、該信号出力端子から出力した制御信号に
よって前記第１の光出力端子と前記第１の光入力端子の
間に接続される測定補助素子の制御を行なうようにして
いる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の第
１の実施形態を説明する。図１は、第１の実施形態の光
部品評価装置２０の外観を示している。

【００１７】図１において、光部品評価装置２０の筐体
２１の前面２１ａには、表示器２２、操作部２３の他
に、光ファイバの接続が可能な第１〜第３の光出力端子
２４、２５、２６と第１〜第３の光入力端子２７、２
８、２９とが設けられている。

【００１８】ここで、第１の光出力端子２４と第１の光
入力端子２７との間は、測定補助素子が必要な測定の場
合にその測定補助素子を接続し、測定補助素子が不要な
測定の場合には光ファイバで直結する。また、第２の光
出力端子２５と第２の光入力端子２８との間および第３
の光出力端子２６と第２の光入力端子２９との間の少な
くとも一方には、測定対象の光部品を接続する。

【００１９】また、図１には図示していないが、筐体２
１の背面側には、レベル信号出力端子３０、３１、制御
信号出力端子３２が設けられている（図２参照）。

【００２０】図２は筐体２１の内部に構成を示してい
る。図２において、波長可変光源３３は、後述する測定
処理部４０からの波長指定信号に対応した波長のレーザ
光を第１の光出力端子２４から出力する。なお、波長検
出器３４は、波長可変光源３３の出力光の波長を校正す
るためのものであり、例えば波長選択性を有する吸収セ
ルとフォトダイオードとによって構成されている。

【００２１】光分岐装置３５は、第１の光入力端子２７
から入力される光を２光路に分岐しその一方を第２の光
出力端子２５、他方を第３の光出力端子２６に出力す
る。

【００２２】光レベル検出部３６は第１の受光器３７と
第２の受光器３８によって構成されている。第１の受光
器３７は、第２の光入力端子２８から入力される光を受
光して、受光した光の強度に対応したレベルの第１の受
光信号を出力し、第２の受光器３８は、第３の光入力端
子２９から入力される光を受光して、受光した光の強度
に対応したレベルの第２の受光信号を出力する。

【００２３】第１、第２の受光器３７、３８から出力さ
れる受光信号は、レベル信号出力端子３１、３２および
測定処理部４０に入力される。

【００２４】測定処理部４０は、操作部２３によって指
定された情報に基づいて、波長可変光源３３の出力光の
波長設定および光レベル検出部３６から出力される受光
信号に対する演算処理等を行い、測定結果を表示器２２
に表示させる。

【００２５】次にこの実施形態の光部品評価装置２０の
使用方法および動作について説明する。

【００２６】（１）波長損失特性の評価例えば、光フィルタ、光アイソレータ、光ファイバ等の
光部品の波長損失特性を評価する場合には、図３に示す
ように、第１の光出力端子２４と第１の光入力端子２７
との間および第２の光出力端子２５と第２の光入力端子
２８との間を光ファイバで直結し、第３の光出力端子２
６と第３の光入力端子２９との間に光部品１を接続す
る。

【００２７】そして、操作部２３から測定項目や波長可
変範囲等を設定して、測定開始操作を行なうと、測定処
理部４０は、波長可変光源３３の出力光の波長を順次可
変しながら、光レベル検出部３６から出力される第１、
第２の受光信号を取り込み、第１の受光信号のレベルＬ
ａ（対数値）と、第２の受光信号のレベルＬｂ（対数
値）とを用いて波長毎の損失Ｌ（λ）を次の演算によっ
て算出する。Ｌ（λ）＝Ｌｂ−Ｌａ＋ΔＬ

【００２８】ただしΔＬは、第３の光出力端子２６と第
３の光入力端子２９との間を光ファイバで直結したとき
の、第１の受光信号のレベルＬａ（対数値）と、第２の
受光信号のレベルＬｂ（対数値）と差（校正データ）で
ある。

【００２９】そして、上記演算結果を例えば、横軸が波
長、縦軸が損失Ｌ（λ）の直交座標画面に表示する。こ
の表示から光部品１の波長損失特性を評価することがで
きる。

【００３０】（２）偏波依存損失特性の評価光部品の偏波損失（ＰＤＬ）特性を評価する場合には、
図４に示すように、第１の光出力端子２４と第１の光入
力端子２７との間に測定補助素子として偏波スクランブ
ラ４１を接続し、第２の光出力端子２５と第２の光入力
端子２８との間を光ファイバで直結し、第３の光出力端
子２６と第３の光入力端子２９との間に光部品１を接続
する。なお、偏波スクランブラ４１は、所定の速度で偏
光状態を自律変化させる。

【００３１】そして、操作部２３から波長の可変範囲と
測定項目を設定して測定開始操作を行なうと、測定処理
部４０は、波長可変光源３３の出力光の波長を所定波長
に設定し、光レベル検出部３６から出力される第１、第
２の受光信号を取り込み、偏波スクランブラ４１の偏光
状態の変化にともなう第１の受光信号のレベル変動幅Ｗ
ａ（対数値）と、第２の受光信号のレベル変動幅Ｗｂ
（対数値）とを用いてその所定波長におけるＰＤＬ
（λ）を次の演算によって算出する。ＰＤＬ（λ）＝Ｗｂ−Ｗａ

【００３２】上記処理を波長を変えて行い、各波長毎の
演算結果を、横軸が波長、縦軸がＰＤＬ（λ）の直交座
標画面に表示する。この表示から光部品１の偏波損失
（ＰＤＬ）特性を評価することができる。

【００３３】（３）偏波依存分岐比特性の評価光分岐装置等の光部品の偏波依存分岐比の特性を評価す
る場合には、図５に示すように、第１の光出力端子２４
と第１の光入力端子２７との間に測定補助素子として偏
波コントローラ４２を接続し、第３の光出力端子２６と
光部品１の入力端子との間を接続し、光部品１の２つの
分岐出力をそれぞれ第２の光入力端子２８と第３の光入
力端子２９に接続する。また、偏波コントローラ４２の
偏波可変用の端子と制御信号出力端子３２との間を接続
する。

【００３４】そして、操作部２３から測定波長および測
定処理部４０から偏波コントローラ４２を制御して第３
の光出力端子２６から出力される光の偏光角φを設定
し、測定項目を設定して測定開始操作を行い、光レベル
検出部３６から出力される第１、第２の受光信号を取り
込み、第１の受光信号のレベルＬａ（対数値）と、第２
の受光信号のレベルＬｂ（対数値）とを用いて波長毎ま
たは偏光角毎の分岐比Ｈ（φ）を次の演算によって算出
する。Ｈ（φ）＝Ｌｂ−Ｌａ

【００３５】そして、上記演算結果を例えば、横軸が波
長、縦軸が分岐比Ｈ（φ）、または横軸が偏向角、縦軸
が分岐比の直交座標画面に表示する。この表示から光部
品１の偏波依存分岐比特性を評価することができる。

【００３６】（４）偏波分散特性の評価光部品の偏波分散特性を評価する場合には、図６に示す
ように、第１の光出力端子２４と第１の光入力端子２７
との間に測定補助素子として偏波コントローラ４２を接
続し、第３の光出力端子２６と光部品１の入力端子との
間を接続し、光部品１の出力と第３の光入力端子２９と
の間を偏光子４３を介して接続する。偏波コントローラ
４２の偏波可変用の端子と制御信号出力端子３２との間
を接続する。

【００３７】そして、操作部２３から波長範囲を設定
し、測定項目を設定して測定開始操作を行なうと、測定
処理部４０は、偏波コントローラ４１の偏光状態を固定
し、波長可変光源３３の波長を変えながら、光レベル検
出部３６から出力される第２の受光信号を取り込む。そ
して、第２の受光信号のピークの波長間隔から光部品の
偏波分散特性を求めて、その結果を表示器２２に表示す
る。この表示から光部品１の偏波分散特性を評価するこ
とができる。

【００３８】（５）変調光に対する特性の評価変調光に対する光部品の特性を評価する場合には、図７
に示すように、第１の光出力端子２４と第１の光入力端
子２７との間に測定補助素子として光変調器（例えばＬ
Ｎ変調器）４４を接続し、第２の光出力端子２５と第２
の光入力端子２８との間を直結し、第３の光出力端子２
６と第３の光入力端子２９との間に光部品１を接続す
る。また、光変調器４４には信号発生器５１から変調信
号を入力する。なお、変調速度が高速の場合には、レベ
ル信号出力端子３０、３１をオシロスコープやＲＦスペ
クトラムアナライザ等の装置５０を接続する。

【００３９】そして、操作部２３から波長を設定し、測
定項目を設定して測定開始操作を行なうと、測定処理部
４０は、光レベル検出部３６から出力される第１、第２
の受光信号をサンプングして、その変調波形を表示器２
３に表示する。また、変調速度が高速の場合には、装置
５０によって受光信号の波形を観測する。これらの表示
波形から光部品１の変調光に対する応答特性が把握でき
る。また、変調器４４の変調信号の周波数を制御信号に
よって可変することで、光部品１の変調周波数に対する
応答特性を把握することができる。

【００４０】（６）利得特性の評価光増幅器等の光部品の利得特性を評価する場合には、図
８に示すように、第１の光出力端子２４と第１の光入力
端子２７との間に測定補助素子として光アッテネータ４
５と偏波コントローラ４２を直列に接続し、第２の光出
力端子２５と第２の光入力端子２８との間を直結し、第
３の光出力端子２６と第３の光入力端子２９との間に光
部品１を接続する。そして、光アッテネータ４５および
偏波コントローラ４２と制御信号出力端子３２の間を接
続する。

【００４１】そして、光アッテネータ４５によって任意
のレベルを設定し、また偏波コントローラ４２によって
任意の偏波を設定した後、操作部２３から波長範囲を設
定し、測定項目を設定して測定開始操作を行い、波長を
変えながら光レベル検出部３６から出力された第１、第
２の受光信号のレベルの比を求め、この比から光部品１
の波長毎の利得Ｇ（λ）を得る。

【００４２】そして、横軸が波長、縦軸が利得Ｇ（λ）
の直交座標画面に表示する。この表示から光部品１の利
得特性を評価することができる。

【００４３】以上のように、この光部品評価装置２０
は、測定対象の光部品と測定補助素子のみを入出力端子
に接続するだけの作業で、直ちに測定を開始することが
でき、従来のような測定する特性毎に測定系を全て組む
という煩雑な作業から解放され、しかも、種々の測定が
行なえ汎用性が極めて高い。

【００４４】また、測定準備のための接続箇所が少ない
ので、再現性の高い測定が行なえる。また、測定系の主
要部が一つの筐体内に設けられているため精度の高い測
定が行なえる。

【００４５】

【他の実施の形態】前記実施形態では、波長可変光源３
３からの出力光を常に第１の光出力端子２４から出力す
るようにしていたが、図９に示す光部品評価装置６０の
ように、光スイッチ６１を用いて、前記実施形態と同様
に波長可変光源３３の出力光が第１の光出力端子２４か
ら出力され且つ第１の光入力端子２７から入力された光
が光分岐装置３５に入力されてその分岐出力が第２、第
３の光出力端子２５、２６から出力される第１の状態
と、波長可変光源３３の出力光が光分岐装置３５に入力
されてその分岐出力が第２、第３の光出力端子２５、２
６から出力され且つ第１の光入力端子から入力された光
が第１の光出力端子２４から出力される第２の状態のい
ずれか一方に切り換えるようにしてもよい。

【００４６】このように構成した場合、前記した実施形
態と同様の効果の他に、測定補助素子の付け替え作業を
行なうことなく、光スイッチ６１の切り換えにより、同
一の光部品に対して複数の測定項目の測定が可能とな
る。

【００４７】例えば図１０に示すように、第１の光出力
端子２４と第１の光入力端子２７との間に測定補助素子
として偏波スクランブラ４１を接続し、第２の光出力端
子２５と第２の光入力端子２８との間を光ファイバで直
結し、第３の光出力端子２６と第３の光入力端子２９と
の間に光部品１を接続する。

【００４８】ここで、光スイッチ６１を第２の状態にす
れば光部品１の波長損失特性を前記実施形態と同様に測
定することができ、光スイッチ６１を第１の状態に切り
換えれば光部品１のＰＤＬ特性を前記実施形態と同様に
測定することができる。

【００４９】なお、この場合、測定処理部４０に対して
２つの測定項目の連続測定を指定しておくことで、測定
処理部４０が光スイッチ６１を自動的に切り換えて測定
を行なう。

【００５０】また、前記実施形態では、光レベル検出部
３６を第１、第２の受光器３７、３８によって構成して
いたが、図１１に示す光部品評価装置７０のように、光
レベル検出部３６′を２対１の光スイッチ７１と１つの
受光器７２によって構成し、第２、第３の光入力端子２
８、２９に入力される光を光スイッチ７１によって選択
し、選択した光のレベルを受光器７２によって検出して
もよい。

【００５１】このようにした場合、前記した実施形態と
同様の効果の他に、受光器の差による測定の誤差が無く
なり、より精度の高い測定ができる。

【００５２】なお、前記各実施形態では、波長可変光源
３３の出力光の強度を可変する場合に、第１の光出力端
子２４と第１の光入力端子２７との間に光アッテネータ
を挿入すればよいが、この光アッテネータを予め波長可
変光源３３と光出力端子との間に設けてもよい。

【００５３】また、前記各実施形態では、表示器２２、
操作部２３および測定処理部４０を同一筐体に設けてい
たが、表示器、操作部および測定処理部を例えばパーソ
ナルコンピュータで光部品評価装置と別個に構成し、光
部品評価装置側にパーソナルコンピュータと通信可能な
通信機能を設けて、波長または波長範囲の設定や測定の
起動、測定結果の演算処理および表示等をパーソナルコ
ンピュータ側で行なうようにしてもよい。

【００５４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の請求項１
の光部品評価装置は、同一筐体内に、波長可変光源、光
分岐手段および光レベル検出手段を設けるとともに、波
長可変光源の出力光を出力するための第１の光出力端子
と、光分岐手段に光を入力するための第１の光入力端
子、光分岐手段の分岐出力を出力するための第２、第３
の光出力端子および光レベル検出手段に光を入力するた
めの第２、第３の光入力端子を筐体の外表部に設けてい
る。

【００５５】このため、測定対象の光部品と測定補助素
子のみを入出力端子に接続するだけの作業で、直ちに測
定を開始することができ、しかも、種々の測定が行なえ
汎用性が極めて高い。

【００５６】また、測定準備のための接続箇所が少ない
ので、再現性の高い測定が行なえる。また、測定系の主
要部が一つの筐体内に設けられているため、外乱光によ
る測定への影響が少なくなり、精度の高い測定が行なえ
る。

【００５７】また、本発明の請求項５の光部品評価装置
は、光スイッチを用いて、波長可変光源の出力光が第１
の光出力端子から出力され且つ第１の光入力端子から入
力された光が光分岐手段に入力されてその分岐出力が第
２、第３の光出力端子から出力される状態と、波長可変
光源の出力光が光分岐手段に入力されてその分岐出力が
第２、第３の光出力端子から出力され且つ第１の光入力
端子から入力された光が第１の光出力端子から出力され
る状態のいずれか一方に切り換えることができるように
している。

【００５８】このため、前記した効果の他に、測定補助
素子の付け替え作業を行なうことなく、同一の光部品に
対して複数の測定項目の測定が可能となる。

【００５９】また、本発明の請求項６の光部品評価装置
では、光レベル検出手段を、第２の光入力端子から入力
される光と、第３の光入力端子から入力される光のいず
れか一方を選択する光スイッチと、この光スイッチによ
って選択された光のレベルを検出する受光器とによって
構成している。

【００６０】このため、受光器の差による誤差がなく、
さらに精度の高い測定ができる。

【００６１】また、本発明の請求項７の光部品評価装置
では、光レベル検出手段の出力信号を筐体の外部へ出力
するためのレベル信号出力端子を備えているため、変調
光に対する光部品の応答波形を観測することが簡単にで
きる。

【００６２】また、本発明の請求項８の光部品評価装置
では、制御用の信号を出力するための信号出力端子を筐
体の外表部に設け、この信号出力端子から出力した制御
信号によって第１の光出力端子と第１の光入力端子の間
に接続される測定補助素子の制御を行なうようにしてい
るため、測定補助素子の制御を含めた自動測定が容易に
行なえる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態の外観図

【図２】本発明の一実施形態の内部の構成を示す図

【図３】実施形態の測定例を説明するための接続図

【図４】実施形態の測定例を説明するための接続図

【図５】実施形態の測定例を説明するための接続図

【図６】実施形態の測定例を説明するための接続図

【図７】実施形態の測定例を説明するための接続図

【図８】実施形態の測定例を説明するための接続図

【図９】本発明の他の実施形態の構成を示す図

【図１０】図９の実施形態の測定例を説明するための接
続図

【図１１】本発明の他の実施形態の構成を示す図

【図１２】従来の測定系の一例を示す接続図

【図１３】従来の測定系の一例を示す接続図

【符号の説明】

２０光部品評価装置２１筐体２２表示器２３操作部２４第１の光出力端子２５第２の光出力端子２６第３の光出力端子２７第１の光入力端子２８第２の光入力端子２９第３の光入力端子３０、３１レベル信号出力端子３２制御信号出力端子３３波長可変光源３５光分岐装置３６光レベル検出部３７第１の受光器３８第２の受光器４０測定処理部

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【手続補正書】

【提出日】平成１０年５月２８日

【手続補正１】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】全図

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１】

【図２】

【図３】

【図１２】

【図４】

【図５】

【図６】

【図７】

【図８】

【図９】

【図１０】

【図１１】

【図１３】

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】筐体（２１）と、前記筐体内に設けられた波長可変光源（３３）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記波長可変光源の出力
光を出力する第１の光出力端子（２４）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記第１の光出力端子か
らの出力光を外部の光回路を通して受光するための第１
の光入力端子（２７）と、前記筐体内に設けられ、前記第１の光入力端子から入力
された光を２光路に分岐して出力する光分岐手段（３
５）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記光分岐手段によって
分岐された光をそれぞれ出力する第２の光出力端子（２
５）および第３の光出力端子（２６）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記第１の光出力端子、
前記第２の光出力端子または前記第３の光出力端子のい
ずれかから少なくとも一つの出力光を被測定光部品を通
して受光可能にされた第２の光入力端子（２８）および
第３の光入力端子（２９）と、前記筐体内に設けられ、前記第２の光入力端子および第
３の光入力端子の少なくとも一方から入力される光のレ
ベルを検出するための光レベル検出手段（３６）とを具
備した光部品評価装置。
【請求項２】前記外部の光回路は光の偏波または振幅に
ついての変調手段であって、前記第２の光出力端子と前
記第２の光入力端子が被測定光部品を通して光路を形成
され、前記第３の光出力端子と前記第３の光入力端子が
光ファイバで光路を形成され、前記光レベル検出手段で
検出された前記第２の光入力端子と前記第３の光入力端
子からの光レベルを比較することによって評価する請求
項１記載の光部品評価装置。
【請求項３】前記外部の光回路は光ファイバであって、
前記第２の光出力端子と前記第２の光入力端子が被測定
光部品を通して光路を形成され、前記第３の光出力端子
と前記第３の光入力端子が光ファイバで光路を形成さ
れ、前記光レベル検出手段で検出された前記第２の光入
力端子と前記第３の光入力端子からの光レベルを比較す
ることによって評価する請求項１記載の光部品評価装
置。
【請求項４】請求項１記載の光部品評価装置において、
前記第１の光出力端子と前記第２の光入力端子との間を
被測定光部品を通して光路形成されている光部品評価装
置。
【請求項５】筐体（２１）と、前記筐体内に設けられた波長可変光源（３３）と、前記筐体の外表部に設けられた第１の光入力端子（２
７）と、前記筐体内に設けられ、前記波長可変光源の出力光と、
前記第１の光入力端子から入力された光とを受け、前記
波長可変光源の出力光が第１光路へ出力され且つ前記第
１の光入力端子から入力された光が第２光路へ出力され
る状態と、前記波長可変光源の出力光が前記第２光路へ
出力され且つ前記第１の光入力端子から入力された光が
前記１光路へ出力される状態のいずれか一方の状態に切
り換え可能な光スイッチ（６１）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記光スイッチの前記第
１光路の光を出力する第１の光出力端子（２４）と、前記筐体内に設けられ、前記光スイッチの前記第２光路
の光を２光路に分岐する光分岐手段（３５）と、前記筐体の外表部に設けられ、前記光分岐手段によって
分岐された光をそれぞれ出力する第２の光出力端子（２
５）および第３の光出力端子（２６）と、前記筐体の外表部に設けられた第２の光入力端子（２
８）および第３の光入力端子（２９）と、前記筐体内に設けられ、前記第２の光入力端子および第
３の光入力端子の少なくとも一方から入力される光のレ
ベルを検出するための光レベル検出手段（３６）とを具
備した光部品評価装置。
【請求項６】前記光レベル検出手段は、前記第２の光入
力端子から入力される光と、前記第３の光入力端子から
入力される光のいずれか一方を選択する光スイッチ（７
１）と、該光スイッチによって選択された光のレベルを
検出する受光器（７２）とによって構成されていること
を特徴とする請求項１〜請求項５記載の光部品評価装
置。
【請求項７】前記光レベル検出手段の出力信号を前記筐
体の外部へ出力するためのレベル信号出力端子を備えた
請求項１〜請求項６記載の光部品評価装置。
【請求項８】制御用の信号を出力するための信号出力端
子を前記筐体の外表部に設け、該信号出力端子から出力
した制御信号によって前記第１の光出力端子と前記第１
の光入力端子の間に接続される測定補助素子の制御を行
なうことを特徴とする請求項１〜請求項７記載の光部品
評価装置。