JPH11288568A - サ―ボ帯域を形成するための方法及び線形デ―タ記憶テ―プ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】タイミング基準サーボ書式を有する線形テープ
装置にサーボ帯域の確実かつ簡易に形成するための方法
を提供する。 【解決手段】書き込まれたサーボ帯域の磁気転移ストラ
イプのバースト（１６０，１６１）にサーボ帯域パター
ンに沿うテープの長手方向の引っ掻き傷（１６０）があ
る場合、読み返し要素は変化した各バーストの第１−５
のストライプに応答して発生された概念的パルス波形
（１７１-１７５）を読み取る。概念的波形は、各々二
つの正パルスおよび二つの負パルスから構成されてい
る。個別の概念的波形を加え合わせると、実際のサーボ
確認信号（１７６）を生ずる。パルスの数から書き込ま
れたサーボ帯域の正常異常診断ができる。またパルス振
幅を共に用いてより精密な異常の解析がなされる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、線形テープ装置
に、およびタイミング基準、連続可変、位置決めサーボ
を有する線形テープ装置にサーボ帯域を書込み、確認す
る方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】比較的低価格のため、線形テープは、ア
ーカイブ目的で大量のデイジタル・データを記憶するた
めの媒体として普通に使用されている。たとえば、ディ
スク基準メモリは、しばしば線形データ記憶テープにア
ーカイブされる。

【０００３】データは、線形テープ上でテープの長手方
向に延長する複数のトラックに書式設定（フォーマッ
ト）される。テープヘッドは、テープを横断して横方向
に移動して別々のトラックに読み書きできる。多くの場
合、多数の読取り/書込要素のあるテープヘッドを使用
することにより多数のトラックに同時に書込または読取
りを行なうことができる。

【０００４】線形データ記憶テープに読み書きすると
き、テープヘッドの正確な横方向位置決めが非常に重要
である。このような精度を達成するのに、サーボ帯域を
テープに予め書込んでおく。サーボ帯域は読み書き中に
テープヘッドにより検出され、線形テープに対するテー
プヘッドの正確な横方向位置が決定される。

【０００５】図１は、概念的に、サーボ帯域の使用方法
を示している。図１は、長手方向ｘに延長し、横寸法ｙ
を有する線形テープ10の一部分を示す。テープ10は複数
のサーボ帯域12を備えている。図１の簡略例では、三つ
のサーボ帯域がある。サーボ帯域は、データ記憶のため
テープを実際に使用する前に、準備「書式設定」プロセ
スの期間中にテープに書込まれる。サーボ帯域は、指定
距離だけ互いに横方向に隔てられている。

【０００６】テータトラック14は、サーボ帯域の間の位
置にある。データトラック14の横方向位置は、サーボ帯
域に対して指定される。

【０００７】テープ10に対して読み書きするとき、テー
プヘッドがサーボ読取り要素でサーボ帯域を検知し、サ
ーボ帯域に対して自身を精密に位置決めする。テープヘ
ッド内部で、テータ読み書き要素は、サーボ読取り要素
に対して離れて設置されているので、サーボ読取り要素
が対応するサーボ帯域の上方に正確に位置決めされる
と、データ読み書き要素がデータトラック14の上に位置
決めされることになる。

【０００８】実際の実施形態では、線形テープは三つよ
り多いサーボ帯域を備えており、個別トラックが各サー
ボ帯域の内部に規定されている。多数のテープヘッドが
所定時刻に隣接する二つのサーボ帯域に跨がり、これら
サーボ帯域間のデータトラックだけに読み書きするよう
構成されている。別のデータトラックに読取りまたは書
込するには、このようなテープヘッドを二つの別々のサ
ーボ帯域に跨がるように位置決めしなおす。

【０００９】サーボ帯域から横方向位置情報を得る色々
な方法が存在する。一つの普通の方法は、サーボ帯域を
二つの半トラックに分割し、これに（明確な時刻に発生
する明確な周波数またはバーストのような）別々の情報
を記録する。単一サーボヘッドが半トラック間の境界を
跨ぎ、それぞれの半トラックから発生される信号の振幅
応答または位相応答を比較することにより位置情報を得
る。

【００１０】別の方法がアルブレヒト等の「線形テープ
駆動機構用時間基準トラック追跡サーボ」、データ記憶
マガジン、1997（ｐ.41）に記述されており、これをこ
こに参考のため記しておく。この方法は、狭いサーボヘ
ッドにより読取られるタイミング基準連続可変サーボ帯
域を使用している。

【００１１】図２は、連続可変タイミング基準サーボパ
ターンの一例を、サーボパターン上方に位置決めされた
サーボ読取り要素から発生される信号と共に示してあ
る。パターンは、二つの異なる方位角傾斜の交番磁気転
移から構成されている。読取り要素により発生されるパ
ルスの相対タイミングは、ヘッドの横方向位置によって
決まる。

【００１２】更に詳細に述べれば、図２に示したサーボ
帯域は、テープ上に交番方位角傾斜で記録される、「ス
トライプ」という、一連の磁気転移20および22を備えて
いる。一つおきのストライプ20は正の非０の傾斜または
方位角を有し、一方、介在ストライプ22は負の傾斜また
は方位角を有する。このような方位角はテープの横また
はｙ方向（テープの幅を横切る）に対して規定されてい
ることに注目のこと。

【００１３】図２は、このテープに使用するよう設計さ
れた、参照数字24で示した、サーボヘッドの経路および
幅を示している。サーボヘッドは、ストライプ自身の全
横幅よりかなり小さい横幅を読取る。サーボヘッドによ
り発生される信号は、記録線26により表され、例示磁気
転移ストライプの直下に示してある。サーボヘッドがス
トライプに出会うと、正のパルスを発生する。サーボヘ
ッドがストライプを離れると、負のパルスを発生する。

【００１４】横方向位置情報は、パルス間の距離を比較
することにより得られる。たとえば、第１の距離Ａを正
のストライプから次の負のストライプまでの距離として
規定することができ、第２の距離Ｂを負のストライプか
ら次の正のストライプまでの距離として規定することが
できる。サーボヘッドがサーボ帯域上方の中心にあると
き、ＡはＢに等しく、後続パルスが等しい間隔で発生す
る。

【００１５】実際の実施形態では、ストライプの交番
「バースト」が使用され、バーストは一つ以上の個別磁
気転移ストライプと規定されている。

【００１６】図３は、磁気転移ストライプの交番バース
トを利用したサーボ帯域配置の一例を示す。各バースト
は前のバーストとは反対の方位角傾斜を有する。サーボ
パターンは、反復フレームを備えている。各フレーム
は、第１の部分フレームＡおよび第２の部分フレームＢ
を備えている。各部分フレームは一対のバーストを有
し、各フレームのバーストは別々の方位角傾斜を有す
る。部分フレームＡは、正の方位角傾斜を有する五つの
等間隔ストライプのある第１のバースト38を備えてい
る。部分フレームＡは、負の方位角傾斜を有する五つの
等間隔ストライプのある第２のバースト40を備えてい
る。部分フレームＢは、これらバーストの各々が五つで
はなく、四つのストライプを備えていることの他は、同
様のバースト42および44を備えている。

【００１７】データを記憶するため実際に使用する前
に、サーボ帯域をテープに記録することが好ましい。図
２および図３に示したようなサーボ帯域の精密な間隔を
確保するために、多数サーボ帯域の対応するストライプ
を同時に書込むように構成されたパターン化サーボ書込
ヘッドを使用するのが望ましい。

【００１８】図４は、多数サーボ帯域を単一線形テープ
に書込むためのパターン化サーボ書込ヘッド46の一例を
示す。ヘッドの書込パターンを四つのサーボ帯域48を有
する下層の線形テープ47に対して示してある。各サーボ
帯域に対応する横方向位置で、書込ヘッドパターンは、
一対の書込要素または間隙を備えている。各対の一方の
要素50は、正の傾斜を有する磁気転移ストライプを発生
するよう構成されている。各対の他方の要素52は、負の
傾斜を有する磁気転移ストライプを発生するよう構成さ
れている。この構成を使用すれば、ヘッドに送られる単
一電流パルスがすべてのサーボ帯域に同時にストライプ
を書き込む。このようなパルスを反復して所要パターン
のストライプを、所要間隔で発生する。

【００１９】サーボ帯域を書込んでから、ストライプが
正しくテープに書込まれたことを確認することが非常に
望ましい。欠陥磁気転移は、書込ヘッドの故障、屑によ
る妨害、およびサーボ書込ヘッドの磨耗から生ずること
がある。他に、テープ自身の引っ掻き傷が、信号の脱
落、雑音、およびその他の誤りを生ずる書込不能領域を
生ずる可能性がある。引っ掻き傷の形のテープ欠陥は、
検出された位置信号にオフセットを生ずる可能性がある
ので特に厄介である。

【００２０】サーボ帯域の確認を行なうことができる幾
つかの異なる方法が存在する。一つの方法は、サーボ帯
域のストライプを、テープの幅を横断して設置された複
数の、通常の狭いデータ読取りヘッドで読み取ることで
ある。しかし、これは各サーボ帯域の幅を覆うためには
巨大な数のこのような要素を必要とする。

【００２１】他の方法は、サーボ書込ヘッドと同様に構
成された読取りヘッドを使用することである。このよう
な読取りヘッドは、方位角が書込まれたストライプ自身
の方位角に合致する向きになっている比較的広い読取り
要素を備えている。

【００２２】図５は、サーボ帯域全体の幅の約10％の長
手方向引っ掻き傷を有するサーボ帯域の一例を示す。図
５に示してあるのは、交互に正および負の方位角を備え
たサーボ・ストライプ60である。図５はまた、サーボ帯
域ストライプ60の方位角に合致する正および負の方位角
に設置された一対の広い読取り要素62および64（サーボ
帯域ストライプから区別するため破線で示してある）を
有するサーボ確認ヘッド61を示している。読取り要素62
は、正の方位角を有するストライプを確認するのに使用
される。読取り要素64は、負の方位角を有するストライ
プを確認するのに使用される。破線の長方形で輪郭を描
いた領域68は、磁気転移を記録しないテープ上の欠陥区
域を示す。したがって、ストライプ60の部分は、パルス
が区域68に重なるとき見つからない。

【００２３】

【発明が解決しようとする課題】波形66は、読取り要素
62により作られた信号を示す。読取り要素62が合致スト
ライプに出会うと、正のパルスを発生し、次に負のパル
スを発生する。ストライプに10％の欠陥があると、その
正常振幅の約90％の振幅を有するパルスが発生する。こ
れらパルスの振幅を監視し、低振幅のパルスに注目する
ことにより、欠陥を検出するのが理論的に可能である。
実際には、しかし、10％の信号変化は確実な検出に十分
ではない。したがって、サーボ帯域の10％の幅の引っ掻
き傷はサーボ位置決め能力を害なうのに十分重大ではあ
るが、図５の機構が確実に検出するには十分なほど広く
はないであろう。

【００２４】

【課題を解決するための手段】発明人は、上述の形式の
サーボ帯域を確認する別の方法を開発した。本発明は、
各サーボ帯域に単一の広い読取り要素だけを必要としな
がらサーボ帯域の完全な確認を可能とする。

【００２５】本発明によれば、上述のようなタイミング
基準サーボ帯域、または同様の書込磁気データを使用す
るテープ帯域を、帯域の磁気転移ストライプの正と負と
の方位角の間の中間の方位を向く単独の広い読取り要素
で確認する。このような読取りヘッドは、無欠陥サーボ
帯域について特定の振幅の一連のパルスを発生する。サ
ーボ帯域ストライプの欠陥は、別々の数のパルスを発生
し、その中には劇的に高い周波数を有するものがある。
したがって、低い周波数および高い周波数の双方を有す
るパルスを検出するのに比較器を使用することができ
る。このようなパルスを数え、既定の計数閾値と比較し
てサーボ帯域の欠陥領域を識別する。これによりこれま
でに提案されたどんな機構よりも確実な欠陥検出が得ら
れる。

【００２６】

【発明の実施の形態】図６は、本発明による線形データ
記憶テープを書式設定する装置またはシステム80の要素
を示す。システム80は、テープにサーボ帯域を書込むと
共に先に書込まれた磁気転移の誤りを検出することによ
りサーボ帯域を確認する。システム80は、線形記憶テー
プ82、サーボ書込ヘッド84、サーボ確認ヘッド85、テー
プをテープヘッドを通過して矢で示した方向に移動させ
る駆動装置86、および制御電子回路88を備えている。動
作中、システムは、テープがサーボ書込ヘッド84を通過
して移動するにつれてサーボ帯域ストライプがサーボ書
込ヘッド84により書込まれるように構成されている。サ
ーボ帯域ストライプは、次に、サーボ確認ヘッド85を通
過するにつれて確認される。

【００２７】図７は、線形データ記憶テープ82の一部分
を示す。複数のサーボ帯域がテープの長手方向に広がっ
ている。この例では、テープに、101、102、103、およ
び104と記された四つのサーボ帯域がある。複数のデー
タトラック（図示せず）がそれぞれのサーボ帯域対の間
に設けられている。図７は、概念を示すため描かれたも
のであり、したがって様々な例示テープ形体の相対的大
きさを示していないことに注目のこと。

【００２８】記述した実施形態では、データ記憶テープ
82は、一対のサーボ読取り要素および複数の介在データ
読み書き要素を有するデータ読み書きヘッドに使用する
よう設計されている。したがって、サーボ帯域は、テー
プを横断して互いに間を隔てており、データトラックま
たはバンドルが介在している。使用中、データ読み書き
ヘッドはサーボ帯域の隣接対の上方に設置され、データ
は、これらサーボ帯域の間にデータヘッドのデータ読み
書き要素を使用して読取られ、または書込まれる。この
ようにして、データトラックの各組またはバンドルがサ
ーボ帯域の周囲対と関係づけられる。

【００２９】サーボ帯域はすべて、磁気転移またはスト
ライプの同様の、または同一のパターンを備えている。
各パターンは、図３に示したパターンと同様であり、非
０方位角磁気転移の交番バーストを備えている。一つお
きのバーストは、正傾斜の転移を有し、その介在バース
トは、負傾斜の転移を有している。

【００３０】図７は、テープをデータ記憶に使用する前
の書式設定プロセス中にテープ82にサーボ帯域を確定す
るのに使用されるサーボ書込ヘッド84を示す。サーボ書
込ヘッド84は、単一書込パルスにより作動されて線形デ
ータ記憶テープを横断して横方向に複数の磁気転移スト
ライプを同時に発生するサーボ書込要素または間隙のパ
ターンを有している。書込要素のパターンを線形テープ
82およびサーボ帯域101、102、103、および104に対して
示してある。書込間隙のパターンは、線形データ記憶テ
ープ上の複数のサーボ帯域の各々について少なくとも一
対の磁気転移ストライプを備えている。どんな所定対の
二つの磁気転移ストライプも異なる方位角傾斜を備えて
いる。更に詳細に述べれば、書込ヘッド・パターンは、
書込ヘッドの別々の横方向位置に、サーボ帯域101、10
2、103、および104に対応する、書込間隙105、106、10
7、および108の対を備えている。各対の一方の間隙
（「Ａ」接尾字が付けてある）は、正の傾斜を有する磁
気転移ストライプを発生するように構成されている。各
対の他方の間隙（「Ｂ」接尾字が付けてある）は、負の
傾斜を有する磁気転移ストライプを発生するように構成
されている。様々な書込要素または間隙は、繰り返しパ
ルスを加えられて図３に示すサーボ帯域パターンを発生
する。別の構成を使用することができるが、説明した実
施形態は、各々が６度の正の非０方位角または６度の等
しい負の非０方位角のいずれかを備えている。得られる
サーボ帯域およびそのストライプは、テープ82に使用す
るために設計されたデータ読み書きヘッドのサーボ読取
り要素のものよりかなり大きい横幅を備えている。たと
えば、説明した実施形態では、ストライプは約191μmの
横幅を備えているが、テープ82に関連するデータ読み書
きヘッドに使用されるサーボ読取り要素は、約５μmの
横幅を備えている。

【００３１】図７はまた、サーボ確認ヘッド85の読取り
要素を示している。サーボ確認ヘッド85は、全部で四つ
のサーボ読取り要素について、各サーボトラック101、1
02、103、および104に対応する単独読取り要素90を備え
ている。各サーボ読取り要素90は、データ読み書きヘッ
ドに使用される読取り要素と比較して比較的広い読取り
要素である。特に、各読取り要素90は、対応するサーボ
帯域の磁気転移ストライプの幅全体を横断して横方向に
広がっている。したがって、説明した実施形態では、各
読取り要素の横幅は185μmである。

【００３２】各サーボ読取り要素90は、下層サーボ帯域
の磁気転移ストライプのどの方位角とも異なる方位角を
備えている。好適には、各読取り要素90の方位角は、ほ
ぼまたは正確にサーボ帯域のストライプの正と負との方
位角の間にある。説明した実施形態では、読取り要素は
各々、テープの横方向から０度の方位角を有している。
換言すれば、読取り要素は、テープの横方向を向いてい
る。

【００３３】図８は、単独確認読取り要素と単一サーボ
帯域の下層磁気転移ストライプとの関係を示す。図８
は、サーボストライプ109のバーストおよびサーボ読取
り要素102を示している。読取り要素102の上の矢印は、
サーボ帯域ストライプに対する読取り要素の移動の方向
を示す。読取り要素102は、先に書き込まれたサーボ帯
域の欠陥を検出するのに使用されるサーボ確認信号を発
生する。

【００３４】説明した実施形態では、ストライプの方位
角およびストライプ間の長手方向間隔は、読取り要素10
2が示した位置のようなサーボ帯域に沿う様々な位置に
おける二つ以上のストライプの上にあるようにする。換
言すれば、特定のバーストのサーボ帯域ストライプは、
十分近接する位置にあるので、単独横線は、横線の長手
方向の位置にもよるが、５本もの多数のストライプと同
時に交差する。このため、読取り要素102により発生さ
れた信号は、幾分、解析および予測するのが困難であ
る。

【００３５】図９および図１０は、無欠陥サーボ帯域か
ら生ずるサーボ確認信号を理解し予測する際の概念的補
助として使用される。図９は、厚さおよび方位角が誇張
された単一サーボ帯域ストライプ110を示す。横向き読
取り要素はサーボ帯域ストライプに対して左から右に移
動すると仮定している。波形112は、概念的に、サーボ
帯域ストライプ110から生ずるサーボ確認信号の付加要
素を示す。この説明では読取り要素は、無限に小さい長
手方向厚さを有すると仮定している。

【００３６】読取り要素が破線114により示したサーボ
帯域ストライプ110の最初の位置または長手方向前縁に
最初に到達すると、読取り要素を、サーボ帯域ストライ
プの投影パルス幅と言われるものと等しい長さを有する
正のパルス116を発生すると見ることができる。投影パ
ルス幅は、ストライプの長手方向サイズ成分（ストライ
プ厚さ０を仮定）またはストライプの横サイズ成分（図
９に「リーダ幅」として示してある）にストライプの方
位角を乗じたものに等しい。投影パルス幅を図９に変数
名Ｐ(l)により示す。読取り要素が破線118により示して
あるサーボ帯域ストライプ110の長手方向後縁の先導部
分に到達すると、読取り要素を、今度も投影パルス幅に
等しい長さを有する、負パルス120を発生していると見
ることができる。

【００３７】これらの概念的パルス116および120は加え
合わされて実際のサーボ確認信号122を発生する。実際
のサーボ確認信号はこのようにして単一追随負パルスか
ら時間的に離れている単一先導正パルスから構成されて
いる。

【００３８】図１０は、図３に示したようなバーストパ
ターンに応答して横向き読取り要素により発生されたサ
ーボ確認信号130を示し、この場合読取りヘッドが一度
に幾つかのストライプの上にあることができる。図１０
は、各々が五つの個別ストライプを備えているストライ
プ132および134のバーストを示す。バーストの下に五つ
の波形を示してある。第１の波形141は、各バーストの
第１のストライプに応答して発生された概念的パルスを
示す。第２の波形142は、各バーストの第２のストライ
プに応答して発生された概念的パルスを示す。第３の波
形143は、各バーストの第３のストライプに応答して発
生された概念的パルスを示す。第４の波形144は、各バ
ーストの第４のストライプに応答して発生された概念的
パルスを示す。第５の波形145は、各バーストの第５の
ストライプに応答して発生された概念的パルスを示す。
これらの波形は加え合わされて、波形130により表され
る実際のサーボ確認信号を生ずる。この特定の例では、
各バーストは、四つの個別正パルスに四つの個別負パル
スが続くものにより表されている。この例の特定の方位
角および間隔は互いに一致する正の付加パルスおよび負
の付加パルスを相殺することに注目のこと。これらの相
殺されたパルスを図１０に破線で示してある。

【００３９】図９および図１０は、無欠陥サーボ帯域に
基づく確認信号の形成を示す。図１１および図１２は、
サーボ帯域がなんらかの理由により欠陥を有していると
きこのような確認信号を変える仕方を示している。図１
１は、図９と同様の、厚さおよび方位角が誇張された単
一サーボ帯域ストライプ150を示している。しかし、こ
の場合には、図１１に区域152により表した、テープに
沿う長手方向の引っ掻き傷がある。テープのこの部分
は、磁気情報を記録しない。ストライプが破壊されてい
るので、それは二つの別々のストライプとして解析され
る。図９に導入した同じ解析概念を使用して、ストライ
プの第１の部分は、概念的の正および負のパルス154お
よび155を発生する。ストライプの第２の部分は、概念
的の正および負のパルス156および157これら四つのパル
スはすべて波形158により表される実際のサーボ信号を
発生すると仮定されており、この実際のサーボ信号は、
一連の四つの個別パルス、すなわち正パルス、負パル
ス、別の正パルス、および次に最終負パルス、を備えて
いる。これは図９に示した信号とは大きく違っており、
この場合の欠陥を、パルスの振幅の変化を検出すること
によるのではなく、単にパルスを数えることにより検出
することができる。

【００４０】図１２は、図３に示すパターンのようなサ
ーボ帯域パターンに沿う長手方向の引っ掻き傷の影響を
示す。この場合には、引っ掻き傷160をバースト161およ
び162に対して示してある。第１の波形171は、各バース
トの第１のストライプに応答して発生された概念的パル
スを示す。第２の波形172は、各バーストの第２のスト
ライプに応答して発生された概念的パルスを示す。第３
の波形173は、各バーストの第３のストライプに応答し
て発生された概念的パルスを示す。第４の波形174は、
各バーストの第４のストライプに応答して発生された概
念的パルスを示す。第５の波形175は、各バーストの第
５のストライプに応答して発生された概念的パルスを示
す。各場合において、概念的波形は、図１１に示すもの
と同様であり、各々二つの正パルスおよび二つの負パル
スから構成されている。

【００４１】個別の概念的波形を加え合わせると、波形
176により示したように実際のサーボ確認信号を生ず
る。パルスの数およびパルスの或るものの振幅は共に、
図１０により表される正常の場合から変化している。こ
れは、様々な概念的パルスの異なる相互作用および相殺
から生ずる。或る場合には、パルスが、相殺ではなく、
互いに加わり、正常の振幅の２倍の振幅を生ずる。

【００４２】上記の解析を下記のように、および図１３
および図１４に示すように一層数学的に行なうことがで
きる。図１３を参照すると、各ストライプ180は、０幅
の正パルス181に０幅の負パルス182が続くものをストラ
イプの長手方向の厚さで分離したものによりモデル化さ
れている。図１４は、バースト186および188の各ストラ
イプがこのような一対のパルスにより表される波形184
を示す。ストライプが欠陥により破壊されれば、ストラ
イプの各部分は、個別ストライプとして処理される。

【００４３】実際のサーボ確認信号を計算するには、各
パルスをその対応するストライプのパルス射影で畳み込
む。上に述べたように、パルス射影はストライプの長手
方向幅成分、またはストライプのｘ軸上への射影であ
る。今度も、ストライプが欠陥により破壊されると、そ
れは二つの別々のストライプとして解析される。得られ
る畳み込みは、図１４に波形190により示してあるが、
理論的サーボ確認信号を表す。

【００４４】色々なサーボ帯域欠陥が様々な異なる形式
のサーボ確認信号を生ずる。しかし、一般に、このよう
な信号を比較的複雑でない電子回路を用いて図１０に示
す理想的信号と比較することができる。たとえば、非常
に簡単な実施形態では、簡単なパルス検出器およびカウ
ンタを使用して各サーボストライプ・バーストに対応す
る正および負のパルスを数えることができる。得られた
パルス計数値を所定の正常値と比較して欠陥または異常
を検出することができる。統計的解析を有利に行なって
このような異常が欠陥のレベルまで上昇するか否かを決
定する。

【００４５】わずかにもう少し複雑な欠陥検出回路で
は、正および負のパルス双方の振幅を測定し理論的最大
値と比較して正常振幅の２倍である図１２に示すものの
ようなパルスを検出することがもきる。最大値を超える
振幅を有するパルスの数の、および所定の最小値を超え
ないパルスの数の計数値を保持する。これら計数値を統
計的に解析してサーボ帯域欠陥の別の指示を与える。図
１２に示したような異常パルスは、正常パルスから100
％だけ変わり、二つを非常に区別しやすくすることに注
目する。

【００４６】図１５は、制御電子回路88の例示実施形態
を示す。この回路は、サーボ確認信号に応答してサーボ
確認信号内のパルスを検出するパルス検出器またはパル
スピーク検出器を備えている。制御電子回路88はまた、
サーボ確認信号におよびパルス検出器に応答してパルス
の振幅を決定する振幅検出器204を備えている。制御電
子回路88は更に、パルス検出器および振幅検出器に応答
する欠陥検出論理206を備え、所定最大閾値を超えるパ
ルスを識別して数え、このようなパルスの数に基づきサ
ーボ帯域欠陥を識別する。好適には、欠陥検出論理は、
各サーボストライプ・バーストに対応するパルスを数
え、隣接バーストに対するこのような計数値を比較して
欠陥を識別する。

【００４７】図１５に示す要素を組込ディジタル信号プ
ロセッサにより有利に実施し、高度の構成柔軟性を得る
ことができる。

【００４８】本発明を主としてその機能特性に関して説
明してきたが、本発明は、方法論的局面をも備えてい
る。たとえば、本発明は、線形データ記憶テープ上にサ
ーボ帯域を作って確認する方法を備えている。このよう
な方法は、線形データ記憶テープに沿って磁気転移スト
ライプのパターンを書込むステップを備えている。本発
明の、説明した実施形態では、各ストライプは、正の６
度の方位角または負の６度の方位角を備えている。

【００４９】本発明による方法はまた、磁気読返し要素
を用いてサーボ確認信号を作るステップを備えており、
このような要素は、磁気転移ストライプの使用可能な全
幅を横断して横方向に広がっている。読返し要素は０度
の方位角の向きにあり、サーボ帯域の転移ストライプ
は、読返し要素が一度に一つより多い磁気転移を覆うよ
うに設置されている。

【００５０】本発明は更に、サーボ確認信号を監視して
サーボ帯域の欠陥を検出するステップを備えている。監
視ステップは、最も一般的には、監視信号を実験的に得
られた理論波形と比較するかまたは上に示した解析を用
いることを必要とする。更に詳細に記せば、監視ステッ
プは、サーボ確認信号内のパルスを数え、発生したパル
スの数を確認している特定のサーボパターンのパルスの
予測された正常数と比較するステップを備えている。他
に、監視ステップは、所定の最大閾値を超えるパルスを
検出して数えるステップを備えている。

【００５１】本発明による更に他のステップには、パル
ス計数値を解析し、それらを比較してサーボ帯域の欠陥
を予測するステップがある。

【００５２】本発明は、タイミング基準のまたは連続可
変のサーボ帯域を確認するという問題に対する精密で簡
潔な解法を与える。この解法には非常に簡単な電子回路
と磁気読取り要素を必要とするだけで、しかもサーボト
ラックの全幅とすべてのストライプとを確認する。

【００５３】本発明を構造特徴および/または方法ステ
ップに特有の言語で説明してきた。しかし、付記した特
許請求の範囲で規定した本発明は、必ずしも上述の特定
のと特徴またはステップに限定されないことを理解すべ
きである。そうではなく、特定の特徴およびステップ
は、本発明を実施する例示形態として開示したものであ
る。本発明の広汎な実施のための参考となる本発明の実
施態様のいくつかを以下に例示する。

【００５４】実施態様１：線形データ記憶テープ（82）
にサーボ帯域（101）を形成するための方法であって、
磁気転移ストライプ（109）のパターンを線形データ記
憶テープに書込むステップであり、この場合ストライプ
は、線形データ記憶テープに使用するために設計された
データ読取り/書込ヘッドのサーボ読取り要素の横幅よ
りかなり大きい横幅を有しているものである書込ステッ
プ、サーボ確認信号（130）を磁気転移ストライプを横
断して横方向に広がる磁気読返し要素（90）を用いて作
るステップであり、磁気読返し要素は、磁気転移ストラ
イプの規定方位角とは異なる方位角を有しているもので
あるステップ、サーボ確認信号を監視してサーボ帯域の
欠陥を検出するステップ、を備えていることを特徴とす
る方法。

【００５５】実施態様２：更に、正および負の方位角の
磁気転移ストライプを書込むステップ、磁気転移ストラ
イプの正の方位角と負の方位角との間の方位角の磁気読
返し要素を位置決めするステップ、を備えていることを
特徴とする実施態様１に記載の方法。 実施態様３：磁気読返し要素は、一度に一つより多い磁
気転移ストライプを覆い、監視ステップは、サーボ確認
信号が所定のパルス閾値を超える振幅のパルスを有して
いることを検出することから成ることを特徴とする実施
態様１に記載の方法。 実施態様４：監視ステップは、サーボ確認信号内のパル
スを数え、サーボ帯域の欠陥を検出することから成るこ
とを特徴とする実施態様１に記載の方法。

【００５６】実施態様５：監視ステップは、サーボ確認
信号内のパルスを数え、前期パルス数を所定のパルス数
と比較してサーボ帯域の欠陥を検出することから成るこ
とを特徴とする実施態様１に記載の方法。 実施態様６：更に、磁気読返し要素を０方位角に設置す
るステップ、磁気転移ストライプを等しい正および負の
方位角で書込むステップ、磁気読返し要素が一度に一つ
より多い磁気転移ストライプを覆うように磁気転移スト
ライプの間隔をあけるステップ、を備えていることを特
徴とする実施態様１に記載の方法。

【００５７】実施態様７：更に、磁気読返し要素を０方
位角に設置するステップ、磁気転移ストライプを等しい
正および負の方位角で書込むステップ、磁気読返し要素
が一度に一つより多い磁気転移ストライプを覆うように
磁気転移ストライプの間隔をあけるステップ、を備え、
監視ステップは、サーボ確認信号が所定のパルス閾値を
超える振幅のパルスを有していることを検出することか
ら成る、ことを特徴とする実施態様１に記載の方法。

【００５８】実施態様８：磁気読返し要素は、一度に二
つ以上の磁気転移ストライプを覆い、監視ステップは、
磁気読返し要素により発生されたパルスの振幅を監視す
るステップ、所定の最小閾値を超える振幅を有するパル
スの数を数えるステップ、所定の最大閾値を超える振幅
を有するパルスの数を数えるステップ、数えたパルス数
を解析してサーボ帯域の欠陥を識別するステップ、を備
えていることを特徴とする実施態様１に記載の方法。 実施態様９：実施態様１に記載のステップに従って作ら
れたサーボ帯域を備えていることを特徴とする線形デー
タ記憶テープ。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来技術の線形テープの一部分を示し、線形テ
ープ上のサーボ帯域およびデータトラックの配置を示し
ている図である。

【図２】図１に示す線形テープのサーボ帯域に使用する
ことができるようなタイミング・パターンを、このよう
なタイミング・パターンから生ずる読取り信号の記録線
と共に示す図である。

【図３】磁気転移のバーストまたはストライプを使用す
る、図２のものと同様のタイミング・パターンを示す図
である。

【図４】下層の線形テープに対する、サーボ書込ヘッド
の従来技術のサーボ書込要素パターンを示す概略図であ
る。

【図５】サーボ帯域パターンに関連して示した確認読取
りヘッドの可能な構成を示す概略図である。

【図６】本発明に従ってサーボテープを書式設定し且つ
確認する装置の簡略ブロック図である。

【図７】本発明によるサーボ帯域書込ヘッドおよびサー
ボ確認読取りヘッドを示す概略図である。

【図８】本発明による確認読取りヘッドとタイミング基
準サーボ・パターンとの関係を示す概略図である。

【図９】本発明による単一無欠陥サーボ・ストライプの
解析を示す概略図である。

【図１０】本発明による無欠陥サーボ・ストライプのバ
ーストの解析を示す概略図である。

【図１１】本発明による単一欠陥サーボ・ストライプの
解析を示す概略図である。

【図１２】本発明による欠陥サーボ・ストライプのバー
ストの解析を示す概略図である。

【図１３】本発明による単一無欠陥サーボ・ストライプ
の代わりの解析を示す概略図である。

【図１４】本発明による無欠陥サーボ・ストライプのバ
ーストの代わりの析を示す概略図である。

【図１５】本発明による制御電子回路のブロック図であ
る。

【符号の説明】

８２：線形データ記憶テープ ９０：磁気読返し要素 １０１：サーボ帯域 １０２：読取り要素 １０９：磁気転移ストライプ １６０：引っ掻き傷 １６１，１６２：磁気転移ストライプのバースト １３０：サーボ確認信号 １７１−１７５：各ストライプに応じて発生する概念的
パルス １７６：サーボ確認信号

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 線形データ記憶テープにサーボ帯域を形
   成するための方法であって、 磁気転移ストライプのパターンを線形データ記憶テープ
   に書込むステップであり、この場合ストライプは、線形
   データ記憶テープに使用するために設計されたデータ読
   取り/書込ヘッドのサーボ読取り要素の横幅よりかなり
   大きい横幅を有しているものである書込ステップ、 サーボ確認信号を磁気転移ストライプを横断して横方向
   に広がる磁気読返し要素を用いて作るステップであり、
   磁気読返し要素は、磁気転移ストライプの規定方位角と
   は異なる方位角を有しているものであるステップ、 サーボ確認信号を監視してサーボ帯域の欠陥を検出する
   ステップ、とを備えていることを特徴とする方法。