JPH11289138A - 両面基板およびその充填スルーホールの形成方法 - Google Patents
両面基板およびその充填スルーホールの形成方法Info
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Abstract
ーホール構造をその形成方法とともに提供し,両面基板
における表裏間の導通性を向上させること。 【解決手段】 コア基板1の両面に接着剤の層2,2を
積層し,さらにその片面に銅箔3を積層し,そしてレー
ザ加工によりコア基板1および接着剤の層2,2に貫通
孔を開ける。そこで銅箔3に片面電気めっきを施すと貫
通孔が小径であっても銅めっき層6で充填される。これ
により,その全部が金属で埋め尽くされるとともに上層
に形成される配線パターンとの接続性にも優れた充填ス
ルーホール構造が得られる。
Description
ターンが形成される両面基板に関する。さらに詳細に
は,表裏面間の導通をとるための導通部を有する両面基
板およびその導通部である充填スルーホールの形成方法
に関するものである。
とを適宜パターニングしつつ積層していくビルドアップ
基板が多用されている。このビルドアップ基板では,コ
ア基板の表裏の導電層間の導通をとるためのスルーホー
ルが適宜の場所に設けられる。上層のパターンがこのス
ルーホール上にも形成される場合には,スルーホール内
壁を導電体でコーティングするだけでなく,内部全部を
充填する必要がある。
8に示すようにして形成されていた。すなわち,まずコ
ア基板91に貫通孔92を開けてその内壁および表裏面
全面にめっき層93をコーティングし(図8の
(a)),貫通孔に銅ペースト94を印刷により充填す
る(図8の(b))。そして,研磨および粗化を行って
からめっき層95をコーティングし(図8の(c)),
めっき層93,95に適宜のパターニングを施す(図8
の(d))のである。このようにして形成された充填ス
ルーホールは,銅ペースト94で充填されている。
た従来の技術には,次のような問題点があった。まず,
充填材である銅ペーストの導電性が低いことが挙げられ
る。このため,表裏の配線パターン間の抵抗が無視でき
ないほど高く,導通不十分となることがある。これは,
銅ペーストが銅の粉末と溶剤とからなっており,その全
部が金属というわけではないことによる。また,充填後
の粗化の際に一部が溶解して凹むので,めっき層95と
の接続性が十分でないことにもよる。さらに別の問題点
として,印刷による銅ペーストの充填では貫通孔92の
径が最低500μm程度必要であり,それ以上の小径化
が事実上不可能であることが挙げられる。
題点の解決を目的としてなされたものである。すなわち
その課題とするところは,内部が全部金属で充填され導
通性に優れるとともに小径化も可能なスルーホール構造
をその形成方法とともに提供し,両面基板における表裏
両面の配線パターン間の充填スルーホールを介しての導
通性を向上させることにある。
れた本発明の両面基板は,絶縁性の基層を有するととも
にその表裏両面に配線パターンが形成される両面基板で
あって,表裏面間の導通をとるための充填スルーホール
を有し,前記充填スルーホールが,電気めっき金属で充
填されていることを特徴とするものである。
ンが形成された状態では,それらの配線パターン間の導
通は充填スルーホールの電気めっき金属を介してとられ
ている。電気めっき金属は実質的にその全部が金属であ
るので両配線パターン間の導通は非常に良好である。ま
た,この種の両面基板では配線パターンの形成前に研
磨,粗化等の整面が施されるが,電気めっき金属の組織
が緻密なので過度に凹むことがなく,配線パターンとの
接続が確実である。このことも両配線パターン間の導通
性の良さに貢献している。また,スルーホールの充填を
電気めっきで行うので,孔径を100μm程度まで小さ
くしても問題なく充填できる。
るとともにその貫通孔を電気めっき金属で充填した充填
スルーホール構造を採用することにより提供されるもの
である。なお,このような両面基板は,両面にめっき接
着剤の層を形成し,ビルドアップ用のコア基板として用
いることが望ましい。
基層の片面に導電性層を被覆する工程(1)と,前記絶
縁性の基層に貫通孔を形成する工程と,前記導電性層に
対し電気めっきを行うことにより前記貫通孔を電気めっ
き金属で充填する工程(2)とを含むことを特徴とする
方法により形成される。この形成方法は,当該構造の充
填スルーホールの製造方法である。また,その充填スル
ーホールを含む両面基板の製造方法の一部である。
に対し片面に導電性層が被覆され,また貫通孔が形成さ
れる。この,導電性層の被覆と貫通孔の形成とは,どち
らが先でもよいが,貫通孔は導電性層には及ばない。す
なわちこの状態では,貫通孔は導電性層により塞がれて
おり,導電性層の反対側から貫通孔を覗くと導電性層の
表面が見える。この状態で導電性層に対し電気めっきを
行うと,絶縁性である基層の表面や貫通孔内壁にはめっ
きされないが,貫通孔に臨んでいる導電性層にはめっき
が成長する。これにより,貫通孔が電気めっき金属で充
填される。かくして充填スルーホールが形成される。
たは薄板を絶縁性の基層に貼り付けてもよいし,めっき
等によって絶縁性の基層上に形成してもよい。ただし後
者の場合には,貫通孔の形成より先に行う必要がある。
また,貫通孔の形成は,レーザ加工のような物理的手法
でもエッチングのような化学的手法でもよい。あるい
は,導電性層の被覆より先に行う場合には,ドリル加工
のような機械的手法でもよい。そして,電気めっきする
金属(合金でもよい)は,基本的には電気めっき可能な
ものであって貫通孔を隙間なく充填できるものなら何で
もよいが,抵抗率の低さや後の工程でのエッチング耐
性,コスト等を考えると銅,ニッケル,などが現実的で
あり,最も適しているのは銅である。
被覆する前に,めっき接着剤の層を被覆し,配線パター
ンとの密着性を確保するとともに,この両面基板をビル
ドアップ用のコア基板として用いることが望ましい。こ
の場合における導電性層は,めっき接着剤の層の上に被
覆されることとなる。また,貫通孔は,絶縁性の基層と
めっき接着剤の層とを貫通していなければならない。
片面から,前記貫通孔の長さと前記導電性層の厚さとの
合計もしくはそれ以上のめっき厚が得られるように行う
とともに,そのめっき金属を導電性層と同質とし,その
後前記導電性層をエッチングにより除去する工程を有す
ることが望ましい。ここで,片面とは,導電性層から見
て絶縁性の基層がある側の面である。こうしないと貫通
孔の充填ができないからである。片面にのみ電気めっき
するためには,めっき槽内で,アノード電極をめっきす
る面の側にのみ配置し,一面側からのみ電流が供給され
るようにすればよい。あるいは,一面側のみがめっき液
に浸るような配置にしてもよい。また,導電性層と同質
とは,エッチングの際のエッチレートに有意差がないこ
とをいう。また,貫通孔の長さとは,絶縁性の基層の厚
さに,めっき接着剤の層がある場合にはその厚さを加算
したものである。
孔の内部にのみめっき金属が成長し,その反対側の面に
はめっき金属が成長しない。すなわち導電性層の厚さが
ほとんど増加しない。その一方,貫通孔の内部は導電性
層と同質のめっき金属で充填され,導電性層の厚さ分の
めっき金属が貫通孔からはみ出た状態となる。したがっ
て,エッチングにより導電性層を除去するときにはみ出
し分のめっき金属もエッチングされ,ほぼフラットとな
る。このため,その後のビルドアップがしやすい。
っき金属との密着性がないもの(アルミ箔など)を用
い,電気めっきを前記貫通孔の長さもしくはそれ以上の
めっき厚が得られるように行ってもよい。このようにす
ると,めっき後に導電性層を機械的に剥離することによ
り,両面がほぼフラットな状態が得られる。
形態について,図面を参照しつつ詳細に説明する。本実
施の形態は,充填スルーホールの形成方法および形成さ
れた充填スルーホールである。この形成方法は,絶縁性
のコア基板に,電気めっき金属で充填された構造のスル
ーホールを作成するものであり,両面ビルドアップ基板
の製造方法の一部をなすものである。
のコア基板として,60μm厚のガラスエポキシ基板を
使用する。そして図1に示すように,このコア基板1に
対し接着剤を両面にラミネートする。この接着剤のラミ
ネートは,ドライフィルムコーティングにより行う。こ
こで使用するラミネートフィルムとしては,例えば,日
本ペイント製プロビコート5000が適している。この
ラミネートフィルムは,エポキシ層(40μm厚)とカ
バーフィルム層との2層構造を有している。ラミネート
するときは,コア基板を40℃程度に余熱し,その両面
に,カバーフィルム層が外側になるようにラミネートフ
ィルムを重ね合わせ,80℃程度に加熱したロールコー
タで熱圧着する。その時のロール速度は,1.0m/分
程度が適当である。その後,カバーフィルム層を両面と
も剥離して除去する。図1はこの状態を示している。こ
の状態では,コア基板1の両面が接着剤の層2,2によ
り被覆されている。そして,接着剤の層2,2を両面と
も露光して,硬化の開始が可能な状態にしておく。露光
は,波長365nmの紫外線を1000mJ/cm2 照
射することにより行う。
る。この接着は,コア基板1に銅箔を重ね合わせ,加圧
プレス機を用い5kgf/cm2 の圧力を3分間かけて
行う。温度は常温とする。すると,図2に示すように,
コア基板1の片面側に接着剤の層2を挟んで銅箔3がラ
ミネートされた状態となる。そして,160℃で2時間
保持し,接着剤の層2,2を硬化させる。
にレーザ加工を行う。このため,コア基板1の,銅箔3
がラミネートされていない側の面における当該箇所に,
100μmφのCO2 レーザを照射する。これにより,
レーザが照射された箇所ではコア基板1およびその両面
の接着剤の層2,2が除去され,図3に示すように,1
00μmφの貫通孔4が形成される。貫通孔4は,コア
基板1およびその両面の接着剤の層2,2を貫通してい
るが,銅箔3はレーザにより加工されないのでそのまま
残っている。このため貫通孔4は,その一方が銅箔3に
より塞がれている。また,銅箔3のその箇所は,貫通孔
4に臨んでいる。したがって,貫通孔4を図3中上方か
ら覗くと,全体が銅箔3の表面であり,向こう側を透視
することはできない。このレーザ加工の後,濃度400
g/リットルの過マンガン酸水溶液でクリーニングし,加工
屑を取り除いておく。このクリーニングは,50℃で5
分間行う。
は,電気めっきにより行う。すなわち図4に示すよう
に,コア基板1とアノード電極5とを,銅箔3がラミネ
ートされていない側にのみアノード電極5が存在するよ
うにめっき槽内に配置し,貫通孔4を通してのみ銅箔3
に電流Iが供給されるようにしてめっきする。めっき液
としては硫酸銅溶液が適当である。このときのめっき厚
は160μmとし,3時間程度の通電時間でこのめっき
厚が得られるようなめっき条件でめっきする。このめっ
き厚は,貫通孔4の深さ,すなわちコア基板1およびそ
の両面の接着剤の層2,2の厚さの合計である140μ
mに銅箔3の厚さ18μmを加えた値に若干の余裕を持
たせて定めたものである。
の内部にのみ銅箔3の表面から成長し,銅箔3の裏面
(図4中下側の面)にはめっき層が形成されないので,
図5に示すように,貫通孔が銅めっき層6で充填され
る。このとき銅めっき層6は,めっき厚160μmから
貫通孔4の深さ140μmを差し引いた20μm分が接
着剤の層2の表面より上方にはみ出している。このはみ
出し分は,銅箔3の厚さ18μmとほぼ同じくらいであ
る。
6のはみ出し分および銅箔3を除去する。このエッチン
グには塩化銅エッチング液を用い,銅が20μm程度エ
ッチングされるが接着剤の層2,2はエッチングされな
いようにする。これにより,図6に示すように銅めっき
層6で充填された充填スルーホール7ができあがる。こ
の状態では,表裏両面がほぼフラットになっている。な
お厳密には,エッチング厚が銅箔3の厚さよりわずかに
大きいが,実際にビルドアップする際にはこの後研磨や
粗化等の整面を経てから上層構造が形成されるので,何
ら問題はない。
置の両面上に図7に示すように配線パターン8,8を形
成すると,配線パターン8,8は銅めっき層6を介して
導通している状態となる。このため,配線パターン8,
8間の導通が,以下の理由により非常に良好である。す
なわち,電気めっきで形成された銅めっき層6は銅ペー
ストで形成したものと異なり,ボイド部分もなく実質的
にその全部が金属なのでその体積抵抗率が非常に低いか
らである。また,エッチング後の整面の際にも接着剤の
層2,2と比べて凹むこともなく,配線パターン8,8
に対する接続性も優れるからである。さらに,貫通孔4
の充填を電気めっきで行っているので,100μmφと
いう小径であっても,銅ペーストの埋め込みによる場合
と異なり,良好に空泡なく埋め尽くされるからである。
これより,この後両面に適宜のパターンの絶縁層や導電
層をビルドアップしていくことにより,高品質な両面基
板が得られる。このビルドアップは,フルアディティブ
法でもセミアディティブ法でもよい。
形態とほぼ同様であるので,相違点のみを説明する。ま
ず,導電性層として,銅箔3の代わりにアルミ箔を使用
する。そして,貫通孔4を銅で充填する際のめっき厚
を,貫通孔4の深さと同様の140μm(もしくは2〜
3μm程度の余裕を持たせてもよい)とする。そして,
めっき後にはエッチングを行う代わりにアルミ箔を機械
的にはぎ取って除去する。アルミニウムはその性質上,
銅のようなめっき金属との密着性がないので,容易には
ぎ取ることができる。これにより,図6に示したのと同
様の銅めっき層6で充填された充填スルーホール7がで
きあがり,この状態で表裏両面がほぼフラットになって
いる。このため,導通性に優れた充填スルーホール7が
得られる。
よれば,コア基板1および接着剤の層2,2に形成され
た貫通孔4を,電気めっきにより銅めっき層6で充填す
ることとしたので,体積抵抗率が低くかつ配線パターン
8,8との接続性にも優れ,小径化にも対応できる充填
スルーホール7が提供されている。また,コア基板1の
片面に銅箔3(またはアルミ箔)をラミネートすること
としたので,この銅箔3に対し片面めっきすることによ
り容易に貫通孔4が銅めっき層6で充填されるものであ
る。
ず,本発明を何ら限定するものではない。したがって本
発明は当然に,その要旨を逸脱しない範囲内で種々の改
良,変形が可能である。例えば,各素材の具体的材質や
その各部のサイズなどは,前記実施の形態中に示された
ものと異なってもよい。また,導電性層の接着の後にレ
ーザ加工で貫通孔4を開けたが,この順序は逆でもよ
い。また,穴開けの方法は,エッチングのような化学的
なもの(ただし異方性エッチングに限る)でもよく,穴
開けを先に行う場合にはドリル加工のような機械的なも
のでもよい。さらに,めっきによる充填の後,導電性層
(銅箔3など)を除去する必要は必ずしもなく,これを
残しておいて適宜のパターニングを施して配線パターン
8の一部として使用してもよい。
よれば,内部が全部金属で充填され導通性に優れるとと
もに小径化も可能なスルーホール構造がその形成方法と
ともに提供されている。これにより,表裏両面の配線パ
ターン間の充填スルーホールを介しての導通性を向上さ
せた両面基板が提供されている。
図である。
ある。
る工程を示す図である。
である。
ある。
図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 絶縁性の基層を有するとともにその表裏
両面に配線パターンが形成される両面基板において,表
裏面間の導通をとるための充填スルーホールを有し,前
記充填スルーホールは,電気めっき金属で充填されてい
ることを特徴とする両面基板。 - 【請求項2】 請求項1に記載する両面基板において,
両面にめっき接着剤の層を有することを特徴とする両面
基板。 - 【請求項3】 絶縁性の基層を有するとともにその表裏
両面に配線パターンが形成される両面基板に,表裏面間
の導通をとるための充填スルーホールを形成する方法に
おいて,前記絶縁性の基層の片面に導電性層を被覆する
工程(1)と,前記絶縁性の基層に貫通孔を形成する工
程と,前記導電性層に対し電気めっきを行うことにより
前記貫通孔を電気めっき金属で充填する工程(2)とを
含むことを特徴とする両面基板の充填スルーホールの形
成方法。 - 【請求項4】 請求項3に記載する両面基板の充填スル
ーホールの形成方法において,前記絶縁性の基層にめっ
き接着剤の層を被覆する工程を前記工程(1)の前に有
することを特徴とする両面基板の充填スルーホールの形
成方法。 - 【請求項5】 請求項3または請求項4に記載する両面
基板の充填スルーホールの形成方法において,前記工程
(2)では,前記導電性層と同質の金属を片面から電気
めっきし,めっき厚が前記貫通孔の長さと前記導電性層
の厚さとの合計以上であり,前記工程(2)の後に前記
導電性層をエッチングにより除去する工程を有すること
を特徴とする両面基板の充填スルーホールの形成方法。 - 【請求項6】 請求項3または請求項4に記載する両面
基板の充填スルーホールの形成方法において,前記導電
性層が,前記工程(2)で充填される電気めっき金属と
の密着性がないものであり,前記工程(2)でのめっき
厚が前記貫通孔の長さ以上であり,前記工程(2)の後
に前記導電性層を機械的に除去する工程を有することを
特徴とする両面基板の充填スルーホールの形成方法。
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|---|---|---|---|
| JP09017798A JP4005211B2 (ja) | 1998-04-02 | 1998-04-02 | 両面基板の充填スルーホールの形成方法 |
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Country Status (1)
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Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN114364166A (zh) * | 2022-01-06 | 2022-04-15 | 深圳市鼎华芯泰科技有限公司 | 一种线路板的填孔方法和双面线路板的制作方法 |
| CN114615831A (zh) * | 2022-02-25 | 2022-06-10 | 沪士电子股份有限公司 | 一种局部厚铜印制线路板的制备方法 |
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1998
- 1998-04-02 JP JP09017798A patent/JP4005211B2/ja not_active Expired - Lifetime
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