JPH11297876A - Mounting structure of ball grid array - Google Patents

Mounting structure of ball grid array

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JPH11297876A
JPH11297876A JP10093639A JP9363998A JPH11297876A JP H11297876 A JPH11297876 A JP H11297876A JP 10093639 A JP10093639 A JP 10093639A JP 9363998 A JP9363998 A JP 9363998A JP H11297876 A JPH11297876 A JP H11297876A
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JP
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motherboard
interposer substrate
mounting structure
grid array
ball grid
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JP10093639A
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Hiroshi Sakai
浩 酒井
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NEC Corp
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/754Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL

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  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 電子部品と半田ボールをインタポーザ基板の
同一面に配設し、低プロファイルのBGAの実装構造を
簡易な構造のみによって実現する。 【解決手段】 インタポーザ基板11と、インタポーザ
基板11に実装されるLSI12及び半田ボール15を
備えたBGA10をマザーボード20に実装するBGA
の実装構造であって、LSI12と半田ボール15をイ
ンタポーザ基板11の、マザーボード20と対向する同
一面に実装,配設するとともに、マザーボード20に、
インタポーザ基板11に実装されたLSI12及びボン
ディングワイヤ13を封止するモールド樹脂14が位置
する貫通孔21を打ち抜き加工により形成した構成とし
てある。
(57) [Problem] To provide an electronic component and a solder ball on the same surface of an interposer substrate, and realize a low-profile BGA mounting structure only by a simple structure. SOLUTION: A BGA in which a BGA 10 provided with an interposer substrate 11, an LSI 12 mounted on the interposer substrate 11, and solder balls 15 is mounted on a motherboard 20.
The LSI 12 and the solder balls 15 are mounted and arranged on the same surface of the interposer substrate 11 that faces the motherboard 20.
The through hole 21 in which the mold resin 14 for sealing the LSI 12 and the bonding wires 13 mounted on the interposer substrate 11 is formed by punching.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、インタポーザ基板
にLSI等の電子部品及び半田ボールを備えたボール・
グリッド・アレイを装置側のマザーボードに実装するた
めのボール・グリッド・アレイの実装構造に関し、特
に、電子部品と半田ボールを、インタポーザ基板の同一
面に実装,配設し、このインタポーザ基板を、電子部品
をマザーボード側に対向させて実装することにより、部
品点数の増加や製造コストの上昇をまねくことなく簡易
な構造のみによって低プロファイルのボール・グリッド
・アレイ実装を効果的に実現し、実装組立作業もきわめ
て容易に行うことができるボール・グリッド・アレイの
実装構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a ball having an electronic component such as an LSI and a solder ball on an interposer substrate.
Regarding the mounting structure of the ball grid array for mounting the grid array on the motherboard of the device, in particular, electronic components and solder balls are mounted and arranged on the same surface of the interposer substrate, and the interposer substrate is mounted on the electronic device. By mounting components facing the motherboard, low-profile ball grid array mounting can be effectively achieved with only a simple structure without increasing the number of components or increasing manufacturing costs. The present invention also relates to a ball grid array mounting structure which can be performed very easily.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、OA機器の小型化が進展してお
り、LSI等の電子部品の高密度実装技術の重要性が増
している。ここで、電子部品の高密度実装を可能とする
パッケージとして、ボール・グリッド・アレイ(Ball G
rid Array)が知られている。このボール・グリッド・
アレイ(以下、単に「BGA」とも言う。)は、多ピン
のLSI等の電子部品を高歩留まりで装置側のプリント
配線板(マザーボード)に実装可能なパッケージとして
開発されたものであり、特に近年のOA機器等における
高密度実装化の要請により、広く用いられるようになっ
ている。
2. Description of the Related Art In recent years, miniaturization of OA equipment has been progressing, and the importance of high-density mounting technology for electronic components such as LSIs has been increasing. Here, as a package that enables high-density mounting of electronic components, a ball grid array (Ball G
rid Array) is known. This ball grid
Arrays (hereinafter, also simply referred to as “BGA”) have been developed as packages capable of mounting electronic components such as multi-pin LSIs on a printed wiring board (motherboard) on the device side with a high yield. In response to the demand for high-density packaging in OA equipment and the like, it has been widely used.

【0003】ここで、これまで提案されている従来の一
般的なBGAの実装構造について、図4を参照して説明
する。図4は、従来の一般的なBGAの実装構造を示す
要部断面正面図である。同図に示すように、従来のBG
Aの実装構造では、BGA110を、装置側に備えられ
たプリント配線板からなるマザーボード120の上面に
搭載,実装するようになっている。
Here, a mounting structure of a conventional general BGA proposed so far will be described with reference to FIG. FIG. 4 is a cross-sectional front view of a main part showing a conventional general BGA mounting structure. As shown in FIG.
In the mounting structure A, the BGA 110 is mounted and mounted on the upper surface of a motherboard 120 formed of a printed wiring board provided on the device side.

【0004】BGA110は、インタポーザ基板111
と、このインタポーザ基板111の上面側に搭載,実装
される電子部品としてのLSI112と、インタポーザ
基板111の底面側に溶着,配設された半田ボール11
5を備えている。
The BGA 110 has an interposer substrate 111.
An LSI 112 as an electronic component mounted and mounted on the upper surface of the interposer substrate 111; and a solder ball 11 welded and disposed on the lower surface of the interposer substrate 111.
5 is provided.

【0005】LSI112は、インタポーザ基板111
の上面に搭載され、ボンディングワイヤ113を介して
インタポーザ基板111側の配線パターンに接続される
とともに、モールド樹脂114によって樹脂封止される
ようになっている。
The LSI 112 includes an interposer substrate 111
And is connected to the wiring pattern on the interposer substrate 111 side via bonding wires 113 and is resin-sealed by a mold resin 114.

【0006】半田ボール115は、複数の半田ボールが
インタポーザ基板111のLSI112を実装した上面
と反対側の底面に、格子状(アレイ状)に配設されて溶
着してあり、マザーボード120側の配線パターンにリ
フローソルダリング工法により接続されるようになって
いる。
A plurality of solder balls 115 are arranged in a grid pattern (array) on the bottom surface of the interposer substrate 111 opposite to the top surface on which the LSI 112 is mounted, and are welded. The pattern is connected by reflow soldering.

【0007】図4中、117は放熱用のスルーホールで
あり、インタポーザ基板111のLSI112の底面部
分に形成されている。LSI112からの発熱は、この
スルーホール117及び半田ボール115を介して、マ
ザーボード120側に放熱されるようになっている。
In FIG. 4, reference numeral 117 denotes a heat-dissipating through-hole formed on the bottom surface of the LSI 112 of the interposer substrate 111. Heat generated from the LSI 112 is radiated to the motherboard 120 via the through holes 117 and the solder balls 115.

【0008】ここで、このような構成からなる従来のB
GAの実装構造では、図4に示したように、インタポー
ザ基板111に搭載されるLSI112と外部接続用の
半田ボール115は、インタポーザ基板111のそれぞ
れ反対面に配設されるようになっている。
Here, a conventional B having such a configuration is used.
In the GA mounting structure, as shown in FIG. 4, the LSI 112 mounted on the interposer substrate 111 and the solder balls 115 for external connection are arranged on the opposite surfaces of the interposer substrate 111, respectively.

【0009】このためBGA110をマザーボード12
0側に実装した状態の実装高さは、インタポーザ基板1
11の厚さにLSI112及び半田ボール115の高さ
を加えた高さとなり、しかも、LSI20の高さには、
ボンディングワイヤ113及びを封止保護用のモールド
樹脂114の高さも加わることとなり、最終的な実装高
さが大きくなってしまう問題があった。特に、LSI接
続用のボンディングワイヤ113及びこれを封止するモ
ールド樹脂114がインタポーザ基板111の上面に大
きく張り出し、実装高さの増大化の要因となっていた。
Therefore, the BGA 110 is connected to the motherboard 12
The mounting height when mounted on the 0 side is the interposer substrate 1
11 and the height of the LSI 112 and the solder balls 115, and the height of the LSI 20 is
Since the height of the bonding wire 113 and the molding resin 114 for sealing and protecting is added, there is a problem that the final mounting height is increased. In particular, the bonding wires 113 for connecting the LSI and the mold resin 114 for sealing the LSIs protrude greatly on the upper surface of the interposer substrate 111, which causes an increase in mounting height.

【0010】具体的には、従来のBGAの実装構造で
は、通常、BGAの実装高さが2mm以上となり、この
実装高さでは、装置の薄型化の要請が高まっている最近
の電子機器装置への適用が困難となり、特に薄型化が強
く要請されるノート型のパーソナルコンピュータやPD
A,ICカード製品等の小型の携帯型情報処理装置にお
いては、BGAが実装できなくなるという深刻な問題が
発生した。
[0010] Specifically, in the conventional BGA mounting structure, the mounting height of the BGA is usually 2 mm or more. With this mounting height, there is a demand for a recent electronic device which is required to be thinner. Notebook PCs and PDs, which are particularly difficult to apply, are particularly required to be thinner
A. In a small portable information processing device such as an IC card product, a serious problem that BGA cannot be mounted has occurred.

【0011】そこで、これまで、BGAの実装高さの薄
型化を図ることを目的として改良されたBGAの実装構
造が提案されている。図5を参照して、この改良型のB
GAの実装構造を説明する。
Therefore, an improved BGA mounting structure has been proposed for the purpose of reducing the mounting height of the BGA. Referring to FIG. 5, this improved B
The mounting structure of the GA will be described.

【0012】図5は、これまで提案された実装高さを低
くするように改良されたBGAの実装構造を示す要部断
面正面図である。同図に示すように、この改良型のBG
Aの実装構造は、BGA210のインタポーザ基板21
1に、LSI212を収納可能な開口部212aを穿設
するとともに、このインタポーザ基板211の底面側
に、開口部212aを覆うように支持基板216を配設
した構成となっている。
FIG. 5 is a cross-sectional front view of a main part showing a mounting structure of a BGA improved so as to reduce the mounting height proposed so far. As shown in FIG.
The mounting structure of A is the interposer substrate 21 of the BGA 210.
1, an opening 212a capable of accommodating the LSI 212 is formed, and a support substrate 216 is disposed on the bottom side of the interposer substrate 211 so as to cover the opening 212a.

【0013】このような構成からなるBGA210をマ
ザーボード220に実装すると、BGA210の実装高
さは、図5に示すように、半田ボール215の高さと、
ボンディングワイヤ213及びを封止保護用のモールド
樹脂214の高さを加えたLSI212の高さの和とな
る。従って、この改良型の実装構造によれば、図4に示
した従来のBGAの実装構造に比べて、インタポーザ基
板211の厚さ分だけBGAの実装高さの薄型化が図ら
れることとなった。
When the BGA 210 having such a configuration is mounted on the motherboard 220, the mounting height of the BGA 210 is, as shown in FIG.
The sum of the height of the LSI 212 and the height of the bonding wire 213 and the mold resin 214 for sealing and protecting is added. Therefore, according to the improved mounting structure, the mounting height of the BGA can be reduced by the thickness of the interposer substrate 211 as compared with the conventional mounting structure of the BGA shown in FIG. .

【0014】このようにBGAのインタポーザ基板に開
口部を設けて実装構造の薄型化を図る技術に関するもの
としては、例えば、特開平8−213506号公報の
「低プロファイル・ボール・グリッド・アレイ半導体パ
ッケージおよびその製造方法」,特開平8−25052
9号公報の「樹脂封止型半導体装置及びその製造方
法」,特開平9−186272号公報の「外部露出型ヒ
ートシンクが付着された薄型ボールグリッドアレイ半導
体パッケージ」,特開平9−330994号公報の「半
導体装置」等が知られている。
A technique for providing a thinner mounting structure by providing an opening in a BGA interposer substrate as described above is disclosed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 8-213506, entitled "Low Profile Ball Grid Array Semiconductor Package." And its manufacturing method ", JP-A-8-25052
Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-330994, “Resin-sealed semiconductor device and manufacturing method thereof”, Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-186272, “Thin Ball Grid Array Semiconductor Package with Externally Exposed Heatsink”, and Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-330994. “Semiconductor devices” and the like are known.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うにインタポーザ基板に開口部を設けるBGAの実装構
造では、インタポーザ基板への開口部の穿設作業が困難
な上、開口部を底面側から覆う支持基板を別途用意する
必要があることから、部品点数が増大するとともに、こ
れら各部の加工及び組立作業が複雑化し、BGAの実装
組立行程全体が複雑となり、生産コストが上昇するとい
う問題があった。特に、きわめて小型かつ薄型のインタ
ポーザ基板への開口部の形成工程は、開口部の形成位置
精度を含め、非常に煩雑かつ困難な作業を必要とするこ
とから、BGA自体の製造コストが増大するおそれがあ
った。
However, in such a BGA mounting structure in which an opening is provided in the interposer substrate, it is difficult to drill the opening in the interposer substrate, and the support for covering the opening from the bottom side. Since it is necessary to prepare a board separately, there is a problem that the number of parts is increased, the processing and assembling work of these parts are complicated, the entire mounting and assembling process of the BGA is complicated, and the production cost is increased. In particular, the step of forming an opening in an extremely small and thin interposer substrate requires extremely complicated and difficult work, including the accuracy of the formation position of the opening, which may increase the manufacturing cost of the BGA itself. was there.

【0016】また、仮に生産コストを度外視して、この
ような複雑な工程を経てBGAを製造したとしても、実
装高さの薄型化は、上述したようにインタポーザ基板の
厚さ分だけしか達成することができず、本来の目的であ
る実装構造の薄型化自体の点からも大きな効果を奏する
ことはできなかった。
Even if the production cost is neglected and the BGA is manufactured through such a complicated process, the mounting height can be reduced only by the thickness of the interposer substrate as described above. Therefore, a great effect could not be obtained from the point of thinning the mounting structure itself, which is the original purpose.

【0017】すなわち、この改良型の実装構造でも、図
5に示したように、LSI接続用のボンディングワイヤ
及びこれを封止するモールド樹脂は、従来と同様にイン
タポーザ基板の上面に大きく張り出しており、従来から
実装構造の長大化の最大の要因となっていたこれらの点
については何等の解決も図られていなかった。従って、
僅かにインタポーザ基板の厚さ分だけの減少では、上述
した携帯型の情報端末装置等における薄型化の要請には
応えることができなかった。
That is, even in this improved mounting structure, as shown in FIG. 5, the bonding wires for connecting the LSI and the molding resin for sealing the same largely extend over the upper surface of the interposer substrate as in the conventional case. However, there has been no solution to these points, which have conventionally been the biggest factors in increasing the length of the mounting structure. Therefore,
A slight decrease in the thickness of the interposer substrate could not meet the demand for a thinner portable information terminal device and the like described above.

【0018】しかも、インタポーザ基板の開口部にLS
Iを収納して薄型化を図るという構造自体が、一般にイ
ンタポーザ基板自体がLSIの厚さと同等かそれ以下の
板厚であることから、薄型化にも限界があり、今以上の
薄型化を実現することは構造上不可能であった。
Further, LS is formed in the opening of the interposer substrate.
Since the structure itself that accommodates I and reduces the thickness is generally the same as or less than the thickness of the LSI, the thickness of the interposer substrate itself is limited, and there is a limit to the reduction in thickness. To do so was structurally impossible.

【0019】本発明は、このような従来の技術が有する
問題を解決するために提案されたものであり、電子部品
と半田ボールを、インタポーザ基板の同一面に実装,配
設し、このインタポーザ基板を、電子部品をマザーボー
ド側に対向させて実装することにより、部品点数の増加
や製造コストの上昇をまねくことなく簡易な構造のみに
よって低プロファイルのボール・グリッド・アレイ実装
を効果的に実現し、実装組立作業もきわめて容易に行う
ことができるボール・グリッド・アレイの実装構造の提
供を目的とする。
The present invention has been proposed in order to solve the problems of the prior art, in which electronic components and solder balls are mounted and arranged on the same surface of an interposer substrate. By mounting electronic components facing the motherboard side, it is possible to effectively realize low-profile ball grid array mounting with only a simple structure without increasing the number of components and increasing manufacturing costs, It is an object of the present invention to provide a ball grid array mounting structure in which mounting and assembling work can be performed very easily.

【0020】[0020]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の請求項1記載のボール・グリッド・アレイの実
装構造は、インタポーザ基板と、このインタポーザ基板
に実装される電子部品及び半田ボールを備えたボール・
グリッド・アレイをマザーボードに実装するボール・グ
リッド・アレイの実装構造であって、前記電子部品と半
田ボールを、前記インタポーザ基板の、前記マザーボー
ドと対向する同一面に実装,配設した構成としてある。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a ball grid array mounting structure comprising: an interposer substrate; and electronic components and solder balls mounted on the interposer substrate. Ball with
A mounting structure of a ball grid array for mounting a grid array on a motherboard, wherein the electronic components and the solder balls are mounted and arranged on the same surface of the interposer substrate facing the motherboard.

【0021】そして、請求項2記載のボール・グリッド
・アレイの実装構造では、前記マザーボードに、前記イ
ンタポーザ基板に実装された電子部品が位置する部品収
納部を備えた構成としてあり、特に、請求項3では、前
記部品収納部が、前記マザーボードを貫通する貫通孔と
し、また、請求項4では、前記部品収納部が、前記マザ
ーボードに形成された有底の凹部により構成してある。
In the ball grid array mounting structure according to a second aspect of the present invention, the motherboard is provided with a component storage portion in which electronic components mounted on the interposer substrate are located. In a third aspect, the component storage portion is a through hole that penetrates the motherboard. In a fourth aspect, the component storage portion is configured by a bottomed recess formed in the motherboard.

【0022】このような構成からなる本発明のボール・
グリッド・アレイの実装構造によれば、LSI等の電子
部品と半田ボールをインタポーザ基板の同一面に配設す
るとともに、電子部品をマザーボード側の部品収納部に
位置させた状態で実装しているので、電子部品の実装構
造部分の高さをすべてマザーボードの厚みによって吸収
することができる。従って、本発明によれば、ボール・
グリッド・アレイの実装高さは、インタポーザ基板の厚
さと半田ボールの高さの和だけとなり、従来と比較して
実装高さをほぼ半減させることができる。
The ball of the present invention having such a configuration
According to the mounting structure of the grid array, the electronic components such as the LSI and the solder balls are arranged on the same surface of the interposer substrate, and the electronic components are mounted in the component storage portion on the motherboard side. In addition, the height of the mounting structure of the electronic component can be entirely absorbed by the thickness of the motherboard. Therefore, according to the present invention,
The mounting height of the grid array is only the sum of the thickness of the interposer substrate and the height of the solder balls, and the mounting height can be reduced by almost half as compared with the conventional case.

【0023】このように、本発明によれば、マザーボー
ドへの簡単な孔開け加工のみによって、部品点数の増加
や製造コストの上昇をまねくことなく、低プロファイル
のボール・グリッド・アレイの実装構造を効果的に実現
することができ、しかも、実装作業自体は、通常のボー
ル・グリッド・アレイの実装と何等変わることなく容易
に行うことができる。
As described above, according to the present invention, the mounting structure of the ball grid array having a low profile can be realized without increasing the number of parts and the manufacturing cost by only simple drilling on the motherboard. It can be effectively implemented, and the mounting operation itself can be easily performed without any difference from the mounting of a normal ball grid array.

【0024】また、請求項5記載のボール・グリッド・
アレイの実装構造は、前記インタポーザ基板の前記電子
部品及び半田ボールを備えた面と反対面に、放熱手段を
備えた構成としてある。
The ball grid according to claim 5
The mounting structure of the array has a configuration in which heat dissipating means is provided on the surface of the interposer substrate opposite to the surface on which the electronic components and the solder balls are provided.

【0025】このような構成からなる本発明のボール・
グリッド・アレイの実装構造によれば、電子部品を半田
ボールと同一面側に配設してあるので、インタポーザ基
板の他の一面側は何も存在しない開放された状態とな
り、放熱板やヒートシンクを自由に搭載,配設すること
が可能となる。これによって、電子部品の発熱を、放熱
手段を介してインタポーザ基板の上方空間に放熱するこ
とができ、従来と比較してより効果的な電子部品の放熱
が可能となる。
The ball of the present invention having such a configuration
According to the mounting structure of the grid array, since the electronic components are arranged on the same side as the solder balls, the other side of the interposer substrate is in an open state where nothing is present, and the heat sink or the heat sink is mounted. It can be freely mounted and arranged. Thus, heat generated by the electronic component can be radiated to the space above the interposer substrate via the heat radiating means, and more effective heat radiation of the electronic component can be achieved as compared with the related art.

【0026】さらに、請求項6記載のボール・グリッド
・アレイの実装構造は、前記マザーボードが基板材料か
ら打ち抜かれて形成される場合において、前記貫通孔か
らなる部品収納部が、前記マザーボートが基板材料から
打ち抜かれると同時に、当該マザーボードから打ち抜か
れることによって形成される構成としてある。
Further, in the ball grid array mounting structure according to claim 6, in a case where the motherboard is formed by punching out a board material, the component storage portion including the through hole is provided in the mother boat. This is a configuration formed by being punched out of a material and simultaneously punched out of the motherboard.

【0027】一般に、マザーボードとなるプリント配線
板は、プレス装置等によって基板材料から打ち抜かれて
形成されるので、このマザーボードの打ち抜き用の型に
貫通孔の型も併せて形成することにより、マザーボート
が基板材料から打ち抜かれると同時に、貫通孔をマザー
ボードから打ち抜いて形成することができる。
In general, a printed wiring board serving as a motherboard is formed by punching out a substrate material by a press device or the like. Therefore, a motherboard can be formed by forming a die for punching the motherboard together with a die for a through hole. Can be formed by punching a through hole from the motherboard at the same time as the substrate is punched from the substrate material.

【0028】これによって、本発明の貫通孔は、マザー
ボードと同時に、同一の工程によって形成することがで
き、貫通孔のみを形成するための工程が一切不要となる
ことから、貫通孔を打ち抜き加工による正確な位置精度
によって形成でき、しかも、生産コストが上昇すること
もなく、簡易かつ効率よく本発明のボール・グリッド・
アレイの実装構造を実現することができる。
Thus, the through-hole according to the present invention can be formed in the same step as the mother board in the same step, and the step of forming only the through-hole is not required at all. The ball grid grid of the present invention can be formed simply and efficiently with accurate positional accuracy, without increasing the production cost.
An array mounting structure can be realized.

【0029】[0029]

【発明の実施の形態】以下、本発明のボール・グリッド
・アレイの実装構造の実施の形態について、図面を参照
して説明する。 [第一実施形態]まず、本発明のボール・グリッド・ア
レイの実装構造の第一の実施形態について図1を参照し
て説明する。図1は、本発明の第一実施形態に係るボー
ル・グリッド・アレイの実装構造を示す要部断面正面図
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a ball grid array mounting structure according to the present invention will be described below with reference to the drawings. First Embodiment First, a first embodiment of a mounting structure of a ball grid array according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a main part sectional front view showing a mounting structure of a ball grid array according to a first embodiment of the present invention.

【0030】同図に示すように、本実施形態は、インタ
ポーザ基板11と、このインタポーザ基板11に実装さ
れる電子部品としてのLSI12及び半田ボール15を
備えたBGA(ボール・グリッド・アレイ)10をマザ
ーボード20に実装するBGAの実装構造であり、LS
I12と半田ボール15を、インタポーザ基板11のマ
ザーボード20と対向する同一面側に実装,配設したも
のである。これによって、BGA10をマザーボード2
0に実装した状態での実装高さを、BGA10を構成す
るインタポーザ基板11の厚さと半田ボール15の高さ
のみとするものである。
As shown in FIG. 1, in this embodiment, an interposer substrate 11, an LSI 12 as electronic components mounted on the interposer substrate 11, and a BGA (ball grid array) 10 having solder balls 15 are provided. This is the mounting structure of the BGA mounted on the motherboard 20, LS
I12 and solder balls 15 are mounted and arranged on the same surface of the interposer substrate 11 facing the motherboard 20. As a result, the BGA 10 is
The mounting height in the state where the BGA 10 is mounted is only the thickness of the interposer substrate 11 and the height of the solder balls 15 constituting the BGA 10.

【0031】具体的には、図1に示すように、BGA1
0は、インタポーザ基板11と、このインタポーザ基板
11の一面側(図中下面側)に搭載,実装される電子部
品としてのLSI12と、インタポーザ基板11の一面
に溶着,配設された半田ボール15を備えており、LS
I12と半田ボール15はインタポーザ基板11の同一
面に配設してある。
Specifically, as shown in FIG.
Reference numeral 0 denotes an interposer substrate 11, an LSI 12 as an electronic component mounted and mounted on one surface side (lower surface side in the figure) of the interposer substrate 11, and a solder ball 15 welded and arranged on one surface of the interposer substrate 11. Equipped, LS
The I 12 and the solder balls 15 are provided on the same surface of the interposer substrate 11.

【0032】インタポーザ基板11上に搭載されたLS
I12は、LSI12側の電極パッドが、インタポーザ
基板11上の電極パッドとボンディングワイヤ13によ
り接続され、LSI12は、ボンディングワイヤ13を
介してインタポーザ基板11上の配線パターンに接続さ
れるようになっている。また、このLSI12及びボン
ディングワイヤ13は、モールド樹脂14により封止さ
れ保護されている。
LS mounted on interposer substrate 11
I12 is configured such that an electrode pad on the LSI 12 side is connected to an electrode pad on the interposer substrate 11 by a bonding wire 13, and the LSI 12 is connected to a wiring pattern on the interposer substrate 11 via the bonding wire 13. . The LSI 12 and the bonding wires 13 are sealed and protected by a mold resin 14.

【0033】半田ボール15は、複数の半田ボール1
5,15...がインタポーザ基板11のLSI12を
実装した面と同一の下面側に、LSI12を取り囲むよ
うに格子状(アレイ状)に配設されて溶着してあり、マ
ザーボード20側の配線パターンにリフローソルダリン
グ工法により接続されるようになっている。
The solder balls 15 include a plurality of solder balls 1.
5,15. . . Are arranged and welded on the same lower surface side of the interposer substrate 11 as the surface on which the LSI 12 is mounted so as to surround the LSI 12 by a reflow soldering method on the wiring pattern on the motherboard 20 side. It is to be connected.

【0034】図1中、17は放熱用のスルーホールであ
り、インタポーザ基板11のLSI12の上方部分に形
成されており、LSI12からの発熱が、このスルーホ
ール17を介して、インタポーザ基板11に伝導され、
このインタポーザ基板11を経由してその上方空間及び
マザーボード20側に放熱されるようになっている。
In FIG. 1, reference numeral 17 denotes a heat-dissipating through-hole, which is formed above the LSI 12 of the interposer substrate 11, and generates heat from the LSI 12 to the interposer substrate 11 via the through-hole 17. And
Heat is radiated to the space above and to the motherboard 20 via the interposer substrate 11.

【0035】このBGA10が実装されるマザーボード
20は、一般にプリント配線板によって構成されてお
り、本実施形態でも多層基板,両面基板等の各種のプリ
ント配線板によって構成してある。そして、本実施形態
では、このマザーボード20に、図1に示すように、イ
ンタポーザ基板11に実装,封止されたLSI12が位
置できるように、部品収納部としてマザーボード20を
貫通する貫通孔21が形成してある。
The motherboard 20 on which the BGA 10 is mounted is generally constituted by a printed wiring board, and also in this embodiment is constituted by various printed wiring boards such as a multilayer board and a double-sided board. In the present embodiment, as shown in FIG. 1, a through hole 21 penetrating through the mother board 20 is formed in the mother board 20 so that the LSI 12 mounted and sealed on the interposer substrate 11 can be positioned as shown in FIG. I have.

【0036】図1に示すように、BGA10は、半田ボ
ール15を介してマザーボード20と接続されるが、通
常は、LSI12を封止したモールド樹脂14は半田ボ
ール15の高さより大きく突出するので、そのままで
は、マザーボード20の上面にモールド樹脂14が当接
してしまうことになる。
As shown in FIG. 1, the BGA 10 is connected to the motherboard 20 via the solder balls 15. Normally, the molding resin 14 which seals the LSI 12 projects larger than the height of the solder balls 15. As it is, the mold resin 14 comes into contact with the upper surface of the motherboard 20.

【0037】一方、マザーボード20の厚みは、LSI
12を封止したモールド樹脂14の高さよりも充分に厚
いので、このマザーボード20の厚みを利用することに
より、モールド樹脂14の突出量を吸収することが可能
である。そこで、本実施形態では、マザーボード20側
にLSI12を封止したモールド樹脂14が収納可能な
大きさの貫通孔21を形成し、マザーボード20とモー
ルド樹脂14との干渉を避けるようにしてある。
On the other hand, the thickness of the motherboard 20 is
Since the thickness of the mold resin 14 that seals 12 is sufficiently larger than the height of the mother resin 20, the amount of protrusion of the mold resin 14 can be absorbed by utilizing the thickness of the motherboard 20. Therefore, in the present embodiment, a through hole 21 large enough to accommodate the molding resin 14 sealing the LSI 12 is formed on the motherboard 20 side to avoid interference between the motherboard 20 and the molding resin 14.

【0038】ここで、貫通孔21の形成方法としては、
マザーボード20を貫通する孔が所定位置に形成できれ
ばどのような方法によってもよいが、本実施形態では、
この貫通孔21を打ち抜き加工により形成してある。一
般に、マザーボード20となるプリント配線板は、プレ
ス装置によって基板材料から打ち抜かれて形成されるの
で、このマザーボード20の打ち抜き用の型に貫通孔2
1の型も併せて形成することにより、マザーボート20
が基板材料から打ち抜かれると同時に、貫通孔21をマ
ザーボード20から打ち抜いて形成することができる。
Here, the method of forming the through hole 21 is as follows.
Any method may be used as long as the hole penetrating the motherboard 20 can be formed at a predetermined position, but in the present embodiment,
The through holes 21 are formed by punching. Generally, a printed wiring board to be the motherboard 20 is formed by punching out a substrate material by a press device.
By forming the mold 1 together, the mother boat 20
Is punched out of the substrate material, and at the same time, the through-hole 21 can be punched out of the motherboard 20.

【0039】これによって、本実施形態の貫通孔21
は、マザーボード20と同時に、同一の工程によって形
成されるので、貫通孔21のみを形成するための工程が
一切不要となり、しかも、貫通孔21を打ち抜き加工に
よる正確な位置精度によって形成することができ、生産
コストが上昇することもない。
As a result, the through hole 21 of this embodiment is
Is formed in the same step as the mother board 20, so that no step of forming only the through hole 21 is required, and the through hole 21 can be formed with accurate positional accuracy by punching. Also, the production cost does not increase.

【0040】なお、貫通孔21の形成方法としては、後
述する第二実施形態と同様のルータによる切削加工によ
る場合や、フォトエッチングにより貫通孔21に相当す
る部分を溶解除去する等の方法によっても形成すること
ができる。
The through holes 21 may be formed by cutting using a router similar to the second embodiment described later, or by dissolving and removing a portion corresponding to the through holes 21 by photoetching. Can be formed.

【0041】また、貫通孔21の大きさとしては、LS
I12を封止したモールド樹脂14が収納可能な大きさ
であって、マザーボード20とモールド樹脂14との干
渉を避けることができるものであれば十分であり、例え
ば樹脂封止を必要としない電子部品の場合には、貫通孔
21の大きさもその電子部品が収納可能な範囲で形成す
れば足りる。さらに、この貫通孔21は、上述したモー
ルド樹脂14のインタポーザ基板11からの突出量が半
田ボール15の高さの範囲内である場合には、省略する
ことができるのは勿論である。
The size of the through hole 21 is LS
It is sufficient that the mold resin 14 sealing the I12 is of a size that can be accommodated and that can avoid interference between the motherboard 20 and the mold resin 14. For example, electronic components that do not require resin sealing In this case, it is sufficient that the through hole 21 is formed in a size that can accommodate the electronic component. Further, the through hole 21 can be omitted when the amount of the above-described mold resin 14 protruding from the interposer substrate 11 is within the range of the height of the solder ball 15.

【0042】以上のような構成からなる本実施形態のB
GAの実装構造によれば、ボンディングワイヤ13及び
モールド樹脂14を含むLSI12の実装構造部分の高
さを、すべてマザーボード20の厚みによって吸収する
ことができる。従って、BGA10の実装高さは、イン
タポーザ基板11の厚さと半田ボール15の高さの和の
みの高さとなり、上述した従来のBGAの実装構造と比
較して実装高さをほぼ半減させることが可能となり、実
装高さが大幅に低減されることになる。
The B of the present embodiment having the above configuration
According to the mounting structure of the GA, the height of the mounting structure portion of the LSI 12 including the bonding wires 13 and the mold resin 14 can all be absorbed by the thickness of the motherboard 20. Accordingly, the mounting height of the BGA 10 is only the sum of the thickness of the interposer substrate 11 and the height of the solder balls 15, and it is possible to reduce the mounting height by almost half compared to the above-described conventional BGA mounting structure. This allows the mounting height to be greatly reduced.

【0043】次に、このような構成からなる本実施形態
のボール・グリッド・アレイの実装構造の製造組立手順
について説明する。まず、BGA10を製造する。BG
A10は、インタポーザ基板11の一面(下面)側にL
SI12をダイマウント実装するとともに、ボンディン
グワイヤ13によって、LSI12側の電極パッドをイ
ンタポーザ基板11上の電極パッドと接続する。次い
で、このインタポーザ基板11上にマウントしたLSI
12を、ボンディングワイヤ13を含めてモールド樹脂
14により封止する。
Next, a description will be given of a manufacturing and assembling procedure of the mounting structure of the ball grid array of the present embodiment having such a configuration. First, the BGA 10 is manufactured. BG
A10 is L on one surface (lower surface) side of the interposer substrate 11.
The SI 12 is mounted by die mounting, and the electrode pads on the LSI 12 side are connected to the electrode pads on the interposer substrate 11 by the bonding wires 13. Next, the LSI mounted on the interposer substrate 11
12 is sealed with the mold resin 14 including the bonding wires 13.

【0044】さらに、複数の半田ボール15,1
5...を、インタポーザ基板11のLSI12を実装
した面と同一面に、LSI12を取り囲む格子状に配設
し、リフローソルダリングによって溶着する。これによ
り、BGA10が完成する。
Further, a plurality of solder balls 15, 1
5. . . Are arranged on the same surface of the interposer substrate 11 as the surface on which the LSI 12 is mounted, in a lattice shape surrounding the LSI 12, and are welded by reflow soldering. Thus, the BGA 10 is completed.

【0045】同時に、マザーボード20に貫通孔21を
形成しておく。ここで、マザーボード20は、プレス装
置等によって基板材料から打ち抜かれて形成され、本実
施形態では、マザーボード20の打ち抜き工程におい
て、マザーボート20が基板材料から打ち抜かれると同
時に、貫通孔21をマザーボード20から打ち抜いて形
成するようにしてある。
At the same time, a through hole 21 is formed in the motherboard 20. Here, the motherboard 20 is formed by punching from a substrate material by a pressing device or the like. In this embodiment, in the punching step of the motherboard 20, the motherboard 20 is punched from the substrate material, and at the same time, the through holes 21 are formed in the motherboard 20. It is formed by punching out from the material.

【0046】そして、この貫通孔21を形成したマザー
ボード20の上面にBGA10を搭載する。このとき、
BGA10から突出しているモールド樹脂14がマザー
ボード20側の貫通孔21内に位置するようにしなが
ら、所定の位置にBGA10を搭載する。そして、この
BGA10を搭載したマザーボード20をリフロー工程
にかけて、半田ボール15をマザーボード20側の電極
に溶着,接続させる。これによってBGA10のマザー
ボード20側への実装が完了する。
Then, the BGA 10 is mounted on the upper surface of the motherboard 20 in which the through holes 21 are formed. At this time,
The BGA 10 is mounted at a predetermined position while the mold resin 14 projecting from the BGA 10 is positioned in the through hole 21 on the motherboard 20 side. Then, the motherboard 20 on which the BGA 10 is mounted is subjected to a reflow process to weld and connect the solder balls 15 to the electrodes on the motherboard 20 side. This completes the mounting of the BGA 10 on the motherboard 20 side.

【0047】このように本実施形態のボール・グリッド
・アレイの実装構造によれば、LSI12と半田ボール
15とをインタポーザ基板11の同一面に配設するとと
もに、このLSI12をマザーボード20側の貫通孔2
1に位置させた状態で実装しているので、LSI12の
実装構造部分の高さをすべてマザーボード20の厚みに
よって吸収することができ、BGA10の実装高さは、
インタポーザ基板11の厚さと半田ボール15の高さの
和のみとなって、従来と比較して実装高さをほぼ半減さ
せることができる。
As described above, according to the mounting structure of the ball grid array of the present embodiment, the LSI 12 and the solder balls 15 are arranged on the same surface of the interposer substrate 11, and the LSI 12 is connected to the through hole on the motherboard 20 side. 2
1, the entire height of the mounting structure portion of the LSI 12 can be absorbed by the thickness of the motherboard 20, and the mounting height of the BGA 10 is
Since only the sum of the thickness of the interposer substrate 11 and the height of the solder balls 15 can be achieved, the mounting height can be reduced by almost half as compared with the related art.

【0048】これによって、マザーボード20への簡単
な孔加工のみによって、部品点数の増加や製造コストの
上昇をまねくことなく、低プロファイルのBGA実装構
造を効果的に実現することができ、しかも、実装作業も
通常のBGAの実装作業と何等変わることなく容易に行
うことができる。
As a result, a low profile BGA mounting structure can be effectively realized without increasing the number of parts or increasing the manufacturing cost by only simple drilling of the motherboard 20. The operation can be easily performed without any difference from the normal BGA mounting operation.

【0049】[第二実施形態]次に、本発明のボール・
グリッド・アレイの実装構造の第二の実施形態について
図2を参照して説明する。図2は、本発明の第二実施形
態に係るボール・グリッド・アレイの実装構造を示す要
部断面正面図である。
[Second Embodiment] Next, the ball of the present invention
A second embodiment of the mounting structure of the grid array will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a sectional front view of a main part showing a mounting structure of a ball grid array according to a second embodiment of the present invention.

【0050】ここで、本実施形態に係るボール・グリッ
ド・アレイの実装構造は、上述した第一実施形態の変更
実施形態であり、マザーボード20に、第一実施形態の
貫通孔21に代えて、部品収納部として凹部22を設け
たものであり、他の構成部分については、第一実施形態
の場合と同様の構成としてある。従って、第一実施形態
と同様の構成部分については、同一符号を付し、詳細な
説明は省略する。
Here, the mounting structure of the ball grid array according to the present embodiment is a modified embodiment of the above-described first embodiment, and the motherboard 20 is replaced with a through hole 21 of the first embodiment. A concave portion 22 is provided as a component storage portion, and the other components are the same as those in the first embodiment. Therefore, the same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the detailed description is omitted.

【0051】すなわち、本実施形態では、LSI12を
封止したモールド樹脂14とマザーボード20との干渉
を避けるための部品収納部として、図2に示すように、
有底の凹部22をマザーボード20に形成してある。
That is, in the present embodiment, as shown in FIG. 2, a component housing for avoiding interference between the mold resin 14 sealing the LSI 12 and the motherboard 20 is provided.
A bottomed recess 22 is formed in the motherboard 20.

【0052】上述した第一実施形態では、マザーボード
20上でモールド樹脂14と干渉する部分に貫通孔21
を設けていたが、モールド樹脂14とマザーボード20
の干渉を避けることができる限り、必ずしも貫通孔21
である必要はない。そこで、本実施形態では、マザーボ
ード20に、LSI12を封止したモールド樹脂14が
位置できる深さの凹部22を形成するようにしてある。
In the first embodiment described above, the through hole 21 is formed in the portion of the motherboard 20 that interferes with the mold resin 14.
Was provided, but the mold resin 14 and the motherboard 20
As long as the interference of the through holes 21 can be avoided.
Need not be. Therefore, in the present embodiment, the concave portion 22 is formed in the motherboard 20 at a depth where the mold resin 14 sealing the LSI 12 can be located.

【0053】ここで、凹部22の形成方法としては、本
実施形態では、マザーボード20の表面をルータにより
削り取る切削加工によって形成するようにしてある。た
だし、所定の大きさの凹部22を形成できる限りどのよ
うな方法であってもよく、例えば、感光性樹脂で形成し
たマザーボード20の上層にフォトエッチングを施し、
凹部22に相当する部分を溶解除去することにより形成
することもできる。
Here, as the method of forming the concave portion 22, in the present embodiment, the concave portion 22 is formed by cutting the surface of the motherboard 20 with a router. However, any method may be used as long as the concave portion 22 having a predetermined size can be formed. For example, the upper layer of the motherboard 20 formed of a photosensitive resin is subjected to photo etching,
It can also be formed by dissolving and removing a portion corresponding to the concave portion 22.

【0054】このように部品収納部として有底の凹部2
2を形成することにより、上述した第一実施形態の場合
と同様、モールド樹脂14とマザーボード20の干渉を
避けつつ、モールド樹脂14を含むLSI12の実装構
造部分の突出量を吸収することができるという特有の効
果を奏することができる。しかも、このように部品収納
部として凹部22を採用する本実施形態では、マザーボ
ード20の底面側も配線に使用することができるので、
マザーボード20の実装効率を高めることができるとい
うさらなる効果を奏することもできる。
As described above, the recess 2 having the bottom as the component storage portion
By forming 2, the protrusion amount of the mounting structure portion of the LSI 12 including the mold resin 14 can be absorbed while avoiding the interference between the mold resin 14 and the motherboard 20, as in the case of the first embodiment described above. Specific effects can be achieved. Moreover, in the present embodiment in which the concave portion 22 is employed as the component storage portion, the bottom side of the motherboard 20 can also be used for wiring.
A further effect that the mounting efficiency of the motherboard 20 can be improved can be obtained.

【0055】[第三実施形態]次に、本発明のボール・
グリッド・アレイの実装構造の第三の実施形態について
図3を参照して説明する。図3は、本発明の第三実施形
態に係るボール・グリッド・アレイの実装構造を示す要
部断面正面図である。
[Third Embodiment] Next, the ball of the present invention
A third embodiment of the mounting structure of the grid array will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a main part sectional front view showing a mounting structure of a ball grid array according to a third embodiment of the present invention.

【0056】ここで、本実施形態に係るボール・グリッ
ド・アレイの実装構造は、上述した第一実施形態で説明
したBGA10のインタポーザ基板11の上面に、さら
に放熱手段を追加したものである。従って、他の構成部
分については、第一実施形態の場合と同様の構成として
あり、第一実施形態と同様の構成部分については、同一
符号を付し、詳細な説明は省略する。
Here, the mounting structure of the ball grid array according to the present embodiment is obtained by further adding a heat radiating means to the upper surface of the interposer substrate 11 of the BGA 10 described in the first embodiment. Therefore, the other components have the same configuration as that of the first embodiment, and the same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and detailed description is omitted.

【0057】すなわち、本実施形態では、図3に示すよ
うに、インタポーザ基板11のLSI12及び半田ボー
ル15を備えた下面と反対の上面側に、LSI12の放
熱手段として放熱板18を配設してある。
That is, in the present embodiment, as shown in FIG. 3, on the upper surface of the interposer substrate 11 opposite to the lower surface provided with the LSI 12 and the solder balls 15, a heat radiating plate 18 is provided as a heat radiating means for the LSI 12. is there.

【0058】ここで、放熱板18としては、放熱効果の
点から、熱伝導性の高い金属板により構成することが望
ましい。また、本実施形態で示した板状の放熱板18に
限らず、放熱手段としては種々のものを採用することが
でき、例えば櫛状のヒートシンク等、インタポーザ基板
11上に搭載可能な放熱手段であればどのようなもので
あってもよい。
Here, the heat radiating plate 18 is desirably formed of a metal plate having high thermal conductivity from the viewpoint of heat radiating effect. Further, the heat radiation means is not limited to the plate-shaped heat radiation plate 18 shown in the present embodiment, and various heat radiation means can be adopted, for example, a heat radiation means such as a comb-shaped heat sink which can be mounted on the interposer substrate 11. Anything may be used.

【0059】さらに、放熱板18は、図3に示すよう
に、インタポーザ基板11と同面積の板状部材をインタ
ポーザ基板11の上面全部にわたって配設してあるが、
これをインタポーザ基板11の上面の一部のみに設けた
り、インタポーザ基板11より大きい面積の放熱板を搭
載することも可能である。なお、本実施形態の放熱手段
を備えたBGAの実装構造は、上述した第二実施形態に
も適用できることは言うまでもない。
Further, as shown in FIG. 3, the heat radiating plate 18 has a plate-like member having the same area as the interposer substrate 11 disposed over the entire upper surface of the interposer substrate 11.
It is also possible to provide this on only a part of the upper surface of the interposer substrate 11, or to mount a heat radiating plate having an area larger than that of the interposer substrate 11. It is needless to say that the mounting structure of the BGA including the heat radiating means of the present embodiment can be applied to the above-described second embodiment.

【0060】このように、本実施形態のボール・グリッ
ド・アレイの実装構造によれば、LSI12を半田ボー
ル15と同一面側に配設したことによって、インタポー
ザ基板11の上面は何も存在しない開放された状態とな
るので、ここに放熱板18、あるいはヒートシンク等の
放熱手段を自由に搭載,配設することが可能となる。こ
れによって、LSI12の発熱を、このような放熱手段
を介してインタポーザ基板11の上方空間に放熱するこ
とができ、従来と比較してより効果的なBGA10の放
熱が可能となる。
As described above, according to the ball grid array mounting structure of the present embodiment, the LSI 12 is disposed on the same side as the solder balls 15, so that the upper surface of the interposer substrate 11 has no open surface. In this state, the heat radiating plate 18 or a heat radiating means such as a heat sink can be freely mounted and arranged here. As a result, the heat generated by the LSI 12 can be radiated to the space above the interposer substrate 11 via such a heat radiating unit, and the BGA 10 can more effectively radiate heat as compared with the related art.

【0061】[0061]

【発明の効果】以上説明したように本発明のボール・グ
リッド・アレイの実装構造によれば、電子部品と半田ボ
ールを、インタポーザ基板の同一面に実装,配設し、こ
のインタポーザ基板を、電子部品をマザーボード側に対
向させて実装することにより、部品点数の増加や製造コ
ストの上昇をまねくことなく簡易な構造のみによって低
プロファイルのボール・グリッド・アレイ実装を効果的
に実現することができ、実装作業もきわめて容易に行う
ことができる。
As described above, according to the ball grid array mounting structure of the present invention, electronic components and solder balls are mounted and arranged on the same surface of an interposer substrate, and this interposer substrate is mounted on an electronic device. By mounting components facing the motherboard side, it is possible to effectively realize low-profile ball grid array mounting with only a simple structure without increasing the number of components and increasing manufacturing costs, The mounting operation can be performed very easily.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第一実施形態に係るボール・グリッド
・アレイの実装構造を示す要部断面正面図である。
FIG. 1 is a sectional front view of a main part showing a mounting structure of a ball grid array according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第二実施形態に係るボール・グリッド
・アレイの実装構造を示す要部断面正面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional front view of a main part showing a mounting structure of a ball grid array according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第三実施形態に係るボール・グリッド
・アレイの実装構造を示す要部断面正面図である。
FIG. 3 is a sectional front view of a main part showing a mounting structure of a ball grid array according to a third embodiment of the present invention.

【図4】従来の一般的なボール・グリッド・アレイの実
装構造を示す要部断面正面図である。
FIG. 4 is a sectional front view of a main part showing a mounting structure of a conventional general ball grid array.

【図5】従来の改良型のボール・グリッド・アレイの実
装構造を示す要部断面正面図である。
FIG. 5 is a sectional front view of a main part showing a mounting structure of a conventional improved ball grid array.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ボール・グリッド・アレイ 11 インタポーザ基板 12 LSI 13 ボンディングワイヤ 14 モールド樹脂 15 半田ボール 18 放熱板 20 マザーボード 21 貫通孔 22 凹部 Reference Signs List 10 ball grid array 11 interposer substrate 12 LSI 13 bonding wire 14 molding resin 15 solder ball 18 heat sink 20 mother board 21 through hole 22 concave portion

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 インタポーザ基板と、このインタポーザ
基板に実装される電子部品及び半田ボールを備えたボー
ル・グリッド・アレイをマザーボードに実装するボール
・グリッド・アレイの実装構造であって、 前記電子部品と半田ボールを、前記インタポーザ基板
の、前記マザーボードと対向する同一面に実装,配設し
たことを特徴とするボール・グリッド・アレイの実装構
造。
1. A mounting structure of a ball grid array for mounting a ball grid array including an interposer substrate, an electronic component mounted on the interposer substrate, and a solder ball on a motherboard, the electronic component comprising: A ball grid array mounting structure, wherein solder balls are mounted and arranged on the same surface of the interposer substrate facing the motherboard.
【請求項2】 前記マザーボードに、前記インタポーザ
基板に実装された電子部品が位置する部品収納部を備え
た請求項1記載のボール・グリッド・アレイの実装構
造。
2. The ball grid array mounting structure according to claim 1, wherein said motherboard includes a component storage portion in which electronic components mounted on said interposer substrate are located.
【請求項3】 前記部品収納部が、前記マザーボードを
貫通する貫通孔からなる請求項2記載のボール・グリッ
ド・アレイの実装構造。
3. The mounting structure of a ball grid array according to claim 2, wherein said component storage portion comprises a through hole penetrating said motherboard.
【請求項4】 前記部品収納部が、前記マザーボードに
形成された有底の凹部からなる請求項2記載のボール・
グリッド・アレイの実装構造。
4. The ball bearing according to claim 2, wherein said component storage portion comprises a concave portion having a bottom formed on said motherboard.
Grid array mounting structure.
【請求項5】 前記インタポーザ基板の前記電子部品及
び半田ボールを備えた面と反対面に、放熱手段を備えた
請求項1〜4のいずれか一項記載のボール・グリッド・
アレイの実装構造。
5. The ball grid device according to claim 1, wherein a heat radiating means is provided on a surface of the interposer substrate opposite to a surface provided with the electronic components and the solder balls.
Array mounting structure.
【請求項6】 前記マザーボードが基板材料から打ち抜
かれて形成される場合において、 前記貫通孔からなる部品収納部が、前記マザーボートが
基板材料から打ち抜かれると同時に、当該マザーボード
から打ち抜かれることによって形成される請求項3記載
のボール・グリッド・アレイの実装構造。
6. In the case where the motherboard is formed by punching from a substrate material, the component storage portion including the through hole is formed by punching from the motherboard at the same time that the mother boat is punched from the substrate material. The mounting structure of a ball grid array according to claim 3, wherein
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1416778A3 (en) * 2002-11-01 2006-10-11 Alps Electric Co., Ltd. Small and securely-soldered electronic unit
JP2006351590A (en) * 2005-06-13 2006-12-28 Sony Corp Microdevice-embedded substrate and manufacturing method thereof
US7586182B2 (en) 2004-11-26 2009-09-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Packaged semiconductor die and manufacturing method thereof
US8837159B1 (en) * 2009-10-28 2014-09-16 Amazon Technologies, Inc. Low-profile circuit board assembly
JP2016092259A (en) * 2014-11-06 2016-05-23 キヤノン株式会社 Electronic component, electronic module, manufacturing method thereof, and electronic equipment
CN115836440A (en) * 2020-05-26 2023-03-21 株式会社Kmw Antenna device
JP2023529340A (en) * 2020-06-05 2023-07-10 ケーエムダブリュ・インコーポレーテッド Multiple input/output antenna device

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1416778A3 (en) * 2002-11-01 2006-10-11 Alps Electric Co., Ltd. Small and securely-soldered electronic unit
US7586182B2 (en) 2004-11-26 2009-09-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Packaged semiconductor die and manufacturing method thereof
JP2006351590A (en) * 2005-06-13 2006-12-28 Sony Corp Microdevice-embedded substrate and manufacturing method thereof
US8837159B1 (en) * 2009-10-28 2014-09-16 Amazon Technologies, Inc. Low-profile circuit board assembly
US9131623B2 (en) 2009-10-28 2015-09-08 Amazon Technologies, Inc. Low-profile circuit board assembly
JP2016092259A (en) * 2014-11-06 2016-05-23 キヤノン株式会社 Electronic component, electronic module, manufacturing method thereof, and electronic equipment
US10236243B2 (en) 2014-11-06 2019-03-19 Canon Kabushiki Kaisha Electronic component, electronic module, manufacturing method therefor, and electronic apparatus
CN115836440A (en) * 2020-05-26 2023-03-21 株式会社Kmw Antenna device
JP2023529340A (en) * 2020-06-05 2023-07-10 ケーエムダブリュ・インコーポレーテッド Multiple input/output antenna device
US12355130B2 (en) 2020-06-05 2025-07-08 Kmw Inc. Multi input and multi output antenna apparatus

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