JPH11304439A - 非接触伸び計 - Google Patents

非接触伸び計

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JPH11304439A
JPH11304439A JP11387898A JP11387898A JPH11304439A JP H11304439 A JPH11304439 A JP H11304439A JP 11387898 A JP11387898 A JP 11387898A JP 11387898 A JP11387898 A JP 11387898A JP H11304439 A JPH11304439 A JP H11304439A
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JP
Japan
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image
test piece
camera
mark
cameras
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JP11387898A
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English (en)
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Naoto Watanabe
直人 渡邉
Nobunari Takahashi
信成 高橋
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Japan Tobacco Inc
Original Assignee
Japan Tobacco Inc
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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 カメラにより撮像した画像中における標線イ
メージから標線の位置を高精度に検出し、高精度な伸び
量計測を行い得る非接触伸び計を提供する。 【解決手段】 試験片S付された標線R1,R2を撮像す
るカメラ1,2を備え、このカメラにより撮像された標
線の前記試験片の伸び方向における画像信号の分布から
画像中における標線イメージの重心Gを求め、この重心
位置から該標線の位置を求める。特に標線を含む所定の
画像領域における画像信号の、前記伸び方向と直交する
方向の射影を求め、この射影成分の伸び方向における分
布から標線イメージの重心位置を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、引っ張り試験に供
される試験片の伸びを該試験片とは非接触に、且つ高精
度に計測することのできる非接触伸び計に関する。
【0002】
【関連する背景技術】材料試験機を用いた各種試験片の
引っ張り試験は、該試験片に引っ張り負荷を加えなが
ら、その引っ張り荷重と試験片の伸びとを計測して行わ
れる。特に最近では、レーザやラインセンサ等を用いて
試験片とは非接触に上記試験片の伸びを計測する非接触
伸び計が注目されている。この種の非接触伸び計は、基
本的には試験片にその伸び方向に所定の距離隔てて平行
に付した2本の標線を光学的に検出し、これらの標線間
の距離の変化からその伸び量を求めるものである。
【0003】さて非接触伸び計の一方式として、例えば
実公平6−31365号公報に開示されるように、試験
片に付した2本の標線をそれぞれ撮像する2台のカメラ
(光学ヘッド)を前記試験片の伸び方向に平行移動可能
に設け、試験片の伸びに伴う前記標線の位置変化に追従
させて前記カメラをそれぞれ移動させながら、各カメラ
により光学的に検出される標線の位置に従って前記試験
片の伸びを計測するものがある。ちなみにこの公報に開
示される非接触伸び計は、カメラより撮像される画像中
の標線の位置が常に該画像の基準位置となるように上記
カメラの位置をリアルタイムに移動制御し、このときの
カメラ位置から前記標線間の伸び量を計測するものであ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで試験片の伸び
に伴う標線の位置変化に追従させてカメラを移動させる
場合、カメラにより撮像された画像中の標線イメージ、
ひいてはその位置をいかにして精度良く検出するかが問
題となる。特に試験片に付された標線自体が試験片の伸
びに伴って伸びるので、その幅が太くなることのみなら
ず、マークとしての色も薄くなり、画像信号のレベルも
低下する。この為、カメラにより撮像された画像中にお
ける標線イメージを正確に検出することが困難となる。
【0005】そこで前記公報に開示される非接触伸び計
においては、前記画像を所定の閾値で2値化し、この2
値化画像信号から前記試験片の伸び方向における標線イ
メージの幅を求めている。そして上記2値化画像信号の
中心(1/2幅の位置)を用いて前記標線の位置を検出
するようにしている。しかしながらこの場合、前記閾値
をどの程度のレベルに設定するかによって2値化画像信
号が変化することが否めない。特に画像中の標線イメー
ジを示す画像信号のレベルは、標線の伸びに伴う色の薄
れによって低下し、また標線のエッジ部分では、いわゆ
るかすれも発生するので、2値化により検出される標線
イメージの幅自体が前記閾値のレベルによって大きな影
響を受ける。
【0006】本発明はこのような事情を考慮してなされ
たもので、その目的は、試験片に付された標線をカメラ
により撮像した画像中における標線イメージから標線の
位置を高精度に検出して、前記試験片の伸びを精度良く
計測することのできる非接触伸び計を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
べく本発明に係る非接触伸び計は、試験片に付された標
線を撮像するカメラを備え、このカメラにより撮像され
た前記標線の前記試験片の伸び方向における画像信号の
分布から画像中における標線イメージの重心を求め、こ
の重心位置から該標線の位置を求めることを特徴として
いる。
【0008】即ち、本発明に係る非接触伸び計は、カメ
ラにより撮像された画像中における標線イメージの重心
を、その画像信号の前記試験片の伸び方向における分布
から求めることで、画像信号のレベル変化や標線エッジ
部分でのかすれ等の影響を受けることなしに、該標線イ
メージの重心位置を精度良く求め、これによって試験片
の伸びに伴う標線自体の伸びに拘わることなしに、その
位置を高精度に求め得るようにしたことを特徴としてい
る。
【0009】特に本発明の好ましい態様は請求項2に記
載するように、前記カメラにより撮像された画像中の前
記標線を含む所定の画像領域における画像信号の、前記
伸び方向と直交する方向の射影を求め、この射影成分の
前記伸び方向における分布、即ち、上記画像領域として
示される面積領域と、該面積領域における画像信号レベ
ルの分布として示される3次元空間の重心として前記標
線イメージの重心位置を求めることを特徴としている。
【0010】また本発明は、請求項3に記載するように
前記カメラを前記試験片の伸び方向に移動自在な移動ス
テージに支持することで該試験片の伸びに追従させて移
動可能に設け、前記移動ステージの位置と、前記カメラ
により撮像された前記画像中における前記標線イメージ
の重心位置とに基づいて標線の位置を求めることを特徴
としている。更には請求項4に記載するように前記カメ
ラを、前記試験片の伸び方向に所定の距離を隔てて該試
験片に平行に付された2本の標線にそれぞれ対応して設
け、各カメラを前記試験片の伸びに伴う前記各画像中に
おける標線イメージの位置変化に応じて各標線をそれぞ
れ視野する位置に移動しながら、前述した如く求められ
る標線の位置から上記標線間の伸びを計測することを特
徴としている。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態に係る非接触伸び計について説明する。
【0012】図1はこの実施形態に係る非接触伸び計の
概略構成を示しており、Sは図示しない材料試験機に装
着されて引っ張り試験に供せられる試験片、R1,R2は
上記試験片Sに、予めその伸び方向に所定の距離を隔て
て平行に付された2本の標線である。これらの標線R1,
R2は、前記試験片Sの予め規定された平行部に、例え
ば50mmの距離を隔てて塗料等を用いて描かれた直線
マークからなる。
【0013】さて材料試験機に組み込まれて上記試験片
Sの伸びを、該試験片Sと非接触に計測する非接触伸び
計は、前記各標線R1,R2をそれぞれ撮像する高倍率の
第1および第2のカメラ1,2と、これらの各カメラ1,
2の側部に装着されて該カメラ1,2による撮像領域
(試験片Sの各標線部分)を照明する光源3,4とを備
えている。これらの各カメラ1,2は第1および第2の
移動ステージ5,6にそれぞれ支持されて、前記試験片
Sの伸び方向に平行移動自在に設けられている。ちなみ
に上記各移動ステージ5,6は、パルスモータ7,8によ
り駆動される送りねじ7a,8aに噛合し、前記パルスモ
ータ7,8の回転制御の下で前記試験片Sの伸び方向に
移動(上下動)されて位置調整されるようになってい
る。
【0014】尚、前記カメラ1,2は、例えばCCDイ
メージセンサ(エリアセンサ)を撮像素子として内蔵
し、前記各標線R1,R2をそれぞれ含む前記試験片Sの
部分的な表面像を、略等倍の高い撮像倍率で近接撮像
(マクロ撮影)して解像度の高い画像信号を得る如く構
成される。またカメラ1,2による前記各標線R1,R2を
含む表面像の撮像は、例えば合焦点状態で鮮明に、且つ
その撮像倍率を一定に保ちながら行われるようになって
いる。
【0015】しかして上述した如く各カメラ1,2によ
り撮像された前記各標線R1,R2を含む試験片Sの部分
的な表面像(画像)は、画像処理部11,12を介して
CPUからなる演算処理部13に取り込まれると共に、
所定の画像処理が施されて、例えば図2に示すようにデ
ィスプレイ14上に並列に表示される。具体的には、図
2に示すようにディスプレイ14上に平行に並べて設定
された2つの画像表示領域A,Bに、上記演算処理部1
3にて画像処理が施された前記各標線イメージを含む画
像(処理画像)の表示が行われる。ちなみにここではデ
ィスプレイ14が横長の表示画面であることから、試験
片Sの伸び方向を横方向に設定し、前記各画像を横向き
にして上下に並べて表示するように前記各画像表示領域
A,Bが設定されている。尚、前記各カメラ1,2が撮像
した生の画像をTVモニタ(図示せず)に直接的に表示
しながら、前記演算処理部13にて求めた前記標線R1,
R2のイメージをそれぞれ含む処理画像を前記ディスプ
レイ14上に表示するようにしても良い。
【0016】また前記ディスプレイ14には、図2に例
示するようにカメラ1,2の移動をマニュアル操作する
為のソフトスイッチや、カメラ1,2に対する初期設定
等を指示する為のソフトスイッチを表示したオペレーシ
ョン領域Cが設けられると共に、引っ張り試験により計
測された荷重と伸びとの関係をグラフ表示するグラフ表
示領域D等が設けられている。このようなディスプレイ
14の表示画面をインターフェースとして、引っ張り試
験に対する各種条件等の設定入力や、更には伸び計に対
する初期設定処理等が行われる。
【0017】一方、前記演算処理部13は、予め準備さ
れた伸び計測用のソフトウェア・アプリケーションに従
って前記各カメラ1,2により撮像された画像中におけ
る標線イメージを検出し、後述するように該標線イメー
ジの重心位置を求める機能を備えている。そして各画像
において求められた標線イメージの重心位置と、予め設
定された各画像中の基準位置(例えば画像中心)との差
(画像上の距離)から前記標線が上記基準位置に位置付
けられていた状態からの該標線のずれ量、ひいては試験
片Sの伸びに伴う標線R1,R2の変位位置を検出するも
のとなっている。ちなみにこの演算は、例えば前記カメ
ラ1,2による撮像倍率と前記CCDイメージセンサの
画素配列ピッチとに従って前記画像における1画素の当
たりの距離(単位距離)を予め求めておき、この単位距
離を前記差(画像上の変位量)に乗じることによりなさ
れる。尚、前記各カメラ1,2により求められた画像信
号を、適宜、内挿演算を施しながら拡大処理し、この拡
大処理された画像から標線R1,R2の変位位置を検出す
ることによりその計測精度を高くすることも可能であ
る。
【0018】また前記演算処理部13は、前記カメラ
1,2によってそれぞれ撮像される画像中から前記標線
イメージが外れるような場合、換言すれば試験片Sの伸
びに伴って変位した標線R1,R2が前記各カメラ1,2の
撮像視野範囲の限界に達するようなとき、位置制御部1
5,16を起動する。そしてそのときに画像上で求めら
れている標線イメージの重心位置と前記基準位置との差
(画像上の距離)に従って、前記位置制御部15,16
の制御の下で前記パルスモータ7,8をそれぞれ駆動
し、前記標線R1,R2の移動方向にカメラ1,2をそれぞ
れ移動させている。上記位置制御部15,16による前
記各カメラ1,2の移動は、各カメラ1,2によりそれぞ
れ撮像される画像中の標線イメージの重心位置が、前記
各画像における基準位置となるように、即ち、撮像画像
における基準位置に前記標線R1,R2を捉えるように前
記各カメラ1,2の位置を制御して行われる。具体的に
は各画像から求められる前記標線イメージの重心位置と
前記画面の基準位置との差に相当する分、前記パルスモ
ータ7,8を駆動することでカメラ1,2を移動させ、こ
れによって試験片Sの伸びに伴う標線R1,R2の移動に
追従してカメラ1,2の位置を変化させるものとなって
いる。
【0019】ここで前記カメラ1,2によりそれぞれ撮
像された画像中における標線イメージの位置検出による
前記試験片Sの伸びの計測について説明すると、試験片
Sに付された2本の標線R1,R2は、図3に示すように
試験片Sの上方向への引っ張りによる該試験片Sの伸び
に伴い、次第に上方向に移動する。従って各標線R1,R
2をそれぞれ撮像する2台のカメラ1,2を、上記各標線
R1,R2の移動に伴って上方向に平行移動させ、常に各
標線R1,R2をその画像の基準位置に捉えるようにすれ
ば、各カメラ1,2の移動距離から試験片Sの伸び量を
求めることが可能となる。
【0020】具体的には上部カメラ(第1のカメラ)1
の移動量をCH、下部カメラ(第2のカメラ)2を移動
量をCLとした場合、試験片Sの標線間の伸び量Eは、 E=CH−CL として求めることができる。
【0021】尚、カメラ1,2の位置を固定した状態に
おいて、各カメラ1,2によりそれぞれ撮像される画像
中における標線イメージの位置変化から、試験片Sの伸
びに伴う標線R1,R2の位置をそれぞれ求めることもで
きる。具体的には図4(a)(b)にそれぞれ示すように前
記カメラ1,2により撮像された画像の基準位置からの
前記標線R1,R2の変位量LH,LLをそれぞれ求める。そ
して画像上における上記各標線R1,R2の変位量LH,LL
から前述したように試験片Sの標線間の伸び量Eを E=LH−LL として等価的に求めることもできる。尚、上記変位量L
H,LLは、画像上で検出される標線イメージの変位量
に、画素ピッチや撮像倍率等に依存する係数を乗じて求
められる。
【0022】しかしながらこのようにして求め得る標線
R1,R2間の伸び量Eには限界があり、標線R1,R2がカ
メラ1,2の視野から外れた場合には、当然のことなが
らその計測ができなくなる。そこでこの実施形態に係る
前記演算処理部13においては、前記各カメラ1,2が
撮像する画像領域内(画像中)における標線イメージの
位置を監視し、例えばその位置が前記各画像の限界位置
に達したとき、前記パルスモータ7,8を駆動すること
で各カメラ1,2がその基準位置に前記標線R1,R2を捉
えるように、そのカメラ位置を移動させるものとなって
いる。そしてこのときの各カメラ1,2の変位量CH,CL
を加えながら、前述した如く各画像中の標線イメージの
位置から求められる標線R1,R2の変位量LH,LLに基づ
いて標線間の伸び量Eを E=(LH+CH)−(LL+CL) として求めるものとなっている。
【0023】次に前記カメラ1,2によりそれぞれ撮像
された画像中における標線イメージの検出処理について
説明する。この標線イメージの検出処理は、本発明に係
る非接触伸び計の特徴的な機能をなすもので、この機能
によって伸び計測の高精度化が図られている。即ち、カ
メラ1,2によりそれぞれ撮像された画像中における標
線イメージの位置検出は、例えば図5(a)(b)にその概
念を示すように試験片Sの伸び方向における画像信号レ
ベルの分布に基づき、その画像信号成分の重心位置を求
めることによりなされている。
【0024】具体的には、標線Rを含んで撮像された画
像信号を、例えば試験片Sの表面状態に依存するノイズ
成分のレベルNに着目し、このレベルNを超える画像信
号領域での画像信号成分だけを抽出する。そして抽出し
た画像信号領域における画像信号の伸び方向における分
布の重心位置を上記標線イメージの位置として評価す
る。即ち、試験片Sの伸び方向における上記画像信号成
分(例えば輝度信号レベル)の分布を求め、この画像信
号成分の分布から標線イメージの重心位置Gを求める。
より具体的には試験片Sの伸び方向の各位置m(m=1,
2,3,…)における画像信号のレベルをAmとした場合、
その画像信号の分布はA1,A2,A3,…の系列として示さ
れる。しかして画像信号の分布の重心Gは、上記信号系
列A1,A2,A3,…により表される面積領域の重心として
表されるから、 G=Σ(m・Am)/ΣAm (m=1,2,3,…) として求めることができる。このようにして求められる
画像信号の分布の重心Gは、その分布形状そのものを反
映したものであり、標線Rの伸びや、これに伴う画像信
号のレベル変化の影響を殆ど受けることがないので、こ
れを標線R自体の位置を示すものとして正確に捉えるこ
とができる。
【0025】ちなみに前記画像信号を所定のレベルにて
2値化した場合、図5(a)(b)中に併せて示すように、
2値化信号として示される標線Rの幅は、その2値化の
レベルによって変化することが否めない。特に標線Rの
エッジ部分のようにその画像信号のレベル変化は、伸び
の程度による影響を大きく受けるので、設定された2値
化閾値のレベルによって標線Rの幅が大きく変化する。
しかもノイズによって画像信号のレベルが大きく変化し
た場合、その影響を受けることも否めない。
【0026】この点、上述したように画像信号(画像信
号レベルA)の分布からその重心Gを求めれば、2値化
に伴う誤差要因が入り込むことがないので、標線R(標
線イメージ)の位置をその重心として簡易に、且つ高精
度に評価することが可能となる。特に試験片Sの伸びに
伴って図5(b)に示すように該試験片Sに付した標線R
の幅が広がり、且つ画像信号のレベルAが低くなるよう
な場合であっても、該標線Rの位置(重心)を正確に検
出することが可能となる。また前述したように試験片S
の表面状態に応じたノイズ成分のレベルNに従ってその
ノイズ成分を除去し、上記レベルNを超える画像信号領
域における画像信号成分だけに着目しているので、試験
片Sの表面状態に起因するノイズの影響を受けることな
しに、標線イメージの重心位置Gを検出し、標線R(標
線イメージ)の位置を正確に求めることが可能となる。
【0027】尚、上述した画像信号の分布に基づく重心
位置の検出については、例えば図6に示すように、標線
Rを含む画像中の予め定めた計測領域Xにおける各位置
での画像信号の前記試験片Sの伸び方向と直交する向き
の射影を求め、この射影成分における前記伸び方向の分
布からその重心Gを求めるようにすれば良い。このよう
にすれば、標線イメージを含む面積領域と、該面積領域
における前記画像信号成分とからなる3次元空間におけ
る重心が求められることになるので、標線Rのエッジ部
分REでのかすれや揺らぎ等に起因してそのエッジ自体
が不鮮明になる場合であっても、これに左右されること
なく該標線R(標線イメージ)の重心位置Gを正確に求
めることが可能となる等の利点がある。
【0028】尚、上述した如くしてカメラ1,2により
撮像された画像に基づいて標線R1,R2の位置を求めて
試験片Sの伸びを計測する非接触伸び計においては、例
えば図7に示す処理手順に従って伸びの計測が実行され
る。具体的には、先ず前記第1および第2のカメラ(上
部カメラおよび下部カメラ)1,2の位置を調整し、各
カメラ1,2が画像上における所定の基準位置に前記各
標線R1,R2をそれぞれ捉えるように初期設定する[ス
テップS1]。この初期設定はカメラの計測原点合わせ
と称されるもので、試験片Sに対する引っ張り試験の開
始に先立って実行される。しかる後、前記カメラ1,2
に対する移動量CH,CLをそれぞれ零(0)にリセット
して[ステップS2]、引っ張り試験の実行に備える。
【0029】しかして引っ張り試験が開始されると、先
ず上部カメラ1により上部標線R1が撮像されるか否か
を判定する[ステップS3]。この判定は、引っ張り試
験により試験片Sが破断し、この結果、破断した上部側
の試験片Sがその引っ張り負荷を受けて上方に大きく変
位して上部カメラ1の視野から急激に外れたか否かを判
断するものである。尚、試験片Sに加えていた負荷が急
激に減少したか否かにより、その破断を検出するように
しても良い。この判定処理によって試験片Sの破断が検
出された場合には、速やかに引っ張り試験を終了する。
そしてこの場合には、後述するようにカメラ1,2をそ
れぞれ原点位置(計測原点)に復帰させる。
【0030】しかし通常の場合には、試験片Sが引っ張
り負荷を受けて或る程度伸びるまで該試験片Sが破断す
ることがないので、上部カメラ1は試験開始から或る程
度の期間に亘って上部標線R1を、その画像中に捉える
ことになる。従って以下に示す伸びの計測処理が実行さ
れる。
【0031】即ち、引っ張り試験が開始されると、先ず
上部カメラ1により撮像された画像中における標線イメ
ージの位置(重心位置)PHを前述した如く検出し[ス
テップS4]、該標線イメージの位置PHとその画像の
基準位置PHOとから、前記上部標線R1の変位量LHを求
める[ステップS5]。仮に画像上における標線イメー
ジの移動量と、実際の試験片S上における標線R1の移
動量が1対1に対応付けられている場合には、 LH =PH−PHO として試験片Sの伸びに伴う上部標線R1の変位量LHが
求められる。同様にして前記下部カメラ2により撮像さ
れた画像中における標線イメージの位置(重心位置)P
Lを検出し[ステップS6]、該標線イメージの位置PL
とその画像の基準位置PLOとから、前記下部標線R2の
変位量LLを LL =PL−PLO として求める[ステップS7]。
【0032】次いで前記各画像から求められた前記各標
線R1,R2の変位量LH,LLと、各カメラの移動量CH,C
L(初期時には0)とに従い、前述したように前記標線
間の伸び量Eを E=(LH+CH)−(LL+CL) として求める[ステップS8]。この伸び量Eが、前記
試験片Sに加えた引っ張り荷重と共に計測される。尚、
このような引っ張り荷重と伸び量の計測は、例えば10
0mSecの周期で実行される。
【0033】しかる後、前記上部カメラ1にて撮像され
た画像中における標線イメージの位置PHが、その画像
範囲の限界に達したか否か、更には前記下部カメラ2に
て撮像された画像中における標線イメージの位置P
Lが、その画像範囲の限界に達したか否かの判定が行わ
れる[ステップS9,S10]。これらの判定は、例え
ば前述した如く画像から求められる標線R1,R2の変位
量LH,LLが、その画像中における予め設定した変位限
界LHmax,LLmax1それぞれに達したか否かを判定するこ
とにより行われる。そして各標線イメージの位置がその
画像領域に対してそれぞれ余裕がある場合(上記変位限
界LHmax,LLmax1に達しない場合)には、引っ張り試験
の終了を判定しながら[ステップS11]、前述したス
テップS3からの伸び計測処理を繰り返し実行する。
尚、前記変位限界LHmax,LLmax1は、画像における基準
位置としての画像中心からその縁部までの距離等として
設定される。
【0034】ところで上部標線R1の変位量LHが上記変
位限界LHmaxに達した場合[ステップS9]、このまま
伸びの計測処理を進めると上記上部標線R1のイメージ
がその画像中からはみ出し、上記画像から標線R1の位
置を求めることができなくなる。そこでこの場合には、
前記パルスモータ7を駆動して前記各カメラ1の移動が
行われる。このカメラの移動は、先ず前述した如く求め
られた上部標線R1の変位量LHに従って、上部カメラ1
を上記変位量LHだけ上方に移動させることにより実行
される[ステップS12]。この上部カメラ1の移動に
より、該上部カメラ1は前記上部標線R1をその基準位
置に再び捉えることになる。そこでカメラ1の移動によ
り上部標線R1のイメージ位置が上記基準位置に変位し
た分、前記カメラの移動量CHを CH =CH+LH として更新する[ステップS13]。
【0035】このようにした上部カメラ1を移動した場
合、この時点においては下部カメラ2に対する視野の確
認を行っていないので、次に下部カメラ2にて撮像され
た画像中における標線イメージの位置が、その画像範囲
の限界に達したか否かを判定する[ステップS14]。
この判定は、前述した下部標線R2の変位量LLが、その
画像中における予め定めた限界LLmax2に達したか否か
を判定することにより行われる。この限界LLmax2は、
画像中における標線イメージの位置が画像の縁部に至ら
なくても、或る程度変位した位置等として設定される。
【0036】そして下部カメラ2により撮像される標線
R2が上記限界LLmax2に達している場合、或いは上部カ
メラ1を移動しない場合であっても、下部カメラ2によ
り撮像される標線R2が前述した限界LLmax1に達してい
る場合には、下部カメラ2についても同様に移動させ
る。この下部カメラ2の移動は、該カメラ2によって撮
像された画像から求められる下部標線R2の変位量LLに
従い、該下部カメラ2を上記変位量LLだけ上方に移動
させることによりなされる[ステップS15]。このよ
うな下部カメラ2の移動により、該下部カメラ1は前記
下部標線R2をその基準位置に再び捉えることになる。
そこでカメラ2の移動により上記標線イメージが前記基
準位置が変位した分、前記カメラの移動量CLを CL =CL+LL として更新する[ステップS16]。
【0037】このようにして各カメラ1,2をそれぞれ
移動し、前記各標線R1,R2をその画像の基準位置に位
置付けることにより、初期設定により標線合わせがなさ
れたときと同様にして標線間の伸びの計測を継続して行
うことが可能となる。従って前述したステップS3から
の処理が繰り返し実行されることになる。但し、カメラ
1,2を移動した場合には、各カメラ1,2の初期位置と
して前述した如く移動制御されたカメラ1,2の移動量
CH,CLがそれぞれ与えられることになるので、この場
合の標線間の伸び量Eはこれらの移動量CH,CLの差 E=CH−CL として求められることになる。
【0038】尚、上部カメラ1を移動したとき、一般的
には下部カメラ2が撮像する画像中における標線イメー
ジの位置は殆ど変化せず、該下部カメラ2による標線R
2の撮像には未だ余裕があるが、カメラ1,2によりそれ
ぞれ撮像される画像を表示しながら伸び計測を行うよう
な場合、上部カメラ1にて撮像された上部標線R1のイ
メージだけを基準位置にシフトすると、あたかも下部標
線R2の変位量の方が大きいように、その表示画像上に
おける標線イメージの表示位置に視覚的な違和感が生じ
る虞がある。従って上記上部カメラ1を移動させたと
き、これと同時に下部カメラ2についても移動させて常
に上部側の標線R1の方が大きく変位しているように、
そのイメージを表示させるようにすれば良い。この際、
下部標線R2の変位量が僅かな場合には、適宜、前述し
たように下部カメラ2の移動を行わないようにすれば良
い。
【0039】尚、試験片Sの伸びに伴う標線R1,R2の
変位に追従させてカメラ1,2をリアルタイムに移動さ
せながら、カメラ1,2の移動量として上記各標線R1,
R2の位置を検出する場合にも、同様にして標線イメー
ジの重心位置を検出するようにすれば良い。また画像信
号の分布を求めるに際しての、試験片Sの表面状態に起
因するノイズ成分の除去レベルNについては、例えば標
線Rを付してしない領域での画像信号の平均レベル等に
基づいて定めるようにすれば良い。また画像信号の分布
からその重心を算出するに際し、例えば隣接する画素間
における濃度差(レベル差)の傾きを求めることで、内
挿演算により1画素ピッチ以下の精度でその重心位置を
求めることも可能である。その他、本発明はその要旨を
逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。
【0040】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、カ
メラにより撮像された画像中における標線イメージに基
づいて標線の位置を求めるに際し、試験片の伸び方向に
おける画像信号の分布からその重心を求め、この重心位
置を標線の位置として評価するので、試験片の伸びに伴
う標線の伸びや画像信号レベルの変化の影響を受けるこ
となく、特に画像信号の2値化に起因する誤差要因を含
むことなく標線の位置を正確に求めることができる。従
って標線間の伸びを簡易に、且つ高精度に計測すること
ができる。特に試験片の伸び方向と直交する方向での画
像信号の射影を求め、この射影成分の分布からその重心
位置を求めるので、標線のエッジ部分でのかすれ等の影
響を受けることのない高精度な計測が可能となる等の実
用上多大なる効果が奏せられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る非接触伸び計の概略
構成を示す図。
【図2】実施形態に係る非接触伸び計におけるディスプ
レイ表示画面の例を示す図。
【図3】試験片の伸びによる標線の移動と、標線を撮像
するカメラとの位置関係を示す図。
【図4】本発明に係る非接触伸び計における画像上での
標線の位置検出の原理を説明する為の図。
【図5】本発明の特徴的な処理機能である画像中におけ
る標線イメージの位置(重心)検出の原理を示す図。
【図6】特定の画像処理領域における画像信号の射影を
用いた標線の重心位置検出による効果を説明する為の模
式図。
【図7】試験片の伸びに伴う標線の位置変化に追従した
カメラの移動制御と、標線位置検出の処理手順を示す
図。
【符号の説明】
1 第1のカメラ 2 第2のカメラ 3,4 光源 5 第1の移動テーブル 6 第2の移動テーブル 7,8 パルスモータ 11,12 画像処理部 13 演算処理部 14 ディスプレイ 15,16 位置制御部 S 試験片 R1,R2 標線

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 引っ張り試験に供される試験片の伸びを
    該試験片と非接触に光学的に検出する非接触伸び計であ
    って、 前記試験片に付された標線を撮像するカメラと、 このカメラにより撮像された前記標線の前記試験片の伸
    び方向における画像信号の分布から画像中における標線
    イメージの重心を求める手段と、 前記カメラにより撮像された画像中の前記標線イメージ
    の重心位置から該標線の位置を求める手段とを具備した
    ことを特徴とする非接触伸び計。
  2. 【請求項2】 前記標線イメージの重心は、前記カメラ
    により撮像された画像中の前記標線イメージを含む所定
    の画像領域における画像信号の、前記伸び方向と直交す
    る方向の射影を求め、この射影成分の前記伸び方向に対
    する分布から求められることを特徴とする請求項1に記
    載の非接触伸び計。
  3. 【請求項3】 前記カメラは、前記試験片の伸び方向に
    移動自在な移動ステージに支持されたものであって、 前記標線の位置は、前記移動ステージの位置と、前記カ
    メラにより撮像された前記画像中における前記標線イメ
    ージの重心位置とに基づいて求められることを特徴とす
    る請求項1に記載の非接触伸び計。
  4. 【請求項4】 前記カメラは、前記試験片の伸び方向に
    所定の距離を隔てて該試験片に平行に付された2本の標
    線にそれぞれ対応して設けられ、 前記試験片の伸びに伴う前記各標線の位置変化に応じて
    各標線をそれぞれ視野する位置に移動されることを特徴
    とする請求項3に記載の非接触伸び計。
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