JPH11306579A - ビームスプリッタ及び光ピックアップ装置 - Google Patents

ビームスプリッタ及び光ピックアップ装置

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JPH11306579A
JPH11306579A JP10105027A JP10502798A JPH11306579A JP H11306579 A JPH11306579 A JP H11306579A JP 10105027 A JP10105027 A JP 10105027A JP 10502798 A JP10502798 A JP 10502798A JP H11306579 A JPH11306579 A JP H11306579A
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light beam
pickup device
beam splitter
optical pickup
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Nobuhiko Ando
伸彦 安藤
Kazuhiko Fujiie
和彦 藤家
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Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 記録容量の異なる光ディスクの記録及び／又
は再生を行うことができると共に波長の異なる光ビーム
に対し略同じ透過率を有するビームスプリッタを用い
て、装置の簡素化、小型化を図る新規な光ピックアップ
装置を提供する。 【解決手段】 波長の異なる光ビームＬ１，Ｌ２を発生
する２つの光源３ａ，３ｂと、光源３ａから出射された
光ビームＬ１と光源３ｂから出射された光ビームＬ２に
対して略同じ透過率を有するビームスプリッタ７と、光
ビームＬ１と光ビームＬ２とを集束する対物レンズ９
と、対物レンズ９とビームスプリッタ７との間に配設さ
れ、光ビームＬ１とビームＬ２のいずれか一方に対して
開口を制限すると共に球面収差の補正を行うホログラム
８とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、２波長の光ビーム
に対して略同じ透過率を有するビームスプリッタ及びこ
れを備えた光ピックアップ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、光ディスクには、標準的な記録密
度の第１の光ディスクと、この第１の光ディスクに比べ
情報信号が高密度に記録可能となされた第２の光ディス
クとがある。第２の光ディスクは、高密度化を図るた
め、第１の光ディスクに比べ基板に形成されるピットの
間隔を狭め或いはピットを微小化し又はピット列により
構成される記録トラックの間隔が狭められてなる。した
がって、第２の光ディスクでは、信号記録面に結像され
る光ビームのスポット径を第１の光ディスクの信号記録
面に結像されるスポット径より小さくする必要がある。
このため、第２の光ディスクの記録及び／又は再生を行
う光ピックアップ装置は、第１の光ディスクに用いる光
ビームより短波長の光ビームを出射する光源や、第１の
光ディスクに用いる対物レンズより開口数の大きな対物
レンズが用いられる。
【０００３】また、第２の光ディスクの記録及び／又は
再生を行う光ピックアップ装置は、開口数の大きな対物
レンズを用いることから、信号記録面と対物レンズとの
間隔が極めて接近する。このため、第２の光ディスクで
は、信号記録面と対物レンズとの間隔を確保するため、
第２の光ディスクの基板の厚さを第１の光ディスクの基
板より薄くする場合がある。このような場合に、第２の
光ディスク用の光ピックアップ装置を用いて第１の光デ
ィスクの記録及び／又は再生を行うと、第１の光ディス
クの基板の厚さが第２の光ディスクより厚いことから非
点収差が生じ、確実な記録及び／又は再生が困難とな
る。
【０００４】ところで、光ディスク記録及び／又は再生
装置では、記録密度が異なる第１の光ディスクと第２の
光ディスクとを共通の記録及び／又は再生装置で記録及
び／又は再生することが望まれている。共通の光ディス
ク記録及び／又は再生装置で記録密度の異なる第１の光
ディスクと第２の光ディスクとを再生する場合には、第
１の光ディスクと第２の光ディスクのそれぞれに対応し
た光ピックアップ装置を光ディスク記録及び／又は再生
装置に組み込み、光ディスクの種類を判別する判別機構
により光ディスクの種類を判別し、この判別結果に基づ
き光ピックアップ装置の種類の切り換えを行っていた。
【０００５】また、別の装置としては、第１の光ディス
クと第２の光ディスクとで共通の光源と対物レンズを用
いた光ピックアップ装置を光ディスク記録及び／又は再
生装置に組み込んだものがある。この光ピックアップ装
置は、第２の光ディスクに用いる光ビームを出射する光
源と、第２の光ディスクに用いる開口数の大きい対物レ
ンズと、第１の光ディスクの記録及び／又は再生を行う
とき対物レンズの開口を機械的に制限する絞り機構とを
備える。このような光ピックアップ装置は、第１の光デ
ィスクの記録及び／又は再生を行う場合、絞り機構によ
り対物レンズの開口を制限し、第１の光ディスクに合わ
せたスポット径にし、第１の光ディスクの基板の厚さよ
り第２の光ディスクが薄いことにより生じる球面収差を
補正し、第１の光ディスクの信号記録面に光ビームを照
射する。また、この光ピックアップ装置は、第２の光デ
ィスクの記録及び／又は再生を行う場合、絞り機構によ
り対物レンズの開口を制限することなく、第２の光ディ
スクの信号記録面に光ビームを照射する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、一つの
光ディスク記録及び／又は再生装置に第１の光ディスク
用の光ピックアップ装置と第２の光ディスク用の光ピッ
クアップ装置の両方を組み込む場合には、光ディスク記
録及び／又は再生装置の装置全体の小型化を図ることが
困難となる。
【０００７】また、第１の光ディスクの記録及び／又は
再生を行うため、光源と対物レンズとを共通化し新たに
機械的な絞り機構を備えた光ピックアップ装置は、新た
に対物レンズの開口を制限するための機械的な絞り機構
を設ける必要があり、構造が複雑化し、更なる装置の小
型化を図ることが困難となる。
【０００８】そこで、本発明は、波長の異なる光ビーム
に対し略同じ透過率を有する新規なビームスプリッタを
提供することを目的とする。
【０００９】また、本発明は、記録容量の異なる光ディ
スクの記録及び／又は再生を行うことができると共に波
長の異なる光ビームに対し略同じ透過率を有するビーム
スプリッタを用いて、装置の簡素化、小型化を図る新規
な光ピックアップ装置を提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明に係るビームスプ
リッタは、上述のような課題を解決すべく、波長が略７
８０ｎｍの第１の光ビームと波長が略４１０ｎｍの第２
の光ビームに対して、Ｐ成分の透過率Ｔｐが７０〜８０
％であり、Ｓ成分の透過率Ｔｓが０〜１０％であること
を特徴とする。このビームスプリッタは、Ｐ成分とＳ成
分との位相差が少なくとも第１の光ビームと第２の光ビ
ームのいずれか一方の波長において１０°以下であるこ
とが望ましい。このようなビームスプリッタは、波長の
異なる光ビームに対し略同じ透過率と反射率を有する。
【００１１】また、本発明に係る光ピックアップ装置
は、上述のような課題を解決すべく、波長の異なる光ビ
ームを発生する第１の光源と第２の光源と、第１の光源
から出射された第１の光ビームと第２の光源から出射さ
れた第２の光ビームに対して略同じ透過率を有するビー
ムスプリッタと、第１の光ビームと第２の光ビームとを
集束する対物レンズと、対物レンズとビームスプリッタ
との間に配設され、第１の光ビームと第２のビームのい
ずれか一方に対して開口を制限すると共に球面収差の補
正を行うホログラムとを備える。このような光ピックア
ップ装置は、光源を除く少なくともビームスプリッタと
ホログラムと対物レンズの共用化が図られる。また、こ
の光ピックアップ装置は、第１の光ビーム又は第２の光
ビームのうちいずれか一方を透過し、他方を反射する更
なるビームスプリッタを備えることにより、このビーム
スプリッタ以降の第１の光ビームと第２の光ビームの光
路を同じにすることができる。また、第１の光ビームと
第２の光ビームに対して共通の光検出器を用いることが
できる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明が適用された光ピッ
クアップ装置について、図面を参照して説明する。この
光ピックアップ装置１は、図１に示すように、記録密度
の異なる第１の光ディスク２ａと第２の光ディスク２ｂ
とに対し選択的に記録及び／又は再生を可能とするもの
である。ここで、第１の光ディスク２ａは、基板の厚さ
が略１．２ｍｍとなし、標準的な記録密度で情報信号が
記録され、略７８０ｎｍの第１の光ビームを用いて情報
信号の記録及び／又は再生が行われる。また、第２の光
ディスク２ｂは、基板の厚さが略０．６ｍｍとなし第１
の光ディスク２ａより薄く形成され、第１の光ディスク
２ａより高密度に情報信号が記録され、略４１０ｎｍの
第２の光ビームを用いて情報信号の記録及び／又は再生
が行われる。なお、この第２の光ディスク２ａは、略
０．６ｍｍの基板の信号記録面を突き合わせて接合し第
１の光ディスク２ａの基板の厚さと略同じになるように
しても良い。また、第１の光ディスク２ａ及び第２の光
ディスク２ｂとしては、ピット列が形成された基板上に
反射膜、保護膜が形成された再生専用型の光ディスク、
基板上に誘電体膜、垂直磁化膜等からなる信号記録層、
反射膜、保護膜が形成された記録可能な光磁気ディス
ク、基板上に相変化材料よりなる信号記録層、反射膜、
保護膜が形成された記録可能な相変化型光ディスク等が
用いられる。
【００１３】第１の光ディスク２ａと第２の光ディスク
２ｂとを選択的に記録及び／又は再生する光ピックアッ
プ装置１は、図１に示すように、第１の光ディスク２ａ
の記録及び／又は再生を行う際に用いる第１の光ビーム
Ｌ１を出射する第１の半導体レーザ３ａと、第２の光デ
ィスク２ｂの記録及び／又は再生を行う際に用いる第２
の光ビームＬ２を出射する第２の半導体レーザ３ｂとを
有する。第１の半導体レーザ３ａと第２の半導体レーザ
３ｂは、それぞれから出射される第１の光ビームＬ１と
第２の光ビームＬ２の光軸が直交するように配設され
る。
【００１４】第１の半導体レーザ３ａは、第１の光ディ
スク２ａに用いられる波長が略７８０ｎｍの第１の光ビ
ームＬ１を発生するものであり、図１中右側に配設され
る。また、第２の半導体レーザ３ｂは、第２の光ディス
ク２ｂに用いられる波長が略４１０ｎｍの第２の光ビー
ムＬ２を発生するものであり、図１中下側に配設され
る。なお、第１の半導体レーザ３ａと第２の半導体レー
ザ３ｂは、情報信号を記録する場合、再生する場合より
もレーザーパワーを大きくするように制御される。
【００１５】第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２
の光軸が直交する位置には、第１の半導体レーザ３ａか
ら出射される第１の光ビームＬ１を９０°偏向し、第２
の半導体レーザ３ｂから出射される第２の光ビームＬ２
を透過して、第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２
を対物レンズ９に入射させるダイクロイック（Dichroi
c）ビームスプリッタ４が配設される。
【００１６】ダイクロイックビームスプリッタ４は、第
１の光ビームＬ１の光軸に対して４５°傾斜した面に偏
光膜４ａが形成される。偏光膜４ａは、第１の半導体レ
ーザ３ａから出射された第１の光ビームＬ１に対し略１
００％の反射率を有し、第２の半導体レーザ３ｂから出
射された第２の光ビームＬ２に対し略１００％の透過率
を有する。ダイクロイックビームスプリッタ４は、第１
の半導体レーザ３ａから出射される第１の光ビームＬ１
を９０°偏向し、第２の半導体レーザ３ｂから出射され
る第２の光ビームＬ２を透過して、第１の光ビームＬ１
と第２の光ビームＬ２の光路を同じにする。
【００１７】ダイクロイックビームスプリッタ４と第１
の半導体レーザ３ａ及び第２の半導体レーザ３ｂとの間
には、それぞれ第１のグレーティング５ａと第２のグレ
ーティング５ｂが備えられる。第１のグレーティング５
ａは、第１の半導体レーザ３ａから出射された第１の光
ビームＬ１を等間隔に０次光及び±１次光の少なくとも
３本の回折光に分割し、第２のグレーティング５ｂは、
第２の半導体レーザ３ｂから出射された第２の光ビーム
Ｌ２を等間隔に０次光及び±１次光の少なくとも３本の
回折光に分割しする。なお、図１では、説明を簡単にす
るため、３本の回折光を１本の光ビームで表し、図に合
わせてこれら３本のビームを単に光ビームという。
【００１８】さらに、光ピックアップ装置１は、光源側
から、ダイクロイックビームスプリッタ４からの第１の
光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２を平行光にするコ
リメータレンズ６と、コリメータレンズ６からの異なる
波長の第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２に対し
て略同じ透過率及び反射率を有するビームスプリッタ７
と、ビームスプリッタ７からの第１の光ビームＬ１に対
し対物レンズ９の開口を制限し球面収差を補正するダイ
クロイックホログラム８と、第１の光ビームＬ１と第２
の光ビームＬ２を集束し第１の光ディスク２ａ又は第２
の光ディスク２ｂの信号記録面に照射する対物レンズ９
とを備える。
【００１９】コリメータレンズ６で平行光にされた第１
の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２が入射されるビー
ムスプリッタ７は、第１及び第２の光ビームＬ１，Ｌ２
の光軸に対して４５°傾斜した面に偏光膜７ａが形成さ
れる。ビームスプリッタ７は、偏光膜７ａがコリメータ
レンズ６からの第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ
２を透過し、対物レンズ９へ入射させると共に、第１の
光ディスク２ａ又は第２の光ディスク２ｂより反射され
たダイクロイックホログラム８からの戻りの第１の光ビ
ームＬ１と第２の光ビームＬ２を光検出器側へ９０°偏
向する。すなわち、ビームスプリッタ７は、異なる波長
の第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２に対して略
同じ透過率及び反射率を有する。具体的に、図２に示す
ように、ビームスプリッタ７は、第１の光ビームＬ１と
第２の光ビームＬ２のＰ成分の透過率Ｔｐが７０〜８０
％であり、Ｓ成分の透過率Ｔｓが０〜１０％とされる。
また、ビームスプリッタ７は、Ｐ成分とＳ成分との位相
差が第１の光ビームＬ１の波長において１０°以下とさ
れる。
【００２０】ダイクロイックホログラム８は、波長選択
性を有し、ビームスプリッタ７からの第１の光ビームＬ
１に対して開口の制限を行い球面収差の補正を行う。具
体的に、ダイクロイックホログラム８は、第２の光ビー
ムＬ２の０次光の回折光を９０％以上透過（他の回折光
は数％以下）し、第１の光ビームＬ１の１次光の回折光
を７０％以上透過（他の回折光は数％以下）するホログ
ラム素子である。また、ダイクロイックホログラム８を
構成するホログラム素子の回折格子パターンは、第１の
光ビームＬ１を第１の光ディスク２ａの信号記録面に照
射したときに、第１の光ディスク２ａの基板の厚さが第
２の光ディスク２ｂより厚いことにより生じる球面収差
を補正するような形状に形成される。さらに、ダイクロ
イックホログラム８を構成するホログラム素子の回折格
子パターンは、第１の光ディスク２ａに第１の光ビーム
Ｌ１を照射する際に対物レンズ９の開口数が最適となる
ように第２の光ディスク２ｂに第２の光ビームＬ２を照
射する場合の開口より小さくなる範囲で形成される。
【００２１】対物レンズ９は、第１の光ディスク２ａ又
は第２の光ディスク２ｂの信号記録面と対向する位置に
備えられ、ダイクロイックホログラム８からの第１の光
ビームＬ１と第２の光ビームＬ２を集束して、第１の光
ディスク２ａ又は第２の光ディスク２ｂの信号記録面に
照射する。対物レンズ９は、開口数が第２の光ディスク
２ｂに合わせて第１の光ディスク２ａの場合のスポット
径より小さくなるように決定される。スポット径（Ｓ）
は、次式により決定される。
【００２２】 スポット径（Ｓ） 波長（λ）／開口数（ＮＡ） すなわち、第１の光ディスク２ａの記録及び／又は再生
を行う場合には、上述したダイクロイックホログラム８
により、対物レンズ９の開口が制限され、第１の光ディ
スク２ａと第２の光ディスク２ｂの基板の厚さの相違に
基づく球面収差の補正が行われる。
【００２３】また、第１の光ディスク２ａ又は第２の光
ディスク２ｂの信号記録面に反射された戻りの第１の光
ビームＬ１と第２の光ビームＬ２は、対物レンズ９及び
ダイクロイックホログラム８を透過し、ビームスプリッ
タ７によりＳ成分が９０°偏向され光検出器に入射され
る。光ピックアップ装置１は、ビームスプリッタ７側か
ら、第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２のＰ成
分、Ｓ成分の位相差を補正するダイクロイック位相補償
板１１と、第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２の
偏光方向に応じて第１の光ビームＬ１及び第２の光ビー
ムＬ２を分割するウォラストンプリズム１２と、光検出
器１５上に集光させる集光レンズ１３と、第１の光ビー
ムＬ１及び第２の光ビームＬ２に非点収差を発生させる
ためのマルチレンズ１４と、マルチレンズ１４からの第
１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２が入射される
光検出器１５とを備える。
【００２４】ダイクロイック位相補償板１１は、例えば
ビームスプリッタ７で反射された第１の光ビームＬ１と
第２の光ビームＬ２のＰ成分とＳ成分の位相差が第２の
光ビームＬ２で０°、第１の光ビームＬ１で０°となら
ないときに、第２の光ビームＬ２では位相差を発生させ
ず、第１の光ビームＬ１ではビームスプリッタ７で発生
した位相差をキャンセルする厚さを有したの１軸性結晶
板よりなる。
【００２５】ウォラストンプリズム１２は、０次光と±
１次光からなる第１の光ビームＬ１及び第２の光ビーム
Ｌ２をそれぞれ偏光依存性のない光ビーム１本と偏光依
存性のある光ビーム２本に分割し、合計で９本に分割す
る。なお、第１及び第２の光ビームＬ１，Ｌ２は、偏光
依存性のない光ビームを中心とし、偏光依存性のない光
ビームの両側に偏光依存性のある光ビームが位置するよ
うに分割される。偏光依存性のない光ビームは、後述す
るフォーカシングエラー検出用及びトラッキングエラー
検出用として用いられ、偏光依存性のある光ビームは、
第１の光ディスク２ａ，第２の光ディスク２ｂに記録さ
れた情報信号の読取り用として用いられる。
【００２６】マルチレンズ１４からの第１の光ビームＬ
１と第２の光ビームＬ２が照射される光検出器１５は、
フォトダイオード等の光検出素子からなる。この光検出
器１５は、受光面が、図３に示すように、第１の光ディ
スク２ａ又は第２の光ディスク２ｂに記録された情報信
号を検出すると共にフォーカシングエラー信号ＦＥ及び
トラッキングエラー信号ＴＥを生成するため、第１乃至
第５の受光部１６，１７，１８，１９，２０が設けられ
る。なお、第１乃至第３の受光部１６，１７，１８に
は、上述したウォラストンプリズム１２で分割された０
次光及び±１次光の偏光依存性のない光ビームが照射さ
れ、第４及び第５の受光部１９，２０には、０次光の偏
光依存性のある光ビーム２本が照射される。すなわち、
図３に示すように、±１次光より分割された偏光依存性
のある光ビーム４本は、光検出器１５の受光面が形成さ
れない領域に照射され、信号検出には用いられない。
【００２７】第１の受光部１６は、受光面がフォーカシ
ングエラー信号ＦＥを生成するため受光面が十字状に４
分割され、第１の受光領域１６ａと第２の受光領域１６
ｂと第３の受光領域１６ｃと第４の受光領域１６ｄとか
らなる。第１乃至第４の受光領域１６ａ〜１６ｄは、４
分割されたそれぞれ受光量に基づき出力信号Ａ，Ｂ，
Ｃ，Ｄが得られるように構成される。また、第２の受光
部１７及び第３の受光部１８からは、トラッキングエラ
ー信号ＴＥを生成するためそれぞれの受光面の受光量に
基づき出力信号Ｅ，Ｆが得られるように構成される。ま
た、第４の受光部１９及び第５の受光部２０は、第１の
光ディスク２ａ及び第２の光ディスク２ｂに記録された
情報信号ＲＦを生成するため戻りの第１の光ビームＬ
１，第２の光ビームＬ２の偏光比率を検出し出力信号
Ｉ，Ｊが得られるように構成される。
【００２８】フォーカシングエラー信号ＦＥは、光検出
器１５からの出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより非点収差法
を用いて次式のように得られる。
【００２９】ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）・・・式１ また、トラッキングエラー信号ＴＥは、光検出器１５か
らの出力信号Ｅ，Ｆにより３ビーム法を用いて次式のよ
うに得られる。
【００３０】ＴＥ＝（Ｅ−Ｆ）・・・式２ さらに、情報信号ＲＦは、光検出器１５からの出力信号
Ｉ，Ｊにより次式のように得られる。
【００３１】 ＲＦ＝（Ｉ＋Ｊ）又はＲＦ＝（Ｉ−Ｊ）・・・式３ なお、光検出器１５は、第４及び第５の受光部１９，２
０を設けずに、第１乃至第３の受光部１６，１８，１９
により構成しても良い。そして、情報信号ＲＦは、第１
乃至第３の受光部１６，１８，１９からの出力信号Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄを加算して得るようにしても良い。
【００３２】また、光検出器１５は、次のように構成す
ることもできる。この光検出器２１は、図４に示すよう
に、受光面が、第１の光ディスク２ａ又は第２の光ディ
スク２ｂに記録された情報信号を検出すると共にフォー
カシングエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号Ｔ
Ｅを生成するため、第１乃至第５の受光部２２，２３，
２４，２５，２６が設けられる。なお、第１乃至第３の
受光部２２，２３，２４には、上述したウォラストンプ
リズム１２で分割された０次光及び±１次光の偏光依存
性のない光ビームが照射され、第４及び第５の受光部２
５，２６には、０次光の偏光依存性のある光ビーム２本
が照射される。すなわち、図４に示すように、±１次光
より分割された偏光依存性のある光ビーム４本は、光検
出器２１の受光面が形成されない領域に照射され、信号
検出には用いられない。
【００３３】第１の受光部２２は、受光面が十字状に４
分割され、第１の受光領域２２ａと第２の受光領域２２
ｂと第３の受光領域２２ｃと第４の受光領域２２ｄとか
らなる。第１乃至第４の受光領域２２ａ〜２２ｄは、４
分割されたそれぞれ受光面の受光量に基づき出力信号
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが得られるように構成される。また、第
２の受光部２３は、受光面が２分割され、第１の受光領
域２３ａと第２の受光領域２３ｂとからなる。第１の受
光領域２３ａと第２の受光領域２３ｂは、２分割された
それぞれの受光量に基づき出力信号Ｅ，Ｆが得られるよ
うに構成される。また、第３の受光部２４は、受光面が
２分割され、第１の受光領域２４ａと第２の受光領域２
４ｂとからなる。第１の受光領域２４ａと第２の受光領
域２４ｂは、２分割されたそれぞれの受光面の受光量に
基づき出力信号Ｇ，Ｈが得られるように構成される。ま
た、第４の受光部２５及び第５の受光部２６からは、第
１の光ディスク２ａ又は第２の光ディスク２ｂに記録さ
れた情報信号ＲＥを生成するためそれぞれの受光面の受
光量に基づき出力信号Ｉ，Ｊが得られるように構成され
る。
【００３４】フォーカシングエラー信号ＦＥは、光検出
器２１からの出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄにより非点収差法
を用いて次式のように得られる。
【００３５】ＦＥ＝（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）・・・式４ また、トラッキングエラー信号ＴＥは、光検出器２１か
らの出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆ，Ｇによりプッシ
ュプル法を用いて次式のように得られる。
【００３６】 ＴＥ＝｛（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）｝＋｛（Ｆ−Ｅ）＋（Ｈ−Ｇ）｝・α（ ゲイン）・・・式５ さらに、情報信号（ＲＦ）は、光検出器２１からの出力
信号Ｉ，Ｊにより次式のように得られる。
【００３７】 ＲＦ＝（Ｉ＋Ｊ）又はＲＦ＝（Ｉ−Ｊ）・・・式６ なお、光検出器２１は、第４及び第５の受光部２５，２
６を設けずに、第１乃至第３の受光部２２，２３，２４
により構成しても良い。そして、情報信号ＲＦは、第１
乃至第３の受光部２２，２３，２４からの出力信号Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄを加算して得るようにしても良い。
【００３８】このような光ピックアップ装置１は、次の
ように第１の光ディスク２ａの再生を行う。第１の半導
体レーザ３ａから第１の光ビームＬ１が出射されると、
第１の光ビームＬ１は、発散光のまま第１のグレーティ
ング５ａに入射され、第１のグレーティング５ａにおい
て、０次光及び±１次光に分割され、ダイクロイックビ
ームスプリッタ４の偏光膜４ａにより９０°偏向され
る。そして、第１の光ビームＬ１は、コリメータレンズ
６において、平行光にされ、ビームスプリッタ７に入射
される。コリメータレンズ６において平行光にされた第
１の光ビームＬ１は、ビームスプリッタ７の偏光膜７ａ
を第１の光ビームＬ１のＰ成分が７０％〜８０％の割合
で透過し、ダイクロイックホログラム８に入射される。
ここで、ダイクロイックホログラム８は、１次光を７０
％以上透過すると共に、対物レンズ９の開口を制限し第
１の光ディスク２ａが第２の光ディスク２ｂより厚いこ
とにより生じる球面収差を補正する。そして、第１の光
ビームＬ１は、対物レンズ９により第１の光ディスク２
ａの信号記録面に適正なビームスポット径になるように
集束される。
【００３９】第１の光ディスク２ａの信号記録面で反射
された戻りの第１の光ビームＬ１は、対物レンズ９及び
ダイクロイックホログラム８を経て、ビームスプリッタ
７に入射される。ここで、ビームスプリッタ７は、Ｓ成
分の透過率Ｔｐが０％〜１０％であることから、偏光膜
７ａで、第１の光ビームＬ１のＳ成分の９０％〜１００
％を反射し９０°偏向させる。そして、戻りの第１の光
ビームＬ１は、ダイクロイック位相補償板１１に入射さ
れ、ダイクロイック位相補償板１１において、Ｐ成分、
Ｓ成分の位相差が補正され、ウォラストンプリズム２２
において、３本の回折光が９本に分割される。そして、
戻りの第１の光ビームＬ１は、集光レンズ１３により集
光され、マルチレンズ１４を経て光検出器１５（２１）
により受光される。
【００４０】光検出器１５の場合、光検出器１５は、第
１の受光部１６に第１の光ビームＬ１の０次光の偏光依
存性のない光ビームが照射され、これに基づく出力信号
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが光ピックアップ装置１の制御を行う制
御部に供給され、上述したように式１に示す非点収差法
によりフォーカシングエラー信号ＦＥが生成される。ま
た、第２及び第３の受光部１７，１８には、第１の光ビ
ームＬ１の±１次光の偏光依存性のない光ビームが照射
され、これに基づく出力信号Ｅ，Ｆが制御部に供給さ
れ、上述した式２の３スポット法によりトラッキングエ
ラー信号ＴＥが生成される。さらに、第４及び第５の受
光部１９，２０には、第１の光ビームＬ１の０次光の偏
光依存性のある光ビームが照射され、これに基づく出力
信号Ｉ，Ｊが制御部に供給され、上述した式３のように
Ｉ，Ｊを加算又は減算することにより第１の光ディスク
２ａに記録された情報信号の生成が行われる。そして、
フォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー
信号ＴＥは、対物レンズ駆動部に供給される。対物レン
ズ駆動部は、フォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッ
キングエラー信号ＴＥに基づき、フォーカシング制御及
びトラッキング制御を行う。
【００４１】光検出器２１の場合、光検出器２１は、第
１の受光部２２に照射された第１の光ビームＬ１の０次
光の偏光依存性のない光ビームが照射され、これに基づ
く出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが光ピックアップ装置１の制
御を行う制御部に供給され、上述したように式４に示す
非点収差法によりフォーカシングエラー信号ＦＥが生成
される。また、第２の受光部２３には、第１の光ビーム
Ｌ１の＋１次光の偏光依存性のない光ビームが照射さ
れ、これに基づく出力信号Ｅ，Ｆが制御部に供給され、
第３の受光部２４には、第１の光ビームＬ１の−１次光
の偏光依存性のない光ビームが照射され、これに基づく
出力信号Ｇ，Ｈが制御部に供給される。制御部は、第１
の受光部２２からの出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ、第２の受
光部２３からの出力信号Ｅ，Ｆ、及び第３の受光部２４
からの出力信号Ｇ，Ｈに基づき上述した式５に示すプッ
シュプル法によりトラッキングエラー信号ＴＥが生成さ
れる。さらに、第４及び第５の受光部２５，２６には、
第１の光ビームＬ１の０次光の偏光依存性のある光ビー
ムが照射され、これに基づく出力信号Ｉ，Ｊが制御部に
供給され、上述した式６のように出力信号Ｉ，Ｊを加算
又は減算することにより第１の光ディスク２ａに記録さ
れた情報信号の生成が行われる。そして、フォーカシン
グエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥは、
対物レンズ駆動部に供給される。対物レンズ駆動部は、
フォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー
信号ＴＥに基づき、フォーカシング及びトラッキングを
行う。
【００４２】また、第１の光ディスク２ａに情報信号を
記録する場合、第１の半導体レーザ２ａは、再生の場合
よりも第１の光ビームＬ１のレーザーパワーが大きくさ
れ、このような第１の光ビーム２ａは、再生の場合と同
様な経路、すなわち第１のグレーティング５ａ、ダイク
ロイックビームスプリッタ４、コリメータレンズ６、ビ
ームスプリッタ７、ダイクロイックホログラム８、対物
レンズ９を経て第１の光ディスク２ａの信号記録面に照
射され、情報信号の記録を行う。また、第１の光ディス
ク２ａの信号記録面で反射された戻りの第１の光ビーム
Ｌ１は、再生の場合と同様に、対物レンズ９、ダイクロ
イックホログラム８、ビームスプリッタ７、ダイクロイ
ック位相補償板１１、ウォラストンプリズム１２、集光
レンズ１３、シリンドリカルレンズ１４を経て光検出器
１５（２１）に照射される。これにより、光ピックアッ
プ装置１は、フォーカシング制御、トラッキング制御を
行いつつ、情報信号の記録を行うことができる。
【００４３】また、このような光ピックアップ装置１
は、次のように第２の光ディスク２ｂの再生を行う。第
２の半導体レーザ３ｂから第２の光ビームＬ２が出射さ
れると、第２の光ビームＬ２は、発散光のまま第２のグ
レーティング５ｂに入射され、グ第２のレーティング５
ｂにおいて、０次光及び±１次光に分割され、ダイクロ
イックビームスプリッタ４を透過する。そして、第２の
光ビームＬ２は、コリメータレンズ６において、平行光
にされ、ビームスプリッタ７に入射される。コリメータ
レンズ７において平行光にされた第２の光ビームＬ２
は、ビームスプリッタ７の偏光膜７ａを第２の光ビーム
Ｌ２のＰ成分を７０％〜８０％の割合で透過し、ダイク
ロイックホログラム８に入射される。ここで、ダイクロ
イックホログラム８は、第２の光ビームＬ２の０次光を
９０％以上透過させる。そして、第２の光ビームＬ２
は、対物レンズ９により第２の光ディスク２ｂの信号記
録面に適正なビームスポット径に集束される。
【００４４】第２の光ディスク２ｂの信号記録面で反射
された戻りの第２の光ビームＬ２は、対物レンズ９及び
ダイクロイックホログラム８を経て、ビームスプリッタ
７に入射される。ここで、ビームスプリッタ７は、Ｓ成
分の透過率Ｔｐが０％〜１０％であることから、偏光膜
７ａで、第１の光ビームＬ１のＳ成分の９０％〜１００
％を反射し９０°偏向させる。そして、戻りの第２の光
ビームＬ２は、ダイクロイック位相補償板１１に入射さ
れ、ダイクロイック位相補償板１１において、Ｐ成分、
Ｓ成分の位相差が補正され、ウォラストンプリズム２２
において、３本の回折光が９本に分割される。そして、
戻りの第２の光ビームＬ２は、集光レンズ１３により集
光され、マルチレンズ１４を経て光検出器１５（２１）
により受光される。
【００４５】光検出器１５の場合、光検出器１５は、第
１の受光部１６に照射された第２の光ビームＬ２の０次
光の偏光依存性のない光ビームが照射され、これに基づ
く出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが光ピックアップ装置１の制
御を行う制御部に供給され、上述した式１に示す非点収
差法によりフォーカシングエラー信号ＦＥが生成され
る。また、第２及び第３の受光部１７，１８には、第２
の光ビームＬ２の±１次光の偏光依存性のない光ビーム
が照射され、これに基づく出力信号Ｅ，Ｆが制御部に供
給され、上述した式２に示す３スポット法によりトラッ
キングエラー信号ＴＥが生成される。さらに、第４及び
第５の受光部１９，２０には、第２の光ビームＬ２の０
次光の偏光依存性のある光ビームが照射され、これに基
づく出力信号Ｉ，Ｊが制御部に供給され、上述した式３
のようにＩ，Ｊを加算することにより第２の光ディスク
２ｂに記録された情報信号の生成が行われる。そして、
フォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー
信号ＴＥは、対物レンズ駆動部に供給される。対物レン
ズ駆動部は、フォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッ
キングエラー信号ＴＥに基づき、フォーカシング及びト
ラッキングを行う。
【００４６】光検出器２１の場合、光検出器２１は、第
１の受光部２２に照射された第２の光ビームＬ２の０次
光の偏光依存性のない光ビームが照射され、これに基づ
く出力信号Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄが光ピックアップ装置１の制
御を行う制御部に供給され、上述した式４に示す非点収
差法によりフォーカシングエラー信号ＦＥが生成され
る。また、第２の受光部２３には、第２の光ビームＬ２
の＋１次光の偏光依存性のない光ビームが照射され、こ
れに基づく出力信号Ｅ，Ｆが制御部に供給され、第３の
受光部２４には、−１次光の偏光依存性のない光ビーム
が照射され、これに基づく出力信号Ｇ，Ｈが制御部に供
給される。制御部は、第１の受光部２２からの出力信号
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ、第２の受光部２３からの出力信号Ｅ，
Ｆ、及び第３の受光部２４からの出力信号Ｇ，Ｈに基づ
き上述した式５に示すプッシュプル法によりトラッキン
グエラー信号ＴＥが生成される。さらに、第４及び第５
の受光部２５，２６には、第２の光ビームＬ２の０次光
の偏光依存性のある光ビームが照射され、これに基づく
出力信号Ｉ，Ｊが制御部に供給され、式６に示すように
出力信号Ｉ，Ｊを加算することにより第１の光ディスク
２ａに記録された情報信号の生成が行われる。そして、
フォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー
信号ＴＥは、対物レンズ駆動部に供給される。対物レン
ズ駆動部は、フォーカシングエラー信号ＦＥ及びトラッ
キングエラー信号ＴＥに基づき、フォーカシング及びト
ラッキングを行う。
【００４７】また、第２の光ディスク２ｂに情報信号を
記録する場合、第２の半導体レーザ３ｂは、再生の場合
よりも第２の光ビームＬ２のレーザーパワーが大きくさ
れ、このような第２の光ビーム２ｂは、再生の場合と同
様な経路、すなわち第２のグレーティング５ａ、ダイク
ロイックビームスプリッタ４、コリメータレンズ６、ビ
ームスプリッタ７、ダイクロイックホログラム８、対物
レンズ９を経で第２の光ディスク２ｂの信号記録面に照
射され、情報信号の記録を行う。また、第２の光ディス
ク２ｂの信号記録面で反射された戻りの第２の光ビーム
Ｌ２は、再生の場合と同様に、対物レンズ９、ダイクロ
イックホログラム８、ビームスプリッタ７、ダイクロイ
ック位相補償板１１、ウォラストンプリズム１２、集光
レンズ１３、シリンドリカルレンズ１４を経て光検出器
１５（２１）に照射される。これにより、光ピックアッ
プ装置１は、フォーカシング制御、トラッキング制御を
行いつつ、情報信号の記録を行うことができる。
【００４８】以上、説明したように、光ピックアップ装
置１は、第１及び第２の光ビームＬ１，Ｌ２を出射する
第１及び第２の半導体レーザ３ａ，３ｂとこれらに対応
して備えられる第１及び第２のグレーティング５ａ，５
ｂを除いて、全ての部品を共用にし、ダイクロイックビ
ームスプリッタ４以降で第１の光ビームＬ１と第２の光
ビームＬ２の光路を同じにすることができることから、
異なる波長の第１及び第２の光ビームＬ１，Ｌ２を用い
る第１の光ディスク２ａ及び第２の光ディスク２ｂの何
れも確実に記録及び／又は再生を行うことができると共
に装置の簡素化、小型化を図ることができる。また、光
ピックアップ装置１は、対物レンズ９の開口の制限及び
球面収差を補正する部材として、従来のように機械的な
絞り機構を設ける代わりにダイクロイックホログラム９
が用いられることから、更なる装置の簡素化、小型化が
図られる。
【００４９】次に、本発明が適用された光ピックアップ
装置３０について、図５を参照して説明する。なお、以
下、上述した光ピックアップ装置１と同一の部材につい
ては、同一の符号を付して詳細は省略する。
【００５０】この光ピックアップ装置３０は、図５に示
すように、光源として第１の光ビームＬ１を出射する第
１の半導体レーザ３ａと第２の光ビームＬ２を出射する
第２の半導体レーザ３ｂとを備える。第１の半導体レー
ザ３ａと第２の半導体レーザ３ｂとは、それぞれから出
射される第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２の光
軸が直交するように配設される。第２の光ビームＬ２の
光軸が直交する位置には、第１の半導体レーザ３ａから
出射された光ビームＬ１を９０°偏向し、第２の半導体
レーザ３ｂから出射された光ビームＬ２を透過するダイ
クロイックビームスプリッタ４が備えられる。ダイクロ
イックビームスプリッタ４は、第１の半導体レーザ３ａ
から出射される第１の光ビームＬ１を９０°偏向し、第
２の半導体レーザ３ｂから出射される第２の光ビームＬ
２を透過して、第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ
２を光路を同じにする。
【００５１】ダイクロイックビームスプリッタ４と第１
の半導体レーザ３ａ及び第２の半導体レーザ３ｂとの間
には、それぞれ第１のグレーティング５ａと第２のグレ
ーティング５ｂが備えられる。第１のグレーティング５
ａは、第１の半導体レーザ３ａから出射された第１の光
ビームＬ１を等間隔に０次光及び±１次光の少なくとも
３本の回折光に分割し、第２のグレーティング５ｂは、
第２の半導体レーザ３ｂから出射された第２の光ビーム
Ｌ２を等間隔に０次光及び±１次光の少なくとも３本の
回折光に分割しする。なお、図３では、説明を簡単にす
るため、３本の回折光を１本の光ビームで表し、図に合
わせてこれら３本のビームを単に光ビームという。
【００５２】さらに、光ピックアップ装置１は、光源側
から、異なる波長の第１の光ビームＬ１と第２の光ビー
ムＬ２に対して略同じ透過率及び反射率を有するビーム
スプリッタ７と、ビームスプリッタ７からの第１の光ビ
ームＬ１と第２の光ビームＬ２を平行光にするコリメー
タレンズ３１と、コリメータレンズ３１からの第１の光
ビームＬ１に対し対物レンズ９の開口を制限し球面収差
を補正するダイクロイックホログラム８と、第１の光ビ
ームＬ１と第２の光ビームＬ２を集束し第１の光ディス
ク２ａ又は第２の光ディスク２ｂの信号記録面に照射す
る対物レンズ９とを備える。
【００５３】ビームスプリッタ７は、ダイクロイックビ
ームスプリッタ４からの第１の光ビームＬ１と第２の光
ビームＬ２を透過し、対物レンズ９へ入射させ第１の光
ディスク２ａ又は第２の光ディスク２ｂに照射させると
共に、第１の光ディスク２ａ又は第２の光ディスク２ｂ
より反射された戻りの第１の光ビームＬ１と第２の光ビ
ームＬ２を９０°偏向させ、光検出器１５（２１）に照
射させる。すなわち、ビームスプリッタ７は、異なる波
長の第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２に対して
略同じ透過率及び反射率を有する。
【００５４】コリメータレンズ３１は、ビームスプリッ
タ７からの第１の光ビームＬ１と第２の光ビームＬ２を
平行光にすると共に、第１の光ディスク２ａと第２の光
ディスク２ｂの信号記録面で反射された戻りの第１の光
ビームＬ１と第２の光ビームＬ２を集束する。これによ
り、光ピックアップ装置３０は、上述した光ピックアッ
プ装置１のように集光レンズ１３を設ける必要が無く、
部品点数の削減を図ることができ、装置の簡素化、小型
化を図ることができる。
【００５５】コリメータレンズ３１からの第１の光ビー
ムＬ１と第２の光ビームＬ２は、ダイクロイックホログ
ラム８を経て対物レンズ９により集束されて第１の光デ
ィスク２ａ又は第２の光ディスク２ｂの信号記録面に照
射される。そして、第１の光ディスク２ａ又は第２の光
ディスク２ｂで反射された戻りの第１の光ビームＬ１又
は第２の光ビームＬ２は、対物レンズ９、ダイクロイッ
クホログラム８、コリメータレンズ３１を経て、ビーム
スプリッタ７に入射され、９０°偏向され光検出器１
５，２１に入射される。光ピックアップ装置３０は、ビ
ームスプリッタ７側から、第１の光ビームＬ１と第２の
光ビームＬ２の偏光方向に応じて第１の光ビームＬ１及
び第２の光ビームＬ２を分割するウォラストンプリズム
１２と、第１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２に
非点収差を発生させるためのマルチレンズ１４と、マル
チレンズ１４からの第１の光ビームＬ１及び第２の光ビ
ームＬ２が入射される光検出器１５（２１）とを備え
る。そして、ビームスプリッタ７からの戻りの第１の光
ビームＬ１と第２の光ビームＬ２は、ウォラストンプリ
ズム１２、マルチレンズ１４を経て光検出器１５（２
１）に入射される。
【００５６】このような光ピックアップ装置３０は、次
のように第１の光ディスク２ａの再生を行う。第１の半
導体レーザ３ａから第１の光ビームＬ１が出射される
と、第１の光ビームＬ１は、発散光のまま第１のグレー
ティング５ａに入射され、第１のグレーティング５ａに
おいて、０次光及び±１次光に分割され、ダイクロイッ
クビームスプリッタ４の偏光膜４ａにより９０°偏向さ
れる。そして、第１の光ビームＬ１は、Ｐ成分がビーム
スプリッタ７を７０％〜８０％の割合で透過し、コリメ
ータレンズ３１に入射され発散光から平行光にされる。
そして、平行光にされた第１の光ビームＬ１は、ダイク
ロイックホログラム８に入射され、ここで、１次光が７
０％以上透過される。ダイクロイックホログラム８
は、、対物レンズ９の開口を制限し第１の光ディスク２
ａが第２の光ディスク２ｂより厚いことにより生じる球
面収差を補正する。そして、第１の光ビームＬ１は、対
物レンズ９により第１の光ディスク２ａの信号記録面に
適正なビームスポット径に集束される。
【００５７】第１の光ディスク２ａの信号記録面で反射
された戻りの第１の光ビームＬ１は、対物レンズ９及び
ダイクロイックホログラム８を経て、コリメータレンズ
３１に入射され、集束される。すなわち、ここでコリメ
ータレンズ３１は、上述した光ピックアップ装置１の集
光レンズ１３と同様な働きをする。集束された戻りの第
１の光ビームＬ１は、ビームスプリッタ７に入射され、
ここで、ビームスプリッタ７により、Ｓ成分が偏光膜７
ａで、Ｓ成分の９０％〜１００％が反射され９０°偏向
される。そして、戻りの第１の光ビームＬ１は、ウォラ
ストンプリズム２２において、３本の回折光が９本に分
割される。そして、戻りの第１の光ビームＬ１は、マル
チレンズ１４を経て光検出器１５（２１）により受光さ
れる。
【００５８】光検出器１５（２１）は、光ピックアップ
装置３０の制御を行う制御部に出力信号を供給する。こ
の制御部は、光検出器１５（２１）からの出力信号に基
づいて、上述した式１又は式４に示す非点収差法により
フォーカシングエラー信号を生成すると共に上述した式
２の３スポット法或いは式５のプッシュプル法によりト
ラッキングエラー信号を生成し、対物レンズ駆動部に供
給する。対物レンズ駆動部は、フォーカシングエラー信
号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥに基づき、フォ
ーカシング及びトラッキングを行う。また、制御部は、
上述した式３又は式６により、第１の光ディスク２ａに
記録された情報信号ＲＦを生成する。
【００５９】また、第１の光ディスク２ａに情報信号を
記録する場合、第１の半導体レーザ３ａは、再生の場合
よりも第１の光ビームＬ１のレーザーパワーが大きくさ
れ、このような第１の光ビーム２ａは、再生の場合と同
様な経路、すなわち第１のグレーティング５ａ、ダイク
ロイックビームスプリッタ４、ビームスプリッタ７、コ
リメータレンズ３１、ダイクロイックホログラム８、対
物レンズ９を経てで第１の光ディスク２ａの信号記録面
に照射され、情報信号の記録を行う。また、第１の光デ
ィスク２ａの信号記録面で反射された戻りの第１の光ビ
ームＬ１は、再生の場合と同様に、対物レンズ９、ダイ
クロイックホログラム８、コリメータレンズ６、ビーム
スプリッタ７、ウォラストンプリズム１２、シリンドリ
カルレンズ１４を経て光検出器１５（２１）に照射され
る。これにより、光ピックアップ装置３０は、フォーカ
シング制御、トラッキング制御を行いつつ、情報信号の
記録を行うことができる。
【００６０】また、このような光ピックアップ装置３０
は、次のように第２の光ディスク２ｂの再生を行う。第
２の半導体レーザ３ｂから第２の光ビームＬ２が出射さ
れると、第２の光ビームＬ２は、発散光のまま第２のグ
レーティング５ｂに入射され、第２のグレーティング５
ｂにおいて、０次光及び±１次光に分割され、ダイクロ
イックビームスプリッタ４を透過する。そして、第２の
光ビームＬ２は、Ｐ成分がビームスプリッタ７を７０％
〜８０％の割合で透過し、コリメータレンズ３１に入射
され発散光から平行光にされる。そして、平行光にされ
た第２の光ビームＬ２は、ダイクロイックホログラム８
に入射され、ここで、０次光が９０％以上透過される。
そして、第２の光ビームＬ２は、対物レンズ９により第
２の光ディスク２ｂの信号記録面に適正なビームスポッ
ト径に集束される。
【００６１】第２の光ディスク２ｂの信号記録面で反射
された戻りの第２の光ビームＬ２は、対物レンズ９及び
ダイクロイックホログラム８を経て、コリメータレンズ
３１に入射され、集束される。すなわち、ここでコリメ
ータレンズ３１は、上述した光ピックアップ装置１の集
光レンズ１３と同様な働きをする。そして、集束された
戻りの第２の光ビームＬ２は、ビームスプリッタ７に入
射され、ここで、ビームスプリッタ７により、Ｓ成分が
偏光膜７ａで、Ｓ成分の９０％〜１００％を反射し９０
°偏向される。そして、戻りの第２の光ビームＬ２は、
ウォラストンプリズム２２において、３本の回折光が９
本に分割される。そして、戻りの第２の光ビームＬ２
は、マルチレンズ１４を経て光検出器１５（２１）によ
り受光される。
【００６２】光検出器１５（２１）は、光ピックアップ
装置３０の制御を行う制御部に出力信号を供給する。こ
の制御部は、光検出器１５（２１）からの出力信号に基
づいて、上述した式１又は式４に示す非点収差法により
フォーカシングエラー信号を生成すると共に上述した式
２に示す３スポット法或いは式５に示すプッシュプル法
によりトラッキングエラー信号を生成し、対物レンズ駆
動部に供給する。対物レンズ駆動部は、フォーカシング
エラー信号ＦＥ及びトラッキングエラー信号ＴＥに基づ
き、フォーカシング及びトラッキングを行う。また、制
御部は、上述した式３又は式６により、第２の光ディス
ク２ｂに記録された情報信号ＲＦを生成する。
【００６３】また、第２の光ディスク２ｂに情報信号を
記録する場合、第２の半導体レーザ３ｂは、再生の場合
よりも第２の光ビームＬ２のレーザーパワーが大きくさ
れ、このような第２の光ビーム２ｂは、再生の場合と同
様な経路、すなわち第２のグレーティング５ｂ、ダイク
ロイックビームスプリッタ４、ビームスプリッタ７、コ
リメータレンズ３１、ダイクロイックホログラム８、対
物レンズ９を経てで第２の光ディスク２ｂの信号記録面
に照射され、情報信号の記録を行う。また、第２の光デ
ィスク２ｂの信号記録面で反射された戻りの第２の光ビ
ームＬ２は、再生の場合と同様に、対物レンズ９、ダイ
クロイックホログラム８、コリメータレンズ６、ビーム
スプリッタ７、ウォラストンプリズム１２、シリンドリ
カルレンズ１４を経て光検出器１５（２１）に照射され
る。これにより、光ピックアップ装置１は、フォーカシ
ング制御、トラッキング制御を行いつつ、情報信号の記
録を行うことができる。
【００６４】以上、説明したように、光ピックアップ装
置３０は、第１及び第２の光ビームＬ１，Ｌ２を出射す
る第１及び第２の半導体レーザ３ａ，３ｂとこれらに対
応して備えられる第１及び第２のグレーティング５ａ，
５ｂを除いて、全ての部品を共用にし、ダイクロイック
ビームスプリッタ４以降で第１及び第２の光ビームＬ
１，Ｌ２の光路を同じにすることができることから、異
なる波長の第１及び第２の光ビームＬ１，Ｌ２を用いる
第１の光ディスク２ａ及び第２の光ディスク２ｂの何れ
も確実に記録及び／又は再生を行うことができると共に
装置の簡素化、小型化を図ることができる。また、光ピ
ックアップ装置３０は、対物レンズ９の開口の制限及び
球面収差を補正する部材として、従来のように機械的な
絞り機構を設ける代わりにダイクロイックホログラム９
が用いられることから、更なる装置の簡素化、小型化が
図られる。さらに、光ピックアップ装置３０は、コリメ
ータレンズ３１にビームスプリッタ７からの第１及び第
２の光ビームＬ１，Ｌ２を平行光にすると共に第１の光
ディスク２ａ及び第２の光ディスク２ｂの信号記録面で
反射された戻りの第１及び第２の光ビームＬ１，Ｌ２を
集束する機能を持たせることで、光ピックアップ装置１
のように集光レンズ１３を設ける必要が無く、部品点数
の削減を図ることができ、更なる小型化を図ることがで
きると共に廉価化することができる。
【００６５】なお、以上、光ピックアップ装置１，３０
について、図１及び図４中右側に第１の光ビームＬ１を
出射する第１の半導体レーザ３ａを配設し、図１及び図
４中下側に第２の光ビームＬ２を出射する第２の半導体
レーザ３ｂを配設した場合について説明したが、光ピッ
クアップ装置１，３０は、これとは逆に、図１及び図４
中右側に第２の半導体レーザ３ｂを配設し、図１及び図
４中下側に第１の半導体レーザ３ａを配設するようにし
ても良い。この場合、ダイクロイックビームスプリッタ
４は、偏光膜４ａが第１の半導体レーザ３ａから出射さ
れた第１の光ビームＬ１に対して略１００％の透過率を
有し、第２の半導体レーザ３ｂから出射された第２の光
ビームＬ２に対し略１００％の反射率を有し、第２の光
ビームＬ２を９０°偏向するように構成される。
【００６６】
【発明の効果】本発明に係るビームスプリッタによれ
ば、波長が略７８０ｎｍの第１の光ビーム及び波長が略
４１０ｎｍの第２の光ビームに対して、Ｐ成分の透過率
Ｔｐが７０〜８０％、Ｓ成分の透過率Ｔｓが０〜１０％
の特性にすることにより、波長の異なる光ビームに対し
同じ透過率、反射率を有するビームスプリッタを提供す
ることができ、例えば記録容量の異なる光ディスクの記
録及び／又は再生を行う光ピックアップ装置に組み込む
ことにより、光源以外の光学系部品の共用化を図ること
ができ、光ピックアップ装置の簡素化、小型化に寄与す
ることができる。
【００６７】また、本発明に係る光ピックアップ装置に
よれば、波長が異なる光ビームを発生する第１の光源と
第２の光源と、第１の光源から出射された第１の光ビー
ム及び第２の光源から出射された第２の光ビームに対し
て同じ透過率を有するビームスプリッタと、対物レンズ
とビームスプリッタとの間に配設され第１の光ビームと
第２の光ビームのいずれか一方に対して開口を制限する
と共に球面収差の補正を行うホログラムとを備えること
により、光源以外の対物レンズ、ビームスプリッタ、ホ
ログラムの共用化を図ることができ、装置の簡素化、小
型化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明が適用された光ピックアップ装置の全体
構成を説明するための図である。
【図２】ビームスプリッタの特性図である。
【図３】光検出器の受光面を示す図である。
【図４】光検出器の受光面の他の例を示す図である。
【図５】第２の実施の形態で説明する光ピックアップ装
置の全体構成を説明するための図である。
【符号の説明】
１ 光ピックアップ装置、２ａ 第１の光ディスク、２
ｂ 第２の光ディスク、３ａ 第１の半導体レーザ、３
ｂ 第２の半導体レーザ、４ ビームスプリッタ、５
ａ，５ｂ グレーティング、６ コリメータレンズ、７
ビームスプリッタ、８ ホログラム、９ 対物レン
ズ、１１ 位相補償板、１２ ウォラストンプリズム、
１３ 集光レンズ、１４ マルチレンズ、１５ 光検出
器、

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 波長が略７８０ｎｍの第１の光ビームと
    波長が略４１０ｎｍの第２の光ビームに対して、Ｐ成分
    の透過率Ｔｐが７０〜８０％であり、Ｓ成分の透過率Ｔ
    ｓが０〜１０％であるビームスプリッタ。
  2. 【請求項２】 Ｐ成分とＳ成分との位相差が少なくとも
    上記第１の光ビームと第２の光ビームのいずれか一方の
    波長において１０°以下であることを特徴とする請求項
    １記載のビームスプリッタ。
  3. 【請求項３】 波長の異なる光ビームを発生する第１の
    光源と第２の光源と、 上記第１の光源から出射された第１の光ビームと第２の
    光源から出射された第２の光ビームに対して略同じ透過
    率を有するビームスプリッタと、 第１の光ビームと第２の光ビームとを集束する対物レン
    ズと、 上記対物レンズと上記ビームスプリッタとの間に配設さ
    れ、上記第１の光ビームと上記第２のビームのいずれか
    一方に対して開口を制限すると共に球面収差の補正を行
    うホログラムとを備える光ピックアップ装置。
  4. 【請求項４】 上記ビームスプリッタは、波長が略７８
    ０ｎｍの第１の光ビームと波長が略４１０ｎｍの第２の
    光ビームに対して、Ｐ成分の透過率Ｔｐが７０〜８０％
    であり、Ｓ成分の透過率Ｔｓが０〜１０％であることを
    特徴とする請求項３記載の光ピックアップ装置。
  5. 【請求項５】 上記ビームスプリッタは、Ｐ成分とＳ成
    分との位相差が少なくとも上記第１の光ビームと第２の
    光ビームのいずれか一方の波長において１０°以下であ
    ることを特徴とする請求項４記載の光ピックアップ装
    置。
  6. 【請求項６】 上記第１の光源及び上記第２の光源から
    出射される第１及び第２の光ビームの光路中に、それぞ
    れの光ビームを少なくとも３本の回折光に分割する回折
    格子を備えることを特徴とする請求項３記載の光ピック
    アップ装置。
  7. 【請求項７】 上記第１の光ビーム又は第２の光ビーム
    のうちいずれか一方を透過し、他方を反射する更なるビ
    ームスプリッタを備えることを特徴とする請求項３記載
    の光ピックアップ装置。
  8. 【請求項８】 主ビームが照射される第１の受光部と、
    この第１の受光部の両側に設けられ２つの副ビームが照
    射される第２及び第３の受光部とを有する光検出器を備
    えることを特徴とする請求項６記載の光ピックアップ装
    置。
  9. 【請求項９】 受光面が少なくとも２分割された主ビー
    ムが照射される第１の受光部と、受光面が少なくとも２
    分割された副ビームが照射される第２及び第３の受光部
    とを有する光検出器を備えることを特徴とする請求項６
    記載の光ピックアップ装置。
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