JPH1130962A - 液晶表示パネルおよび液晶表示パネルの検査方法 - Google Patents

液晶表示パネルおよび液晶表示パネルの検査方法

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JPH1130962A
JPH1130962A JP10042567A JP4256798A JPH1130962A JP H1130962 A JPH1130962 A JP H1130962A JP 10042567 A JP10042567 A JP 10042567A JP 4256798 A JP4256798 A JP 4256798A JP H1130962 A JPH1130962 A JP H1130962A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 液晶基板上のＩＣチップ回りの配線パターン
が非常に短い場合でも、ＩＣチップ搭載前における液晶
表示パネルの点灯試験を行うことができる液晶表示パネ
ルを提供する。 【解決手段】 ＩＣチップ６０が縁部に搭載される第１
基板３０と、ＩＣチップ６０が搭載される縁部３１を除
く第１基板３０と対向して配置される第２基板５０とを
有する液晶表示パネル２０である。この第１基板３０に
は、ＩＣチップ６０が搭載される縁部３１に、その縁部
３１に隣接する第２基板５０の辺とほぼ平行に配置され
た、ＩＣチップ６０用の２つのパッド列３３，３４があ
る。それらのパッド列３３，３４のうち第２基板５０の
隣接する辺側のパッド列３３の各パッドを通る各配線パ
ターンは、ＩＣチップ６０の実装領域４０の内方まで直
線状に延在形成された配線パターン直線部３８を持つ。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルお
よび液晶表示パネルの検査方法に関し、特に、表示領域
以外の部分を広げることなく、ＩＣチップ搭載前の点灯
検査が可能な液晶表示パネルおよび液晶表示パネルの検
査方法に関する。
【０００２】
【背景技術および発明が解決しようとする課題】液晶表
示パネルを用いた機器においては、液晶表示パネルの表
示領域以外の領域を極力減少させて、液晶表示パネルが
搭載される機器の限られた大きさの範囲内で、可能な限
り大きな表示面積を実現したいという要請がある。
【０００３】一方、液晶表示パネルおよびそれを駆動す
る回路が占める容積を可能な限り小さくし、液晶表示パ
ネルを用いた機器の薄型化や軽量化を計りたいという要
請から、液晶表示パネルを構成する基板を、その縁部に
駆動回路等を構成するＩＣチップを搭載したＣＯＧ（Ch
ip On Glass）基板とすることが広く行われている。
【０００４】そこで、液晶表示パネルを構成する基板
を、その縁部に駆動回路等に用いられるＩＣチップを搭
載したＣＯＧ基板とし、しかも、非表示領域であるＩＣ
チップが搭載される縁部領域を極力狭くするために、Ｉ
Ｃチップまわりの配線パターンを最小限の長さとするこ
とが行われている。
【０００５】ところが、このような液晶表示パネルは、
ＩＣチップ回りの配線パターンがあまりに短いために、
ＩＣチップ搭載前の液晶表示パネルの点灯検査に用いる
検査装置の接触端を配線パターンに接触させて点灯検査
をする際に、十分な電気的接触が得られず、点灯検査に
困難をきたすという問題が発生している。
【０００６】本発明は、上記のような問題点に鑑みてな
されたものであって、その目的は、液晶基板上のＩＣチ
ップ回りの配線パターンが非常に短い場合でも、ＩＣチ
ップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試験を行うこ
とができる液晶表示パネルおよび液晶表示パネルの検査
方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明に
係る液晶表示パネルは、ＩＣチップが縁部に搭載される
第１基板と、前記ＩＣチップが搭載される縁部を除く前
記第１基板と対向して配置される第２基板とを有する液
晶表示パネルであって、前記第１基板は、前記ＩＣチッ
プが搭載される縁部に、該縁部に隣接する前記第２基板
の辺とほぼ平行に配置された、前記ＩＣチップ用の２列
のパッドを有し、前記隣接辺側列の前記各パッドを通る
各配線パターンは、前記ＩＣチップの実装領域の内方ま
で直線状に延在形成された配線パターン直線部を有する
ことを特徴とする。
【０００８】請求項１に記載の発明によれば、液晶表示
パネルの２枚の基板の一方である第１基板は、他方の基
板である第２基板と対向しない縁部に、ＩＣチップ用の
パッドが形成されており、第２基板の隣接する辺と平行
で第２基板に近い方のパッド列のそれぞれのパッドを通
る直線状の配線パターンが、ＩＣチップが実装された際
に占める領域の内方の位置まで直線状に延在形成され
て、配線パターン直線部となっている。したがって、Ｉ
Ｃチップが搭載される前に行われる液晶表示パネルの点
灯試験においては、この配線パターン直線部に検査用接
触コネクタを当接させて十分な電気的接触を得ることが
可能となり、その検査用接触コネクタを介して液晶表示
パネルの駆動信号を供給することができる。そのため、
第２基板に近い方のパッド列への配線パターンで第２基
板に覆われない部分の長さが非常に短い場合でも、ＩＣ
チップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試験を行う
ことができる。
【０００９】請求項２に記載の発明に係る液晶表示パネ
ルは、ＩＣチップが縁部に搭載される第１基板と、前記
ＩＣチップが搭載される縁部を除く前記第１基板と対向
して配置される第２基板とを有する液晶表示パネルであ
って、前記第１基板は、前記ＩＣチップが搭載される縁
部に、該縁部に隣接する前記第２基板の辺とほぼ平行に
配置された、前記ＩＣチップ用の２列のパッドを有し、
前記隣接辺側列の前記各パッドは、前記隣接辺より遠い
側の列の前記各パッドがその一部として含む直線状の配
線パターンより長い直線状の配線パターンである配線パ
ターン直線部を含んで形成されることを特徴とする。
【００１０】請求項２に記載の発明によれば、液晶表示
パネルの２枚の基板の一方である第１基板は、他方の基
板である第２基板と対向しない縁部に、ＩＣチップ用の
パッドが形成されており、第２基板の隣接する辺と平行
で第２基板に近い方のパッド列のそれぞれのパッドを通
る直線状の配線パターンが、対向するパッド列のそれぞ
れのパッドを通る直線状の配線パターンより長く延在形
成されて、配線パターン直線部となっている。したがっ
て、ＩＣチップが搭載される前に行われる液晶表示パネ
ルの点灯試験においては、この配線パターン直線部に検
査用接触コネクタを当接させて十分な電気的接触を得る
ことが可能となり、その検査用接触コネクタを介して液
晶表示パネルの駆動信号を供給することができる。その
ため、第２基板に近い方のパッド列への配線パターンで
第２基板に覆われない部分の長さが非常に短い場合で
も、ＩＣチップ搭載前における液晶表示パネルの点灯試
験を行うことができる。
【００１１】請求項３に記載の発明に係る液晶表示パネ
ルは、ＩＣチップが縁部に搭載される第１基板と、前記
ＩＣチップが搭載される縁部を除く前記第１基板と対向
して配置される第２基板とを有し、ＩＣチップが搭載さ
れる前に点灯検査が行われる液晶表示パネルであって、
前記第１基板は、前記ＩＣチップが搭載される縁部に、
該縁部に隣接する前記第２基板の辺とほぼ平行に配置さ
れた、前記ＩＣチップ用の２列のパッドを有し、前記隣
接辺側列の前記各パッドを通る各配線パターンは、前記
ＩＣチップの実装領域の内方まで直線状に延在形成さ
れ、検査用接触コネクタの各接触端の長さに対応した長
さの配線パターン直線部を有することを特徴とする。
【００１２】請求項３に記載の発明によれば、液晶表示
パネルの２枚の基板の一方である第１基板は、他方の基
板である第２基板と対向しない縁部に、ＩＣチップ用の
パッドが形成されており、第２基板の隣接する辺と平行
で第２基板に近い方のパッド列のそれぞれのパッドを通
る直線状の配線パターンが、ＩＣチップが実装される領
域の内方まで延在形成されて、配線パターン直線部とな
っている。しかも、この配線パターン直線部は、ＩＣチ
ップが搭載される前に行われる液晶表示パネルの点灯試
験に用いられる検査用接触コネクタを当接させて十分な
電気的接触を得ることができる長さとなっているため、
その検査用接触コネクタを介して液晶表示パネルの駆動
信号を供給することができる。そのため、第２基板に近
い方のパッド列への配線パターンで第２基板に覆われな
い部分の長さが非常に短い場合でも、ＩＣチップ搭載前
における液晶表示パネルの点灯試験を行うことができ
る。
【００１３】請求項４に記載の発明に係る液晶表示パネ
ルは、請求項１ないし請求項３のいずれかにおいて、前
記ＩＣチップの実装領域の前記パッドの領域以外におい
て、前記ＩＣチップと前記第１基板とが絶縁性接着剤で
接着されることを特徴とする。
【００１４】請求項４に記載の発明によれば、ＩＣチッ
プと第１基板とがパッドの領域以外においては、絶縁性
接着剤で接着されている。したがって、ＩＣチップを基
板に確実に固定することができるとともに、ＩＣチップ
の底面に対向する位置まで延在形成された配線パターン
直線部と、ＩＣチップの底面との間を確実に絶縁するこ
とができる。
【００１５】請求項５に記載の発明に係る液晶表示パネ
ルの検査方法は、請求項１ないし請求項４のいずれかに
記載の液晶表示パネルの検査方法であって、複数の前記
配線パターン直線部に検査用接触コネクタの対応する各
接触端を接触させる工程を有することを特徴とする。
【００１６】請求項５に記載の発明によれば、検査用接
触コネクタと十分な電気的接触が可能な長さを有する配
線パターン直線部に、検査用接触コネクタを接触させて
液晶表示パネルを検査するため、液晶表示パネルの信頼
性の高い検査を行うことができる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適な実施例につ
いて、図面を参照しながら、さらに具体的に説明する。
【００１８】図１は、ＩＣチップが搭載される前の本実
施例の液晶表示パネル２０の模式的な平面図である。本
実施例の液晶表示パネル２０は、ＩＣチップ６０が縁部
３１に搭載される第１基板３０と、ＩＣチップ搭載用の
縁部３１の大きさだけ第１基板３０より小さい第２基板
５０とを含んで構成されるＳＴＮ形の単純マトリックス
液晶表示パネル２０である。第２基板５０は、ＩＣチッ
プ６０が搭載される第１基板３１の縁部を除いて第１基
板３０と対向する。
【００１９】また、第１基板３０は、第２基板５０が対
向しない縁部３１に、ＩＣチップのバンプ６２と接続す
るためのパッド３２と、各パッド３２に続く配線パター
ン３６，４２が設けられている。これらのパッド３２
は、ＩＣチップ６０の縁部３１に沿うように列をなして
おり、その内の２つの列３３，３４は、第２基板５０の
隣接する辺とほぼ平行な列となっている。これら２つの
列３３，３４のうち、隣接する第２基板５０に近い方の
列３３の各パッド３２を通る配線パターンは、図１に示
すように、ＩＣチップ６０が実装された際に基板上に占
める領域であるＩＣチップ実装領域４０の内方に直線状
に延びて、ＩＣチップ実装領域４０の中心線を超える位
置まで届く配線パターン直線部３８となっている。配線
パターン直線部３８は、ＩＣチップ実装領域４０の内方
に直線状に延びて、図５に斜視図として示し、図６に底
面図として示した、後述する検査用接触コネクタ８０の
配線パターン直線部３８に対応する中央領域８５の各接
触端８４とほぼ等しい長さとなっている。また、配線パ
ターン直線部３８は、対向する列３４のパッド３２を通
る直線状の配線パターンより長く形成された直線状の配
線パターンとなっている。
【００２０】これら配線パターン直線部３８は十分な長
さを有するため、ＩＣチップ６０が搭載される前に行わ
れる液晶表示パネル２０の点灯試験を行う際には、これ
ら配線パターン直線部３８に当接される検査用接触コネ
クタ８０に設けられた中央領域８５の接触端８４との間
で十分な電気的接触を得ることができる。したがって、
本実施例のように液晶表示パネル２０の表示領域２２と
第２基板５０に近い方のパッド列３３との間の配線パタ
ーンの第２基板５０に覆われない部分の長さが非常に短
い場合でも、検査用接触コネクタ８０に設けられた中央
領域８５の接触端８４を介して液晶表示パネル２０に駆
動信号を供給して、ＩＣチップ６０の搭載前における液
晶表示パネル２０の点灯試験を行うことができる。
【００２１】本実施例の液晶表示パネル２０は、各配線
パターン直線部３８に当接させて電気的接触を得る検査
用接触コネクタ８０を用いた点灯検査が行われた後に、
図２に模式的な斜視図として示すように、ＩＣチップ６
０が第１基板３０の縁部３１のＩＣチップ実装領域４０
に搭載されて完成する。
【００２２】なお、ＩＣチップ６０の搭載に先立って、
図３に模式的な断面図として示したように、ＩＣチップ
６０用のパッド列３３，３４，３５の領域の第１基板３
０上には異方性導電材層６６が設けられ、ＩＣチップ実
装領域４０のパッド列３３，３４，３５の領域以外の部
分には絶縁性接着剤層６８が設けられる。したがって、
ＩＣチップ６０のバンプ６２は異方性導電材層６６を介
して第１基板上３０のパッド３２に電気的に接続され
る。なお、図３においては、偏光板、反射板等は省略し
て描いてある。また、第１基板３０の配線パターン直線
部３８を含むＩＣチップ実装領域４０は、パッド列３
３，３４，３５の領域を除いて、絶縁性接着剤層６８を
介してＩＣチップ６０の底部と接着される。
【００２３】したがって、ＩＣチップ６０を第１基板３
０に確実に固定することができるとともに、ＩＣチップ
３０の底面に対向する位置まで延在形成された配線パタ
ーン直線部３８と、ＩＣチップ６０の底面との間を確実
に絶縁することができる。
【００２４】ここで、ＩＣチップ６０搭載前の液晶表示
パネル２０の点灯検査方法について説明する。
【００２５】まず、図４に斜視図として示すように、検
査装置の一部であるアクリル板等からなる液晶パネル保
持板９４に形成された凹部９６に、液晶表示パネル２０
を嵌合させる。本実施例の点灯検査は、位置決めされた
液晶表示パネル２０に、図４に示した検査用接触コネク
タ８０の一端に位置する接触端８４が当接されて液晶表
示パネル２０の配線パターン直線部３８と接触し、検査
用接触コネクタ８０に接続された後述する回路基板８６
との導通を得て検査が行われる。
【００２６】検査用接触コネクタ８０は、図５に斜視図
として示すように、ゴムやシリコーン等の絶縁性の弾性
部材８２と胴やアルミニューム等の金属部材８１がゼブ
ラ状に交互に配置されて形成されている（点線部の間の
配線及び符号は省略してある）。図６は、検査用接触コ
ネクタ８０の底面図であり、検査用接触コネクタ８０は
底部においても金属部材８１と弾性部材８２の部分が交
互に位置する状態となっている（点線部の間の配線及び
符号は省略してある）。検査用接触コネクタ８０の底部
に位置する金属部材８１の部分は接触端８４として作用
し、必要に応じて金メッキ等が施されている。
【００２７】図４に示したようにして、液晶パネル保持
板９４上に位置決めされた液晶表示パネル２０は、液晶
パネル保持板とともに図９に示す検査装置本体７２に固
定されて、検査が行われる。すなわち、液晶表示パネル
２０が凹部９６に嵌入された液晶パネル保持板９４の４
隅に形成された開口部９８を、検査装置本体７２の４つ
の凸部７４に嵌合させて、液晶パネル保持板９４を検査
装置本体７２上に固定する。
【００２８】図９に示した検査装置本体７２には、固定
された液晶表示パネル２０の方向に可動に形成されたア
ーム７６に、前述の検査用接触コネクタ８０が取り付け
られる検査部７８が設けられている。図１０は、図９に
示したＥ−Ｅ線に沿った検査部７８の断面図である。こ
の図に示すように検査部７８では、検査用接触コネクタ
８０の前後に補強部材８８と押さえ部材９０が位置して
検査用接触コネクタ８０を挟み込んで固定している。検
査用接触コネクタ８０の一端は下方に突き出し、図４に
示したように液晶表示パネル２０の配線パターン直線部
３８と接触可能となっている。検査用接触コネクタ８０
の他端は、検査部７８の深部に配置されている回路基板
８６の端子部（図示せず）と接触し、回路基板８６の各
端子と検査用接触コネクタ８０の対応する金属部材８１
とが電気的に接続されている。
【００２９】そして、検査装置本体７２のアーム７６を
押し下げて、検査部７８の検査用接触コネクタ８０を、
液晶表示パネル２０の第１基板３０の縁部３１に若干の
押圧力をもって当接させて、各配線パターン直線部３８
と検査用接触コネクタ８０の対応する中央領域８５の接
触端８４とを接触させる。これによって、回路基板８６
と液晶表示パネル２０とが検査用接触コネクタ８０を介
して電気的に接続され、液晶表示パネル２０が全点灯す
るようになっている。点灯検査は、この状態で液晶表示
パネル２０が全点灯するかどうかを、目視や画像認識等
により確認することによって行われる。
【００３０】また、検査装置の検査部７８には、図５及
び図６に示すように、ＩＣチップ６０用の他のパッド列
３５のパッドと液晶表示パネル２０の表示領域２２とを
結ぶ配線パターン４２と接触するための領域８６が検査
用接触コネクタに設けられ、上記中央領域８５と同様に
接触端８４を有している。これらの検査用接触コネクタ
８０に設けられた両端の領域８６の各接触端８４は中央
領域８５の各接触端８４と同時に検査装置本体７２のア
ーム７６が降ろされた際に、上記と同様な状態で、液晶
表示パネル２０の所定の配線パターン４２と接触する。
これらの配線パターン４２は、図１に示したように、配
線パターン４２の露出部分と検査用接触コネクタ８０に
設けられた両端の領域８６の接触端８４との接触に十分
な長さの直線部を形成することができるため、配線パタ
ーン４２をＩＣチップ実装領域の内方まで延長する必要
性は特にない。また、ＩＣチップ６０のパッド列３５に
各々接続配線される配線パターン４２に同じ信号を供給
して点灯検査を行なう場合、配線パターン４２の露出部
分の接触に対応する検査用接触コネクタ８０に設けられ
た両端の領域８６の接触端８４は、図７及び図８の斜線
部ようにゼブラ状でなく面状に配置されて形成されてい
てもよい（点線部の間の配線及び符号は省略してあ
る）。また、本実施例の検査装置による点灯検査では、
検査用接触コネクタ８０に中央領域８５の接触端８４と
両端の領域８６の接触端８４の両方を設けたが、それぞ
れ個別の検査用コネクタを設けて、同時又は個別に検査
装置本体７２のアーム７６を降ろして接触してもよい。
【００３１】上述のようにして、本実施例の液晶表示パ
ネル２０のＩＣチップ６０搭載前の点灯検査が行われ
る。
【００３２】本実施例の液晶表示パネル２０の検査方法
によれば、検査用接触コネクタ８０と十分な電気的接触
が可能な長さを有する配線パターン直線部３８に、検査
用接触コネクタ８０を接触させてＩＣチップ６０搭載前
の液晶表示パネル２０を検査できるため、液晶表示パネ
ル２０の信頼性の高い検査を行うことができる。
【００３３】また、液晶パネル２０を液晶パネル保持板
９４の凹部９６に嵌合させ、その液晶パネル保持板９４
を検査装置本体７２の所定の位置に係合させた状態で、
検査装置本体７２のアーム７６に取り付けられた検査部
７８に設けられた検査用接触コネクタ８０が液晶表示パ
ネル２０に当接される。したがって、検査用接触コネク
タ８０の中央領域８５に位置する各接触端８４と液晶表
示パネル２０の対応する配線パターン直線部３８とを、
正確な位置関係で、確実かつ容易に接触させることがで
き、信頼性が高く、効率的なＩＣチップ６０搭載前の液
晶パネル２０の点灯検査を行うことができる。
【００３４】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は前述した実施例に限定されるものではなく、本発明
の要旨の範囲内または特許請求の範囲の均等範囲内で各
種の変形実施が可能である。
【００３５】例えば、上記実施例においては、第１基板
上に搭載されるＩＣチップは、液晶表示パネルの一辺の
みに沿って配置される例を示したが、本発明はこれに限
らず、第２基板に対向しない縁部を複数の辺に沿って有
する第１基板を持つ液晶表示パネルとし、それらの縁部
にそれぞれＩＣチップが搭載された場合においても適用
できる。なお、この場合には、ＩＣチップの数に対応し
た数の検査用接触コネクタが必要となり、検査装置の検
査部もそれに対応したものとする必要がある。
【００３６】また、上記実施例では第２基板５０に近い
方の列３３の各パッド３２を通る配線パターンをＩＣチ
ップ実装領域４０の内方まで直線状に配線パターン直線
部として形成したが、これに限られるものでなく、第２
基板５０に近い方の列３３が千鳥配列で形成されていて
もよく、この場合、千鳥配列された各パッド３２の列の
少なくとも一方の列のパッドを通る配線パターンがＩＣ
チップ実装領域４０の内方まで直線状に配線パターン直
線部として形成されていればよい。
【００３７】さらに、上記実施例では、液晶表示パネル
として、ＳＴＮ形の単純マトリックス駆動液晶表示パネ
ルの例を示したが、ＴＦＴで代表される三端子スイッチ
ング素子あるいはＭＩＭで代表される二端子スイッチン
グ素子を用いたアクティブマトリックス液晶表示パネル
であってもよい。さらに、電気光学特性で言えば、ＳＴ
Ｎ形だけでなく、ＴＮ形、ゲストホスト形、高分子分散
形、相転移形、強誘電形など、種々のタイプの液晶表示
パネルであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【図１】ＩＣチップを搭載する前の実施例の液晶パネル
の模式的な平面図である。
【図２】実施例の液晶パネルの模式的な斜視図である。
【図３】実施例の液晶パネルのＩＣチップ付近の様子を
示す模式的な断面図である。
【図４】検査装置の液晶パネル保持板と、液晶パネル
と、検査用接触コネクタとの位置関係を示す斜視図であ
る。
【図５】検査用接触コネクタの模式的な斜視図である。
【図６】検査用接触コネクタの模式的な底面図である。
【図７】検査接触コネクタの別の模式的な斜視図であ
る。
【図８】検査装接触コネクタの別の模式的な底面図であ
る。
【図９】検査装置本体の模式的な斜視図である。
【図１０】検査装置の検査部を示す図７のＥ−Ｅ線に沿
う模式的な断面図である。
【符号の説明】 ２０ 液晶表示パネル ３０ 第１基板 ３１ 縁部 ３２ パッド ３３，３４，３５ パッド列 ３６，４２ 配線パターン ３８ 配線パターン直線部 ４０ ＩＣチップ実装領域 ５０ 第２基板 ６０ ＩＣチップ ６８ 絶縁性接着剤層 ８０ 検査用接触コネクタ ８４ 接触端 ８５ 中央領域 ８６ 両端の領域

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 ＩＣチップが縁部に搭載される第１基板
    と、前記ＩＣチップが搭載される縁部を除く前記第１基
    板と対向して配置される第２基板とを有する液晶表示パ
    ネルであって、 前記第１基板は、前記ＩＣチップが搭載される縁部に、
    該縁部に隣接する前記第２基板の辺とほぼ平行に配置さ
    れた、前記ＩＣチップ用の２列のパッドを有し、 前記隣接辺側列の前記各パッドを通る各配線パターン
    は、前記ＩＣチップの実装領域の内方まで直線状に延在
    形成された配線パターン直線部を有することを特徴とす
    る液晶表示パネル。
  2. 【請求項２】 ＩＣチップが縁部に搭載される第１基板
    と、前記ＩＣチップが搭載される縁部を除く前記第１基
    板と対向して配置される第２基板とを有する液晶表示パ
    ネルであって、 前記第１基板は、前記ＩＣチップが搭載される縁部に、
    該縁部に隣接する前記第２基板の辺とほぼ平行に配置さ
    れた、前記ＩＣチップ用の２列のパッドを有し、 前記隣接辺側列の前記各パッドは、前記隣接辺より遠い
    側の列の前記各パッドがその一部として含む直線状の配
    線パターンより長い直線状の配線パターンである配線パ
    ターン直線部を含んで形成されることを特徴とする液晶
    表示パネル。
  3. 【請求項３】 ＩＣチップが縁部に搭載される第１基板
    と、前記ＩＣチップが搭載される縁部を除く前記第１基
    板と対向して配置される第２基板とを有し、ＩＣチップ
    が搭載される前に点灯検査が行われる液晶表示パネルで
    あって、 前記第１基板は、前記ＩＣチップが搭載される縁部に、
    該縁部に隣接する前記第２基板の辺とほぼ平行に配置さ
    れた、前記ＩＣチップ用の２列のパッドを有し、 前記隣接辺側列の前記各パッドを通る各配線パターン
    は、前記ＩＣチップの実装領域の内方まで直線状に延在
    形成され、検査用接触コネクタに設けられた各接触端の
    長さに対応した長さの配線パターン直線部を有すること
    を特徴とする液晶表示パネル。
  4. 【請求項４】 請求項１ないし請求項３のいずれかにお
    いて、 前記ＩＣチップの実装領域の前記パッドの領域以外にお
    いて、前記ＩＣチップと前記第１基板とが絶縁性接着剤
    で接着されることを特徴とする液晶表示パネル。
  5. 【請求項５】 請求項１ないし請求項４のいずれかに記
    載の液晶表示パネルの検査方法であって、 複数の前記配線パターン直線部に、検査用接触コネクタ
    の対応する各接触端を接触させる工程を有することを特
    徴とする液晶表示パネルの検査方法。
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