JPH1131232A - 多角形描画方法及び装置 - Google Patents
多角形描画方法及び装置Info
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- JPH1131232A JPH1131232A JP18559097A JP18559097A JPH1131232A JP H1131232 A JPH1131232 A JP H1131232A JP 18559097 A JP18559097 A JP 18559097A JP 18559097 A JP18559097 A JP 18559097A JP H1131232 A JPH1131232 A JP H1131232A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 アンチエイリアシングの手法を使用しなが
ら、スキャンラインに沿って順番に画素のデータを生成
し、高速描画を可能にする。 【解決手段】 生成するライン交点データは、スキャン
ラインＮのスキャン方向上流側エッジに対応する第１の
外側交点ＸＬｅ及び内側交点ＸＬｉ、下流側エッジに対
応する第２の外側交点ＸＲｅ及び内側交点ＸＲｉ、第１
の外側交点から内側交点までの輝度値の増加率、並びに
第２の内側交点から外側交点までの輝度値の減少率を含
む。このデータに基づいて、第１の外側交点から内側交
点までの輝度値の変化を主として算出する第１の処理、
第２の内側交点から外側交点までの輝度値の変化を主と
して算出する第２の処理、並びにこれら第１及び第２の
処理結果を合成する第３の処理を並行に実行することに
より、各スキャンライン毎にスキャン方向に多角形の内
部の各輝度値をシーケンシャルに求めていく。
ら、スキャンラインに沿って順番に画素のデータを生成
し、高速描画を可能にする。 【解決手段】 生成するライン交点データは、スキャン
ラインＮのスキャン方向上流側エッジに対応する第１の
外側交点ＸＬｅ及び内側交点ＸＬｉ、下流側エッジに対
応する第２の外側交点ＸＲｅ及び内側交点ＸＲｉ、第１
の外側交点から内側交点までの輝度値の増加率、並びに
第２の内側交点から外側交点までの輝度値の減少率を含
む。このデータに基づいて、第１の外側交点から内側交
点までの輝度値の変化を主として算出する第１の処理、
第２の内側交点から外側交点までの輝度値の変化を主と
して算出する第２の処理、並びにこれら第１及び第２の
処理結果を合成する第３の処理を並行に実行することに
より、各スキャンライン毎にスキャン方向に多角形の内
部の各輝度値をシーケンシャルに求めていく。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、図形をメモリ上
に描画し表示する画像表示装置等に適用され、エッジ部
分が滑らかになるように三角形等の多角形を描画する多
角形描画方法及び装置に関する。
に描画し表示する画像表示装置等に適用され、エッジ部
分が滑らかになるように三角形等の多角形を描画する多
角形描画方法及び装置に関する。
【０００２】図形をメモリ上に描画する場合、理想的な
線を縦横に等間隔で配置されたグリッド上の点によって
表現するため、図２３に示すように、通常は直線がジャ
ギと呼ばれるギザギザの線となってしまう。このジャギ
を軽減するために、アンチエイリアシングの手法が提案
されている。図２４は、この手法を説明するための図で
ある。この手法では、１ピクセルを１つの正方形と考え
た場合、同図（ａ）に示すように、直線が各ピクセルを
どの程度覆っているかによって、その輝度値が決定され
る。同図（ｂ）は、そのような基準によって各ピクセル
の輝度を決定した例を示している。この例のように、１
本の直線を輝度差をもって表現することにより、直線を
滑らかに描画することができる。
線を縦横に等間隔で配置されたグリッド上の点によって
表現するため、図２３に示すように、通常は直線がジャ
ギと呼ばれるギザギザの線となってしまう。このジャギ
を軽減するために、アンチエイリアシングの手法が提案
されている。図２４は、この手法を説明するための図で
ある。この手法では、１ピクセルを１つの正方形と考え
た場合、同図（ａ）に示すように、直線が各ピクセルを
どの程度覆っているかによって、その輝度値が決定され
る。同図（ｂ）は、そのような基準によって各ピクセル
の輝度を決定した例を示している。この例のように、１
本の直線を輝度差をもって表現することにより、直線を
滑らかに描画することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
アンチエイリアシングの手法は、理想的な直線が各ピク
セルをどの程度覆っているかを計算しなければならない
ので、計算が複雑である。また、三角形のエッジにおい
ては、エッジの部分だけ特別な処理をしなければならな
いので、三角形の描画速度が遅くなってしまうという問
題もある。
アンチエイリアシングの手法は、理想的な直線が各ピク
セルをどの程度覆っているかを計算しなければならない
ので、計算が複雑である。また、三角形のエッジにおい
ては、エッジの部分だけ特別な処理をしなければならな
いので、三角形の描画速度が遅くなってしまうという問
題もある。
【０００４】この発明は、このような問題点に鑑みなさ
れたもので、エッジを滑らかに描画するアンチエイリア
シングの手法を使用しながら、通常の描画処理と同様に
スキャンラインに沿って順番に画素のデータを生成する
ことができ、高速描画が可能な多角形描画方法及び装置
を提供することを目的としている。
れたもので、エッジを滑らかに描画するアンチエイリア
シングの手法を使用しながら、通常の描画処理と同様に
スキャンラインに沿って順番に画素のデータを生成する
ことができ、高速描画が可能な多角形描画方法及び装置
を提供することを目的としている。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明の多角形描画装
置は、描画平面上の各グリッドを覆う面積に応じた輝度
値を与えることにより、多角形のエッジ部分を滑らかに
描画するようにした多角形描画装置において、前記描画
すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの交差部に
関するデータであって、前記スキャンラインのスキャン
方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及び内側交
点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側エッジに
対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第１の外側
交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、並びに前
記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度値の減少
率を含むライン交点データを各スキャンライン毎に求め
るエッジ計算手段と、このエッジ計算手段で求められた
前記各スキャンライン毎のライン交点データに基づい
て、各スキャンライン毎に前記第１の外側交点から内側
交点にかけての輝度値の変化を主として算出する第１の
処理と、前記第２の内側交点から外側交点にかけての輝
度値の変化を主として算出する第２の処理と、これら第
１及び第２の処理で得られた結果を合成する第３の処理
とを並行して実行することにより、前記多角形の内部の
各輝度値を前記スキャンラインに沿ってシーケンシャル
に求めるスキャンライン処理手段とを備えてなることを
特徴とする。
置は、描画平面上の各グリッドを覆う面積に応じた輝度
値を与えることにより、多角形のエッジ部分を滑らかに
描画するようにした多角形描画装置において、前記描画
すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの交差部に
関するデータであって、前記スキャンラインのスキャン
方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及び内側交
点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側エッジに
対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第１の外側
交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、並びに前
記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度値の減少
率を含むライン交点データを各スキャンライン毎に求め
るエッジ計算手段と、このエッジ計算手段で求められた
前記各スキャンライン毎のライン交点データに基づい
て、各スキャンライン毎に前記第１の外側交点から内側
交点にかけての輝度値の変化を主として算出する第１の
処理と、前記第２の内側交点から外側交点にかけての輝
度値の変化を主として算出する第２の処理と、これら第
１及び第２の処理で得られた結果を合成する第３の処理
とを並行して実行することにより、前記多角形の内部の
各輝度値を前記スキャンラインに沿ってシーケンシャル
に求めるスキャンライン処理手段とを備えてなることを
特徴とする。
【０００６】また、この発明に係る媒体に記憶される多
角形描画プログラムは、描画平面上の各グリッドを覆う
面積に応じた輝度値を与えることにより、多角形のエッ
ジ部分を滑らかに描画するようにしたものにおいて、前
記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの交
差部に関するデータであって、前記スキャンラインのス
キャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及び
内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側エ
ッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第１
の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、並
びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度値
の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン毎
に求めるエッジ計算ステップと、このエッジ計算ステッ
プで求められた前記各スキャンライン毎のライン交点デ
ータに基づいて、各スキャンライン毎に前記第１の外側
交点から内側交点にかけての輝度値の変化を主として算
出する第１の処理と、前記第２の内側交点から外側交点
にかけての輝度値の変化を主として算出する第２の処理
と、これら第１及び第２の処理で得られた結果を合成す
る第３の処理とを並行して実行することにより、前記多
角形の内部の各輝度値を前記スキャンラインに沿ってシ
ーケンシャルに求めるスキャンライン処理ステップとを
備えてなることを特徴とする。
角形描画プログラムは、描画平面上の各グリッドを覆う
面積に応じた輝度値を与えることにより、多角形のエッ
ジ部分を滑らかに描画するようにしたものにおいて、前
記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの交
差部に関するデータであって、前記スキャンラインのス
キャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及び
内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側エ
ッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第１
の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、並
びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度値
の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン毎
に求めるエッジ計算ステップと、このエッジ計算ステッ
プで求められた前記各スキャンライン毎のライン交点デ
ータに基づいて、各スキャンライン毎に前記第１の外側
交点から内側交点にかけての輝度値の変化を主として算
出する第１の処理と、前記第２の内側交点から外側交点
にかけての輝度値の変化を主として算出する第２の処理
と、これら第１及び第２の処理で得られた結果を合成す
る第３の処理とを並行して実行することにより、前記多
角形の内部の各輝度値を前記スキャンラインに沿ってシ
ーケンシャルに求めるスキャンライン処理ステップとを
備えてなることを特徴とする。
【０００７】更に、この発明に係る多角形描画方法は、
描画平面上の各グリッドを覆う面積に応じた輝度値を与
えることにより、多角形のエッジ部分を滑らかに描画す
るようにした多角形描画方法において、前記描画すべき
多角形の各エッジとスキャンラインとの交差部に関する
データであって、前記スキャンラインのスキャン方向上
流側エッジに対応する第１の外側交点及び内側交点、前
記スキャンラインのスキャン方向下流側エッジに対応す
る第２の外側交点及び内側交点、前記第１の外側交点か
ら内側交点までの前記輝度値の増加率、並びに前記第２
の内側交点から外側交点までの前記輝度値の減少率を含
むライン交点データを各スキャンライン毎に求め、この
求められた前記各スキャンライン毎のライン交点データ
に基づいて、各スキャンライン毎に前記第１の外側交点
から内側交点にかけての輝度値の変化を主として算出す
る第１の処理と、前記第２の内側交点から外側交点にか
けての輝度値の変化を主として算出する第２の処理と、
これら第１及び第２の処理で得られた結果を合成する第
３の処理とを並行して実行することにより、前記多角形
の内部の各輝度値を前記スキャンラインに沿ってシーケ
ンシャルに求めるようにしたことを特徴とする。
描画平面上の各グリッドを覆う面積に応じた輝度値を与
えることにより、多角形のエッジ部分を滑らかに描画す
るようにした多角形描画方法において、前記描画すべき
多角形の各エッジとスキャンラインとの交差部に関する
データであって、前記スキャンラインのスキャン方向上
流側エッジに対応する第１の外側交点及び内側交点、前
記スキャンラインのスキャン方向下流側エッジに対応す
る第２の外側交点及び内側交点、前記第１の外側交点か
ら内側交点までの前記輝度値の増加率、並びに前記第２
の内側交点から外側交点までの前記輝度値の減少率を含
むライン交点データを各スキャンライン毎に求め、この
求められた前記各スキャンライン毎のライン交点データ
に基づいて、各スキャンライン毎に前記第１の外側交点
から内側交点にかけての輝度値の変化を主として算出す
る第１の処理と、前記第２の内側交点から外側交点にか
けての輝度値の変化を主として算出する第２の処理と、
これら第１及び第２の処理で得られた結果を合成する第
３の処理とを並行して実行することにより、前記多角形
の内部の各輝度値を前記スキャンラインに沿ってシーケ
ンシャルに求めるようにしたことを特徴とする。
【０００８】この発明によれば、エッジ計算によってス
キャンラインのスキャン方向上流側エッジに対応する第
１の外側交点及び内側交点、同じく下流側エッジに対応
する第２の外側交点及び内側交点、第１の外側交点から
内側交点までの輝度値の増加率、並びに第２の内側交点
から外側交点までの輝度値の減少率をそれぞれスキャン
ライン毎に求め、更に第１の外側交点から内側交点まで
の輝度値の変化を主として算出する第１の処理と、前記
第２の内側交点から外側交点までの輝度値の変化を主と
して算出する第２の処理と、これら第１及び第２の処理
結果を合成する第３の処理とを並行に実行するようにし
ていので、スキャンラインの上流側から下流側へかけて
順番に輝度値を求めていくことができ、スキャンライン
に沿ったシーケンシャルな処理が可能になる。また、特
に、この場合、上下端の頂点やその途中の頂点、更に
は、これらの頂点がライン上に位置していない場合で
も、共通の処理方法によって簡単に輝度値を算出するこ
とができる。このため、高速描画処理が実現できる。
キャンラインのスキャン方向上流側エッジに対応する第
１の外側交点及び内側交点、同じく下流側エッジに対応
する第２の外側交点及び内側交点、第１の外側交点から
内側交点までの輝度値の増加率、並びに第２の内側交点
から外側交点までの輝度値の減少率をそれぞれスキャン
ライン毎に求め、更に第１の外側交点から内側交点まで
の輝度値の変化を主として算出する第１の処理と、前記
第２の内側交点から外側交点までの輝度値の変化を主と
して算出する第２の処理と、これら第１及び第２の処理
結果を合成する第３の処理とを並行に実行するようにし
ていので、スキャンラインの上流側から下流側へかけて
順番に輝度値を求めていくことができ、スキャンライン
に沿ったシーケンシャルな処理が可能になる。また、特
に、この場合、上下端の頂点やその途中の頂点、更に
は、これらの頂点がライン上に位置していない場合で
も、共通の処理方法によって簡単に輝度値を算出するこ
とができる。このため、高速描画処理が実現できる。
【０００９】前記エッジ計算手段が、前記第１の外側交
点及び内側交点として、実際の交点にそれぞれスキャン
方向下流側で隣接するグリッド上の位置を求め、前記第
２の外側交点及び内側交点として、実際の交点にそれぞ
れスキャン方向上流側で隣接するグリッド上の位置を求
め、第１の外側交点における輝度値及び前記第２の内側
交点とスキャン方向下流側で隣接するグリッド上の点に
おける輝度値をそれぞれ初期値として算出するものであ
ると、全ての処理がグリッド上の輝度値の算出処理とな
るので、更に高速な処理が可能になる。
点及び内側交点として、実際の交点にそれぞれスキャン
方向下流側で隣接するグリッド上の位置を求め、前記第
２の外側交点及び内側交点として、実際の交点にそれぞ
れスキャン方向上流側で隣接するグリッド上の位置を求
め、第１の外側交点における輝度値及び前記第２の内側
交点とスキャン方向下流側で隣接するグリッド上の点に
おける輝度値をそれぞれ初期値として算出するものであ
ると、全ての処理がグリッド上の輝度値の算出処理とな
るので、更に高速な処理が可能になる。
【００１０】前記第１及び第２の外側交点及び内側交点
は、例えば前記描画すべき多角形の頂点間をグリッド間
隔に対応した縦横寸法のダイアモンドブロックによって
ドラッグしたときの軌跡に基づいて求めることができ
る。
は、例えば前記描画すべき多角形の頂点間をグリッド間
隔に対応した縦横寸法のダイアモンドブロックによって
ドラッグしたときの軌跡に基づいて求めることができ
る。
【００１１】また、前記スキャンライン処理手段は、例
えば第１の処理として各スキャンライン毎に前記第１の
外側交点から内側交点まで増加率を累算して各輝度値を
出力すると共に、第１の内側交点以降は一定の輝度値を
出力し、第２の処理として第２の内側交点から外側交点
まで減少率を累算して各輝度値を出力すると共に、第２
の外側交点以降は一定の輝度値を出力し、第３の処理と
して第１の処理の結果から第２の処理の結果を減算する
というように、加減算のみの処理で各スキャンライン上
の輝度値を算出していくことができるので、高速描画処
理が可能になる。
えば第１の処理として各スキャンライン毎に前記第１の
外側交点から内側交点まで増加率を累算して各輝度値を
出力すると共に、第１の内側交点以降は一定の輝度値を
出力し、第２の処理として第２の内側交点から外側交点
まで減少率を累算して各輝度値を出力すると共に、第２
の外側交点以降は一定の輝度値を出力し、第３の処理と
して第１の処理の結果から第２の処理の結果を減算する
というように、加減算のみの処理で各スキャンライン上
の輝度値を算出していくことができるので、高速描画処
理が可能になる。
【００１２】また、スキャンライン処理手段は、多角形
の頂点がスキャンライン間に位置するとき、スキャンラ
インから前記頂点までの距離に相当する値を前記一定の
輝度値として使用するようにすればよい。
の頂点がスキャンライン間に位置するとき、スキャンラ
インから前記頂点までの距離に相当する値を前記一定の
輝度値として使用するようにすればよい。
【００１３】更に、スキャンライン処理手段は、多角形
の上下端の頂点以外の頂点がスキャンライン間に位置す
るとき、前記頂点から上側のスキャンラインまでの距離
に基づく処理と、前記頂点から下側のスキャンラインま
での距離に基づく処理とを別々に実行して合成すること
により、処理の共通化を図ることができ、簡単な演算で
輝度値を算出することができる。
の上下端の頂点以外の頂点がスキャンライン間に位置す
るとき、前記頂点から上側のスキャンラインまでの距離
に基づく処理と、前記頂点から下側のスキャンラインま
での距離に基づく処理とを別々に実行して合成すること
により、処理の共通化を図ることができ、簡単な演算で
輝度値を算出することができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、この発明
の好ましい実施の形態について説明する。図１は、この
発明の一実施例に係る三角形描画装置の構成を示すブロ
ック図である。この装置は、エッジ計算回路１、水平ラ
イン処理回路２、ピクセル処理回路３及びメモリ４を備
えて構成されている。エッジ計算回路１は、与えられた
三角形の頂点座標（ＸA，ＹA），（ＸB，ＹB），
（ＸC，ＹC）から上記三角形と各スキャンラインとの交
差部に関するライン交点データを算出する。このライン
交点データは、この例では、ラインＮに対して、
（ＹN，ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅ）という座標
値と、（Ｉ0Ｌ，ｄｄＩＬ，Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲ）という輝
度値の情報からなる。水平ライン処理回路２は、これら
のライン交点データから、各スキャンラインについて、
例えば左から順に１ピクセル毎の座標値（ＸP，ＹP）
と、そのピクセルに対応する輝度値ＩPとを生成し、こ
れをピクセル処理回路３に供給する。ピクセル処理回路
３は、水平ライン処理部で求められたピクセル単位の座
標値（ＸP，ＹP）に対し、輝度値ＩPに対応するピクセ
ルデータを生成し、メモリ４に書き込む。なお、本願明
細書では、ピクセルの輝度値ＩPは、０〜１の値をとる
こととしている。これはそのまま輝度値としても良い
が、別途算出される輝度値を補正する輝度補正係数を、
ここで言う輝度値として処理しても良い。
の好ましい実施の形態について説明する。図１は、この
発明の一実施例に係る三角形描画装置の構成を示すブロ
ック図である。この装置は、エッジ計算回路１、水平ラ
イン処理回路２、ピクセル処理回路３及びメモリ４を備
えて構成されている。エッジ計算回路１は、与えられた
三角形の頂点座標（ＸA，ＹA），（ＸB，ＹB），
（ＸC，ＹC）から上記三角形と各スキャンラインとの交
差部に関するライン交点データを算出する。このライン
交点データは、この例では、ラインＮに対して、
（ＹN，ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅ）という座標
値と、（Ｉ0Ｌ，ｄｄＩＬ，Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲ）という輝
度値の情報からなる。水平ライン処理回路２は、これら
のライン交点データから、各スキャンラインについて、
例えば左から順に１ピクセル毎の座標値（ＸP，ＹP）
と、そのピクセルに対応する輝度値ＩPとを生成し、こ
れをピクセル処理回路３に供給する。ピクセル処理回路
３は、水平ライン処理部で求められたピクセル単位の座
標値（ＸP，ＹP）に対し、輝度値ＩPに対応するピクセ
ルデータを生成し、メモリ４に書き込む。なお、本願明
細書では、ピクセルの輝度値ＩPは、０〜１の値をとる
こととしている。これはそのまま輝度値としても良い
が、別途算出される輝度値を補正する輝度補正係数を、
ここで言う輝度値として処理しても良い。
【００１５】図２は、エッジ計算回路１で求められる各
座標値を示す図である。ここでは、クヌースのアルゴリ
ズム（ダイアモンドルール）によって、各頂点Ａ，Ｂ，
Ｃを、水平（Ｘ）、垂直（Ｙ）方向にそれぞれグリッド
幅の±０．５の幅を持つダイアモンド状のボックスを、
各頂点Ａ，Ｂ，Ｃ間でドラッグさせたときの図中破線で
示すボックスの軌跡を三角形のエッジとする。このエッ
ジと各水平（スキャン）ラインとの交点は、左右のエッ
ジと、各エッジそれぞれについて、その外側及び内側
で、各ラインについて４つずつ求められる。また、これ
らの交点は、実際の交点ではなく、実際の交点のすぐ内
側のグリッド上の点が選択される。従って、ライン交点
データに含まれる座標値をまとめると、次のようにな
る。
座標値を示す図である。ここでは、クヌースのアルゴリ
ズム（ダイアモンドルール）によって、各頂点Ａ，Ｂ，
Ｃを、水平（Ｘ）、垂直（Ｙ）方向にそれぞれグリッド
幅の±０．５の幅を持つダイアモンド状のボックスを、
各頂点Ａ，Ｂ，Ｃ間でドラッグさせたときの図中破線で
示すボックスの軌跡を三角形のエッジとする。このエッ
ジと各水平（スキャン）ラインとの交点は、左右のエッ
ジと、各エッジそれぞれについて、その外側及び内側
で、各ラインについて４つずつ求められる。また、これ
らの交点は、実際の交点ではなく、実際の交点のすぐ内
側のグリッド上の点が選択される。従って、ライン交点
データに含まれる座標値をまとめると、次のようにな
る。
【００１６】 ＹN ：ラインＮのＹ座標 ＸＬｅ： 〃 の左側エッジ外側Ｘ座標（グリッド上） ＸＬｉ： 〃 の左側エッジ内側Ｘ座標（グリッド上） ＸＲｉ： 〃 の右側エッジ内側Ｘ座標（グリッド上） ＸＲｅ： 〃 の右側エッジ外側Ｘ座標（グリッド上）
【００１７】このようにして求められた各座標値に基づ
き、図３に示すように、ＸＬｅからＸＬｉまで徐々に輝
度値Ｉが増加し、ＸＲｉからＸＲｅまで徐々に輝度値Ｉ
が減少していくように、三角形の内部の輝度値Ｉを決定
していくため、ＸＬｅでの輝度の初期値Ｉ0Ｌとその増
加率ｄｄＩＬ、ＸＲｉの次のＸ方向ピクセルでの輝度の
初期値Ｉ0Ｒとその減少率ｄｄＩＲとが求められる。
き、図３に示すように、ＸＬｅからＸＬｉまで徐々に輝
度値Ｉが増加し、ＸＲｉからＸＲｅまで徐々に輝度値Ｉ
が減少していくように、三角形の内部の輝度値Ｉを決定
していくため、ＸＬｅでの輝度の初期値Ｉ0Ｌとその増
加率ｄｄＩＬ、ＸＲｉの次のＸ方向ピクセルでの輝度の
初期値Ｉ0Ｒとその減少率ｄｄＩＲとが求められる。
【００１８】図４及び図５は、これらの各座標値及び輝
度値を求める方法を説明するための図であり、図４は左
側のエッジを求めるときの方法、図５は右側のエッジを
求めるときの方法である。いずれのエッジについても、
各頂点間のＹ方向距離に対するＸ方向距離（Ｙ座標が１
ライン分移動したときのＸ座標の移動量）をＸＤ、Ｘ方
向距離に対するＹ方向距離（Ｘ座標が１画素分移動した
ときのＹ座標の移動量）をＹＤとしたとき、｜ＹＤ｜＜
｜ＸＤ｜の場合（ａ）と、｜ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜の場合
（ｂ）とで求め方は多少異なってくる。
度値を求める方法を説明するための図であり、図４は左
側のエッジを求めるときの方法、図５は右側のエッジを
求めるときの方法である。いずれのエッジについても、
各頂点間のＹ方向距離に対するＸ方向距離（Ｙ座標が１
ライン分移動したときのＸ座標の移動量）をＸＤ、Ｘ方
向距離に対するＹ方向距離（Ｘ座標が１画素分移動した
ときのＹ座標の移動量）をＹＤとしたとき、｜ＹＤ｜＜
｜ＸＤ｜の場合（ａ）と、｜ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜の場合
（ｂ）とで求め方は多少異なってくる。
【００１９】・左側エッジが｜ＹＤ｜＜｜ＸＤ｜（水平
に近い）の場合 図４（ａ）において、ラインＮと左側エッジとの真の交
点ＸＬは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＬか
らＸマイナス方向に｜ＸＤ｜／２だけ離れた点が真の外
側交点ＸＬｅｒ、交点ＸＬからＸプラス方向に｜ＸＤ｜
／２だけ離れた点が真の内側交点ＸＬｉｒとなる。そし
て、真の外側交点ＸＬｅｒ及び真の内側交点ＸＬｉｒの
小数点以下を切り上げた値がそれぞれグリッド上の外側
交点ＸＬｅ及びグリッド上の内側交点ＸＬｉとなる。
に近い）の場合 図４（ａ）において、ラインＮと左側エッジとの真の交
点ＸＬは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＬか
らＸマイナス方向に｜ＸＤ｜／２だけ離れた点が真の外
側交点ＸＬｅｒ、交点ＸＬからＸプラス方向に｜ＸＤ｜
／２だけ離れた点が真の内側交点ＸＬｉｒとなる。そし
て、真の外側交点ＸＬｅｒ及び真の内側交点ＸＬｉｒの
小数点以下を切り上げた値がそれぞれグリッド上の外側
交点ＸＬｅ及びグリッド上の内側交点ＸＬｉとなる。
【００２０】また、真の外側交点ＸＬｅｒでの輝度値Ｉ
が０、真の内側交点ＸＬｉｒでの輝度値Ｉが１となるよ
うにＸＬｅ〜ＸＬｉまでの各ピクセルの輝度値Ｉを決定
するため、ｄｄＩＬ＝｜ＹＤ｜として、
が０、真の内側交点ＸＬｉｒでの輝度値Ｉが１となるよ
うにＸＬｅ〜ＸＬｉまでの各ピクセルの輝度値Ｉを決定
するため、ｄｄＩＬ＝｜ＹＤ｜として、
【００２１】
【数１】Ｉ0Ｌ＝（ＸＬｅ−ＸＬｅｒ）＊ｄｄＩＬ ＩnＬ＝Ｉn-1Ｌ＋ｄｄＩＬ （ｎ≠０）
【００２２】とする。ＸＬｉ以降の輝度値Ｉは１とな
る。
る。
【００２３】・左側エッジが｜ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜（垂直
に近い）の場合 図４（ｂ）において、ラインＮと左側エッジとの真の交
点ＸＬは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＬか
らＸマイナス方向に０．５だけ離れた点が真の外側交点
ＸＬｅｒ、交点ＸＬからＸプラス方向に０．５だけ離れ
た点が真の内側交点ＸＬｉｒとなる。そして、真の外側
交点ＸＬｅｒ及び真の内側交点ＸＬｉｒの小数点以下を
切り上げた値がそれぞれグリッド上の外側交点ＸＬｅ及
びグリッド上の内側交点ＸＬｉとなる。この場合、ＸＬ
ｅとＸＬｉとは、必然的にＸ方向に隣接したピクセル位
置となる。
に近い）の場合 図４（ｂ）において、ラインＮと左側エッジとの真の交
点ＸＬは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＬか
らＸマイナス方向に０．５だけ離れた点が真の外側交点
ＸＬｅｒ、交点ＸＬからＸプラス方向に０．５だけ離れ
た点が真の内側交点ＸＬｉｒとなる。そして、真の外側
交点ＸＬｅｒ及び真の内側交点ＸＬｉｒの小数点以下を
切り上げた値がそれぞれグリッド上の外側交点ＸＬｅ及
びグリッド上の内側交点ＸＬｉとなる。この場合、ＸＬ
ｅとＸＬｉとは、必然的にＸ方向に隣接したピクセル位
置となる。
【００２４】また、真の外側交点ＸＬｅｒでの輝度値Ｉ
が０、真の内側交点ＸＬｉｒでの輝度値Ｉが１となるよ
うにＸＬｅのピクセルの輝度値Ｉ0Ｌを、
が０、真の内側交点ＸＬｉｒでの輝度値Ｉが１となるよ
うにＸＬｅのピクセルの輝度値Ｉ0Ｌを、
【００２５】
【数２】Ｉ0Ｌ＝ＸＬｅ−ＸＬｅｒ
【００２６】のように決定する。隣のＸＬｉの輝度値Ｉ
は１となる。この場合、ｄｄＩＬは、特に求める必要は
ない。
は１となる。この場合、ｄｄＩＬは、特に求める必要は
ない。
【００２７】・右側エッジが｜ＹＤ｜＜｜ＸＤ｜（水平
に近い）の場合 図５（ａ）において、ラインＮと右側エッジとの真の交
点ＸＲは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＲか
らＸマイナス方向に｜ＸＤ｜／２だけ離れた点が真の内
側交点ＸＲｉｒ、交点ＸＲからＸプラス方向に｜ＸＤ｜
／２だけ離れた点が真の外側交点ＸＲｅｒとなる。そし
て、真の内側交点ＸＲｉｒ及び真の外側交点ＸＲｅｒの
小数点以下を切り捨てた値がそれぞれグリッド上の内側
交点ＸＲｉ及びグリッド上の外側交点ＸＲｅとなる。
に近い）の場合 図５（ａ）において、ラインＮと右側エッジとの真の交
点ＸＲは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＲか
らＸマイナス方向に｜ＸＤ｜／２だけ離れた点が真の内
側交点ＸＲｉｒ、交点ＸＲからＸプラス方向に｜ＸＤ｜
／２だけ離れた点が真の外側交点ＸＲｅｒとなる。そし
て、真の内側交点ＸＲｉｒ及び真の外側交点ＸＲｅｒの
小数点以下を切り捨てた値がそれぞれグリッド上の内側
交点ＸＲｉ及びグリッド上の外側交点ＸＲｅとなる。
【００２８】また、真の内側交点ＸＲｉｒでの輝度値Ｉ
が１、真の外側交点ＸＲｅｒでの輝度値Ｉが０となるよ
うにＸＲｉ＋１〜ＸＲｅまでの各ピクセルの輝度値Ｉを
決定するため、ｄｄＩＲ＝｜ＹＤ｜として、
が１、真の外側交点ＸＲｅｒでの輝度値Ｉが０となるよ
うにＸＲｉ＋１〜ＸＲｅまでの各ピクセルの輝度値Ｉを
決定するため、ｄｄＩＲ＝｜ＹＤ｜として、
【００２９】
【数３】Ｉ0Ｒ＝（ＸＲｅｒ−ＸＲｉ−１）＊ｄｄＩＲ ＩnＲ＝Ｉn-1Ｒ−ｄｄＩＲ （ｎ≠０）
【００３０】とする。ＸＲｅ＋１以降の輝度値Ｉは０と
なる。
なる。
【００３１】・右側エッジが｜ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜（垂直
に近い）の場合 図５（ｂ）において、ラインＮと右側エッジとの真の交
点ＸＲは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＲか
らＸマイナス方向に０．５だけ離れた点が真の内側交点
ＸＲｉｒ、交点ＸＲからＸプラス方向に０．５だけ離れ
た点が真の外側交点ＸＲｅｒとなる。そして、真の内側
交点ＸＲｉｒ及び真の外側交点ＸＲｅｒの小数点以下を
切り捨てた値がそれぞれグリッド上の内側交点ＸＲｉ及
びグリッド上の外側交点ＸＲｅとなる。この場合、ＸＲ
ｉとＸＲｅとは、必然的にＸ方向に隣接したピクセル位
置となる。
に近い）の場合 図５（ｂ）において、ラインＮと右側エッジとの真の交
点ＸＲは、このエッジの上側の頂点から傾きＸＤをライ
ン分だけ加算していくことにより求められ、交点ＸＲか
らＸマイナス方向に０．５だけ離れた点が真の内側交点
ＸＲｉｒ、交点ＸＲからＸプラス方向に０．５だけ離れ
た点が真の外側交点ＸＲｅｒとなる。そして、真の内側
交点ＸＲｉｒ及び真の外側交点ＸＲｅｒの小数点以下を
切り捨てた値がそれぞれグリッド上の内側交点ＸＲｉ及
びグリッド上の外側交点ＸＲｅとなる。この場合、ＸＲ
ｉとＸＲｅとは、必然的にＸ方向に隣接したピクセル位
置となる。
【００３２】また、真の内側交点ＸＲｉｒでの輝度値Ｉ
が１、真の外側交点ＸＲｅｒでの輝度値Ｉが０となるよ
うにＸＲｅのピクセルの輝度値Ｉ0Ｒを、
が１、真の外側交点ＸＲｅｒでの輝度値Ｉが０となるよ
うにＸＲｅのピクセルの輝度値Ｉ0Ｒを、
【００３３】
【数４】Ｉ0Ｒ＝ＸＲｅｒ−ＸＲｅ
【００３４】のように決定する。隣のＸＲｉの輝度値Ｉ
は１となる。この場合、ｄｄＩＲは、特に求める必要は
ない。
は１となる。この場合、ｄｄＩＲは、特に求める必要は
ない。
【００３５】このようにライン交点データが求められれ
ば、図３に示すように、左側エッジの外側交点ＸＬｅか
ら輝度値Ｉ0Ｌを初期値とし、輝度の増分値をｄｄＩＬ
として、内側交点ＸＬｉにかけて輝度値を１まで徐々に
増加させ、右エッジの内側交点ＸＲｉの右隣りから輝度
値Ｉ0Ｒを初期値とし、輝度の増分値（減少値）をｄｄ
ＩＲとして、外側交点ＸＲｅにかけて輝度値を０まで徐
々に減少させることにより、通常のスキャンラインに沿
ったシーケンシャルな処理に基づいて各ピクセルの輝度
値Ｉを求めることができる。なお、図６に示すように、
頂点付近では、左右のエッジが近接するために、左エッ
ジの外側交点ＸＬｅと右エッジの内側交点ＸＲｉとの関
係及び左エッジの内側交点ＸＬｉと右エッジの外側交点
ＸＲｅとの関係がそれぞれＸ方向に逆転することがあ
る。このため、輝度値Ｉの描画は、ＸＬｅからＸＲｅま
でとし、この間にＸＬｉ及びＸＲｉが現れなかったとき
には、これを無視するような処理が必要となる。
ば、図３に示すように、左側エッジの外側交点ＸＬｅか
ら輝度値Ｉ0Ｌを初期値とし、輝度の増分値をｄｄＩＬ
として、内側交点ＸＬｉにかけて輝度値を１まで徐々に
増加させ、右エッジの内側交点ＸＲｉの右隣りから輝度
値Ｉ0Ｒを初期値とし、輝度の増分値（減少値）をｄｄ
ＩＲとして、外側交点ＸＲｅにかけて輝度値を０まで徐
々に減少させることにより、通常のスキャンラインに沿
ったシーケンシャルな処理に基づいて各ピクセルの輝度
値Ｉを求めることができる。なお、図６に示すように、
頂点付近では、左右のエッジが近接するために、左エッ
ジの外側交点ＸＬｅと右エッジの内側交点ＸＲｉとの関
係及び左エッジの内側交点ＸＬｉと右エッジの外側交点
ＸＲｅとの関係がそれぞれＸ方向に逆転することがあ
る。このため、輝度値Ｉの描画は、ＸＬｅからＸＲｅま
でとし、この間にＸＬｉ及びＸＲｉが現れなかったとき
には、これを無視するような処理が必要となる。
【００３６】次に、エッジ計算回路１の詳細について説
明する。図７は、エッジ計算回路１の構成例を示すブロ
ック図である。まず、三角形の頂点座標（Ｘ1，Ｙ1），
（Ｘ2，Ｙ2），（Ｘ3，Ｙ3）が与えられると、Ｙ座標値
が最も小さい頂点をＡ（ＸA，ＹA）、残りの２つの頂点
のうち、頂点Ａと接続されたときエッジが左側に位置す
る頂点をＢ（ＸB，ＹB）、頂点Ａと接続されたときエッ
ジが右側に位置する頂点をＣ（ＸC，ＹC）とし、これが
エッジ傾き計算回路１１に与えられる。エッジ傾き計算
回路１１は、例えば図８に示すように構成され、セレク
タ２１，２２でＸ座標ＸA〜ＸCの一つをそれぞれ選択す
ると共に、セレクタ２３，２４でＹ座標ＹA〜ＹCの一つ
をそれぞれ選択し、セレクタ２１，２２の出力及びセレ
クタ２３，２４の出力をそれぞれ減算器２５，２６で減
算し、その減算結果を除算器２７で除算することによ
り、頂点座標から、下記数１で示される直線ＡＢ，Ａ
Ｃ，ＢＣの傾きをそれぞれ算出する。
明する。図７は、エッジ計算回路１の構成例を示すブロ
ック図である。まず、三角形の頂点座標（Ｘ1，Ｙ1），
（Ｘ2，Ｙ2），（Ｘ3，Ｙ3）が与えられると、Ｙ座標値
が最も小さい頂点をＡ（ＸA，ＹA）、残りの２つの頂点
のうち、頂点Ａと接続されたときエッジが左側に位置す
る頂点をＢ（ＸB，ＹB）、頂点Ａと接続されたときエッ
ジが右側に位置する頂点をＣ（ＸC，ＹC）とし、これが
エッジ傾き計算回路１１に与えられる。エッジ傾き計算
回路１１は、例えば図８に示すように構成され、セレク
タ２１，２２でＸ座標ＸA〜ＸCの一つをそれぞれ選択す
ると共に、セレクタ２３，２４でＹ座標ＹA〜ＹCの一つ
をそれぞれ選択し、セレクタ２１，２２の出力及びセレ
クタ２３，２４の出力をそれぞれ減算器２５，２６で減
算し、その減算結果を除算器２７で除算することによ
り、頂点座標から、下記数１で示される直線ＡＢ，Ａ
Ｃ，ＢＣの傾きをそれぞれ算出する。
【００３７】
【数５】ＸＤ１＝（ＸB−ＸA）／（ＹB−ＹA） ＸＤ２＝（ＸC−ＸA）／（ＹC−ＹA） ＸＤ３＝（ＸC−ＸB）／（ＹC−ＹB） ＹＤ１＝（ＹB−ＹA）／（ＸB−ＸA） ＹＤ２＝（ＹC−ＹA）／（ＸC−ＸA） ＹＤ３＝（ＹC−ＹB）／（ＸC−ＸB）
【００３８】これらの傾きデータは、レジスタ２８にそ
れぞれ格納される。なお、セレクタ２９は、分子分母の
選択を行い、セレクタ３０は、計算結果をどのレジスタ
２８に格納するかを選択する。そして、セレクタ２１〜
２４，２９，３０は、セレクタコントローラ３１によっ
てコントロールされる。
れぞれ格納される。なお、セレクタ２９は、分子分母の
選択を行い、セレクタ３０は、計算結果をどのレジスタ
２８に格納するかを選択する。そして、セレクタ２１〜
２４，２９，３０は、セレクタコントローラ３１によっ
てコントロールされる。
【００３９】傾きデータＸＤ１〜ＸＤ３及び頂点データ
ＸA，ＸB，ＸC，ＹAは、エッジ座標算出回路１２に供給
され、ここで各スキャンラインについてのＹ座標値ＹN
と、真のエッジ位置ＸL，ＸRとが求められる。このエッ
ジ座標算出回路１２は、例えば図９に示すように構成さ
れている。まず、Ｙ座標値ＹNの初期値としてＹAがセレ
クタ４１によって選択され、ＹNレジスタ４２に格納さ
れる。以後、Ｙ座標値ＹNは、加算器４３によって１ず
つ加算されて更新される。また、各ラインにおいて、セ
レクタ４４，４６でまず頂点ＸAが選択され、セレクタ
４５，４７でそれぞれ傾きＸＤ１，ＸＤ２が選択され
る。そして、最初はセレクタ４８，４９によって頂点座
標ＸAがエッジ座標ＸL，ＸRとして選択されてＸLレジス
タ５０及びＸRレジスタ５１にそれぞれ格納され、以
後、加算器５２，５３によってこれらに傾きＸＤ１，Ｘ
Ｄ２が順次加算されてエッジ座標ＸL，ＸRが求められ
る。
ＸA，ＸB，ＸC，ＹAは、エッジ座標算出回路１２に供給
され、ここで各スキャンラインについてのＹ座標値ＹN
と、真のエッジ位置ＸL，ＸRとが求められる。このエッ
ジ座標算出回路１２は、例えば図９に示すように構成さ
れている。まず、Ｙ座標値ＹNの初期値としてＹAがセレ
クタ４１によって選択され、ＹNレジスタ４２に格納さ
れる。以後、Ｙ座標値ＹNは、加算器４３によって１ず
つ加算されて更新される。また、各ラインにおいて、セ
レクタ４４，４６でまず頂点ＸAが選択され、セレクタ
４５，４７でそれぞれ傾きＸＤ１，ＸＤ２が選択され
る。そして、最初はセレクタ４８，４９によって頂点座
標ＸAがエッジ座標ＸL，ＸRとして選択されてＸLレジス
タ５０及びＸRレジスタ５１にそれぞれ格納され、以
後、加算器５２，５３によってこれらに傾きＸＤ１，Ｘ
Ｄ２が順次加算されてエッジ座標ＸL，ＸRが求められ
る。
【００４０】ここで、図７のコントローラ１３は、ＹN
とＹB，ＹCとの大小関係に基づいてＹBが最初に現れた
ときにはコントロール信号Ｓ１を出力し、ＹCが最初に
現れたときにはコントロール信号Ｓ２を出力する。コン
トロール信号Ｓ１が出力された場合には、セレクタ４
４，４５がそれぞれＸB，ＸＤ３を選択し、コントロー
ル信号Ｓ２が出力された場合には、セレクタ４６，４７
がそれぞれＸC，ＸＤ３を選択する。これにより、直線
の切替が行われる。
とＹB，ＹCとの大小関係に基づいてＹBが最初に現れた
ときにはコントロール信号Ｓ１を出力し、ＹCが最初に
現れたときにはコントロール信号Ｓ２を出力する。コン
トロール信号Ｓ１が出力された場合には、セレクタ４
４，４５がそれぞれＸB，ＸＤ３を選択し、コントロー
ル信号Ｓ２が出力された場合には、セレクタ４６，４７
がそれぞれＸC，ＸＤ３を選択する。これにより、直線
の切替が行われる。
【００４１】求められたエッジ座標ＸL，ＸRは、傾きＸ
Ｄ１〜ＸＤ３と共にエッジ範囲算出回路１４に供給され
る。エッジ範囲算出回路１４は、例えば図１０に示すよ
うに構成されている。この回路のうち上側の回路は、左
側エッジの外側交点ＸＬｅ，及び内側交点ＸＬｉを算出
するための回路、下側の回路は、右側エッジの内側交点
ＸＲｉ及び外側交点ＸＲｅを算出するための回路であ
る。まず、セレクタ６１，６２は、傾きデータＸＤ１，
ＸＤ２を選択し、これを絶対値化回路６３，６４で絶対
値化すると共に、１／２回路６５，６６で１／２した値
を算出する。セレクタ６７，６８は、一方に１／２回路
６５，６６の出力を、また他方に“０．５”を導入し、
コントロール信号Ｓ３によっていずれか一方を選択す
る。このため、図７のコントローラ１３は、傾きデータ
ＹＤ１〜ＹＤ３に基づいて、エッジの傾斜が緩い傾斜で
あるか（｜ＹＤ｜＜｜ＸＤ｜）、急な傾斜であるか（｜
ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜）を示すコントロール信号Ｓ３を出力
する。セレクタ６７，６８の出力は、減算器６９，７０
及び加算器７１，７２によってそれぞれエッジ座標
ＸL，ＸRと加減算され、左側エッジの場合には、切り上
げ回路７３，７４によって演算結果が切り上げられ、右
側エッジの場合には、切り捨て回路７５，７６によって
演算結果が切り捨てられることにより、交点座標ＸＬ
ｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅがそれぞれ算出され、これ
らがレジスタ７７，７８，７９，８０にそれぞれ格納さ
れる。また、切り捨て及び切り上げ前の途中の演算結果
から、真の外側交点ＸＬｅｒ，ＸＲｅｒが求められる。
新たなエッジに切り替わるときには、コントロール信号
Ｓ１，Ｓ２によってセレクタ６１，６２がいずれか一方
の傾きデータをＸＤ３に切り替える。
Ｄ１〜ＸＤ３と共にエッジ範囲算出回路１４に供給され
る。エッジ範囲算出回路１４は、例えば図１０に示すよ
うに構成されている。この回路のうち上側の回路は、左
側エッジの外側交点ＸＬｅ，及び内側交点ＸＬｉを算出
するための回路、下側の回路は、右側エッジの内側交点
ＸＲｉ及び外側交点ＸＲｅを算出するための回路であ
る。まず、セレクタ６１，６２は、傾きデータＸＤ１，
ＸＤ２を選択し、これを絶対値化回路６３，６４で絶対
値化すると共に、１／２回路６５，６６で１／２した値
を算出する。セレクタ６７，６８は、一方に１／２回路
６５，６６の出力を、また他方に“０．５”を導入し、
コントロール信号Ｓ３によっていずれか一方を選択す
る。このため、図７のコントローラ１３は、傾きデータ
ＹＤ１〜ＹＤ３に基づいて、エッジの傾斜が緩い傾斜で
あるか（｜ＹＤ｜＜｜ＸＤ｜）、急な傾斜であるか（｜
ＹＤ｜≧｜ＸＤ｜）を示すコントロール信号Ｓ３を出力
する。セレクタ６７，６８の出力は、減算器６９，７０
及び加算器７１，７２によってそれぞれエッジ座標
ＸL，ＸRと加減算され、左側エッジの場合には、切り上
げ回路７３，７４によって演算結果が切り上げられ、右
側エッジの場合には、切り捨て回路７５，７６によって
演算結果が切り捨てられることにより、交点座標ＸＬ
ｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅがそれぞれ算出され、これ
らがレジスタ７７，７８，７９，８０にそれぞれ格納さ
れる。また、切り捨て及び切り上げ前の途中の演算結果
から、真の外側交点ＸＬｅｒ，ＸＲｅｒが求められる。
新たなエッジに切り替わるときには、コントロール信号
Ｓ１，Ｓ２によってセレクタ６１，６２がいずれか一方
の傾きデータをＸＤ３に切り替える。
【００４２】求められた交点座標ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲ
ｉ，ＸＲｅ，ＸＬｅｒ．ＸＲｅｒは、傾きデータＹＤ１
〜ＹＤ３と共に輝度初期値・増分値算出回路１５に供給
される。輝度初期値・増分値算出回路１５は、例えば図
１１に示すように構成されている。傾きデータＹＤ１〜
ＹＤ３は、それぞれ絶対値化回路８５〜８８で絶対値化
されてセレクタ９２，９９にそれぞれ供給される。図１
１の回路のうち、上半分は左側エッジの輝度、下半分は
右側エッジの輝度を算出する回路である。即ち、左側エ
ッジの真の外側交点ＸＬｅｒとグリッド上の外側交点Ｘ
Ｌｅとの差分が減算器９１で求められ、この差分がセレ
クタ９２で選択された｜ＹＤ１｜又は｜ＹＤ３｜と乗算
器９３において乗算される。セレクタ９４は、左側エッ
ジの傾きが緩やかな場合にこの乗算結果を輝度の初期値
Ｉ0Ｌとして選択するが、左側エッジの傾きが急な場合
には、乗算前の差分値を輝度の初期値Ｉ0Ｌとして選択
する。この初期値Ｉ0ＬがＩ0Ｌレジスタ９５に格納さ
れ、セレクタ９２で選択された｜ＹＤ１｜又は｜ＹＤ３
｜がｄｄＩＬレジスタ９６に格納される。
ｉ，ＸＲｅ，ＸＬｅｒ．ＸＲｅｒは、傾きデータＹＤ１
〜ＹＤ３と共に輝度初期値・増分値算出回路１５に供給
される。輝度初期値・増分値算出回路１５は、例えば図
１１に示すように構成されている。傾きデータＹＤ１〜
ＹＤ３は、それぞれ絶対値化回路８５〜８８で絶対値化
されてセレクタ９２，９９にそれぞれ供給される。図１
１の回路のうち、上半分は左側エッジの輝度、下半分は
右側エッジの輝度を算出する回路である。即ち、左側エ
ッジの真の外側交点ＸＬｅｒとグリッド上の外側交点Ｘ
Ｌｅとの差分が減算器９１で求められ、この差分がセレ
クタ９２で選択された｜ＹＤ１｜又は｜ＹＤ３｜と乗算
器９３において乗算される。セレクタ９４は、左側エッ
ジの傾きが緩やかな場合にこの乗算結果を輝度の初期値
Ｉ0Ｌとして選択するが、左側エッジの傾きが急な場合
には、乗算前の差分値を輝度の初期値Ｉ0Ｌとして選択
する。この初期値Ｉ0ＬがＩ0Ｌレジスタ９５に格納さ
れ、セレクタ９２で選択された｜ＹＤ１｜又は｜ＹＤ３
｜がｄｄＩＬレジスタ９６に格納される。
【００４３】また、右側エッジの真の外側交点ＸＲｅｒ
とセレクタ９７で選択されたグリッド上の外側交点ＸＲ
ｅ又は内側交点ＸＲｉ＋１との差分が減算器９８で求め
られ、この差分がセレクタ９９で選択された｜ＹＤ２｜
又は｜ＹＤ３｜と乗算器１００において乗算される。セ
レクタ１０１は、左側エッジの傾きが緩やかな場合にこ
の乗算結果を輝度の初期値Ｉ0Ｒとして選択するが、左
側エッジの傾きが急な場合には、乗算前の差分値を輝度
の初期値Ｉ0Ｒとして選択する。この初期値Ｉ0 ＲがＩ0
Ｒレジスタ１０２に格納され、セレクタ９９で選択され
た｜ＹＤ２｜又は｜ＹＤ３｜がｄｄＩＲレジスタ１０３
に格納される。
とセレクタ９７で選択されたグリッド上の外側交点ＸＲ
ｅ又は内側交点ＸＲｉ＋１との差分が減算器９８で求め
られ、この差分がセレクタ９９で選択された｜ＹＤ２｜
又は｜ＹＤ３｜と乗算器１００において乗算される。セ
レクタ１０１は、左側エッジの傾きが緩やかな場合にこ
の乗算結果を輝度の初期値Ｉ0Ｒとして選択するが、左
側エッジの傾きが急な場合には、乗算前の差分値を輝度
の初期値Ｉ0Ｒとして選択する。この初期値Ｉ0 ＲがＩ0
Ｒレジスタ１０２に格納され、セレクタ９９で選択され
た｜ＹＤ２｜又は｜ＹＤ３｜がｄｄＩＲレジスタ１０３
に格納される。
【００４４】次に水平ライン処理回路について説明す
る。図１２は、水平ライン処理回路２の構成例を示すブ
ロック図である。この例では、ＹNの値はそのままピク
セルＹ座標ＹPとなる。１スキャンラインの処理の開始
時、ＸPレジスタ１１１には、スキャンライン上での最
初の処理ピクセルのＸ座標ＸPが格納される。このＸ座
標ＸPは、セレクタ１１２により選択され、初期値はＸ
Ｌｅである。また、ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅ
は、それぞれ対応するレジスタ１１３，１１４，１１
５，１１６にセットされる。Ｘ座標ＸPは、加算器１１
０で“１”が順次加算されてスキャンラインに沿って１
つずつ右側に移動する。このＸ座標ＸPが比較器１１
７，１１８，１１９，１２０においてそれぞれＸＬｅ，
ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅと比較され、その比較結果に基
づいてコントローラ１２１が各部を制御する。
る。図１２は、水平ライン処理回路２の構成例を示すブ
ロック図である。この例では、ＹNの値はそのままピク
セルＹ座標ＹPとなる。１スキャンラインの処理の開始
時、ＸPレジスタ１１１には、スキャンライン上での最
初の処理ピクセルのＸ座標ＸPが格納される。このＸ座
標ＸPは、セレクタ１１２により選択され、初期値はＸ
Ｌｅである。また、ＸＬｅ，ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅ
は、それぞれ対応するレジスタ１１３，１１４，１１
５，１１６にセットされる。Ｘ座標ＸPは、加算器１１
０で“１”が順次加算されてスキャンラインに沿って１
つずつ右側に移動する。このＸ座標ＸPが比較器１１
７，１１８，１１９，１２０においてそれぞれＸＬｅ，
ＸＬｉ，ＸＲｉ，ＸＲｅと比較され、その比較結果に基
づいてコントローラ１２１が各部を制御する。
【００４５】即ち、ＸPがＸＬｅと等しいときには、セ
レクタ１２２でＩ0Ｌが選択され、これがＩP1レジスタ
１２３に格納され、ＸPがＸＬｅよりも大きくＸＬｉよ
りも小さいときには、ＩP1レジスタ１２３の値に加算器
１２４で増分値ｄｄＩＬを累積加算した値が選択されて
ＩP1レジスタ１２３に格納される。また、ＸPがＸＲｉ
を超えた場合には、セレクタ１２５でＩ0Ｒが選択さ
れ、これがＩP2レジスタ１２６に格納される。ＸPがＸ
Ｒｉ＋１よりも大きくＸＲｅ以下のときには、ＩP2レジ
スタ１２６の値に減算器１２７で増分値（減少値）ｄｄ
ＩＲを順次減算した値が選択されてＩP2レジスタ１２６
に格納される。レジスタ１２３，１２６の値及び“１”
がセレクタ１２８に供給され、ＸPがＸＬｅからＸＬｉ
−１までの間はレジスタ１２３の出力、ＸPがＸＬｉか
らＸＲｉまでは“１”、ＸPがＸＲｉ＋１からＸＲｅま
での間はレジスタ１２６の出力が輝度値ＩPとして選択
されることになる。また、コントローラ１２１は、前段
回路からのＳＴＡＲＴ信号によって１スキャンライン分
の動作を開始し、ＸPがＸＲｅを超えたことをもって前
段回路に処理終了を示すＥＮＤ信号を出力する。
レクタ１２２でＩ0Ｌが選択され、これがＩP1レジスタ
１２３に格納され、ＸPがＸＬｅよりも大きくＸＬｉよ
りも小さいときには、ＩP1レジスタ１２３の値に加算器
１２４で増分値ｄｄＩＬを累積加算した値が選択されて
ＩP1レジスタ１２３に格納される。また、ＸPがＸＲｉ
を超えた場合には、セレクタ１２５でＩ0Ｒが選択さ
れ、これがＩP2レジスタ１２６に格納される。ＸPがＸ
Ｒｉ＋１よりも大きくＸＲｅ以下のときには、ＩP2レジ
スタ１２６の値に減算器１２７で増分値（減少値）ｄｄ
ＩＲを順次減算した値が選択されてＩP2レジスタ１２６
に格納される。レジスタ１２３，１２６の値及び“１”
がセレクタ１２８に供給され、ＸPがＸＬｅからＸＬｉ
−１までの間はレジスタ１２３の出力、ＸPがＸＬｉか
らＸＲｉまでは“１”、ＸPがＸＲｉ＋１からＸＲｅま
での間はレジスタ１２６の出力が輝度値ＩPとして選択
されることになる。また、コントローラ１２１は、前段
回路からのＳＴＡＲＴ信号によって１スキャンライン分
の動作を開始し、ＸPがＸＲｅを超えたことをもって前
段回路に処理終了を示すＥＮＤ信号を出力する。
【００４６】このように、この回路によれば、スキャン
ラインに沿って順次ピクセルの輝度値を求めていくこと
ができるので、高速処理が可能になる。
ラインに沿って順次ピクセルの輝度値を求めていくこと
ができるので、高速処理が可能になる。
【００４７】ところで、上記実施例では、頂点のＹ座標
はライン上に存在することを前提として説明したが、例
えば図１３に示すように、各頂点Ａ，Ｂ，Ｃの座標（Ｘ
A，ＹA），（ＸB，ＹB），（ＸC，ＹC）がライン上に存
在しない場合には、Ｙ座標の小数部分（以下、ＹLSBと
呼ぶ）を考慮することにより、更に滑らかな表現が可能
になる。この場合、図１４に示すように、スキャンライ
ン間に頂点を含む場合、輝度値の基準となるΔＹを次の
ように設定し、前述した輝度値にΔＹを乗算した値をも
って輝度値ＩPとする。
はライン上に存在することを前提として説明したが、例
えば図１３に示すように、各頂点Ａ，Ｂ，Ｃの座標（Ｘ
A，ＹA），（ＸB，ＹB），（ＸC，ＹC）がライン上に存
在しない場合には、Ｙ座標の小数部分（以下、ＹLSBと
呼ぶ）を考慮することにより、更に滑らかな表現が可能
になる。この場合、図１４に示すように、スキャンライ
ン間に頂点を含む場合、輝度値の基準となるΔＹを次の
ように設定し、前述した輝度値にΔＹを乗算した値をも
って輝度値ＩPとする。
【００４８】 （ａ）スキャンライン間に上端の頂点を含む場合 ΔＹ＝１−ＹLSB （ｂ）スキャンライン間に頂点を含まない場合 ΔＹ＝ＹLSB＝１ （ｃ）スキャンライン間に下端の頂点を含む場合 ΔＹ＝ＹLSB
【００４９】このため、この実施例では、図９に示した
エッジ座標算出回路１２を、図１５のように構成する。
この回路では、頂点Ａ，Ｂ，ＣのＹ座標ＹA，ＹB，ＹC
をコントロール信号Ｓ１，Ｓ２によってセレクタ１３１
で選択し、このセレクタ１３１の出力とこれを切り捨て
回路１３２で切り捨てた値とを減算器１３３で減算する
ことにより、頂点でのＹLSBを算出する。セレクタ１３
４は、減算器１３３の出力と“１”とを切り換えること
により、ＹLSBレジスタ１３５に、頂点では１よりも小
さい値、その他の部分では“１”となるＹLSBを格納す
る。また、切り捨て回路１３２の出力はセレクタ１３６
を介してＹNレジスタ１３７に初期値として格納され
る。ＹNレジスタ１３７には、加算器１３８で“１”が
順次加算された値が更新値として格納されていく。Ｙ
LSBレジスタ１３５に格納されたＹLSB は、減算器１３９
によって“１”から減算される。セレクタ１４０は、上
述した（ａ），（ｂ），（ｃ）の各場合に応じたΔＹの
値を出力する。
エッジ座標算出回路１２を、図１５のように構成する。
この回路では、頂点Ａ，Ｂ，ＣのＹ座標ＹA，ＹB，ＹC
をコントロール信号Ｓ１，Ｓ２によってセレクタ１３１
で選択し、このセレクタ１３１の出力とこれを切り捨て
回路１３２で切り捨てた値とを減算器１３３で減算する
ことにより、頂点でのＹLSBを算出する。セレクタ１３
４は、減算器１３３の出力と“１”とを切り換えること
により、ＹLSBレジスタ１３５に、頂点では１よりも小
さい値、その他の部分では“１”となるＹLSBを格納す
る。また、切り捨て回路１３２の出力はセレクタ１３６
を介してＹNレジスタ１３７に初期値として格納され
る。ＹNレジスタ１３７には、加算器１３８で“１”が
順次加算された値が更新値として格納されていく。Ｙ
LSBレジスタ１３５に格納されたＹLSB は、減算器１３９
によって“１”から減算される。セレクタ１４０は、上
述した（ａ），（ｂ），（ｃ）の各場合に応じたΔＹの
値を出力する。
【００５０】エッジ交点のＸ座標ＸL，ＸRを求めるため
の回路は、基本的には図９に示した回路と同様である
が、ＸＤ１，ＸＤ２，ＸＤ３は、乗算器１５０，１５
１，１５２，１５３によってそれぞれΔＹが乗算される
ので、頂点の次のラインにおけるＸL，ＸRを決定する際
の増分値は、他のラインの増分値とは異なる値となる。
の回路は、基本的には図９に示した回路と同様である
が、ＸＤ１，ＸＤ２，ＸＤ３は、乗算器１５０，１５
１，１５２，１５３によってそれぞれΔＹが乗算される
ので、頂点の次のラインにおけるＸL，ＸRを決定する際
の増分値は、他のラインの増分値とは異なる値となる。
【００５１】図１６は、この実施例における水平ライン
処理回路２のブロック図であり、図１２と同一部分には
同一符号を付して詳しい説明は割愛する。この実施例で
は、左側エッジの処理と右側エッジの処理とを別々に行
った結果ＩP1，ＩP2を減算器１６４で減算することによ
り、頂点を含む部分の処理を簡素化させている。セレク
タ１６２，１６３には、ΔＹの値も与えられており、コ
ントローラ１６１は、ＸPがＸＬｉ以上になったときに
セレクタ１６２でΔＹを選択し、ＸPがＸＲｅを超えた
ときにセレクタ１６３でΔＹを選択する。Ｉ0Ｌ，ｄｄ
ＩＬ，Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲは、予めΔＹを基準とした値に
設定されている。また、この例では、Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲ
がそれぞれ右側エッジの内側からの輝度の減少値の初期
値及び増加値である点が先の実施例とは異なっている。
勿論、ΔＹによる重み付けは、加算値ＩP1，ＩP2や最終
結果の輝度値ＩPに対して行うようにしてもよい。
処理回路２のブロック図であり、図１２と同一部分には
同一符号を付して詳しい説明は割愛する。この実施例で
は、左側エッジの処理と右側エッジの処理とを別々に行
った結果ＩP1，ＩP2を減算器１６４で減算することによ
り、頂点を含む部分の処理を簡素化させている。セレク
タ１６２，１６３には、ΔＹの値も与えられており、コ
ントローラ１６１は、ＸPがＸＬｉ以上になったときに
セレクタ１６２でΔＹを選択し、ＸPがＸＲｅを超えた
ときにセレクタ１６３でΔＹを選択する。Ｉ0Ｌ，ｄｄ
ＩＬ，Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲは、予めΔＹを基準とした値に
設定されている。また、この例では、Ｉ0Ｒ，ｄｄＩＲ
がそれぞれ右側エッジの内側からの輝度の減少値の初期
値及び増加値である点が先の実施例とは異なっている。
勿論、ΔＹによる重み付けは、加算値ＩP1，ＩP2や最終
結果の輝度値ＩPに対して行うようにしてもよい。
【００５２】この回路では、最初に上の頂点が存在する
スキャンラインを次のように処理する。即ち、上側の頂
点につながる２本のエッジは、それらの傾きにより、図
１７に示すように３つのパターンに分けられる。同図
（ａ）は左右のエッジの傾きの符号が異なる場合、同図
（ｂ）は左右のエッジが共に負である場合、同図（ｃ）
は左右のエッジが共に正である場合である。各場合につ
いて、加算器１２４，１２７の出力ＩP1，ＩP2は、図１
８の各塗り潰し領域の面積で表される。従って、ＩP1か
らＩP2を減算器１６４で減算することにより、ライン間
に有する頂点部分の輝度ＩPを簡単に求めることができ
る。
スキャンラインを次のように処理する。即ち、上側の頂
点につながる２本のエッジは、それらの傾きにより、図
１７に示すように３つのパターンに分けられる。同図
（ａ）は左右のエッジの傾きの符号が異なる場合、同図
（ｂ）は左右のエッジが共に負である場合、同図（ｃ）
は左右のエッジが共に正である場合である。各場合につ
いて、加算器１２４，１２７の出力ＩP1，ＩP2は、図１
８の各塗り潰し領域の面積で表される。従って、ＩP1か
らＩP2を減算器１６４で減算することにより、ライン間
に有する頂点部分の輝度ＩPを簡単に求めることができ
る。
【００５３】スキャンライン内に頂点が存在しないとき
には、図１９に示すように、ΔＹ＝１となるが、上記と
全く同様の演算によって各ピクセルＸPでの輝度ＩPを算
出することができる。
には、図１９に示すように、ΔＹ＝１となるが、上記と
全く同様の演算によって各ピクセルＸPでの輝度ＩPを算
出することができる。
【００５４】更に、図２０に示すように、スキャンライ
ン間に端点Ｂが存在する場合には、スキャンラインを端
点Ｂの上側と下側とに分けて同様の処理を行う。まず、
図２１（ａ）に示すように、上側の部分の輝度ＩPを計
算し、次に、同図（ｂ）のように、下側の部分の輝度Ｉ
Pを計算する。このとき、Ｙ座標値は同じである。そし
て、これらの演算結果は、加算・混合され、同一の画素
に対する輝度値ＩPとして求められる。
ン間に端点Ｂが存在する場合には、スキャンラインを端
点Ｂの上側と下側とに分けて同様の処理を行う。まず、
図２１（ａ）に示すように、上側の部分の輝度ＩPを計
算し、次に、同図（ｂ）のように、下側の部分の輝度Ｉ
Pを計算する。このとき、Ｙ座標値は同じである。そし
て、これらの演算結果は、加算・混合され、同一の画素
に対する輝度値ＩPとして求められる。
【００５５】図２２に示すように、スキャンライン間に
下側の頂点が存在する場合も、上記と全く同様の手順に
より、各ピクセルの輝度値ＩPを求めることができる。
下側の頂点が存在する場合も、上記と全く同様の手順に
より、各ピクセルの輝度値ＩPを求めることができる。
【００５６】なお、以上の実施例では、三角形のエッジ
処理について説明したが、これを応用することにより、
更に多角形のエッジ処理にも応用可能であることは言う
までもない。また、上記実施例では、グリッド上の点の
輝度値を求めるようにしているが、実際の点の輝度値か
ら水平ライン描画時に補正を加えていくようにしても良
い。
処理について説明したが、これを応用することにより、
更に多角形のエッジ処理にも応用可能であることは言う
までもない。また、上記実施例では、グリッド上の点の
輝度値を求めるようにしているが、実際の点の輝度値か
ら水平ライン描画時に補正を加えていくようにしても良
い。
【００５７】また、上述した実施例は、各部の処理をハ
ードウェアにて実現したが、各部の処理をソフトウェア
によって実現することもできる。この場合には、多角形
描画処理プログラムは、適当な記録媒体に記録して提供
可能である。
ードウェアにて実現したが、各部の処理をソフトウェア
によって実現することもできる。この場合には、多角形
描画処理プログラムは、適当な記録媒体に記録して提供
可能である。
【００５８】
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、エ
ッジ計算によってスキャンラインのスキャン方向上流側
エッジに対応する第１の外側交点及び内側交点、同じく
下流側エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、
第１の外側交点から内側交点までの輝度値の増加率、並
びに第２の内側交点から外側交点までの輝度値の減少率
をそれぞれスキャンライン毎に求め、更に第１の外側交
点から内側交点までの輝度値の変化を主として算出する
第１の処理と、前記第２の内側交点から外側交点までの
輝度値の変化を主として算出する第２の処理と、これら
第１及び第２の処理結果を合成する第３の処理とを並行
に実行するようにしていので、スキャンラインの上流側
から下流側へかけて順番に輝度値を求めていくことがで
き、スキャンラインに沿ったシーケンシャルな処理が可
能になる。また、特に、この場合、上下端の頂点やその
途中の頂点、更には、これらの頂点がライン上に位置し
ていない場合でも、共通の処理方法によって簡単に輝度
値を算出することができる。このため、高速描画処理が
実現できる
ッジ計算によってスキャンラインのスキャン方向上流側
エッジに対応する第１の外側交点及び内側交点、同じく
下流側エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、
第１の外側交点から内側交点までの輝度値の増加率、並
びに第２の内側交点から外側交点までの輝度値の減少率
をそれぞれスキャンライン毎に求め、更に第１の外側交
点から内側交点までの輝度値の変化を主として算出する
第１の処理と、前記第２の内側交点から外側交点までの
輝度値の変化を主として算出する第２の処理と、これら
第１及び第２の処理結果を合成する第３の処理とを並行
に実行するようにしていので、スキャンラインの上流側
から下流側へかけて順番に輝度値を求めていくことがで
き、スキャンラインに沿ったシーケンシャルな処理が可
能になる。また、特に、この場合、上下端の頂点やその
途中の頂点、更には、これらの頂点がライン上に位置し
ていない場合でも、共通の処理方法によって簡単に輝度
値を算出することができる。このため、高速描画処理が
実現できる
【図１】 この発明の一実施例に係る多角形描画装置の
ブロック図である。
ブロック図である。
【図２】 同装置におけるエッジ計算回路の処理内容を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図３】 同装置における水平ライン処理回路の動作を
説明するための図である。
説明するための図である。
【図４】 エッジ計算回路での右側エッジの各種データ
の算出方法を説明するための図である。
の算出方法を説明するための図である。
【図５】 エッジ計算回路での左側エッジの各種データ
の算出方法を説明するための図である。
の算出方法を説明するための図である。
【図６】 水平ライン処理回路での頂点部の処理を説明
するための図である。
するための図である。
【図７】 エッジ計算回路の詳細ブロック図である。
【図８】 同回路におけるエッジ傾き計算回路のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図９】 同回路におけるエッジ座標算出回路のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図１０】 同回路におけるエッジ範囲算出回路のブロ
ック図である。
ック図である。
【図１１】 同回路における輝度初期値・増分値算出回
路のブロック図である。
路のブロック図である。
【図１２】 水平ライン処理回路の詳細ブロック図であ
る。
る。
【図１３】 この発明の他の実施例に適用される多角形
を示す図である。
を示す図である。
【図１４】 同多角形のライン間のパターンを示す図で
ある。
ある。
【図１５】 同実施例のエッジ座標算出回路のブロック
図である。
図である。
【図１６】 同実施例の水平ライン処理回路のブロック
図である。
図である。
【図１７】 同多角形の頂点の態様を示す図である。
【図１８】 同各態様に対応した水平ライン処理回路の
動作を説明するための図である。
動作を説明するための図である。
【図１９】 同多角形の中間部での水平ライン処理回路
の動作を説明するための図である。
の動作を説明するための図である。
【図２０】 ライン間に多角形の端部を含む態様を示す
図である。
図である。
【図２１】 図２０の場合の水平ライン処理回路の動作
を説明するための図である。
を説明するための図である。
【図２２】 多角形の下端部の処理を説明するための図
である。
である。
【図２３】 従来の直線描画方法を示す図である。
【図２４】 従来のアンチエイリアシング直線描画方法
を説明するための図である。
を説明するための図である。
１…エッジ計算回路、２…水平ライン処理回路、３…ピ
クセル処理回路、４…メモリ。
クセル処理回路、４…メモリ。
Claims (8)
- 【請求項１】 描画平面上の各グリッドを覆う面積に応
じた輝度値を与えることにより、多角形のエッジ部分を
滑らかに描画するようにした多角形描画装置において、 前記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの
交差部に関するデータであって、前記スキャンラインの
スキャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及
び内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側
エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第
１の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、
並びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度
値の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン
毎に求めるエッジ計算手段と、 このエッジ計算手段で求められた前記各スキャンライン
毎のライン交点データに基づいて、各スキャンライン毎
に前記第１の外側交点から内側交点にかけての輝度値の
変化を主として算出する第１の処理と、前記第２の内側
交点から外側交点にかけての輝度値の変化を主として算
出する第２の処理と、これら第１及び第２の処理で得ら
れた結果を合成する第３の処理とを並行して実行するこ
とにより、前記多角形の内部の各輝度値を前記スキャン
ラインに沿ってシーケンシャルに求めるスキャンライン
処理手段とを備えてなることを特徴とする多角形描画装
置。 - 【請求項２】 前記エッジ計算手段は、前記第１の外側
交点及び内側交点として、実際の交点にそれぞれスキャ
ン方向下流側で隣接するグリッド上の位置を求め、前記
第２の外側交点及び内側交点として、実際の交点にそれ
ぞれスキャン方向上流側で隣接するグリッド上の位置を
求め、第１の外側交点における輝度値及び前記第２の内
側交点とスキャン方向下流側で隣接するグリッド上の点
における輝度値をそれぞれ初期値として算出するもので
あることを特徴とする請求項１記載の多角形描画装置。 - 【請求項３】 前記エッジ計算手段は、前記描画すべき
多角形の頂点間をグリッド間隔に対応した縦横寸法のダ
イアモンドブロックによってドラッグしたときの軌跡に
基づいて、前記第１及び第２の外側交点及び内側交点を
算出するものであることを特徴とする請求項１又は２記
載の多角形描画装置。 - 【請求項４】 前記スキャンライン処理手段は、前記第
１の処理として各スキャンライン毎に前記第１の外側交
点から内側交点まで前記増加率を累算して各輝度値を出
力すると共に、前記第１の内側交点以降は一定の輝度値
を出力し、前記第２の処理として前記第２の内側交点か
ら外側交点まで前記減少率を累算して各輝度値を出力す
ると共に、前記第２の外側交点以降は一定の輝度値を出
力し、前記第３の処理として前記第１の処理の結果から
前記第２の処理の結果を減算するものであることを特徴
とする請求項１〜３のいずれか１項記載の多角形描画装
置。 - 【請求項５】 前記スキャンライン処理手段は、前記多
角形の頂点がスキャンライン間に位置するとき、スキャ
ンラインから前記頂点までの距離に相当する値を前記一
定の輝度値として使用するものであることを特徴とする
請求項４記載の多角形描画装置。 - 【請求項６】 前記スキャンライン処理手段は、前記多
角形の上下端の頂点以外の頂点がスキャンライン間に位
置するとき、前記頂点から上側のスキャンラインまでの
距離に基づく処理と、前記頂点から下側のスキャンライ
ンまでの距離に基づく処理とを別々に実行して合成する
ことにより輝度値を算出するものであることを特徴とす
る請求項１〜５のいずれか１項記載の多角形描画装置。 - 【請求項７】 描画平面上の各グリッドを覆う面積に応
じた輝度値を与えることにより、多角形のエッジ部分を
滑らかに描画するようにした多角形描画プログラムを記
憶した媒体において、 前記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの
交差部に関するデータであって、前記スキャンラインの
スキャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及
び内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側
エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第
１の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、
並びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度
値の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン
毎に求めるエッジ計算ステップと、 このエッジ計算ステップで求められた前記各スキャンラ
イン毎のライン交点データに基づいて、各スキャンライ
ン毎に前記第１の外側交点から内側交点にかけての輝度
値の変化を主として算出する第１の処理と、前記第２の
内側交点から外側交点にかけての輝度値の変化を主とし
て算出する第２の処理と、これら第１及び第２の処理で
得られた結果を合成する第３の処理とを並行して実行す
ることにより、前記多角形の内部の各輝度値を前記スキ
ャンラインに沿ってシーケンシャルに求めるスキャンラ
イン処理ステップとを備えてなることを特徴とする多角
形描画プログラムを記憶した媒体。 - 【請求項８】 描画平面上の各グリッドを覆う面積に応
じた輝度値を与えることにより、多角形のエッジ部分を
滑らかに描画するようにした多角形描画方法において、 前記描画すべき多角形の各エッジとスキャンラインとの
交差部に関するデータであって、前記スキャンラインの
スキャン方向上流側エッジに対応する第１の外側交点及
び内側交点、前記スキャンラインのスキャン方向下流側
エッジに対応する第２の外側交点及び内側交点、前記第
１の外側交点から内側交点までの前記輝度値の増加率、
並びに前記第２の内側交点から外側交点までの前記輝度
値の減少率を含むライン交点データを各スキャンライン
毎に求め、 この求められた前記各スキャンライン毎のライン交点デ
ータに基づいて、各スキャンライン毎に前記第１の外側
交点から内側交点にかけての輝度値の変化を主として算
出する第１の処理と、前記第２の内側交点から外側交点
にかけての輝度値の変化を主として算出する第２の処理
と、これら第１及び第２の処理で得られた結果を合成す
る第３の処理とを並行して実行することにより、前記多
角形の内部の各輝度値を前記スキャンラインに沿ってシ
ーケンシャルに求めるようにしたことを特徴とする多角
形描画方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18559097A JPH1131232A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | 多角形描画方法及び装置 |
| US09/932,810 US7142224B2 (en) | 1997-07-10 | 2001-08-20 | Polygon drawing apparatus and method, and storage medium for implementing the same method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18559097A JPH1131232A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | 多角形描画方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1131232A true JPH1131232A (ja) | 1999-02-02 |
Family
ID=16173471
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18559097A Pending JPH1131232A (ja) | 1997-07-10 | 1997-07-10 | 多角形描画方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1131232A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113720337A (zh) * | 2021-08-20 | 2021-11-30 | 珠海格力电器股份有限公司 | 扫地机器人的地图编辑方法及装置、存储介质、电子设备 |
-
1997
- 1997-07-10 JP JP18559097A patent/JPH1131232A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113720337A (zh) * | 2021-08-20 | 2021-11-30 | 珠海格力电器股份有限公司 | 扫地机器人的地图编辑方法及装置、存储介质、电子设备 |
| CN113720337B (zh) * | 2021-08-20 | 2024-06-07 | 珠海格力电器股份有限公司 | 扫地机器人的地图编辑方法及装置、存储介质、电子设备 |
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