JPH11312334A - 光学ユニットおよびこれを用いる光学ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 少ない受光領域数で焦点状態を検出でき、光
学ピックアップ装置を小型化できると共に、組み立ても
容易にできる光学ユニットおよびこれを用いる光学ピッ
クアップ装置を提供する。 【解決手段】 半導体基板１上に配置された半導体レー
ザ２と、半導体基板１上に形成され、２本の分割線で分
割された３つの受光領域を有する３分割光検出器３と、
半導体レーザ２からのレーザ光を対物レンズ５を経て記
録媒体６側に出射させ、記録媒体６からの戻り光を３分
割光検出器３側に導く往復光路分離手段４ｄと、３分割
光検出器３に入射する戻り光の断面を分割して複数の光
束を得る光束分割手段４ｃ，９とを有し、光束分割手段
で分割された複数の光束を、３分割光検出器３の一方の
分割線を含む両側の受光領域と、他方の分割線を含む両
側の受光領域とに入射させて焦点状態を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光学ユニット、お
よび該光学ユニットを用い、特に、半導体レーザからの
光ビームを光学式ディスクプレーヤなどの記録媒体に入
射させ、記録媒体からの反射ビームを光検出器に導くこ
とにより、情報の記録再生を行う光学ピックアップ装置
に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】半導体レーザからのレーザ光を記録媒体
に入射させ、該記録媒体からの反射ビームを光検出器に
導いて記録媒体に記録された情報の読み取りを行う光学
ピックアップ装置の一例として、特開昭６４−４６２４
３号公報に記載されているものがある。この光学ピック
アップ装置では、半導体基板上に半導体レーザを配置す
ると共に、半導体基板に第１，第２の光検出部を形成
し、これら第１，第２の光検出部上に全反射グレーティ
ングを形成したプリズムを配置して、半導体レーザから
のレーザ光を全反射グレーティングで反射させて３本の
光ビームを得ている。これら３本の光ビームは、パッケ
ージのカバー部材内面に形成した曲線干渉縞パターンの
ホログラムからなるビームスプリッタに入射させ、この
ビームスプリッタを透過した３本の光ビームをコリメー
タレンズおよび対物レンズを経て光ディスクに照射する
ようにしている。

【０００３】光ディスクで反射された３本の戻り光は、
対物レンズおよびコリメータレンズを経てビームスプリ
ッタに入射させて、該ビームスプリッタから偏向して出
射させ、これら偏向して出射される３本の戻り光をプリ
ズムの上面から入射させて第１の光検出部で受光すると
共に、該第１の光検出部の受光面でそれぞれ反射される
３本の戻り光をプリズムの上面で反射させて第２の光検
出部で受光するようにしている。ここで、第１，第２の
光検出部は、戻り光の焦点位置の前後に位置し、それぞ
れ３本の戻り光のうちの中央の戻り光を受光する３分割
光検出器と、両側の戻り光を受光する２個の光検出器と
をもって構成されている。

【０００４】このようにして、第１の光検出部の中央の
３分割光検出器の３つの受光領域の出力と第２の光検出
部の中央の３分割光検出器の３つの受光領域の出力とに
基づいて、情報信号を検出すると共に、ビームサイズ法
によりフォーカスエラー信号を検出し、第１の光検出部
の両側の２個の光検出器の出力と第２の光検出部の両側
の２個の光検出器の出力とに基づいて、３ビーム法によ
りトラッキングエラー信号を検出するようにしている。

【０００５】また、従来の他の光学ピックアップ装置と
して、特開平２−１７３９３７号公報に記載されている
ものがある。この光学ピックアップ装置では、光源から
出射されて平行光とされた光ビームをハーフミラーで反
射させて対物レンズを経て記録媒体に照射している。記
録媒体からの戻り光は、対物レンズを経てハーフミラー
に入射させ、該ハーフミラーを透過した戻り光を凸レン
ズで収斂させて偏光ビームスプリッタに入射させ、該偏
光ビームスプリッタを透過する戻り光を２分割光検出器
で受光し、偏光ビームスプリッタで反射される戻り光は
段差を有する反射光学素子で断面２光束に分割して反射
させることにより、これら２光束を凸レンズの焦点位置
の前後において４分割光検出器で受光するようにしてい
る。

【０００６】このようにして、２分割光検出器の２つの
受光領域の出力に基づいてプッシュプル法によりトラッ
キングエラー信号を検出し、４分割光検出器の４つの受
光領域の出力に基づいて非点収差法によりフォーカスエ
ラー信号を得るようにしている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
特開昭６４−４６２４３号公報に記載の光学ピックアッ
プ装置にあっては、２個の３分割光検出器を用いてフォ
ーカスエラー信号を得るようにしているため、光検出器
の数が多く、したがって受光領域の数も多くなり、それ
に伴って各受光領域の出力を処理する演算回路も多くな
って装置が大型になるという問題があると共に、各受光
領域と対応する演算回路との接続工数が増え、組み立て
が面倒になるという問題がある。

【０００８】また、上記の特開平２−１７３９３７号公
報に記載の光学ピックアップ装置では、４分割光検出器
を用いてフォーカスエラー信号を得るようにしているた
め、受光領域の数が多く、これがため上記の場合と同様
に、装置が大型になると共に、組み立てが面倒になると
いう問題がある。

【０００９】本発明は、上記の問題点に着目してなされ
たもので、少ない受光領域数でフォーカス状態を検出で
き、したがって光学ピックアップ装置を小型化できると
共に、組み立ても容易にできる光学ユニットおよびこれ
を用いる光学ピックアップ装置を提供しようとするもの
である。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１に記載の光学ユニットの発明は、半導体基
板上に配置された半導体レーザと、前記半導体基板上に
形成され、２本の分割線で分割された３つの受光領域を
有する３分割光検出器と、前記半導体レーザからのレー
ザ光を記録媒体側に出射させ、前記記録媒体からの戻り
光を前記３分割光検出器側に導く往復光路分離手段と、
前記３分割光検出器に入射する前記戻り光の断面を分割
して複数の光束を得る光束分割手段とを有し、前記光束
分割手段で分割された複数の光束が、前記３分割光検出
器の一方の分割線を含む両側の受光領域、および他方の
分割線を含む両側の受光領域に入射し得るよう構成した
ことを特徴とするものである。

【００１１】請求項２に記載の発明は、請求項１記載の
光学ユニットにおいて、前記光束分割手段は、前記３分
割光検出器上に配置され、該３分割光検出器の受光面に
対して傾斜した傾斜面を有するプリズムと、このプリズ
ムの前記傾斜面に接合して設けた平面板とを有し、前記
往復光路分離手段で分離された前記戻り光を前記プリズ
ムに入射させて、前記傾斜面で一部反射させると共に、
該傾斜面を透過した光束の少なくとも一部を前記平面板
に入射させて、該平面板の前記傾斜面との接合面と対向
する面で反射させることにより複数の光束を得るよう構
成したことを特徴とするものである。

【００１２】請求項３に記載の発明は、請求項１記載の
光学ユニットにおいて、前記光束分割手段はホログラム
を有し、該ホログラムにより前記記録媒体からの戻り光
の断面を分割して複数の光束を得るようにしたことを特
徴とするものである。

【００１３】請求項４に記載の発明は、請求項１，２ま
たは３記載の光学ユニットにおいて、前記往復光路分離
手段は、前記半導体レーザ上に配置され、該半導体レー
ザからのレーザ光を透過または反射させ、前記記録媒体
からの戻り光を反射または透過させて往復光路を分離す
るビームスプリッタからなることを特徴とするものであ
る。

【００１４】請求項５に記載の発明は、請求項２記載の
光学ユニットにおいて、さらに、前記半導体基板上に形
成された２分割光検出器と、該２分割光検出器上に配置
され、前記往復光路分離手段で分離された前記戻り光を
反射および透過させて、その一方を前記２分割光検出器
に、他方を前記光束分割手段にそれぞれ導くビームスプ
リッタを有することを特徴とするものである。

【００１５】請求項６に記載の発明は、請求項１〜５の
いずれか一項に記載の光学ユニットを用いる光学ピック
アップ装置であって、前記光学ユニットから出射される
前記半導体レーザからのレーザ光を入射するように、前
記光学ユニットと記録媒体との間に対物レンズを配置
し、前記３分割光検出器の一方の分割線を含む両側の受
光領域に入射する光束と、他方の分割線を含む両側の受
光領域に入射する光束とが、前記記録媒体が前記対物レ
ンズの焦点位置にある合焦状態で、前記３分割光検出器
の受光面に対して前後に集光するようにして、該３分割
光検出器の出力に基づいて前記対物レンズの前記記録媒
体に対する焦点状態を検出するよう構成したことを特徴
とするものである。

【００１６】

【発明の実施の形態】図１は、本発明に係る光学ピック
アップ装置の第１実施の形態の構成を示す図である。半
導体基板１には、半導体レーザ（ここでは、垂直共振型
面発光レーザ）２を、そのレーザビーム出射面を半導体
基板１の表面に一致させて配置する。また、半導体基板
１には、その表面に図２に示すように２本の平行な分割
線で分割された３つの受光面（受光領域）ｅ，ｄ，ｆを
有する３分割光検出器３を形成すると共に、該３分割光
検出器３の各受光面上および面発光レーザ２のレーザビ
ーム出射面上に亘ってマイクロプリズム４を載置する。

【００１７】マイクロプリズム４は、平行四辺形の第１
の光学部材４ａと三角形の第２の光学部材４ｂとから構
成されており、３分割光検出器３の上方に第１の光学部
材４ａを位置させ、面発光レーザ２の上方に第２の光学
部材４ｂを位置させる。第１の光学部材４ａの傾斜面４
ｃは、上半分を反射面とし、下半分は透過面として、こ
の透過面に平行平面板９を接合して光束分割手段を構成
する。また、第１の光学部材４ａと第２の光学部材４ｂ
との接合面には、往復光路分離手段としてのビームスプ
リッタからなるビームスプリッタ４ｄを形成する。さら
に、面発光レーザ２と対向するマイクロプリズム４の上
面には、該上面からマイクロプリズム４に入射する光束
（後述する記録媒体６からの戻り光）を回折させるホロ
グラムレンズ８を接合して設ける。

【００１８】このようにして、半導体基板１、面発光レ
ーザ２、３分割光検出器３、マイクロプリズム４、ホロ
グラムレンズ８および平行平面板９を有して光学ユニッ
トを構成する。

【００１９】本実施の形態では、上記の光学ユニットか
ら出射される面発光レーザ２からのレーザ光が入射する
ように、該光学ユニットと記録媒体６との間に対物レン
ズ５を配置して光学ピックアップ装置を構成する。

【００２０】図１に示す光学ピックアップ装置におい
て、面発光レーザ２から出射されたレーザビームは、ビ
ームスプリッタ４ｄを透過し、さらにホログラムレンズ
８を透過して、対物レンズ５を介して記録媒体６上で集
束する。記録媒体６で反射された戻り光は、対物レンズ
５を経てホログラムレンズ８で回折されてマイクロプリ
ズム４に入射する。

【００２１】マイクロプリズム４に入射した戻り光は、
そのビームスプリッタ４ｄで第１の光学部材４ａの方向
に反射され、その戻り光の上半分が傾斜面４ｃの反射面
で反射され、下半分が傾斜面４ｃを透過して平行平面板
９の空気と接する反射面９ａで反射されることにより断
面２分割される。これら断面２分割された戻り光のう
ち、傾斜面４ｃの反射面で反射された戻り光は、図２に
示すように３分割光検出器３の一方の分割線を含む両側
の受光面ｄ，ｅに入射し、傾斜面４ｃを透過して平行平
面板９の反射面９ａで反射され、再び第１の光学部材４
ａに入射した戻り光は、３分割光検出器３の他方の分割
線を含む両側の受光面ｄ，ｆに入射する。ここで、受光
面ｄ，ｅに入射する戻り光および受光面ｄ，ｆに入射す
る戻り光は、記録媒体６が対物レンズ５の焦点位置に位
置する合焦状態で、それぞれの集束点が受光面の前後に
位置するようにする。なお、ホログラムレンズ８に、ブ
レーズ特性を有する回折格子を設けることによって、往
路においてホログラムレンズ８で回折される±１次光を
対物レンズ５の瞳外にもって行くことができ、これによ
り記録媒体６からの迷光を除去することができる。

【００２２】図２は、３分割光検出器３の受光面ｄ，
ｅ，ｆ上に形成される２分割された戻り光のビームスポ
ット形状を示すもので、図２（ａ）は、対物レンズ５の
焦点位置に記録媒体６が位置している合焦状態における
ビームスポット形状を示している。この合焦状態では、
フォーカスエラー信号ＳＦ は、 ＳＦ ＝ｄ−（ｅ＋ｆ）＝０ となる。

【００２３】図２（ｂ）は、記録媒体６が対物レンズ５
の焦点位置から対物レンズ側に近付いた状態におけるビ
ームスポット形状を示している。この状態では、戻り光
は図２（ａ）に示した合焦時に比べてより遠い位置で集
束するため、ビームスポットの大小関係が合焦時と逆に
なる。したがって、フォーカスエラー信号ＳＦ は、 ＳＦ ＝ｄ−（ｅ＋ｆ）＞０ となる。

【００２４】図２（ｃ）は、記録媒体６が対物レンズ５
の焦点位置から離れた状態におけるビームスポット形状
を示している。この状態では、戻り光は図２（ａ）に示
した合焦時に比べてより近い位置で集束するため、受光
素子ｄ，ｅ上にできるスポットは合焦時のスポットと形
状が反転し、受光素子ｄ，ｆ上にできるスポットは形状
が同じでより大きなものとなる。したがって、フォーカ
スエラー信号ＳＦ は、 ＳＦ ＝ｄ−（ｅ＋ｆ）＜０ となる。

【００２５】本実施の形態によれば、温度変化等によっ
て戻り光の光軸ずれが発生した場合でも、３分割光検出
器３に形成される２つのスポットは同じ方向に移動する
ことになるので、各スポットに生じるオフセットを相殺
することができ、焦点状態を常に正確に、安定した状態
で検出することができる。

【００２６】図３は、本発明に係る光学ピックアップ装
置の第２実施の形態の構成を示す図である。本実施の形
態では、図１に示した第１実施の形態の光学ピックアッ
プ装置において、マイクロプリズム４を構成する第1の
光学部材４ａの傾斜面４ｃを全て反射面として平行平面
板９を取り除くと共に、マイクロプリズム４の上面にホ
ログラムレンズ８に代えて、戻り光にフーコープリズム
効果が働くように回折格子を形成したホログラムレンズ
１０が接合したもので、その他の構成は第１実施の形態
と同様である。

【００２７】したがって、本実施の形態では、戻り光は
ホログラムレンズ１０にて断面２光束に分割され、これ
ら２光束は誘電体多層面４ｄおよび反射プリズム面４ｃ
にて反射されて位置のずれた２本のビームとなり、その
一方のビームが、第１実施の形態の場合と同様、図４に
示すように３分割光検出器３の一方の分割線を含む両側
の受光面ｄ，ｅに、他方のビームが他方の分割線を含む
両側の受光面ｄ，ｆに、それぞれの集束点が合焦状態に
おいて受光面の前後に位置するように入射することにな
る。

【００２８】図４は、図３に示した光学ピックアップ装
置の３分割光検出器３の受光面ｄ，ｅ，ｆ上に形成され
る戻り光のビームスポット形状を示すもので、スポット
形状の変化は、第４図に示すものと同じである。図４
（ａ）は、対物レンズ５の焦点位置に記録媒体６が位置
している合焦状態におけるビームスポット形状を示し、
この合焦状態では、フォーカスエラー信号ＳＦ は、 ＳＦ ＝ｄ−（ｅ＋ｆ）＝０ となる。

【００２９】図４（ｂ）は、記録媒体６が対物レンズ５
の焦点位置から対物レンズ側に近付いた状態におけるビ
ームスポット形状を示し、この状態では、フォーカスエ
ラー信号ＳＦ は、 ＳＦ ＝ｄ−（ｅ＋ｆ）＞０ となる。

【００３０】図４（ｃ）は、記録媒体６が対物レンズ５
の焦点位置から離れた状態におけるビームスポット形状
を示し、この状態では、フォーカスエラー信号ＳＦ
は、 ＳＦ ＝ｄ−（ｅ＋ｆ）＜０ となる。

【００３１】図５は、本発明に係る光学ピックアップ装
置の第３実施の形態の構成を示す図である。本実施の形
態は、第１実施の形態において、半導体基板１の表面に
さらにトラッキングエラー検出用の２分割光検出器１３
を形成すると共に、マイクロプリズム４の第１の光学部
材４ａにさらにビームスプリッタ４ｅを形成したもので
ある。ビームスプリッタ４ｅは、ビームスプリッタ４ｄ
と傾斜面４ｃとの間に平行に形成し、該ビームスプリッ
タ４ｅで反射される戻り光を２分割光検出器１３に入射
させ、透過する戻り光を傾斜面４ｃを経て、第１実施の
形態と同様にして３分割光検出器３に入射させるように
する。その他の構成は、第１実施の形態と同様である。

【００３２】本実施の形態において、面発光レーザ２か
ら出射されたレーザビームは、ビームスプリッタ４ｄお
よびホログラムレンズ８を透過し、対物レンズ５を介し
て記録媒体６上に集束する。記録媒体６からの戻り光
は、対物レンズ５を介してホログラムレンズ８で回折さ
れた後、ビームスプリッタ４ｄて反射され、さらにビー
ムスプリッタ４ｅに入射して反射光と透過光との２本の
光ビームに分離される。ビームスプリッタ４ｅで反射さ
れた光ビームは、トラッキングエラー検出用の２分割光
検出器１３に入射し、ビームスプリッタ４ｅを透過した
光ビームは、傾斜面４ｃで第１実施の形態と同様にして
平行平面板９の作用により、さらに２分割されて３分割
光検出器３に入射する。

【００３３】図６は、上記２分割光検出器１３および３
分割光検出器３の受光面の平面図である。本実施の形態
では、２分割光検出器１３の２個の受光領域ｇ、ｈの出
力の差から、プッシュプル法によりトラッキングエラー
信号を検出することができる。また、３分割光検出器３
の３個の受光領域ｄ，ｅ，ｆから、ｄ−（ｅ＋ｆ）を演
算することにより、第１実施の形態と同様にしてダブル
ナイフエッジ法によりフォーカスエラー信号を検出する
ことができ、さらに２分割光検出器１３および３分割光
検出器３の各受光領域ｄ〜ｈの出力の総和から情報信号
を得ることができる。

【００３４】上述した各実施の形態において、面発光レ
ーザ２は、１９９０年、オプトロニクス（ＯＰＴＲＯＮ
ＩＣＳ）、Ｎｏ．６に記載された垂直共振型面発光レー
ザを使用するのが好ましいが、同文献に記載されている
水平共振器型の面発光レーザや、曲がり共振器型の面発
光レーザを使用することもできる。例えば、上記の垂直
共振型面発光レーザを用いる場合には、＋電極がリング
電極として形成されているので、半導体基板の面発光レ
ーザ埋め込み部分を、面発光レーザの厚みよりやや厚め
にエッチングして、この埋め込み部分にリング状の錫半
田領域を設け、面発光レーザを埋め込み部分のエッジに
突き当てて位置決めを行なって、マイナス電極とマイク
ロプリズムの端面との間に間隙が形成されるように配置
する。

【００３５】また、半導体レーザは、面発光レーザに限
らず、ストライプ型のレーザを用いることもできる。こ
の場合、＋電極がレーザ構造の下面全面に形成されてい
るので、特開昭６３−３０６５４８号公報に記載されて
いるように、半導体基板上に錫半田領域を設け、この領
域に半導体レーザを半田付けして基板に固定すればよ
い。

【００３６】

【発明の効果】本発明に係る光学ユニットによれば、光
束分割手段により戻り光の断面を分割して複数の光束を
得、これらの光束を半導体基板上に２本の分割線で分割
された３つの受光領域を有する３分割光検出器の一方の
分割線を含む両側の受光領域と、他方の分割線を含む両
側の受光領域とに入射させ得るようにしたので、光学ピ
ックアップ装置に用いた場合に、一つの３分割光検出器
の出力に基づいて対物レンズの記録媒体に対する焦点状
態を検出することができる。したがって、受光領域の数
を少なくできるので、小型にできる。

【００３７】また、本発明に係る光学ピックアップ装置
によれば、上記の光学ユニットを用いて、半導体レーザ
からのレーザ光を対物レンズを経て記録媒体に照射し、
その戻り光の断面を光学ユニットにおいて光束分割手段
で分割して複数の光束を得、これらの光束を３分割光検
出器の一方の分割線を含む両側の受光領域と、他方の分
割線を含む両側の受光領域とに、対物レンズが記録媒体
に対して合焦状態にあるときに受光面に対して前後に集
光するように入射させて、該３分割光検出器の出力に基
づいて対物レンズの記録媒体に対する焦点状態を検出す
るようにしたので、３分割光検出器の出力を処理する演
算回路も少なくでき、装置を小型化できると共に、演算
回路との接続工数も減少でき、組み立ても容易にでき
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光学ピックアップ装置の第１実施
の形態の構成を示す図である。

【図２】図１に示す３分割光検出器上に形成される各焦
点状態における戻り光のスポット形状を示す図である。

【図３】本発明に係る光学ピックアップ装置の第２実施
の形態の構成を示す図である。

【図４】図３に示す３分割光検出器上に形成される各焦
点状態における戻り光のスポット形状を示す図である。

【図５】本発明に係る光学ピックアップ装置の第３実施
の形態の構成を示す図である。

【図６】図５に示す２分割光検出器および３分割光検出
器に形成される戻り光のスポット形状を示す図である。

【符号の説明】

１ 半導体基板 ２ 面発光レーザ ３ ３分割光検出器 ４ マイクロプリズム ５ 対物レンズ ６ 記録媒体 ８，１０ ホログラムレンズ ９ 平行平面板 １３ ２分割光検出器

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 半導体基板上に配置された半導体レーザ
   と、 前記半導体基板上に形成され、２本の分割線で分割され
   た３つの受光領域を有する３分割光検出器と、 前記半導体レーザからのレーザ光を記録媒体側に出射さ
   せ、前記記録媒体からの戻り光を前記３分割光検出器側
   に導く往復光路分離手段と、 前記３分割光検出器に入射する前記戻り光の断面を分割
   して複数の光束を得る光束分割手段とを有し、 前記光束分割手段で分割された複数の光束が、前記３分
   割光検出器の一方の分割線を含む両側の受光領域、およ
   び他方の分割線を含む両側の受光領域に入射し得るよう
   構成したことを特徴とする光学ユニット。
2. 【請求項２】 前記光束分割手段は、前記３分割光検出
   器上に配置され、該３分割光検出器の受光面に対して傾
   斜した傾斜面を有するプリズムと、このプリズムの前記
   傾斜面に接合して設けた平面板とを有し、前記往復光路
   分離手段で分離された前記戻り光を前記プリズムに入射
   させて、前記傾斜面で一部反射させると共に、該傾斜面
   を透過した光束の少なくとも一部を前記平面板に入射さ
   せて、該平面板の前記傾斜面との接合面と対向する面で
   反射させることにより複数の光束を得るよう構成したこ
   とを特徴とする請求項１記載の光学ユニット。
3. 【請求項３】 前記光束分割手段はホログラムを有し、
   該ホログラムにより前記記録媒体からの戻り光の断面を
   分割して複数の光束を得るようにしたことを特徴とする
   請求項１記載の光学ユニット。
4. 【請求項４】 前記往復光路分離手段は、前記半導体レ
   ーザ上に配置され、該半導体レーザからのレーザ光を透
   過または反射させ、前記記録媒体からの戻り光を反射ま
   たは透過させて往復光路を分離するビームスプリッタか
   らなることを特徴とする請求項１，２または３記載の光
   学ユニット。
5. 【請求項５】 さらに、前記半導体基板上に形成された
   ２分割光検出器と、該２分割光検出器上に配置され、前
   記往復光路分離手段で分離された前記戻り光を反射およ
   び透過させて、その一方を前記２分割光検出器に、他方
   を前記光束分割手段にそれぞれ導くビームスプリッタを
   有することを特徴とする請求項２記載の光学ユニット。
6. 【請求項６】 請求項１〜５のいずれか一項に記載の光
   学ユニットを用いる光学ピックアップ装置であって、 前記光学ユニットから出射される前記半導体レーザから
   のレーザ光を入射するように、前記光学ユニットと記録
   媒体との間に対物レンズを配置し、 前記３分割光検出器の一方の分割線を含む両側の受光領
   域に入射する光束と、他方の分割線を含む両側の受光領
   域に入射する光束とが、前記記録媒体が前記対物レンズ
   の焦点位置にある合焦状態で、前記３分割光検出器の受
   光面に対して前後に集光するようにして、該３分割光検
   出器の出力に基づいて前記対物レンズの前記記録媒体に
   対する焦点状態を検出するよう構成したことを特徴とす
   る光学ピックアップ装置。