JPH11316253A - 電磁妨害波測定装置 - Google Patents
電磁妨害波測定装置Info
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- JPH11316253A JPH11316253A JP13750298A JP13750298A JPH11316253A JP H11316253 A JPH11316253 A JP H11316253A JP 13750298 A JP13750298 A JP 13750298A JP 13750298 A JP13750298 A JP 13750298A JP H11316253 A JPH11316253 A JP H11316253A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、測定対象であるディジタル回路の
電磁波ノイズをより詳細に測定することができる電磁妨
害波測定装置を提供することにある。 【解決手段】 プリント配線基板１に実装されているデ
ジタル回路からクロック信号をクロック測定プローブ２
に入力し、プリント配線基板から発生される磁界信号を
磁界センサ３で検知する。ここで、磁界センサ３をプリ
ント配線基板１上の指定位置に検知位置移動部４で移動
しておき、クロック測定プローブ２からのクロック信号
と、磁界センサ３からの磁界信号とをデジタイザ５，６
で量子化し、量子化されたクロック信号及び磁界信号に
基づいて、指定される測定時間内に１回のクロック周期
毎に磁界信号の周波数成分を周波数解析部７で解析す
る。次に、解析された磁界信号の周波数成分パターンを
類似度に応じて類似度評価部８で分類して評価し、周波
数成分パターンを記憶部１０に記憶する。
電磁波ノイズをより詳細に測定することができる電磁妨
害波測定装置を提供することにある。 【解決手段】 プリント配線基板１に実装されているデ
ジタル回路からクロック信号をクロック測定プローブ２
に入力し、プリント配線基板から発生される磁界信号を
磁界センサ３で検知する。ここで、磁界センサ３をプリ
ント配線基板１上の指定位置に検知位置移動部４で移動
しておき、クロック測定プローブ２からのクロック信号
と、磁界センサ３からの磁界信号とをデジタイザ５，６
で量子化し、量子化されたクロック信号及び磁界信号に
基づいて、指定される測定時間内に１回のクロック周期
毎に磁界信号の周波数成分を周波数解析部７で解析す
る。次に、解析された磁界信号の周波数成分パターンを
類似度に応じて類似度評価部８で分類して評価し、周波
数成分パターンを記憶部１０に記憶する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、不要輻射の多い電
子部品が実装されたプリント配線基板の電磁波ノイズの
発生源を解析することができる電磁妨害波測定装置に関
する。
子部品が実装されたプリント配線基板の電磁波ノイズの
発生源を解析することができる電磁妨害波測定装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、特開平６−５８９７０号公報に記
載されている「両面妨害波測定装置」においては、複数
のループアンテナを碁盤目次に並べ近傍磁界を測定する
方法、あるいは直線ステージでループアンテナの位置制
御を行って近傍磁界を測定する方法等が提案されてお
り、時間平均的な大まかな近傍磁界の強度分布を調べる
のに利点を有していた。
載されている「両面妨害波測定装置」においては、複数
のループアンテナを碁盤目次に並べ近傍磁界を測定する
方法、あるいは直線ステージでループアンテナの位置制
御を行って近傍磁界を測定する方法等が提案されてお
り、時間平均的な大まかな近傍磁界の強度分布を調べる
のに利点を有していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
「両面妨害波測定装置」に用いられる測定手法にあって
は、ディジタル回路の近傍磁界を調べる場合、ディジタ
ル回路の電流波形が非周期的な波形であるため、近傍磁
界の強度分布をより詳細に調べることができないといっ
た問題があった。
「両面妨害波測定装置」に用いられる測定手法にあって
は、ディジタル回路の近傍磁界を調べる場合、ディジタ
ル回路の電流波形が非周期的な波形であるため、近傍磁
界の強度分布をより詳細に調べることができないといっ
た問題があった。
【０００４】本発明は、上記に鑑みてなされたもので、
その目的としては、測定対象であるディジタル回路の電
磁波ノイズをより詳細に測定することができる電磁妨害
波測定装置を提供することにある。
その目的としては、測定対象であるディジタル回路の電
磁波ノイズをより詳細に測定することができる電磁妨害
波測定装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
上記課題を解決するため、プリント配線基板に実装され
ているデジタル回路からクロック信号を入力するクロッ
ク信号入力手段と、このプリント配線基板に実装されて
いるデジタル回路を含む電子部品から発生される不要輻
射の磁界信号を検知する磁界検知手段と、この磁界検知
手段を前記プリント配線基板上の指定位置に移動する検
知位置移動手段と、前記クロック信号入力手段からのク
ロック信号と、前記磁界検知手段からの磁界信号とを量
子化する量子化手段と、この量子化手段により量子化さ
れたクロック信号及び磁界信号に基づいて、指定される
測定時間内に１回のクロック周期毎に磁界信号の周波数
成分を解析する周波数解析手段と、この周波数解析手段
で解析された磁界信号の周波数成分パターンを類似度に
応じて分類して評価する類似度評価手段と、この類似度
評価手段により評価された周波数成分パターンを記憶す
る記憶手段と、前記検知位置移動手段に指定位置を設定
するとともに、前記周波数解析手段に測定時間を設定す
る制御手段とを備えたことを要旨とする。
上記課題を解決するため、プリント配線基板に実装され
ているデジタル回路からクロック信号を入力するクロッ
ク信号入力手段と、このプリント配線基板に実装されて
いるデジタル回路を含む電子部品から発生される不要輻
射の磁界信号を検知する磁界検知手段と、この磁界検知
手段を前記プリント配線基板上の指定位置に移動する検
知位置移動手段と、前記クロック信号入力手段からのク
ロック信号と、前記磁界検知手段からの磁界信号とを量
子化する量子化手段と、この量子化手段により量子化さ
れたクロック信号及び磁界信号に基づいて、指定される
測定時間内に１回のクロック周期毎に磁界信号の周波数
成分を解析する周波数解析手段と、この周波数解析手段
で解析された磁界信号の周波数成分パターンを類似度に
応じて分類して評価する類似度評価手段と、この類似度
評価手段により評価された周波数成分パターンを記憶す
る記憶手段と、前記検知位置移動手段に指定位置を設定
するとともに、前記周波数解析手段に測定時間を設定す
る制御手段とを備えたことを要旨とする。
【０００６】請求項２記載の発明は、上記課題を解決す
るため、前記周波数解析手段は、指定された周波数を含
まない周波数成分パターンの生成を禁止することを要旨
とする。
るため、前記周波数解析手段は、指定された周波数を含
まない周波数成分パターンの生成を禁止することを要旨
とする。
【０００７】請求項３記載の発明は、上記課題を解決す
るため、前記記憶手段は、前記プリント配線基板上の少
なくとも２つ以上の指定位置で検知した磁界信号の類似
度によるグループの発生順序に基づいて、相関の高い周
波数成分パターンを関連付けて記憶することを要旨とす
る。
るため、前記記憶手段は、前記プリント配線基板上の少
なくとも２つ以上の指定位置で検知した磁界信号の類似
度によるグループの発生順序に基づいて、相関の高い周
波数成分パターンを関連付けて記憶することを要旨とす
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。 （第１の実施の形態）図１は、本発明の第１の実施の形
態に係る電磁妨害波測定装置の構成を示す図である。
を参照して説明する。 （第１の実施の形態）図１は、本発明の第１の実施の形
態に係る電磁妨害波測定装置の構成を示す図である。
【０００９】図１に示すように、本実施の形態における
電磁妨害波測定装置は、ディジタル回路を含む電子部品
を有する測定対象物としてのプリント配線基板１と、プ
リント配線基板１に実装されているデジタル回路からク
ロック信号を入力するクロック測定プローブ２と、プリ
ント配線基板１に実装されているデジタル回路を含む電
子部品から発生される不要輻射の磁界信号を検知する磁
界センサ３と、磁界センサ３をプリント配線基板１上の
指定位置に移動するセンサ位置移動部４と、クロック測
定プローブ２からのクロック信号と、磁界センサ３から
の磁界信号とをアナログ／ディジタル変換して量子化す
るデジタイザ５，６と、デジタイザ５，６により量子化
されたクロック信号及び磁界信号に基づいて、指定され
た測定時間内に１回のクロック周期毎に磁界信号の周波
数成分を高速フーリエ変換ＦＦＴを用いて解析する周波
数解析部７と、周波数解析部７で解析された磁界信号の
周波数成分パターンを類似度に応じて分類して評価する
類似度評価部８と、センサ位置移動部４に指定位置を設
定するとともに、周波数解析部７に測定時間を設定する
中央制御部９と、類似度評価部８により分類された周波
数成分パターンを記憶するデータ記憶部１０とから構成
されている。
電磁妨害波測定装置は、ディジタル回路を含む電子部品
を有する測定対象物としてのプリント配線基板１と、プ
リント配線基板１に実装されているデジタル回路からク
ロック信号を入力するクロック測定プローブ２と、プリ
ント配線基板１に実装されているデジタル回路を含む電
子部品から発生される不要輻射の磁界信号を検知する磁
界センサ３と、磁界センサ３をプリント配線基板１上の
指定位置に移動するセンサ位置移動部４と、クロック測
定プローブ２からのクロック信号と、磁界センサ３から
の磁界信号とをアナログ／ディジタル変換して量子化す
るデジタイザ５，６と、デジタイザ５，６により量子化
されたクロック信号及び磁界信号に基づいて、指定され
た測定時間内に１回のクロック周期毎に磁界信号の周波
数成分を高速フーリエ変換ＦＦＴを用いて解析する周波
数解析部７と、周波数解析部７で解析された磁界信号の
周波数成分パターンを類似度に応じて分類して評価する
類似度評価部８と、センサ位置移動部４に指定位置を設
定するとともに、周波数解析部７に測定時間を設定する
中央制御部９と、類似度評価部８により分類された周波
数成分パターンを記憶するデータ記憶部１０とから構成
されている。
【００１０】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。まず、中央制御部９は、磁界
センサ３をプリント配線基板１上の指定位置に移動する
ために、センサ位置移動部４に位置指定信号を出力す
る。次に、センサ位置移動部４は、この位置指定信号に
応じてプリント配線基板１上の指定位置に磁界センサ３
を移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プリン
ト配線基板１のクロック部分に接続しており、ク口ック
信号をデジタイザ５に送れるようになっている。
定装置の動作を説明する。まず、中央制御部９は、磁界
センサ３をプリント配線基板１上の指定位置に移動する
ために、センサ位置移動部４に位置指定信号を出力す
る。次に、センサ位置移動部４は、この位置指定信号に
応じてプリント配線基板１上の指定位置に磁界センサ３
を移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プリン
ト配線基板１のクロック部分に接続しており、ク口ック
信号をデジタイザ５に送れるようになっている。
【００１１】デジタイザ５，６は、中央制御部９からの
制御信号に応じて、クロック測定プローブにより入力し
たクロック信号、磁界センサ３により入力した磁界信号
をアナログ／デジタル変換して量子化し、このデータを
周波数解析部７に送る。
制御信号に応じて、クロック測定プローブにより入力し
たクロック信号、磁界センサ３により入力した磁界信号
をアナログ／デジタル変換して量子化し、このデータを
周波数解析部７に送る。
【００１２】周波数解析部７は、中央制御部９で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。この結果、図２に示すように、時系列毎にａ
１，ｂ１，ｃ１，ａ２，ｂ２，ｃ２，ｃ３，ａ３，ｃ４
のタイムスペクトラムパターンが生成される。
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。この結果、図２に示すように、時系列毎にａ
１，ｂ１，ｃ１，ａ２，ｂ２，ｃ２，ｃ３，ａ３，ｃ４
のタイムスペクトラムパターンが生成される。
【００１３】次に、類似度評価部８は、それぞれのタイ
ムスペクトラムパターンの類似度を評価し、図３に示す
ように、グループａ，グループｂ，グループｃの３つの
グループに分類してデータ記憶部１０に記憶する。ここ
で、電磁妨害波のＶＣＣＩ規格では、繰り返しの多い電
磁妨害波が強く評価されるので、類似度評価部８は、発
生頻度の高いグループＣから評価を行なう。これによ
り、プリント配線基板１で１クロックの周期の間でもタ
イムスペクトラムが変動する電磁波ノイズをより詳細に
測定することができる。
ムスペクトラムパターンの類似度を評価し、図３に示す
ように、グループａ，グループｂ，グループｃの３つの
グループに分類してデータ記憶部１０に記憶する。ここ
で、電磁妨害波のＶＣＣＩ規格では、繰り返しの多い電
磁妨害波が強く評価されるので、類似度評価部８は、発
生頻度の高いグループＣから評価を行なう。これによ
り、プリント配線基板１で１クロックの周期の間でもタ
イムスペクトラムが変動する電磁波ノイズをより詳細に
測定することができる。
【００１４】（第２の実施の形態）本発明の第２の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
【００１５】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プ
リント配線基板１のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ５，６に送れるようになってい
る。デジタイザ５，６は、中央制御部９からの制御信号
によりクロック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変
換して量子化し、周波数解析部７にデータを送る。
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プ
リント配線基板１のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ５，６に送れるようになってい
る。デジタイザ５，６は、中央制御部９からの制御信号
によりクロック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変
換して量子化し、周波数解析部７にデータを送る。
【００１５】周波数解析部７は、中央制御部９で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。
【００１６】ここで、一般には規制値を超える電磁波ノ
イズの周波数は予め分かっているので、中央制御部９は
この該当周波数を周波数解析部７に設定する。次に、周
波数解析部７は、このような該当周波数を含まないタイ
ムスペクトラムパターンの生成を禁止する。そして、類
似度評価部８は、タイムスペクトラムパターンの類似度
を評価し、グループに分類して、データ記憶部１０に記
憶する。
イズの周波数は予め分かっているので、中央制御部９は
この該当周波数を周波数解析部７に設定する。次に、周
波数解析部７は、このような該当周波数を含まないタイ
ムスペクトラムパターンの生成を禁止する。そして、類
似度評価部８は、タイムスペクトラムパターンの類似度
を評価し、グループに分類して、データ記憶部１０に記
憶する。
【００１７】このように、周波数解析部７が該当周波数
を含まないタイムスペクトラムパターンの生成を禁止す
ることで、該当周波数を含まないタイムスペクトラムの
類似度評価処理に要する計算時間を省くことができる。
を含まないタイムスペクトラムパターンの生成を禁止す
ることで、該当周波数を含まないタイムスペクトラムの
類似度評価処理に要する計算時間を省くことができる。
【００１８】（第３の実施の形態）図４は、本発明の第
３の実施の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成を示す
図である。図４に示すように、本実施の形態における電
磁妨害波測定装置の特徴は、磁界センサ３とは別に磁界
センサ１１を格子状の任意の位置に移動して測定を行な
うことにある。
３の実施の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成を示す
図である。図４に示すように、本実施の形態における電
磁妨害波測定装置の特徴は、磁界センサ３とは別に磁界
センサ１１を格子状の任意の位置に移動して測定を行な
うことにある。
【００１９】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３，１１をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上
の指定位置にそれぞれ移動する。この時、図５に示すよ
うに、プリント配線基板１のクロック回路あるいは中央
演算処理部の近傍に一方の磁界センサ３を置き、他方の
磁界センサ１１を格子状の任意の位置に移動して測定を
行なうようにする。
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３，１１をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上
の指定位置にそれぞれ移動する。この時、図５に示すよ
うに、プリント配線基板１のクロック回路あるいは中央
演算処理部の近傍に一方の磁界センサ３を置き、他方の
磁界センサ１１を格子状の任意の位置に移動して測定を
行なうようにする。
【００２０】一方、クロック測定プローブ２は、プリン
ト配線基板１のクロック部分に接続しており、クロック
信号をデジタイザ５に送れるようになっている。デジタ
イザ５，６は、中央制御部９からの制御信号によりクロ
ック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して量子
化し、周波数解析部７にデータを送る。
ト配線基板１のクロック部分に接続しており、クロック
信号をデジタイザ５に送れるようになっている。デジタ
イザ５，６は、中央制御部９からの制御信号によりクロ
ック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して量子
化し、周波数解析部７にデータを送る。
【００２１】ここで、磁界センサ３のデータを標準磁界
データ、磁界センサ１１のデータを測定磁界データとす
ると、周波数解析部７は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部９で決められたー定時間の磁界信号
の周波数成分を解析する。周波数解析は、短時間だけ高
速フーリエ変換ＦＦＴを用いてクロック信号の１周期毎
に標準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析
を行なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパ
ターンが生成され、類似度評価部８で標準磁界データに
ついてタイムスペクトラムパターンの類似度が評価さ
れ、グループに分類され対応する測定磁界データがデー
タ記憶部１０に記憶される。
データ、磁界センサ１１のデータを測定磁界データとす
ると、周波数解析部７は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部９で決められたー定時間の磁界信号
の周波数成分を解析する。周波数解析は、短時間だけ高
速フーリエ変換ＦＦＴを用いてクロック信号の１周期毎
に標準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析
を行なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパ
ターンが生成され、類似度評価部８で標準磁界データに
ついてタイムスペクトラムパターンの類似度が評価さ
れ、グループに分類され対応する測定磁界データがデー
タ記憶部１０に記憶される。
【００２２】このように、磁界センサを１つ追加し、１
つは測定対象物のクロック回路部の近傍に置き、タイム
スペクトルパターンを分類する時に測定対象物のクロッ
ク回路近傍の磁界センサからのタイムスペクトルパター
ンを用いて分類することで、測定対象であるディジタル
回路のクロック回路部から離れた測定位置の磁界データ
をもクロック信号に同期した状態で測定することができ
る。
つは測定対象物のクロック回路部の近傍に置き、タイム
スペクトルパターンを分類する時に測定対象物のクロッ
ク回路近傍の磁界センサからのタイムスペクトルパター
ンを用いて分類することで、測定対象であるディジタル
回路のクロック回路部から離れた測定位置の磁界データ
をもクロック信号に同期した状態で測定することができ
る。
【００２３】（第４の実施の形態）本発明の第４の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図４に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図４に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
【００２４】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３，１１をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上
の指定位置に移動する。この時、図５に示すように、プ
リント配線基板１のクロック回路あるいは中央演算処理
部の近傍に磁界センサ３を置く一方、センサ１１を格子
状の任意の位置で測定を行なうようにする。クロック測
定プローブ２は、プリント配線基板１のクロック部分に
接続しており、クロック信号をデジタイザ５に送れるよ
うになっている。デジタイザ５，６は、中央制御部９か
らの制御信号によりクロック信号、磁界信号をアナログ
／デジタル変換して量子化し、周波数解析部７にデータ
を送る。
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３，１１をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上
の指定位置に移動する。この時、図５に示すように、プ
リント配線基板１のクロック回路あるいは中央演算処理
部の近傍に磁界センサ３を置く一方、センサ１１を格子
状の任意の位置で測定を行なうようにする。クロック測
定プローブ２は、プリント配線基板１のクロック部分に
接続しており、クロック信号をデジタイザ５に送れるよ
うになっている。デジタイザ５，６は、中央制御部９か
らの制御信号によりクロック信号、磁界信号をアナログ
／デジタル変換して量子化し、周波数解析部７にデータ
を送る。
【００２５】ここで、磁界センサ３のデータを標準磁界
データ、磁界センサ１１のデータを測定磁界デー夕とす
ると、周波数解析部７は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部９で決められたー定時間の磁界信号
の波数成分を解析する。周波数解析は、時間だけ高速フ
ーリエ変換ＦＦＴを用いてクロック信号の１周期毎に標
準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析を行
なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパター
ンが生成され、類似度評価部８は、標準磁界データ、測
定磁界データについてタイムスペクトラムパターンの類
似度を評価し、標準磁界データ、測定磁界データのうち
類似度の高いデータをグループに分類してデータ記憶部
１０に記憶する。
データ、磁界センサ１１のデータを測定磁界デー夕とす
ると、周波数解析部７は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部９で決められたー定時間の磁界信号
の波数成分を解析する。周波数解析は、時間だけ高速フ
ーリエ変換ＦＦＴを用いてクロック信号の１周期毎に標
準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析を行
なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパター
ンが生成され、類似度評価部８は、標準磁界データ、測
定磁界データについてタイムスペクトラムパターンの類
似度を評価し、標準磁界データ、測定磁界データのうち
類似度の高いデータをグループに分類してデータ記憶部
１０に記憶する。
【００２６】このように、磁界センサを１つ追加し、１
つは測定対象物のクロック回路の近傍に置き、タイムス
ペクトルパターンを分類する時に、定対象物のクロック
回路の近傍の磁界センサからのパターンと、もう１つの
磁界センサからのパターンのうち、もってデータ記憶部
１０に記憶されているパターンとの類似度が高い方のパ
ターンを記憶することで、２つある磁界センサを用い
て、よりクロック信号に同期した方の電磁波ノイズを測
定することができる。
つは測定対象物のクロック回路の近傍に置き、タイムス
ペクトルパターンを分類する時に、定対象物のクロック
回路の近傍の磁界センサからのパターンと、もう１つの
磁界センサからのパターンのうち、もってデータ記憶部
１０に記憶されているパターンとの類似度が高い方のパ
ターンを記憶することで、２つある磁界センサを用い
て、よりクロック信号に同期した方の電磁波ノイズを測
定することができる。
【００２７】（第５の実施の形態）本発明の第５の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
【００２８】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プ
リント配線基板１のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ５に送れるようになっている。デ
ジタイザ５，６は、中央制御部９からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して
量子化し、周波数解析部７にデータを送る。
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プ
リント配線基板１のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ５に送れるようになっている。デ
ジタイザ５，６は、中央制御部９からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して
量子化し、周波数解析部７にデータを送る。
【００２９】周波数解析部７は、中央制御部９で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。この結果、周波数解析部７でタイムスペクト
ラムパターンが生成される。そして、類似度評価部８
は、このタイムスペクトラムパターンの類似度を評価
し、類似度があるー定値を超えたタイムスペクトラムパ
ターンをグループに分類し、データ記憶部１０に記憶す
る。一方、類似度評価をおこなう場合に、類似度がある
一定値を超えないときには、データ記憶部１０に記憶し
ないようにする。
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。この結果、周波数解析部７でタイムスペクト
ラムパターンが生成される。そして、類似度評価部８
は、このタイムスペクトラムパターンの類似度を評価
し、類似度があるー定値を超えたタイムスペクトラムパ
ターンをグループに分類し、データ記憶部１０に記憶す
る。一方、類似度評価をおこなう場合に、類似度がある
一定値を超えないときには、データ記憶部１０に記憶し
ないようにする。
【００３０】このように、類似度評価を行う場合に、あ
る一定値を超えないときには、データ記憶部１０に記憶
しないことで、測定された電磁波ノイズがクロック信号
に同期していない場合は類似度評価処理に要する無駄な
計算を省くことができる。
る一定値を超えないときには、データ記憶部１０に記憶
しないことで、測定された電磁波ノイズがクロック信号
に同期していない場合は類似度評価処理に要する無駄な
計算を省くことができる。
【００３１】（第６の実施の形態）本発明の第６の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図４に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図４に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
【００３２】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３，１１をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上
の指定位置に移動する。この時、図５に示すように、プ
リント配線基板１のクロック回路あるいは中央演算処理
部の近傍に磁界センサ３を置く一方、磁界センサ１１を
格子状の任意の位置で測定を行なうようにする。クロッ
ク測定プローブ２は、プリント配線基板１のクロック部
分に接続しており、クロック信号をデジタイザ５に送れ
るようになっている。デジタイザ５，６は、中央制御部
９からの制御信号によりクロック信号、磁界信号をアナ
ログ／デジタル変換して量子化し、周波数解析部７にデ
ータを送る。
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３，１１をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上
の指定位置に移動する。この時、図５に示すように、プ
リント配線基板１のクロック回路あるいは中央演算処理
部の近傍に磁界センサ３を置く一方、磁界センサ１１を
格子状の任意の位置で測定を行なうようにする。クロッ
ク測定プローブ２は、プリント配線基板１のクロック部
分に接続しており、クロック信号をデジタイザ５に送れ
るようになっている。デジタイザ５，６は、中央制御部
９からの制御信号によりクロック信号、磁界信号をアナ
ログ／デジタル変換して量子化し、周波数解析部７にデ
ータを送る。
【００３３】ここで、磁界センサ３のデータを標準磁界
データ、磁界センサ１１のデータを測定磁界データとす
ると、周波数解析部７は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部９で決められたー定時間の磁界信号
の周波数成分を解析する。周波数解析は、短時間だけ高
速フーリエ変換ＦＦＴを用いてクロック信号の１周期毎
に標準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析
を行なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパ
ターンが生成され、標準磁界データについてのタイムス
ペクトラムパターンの類似度が評価される。
データ、磁界センサ１１のデータを測定磁界データとす
ると、周波数解析部７は、クロック信号をリファレンス
として、中央制御部９で決められたー定時間の磁界信号
の周波数成分を解析する。周波数解析は、短時間だけ高
速フーリエ変換ＦＦＴを用いてクロック信号の１周期毎
に標準磁界、測定磁界データについて周波数成分の解析
を行なう。この結果、それぞれのタイムスペクトラムパ
ターンが生成され、標準磁界データについてのタイムス
ペクトラムパターンの類似度が評価される。
【００３４】ここで、図６（１）に、磁界センサ１１を
ある指定位置に移動した時の標準磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを示す。なお、ａ１，ａ２，ａ３，
は類似度の高いパターンとする。また、図６（２）に、
別の指定位置に移動した時の標準磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを示す。ここで、類似度の高いパタ
ーンの発生順序が同じものの測定磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを関連づけてデータ記憶部１０に記
憶する。
ある指定位置に移動した時の標準磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを示す。なお、ａ１，ａ２，ａ３，
は類似度の高いパターンとする。また、図６（２）に、
別の指定位置に移動した時の標準磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを示す。ここで、類似度の高いパタ
ーンの発生順序が同じものの測定磁界データのタイムス
ペクトラムパターンを関連づけてデータ記憶部１０に記
憶する。
【００３５】このように、ある指定位置で測定した磁界
データの類似度によるグループの発生順序と、別の指定
位置で測定した磁界データの類似度によるグループの発
生順序に基づいて、相関の高いタイムスペクトラムパタ
ーンの方を関連付けてデータ記憶部１０に記憶すること
で、同じグループのタイムスペクトラムでも発生順序に
応じて対応づけることができる。
データの類似度によるグループの発生順序と、別の指定
位置で測定した磁界データの類似度によるグループの発
生順序に基づいて、相関の高いタイムスペクトラムパタ
ーンの方を関連付けてデータ記憶部１０に記憶すること
で、同じグループのタイムスペクトラムでも発生順序に
応じて対応づけることができる。
【００３６】（第７の実施の形態）本発明の第７の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
【００３７】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プ
リント配線基板１のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ５に送れるようになっている。デ
ジタイザ５，６は、中央制御部９からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して
量子化し、周波数解析部７にデータを送る。
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プ
リント配線基板１のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ５に送れるようになっている。デ
ジタイザ５，６は、中央制御部９からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して
量子化し、周波数解析部７にデータを送る。
【００３８】周波数解析部７は、中央制御部９で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、図７（１）のように、周波数解析部
７から出力されたタイムスペクトラムパターンは、ａ
１，ｂ１，ｃ１，ａ２，ｂ２． ． ． となってい
る。類似度評価部８でタイムペクトラムパターンを評価
する場合に、図７（２）に示すように、グループａには
ａ１，ａ２が、グループｂにはｂ１，ｂ２が、グループ
ｃにはｃ１，ｃ２，ｃ３が分類されているとする。そこ
で、新たにパターンａ３の類似度を評価する場合には、
グループａに属するａ１，ａ２を平均した平均パターン
を用いて類似度を評価して、データ記憶部１０に記憶す
る。
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、図７（１）のように、周波数解析部
７から出力されたタイムスペクトラムパターンは、ａ
１，ｂ１，ｃ１，ａ２，ｂ２． ． ． となってい
る。類似度評価部８でタイムペクトラムパターンを評価
する場合に、図７（２）に示すように、グループａには
ａ１，ａ２が、グループｂにはｂ１，ｂ２が、グループ
ｃにはｃ１，ｃ２，ｃ３が分類されているとする。そこ
で、新たにパターンａ３の類似度を評価する場合には、
グループａに属するａ１，ａ２を平均した平均パターン
を用いて類似度を評価して、データ記憶部１０に記憶す
る。
【００３９】このように、類似度によってデータ記憶部
１０にグループ化されたタイムスペクトラムパターン
と、新たな測定データのタイムスペクトラムパターンの
類似度評価を行なう場合に、グループ化されたタイムス
ペクトラムパターンの平均パターンと評価を行うこと
で、より正確な類似度評価を行うことができる。
１０にグループ化されたタイムスペクトラムパターン
と、新たな測定データのタイムスペクトラムパターンの
類似度評価を行なう場合に、グループ化されたタイムス
ペクトラムパターンの平均パターンと評価を行うこと
で、より正確な類似度評価を行うことができる。
【００４０】（第８の実施の形態）本発明の第８の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
【００４１】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。クロック測定プローブ２は、プリント
配線基板１のクロック部分に接続しており、クロック信
号をデジタイザ５に送れるようになっている。デジタイ
ザ５，６は中央制御部９からの制御信号によりクロック
信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して量子化
し、周波数解析部７にデータを送る。
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。クロック測定プローブ２は、プリント
配線基板１のクロック部分に接続しており、クロック信
号をデジタイザ５に送れるようになっている。デジタイ
ザ５，６は中央制御部９からの制御信号によりクロック
信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して量子化
し、周波数解析部７にデータを送る。
【００４２】周波数解析部７は、中央制御部９で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、生成したタイムスペクトルパターン
について類似度評価部８で類似度の評価を行なうが、実
際はかなり複雑な計算となってしまう。そこで、生成し
たタイムスペクトルパターンについて、ある基準値を超
えたものを１、超えないものを０として図８（１）、
（２）に示す０１パターンを生成する。このパターンに
ついて、例えば論理積の和をとれば類似度を簡単に求め
ることができる。そして、このパターンをグループに分
類し、データ記憶部１０に記憶する。
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、生成したタイムスペクトルパターン
について類似度評価部８で類似度の評価を行なうが、実
際はかなり複雑な計算となってしまう。そこで、生成し
たタイムスペクトルパターンについて、ある基準値を超
えたものを１、超えないものを０として図８（１）、
（２）に示す０１パターンを生成する。このパターンに
ついて、例えば論理積の和をとれば類似度を簡単に求め
ることができる。そして、このパターンをグループに分
類し、データ記憶部１０に記憶する。
【００４３】このように、タイムスペクトラムパターン
を０１パターンに変換し、論理積の和をとることで、類
似度評価の処理を簡略化することができる。
を０１パターンに変換し、論理積の和をとることで、類
似度評価の処理を簡略化することができる。
【００４４】（第９の実施の形態）本発明の第８の実施
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
の形態に係る電磁妨害波測定装置の構成は、図１に示す
構成と同様であり、その構成の説明を省略する。
【００４５】次に、このように構成された電磁妨害波測
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プ
リント配線基板１のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ５に送れるようになっている。デ
ジタイザ５，６は、中央制御部９からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して
量子化し、周波数解析部７にデータを送る。
定装置の動作を説明する。中央制御部９は、磁界センサ
３をセンサ位置移動部４でプリント配線基板１上の指定
位置に移動する。一方、クロック測定プローブ２は、プ
リント配線基板１のクロック部分に接続しており、クロ
ック信号をデジタイザ５に送れるようになっている。デ
ジタイザ５，６は、中央制御部９からの制御信号により
クロック信号、磁界信号をアナログ／デジタル変換して
量子化し、周波数解析部７にデータを送る。
【００４６】周波数解析部７は、中央制御部９で決めら
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、生成したタイムスペクトルパターン
について類似度評価部８で類似度の評価を行ない、グル
ープに分類してデータ記憶部１０に記憶する。
れたー定の測定時間の磁界信号を高速フーリエ変換ＦＦ
Ｔを用いてクロック信号の１周期毎に周波数成分の解析
を行なう。ここで、生成したタイムスペクトルパターン
について類似度評価部８で類似度の評価を行ない、グル
ープに分類してデータ記憶部１０に記憶する。
【００４７】図９に示すように、（１）、（２）、
（３）のタイムスペクトラムパターンがデータ記憶部１
０に記憶されているとする。それぞれのパターンの共通
部分は「共通部分１〜３」、差異は「差異部分１〜３」
となっている。そして、図９の（４）のように差異部分
を強調して再度、データ記憶部１０に記憶する。
（３）のタイムスペクトラムパターンがデータ記憶部１
０に記憶されているとする。それぞれのパターンの共通
部分は「共通部分１〜３」、差異は「差異部分１〜３」
となっている。そして、図９の（４）のように差異部分
を強調して再度、データ記憶部１０に記憶する。
【００４８】このように、データ記憶部１０に記憶した
グループ化されたタイムスペクトラムパターンについ
て、それぞれのパターンの差異部分のパターンの値を大
きくして再度、データ記憶部１０に記憶することで、以
たようなタイムスペクトラムパターンでも、より正確に
類似度を評価することができる。
グループ化されたタイムスペクトラムパターンについ
て、それぞれのパターンの差異部分のパターンの値を大
きくして再度、データ記憶部１０に記憶することで、以
たようなタイムスペクトラムパターンでも、より正確に
類似度を評価することができる。
【００４９】
【発明の効果】以上、説明したように、請求項１記載の
本発明によれば、測定対象であるディジタル回路の１ク
ロックの周期でもスぺクトラムが変動する電磁波ノイズ
をより詳細に測定することができる。
本発明によれば、測定対象であるディジタル回路の１ク
ロックの周期でもスぺクトラムが変動する電磁波ノイズ
をより詳細に測定することができる。
【００５０】請求項２記載の本発明によれば、該当周波
数を含まないタイムスペクトラムの計算時間を省くこと
ができる。
数を含まないタイムスペクトラムの計算時間を省くこと
ができる。
【００５１】請求項３記載の本発明によれば、同じグル
ープのタイムスペクトラムでも発生順序に応じて対応づ
けることができる。
ープのタイムスペクトラムでも発生順序に応じて対応づ
けることができる。
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る電磁妨害波測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図２】時系列毎に並べられた生成後のタイムスペクト
ラムパターンを示す図である。
ラムパターンを示す図である。
【図３】グループに分類されたタイムスペクトラムパタ
ーンを示す図である。
ーンを示す図である。
【図４】本発明の第３の実施の形態に係る電磁妨害波測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図５】プリント配線基板１のクロック回路あるいは中
央演算処理部の近傍に一方の磁界センサ３を置き、他方
の磁界センサ１１を格子状の任意の位置に移動して測定
を行なう様子を示す図である。
央演算処理部の近傍に一方の磁界センサ３を置き、他方
の磁界センサ１１を格子状の任意の位置に移動して測定
を行なう様子を示す図である。
【図６】磁界センサ１１をある位置に移動した時の標準
磁界データのタイムスペクトラムパターンを示す図
（１）と、別の位置に移動した時の標準磁界データのタ
イムスペクトラムパターンを示す図（２）である。
磁界データのタイムスペクトラムパターンを示す図
（１）と、別の位置に移動した時の標準磁界データのタ
イムスペクトラムパターンを示す図（２）である。
【図７】周波数解析部７から出力されたタイムスペクト
ラムパターン（１）と、類似度評価部８で３つのグルー
プに分類された様子を示す図（２）である。
ラムパターン（１）と、類似度評価部８で３つのグルー
プに分類された様子を示す図（２）である。
【図８】類似度評価部８で０１パターンが生成される様
子を示す図である。
子を示す図である。
【図９】データ記憶部１０に記憶されている「共通部分
１〜３」、「差異部分１〜３」を示す図（１），
（２），（３）及び、差異部分を強調した様子を示す図
（４）である。
１〜３」、「差異部分１〜３」を示す図（１），
（２），（３）及び、差異部分を強調した様子を示す図
（４）である。
１ ディジタル回路 ２ クロック測定プローブ ３ 磁界センサ ４ センサ位置移動部 ５ デジタイザ ６ デジタイザ ７ 周波数解析部 ８ 類似度評価部 ９ 中央制御部 １０ データ記憶部 １１ 磁界センサ
Claims (3)
- 【請求項１】 プリント配線基板に実装されているデジ
タル回路からクロック信号を入力するクロック信号入力
手段と、 このプリント配線基板に実装されているデジタル回路を
含む電子部品から発生される不要輻射の磁界信号を検知
する磁界検知手段と、 この磁界検知手段を前記プリント配線基板上の指定位置
に移動する検知位置移動手段と、 前記クロック信号入力手段からのクロック信号と、前記
磁界検知手段からの磁界信号とを量子化する量子化手段
と、 この量子化手段により量子化されたクロック信号及び磁
界信号に基づいて、指定される測定時間内に１回のクロ
ック周期毎に磁界信号の周波数成分を解析する周波数解
析手段と、 この周波数解析手段で解析された磁界信号の周波数成分
パターンを類似度に応じて分類して評価する類似度評価
手段と、 この類似度評価手段により評価された周波数成分パター
ンを記憶する記憶手段と、 前記検知位置移動手段に指定位置を設定するとともに、
前記周波数解析手段に測定時間を設定する制御手段とを
備えたことを特徴とする電磁妨害波測定装置。 - 【請求項２】 前記周波数解析手段は、 指定された周波数を含まない周波数成分パターンの生成
を禁止することを特徴とする請求項１記載の電磁妨害波
測定装置。 - 【請求項３】 前記記憶手段は、 前記プリント配線基板上の少なくとも２つ以上の指定位
置で検知した磁界信号の類似度によるグループの発生順
序に基づいて、相関の高い周波数成分パターンを関連付
けて記憶することを特徴とする請求項１記載の電磁妨害
波測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13750298A JP3603143B2 (ja) | 1998-05-01 | 1998-05-01 | 電磁妨害波測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13750298A JP3603143B2 (ja) | 1998-05-01 | 1998-05-01 | 電磁妨害波測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11316253A true JPH11316253A (ja) | 1999-11-16 |
| JP3603143B2 JP3603143B2 (ja) | 2004-12-22 |
Family
ID=15200174
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13750298A Expired - Fee Related JP3603143B2 (ja) | 1998-05-01 | 1998-05-01 | 電磁妨害波測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3603143B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006071428A (ja) * | 2004-09-01 | 2006-03-16 | Sony Corp | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 |
| JPWO2014065032A1 (ja) * | 2012-10-24 | 2016-09-08 | 日本電気株式会社 | 電磁界特徴分類提示装置 |
| CN114499739A (zh) * | 2020-10-27 | 2022-05-13 | 北京小米移动软件有限公司 | 磁场信号处理方法、装置及存储介质 |
-
1998
- 1998-05-01 JP JP13750298A patent/JP3603143B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006071428A (ja) * | 2004-09-01 | 2006-03-16 | Sony Corp | 電磁波妨害信号の発生源特定方法 |
| JPWO2014065032A1 (ja) * | 2012-10-24 | 2016-09-08 | 日本電気株式会社 | 電磁界特徴分類提示装置 |
| CN114499739A (zh) * | 2020-10-27 | 2022-05-13 | 北京小米移动软件有限公司 | 磁场信号处理方法、装置及存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3603143B2 (ja) | 2004-12-22 |
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