JPH11317019A - Rf信号用ゲイン調整回路 - Google Patents
Rf信号用ゲイン調整回路Info
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- JPH11317019A JPH11317019A JP10124977A JP12497798A JPH11317019A JP H11317019 A JPH11317019 A JP H11317019A JP 10124977 A JP10124977 A JP 10124977A JP 12497798 A JP12497798 A JP 12497798A JP H11317019 A JPH11317019 A JP H11317019A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】極性が異なるRF信号に対しての極性切換機能
を内蔵させ、従来必要とされていた極性切換回路の削減
を可能とし、これによってオペアンプの削減を可能とし
そのチップの小面積化を図る。 【解決手段】第1ないし第4のゲイン調整抵抗R1〜R
4とオペアンプ7とで差動オペアンプで構成し、前段に
連動切換スイッチ8を設けることにより、前記差動オペ
アンプを反転アンプもしくは非反転アンプに切り換えか
つ前記各抵抗R1〜R4それぞれの抵抗値を変化させて
ゲイン調整を可能とし、従来2つのオペアンプそれぞれ
でゲイン調整回路と極性切換回路とが1つのオペアンプ
で構成できその小面積化の実現を図れる。
を内蔵させ、従来必要とされていた極性切換回路の削減
を可能とし、これによってオペアンプの削減を可能とし
そのチップの小面積化を図る。 【解決手段】第1ないし第4のゲイン調整抵抗R1〜R
4とオペアンプ7とで差動オペアンプで構成し、前段に
連動切換スイッチ8を設けることにより、前記差動オペ
アンプを反転アンプもしくは非反転アンプに切り換えか
つ前記各抵抗R1〜R4それぞれの抵抗値を変化させて
ゲイン調整を可能とし、従来2つのオペアンプそれぞれ
でゲイン調整回路と極性切換回路とが1つのオペアンプ
で構成できその小面積化の実現を図れる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク・ドラ
イブにおける光学ピックアップにより生成されるRF信
号のゲイン調整を行うRF信号用ゲイン調整回路に関す
るものである。
イブにおける光学ピックアップにより生成されるRF信
号のゲイン調整を行うRF信号用ゲイン調整回路に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】図9を参照して光学ピックアップおよび
これにより生成されるRF信号のヘッドアンプについて
説明する。一般的にCD方式の光学ピックアップ20か
ら出力されるRF信号には、信号長が3Tから11T
(T=1/f、通常速ではf=4.3218MHz)ま
での成分が含まれている。その成分のうち、信号長が3
Tから5Tまでの成分の信号は、符号間干渉により、他
の信号成分に比べて振幅が小さい。
これにより生成されるRF信号のヘッドアンプについて
説明する。一般的にCD方式の光学ピックアップ20か
ら出力されるRF信号には、信号長が3Tから11T
(T=1/f、通常速ではf=4.3218MHz)ま
での成分が含まれている。その成分のうち、信号長が3
Tから5Tまでの成分の信号は、符号間干渉により、他
の信号成分に比べて振幅が小さい。
【0003】このようなRF信号は、加算回路21、R
Fイコライザ回路22、AGC回路23、極性切換回路
25およびRF検波回路26からなるヘッドアンプで増
幅される。すなわち光学ピックアップ20のRF信号は
加算回路21で加算された後、RFイコライザ回路22
にて各信号成分の振幅がほぼ等しくなるように増幅され
る。その後、AGC回路23を経てCDサーボ用LSI
24に送られて、基準信号との比較により、データスラ
イスされてディジタル信号処理される。また、RF信号
は極性切換回路25を経てRF検波回路26に送られ
て、そのピークとボトムとが検出されるなどして所定の
信号例えばBDO(ブラックドロップアウト)信号、O
FTR(オフトラック)信号、RFDET(RF検出)
信号、3TENV(3Tエンベロープ)信号が生成され
CDサーボ用LSI24に送られる。
Fイコライザ回路22、AGC回路23、極性切換回路
25およびRF検波回路26からなるヘッドアンプで増
幅される。すなわち光学ピックアップ20のRF信号は
加算回路21で加算された後、RFイコライザ回路22
にて各信号成分の振幅がほぼ等しくなるように増幅され
る。その後、AGC回路23を経てCDサーボ用LSI
24に送られて、基準信号との比較により、データスラ
イスされてディジタル信号処理される。また、RF信号
は極性切換回路25を経てRF検波回路26に送られ
て、そのピークとボトムとが検出されるなどして所定の
信号例えばBDO(ブラックドロップアウト)信号、O
FTR(オフトラック)信号、RFDET(RF検出)
信号、3TENV(3Tエンベロープ)信号が生成され
CDサーボ用LSI24に送られる。
【0004】ところで、光学ピックアップ20は各社か
ら様々な仕様のタイプが開発されており、光学ピックア
ップ20のRF信号の振幅はまちまちである。さらに光
学ピックアップ20そのものにもばらつきがあり、RF
信号の振幅は一定ではない。RFイコライザ回路22に
て増幅されたRF信号の振幅が一定でないと、CDサー
ボ用LSI24にてデータスライスされる際に、問題が
発生する恐れがある。したがって、各社の光学ピックア
ップに対応するため、ヘッドアンプにはRF信号の振幅
が常に一定になるように増幅するためのゲイン調整回路
としてAGC回路23が設けられている。
ら様々な仕様のタイプが開発されており、光学ピックア
ップ20のRF信号の振幅はまちまちである。さらに光
学ピックアップ20そのものにもばらつきがあり、RF
信号の振幅は一定ではない。RFイコライザ回路22に
て増幅されたRF信号の振幅が一定でないと、CDサー
ボ用LSI24にてデータスライスされる際に、問題が
発生する恐れがある。したがって、各社の光学ピックア
ップに対応するため、ヘッドアンプにはRF信号の振幅
が常に一定になるように増幅するためのゲイン調整回路
としてAGC回路23が設けられている。
【0005】AGC回路23の構成としては、図9に示
すようにRFイコライザ回路22で増幅されたRF信号
のゲインのピークとボトムとをRF検波回路26で求
め、AGC回路23にフィードバックする方式が一般的
である。
すようにRFイコライザ回路22で増幅されたRF信号
のゲインのピークとボトムとをRF検波回路26で求
め、AGC回路23にフィードバックする方式が一般的
である。
【0006】図10(a),(b)に、従来から用いら
れている光学ピックアップのRF信号のゲインを調整す
るAGC回路の一例を示す。図10(a)は、光学ピッ
クアップのRF信号のゲイン調整を入力側抵抗で行なう
ものであり、図10(b)は負帰還側抵抗で行なうもの
である。
れている光学ピックアップのRF信号のゲインを調整す
るAGC回路の一例を示す。図10(a)は、光学ピッ
クアップのRF信号のゲイン調整を入力側抵抗で行なう
ものであり、図10(b)は負帰還側抵抗で行なうもの
である。
【0007】入力側抵抗でゲイン調整する場合は、図1
0(a)に示すように、入力側にN個の抵抗値R/
20,R/21,R/22,...,R/2N-1を並列接続
し、帰還側に抵抗値R/Mの抵抗を接続する。この際ア
ナログスイッチA1〜ANを表1に示すようにON,OF
Fさせると、オペアンプ27のゲインはゲインステップ
1/M刻みで2N通りに変化する。また、負帰還側抵抗
でゲイン調整する場合は、図10(b)に示すように、
入力側に抵抗値Rの抵抗を接続し、帰還側にN−1個の
抵抗rを直列接続する。この際アナログスイッチA1〜
ANを表2に示すようにON,OFFさせると、オペア
ンプ28のゲインはゲインステップ1/M刻みでN通り
に変化する。
0(a)に示すように、入力側にN個の抵抗値R/
20,R/21,R/22,...,R/2N-1を並列接続
し、帰還側に抵抗値R/Mの抵抗を接続する。この際ア
ナログスイッチA1〜ANを表1に示すようにON,OF
Fさせると、オペアンプ27のゲインはゲインステップ
1/M刻みで2N通りに変化する。また、負帰還側抵抗
でゲイン調整する場合は、図10(b)に示すように、
入力側に抵抗値Rの抵抗を接続し、帰還側にN−1個の
抵抗rを直列接続する。この際アナログスイッチA1〜
ANを表2に示すようにON,OFFさせると、オペア
ンプ28のゲインはゲインステップ1/M刻みでN通り
に変化する。
【0008】
【表1】
【0009】
【表2】
【0010】また、上述したように光学ピックアップの
仕様は各社まちまちであり、RF信号の極性について
も、明側がHIGH信号として出力されるタイプと、明
側がLOW信号として出力されるタイプがある。RF信
号の極性は、図9に示すように加算回路21、RFイコ
ライザ回路22、AGC回路23で反転されるので、A
GC回路23から出力されるRF信号の極性は、明側が
HIGH信号として出力される光学ピックアップの場合
では明側がLOW信号となり、明側がLOW信号として
出力される光学ピックアップの場合では明側がHIGH
信号となる。
仕様は各社まちまちであり、RF信号の極性について
も、明側がHIGH信号として出力されるタイプと、明
側がLOW信号として出力されるタイプがある。RF信
号の極性は、図9に示すように加算回路21、RFイコ
ライザ回路22、AGC回路23で反転されるので、A
GC回路23から出力されるRF信号の極性は、明側が
HIGH信号として出力される光学ピックアップの場合
では明側がLOW信号となり、明側がLOW信号として
出力される光学ピックアップの場合では明側がHIGH
信号となる。
【0011】CDサーボ用LSI24に入力されるRF
信号は、CDサーボ用LSI24に極性切換機能が付い
ているので問題はないが、RF検波回路26は、通常ど
ちらか一方の極性に固定されて設計されているので、反
対の極性のRF信号が入力されると、正常動作せず問題
となる。したがって、どちらのタイプの光学ピックアッ
プでも対応できるように、図9に示すようにAGC回路
23とRF検波回路26との間に極性切換回路25を内
蔵している。
信号は、CDサーボ用LSI24に極性切換機能が付い
ているので問題はないが、RF検波回路26は、通常ど
ちらか一方の極性に固定されて設計されているので、反
対の極性のRF信号が入力されると、正常動作せず問題
となる。したがって、どちらのタイプの光学ピックアッ
プでも対応できるように、図9に示すようにAGC回路
23とRF検波回路26との間に極性切換回路25を内
蔵している。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、RF信
号は高周波信号(たとえば6倍速3T成分は4.321
8MHz)を含んでおり、オペアンプとしては高速広帯
域のものが要求され、極性切換のために用いるのはチッ
プ面積やコスト面で問題がある。また、光学ピックアッ
プのRF信号を加算回路21内のオペアンプ、RFイコ
ライザ回路22内のオペアンプ、AGC回路23内のオ
ペアンプ、極性切換回路25内のオペアンプと4回もそ
れぞれのオペアンプを通さなくてはならず、S/N比が
劣化する懸念がある。
号は高周波信号(たとえば6倍速3T成分は4.321
8MHz)を含んでおり、オペアンプとしては高速広帯
域のものが要求され、極性切換のために用いるのはチッ
プ面積やコスト面で問題がある。また、光学ピックアッ
プのRF信号を加算回路21内のオペアンプ、RFイコ
ライザ回路22内のオペアンプ、AGC回路23内のオ
ペアンプ、極性切換回路25内のオペアンプと4回もそ
れぞれのオペアンプを通さなくてはならず、S/N比が
劣化する懸念がある。
【0013】更に従来の方法では、図10(a),
(b)に示すように、アナログスイッチA1〜ANのON
抵抗が入力側抵抗もしくは負帰還側抵抗に直列接続さ
れ、オペアンプのゲインに影響を及ぼしてしまう回路構
成であることがわかる。アナログスイッチA1〜ANのO
N抵抗は、温度やプロセスや電源電圧あるいは入力信号
の大きさにかなり左右されるので、オペアンプのゲイン
がアナログスイッチA1〜ANのON抵抗に影響されない
ようするためには、アナログスイッチA1〜ANを構成す
るトランジスタのサイズ(チャンネル幅W)をかなり大
きくして、ON抵抗を極めて小さくする必要がある。
(b)に示すように、アナログスイッチA1〜ANのON
抵抗が入力側抵抗もしくは負帰還側抵抗に直列接続さ
れ、オペアンプのゲインに影響を及ぼしてしまう回路構
成であることがわかる。アナログスイッチA1〜ANのO
N抵抗は、温度やプロセスや電源電圧あるいは入力信号
の大きさにかなり左右されるので、オペアンプのゲイン
がアナログスイッチA1〜ANのON抵抗に影響されない
ようするためには、アナログスイッチA1〜ANを構成す
るトランジスタのサイズ(チャンネル幅W)をかなり大
きくして、ON抵抗を極めて小さくする必要がある。
【0014】シミュレーションにより、アナログスイッ
チA1〜ANのON抵抗のトランジスタサイズ依存性を調
べた結果例を図11に示す。シミュレーション回路
(a)に示すように、アナログスイッチに10μAの電
流が流れる場合、ON抵抗は、(b)に示すようにトラ
ンジスタサイズにほぼ反比例する。一般にオペアンプ2
7,28の外づけ抵抗は数K〜数10K[Ω]であるの
で、アナログスイッチA1〜ANのON抵抗の影響を無く
すためには、ON抵抗は少なくとも100[Ω]以下に
しなければならない。
チA1〜ANのON抵抗のトランジスタサイズ依存性を調
べた結果例を図11に示す。シミュレーション回路
(a)に示すように、アナログスイッチに10μAの電
流が流れる場合、ON抵抗は、(b)に示すようにトラ
ンジスタサイズにほぼ反比例する。一般にオペアンプ2
7,28の外づけ抵抗は数K〜数10K[Ω]であるの
で、アナログスイッチA1〜ANのON抵抗の影響を無く
すためには、ON抵抗は少なくとも100[Ω]以下に
しなければならない。
【0015】そのためには、図11(b)よりアナログ
スイッチA1〜ANのトランジスタサイズは、この例では
少なくとも1500[μm]以上必要であることがわか
る。このような大きなアナログスイッチA1〜ANは、数
個でオペアンプ27,28それぞれの1個分の面積とな
り、問題となっている。例えば、ゲインの切替え数を3
2段階とすると、図10(a)のように入力側抵抗でゲ
イン調整する場合では、5個(25 =32)のアナログ
スイッチA1〜A5が必要となる。また、図10(b)の
ように負帰還側抵抗でゲイン調整する場合は、32個の
アナログスイッチA1〜A32が必要となり、アナログス
イッチだけで、かなり大きな面積がとられてしまう。
スイッチA1〜ANのトランジスタサイズは、この例では
少なくとも1500[μm]以上必要であることがわか
る。このような大きなアナログスイッチA1〜ANは、数
個でオペアンプ27,28それぞれの1個分の面積とな
り、問題となっている。例えば、ゲインの切替え数を3
2段階とすると、図10(a)のように入力側抵抗でゲ
イン調整する場合では、5個(25 =32)のアナログ
スイッチA1〜A5が必要となる。また、図10(b)の
ように負帰還側抵抗でゲイン調整する場合は、32個の
アナログスイッチA1〜A32が必要となり、アナログス
イッチだけで、かなり大きな面積がとられてしまう。
【0016】本発明は上記問題点に鑑み、ゲイン調整回
路を差動オペアンプで構成して極性切換機能を内蔵する
ことによりオペアンプの個数を削減し具体的には2個か
ら1個にし、更にゲイン調整抵抗の構成を変えることに
よりアナログスイッチを小型化し、従来より小さいチッ
プ面積で光学ピックアップのRF信号の振幅を調整する
RF信号用ゲイン調整回路を提供することを目的とす
る。
路を差動オペアンプで構成して極性切換機能を内蔵する
ことによりオペアンプの個数を削減し具体的には2個か
ら1個にし、更にゲイン調整抵抗の構成を変えることに
よりアナログスイッチを小型化し、従来より小さいチッ
プ面積で光学ピックアップのRF信号の振幅を調整する
RF信号用ゲイン調整回路を提供することを目的とす
る。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は、差動オペアン
プと、切り換え手段とを備え、前記差動オペアンプは、
第1の入力端子とオペアンプの反転入力端子との間に第
1のゲイン調整抵抗を、前記オペアンプの反転入力端子
と出力端子との間に第2のゲイン調整抵抗を、第2の入
力端子と前記オペアンプの非反転入力端子との間に第3
のゲイン調整抵抗を、前記オペアンプの非反転入力端子
と基準電源との間に第4のゲイン調整抵抗をそれぞれ接
続して構成され、前記切り換え手段は、前記第1の入力
端子に光学ピックアップにより生成されるRF信号を入
力し、かつ前記第2の入力端子に基準電源を入力する第
1のモードと、前記第1の入力端子に基準電源を入力
し、かつ前記第2の入力端子に前記RF信号を入力する
第2のモードとに切り換え可能とするものであり、前記
モードの切り換えで前記差動オペアンプを反転アンプま
たは非反転アンプに切り換え、かつ、前記各ゲイン調整
抵抗の抵抗値変化で前記RF信号のゲインを調整可能と
したことを特徴とするRF信号用ゲイン調整回路によっ
て上述の課題を解決している。
プと、切り換え手段とを備え、前記差動オペアンプは、
第1の入力端子とオペアンプの反転入力端子との間に第
1のゲイン調整抵抗を、前記オペアンプの反転入力端子
と出力端子との間に第2のゲイン調整抵抗を、第2の入
力端子と前記オペアンプの非反転入力端子との間に第3
のゲイン調整抵抗を、前記オペアンプの非反転入力端子
と基準電源との間に第4のゲイン調整抵抗をそれぞれ接
続して構成され、前記切り換え手段は、前記第1の入力
端子に光学ピックアップにより生成されるRF信号を入
力し、かつ前記第2の入力端子に基準電源を入力する第
1のモードと、前記第1の入力端子に基準電源を入力
し、かつ前記第2の入力端子に前記RF信号を入力する
第2のモードとに切り換え可能とするものであり、前記
モードの切り換えで前記差動オペアンプを反転アンプま
たは非反転アンプに切り換え、かつ、前記各ゲイン調整
抵抗の抵抗値変化で前記RF信号のゲインを調整可能と
したことを特徴とするRF信号用ゲイン調整回路によっ
て上述の課題を解決している。
【0018】
【実施の形態】請求項1に記載の発明は、差動オペアン
プと、切り換え手段とを備え、前記差動オペアンプは、
第1の入力端子とオペアンプの反転入力端子との間に第
1のゲイン調整抵抗を、前記オペアンプの反転入力端子
と出力端子との間に第2のゲイン調整抵抗を、第2の入
力端子と前記オペアンプの非反転入力端子との間に第3
のゲイン調整抵抗を、前記オペアンプの非反転入力端子
と基準電源との間に第4のゲイン調整抵抗をそれぞれ接
続して構成され、前記切り換え手段は、前記第1の入力
端子に光学ピックアップにより生成されるRF信号を入
力し、かつ前記第2の入力端子に基準電源を入力する第
1のモードと、前記第1の入力端子に基準電源を入力
し、かつ前記第2の入力端子に前記RF信号を入力する
第2のモードとに切り換え可能とするものであり、前記
モードの切り換えで前記差動オペアンプを反転アンプま
たは非反転アンプに切り換え、かつ、前記各ゲイン調整
抵抗の抵抗値変化で前記RF信号のゲインを調整可能と
したことを特徴とするRF信号用ゲイン調整回路であ
る。
プと、切り換え手段とを備え、前記差動オペアンプは、
第1の入力端子とオペアンプの反転入力端子との間に第
1のゲイン調整抵抗を、前記オペアンプの反転入力端子
と出力端子との間に第2のゲイン調整抵抗を、第2の入
力端子と前記オペアンプの非反転入力端子との間に第3
のゲイン調整抵抗を、前記オペアンプの非反転入力端子
と基準電源との間に第4のゲイン調整抵抗をそれぞれ接
続して構成され、前記切り換え手段は、前記第1の入力
端子に光学ピックアップにより生成されるRF信号を入
力し、かつ前記第2の入力端子に基準電源を入力する第
1のモードと、前記第1の入力端子に基準電源を入力
し、かつ前記第2の入力端子に前記RF信号を入力する
第2のモードとに切り換え可能とするものであり、前記
モードの切り換えで前記差動オペアンプを反転アンプま
たは非反転アンプに切り換え、かつ、前記各ゲイン調整
抵抗の抵抗値変化で前記RF信号のゲインを調整可能と
したことを特徴とするRF信号用ゲイン調整回路であ
る。
【0019】請求項2に記載の発明は、前記第1および
第2のゲイン調整抵抗として、直列に接続された第1の
固定抵抗、第1の可変抵抗、第2の固定抵抗を具備し、
前記第1の固定抵抗を前記第1の入力端子に接続し、前
記第1の可変抵抗の可変接点を前記オペアンプの反転入
力端子に接続し、前記第2の固定抵抗を前記オペアンプ
の出力端子に接続し、前記第3および第4のゲイン調整
抵抗として、直列に接続された第3の固定抵抗、第2の
可変抵抗、第4の固定抵抗を具備し、前記第3の固定抵
抗を前記第2の入力端子に接続し、前記第2の可変抵抗
の可変接点を前記オペアンプの非反転入力端子に接続
し、前記第4の固定抵抗を基準電源に接続したことを特
徴とする請求項1に記載のRF信号用ゲイン調整回路で
ある。
第2のゲイン調整抵抗として、直列に接続された第1の
固定抵抗、第1の可変抵抗、第2の固定抵抗を具備し、
前記第1の固定抵抗を前記第1の入力端子に接続し、前
記第1の可変抵抗の可変接点を前記オペアンプの反転入
力端子に接続し、前記第2の固定抵抗を前記オペアンプ
の出力端子に接続し、前記第3および第4のゲイン調整
抵抗として、直列に接続された第3の固定抵抗、第2の
可変抵抗、第4の固定抵抗を具備し、前記第3の固定抵
抗を前記第2の入力端子に接続し、前記第2の可変抵抗
の可変接点を前記オペアンプの非反転入力端子に接続
し、前記第4の固定抵抗を基準電源に接続したことを特
徴とする請求項1に記載のRF信号用ゲイン調整回路で
ある。
【0020】請求項3に記載の発明は、前記第1の固定
抵抗(抵抗値R10)と第2の固定抵抗(抵抗値R2
0)との間の第1の可変抵抗として直列接続された2N
個の単位抵抗(抵抗値r)で構成し、前記第1の可変抵
抗の可変接点として、前記単位抵抗すべての両端に2N
+1個のスイッチ手段(スイッチ番号nが前記第1の固
定抵抗から第2の固定抵抗に向けて−N,−N+1,
…,0,…,N−1,Nと命名される)それぞれの入力
端子を個別に接続し、かつ前記各スイッチ手段それぞれ
の出力端子のすべてを前記オペアンプの反転入力端子に
接続することにより構成し、前記第3の固定抵抗(抵抗
値R30)と第4の固定抵抗(抵抗値R40)との間の
第2の可変抵抗として直列接続された2N個の単位抵抗
(抵抗値r)で構成し、前記第2の可変抵抗の可変接点
として、前記単位抵抗すべての両端に2N+1個のスイ
ッチ手段(スイッチ番号nが前記第3の固定抵抗から第
4の固定抵抗に向けて−N,−N+1,…,0,…,N
−1,Nと命名される)それぞれの入力端子を個別に接
続し、かつ前記各スイッチ手段それぞれの出力端子のす
べてを前記オペアンプの非反転入力端子に接続すること
により構成し、前記オペアンプの反転入力端子側のスイ
ッチ手段それぞれと、非反転入力端子側のスイッチ手段
それぞれとで、スイッチ番号がnの1個のみをオンにさ
せることによって、前記各ゲイン調整抵抗の抵抗値が、
R1を前記第1のゲイン調整抵抗の抵抗値、R2を前記
第2のゲイン調整抵抗の抵抗値、R3を前記第3のゲイ
ン調整抵抗の抵抗値、R4を前記第4のゲイン調整抵抗
の抵抗値として、次の関係式を満たすように平行して変
化することを特徴とする請求項2に記載のRF信号用ゲ
イン調整回路である。
抵抗(抵抗値R10)と第2の固定抵抗(抵抗値R2
0)との間の第1の可変抵抗として直列接続された2N
個の単位抵抗(抵抗値r)で構成し、前記第1の可変抵
抗の可変接点として、前記単位抵抗すべての両端に2N
+1個のスイッチ手段(スイッチ番号nが前記第1の固
定抵抗から第2の固定抵抗に向けて−N,−N+1,
…,0,…,N−1,Nと命名される)それぞれの入力
端子を個別に接続し、かつ前記各スイッチ手段それぞれ
の出力端子のすべてを前記オペアンプの反転入力端子に
接続することにより構成し、前記第3の固定抵抗(抵抗
値R30)と第4の固定抵抗(抵抗値R40)との間の
第2の可変抵抗として直列接続された2N個の単位抵抗
(抵抗値r)で構成し、前記第2の可変抵抗の可変接点
として、前記単位抵抗すべての両端に2N+1個のスイ
ッチ手段(スイッチ番号nが前記第3の固定抵抗から第
4の固定抵抗に向けて−N,−N+1,…,0,…,N
−1,Nと命名される)それぞれの入力端子を個別に接
続し、かつ前記各スイッチ手段それぞれの出力端子のす
べてを前記オペアンプの非反転入力端子に接続すること
により構成し、前記オペアンプの反転入力端子側のスイ
ッチ手段それぞれと、非反転入力端子側のスイッチ手段
それぞれとで、スイッチ番号がnの1個のみをオンにさ
せることによって、前記各ゲイン調整抵抗の抵抗値が、
R1を前記第1のゲイン調整抵抗の抵抗値、R2を前記
第2のゲイン調整抵抗の抵抗値、R3を前記第3のゲイ
ン調整抵抗の抵抗値、R4を前記第4のゲイン調整抵抗
の抵抗値として、次の関係式を満たすように平行して変
化することを特徴とする請求項2に記載のRF信号用ゲ
イン調整回路である。
【0021】 R1=R10+(N+n)*r R2=R20+(N−n)*r R3=R30+(N+n)*r R4=R40+(N−n)*r 請求項4に記載の発明は、前記各スイッチ手段それぞれ
がアナログスイッチで構成されており、前記アナログス
イッチを構成するトランジスタのサイズがチャンネル幅
10μm以下とされていることを特徴とする請求項3に
記載のRF信号用ゲイン調整回路である。
がアナログスイッチで構成されており、前記アナログス
イッチを構成するトランジスタのサイズがチャンネル幅
10μm以下とされていることを特徴とする請求項3に
記載のRF信号用ゲイン調整回路である。
【0022】請求項5に記載の発明は、前記第1および
第3の固定抵抗それぞれの抵抗値が互いに同一(R10
=R30)であり、かつ前記第2および第4の固定抵抗
それぞれの抵抗値が互いに同一(R20=R40)とす
ることにより、オンにされるスイッチ手段のスイッチ番
号nが変化したときのゲイン調整特性が、前記いずれの
モードにおいても同一の特性を有することを特徴とする
請求項3記載のRF信号用ゲイン調整回路である。
第3の固定抵抗それぞれの抵抗値が互いに同一(R10
=R30)であり、かつ前記第2および第4の固定抵抗
それぞれの抵抗値が互いに同一(R20=R40)とす
ることにより、オンにされるスイッチ手段のスイッチ番
号nが変化したときのゲイン調整特性が、前記いずれの
モードにおいても同一の特性を有することを特徴とする
請求項3記載のRF信号用ゲイン調整回路である。
【0023】請求項6に記載の発明は、前記第1および
第2の可変抵抗の可変接点が中点(n=0)のときの前
記差動オペアンプのセンターゲインをA[dB]とする
と、前記第1および第2の固定抵抗それぞれの抵抗値が
次の関係式を満たすことにより、ゲイン調整範囲として
±α[dB]を実現することを特徴とする請求項5記載
のRF信号用ゲイン調整回路である。
第2の可変抵抗の可変接点が中点(n=0)のときの前
記差動オペアンプのセンターゲインをA[dB]とする
と、前記第1および第2の固定抵抗それぞれの抵抗値が
次の関係式を満たすことにより、ゲイン調整範囲として
±α[dB]を実現することを特徴とする請求項5記載
のRF信号用ゲイン調整回路である。
【0024】R10=[2*10( A - α ) / 2 0 −
10A / 2 0+1]/[10A / 2 0 −10( A - α )
/ 2 0 ]*N*r R20=[10( A - α ) / 2 0 +10- α / 2 0 ]
/[1−10- α / 2 0 ]*N*r 請求項7に記載の発明は、指定されたゲイン調整範囲±
α[dB]を実現するために、前記差動オペアンプのセ
ンターゲインA[dB]の設定値を次の関係式で示す範
囲に限定したことを特徴とする請求項6記載のRF信号
用ゲイン調整回路である。
10A / 2 0+1]/[10A / 2 0 −10( A - α )
/ 2 0 ]*N*r R20=[10( A - α ) / 2 0 +10- α / 2 0 ]
/[1−10- α / 2 0 ]*N*r 請求項7に記載の発明は、指定されたゲイン調整範囲±
α[dB]を実現するために、前記差動オペアンプのセ
ンターゲインA[dB]の設定値を次の関係式で示す範
囲に限定したことを特徴とする請求項6記載のRF信号
用ゲイン調整回路である。
【0025】 A<20*log10[1/(1−2*10- α/ 20)] (ただし、α>20*log102≒6.02) 次に本発明の実施の形態について詳しく説明する。
【0026】(実施の形態1)図1を参照して、本発明
の実施の形態1のRF信号用ゲイン調整回路について説
明すると、第1の入力端子1とオペアンプ7の反転入力
端子5との間、オペアンプ7の反転入力端子5とオペア
ンプ7の出力端子3との間、第2の入力端子2とオペア
ンプ7の非反転入力端子6との間、オペアンプ7の非反
転入力端子6と基準電源4との間にそれぞれ抵抗値が可
変可能な第1ないし第4ゲイン調整抵抗R1ないしR4
を接続して差動オペアンプを構成する。
の実施の形態1のRF信号用ゲイン調整回路について説
明すると、第1の入力端子1とオペアンプ7の反転入力
端子5との間、オペアンプ7の反転入力端子5とオペア
ンプ7の出力端子3との間、第2の入力端子2とオペア
ンプ7の非反転入力端子6との間、オペアンプ7の非反
転入力端子6と基準電源4との間にそれぞれ抵抗値が可
変可能な第1ないし第4ゲイン調整抵抗R1ないしR4
を接続して差動オペアンプを構成する。
【0027】第1の入力端子1と第2の入力端子2それ
ぞれに切り換え手段として連動切換スイッチ8を接続し
て、連動切換スイッチ8がONの場合は図1(a)に示
すように、第1の入力端子1はRF信号9の出力に、第
2の入力端子2は基準電源VREFに接続されるモード
となり、連動切換スイッチがOFFの場合は図1(b)
に示すように、第1の入力端子1は基準電源VREF
に、第2の入力端子2はRF信号9の出力に接続される
モードとなるものとする。
ぞれに切り換え手段として連動切換スイッチ8を接続し
て、連動切換スイッチ8がONの場合は図1(a)に示
すように、第1の入力端子1はRF信号9の出力に、第
2の入力端子2は基準電源VREFに接続されるモード
となり、連動切換スイッチがOFFの場合は図1(b)
に示すように、第1の入力端子1は基準電源VREF
に、第2の入力端子2はRF信号9の出力に接続される
モードとなるものとする。
【0028】以上のような構成において、入力されるR
F信号の極性は光学ピックアップにより明側がHIGH
信号であったり、LOW信号であったりするので、連動
切換スイッチをON,OFFして差動オペアンプを図1
(a)の反転アンプもしくは図1(b)の非反転アンプ
に切り換えて、前記各ゲイン調整抵抗R1,R2,R
3,R4それぞれの抵抗値を変化させることにより、R
F信号のゲインを調整でき、かつ出力されるRF信号の
極性を統一することができる。
F信号の極性は光学ピックアップにより明側がHIGH
信号であったり、LOW信号であったりするので、連動
切換スイッチをON,OFFして差動オペアンプを図1
(a)の反転アンプもしくは図1(b)の非反転アンプ
に切り換えて、前記各ゲイン調整抵抗R1,R2,R
3,R4それぞれの抵抗値を変化させることにより、R
F信号のゲインを調整でき、かつ出力されるRF信号の
極性を統一することができる。
【0029】このゲイン調整によると、従来必要であっ
た極性切換用オペアンプが削減され、小面積化を実現で
きる。
た極性切換用オペアンプが削減され、小面積化を実現で
きる。
【0030】(実施の形態2)本実施の形態3のゲイン
調整回路においては、実施の形態1におけるゲイン調整
抵抗R1,R2,R3,R4それぞれの具体的構成を示
したものである。
調整回路においては、実施の形態1におけるゲイン調整
抵抗R1,R2,R3,R4それぞれの具体的構成を示
したものである。
【0031】図2を参照して、第1および第2のゲイン
調整抵抗R1,R2としては、第1の固定抵抗R10と
第1の可変抵抗VR1と第2の固定抵抗R20とを直列
接続し、第1の固定抵抗R10を第1の入力端子1に接
続し、第1の可変抵抗VR1の可変接点をオペアンプ7
の反転入力端子5に接続し、第2の固定抵抗R20をオ
ペアンプ7の出力端子3に接続する。
調整抵抗R1,R2としては、第1の固定抵抗R10と
第1の可変抵抗VR1と第2の固定抵抗R20とを直列
接続し、第1の固定抵抗R10を第1の入力端子1に接
続し、第1の可変抵抗VR1の可変接点をオペアンプ7
の反転入力端子5に接続し、第2の固定抵抗R20をオ
ペアンプ7の出力端子3に接続する。
【0032】同様に、第3および第4のゲイン調整抵抗
R3,R4としては、第3の固定抵抗R30と第2の可
変抵抗VR2と第4の固定抵抗R40とを直列接続し、
第3の固定抵抗R30を第2の入力端子2に接続し、第
2の可変抵抗VR2の可変接点をオペアンプ7の非反転
入力端子6に接続し、第4の固定抵抗R40を基準電源
4に接続する。
R3,R4としては、第3の固定抵抗R30と第2の可
変抵抗VR2と第4の固定抵抗R40とを直列接続し、
第3の固定抵抗R30を第2の入力端子2に接続し、第
2の可変抵抗VR2の可変接点をオペアンプ7の非反転
入力端子6に接続し、第4の固定抵抗R40を基準電源
4に接続する。
【0033】以上の構成において、前記両第1および第
2の可変抵抗VR1とVR2それぞれの可変接点を動か
すことにより、差動オペアンプを構成する4個のゲイン
調整抵抗R1,R2,R3,R4の抵抗値を変化させる
ことができ、ゲイン調整を実現できる。
2の可変抵抗VR1とVR2それぞれの可変接点を動か
すことにより、差動オペアンプを構成する4個のゲイン
調整抵抗R1,R2,R3,R4の抵抗値を変化させる
ことができ、ゲイン調整を実現できる。
【0034】(実施の形態3)本実施の形態3のゲイン
調整回路においては、差動オペアンプの可変抵抗VR
1,VR2の具体的構成方法を示したものである。図3
を参照して、第1の固定抵抗R10と第2の固定抵抗R
20との間の第1の可変抵抗VR1としては、単位抵抗
rを2N個直列に接続し、可変接点として単位抵抗rの
全ての両端に計2N+1個のアナログスイッチ(スイッ
チ番号nとして、第1の固定抵抗R10から第2の固定
抵抗R20に向けて、順にn=−N,−N+
1,...,0,...,N−1,Nと付ける。)の入
力端子を接続し、アナログスイッチの出力端子は全てオ
ペアンプ7の反転入力端子に接続することにより構成す
る。同様に、第3の固定抵抗R30と第4の固定抵抗R
40との間の第2の可変抵抗VR2としては、単位抵抗
rを2N個直列に接続し、可変接点として単位抵抗rの
全ての両端に計2N+1個のアナログスイッチ(スイッ
チ番号nとして、第3の固定抵抗R30から第4の固定
抵抗R40に向けて順にn=−N,−N+1,...,
0,...,N−1,Nと付ける。)の入力端子を接続
し、アナログスイッチの出力端子は全てオペアンプ7の
非反転入力端子に接続することにより構成する。
調整回路においては、差動オペアンプの可変抵抗VR
1,VR2の具体的構成方法を示したものである。図3
を参照して、第1の固定抵抗R10と第2の固定抵抗R
20との間の第1の可変抵抗VR1としては、単位抵抗
rを2N個直列に接続し、可変接点として単位抵抗rの
全ての両端に計2N+1個のアナログスイッチ(スイッ
チ番号nとして、第1の固定抵抗R10から第2の固定
抵抗R20に向けて、順にn=−N,−N+
1,...,0,...,N−1,Nと付ける。)の入
力端子を接続し、アナログスイッチの出力端子は全てオ
ペアンプ7の反転入力端子に接続することにより構成す
る。同様に、第3の固定抵抗R30と第4の固定抵抗R
40との間の第2の可変抵抗VR2としては、単位抵抗
rを2N個直列に接続し、可変接点として単位抵抗rの
全ての両端に計2N+1個のアナログスイッチ(スイッ
チ番号nとして、第3の固定抵抗R30から第4の固定
抵抗R40に向けて順にn=−N,−N+1,...,
0,...,N−1,Nと付ける。)の入力端子を接続
し、アナログスイッチの出力端子は全てオペアンプ7の
非反転入力端子に接続することにより構成する。
【0035】このように構成されたゲイン調整回路にお
いて、抵抗の可変化としては、オペアンプ7の反転入力
端子側と非反転入力端子側でそれぞれ2N+1個のアナ
ログスイッチのうち、スイッチ番号nの1個のみがON
するようなセレクタ回路10を接続すると、差動オペア
ンプを構成する4個のゲイン調整抵抗R1,R2,R
3,R4の抵抗値が、nを変化させたとき、次の式
(1)を満たすように平行的に変化させる(R1が増加
しR2が減少すれば、R3が増加しR4が減少する)こ
とができ、ゲイン調整を実現できる。
いて、抵抗の可変化としては、オペアンプ7の反転入力
端子側と非反転入力端子側でそれぞれ2N+1個のアナ
ログスイッチのうち、スイッチ番号nの1個のみがON
するようなセレクタ回路10を接続すると、差動オペア
ンプを構成する4個のゲイン調整抵抗R1,R2,R
3,R4の抵抗値が、nを変化させたとき、次の式
(1)を満たすように平行的に変化させる(R1が増加
しR2が減少すれば、R3が増加しR4が減少する)こ
とができ、ゲイン調整を実現できる。
【0036】 R1=R10+(N+n)*r R2=R20+(N−n)*r R3=R30+(N+n)*r R4=R40+(N−n)*r ……(1) ただし、R1,R2,R3,R4はそれぞれ第1ないし
第4のゲイン調整抵抗R1〜R4それぞれの抵抗値であ
り、R10,R20,R30,R40はそれぞれ第1な
いし第4の固定抵抗R10,R20,R30,R40そ
れぞれの抵抗値であり、rは単位抵抗rの単位抵抗値で
ある。またnはそれぞれ−N,−N+1,...,
0,...,N−1,Nのうちの任意の値である。
第4のゲイン調整抵抗R1〜R4それぞれの抵抗値であ
り、R10,R20,R30,R40はそれぞれ第1な
いし第4の固定抵抗R10,R20,R30,R40そ
れぞれの抵抗値であり、rは単位抵抗rの単位抵抗値で
ある。またnはそれぞれ−N,−N+1,...,
0,...,N−1,Nのうちの任意の値である。
【0037】(実施の形態4)本実施の形態4のゲイン
調整回路においては、アナログスイッチを構成するトラ
ンジスタサイズに関するものである。図4を参照して、
一般にアナログスイッチは、p−チャンネルトランジス
タ12とn−チャンネルトランジスタ13とを抱き合わ
せた構成になっている。この回路において、n−チャン
ネルトランジスタ13のゲート入力端子Eに電源電圧V
DDを印加し、p−チャンネルトランジスタ12のゲー
ト入力端子NEにグランド電圧VSSを印加すると、ア
ナログスイッチの入力端子INにいかなる信号が入力さ
れても、必ずどちらかのトランジスタがON状態になり
(入力信号電圧Vinが0〜約VREF(VDD/2)
間は、n−チャンネルトランジスタ13がON,p−チ
ャンネルトランジスタ12がOFFとなり、入力信号V
inが約VREF〜VDD間は、p−チャンネルトラン
ジスタ12がON,n−チャンネルトランジスタ13が
OFF)、信号がアナログスイッチの出力端子OUTに
出力される。いま、n−チャンネルトランジスタ13に
ついて考えると、しきい値電圧Vtは、ソース(s)−
基板(b)間の電圧Vsbによるバックゲートバイアス
効果を考慮して次の関係式(2)で得られる。
調整回路においては、アナログスイッチを構成するトラ
ンジスタサイズに関するものである。図4を参照して、
一般にアナログスイッチは、p−チャンネルトランジス
タ12とn−チャンネルトランジスタ13とを抱き合わ
せた構成になっている。この回路において、n−チャン
ネルトランジスタ13のゲート入力端子Eに電源電圧V
DDを印加し、p−チャンネルトランジスタ12のゲー
ト入力端子NEにグランド電圧VSSを印加すると、ア
ナログスイッチの入力端子INにいかなる信号が入力さ
れても、必ずどちらかのトランジスタがON状態になり
(入力信号電圧Vinが0〜約VREF(VDD/2)
間は、n−チャンネルトランジスタ13がON,p−チ
ャンネルトランジスタ12がOFFとなり、入力信号V
inが約VREF〜VDD間は、p−チャンネルトラン
ジスタ12がON,n−チャンネルトランジスタ13が
OFF)、信号がアナログスイッチの出力端子OUTに
出力される。いま、n−チャンネルトランジスタ13に
ついて考えると、しきい値電圧Vtは、ソース(s)−
基板(b)間の電圧Vsbによるバックゲートバイアス
効果を考慮して次の関係式(2)で得られる。
【0038】 Vt=Vt0+γ*[(2*Φf +Vsb)**0.5 −(2*Φf )**0.5] ……(2) ここでVt0はバックゲートバイアス効果なし(Vsb
=0)でのしきい値電圧で、γはバルクしきい値パラメ
ータで、Φf は強反転表面ポテンシャルでそれぞれ与え
られるので、入力信号Vinがn−チャンネルトランジ
スタ13のソースに加えられると、ソース(s)と基板
(b)との間に電位差Vsbが生じ、しきい値電圧Vt
が上昇する。逆にゲート電圧Vgは一定(VDD)であ
るので、ゲート(g)とソース(s)との間の電圧Vg
sは小さくなる。その結果、入力信号Vinの値が小さ
い場合は、Vgs>Vtであるのでn−チャンネルトラ
ンジスタ13はONするが、入力信号Vinの値が大き
くなると、およそVREFより少し大きい値でVgs=
Vtとなり、n−チャンネルトランジスタ13はOFF
する。
=0)でのしきい値電圧で、γはバルクしきい値パラメ
ータで、Φf は強反転表面ポテンシャルでそれぞれ与え
られるので、入力信号Vinがn−チャンネルトランジ
スタ13のソースに加えられると、ソース(s)と基板
(b)との間に電位差Vsbが生じ、しきい値電圧Vt
が上昇する。逆にゲート電圧Vgは一定(VDD)であ
るので、ゲート(g)とソース(s)との間の電圧Vg
sは小さくなる。その結果、入力信号Vinの値が小さ
い場合は、Vgs>Vtであるのでn−チャンネルトラ
ンジスタ13はONするが、入力信号Vinの値が大き
くなると、およそVREFより少し大きい値でVgs=
Vtとなり、n−チャンネルトランジスタ13はOFF
する。
【0039】したがって、入力信号Vinが0〜約VR
EF間では、n−チャンネルトランジスタ13はON状
態であり、入力信号Vinと出力信号Voutとはほぼ
等しく、ドレイン(d)とソース(s)との間の電圧は
Vds=|Vin−Vout|〜0となり、トランジス
タは非飽和領域にあるので、ドレイン電流Idsは次式
(3)で与えられる。
EF間では、n−チャンネルトランジスタ13はON状
態であり、入力信号Vinと出力信号Voutとはほぼ
等しく、ドレイン(d)とソース(s)との間の電圧は
Vds=|Vin−Vout|〜0となり、トランジス
タは非飽和領域にあるので、ドレイン電流Idsは次式
(3)で与えられる。
【0040】 Ids=(K’/2)*(W/L)*[(Vgs−Vt)**2 −(Vgd−Vt)**2]*(1+λ*Vds) = K’*W/L*(Vgs−Vt−Vds/2)*Vds* (1+λ*Vds) ……(3) K’:MOSトランジスタの利得因子(ゲイン・ファク
タ) λ:チャンネル長変調パラメータ で与えられる。Vdsは十分小さいので、ショートチャ
ネル効果λの項を無視すると、前記式(3)は次の式
(4)になる。
タ) λ:チャンネル長変調パラメータ で与えられる。Vdsは十分小さいので、ショートチャ
ネル効果λの項を無視すると、前記式(3)は次の式
(4)になる。
【0041】 Ids=K’*W/L*(Vgs−Vt−Vds/2)*Vds ……(4) これにより次式(5)が得られる。
【0042】 dIds/dVds=K’*W/L*(Vgs−Vt−Vds) ……(5) ここで、Vdsは十分小さいので無視すると、n−チャ
ンネルトランジスタ13のON抵抗Ronは、次の関係
式(6)で与えられる。
ンネルトランジスタ13のON抵抗Ronは、次の関係
式(6)で与えられる。
【0043】 Ron=dVds/dIds =1/(dIds/dVds) =1/[K’*W/L*(Vgs−Vt)] ……(6) したがって、図5に示すように、Nチャンネルトランジ
スタ13については、入力信号Vinが大きくなると、
Vgsが減少するのに対してVtは増加するので、Vg
s−Vtは小さくなりON抵抗は増加する。そして、入
力信号VinがおよそVREFより少し大きくなった時
にVgs=VtとなるのでON抵抗は無限大になり、N
チャンネルトランジスタ13はOFFする。しかし、入
力信号VinがVREFに近づくと、OFF状態であっ
たPチャンネルトランジスタ12がON状態となり、V
inがVREFからVDDへと大きくなるにつれて、N
チャンネルトランジスタ13の場合と反対に、Pチャン
ネルトランジスタ12のON抵抗が下がる。
スタ13については、入力信号Vinが大きくなると、
Vgsが減少するのに対してVtは増加するので、Vg
s−Vtは小さくなりON抵抗は増加する。そして、入
力信号VinがおよそVREFより少し大きくなった時
にVgs=VtとなるのでON抵抗は無限大になり、N
チャンネルトランジスタ13はOFFする。しかし、入
力信号VinがVREFに近づくと、OFF状態であっ
たPチャンネルトランジスタ12がON状態となり、V
inがVREFからVDDへと大きくなるにつれて、N
チャンネルトランジスタ13の場合と反対に、Pチャン
ネルトランジスタ12のON抵抗が下がる。
【0044】その結果、アナログスイッチ全体のON抵
抗は、図5に示すように、入力信号VinがVREFの
ときにピーク値を持つ山型となる。そしてゲート長Lを
固定してトランジスタサイズ(チャネル幅W)を大きく
してW/Lの比を大きくすると、アナログスイッチのO
N抵抗は全体的に低下することになる。
抗は、図5に示すように、入力信号VinがVREFの
ときにピーク値を持つ山型となる。そしてゲート長Lを
固定してトランジスタサイズ(チャネル幅W)を大きく
してW/Lの比を大きくすると、アナログスイッチのO
N抵抗は全体的に低下することになる。
【0045】図10で説明したように、従来のゲイン調
整では、アナログスイッチのON抵抗がAGC回路のゲ
インに影響を及ぼすため、温度やプロセスあるいは入力
信号の大きさによりON抵抗が変化し、AGC回路のゲ
インが変わってしまい問題となっていた。それを防ぐた
めには、アナログスイッチのトランジスタサイズ(チャ
ネル幅W)を極端に大きく例えばW>1500[μm]
程度としてON抵抗を無視できるようにする必要があ
り、面積的に効率が悪い構成であった。
整では、アナログスイッチのON抵抗がAGC回路のゲ
インに影響を及ぼすため、温度やプロセスあるいは入力
信号の大きさによりON抵抗が変化し、AGC回路のゲ
インが変わってしまい問題となっていた。それを防ぐた
めには、アナログスイッチのトランジスタサイズ(チャ
ネル幅W)を極端に大きく例えばW>1500[μm]
程度としてON抵抗を無視できるようにする必要があ
り、面積的に効率が悪い構成であった。
【0046】それに対して、図3に示す本実施の形態4
の構成では、アナログスイッチのON抵抗は、信号ライ
ンに乗らず、ハイインピーダンスである差動オペアンプ
の反転入力端子と非反転入力端子とに直接接続されてい
るので、高抵抗でも全く問題ではない。したがって、ア
ナログスイッチを構成するトランジスタサイズには特に
制約はなく、チャネル幅Wは10[μm]以下で十分で
あり、図3に示すAGC回路のゲインの切替え数が多く
アナログスイッチが多数必要な場合でも、面積的に大き
な問題とはならない。
の構成では、アナログスイッチのON抵抗は、信号ライ
ンに乗らず、ハイインピーダンスである差動オペアンプ
の反転入力端子と非反転入力端子とに直接接続されてい
るので、高抵抗でも全く問題ではない。したがって、ア
ナログスイッチを構成するトランジスタサイズには特に
制約はなく、チャネル幅Wは10[μm]以下で十分で
あり、図3に示すAGC回路のゲインの切替え数が多く
アナログスイッチが多数必要な場合でも、面積的に大き
な問題とはならない。
【0047】(実施の形態5)本実施の形態5のゲイン
調整回路においては、連動切換スイッチをON,OFF
させて差動オペアンプを反転アンプもしくは非反転アン
プに切り換えても、同一のゲイン切換特性を持つための
条件に関して記載したものである。反転アンプと非反転
アンプとのゲイン切換特性が異なると、ゲイン調整用ソ
フトを別々に開発しなければならず、またゲイン調整範
囲の保証範囲も変わってしまい好ましくない。従って、
セレクタ回路でONされるアナログスイッチ番号nが変
化して可変抵抗VR1,VR2の値が変化したときのゲ
イン切換特性が、反転アンプでも非反転アンプでも同じ
特性になるように設計する必要がある。図3に示す本発
明のゲイン調整回路では、入力端子1とオペアンプ7の
反転入力端子との間の第1のゲイン調整抵抗R1、オペ
アンプ7の反転入力端子とオペアンプ7の出力端子との
間の第2のゲイン調整抵抗R2、入力端子2とオペアン
プ7の非反転入力端子との間の第3のゲイン調整抵抗R
3、オペアンプ7の非反転入力端子と基準電源VREF
との間の第4のゲイン調整抵抗R4は、前記両可変抵抗
VR1,VR2の切替えスイッチをnとすると、次の関
係式(7)で与えられる。
調整回路においては、連動切換スイッチをON,OFF
させて差動オペアンプを反転アンプもしくは非反転アン
プに切り換えても、同一のゲイン切換特性を持つための
条件に関して記載したものである。反転アンプと非反転
アンプとのゲイン切換特性が異なると、ゲイン調整用ソ
フトを別々に開発しなければならず、またゲイン調整範
囲の保証範囲も変わってしまい好ましくない。従って、
セレクタ回路でONされるアナログスイッチ番号nが変
化して可変抵抗VR1,VR2の値が変化したときのゲ
イン切換特性が、反転アンプでも非反転アンプでも同じ
特性になるように設計する必要がある。図3に示す本発
明のゲイン調整回路では、入力端子1とオペアンプ7の
反転入力端子との間の第1のゲイン調整抵抗R1、オペ
アンプ7の反転入力端子とオペアンプ7の出力端子との
間の第2のゲイン調整抵抗R2、入力端子2とオペアン
プ7の非反転入力端子との間の第3のゲイン調整抵抗R
3、オペアンプ7の非反転入力端子と基準電源VREF
との間の第4のゲイン調整抵抗R4は、前記両可変抵抗
VR1,VR2の切替えスイッチをnとすると、次の関
係式(7)で与えられる。
【0048】 ただしn=−N,−N+1,...,0,...,N−
1,N 差動オペアンプの反転入力側のゲインG-と非反転入力
側のゲインG+は、次の式(8)で与えられる。
1,N 差動オペアンプの反転入力側のゲインG-と非反転入力
側のゲインG+は、次の式(8)で与えられる。
【0049】 G- =R2/R1 G+ =(R1+R2)/R1*R4/(R3+R4) =(1+G- )*R4/(R3+R4) ……(8) 反転アンプと非反転アンプとでゲイン切換特性が同一に
なるためには、任意のnに対してG- =G+ とならなけ
ればならない。従って前記関係式(8)より、次の式
(9)が得られる。
なるためには、任意のnに対してG- =G+ とならなけ
ればならない。従って前記関係式(8)より、次の式
(9)が得られる。
【0050】 G- =(1+G- )*R4/(R3+R4) ∴ R4=R3*G- ……(9) 上式(9)に式(8)を代入すると次の式(10)が得
られる。
られる。
【0051】 R40+(N−n)*r=[R30+(N+n)*r]*[R20+ (N−n)*r]/[R10 +(N+n)*r] ∴(R40−R10)*n*r+(R10+R40)*N*r+R10*R40 =(R20−R30)*n*r+(R20+R30)*N*r+R20*R30 ……(10) 上式(10)がnの恒等式であるためには、 R40−R10=R20−R30 (R10+R40)*N*r+R10*R40=(R20+R30)*N*r+R20*R30 ……(11) 前記式(11)の第1式と第2式とにより、R40を消
去して簡単化すると、以下の式(12)が得られる。
去して簡単化すると、以下の式(12)が得られる。
【0052】 R30=R10 R40=R20 ……(12) 以上の結果をまとめると、第3および第4の固定抵抗R
30,R40それぞれの抵抗値が、式(12)を満足す
るとき、差動オペアンプの反転ゲイン特性と非反転ゲイ
ン特性とは同一となり、極性を切り換えてもゲイン調整
は問題なく実施できる。なお、この場合、共通ゲインG
n は、 Gn =[R20+(N−n)*r]/[R10+(N+n)*r] ……(13) で与えられる。
30,R40それぞれの抵抗値が、式(12)を満足す
るとき、差動オペアンプの反転ゲイン特性と非反転ゲイ
ン特性とは同一となり、極性を切り換えてもゲイン調整
は問題なく実施できる。なお、この場合、共通ゲインG
n は、 Gn =[R20+(N−n)*r]/[R10+(N+n)*r] ……(13) で与えられる。
【0053】(実施の形態6)本実施の形態6の発明に
おいては、指定されたゲイン調整回路のゲイン調整範囲
αを実現するための条件に関して記載したものである。
ゲイン調整回路のセンターゲインG0 (n=0でのゲイ
ン)をA[dB]とすると、 G0 =(R20+N*r)/(R1
0+N*r)=10A / 2 0 ∴R20=10A / 2 0 *R10+(10A / 2 0 −1)*N
*r……(14) ここで、GN とG- N との大小比較をすると、 GN/G-N=[R20/(R10+2*N*r)]/[(R20+2*N*r)/R10] =R10/(R10+2*N*r)*R20/(R20+2*N*r)<1 ……(15) したがって、GN <G- N となるので、指定されたゲイ
ン調整範囲±α[dB]を満足するために小さい方のG
N で設計すると、 GN =R20/(R10+2*N*r)=10( A - α) / 2 0 ……(16) 前記式(14)(16)より、 R10=[2*10(A-α)/20−10A/20+1]/[10A/20−10(A-α)/20]*N*r R20=[10(A-α)/20+10-α/20]/[1−10-α/20]*N*r ……(17) 以上の結果より、R10,R20として前記式(17)
を満足するように設定し、R30,R40として前記式
(12)を満足するように設定すると、指定されたゲイ
ン調整範囲±α[dB]を実現できる。
おいては、指定されたゲイン調整回路のゲイン調整範囲
αを実現するための条件に関して記載したものである。
ゲイン調整回路のセンターゲインG0 (n=0でのゲイ
ン)をA[dB]とすると、 G0 =(R20+N*r)/(R1
0+N*r)=10A / 2 0 ∴R20=10A / 2 0 *R10+(10A / 2 0 −1)*N
*r……(14) ここで、GN とG- N との大小比較をすると、 GN/G-N=[R20/(R10+2*N*r)]/[(R20+2*N*r)/R10] =R10/(R10+2*N*r)*R20/(R20+2*N*r)<1 ……(15) したがって、GN <G- N となるので、指定されたゲイ
ン調整範囲±α[dB]を満足するために小さい方のG
N で設計すると、 GN =R20/(R10+2*N*r)=10( A - α) / 2 0 ……(16) 前記式(14)(16)より、 R10=[2*10(A-α)/20−10A/20+1]/[10A/20−10(A-α)/20]*N*r R20=[10(A-α)/20+10-α/20]/[1−10-α/20]*N*r ……(17) 以上の結果より、R10,R20として前記式(17)
を満足するように設定し、R30,R40として前記式
(12)を満足するように設定すると、指定されたゲイ
ン調整範囲±α[dB]を実現できる。
【0054】(実施の形態7)本実施の形態7の発明
は、指定されたゲイン調整範囲±α[dB]を実現する
ために、ゲイン調整用差動オペアンプのセンターゲイン
Aとして設定できる範囲について記載したものである。
式(17)よりR10が正となるためには、次の式(1
8)を満たす必要がある。
は、指定されたゲイン調整範囲±α[dB]を実現する
ために、ゲイン調整用差動オペアンプのセンターゲイン
Aとして設定できる範囲について記載したものである。
式(17)よりR10が正となるためには、次の式(1
8)を満たす必要がある。
【0055】 2*10( A - α) / 2 0 −10A / 2 0 +1 > 0 ∴A<20*log10[1/(1−2*10- α/ 2 0 )] ……(18) すなわち、図3に示す本発明のゲイン調整回路では、ゲ
イン調整範囲±α[dB]を実現するために、ゲイン調
整用差動オペアンプのセンターゲインAとして式(1
8)で示す範囲まで設定可能ということになる。
イン調整範囲±α[dB]を実現するために、ゲイン調
整用差動オペアンプのセンターゲインAとして式(1
8)で示す範囲まで設定可能ということになる。
【0056】ただし、対数関数の引数は常に正でなくて
はならないので、ゲイン調整範囲±αは次の式(19)
となる。
はならないので、ゲイン調整範囲±αは次の式(19)
となる。
【0057】 α>20*log102≒6.02 ……(19) (実施の形態8)次に、本発明のゲイン調整回路を具体
的にさらに図3を参照しながら説明する。図3の内容に
ついては既に説明しているので省略する。
的にさらに図3を参照しながら説明する。図3の内容に
ついては既に説明しているので省略する。
【0058】今、光学ピックアップのRF信号としてA
CゲインINacが0.2[Vp−p]、DC成分IN
dcが0.1[V]とし、ゲイン調整範囲αが±10
[dB]必要であるとする。そうすると、前記式(1
8)より差動オペアンプのセンターゲインA[dB]
は、次の式(20)となる。
CゲインINacが0.2[Vp−p]、DC成分IN
dcが0.1[V]とし、ゲイン調整範囲αが±10
[dB]必要であるとする。そうすると、前記式(1
8)より差動オペアンプのセンターゲインA[dB]
は、次の式(20)となる。
【0059】 A<20*log10[1/(1−2*10- 1 0 / 2 0 )]=8.69 ……(20) そして、この関係式より今回はA=0と設定する。単位
抵抗rは任意に選べるので、r=0.2K[Ω]とし、
ゲイン調整切換ステップ数2N+1としてN=31(6
3段階切換)とすると、第1の固定抵抗R10と第2の
固定抵抗R20の前記式(17)より、第1の固定抵抗
R10と第2の固定抵抗R20それぞれの抵抗値は次の
値となる。
抵抗rは任意に選べるので、r=0.2K[Ω]とし、
ゲイン調整切換ステップ数2N+1としてN=31(6
3段階切換)とすると、第1の固定抵抗R10と第2の
固定抵抗R20の前記式(17)より、第1の固定抵抗
R10と第2の固定抵抗R20それぞれの抵抗値は次の
値となる。
【0060】 R10=[2*10-10/20 -101/20 +1]/[101/20-10-10/20]*31*0.2 =5.735[KΩ] R20 = [10-10/20+10-10/20] / [1-10-10/20] * 31*0.2 =5.735[KΩ] ……(21) 第3の固定抵抗R30と第4の固定抵抗R40それぞれ
の抵抗値は前記式(12)より すなわち、図6に示すようなゲイン調整回路が構成され
る。
の抵抗値は前記式(12)より すなわち、図6に示すようなゲイン調整回路が構成され
る。
【0061】ただし、セレクタ回路としては、6ビット
のデコーダを使用した。これにより、n=−31〜n=
+31まで63段階でバランス調整できる。
のデコーダを使用した。これにより、n=−31〜n=
+31まで63段階でバランス調整できる。
【0062】光学ピックアップから出力されるRF信号
の周波数を720[KHz]と仮定し、(VDD=5
V,VREF=2.5Vとする) を入力した場合の結果を図7、8に示す。
の周波数を720[KHz]と仮定し、(VDD=5
V,VREF=2.5Vとする) を入力した場合の結果を図7、8に示す。
【0063】図7は連動切換スイッチをONにして、反
転アンプとして動作させた結果で、図8は連動切換スイ
ッチをOFFにして、非反転アンプとして動作させた結
果である。(a) は入力信号の波形で、(b),
(c)はそれぞれスイッチ番号n=−31, n=+3
1のアナログスイッチをONした場合のゲイン調整回路
の出力波形である。n=−31がONの場合、出力信号
のAC成分のピーク−ピークゲインは反転アンプでも非
反転アンプでもOUTac=0.63[Vp−p]であ
るので、ゲイン特性範囲は、次の式(24)で得られ
る。
転アンプとして動作させた結果で、図8は連動切換スイ
ッチをOFFにして、非反転アンプとして動作させた結
果である。(a) は入力信号の波形で、(b),
(c)はそれぞれスイッチ番号n=−31, n=+3
1のアナログスイッチをONした場合のゲイン調整回路
の出力波形である。n=−31がONの場合、出力信号
のAC成分のピーク−ピークゲインは反転アンプでも非
反転アンプでもOUTac=0.63[Vp−p]であ
るので、ゲイン特性範囲は、次の式(24)で得られ
る。
【0064】 α- 3 1 =20*log10(OUTac/INac)=10 [dB] ……(24) n=+31がONの場合、反転アンプでも非反転アンプ
でも、OUTac=0.063[Vp−p]であるの
で、ゲイン調整範囲は、次の式(25)で得られる。
でも、OUTac=0.063[Vp−p]であるの
で、ゲイン調整範囲は、次の式(25)で得られる。
【0065】 α+ 3 1 =20*log10(OUTac/INac)=−10[dB] ……(25) となり、反転アンプでも非反転アンプでも、必要スペッ
ク±10[dB]を満足している。
ク±10[dB]を満足している。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のゲイン調
整回路を用いると、従来必要であった極性切換用オペア
ンプが削減できるので、従来より小さい面積でゲイン調
整回路が可能となり、その実用的効果は大きい。また、
本発明のゲイン調整回路では、アナログスイッチのサイ
ズを十分小さくできるので、ゲイン切換が多くてアナロ
グスイッチがたくさん必要な場合でも、面積的に大きな
問題とならず、その実用的効果は大きい。
整回路を用いると、従来必要であった極性切換用オペア
ンプが削減できるので、従来より小さい面積でゲイン調
整回路が可能となり、その実用的効果は大きい。また、
本発明のゲイン調整回路では、アナログスイッチのサイ
ズを十分小さくできるので、ゲイン切換が多くてアナロ
グスイッチがたくさん必要な場合でも、面積的に大きな
問題とならず、その実用的効果は大きい。
【図1】本発明の実施の形態1のゲイン調整回路の回路
図
図
【図2】本発明の実施の形態2のゲイン調整回路の回路
図
図
【図3】本発明の実施の形態3のゲイン調整回路の回路
図
図
【図4】本発明の実施の形態3におけるアナログスイッ
チの構成図
チの構成図
【図5】アナログスイッチのON抵抗の入力信号電圧依
存特性図
存特性図
【図6】本発明の実施の形態8のゲイン調整回路の回路
図
図
【図7】本発明の実施の形態8による反転アンプの場合
のゲイン調整のHSPICEシミュレーション結果を示
すもので、(a)は入力信号の波形、(b)は出力信号
の波形図、(c)は出力信号の波形図
のゲイン調整のHSPICEシミュレーション結果を示
すもので、(a)は入力信号の波形、(b)は出力信号
の波形図、(c)は出力信号の波形図
【図8】本発明の実施の形態8による非反転アンプの場
合のゲイン調整のHSPICEシミュレーション結果を
示すもので、(a)は入力信号の波形、(b)は出力信
号の波形図、(c)は出力信号の波形図
合のゲイン調整のHSPICEシミュレーション結果を
示すもので、(a)は入力信号の波形、(b)は出力信
号の波形図、(c)は出力信号の波形図
【図9】光ディスク用ヘッドアンプの構成図
【図10】従来のゲイン調整回路の回路図で(a)は入
力側抵抗でゲイン調整を行う回路、(b)は負帰還側抵
抗でゲイン調整を行う回路
力側抵抗でゲイン調整を行う回路、(b)は負帰還側抵
抗でゲイン調整を行う回路
【図11】アナログスイッチのON抵抗のトランジスタ
サイズ依存特性を示す図で(a)はシミュレーション回
路、(b)シミュレーション結果を示す図
サイズ依存特性を示す図で(a)はシミュレーション回
路、(b)シミュレーション結果を示す図
1 入力端子 2 入力端子 3 出力端子 4 基準電源端子 5 反転入力端子 6 非反転入力端子 7 差動オペアンプ 8 連動切換スイッチ 9 RF信号 10 セレクタ回路 12 アナログスイッチ用p−チャンネルトランジスタ 13 アナログスイッチ用n−チャンネルトランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 佐立 真樹 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (7)
- 【請求項1】差動オペアンプと、切り換え手段とを備
え、 前記差動オペアンプは、第1の入力端子とオペアンプの
反転入力端子との間に第1のゲイン調整抵抗を、前記オ
ペアンプの反転入力端子と出力端子との間に第2のゲイ
ン調整抵抗を、第2の入力端子と前記オペアンプの非反
転入力端子との間に第3のゲイン調整抵抗を、前記オペ
アンプの非反転入力端子と基準電源との間に第4のゲイ
ン調整抵抗をそれぞれ接続して構成され、 前記切り換え手段は、前記第1の入力端子に光学ピック
アップにより生成されるRF信号を入力し、かつ前記第
2の入力端子に基準電源を入力する第1のモードと、前
記第1の入力端子に基準電源を入力し、かつ前記第2の
入力端子に前記RF信号を入力する第2のモードとに切
り換え可能とするものであり、 前記モードの切り換えで前記差動オペアンプを反転アン
プまたは非反転アンプに切り換え、かつ、前記各ゲイン
調整抵抗の抵抗値変化で前記RF信号のゲインを調整可
能としたことを特徴とするRF信号用ゲイン調整回路。 - 【請求項2】前記第1および第2のゲイン調整抵抗とし
て、直列に接続された第1の固定抵抗、第1の可変抵
抗、第2の固定抵抗を具備し、前記第1の固定抵抗を前
記第1の入力端子に接続し、前記第1の可変抵抗の可変
接点を前記オペアンプの反転入力端子に接続し、前記第
2の固定抵抗を前記オペアンプの出力端子に接続し、 前記第3および第4のゲイン調整抵抗として、直列に接
続された第3の固定抵抗、第2の可変抵抗、第4の固定
抵抗を具備し、前記第3の固定抵抗を前記第2の入力端
子に接続し、前記第2の可変抵抗の可変接点を前記オペ
アンプの非反転入力端子に接続し、前記第4の固定抵抗
を前記基準電源に接続したことを特徴とする請求項1に
記載のRF信号用ゲイン調整回路。 - 【請求項3】前記第1の固定抵抗(抵抗値R10)と第
2の固定抵抗(抵抗値R20)との間の前記第1の可変
抵抗として直列接続された2N個の単位抵抗(抵抗値
r)で構成し、 前記第1の可変抵抗の可変接点として、前記単位抵抗す
べての両端に2N+1個のスイッチ手段(スイッチ番号
nが前記第1の固定抵抗から第2の固定抵抗に向けて−
N,−N+1,…,0,…,N−1,Nと命名される)
それぞれの入力端子を個別に接続し、かつ前記各スイッ
チ手段それぞれの出力端子のすべてを前記オペアンプの
反転入力端子に接続することにより構成し、 前記第3の固定抵抗(抵抗値R30)と第4の固定抵抗
(抵抗値R40)との間の前記第2の可変抵抗として直
列接続された2N個の単位抵抗(抵抗値r)で構成し、 前記第2の可変抵抗の可変接点として、前記単位抵抗す
べての両端に2N+1個のスイッチ手段(スイッチ番号
nが前記第3の固定抵抗から第4の固定抵抗に向けて−
N,−N+1,…,0,…,N−1,Nと命名される)
それぞれの入力端子を個別に接続し、かつ前記各スイッ
チ手段それぞれの出力端子のすべてを前記オペアンプの
非反転入力端子に接続することにより構成し、 前記オペアンプの反転入力端子側のスイッチ手段それぞ
れと、非反転入力端子側のスイッチ手段それぞれとで、
スイッチ番号がnの1個のみをオンにさせることによっ
て、前記各ゲイン調整抵抗の抵抗値が、R1を前記第1
のゲイン調整抵抗の抵抗値、R2を前記第2のゲイン調
整抵抗の抵抗値、R3を前記第3のゲイン調整抵抗の抵
抗値、R4を前記第4のゲイン調整抵抗の抵抗値とし
て、次の関係式を満たすように平行して変化することを
特徴とする請求項2に記載のRF信号用ゲイン調整回
路。 R1=R10+(N+n)*r R2=R20+(N−n)*r R3=R30+(N+n)*r R4=R40+(N−n)*r - 【請求項4】前記各スイッチ手段それぞれがアナログス
イッチで構成されており、前記アナログスイッチを構成
するトランジスタのサイズがチャンネル幅10μm以下
とされていることを特徴とする請求項3に記載のRF信
号用ゲイン調整回路。 - 【請求項5】前記第1および第3の固定抵抗それぞれの
抵抗値が互いに同一(R10=R30)であり、かつ前
記第2および第4の固定抵抗それぞれの抵抗値が互いに
同一(R20=R40)とすることにより、オンにされ
るスイッチ手段のスイッチ番号nが変化したときのゲイ
ン調整特性が、前記いずれのモードにおいても同一の特
性を有することを特徴とする請求項3記載のRF信号用
ゲイン調整回路。 - 【請求項6】前記第1および第2の可変抵抗の可変接点
が中点(n=0)のときの前記差動オペアンプのセンタ
ーゲインをA[dB]とすると、前記第1および第2の
固定抵抗それぞれの抵抗値が次の関係式を満たすことに
より、ゲイン調整範囲として±α[dB]を実現するこ
とを特徴とする請求項5記載のRF信号用ゲイン調整回
路。 R10=[2*10( A - α ) / 2 0 −10A / 2 0
+1]/[10A / 2 0 −10( A - α ) / 2 0 ]*
N*r R20=[10( A - α ) / 2 0 +10- α / 2 0 ]
/[1−10- α / 2 0 ]*N*r - 【請求項7】指定されたゲイン調整範囲±α[dB]を
実現するために、前記差動オペアンプのセンターゲイン
A[dB]の設定値を次の関係式で示す範囲に限定した
ことを特徴とする請求項6記載のRF信号用ゲイン調整
回路。 A<20*log10[1/(1−2*10- α/ 20)] (ただし、α>20*log102≒6.02)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10124977A JPH11317019A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | Rf信号用ゲイン調整回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10124977A JPH11317019A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | Rf信号用ゲイン調整回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11317019A true JPH11317019A (ja) | 1999-11-16 |
Family
ID=14898901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10124977A Pending JPH11317019A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | Rf信号用ゲイン調整回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11317019A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009253330A (ja) * | 2008-04-01 | 2009-10-29 | Seiko Epson Corp | 可変抵抗アレイ、増幅回路、及び電子機器 |
| WO2014156101A1 (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-02 | パナソニック株式会社 | 極性切替増幅回路 |
| CN104113226A (zh) * | 2013-04-17 | 2014-10-22 | 瑞萨电子株式会社 | 半导体器件和逆变器系统 |
| CN110380692A (zh) * | 2019-06-28 | 2019-10-25 | 上海类比半导体技术有限公司 | 一种差分放大器的修调电路 |
| CN111342786A (zh) * | 2020-04-21 | 2020-06-26 | 上海类比半导体技术有限公司 | 差分放大器共模抑制比和增益修调电路 |
| CN115833032A (zh) * | 2022-11-25 | 2023-03-21 | 深圳瑞德创新科技有限公司 | 电路保护方法、装置、设备及计算机可读存储介质 |
-
1998
- 1998-05-07 JP JP10124977A patent/JPH11317019A/ja active Pending
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009253330A (ja) * | 2008-04-01 | 2009-10-29 | Seiko Epson Corp | 可変抵抗アレイ、増幅回路、及び電子機器 |
| WO2014156101A1 (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-02 | パナソニック株式会社 | 極性切替増幅回路 |
| US9602066B2 (en) | 2013-03-29 | 2017-03-21 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Polarity-switching amplifier circuit |
| CN104113226A (zh) * | 2013-04-17 | 2014-10-22 | 瑞萨电子株式会社 | 半导体器件和逆变器系统 |
| JP2014212397A (ja) * | 2013-04-17 | 2014-11-13 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及びインバータシステム |
| CN104113226B (zh) * | 2013-04-17 | 2019-02-05 | 瑞萨电子株式会社 | 半导体器件和逆变器系统 |
| CN110380692A (zh) * | 2019-06-28 | 2019-10-25 | 上海类比半导体技术有限公司 | 一种差分放大器的修调电路 |
| CN110380692B (zh) * | 2019-06-28 | 2020-11-24 | 上海类比半导体技术有限公司 | 一种差分放大器的修调电路 |
| US12143071B2 (en) | 2019-06-28 | 2024-11-12 | Shanghai Analogy Semiconductor Technology Ltd. | Trimming circuit of differential amplifier |
| CN111342786A (zh) * | 2020-04-21 | 2020-06-26 | 上海类比半导体技术有限公司 | 差分放大器共模抑制比和增益修调电路 |
| US11757417B2 (en) | 2020-04-21 | 2023-09-12 | Shanghai Analogy Semiconductor Technology Ltd. | Differential amplifier common-mode rejection ratio and gain trimming circuit |
| CN115833032A (zh) * | 2022-11-25 | 2023-03-21 | 深圳瑞德创新科技有限公司 | 电路保护方法、装置、设备及计算机可读存储介质 |
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Legal Events
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