JPH11325810A - 位置推定装置 - Google Patents
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- JPH11325810A JPH11325810A JP10315024A JP31502498A JPH11325810A JP H11325810 A JPH11325810 A JP H11325810A JP 10315024 A JP10315024 A JP 10315024A JP 31502498 A JP31502498 A JP 31502498A JP H11325810 A JPH11325810 A JP H11325810A
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Endoscopes (AREA)
Abstract
3次元位置を求めるときの推定誤差を縮小する。 【解決手段】 電子内視鏡6の鉗子チャンネル12の挿
入口12aから16個のソースコイル14iを有するプ
ローブ15が挿通されることにより、挿入部7内にソー
スコイル14iが設置される。患者5が横たわるベット
4には、共通の中心を持ち、同一直線上に同一方向に磁
界を検出する少なくとも4つの単心コイル22kを並べ
た4つのセンスコイル22a、22b、22c、22d
のうちセンスコイル22a、22bを平行に、センスコ
イル22c、22dをセンスコイル22a、22bに直
交した井げた状態で、所定の位置に設置されている。
Description
詳しくは複数の単軸コイルによるソースコイルの位置推
定部分に特徴のある位置推定装置に関する。
野で広く用いられるようになった。この内視鏡は特に挿
入部が軟性のものは、屈曲した体腔内に挿入することに
より、切開することなく体腔内深部の臓器を診断した
り、必要に応じてチャンネル内に処置具を挿通してポリ
ープ等を切除するなどの治療処置を行うことができる。
を検査する場合のように、屈曲した体腔内に挿入部を円
滑に挿入するためにはある程度の熟練を必要とする場合
がある。
の屈曲に応じて挿入部に設けた湾曲部を湾曲させる等の
作業が円滑な挿入を行うのに必要になり、そのためには
挿入部の先端位置等が、体腔内のどの位置にあるかと
か、現在の挿入部の屈曲状態等を知ることができると便
利である。
O94/04938号公報の従来技術では予め決められ
た位置に固定された3個の直交する3軸をもつコイルを
用いて、空間内に直交するベクトルを持つ交流磁界を順
次発生させ、前記空間内にある座標上に存在する1軸コ
イルで、3軸の各軸のコイルが発生した磁界により誘導
されて生じた前記1軸コイル両端間の電圧を計測する。
この計測したデータを基に、前記1軸コイルの空間座標
を検出していた。
94/04938号公報の従来技術においては、周囲温
度の変化や経時的な変化によって、磁界を発生させるた
めの高周波信号の周波数と周波数抽出手段の抽出する周
波数成分の周波数が一致していないと、周波数成分の値
が本来抽出されるべき値からはずれてしまい、この値か
ら求めた内視鏡の位置が実際の位置と一致しなくなって
しまうため、挿入状態を正確に検出できなくなる可能性
があった。
は、高周波信号の周波数と参照信号の周波数とを一致さ
せるための周波数の調整手段を設けることにより、周囲
温度の変化や経時的な変化により高周波信号の周波数と
参照信号の周波数とがずれるような環境等においても、
一致させることができ、設定への影響を受けにくくし、
内視鏡の挿入状態を検出することのできる内視鏡形状検
出装置が提案されている。
938号公報の従来技術では、複数の検出素子の出力値
から磁気発生素子の位置を推定するためには、直交させ
た単心コイルを3つ組み合わせた3軸コイルが複数必要
であり、複雑な構成となる。
ても、内視鏡システムに応用する場合、複数の検出素子
の出力値から磁気発生素子の位置を推定するためには、
直交させた単心コイルを3つ組み合わせた3軸コイルが
複数必要であり、やはり、複雑な構成となる。
は、ベクトルの解析において、信号列を構成する周波数
のフーリエ変換等により観測される周波数とを厳密に同
値とすることが困難であり、周波数領域上でのモレが発
生するため、窓関数法などを適用することにより、モレ
による影響を軽減する必要がある。
9−140603号において、同一直線上に同一方向に
異なる位置に置かれた少なくとも4つの単心コイルで構
成される検出素子(または磁気発生素子)により、磁気
発生素子(または検出素子)の存在する空間を推定する
場合、推定すべき変数の数を減らすことのできるコイル
位置測定方法を提案している。
願平9−140603号では、確かに上記問題を解決す
ることができるが、4個組センスコイルを並列に並べた
ことにより各4個組センスコイルにより推定される円の
誤差(中心と半径の誤差)の方向が同一となり、推定さ
れるソースコイルの3次元位置の誤差が特定の方向に大
きくなるという問題や、ソースコイルとセンスコイルと
の距離が離れると推定されるソースコイルの3次元位置
がばらつくという問題がある。
であり、複数組のセンスコイルによりソースコイルの3
次元位置を求めるときの推定誤差を縮小することのでき
る位置推定装置を提供することを目的としている。
は、磁界を発生するための単軸発信コイルを有する磁界
発生手段と、前記磁界発生手段で発生された磁界を検出
する磁界検出手段とを有し、前記磁界検出手段による磁
界検出に基づき前記磁界発生手段の位置情報を検出する
位置推定装置において、前記磁界検出手段が、少なくと
も、同一直線上に第1、第2、第3及び第4の単軸発信
コイルを同一方向に向けて配置してなる第1の磁界検出
部と、前記第1の磁界検出部と非平行な同一直線上に第
5、第6、第7及び第8の単軸発信コイルを同一方向に
向けて配置してなる第2の磁界検出部とを備え構成され
る。
第1、第2、第3及び第4の単軸発信コイルを同一方向
に向けて配置してなる前記第1の磁界検出部及び前記第
1の磁界検出部と非平行な同一直線上に第5、第6、第
7及び第8の単軸発信コイルを同一方向に向けて配置し
てなる前記第2の磁界検出部とを備えた前記磁界検出手
段による磁界検出に基づき前記磁界発生手段の位置情報
を検出することで、複数組のセンスコイルによりソース
コイルの3次元位置を求めるときの推定誤差を縮小する
ことを可能とする。
の実施の形態について述べる。
発明の第1の実施の形態に係わり、図1は内視鏡システ
ムの構成を示す構成図、図2は図1の内視鏡装置形状検
出装置の機能構成を示すブロック図、図3は図2の内視
鏡装置形状検出装置の構成を示す構成図、図4は図3の
内視鏡装置形状検出装置の要部である2ポートメモリ等
の構成を示す構成図、図5は図4の2ポートメモリの動
作を示すタイミング図、図6は図1の内視鏡システムの
作用を示すフローチャート、図7は図6のFFT処理の
流れを示すフローチャート、図8は図6の内視鏡システ
ムの作用における並行処理タイミングを示すタイミング
図、図9は図6のソースコイル推定位置座標算出処理の
原理を説明する第1の説明図、図10は図6のソースコ
イル推定位置座標算出処理の原理を説明する第2の説明
図、図11は図6のソースコイル推定位置座標算出処理
の原理を説明する第3の説明図、図12は図6のソース
コイル推定位置座標算出処理の原理を説明する第4の説
明図、図13は図6のソースコイル推定位置座標算出処
理の原理を説明する第5の説明図、図14は図6のソー
スコイル推定位置座標算出処理の原理を説明する第6の
説明図、図15は図6のソースコイル推定位置座標算出
処理の原理を説明する第7の説明図、図16は図6のソ
ースコイル推定位置座標算出処理の原理を説明する第8
の説明図、図17は図6のソースコイル推定位置座標算
出処理の原理を説明する第9の説明図、図18は図6の
ソースコイル推定位置座標算出処理の原理を説明する第
10の説明図、図19は図6のソースコイル推定位置座
標算出処理の原理を説明する第11の説明図、図20は
図6のソースコイル推定位置座標算出処理の流れを示す
第1のフローチャート、図21は図6のソースコイル推
定位置座標算出処理の流れを示す第2のフローチャー
ト、図22は図20及び図21により算出されたソース
コイル推定位置に対する位置更新制御処理の流れを示す
フローチャート、図23は図6の内視鏡形状検出イメー
ジ画像表示処理の流れを示すフローチャート、図24は
図23の通常モード処理による表示例を示す図、図25
は図23の拡大モード処理の流れを示すフローチャー
ト、図26は図25の拡大モード処理による表示例を示
す図、図27は図6の内視鏡形状検出イメージ画像表示
処理における3Dモデル1および3Dモデル2のイメー
ジモデルを説明する第1の説明図、図28は図27の3
Dモデル1および3Dモデル2のイメージモデルの表示
処理を示すフローチャート、図29は図6の内視鏡形状
検出イメージ画像表示処理における3Dモデル1および
3Dモデル2のイメージモデルを説明する第2の説明
図、図30は図29の色調補正処理の流れを示す第1の
フローチャート、図31は図30の色調補正処理の作用
を説明する第1の説明図、図32は図29の色調補正処
理の流れを示す第2のフローチャート、図33は図30
の色調補正処理の作用を説明する第2の説明図、図34
は図6の内視鏡形状検出イメージ画像表示処理における
2Dモデルのイメージモデルの表示処理を示すフローチ
ャート、図35は図34による処理で表示される内視鏡
形状検出イメージ画像の表示例を示す図、図36は図6
の内視鏡形状検出イメージ画像表示処理における12点
モデルのイメージモデルの表示処理を示すフローチャー
ト、図37は図36による処理で表示される内視鏡形状
検出イメージ画像の表示例を示す図、図38は図6の内
視鏡形状検出イメージ画像表示処理における直線モデル
のイメージモデルの表示処理を示すフローチャート、図
39は図38による処理で表示される内視鏡形状検出イ
メージ画像の表示例を示す図である。
の内視鏡システム1は、内視鏡検査を行う内視鏡装置2
と、内視鏡検査の補助に用いられる内視鏡装置形状検出
装置3とを備え、この内視鏡形状検出装置3は、ベット
4に横たわる患者5の体腔内に電子内視鏡6の挿入部7
を挿入し、内視鏡検査を行う際の挿入補助手段として使
用される。
入部7の後端に湾曲操作ノブを設けた操作部8が形成さ
れ、この操作部8からユニバーサルコード9が延出さ
れ、ビデオイメージングシステム(またはビデオプロセ
ッサ)10に接続されている。
されビデオプロセッサ10内の光源部からの照明光を伝
送し、挿入部7の先端に設けた照明窓から伝送した照明
光を出射し、患者等を照明する。照明された患部等の被
写体は照明窓に隣接して設けられた観察窓に取り付けた
対物レンズにより、その結像位置に配置された撮像素子
に像を結び、この撮像素子は光電変換する。
0内の映像信号処理部により信号処理されて標準的な映
像信号が生成され、ビデオプロセッサ10に接続された
画像観察用モニタ11に表示される。
が設けてあり、この鉗子チャンネル12の挿入口12a
から例えば16個の磁気発生素子(またはソースコイ
ル)14a、14b、…、14p(以下、符号14iで
代表する)を有するプローブ15が挿通されることによ
り、挿入部7内にソースコイル14iが設置される。
ースケーブル16は、その後端のコネクタが内視鏡形状
検出装置3の装置本体21に着脱自在に接続される。そ
して、装置本体21側から高周波信号伝達手段としてソ
ースケーブル16を介して磁気発生手段となるソースコ
イル14iに高周波信号(駆動信号)を印加することに
より、ソースコイル14iは磁界を伴う電磁波を周囲に
放射する。
通の中心を持ち、同一直線上に同一方向に磁界を検出す
る少なくとも4つの単心コイル22kを並べた磁気検出
素子(またはセンスコイル)、例えば4つのセンスコイ
ル22a、22b、22c、22d(以下、22jで代
表する)を、センスコイル22a及びセンスコイル22
bを平行に、かつセンスコイル22c及びセンスコイル
22dをセンスコイル22a及びセンスコイル22bと
直交した状態の井げた状の位置に設置している。この場
合、単心コイル22kは全部で16個となる。
タから検出信号伝達手段としてのセンスケーブル23を
介して装置本体21に接続されている。この装置本体2
1には使用者が装置を操作するための操作パネル24ま
たはキーボード等が設けられている。また、この装置本
体21には検出した内視鏡形状を表示する表示手段とし
てモニタ25が接続されている。
成について説明する。内視鏡形状検出装置3は、図2に
示すように、ソースコイル14iを起動する駆動ブロッ
ク26と、センスコイル22jが受信した信号を検出す
る検出ブロック27と、検出ブロック27で検出した信
号を信号処理するホストプロセッサ28とから構成され
る。
7に設置されるプローブ15には、上述したように、磁
界を生成するための16個のソースコイル14iが所定
の間隔で配置されており、これらソースコイル14i
は、駆動ブロック26を構成する16個の互いに異なる
高周波の駆動信号を生成するソースコイル駆動回路31
に接続されている。
コイル14iをそれぞれ異なる周波数の正弦波の駆動信
号電流で駆動し、それぞれの駆動周波数はソースコイル
駆動回路部31内部の図示しない駆動周波数設定データ
格納手段或いは駆動周波数設定データ記憶手段に格納さ
れた駆動周波数設定データ(駆動周波数データとも記
す)により設定される。この駆動周波数データは、ホス
トプロセッサ28において内視鏡形状の算出処理等を行
うCPU(中央処理ユニット)32によりPIO(パラ
レル入出力回路)33を介してソースコイル駆動回路部
31内の駆動周波数データ格納手段(図示せず)に格納
される。
る16個の単心コイル22kは、検出ブロック27を構
成するセンスコイル信号増幅回路部34に接続されてい
る。
回路部34では、単心コイル22kが1個につき1系統
設けられた増幅回路35kに接続されており、各単心コ
イル22kで検出された微小な信号が増幅回路35kに
より増幅されフィルタ回路36kでソースコイル群が発
生する複数周波数が通過する帯域をもち不要成分を除去
して出力バッファ37kに出力された後、ADC(アナ
ログ・デジタル・コンバータ)38kでホストプロセッ
サ28が読み込み可能なデジタル信号に変換される。
信号増幅回路部34及びADC38kより構成され、セ
ンスコイル信号増幅回路部34は増幅回路35k、フィ
ルタ回路36k及び出力バッファ37kより構成され
る。
路部34の16系統の出力は、16個の前記ADC38
kに伝送され、制御信号発生回路部40から供給される
クロックにより所定のサンプリング周期のデジタルデー
タに変換される。このデジタルデータは、制御信号発生
回路部27からの制御信号によりローカルデータバス4
1を介して2ポートメモリ42に書き込まれる。
ように、機能的には、ローカルコントローラ42a、第
1のRAM42b、第2のRAM42c及びバススイッ
チ42dよりなり、図5に示すようなタイミングによ
り、ローカルコントローラ42aからのA/D変換開始
信号によりADC38kがA/D変換を開始し、ローカ
ルコントローラ42aからの切り換え信号によりバスス
イッチ42dがRAM42b、42cを切り換えながら
第1RAM42b、42cを交互に読み出しメモリ及び
書き込みメモリとして用い、書き込み信号により、電源
投入後は、常時データの取り込みを行っている。
号発生回路部27からの制御信号により2ポートメモリ
42に書き込まれたデジタルデータをローカルデータバ
ス43、PCIコントローラ44及びPCIバス45
(図4参照)からなる内部バス46を介して読みだし、
メインメモリ47を用い、後述するように、デジタルデ
ータに対して周波数抽出処理(フーリエ変換:FFT)
を行い、各ソースコイル14iの駆動周波数に対応する
周波数成分の磁界検出情報に分離抽出し、分離した磁界
検出情報の各デジタルデータから電子内視鏡6の挿入部
7内に設けられた各ソースコイル14iの空間位置座標
を算出する。
内視鏡6の挿入部7の挿入状態を推定し、内視鏡形状画
像を形成する表示データを生成し、ビデオRAM48に
出力する。このビデオRAM48に書き込まれているデ
ータをビデオ信号発生回路49が読みだし、アナログの
ビデオ信号に変換してモニタ25へと出力する。モニタ
25は、このアナログのビデオ信号を入力すると、表示
画面上に電子内視鏡6の挿入部7の挿入形状を表示す
る。
iに対応した磁界検出情報、すなわち、各センスコイル
22jの4つの単心コイル22kに発生する起電力(正
弦波信号の振幅値)と位相情報が算出される。なお、位
相情報は、起電力の極性±を示す。
ンスコイルの出力から推定する手法と直交する2つのセ
ンスコイル、平行な2つのセンスコイルからソースコイ
ルの3次元位置を推定する手法は、特願平9−1406
03号の実施の形態と同一である。
つのセンスコイルのうち、ソースコイルの存在する空間
を精度良く推定しているセンスコイルを複数抽出し、抽
出されたセンスコイルからソースコイルの3次元位置を
推定する手法について説明する。
源が投入されると、図6に示すように、ステップS1で
パラメータファイルに基づき各システムパラメータを初
期化し、ステップS2でハードウエアの初期化を行う。
FT処理を行うためのFFTポイント数分のデータが常
時更新されており(図5参照)、ステップS3で、CP
U32は、このFFTポイント数分のデータを取り込
む。そして、ステップS4で窓関数法による処理により
データの補正を行い、ステップS5で後述するFFT処
理を行う。FFT処理後は、ステップS6で駆動周波数
分の周波数成分を抽出し、ステップS7で振幅値及び位
相差を算出し、ステップS8で算出した振幅値及び位相
差の補正を行う。
38kからの信号(以下、チャンネル:CHとも記す)
の検出が全て終了したか判断し、終了していなければス
テップS3に戻り、終了していればステップS10でセ
ンスコイル特性に応じて全CH分の振幅値を補正し、ス
テップS11で全CH分の振幅値及び位相差により後述
する方法によりソースコイル14iの推定位置座標を算
出する。
1のシステム終了SWがオンかどうか判断し、オンでな
いならば、ステップS13で後述する内視鏡形状検出イ
メージ画像表示処理を行い、ステップS3に戻り処理を
繰り返す。また、ステップS12で内視鏡システム1の
システム終了SWがオンされると、ステップS14で各
システムパラメータをパラメータファイルに保存した
後、システムを終了する。
示すように、CPU32は、ステップS21で全CHが
シグナル状態(FFTポイント数分のデータが揃った状
態)かどうか判断し、シグナル状態ならばステップS2
2に進み、シグナル状態でないならばステップS23で
シグナル状態になるまで待機しステップS22に進む。
Hのビットの状態(ビットが0ならば今回処理のための
データ、ビットが1ならば処理済みのデータ)を判断
し、ビットが0ならばステップS24でFFTを行い、
FFT後ステップS25でビットの状態を1とする。ス
テップS22でビットが1ならばステップS21に戻
り、次の第2以降のCH全てに対して処理を繰り返し全
てのCHのFFT処理を行う。
全てのCHのビット状態が1かどうか判断し、全てのC
Hのビット状態が1でない場合は、ビット状態が1でな
いCHに対してFFT処理を行うためにステップS21
に戻る。ステップS26で全てのCHのビット状態が1
と判断すると、ステップS27で全CHをノンシグナル
状態とし待機し、FFTポイント数分のデータが揃うと
ステップS28でシグナル状態にセットし、ステップS
21に戻る。
めに、図8に示すように、各処理単位を並列処理化する
ようにしている。特に、処理時間が長く繰り返し演算で
あるFFTについては、同じ処理単位をほぼ同時に処理
する構成にしている。この並列処理化の対応によりCP
U32の空き時間を有効に使用し高速化を図っている。
ーリエ変換に基づく周波数抽出処理を実現する。ここで
は、各ソースコイル14iを駆動する正弦波の周波数f
iとデジタルデータの打ち切り幅との関係により生ずる
漏れ(leakage)と呼ばれる現象が問題となる。
打ち切り幅(すなわち、信号列の長さに相当する)がす
べての駆動周波数fiの周期に対して整数倍であれば、
各周波数の正弦波の振幅及び位相情報(いわゆる振幅ス
ペクトル及び位相スペクトル)を正確に求めることが可
能である。しかし、打ち切り幅が少なくともいずれか1
つの駆動周波数fiの周期に対して整数倍でなければ漏
れが発生し、算出する振幅及び位相情報に誤差として反
映される。これを防ぐため、一般的にはHamming
窓等による窓関数法が用いられる(参考文献:THE
FAST FOURIER TRANSFORM E.
ORAN BRIGHAM Sec.6)。
れによる誤差を軽減しているものであるにすぎない。ま
た、駆動周波数として漏れの影響がなるべく小である値
を使用する必要があり、これが制約となる場合もある。
よる影響を簡便な行列演算により積極的に補正し、より
高精度な振幅及び位相情報を得ることを可能とする周波
数抽出処理について説明する。
する正規化及び窓関数(矩形窓等)に対する係数倍での
補償はすでになされているものとする。
フーリエ変換(ここでは複素離散的フーリエ変換とす
る)Fk は
の長さ、jは虚数単位である。Fk は実数倍Re{F
k }及び虚数倍Im{Fk }からなっている。
幅が駆動周波数fiの周期の整数倍であるという条件
は、離散的フーリエ変換により観測される周波数fsi
と駆動周波数fiとが等しいということに相当する。こ
の条件が満たされない場合には、観測周波数fsi と
駆動周波数fiとの間に誤差が生ずる(すなわち、周波
数fiは観測できない)こととなる。もしすべての観測
周波数fsi と駆動周波数fiとが等しい関係にあれ
ば、打ち切り幅はすべての駆動周波数fi の周期に対し
て整数倍となっているため漏れは発生しない。
れたフーリエ変換Fsi から本来求めるべき駆動周波数
fiのフーリエ変換Fiを導出する方法について示す。
号列が、それぞれ駆動周波数fi(i=1,2,…,
M)であるM個の正弦波により構成されている場合、観
測周波数fsi 及び駆動周波数fiの各フーリエ変換の
関係は、
{F1 }、Im{F1 }ないしRe{FM }、Im{FM
}の間における漏れの量を規定する係数列から構成さ
れる大きさ2M×2Mの行列である。
駆動周波数fi 及び観測周波数fsi(i=1,2,
…,M)のフーリエ変換の実数倍及び虚数部からなる大
きさ2M×1の行列である。行列Xにおいて、
1 、位相がπ/2ずれた振幅1の正弦波(すなわち余弦
波)のみにより構成されている場合である。また、
正弦波のみにより構成されている場合である。
=2,3,…,M)、位相のずれがπ/2または0であ
る振幅1の正弦波を与えることにより発生するものであ
る。
れ式(3)に与えたときに得られる行列YをそれぞれY
1 ,Y2 ,…,Y2Mとする。行列Y1 ないしY2Mは、そ
れぞれ本来行列X1 ないしX2Mとして得られるはずの信
号列によるデジタルデータを与えたときの、漏れ(この
場合、行列Xにおいて0となる項に0以外の値が生ず
る、1であるべき値が他の値となる等)をともなう観測
値である。これらの行列Y=Y1 ,Y2 ,…,Y2Mは行
列Aの各列を構成する項に他ならないため、
ーリエ変換Fi (本来、振幅及び位相情報の算出に用い
られるべき周波数抽出情報)からなる行列Xは、
からなる行列Yに対する行列Aの逆行列A-1の乗算によ
り求められ、行列Aは前述のように行列X=X1 ,
X2 ,X3 ,…,X2Mとなるべき信号列を与えたときそ
れぞれ得られる行列Y=Y1 ,Y2 ,Y3 ,…,Y2Mか
ら構成することが可能である。
行列A-1を、信号列のフーリエ変換から得られる行列Y
に乗ずることで、より正確な周波数情報の抽出が可能と
なり、ひいてはソースコイル14iに対する高精度な位
置推定が達成できる。
同時に実行する大きさ2M×Nの行列Qを作成してお
き、長さN×1のデジタルデータに直接乗ずることによ
り行列Xを求めることも可能である。
ソースコイル位置推定の高精度化が達成されるととも
に、駆動周波数の選択における自由度が向上する。
イル推定位置座標算出処理について説明する。まず、ソ
ースコイル推定位置座標の算出方法を説明し、その後に
具体的な処理内容を説明する。
い円形コイルでは、特開平9−84745号公報に記載
されているように、円形コイルに電流を流すと磁気双極
子と同様に、3次元空間上の点Pの磁位は次のような式
で表すことができる。
(HPx、HPy、HPz)は、
(以下ワールド座標系XW −YW −ZW)において、磁
界を発生する単心コイル(以下ソースコイル)の位置を
(xgW、ygW、zgW)とし、3次元空間上の任意の位置
を点P(xPW、yPW、zPW)とする。
ル座標系XL −YL −ZL とすると、ローカル座標系に
おける点Pの座標(xPl、yPl、zPl)は
クトル PW :ワールド座標系における原点Oから点Pへのベク
トル GW :ワールド座標系におけるソースコイルの位置への
ベクトル R:回転マトリックス と表すことができる。
示す極座標系の回転マトリックスRは
を中心とした回転量を示す。
において、点Pに発生する磁界Hl(HPxl 、HPyl 、
HPzl )は式(10)より
W 、YW 、ZW 軸と同一方向の磁界HW (HPxW 、H
PyW 、HPzW )は、
元空間上の適当な位置(Xg 、Yg 、Zg )に、ソース
コイルによって発生する磁界を起電力として検出するY
軸上にY軸と同一な方向に向いた単心コイル(以下セン
スコイル)を位置(Xd 、Yd 、Zd )におくとセンス
コイルの位置の磁界Hy は式(14)より
y は、磁界Hy を時間tで偏微分することにより、次の
ような式で表される。
Imax sin(ωt+φ)を時間tで微分した値 また、図13に示すように、Y軸を中心に円を描き、ソ
ースコイルを円周に沿って移動させたとき、センスコイ
ルには常に一定の起電力が発生する。ただし、Y軸より
見たセンスコイルの向きは常に同一とする。
べることにより、ソースコイルが存在する空間、すなわ
ち、Y軸を中心とした円を推定することができる。
スコイルを置き、Y軸とソースコイルの位置によって構
成される平面γの座標系をX’−Y’とすると、各セン
スコイルに発生する起電力Vyiは
向きによって表される項、xdi、ydiは座標系X’−
Y’でのセンスコイルの位置、xg ’、yg ’はソース
コイルの位置を表す。
xg ’、yg ’)によって表されることから、Y軸上に
同一な向きに少なくとも4つセンスコイル並べることに
より4つの方程式が得られ、方程式を解くことによって
座標系X’−Y’でのソースコイルの位置が求められ
る。
間上に磁界を発生するソースコイルを適当な位置に、Y
軸上に4つのセンスコイルを置く。ソースコイルと4つ
のセンスコイルによって構成される平面γをX’−Y’
平面とし、そのときのソースコイルの位置を(xg 、y
g )、各センスコイルの位置を(xd0 、yd0)、(x
d1、yd1)、(xd2、yd2)、(xd3、yd3)とする。
発生する起電力Vy0、Vy1、Vy2、Vy3は、式(17)
より次のようになる。
の電流量と、各センスコイルの巻数等により決定される
定数。
項を行列Aで表す。
1)に代入すると
知数とする非線形方程式となる。この2つの非線形方程
式に対し、ニュートン法を適用しxg 、yg を求める。
y0’、Vy3’、式(26)、(27)のVy0、Vy3を推
定値とすると、それぞれの差分値は
に発生する起電力Vy0’、Vy3’が正確に測定され、推
定値Vy0、Vy3のxg 、yg がソースコイルの位置と完
全に一致した場合、式(29)、(30)の右辺の値は
0になる。
めに、f1 =0、f2 =0を満たすxg 、yg を求め
る。
ヤコビ行列Jは
方程式から求め、行列Cとおく。
り、修正量ΔΧ(k) をf(Χ)のΧ=Χ(k) 付近での線
形近似に基づいて定める。
xg 、yg の近似値xg1、yg1は
し、f1 、f2 の値が0にならなければ式(33)、
(34)のxg0、yg0にxg1、yg1を代入しxg2、yg2
を求め、再びf1 、f2 を計算する。この操作を繰り返
すことにより、f1 、f2 が0に近づき、xg 、yg が
求められる。
を解いたが、最小2乗法等の手法を用いてもよい。
同一な向きに並べたセンスコイルの出力値から、センス
コイルとソースコイルにより構成される平面上のソース
コイルの位置を推定することができる。すなわち、3次
元空間においてソースコイルが存在する空間(円)が推
定される。
に同一な向きに少なくとも4つ並べたセンスコイルを、
少なくとも2つ配置することにより、ソースコイルの3
次元位置を推定することができる(空間上の2つの円の
交点として求められる)。
よって構成されており、次に、センスコイルの4つの単
心コイルのうち最大出力値を発生する単心コイルの出力
値を取り出し、各センスコイルの最大出力値の大きい2
つのセンスコイルを選択する。
件、すなわち、直交または平行に応じてソースコイルの
3次元位置を推定する。
点または2つの円周上の点を結ぶ距離が最も短くなる各
円周上の点を求める(ノイズ等により2つの円が交点を
もたない場合がある)。
交して配置された場合について説明する。図16に示す
ように、ソースコイルを適当な位置に、センスコイルを
X軸、Y軸上にそれぞれおくと、各センスコイルの出力
値からソースコイルが存在する円C1 、C2 が求められ
る。
1 、0、0)、半径r1 の円、C2 が平面y=b2 上に
存在し中心(0、b2 、0)、半径r2 の円とすると、
(x1 、y1 、z1 )から平面y=b2 に垂直に下ろし
たときの点Qの座標は (x1 、b2 、z1 ) である。
過する平面y=b2 上に存在する直線mは実変数tを用
いて
入すると
>0の場合を考える。式(39)を式(37)に代入す
ると
近い円C2 上の点P’を表す。
1 、y1 、z1 )が円C1 上にあるならば
乗Dは
は、r1 <b2 または、r2 <a1 の場合)または
円C1 、C2 の円周上の点の座標を求めることができ
る。
C2 の点を(xc2、yc2、zc2)とすると、ソースコイ
ルの位置(xg、yg、zg)を例えば、各座標値の平均
値として求める。
つ並べたセンスコイルを2つ用いることにより、空間上
のソースコイルの位置を推定できる。
行に配置された場合について説明する。図19に示すよ
うに、各センスコイルを平行に並べることによりソース
コイルの位置を推定する。いま、センスコイルにより得
られる円C1 を
上の点をP2 (x2 、y2 、z2 )とすると、円C1 、
C2 上の点が交わる又は最も接近するときの条件は
代入し
(53)からに、円C1 、C2 の交点(a1 =a2 )ま
たは最も接近する2点を求めることができる。
られた場合、直交して配置された場合で示したように、
X軸方向の成分は平均をとることで1つの座標値を推定
する(Y、Z軸方向の成分は、式(53)により1つ決
定されている)。
における具体的なソースコイル推定位置座標算出処理に
ついて説明する。
同一直線上に同一な向きに並べたセンスコイル22jを
ベット4に4つ配置する。また、単心コイルを16個つ
なげたソースコイル14iのプローブ15を電子内視鏡
6の鉗子チャンネル12から挿入する。
コイル14iに対応するセンスコイル22jに発生する
電圧の最大振幅値と位相を求め、位相値から電圧の最大
振幅値の±の極性を決定し、極性をもつ電圧値をセンス
コイル22jの電圧値とする。
うに、ステップS31とステップS32で初めに処理さ
れるソースコイル14iとセンスコイル22jの順番の
初期化を行う。つまり、ステップS31ではiに0をセ
ットし、ステップS32ではjに0をセットする。
のセンスコイルが選ばれ、ステップS33において、第
0番目のセンスコイルの4つの単心コイルに発生する電
圧値V00、V01、V02、V03が取り込まれる。そして、
ステップS34にて、ステップS33で取り込まれた4
つの電圧値の最大電圧値Vmax[j]が検出される。
の最大電圧値の検出が終了したかを検出し、終了してい
なければステップS36に進みjをインクリメントし、
ステップS33へ戻る。
37へ進み各センスコイルの絶対値の最大電圧値を比較
し、大きい2つのセンスコイルを抽出する。
出された2つのセンスコイルに対し、第0番目のソース
コイルによって構成されるそれぞれの平面上でのソース
コイルの2次元位置(x’g00,y’g00)、
(x’g01,y’g01)を求める。
された2つのセンスコイルの配置が直交しているか否か
の判別し、直交している場合は図21のステップS40
へ進み、そうでない場合は図21のステップS41へ進
む。
は、2つのセンスコイルが直交した関係でのソースコイ
ルが存在する円を算出し、ステップS41では、2つの
センスコイルが平行した関係でのソースコイルが存在す
る円を算出する。
の配置条件により算出された2つの円から、それぞれの
円周上の点が最も接近する円周上の点を算出する。
2で算出された2点から第0番目のソースコイルの3次
元空間上の位置(xg0,yg0,zg0)を求め、ステップ
S44ですべてのソースコイルの3次元位置(xgi,y
gi,zgi)が求められたかを検出し、すべてのソースコ
イルの3次元位置(xgi,ygi,zgi)が求められてい
ない場合は、図20のステップS45でiをインクリメ
ントしてステップS32に戻り、すべてのソースコイル
の3次元位置(xgi,ygi,zgi)が求められるまで処
理を繰り返して、処理を終了する。
向きに4つ並べたセンスコイルを4つ用いることによ
り、空間上のソースコイルの位置を推定できる。
の最大電圧の絶対値の大きさから必要なセンスコイルを
抽出したが、4つのセンスコイルのそれぞれとソースコ
イルによって構成される平面上のソースコイルの位置を
推定し、ソースコイルとセンスコイルとの距離が近い
(円の半径が小さい)2つのセンスコイルを検出し、ソ
ースコイルの3次元位置を推定しても良い。
ルの位置は常時更新されるが、ソースコイルの位置に対
して、図22に示す位置更新制御処理が行われる。すな
わち、図22に示すように、例えば第0番目のソースコ
イルの空間上の位置(3次元位置)の座標を(x0,
y0,z0)としたとき、ステップS51でこの3次元推
定座標(x0,y0,z0)を入力し、ステップS52で
この3次元推定座標(x0,y0,z0)が1回目のソー
スコイル推定位置座標算出処理により得られた最初の3
次元推定座標かどうか判断し、最初の3次元推定座標で
ないならば、ステップS53に進み、最初の3次元推定
座標ならば、ステップS54に進む。
54で3次元推定座標(x0,y0,z0)を前回3次元
推定座標(xB,yB,zB)として格納し、ステップS
55で3次元推定座標(x0,y0,z0)をソースコイ
ル推定位置座標算出処理の出力とし処理を終了する。
回目の処理により得られた3次元推定座標(x0,y0,
z0)について説明する。この場合も、ステップS51
でこの3次元推定座標(x0,y0,z0)を入力し、ス
テップS52でこの3次元推定座標(x0,y0,z0)
が1回目のソースコイル推定位置座標算出処理により得
られた最初の3次元推定座標かどうか判断するが、最初
の3次元推定座標でないので、ステップS53に進み、
今回の3次元推定座標(x0,y0,z0)と前回3次元
推定座標(xB,yB,zB)との差の絶対値が、所定の
x,y,z座標の変動制限値xs,ys,zsを越えてい
ないかどうか判断し、越えていない場合には、最初の3
次元推定座標と同様に、ステップS54で3次元推定座
標(x0,y0,z0)を前回3次元推定座標(xB,
yB,zB)として格納し、ステップS55で3次元推定
座標(x0,y0,z0)をソースコイル推定位置座標算
出処理の出力とし処理を終了する。
座標(x0,y0,z0)と前回3次元推定座標(xB,y
B,zB)との差の絶対値が、所定のx,y,z座標の変
動制限値xs,ys,zsを越えていると判断すると、ス
テップS56に進み、前回3次元推定座標(xB,yB,
zB)をソースコイル推定位置座標算出処理の出力とし
処理を終了する。
所定のx,y,z座標の変動制限値xs,ys,zsによ
り位置更新制御処理が行われる。
スコイルを例に説明したが、この処理は全てのソースコ
イルに対して行われる。
状検出イメージ画像表示処理について説明する。
図23に示すように、ステップS61でソースコイル推
定位置座標算出処理より出力されたソースコイルの空間
上の位置(3次元位置)の座標に基づき内視鏡形状モデ
ルデータを構築する。そして、ステップS62で内視鏡
装置形状検出装置3に設けられている入力部からの入力
により、内視鏡形状モデルデータによる内視鏡形状モデ
ルの描画モードを判別し、通常モードならばステップS
63の通常モード処理を行い、拡大モードならばステッ
プS64の拡大モード処理を行って処理を終了する。
形状検出装置3のモニタ25に、図24に示すような内
視鏡形状モデルが表示される。
ステップS71で内視鏡形状モデルが表示されているモ
ニタ25上(図24参照)において拡大する範囲を選択
するため、操作パネル24を操作し、その範囲の例えば
左上と右下の座標を取得する。そして、ステップS72
で選択した左上と右下の座標が同じかどうか判断し、同
じならば拡大範囲が決定できないため、ステップS71
に戻り、選択した左上と右下の座標が同じでない場合に
は、ステップS73に進む。
心に現在の内視鏡形状モデルの中心を移動させる。そし
て、ステップS74で選択された範囲がモニタ25の表
示ウインドと同じになるように拡大し処理を終了する。
表示されていた内視鏡形状モデルは、図26に示すよう
に、拡大されてモニタ25に表示される。
デルから選択して表示することができる。すなわち、 (1)3Dモデル1および3Dモデル2 (2)2Dモデル (3)12点モデル (4)直線モデル である。
は、3次関数曲線近似とナチュラルラインによる補間
法、3次B−スプライン補間法あるいは2次B−スプラ
イン補間法により、図27に示すように、ソースコイル
の点座標からから内視鏡形状の立体像を補間し、ソース
コイルの任意の座標の2つのモデルの法線ベクトルを得
る。
81で内視鏡形状モデルデータから、図29に示す面ab
cd、面cdefの順で面を描画し、ステップS82で各点に
対してそれぞれの法線ベクトルを用いて面のシェーディ
ング(スムーズシェーディング)を行い、内視鏡形状の
立体イメージ画像を表示する。
をXY平面としたときの奥行き方向Z軸座標を、立体感
を向上させるためにグレースケールによる色調補正を行
うかどうか判断し、行う場合にはステップS84により
色調補正処理を行い処理を終了する。
装置形状検出装置3の計測範囲フルスケールで色調補正
を行う第1の色調補正処理と、内視鏡形状モデルの存在
領域フルスケールで色調補正を行う第2の色調補正処理
とがある。
に、ステップS91で計測範囲の最大値及び最小値を取
得し、ステップS92で内視鏡形状モデルデータから色
調を算出し、ステップS93で算出された色調から表示
できる色を求めて色調補正を行う。これにより図31に
示すように、Z軸方向の計測範囲をフルスケールとして
色調補正がなされる。
すように、ステップS95で内視鏡形状モデルの存在範
囲の最大値及び最小値を取得し、ステップS96で内視
鏡形状モデルデータから色調を算出し、ステップS97
で算出された色調から表示できる色を求めて色調補正を
行う。これにより図33に示すように、内視鏡形状モデ
ルの存在範囲をフルスケールとして色調補正がなされ
る。つまり、第2の色調補正処理は、第1の色調補正処
理に比べ内視鏡形状モデルに対して細かく色調補正を行
うことになる。
は、図34に示すように、ステップS101でソースコ
イルの各座標を中心に円を描く(円は常に視点方向を向
いている)。そして、ステップS102で色調補正を行
うかどうか判断し、行う場合にはステップS103によ
り色調補正処理を行い処理を終了することで、モニタ2
5に図35に示すような内視鏡形状のイメージ画像を表
示する。
モデルでは、図36に示すように、ステップS105で
ソースコイルの全ての位置座標を線で結び、ステップS
106で全ての点に×印を描き処理を終了することで、
モニタ25に図37に示すような内視鏡形状のイメージ
画像を表示する。
モデルでは、図38に示すように、ステップS108で
ソースコイルの全ての位置座標を線で結び、ステップS
109で全ての点に「黒塗り□印」を描き処理を終了す
ることで、モニタ25に図39に示すような内視鏡形状
のイメージ画像を表示する。
態では、3次元空間上に配置された複数のセンスコイル
からソースコイルが存在する空間を精度良く推定してい
るセンスコイルを選択し、ソースコイルの3次元位置を
推定しているため、ソースコイルの正確な3次元位置を
推定することができる。
本発明の第2の実施の形態に係わり、図40はソースコ
イル推定位置座標算出処理の原理を説明する説明図、図
41は図40のソースコイル推定位置座標算出処理の流
れを示す第1のフローチャート、図42は図40のソー
スコイル推定位置座標算出処理の流れを示す第2のフロ
ーチャートである。
第1の実施の形態と同じであり、異なる点はソースコイ
ルの3次元位置を推定する処理方法であるので、同じ符
号をつけ説明は省略する。
されるソースコイルの存在する円は、図15に示すよう
に単心コイルCS0〜CS2とCS1〜CS3によって得られる
2つの非線型方程式(26),(27)を満たす点(x
g,yg)をニュートン法により導き、点(xg,yg)か
ら円の方程式として算出する。
合、図40に示すように、式(26),(27)を満た
す交点が複数存在し、推定系の初期値(xg0,yg0)の
値からそれらの交点の1つが求められる。
たとすると、第2交点の座標値からソースコイルが存在
する円が求められる。
と、他のセンスコイルから円C2を求め、2つの円周上
の最も近接する点P,P’を計算することによりソース
コイルの3次元位置を決定できる。
P’間の距離は0に近づき、正しくないときは点P,
P’間の距離は離れることから、2組のセンスコイルに
よって推定される2つの円の円周上の点の距離が、最も
短くなるようなセンスコイルの組み合わせを求め、得ら
れた2つのセンスコイルからソースコイルの3次元位置
を推定する。
置を推定する処理のフローを示す。
ステップS121は、ソースコイル14iとセンスコイ
ル22jの順番の初期化を行う。
目のセンスコイルが選ばれ、ステップS122におい
て、第0番目のセンスコイルの4つの単心コイルに発生
する電圧V00,V01,V02,V03が取り込まれる。ステ
ップS123では、ステップS122で取り込まれた4
つの電圧全てが0[V]であるかを判別する。
が0[V]の場合、ステップS128により第0番目の
センスコイルに対応するフラグを0にセットし、ステッ
プS129でjをインクリメントし、ステップS122
に戻り第1番目のセンスコイルの処理に移行する。
0[V]でない場合、ステップS124により第0番目
のセンスコイルに対応するフラグを1にセットする。
コイルと第0番目のソースコイルにより構成される平面
上のソースコイルの位置(xg00,yg00)を算出し、ス
テップS126でソースコイルが存在する円を推定す
る。
了したことから、ステップS127によりステップS1
29の処理に移行し、ステップS129でjをインクリ
メントする。
イルに対する全てのセンスコイルに処理が終了したこと
検出し、図42のステップS131へ進む。
は、フラグが1にセットされたセンスコイルを抽出し、
抽出された全てのセンスコイルの組み合わせに対し2つ
の円周上の点が最も接近する円周上の点と、その2点間
の距離を算出する。
短くなるセンスコイルの組み合わせをステップS132
で求め、ステップS133で、求められた2つのセンス
コイルからソースコイルの3次元位置を算出する。
に対して処理が行われたかを判別し、すべてのソースコ
イルに対して処理が行われていない場合は、図41のス
テップS130でiをインクリメントしてステップS1
21に戻り、すべてのソースコイルに対して処理が行わ
れるまで処理を繰り返して、16個のソースコイルの3
次元位置を求め、処理を終了する。
された2つの円の円周上の点の距離から正しく円を推定
したか判別できるため、センスコイルとソースコイルが
近接した場合でも正しくソースコイルの3次元位置を推
定できる。
本発明の第3の実施の形態に係わり、図43はソースコ
イル推定位置座標算出処理を説明する説明図、図44は
図43の角度θが直交した状態に近い2つセンスコイル
によるソースコイル推定位置座標算出処理の流れを示す
第1のフローチャート、図45は図43の角度θが直交
した状態に近い2つセンスコイルによるソースコイル推
定位置座標算出処理の流れを示す第2のフローチャート
である。
第1の実施の形態と同じであり、異なる点はソースコイ
ルの3次元位置を推定する処理方法であるので、同じ符
号をつけ説明は省略する。
イルによって構成されるセンスコイルが推定する円が、
精度良く求められているかの判断を2つの曲線の交差条
件から求め、その結果に応じて2つのセンスコイルを選
び出し、ソースコイルの3次元位置を推定する。
ースコイルの存在する円は、図15に示すように単心コ
イルCS0〜CS2とCS1〜CS3によって得られる2つの非
線型方程式(26),(27)を満たす点(xg,yg)
をニュートン法により求める。
ygの偏微分を
おける式(26),(27)で表される曲線の接線方向
のベクトルは
する角度θは cosθ=x’0x’3+y’0y’3 …(60) となる。
差する位置がノイズよる影響を受けやすいことから、角
度θが直交した状態に近いセンスコイルを2つ選び、ソ
ースコイルの3次元位置を求める。
位置を推定する処理のフローを示す。
ステップS141はソースコイル14iとセンスコイル
22jの順番の初期化を行い。
目のセンスコイルが選ばれ、ステップS142におい
て、第0番目のセンスコイルの4つの単心コイルに発生
する電圧V00,V01,V02,V03が取り込まれる。ステ
ップS143では、ステップS142で取り込まれた4
つの電圧全てが0[V]であるかを判別する。
が0[V]の場合、ステップS150により第0番目の
センスコイルに対応するフラグを0にセットし、ステッ
プS149でjをインクリメントし、ステップS142
に戻り第1番目のセンスコイルの処理に移行する。
0[V]でない場合、ステップS144により第0番目
のセンスコイルに対応するフラグを1にセットする。
コイルと第0番目のソースコイルにより構成される平面
上のソースコイルの位置(xg00,yg00)を算出し、ス
テップS146で位置(xg00,yg00)で2つの曲線が
交差する時の角度θを求める。
了したことから、ステップS147によりステップS1
49の処理に移行し、ステップS149でjをインクリ
メントする。
イルに対する全てのセンスコイルに処理が終了したこと
検出し、ステップS151へ進む。
トされたセンスコイルを抽出し、抽出されたセンスコイ
ルのうち交差する角度θが直交した状態に近い2つのセ
ンスコイルを選択する。
152は、ステップS151で選択された2つのセンス
コイルの配置の状態が直交しているかを検出し、直交し
ていれば、ステップS40へ進み、それ以外はステップ
S41へ進む。
処理は、第1の実施の形態で説明した通りである(図2
0及び図21参照)。
イルによって構成される複数のセンスコイルからノイズ
等の影響の少ない2つのセンスコイルが選択されるた
め、ソースコイルの3次元位置を精度良く推定できる。
発明の第4の実施の形態に係わり、図46は3次元空間
上に磁界を発生するソースコイルの配置の一例を示す
図、図47は図46の配置に対する第4の実施の形態の
ソースコイルの配置を説明する図である。
第1の実施の形態と同じであり、異なる点はセンスコイ
ルの数と配置、ソースコイルの3次元位置を推定する処
理方法であるので、同じ符号をつけ説明は省略する。
イルを4つ組み合わせたセンスコイルによって、ソース
コイルの3次元位置を求めるのではなく、複数の単心コ
イルを3次元空間に配置し、それぞれの単心コイルに発
生する電圧からソースコイルの3次元位置を推定する。
に磁界を発生する1つのソースコイルを位置(xg,
yg,zg)、向き(gx,gy,gz)に配置した場合、
適当な位置P(xd,yd,Zd)に発生する磁界Hx,H
y,Hzは、式(14)から次のように表される。
あって、磁界Hx,Hy,Hzの向きはX,Y,Z軸と同
一方向である。
いた単心コイルCx,Cy,Czが配置された場合、それ
ぞれの単心コイルCx,Cy,Czに発生する電圧Vx,V
y,Vzは
ルを構成する導線を巻くときの軸をX軸と同一方向にし
たコイルであって、Y軸,Z軸と同一に向いた単心コイ
ルCy,Czも同様なコイルである。
ルの大きさやコイルの巻数等により決定される定数、r
はソースコイルとセンスコイルの距離
単心コイルからなるセンスコイルを3次元空間上に複数
配置し、具体的にはベット4おいて、中心のZ座標が第
1のZ座標である例えばX軸に向いたセンスコイル10
1、102、103、104と、中心のZ座標が第1の
Z座標と異なる第2のZ座標であるY軸に向いたセンス
コイル105、106、107、108と、中心のZ座
標が第1及び第2のZ座標と異なる第3のZ座標である
Z軸に向いたセンスコイル109、110、111、1
12の12個のセンスコイルを配置する。この12個の
センスコイルの電圧、位置、向きが全て既知であること
から、式(62)によりソースコイルの位置(xg,
yg,zg)と向き(gx,gy,gz)を未知数とする1
2個の非線形方程式が得られる。
ち、ソースコイルの位置と向きを反復改良によって求め
る(Gauss−Newton法)。
zg)と向き(gx,gy,gz)のパラメータとし、その
パラメータの初期値をx(0)とする。
が得られ、センスコイルに発生する電力のモデル関数V
(x)をx(k)のまわりでTayLor展開すると、そ
の一次近似は
定された電圧とすると観測方程式は
は、Vmに測定誤差が含まれるため。
左辺に移動すると
m)である。解Δx(k)は、式(66)より
る。
タの推定値は
(センスコイル)を並べると、行列Aは
…,11)は、各センスコイルの測定電圧の変動量で、
例えば、環境ノイズ等がある。
順(1)から(4)で求められる。
初期値を位置(xg,yg,zg)(0)、向き(gx,gy,
gz)(0)とする(例えば、ソースコイルを測定する空間
の中心位置とZ軸方向のベクトル(0,0,1))。 手順(2);式(72),(73),(74)により第
k番目の行列を計算する。 手順(3);式(71)により第k番目の更新量Δx
(k)を計算する。 手順(4);更新量Δx(k)が小さくなるまで上記手順
(2)から(4)を繰り返す。
いたセンスコイルをそれぞれ同一の高さに配置してソー
スコイルの位置を推定したが、これに限らず、各々のセ
ンスコイルを任意の位置や向きに配置した場合でも、セ
ンスコイルの位置と向きが既知であればソースコイルの
位置が推定できる。
合、先に説明したようにソースコイルの初期値を適当な
位置として反復改良を行うことにより位置と向きを求め
ることができる。しかし、その空間が大きい場合、適当
な方法で初期位置を決定することが必要になる。
状にセンスコイルを並べた場合は、第1〜第3の実施の
形態で説明した手法を用いて4個の単心コイルによって
構成されたセンスコイルからソースコイルの存在する空
間(円)を求め、複数のセンスコイルによりソースコイ
ルの位置を推定し、反復改良によりソースコイルの位置
を精度良く求めることができる。
円の位置推定と反復改良を行ったのでは計算量が多くな
るため、ソースコイルの先頭14aは円の位置推定と反
復改良を行い、それ以外のソースコイルについてはソー
スコイルの連続性から1つ前に推定された位置を初期値
にして、反復改良のみを行う方法もある(ソースコイル
14bの3次元位置を推定する場合、すでに3次元位置
が推定されたソースコイル14aの位置を初期値にして
反復改良を行う)。
うソースコイルの3次元位置をそれ以前に推定されたソ
ースコイルの3次元位置から予測し、その予測位置から
反復改良を行う手法もある。
元位置を
ときの初期値をソースコイル14aとし、ソースコイル
14cからは、まえの2つのソースコイルの3次元位置
からソースコイルの位置を予測する。
とから、ソースコイルの3次元位置が時間方向の変動が
少ないことが予想されることから(体腔内でソースコイ
ルの動きが小さい)、前回までに推定された3次元位置
を初期位置として反復改良を行う手法もある。
コイルの出力と反復改良法によってソースコイルの3次
元位置が推定されるため、ノイズ等の影響が軽減され、
推定精度向上させることができる。
改良によって推定する場合、初期位置を適当な方法で求
めることにより計算量を削減できる。
は、第4の実施の形態と同一で、ソースコイルの3次元
位置を推定する方法が異なる。
イルを4つ組み合わせたセンスコイルによって、ソース
コイルの3次元位置を求めるのではなく、第4の実施の
形態と同様に、複数の単心コイルを3次元空間に配置
し、それぞれの単心コイルに発生する電圧からソースコ
イルの3次元位置を推定する。
ルに発生する起電力の行列をV、式(62)で示したよ
うにソースコイルとセンスコイルの3次元位置の項で表
される行列をH、ソースコイルの向きで表される項をG
とすると、それぞれの関係式は次のようになる。
め、式(77)の両辺に左からHt(行列Hの転置行
列)をかけると、
tH]-1(HtHの逆行列)をかけると、
のようなソースコイルの向きの項を消去した式を得るこ
とができる。
らなるセンスコイルを3次元空間上に複数配置し、具体
的にはベット4おいて、中心のZ座標が第1のZ座標で
ある例えばX軸に向いたセンスコイル101、102、
103、104と、中心のZ座標が第1のZ座標と異な
る第2のZ座標であるY軸に向いたセンスコイル10
5、106、107、108と、中心のZ座標が第1及
び第2のZ座標と異なる第3のZ座標であるZ軸に向い
たセンスコイル109、110、111、112の12
個のセンスコイルを配置する。この12個のセンスコイ
ルの電圧、位置、向きが全て既知であることから、式
(62)によりソースコイルの位置(xg,yg,zg)
を未知数とする12個の非線形方程式が得られる。
ち、ソースコイルの位置を反復改良によって求める(G
auss−Newton法)。
zg)のパラメータとし、そのパラメータの初期値をx
(0)とする。
が得られ、センスコイルに発生する電力のモデル関数V
(x)をx(k)のまわりでTayLor展開すると、そ
の一次近似は第4の実施の形態で示した式(64)で示
される。
された電圧Vmの値を入力して
定された電圧とすると観測方程式は、第4の実施の形態
で示した式(65)で表される。式(65)の右辺の第
1項を左辺に移動すると、第4の実施の形態で示した式
(66)となる。
の形態で示した式(70)と表される。
パラメータの推定値は第4の実施の形態で示した式(7
1)と求められる。
(センスコイル)を並べると、行列Aは
される。ただし、重み行列Wのσi(i=0,1,…,
11)は、各センスコイルの測定電圧の変動量で、例え
ば、環境ノイズ等がある。
態で示した式(74)となることから、ソースコイルの
位置は、次の手順(1)’から(4)’で求められる。
の初期値を位置(xg,yg,zg)( 0)とする(例えば、
ソースコイルを測定する空間の中心位置)。 手順(2)’;式(83),(73),(74)により
第k番目の行列を計算する。 手順(3)’;式(71)により第k番目の更新量Δx
(k)を計算する。 手順(4)’;更新量Δx(k)が小さくなるまで上記手
順(2)’から(4)’を繰り返す。
いたセンスコイルをそれぞれ同一の高さに配置してソー
スコイルの位置を推定したが、これに限らず、各々のセ
ンスコイルを任意の位置や向きに配置した場合でも、セ
ンスコイルの位置と向きが既知であればソースコイルの
位置が推定できる。
合、先に説明したようにソースコイルの初期値を適当な
位置として反復改良を行うことにより位置を求めること
ができる。しかし、その空間が大きい場合、適当な方法
で初期位置を決定することが必要になる。
状にセンスコイルを並べた場合は、第1〜第3の実施の
形態で説明した手法を用いて4個の単心コイルによって
構成されたセンスコイルからソースコイルの存在する空
間(円)を求め、複数のセンスコイルによりソースコイ
ルの位置を推定し、反復改良によりソースコイルの位置
を精度良く求めることができる。
円の位置推定と反復改良を行ったのでは計算量が多くな
るため、ソースコイルの先頭14aは円の位置推定と反
復改良を行い、それ以外のソースコイルについてはソー
スコイルの連続性から1つ前に推定された位置を初期値
にして、反復改良のみを行う方法もある(ソースコイル
14bの3次元位置を推定する場合、すでに3次元位置
が推定されたソースコイル14aの位置を初期値にして
反復改良を行う)。
うソースコイルの3次元位置をそれ以前に推定されたソ
ースコイルの3次元位置から予測し、その予測位置から
反復改良を行う手法もある。
コイル14a、14bの3次元位置を第4の実施の形態
で示した式(75)とすると、ソースコイル14bの3
次元位置を推定するときの初期値をソースコイル14a
とし、ソースコイル14cからは、まえの2つのソース
コイルの3次元位置からソースコイルの位置を予測す
る。例えば、ソースコイル14cの場合第4の実施の形
態で示した式(76)とする。
とから、ソースコイルの3次元位置が時間方向の変動が
少ないことが予想されることから(体腔内でソースコイ
ルの動きが小さい)、前回までに推定された3次元位置
を初期位置として反復改良を行う手法もある。
形態の効果に加え、ソースコイルの向きの項を消去し、
未知数を減らした関係式によりソースコイルの3次元位
置を推定することが可能となる。
はしないが、第1の実施の形態の構成に加え、推定され
たソースコイル位置を時系列的に記憶する位置記憶手段
を有して構成される。その他の構成は第1の実施の形態
と同じであり、本実施の形態では、ソースコイルの3次
元位置を推定する処理方法が、第1の実施の形態と異な
る。
いし第5の実施の形態に説明した方法を用いてソースコ
イル14iの3次元位置を推定し、位置記憶手段(図示
せず)に推定された3次元位置を順次記憶する。
4iの位置P’i,nを重み付け加算により求める。
ソースコイルの現在の位置P’i, nを
Y,Z成分の中間値を抽出し、現在のソースコイルの位
置としても良い(メディアンフィルタ)。
ルとセンスコイルが離れることによって発生するソース
コイルの3次元位置のばらつきを抑制することができ
る。
は、第6の実施の形態と同一で、ソースコイルの3次元
位置を推定する方法が異なる。
5の実施の形態に説明した方法を用いてソースコイル1
4iの3次元位置を推定し、位置記憶手段(図示せず)
に順次記憶する。
推定位置を
との差分の2乗和を
の位置は推定位置に近づく。また、重みωを大きくした
場合、ソースコイル14iの位置は予測位置に近づく。
を予測位置Qi,jで偏微分し、f’i=0を満たす予測位
置Qi,jを求めることにより得られる。
0とおくと
での3次元推定位置を記憶した場合、式(92)は
により予測位置が式(93)から求められる。
ルの過去の推定位置からソースコイルの動きを予測し、
推定位置と予測位置に基づいて現在のソースコイルの位
置から求められるため、ソースコイルとセンスコイルが
離れることによって発生するソースコイルの3次元位置
のばらつきを抑制し、ソースコイルが動いた場合におい
ても第5の実施の形態に示した手法よりも安定したソー
スコイルの位置が求められる。
有する磁界発生手段と、前記磁界発生手段で発生された
磁界を検出する磁界検出手段とを有し、前記磁界検出手
段による磁界検出に基づき前記磁界発生手段の位置情報
を検出する位置推定装置において、前記磁界検出手段
は、少なくとも、同一直線上に第1、第2、第3及び第
4の単軸発信コイルを同一方向に向けて配置してなる第
1の磁界検出部と、前記第1の磁界検出部と非平行な同
一直線上に第5、第6、第7及び第8の単軸発信コイル
を同一方向に向けて配置してなる第2の磁界検出部とを
備えたことを特徴とする位置推定装置。
発信コイルを有する磁界発生手段と、前記磁界発生手段
で発生された磁界を検出する磁界検出手段とを有し、前
記磁界検出手段による磁界検出に基づき前記磁界発生手
段の位置情報を検出する位置推定装置において、前記磁
界検出手段は、少なくとも、第1の直線上に第1、第
2、第3及び第4の単軸発信コイルを同一方向に向けて
配置してなる第1の磁界検出部と、前記第1の直線と平
行な第2の直線上に第5、第6、第7及び第8の単軸発
信コイルを同一方向に向けて配置してなる第2の磁界検
出部と、前記第1の直線と非平行な第3の直線上に第
9、第10、第11及び第12の単軸発信コイルを同一
方向に向けて配置してなる第3の磁界検出部と、前記第
3の直線と平行な第4の直線上に第13、第14、第1
5及び第16の単軸発信コイルを同一方向に向けて配置
してなる第4の磁界検出部とを備えたことを特徴とする
位置推定装置。
生するソースコイルと、少なくとも4つの単心コイルを
同一直線上に同一方向に並べた複数のセンスコイルと、
前記センスコイルにより前記ソースコイルの存在する空
間を推定する空間推定手段と、前記空間推定手段により
推定された前記ソースコイルの存在空間から前記ソース
コイルの3次元位置を推定する位置推定手段とからなる
位置推定装置において、前記センスコイルの少なくとも
1組を他の前記センスコイルに対し非平行に配置するこ
とを特徴とする位置推定装置。
センスコイルの並びを軸として前記ソースコイルまでの
距離を算出する距離算出手段からなることを特徴とする
付記項3に記載の位置推定装置。
センスコイルの並びの軸を中心とする円領域として特定
する円領域特定手段からなることを特徴とする付記項3
に記載の位置推定装置。
記センスコイルと前記ソースコイルによって構成される
平面の条件を用いて前記円領域を算出する円領域算出手
段であることを特徴とする付記項5に記載の位置推定装
置。
面上に前記センスコイルの3つの単心コイルによって表
される曲線を少なくとも2つ描いた際の交点を含むとい
う条件であり、前記円領域算出手段は、前記交点を算出
することを特徴とする付記項6に記載の位置推定装置。
記センスコイルの単心コイルの最大出力を求め、最大出
力の大きい順に前記センスコイルを抽出する抽出手段
と、前記抽出手段により抽出された前記センスコイルに
より前記ソースコイルの存在する空間を推定する空間推
定手段とからなることを特徴とする付記項3に記載の位
置推定装置。
空間推定手段により推定された空間から少なくとも2つ
の前記センスコイルを抽出する抽出手段と、前記抽出手
段により抽出された前記センスコイルの前記ソースコイ
ルの存在する空間から前記ソースコイルの3次元位置を
推定する3次元位置推定手段とからなることを特徴とす
る付記項3に記載の位置推定装置。
間推定手段により推定された空間の領域が小さい少なく
とも2つの前記センスコイルを抽出するセンスコイル抽
出手段からなることを特徴とする付記項9に記載の位置
推定装置。
記空間推定手段により推定された複数の円から2つの円
を選び、その2つの円が最も接近する円周上の点とその
点間の距離を算出する距離算出手段と前記距離算出手段
により算出された距離が最小となる前記センスコイルの
組み合わせを検出する検出手段と、前記検出手段により
検出された前記センスコイルから前記ソースコイルの3
次元位置を推定する3次元位置推定手段とからなること
を特徴とする付記項3に記載の位置推定装置。
記空間推定手段により推定された空間から少なくとも2
つの前記センスコイルを抽出する抽出手段と、前記抽出
手段により抽出された前記センスコイルの前記ソースコ
イルの存在する空間から前記ソースコイルの3次元位置
を推定する3次元位置推定手段とからなることを特徴と
する付記項7に記載の位置推定装置。
間推定手段の前記平面の条件から得られる複数の曲線の
交差状態を検出する交差状態検出手段と、前記交差状態
検出手段により検出された交差状態が直交した状態に近
い少なくとも2つの前記センスコイルを抽出するセンス
コイル抽出手段とからなることを特徴とする付記項12
に記載の位置推定装置。
推定された前記ソースコイルの位置から向きを推定する
向き推定手段と、前記位置推定手段と前記向き推定手段
との結果を用いて、前記ソースコイル位置と向きを推定
する推定手段とを備えたことを特徴とする付記項3に記
載の位置推定装置。
置推定手段と前記向き推定手段との結果から前記センス
コイルの出力を算出する第1の出力算出手段と、前記第
1の出力算出手段により算出された前記センスコイルの
出力と、前記センスコイルの測定された出力とから、前
記ソースコイルの位置と向きをそれぞれ更新するための
値を算出する更新値算出手段と、前記更新値算出手段に
より算出された更新値を前記ソースコイルの位置と向き
に加え、前記センスコイルの出力を算出する第2の出力
算出手段と、前記更新値が適当な値になるまで前記更新
値算出手段と第2の前記出力算出手段を繰り返し、前記
ソースコイルの位置と向きを推定するソースコイル推定
手段とからなることを特徴とする付記項14に記載の位
置推定装置。
推定された位置を時系列的に記憶する記憶手段と、前記
記憶手段に記憶された前記ソースコイルの位置から現在
の前記ソースコイルの位置を予測する予測手段とを備え
たことを特徴とする付記項3に記載の位置推定装置。
憶手段に記憶された前記ソースコイルの位置を時系列的
に重み付け加算し、現在の前記ソースコイルの位置を予
測する手段からなることを特徴とする付記項16に記載
の位置推定装置。
憶手段に記憶された前記ソースコイルの位置から前記ソ
ースコイルの動きを求め、現在の前記ソースコイルの位
置を予測する手段からなることを特徴とする付記項16
に記載の位置推定装置。
発生するソースコイルと、センスコイルとして3次元空
間上に複数の単心コイルを異なる位置に配置し、前記セ
ンスコイルの出力から前記ソースコイルの位置と向きを
推定する推定手段とを備えたことを特徴とする位置推定
装置。
ンスコイルの出力を前記ソースコイルの適当な位置と向
きから算出する第1の出力算出手段と、前記第1の出力
算出手段により算出された前記センスコイルの出力と、
前記センスコイルの測定された出力とから、前記ソース
コイルの位置と向きをそれぞれ更新するための値を算出
する更新値算出手段と、前記更新値算出手段により算出
された更新値を前記ソースコイルの位置と向きに加え、
前記センスコイルの出力を算出する第2の出力算出手段
と、前記更新値が適当な値になるまで、前記更新算出手
段と第2の前記出力算出手段を繰り返し、前記ソースコ
イルの位置と向きを推定するソースコイル推定手段とか
らなることを特徴とする付記項19に記載の位置推定装
置。
は、前記ソースコイルの位置と向きを前記ソースコイル
の並びの連続性から設定する設定手段からなることを特
徴とする付記項20に記載の位置推定装置。
された位置と向きを時系列的に記憶する記憶手段と、前
記第1の出力算出手段の前記ソースコイルの位置と向き
を前記記憶手段に記憶された位置と向きから設定する設
定手段とを備えたことを特徴とする付記項20に記載の
位置推定装置。
された位置を時系列的に記憶する記憶手段と、前記記憶
手段に記憶された前記ソースコイルの位置から現在の前
記ソースコイルの位置を予測する予測手段とを備えたこ
とを特徴とする付記項19に記載の位置推定装置。
憶手段に記憶された前記ソースコイルの位置を時系列的
に重み付け加算し、現在の前記ソースコイルの位置を予
測する手段からなることを特徴とする付記項23に記載
の位置推定装置。
憶手段に記憶された前記ソースコイルの位置から前記ソ
ースコイルの動きを求め、現在の前記ソースコイルの位
置を予測する手段からなることを特徴とする付記項23
に記載の位置推定装置。
イルの存在空間を検出するコイル位置測定方法におい
て、磁界を発生するための単軸発信コイルを有する磁界
発生手段と、前記磁界発生手段で発生された磁界を検出
する磁界検出手段とを有し、前記磁界検出手段による磁
界検出に基づき前記磁界発生手段の位置情報を検出する
位置推定装置において、前記磁界検出手段は、少なくと
も、第1の直線上に同一方向に向けて配置された第1、
第2、第3及び第4の単軸発信コイルからなる第1の磁
界検出部によって、前記ソースコイルで発生された磁界
強度を測定する第1の磁界測定工程と、前記第1の直線
と平行な第2の直線上に同一方向に向けて配置された第
5、第6、第7及び第8の単軸発信コイルからなる第2
の磁界検出部によって、前記ソースコイルで発生された
磁界強度を測定する第2の磁界測定工程と、前記第1の
直線と非平行な第3の直線上に同一方向に向けて配置さ
れた第9、第10、第11及び第12の単軸発信コイル
からなる第3の磁界検出部によって、前記ソースコイル
で発生された磁界強度を測定する第3の磁界測定工程
と、前記第3の直線と平行な第4の直線上に同一方向に
向けて配置された第13、第14、第15及び第16の
単軸発信コイルをからなる第4の磁界検出部によって、
前記ソースコイルで発生された磁界強度を測定する第4
の磁界測定工程とを具備したことを特徴とするコイル位
置測定方法。
磁界検出部の単軸発信コイルの最大出力を求め、最大出
力の大きい順に前記磁界検出部を抽出する磁界検出部抽
出工程と、前記磁界検出部抽出工程により抽出された前
記磁界検出部により前記ソースコイルの存在する空間を
推定する空間推定工程とを具備したことを特徴とする付
記項26に記載のコイル位置測定方法。
界測定工程が測定した磁界強度に基づき前記ソースコイ
ルの存在する空間を推定する空間推定工程と、前記空間
推定工程により推定された前記ソースコイルの存在空間
から前記ソースコイルの3次元位置を推定する位置推定
工程とを具備したことを特徴とする付記項26に記載の
コイル位置測定方法。
記第1ないし第4の直線を軸として前記ソースコイルま
での距離を算出する距離算出工程からなることを特徴と
する付記項28に記載のコイル位置測定方法。
記第1ないし第4の直線を中心とする円領域として特定
する円領域特定工程からなることを特徴とする付記項2
8に記載のコイル位置測定方法。
前記第1ないし第4の各磁界検出部と前記ソースコイル
によって構成される平面の条件を用いて前記円領域を算
出する円領域算出工程であることを特徴とする付記項3
0に記載のコイル位置測定方法。
平面上に前記第1ないし第4の各磁界検出部の3つの単
軸発信コイルによって表される曲線を少なくとも2つ描
いた際の交点を含むという条件であり、前記円領域算出
工程は、前記交点を算出することを特徴とする付記項3
1に記載のコイル位置測定方法。。
記空間推定工程により推定された複数の円から2つの円
を選び、その2つの円が最も接近する円周上の点とその
点間の距離を算出する距離算出工程と前記距離算出手段
により算出された距離が最小となる前記第1ないし第4
の各磁界検出部の組み合わせを検出する検出工程と、前
記検出工程により検出された前記第1ないし第4の各磁
界検出部から前記ソースコイルの3次元位置を推定する
3次元位置推定工程とことを特徴とする付記項28に記
載のコイル位置測定方法。
推定された前記ソースコイルの位置から向きを推定する
向き推定工程と、前記位置推定工程と前記向き推定工程
との結果を用いて、前記ソースコイル位置と向きを推定
する推定工程とを備えたことを特徴とする付記項28に
記載のコイル位置測定方法。
推定された位置を時系列的に記憶する記憶工程と、前記
記憶工程で記憶された前記ソースコイルの位置から現在
の前記ソースコイルの位置を予測する予測工程とを備え
たことを特徴とする付記項28に記載のコイル位置測定
方法。
心コイルを異なる位置に配置して構成されるセンスコイ
ルの出力から単心コイルにより磁界を発生するソースコ
イルの位置と向きを推定する推定工程を備えたことを特
徴とするコイル位置測定方法。
ンスコイルの出力を前記ソースコイルの適当な位置と向
きから算出する第1の出力算出工程と、前記第1の出力
算出工程により算出された前記センスコイルの出力と、
前記センスコイルの測定された出力とから、前記ソース
コイルの位置と向きをそれぞれ更新するための値を算出
する更新値算出工程と、前記更新値算出工程により算出
された更新値を前記ソースコイルの位置と向きに加え、
前記センスコイルの出力を算出する第2の出力算出工程
と、前記更新値が適当な値になるまで、前記更新算出工
程と第2の前記出力算出工程を繰り返し、前記ソースコ
イルの位置と向きを推定するソースコイル推定工程とか
らなることを特徴とする付記項36に記載のコイル位置
測定方法。
発生するソースコイルと、センスコイルとして3次元空
間上に複数の単心コイルを異なる位置に配置し、前記セ
ンスコイルの出力から前記ソースコイルの位置を推定す
る推定手段とを備えたことを特徴とする位置推定装置。
ンスコイルの出力を前記ソースコイルの適当な位置から
算出する第1の出力算出手段と、前記第1の出力算出手
段により算出された前記センスコイルの出力と、前記セ
ンスコイルの測定された出力とから、前記ソースコイル
の位置を更新するための値を算出する更新値算出手段
と、前記更新値算出手段により算出された更新値を前記
ソースコイルの位置に加え、前記センスコイルの出力を
算出する第2の出力算出手段と、前記更新値が適当な値
になるまで、前記更新算出手段と第2の前記出力算出手
段を繰り返し、前記ソースコイルの位置を推定するソー
スコイル推定手段とからなることを特徴とする付記項3
8に記載の位置推定装置。
は、前記ソースコイルの位置を前記ソースコイルの並び
の連続性から設定する設定手段からなることを特徴とす
る付記項39に記載の位置推定装置。
された位置を時系列的に記憶する記憶手段と、前記第1
の出力算出手段の前記ソースコイルの位置を前記記憶手
段に記憶された位置から設定する設定手段とを備えたこ
とを特徴とする付記項39に記載の位置推定装置。
発生するソースコイルと、3次元空間上に複数の単心コ
イルを異なる位置に配置して構成される前記磁界を検出
するセンスコイルの出力から、磁界を発生するソースコ
イルの位置を推定する推定工程とからなることを特徴と
するコイル位置測定方法。
ンスコイルの出力を前記ソースコイルの適当な位置から
算出する第1の出力加算工程と、前記第1の出力加算工
程により算出された前記センスコイルの出力と、前記セ
ンスコイルの測定された出力とから、前記ソースコイル
の位置を更新するための値を算出する更新値算出工程
と、前記更新値算出工程により算出された更新値を前記
ソースコイルの位置に加え、前記センスコイルの出力を
算出する第2の出力加算工程と、前記更新値が適当な値
になるまで、前記更新値算出工程と前記第2の出力加算
工程での算出を繰り返し、前記ソースコイルの位置を推
定するソースコイル位置推定工程とからなることを特徴
とする付記項42に記載のコイル位置測定方法。
置によれば、では、同一直線上に第1、第2、第3及び
第4の単軸発信コイルを同一方向に向けて配置してなる
第1の磁界検出部及び第1の磁界検出部と非平行な同一
直線上に第5、第6、第7及び第8の単軸発信コイルを
同一方向に向けて配置してなる第2の磁界検出部とを備
えた磁界検出手段による磁界検出に基づき磁界発生手段
の位置情報を検出するので、複数組のセンスコイルによ
りソースコイルの3次元位置を求めるときの推定誤差を
縮小することができるという効果がある。
ムの構成を示す構成図
すブロック図
成図
ポートメモリ等の構成を示す構成図、
図
ート
タイミングを示すタイミング図
理を説明する第1の説明図
原理を説明する第2の説明図
原理を説明する第3の説明図
原理を説明する第4の説明図
原理を説明する第5の説明図
原理を説明する第6の説明図
原理を説明する第7の説明図
原理を説明する第8の説明図
原理を説明する第9の説明図
原理を説明する第10の説明図
原理を説明する第11の説明図、
流れを示す第1のフローチャート
流れを示す第2のフローチャート
イル推定位置に対する位置更新制御処理の流れを示すフ
ローチャート
の流れを示すフローチャート
図
ーチャート
図
における3Dモデル1および3Dモデル2のイメージモ
デルを説明する第1の説明図
イメージモデルの表示処理を示すフローチャート
における3Dモデル1および3Dモデル2のイメージモ
デルを説明する第2の説明図
ローチャート
の説明図
ローチャート
の説明図
における2Dモデルのイメージモデルの表示処理を示す
フローチャート
出イメージ画像の表示例を示す図
における12点モデルのイメージモデルの表示処理を示
すフローチャー
出イメージ画像の表示例を示す図
における直線モデルのイメージモデルの表示処理を示す
フローチャート
出イメージ画像の表示例を示す図
ル推定位置座標算出処理の原理を説明する説明図
の流れを示す第1のフローチャート
の流れを示す第2のフローチャート
ル推定位置座標算出処理を説明する説明図
ンスコイルによるソースコイル推定位置座標算出処理の
流れを示す第1のフローチャート
ンスコイルによるソースコイル推定位置座標算出処理の
流れを示す第2のフローチャート
上に磁界を発生するソースコイルの配置の一例を示す図
ースコイルの配置を説明する図
Claims (1)
- 【請求項1】 磁界を発生するための単軸発信コイルを
有する磁界発生手段と、前記磁界発生手段で発生された
磁界を検出する磁界検出手段とを有し、前記磁界検出手
段による磁界検出に基づき前記磁界発生手段の位置情報
を検出する位置推定装置において、 前記磁界検出手段は、少なくとも、 同一直線上に第1、第2、第3及び第4の単軸発信コイ
ルを同一方向に向けて配置してなる第1の磁界検出部
と、 前記第1の磁界検出部と非平行な同一直線上に第5、第
6、第7及び第8の単軸発信コイルを同一方向に向けて
配置してなる第2の磁界検出部とを備えたことを特徴と
する位置推定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31502498A JP3236565B2 (ja) | 1998-03-18 | 1998-11-05 | 位置推定装置 |
| US09/387,859 US6511417B1 (en) | 1998-09-03 | 1999-09-01 | System for detecting the shape of an endoscope using source coils and sense coils |
| US10/199,889 US6773394B2 (en) | 1998-09-03 | 2002-07-17 | System for detecting the shape of an endoscope using source coils and sense coils |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6907598 | 1998-03-18 | ||
| JP10-69075 | 1998-03-18 | ||
| JP31502498A JP3236565B2 (ja) | 1998-03-18 | 1998-11-05 | 位置推定装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001248217A Division JP3571675B2 (ja) | 1998-03-18 | 2001-08-17 | コイル位置測定装置およびコイル位置測定方法 |
Publications (2)
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|---|---|
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| JP3236565B2 JP3236565B2 (ja) | 2001-12-10 |
Family
ID=26410255
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|---|---|---|---|
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| Country | Link |
|---|---|
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Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003527708A (ja) * | 2000-03-13 | 2003-09-16 | アーベー イン クレデブル | ジェスチャ認識システム |
| WO2006126350A1 (ja) * | 2005-05-26 | 2006-11-30 | Olympus Medical Systems Corp. | カプセル型医療装置 |
| JP2008284303A (ja) * | 2007-05-21 | 2008-11-27 | Olympus Corp | 位置検出システムおよび位置検出方法 |
| JP2009047470A (ja) * | 2007-08-15 | 2009-03-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 磁気式3次元位置検出装置 |
| JP2010071654A (ja) * | 2008-09-16 | 2010-04-02 | Eiichi Bando | 原因物理量推定方法および装置 |
| US7988620B2 (en) | 2004-01-14 | 2011-08-02 | Olympus Corporation | Capsule endoscope apparatus |
| US8192354B2 (en) | 2004-12-01 | 2012-06-05 | Olympus Corporation | Endoscope inserted-shape detecting apparatus |
| JP2012165838A (ja) * | 2011-02-10 | 2012-09-06 | Nagoya Univ | 内視鏡挿入支援装置 |
| JP2021177177A (ja) * | 2020-05-05 | 2021-11-11 | バイオセンス・ウエブスター・(イスラエル)・リミテッドBiosense Webster (Israel), Ltd. | 可撓性磁気センサを使用したカテーテル形状及び位置の検出 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6013208B2 (ja) * | 2013-01-23 | 2016-10-25 | 住友精密工業株式会社 | 触媒反応器 |
-
1998
- 1998-11-05 JP JP31502498A patent/JP3236565B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3236565B2 (ja) | 2001-12-10 |
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