JPH11326183A - 層状微細構造の計測装置 - Google Patents
層状微細構造の計測装置Info
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- JPH11326183A JPH11326183A JP10158528A JP15852898A JPH11326183A JP H11326183 A JPH11326183 A JP H11326183A JP 10158528 A JP10158528 A JP 10158528A JP 15852898 A JP15852898 A JP 15852898A JP H11326183 A JPH11326183 A JP H11326183A
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- Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 爪、抜歯等の試料のＯＣＴによる計測を、容
易にかつ正確に行えるようにする。 【解決手段】 低コヒーレント光を試料Ｓ及び参照鏡に
それぞれ入射させ、試料Ｓからの反射光又は散乱光と、
参照鏡からの反射光との干渉信号を計測する低干渉光干
渉計測法により試料Ｓの層状微細構造を計測する装置
に、試料Ｓの載置面を水平面に対して回動可能とする試
料載置台１１、試料Ｓに低コヒーレント光を入射させる
プローブ１、及びプローブ１のＸ軸、Ｙ軸又はＺ軸方向
の位置を調整するプローブ位置調整手段２０を設ける。
易にかつ正確に行えるようにする。 【解決手段】 低コヒーレント光を試料Ｓ及び参照鏡に
それぞれ入射させ、試料Ｓからの反射光又は散乱光と、
参照鏡からの反射光との干渉信号を計測する低干渉光干
渉計測法により試料Ｓの層状微細構造を計測する装置
に、試料Ｓの載置面を水平面に対して回動可能とする試
料載置台１１、試料Ｓに低コヒーレント光を入射させる
プローブ１、及びプローブ１のＸ軸、Ｙ軸又はＺ軸方向
の位置を調整するプローブ位置調整手段２０を設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、低干渉光干渉計測
法により爪、抜歯等の層状微細構造を計測するための装
置に関する。
法により爪、抜歯等の層状微細構造を計測するための装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】生体や物体の内部構造を無侵襲に解析す
る手法として、超音波断層映像法、Ｘ線ＣＴ(computed
tomography)、ＭＲＩ(magnetic resonance imaging)等
の技術に加え、可視又は近赤外領域の低コヒーレント光
を使用し、試料からの反射光や散乱光の干渉計測を行
い、試料の内部構造を解析する低干渉光干渉計測法(opt
ical coherence microscopy （ＯＣＭ）又はoptical co
herence tomography（ＯＣＴ）) が注目されている（Ap
plied Optics, Vol.34, No.25, 5699(1995）,Applied O
ptics, Vol.32, No.30, 6032(1993）, 光学 ,Vol.25, N
o.3, 156(1996）等参照)。
る手法として、超音波断層映像法、Ｘ線ＣＴ(computed
tomography)、ＭＲＩ(magnetic resonance imaging)等
の技術に加え、可視又は近赤外領域の低コヒーレント光
を使用し、試料からの反射光や散乱光の干渉計測を行
い、試料の内部構造を解析する低干渉光干渉計測法(opt
ical coherence microscopy （ＯＣＭ）又はoptical co
herence tomography（ＯＣＴ）) が注目されている（Ap
plied Optics, Vol.34, No.25, 5699(1995）,Applied O
ptics, Vol.32, No.30, 6032(1993）, 光学 ,Vol.25, N
o.3, 156(1996）等参照)。
【０００３】ＯＣＴによれば試料の層構造を計測し、さ
らに試料内部の各層の光散乱能を無侵襲で計測すること
ができるので、ＯＣＴは光ファイバーやコネクタ等の光
学部品の設計、製造、検査等に利用されている。
らに試料内部の各層の光散乱能を無侵襲で計測すること
ができるので、ＯＣＴは光ファイバーやコネクタ等の光
学部品の設計、製造、検査等に利用されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ＯＣＴ
を利用し、爪や抜歯等の透明乃至半透明物質を試料とし
て層状微細構造を計測する場合、これらの試料の外形は
曲面からなるので、試料を所定の向きに安定的に固定す
ることが難しく、プローブを適切な位置あるいは向きで
試料に当接させることも難しい。また、同一測定部位を
繰り返し測定することにより、その経時的変化を追跡す
ることにも限界がある。
を利用し、爪や抜歯等の透明乃至半透明物質を試料とし
て層状微細構造を計測する場合、これらの試料の外形は
曲面からなるので、試料を所定の向きに安定的に固定す
ることが難しく、プローブを適切な位置あるいは向きで
試料に当接させることも難しい。また、同一測定部位を
繰り返し測定することにより、その経時的変化を追跡す
ることにも限界がある。
【０００５】そこで、本発明は、ＯＣＴにより爪、抜歯
等の試料を容易かつ正確に測定できるＯＣＴの計測装置
を提供することを目的とする。
等の試料を容易かつ正確に測定できるＯＣＴの計測装置
を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
め、本発明は、低コヒーレント光を試料及び参照鏡にそ
れぞれ入射させ、試料からの反射光又は散乱光と、参照
鏡からの反射光との干渉信号を計測する低干渉光干渉計
測法により試料の層状微細構造を計測する装置であっ
て、試料の載置面が水平面に対して回動可能である試料
載置台、試料に低コヒーレント光を入射させるプロー
ブ、及びプローブのＸ軸、Ｙ軸又はＺ軸方向の位置を調
整するプローブ位置調整手段が設けられていることを特
徴とする計測装置を提供する。
め、本発明は、低コヒーレント光を試料及び参照鏡にそ
れぞれ入射させ、試料からの反射光又は散乱光と、参照
鏡からの反射光との干渉信号を計測する低干渉光干渉計
測法により試料の層状微細構造を計測する装置であっ
て、試料の載置面が水平面に対して回動可能である試料
載置台、試料に低コヒーレント光を入射させるプロー
ブ、及びプローブのＸ軸、Ｙ軸又はＺ軸方向の位置を調
整するプローブ位置調整手段が設けられていることを特
徴とする計測装置を提供する。
【０００７】本発明の計測装置によれば、試料載置台の
試料載置面が水平面に対して回動可能であり、かつプロ
ーブを、プローブ位置調整手段によりＸ軸、Ｙ軸又はＺ
軸方向に位置調整でき、さらに、必要に応じてプローブ
角度調整手段により水平面内又は垂直面内での角度も調
整できるので、計測する試料が爪や抜歯等のように曲面
形状をなしていても、任意の測定部位を、プローブを最
適な角度で当接させて計測することができる。
試料載置面が水平面に対して回動可能であり、かつプロ
ーブを、プローブ位置調整手段によりＸ軸、Ｙ軸又はＺ
軸方向に位置調整でき、さらに、必要に応じてプローブ
角度調整手段により水平面内又は垂直面内での角度も調
整できるので、計測する試料が爪や抜歯等のように曲面
形状をなしていても、任意の測定部位を、プローブを最
適な角度で当接させて計測することができる。
【０００８】従って、爪や抜歯等の試料の層状微細構造
を容易かつ正確に計測することが可能となり、さらにプ
ローブを試料面で走査することにより試料の層状微細構
造を三次元的に把握し、また、爪や抜歯等の試料の健常
部と疾病部（折れ、欠け、荒れ、２枚爪等）とを識別す
ることも可能となる。
を容易かつ正確に計測することが可能となり、さらにプ
ローブを試料面で走査することにより試料の層状微細構
造を三次元的に把握し、また、爪や抜歯等の試料の健常
部と疾病部（折れ、欠け、荒れ、２枚爪等）とを識別す
ることも可能となる。
【０００９】また、試料の特定部位を繰り返し計測する
ことにより、例えば、エナメルその他任意の塗布剤を塗
布あるいは浸透させた爪や抜歯等の層状微細構造の経時
的変化を追跡することが可能となる。
ことにより、例えば、エナメルその他任意の塗布剤を塗
布あるいは浸透させた爪や抜歯等の層状微細構造の経時
的変化を追跡することが可能となる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面に基づいて詳
細に説明する。なお、各図中、同一符号は同一又は同等
の構成要素を表している。
細に説明する。なお、各図中、同一符号は同一又は同等
の構成要素を表している。
【００１１】図１（ａ）は、本発明の一態様の計測装置
１０の全体斜視図であり、同図（ｂ）は爪を試料Ｓと
し、その試料Ｓにプローブ１を当接させた状態の拡大斜
視図である。
１０の全体斜視図であり、同図（ｂ）は爪を試料Ｓと
し、その試料Ｓにプローブ１を当接させた状態の拡大斜
視図である。
【００１２】この計測装置１０は、特に被験者の生爪、
切り爪、抜歯等を試料として計測するためのものであ
り、試料載置台１１がＸ軸方向を回転中心として矢印ａ
方向に回動する第１のゴニオステージ１２とＹ軸方向を
回転中心として矢印ｂ方向に回動する第２のゴニオステ
ージ１３とを重ね、さらにその上に上部ステージ１４を
重ねたものからなっている。従って、この試料載置台１
１によれば、試料載置台１１の載置面をＸ軸及びＹ軸方
向に独立的に任意の角度で傾けることができる。よっ
て、試料Ｓの外形が爪や抜歯等のように曲面からなる場
合、まず、試料Ｓを安定的に載置できる向きで試料載置
台１１上に載置し、次いで試料載置台１１の載置面を傾
けることにより所定の測定部位をプローブ１に向けるこ
とが可能となる。
切り爪、抜歯等を試料として計測するためのものであ
り、試料載置台１１がＸ軸方向を回転中心として矢印ａ
方向に回動する第１のゴニオステージ１２とＹ軸方向を
回転中心として矢印ｂ方向に回動する第２のゴニオステ
ージ１３とを重ね、さらにその上に上部ステージ１４を
重ねたものからなっている。従って、この試料載置台１
１によれば、試料載置台１１の載置面をＸ軸及びＹ軸方
向に独立的に任意の角度で傾けることができる。よっ
て、試料Ｓの外形が爪や抜歯等のように曲面からなる場
合、まず、試料Ｓを安定的に載置できる向きで試料載置
台１１上に載置し、次いで試料載置台１１の載置面を傾
けることにより所定の測定部位をプローブ１に向けるこ
とが可能となる。
【００１３】試料載置台１１は、計測する試料Ｓの外形
に応じて、その試料載置面の形状を適宜変更できるよう
にしてもよい。これにより試料をよりいっそう安定的に
固定することが可能となる。例えば、生爪を試料とする
場合、図２に示したように、指を試料載置台１１に安定
的に載置できるように、試料載置台１１の上部ステージ
１４には指を載せて固定することのできる指固定用溝１
５を設けることが好ましい。また、切り爪を試料とする
場合、図３に示したように、試料載置台１１の上部ステ
ージ１４には、切り爪Ｓxの両端を挿入して固定する切
れ目１６を設けることが好ましい。また、抜歯を試料と
する場合、図４に示したように、試料載置台１１の上部
ステージ１４には、抜歯を部分的に埋め込むことのでき
る抜歯固定用溝１７を形成することが好ましい。
に応じて、その試料載置面の形状を適宜変更できるよう
にしてもよい。これにより試料をよりいっそう安定的に
固定することが可能となる。例えば、生爪を試料とする
場合、図２に示したように、指を試料載置台１１に安定
的に載置できるように、試料載置台１１の上部ステージ
１４には指を載せて固定することのできる指固定用溝１
５を設けることが好ましい。また、切り爪を試料とする
場合、図３に示したように、試料載置台１１の上部ステ
ージ１４には、切り爪Ｓxの両端を挿入して固定する切
れ目１６を設けることが好ましい。また、抜歯を試料と
する場合、図４に示したように、試料載置台１１の上部
ステージ１４には、抜歯を部分的に埋め込むことのでき
る抜歯固定用溝１７を形成することが好ましい。
【００１４】また、上部ステージ１４の形成素材は、当
該試料あるいはその固定方法に応じて適宜定めることが
できる。例えば、図２の指固定用溝１５を有する上部ス
テージ１４の場合、適度な硬さを有するシリコンゴム、
粘土、パラフィンワックス、プラスチック、発泡プラス
チック等の弾性材料から形成することが好ましい。ま
た、図３の切れ目１６を有する上部ステージ１４や、図
４の抜歯固定用溝１７を有する上部ステージ１４は、ス
ポンジ、ウレタンフォーム、海綿等の弾性材料から形成
することが好ましい。
該試料あるいはその固定方法に応じて適宜定めることが
できる。例えば、図２の指固定用溝１５を有する上部ス
テージ１４の場合、適度な硬さを有するシリコンゴム、
粘土、パラフィンワックス、プラスチック、発泡プラス
チック等の弾性材料から形成することが好ましい。ま
た、図３の切れ目１６を有する上部ステージ１４や、図
４の抜歯固定用溝１７を有する上部ステージ１４は、ス
ポンジ、ウレタンフォーム、海綿等の弾性材料から形成
することが好ましい。
【００１５】一方、この計測装置１０において、試料Ｓ
に低コヒーレント光を入射させるプローブ１は、図１に
示したようにアーム２１に固定されている。このアーム
２１はＺ軸方向に移動可能なＺ軸方向調整板２２に矢印
ｃで示したように回動可能に取り付けられている。Ｚ軸
方向調整板２２は、Ｙ軸方向に移動可能なＹ軸方向調整
板２３上に取り付けられており、Ｙ軸方向調整板２３
は、Ｘ軸方向に移動可能なＸ軸方向調整板２４上に取り
付けられており、Ｘ軸方向調整板２４は光学架台２５上
に取り付けられている。Ｚ軸方向調整板２２、Ｙ軸方向
調整板２３及びＸ軸方向調整板２４のそれぞれの移動量
は、コントロールボックス３０でコンピュータ制御可能
となっている。
に低コヒーレント光を入射させるプローブ１は、図１に
示したようにアーム２１に固定されている。このアーム
２１はＺ軸方向に移動可能なＺ軸方向調整板２２に矢印
ｃで示したように回動可能に取り付けられている。Ｚ軸
方向調整板２２は、Ｙ軸方向に移動可能なＹ軸方向調整
板２３上に取り付けられており、Ｙ軸方向調整板２３
は、Ｘ軸方向に移動可能なＸ軸方向調整板２４上に取り
付けられており、Ｘ軸方向調整板２４は光学架台２５上
に取り付けられている。Ｚ軸方向調整板２２、Ｙ軸方向
調整板２３及びＸ軸方向調整板２４のそれぞれの移動量
は、コントロールボックス３０でコンピュータ制御可能
となっている。
【００１６】従ってこの計測装置１０では、Ｚ軸方向調
整板２２、Ｙ軸方向調整板２３及びＸ軸方向調整板２４
がそれぞれプローブ位置調整手段２０として機能する。
また、アーム２１がプローブ１の角度を調整するプロー
ブ角度調整手段として機能する。
整板２２、Ｙ軸方向調整板２３及びＸ軸方向調整板２４
がそれぞれプローブ位置調整手段２０として機能する。
また、アーム２１がプローブ１の角度を調整するプロー
ブ角度調整手段として機能する。
【００１７】本発明において、プローブ１としては、先
端を試料に密着させることのできる限り特に制限はな
く、市販のＯＣＴ計測装置に使用されているプローブを
使用することができる。また、プローブ１は、光源、参
照鏡、分析器が組み込まれているＯＣＴ装置４０と接続
される。
端を試料に密着させることのできる限り特に制限はな
く、市販のＯＣＴ計測装置に使用されているプローブを
使用することができる。また、プローブ１は、光源、参
照鏡、分析器が組み込まれているＯＣＴ装置４０と接続
される。
【００１８】ＯＣＴ装置４０には、プローブ１を用いた
干渉信号の計測により得られた、試料の層状微細構造に
関する計測結果を出力するモニター４１とプリンタ４２
が接続されている。この他、計測装置１０には、測定部
位とする試料の表面を拡大観察できるように撮像装置４
３等を設けてもよい。
干渉信号の計測により得られた、試料の層状微細構造に
関する計測結果を出力するモニター４１とプリンタ４２
が接続されている。この他、計測装置１０には、測定部
位とする試料の表面を拡大観察できるように撮像装置４
３等を設けてもよい。
【００１９】この計測装置４０によれば、上述のように
試料載置台１１により種々の外形の試料Ｓを安定的に固
定し、かつ任意の測定部位をプローブ１に向けさせるこ
とができ、さらにプローブ１の位置及び向きを調整する
ことができるので、爪や抜歯等を試料とする場合でもそ
の層状微細構造を正確に計測することができる。
試料載置台１１により種々の外形の試料Ｓを安定的に固
定し、かつ任意の測定部位をプローブ１に向けさせるこ
とができ、さらにプローブ１の位置及び向きを調整する
ことができるので、爪や抜歯等を試料とする場合でもそ
の層状微細構造を正確に計測することができる。
【００２０】例えば、切り爪を試料とした場合、図５の
ＯＣＴのプロファイルを得ることができる。なお、図
中、縦軸の散乱光強度は、低コヒーレンス光の試料Ｓか
らの反射光と参照鏡からの反射光との干渉信号の強度で
ある。また、横軸のｎ*は空気の屈折率、ｚは干渉信号
が観測されたときの参照鏡の移動距離（μｍ）であり、
ｎ*ｚは、干渉信号に対応する試料内の光学的深さを表
す。図５に示すように、表層Ｓ1の外表面からの反射の
ピークＰ1、表層Ｓ1と内部層Ｓ2との界面からの反射ピ
ークＰ2、内部層Ｓ2と下部層Ｓ3との界面からの反射ピ
ークＰ3、下部層Ｓ3の背面からの反射ピークＰ4を、個
々の試料の状態に応じた強度及びパターンで観測するこ
とが可能となる。よって、爪に欠けた部分がある場合に
は、図６に示すように、その表層Ｓ1の外表面からの反
射のピークＰ1、表層Ｓ1と欠けた部分の空気層Ｓ4との
界面からの反射ピークＰ5、空気層Ｓ4と内部層Ｓ2との
界面からの反射ピークＰ6、内部層Ｓ2と下部層Ｓ3との
界面からの反射ピークＰ3、下部層Ｓ3の背面からの反射
ピークＰ4を観測することが可能となる。
ＯＣＴのプロファイルを得ることができる。なお、図
中、縦軸の散乱光強度は、低コヒーレンス光の試料Ｓか
らの反射光と参照鏡からの反射光との干渉信号の強度で
ある。また、横軸のｎ*は空気の屈折率、ｚは干渉信号
が観測されたときの参照鏡の移動距離（μｍ）であり、
ｎ*ｚは、干渉信号に対応する試料内の光学的深さを表
す。図５に示すように、表層Ｓ1の外表面からの反射の
ピークＰ1、表層Ｓ1と内部層Ｓ2との界面からの反射ピ
ークＰ2、内部層Ｓ2と下部層Ｓ3との界面からの反射ピ
ークＰ3、下部層Ｓ3の背面からの反射ピークＰ4を、個
々の試料の状態に応じた強度及びパターンで観測するこ
とが可能となる。よって、爪に欠けた部分がある場合に
は、図６に示すように、その表層Ｓ1の外表面からの反
射のピークＰ1、表層Ｓ1と欠けた部分の空気層Ｓ4との
界面からの反射ピークＰ5、空気層Ｓ4と内部層Ｓ2との
界面からの反射ピークＰ6、内部層Ｓ2と下部層Ｓ3との
界面からの反射ピークＰ3、下部層Ｓ3の背面からの反射
ピークＰ4を観測することが可能となる。
【００２１】以上、図１に示した計測装置１０に基づい
て本発明を詳細に説明したが、この他、本発明は種々の
態様をとることができる。例えば、試料載置台１１に
は、ゴニオステージに加えて、水平面内で試料を回転さ
せることのできる回転ステージを重ねてもよく、また、
Ｚ軸方向に移動可能としてもよい。
て本発明を詳細に説明したが、この他、本発明は種々の
態様をとることができる。例えば、試料載置台１１に
は、ゴニオステージに加えて、水平面内で試料を回転さ
せることのできる回転ステージを重ねてもよく、また、
Ｚ軸方向に移動可能としてもよい。
【００２２】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説
明する。
明する。
【００２３】実施例１ ２０歳の健常な女性の切り爪を試料とし、ＯＣＴにより
その層状微細構造を計測した。
その層状微細構造を計測した。
【００２４】ＯＣＴ計測装置としては、図１に示した装
置を用いた。この場合、プローブ１及びＯＣＴ装置４０
としては、ヒューレッドパッカード社製のＨＰ−８５０
４Ａを使用した。試料載置台１１の第１のゴニオステー
ジ１２及び第２のゴニオステージ１３としては、それぞ
れ回転角の範囲が最大±２０゜である駿河精機社製のゴ
ニオステージを使用した。また、計測は、同一部位を３
回繰り返して行った。
置を用いた。この場合、プローブ１及びＯＣＴ装置４０
としては、ヒューレッドパッカード社製のＨＰ−８５０
４Ａを使用した。試料載置台１１の第１のゴニオステー
ジ１２及び第２のゴニオステージ１３としては、それぞ
れ回転角の範囲が最大±２０゜である駿河精機社製のゴ
ニオステージを使用した。また、計測は、同一部位を３
回繰り返して行った。
【００２５】この結果を図７に示す。同図から、この計
測装置によれば、爪の表層と内部層と下部層からなる微
細層状構造を良好に計測できることがわかる。
測装置によれば、爪の表層と内部層と下部層からなる微
細層状構造を良好に計測できることがわかる。
【００２６】実施例２ 実施例１と同様の計測装置を用いて、２８歳の健常な男
性の生爪の爪甲部と遊離部とをそれぞれＯＣＴ計測し
た。
性の生爪の爪甲部と遊離部とをそれぞれＯＣＴ計測し
た。
【００２７】これらの結果を図８及び図９に示す。これ
らの図から、この装置によれば、遊離部と爪甲部とを区
別できることがわかる。
らの図から、この装置によれば、遊離部と爪甲部とを区
別できることがわかる。
【００２８】実施例３ 実施例１と同様の計測装置を用いて、２６〜３５歳の健
常な女性の生爪の爪甲部から遊離部の同一部位を１週間
ごとに３週間にわたりＯＣＴ計測することによりその経
時変化を追跡した。この場合、各週ごとの計測は、１０
回ずつ行った。
常な女性の生爪の爪甲部から遊離部の同一部位を１週間
ごとに３週間にわたりＯＣＴ計測することによりその経
時変化を追跡した。この場合、各週ごとの計測は、１０
回ずつ行った。
【００２９】これらの結果を図１０〜図１３に示す。０
週目（図１０）には、２枚爪のピークが遊離部に認めら
れ（目視でも確認）、１週目（図１１）にも２枚爪のピ
ークが認められ、２週目（図１２）には２枚爪ピークが
なくなり（目視でも確認）、３週目（図１３）には２枚
爪がなくかつ内部層の散乱光強度の上昇が認められるの
で、この装置によれば、爪の微細層状構造の経時的変化
を追跡できることがわかる。
週目（図１０）には、２枚爪のピークが遊離部に認めら
れ（目視でも確認）、１週目（図１１）にも２枚爪のピ
ークが認められ、２週目（図１２）には２枚爪ピークが
なくなり（目視でも確認）、３週目（図１３）には２枚
爪がなくかつ内部層の散乱光強度の上昇が認められるの
で、この装置によれば、爪の微細層状構造の経時的変化
を追跡できることがわかる。
【００３０】
【発明の効果】本発明の計測装置によれば、ＯＣＴによ
り爪、抜歯等の試料を容易かつ正確に測定することが可
能となる。
り爪、抜歯等の試料を容易かつ正確に測定することが可
能となる。
【図１】本発明の計測装置の全体斜視図（同図
（ａ））、及び、爪にプローブを当接させた状態の拡大
斜視図（同図（ｂ））である。
（ａ））、及び、爪にプローブを当接させた状態の拡大
斜視図（同図（ｂ））である。
【図２】指固定用溝を有する上部ステージの斜視図であ
る。
る。
【図３】切れ目を有する上部ステージの斜視図である。
【図４】抜歯固定用溝を有する上部ステージの斜視図で
ある。
ある。
【図５】爪のＯＣＴのプロファイルの説明図である。
【図６】爪のＯＣＴのプロファイルの説明図である。
【図７】実施例で得た、爪のＯＣＴのプロファイルであ
る。
る。
【図８】実施例で得た、爪のＯＣＴのプロファイルであ
る。
る。
【図９】実施例で得た、爪のＯＣＴのプロファイルであ
る。
る。
【図１０】実施例で得た、爪のＯＣＴのプロファイルで
ある。
ある。
【図１１】実施例で得た、爪のＯＣＴのプロファイルで
ある。
ある。
【図１２】実施例で得た、爪のＯＣＴのプロファイルで
ある。
ある。
【図１３】実施例で得た、爪のＯＣＴのプロファイルで
ある。
ある。
１ プローブ １０ 計測装置 １１ 試料載置台 １２ 第１のゴニオステージ １３ 第２のゴニオステージ １４ 上部ステージ １５ 指固定用溝 １６ 切れ目 １７ 抜歯固定用溝 ２０ プローブ位置調整手段 ２１ アーム ２２ Ｚ軸方向調整板 ２３ Ｙ軸方向調整板 ２４ Ｘ軸方向調整板 ２５ 光学架台 ３０ コントロールボックス ４０ ＯＣＴ装置 ４１ モニター ４２ プリンタ Ｓ 試料
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｇ０１Ｎ 21/47 Ａ６１Ｂ 5/10 ３１０Ｚ
Claims (6)
- 【請求項１】 低コヒーレント光を試料及び参照鏡にそ
れぞれ入射させ、試料からの反射光又は散乱光と、参照
鏡からの反射光との干渉信号を計測する低干渉光干渉計
測法により試料の層状微細構造を計測する装置であっ
て、試料の載置面が水平面に対して回動可能である試料
載置台、試料に低コヒーレント光を入射させるプロー
ブ、及びプローブのＸ軸、Ｙ軸又はＺ軸方向の位置を調
整するプローブ位置調整手段が設けられていることを特
徴とする計測装置。 - 【請求項２】 試料載置台が、互いに直交する回転軸を
有する２つのゴニオステージを重ねたものからなる請求
項１記載の計測装置。 - 【請求項３】 プローブの水平面内又は垂直面内での角
度を調整するプローブ角度調整手段が設けられている請
求項１又は２記載の計測装置。 - 【請求項４】 試料載置台が、指を載せて固定させる指
固定用溝を有する請求項１〜３のいずれかに記載の計測
装置。 - 【請求項５】 試料載置台が、切り爪の両端を挿入して
固定する切れ目を有する請求項１〜３のいずれかに記載
の計測装置。 - 【請求項６】 試料載置台が、抜歯を部分的に埋め込む
抜歯固定用溝を有する請求項１〜３のいずれかに記載の
計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10158528A JPH11326183A (ja) | 1998-05-21 | 1998-05-21 | 層状微細構造の計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10158528A JPH11326183A (ja) | 1998-05-21 | 1998-05-21 | 層状微細構造の計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11326183A true JPH11326183A (ja) | 1999-11-26 |
Family
ID=15673712
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10158528A Pending JPH11326183A (ja) | 1998-05-21 | 1998-05-21 | 層状微細構造の計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11326183A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007519481A (ja) * | 2004-01-27 | 2007-07-19 | インフレアデックス， インク． | 側方照射型光ファイバアレイ・プローブ |
| JP2007225349A (ja) * | 2006-02-21 | 2007-09-06 | Univ Of Tsukuba | ３次元光断層画像の画像処理方法 |
| JP2010509594A (ja) * | 2006-11-03 | 2010-03-25 | ヴォルカノ コーポレイション | 検体を感知する方法及び装置 |
| KR101351263B1 (ko) * | 2012-12-06 | 2014-01-24 | 경북대학교 산학협력단 | 혈류계측을 위한 광계측용 지그 시스템 |
| JP5492351B1 (ja) * | 2012-05-11 | 2014-05-14 | パナソニック株式会社 | 巻回装置、巻回方法、検査装置及び構造物製造方法 |
-
1998
- 1998-05-21 JP JP10158528A patent/JPH11326183A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007519481A (ja) * | 2004-01-27 | 2007-07-19 | インフレアデックス， インク． | 側方照射型光ファイバアレイ・プローブ |
| JP2007225349A (ja) * | 2006-02-21 | 2007-09-06 | Univ Of Tsukuba | ３次元光断層画像の画像処理方法 |
| JP2010509594A (ja) * | 2006-11-03 | 2010-03-25 | ヴォルカノ コーポレイション | 検体を感知する方法及び装置 |
| JP2013210374A (ja) * | 2006-11-03 | 2013-10-10 | Volcano Corp | 検体を感知する方法及び装置 |
| JP5492351B1 (ja) * | 2012-05-11 | 2014-05-14 | パナソニック株式会社 | 巻回装置、巻回方法、検査装置及び構造物製造方法 |
| US9404733B2 (en) | 2012-05-11 | 2016-08-02 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Winding device, winding method, inspection device and structure manufacturing method |
| US9859584B2 (en) | 2012-05-11 | 2018-01-02 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Winding device, winding method, inspection device and structure manufacturing method in which a position of stuck together first and second wound sheets are detected via interference light generated using reflected reference light from a reference surface |
| KR101351263B1 (ko) * | 2012-12-06 | 2014-01-24 | 경북대학교 산학협력단 | 혈류계측을 위한 광계측용 지그 시스템 |
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