JPH11326332A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

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JPH11326332A
JPH11326332A JP13522798A JP13522798A JPH11326332A JP H11326332 A JPH11326332 A JP H11326332A JP 13522798 A JP13522798 A JP 13522798A JP 13522798 A JP13522798 A JP 13522798A JP H11326332 A JPH11326332 A JP H11326332A
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JP
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measurement
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measuring
channels
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JP13522798A
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English (en)
Inventor
Yukie Tokiwa
幸恵 常盤
Kyoko Imai
恭子 今井
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】複数の測定チャンネルで同一項目の測定を行う
ときでも一台の自動分析装置から得られた結果としての
観点から精度管理を行って、どの測定チャンネルで測定
しても互換性のあるデータを得ることができるようにす
ること。 【解決手段】分析モジュ−ル15−1において、反応容
器9−1には試料容器1−1の精度管理試料aおよび試
薬が分注される。反応終了後、反応容器9−1中の反応
液は検出ユニット13−1内の検出器に導入され、反応
液からの発光が検出される。1サンプルの測定後、試料
容器1−2の試料精度管理試料bが反応容器9−2に分
注され、同様の処理が行われる。分析ボジュ−ル15−
2においても同様の精度管理試料の測定が行われる場
合、2つの測定チャンネルで検出された信号は全てデー
タ処理部16に集められ、測定チャンネル毎、及び2つ
の測定チャンネルからの測定データを一つに合わせて、
各精度管理試料の日内、日差データについての統計計算
が行われ、精度管理情報が出力部17に出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は自動分析装置に係
り、特に、複数の測定チャンネルで同一項目を測定する
場合の精度管理に好適な自動分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】自動分析装置では、検体測定の間に濃度
既知の精度管理試料を測定することにより精度管理を行
っている。その代表的なものとしてx−R管理図法が挙げ
られる。この方法は日常検査中に精度管理試料を測定
し、その平均値(x)と標準偏差(R)によって検査が正
常に行われているかどうかを調べるものである。反応容
器に試薬及び試料を分注し、その反応液を測定する自動
分析装置では、一般的に試料及び試薬の分注から反応液
の測定までの装置上の経路が一つであり、測定部ごとに
精度管理が行われている。
【0003】近年、処理能力の拡大が求められ、上記の
自動分析装置を複数接続して測定を行う自動分析装置が
開発されている。一度に複数項目の分析を行うために各
測定部に他と重ならない決まった測定項目を割り当てる
もの、また、依頼の多い項目について複数の測定部で測
定するものなどがある。しかし、複数の測定部で同一項
目を測定するとき、個々の測定結果は、測定された測定
部が異なっていても一台の装置から得られたものとみな
されるにもかかわらず、このような装置においても精度
管理は測定部ごとに行われている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】試料及び試薬の分注や
反応液からの信号の検出等、装置各部の精度は測定値に
影響するため、試料及び試薬の分注から反応液の測定ま
での装置上の経路が一部でも異なっていると、同一項目
を測定しても、測定データはそれが得られるまでに通っ
た経路に由来する差を含む。このように同一項目の測定
データが異なる経路を通って得られるとき、それぞれの
経路を測定チャンネルと呼び区別することにする。
【0005】上記のように複数の自動分析装置を接続し
て同一項目を測定する場合、個々の測定チャンネルから
得られた精度管理試料の測定データは精度管理内であっ
たとしても、各測定チャンネルから得られたデータを一
つにまとめ一台の装置で得られた結果として考えたとき
には、測定データは測定チャンネル間差を含むため全体
のばらつきが大きくなり精度管理外となり、検査結果の
信頼性が損なわれる場合があり得る。そのため、このよ
うな場合には、個々の測定チャンネルでの精度管理に加
えて、各測定チャンネルから得られた精度管理試料のデ
ータを区別せずに一つに合わせ一つの測定チャンネルか
ら得られた場合と同様に精度管理することが必要であ
る。これは、一つの分析部内の複数の測定チャンネルで
同一項目を測定する場合も同様である。
【0006】また、複数の測定チャンネルを備えた自動
分析装置を接続して複数の測定チャンネルで同一項目を
測定する場合は、上記の精度管理の他に、個々の自動分
析装置で得られたデータを区別せずに一つに合わせ一つ
の測定チャンネルから得られた場合と同様に精度管理を
することが必要である。これは、接続された自動分析装
置全体も、複数の測定チャンネルを備えた個々の自動分
析装置も、それぞれ一台の自動分析装置として考えるこ
とができるためである。以下、接続する個々の自動分析
装置を分析モジュールと呼ぶ。
【0007】本発明の目的は、検査結果の信頼性を向上
させるのに適した自動分析装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、一つの観点に
よれば、反応容器に試料と試薬を分注して反応させ、そ
れによって生成された反応液を測定する自動分析装置に
おいて、複数の測定チャンネルを含み、精度管理試料中
の同一項目を前記複数の測定チャンネルで測定して得ら
れた測定デ−タに基づく精度管理情報と、前記同一項目
を前記それぞれの測定チャンネルで測定して得られた測
定データに基づく前記測定チャンネル毎の精度管理情報
とを出力するように構成したことを特徴とする。
【0009】本発明は、もう一つの観点によれば、反応
容器に試料と試薬を分注して反応させ、それによって生
成された反応液を測定する自動分析装置において、複数
の測定チャンネルを含む一つの分析部を備え、精度管理
試料中の同一項目を前記複数の測定チャンネルで測定し
て得られた測定デ−タに基づく精度管理情報と、前記同
一項目を前記それぞれの測定チャンネルで測定して得ら
れた測定データに基づく前記測定チャンネル毎の精度管
理情報とを出力するように構成したことを特徴とする。
【0010】本発明は、別の観点によれば、反応容器に
試料と試薬を分注して反応させ、それによって生成され
た反応液を測定する自動分析装置において、それぞれ複
数の測定チャンネルを含む複数の分析モジュールを備
え、精度管理試料中の同一項目を前記複数の分析モジュ
ールの複数の測定チャンネルで測定して得られた測定デ
ータに基づく精度管理情報と、前記同一項目を前記各分
析モジュール内で複数の測定チャンネルで測定して得ら
れた測定データに基づく分析モジュール毎の精度管理情
報と、前記同一項目を前記複数の測定チャンネルで測定
して得られた測定データに基づく測定チャンネル毎の精
度管理情報とを出力するように構成したことを特徴とす
る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例について
説明する。図1は本発明の一実施例を示す。図1におい
て、分析モジュール15−1には精度管理試料を収容し
た複数個の試料容器1−1、1−2・・・を設置できる
ラック2を送り出す検体投入部20および搬送経路3が
設けられている。この搬送経路により、試料が分析モジ
ュール15−1のサンプリング位置まで搬送される。途
中、バーコードリーダーにより試料容器に設置されたバ
ーコードから精度管理試料の種類、ロット等、測定する
精度管理試料に関する情報が装置内に登録される。
【0012】試薬4は試薬ディスク5上に設置される。
試薬の種類やロット等の情報も、バーコードを介して装
置上に登録される。試料及び試薬の分注は、分注プロー
ブ6によって行われる。分注プローブ6は、分注する毎
に先端に使い捨てチップを脱着する。未使用のチップは
ラック7上に保持されている。恒温槽8は、複数個の反
応容器9−1、9−2・・・を保持する。反応容器は使
い捨てであり、未使用の反応容器はラック10上に保持
されている。反応容器及びチップの移動は、移送機構1
1により行われる。使用済みのチップ及び反応容器は1
ヶ所に廃棄される。反応液はノズル12により検出ユニ
ット13−1内の検出器に導入され、発光量が検出され
る。測定後の反応液は廃液タンク14に集められる。
【0013】分析モジュール15−1と15−2は試料
の搬送経路18および試料の再測定のための搬送経路1
9により接続される。分析モジュール15−2には、搬
送経路3と試料の搬送方向が反対である搬送経路23と
接続する再検待機部21と検体回収部22が設けられて
いる。それ以外の構成は分析モジュール15−1と同様
である。検出ユニット13−1及び13−2において検
出された信号はデータ処理部16で濃度に変換される。
この測定結果は出力部17に出力される。
【0014】次に、図1に示す一実施例の精度管理試料
の測定動作例について説明する。本実施例では、試料容
器1−1、1−2にそれぞれ収容した被検物質の濃度の
異なる精度管理試料a、bの項目Aを測定する。試料容器
1−1、1−2は試料搬送用のラック2に設置されてい
る。まず、精度管理試料aを収容した試料容器1−1が
検体投入部20から搬送経路3を通り、分析モジュール
15−1のサンプリング位置に搬送されると、分注プロ
ーブ6は移送機構11によりチップ装着位置に置かれた
使い捨てチップを先端に取り付け、試薬及び試料を分注
位置に置かれた反応容器9−1に分注する。試薬及び試
料が分注された反応容器9−1は移送機構11により恒
温槽8上に移送される。
【0015】1ステップ目の反応が終了すると、反応容
器9−1には試薬ディスク5に設置された試薬4が分注
プローブ6により分注され、続いて攪拌が行われる。反
応終了後、反応容器9−1は移送機構11によりノズル
12の吸引位置に移送される。反応容器9−1中の反応
液はノズル12により検出ユニット13−1内の検出器
に導入され、反応液からの発光が検出される。1サンプ
ルの測定後、検出器内は洗浄され次の測定の準備が行わ
れる。
【0016】分注プローブ6は、試料容器1−1から反
応容器9−1への精度管理試料aの分注後、先端のチッ
プを付け替え、サンプリング位置に搬送された試料容器
1−2の試料精度管理試料bを反応容器9−2に分注す
る。反応容器9−2については順に反応容器9−1と同
様の処理が行われる。
【0017】分析モジュール15−1でサンプリングが
終了したラック2は、搬送経路18を通って分析モジュ
ール15−2に搬送される。分析モジュール15−2で
は、15−1と同様の動作により精度管理試料の測定が
行われる。サンプリングが終了したラック2は再検待機
部21に搬送される。ここで、測定結果が出るのを待
ち、その結果、再測定が必要な場合は、搬送経路19を
通り、分析モジュ−ルの搬送経路3に入る。再測定が必
要ない場合は、検体回収部22に回収される。その日の
一般検体測定前の精度管理試料測定では、使用者から一
般検体測定開始の指示が出されてから一般検体のサンプ
リングを開始する。一般検体測定中に精度管理試料の測
定が行われるときは、精度管理試料のサンプリングに続
いて、一般検体を同様の動作でサンプリングする。
【0018】2つの測定チャンネルで検出された信号は
全てデータ処理部16に集められ、記憶部に記憶され
る。演算部において濃度に変換された測定データは、測
定チャンネル毎、及び2つの測定チャンネルからの測定
データを一つに合わせて、各精度管理試料の日内、日差
データについての統計計算が行われ、精度管理情報が出
力部17に出力される。
【0019】図1の実施例における日内精度管理情報の
手順を示したフローチャートを図2に、各分析モジュー
ルでの処理の流れを図3に、各測定チャンネルから得ら
れた測定データの処理の流れを図4に示す。
【0020】分析モジュール15−1と15−2はそれ
ぞれ一つの測定チャンネル13−1、13−2を備えて
おり、それぞれで項目Aを測定する。ここでは、検出ユ
ニット13−1と13−2で代表される測定チャンネル
(以下13ー1、13ー2を測定チャンネルと呼ぶ)で
同一の精度管理試料を測定することを予め指定する(1
9)。あるいは、項目Aが測定されるそれぞれの測定チ
ャンネルでは、指定なしで同一の精度管理試料が測定さ
れる。精度管理試料が測定される測定チャンネルが決定
されると、まず、分析モジュール15−1で精度管理試
料の測定が行われる(20)。
【0021】上記の動作の説明に従って、測定チャンネ
ル13−1で精度管理試料aの項目Aが測定されると(2
1)、この測定データはデータ処理部16に送られる
(22)。以下、測定チャンネル13−1から得られた
測定データの処理の流れを示す(図4)。測定チャンネ
ル13−1における精度管理試料aの測定項目Aについて
の、その日の平均値、標準偏差が算出される(23)。
平均値及び標準偏差はそれぞれ式(1)、式(2)によ
り求める。
【0022】
【数1】
【0023】
【数2】
【0024】ここでnはその日に測定チャンネル13−
1で測定された精度管理試料aの項目Aについての測定デ
ータ数、xiはその日に測定チャンネル13−1で測定さ
れた精度管理試料aの項目Aについての個々のデータを表
す。上記の式で算出された平均値と標準偏差はそれぞれ
の所定値を満たしているかどうか判定される(24)。
所定値を満たしているときは、測定データ及び算出した
値は測定チャンネル13−1の日内データのx管理図と
データリストとしてプリンタから印字出力されるか、CR
T画面上に表示出力される(25)。
【0025】所定値を満たしていないときは、精度管理
試料aのロット及び/又は試薬のロットが異なる測定デ
ータが含まれているかどうか判定する(26)。ロット
がすべて同じである場合、プリンタあるいはCRTに、測
定チャンネル13−1で精度管理試料aの項目Aが所定値
を満たしていないことをアラームとして出力し(2
7)、測定データ及び算出した精度管理情報は測定チャ
ンネル13−1の日内データのx管理図とデータリスト
としてプリンタから印字出力されるか、CRT画面上に表
示出力される(25)。このとき、たとえば所定値を満
たしていない精度管理情報を周囲と色を変えて出力す
る。
【0026】ロットが異なる場合、ロット別にその測定
チャンネルのデータの平均値、標準偏差を求め(2
8)、所定値を満たしているかどうかを判定する。この
とき、ロットの変更に伴い管理平均値及び管理SDが変更
されているなら、ロット別に求めた平均値、標準偏差が
それぞれの管理値を満たしているかどうか判定する(2
9)。ロット別に求めた値が所定値を満たしていると
き、測定データおよび算出した精度管理情報は測定チャ
ンネル13−1の日内データのx管理図とデータリスト
としてプリンタから印字出力されるか、CRT画面上に表
示出力される(25)。 ロット別に求めた値が所定値
を満たしていないときは、プリンタあるいはCRTに、測
定チャンネル13−1で精度管理試料aの項目Aが所定値
を満たしていないことをアラームとして出力し(2
7)、測定データ及び算出した精度管理情報は測定チャ
ンネル13−1の日内データのx管理図とデータリスト
としてプリンタから印字出力されるか、CRT画面上に表
示出力される(25)。このとき、たとえば所定値を満
たしていない精度管理情報を周囲と色を変えて出力す
る。
【0027】その日の測定データから、試薬あるいは精
度管理試料のロットを区別せずに算出した平均値と標準
偏差が所定値を満たしているときにも、ロット別に平均
値、標準偏差を算出し、同様に表示してもよい。
【0028】測定チャンネル13−1では精度管理試料
aの項目Aの測定に続いて被検物質の濃度の異なる精度管
理試料bの項目Aが測定される(30)。この測定データ
はデータ処理部16に送られ(31)、精度管理試料a
の場合と同様の処理が行われる(図4)。測定チャンネ
ル13−1に続いて測定チャンネル13−2においても
同様に精度管理試料a、bの項目Aについての測定が行わ
れる(32)。
【0029】各測定チャンネルについて精度管理情報が
算出されると、次に測定チャンネル13−1と13−2
の精度管理試料aの項目Aについての測定データを区別せ
ずに、分析モジュール15−1と15−2を接続した1
台の自動分析装置としてのその日の平均値、標準偏差を
算出する。このとき、式(1)、(2)におけるnはそ
の日に分析モジュール15−1と15−2を接続した自
動分析装置全体で測定された精度管理試料aの項目Aにつ
いての測定データ数、xiはその日に分析モジュール15
−1と15−2を接続した自動分析装置全体で測定され
た精度管理試料aの項目Aについての個々のデータを表
す。上記の式で算出された平均値と標準偏差に対する処
理は図4に示すとおりである。
【0030】ここで用いられる精度管理の各所定値は、
測定する精度管理試料に関するはじめに登録された情報
をもとに、1つの測定チャンネルの精度管理と2つの測
定チャンネルからのデータを合わせた精度管理とで予め
別個に指定することができる。精度管理試料bの項目Aに
ついては、精度管理試料aとは別に、測定チャンネル毎
及び2つの測定チャンネルから得られた測定データを合
わせた自動分析装置全体としての精度管理情報を算出し
表示する上記の処理を行う(33)。
【0031】図1の実施例において、項目Aの精度管理
試料a、bの測定が終了し精度管理情報及び判定結果が出
力されたとき、精度管理情報が所定値を満たさない測定
チャンネルあるいは分析モジュールがあるかどうか判定
し(34)、所定値を満たしていない測定チャンネルあ
るいは分析モジュールがない場合は、その測定がその日
の一般検体測定前かどうか判定する(35)。一般検体
測定中の精度管理試料測定であれば、そのまま一般検体
測定を続行する。一般検体測定前であれば、精度管理試
料測定結果が使用者によって確認され一般検体測定開始
の指示が出されてから一般検体分析を開始する(3
6)。
【0032】一方、所定値を満たしていない測定チャン
ネルあるいは分析モジュールがある場合は、予め記憶し
ておいた、測定チャンネルが精度管理の所定値を満たさ
ない場合の組み合わせに対応する処置、例えば、測定チ
ャンネル13−1と13−2で項目Aの精度管理試料測
定を行い、個々の測定チャンネルとしては所定値を満た
すが2チャンネルを合わせた結果が所定値を満たさない
ときは、“メンテナンス1”の処置を行うことを示すメ
ッセージをプリンタから印字出力するか、CRT画面上に
表示出力する(37)。一般検体測定前であるかどうか
判定し(35)、一般検体測定前であれば、精度管理試
料測定結果が使用者によって確認され一般検体測定開始
の指示が出されてから一般検体測定を開始する(3
6)。一般検体測定中の精度管理試料測定であれば、そ
のまま一般検体測定を続行するが、外部からの指示があ
れば、随時、その指示を実行する(38)。
【0033】外部からの指示として、所定値を満たさな
かった測定チャンネルでの項目Aについての一般検体の
測定あるいはその測定チャンネルでの一般検体の測定そ
のものを中止することが指示された場合は、測定中止の
指示が出された時点で、その測定チャンネルで項目Aを
測定する一般検体のサンプリング又は一般検体のサンプ
リングそのものが中止されるが、既にサンプリングされ
ている試料については測定が行われる。中止の指示が出
された測定チャンネルで測定が予定されていた一般検体
は他の測定チャンネルに振り分けられる。所定値を満た
さなくなった精度管理試料の測定以降、その測定チャン
ネルでの一般検体測定結果の出力には、精度管理の所定
値を満たしていない測定チャンネルで測定したことを合
わせて出力する。
【0034】分析モジュール15−1でのみ精度管理試
料a、bの項目Aの測定を指定したときでも、両方の分析
モジュールで試薬ディスクに設置されている試薬、使い
捨てチップと反応容器の有無等の測定前の確認は自動的
に行われる。これによりどちらの分析モジュールでも項
目Aの測定準備が整っていることが確認されているが指
定された測定チャンネル13−1の精度管理情報が所定
値を満たさなかったとすると、精度管理試料a、bを設置
したラック2は自動的に再検待機部21から搬送経路1
9を通り分析モジュール13−2に搬送され、測定チャ
ンネル13−2で各精度管理試料の測定が行われる。こ
の結果が所定値を満たせば、測定チャンネル13−1の
代わりに13−2で一般検体分析が行われる。
【0035】図5、図6に図1の実施例における日内精
度管理情報のデータリストの表示例を示す。精度管理試
料a、bの測定データは、2つの測定チャンネルのデータ
を合わせた自動分析装置全体としての精度管理情報のデ
ータリストの表示例図5と測定チャンネル13−1、1
3−2でのそれぞれの精度管理情報のデータリストの表
示例図6の2種類の表に示される。表には測定項目、精
度管理試料の種類とロット、管理平均値、管理SD、測定
データの個数、平均値、標準偏差等が表示される。1日
に精度管理試料aの項目Aを各測定チャンネルで5回ずつ
測定したとする。精度管理の基準を平均値2×管理SD、
SD2×管理SDとすると、各測定チャンネルについては測
定データは精度管理内であるが(図6)、自動分析装置
全体としてはSDが精度管理外となる(図5)。所定値
を越えた値は周囲と色を変えて表示する。このように2
つの測定チャンネルの測定データを合わせたモジュール
としての精度管理情報を表示することで、精度管理外と
なる例を確認することができる。
【0036】日差精度管理では各日の平均値とそのばら
つきを監視するが、一日の測定の終了時に、項目Aにつ
いて、測定チャンネル毎及び2つの測定チャンネルから
その日に得られた測定データを合わせた精度管理情報を
求め日内精度管理と同様の処理を行う。ただし、測定さ
れた個々のデータのうち、所定値からはずれているもの
で原因が判明し、そのデータを除いた結果の表示が必要
なとき、削除するデータを指定するとそのデータを除い
て測定チャンネル別、及び各測定チャンネルからの測定
データを合わせた全体としての精度管理情報をそれぞれ
再計算し、結果を出力する。この場合、日差データとし
ては、このデータを除いたものを累積するか、全データ
を累積するか選択することができる。
【0037】図1に示す実施例で行う精度管理は項目A
のみであるが、上記の手順は、測定チャンネル13−1
と13−2の両方で測定される項目ごとに行われる。ま
た、1つの分析部又は分析モジュールが有する複数の測
定チャンネルで同一項目を測定する場合も同様の精度管
理を行う。分析モジュールが複数の測定チャンネルを有
する場合、同一項目を測定する複数の測定チャンネルで
得られた測定データを合わせた自動分析装置全体として
の精度管理と、分析モジュール内で同一項目を測定する
複数の測定チャンネルで得られたデータを合わせた分析
モジュール毎の精度管理と、各測定チャンネル毎の精度
管理を、上記の処理に従って行う。例えば、図5、図6
に示すような同一項目を測定する複数の測定チャンネル
に関する精度管理情報及び測定チャンネル毎の精度管理
情報の2種類の表に加えて、分析モジュール毎の精度管
理情報のデータリストが出力される。
【0038】精度管理情報としては、図1の実施例では
測定チャンネル毎及び全体としての平均値と標準偏差及
び測定データを表及びx管理図又はx−R管理図に出力す
るとしたが、他に、平均値、標準偏差、変動係数等の精
度管理情報を数値として求めた分析モジュール間又は測
定チャンネル間の差に関する情報、例えば差を検定した
結果を出力する。また、x−R管理図の横軸に測定した番
号や日付をとる代わりに各分析モジュール又は各測定チ
ャンネルを示し、分析モジュール間又は測定チャンネル
間のデータのばらつきを示す図を出力する。あるいは、
任意の2つの精度管理試料について、各分析モジュール
又は各測定チャンネルで得られた値を1つの図に双値法
で示した図を出力する。
【0039】精度管理に関するアラームの表示として
は、図7に示す表示例のように、項目ごとに精度管理の
所定値を満たしていないのがどの測定チャンネル又はモ
ジュールなのかを一覧できるように出力する。また、精
度管理の所定値を満たしていない測定チャンネルの集合
又は測定チャンネルがあるときは、CRT上のどの画面で
もその旨を知らせるメッセージ等が常に出力されてい
る。又は、画面上でアラームを表示することを指定する
と、アラームの出た項目の精度管理情報を一覧で表示す
る。
【0040】
【発明の効果】本発明によれば、複数の測定チャンネル
で同一項目の測定を行うときでも一台の自動分析装置か
ら得られた結果としての観点から精度管理を行うため、
どの測定チャンネルで測定しても互換性のあるデータを
得ることができ、検査結果の信頼性向上が図られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す自動分析装置の概要
図。
【図2】図1の実施例における日内精度管理の一例とし
ての手順を示すフローチャート図。
【図3】図1の実施例における各分析モジュールでの測
定データ処理の流れを示すフローチャート図。
【図4】図1の実施例における各測定チャンネルから得
られた測定データ処理の流れを示すフローチャート図。
【図5】図1の実施例における2つの測定チャンネルを
合わせた日内精度管理情報の表示例を示す図。
【図6】図1の実施例における測定チャンネル毎の日内
精度管理情報の表示例を示す図。
【図7】図1の実施例における精度管理に関するアラー
ムの一覧の表示例を示す図。
【符号の説明】
1−1、1−2:試料容器、2:試料容器を設置するラ
ック、3、18、19、23:試料搬送経路、13−
1、13−2:測定チャンネル、15−1、15−2:
分析モジュール、16:データ処理装置、17:出力
部。

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】反応容器に試料と試薬を分注して反応さ
    せ、それによって生成された反応液を測定する自動分析
    装置において、複数の測定チャンネルを含み、精度管理
    試料中の同一の項目を前記複数の測定チャンネルで測定
    して得られた測定デ−タに基づく精度管理情報と、前記
    同一項目を前記それぞれの測定チャンネルで測定して得
    られた測定データに基づく前記測定チャンネル毎の精度
    管理情報とを出力するように構成したことを特徴とする
    自動分析装置。
  2. 【請求項2】反応容器に試料と試薬を分注して反応さ
    せ、それによって生成された反応液を測定する自動分析
    装置において、複数の測定チャンネルを含む一つの分析
    部を備え、精度管理試料中の同一項目を前記複数の測定
    チャンネルで測定して得られた測定デ−タに基づく精度
    管理情報と、前記同一項目を前記それぞれの測定チャン
    ネルで測定して得られた測定データに基づく前記測定チ
    ャンネル毎の精度管理情報とを出力するように構成した
    ことを特徴とする自動分析装置。
  3. 【請求項3】反応容器に試料と試薬を分注して反応さ
    せ、それによって生成された反応液を測定する自動分析
    装置において、それぞれ複数の測定チャンネルを含む複
    数の分析モジュールを備え、精度管理試料中の同一項目
    を前記複数の分析モジュールの複数の測定チャンネルで
    測定して得られた測定データに基づく精度管理情報と、
    前記同一項目を前記各分析モジュール内で複数の測定チ
    ャンネルで測定して得られた測定データに基づく分析モ
    ジュール毎の精度管理情報と、前記同一項目を前記複数
    の測定チャンネルで測定して得られた測定データに基づ
    く測定チャンネル毎の精度管理情報とを出力するように
    構成したことを特徴とする自動分析装置。
  4. 【請求項4】請求項1〜3のいずれかにおいて、前記同
    一項目を測定する複数の測定チャンネル及び/又は各測
    定チャンネルで得られた精度管理試料の測定データに基
    づく精度管理情報が各所定値を満たすか否か判定し、判
    定が否のときはその測定チャンネルの集合及び/又は測
    定チャンネルが精度管理の所定値を満たしていないこと
    を出力することを特徴とする自動分析装置。
  5. 【請求項5】請求項1〜3のいずれかにおいて、前記同
    一項目を測定する複数の測定チャンネル及び/又は各測
    定チャンネルで得られた精度管理試料の測定データに基
    づく精度管理情報が各所定値を満たすか否か判定し、判
    定が否のときは該当する精度管理情報を周囲と色を変え
    て出力することを特徴とする自動分析装置。
  6. 【請求項6】請求項1〜3のいずれかにおいて、測定チ
    ャンネルが精度管理の所定値を満たさない場合の組み合
    わせとそれに対応する処置を示すメッセージを記憶して
    おき、前記同一項目を測定する複数の測定チャンネル及
    び/又は各測定チャンネルで得られた精度管理試料の測
    定データに基づく精度管理情報が各所定値を満たすか否
    か判定し、判定が否のときは対応する処置を示すメッセ
    ージを出力することを特徴とする自動分析装置。
  7. 【請求項7】請求項1〜3のいずれかにおいて、前記同
    一項目を測定する複数の測定チャンネル及び/又は各測
    定チャンネルで得られた精度管理試料の測定データに基
    づく精度管理情報が各所定値を満たすか否か判定し、判
    定が否のときは、その後の一般検体分析結果の出力に精
    度管理の所定値を満たしていない測定チャンネルの集合
    又は測定チャンネルで測定したことを合わせて出力する
    ことを特徴とする自動分析装置。
  8. 【請求項8】請求項1〜3のいずれかにおいて、前記同
    一項目を測定する複数の測定チャンネル及び/又は各測
    定チャンネルで得られた精度管理試料の測定データに基
    づく精度管理情報が各所定値を満たすか否か判定し、判
    定が否のときは、外部から指示して判定が否となった測
    定チャンネルの集合及び/又は測定チャンネルでの一般
    検体分析を中止することができるようにしたことを特徴
    とする自動分析装置。
  9. 【請求項9】請求項1〜3のいずれかにおいて、前記同
    一項目を測定する複数の測定チャンネル及び/又は各測
    定チャンネルで得られた精度管理試料の測定データに基
    づく精度管理情報が各所定値を満たすか否か判定し、判
    定が否のときは、外部から指示して判定が否となった測
    定チャンネルの集合及び/又は測定チャンネルでの判定
    が否となった項目の一般検体分析を中止することができ
    るようにしたことを特徴とする自動分析装置。
  10. 【請求項10】請求項3において、試料を測定チャンネ
    ルに搬送する手段と、再検査を行う試料を再度測定チャ
    ンネルに搬送する手段とを備え、分析準備動作を全ての
    分析モジュールで行い、前記同一項目を測定する複数の
    測定チャンネル及び/又は各測定チャンネルで得られた
    精度管理試料の測定データに基づく精度管理情報が各所
    定値を満たすか否か判定し、判定が否のときは、前記同
    一項目を測定できるがそのときその項目の測定に使われ
    ていない他の測定チャンネルに自動的に精度管理試料を
    搬送し、精度管理試料を測定し、一般検体分析を行うこ
    とを特徴とする自動分析装置。
  11. 【請求項11】請求項1〜3のいずれかにおいて、一般
    検体分析前に精度管理試料を分析し、外部からの指示を
    受けてから一般検体分析を開始することを特徴とする自
    動分析装置。
  12. 【請求項12】請求項3において、前記同一項目を測定
    する複数の測定チャンネルで得られた精度管理試料の測
    定データに基づく精度管理情報の精度管理値と、個々の
    分析モジュールで前記同一項目を測定する複数の測定チ
    ャンネルで得られた精度管理試料の測定データに基づく
    精度管理情報の精度管理値と、個々の測定チャンネルで
    得られた精度管理試料の測定データに基づく精度管理情
    報の精度管理値とを別個に設定できることを特徴とする
    自動分析装置。
  13. 【請求項13】請求項1〜3のいずれかにおいて、前記
    同一項目を測定する複数の測定チャンネルで同一の精度
    管理試料を測定することを特徴とする自動分析装置。
  14. 【請求項14】請求項1〜3のいずれかにおいて、同一
    の精度管理試料を測定する測定チャンネルを外部から指
    定できるようにしたことを特徴とする自動分析装置。
  15. 【請求項15】請求項1〜3のいずれかにおいて、試薬
    又は精度管理試料のロットが変更されたとき、ロット別
    に精度管理を行うことを特徴とする自動分析装置。
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Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007232510A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Sysmex Corp 試料分析装置およびコンピュータプログラム
JP2007248088A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Hitachi High-Technologies Corp 精度管理システム
JP2007271641A (ja) * 2007-07-26 2007-10-18 Sysmex Corp 精度管理方法
JP2007279059A (ja) * 2007-06-18 2007-10-25 Sysmex Corp 臨床検査精度管理システム
JP2007286071A (ja) * 2007-07-26 2007-11-01 Sysmex Corp 精度管理方法
JP2009020126A (ja) * 2008-10-28 2009-01-29 Sysmex Corp 精度管理方法
JP2009052969A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置のデータ管理システム
JP2010204129A (ja) * 2010-06-25 2010-09-16 Hitachi Ltd 自動分析装置及びラック搬送方法
CN102265163A (zh) * 2008-12-26 2011-11-30 株式会社日立高新技术 精度管理方法
JP2016014686A (ja) * 2009-04-20 2016-01-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
WO2019176297A1 (ja) * 2018-03-15 2019-09-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ 生化学・凝固複合型分析装置
JPWO2020195783A1 (ja) * 2019-03-26 2020-10-01
JPWO2021186874A1 (ja) * 2020-03-19 2021-09-23
JP2022145896A (ja) * 2018-09-27 2022-10-04 株式会社日立ハイテク 自動分析装置

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007232510A (ja) * 2006-02-28 2007-09-13 Sysmex Corp 試料分析装置およびコンピュータプログラム
JP2007248088A (ja) * 2006-03-14 2007-09-27 Hitachi High-Technologies Corp 精度管理システム
JP2007279059A (ja) * 2007-06-18 2007-10-25 Sysmex Corp 臨床検査精度管理システム
JP2007271641A (ja) * 2007-07-26 2007-10-18 Sysmex Corp 精度管理方法
JP2007286071A (ja) * 2007-07-26 2007-11-01 Sysmex Corp 精度管理方法
JP2009052969A (ja) * 2007-08-24 2009-03-12 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置のデータ管理システム
JP2009020126A (ja) * 2008-10-28 2009-01-29 Sysmex Corp 精度管理方法
CN102265163A (zh) * 2008-12-26 2011-11-30 株式会社日立高新技术 精度管理方法
JP2016014686A (ja) * 2009-04-20 2016-01-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2010204129A (ja) * 2010-06-25 2010-09-16 Hitachi Ltd 自動分析装置及びラック搬送方法
WO2019176297A1 (ja) * 2018-03-15 2019-09-19 株式会社日立ハイテクノロジーズ 生化学・凝固複合型分析装置
JP2022145896A (ja) * 2018-09-27 2022-10-04 株式会社日立ハイテク 自動分析装置
JPWO2020195783A1 (ja) * 2019-03-26 2020-10-01
WO2020195783A1 (ja) * 2019-03-26 2020-10-01 株式会社日立ハイテク データ解析方法、データ解析システム、および計算機
CN113574390A (zh) * 2019-03-26 2021-10-29 株式会社日立高新技术 数据解析方法、数据解析系统以及计算机
CN113574390B (zh) * 2019-03-26 2024-10-11 株式会社日立高新技术 数据解析方法、数据解析系统以及计算机
JPWO2021186874A1 (ja) * 2020-03-19 2021-09-23

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