JPH11340129A - Pattern manufacturing method and pattern manufacturing apparatus - Google Patents

Pattern manufacturing method and pattern manufacturing apparatus

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Publication number
JPH11340129A
JPH11340129A JP10148019A JP14801998A JPH11340129A JP H11340129 A JPH11340129 A JP H11340129A JP 10148019 A JP10148019 A JP 10148019A JP 14801998 A JP14801998 A JP 14801998A JP H11340129 A JPH11340129 A JP H11340129A
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JP
Japan
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pattern
fluid
resist
solvent
forming surface
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP10148019A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shunichi Seki
関  俊一
Satoru Miyashita
悟 宮下
Kazuo Yudasaka
一夫 湯田坂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP10148019A priority Critical patent/JPH11340129A/en
Publication of JPH11340129A publication Critical patent/JPH11340129A/en
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To lower the manufacturing cost of a pattern by effectively utilizing a resist material which is a solute and reducing the man-hour required for fixing the resist material to a pattern forming surface by depositing the drops of fluidized materials prepared by dissolving the resist material in a solvent to the pattern forming surface, and solidifying the drops. SOLUTION: Fluidized materials 11-1n prepared by dissolving a resist material in a solvent by the ink jet method are applied to the pattern forming surface 100 of a transparent electrode film. Then the resist pattern 102 formed on the surface 100 is solidified. Namely, a control circuit 5 heats the pattern 102 by supplying a control signal Sp to, for example, a solidifying device 6. The solidification is made with the purpose of improving the adhesion between the pattern 102 and surface 100 by evaporating the solvent. Usually, heat treatment is used for the solidification. For performing the heat treatment, the pattern 102 is irradiated with the high-energy laser light of an excimer laser, etc., or the light emitting from an excimer lamp, etc. It is also possible to use infrared rays or electromagnetic waves of microwaves, etc., for heating the pattern 102.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は基板に対するパター
ン形成に係り、特にインクジェット方式等を利用するこ
とによってリソグラフィ法のデメリットを解消するパタ
ーン製造技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to pattern formation on a substrate, and more particularly, to a pattern manufacturing technique for eliminating a disadvantage of a lithography method by utilizing an ink jet method or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、微小な回路、例えば集積回路を製
造するにはリソグラフィー法等が使用されてきた。例え
ば「薄膜ハンドブック」、日本学術振興会編,pp283-293
にはリソグラフィ法の基本的な処理工程が開示されてい
る。この文献によれば、例えばシリコンウェハ上にレジ
ストと呼ばれる感光材料を薄く塗布し、レジストの上に
写真製版で作成した回路パターンに応じたホトマスクを
する。次いで露光してホトマスクで光が遮断されていな
い領域のレジストを感光し、現像処理を行って回路パタ
ーンに応じたレジストパターンをシリコンウェハ上に設
ける。そしてレジストパターン上からエッチングを行っ
てシリコンを除去しパターン通りにシリコンを成形する
ものであった。レジストの塗布は、上記文献によればス
ピンナー法、スプレー法、ロールコーター法、浸漬法が
使用されてきた。例えばスピンナー法によれば、回転台
上に基板を載せ、基板を高速で回転させながらレジスト
材料を塗布していくというものである。
2. Description of the Related Art Conventionally, a lithography method or the like has been used to manufacture a minute circuit, for example, an integrated circuit. For example, "Thin Film Handbook", edited by JSPS, pp283-293
Discloses basic processing steps of a lithography method. According to this document, for example, a photosensitive material called a resist is thinly applied on a silicon wafer, and a photomask according to a circuit pattern created by photolithography is formed on the resist. Next, exposure is performed to expose the resist in a region where light is not blocked by a photomask, and a developing process is performed to provide a resist pattern corresponding to the circuit pattern on the silicon wafer. Then, etching is performed on the resist pattern to remove silicon, and silicon is formed in accordance with the pattern. According to the above literature, spinner method, spray method, roll coater method, and dipping method have been used for applying the resist. For example, according to the spinner method, a substrate is placed on a turntable, and a resist material is applied while rotating the substrate at a high speed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしリソグラフィ法
で通常用いられてきたレジスト形成工程では、レジスト
材料が無駄になる、工程が多くなる、レジスト材料に制
限が課せられる等の不都合があった。
However, the resist forming process usually used in the lithography method has disadvantages such as wasting of the resist material, an increase in the number of steps, and a limitation on the resist material.

【0004】すなわち従来のレジスト塗布方法では、エ
ッチングのレジストパターンとなる領域が極僅かであっ
てもパターンを形成する面の全面にレジスト材料を塗布
せざるを得なく、またレジストの膜厚制御も困難であっ
た。特に、スピナーによる塗布法においては、材料の9
5%以上が無駄になるだけでなく塗布の際に漏れたレジ
スト材料が基板の裏側などにも回り込むという問題もあ
った。
That is, in the conventional resist coating method, a resist material must be applied to the entire surface on which a pattern is to be formed, even if the region serving as an etching resist pattern is extremely small, and the thickness of the resist is controlled. It was difficult. In particular, in the application method using a spinner, 9
Not only 5% or more is wasted, but also there is a problem that the resist material leaked at the time of application goes to the back side of the substrate.

【0005】また従来のレジストパターン形成方法で
は、レジスト塗布、マスク、露光、現像、不要なレジス
ト除去というように、レジストパターンを得るまでに多
くの工程管理が必要であり工数がかかっていた。しかも
ホトマスク材量はネガフィルムを要するなどレジスト以
外の材料も必要とされていた。スクリーン印刷やブレー
ド法を使用すればある程度の材料浪費を防げるが、レジ
ストの厚みが制御困難であることに変化がないため、レ
ジスト材料の無駄を根本的に解決することはできなかっ
た。これらのことから判るように、従来の方法では材料
の無駄と工数の増加を余儀なくされ、製造原価の高騰の
原因になっていた。
In the conventional method of forming a resist pattern, many steps are required to obtain a resist pattern, such as resist coating, masking, exposure, development, and unnecessary removal of the resist. In addition, the amount of the photomask material required a material other than the resist, such as the necessity of a negative film. Although the use of screen printing or the blade method can prevent a certain amount of material waste, the fact that the thickness of the resist is difficult to control does not change, so that the waste of the resist material could not be fundamentally solved. As can be seen from these facts, the conventional method has necessitated waste of materials and an increase in man-hours, causing a rise in manufacturing costs.

【0006】さらに従来はレジストを露光する必要があ
ったので、感光性を有する素材にレジストが限られ材料
の選択が制限されていた。
Further, conventionally, since it was necessary to expose the resist, the resist was limited to a photosensitive material, and the selection of the material was limited.

【0007】上記不都合に鑑み、本出願人はインクジェ
ット方式等を使用することにより上記不都合を悉く解決
可能であることに気づき、パターン製造技術に新たな選
択枝を与えることに想到した。
In view of the above problems, the present applicant has noticed that the above problems can be completely solved by using an ink jet system or the like, and has conceived of giving a new option to the pattern manufacturing technology.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明の第1の
課題は、レジストを局所的に設ける製造方法により、レ
ジスト材料の無駄と工数の削減を図り、製造原価を下げ
ることである。本発明の第2の課題は、レジストの厚み
を調整する具体的な選択肢を提供することにより、レジ
スト材料の無駄と工数の削減を図り、製造原価を下げる
ことである。本発明の第3の課題は、レジストを局所的
に設けるための条件を提示することにより、レジストは
感光性を有しなければならないという制約を取り払い、
レジストの選択性を向上させることである。本発明の第
4の課題は、レジストを局所的に設けるための組成を提
示することにより、レジストは感光性を有しなければな
らないという制約を取り払い、レジストの選択性を向上
させることである。本発明の第5の課題は、レジストを
局所的に設けるこのとできる製造装置を提供することに
より、レジスト材料の無駄と工数の削減を図り、製造原
価を下げることである。
That is, a first object of the present invention is to reduce the production cost by reducing the waste of the resist material and the number of man-hours by the manufacturing method in which the resist is locally provided. A second object of the present invention is to provide a specific option for adjusting the thickness of the resist, thereby reducing the waste of the resist material and the number of steps, and reducing the manufacturing cost. A third object of the present invention is to remove the restriction that the resist must have photosensitivity by presenting conditions for locally providing the resist,
The purpose is to improve the selectivity of the resist. A fourth object of the present invention is to improve the selectivity of the resist by presenting a composition for locally providing the resist, thereby removing the restriction that the resist must have photosensitivity. A fifth object of the present invention is to provide a manufacturing apparatus capable of locally providing a resist, thereby reducing waste of resist material and man-hours, and reducing manufacturing cost.

【0009】上記第1の課題を解決する発明は、パター
ン形成面にレジストパターンを形成するためのパターン
製造方法であって、溶質であるレジスト材料を溶媒に溶
解させた流動体の液滴を前記パターン形成面に付着させ
て固化させる工程を備えている。なお、レジストが所定
の位置にパターニングされ、レジスト材料に耐エッチン
グ性があれば、露光・現像という工程を省くことができ
る。
The invention for solving the above first object is a pattern manufacturing method for forming a resist pattern on a pattern forming surface, wherein a liquid droplet of a fluid in which a solute resist material is dissolved in a solvent is formed. The method further comprises a step of causing the resin to adhere to the pattern forming surface and solidify. If the resist is patterned at a predetermined position and the resist material has etching resistance, the steps of exposure and development can be omitted.

【0010】ここで「流動体」とは、インクジェット式
ヘッドのノズルから吐出可能な粘度を備えた液体をい
う。「流動体」の溶媒は水性であると油性であるとを問
わない。ノズル等から吐出可能な流動性(粘度)を備え
ていれば十分で、レジスト材料として固体物質である微
粒子が分散していても全体として流動体であればよい。
また「パターン形成面」とは、平面、曲面、凹凸状のい
ずれであるかを問わずパターンを付着させる面であり、
基板等の硬い面であっても可撓性のあるフィルム上の面
であってもよい。
[0010] Here, "fluid" refers to a liquid having a viscosity that can be ejected from the nozzles of the ink jet head. The solvent of the "fluid" does not matter whether it is aqueous or oily. It is sufficient that the resist has a fluidity (viscosity) that can be discharged from a nozzle or the like. Even if fine particles that are solid substances are dispersed as a resist material, it is sufficient that the fine particles are entirely fluid.
The “pattern forming surface” is a surface on which a pattern is attached regardless of whether it is a flat surface, a curved surface, or an uneven shape,
It may be a hard surface such as a substrate or a surface on a flexible film.

【0011】ここで上記工程は、流動体の液滴をインク
ジェット式ヘッドから吐出させることによりパターン形
成面に付着させることが好ましい。すなわち、流動体を
付着させる方法としては各種印刷法等各種の方法を適用
できるが、インクジェット方式によれば、安価な設備で
パターン形成面の任意の場所に任意の厚さで流動体を付
着させることができるからである。インクジェット方式
としては、圧電体素子の体積変化により流動体を吐出さ
せるピエゾジェット方式であっても、熱の印加により急
激に蒸気が発生することにより流動体を吐出させる方式
であってもよい。
Here, in the above step, it is preferable that droplets of the fluid are ejected from an ink jet type head so as to adhere to the pattern forming surface. That is, various methods such as various printing methods can be applied as a method of attaching the fluid, but according to the ink jet method, the fluid is attached at an arbitrary thickness on an arbitrary place on the pattern forming surface with inexpensive equipment. Because you can do it. The ink jet method may be a piezo jet method in which a fluid is ejected by a change in volume of a piezoelectric element, or a method in which a fluid is ejected by sudden generation of steam by application of heat.

【0012】また上記第3の課題を解決する発明では、
流動体に要求される条件として、溶質濃度、溶媒の種類
または溶媒量を調整することにより粘度が1cp以上で
20cp以下に調整されている必要がある。粘度が1c
pより低いと固形分含有量が過少となり成膜性が悪くな
るからであり、粘度が20cpより高いと円滑な吐出が
できずノズル穴の目詰まり頻度が高くなるからである。
さらに粘度が2cp以上で4cp以下に調整されている
ことがより好ましい。この範囲の粘度であれば成膜性が
よくノズル穴の目詰まり頻度が低いからである。
In the invention for solving the third problem,
As a condition required for the fluid, the viscosity needs to be adjusted to 1 cp or more and 20 cp or less by adjusting the solute concentration, the type of the solvent, or the amount of the solvent. Viscosity is 1c
If the viscosity is lower than p, the solid content is too low and the film-forming property is deteriorated. If the viscosity is higher than 20 cp, smooth discharge cannot be performed and the frequency of clogging of the nozzle holes increases.
More preferably, the viscosity is adjusted to 2 cp or more and 4 cp or less. This is because if the viscosity is in this range, the film formability is good and the frequency of clogging of the nozzle hole is low.

【0013】また流動体の液滴は、溶質濃度、溶媒の種
類または溶媒量を調整することによりその表面エネルギ
ーが20mN/m以上で70mN/m以下に調整されて
いることが必要である。20mN/mより表面エネルギ
ーが低いとノズル穴周辺での濡れ性が増大し、液滴の飛
行曲がりが生ずるからであり、70mN/mより表面エ
ネルギーが高いとノズル先端でのメニスカス形状が安定
しないため、吐出量や吐出タイミングの制御が困難にな
るからである。表面エネルギーが30mN/m以上で6
0mN/m以下に調整されていることが好ましい。
The surface energy of the liquid droplets must be adjusted to 20 mN / m or more and 70 mN / m or less by adjusting the solute concentration, the type of solvent or the amount of solvent. If the surface energy is lower than 20 mN / m, the wettability around the nozzle hole is increased and the flight of the droplet is bent, and if the surface energy is higher than 70 mN / m, the meniscus shape at the nozzle tip becomes unstable. This is because it becomes difficult to control the discharge amount and the discharge timing. 6 when the surface energy is 30 mN / m or more
It is preferably adjusted to 0 mN / m or less.

【0014】また流動体とパターン形成面との密着性は
接触角により測定できる。流動体は、溶質濃度、溶媒の
種類または溶媒量を調整することにより前記ヘッドノズ
ル面を構成する材料に対する接触角が30度以上で17
0度以下になるように調整されている必要がある。接触
角が30度より小さいとノズル穴周辺での濡れ性が増大
し、液滴の飛行曲がりが発生するからであり、接触角が
170度より大きいとノズル先端でのメニスカス形状が
安定しないため、吐出量や吐出タイミングの制御が困難
になるからである。特に前記ヘッドノズル面を構成する
材料に対する接触角が35度以上で65度以下になるよ
う調整されていることが好ましい。
The adhesion between the fluid and the pattern forming surface can be measured by the contact angle. By adjusting the solute concentration, the type of the solvent, or the amount of the solvent, the fluid has a contact angle with the material constituting the head nozzle surface of 30 degrees or more and 17 degrees.
It must be adjusted so that it is 0 degrees or less. If the contact angle is smaller than 30 degrees, the wettability around the nozzle hole is increased, and the flight of the droplet is bent. If the contact angle is larger than 170 degrees, the meniscus shape at the nozzle tip is not stable, This is because it becomes difficult to control the discharge amount and the discharge timing. In particular, it is preferable that the contact angle with respect to the material constituting the head nozzle surface is adjusted to be 35 degrees or more and 65 degrees or less.

【0015】また流動体における溶質濃度は0.01w
t%以上で10wt%以下に調整されていることが好ま
しい。溶質濃度が0.01wt%より低いと多量の流動
体を吐出しなければ十分な厚みのレジスト層を形成でき
ないので効率が悪く、溶質濃度が10wt%より大きい
と、流動体の吐出を困難にするくらいに粘度を高めてし
まうからである。
The solute concentration in the fluid is 0.01 w
It is preferable that the amount is adjusted to 10 wt% or less at t% or more. If the solute concentration is lower than 0.01 wt%, a sufficient thickness of the resist layer cannot be formed unless a large amount of fluid is discharged, resulting in poor efficiency. If the solute concentration is higher than 10 wt%, it becomes difficult to discharge the fluid. This is because it increases the viscosity to a certain extent.

【0016】例えば上記第4の課題を解決する発明にお
いて、流動体における溶媒は、グリセリン、ジエチレン
グリコール、メタノール、エタノール、水または1,3
−ジメチル−2−イミダゾリジノン(DMI)、エトキ
シエタノール、N,N−ジメチルホルムアミド(DM
F)、N−メチルピロリドン(NMP)またはエチレン
グリコール系エーテルのうち1以上の溶媒により構成さ
れている。これらの溶剤を混ぜることにより上記条件を
満足させることができるからである。また溶媒であるレ
ジスト材料は、ケイ皮酸ビニル、ノボラック系樹脂、ポ
リイミドまたはエポキシ系樹脂のうちいずれかである。
もちろん上記条件を充たしエッチング時におけるエッチ
ャントに対する耐性を充たす限り、これら以外の材料を
用いてもよい。
For example, in the invention for solving the fourth object, the solvent in the fluid is glycerin, diethylene glycol, methanol, ethanol, water or 1,3.
-Dimethyl-2-imidazolidinone (DMI), ethoxyethanol, N, N-dimethylformamide (DM
F), one or more solvents selected from N-methylpyrrolidone (NMP) and ethylene glycol ether. This is because the above conditions can be satisfied by mixing these solvents. The resist material as a solvent is any one of vinyl cinnamate, novolak resin, polyimide and epoxy resin.
Of course, other materials may be used as long as the above conditions are satisfied and the resistance to the etchant during etching is satisfied.

【0017】上記第2の課題を解決する発明では、レジ
ストに必要とされる条件に応じて流動体におけるレジス
ト材料の濃度を変更するように構成されている。また、
パターン形成面の単位面積当たりにおける液滴の付着量
を変更してもよい。液滴の付着量の変える方法として
は、パターン形成面の単位面積当たりにおける液滴の付
着回数により制御したり、パターン形成面に付着させる
液滴間のピッチにより制御したり、一回に付着させる液
滴の量により制御したりする。
In the invention for solving the second problem, the concentration of the resist material in the fluid is changed according to the conditions required for the resist. Also,
The amount of liquid droplets attached per unit area of the pattern forming surface may be changed. As a method of changing the amount of the droplet attached, the number of droplets per unit area of the pattern formation surface is controlled, the pitch is controlled by the pitch between droplets to be attached to the pattern formation surface, or the droplet is attached at one time. It is controlled by the amount of the droplet.

【0018】また本発明では、流動体の液滴を付着させ
る工程の後に、付着した液滴を固化させレジストパター
ンを形成する工程と、レジストパターンが形成されたパ
ターン形成面をエッチングする工程と、をさらに備え
る。本発明のレジスト塗布と併せてこれら工程を処理す
れば基板のパターニングが行える。
Further, in the present invention, after the step of adhering the droplets of the fluid, a step of solidifying the adhering droplets to form a resist pattern, a step of etching the pattern formation surface on which the resist pattern is formed, Is further provided. If these steps are processed together with the resist coating of the present invention, the patterning of the substrate can be performed.

【0019】上記第5の課題を解決する発明は、パター
ン形成面にレジストパターンを形成するためのパターン
製造装置であって、以下の構成を備える。
The invention for solving the fifth problem is a pattern manufacturing apparatus for forming a resist pattern on a pattern formation surface, and has the following configuration.

【0020】a)溶質であるレジスト材料を溶媒に溶解
させた流動体の液滴をパターン形成面に付着可能に構成
されたインクジェット式ヘッド(ピエゾジェット式でも
気泡による噴射方式でもよい)。
A) An ink jet type head (either a piezo jet type or a bubble type) in which liquid droplets of a fluid obtained by dissolving a solute resist material in a solvent can be attached to a pattern forming surface.

【0021】b)インクジェット式ヘッドとパターン形
成面との相対位置を変更可能に構成される搬送装置(ス
テップモータと回転運動−水平運動変換機構など)。
B) A transport device (step motor, rotary motion-horizontal motion conversion mechanism, etc.) configured to change the relative position between the ink jet head and the pattern forming surface.

【0022】c)インクジェット式ヘッドからの流動体
の吐出および駆動装置による駆動を制御する制御装置
(コンピュータやシーケンサなど)。この制御装置は、
搬送装置によりインクジェット式ヘッドを任意のパター
ン形成領域に沿って移動させながら当該インクジェット
式ヘッドから流動体の液滴をパターン形成面に付着させ
ることによりレジストパターンを形成可能に構成されて
いる。
C) A control device (computer, sequencer, etc.) for controlling the ejection of the fluid from the ink jet head and the driving by the driving device. This controller is
A resist pattern can be formed by causing a droplet of a fluid to adhere to a pattern forming surface from the inkjet head while moving the inkjet head along an arbitrary pattern forming region by a transport device.

【0023】[0023]

【発明の実施の形態】以下、本発明を実施の形態を、図
面を参照して説明する。 (構成の説明)図1に、本実施形態で使用するパターン
製造装置の構成図を示す。本パターン形成装置は、図1
に示すように、インクジェット式ヘッド21〜2n(n
は任意の自然数)、タンク31〜3n、搬送装置4およ
び制御回路5を備えている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (Description of Configuration) FIG. 1 shows a configuration diagram of a pattern manufacturing apparatus used in this embodiment. This pattern forming apparatus is shown in FIG.
As shown in the figure, the ink jet heads 21 to 2n (n
Is an arbitrary natural number), tanks 31 to 3n, a transport device 4, and a control circuit 5.

【0024】流動体11〜1nはそれぞれがレジスト材
料である溶質を溶媒に溶解させて製造されている。各流
動体11〜1nはそれぞれタンク31〜3nに貯蔵され
ており、インクジェット式ヘッド21〜2nの加圧室の
圧力が下がると各流動体がタンクからインクジェット式
ヘッドの加圧室へと供給されるようになっている。
Each of the fluids 11 to 1n is manufactured by dissolving a solute as a resist material in a solvent. The fluids 11 to 1n are stored in tanks 31 to 3n, respectively. When the pressure in the pressurizing chambers of the ink jet heads 21 to 2n decreases, each fluid is supplied from the tank to the pressurizing chamber of the ink jet head. It has become so.

【0025】各流動体に要求される条件として、溶質濃
度、溶媒の種類または溶媒量を調整することにより粘度
が1cp以上で20cp以下に調整されている必要があ
る。粘度が1cpより低いと固形分含有量が過少とな
り、成膜性が悪くなるからであり、粘度が20cpより
高いと円滑な吐出ができずノズル穴の目詰まり頻度が高
くなるからである。さらに粘度が2cp以上で4cp以
下に調整されていることがより好ましい。この範囲の粘
度であれば成膜性がよく、ノズル穴の目詰まり頻度も低
いからである。
As a condition required for each fluid, it is necessary that the viscosity be adjusted to 1 cp or more and 20 cp or less by adjusting the solute concentration, the type of the solvent or the amount of the solvent. If the viscosity is lower than 1 cp, the solid content is too low, and the film formability is deteriorated. If the viscosity is higher than 20 cp, smooth discharge cannot be performed, and the frequency of clogging of the nozzle holes increases. More preferably, the viscosity is adjusted to 2 cp or more and 4 cp or less. This is because if the viscosity is in this range, the film forming property is good and the frequency of clogging of the nozzle hole is low.

【0026】また流動体の液滴は、溶質濃度、溶媒の種
類または溶媒量を調整することによりその表面エネルギ
ーが20mN/m以上で70mN/m以下に調整されて
いることが必要である。20mN/mより表面エネルギ
ーが低いとノズル穴周辺での濡れ性が増大し、液滴の飛
行曲がりが生じ、70mN/mより表面エネルギーが高
いとノズル先端でのメニスカス形状が安定しないため、
吐出量や吐出タイミングの制御が困難になるからであ
る。表面エネルギーが30mN/m以上で60mN/m
以下に調整されていることが好ましい。
It is necessary that the surface energy of the liquid droplets of the fluid is adjusted to 20 mN / m or more and 70 mN / m or less by adjusting the solute concentration, the type of the solvent or the amount of the solvent. If the surface energy is lower than 20 mN / m, the wettability around the nozzle hole is increased, the flight of the droplet is bent, and if the surface energy is higher than 70 mN / m, the meniscus shape at the nozzle tip is not stable.
This is because it becomes difficult to control the discharge amount and the discharge timing. 60 mN / m when the surface energy is 30 mN / m or more
It is preferable to adjust the following.

【0027】また流動体とパターン形成面との密着性は
接触角により測定できる。流動体は、溶質濃度、溶媒の
種類または溶媒量を調整することによりパターン形成面
に対する接触角が30度以上で170度以下になるよう
に調整されている必要がある。接触角が30度より小さ
いとノズル穴周辺での濡れ性が増大し液滴の飛行曲がり
が生ずるからであり、接触角が170度より大きいとノ
ズル先端でのメニスカス形状が安定しないため、吐出量
や吐出タイミングの制御が困難である。特にパターン形
成面に対する接触角が35度以上で65度以下になるよ
う調整されていることが好ましい。
The adhesion between the fluid and the pattern forming surface can be measured by the contact angle. The fluid needs to be adjusted so that the contact angle with the pattern forming surface is not less than 30 degrees and not more than 170 degrees by adjusting the solute concentration, the type of the solvent, or the amount of the solvent. If the contact angle is less than 30 degrees, the wettability around the nozzle hole increases, causing flight deflection of the droplet. If the contact angle is more than 170 degrees, the meniscus shape at the nozzle tip is not stable, so that the discharge amount And it is difficult to control the ejection timing. In particular, it is preferable that the contact angle with the pattern formation surface is adjusted to be 35 degrees or more and 65 degrees or less.

【0028】また流動体における溶質濃度は0.01w
t%以上で10wt%以下に調整されていることが好ま
しい。溶質濃度が0.01wt%より低いと多量の流動
体を吐出しなければ十分な厚みのレジスト層を形成でき
ないので効率が悪く、溶質濃度が10wt%より大きい
と、流動体の吐出を困難にするくらいに粘度を高めてし
まうからである。
The solute concentration in the fluid is 0.01 w
It is preferable that the amount is adjusted to 10 wt% or less at t% or more. If the solute concentration is lower than 0.01 wt%, a sufficient thickness of the resist layer cannot be formed unless a large amount of fluid is discharged, resulting in poor efficiency. If the solute concentration is higher than 10 wt%, it becomes difficult to discharge the fluid. This is because it increases the viscosity to a certain extent.

【0029】表1に、レジスト材料(溶質)と溶媒の組
成例を示す。
Table 1 shows composition examples of the resist material (solute) and the solvent.

【0030】[0030]

【表1】 [Table 1]

【0031】表1において、例えば非感光性ポリイミド
は、耐エッチング性があれば感光性が不要であることか
ら使用可能であり、DMFに可能性であるため流動体化
し易いという利点がある。また、ノボラック系樹脂は、
感光基がなくてもよいため、合成コストが低くなるだけ
でなく、溶媒選択の幅が広がるというメリットがある。
同様の理由で、ケイ皮酸ビニルやエポキシ系樹脂も有効
である。
In Table 1, for example, non-photosensitive polyimide can be used because it does not need photosensitivity if it has etching resistance, and has the advantage that it can be easily fluidized because it is possible with DMF. In addition, novolak resin
Since there is no need for a photosensitive group, there is an advantage that not only the synthesis cost is reduced but also the range of solvent selection is widened.
For the same reason, vinyl cinnamate and epoxy resins are also effective.

【0032】また、潤滑材としては、グリセリンやジエ
チレングリコールを使用できる。上記溶質と溶媒、潤滑
材、さらに水、メタノール、セルソルブ系溶媒、シクロ
ヘキサノンを添加して、上記流動体としての物理条件に
適合するように、物性値を調整する。なお、上記条件を
充たしエッチング時におけるエッチャントに対する耐性
を充たす限り溶質や溶媒、潤滑材として上記以外の材料
を用いてもよい。
Glycerin and diethylene glycol can be used as the lubricant. The solute, solvent, lubricant, water, methanol, cellosolve solvent, and cyclohexanone are added to adjust physical properties so as to conform to the physical conditions of the fluid. Note that other materials may be used as the solute, the solvent, and the lubricant as long as the above conditions are satisfied and the resistance to the etchant at the time of etching is satisfied.

【0033】インクジェット式ヘッド21〜2nはそれ
ぞれ同一の構造を備える。いずれのヘッドも、インクジ
ェット方式により流動体を吐出可能に構成されていれば
十分である。タンク3x(xは1〜nの任意の数)から
の流動体1xがインクジェット式ヘッド2xに一対一の
関係で供給されている。インクジェット式ヘッドは、例
えばオンデマンド型のピエゾジェット方式であれば、複
数の加圧室を備えた圧力室基板の一方の面に振動板を備
え、その振動板の加圧室に対応する位置に圧電性セラミ
ック結晶が電極膜で挟持された圧電体素子を備えてい
る。圧力室基板の他方の面にはノズル穴を設けたノズル
板が貼り付けられている。加圧室にはタンクより導電性
を向上させる流動体が供給されるようになっている。そ
して制御回路5からの吐出信号Shが圧電体素子の電極
膜間に供給されることにより圧電体素子に体積変化が生
ずると、加圧室内に圧力変化を生ずるようになってい
る。加圧室に圧力変化を生ずるとノズル穴から流動体の
液滴が吐出されるようになっている。
Each of the ink jet heads 21 to 2n has the same structure. It is sufficient that any of the heads is configured to be able to discharge a fluid by an inkjet method. The fluid 1x from the tank 3x (x is any number from 1 to n) is supplied to the ink jet head 2x in a one-to-one relationship. For example, in the case of an on-demand type piezo jet system, the ink jet head includes a vibration plate on one surface of a pressure chamber substrate having a plurality of pressure chambers, and is provided at a position corresponding to the pressure chamber of the vibration plate. The piezoelectric device includes a piezoelectric element in which a piezoelectric ceramic crystal is sandwiched between electrode films. A nozzle plate having a nozzle hole is attached to the other surface of the pressure chamber substrate. A fluid for improving conductivity is supplied to the pressurizing chamber from a tank. Then, when the ejection signal Sh from the control circuit 5 is supplied between the electrode films of the piezoelectric element, when the volume of the piezoelectric element changes, the pressure changes in the pressurizing chamber. When a pressure change occurs in the pressurizing chamber, liquid droplets of the fluid are discharged from the nozzle holes.

【0034】なお上記インクジェット式ヘッド2xとし
ては、上記構成の他に発熱体により流動体に熱を加えそ
の膨張によって液滴を吐出させるような気泡方式による
ヘッド構成であってもよい。ただし流動体1xが熱など
により変質しないことが条件となる。
The ink-jet head 2x may have a bubble-type head structure in which heat is applied to a fluid by a heating element to discharge droplets by expansion of the fluid, in addition to the above-described structure. However, the condition is that the fluid 1x does not deteriorate due to heat or the like.

【0035】タンク31〜3nは上記流動体11〜1n
をそれぞれ貯蔵し、パイプを通してそれぞれの流動体1
1〜1nをインクジェット式ヘッド21〜2nに供給可
能に構成されている。もちろんレジスト材料を一種類に
限定するなら、タンク、インクジェット式ヘッド、流動
体とも複数ずる用意する必要はない。
The tanks 31 to 3n contain the fluids 11 to 1n.
And each fluid 1 through a pipe
1 to 1n can be supplied to the ink jet heads 21 to 2n. Of course, if the resist material is limited to one type, it is not necessary to prepare a plurality of tanks, ink jet heads, and fluids.

【0036】搬送装置4は、モータ41、モータ42お
よび図示しない回転運動―水平運動変換機構を備えてい
る。モータ41は駆動信号Sxに応じてインクジェット
式ヘッド2xをX軸方向(図1の横方向)に搬送可能に
構成されている。モータM2は駆動信号Syに応じてイ
ンクジェット式ヘッド2xをY軸方向(図1の奥行き方
向)に搬送可能に構成されている。ヘッドを上下方向、
すなわちZ軸方向に搬送するモータと機構を備えていて
もよい。なお搬送装置4は基板1に対するインクジェッ
ト式ヘッド2xの位置を相対的に変化可能な構成を備え
ていれば十分である。このため上記構成の他に、基板1
がインクジェット式ヘッド2xに対して動くように基板
の載置台を動かす構成を設けても、インクジェット式ヘ
ッド2x基板1とをともに動かす構成を設けてもよい。
The transport device 4 includes a motor 41, a motor 42, and a rotary motion / horizontal motion conversion mechanism (not shown). The motor 41 is configured to be able to convey the ink jet head 2x in the X-axis direction (horizontal direction in FIG. 1) according to the drive signal Sx. The motor M2 is configured to be able to convey the ink jet head 2x in the Y-axis direction (the depth direction in FIG. 1) according to the drive signal Sy. Head up and down,
That is, a motor and a mechanism for transporting in the Z-axis direction may be provided. It is sufficient that the transporting device 4 has a configuration capable of relatively changing the position of the inkjet head 2x with respect to the substrate 1. Therefore, in addition to the above configuration, the substrate 1
A configuration may be provided in which the mounting table of the substrate is moved so as to move with respect to the inkjet head 2x, or a configuration in which the substrate 1 is moved together with the inkjet head 2x may be provided.

【0037】制御回路5は、例えばコンピュータ装置で
あり図示しないCPU、メモリ、インターフェース回路
等を備える。制御回路5は所定のプログラムを実行する
ことにより当該装置に本発明のパターン製造方法を実施
させることが可能に構成されている。すなわち流動体の
液滴10を吐出させる場合にはインクジェット式ヘッド
21〜2nのいずれかに吐出信号Sh1〜Shnを供給
し、当該ヘッドを移動させるときにはモータ41または
42に駆動信号SxまたはSyを供給可能に構成されて
いる。また制御回路5にはメモリにパターン形成を指定
するためのデータであるパターン位置情報が記憶されて
いる。この情報はユーザによって入力されたりパターン
図をスキャナ等で読み込むことによって解析され生成さ
れたりするものである。
The control circuit 5 is, for example, a computer device and includes a CPU, a memory, an interface circuit and the like (not shown). The control circuit 5 is configured to execute a pattern manufacturing method of the present invention on the apparatus by executing a predetermined program. That is, when the liquid droplets 10 of the fluid are ejected, the ejection signals Sh1 to Shn are supplied to any of the ink jet heads 21 to 2n, and when the head is moved, the drive signal Sx or Sy is supplied to the motor 41 or 42. It is configured to be possible. The control circuit 5 stores pattern position information, which is data for designating pattern formation, in a memory. This information is input by a user or analyzed and generated by reading a pattern diagram with a scanner or the like.

【0038】なおインクジェット式ヘッド2xから流動
体の液滴10に対し固化処理を流動体塗布と並行して行
わせる場合にはさらに固化装置6を備えていてもよい。
固化装置6は制御回路5から供給される制御信号Spに
対応して物理的、物理化学的、化学的処理を液滴10ま
たはパターン形成面100に施すことが可能に構成され
ている。例えば熱風の吹き付け、レーザ照射、ランプ照
射による加熱・乾燥処理、化学物質の投与による化学変
化処理を行わせることが可能に構成されている。
When the solidifying process is performed on the liquid droplets 10 of the fluid from the ink jet type head 2x in parallel with the application of the fluid, a solidifying device 6 may be further provided.
The solidifying device 6 is configured to be able to perform a physical, physicochemical, or chemical treatment on the droplet 10 or the pattern forming surface 100 in accordance with the control signal Sp supplied from the control circuit 5. For example, it is configured to be able to perform heating / drying processing by blowing hot air, laser irradiation, lamp irradiation, and chemical change processing by administration of a chemical substance.

【0039】(製造方法)次に、図3乃至図7に基づい
て本実施形態のパターン製造方法を説明する。各図にお
いて(a)はパターンを形成する基板の製造工程断面図
を示し、(b)はパターン形成面上から見た基板の平面
図を示す。以下の説明では、ガラス基板に透明電極膜を
形成する場合を例示する。このような基板は例えば表示
パネルで多用されるものである。図3乃至図7に示すよ
うに本実施形態におけるパターン製造方法は、被エッチ
ング層形成工程、流動体塗布工程、固化工程、エッチン
グ工程および除去工程により構成されている。
(Manufacturing Method) Next, a pattern manufacturing method according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. In each figure, (a) is a cross-sectional view of a manufacturing process of a substrate on which a pattern is to be formed, and (b) is a plan view of the substrate as viewed from a pattern formation surface. In the following description, a case where a transparent electrode film is formed on a glass substrate will be exemplified. Such a substrate is frequently used in a display panel, for example. As shown in FIGS. 3 to 7, the pattern manufacturing method in the present embodiment includes an etching target layer forming step, a fluid applying step, a solidifying step, an etching step, and a removing step.

【0040】被エッチング層形成工程(図3): 被エ
ッチング層形成工程は、被エッチング層となる透明電極
層101等を基板1上に形成する工程である。基板1は
機械的強度があって光透過性があり、物理的にかつ化学
的に安定なもの、例えばガラスや石英を所定の形状に切
削したものである。透明電極膜101は液晶等に電場を
供給するための電極になるものである。透明電極の材料
としては、導電性があり光透過性があるもの、例えばI
TOやメサを使用する。透明電極層101の形成方法
は、スピンナー法、スプレー法、ロールコーター法、ダ
イコート法等各種のコーティング法を使用する。この工
程は本発明のパターン製造装置とは異なるコーティング
装置で処理される。
Step of Forming Layer to be Etched (FIG. 3): The step of forming a layer to be etched is a step of forming a transparent electrode layer 101 and the like to be a layer to be etched on the substrate 1. The substrate 1 has mechanical strength, has optical transparency, and is physically and chemically stable, such as glass or quartz cut into a predetermined shape. The transparent electrode film 101 serves as an electrode for supplying an electric field to a liquid crystal or the like. As a material of the transparent electrode, a material having conductivity and light transmittance, for example, I
Use TO or mesa. As a method for forming the transparent electrode layer 101, various coating methods such as a spinner method, a spray method, a roll coater method, and a die coating method are used. This step is processed by a coating apparatus different from the pattern manufacturing apparatus of the present invention.

【0041】流動体塗布工程(図4): 流動体塗布工
程は本発明に係り、インクジェット方式によってレジス
ト材料を溶媒に溶かした流動体11〜1nを透明電極膜
101のパターン形成面100上に塗布する工程であ
る。具体的処理を図2のフローチャートに示す。
Fluid coating step (FIG. 4): The fluid coating step is related to the present invention, and the fluids 11 to 1n obtained by dissolving a resist material in a solvent are applied on the pattern forming surface 100 of the transparent electrode film 101 by an ink jet method. This is the step of performing Specific processing is shown in the flowchart of FIG.

【0042】まずユーザは入力装置を用いて制御回路5
に条件を入力する(S1)。制御回路5は入力された条
件に適合している流動体(10とする)を選択し、この
流動体10が供給されているインクジェット式ヘッド2
を特定する。もちろんユーザが手動で流動体11〜1n
のうちいずれかを選択してもよい。エッチング工程(図
6)で使用するエッチャントやエッチング条件下でレジ
ストパターンが壊されないように、レジスト材料を選択
しておくことも重要である。
First, the user operates the control circuit 5 using the input device.
Is entered (S1). The control circuit 5 selects a fluid (supposed to be 10) that meets the input conditions, and the inkjet head 2 to which the fluid 10 is supplied.
To identify. Of course, the user manually operates the fluids 11 to 1n.
May be selected. It is also important to select a resist material so that the resist pattern is not broken under the etchant or etching conditions used in the etching step (FIG. 6).

【0043】次いでユーザは入力装置を用いて制御回路
5に流動体の付着量を指定する(S2)。例えば形成し
たいレジスト層の厚みで指定する。制御回路5はこの付
着量の指定にしたがってインクジェット式ヘッド2に供
給する吐出信号Shや搬送装置4に供給する駆動信号S
x、Syを決める。すなわちユーザによって指定された
付着量で流動体が付着されるように、インクジェット式
ヘッド2から一回当たりに吐出される流動体10の液滴
量、単位面積当たりに液滴が吐出される回数、パターン
形成面上における流動体の液滴間のピッチを定める。一
回当たりに吐出される流動体の液滴量は、例えば圧電体
素子が体積変化に電圧依存性がある場合にはインクジェ
ット式記録2ヘッドに加える吐出信号Shの電圧で制御
できる。単位面積当たりに液滴が吐出される回数はイン
クジェット式ヘッド2の搬送速度とインクジェット式ヘ
ッド2からの流動体吐出頻度との相関関係で決まる。パ
ターン形成面上における流動体の液滴間のピッチも同様
の関係で決まる。
Next, the user designates the amount of the adhered fluid to the control circuit 5 using the input device (S2). For example, it is specified by the thickness of the resist layer to be formed. The control circuit 5 supplies the ejection signal Sh to be supplied to the inkjet head 2 and the drive signal S to be supplied to the transporting device 4 in accordance with the designation of the adhesion amount.
Determine x and Sy. That is, the amount of droplets of the fluid 10 ejected from the ink jet head 2 at one time, the number of droplets ejected per unit area, so that the fluid adheres at the amount designated by the user, The pitch between the droplets of the fluid on the pattern forming surface is determined. The amount of liquid droplets ejected at one time can be controlled by the voltage of the ejection signal Sh applied to the ink jet type recording two heads, for example, when the volume change of the piezoelectric element is voltage-dependent. The number of times droplets are ejected per unit area is determined by the correlation between the transport speed of the ink jet head 2 and the frequency of fluid ejection from the ink jet head 2. The pitch between the droplets of the fluid on the pattern forming surface is determined by the same relationship.

【0044】次いで制御回路5はパターン位置情報を参
照してパターン形状に流動体を指定された付着量で付着
させていく(S3〜S10)。パターン位置情報は、図
8に示すように、パターンの始点や目標点、終点がパタ
ーンごとに座標値の集合として設定されたものである。
図8(a)に示す第1のパターンP1は線分の連続とな
っており、線分の頂点に目標点P10〜P15が設定されて
いる。パターン形成時、制御回路5はある目標点と次の
目標点との線分に沿ってインクジェット式ヘッド2を搬
送しながら流動体を線分に沿って吐出していく。また曲
線パターンについては、パターン位置情報として、曲線
を短い線分の集合に分割してその頂点に目標点が設定し
てある。例えば図8(b)に示す曲線パターンP2で
は、ほぼ曲線に沿ってパターンが形成されるように目標
点P20〜P27が設定してある。さらに図8(c)に示す
面積パターンP3では、ヘッドを往復させることにより
面全体に流動体を塗布可能なように目標点P30〜P43が
設定してある。
Next, the control circuit 5 refers to the pattern position information and causes the fluid to adhere to the pattern shape in a designated amount (S3 to S10). The pattern position information is, as shown in FIG. 8, the start point, the target point, and the end point of the pattern set as a set of coordinate values for each pattern.
The first pattern P1 shown in FIG. 8A is a continuous line segment, and target points P10 to P15 are set at the vertices of the line segment. At the time of pattern formation, the control circuit 5 discharges the fluid along the line segment while transporting the ink jet head 2 along the line segment between a certain target point and the next target point. As for the curve pattern, the curve is divided into a set of short line segments and target points are set at the vertices as pattern position information. For example, in a curve pattern P2 shown in FIG. 8B, target points P20 to P27 are set so that the pattern is formed substantially along the curve. Further, in the area pattern P3 shown in FIG. 8C, target points P30 to P43 are set so that the fluid can be applied to the entire surface by reciprocating the head.

【0045】上記パターン位置情報に基づいて、制御回
路5は始点位置情報を読み取り始点位置上へインクジェ
ット式ヘッド2を搬送する(S3)。次いで一つ先の目
標点を読み取り(S4)、設定されたり判定されたりし
た液滴10の吐出頻度で流動体の吐出を開始する(S
5)。そしてインクジェット式ヘッド2の搬送を開始す
る(S6)。目標座標に達しない限り(S7:NO)、
インクジェット式ヘッド2の搬送を継続し(S6)、目
標座標に達したら(S7:YES)、さらに次の目標点
が設定されているか、すなわちパターンが終了か否かが
判定される(S9)。パターンが継続している限り(S
9:NO)、流動体10の吐出とヘッドの搬送を継続す
る(S4〜S7)。パターンが終了したら、他に流動体
を付着させるべきパターンがあるか否かが検査される
(S10)。他のパターンがある場合には(S10:Y
ES)、そのパターンの形成が行われる(S3〜S
9)。
Based on the pattern position information, the control circuit 5 reads the start position information and conveys the ink jet head 2 to the start position (S3). Next, the next target point is read (S4), and the discharge of the fluid is started at the set or determined discharge frequency of the droplet 10 (S4).
5). Then, the transport of the inkjet head 2 is started (S6). Unless the target coordinates are reached (S7: NO),
Conveyance of the ink jet head 2 is continued (S6), and when the coordinates reach the target coordinates (S7: YES), it is determined whether the next target point is set, that is, whether the pattern is completed (S9). As long as the pattern continues (S
9: NO), the ejection of the fluid 10 and the transport of the head are continued (S4 to S7). When the pattern is completed, it is checked whether there is another pattern to which the fluid is to be attached (S10). If there is another pattern (S10: Y
ES) and the pattern is formed (S3 to S3).
9).

【0046】以上の処理により、パターン形成面100
上に流動体10が適量付着したレジストパターン102
が形成される。図4(b)では合計4パターンが形成さ
れている。線状でないパターンや幅の広いパターンの場
合にはインクジェット式ヘッド2の往復を繰り返して所
望の幅になるようにパターン形成される。
By the above processing, the pattern forming surface 100
Resist pattern 102 on which a suitable amount of fluid 10 adheres
Is formed. In FIG. 4B, a total of four patterns are formed. In the case of a non-linear pattern or a wide pattern, the reciprocation of the ink jet head 2 is repeated to form a pattern to a desired width.

【0047】固化工程(図5): 固化工程は、パター
ン形成面100上に形成されたレジストパターン102
を固化させる工程である。制御回路5は例えば固化装置
6に制御信号Spを供給してレジストパターン102を
加熱する。固化処理は、溶媒成分を蒸発させ、パターン
形成面との密着性を向上させることを目的とする。通常
は加熱処理が一般的である。従来のようにプリベーク
(前乾燥)とポストベークに分けて処理する必要がな
く、一気に溶媒成分を蒸発させ密着性を向上させること
ができる。加熱処理を実施するには、エキシマレーザ等
の高エネルギーレーザ光を照射したりエキシマランプ等
を照射したりする。また赤外線やマイクロ波等の電磁波
を供給して加熱してもよい。またこのパターン製造装置
から基板を取り出し、電気炉等で直接的に加熱してもよ
い。固化処理としては加熱処理の他に化学的処理を適用
できる。すなわちレジスト材料と化学反応を引き起こす
ような化合物をインクジェット方式でパターンに重ねて
塗布することで、固形の化合物を析出させてパターンと
する方法である。なお流動体の付着作業と並行して付着
作業が済んだレジストパターンに順次レーザ光を照射す
る等して固化処理を行ってもよい。以上の固化処理によ
り、レジスト材料が固化したレジストパターン102が
形成される。この処理が終われば基板1を傾けたりして
もパターンが崩れることはない。
Solidification Step (FIG. 5): The solidification step is performed by the resist pattern 102 formed on the pattern formation surface 100.
Is a step of solidifying The control circuit 5 supplies the control signal Sp to the solidification device 6, for example, to heat the resist pattern 102. The purpose of the solidification treatment is to evaporate the solvent component and improve the adhesion to the pattern formation surface. Usually, heat treatment is common. It is not necessary to separate and treat the pre-baking (pre-drying) and the post-baking as in the related art, and it is possible to evaporate the solvent component at once and improve the adhesion. In order to perform the heat treatment, high-energy laser light such as an excimer laser is irradiated, or an excimer lamp or the like is irradiated. Further, heating may be performed by supplying electromagnetic waves such as infrared rays and microwaves. Alternatively, the substrate may be taken out from the pattern manufacturing apparatus and directly heated in an electric furnace or the like. As the solidification treatment, a chemical treatment can be applied in addition to the heat treatment. That is, a compound that causes a chemical reaction with the resist material is applied on the pattern by an ink jet method so as to deposit a solid compound to form a pattern. The solidification treatment may be performed by sequentially irradiating a laser beam to the resist pattern that has been subjected to the attachment operation in parallel with the attachment operation of the fluid. By the above-described solidification processing, the resist pattern 102 in which the resist material is solidified is formed. When this process is completed, the pattern does not collapse even if the substrate 1 is tilted.

【0048】エッチング処理(図6): エッチング工
程は、レジストパターン102上からエッチングを行っ
てレジストパターンの形状に被エッチング層101をエ
ッチングする工程である。エッチング方法には、被エッ
チング層の材料に応じてウェットエッチングやドライエ
ッチング等の公知のエッチング法を適用する。例えば透
明電極をエッチングするなら、エッチャントにフッ酸な
どを使用する。このエッチング工程によりレジストパタ
ーン102の通りに透明電極膜101が除去される。
Etching (FIG. 6): The etching step is a step of etching the resist pattern 102 to etch the layer 101 to be etched into the shape of the resist pattern. For the etching method, a known etching method such as wet etching or dry etching is applied depending on the material of the layer to be etched. For example, when etching a transparent electrode, hydrofluoric acid or the like is used as an etchant. By this etching step, the transparent electrode film 101 is removed according to the resist pattern 102.

【0049】除去工程(図7): 除去工程はエッチン
グが終了した基板から不要になったレジストパターンを
除去する工程である。エッチングが終わったらレジスト
パターン102は不要なので、レジスト材料を溶かすよ
うな溶剤でレジストパターンを除去する。例えば120
℃から130℃に加熱したフェノールとハロゲン系の有
機溶剤を主成分とする剥離剤や熱濃硫酸、発煙硝酸、硫
酸−過酸化水素等の強酸に浸漬して剥離する。
Removal Step (FIG. 7): The removal step is a step of removing an unnecessary resist pattern from the etched substrate. After the etching, the resist pattern 102 is unnecessary, so the resist pattern is removed with a solvent that dissolves the resist material. For example, 120
The film is immersed in a peeling agent mainly composed of a phenol and a halogen-based organic solvent heated to a temperature of from 130 ° C. to 130 ° C. or a strong acid such as hot concentrated sulfuric acid, fuming nitric acid or sulfuric acid-hydrogen peroxide to be peeled off.

【0050】上述したように本実施形態によれば、イン
クジェット方式により局所的にレジスト材料を設けるこ
とができるので、レジスト材料の浪費が少ない。またレ
ジスト材料の付着量を液滴単位で制御できるので、過剰
にレジスト材料を使用することもない。さらにレジスト
材料が感光性である必要がないので、従来用いることの
できなかった材料をレジスト材料として使用することも
可能である。
As described above, according to the present embodiment, since the resist material can be locally provided by the ink jet method, waste of the resist material is small. Further, since the amount of the resist material attached can be controlled in units of droplets, the resist material is not excessively used. Further, since the resist material does not need to be photosensitive, a material that could not be used conventionally can be used as the resist material.

【0051】(その他の変形例)本発明は上記実施形態
によらず種々に変形して適用することが可能である。例
えば上記した工程ではガラス等の基板に対し透明電極膜
をパターニングするものであったが、これに拘ることな
く従来リソグラフィで形成されてきたあらゆるパターン
形成に本発明を適用することができる。例えばディスク
リート部品を載置する基板や半導体回路のパターニング
に適用することにより、アッセンブリ基板やICやLS
I等の半導体を、小型の設備により低い製造コストで複
雑な工程管理を要することなく形成可能である。さらに
パターン形成面に形成されるパターンは電気回路に限ら
ず、機械的なまたは意匠的な目的でパターン形成面に形
成されるものでもよい。安価な設備で容易に微細パター
ンを形成できるというインクジェット方式の利点をその
まま享受させることができるからである。例えば従来印
刷装置によって行っていた特殊な材料を用いた文字形成
にも適用可能である。
(Other Modifications) The present invention can be applied in various modifications without depending on the above embodiment. For example, in the above-described process, the transparent electrode film is patterned on a substrate such as glass. However, the present invention can be applied to any pattern formation conventionally formed by lithography regardless of this. For example, by applying to patterning of a substrate or a semiconductor circuit on which a discrete component is mounted, an assembly substrate, an IC or an LS
Semiconductors such as I can be formed by small equipment at low manufacturing cost without complicated process control. Further, the pattern formed on the pattern forming surface is not limited to an electric circuit, and may be formed on the pattern forming surface for mechanical or design purposes. This is because the advantage of the inkjet method that a fine pattern can be easily formed with inexpensive equipment can be enjoyed as it is. For example, the present invention can be applied to character formation using a special material, which is conventionally performed by a printing apparatus.

【0052】また、上記インクジェット方式による流動
体の吐出前にパターン形成面に対し表面改質処理を前も
って行ってもよい。表面処理により流動体の密着性が向
上する。例えばパターン形成面が親和性を備えるように
表面改質する処理としては、流動体の極性分子の有無に
応じて、シランカップリング剤を塗布する方法、アルゴ
ン等で逆スパッタをかける方法、コロナ放電処理、プラ
ズマ処理、紫外線照射処理、オゾン処理、脱脂処理等、
公知の種々の方法を適用する。流動体が極性分子を含ま
ない場合には、シランカップリング剤を塗布する方法、
酸化アルミニウムやシリカ等の多孔質膜を形成する方
法、アルゴン等で逆スパッタをかける方法、コロナ放電
処理、プラズマ処理、紫外線照射処理、オゾン処理、脱
脂処理等、公知の種々の方法を適用可能である。
Further, before the ejection of the fluid by the ink jet method, the surface on which the pattern is formed may be subjected to a surface modification treatment in advance. The surface treatment improves the adhesion of the fluid. For example, as a treatment for surface modification so that the pattern forming surface has affinity, a method of applying a silane coupling agent, a method of applying reverse sputtering with argon or the like, a method of applying corona discharge, depending on the presence or absence of polar molecules of the fluid, Treatment, plasma treatment, ultraviolet irradiation treatment, ozone treatment, degreasing treatment, etc.
Various known methods are applied. If the fluid does not contain polar molecules, a method of applying a silane coupling agent,
Various known methods such as a method of forming a porous film of aluminum oxide or silica, a method of applying reverse sputtering with argon or the like, a corona discharge treatment, a plasma treatment, an ultraviolet irradiation treatment, an ozone treatment, a degreasing treatment, and the like can be applied. is there.

【0053】[0053]

【発明の効果】本発明によれば、レジストを局所的に設
ける工程を備えたので、レジスト材料の無駄を無くしリ
ソグラフィ法で行う場合と比べ大幅に工数を削減し、こ
れにより製造原価を下げることができる。
According to the present invention, since a step of providing a resist locally is provided, the waste of the resist material is eliminated and the number of steps is significantly reduced as compared with the case where the lithography method is used, thereby reducing the manufacturing cost. Can be.

【0054】本発明によれば、レジストの厚みを調整す
る具体的な選択肢を提示したので、これらの方法の中か
ら最も適する方法を思料することにより、レジスト材料
の無駄と工数の削減を図り、製造原価を下げることがで
きる。
According to the present invention, specific options for adjusting the thickness of the resist are presented, and by considering the most suitable one of these methods, the waste of the resist material and the number of steps can be reduced. Manufacturing costs can be reduced.

【0055】本発明によれば、レジストを局所的に設け
るための流動体の条件を提示したので、この条件を充た
す範囲であればレジストとして使用可能となり、レジス
ト選択の制限を拡大することができる。
According to the present invention, the condition of the fluid for locally providing the resist is presented, so that the resist can be used as long as the condition is satisfied, and the limitation on the selection of the resist can be expanded. .

【0056】本発明によれば、レジストを局所的に設け
るための組成を具体的に提示することにより、利用者に
おけるレジスト選択の余地を拡大することができる。
According to the present invention, it is possible to expand the room for the user to select a resist by specifically presenting a composition for locally providing a resist.

【0057】本発明によれば、レジストを局所的に設け
るこのとできる製造装置を提供したので、この装置を用
いてレジスト形成を行えばレジスト材料の無駄と工数の
削減を図り、製造原価を下げることができる。
According to the present invention, a manufacturing apparatus capable of locally providing a resist is provided. If a resist is formed using this apparatus, waste of resist material and man-hours can be reduced, and manufacturing cost can be reduced. be able to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態におけるパターン製造装置の
構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a pattern manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】実施形態におけるパターン製造方法を説明する
フローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart illustrating a pattern manufacturing method according to the embodiment.

【図3】被エッチング層形成工程の説明図であり、
(a)は基板断面図、(b)は基板平面図である。
FIG. 3 is an explanatory view of a step of forming a layer to be etched;
(A) is a sectional view of the substrate, and (b) is a plan view of the substrate.

【図4】流動体付着工程の説明図であり、(a)は基板
断面図、(b)は基板平面図である。
4A and 4B are explanatory views of a fluid adhering step, wherein FIG. 4A is a cross-sectional view of a substrate, and FIG. 4B is a plan view of the substrate.

【図5】固化工程の説明図であり、(a)は基板断面
図、(b)は基板平面図である。微粒子を含んだ流動体
を用いた場合の吐出工程である。
5A and 5B are explanatory views of a solidification step, in which FIG. 5A is a cross-sectional view of a substrate, and FIG. 5B is a plan view of the substrate. This is a discharge step when a fluid containing fine particles is used.

【図6】エッチング工程の説明図であり、(a)は基板
断面図、(b)は基板平面図である。微粒子を含んだ流
動体を用いた場合の加熱工程である。
FIGS. 6A and 6B are explanatory views of an etching step, wherein FIG. 6A is a sectional view of a substrate, and FIG. 6B is a plan view of the substrate. This is a heating step when a fluid containing fine particles is used.

【図7】除去工程の説明図であり、(a)は基板断面
図、(b)は基板平面図である。接着剤を用いた場合の
接着膜形成工程である。
FIGS. 7A and 7B are explanatory views of a removing step, wherein FIG. 7A is a cross-sectional view of a substrate, and FIG. 7B is a plan view of the substrate. This is an adhesive film forming step when an adhesive is used.

【図8】パターン位置情報の説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram of pattern position information.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…基板 2、2x、21〜2n…インクジェット式ヘッド 3、3x、31〜3n…処理装置 4…搬送装置 5…制御回路 6…固化装置 1x、11〜1n…流動体(パターン形成材料) 100…パターン形成面 101…透明電極膜 102…レジストパターン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate 2, 2x, 21-2n ... Ink-jet head 3, 3x, 31-3n ... Processing device 4 ... Conveying device 5 ... Control circuit 6 ... Solidification device 1x, 11-1n ... Fluid (pattern forming material) 100 ... Pattern forming surface 101 ... Transparent electrode film 102 ... Resist pattern

Claims (23)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 パターン形成面にレジストパターンを形
成するためのパターン製造方法であって、 溶質であるレジスト材料を溶媒に溶解させた流動体の液
滴を前記パターン形成面に付着させる工程を備えている
ことを特徴とするパターン製造方法。
1. A pattern manufacturing method for forming a resist pattern on a pattern forming surface, comprising a step of attaching a liquid droplet of a fluid in which a solute resist material is dissolved in a solvent to the pattern forming surface. A method for producing a pattern.
【請求項2】 前記工程は、前記流動体の液滴をインク
ジェット式ヘッドから吐出させることにより前記パター
ン形成面に付着させる請求項1に記載のパターン製造方
法。
2. The pattern manufacturing method according to claim 1, wherein, in the step, droplets of the fluid are ejected from an ink jet head to adhere to the pattern forming surface.
【請求項3】 前記工程は、前記レジストに必要とされ
る条件に応じて前記流動体におけるレジスト材料の濃度
を変更する請求項1に記載のパターン製造方法。
3. The pattern manufacturing method according to claim 1, wherein in the step, a concentration of the resist material in the fluid is changed according to a condition required for the resist.
【請求項4】 前記工程は、前記レジストに必要とされ
る条件に応じて前記パターン形成面の単位面積当たりに
おける前記液滴の付着量を変更する請求項1に記載のパ
ターン製造方法。
4. The pattern manufacturing method according to claim 1, wherein in the step, the amount of the droplets attached per unit area of the pattern forming surface is changed according to a condition required for the resist.
【請求項5】 前記液滴の付着量は、前記パターン形成
面の単位面積当たりにおける前記液滴の付着回数により
制御される請求項4に記載のパターン製造方法。
5. The pattern manufacturing method according to claim 4, wherein the amount of the droplet attached is controlled by the number of attachments of the droplet per unit area of the pattern forming surface.
【請求項6】 前記液滴の付着量は、前記パターン形成
面に付着させる前記液滴間のピッチにより制御される請
求項4に記載のパターン製造方法。
6. The pattern manufacturing method according to claim 4, wherein the amount of the droplet attached is controlled by a pitch between the droplets attached to the pattern forming surface.
【請求項7】 前記液滴の付着量は、一回に付着させる
前記液滴の量により制御される請求項4に記載のパター
ン製造方法。
7. The pattern manufacturing method according to claim 4, wherein the amount of the droplet attached is controlled by the amount of the droplet attached at one time.
【請求項8】 前記流動体は、溶質濃度、溶媒の種類ま
たは溶媒量を調整することにより粘度が1cp以上で2
0cp以下に調整されている請求項1に記載のパターン
製造方法。
8. The fluid has a viscosity of 1 cp or more by adjusting the solute concentration, the type of solvent or the amount of solvent.
2. The pattern manufacturing method according to claim 1, wherein the pattern is adjusted to 0 cp or less.
【請求項9】 前記流動体は、溶質濃度、溶媒の種類ま
たは溶媒量を調整することにより粘度が2cp以上で4
cp以下に調整されている請求項1に記載のパターン製
造方法。
9. The fluid has a viscosity of 2 cp or more by adjusting the solute concentration, the type of solvent or the amount of solvent.
The pattern manufacturing method according to claim 1, wherein the pattern is adjusted to not more than cp.
【請求項10】 前記流動体は、溶質濃度、溶媒の種類
または溶媒量を調整することによりその表面エネルギー
が20mN/m以上で70mN/m以下に調整されてい
る請求項1に記載のパターン製造方法。
10. The pattern manufacturing method according to claim 1, wherein the surface energy of the fluid is adjusted to 20 mN / m or more and 70 mN / m or less by adjusting the solute concentration, the type of the solvent, or the amount of the solvent. Method.
【請求項11】 前記流動体は、その表面エネルギーが
30mN/m以上で60mN/m以下に調整されている
請求項1に記載のパターン製造方法。
11. The pattern manufacturing method according to claim 1, wherein the surface energy of the fluid is adjusted to 30 mN / m or more and 60 mN / m or less.
【請求項12】 前記流動体は、溶質濃度、溶媒の種類
または溶媒量を調整することにより前記ヘッドノズル面
を構成する材料に対する接触角が30度以上で170度
以下になるように調整されている請求項2に記載のパタ
ーン製造方法。
12. The fluid is adjusted such that a contact angle with respect to a material constituting the head nozzle surface is 30 degrees or more and 170 degrees or less by adjusting a solute concentration, a type of a solvent, or a solvent amount. The pattern manufacturing method according to claim 2.
【請求項13】 前記流動体は、溶質濃度、溶媒の種類
または溶媒量を調整することにより前記ヘッドノズル面
を構成する材料に対する接触角が35度以上で65度以
下になるよう調整されている請求項2に記載のパターン
製造方法。
13. The fluid is adjusted so that a contact angle with a material constituting the head nozzle surface is 35 degrees or more and 65 degrees or less by adjusting a solute concentration, a kind of a solvent, or a solvent amount. The pattern manufacturing method according to claim 2.
【請求項14】 前記流動体における溶質濃度は0.0
1wt%以上で10wt%以下に調整されている請求項
8乃至請求項13に記載のパターン製造方法。
14. The fluid having a solute concentration of 0.0
14. The pattern manufacturing method according to claim 8, wherein the amount is adjusted to 1 wt% or more and 10 wt% or less.
【請求項15】 前記流動体における溶媒は、グリセリ
ン、ジエチレングリコール、メタノール、エタノール、
水、1,3−ジメチル−2−イミダゾリジノン(DM
I)、エトキシエタノール、N,N−ジメチルホルムア
ミド(DMF)、N−メチルピロリドン(NMP)また
はエチレングリコール系エーテルのうち1以上の溶媒に
より構成されている請求項1に記載のパターン製造方
法。
15. The solvent in the fluid may be glycerin, diethylene glycol, methanol, ethanol,
Water, 1,3-dimethyl-2-imidazolidinone (DM
The pattern production method according to claim 1, wherein the pattern production method comprises one or more solvents selected from the group consisting of I), ethoxyethanol, N, N-dimethylformamide (DMF), N-methylpyrrolidone (NMP), and ethylene glycol ether.
【請求項16】 前記レジスト材料は、ケイ皮酸ビニ
ル、ノボラック系樹脂、ポリイミドまたはエポキシ系の
うちいずれかである請求項1に記載のパターン製造方
法。
16. The pattern manufacturing method according to claim 1, wherein the resist material is one of vinyl cinnamate, novolak resin, polyimide, and epoxy.
【請求項17】 前記流動体の液滴を付着させる工程の
後に、付着した液滴を固化させレジストパターンを形成
する工程と、 前記レジストパターンが形成された前記パターン形成面
をエッチングする工程と、をさらに備える請求項1に記
載のパターン製造方法。
17. A step of solidifying the adhered droplets to form a resist pattern after the step of adhering the droplets of the fluid, and a step of etching the pattern forming surface on which the resist pattern is formed. The pattern manufacturing method according to claim 1, further comprising:
【請求項18】 パターン形成面にレジストパターンを
形成するためのパターン製造装置であって、 溶質であるレジスト材料を溶媒に溶解させた流動体の液
滴を前記パターン形成面に付着可能に構成されたインク
ジェット式ヘッドと、 前記インクジェット式ヘッドと前記パターン形成面との
相対位置を変更可能に構成される搬送装置と、 前記インクジェット式ヘッドからの前記流動体の吐出お
よび前記駆動装置による駆動を制御する制御装置と、を
備え、 前記制御装置は、前記搬送装置により前記インクジェッ
ト式ヘッドを任意のパターン形成領域に沿って移動させ
ながら当該インクジェット式ヘッドから前記流動体の液
滴を前記パターン形成面に付着させることによりレジス
トパターンを形成可能に構成されていることを特徴とす
るパターン製造装置。
18. A pattern manufacturing apparatus for forming a resist pattern on a pattern forming surface, wherein a liquid droplet of a fluid in which a solute resist material is dissolved in a solvent can be attached to the pattern forming surface. An inkjet head, a transport device configured to change a relative position between the inkjet head and the pattern forming surface, and controlling ejection of the fluid from the inkjet head and driving by the driving device. A control device, wherein the control device attaches the liquid droplets of the fluid to the pattern forming surface from the ink jet head while moving the ink jet head along an arbitrary pattern forming region by the transport device. Characterized in that the resist pattern is formed by forming Down manufacturing equipment.
【請求項19】 前記インクジェット式ヘッドは、レジ
スト材料の濃度が異なる前記流動体を選択的に吐出可能
に構成され、前記制御装置は、前記レジストに必要とさ
れる条件に応じて前記インクジェット式ヘッドに吐出さ
せる流動体の濃度を変更可能に構成される請求項18に
記載のパターン製造装置。
19. The ink-jet head according to claim 19, wherein said ink-jet head is configured to selectively discharge said fluid having a different concentration of a resist material, and said control device controls said ink-jet head according to a condition required for said resist. The pattern manufacturing apparatus according to claim 18, wherein the concentration of the fluid to be discharged to the nozzle is changeable.
【請求項20】 前記制御装置は、前記レジストに必要
とされる条件に応じて前記パターン形成面に付着させる
前記流動体の付着量を変更可能に構成される請求項18
に記載のパターン製造装置。
20. The control device according to claim 18, wherein an amount of the fluid adhered to the pattern forming surface can be changed according to a condition required for the resist.
3. The pattern manufacturing apparatus according to 1.
【請求項21】 前記制御装置は、前記パターン形成面
の単位面積当たりに吐出させる前記液滴の吐出回数を制
御することにより前記パターン形成面に付着させる前記
流動体の付着量を変更する請求項20に記載のパターン
製造装置。
21. The method according to claim 21, wherein the control unit changes the amount of the fluid adhered to the pattern forming surface by controlling the number of times the droplets are ejected per unit area of the pattern forming surface. 20. The pattern manufacturing apparatus according to 20.
【請求項22】 前記制御装置は、前記インクジェット
式ヘッドの前記液滴の吐出タイミングと前記搬送装置の
搬送速度を制御することにより前記パターン形成面に付
着する液滴間のピッチを変えて前記パターン形成面に付
着させることにより前記流動体の付着量を変更する請求
項20に記載のパターン製造装置。
22. The control device, wherein the control unit controls the ejection timing of the droplets of the ink jet head and the transport speed of the transport unit to change the pitch between the droplets adhering to the pattern forming surface, thereby controlling the pattern. 21. The pattern manufacturing apparatus according to claim 20, wherein an amount of the fluid attached is changed by attaching the fluid to a forming surface.
【請求項23】 前記インクジェット式ヘッドは、一回
当たりに吐出される前記流動体の液滴量を変更可能に構
成され、前記制御装置は、前記インクジェット式ヘッド
に吐出させる前記流動体の液滴量を制御することにより
前記パターン形成面に付着させる前記流動体の付着量を
変更する請求項20に記載のパターン製造装置。
23. The ink jet type head is configured to be able to change a liquid droplet amount of the fluid discharged at one time, and the control device is configured to control the liquid droplets discharged by the ink jet type head. 21. The pattern manufacturing apparatus according to claim 20, wherein the amount of the fluid adhered to the pattern forming surface is changed by controlling the amount.
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