JPH11340595A - Copper foil for printed circuit boards and copper foil with resin - Google Patents

Copper foil for printed circuit boards and copper foil with resin

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JPH11340595A
JPH11340595A JP14012498A JP14012498A JPH11340595A JP H11340595 A JPH11340595 A JP H11340595A JP 14012498 A JP14012498 A JP 14012498A JP 14012498 A JP14012498 A JP 14012498A JP H11340595 A JPH11340595 A JP H11340595A
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JP
Japan
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copper foil
layer
thickness
resin
printed circuit
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Application number
JP14012498A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shuichi Furuya
修一 古谷
Takashi Inada
孝 稲田
Shozo Kiyono
正三 清野
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Furukawa Electric Co Ltd
Furukawa Circuit Foil Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
Furukawa Circuit Foil Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 基材との接合強度も高く、高密度超微細配線
の形成も可能である印刷回路基板用の銅箔および樹脂付
き銅箔を提供する。 【解決手段】 表面粗度(Rz)2.0〜4.0μmの粗
化面1aを有する電解銅箔1と、前記電解銅箔の粗化面
1aの上に形成された厚み0.01〜0.05mg/dm2のニ
ッケル層2と、ニッケル層2の上に形成された厚み0.
15〜0.5mg/dm2の亜鉛層3とから成る印刷回路基板
用の銅箔。
PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a copper foil for a printed circuit board and a copper foil with resin, which have high bonding strength to a base material and can form high-density ultrafine wiring. SOLUTION: An electrolytic copper foil 1 having a roughened surface 1a having a surface roughness (Rz) of 2.0 to 4.0 μm, and a thickness 0.01 to 1 mm formed on the roughened surface 1a of the electrolytic copper foil. A nickel layer 2 of 0.05 mg / dm 2 and a thickness of 0.05 mm formed on the nickel layer 2.
Copper foil for printed circuit boards, comprising a zinc layer 3 of 15-0.5 mg / dm 2 .

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、印刷回路基板用の
銅箔および樹脂付き銅箔に関し、更に詳しくは、エッチ
ングファクタ(Ef)値が大きく、高密度超微細配線が
可能であり、多層印刷回路基板の製造に用いて好適な印
刷回路基板用の銅箔と樹脂付き銅箔に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a copper foil for a printed circuit board and a copper foil with a resin, and more particularly to a copper foil having a large etching factor (Ef), enabling high-density ultrafine wiring, and multi-layer printing. The present invention relates to a copper foil for a printed circuit board and a copper foil with resin suitable for use in the manufacture of a circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】印刷回路基板は、通常、次のようにして
製造されている。
2. Description of the Related Art A printed circuit board is usually manufactured as follows.

【0003】すなわち、ガラス・エポキシ樹脂やガラス
・ポリイミド樹脂などから成る電気絶縁性の基材の表面
に、熱硬化性の接着剤を介して表面回路形成用の銅箔を
積層して銅張り積層板とし、その銅張り積層板に、スル
ーホールの穿設,スルーホールめっきを順次行ったの
ち、表面の銅箔にエッチング処理を行って所望する回路
パターンを形成し、最後に、ソルダーレジストの形成や
その他の仕上げ処理が行われる。
That is, a copper foil for forming a surface circuit is laminated on a surface of an electrically insulating substrate made of glass epoxy resin or glass polyimide resin via a thermosetting adhesive to form a copper-clad laminate. After drilling through holes and plating through holes in the copper-clad laminate in that order, etching the copper foil on the surface to form the desired circuit pattern, and finally, forming the solder resist And other finishing processes are performed.

【0004】上記した工程における銅張り積層板の製造
時に用いる接着剤としては、通常、基材を構成している
熱硬化性性樹脂と同種の電気絶縁性樹脂のワニスをガラ
ス布などに含浸・嵌挿させて当該ワニスを半硬化状態に
し、それをマトリックス樹脂とするプリプレグ材が主流
になっている。
As an adhesive used in the production of a copper-clad laminate in the above-described process, a glass cloth or the like is usually impregnated with a varnish of the same kind of an electrically insulating resin as the thermosetting resin constituting the base material. A prepreg material that is fitted and made into a semi-cured state and that uses the varnish as a matrix resin is mainly used.

【0005】すなわち、前記した基材の上・下面に所望
枚数のプリプレグ材を配置し、更にプリプレグ材の表面
に表面回路形成用の銅箔を重ね合わせたのち、全体を熱
圧着して銅張り積層板が製造されている。
That is, a desired number of prepreg materials are arranged on the upper and lower surfaces of the above-mentioned base material, and a copper foil for forming a surface circuit is laminated on the surface of the prepreg material. Laminates are being manufactured.

【0006】ここで、表面回路形成用の銅箔としては、
一般に電解銅箔が用いられている。この電解銅箔は、表
面平滑な回転ドラムの当該表面に通常は硫酸銅浴を用い
て銅を電解析出させて成膜し、それを連続的に回転ドラ
ムから剥離して製造されている。したがって、得られた
電解銅箔の剥離面は比較的平滑であり、銅の析出面(マ
ット面)は比較的粗い面になっており、銅張り積層板の
製造時には、この粗化面であるマット面をプリプレグ材
に接合することにより当該粗化面でプリプレグ材に対す
るアンカー効果を発揮させ、プリプレグ材と電解銅箔と
の間の接合強度を高めるようにして回路基板としての信
頼性の確保がなされている。
Here, as the copper foil for forming the surface circuit,
Generally, an electrolytic copper foil is used. This electrolytic copper foil is manufactured by depositing copper on the surface of a rotating drum having a smooth surface, usually by electrolytic deposition of copper using a copper sulfate bath, and continuously peeling the film from the rotating drum. Therefore, the peeled surface of the obtained electrolytic copper foil is relatively smooth, and the copper deposition surface (mat surface) is relatively rough, and this is the roughened surface during the production of the copper-clad laminate. By joining the matte surface to the prepreg material, the roughened surface exerts an anchoring effect on the prepreg material, and the bonding strength between the prepreg material and the electrolytic copper foil is increased to ensure the reliability as a circuit board. It has been done.

【0007】また、最近では、銅箔の粗化面を予めエポ
キシ樹脂のような接着用樹脂で被覆し、当該接着用樹脂
を半硬化状態(Bステージ)の絶縁樹脂層にした樹脂付
き銅箔を表面回路形成用の銅箔として用い、その絶縁樹
脂層側を基材に熱圧着して印刷回路基板、とりわけ多層
印刷回路基板を製造することが行われている。
Recently, a resin-coated copper foil in which a roughened surface of a copper foil is coated in advance with an adhesive resin such as an epoxy resin, and the adhesive resin is formed into an insulating resin layer in a semi-cured state (B stage). Is used as a copper foil for forming a surface circuit, and the insulating resin layer side is thermocompression-bonded to a substrate to produce a printed circuit board, especially a multilayer printed circuit board.

【0008】ところで、最近の各種電子部品は高度に集
積化され、小型でかつ高密度の印刷回路を内蔵するIC
やLSIなどが使用されている。そして、このことに対
応して、印刷回路基板における回路パターンも高密度化
が要求され、微細な線幅の配線から成る回路パターンが
形成されている、いわゆるファインパターンの印刷回路
基板が要求されるようになった。例えば半導体パッケー
ジに使用される印刷回路基板の場合には、配線と線幅が
それぞれ50μm前後という高密度極微細配線を有する
印刷回路基板が要求されている。
By the way, recent various electronic components are highly integrated, and are small in size and have a built-in high-density printed circuit IC.
And LSI are used. Corresponding to this, a circuit pattern on a printed circuit board is also required to have a high density, and a so-called fine-pattern printed circuit board on which a circuit pattern composed of fine line width wiring is formed is required. It became so. For example, in the case of a printed circuit board used for a semiconductor package, a printed circuit board having a high-density ultrafine wiring having a wiring and a line width of about 50 μm is required.

【0009】このファインな回路パターンを形成しよう
とする場合には、エッチング時におけるエッチングファ
クタ(Ef)を考慮することが重要である。
In order to form this fine circuit pattern, it is important to consider an etching factor (Ef) at the time of etching.

【0010】ここでエッチングファクタ(Ef)につい
て説明する。
Here, the etching factor (Ef) will be described.

【0011】いま、銅箔へのエッチングにより、図3で
示したような断面形状を有する回路パターンが基材6の
上に形成されたものとする。図3において、Hは銅箔5
の厚みであり、Tが回路パターンにおけるトップ幅、B
が回路パターンのボトム幅を示している。
Now, it is assumed that a circuit pattern having a sectional shape as shown in FIG. 3 is formed on the substrate 6 by etching the copper foil. In FIG. 3, H is a copper foil 5
Where T is the top width in the circuit pattern and B is
Indicates the bottom width of the circuit pattern.

【0012】このような断面形状の回路パターンにおい
て、そのエッチングファクタ(Ef)は次式: Ef=2H/(B−T) に基づいて算出される値であり、この値が大きいほど、
形成された回路パターンの側壁は垂直に近い状態に成っ
ていることを表している。したがって、ファインな回路
パターンを形成しようとする場合には、できるだけEf
値が大きくなるような条件の下で銅箔のエッチングを行
うことが必要になる。
In the circuit pattern having such a sectional shape, the etching factor (Ef) is a value calculated based on the following equation: Ef = 2H / (BT).
This indicates that the side wall of the formed circuit pattern is almost vertical. Therefore, when a fine circuit pattern is to be formed, Ef should be as small as possible.
It is necessary to perform etching of the copper foil under conditions that increase the value.

【0013】このEf値は様々な条件でその大小が決ま
ってくるが、明確であることは、エッチング時間が長く
なると最初に形成された回路パターン側壁もエッチング
されてしまい、側壁の垂直性は崩れ、その結果、Ef値
が小さくなってしまうということである。
The magnitude of this Ef value is determined under various conditions, but it is clear that, when the etching time is long, the side wall of the circuit pattern formed first is also etched, and the verticality of the side wall is lost. As a result, the Ef value becomes small.

【0014】例えば、銅箔の厚みが厚い場合、基材の箇
所までエッチングするために要する時間は長くなるの
で、回路パターンの断面形状は崩れてEf値は小さくな
る。このような問題は、形成する回路パターンの線幅が
大きい場合にはそれほど深刻な問題にはならないが、線
幅が小さいファインな回路パターンの場合には、断線に
結びつく深刻な問題になってしまう。
For example, when the thickness of the copper foil is large, the time required for etching to the location of the base material becomes long, so that the cross-sectional shape of the circuit pattern is broken and the Ef value becomes small. Such a problem is not so serious when the line width of the circuit pattern to be formed is large, but becomes a serious problem leading to disconnection in the case of a fine circuit pattern having a small line width. .

【0015】例えば、通常の印刷回路基板の場合、銅箔
としては厚み18μmの電解銅箔に厚み25μm程度の
銅パネルめっきを施したものが用いられているが、これ
に対して線幅50μm前後の回路パターンを形成する
と、回路パターンの断面形状は三角形に近似した形状に
なってしまい、回路幅は不安定で断線の虞れも孕み、結
局は印刷回路基板の歩留まり低下が引き起こされる。
For example, in the case of a normal printed circuit board, a copper foil obtained by plating an electrolytic copper foil having a thickness of 18 μm with a copper panel having a thickness of about 25 μm is used. When the circuit pattern described above is formed, the cross-sectional shape of the circuit pattern becomes a shape approximate to a triangle, the circuit width is unstable, and there is a risk of disconnection, and eventually, the yield of the printed circuit board is reduced.

【0016】このような問題に対し、線幅50μm前後
の回路パターンの形成に際しては、厚み12μm以下の
電解銅箔に厚み15μm前後の銅パネルめっきを施した
ものが用いられている。
In order to cope with such a problem, when forming a circuit pattern having a line width of about 50 μm, an electro-deposited copper foil having a thickness of about 12 μm or less and a copper panel plating having a thickness of about 15 μm are used.

【0017】このような薄い銅箔を用いると、確かにE
f値を向上させることは可能になる。しかしながら、こ
の銅箔の場合も、基材との接合強度の確保のために基材
側の表面は粗化面になっていて、この粗化面の突起部が
基材に喰い込んでいるので、この突起部を完全にエッチ
ング除去するためにはある時間のエッチング処理を継続
しなければならない。粗化面の突起部を完全に除去しな
いと、それが残銅となり、回路パターンの間隔が狭い場
合には絶縁不良を引き起こすからである。
When such a thin copper foil is used, E
It is possible to improve the f-number. However, in the case of this copper foil as well, the surface on the base material side is a roughened surface in order to secure the bonding strength with the base material, and the projections of the roughened surface bite into the base material. In order to completely remove the projection by etching, it is necessary to continue the etching process for a certain period of time. This is because if the protrusions on the roughened surface are not completely removed, the remaining copper will remain, and if the space between the circuit patterns is narrow, insulation failure will occur.

【0018】したがって、粗化面の突起部をエッチング
除去する過程で、既に形成されている回路パターンの側
壁のエッチングも進行してしまい、結局はEf値は小さ
くなってしまう。
Therefore, in the process of etching and removing the projections on the roughened surface, the etching of the side walls of the already formed circuit pattern also progresses, and the Ef value eventually decreases.

【0019】薄い銅箔を用いる場合、その表面粗度を小
さくすれば上記した問題を解消できることは事実である
が、その場合には銅箔と基材との接合強度は小さくなる
ため信頼性に富むファインな回路パターンの印刷回路基
板を製造することは困難である。
When a thin copper foil is used, it is true that the above problem can be solved by reducing the surface roughness. However, in this case, the bonding strength between the copper foil and the base material is reduced, so that the reliability is reduced. It is difficult to manufacture printed circuit boards with rich and fine circuit patterns.

【0020】一方、銅箔と基材との接合強度を高めるた
めに、銅箔の粗化面に亜鉛や亜鉛合金のめっきを施すこ
とが行われている。これは、銅箔を例えば接着剤を介し
て基材に熱圧着したときに、銅成分が接着剤と反応して
接着剤の接着能が劣化したり、また銅箔表面が酸化した
りして基材との接合強度が低下することを防止するため
である。更には、銅箔の粗化面の突起部が基材に喰い込
んでいる場合、突起部と基材との界面に存在している亜
鉛の働きで突起部の銅がエッチングされやすくなり、も
ってEf値を向上させることもできるからである。
On the other hand, in order to increase the bonding strength between the copper foil and the substrate, the roughened surface of the copper foil is plated with zinc or a zinc alloy. This is due to the fact that when a copper foil is thermocompression-bonded to a substrate via an adhesive, for example, the copper component reacts with the adhesive to deteriorate the adhesive ability of the adhesive, or the copper foil surface is oxidized. This is for preventing a decrease in bonding strength with the base material. Furthermore, when the protrusions on the roughened surface of the copper foil are biting into the base material, the copper present on the protrusions is easily etched by the action of zinc present at the interface between the protrusions and the base material. This is because the Ef value can be improved.

【0021】その場合、このめっき層の厚みが薄すぎる
と上記した効果は充分に発揮されないので接合強度は不
充分である。そして、上記効果を充分に発揮させようと
してめっき層の厚みを厚くしてもエッチングの過程で亜
鉛がエッチャントに溶出して突起部と基材との間のクリ
アランスが大きくなってしまうので、かえって接合強度
は低下するようになってしまう。このように、亜鉛層の
厚みが薄すぎても、また厚すぎでも、銅箔と基材との間
で充分な接合強度を得ることは困難であった。
In this case, if the thickness of the plating layer is too small, the above-mentioned effects cannot be sufficiently exerted, so that the bonding strength is insufficient. And even if the thickness of the plating layer is increased in order to sufficiently exert the above effects, zinc is eluted into the etchant during the etching process and the clearance between the protrusion and the base material is increased, so that the bonding is rather performed. The strength will decrease. Thus, even if the thickness of the zinc layer is too thin or too thick, it has been difficult to obtain sufficient bonding strength between the copper foil and the substrate.

【0022】[0022]

【発明が解決しようとする課題】このように、Ef値が
大きく、かつ基材との接合強度も高いファインな回路パ
ターンが形成されている印刷回路基板を製造すること
は、実際問題として、かなり困難であった。とくに、線
間や線幅が50μm前後の高密度極微細配線の回路パタ
ーンを従来の銅箔を用いて形成することは事実上不可能
であり、現在、それを可能にする銅箔の開発が強く望ま
れている。
As described above, as a practical problem, manufacturing a printed circuit board on which a fine circuit pattern having a large Ef value and a high bonding strength with a base material is formed is considerably problematic. It was difficult. In particular, it is practically impossible to form a circuit pattern of high-density ultra-fine wiring with a line spacing and a line width of about 50 μm using conventional copper foil. It is strongly desired.

【0023】本発明は、上記した要請に応えるべく開発
された銅箔であって、線間や線幅が50μm前後のファ
インな回路パターンである場合でも、大きいEf値と高
い接合強度を実現することができる印刷回路基板用の銅
箔、および樹脂付き銅箔の提供を目的とする。
The present invention is a copper foil developed to meet the above-mentioned requirements, and realizes a large Ef value and a high bonding strength even in the case of a fine circuit pattern having a line spacing or a line width of about 50 μm. It is an object of the present invention to provide a copper foil for a printed circuit board and a copper foil with a resin that can be used.

【0024】[0024]

【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明においては、表面粗度(Rz)2.0〜
4.0μmの粗化面を有する電解銅箔と、前記電解銅箔
の粗化面の上に形成された厚み0.01〜0.05mg/dm2
のニッケル層と、前記ニッケル層の上に形成された厚み
0.15〜0.5mg/dm2の亜鉛層とから成ることを特徴と
する印刷回路基板用の銅箔、とくに、前記電解銅箔の粗
化面は、表面粗度(Rz)2.0μm以下の電解銅箔の
表面に形成された粒子径0.2〜2.0μmの粒子が80
%以上占有する粗化粒子層の面である印刷回路基板用の
銅箔が提供される。
In order to achieve the above-mentioned object, according to the present invention, a surface roughness (Rz) of 2.0 to 2.0 is provided.
An electrolytic copper foil having a roughened surface of 4.0 μm, and a thickness of 0.01 to 0.05 mg / dm 2 formed on the roughened surface of the electrolytic copper foil.
A copper layer for a printed circuit board, comprising a nickel layer formed on the nickel layer and a zinc layer having a thickness of 0.15 to 0.5 mg / dm 2 , in particular, the electrolytic copper foil The surface of the electrodeposited copper foil having a surface roughness (Rz) of 2.0 μm or less has particles having a particle diameter of 0.2 to 2.0 μm.
The present invention provides a copper foil for a printed circuit board, which is a surface of the roughened particle layer occupying at least%.

【0025】また本発明においては、前記印刷回路用の
銅箔の前記亜鉛層の表面に、厚み20〜80μmの半硬
化状態の絶縁樹脂層が密着して接合していることを特徴
とする印刷回路基板用の樹脂付き銅箔が提供される。
In the present invention, a semi-cured insulating resin layer having a thickness of 20 to 80 μm is in close contact with and bonded to the surface of the zinc layer of the copper foil for a printed circuit. A copper foil with resin for a circuit board is provided.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】まず、本発明の銅箔の1例Aを図
1に示す。この銅箔Aは、電解銅箔1の片面が粗化面1
aになっていて、この粗化面1aの上に、ニッケル層2
と亜鉛層3がこの順序で形成されて基材との接合面1A
が構成された断面構造になっている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS First, FIG. 1 shows an example A of a copper foil of the present invention. In this copper foil A, one side of the electrolytic copper foil 1 has a roughened surface 1
a, and a nickel layer 2 is formed on the roughened surface 1a.
And the zinc layer 3 are formed in this order, and the bonding surface 1A with the base material is formed.
Is formed.

【0027】上記した粗化面1aは、JISB0601
で規定する10点平均粗さの値(Rz)が2.0〜4.0
μmになっている。このRz値が2.0μmより小さい
場合には、前記接合面1Aを基材と接合したときに充分
な接合強度が得られず、またRz値が4.0μmより大
きい場合には、接合面1Aの突起部の基材への喰い込み
量が大きくなり、エッチング時に前記突起部の完全除去
に長い時間を要するため、Ef値が小さくなって、信頼
性の高いファインな回路パターンの形成が困難になる。
The above-mentioned roughened surface 1a is JIS B0601
The value of the 10-point average roughness (Rz) specified in the above is 2.0 to 4.0.
μm. When the Rz value is smaller than 2.0 μm, sufficient bonding strength cannot be obtained when the bonding surface 1A is bonded to the base material, and when the Rz value is larger than 4.0 μm, the bonding surface 1A Of the protrusion into the base material, and a long time is required to completely remove the protrusion at the time of etching, so that the Ef value decreases, and it becomes difficult to form a reliable and fine circuit pattern. Become.

【0028】本発明では、銅箔として電解銅箔が用いら
れる。
In the present invention, an electrolytic copper foil is used as the copper foil.

【0029】その理由は、電解銅箔の場合、圧延銅箔に
比べてその厚みが15μm以下の極薄であっても厚みの
ばらつきは少なく、しかも広幅な箔を比較的低コストで
製造することができるとともに、後述するように、前記
したRz値の粗化面を形成することができるとともに、
後述するように、前記したRz値の粗化面を形成するこ
とが容易であるからである。
The reason is that, in the case of electrolytic copper foil, even if the thickness is as thin as 15 μm or less as compared with rolled copper foil, the variation in thickness is small, and a wide foil can be manufactured at a relatively low cost. Can be formed, and as described later, a roughened surface having the aforementioned Rz value can be formed,
This is because it is easy to form a roughened surface having the above-described Rz value, as described later.

【0030】電解銅箔は、その生産効率を高めるため
に、通常、20〜150A/dm2という高電流密度で製造
されているが、その場合には、マット面のRz値が5μ
m以上のものが製造されやすい。しかしながら、例えば
市販の装飾用光沢銅めっき浴やチオ尿素,糖蜜などを添
加した電解浴を用いたり、また電流密度を下げるなど電
解条件を変えることにより、マット面のRz値を1μm
前後にまで小さくして平滑にすることもできる。更に
は、比較的粗いマット面に対して、例えば電解研磨法や
化学研磨法などを適用して当該マット面を平滑にするこ
ともできる。
The electrolytic copper foil is usually manufactured at a high current density of 20 to 150 A / dm 2 in order to enhance the production efficiency. In this case, the Rz value of the matte surface is 5 μm.
m or more are easily manufactured. However, the Rz value of the matte surface can be reduced to 1 μm by using, for example, a commercially available bright copper plating bath for decoration, an electrolytic bath to which thiourea, molasses, or the like is added, or by changing the electrolytic conditions such as lowering the current density.
It can also be smoothed down and down. Further, for example, an electrolytic polishing method or a chemical polishing method may be applied to a relatively rough mat surface to smooth the mat surface.

【0031】本発明で用いる電解銅箔1の場合、上記し
た製造方法において電解条件などを適切に選択すること
により、そのマット面のRz値を2.0〜4.0μmにし
て、それを粗化面1aとすることもできる。
In the case of the electro-deposited copper foil 1 used in the present invention, the Rz value of the matte surface is adjusted to 2.0 to 4.0 μm by appropriately selecting the electrolysis conditions and the like in the above-mentioned manufacturing method, and the roughened The surface 1a can also be used.

【0032】しかしながら、本発明では粗化面1aのR
z値を2.0〜4.0μmと比較的小さくし、しかも比較
的狭い上記範囲内にRz値をおさめることが必要である
ことを考えると、電解銅箔の製造時に、前記した電解条
件を適切に選択してマット面のRz値が2.0μm以下
である表面平滑な電解銅箔を連続的に製造し、そのマッ
ト面に、後述するような粗化処理を施してRz値を2.
0〜4.0μmに高めることが好ましい。
However, according to the present invention, the R
Considering that it is necessary to make the z-value relatively small, 2.0 to 4.0 μm, and to keep the Rz value within the above-mentioned relatively narrow range, the above-mentioned electrolysis conditions are used during the production of the electrolytic copper foil. An appropriately selected electrolytic copper foil having a mat surface having an Rz value of not more than 2.0 μm is continuously manufactured with a smooth surface, and the mat surface is subjected to a roughening treatment as described below to obtain an Rz value of 2.0.
Preferably, the height is increased to 0 to 4.0 μm.

【0033】例えば、電解銅箔製造における最終工程
で、既に製箔されている銅箔のマット面に更に粒子径が
0.2〜2.0μmの銅粒子を突起物として析出させるこ
とにより、その銅粒子が80%以上占有している粗化粒
子層を形成するという処理である。
For example, in the final step in the production of an electrolytic copper foil, copper particles having a particle diameter of 0.2 to 2.0 μm are further precipitated on the mat surface of the already produced copper foil as projections, thereby obtaining This is a process of forming a roughened particle layer in which copper particles occupy 80% or more.

【0034】粗化粒子層を構成する粒子の径が0.2μ
mより小さい場合は、当該突起物の基材への喰い込み深
さは浅くなるため接合強度を高める効果は不充分であ
り、逆に2.0μmより大きい場合は、確かに上記接合
強度は高くなるものの、他方では銅箔の表面粗度が大き
くなってEf値は小さくなり、ファインな回路パターン
の形成に難点が生ずる。また、粗化粒子層における0.
2〜2.0μmの粒子の占有割合が80%より少なくな
っていても、上記したような不都合が発現してくる。こ
のようなことから粗化粒子層の粒子径は0.2〜2.0μ
mとし、それが80%以上に占有するように制御するこ
とが好ましい。
The particles constituting the roughened particle layer have a diameter of 0.2 μm.
When the diameter is smaller than m, the effect of increasing the bonding strength is insufficient because the depth of the protrusion into the base material is shallow, and when the diameter is larger than 2.0 μm, the bonding strength is certainly higher. On the other hand, on the other hand, the surface roughness of the copper foil becomes large and the Ef value becomes small, which causes difficulty in forming a fine circuit pattern. Also, 0.1 in the roughened particle layer.
Even if the occupation ratio of the particles having a particle size of 2 to 2.0 μm is less than 80%, the above-described inconvenience appears. For this reason, the particle size of the roughened particle layer is 0.2 to 2.0 μm.
It is preferable to control m so that it occupies 80% or more.

【0035】このとき、上記した粗化粒子層を短時間で
形成しようとすると、銅粒子が銅箔表面に局部的に樹枝
状に成長し、形成された粗化粒子層のRz値は非常に大
きくなってしまい、ファインな回路パターンの形成が困
難になる。
At this time, if it is attempted to form the above-mentioned roughened particle layer in a short time, the copper particles grow locally in a dendritic manner on the copper foil surface, and the Rz value of the formed roughened particle layer becomes very large. This makes it difficult to form a fine circuit pattern.

【0036】そのため、形成されてくる粗化粒子層のR
z値を低くしながら、銅箔の全面に銅粒子を薄く均一に
析出させるように、浴組成や浴温、電流密度や電解時間
などの条件を制御することが好ましい。
Therefore, the R of the formed roughened particle layer
It is preferable to control conditions such as bath composition, bath temperature, current density, and electrolysis time so as to deposit copper particles thinly and uniformly on the entire surface of the copper foil while lowering the z value.

【0037】なお、粗化粒子層を構成する銅粒子が脱落
することを防止するために、形成された粗化粒子層の表
面に薄くかつ緻密な銅めっき(カプセルめっき)層を設
けてもよい。
In order to prevent the copper particles constituting the roughened particle layer from falling off, a thin and dense copper plating (capsule plating) layer may be provided on the surface of the formed roughened particle layer. .

【0038】また、粗化粒子層の形成に際しては、最初
に、粒子径が比較的粗い銅粒子をマット面に薄く均一に
形成(1次粗化)し、ついでそこに、粒子径が小さい微
細な銅粒子を析出(2次粗化)させて粗化粒子層にする
ことが好ましい。
In forming the roughened particle layer, first, copper particles having a relatively large particle diameter are formed thinly and uniformly on the mat surface (primary roughening), and then fine particles having a small particle diameter are formed thereon. It is preferable to deposit (secondary roughening) such copper particles into a roughened particle layer.

【0039】このとき、1次粗化に続けて連続的に2次
粗化を行ってもよく、また、1次粗化後、その上に前記
したカプセルめっき層を形成したのち別工程で2次粗化
を行ってもよい。
At this time, the secondary roughening may be continuously performed after the primary roughening. After the primary roughening, the above-mentioned encapsulation plating layer is formed thereon, and then the second roughening is performed in another step. Subsequent roughening may be performed.

【0040】このようにして、本発明の電解銅箔はその
マット面におけるRz値が2.0〜4.0μmに調整され
る。前記した2次粗化処理後にあっても、そのRz値は
上記範囲に設定されることが必要である。
Thus, the Rz value on the matte surface of the electrolytic copper foil of the present invention is adjusted to 2.0 to 4.0 μm. Even after the secondary roughening process, the Rz value needs to be set in the above range.

【0041】なお、上記した粗化粒子層を形成する素材
である電解銅箔は、その厚みが8〜10μmであること
が好ましい。厚みが10μmより厚くなると、Ef値は
小さくなり、線間や線幅が50μm前後のファインな回
路パターンの形成が困難になり、また8μmより薄いも
のは、ピンホールの影響で回路断線を起こすこともあ
り、しかも銅箔強度が低いのでハンドリングが困難にな
るからである。
The thickness of the electrolytic copper foil, which is a material for forming the above-mentioned roughened particle layer, is preferably 8 to 10 μm. When the thickness is more than 10 μm, the Ef value becomes small, and it becomes difficult to form a fine circuit pattern having a line interval and a line width of about 50 μm. If the thickness is less than 8 μm, the circuit breaks due to a pinhole. This is because the copper foil strength is low and handling becomes difficult.

【0042】このようにして形成されている粗化面1a
の上に、ニッケル層2と亜鉛層3が積層されている。
The roughened surface 1a thus formed
A nickel layer 2 and a zinc layer 3 are stacked on the substrate.

【0043】最上層である亜鉛層3は、銅箔と基材とを
接着剤を用いて例えば熱圧着したときに、銅と接着剤と
の反応による前記接着剤の劣化や銅箔表面の酸化を防止
するために設けられる層であり、またニッケル層2は亜
鉛層3の亜鉛が銅箔側へ熱拡散することを防止し、もっ
て亜鉛層3の前記機能を有効に発揮させることにより銅
箔と基材との接合強度を向上させるために設けられる。
The zinc layer 3, which is the uppermost layer, is formed by, for example, thermocompression bonding of a copper foil and a base material with an adhesive, the degradation of the adhesive due to the reaction between the copper and the adhesive, and the oxidation of the copper foil surface. The nickel layer 2 prevents the zinc of the zinc layer 3 from being thermally diffused to the copper foil side, and thereby effectively exerts the above-described function of the zinc layer 3 so that the copper layer 2 It is provided to improve the bonding strength between the substrate and the base material.

【0044】ここで、亜鉛は銅へ拡散しやすいので、亜
鉛層3の厚みが薄すぎると、拡散の結果、銅箔表面に存
在する亜鉛の量は極度に減少してしまい、結局、亜鉛層
3を形成した意味は消失してしまう。亜鉛層3の厚みが
厚くなれば上記した問題は起こらなくなるが、しかし他
方ではエッチング時に溶出する亜鉛量も多くなって銅箔
の粗化面と基材との間にクリアランスが生じてこの場合
も接合強度の低下が引き起こされる。このようなことか
ら、亜鉛層3の厚みは、0.15〜0.5mg/dm2の範囲に
設定されることが必要になる。
Here, since zinc is easily diffused into copper, if the thickness of the zinc layer 3 is too thin, the amount of zinc existing on the surface of the copper foil is extremely reduced as a result of the diffusion. The meaning of forming 3 disappears. When the thickness of the zinc layer 3 is increased, the above-mentioned problem does not occur. However, on the other hand, the amount of zinc eluted at the time of etching also increases, and a clearance is generated between the roughened surface of the copper foil and the base material. A decrease in bonding strength is caused. For this reason, the thickness of the zinc layer 3 needs to be set in the range of 0.15 to 0.5 mg / dm 2 .

【0045】一方、亜鉛の拡散防止層として機能するニ
ッケル層2の厚みは、上記した亜鉛層3の厚みと相関関
係をもっている。
On the other hand, the thickness of the nickel layer 2 functioning as a zinc diffusion preventing layer has a correlation with the thickness of the zinc layer 3 described above.

【0046】例えば、ニッケル層2の厚みが薄い場合に
は、亜鉛の拡散防止層としての機能は充分に発揮されな
いので、銅箔と基材との接合強度を高めるときには、銅
箔側への亜鉛の拡散量を見込んで比較的多量の亜鉛をニ
ッケル層2の上に存在させることが必要になる。そし
て、ニッケル層2の厚みを0.01mg/dm2よりも薄くす
ると、亜鉛の拡散防止層としての機能はほとんど発現せ
ず、また0.04〜0.05mg/dm2の厚みのときには、こ
の上に形成する亜鉛層の厚みは、0.15〜0.5mg/dm2
の範囲における下限前後の厚みであっても亜鉛の拡散が
有効に防止できる。
For example, when the thickness of the nickel layer 2 is small, the function as a zinc diffusion preventing layer is not sufficiently exhibited. It is necessary to allow a relatively large amount of zinc to exist on the nickel layer 2 in consideration of the diffusion amount of nickel. When thinner than 0.01 mg / dm 2 the thickness of the nickel layer 2, functions as a diffusion preventing layer of zinc is hardly expressed, and when the thickness of 0.04~0.05mg / dm 2, the The thickness of the zinc layer formed thereon is 0.15 to 0.5 mg / dm 2.
The diffusion of zinc can be effectively prevented even if the thickness is around the lower limit in the range of (1).

【0047】しかし、ニッケル層2の厚みを0.05mg/
dm2より厚くすると、亜鉛の拡散防止層としての機能向
上は達成されるものの、他方では、ニッケル層2はエッ
チングを阻害するので、銅箔のエッチング時にEf値は
小さくなり、ファインな回路パターンの形成ができなく
なる。このようなことから、例えば線間や線幅を50μ
m程度にするためには、ニッケル層2の厚みを、0.0
1〜0.05mg/dm2の範囲に設定することが必要にな
る。
However, the thickness of the nickel layer 2 was 0.05 mg /
When the thickness is more than dm 2 , the function as a zinc diffusion preventing layer is improved, but on the other hand, the nickel layer 2 inhibits the etching, so that the Ef value becomes small at the time of etching the copper foil, so that the fine circuit pattern can be formed. It cannot be formed. For this reason, for example, the space between lines and the line width should be 50 μm.
m, the thickness of the nickel layer 2 is set to 0.0.
It is necessary to set it in the range of 1 to 0.05 mg / dm 2 .

【0048】以上のことから、亜鉛層3の厚みは0.1
5〜0.5mg/dm2に設定される。好ましくは0.15〜
0.3mg/dm2にする。また、ニッケル層2の厚みは、0.
01〜0.05mg/dm2の範囲に設定される。好ましくは
0.015〜0.04mg/dm2にする。このとき、ニッケル
層2の厚みを0.01〜0.15mg/dm2と薄くした場合に
は、亜鉛層3の厚みを0.5mg/dm2近辺に設定し、また
ニッケル層2の厚みを0.04〜0.05mg/dm2と厚くし
たときには、亜鉛層3の厚みは0.15mg/dm2近辺に設
定しても、適切な接合強度を得ることができる。
From the above, the thickness of the zinc layer 3 is 0.1
It is set to 5~0.5mg / dm 2. Preferably 0.15 to
To 0.3mg / dm 2. Further, the thickness of the nickel layer 2 is set to 0.
It is set in the range of 01 to 0.05 mg / dm 2 . Preferably, it is 0.015 to 0.04 mg / dm 2 . At this time, when the thickness of the nickel layer 2 and 0.01~0.15mg / dm 2 sets the thickness of the zinc layer 3 near 0.5 mg / dm 2, also the thickness of the nickel layer 2 when thick as 0.04~0.05mg / dm 2, the thickness of the zinc layer 3 is also set near 0.15 mg / dm 2, it is possible to obtain an appropriate bonding strength.

【0049】なお、これらのニッケル層や亜鉛層は、公
知の電解めっき法や無電解めっき法を適用して形成する
ことが好ましい。また、上記したニッケル層は、純ニッ
ケルで形成してもよく、6重量%以下のリンを含有する
含リンニッケルで形成してもよい。
The nickel layer and the zinc layer are preferably formed by applying a known electrolytic plating method or electroless plating method. Further, the above-mentioned nickel layer may be formed of pure nickel, or may be formed of phosphorus-containing nickel containing 6% by weight or less of phosphorus.

【0050】また、上記電解銅箔の接合面1Aに更にク
ロメート処理を行うと、当該電解銅箔に酸化防止層が形
成される。適用するクロメート処理としては、公知の方
法であってよく、例えば、特開昭60−86894号に
開示されている方法をあげることができる。クロム量に
換算して0.01〜0.2mg/dm2程度のクロム酸化物とそ
の水和物などを付着させることにより、電解銅箔には優
れた防食能を付与することができる。
Further, when a chromate treatment is further performed on the bonding surface 1A of the electrolytic copper foil, an oxidation preventing layer is formed on the electrolytic copper foil. The chromate treatment to be applied may be a known method, for example, a method disclosed in JP-A-60-86894. By adhering about 0.01 to 0.2 mg / dm 2 of chromium oxide and its hydrate in terms of chromium amount, the electrolytic copper foil can be provided with an excellent anticorrosive ability.

【0051】また、前記したクロメート処理面に対し更
にシランカップリング材を用いた表面処理を行うと、銅
箔表面に接着剤との親和力の強い官能基が付与されるの
で、銅箔と基材との接合強度は一層向上し、銅箔の防錆
性,耐熱性も更に向上するので好適である。
Further, when the above-mentioned chromate-treated surface is further subjected to a surface treatment using a silane coupling material, a functional group having a strong affinity for an adhesive is provided on the surface of the copper foil. This is preferable because the bonding strength with the copper foil is further improved, and the rust resistance and heat resistance of the copper foil are further improved.

【0052】用いるシランカップリング材としては、例
えばビニルトリス(2−メトキシエトキシ)シラン,3
−クリシドキシプロピルトリメトキシシラン,N−(2
−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシ
ラン,3−アミノプロピルトリエトキシシランなどをあ
げることができる。これらのシランカップリング剤は通
常0.001〜5%の水溶液にし、これを銅箔の接合面
1Aに塗布したのちそのまま加熱乾燥して用いればよ
い。なお、シランカップリング剤に代えて、チタン系,
ジルコン系などのカップリング剤を用いても同様の効果
を得ることができる。
Examples of the silane coupling material to be used include vinyl tris (2-methoxyethoxy) silane, 3
-Crysidoxypropyltrimethoxysilane, N- (2
-Aminoethyl) -3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-aminopropyltriethoxysilane and the like. These silane coupling agents are usually made into a 0.001 to 5% aqueous solution, applied to the bonding surface 1A of the copper foil, and then heated and dried as it is. Instead of the silane coupling agent, titanium-based,
The same effect can be obtained by using a coupling agent such as a zircon type.

【0053】なお、本発明の銅箔の素材である電解銅箔
の厚みは、前記したように、ファインな回路パターンを
形成するために8〜10μmと非常に薄い。そのため、
強度は小さく、腰が弱いためハンドリング時に皺や折れ
目がつきやすいという問題がある。そこで、表面に離型
性の樹脂フィルムを貼着してハンドリングを行うことが
好ましい。
As described above, the thickness of the electrolytic copper foil, which is the material of the copper foil of the present invention, is as very small as 8 to 10 μm in order to form a fine circuit pattern. for that reason,
There is a problem that wrinkles and folds are apt to be formed during handling due to low strength and low waist. Therefore, it is preferable to perform the handling by attaching a releasable resin film to the surface.

【0054】離型性の樹脂フィルムとしては、例えば粘
着剤を塗布したポリエチレンテレフタレートフィルムを
あげることができる。そして、フィルムの貼着は、粗化
処理の前であっても後であってもよい。
Examples of the releasing resin film include a polyethylene terephthalate film coated with an adhesive. Then, the attachment of the film may be before or after the roughening treatment.

【0055】次に、本発明の樹脂付き銅箔を説明する。Next, the resin-coated copper foil of the present invention will be described.

【0056】この樹脂付き銅箔Bは、図2で示したよう
に、図1の銅箔Aにおける接合面1Aを接着用樹脂で被
覆し、当該接着用樹脂の半硬化状態の絶縁樹脂層4が密
着して接合した構造になっている。
As shown in FIG. 2, the resin-coated copper foil B covers the bonding surface 1A of the copper foil A of FIG. 1 with an adhesive resin, and the insulating resin layer 4 in a semi-cured state of the adhesive resin. Are in close contact with each other.

【0057】ここでいう半硬化状態とは、いわゆるBス
テージ状態であって、表面を指で触れても粘着感はな
く、その樹脂層を重ね合わせて保管することができ、更
に加熱処理を受けると硬化反応が起こる状態のことをい
う。
The semi-cured state referred to herein is a so-called B-stage state, in which the surface of the resin layer is not sticky even when touched with a finger, and the resin layers can be stored in an overlapped state, and further subjected to a heat treatment. And a state in which a curing reaction occurs.

【0058】この樹脂付き銅箔は、接着用樹脂を最適条
件で銅箔に塗布することができ、また一定厚みの接着用
樹脂層が絶縁樹脂層として存在しているのでこの接着用
樹脂を介することにより基材と銅箔との接合強度は高く
なり、しかも熱圧着後の表面は非常に平滑になるので、
高密度な極微細配線の回路パターンの形成を容易にす
る。
In this resin-coated copper foil, an adhesive resin can be applied to the copper foil under optimum conditions, and since the adhesive resin layer having a certain thickness is present as an insulating resin layer, the adhesive resin is interposed. As a result, the bonding strength between the base material and the copper foil increases, and the surface after thermocompression bonding becomes very smooth.
It facilitates formation of a circuit pattern of high-density ultrafine wiring.

【0059】また、この樹脂付き銅箔の場合、銅箔は接
着用樹脂(絶縁樹脂層)でバックアップされた状態にな
っているので、例えば、銅箔が非常に薄いときでも印刷
回路基板の製造時に銅箔の皺や折れ目などは発生しにく
い。すなわち、この樹脂付き銅箔は取り扱いやすい材料
でもある。
Further, in the case of the copper foil with resin, since the copper foil is backed up by the bonding resin (insulating resin layer), for example, even when the copper foil is very thin, the printed circuit board can be manufactured. Occasionally, wrinkles and folds of the copper foil hardly occur. That is, this resin-coated copper foil is also a material that is easy to handle.

【0060】更に、この樹脂付き銅箔を使用すると、銅
張り積層板の製造時におけるプリプレグ材の使用枚数を
減らすこともできる。しかも、接着用樹脂層の厚みを層
間絶縁が確保できるような厚みにしたり、プリプレグ材
を全く使用していなくても銅張り積層板を製造すること
ができる。またこのとき、基材の表面に絶縁樹脂をアン
ダーコートして表面の平滑性を更に改善することもでき
る。
Further, when this resin-coated copper foil is used, the number of prepreg materials used in the production of a copper-clad laminate can be reduced. In addition, a copper-clad laminate can be manufactured even if the thickness of the adhesive resin layer is set so as to ensure interlayer insulation or no prepreg material is used. At this time, the surface of the base material may be undercoated with an insulating resin to further improve the smoothness of the surface.

【0061】なお、上記したようにプリプレグ材を使用
しない場合には、プリプレグ材の材料コストは節約さ
れ、また積層工程も簡略になるので経済的に有利とな
り、しかも、プリプレグ材の厚み分だけ製造される多層
印刷回路基板の厚みは薄くなり、1層の厚みが100μ
m以下である極薄の多層印刷回路基板を製造することが
できるという利点がある。
When the prepreg material is not used as described above, the material cost of the prepreg material is saved, and the lamination process is simplified, so that it is economically advantageous. The thickness of the multilayer printed circuit board is reduced, and the thickness of one layer is 100 μm.
The advantage is that an ultra-thin multilayer printed circuit board having a thickness of not more than m can be manufactured.

【0062】この絶縁樹脂層4の厚みは20〜80μm
であることが好ましい。
The thickness of the insulating resin layer 4 is 20 to 80 μm
It is preferred that

【0063】絶縁樹脂層4の厚みが20μmより薄くな
ると、接着力は低下し、プリプレグ材を介在させること
なくこの樹脂付き銅箔を内層材を備えた基材に積層した
ときに、内層材の回路との間の層間絶縁を確保すること
が困難になるからである。
When the thickness of the insulating resin layer 4 is thinner than 20 μm, the adhesive strength is reduced, and when the copper foil with resin is laminated on a substrate having an inner layer material without interposing a prepreg material, This is because it becomes difficult to ensure interlayer insulation between the circuit and the circuit.

【0064】また、絶縁樹脂層の厚みを80μmより厚
くすると、1回の塗布工程で目的厚みの絶縁樹脂層を形
成することが困難となり、余分な材料費と工数がかかる
ため経済的に不利となる。更には、形成された絶縁樹脂
層はその可撓性が劣るので、ハンドリング時にクラック
などが発生しやすくなり、また内層材との熱圧着時に過
剰な樹脂流れが起こって円滑な積層が困難になるからで
ある。
If the thickness of the insulating resin layer is larger than 80 μm, it becomes difficult to form an insulating resin layer having a desired thickness in a single coating step, so that extra material costs and man-hours are required, which is economically disadvantageous. Become. Furthermore, since the formed insulating resin layer is inferior in flexibility, cracks and the like are likely to occur during handling, and excessive resin flow occurs during thermocompression bonding with the inner layer material, making smooth lamination difficult. Because.

【0065】[0065]

【実施例】実施例1 (1)電解銅箔の製造 下記の条件で、長さ300mm,幅300mm,厚み10μ
mの電解銅箔を製造した。
EXAMPLE 1 (1) Production of Electrodeposited Copper Foil Under the following conditions, length 300mm, width 300mm, thickness 10μ
m of electrolytic copper foil was manufactured.

【0066】浴組成:金属銅55g/L,硫酸55g/L,塩
化物イオン30ppm(NaClとして),3−メルカプ
ト1−プロパンスルホン酸ナトリウム1.5ppm,ヒドロ
キシエチルセルロース10ppm。
Bath composition: 55 g / L of metallic copper, 55 g / L of sulfuric acid, 30 ppm of chloride ion (as NaCl), 1.5 ppm of sodium 3-mercapto 1-propanesulfonate, 10 ppm of hydroxyethylcellulose.

【0067】浴温:58℃。Bath temperature: 58 ° C.

【0068】対極:含リン銅板。Counter electrode: Phosphorus-containing copper plate.

【0069】電流密度:50A/dm2Current density: 50 A / dm 2 .

【0070】得られた電解銅箔のマット面の表面粗度を
JISB0601で規定する方法によって測定した。1
0点平均表面粗度(Rz)は1.2μmであった。 (2)粗化処理 まず、金属銅:20g/L,硫酸:100g/Lから成る組成
の電析浴を建浴した。これを浴(1)とする。また、金属
銅:60g/L,硫酸:100g/Lから成る電析浴を建浴し
た。これを浴(2)とする。前記した電解銅箔のマット面
を、浴(1)を用い、浴温25℃,電流密度30A/dm2
条件下で5秒間の粗化処理(粗化粒子層の形成)を行
い、上記マット面に銅粒子を析出させた。ついで、浴
(2)を用い、浴温60℃,電流密度15A/dm2の条件下
で10秒間のめっき処理を行い、前記銅粒子を被覆する
緻密な銅のカプセルめっき層を形成した。
The surface roughness of the matte surface of the obtained electrolytic copper foil was measured by the method specified in JIS B0601. 1
The zero point average surface roughness (Rz) was 1.2 μm. (2) Roughening treatment First, an electrodeposition bath having a composition of metallic copper: 20 g / L and sulfuric acid: 100 g / L was constructed. This is called bath (1). Further, an electrodeposition bath composed of metallic copper: 60 g / L and sulfuric acid: 100 g / L was constructed. This is called bath (2). The matte surface of the electrolytic copper foil was subjected to a roughening treatment (formation of a roughened particle layer) for 5 seconds in a bath (1) under the conditions of a bath temperature of 25 ° C. and a current density of 30 A / dm 2. Copper particles were deposited on the mat surface. Then bath
Using (2), a plating treatment was performed for 10 seconds at a bath temperature of 60 ° C. and a current density of 15 A / dm 2 to form a dense copper encapsulation plating layer covering the copper particles.

【0071】この時点で表面を顕微鏡観察したところ、
全面に微粒子状の突起物が形成されている粗化面になっ
ていた。この突起物の粒子径の最大値は1.9μm,最
小値は0.7μmであり、またRz値は3.4μmであっ
た。
At this point, when the surface was observed with a microscope,
The entire surface had a roughened surface on which fine protrusions were formed. The maximum value of the particle diameter of the projections was 1.9 μm, the minimum value was 0.7 μm, and the Rz value was 3.4 μm.

【0072】(3)ニッケル層,亜鉛めっき層の形成 下記組成のニッケルめっき浴を建浴した。(3) Formation of nickel layer and zinc plating layer A nickel plating bath having the following composition was prepared.

【0073】硫酸ニッケル六水塩240g/L,塩化ニッ
ケル六水塩45g/L,ホウ酸30g/L,次亜リン酸ナトリ
ウム5g/L。
Nickel sulfate hexahydrate 240 g / L, nickel chloride hexahydrate 45 g / L, boric acid 30 g / L, sodium hypophosphite 5 g / L.

【0074】また、下記組成の亜鉛めっき浴を建浴し
た。
A galvanizing bath having the following composition was prepared.

【0075】硫酸亜鉛七水塩24g/L,水酸化ナトリウ
ム85g/L。
Zinc sulfate heptahydrate 24 g / L, sodium hydroxide 85 g / L.

【0076】前記電解銅箔の粗化面に、ニッケルめっき
浴の浴温を50℃とし、対極にステンレス鋼板を用い、
電流密度0.5A/dm2で1秒間のニッケルめっきを行
い、粗化面に厚みが約0.02mg/dm2の含リンニッケル
めっき層を形成し、更にその上に、亜鉛めっき浴の浴温
を25℃とし、対極にステンレス鋼板を用い、電流密度
0.4A/dm2で2秒間の亜鉛めっきを行い、厚みが約0.
20mg/dm2の亜鉛めっき層を形成した。
On the roughened surface of the electrolytic copper foil, the bath temperature of the nickel plating bath was set at 50 ° C., and a stainless steel plate was used as a counter electrode.
Nickel plating at a current density of 0.5 A / dm 2 for 1 second to form a phosphorus-containing nickel plating layer having a thickness of about 0.02 mg / dm 2 on the roughened surface. The temperature was 25 ° C., zinc plating was performed for 2 seconds at a current density of 0.4 A / dm 2 using a stainless steel plate as a counter electrode, and the thickness was about 0.4 mm.
A zinc plating layer of 20 mg / dm 2 was formed.

【0077】(4)表面処理 ついで、銅箔を水洗したのち、三酸化クロム3g/L,p
H11.5の水酸化ナトリウム水溶液(液温:55℃)
に6秒間浸漬してクロメート処理を行い、水洗乾燥し
た。
(4) Surface treatment Then, the copper foil was washed with water, and then chromium trioxide was added at 3 g / L, p
H11.5 aqueous sodium hydroxide solution (liquid temperature: 55 ° C)
For 6 seconds to perform chromate treatment, washed with water and dried.

【0078】更に、銅箔を、ビニルトリス(2−メトキ
シエトキシ)シラン2g/Lの水溶液に10秒間浸漬した
のち取り出し、ついで銅箔の表面を軟質ゴム板でしごい
て水切りを行ったのち温度100℃で乾燥してシランカ
ップリング剤処理を行った。
Further, the copper foil was immersed in an aqueous solution of 2 g / L of vinyl tris (2-methoxyethoxy) silane for 10 seconds and then taken out. Then, the surface of the copper foil was drained by squeezing the surface of the copper foil with a soft rubber plate. It dried at ℃ and performed the silane coupling agent treatment.

【0079】(5)片面銅張り積層板の製造 上記した銅箔を、厚み1mmのガラス繊維エポキシプレプ
リグシート(FR−4)の上に配置し、全体を2枚の平
滑なステンレス鋼板で挟み、温度170℃,圧力50kg
/cm2で60分間熱圧着し、厚み1mmの片面銅張り積層板
を製造した。
(5) Production of single-sided copper-clad laminate The above-mentioned copper foil was placed on a glass fiber epoxy prepreg sheet (FR-4) having a thickness of 1 mm, and the whole was sandwiched between two smooth stainless steel plates. 170 ℃, pressure 50kg
Thermocompression bonding was carried out at 60 cm / cm 2 for 60 minutes to produce a single-sided copper-clad laminate having a thickness of 1 mm.

【0080】(6)接合強度とエッチング特性の測定 下記の仕様で銅箔のエッチング特性と、銅箔とプレプリ
グ材との接合強度、および耐塩酸性を測定した。
(6) Measurement of bonding strength and etching characteristics The etching characteristics of the copper foil, the bonding strength between the copper foil and the prepreg material, and the hydrochloric acid resistance were measured according to the following specifications.

【0081】エッチング特性:片面銅張り積層板の銅箔
表面に厚み15μmの銅めっきを行ったのち縦100m
m,横100mmの試料を切り出した。試料の銅めっき層
の上に、厚み2.5μmのレジスト膜を形成したのち線
幅35μm,線間25μmの直線平行パターンを描画現
像した。ついで、塩化第二鉄2.0モル/L,塩酸0.4モル/L
から成るエッチャントをスプレーしてエッチング処理を
行い回路パターンを形成した。
Etching characteristics: Copper plating of a thickness of 15 μm was performed on the copper foil surface of the single-sided copper-clad laminate, and then 100 m long
A sample having a width of 100 mm was cut out. After a resist film having a thickness of 2.5 μm was formed on the copper plating layer of the sample, a linear parallel pattern having a line width of 35 μm and a line interval of 25 μm was drawn and developed. Then, ferric chloride 2.0 mol / L, hydrochloric acid 0.4 mol / L
Was sprayed to form a circuit pattern.

【0082】なお、積層板へのエッチング時間は、同一
積層板を用いて予備試験を行い、回路パターンの基部に
残銅が認められなくなるまでの最適時間を調べ、当該時
間を採用した。
As for the etching time for the laminated board, a preliminary test was carried out using the same laminated board, and the optimum time until no residual copper was observed at the base of the circuit pattern was examined.

【0083】得られた回路パターンにつき、ショート部
と切断部の有無を顕微鏡観察した。いずれも存在しない
ものを良好とした。 接合強度:片面銅張り積層板から試料を切りだし、その
試料に付き、JISC6511で規定する方法に準拠し
て引き剥がし強度を測定した。なお、この値が0.8kg/
cm以上であるものは良品と判定される。
The resulting circuit pattern was observed under a microscope for the presence of shorts and cuts. Those which did not exist were evaluated as good. Bonding strength: A sample was cut out from a single-sided copper-clad laminate, and the sample was peeled off and the peeling strength was measured in accordance with the method specified in JIS C6511. This value is 0.8kg /
Those having a size of not less than cm are judged to be good products.

【0084】耐塩酸性:線幅1mmのテストパターン描画
試料を濃度12%の塩酸(温度25℃)に30分間浸漬
したのち取り出して前記した引き剥がし強度を測定し、
塩酸浸漬前後における引き剥がし強度の低下率(%)を
算出した。この値が小さいものほど耐塩酸性が優れてい
ることを表す。
Hydrochloric acid resistance: A test pattern drawing sample having a line width of 1 mm was immersed in hydrochloric acid (concentration: 25 ° C.) having a concentration of 12% for 30 minutes, taken out, and the above-mentioned peeling strength was measured.
The rate of decrease (%) in peel strength before and after immersion in hydrochloric acid was calculated. The smaller the value, the better the hydrochloric acid resistance.

【0085】測定結果は以下の通りであった。The measurement results were as follows.

【0086】エッチング特性:ショート部も切断部もな
し(良好)。
Etching characteristics: Neither short portions nor cut portions (good).

【0087】引き剥がし強度:0.92kg/cm。Peel strength: 0.92 kg / cm.

【0088】耐塩酸性:1.0%。Hydrochloric acid resistance: 1.0%.

【0089】実施例2 実施例1と同じ電解銅箔に対し、浴(1)の処理時間を3.
5秒、浴(2)の処理時間を8秒にして1次粗化を行っ
た。形成された銅粒子の粒子径の最大値は1.7μm、
最小値は0.5μmであり、表面のRz値は3.1μmで
あった。
Example 2 For the same electrolytic copper foil as in Example 1, the treatment time of the bath (1) was set to 3.
The primary roughening was performed for 5 seconds and the treatment time of the bath (2) was set to 8 seconds. The maximum value of the particle size of the formed copper particles is 1.7 μm,
The minimum value was 0.5 μm, and the surface Rz value was 3.1 μm.

【0090】次に、金属銅65g/L,硫酸110g/Lから
成る電析浴を建浴した。これを浴(3)という。
Next, an electrodeposition bath composed of 65 g / L of metallic copper and 110 g / L of sulfuric acid was established. This is called bath (3).

【0091】前記した1次粗化した面に、浴(3)を用
い、浴温55℃,電流密度3.5A/dm2の条件下で10
秒間の粗化処理を行って2次粗化し、粗化粒子層を形成
した。得られた粗化面の突起物における粒子径の最大値
は0.9μm、最小値は0.2μmであり、Rz値は3.
8μmであった。
A bath (3) was applied to the first roughened surface at a bath temperature of 55 ° C. and a current density of 3.5 A / dm 2.
A second roughening treatment was performed for 2 seconds to form a roughened particle layer. The maximum value of the particle diameter of the projections on the roughened surface obtained was 0.9 μm, the minimum value was 0.2 μm, and the Rz value was 3.0 μm.
It was 8 μm.

【0092】この銅箔の粗化面に、実施例1と同様の条
件で、含リンニッケルめっき層,亜鉛めっき層を順次形
成したのち、クロメート処理,シランカップリング剤処
理を行った。
After forming a phosphorous nickel plating layer and a zinc plating layer in this order on the roughened surface of the copper foil under the same conditions as in Example 1, a chromate treatment and a silane coupling agent treatment were performed.

【0093】得られた銅箔を用いて実施例1と同様にし
て片面銅張り積層板を製造し、その特性を評価した。結
果は以下の通りである。 エッチング特性:ショート部も切断部もなし(良好)。
Using the obtained copper foil, a single-sided copper-clad laminate was produced in the same manner as in Example 1, and its characteristics were evaluated. The results are as follows. Etching characteristics: No short section or cut section (good).

【0094】引き剥がし強度:0.95kg/cm。Peel strength: 0.95 kg / cm.

【0095】耐塩酸性:1.1%。Hydrochloric acid resistance: 1.1%.

【0096】この実施例2の銅箔の場合、実施例1の銅
箔の場合に比べプリプレグ材との引き剥がし強度が大き
くなっている。これは、電解銅箔の表面に対し、2次に
亘る粗化処理を施した効果である。
In the case of the copper foil of Example 2, the peel strength with the prepreg material is larger than that of the copper foil of Example 1. This is an effect of performing a secondary roughening treatment on the surface of the electrolytic copper foil.

【0097】実施例3〜6,比較例1〜4 ニッケルめっき,亜鉛めっき時におけるそれぞれの処理
時間を変えて、含リンニッケルめっき層,亜鉛めっき層
の厚みを表1で示したように変化させたことを除いて
は、実施例1と同様にして銅箔を製造した。
Examples 3 to 6 and Comparative Examples 1 to 4 The thicknesses of the phosphorus-containing nickel plating layer and the zinc plating layer were changed as shown in Table 1 by changing the respective treatment times during nickel plating and zinc plating. A copper foil was manufactured in the same manner as in Example 1 except for the above.

【0098】そして、それら銅箔を用いて実施例1の場
合と同様にして片面銅張り積層板を製造し、それらの特
性を評価した。その結果を表1に示した。
Then, a single-sided copper-clad laminate was manufactured in the same manner as in Example 1 using these copper foils, and their characteristics were evaluated. The results are shown in Table 1.

【0099】[0099]

【表1】 表1の比較例1,比較例2を対比して明らかなように、
亜鉛めっき層の厚みが同じであっても含リンニッケルめ
っき層の厚みが薄すぎると引き剥がし強度の低下が起こ
り、逆に厚すぎるとエッチング特性の劣化が認められ
る。また、比較例3,比較例4を対比して明らかなよう
に、含リンめっき層の厚みが同じであっても、亜鉛めっ
き層の厚みが厚すぎると耐塩酸性の劣化が認められる。
[Table 1] As apparent from comparison of Comparative Example 1 and Comparative Example 2 in Table 1,
Even if the thickness of the zinc plating layer is the same, if the thickness of the phosphorus-containing nickel plating layer is too thin, the peeling strength decreases, and if it is too thick, the etching characteristics deteriorate. Further, as is apparent from comparison between Comparative Examples 3 and 4, even if the thickness of the phosphorus-containing plating layer is the same, if the thickness of the zinc plating layer is too large, deterioration of hydrochloric acid resistance is recognized.

【0100】これに対し、含リンニッケルめっき層の厚
みを0.015〜0.05mg/dm2の範囲内に設定し、かつ
亜鉛めっき層の厚みを0.15〜0.5mg/dm2の範囲内に
設定している実施例1〜4の場合は、特性評価が良好で
ある。
[0100] In contrast, to set the thickness of the phosphorus-containing nickel plating layer within the range of 0.015~0.05mg / dm 2, and the thickness of the galvanized layer of 0.15~0.5mg / dm 2 In the case of Examples 1 to 4 set within the range, the characteristic evaluation is good.

【0101】実施例7 エピクロン1121−75M(商品名、大日本インキ化
学工業(株)製のビスフェノールA型エポキシ樹脂)1
30重量部と、ジシアンシアナミド2.1重量部と、2
−エチル−4−メチルイミダゾール0.1重量部と、メ
チルセロソルブ20重量部とを混合して熱硬化性の接着
用樹脂ワニスを調製した。
Example 7 Epicron 1121-75M (trade name, bisphenol A type epoxy resin manufactured by Dainippon Ink and Chemicals, Inc.) 1
30 parts by weight, 2.1 parts by weight of dicyancyanamide,
-Ethyl-4-methylimidazole (0.1 part by weight) and methylcellosolve (20 parts by weight) were mixed to prepare a thermosetting adhesive resin varnish.

【0102】シランカップリング剤処理が終了した実施
例1の銅箔の表面に上記樹脂ワニスをロールコータで厚
み4.0mg/dm2となるように塗布したのち、温度160
℃で5分間熱処理してBステージの絶縁樹脂層とし、図
2で示した樹脂付き銅箔を製造した。
The above resin varnish was applied to the surface of the copper foil of Example 1 having been subjected to the silane coupling agent treatment to a thickness of 4.0 mg / dm 2 by a roll coater.
A heat treatment was performed at 5 ° C. for 5 minutes to form a B-stage insulating resin layer, and the resin-coated copper foil shown in FIG. 2 was produced.

【0103】この樹脂付き銅箔を用いて実施例1の場合
と同様にして片面銅張り積層板を製造し、その特性を評
価した。結果は以下の通りである。 エッチング特性:良好。
Using this resin-coated copper foil, a single-sided copper-clad laminate was manufactured in the same manner as in Example 1, and the characteristics were evaluated. The results are as follows. Etching characteristics: good.

【0104】引き剥がし強度:0.97kg/cm。Peel strength: 0.97 kg / cm.

【0105】耐塩酸性:1.0%。Hydrochloric acid resistance: 1.0%.

【0106】[0106]

【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
銅箔および樹脂付き銅箔は、表面のRz値が比較的小さい
値であるにもかかわらず、基材との接合強度は高く、し
かもエッチング時のEf値も大きく、線間や線幅が50
μm前後の高密度超微細配線を有する印刷回路基板用の
銅箔として好適である。
As is clear from the above description, the copper foil and the resin-coated copper foil of the present invention have a high bonding strength with the base material despite the relatively small surface Rz value. Further, the Ef value at the time of etching is large, and
It is suitable as a copper foil for a printed circuit board having a high-density ultrafine wiring of about μm.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の銅箔Aの1例を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing one example of a copper foil A of the present invention.

【図2】本発明の樹脂付き銅箔Bの1例を示す断面図で
ある。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing one example of a copper foil with resin B of the present invention.

【図3】エッチングファクタを説明するための部分断面
図である。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view for explaining an etching factor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 電解銅箔 1a 電解銅箔1の粗化面 2 ニッケル層 3 亜鉛層 4 絶縁樹脂層 5 回路パターン 6 基材 Reference Signs List 1 electrolytic copper foil 1a roughened surface of electrolytic copper foil 1 2 nickel layer 3 zinc layer 4 insulating resin layer 5 circuit pattern 6 base material

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H05K 3/38 H05K 3/38 B (72)発明者 清野 正三 栃木県今市市荊沢601−2 古河サーキッ トフォイル株式会社内──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code FI H05K 3/38 H05K 3/38 B (72) Inventor Shozo Seino 601-2 Jingzawa, Imaichi, Tochigi Pref. Furukawa Circuit Foil Co., Ltd.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表面粗度(Rz)2.0〜4.0μmの粗
化面を有する電解銅箔と、前記電解銅箔の粗化面の上に
形成された厚み0.01〜0.05mg/dm2のニッケル層
と、前記ニッケル層の上に形成された厚み0.15〜0.
5mg/dm2の亜鉛層とから成ることを特徴とする印刷回路
基板用の銅箔。
1. An electrolytic copper foil having a roughened surface having a surface roughness (Rz) of 2.0 to 4.0 μm, and a thickness of 0.01 to 0.01 formed on the roughened surface of the electrolytic copper foil. A nickel layer of 0.05 mg / dm 2 and a thickness of 0.15 to 0.1 mm formed on the nickel layer.
A copper foil for a printed circuit board, comprising a zinc layer of 5 mg / dm 2 .
【請求項2】 前記電解銅箔の粗化面は、表面粗度(R
z)2.0μm以下の電解銅箔の表面に形成された粒子
径0.2〜2.0μmの粒子が80%以上占有する粗化粒
子層の面である請求項1の印刷回路基板用の銅箔。
2. The roughened surface of the electrolytic copper foil has a surface roughness (R
z) The surface of a roughened particle layer occupying 80% or more of particles having a particle diameter of 0.2 to 2.0 μm formed on the surface of an electrolytic copper foil having a thickness of 2.0 μm or less. Copper foil.
【請求項3】 請求項1または2の印刷回路用の銅箔の
前記亜鉛層の表面に、厚み20〜80μmの半硬化状態
の絶縁樹脂層が密着して接合していることを特徴とする
印刷回路基板用の樹脂付き銅箔。
3. A semi-cured insulating resin layer having a thickness of 20 to 80 μm is tightly joined to the surface of the zinc layer of the copper foil for a printed circuit according to claim 1 or 2. Copper foil with resin for printed circuit boards.
【請求項4】 前記電解銅箔の粗化面と反対側の表面
に、離型性の樹脂フィルムが貼着されている請求項1の
印刷回路基板用の銅箔。
4. The copper foil for a printed circuit board according to claim 1, wherein a releasable resin film is adhered to the surface of the electrolytic copper foil opposite to the roughened surface.
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