JPH11352068A - ダイヤモンド判別方法及び装置 - Google Patents
ダイヤモンド判別方法及び装置Info
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- JPH11352068A JPH11352068A JP17533998A JP17533998A JPH11352068A JP H11352068 A JPH11352068 A JP H11352068A JP 17533998 A JP17533998 A JP 17533998A JP 17533998 A JP17533998 A JP 17533998A JP H11352068 A JPH11352068 A JP H11352068A
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 ダイヤモンドが天然か人工かを簡便且つ高精
度で判別する方法及び装置を提供する。 【解決手段】 分析用通過光線は分光分析用受光器で捕
捉された後、異なる３つの波長の実測吸収値７，９，１
０を検出する３つの検出器により、それぞれ天然ダイヤ
モンド特有の吸収波長である４１５ナノメーターの特定
波長ａ、特定波長ａより短い波長ｂ、特定波長ａより長
い波長ｃにおける実測吸収値７、９、１０が実測され
る。次に実測吸収値９及び１０のみから、人工ダイヤモ
ンドのごとく特定波長ａでの吸収が顕著でないと仮定し
た吸収スペクトル特性曲線１２を仮想し、この吸収スペ
クトル特性曲線１２上の特定波長ａに対応する仮想吸収
値８を求める。この仮想吸収値８と特定波長ａでの実測
吸収値７との差の値Ａを求める。
度で判別する方法及び装置を提供する。 【解決手段】 分析用通過光線は分光分析用受光器で捕
捉された後、異なる３つの波長の実測吸収値７，９，１
０を検出する３つの検出器により、それぞれ天然ダイヤ
モンド特有の吸収波長である４１５ナノメーターの特定
波長ａ、特定波長ａより短い波長ｂ、特定波長ａより長
い波長ｃにおける実測吸収値７、９、１０が実測され
る。次に実測吸収値９及び１０のみから、人工ダイヤモ
ンドのごとく特定波長ａでの吸収が顕著でないと仮定し
た吸収スペクトル特性曲線１２を仮想し、この吸収スペ
クトル特性曲線１２上の特定波長ａに対応する仮想吸収
値８を求める。この仮想吸収値８と特定波長ａでの実測
吸収値７との差の値Ａを求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ダイヤモンドを分
光分析により天然ダイヤモンドか人工ダイヤモンドか判
別するダイヤモンド判別方法及び装置に関する。
光分析により天然ダイヤモンドか人工ダイヤモンドか判
別するダイヤモンド判別方法及び装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ダイヤモンドの鑑定・鑑別の重要な項目
の一つに当該ダイヤモンドが天然であるか人工であるか
の判別がある。ダイヤモンドに関しては、天然ダイヤモ
ンドは分光分析曲線で図２の曲線１１のごとく特定の波
長４１５ナノメーターにおいて顕著な吸収が観察される
ことが知られているが、人工ダイヤモンドでは同図の曲
線１２のごとく顕著な吸収が現れない。従って、ダイヤ
モンドが天然であるか否かは、曲線１１のごとく特定波
長４１５ナノメーターにおいて顕著な吸収が観察される
か否かで判別することが最も信頼性の高い判別原理であ
ることが知られている。図６に従来のダイヤモンドの天
然か人工かの判別方法を示す。被判別ダイヤモンド１４
はカット済みであり、頂面を上に向けて保持される。分
析用光源装置１７から放射される入射光線１５が被判別
ダイヤモンド１４に入り、内部で何回かの反射の後その
一部が通過光線１６となって分析用光源装置１７と略同
軸に設置された受光部に捕捉される。ここで捕捉された
通過光線１６は特定波長４１５ナノメーターの波長の光
を検出する検出器に入り、４１５ナノメーターの分光が
検出されたか否かにより被判別ダイヤモンド１４は天然
か人工かに判別される。
の一つに当該ダイヤモンドが天然であるか人工であるか
の判別がある。ダイヤモンドに関しては、天然ダイヤモ
ンドは分光分析曲線で図２の曲線１１のごとく特定の波
長４１５ナノメーターにおいて顕著な吸収が観察される
ことが知られているが、人工ダイヤモンドでは同図の曲
線１２のごとく顕著な吸収が現れない。従って、ダイヤ
モンドが天然であるか否かは、曲線１１のごとく特定波
長４１５ナノメーターにおいて顕著な吸収が観察される
か否かで判別することが最も信頼性の高い判別原理であ
ることが知られている。図６に従来のダイヤモンドの天
然か人工かの判別方法を示す。被判別ダイヤモンド１４
はカット済みであり、頂面を上に向けて保持される。分
析用光源装置１７から放射される入射光線１５が被判別
ダイヤモンド１４に入り、内部で何回かの反射の後その
一部が通過光線１６となって分析用光源装置１７と略同
軸に設置された受光部に捕捉される。ここで捕捉された
通過光線１６は特定波長４１５ナノメーターの波長の光
を検出する検出器に入り、４１５ナノメーターの分光が
検出されたか否かにより被判別ダイヤモンド１４は天然
か人工かに判別される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】天然ダイヤモンドであ
ることを最も正確に知るには、或程度広範囲の波長に対
する連続測定値群から図２に示すごとき曲線１１を求
め、その全体形状から波長４１５ナノメーターで顕著な
吸収があることを検知するのがよい。しかし、そのため
には分光分析器が高価で設置面積の大きいものとなり、
ダイヤモンドのような店頭取り扱い品には不適である。
従って、従来の技術においては曲線１１のごとき広範囲
の測定をせずに、前記図６に示すごとく被判別ダイヤモ
ンド１４を通過後の光線１６に、単に４１５ナノメータ
ーの波長が検出されるか否かのみを測定して、４１５ナ
ノメーターでの吸収が顕著か否かを判断している。しか
し、この方法では判別の精度が必ずしも十分とは言えな
い。何故なら、この方法では、カット済みのダイヤモン
ドの頂面を上向きにして通過光線１６を入射光線１５と
略同軸の状態で捉えるが、この方向の通過光線１６は入
射光線１５がダイヤモンドの各部を多数回反射した後の
一部として得られる。ダイヤモンドには各種各様のカッ
トが施されているため、入射光線１５は他の方向に散乱
したり、多数の反射をダイヤモンド内部で繰り返してい
る過程で減殺され、受光部で捕らえられる通過光線１６
の入射光線１５に対する減衰比率はダイヤモンドの形状
等により大きなばらつきがある。しかるに、この従来技
術では、４１５ナノメーターでの吸収が顕著か否かを判
断するのに４１５ナノメーターの分光の有無を以てして
いるため、通過光線１６が本当にダイヤモンドの吸収特
性に起因して４１５ナノメーターの波長が検出されない
のか、それとも通過光１６の減衰が激しいために検出さ
れなかったのか、判断出来ない場合を生ずる恐れがある
のである。
ることを最も正確に知るには、或程度広範囲の波長に対
する連続測定値群から図２に示すごとき曲線１１を求
め、その全体形状から波長４１５ナノメーターで顕著な
吸収があることを検知するのがよい。しかし、そのため
には分光分析器が高価で設置面積の大きいものとなり、
ダイヤモンドのような店頭取り扱い品には不適である。
従って、従来の技術においては曲線１１のごとき広範囲
の測定をせずに、前記図６に示すごとく被判別ダイヤモ
ンド１４を通過後の光線１６に、単に４１５ナノメータ
ーの波長が検出されるか否かのみを測定して、４１５ナ
ノメーターでの吸収が顕著か否かを判断している。しか
し、この方法では判別の精度が必ずしも十分とは言えな
い。何故なら、この方法では、カット済みのダイヤモン
ドの頂面を上向きにして通過光線１６を入射光線１５と
略同軸の状態で捉えるが、この方向の通過光線１６は入
射光線１５がダイヤモンドの各部を多数回反射した後の
一部として得られる。ダイヤモンドには各種各様のカッ
トが施されているため、入射光線１５は他の方向に散乱
したり、多数の反射をダイヤモンド内部で繰り返してい
る過程で減殺され、受光部で捕らえられる通過光線１６
の入射光線１５に対する減衰比率はダイヤモンドの形状
等により大きなばらつきがある。しかるに、この従来技
術では、４１５ナノメーターでの吸収が顕著か否かを判
断するのに４１５ナノメーターの分光の有無を以てして
いるため、通過光線１６が本当にダイヤモンドの吸収特
性に起因して４１５ナノメーターの波長が検出されない
のか、それとも通過光１６の減衰が激しいために検出さ
れなかったのか、判断出来ない場合を生ずる恐れがある
のである。
【０００４】本発明は以上の事情に鑑み、ダイヤモンド
が天然か人工かを簡便且つ高精度で判別する方法及び装
置を提供することを目的とするものである。
が天然か人工かを簡便且つ高精度で判別する方法及び装
置を提供することを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、以上の目的を
達成するために、ダイヤモンドを分光分析する方法であ
って、カット済みのダイヤモンドをその頂面を下方に向
けて略水平に保持し、前記ダイヤモンド内に入る分析用
入射光線が前記頂面で反射して分析用通過光線として分
光分析用受光器に捕捉されるダイヤモンド判別方法を特
徴とするものである。更に具体的に、前記方法による分
光分析において特定波長における吸収が一定値以上であ
ることを検知する方法であって、前記特定波長より短い
波長における実測吸収値と前記特定波長より長い波長に
おける実測吸収値とから、前記特定波長での吸収が顕著
でないと仮定して吸収スペクトル特性曲線を仮想し、こ
の仮想された吸収スペクトル特性曲線上の前記特定波長
に対応する仮想吸収値と前記特定波長での実測吸収値と
の差を求めることにより、又は、前記仮想吸収値よりも
吸収が大きい一定のしきい値を、前記特定波長での実測
吸収値が越える場合に、前記特定波長での吸収値が一定
値以上であることを検知するダイヤモンド判別方法を特
徴とするものである。また、本発明は、分光分析用光源
と分光分析用受光器とを略同一の高さで一定の距離離し
て設置すると共に、その中間下部に、カット済みのダイ
ヤモンドをその頂面を下方に向けて略水平に保持する置
き台を設置したものからなり、前記分光分析用光源から
放射されて前記ダイヤモンド内を通過する分析用光線が
前記ダイヤモンドの前記頂面で反射して前記分光分析用
受光器に捕捉されるダイヤモンド判別装置を構成するも
のである。また、ダイヤモンド判別装置の適用性を高め
るため、分光分析用光源と分光分析用受光器とを略同一
の高さで一定の距離離して固定するブラケットを備え、
該ブラケットはダイヤモンドのプロポーション・サイズ
測定器に着脱出来る構造を有すると共に、前記プロポー
ション・サイズ測定器に頂面を下方に向けて載置された
カット済みのダイヤモンドが前記分光分析用光源と前記
分光分析用受光器の中間下部に位置するように取り付け
られ、前記分光分析用光源が分光分析器に電線で電気的
に連結されると共に、前記分光分析用受光器が光ファイ
バーで光学的に前記分光分析器に接続され、前記分光分
析用光源から放射されて前記ダイヤモンド内を通過する
分析用光線が前記ダイヤモンドの前記頂面で反射して前
記分光分析用受光器に捕捉されることを特徴とするダイ
ヤモンド判別装置をも構成するものである。更に具体的
に、異なる３波長での実測吸収値を検出する３個の検出
器を設けたダイヤモンド判別装置を特徴とするものであ
る。
達成するために、ダイヤモンドを分光分析する方法であ
って、カット済みのダイヤモンドをその頂面を下方に向
けて略水平に保持し、前記ダイヤモンド内に入る分析用
入射光線が前記頂面で反射して分析用通過光線として分
光分析用受光器に捕捉されるダイヤモンド判別方法を特
徴とするものである。更に具体的に、前記方法による分
光分析において特定波長における吸収が一定値以上であ
ることを検知する方法であって、前記特定波長より短い
波長における実測吸収値と前記特定波長より長い波長に
おける実測吸収値とから、前記特定波長での吸収が顕著
でないと仮定して吸収スペクトル特性曲線を仮想し、こ
の仮想された吸収スペクトル特性曲線上の前記特定波長
に対応する仮想吸収値と前記特定波長での実測吸収値と
の差を求めることにより、又は、前記仮想吸収値よりも
吸収が大きい一定のしきい値を、前記特定波長での実測
吸収値が越える場合に、前記特定波長での吸収値が一定
値以上であることを検知するダイヤモンド判別方法を特
徴とするものである。また、本発明は、分光分析用光源
と分光分析用受光器とを略同一の高さで一定の距離離し
て設置すると共に、その中間下部に、カット済みのダイ
ヤモンドをその頂面を下方に向けて略水平に保持する置
き台を設置したものからなり、前記分光分析用光源から
放射されて前記ダイヤモンド内を通過する分析用光線が
前記ダイヤモンドの前記頂面で反射して前記分光分析用
受光器に捕捉されるダイヤモンド判別装置を構成するも
のである。また、ダイヤモンド判別装置の適用性を高め
るため、分光分析用光源と分光分析用受光器とを略同一
の高さで一定の距離離して固定するブラケットを備え、
該ブラケットはダイヤモンドのプロポーション・サイズ
測定器に着脱出来る構造を有すると共に、前記プロポー
ション・サイズ測定器に頂面を下方に向けて載置された
カット済みのダイヤモンドが前記分光分析用光源と前記
分光分析用受光器の中間下部に位置するように取り付け
られ、前記分光分析用光源が分光分析器に電線で電気的
に連結されると共に、前記分光分析用受光器が光ファイ
バーで光学的に前記分光分析器に接続され、前記分光分
析用光源から放射されて前記ダイヤモンド内を通過する
分析用光線が前記ダイヤモンドの前記頂面で反射して前
記分光分析用受光器に捕捉されることを特徴とするダイ
ヤモンド判別装置をも構成するものである。更に具体的
に、異なる３波長での実測吸収値を検出する３個の検出
器を設けたダイヤモンド判別装置を特徴とするものであ
る。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明のダイヤモンド判別
方法及び装置の実施の形態を図１乃至図５により詳述す
る。図１において、被判別ダイヤモンド１はカット済み
の頂面１ａが略水平になるように置き台２上に載置され
る。分光分析用光源３から放射される分析用入射光線５
が頂面１ａで反射された後、分析用通過光線６となって
分光分析用受光器４に捕捉される。分析用入射光線５の
反射が１回のみで判別に供すべき分析用通過光線６にな
るため、判別の精度を害するような無駄な反射吸収が殆
ど生じない。そのため、波長４１５ナノメーターでの吸
収が顕著であるか否かを高精度に検出することが出来
る。分析用通過光線６は分光分析用受光器４で捕捉され
た後、異なる３つの波長の吸収値を検出する３つの検出
器４ａ、４ｂ、４ｃにより、図２に示すごとくそれぞれ
天然ダイヤモンド特有の吸収波長である４１５ナノメー
ターの波長（以下、特定波長という）ａ、特定波長ａよ
り短い波長ｂ、特定波長ａより長い波長ｃにおけるそれ
ぞれの実測吸収値７、９、１０が実測される。次に実測
吸収値９及び１０のみから、人工ダイヤモンドのように
４１５ナノメーターの特定波長ａでの吸収が顕著でない
と仮定した吸収スペクトル特性曲線（以下、仮想曲線と
いう）１２を仮想し、特定波長ａに対応する仮想曲線１
２上の仮想吸収値８を求める。そして、この仮想吸収値
８と特定波長ａでの実測吸収値７との差の値Ａを求め、
この値Ａが一定値以上である場合は、特定波長ａにおけ
る吸収が顕著であり、被判別ダイヤモンド１は天然ダイ
ヤモンドであると判別する。又は、仮想吸収値８よりも
吸収が大きい一定のしきい値を、特定波長ａでの実測吸
収値７が越える場合は、特定波長ａにおける吸収が顕著
であり、被判別ダイヤモンド１は天然ダイヤモンドであ
ると判別する。
方法及び装置の実施の形態を図１乃至図５により詳述す
る。図１において、被判別ダイヤモンド１はカット済み
の頂面１ａが略水平になるように置き台２上に載置され
る。分光分析用光源３から放射される分析用入射光線５
が頂面１ａで反射された後、分析用通過光線６となって
分光分析用受光器４に捕捉される。分析用入射光線５の
反射が１回のみで判別に供すべき分析用通過光線６にな
るため、判別の精度を害するような無駄な反射吸収が殆
ど生じない。そのため、波長４１５ナノメーターでの吸
収が顕著であるか否かを高精度に検出することが出来
る。分析用通過光線６は分光分析用受光器４で捕捉され
た後、異なる３つの波長の吸収値を検出する３つの検出
器４ａ、４ｂ、４ｃにより、図２に示すごとくそれぞれ
天然ダイヤモンド特有の吸収波長である４１５ナノメー
ターの波長（以下、特定波長という）ａ、特定波長ａよ
り短い波長ｂ、特定波長ａより長い波長ｃにおけるそれ
ぞれの実測吸収値７、９、１０が実測される。次に実測
吸収値９及び１０のみから、人工ダイヤモンドのように
４１５ナノメーターの特定波長ａでの吸収が顕著でない
と仮定した吸収スペクトル特性曲線（以下、仮想曲線と
いう）１２を仮想し、特定波長ａに対応する仮想曲線１
２上の仮想吸収値８を求める。そして、この仮想吸収値
８と特定波長ａでの実測吸収値７との差の値Ａを求め、
この値Ａが一定値以上である場合は、特定波長ａにおけ
る吸収が顕著であり、被判別ダイヤモンド１は天然ダイ
ヤモンドであると判別する。又は、仮想吸収値８よりも
吸収が大きい一定のしきい値を、特定波長ａでの実測吸
収値７が越える場合は、特定波長ａにおける吸収が顕著
であり、被判別ダイヤモンド１は天然ダイヤモンドであ
ると判別する。
【０００７】原理的には天然ダイヤモンドであることを
最も正確に知るには、或程度広範囲の波長に対する連続
測定値群から図２に示すような曲線１１を求め、その全
体形状から４１５ナノメーターの特定波長ａで顕著な吸
収があることを検知するのがよい。しかし、そのために
は分光分析器が高価で設置面積の大きいものとなり、ダ
イヤモンドのような店頭取り扱い品には不適である。そ
のため、上述のように３つの波長の吸収値のみを実測す
ることによりダイヤモンド判別を簡便で、かつ低コスト
に、しかも１波長の分光の有無のみを実測する従来技術
よりも遙かに高精度に行うことが出来る。
最も正確に知るには、或程度広範囲の波長に対する連続
測定値群から図２に示すような曲線１１を求め、その全
体形状から４１５ナノメーターの特定波長ａで顕著な吸
収があることを検知するのがよい。しかし、そのために
は分光分析器が高価で設置面積の大きいものとなり、ダ
イヤモンドのような店頭取り扱い品には不適である。そ
のため、上述のように３つの波長の吸収値のみを実測す
ることによりダイヤモンド判別を簡便で、かつ低コスト
に、しかも１波長の分光の有無のみを実測する従来技術
よりも遙かに高精度に行うことが出来る。
【０００８】図３乃至図５に本発明のダイヤモンド判別
方法を実施するための装置を示す。図３の装置は、請求
項３に対応するもので、分光分析用光源３と分光分析用
受光器４とを略同一の高さで一定の距離離して設置する
と共に、その中間下部に、カット済みの被判別ダイヤモ
ンド１をその頂面１ａを下に向けて略水平に保持する置
き台２を設置したものからなり、分光分析用光源３から
放射されて被判別ダイヤモンド１内を通過する分析用入
射光線５が被判別ダイヤモンド１の頂面１ａで反射して
分析用通過光線６となり、分光分析用受光器４に捕捉さ
れるように構成したものからなる。図中、１３は特定波
長ａ、特定波長ａより短い波長ｂ、特定波長ａより長い
波長ｃにおけるそれぞれの実測吸収値７、９、１０を検
出するための検出器４ａ、４ｂ，４ｃ（図１）を収納す
る分光分析器である。
方法を実施するための装置を示す。図３の装置は、請求
項３に対応するもので、分光分析用光源３と分光分析用
受光器４とを略同一の高さで一定の距離離して設置する
と共に、その中間下部に、カット済みの被判別ダイヤモ
ンド１をその頂面１ａを下に向けて略水平に保持する置
き台２を設置したものからなり、分光分析用光源３から
放射されて被判別ダイヤモンド１内を通過する分析用入
射光線５が被判別ダイヤモンド１の頂面１ａで反射して
分析用通過光線６となり、分光分析用受光器４に捕捉さ
れるように構成したものからなる。図中、１３は特定波
長ａ、特定波長ａより短い波長ｂ、特定波長ａより長い
波長ｃにおけるそれぞれの実測吸収値７、９、１０を検
出するための検出器４ａ、４ｂ，４ｃ（図１）を収納す
る分光分析器である。
【０００９】図４は請求項４に対応するもので、分光分
析用光源３と分光分析用受光器４とが略同一の高さで一
定の距離離れてブラケット１３ａに固定される。ブラケ
ット１３ａは図５に示すダイヤモンドのプロポーション
・サイズ測定器２ｂに押しネジ１３ｂ等で着脱可能に取
り付けられ得る構造となっている。プロポーション・サ
イズ測定器２ｂは一般にダイヤモンド取り扱い者に利用
されているカット済みダイヤモンドの寸法諸元を測定す
るためのものである。ブラケット１３ａは、図５に示す
ように、プロポーション・サイズ測定器２ｂのダイヤモ
ンド載置台２ａ上に頂面を下向きにして載置されたカッ
ト済みの被判別ダイヤモンド１が分光分析用光源３と分
光分析用受光器４との中間下部に配置されるように取り
付けられる。分光分析用光源３は図１に示す検出器４
ａ、４ｂ，４ｃを収納する分光分析器１３と電線３ａで
電気的に連結され、分光分析用受光器４は光ファイバー
４ｄで光学的に分光分析器１３に接続される。分光分析
用光源３から放射されて被判別ダイヤモンド１内を通過
する分析用入射光線５が被判別ダイヤモンド１の頂面１
ａで反射して分析用通過光線６となり、分光分析用受光
器４に捕捉されるように構成したものからなる。
析用光源３と分光分析用受光器４とが略同一の高さで一
定の距離離れてブラケット１３ａに固定される。ブラケ
ット１３ａは図５に示すダイヤモンドのプロポーション
・サイズ測定器２ｂに押しネジ１３ｂ等で着脱可能に取
り付けられ得る構造となっている。プロポーション・サ
イズ測定器２ｂは一般にダイヤモンド取り扱い者に利用
されているカット済みダイヤモンドの寸法諸元を測定す
るためのものである。ブラケット１３ａは、図５に示す
ように、プロポーション・サイズ測定器２ｂのダイヤモ
ンド載置台２ａ上に頂面を下向きにして載置されたカッ
ト済みの被判別ダイヤモンド１が分光分析用光源３と分
光分析用受光器４との中間下部に配置されるように取り
付けられる。分光分析用光源３は図１に示す検出器４
ａ、４ｂ，４ｃを収納する分光分析器１３と電線３ａで
電気的に連結され、分光分析用受光器４は光ファイバー
４ｄで光学的に分光分析器１３に接続される。分光分析
用光源３から放射されて被判別ダイヤモンド１内を通過
する分析用入射光線５が被判別ダイヤモンド１の頂面１
ａで反射して分析用通過光線６となり、分光分析用受光
器４に捕捉されるように構成したものからなる。
【００１０】
【発明の効果】１）本発明の請求項１に記載のダイヤモ
ンド判別方法によれば、分光分析用光源から放射される
分析用入射光線が被判別ダイヤモンドの頂面で反射され
た後、直ちに分析用通過光線となって分光分析用受光器
に捕捉され、分析用入射光線の反射が１回のみで判別に
供すべき分析用通過光線となるため、判別の精度を害す
るような無駄な反射吸収が殆どない。そのため、特定波
長での吸収が顕著であるか否かを高精度に検出すること
が出来る。 ２）本発明の請求項２に記載のダイヤモンド判別方法に
よれば、特定波長の前後各１つの波長における実測吸収
値から、前記特定波長での吸収が顕著でないと仮定して
吸収スペクトル特性曲線を仮想し、この仮想された吸収
スペクトル特性曲線上の前記特定波長に対応する仮想吸
収値と前記特定波長での実測吸収値との差を求めること
により、又は、前記仮想吸収値よりも吸収が大きい一定
のしきい値を、前記特定波長での実測吸収値が越えるか
否かにより、前記特定波長での吸収値が一定値以上であ
るか否かを検知出来るため、広範囲の波長における吸収
値を連続測定する必要がない。そのため、高価で設置面
積の大きい分光分析用装置を用いることなく、従来技術
よりも遙かに高精度にダイヤモンドの判別をすることが
出来る。 ３）本発明の請求項３に記載のダイヤモンド判別装置に
よれば、分光分析用光源と分光分析用受光器とを略同一
の高さで一定の距離離して設置すると共に、その中間下
部に、カット済みのダイヤモンドをその頂面を下方に向
けて略水平に保持する置き台を設置して、前記分光分析
用光源から放射されて前記ダイヤモンド内を通過する分
析用光線が前記ダイヤモンドの前記頂面で反射して前記
分光分析用受光器に捕捉される構造としたことにより、
本発明の請求項１に記載のダイヤモンド判別方法を極め
て容易に実施することが出来る。 ４）本発明の請求項４に記載のダイヤモンド判別装置に
よれば、分光分析用光源と分光分析用受光器とを略同一
の高さで一定の距離離して固定するブラケットを備え、
該ブラケットはダイヤモンドのプロポーション・サイズ
測定器に着脱出来る構造を有すると共に、前記プロポー
ション・サイズ測定器に頂面を下方に向けて載置された
カット済みのダイヤモンドが前記分光分析用光源と前記
分光分析用受光器の中間下部に位置するように取り付け
られ、前記分光分析用光源が分光分析器に電線で電気的
に連結されると共に、前記分光分析用受光器が光ファイ
バーで光学的に前記分光分析器に接続され、前記分光分
析用光源から放射されて前記ダイヤモンド内を通過する
分析用光線が前記ダイヤモンドの前記頂面で反射して前
記分光分析用受光器に捕捉される構造としたことによ
り、本発明の請求項１に記載のダイヤモンド判別方法
を、ダイヤモンドのプロポーション・サイズ測定器上
で、ダイヤモンドのプロポーション・サイズ測定作業過
程においても極めて容易に実施することが出来る。その
ため、一連のダイヤモンド鑑定作業の能率が向上する。 ５）本発明の請求項５に記載のダイヤモンド判別装置に
よれば、異なる３波長での実測吸収値を検出する３個の
検出器を設けたことにより、本発明の請求項２に記載の
ダイヤモンド判別方法を極めて容易に実施することが出
来る。
ンド判別方法によれば、分光分析用光源から放射される
分析用入射光線が被判別ダイヤモンドの頂面で反射され
た後、直ちに分析用通過光線となって分光分析用受光器
に捕捉され、分析用入射光線の反射が１回のみで判別に
供すべき分析用通過光線となるため、判別の精度を害す
るような無駄な反射吸収が殆どない。そのため、特定波
長での吸収が顕著であるか否かを高精度に検出すること
が出来る。 ２）本発明の請求項２に記載のダイヤモンド判別方法に
よれば、特定波長の前後各１つの波長における実測吸収
値から、前記特定波長での吸収が顕著でないと仮定して
吸収スペクトル特性曲線を仮想し、この仮想された吸収
スペクトル特性曲線上の前記特定波長に対応する仮想吸
収値と前記特定波長での実測吸収値との差を求めること
により、又は、前記仮想吸収値よりも吸収が大きい一定
のしきい値を、前記特定波長での実測吸収値が越えるか
否かにより、前記特定波長での吸収値が一定値以上であ
るか否かを検知出来るため、広範囲の波長における吸収
値を連続測定する必要がない。そのため、高価で設置面
積の大きい分光分析用装置を用いることなく、従来技術
よりも遙かに高精度にダイヤモンドの判別をすることが
出来る。 ３）本発明の請求項３に記載のダイヤモンド判別装置に
よれば、分光分析用光源と分光分析用受光器とを略同一
の高さで一定の距離離して設置すると共に、その中間下
部に、カット済みのダイヤモンドをその頂面を下方に向
けて略水平に保持する置き台を設置して、前記分光分析
用光源から放射されて前記ダイヤモンド内を通過する分
析用光線が前記ダイヤモンドの前記頂面で反射して前記
分光分析用受光器に捕捉される構造としたことにより、
本発明の請求項１に記載のダイヤモンド判別方法を極め
て容易に実施することが出来る。 ４）本発明の請求項４に記載のダイヤモンド判別装置に
よれば、分光分析用光源と分光分析用受光器とを略同一
の高さで一定の距離離して固定するブラケットを備え、
該ブラケットはダイヤモンドのプロポーション・サイズ
測定器に着脱出来る構造を有すると共に、前記プロポー
ション・サイズ測定器に頂面を下方に向けて載置された
カット済みのダイヤモンドが前記分光分析用光源と前記
分光分析用受光器の中間下部に位置するように取り付け
られ、前記分光分析用光源が分光分析器に電線で電気的
に連結されると共に、前記分光分析用受光器が光ファイ
バーで光学的に前記分光分析器に接続され、前記分光分
析用光源から放射されて前記ダイヤモンド内を通過する
分析用光線が前記ダイヤモンドの前記頂面で反射して前
記分光分析用受光器に捕捉される構造としたことによ
り、本発明の請求項１に記載のダイヤモンド判別方法
を、ダイヤモンドのプロポーション・サイズ測定器上
で、ダイヤモンドのプロポーション・サイズ測定作業過
程においても極めて容易に実施することが出来る。その
ため、一連のダイヤモンド鑑定作業の能率が向上する。 ５）本発明の請求項５に記載のダイヤモンド判別装置に
よれば、異なる３波長での実測吸収値を検出する３個の
検出器を設けたことにより、本発明の請求項２に記載の
ダイヤモンド判別方法を極めて容易に実施することが出
来る。
【図１】本発明のダイヤモンド判別方法における被判別
ダイヤモンドと判別用器具の位置関係を示す外観側面
図。
ダイヤモンドと判別用器具の位置関係を示す外観側面
図。
【図２】本発明のダイヤモンド判別方法における各波長
での吸収値及び吸収曲線を示す模式図。
での吸収値及び吸収曲線を示す模式図。
【図３】本発明の請求項３に対応するダイヤモンド判別
装置の外観斜視図。
装置の外観斜視図。
【図４】本発明の請求項４に対応するダイヤモンド判別
装置の外観斜視図。
装置の外観斜視図。
【図５】本発明の請求項４に対応するダイヤモンド判別
装置の外観斜視図。
装置の外観斜視図。
【図６】従来のダイヤモンド判別方法における被判別ダ
イヤモンドと判別用器具の位置関係を示す外観側面図。
イヤモンドと判別用器具の位置関係を示す外観側面図。
１ 被判別ダイヤモンド １ａ 頂面 ２ 置き台 ２ａ ダイヤモンド載置台 ２ｂ プロポーション・サイズ測定器 ３ 分光分析用光源 ３ａ 電線 ４ 分光分析用受光器 ４ａ 検出器 ４ｂ 検出器 ４ｃ 検出器 ４ｄ 光ファイバー ５ 分析用入射光線 ６ 分析用通過光線 ７ 特定波長での実測吸収値 ８ 仮想吸収値 ９ 実測吸収値 １０ 実測吸収値 １１ 広範囲の波長にわたり分光分析測定した場合の
天然ダイヤモンドの吸収特性曲線 １２ ２実測値を用いて仮想した特定波長での吸収が
ない場合の仮想曲線 １３ 検出器を収納する分光分析器 １３ａ ブラケット １３ｂ 押しネジ ａ 特定波長 ｂ 特定波長より短い波長 ｃ 特定波長より長い波長 Ａ 特定波長での仮想吸収値と実測吸収値との差の
値
天然ダイヤモンドの吸収特性曲線 １２ ２実測値を用いて仮想した特定波長での吸収が
ない場合の仮想曲線 １３ 検出器を収納する分光分析器 １３ａ ブラケット １３ｂ 押しネジ ａ 特定波長 ｂ 特定波長より短い波長 ｃ 特定波長より長い波長 Ａ 特定波長での仮想吸収値と実測吸収値との差の
値
Claims (5)
- 【請求項１】 ダイヤモンドを分光分析する方法であっ
て、カット済みのダイヤモンドをその頂面を下方に向け
て略水平に保持し、前記ダイヤモンド内に入る分析用入
射光線が前記頂面で反射して分析用通過光線として分光
分析用受光器に捕捉されることを特徴とするダイヤモン
ド判別方法。 - 【請求項２】 分光分析において特定波長における吸収
が一定値以上であることを検知する方法であって、前記
特定波長より短い波長における実測吸収値と前記特定波
長より長い波長における実測吸収値とから、前記特定波
長での吸収が顕著でないと仮定して吸収スペクトル特性
曲線を仮想し、この仮想された吸収スペクトル特性曲線
上の前記特定波長に対応する仮想吸収値と前記特定波長
での実測吸収値との差を求めることにより、又は、前記
仮想吸収値よりも吸収が大きい一定のしきい値を、前記
特定波長での実測吸収値が越える場合に、前記特定波長
での吸収値が一定値以上であることを検知する請求項１
に記載のダイヤモンド判別方法。 - 【請求項３】 分光分析用光源と分光分析用受光器とを
略同一の高さで一定の距離離して設置すると共に、その
中間下部に、カット済みのダイヤモンドをその頂面を下
方に向けて略水平に保持する置き台を設置したものから
なり、前記分光分析用光源から放射されて前記ダイヤモ
ンド内を通過する分析用光線が前記ダイヤモンドの前記
頂面で反射して前記分光分析用受光器に捕捉されること
を特徴とするダイヤモンド判別装置。 - 【請求項４】 分光分析用光源と分光分析用受光器とを
略同一の高さで一定の距離離して固定するブラケットを
備え、該ブラケットはダイヤモンドのプロポーション・
サイズ測定器に着脱出来る構造を有すると共に、前記プ
ロポーション・サイズ測定器に頂面を下方に向けて載置
されたカット済みのダイヤモンドが前記分光分析用光源
と前記分光分析用受光器の中間下部に位置するように取
り付けられ、前記分光分析用光源が分光分析器に電線で
電気的に連結されると共に、前記分光分析用受光器が光
ファイバーで光学的に前記分光分析器に接続され、前記
分光分析用光源から放射されて前記ダイヤモンド内を通
過する分析用光線が前記ダイヤモンドの前記頂面で反射
して前記分光分析用受光器に捕捉されることを特徴とす
るダイヤモンド判別装置。 - 【請求項５】 異なる３波長での実測吸収値を検出する
３個の検出器を設けた請求項３及び請求項４に記載のダ
イヤモンド判別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17533998A JPH11352068A (ja) | 1998-06-09 | 1998-06-09 | ダイヤモンド判別方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17533998A JPH11352068A (ja) | 1998-06-09 | 1998-06-09 | ダイヤモンド判別方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11352068A true JPH11352068A (ja) | 1999-12-24 |
Family
ID=15994343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17533998A Pending JPH11352068A (ja) | 1998-06-09 | 1998-06-09 | ダイヤモンド判別方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11352068A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102713582A (zh) * | 2009-11-03 | 2012-10-03 | 德比尔斯百年公司 | 抛光的宝石中的夹杂物检测 |
| JP2015114317A (ja) * | 2013-12-11 | 2015-06-22 | 苑執中Yuan, chih chung | Ｃｖｄ合成ダイヤモンドを検出する検出方法及びその検出装置 |
| JP2019533173A (ja) * | 2016-08-26 | 2019-11-14 | パブリック・ジョイント・ストック・カンパニー・アルロサ | ダイヤモンドを識別するためのデバイス |
| CN112113920A (zh) * | 2020-09-30 | 2020-12-22 | 深圳市飞博尔珠宝科技有限公司 | 低成本的天然宝石检测方法及其检测系统 |
-
1998
- 1998-06-09 JP JP17533998A patent/JPH11352068A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102713582A (zh) * | 2009-11-03 | 2012-10-03 | 德比尔斯百年公司 | 抛光的宝石中的夹杂物检测 |
| JP2013510302A (ja) * | 2009-11-03 | 2013-03-21 | デ ビアーズ センテナリー アーゲー | 研磨された原石のインクルージョンの検出 |
| CN102713582B (zh) * | 2009-11-03 | 2015-04-08 | 德比尔斯百年公司 | 抛光的宝石中的夹杂物检测 |
| US9322785B2 (en) | 2009-11-03 | 2016-04-26 | De Beers Uk Ltd. | Inclusion detection in polished gemstones |
| JP2015114317A (ja) * | 2013-12-11 | 2015-06-22 | 苑執中Yuan, chih chung | Ｃｖｄ合成ダイヤモンドを検出する検出方法及びその検出装置 |
| JP2019533173A (ja) * | 2016-08-26 | 2019-11-14 | パブリック・ジョイント・ストック・カンパニー・アルロサ | ダイヤモンドを識別するためのデバイス |
| CN112113920A (zh) * | 2020-09-30 | 2020-12-22 | 深圳市飞博尔珠宝科技有限公司 | 低成本的天然宝石检测方法及其检测系统 |
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