JPH113531A - チルトサーボ制御装置 - Google Patents

チルトサーボ制御装置

Info

Publication number
JPH113531A
JPH113531A JP10092617A JP9261798A JPH113531A JP H113531 A JPH113531 A JP H113531A JP 10092617 A JP10092617 A JP 10092617A JP 9261798 A JP9261798 A JP 9261798A JP H113531 A JPH113531 A JP H113531A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tilt
control device
signal
liquid crystal
error correction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10092617A
Other languages
English (en)
Inventor
Junichi Furukawa
淳一 古川
Kiyoshi Tateishi
潔 立石
Noriaki Murao
則明 村尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pioneer Corp
Original Assignee
Pioneer Electronic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pioneer Electronic Corp filed Critical Pioneer Electronic Corp
Priority to JP10092617A priority Critical patent/JPH113531A/ja
Priority to US09/061,865 priority patent/US5886496A/en
Publication of JPH113531A publication Critical patent/JPH113531A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
    • G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 チルトセンサ等が不要で、装置の小型化に適
し、チルトエラーによる再生品質の劣化を防止可能なチ
ルトサーボ制御装置を提供する。 【解決手段】 システムコントロール部４はチルト補正
ＲＯＭ１０６に格納されている位相補正量のデータの決
定をするため、アップダウンカウンタ１０５の示すアド
レスの格納データと、その次のアドレスの格納データに
より液晶駆動信号を生成し、両データに対応するＲＦ振
幅レベル検出器１０１の出力値をＬレジスタ１０２、Ｈ
レジスタ１０３に交互に記憶し、この２つの値を比較
し、最大のＲＦ出力レベルが得られるようアップダウン
カウンタの１０６の更新を行い、山登り制御によるチル
トエラー補正を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクのチル
トエラーを補正するチルトサーボに関する。
【０００２】
【従来の技術】ＣＤ、ＤＶＤなどの光ディスクにおいて
は、一般にディスクの反りなどにより、光ピックアップ
から照射される光ビームの光軸と照射位置における光デ
ィスク面のなす角度（チルト角）が垂直からずれを生じ
ることが問題となる。チルト角は主に光ディスクの半径
方向（以下、「ラジアル方向」という。）で発生し、光
学系のコマ収差などの要因となり、隣接トラック間との
クロストークやジッターの劣化などを引き起こすため光
ディスクの再生品質に悪影響を与える。また、特にＤＶ
Ｄのように高密度記録を実現しようとすると、レーザビ
ームのスポット系を小さくするために、レーザの波長λ
を短くし、対物レンズの開口数ＮＡを大きくする必要が
あり、チルト角に対するマージンが小さくなる。即ち、
ディスクがわずかに傾いていても、再生品質の大きな劣
化をまねく。従って、光ディスクの再生動作中にはチル
ト角による収差を補正するため、チルト角の検出を行う
ための専用の光ビームとディテクタとからなるチルトセ
ンサと、チルト角に応じて光ピックアップの傾きを制御
する機構とを設け、チルトサーボをかけることが一般的
に行われている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のチルトサーボにおいては、光ピックアップとは別に
一対の光ビームとディテクタを備えたチルトセンサを設
置し、さらに、光ピックアップの傾きを制御するために
は複雑な機構部分が必要となる。これらは一般にコスト
アップの要因となるとともに、スペースを取ることから
装置の小型化を図るには不利になる。
【０００４】本発明は、上記の課題を解決するためにな
されたもので、構成が簡単で小型化に有利であり、チル
トエラーを補正することにより良好な再生品質を保つこ
とのできる光ディスクのチルトサーボを提供することを
目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、請求項１に記載のチルトサーボ制御装置は、光記録
媒体に光ビームを照射し、当該光記録媒体からの反射光
を検出する光ピックアップと、前記光記録媒体の媒体面
の前記光ビームの照射位置における法線と前記光ビーム
の光軸のなすチルト角により生ずる収差によるチルトエ
ラーを補正するチルトエラー補正手段と、前記チルトエ
ラー補正手段の補正量を制御する制御信号を供給するチ
ルトエラー補正制御手段と、前記光ピックアップの検出
信号のレベルを検出するレベル検出手段とを備え、前記
チルトエラー補正制御手段は前記制御信号に変動を与
え、前記レベル検出手段の出力レベルが当該変動に対し
て最適となるよう前記制御信号を調整し制御を行うこと
を特徴とする。
【０００６】請求項１に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、チルト角の変動による光ピックアップの収差を
補正するため、チルトエラー補正手段の補正量を制御す
る制御信号に変動を与え、光ピックアップの検出出力を
最適化するよう制御する。チルトエラーが生じると、光
ピックアップの検出信号レベルは減少するが、かかる制
御によってこのエラーを補償することができる。従っ
て、チルトエラーによる再生品質の劣化を防ぐことがで
きる。従って、チルトセンサーを別途設けることなくチ
ルトサーボを行うことができる。
【０００７】前記目的を達成するため、請求項２に記載
のチルトサーボ制御装置は、請求項１に記載のチルトサ
ーボ制御装置において、前記チルトエラー補正制御手段
は、外乱として２種の前記制御信号を生成し、外乱に対
応する前記レベル検出手段の出力レベルの大小を比較
し、当該出力レベルが最大に近づくよう前記制御信号を
所定量だけ増加または減少させるよう制御を行うことを
特徴とする。
【０００８】請求項２に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、チルトエラー補正手段の補正量の制御は、制御
信号に２種の外乱を印加し、光ピックアップの検出信号
が最大となるピークに近づくよういわゆる山登り制御を
行う。従って、請求項１に記載の発明と同様、チルトエ
ラーによる再生品質の劣化を防ぐことができるととも
に、チルトセンサーを別途設けることなくチルトサーボ
を行うことができる。
【０００９】前記目的を達成するため、請求項３に記載
のチルトサーボ制御装置は、請求項１または請求項２に
記載のチルトサーボ制御装置において、前記チルトエラ
ー補正手段は、前記光ビームの光軸上に配置された収差
補正用の液晶パネルであり、前記チルトエラー補正制御
手段の前記制御信号は、当該液晶パネルの駆動信号であ
ることを特徴とする。
【００１０】請求項３に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、光ビームの光軸上に収差補正用の液晶パネルを
配置し、チルトエラーの補正を行うようにしたので、請
求項１または請求項２に記載の発明と同様、チルトエラ
ーによる再生品質の劣化を防ぎ、チルトセンサーが不要
になるとともに、光ピックアップの傾きを制御する機構
等を設けなくともチルトサーボを行うことができる。
【００１１】前記目的を達成するため、請求項４に記載
のチルトサーボ制御装置は、請求項３に記載のチルトサ
ーボ制御装置において、前記液晶パネルは、光ディスク
の半径方向に対し、内周寄り、中央、外周寄りの３つの
領域に分割され、各領域ごとに前記駆動信号により駆動
することができるようにしたことを特徴とする。
【００１２】請求項４に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、光ビームの光軸上に３つの領域に分割され、各
領域ごとに駆動可能な収差補正用の液晶パネルを配置
し、チルトエラーの補正を行うようにしたので、請求項
３に記載の発明と同様、チルトエラーのよる再生品質の
劣化を防ぎ、チルトセンサーが不要になるとともに、光
ピックアップの傾きを制御する機構等を設けなくともチ
ルトサーボを行うことができる。
【００１３】前記目的を達成するため、請求項５に記載
のチルトサーボ制御装置は、請求項１から４のいずれか
１項に記載のチルトサーボ制御装置において、前記チル
トエラー補正制御手段は、前記光ピックアップの検出信
号のレベルを一定に保つよう制御するＡＧＣ（Ａｕｔｏ
Ｇａｉｎ Ｃｏｎｔｒｏｌ）アンプの利得制御信号に
基づいて補正量を制御することを特徴とする。
【００１４】請求項５に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、請求項１から４に記載の発明と同様、チルトエ
ラーによる再生品質の劣化を防ぎ、チルトセンサー等が
不要になるとともに、ＡＧＣアンプの利得制御信号に基
づいてチルトエラーの補正を制御するので、光ピックア
ップの検出信号のレベル検出手段等を別途設けなくとも
チルトサーボを行うことができる。
【００１５】前記目的を達成するため、請求項６に記載
のチルトサーボ制御装置は、請求項３から５のいづれか
に記載のチルトサーボ制御装置において、前記チルトエ
ラー補正制御手段の前記制御信号は、変動の幅が所定の
上限値を超えないように制限されることを特徴とする。
【００１６】請求項６に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、請求項３から５に記載の発明と同様、チルトエ
ラーによる再生品質の劣化を防ぎ、チルトセンサー等が
不要になるとともに、光ピックアップの検出信号がチル
ト角に対し本来のピークに加え、チルト角がずれたとこ
ろに疑似的なピークを持つ特性を有する場合でも、チル
トサーボをかけるべき本来のピークにのみ追従し、安定
なチルトサーボを行うことができる。
【００１７】前記目的を達成するため、請求項７に記載
のチルトサーボ制御装置は、請求項３から６のいずれか
１項に記載のチルトサーボ制御装置において、前記チル
トサーボ制御装置は、温度を検出する温度検出器を備
え、前記チルトエラー補正制御手段は前記温度検出器の
検出結果に基づいて、前記制御信号の周波数を変化させ
ることを特徴とする。
【００１８】請求項７に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、請求項３から６に記載の発明と同様、チルトエ
ラーによる再生品質の劣化を防ぎ、チルトセンサー等が
不要になるとともに、液晶の応答が遅くなる低温時にお
いても、印加される外乱の変化に追従することが可能と
なり、安定なチルトサーボを行うことができる。
【００１９】前記目的を達成するため、請求項８に記載
のチルトサーボ制御装置は、請求項１から７のいずれか
１項に記載のチルトサーボ制御装置において、前記チル
トサーボ制御装置は、前記光記録媒体を回転させるスピ
ンドルモーターの回転に同期して周波数信号を生成する
周波数信号生成手段を備え、前記チルトエラー補正制御
手段は、前記周波数信号に基づいて前記制御信号の発生
するタイミングを制御することを特徴とする。
【００２０】請求項８に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、請求項１から７に記載の発明と同様、チルトエ
ラーによる再生品質の劣化を防ぎ、チルトセンサー等が
不要になるとともに、光ピックアップの検出信号に面振
れ等の影響によるディスクの回転に同期した振幅の変動
が含まれる場合でも、光ピックアップの検出信号が大き
くなる方向に駆動電圧を探索することが可能となり、安
定なチルトサーボを行うことができる。
【００２１】前記目的を達成するため、請求項９に記載
のチルトサーボ制御装置は、請求項１から８のいずれか
１項に記載のチルトサーボ制御装置において、前記制御
信号の周波数は、その周波数の偶数倍が前記光記録媒体
を回転させるスピンドルモーターの回転周期に同期して
いることを特徴とする。
【００２２】請求項９に記載のチルトサーボ制御装置に
よれば、請求項１から８に記載の発明と同様、チルトエ
ラーによる再生品質の劣化を防ぎ、チルトセンサー等が
不要になるとともに、光ピックアップの検出信号に面振
れ等の影響によるディスクの回転に同期した振幅の変動
が含まれる場合でも、光ピックアップの検出信号が大き
くなる方向に駆動電圧を探索することが可能となり、安
定なチルトサーボを行うことができる。
【００２３】
【発明の実施の形態】以下、本発明を情報再生装置に適
用した場合の実施の形態を、図面に基づいて説明する。
【００２４】（１）第１実施形態 初めに、本発明に係る第１の実施形態について説明す
る。図１に、本発明に係るチルトサーボ制御装置の全体
構成を示す。図１に示すように本発明にかかるチルトサ
ーボ制御装置は、光ディスク１、光ピックアップ２、光
ピックアップの一部をなす液晶パネル２Ａ、チルトサー
ボ制御部３、システムコントロール部４、液晶ドライバ
５から構成される。
【００２５】光ピックアップ２からは光ビームが光ディ
スク１に照射され、反射光をディテクタにより検出し、
信号成分をＲＦ信号Ｓｒｆとして出力する。光ピックア
ップ２においては光ビームの光軸に、液晶パネル２Ａが
配置され、光学系の収差を補正することができる。この
液晶パネル２Ａの動作については後述する。光ピックア
ップ２から出力されたＲＦ信号Ｓｒｆはチルトサーボ制
御部３に入力され、振幅レベルに応じ最適なチルトサー
ボが行われる。チルトサーボ制御部３はチルトエラーを
補正するため、液晶パネル２Ａに電圧を印加し駆動する
ための液晶ドライバ５にＰＷＭ（Ｐｕｌｓｅ Ｗｉｄｔ
ｈ Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）化されたデータ制御信号Ｓ
ｃを出力する。その結果、液晶パネル２Ａは、液晶パネ
ル２Ａを通過する光の位相差を可変でき、収差を補正す
ることでチルトエラー補正手段として機能する。一方、
システムコントロール部４はチルトサーボ制御部３をコ
ントロールし、制御信号Ｓｃに外乱を加えつつ、最適な
チルトサーボを行うためにチルトエラー補正量を調整す
る。チルトサーボ制御部３とシステムコントロール部４
は一体として、チルトエラー補正制御手段として機能す
る。これらチルトサーボ制御の詳細の動作については後
述する。
【００２６】次に、図２により、液晶パネル２Ａの構造
について説明する。
【００２７】図２（Ａ）に示す液晶パネル２Ａは、透明
なガラス基板２１Ａ、２１Ｂ、ガラス基板２１Ａ、２１
Ｂの内面に蒸着された透明電極２２Ａ、２２Ｂ、透明電
極２２Ａ、２２Ｂの内面に形成された配向膜２３Ａ、２
３Ｂ、配向膜２３Ａ、２３Ｂの間に封入された複屈折を
有する液晶２４からなる。
【００２８】液晶２４の液晶分子Ｍの向きは、透明電極
２２Ａ、２２Ｂの印加電圧に応じ図２（Ａ）から図２
（Ｃ）に示すように水平方向から垂直方向まで自在に変
えることができる。従って、液晶分子Ｍの複屈折効果に
より液晶を通過する光線に屈折率の変化により光路差△
ｎ・ｄ（△ｎは屈折率の変化分、ｄは液晶２４のセル
厚）を与える。即ち、液晶を通過する光線に位相差△ｎ
・ｄ（２π／λ）（λは光線の波長）を与えることがで
きる。
【００２９】また、図２（Ｄ）はラジアル方向の収差補
正用の液晶パネル２Ａの平面図の一例である。図２
（Ｄ）では、液晶パネル２Ａの透明電極２２Ａ、２２Ｂ
をラジアル方向に対し、内周寄りの第１領域２５Ａ、中
央の第２領域２５Ｂ、外周寄りの第３領域２５Ｃの３つ
の領域に分割している。そして、これら３つの分割領域
は別個の駆動電圧により各分割領域ごとに可変制御すれ
ば、各分割領域を通過する光の位相差を個別に変えるこ
とができるので、ラジアル方向に発生するチルトにより
生ずるコマ収差等の補正が可能となる。なお、通常はチ
ルト補正を行うためのラジアル方向に生じるチルト角
（以下、「ラジアルチルト角」という。）に対する所要
の補正量は、対称性を示し、第１領域２５Ａと第３領域
２５Ｃとではラジアルチルト角に対して逆の特性を与え
ればよい。また、より高精度のチルト補正を行う場合
は、ラジアル方向に対する液晶パネルの分割領域の数を
増加すればよい。
【００３０】さらに、ラジアル方向のみならずタンジェ
ンシャル方向（トラックの接線方向）に発生するチルト
エラーを補正する場合には、図２（Ｅ）に示すように、
５分割とすることも可能である。図２（Ｅ）の場合は、
ラジアル方向の分割領域である第１領域２６Ａ、第２領
域２６Ｂ、第３領域２６Ｃに加え、タンジェンシャル方
向の分割領域として第４領域２６Ｄ、第５領域２６Ｅを
設け、タンジェンシャル方向に対してもチルト補正を行
うよう制御できるようになっている。第４領域２６Ｄ、
第５領域２６Ｅには、互いにタンジェンシャル方向のチ
ルト角に対して対称となる特性を与えればよい。この場
合も分割数をさらに増加することが可能である。
【００３１】次に、本実施の形態におけるチルトエラー
補正の原理を説明する。
【００３２】図３に、ラジアルチルト角とＲＦ信号Ｓｒ
ｆの振幅レベルの関係の一例を示す。なお、図３におい
て、横軸は、光ビームの光軸と照射位置における光ディ
スク面とのなす角度が垂直のときを０とし、その状態か
ら一方のラジアル方向に生じたチルト角の向きを正にと
り、他方のラジアル方向に生じたチルト角の向きを負に
とってある。図３に示すように、ラジアルチルト角がゼ
ロのときＲＦ振幅レベルは最大値となり、ラジアルチル
ト角が正又は負に大きくなるとともに、ＲＦ振幅レベル
は単調に減少する。また、ラジアルチルト角とＲＦ振幅
レベルは２次曲線的な関係となるので、ＲＦ振幅レベル
がピークとなるようにチルトエラーを補正すればよい。
本実施の形態では、液晶パネル２Ａの駆動電圧を調整し
光に位相差を与えることでチルトエラーの補正を行って
いる。また、チルトセンサなしにチルトエラー補正を行
うために、液晶パネル２Ａの駆動電圧に外乱を与え、Ｒ
Ｆ振幅レベルが大きくなる方向に駆動電圧を外乱に応じ
制御していくことでチルトエラーの補正を実現してい
る。この具体的な方法については後述する。
【００３３】図４に、チルトサーボ制御部３のブロック
図を示す。
【００３４】チルトサーボ制御部はチルトエラーの補正
を制御する手段であり、ＲＦ振幅レベル検出器１０１、
Ｌレジスタ１０２、Ｈレジスタ１０３、コンパレータ１
０４、アップダウンカウンタ１０５、チルト補正ＲＯＭ
１０６、レジスタ１０７Ａ、１０７Ｂ、１０７Ｃ、ＰＷ
Ｍ部１０８Ａ、１０８Ｂ、１０８Ｃから構成される。
【００３５】光ピックアップ２から出力されたＲＦ信号
ＳｒｆはＲＦ振幅レベル検出器１０１により、ＲＦ信号
Ｓｒｆの振幅レベルが検出され、検出値がＬレジスタ１
０２、Ｈレジスタ１０３に後述する制御に従い格納され
る。システムコントロール部４はこの検出値に基づき山
登り制御を行う。具体的には、まずコンパレータ１０４
においてＬレジスタ１０２、Ｈレジスタ１０３の大小を
比較し、後述する制御に基づきアップダウンカウンタ１
０５を介して、チルト補正ＲＯＭ１０６のアドレスが決
定され、液晶パネル２Ａの各分割領域に与える位相差に
対応するデータをチルト補正ＲＯＭ１０６から取り出
す。チルト補正ＲＯＭ１０６にはラジアルチルト角に対
応して液晶パネル２Ａの各分割領域に与える位相差を最
適化するために実験的に求めたデータが格納されてい
る。チルト補正ＲＯＭ１０６から取り出されたデータ
は、第１領域２５Ａがレジスタ１０７Ａ、ＰＷＭ部１０
８Ａを、第２領域２５Ｂがレジスタ１０７Ｂ、ＰＷＭ部
１０８Ｂを、第３領域２５Ｃがレジスタ１０７Ｃ、ＰＷ
Ｍ部１０８Ｃをそれぞれ経由し、各分割領域を駆動する
液晶ドライバ５に入力された後、各領域を駆動し、位相
補正量を制御する。
【００３６】チルト補正ＲＯＭ１０６のデータテーブル
は、ラジアルチルト角の値を各アドレスに対応させてい
る。ラジアルチルト角に対して生じるチルトエラーは液
晶パネル２Ａの３つの各分割領域に対し、対称性を有す
るので、第１領域２５Ａに対する補正量はアドレスの増
加に伴い一方向に大きくなるように、第３領域２５Ｃに
対する補正量はアドレスの増加に伴い逆方向に大きくな
るようにそれぞれ設定される。また、中央の第２領域２
５Ｂに対する補正量はゼロを保つよう設定される。
【００３７】ここで、チルト補正ＲＯＭ１０６の格納デ
ータは、所定のラジアルチルト角ごとにジッタが最も良
好となるように、液晶パネル２Ａの各分割領域に位相差
を与えるデータを予め実験的に求めたものである。この
ラジアルチルト角の刻み幅を一層細かくし、全体として
データ量を増やすことにより、より高分解能のチルトエ
ラー補正を行うことも可能である。
【００３８】また、液晶の特性は温度により変化するの
で、ラジアルチルト角に対応する位相補正量も温度変動
を生ずる。そこで、所定の温度範囲に対応して、チルト
補正ＲＯＭ１０６のデータテーブルを複数設けることも
有効である。この場合温度センサを設け、最適なチルト
補正ＲＯＭ１０６のデータを決定すれば、温度変動によ
る影響を抑えることができる。
【００３９】次に、図５における山登り制御を用いたチ
ルトエラー補正についての具体的な動作を図５に示すフ
ローチャートに基づき説明する。
【００４０】図５のフローチャートに示す動作は、例え
ば光ディスクが記録または再生中にシステムコントロー
ル部４の所定の周期での割り込み処理により実行され
る。まず、初めにチルトサーボ制御がオンであるどうか
を判断し（ステップＳ１）、オンである場合は以下の処
理を実行し（ステップＳ１：ｙｅｓ）、オフである場合
は処理を行わない（ステップＳ１：ｎｏ）。処理を行う
場合は、アップダウンカウンタ１０５の値を読み、チル
ト補正ＲＯＭ１０６のアドレスとしてセットする（ステ
ップＳ２）。チルト補正ＲＯＭ１０６のセットされたア
ドレスに格納されているデータはＰＷＭ化された後、液
晶パネル２Ａの各分割領域の駆動を行う（ステップＳ
３）。このときのＲＦ振幅レベル検出器１０１の検出値
がＬレジスタ１０２に記憶される（ステップＳ４）。
【００４１】次に、アップダウンカウンタ１０５の値に
１を加え、チルト補正ＲＯＭ１０６のアドレスとしてセ
ットする（ステップＳ５）。チルト補正ＲＯＭ１０６の
セットされたアドレスに格納されているデータはＰＷＭ
化された後、液晶パネル２Ａの各分割領域の駆動を行う
（ステップＳ６）。このときのＲＦ振幅レベル検出器１
０１の検出値はＨレジスタ１０３に記憶される（ステッ
プＳ７）。このようにチルト補正ＲＯＭ１０６における
隣接するアドレスの２種のデータが、外乱として液晶パ
ネル２Ａの駆動電圧に印加されることになる。
【００４２】さらに、得られた２つのＲＦ振幅レベルの
検出値により山登り制御を行うため、Ｌレジスタ１０２
とＨレジスタ１０３の内容をコンパレータ１０４で比較
する（ステップＳ８、ステップＳ９）。両者の内容が同
じ値である場合は、以降の処理を行わず（ステップＳ
８：ｙｅｓ）、異なる場合には、山登り制御を行う（ス
テップＳ８：ｎｏ）。即ち、Ｌレジスタ１０２の内容が
Ｈレジスタ１０３の内容より大きい場合は、アップダウ
ンカウンタ１０５を１だけカウントダウンし（ステップ
Ｓ９：ｙｅｓ、ステップＳ１１）、Ｌレジスタ１０２の
内容がＨレジスタ１０３の内容より小さい場合は、アッ
プダウンカウンタ１０５を１だけカウントアップする
（ステップＳ９：ｎｏ、ステップＳｌ０）。この更新さ
れたアップダウンカウンタ１０５の内容は次回の割り込
み処理において、チルト補正ＲＯＭ１０６のアドレスの
決定に用いられる。
【００４３】なお、初回の動作実行時におけるアップダ
ウンカウシタ１０５の初期値は、チルト補正ＲＯＭ１０
６において液晶パネル２Ａの各分割領域の位相補正量の
差がない状態に対応する値から開始する。
【００４４】ここで、本実施の形態のチルトエラー補正
により山登り制御される様子を図６により説明する。な
お、図６において、横軸は、光ビームの光軸と照射位置
における光ディスク面とのなす角度が垂直のときを０と
し、その状態から一方のラジアル方向に生じたチルト角
の向きを正にとり、他方のラジアル方向に生じたチルト
角の向きを負にとってある。
【００４５】まず、図６（Ａ）はラジアルチルト角が正
方向にＸ０だけ生じている状態を示す。このときラジア
ルチルト角Ｘ０に対応するチルト補正データを与え、こ
のときのＲＦ振幅レベルＹ０を記憶する。この次に、Ｘ
０にオフセットを加えたＸ＋に対応するチルト補正デー
タを与え、このときのＲＦ振幅レベルＹ＋を記憶する。
そして、これら２種の補正データに対するＲＦ振幅レベ
ルＹ０、Ｙ＋を比較する。図示するようにＹ０＞Ｙ＋で
あるので、チルト補正データの更新は、Ｘ０に対し負の
オフセットを加えたＸ一に対する補正データとする。
【００４６】また、図６（Ｂ）はラジアルチルト角が負
方向にＸ０だけ生じている状態を示す。図６（Ａ）の場
合と同様、ラジアルチルト角Ｘ０及びＸ０にオフセット
を加えたＸ＋に対応するチルト補正データを与え、この
ときのＲＦ振幅レベルＹ０、Ｙ＋を記憶する。そして、
これら２種の補正データに対するＲＦ振幅レベルＹ０、
Ｙ＋を比較する。この場合はＹ＋＞Ｙ０であるので、チ
ルト補正データの更新は、Ｘ＋に対する補正データとす
ればよい。
【００４７】従って、ラジアルチルト角とＲＦ振幅レベ
ルの２次曲線において、正、負どちらの方向にチルトエ
ラーが生じていても、常にピークに向かって制御される
こととなる。
【００４８】なお、本実施の形態では、外乱として２種
の補正量を与えて制御する方法を示したが、所定の範囲
の値を持つ多種の外乱を補正量として加え、ＲＦ振幅レ
ベルが最大となる補正量を選択する制御方法も可能であ
る。
【００４９】一方、ラジアルチルト角とＲＦ振幅レベル
との関係は前述したように２次曲線的になりピークは１
つだけであるが、液晶パネル２Ａの位相補正量に対する
ＲＦ振幅レベルの特性は、２つのピークを生じる。即
ち、本来のピークに加え、それより位相補正量が大きい
ところに疑似的なピークがでる。この様子を図７に示
す。図７における曲線上のピークＰが本来のピークであ
り、ピークＰ１が疑似的なピークである。この現象は液
晶駆動量を大きくすると位相が反転してしまうことによ
り生じる。このような２つのピークがある場合に山登り
制御等によりチルトサーボを行うと、どちらのピークに
向かうかの判断が困難であり、また、この疑似的なピー
クＰ１にサーボがかかるとジッタの影響によりデータの
再生が困難となる。
【００５０】本実施の形態では、チルト補正ＲＯＭ１０
６のデータの与え方により、このような問題に対処して
いる。即ち、チルト補正ＲＯＭ１０６に格納するデータ
に対し、所定の上限値を定め、位相補正量が一定値を超
えないようにしている。この上限値は疑似的なピークＰ
１を生ずる位相補正量より十分小さな位相補正量に対応
する値とする。このようにすれば、チルトサーボが働い
た場合でも疑似的なピークＰ１に向かうことはなく、常
に本来のピークＰに対し安定にサーボをかけることが可
能となる。
【００５１】なお、この位相補正量に対し定めるべき上
限値も、温度により変動するので、所定の温度範囲に対
応する複数のデータテーブルを設けることが有効であ
る。
【００５２】図８にＲＦ振幅レベル検出器１０１の具体
的構成を示す。本実施の形態ではＲＦ信号Ｓｒｆの振幅
レベルを検出する手段として、ＡＧＣアンプの利得制御
信号として印加される制御電圧を利用している。ＡＧＣ
アンプはＲＦ信号Ｓｒｆのレベルが種々の要因により変
動した場合でも、再生品質を安定に保つため、ＲＦ信号
Ｓｒｆのレベルが一定になるよう制御するものである
が、その制御電圧はＲＦ振幅レベルにより定まるので、
ＲＦ振幅レベルの検出手段として用いることができる。
【００５３】より具体的には、図８に示すように、可変
ゲインアンプ３１、全波整流回路３２、積分回路３３か
ら構成されている。
【００５４】ＲＦ信号Ｓｒｆは可変ゲインアンプ３１に
入力され、制御電圧により定まる利得で増幅される。可
変ゲインアンプ３１の出力信号は全波整流回路３２で整
流され、積分回路３３により高周波成分が取り除かれて
から、基準電圧Ｖｒｅｆとの差分をとり、可変ゲインア
ンプ３１の制御電圧となる。可変ゲインアンプ３１の出
力レベルは、基準電圧Ｖｒｅｆの値に対応して一定レベ
ルを保持するように動作し、可変ゲインアンプ３１の入
力レベルが小さい場合は利得を上げ、大きい場合は利得
を下げるように作用する。一方、可変ゲインアンプ３１
のゲインは制御電圧に依存するので、制御電圧の大きさ
からＲＦ信号Ｓｒｆの振幅レベルが得られることにな
る。
【００５５】ところで、液晶は、一般に周囲の温度が低
温になるにつれて粘性係数が大きくなり、その結果、図
９に示すように、液晶に駆動電圧を加えた際の応答速度
が遅くなるという性質を持つ。この性質があるために、
本発明に係るチルトサーボ制御装置を動作させた場合、
低温時と常温時ではその動作において以下に述べる違い
が生じる。図１０を用いてこの違いを詳述する。
【００５６】図１０（ａ）、１０（ｂ）は、それぞれ常
温時、低温時に図１の液晶パネル２Ａに２種類の外乱を
含む駆動信号を加えた場合に出力されるＲＦ信号を示し
ている。同図中、液晶パネルの駆動電圧に加えるとＲＦ
信号の振幅が大きくなる外乱を大、小さくなる外乱を小
と表してある。
【００５７】図１０（ａ）を見ても分かるように、常温
時では、液晶は加えられた外乱に対して十分に追従して
おり、外乱とＲＦ信号との位相差は１８０°以内になっ
ている。その結果、加えられた外乱の方向とそれに対す
るＲＦ信号の振幅の変化方向は一致しているので、ＲＦ
信号の振幅の変化方向に応じた方向にチルト補正するこ
とができる。
【００５８】それに対して、図１０（ｂ）を見ると、低
温時では、加えられた外乱に対する液晶の応答は遅くな
り、外乱とＲＦ信号との位相差が１８０°になってい
る。その結果、加えられた外乱の方向とそれに対するＲ
Ｆ信号の振幅の変化方向は逆になってしまう。さらに、
同図を見てもわかるように、低温時では、加えられた２
種類の外乱のうちの一つに十分追従しきるまえにもう一
つの外乱が加わるのでＲＦ振幅レベルも小さくなってし
まっている。
【００５９】結果として、低温時においては、液晶パネ
ルの駆動電圧に外乱を印加してもどちらの外乱印加時が
ＲＦ振幅レベルが大きくなるかを検出できないため、正
確に山登り制御を行うことが困難になる場合が生じる。
【００６０】（II）第２実施形態 次に示す第２実施形態は、かかる問題点をも解決するも
のである。図１１は、本実施形態に係るチルトサーボ制
御装置のブロック図を示す。尚、第１実施形態のチルト
サーボ制御装置を示した図１と同様な構成については同
様な符号を付し、その詳細な説明を省略する。図１１
は、図１の第１実施形態の構成に更に温度センサ６を加
えたものである。
【００６１】温度センサ６は、液晶パネル２Ａの周囲の
温度、即ち環境温度を検出し、その検出した温度に応じ
たデータＤｔをシステムコントロール部４に出力し、シ
ステムコントロール部４は、その検出された温度データ
に基づいて外乱の周波数を変化させる。
【００６２】次に、本実施例にかかるチルトエラー補正
についての具体的な動作を図１２に示すフローチャート
に基づき説明する。尚、第１実施形態のフローチャート
図５と同様のステップは同様の符号を付し、その詳細な
説明を省略する。
【００６３】図１２のフローチャートに示す動作は、例
えば光ディスクが記録または再生中にシステムコントロ
ール部４による所定の周期での割り込み処理により実行
される。
【００６４】まず、図５と同様に、チルトサーボ制御が
オンである場合に、チルト補正ＲＯＭのアドレスをアッ
プダウンカウンタの値にセットし、そのときのチルト補
正ＲＯＭデータにより液晶パネルの駆動を行う（ステッ
プＳ１〜Ｓ３）。
【００６５】次に、温度センサ６により周囲の温度を検
出し、その温度に応じたデータ値Ｄｔに基づいて待機時
間Ｔを決定し、その時間Ｔだけ待機する（ステップＳ１
２〜Ｓ１３）。この待機時間Ｔの決定の仕方は、例え
ば、Ｄｔと所定の値ＴＨとの大小を比較し、ＤｔがＴＨ
よりも小さいと判定された場合は、周囲の温度が低温で
あると判断し、待機時間Ｔを大きな値に設定し、Ｄｔが
ＴＨよりも小さいと判定された場合は、周囲の温度が常
温であると判断し、待機時間Ｔを小さな値に設定するか
または０に設定してもよい。
【００６６】次に、図５と同様に、ＲＦ振幅レベルの検
出値をＬレジスタに記憶し、チルト補正ＲＯＭのアドレ
スをアップダウンカウンタに１を加えた値にセットし、
そのときのチルト補正ＲＯＭデータにより液晶パネルの
駆動を行う（ステップＳ４〜Ｓ６）。そして再びステッ
プＳ１２で決定した時間Ｔだけ待機する（ステップＳ１
４）。
【００６７】次に、図５と同様に、ＲＦ振幅レベルの検
出値をＨレジスタに記憶した後は山登り制御を行う。即
ち、ＬレジスタとＨレジスタの内容を比較し、両者の内
容が同じ値である場合は以降の処理は行わず、Ｌレジス
タの内容がＨレジスタの内容より大きい場合はアップダ
ウンカウンタを１だけカウントダウンし、Ｌレジスタの
内容がＨレジスタの内容より小さい場合はアップダウン
カウンタを１だけカウントアップする（ステップＳ７〜
Ｓ１１）。この更新されたアップダウンカウンタの内容
は次回の割り込み処理において、チルト補正ＲＯＭのア
ドレス決定に用いられる。
【００６８】この図１２に示した一連の処理を行うこと
により、低温時は、外乱として与える補正量の周期を常
温時よりも長くすることができる。つまり、図１２にお
いて、低温時は、１ループにつき２種のデータによる駆
動電圧が液晶パネルに印加されている時間Ｔを、常温時
よりも長く設定することにより、外乱の１ループの周期
を常温時よりも長く採ることができるのである。換言す
れば、外乱の周波数を常温時よりも低くとることができ
る。
【００６９】その結果、低温時は液晶パネルに印加する
外乱の周波数が低くなるので、液晶が低温時でも外乱の
変化に追従することができる。従って、加えた外乱の方
向とそれに対するＲＦ振幅レベルの変化方向は逆になっ
てしまうということがなくなり、低温時でもＲＦ振幅レ
ベルが大きくなる方向に液晶駆動信号を探索することが
可能となるのである。また、十分に大きなＲＦ振幅レベ
ルも得られる。
【００７０】なお、本実施形態では、待機時間Ｔの決定
する際に所定の閾値ＴＨを基に低温か否かを判断し、低
温である場合に外乱の周波数を低くするように構成した
が、２値以上の閾値により温度の状態を判定し、その判
定に基づいて外乱の周波数を設定するように構成しても
よい。その場合には、図１２のステップＳ１２におい
て、温度の状態を判定するために２値以上の閾値を用
い、それぞれの温度の状態に基づいた時間を待機時間Ｔ
として設定するようにすればよい。この待機時間Ｔは、
温度の状態が低温になればなるほど長くなるように設定
するようにすれば、低温になるほど外乱の周波数を低く
設定することができる。このように構成することによ
り、高い分解能で液晶の温度特性による応答遅れを補償
することができる。
【００７１】ところで、本発明にてＲＦ振幅レベルが大
きくなる方向に液晶を駆動していく山登り制御を行う場
合、ディスクの歪みに起因する面振れ等が大きいと液晶
パネルに外乱を加えていないにも関わらずＲＦ振幅レベ
ルが大きく変化してしまう場合がある。このような状態
では、液晶パネルの駆動電圧に外乱を印加してもどちら
の外乱印加時がＲＦ振幅レベルが大きくなるかを検出す
ることが出来ない場合がある。
【００７２】図１３を用いて詳述する。図１３最上段の
回転パルスは、ディスク１回転につき１パルス出力され
ている様子を表している。また、上から３段目の外乱
は、面振れ等のディスクの回転に同期したＲＦ振幅レベ
ルの変化が無い状態において、液晶パネルの駆動電圧に
加えるとＲＦ振幅レベルが大きくなる外乱を大、小さく
なる外乱を小と表してある。
【００７３】図１３を見てもわかるように、ＲＦ振幅レ
ベルが外乱を印加する前に既にディスクの回転周期に同
期して変化している場合に（図１３上から２段目）、外
乱をディスク回転周期に無関係な周期で液晶パネルの駆
動電圧に印加するとＲＦ振幅レベルが大きくなる方向に
山登り制御できない場合がある。即ち、図１３最下段に
示すように、時点Ｔ１におけるＲＦ振幅レベルと時点Ｔ
２におけるＲＦ振幅レベルとを比較すると、本来なら小
なる方向の外乱を印加中（時点Ｔ１）のＲＦ振幅レベル
が大なる方向の外乱を印加中（時点Ｔ２）のＲＦ振幅レ
ベルよりも小さくなるところが、逆になってしまってい
る。これは、面振れ等のディスクの回転に同期したＲＦ
振幅レベルの変化が、外乱の印加によるＲＦ振幅レベル
の変化とは逆方向に作用する場合に生じる。
【００７４】かかる状態では、液晶パネルの駆動電圧に
外乱を印加してもどちらの外乱の方がＲＦ振幅レベルが
大きくなるのかを正確に判定することができず、ＲＦ振
幅レベルが大きくなる方向に駆動電圧を探索することが
困難になるという問題点が生じる。
【００７５】（III ）第３実施形態 次に示す第３実施形態は、かかる問題点をも解決するも
のである。図１５は、本実施形態に係るチルトサーボ制
御装置のブロック図を示す。尚、第１実施形態のチルト
サーボ制御装置を示した図１と同様な構成については同
様な符号を付し、その詳細な説明を省略する。
【００７６】図１５は、第１実施形態の構成に更に回転
パルス発生器７を加えたものである。回転パルス発生器
７は、光ディスクを回転させるためのスピンドルモータ
ー（図示せず）からの回転に同期したパルスに基づいた
周波数信号を生成し、システムコントロール部４へ出力
するものである。以下の例では回転パルス発生器７はス
ピンドルモーター１回転につき１つのパルスを生成する
ものとする。
【００７７】次に、本実施例にかかるチルトエラー補正
についての具体的な動作を図１６に示すフローチャート
に基づき説明する。尚、第１実施形態のフローチャート
図５と同様のステップは同様の符号を付し、その詳細な
説明を省略する。
【００７８】図１６のフローチャートに示す動作は、例
えば光ディスクが記録または再生中にシステムコントロ
ール部４の所定の周期での割り込み処理により実行され
る。
【００７９】まず、図５と同様に、チルトサーボ制御が
オンである場合に、チルト補正ＲＯＭのアドレスをアッ
プダウンカウンタの値にセットし、チルト補正ＲＯＭデ
ータにより液晶パネルを駆動する（ステップＳ１〜Ｓ
３）。
【００８０】次に回転パルス発生器７からパルスが生成
されるまで待機する（ステップＳ１５）。パルスが生成
されたら、図５と同様に、ＲＦ振幅レベルの検出値をＬ
レジスタに記憶し、チルト補正ＲＯＭのアドレスをアッ
プダウンカウンタに１を加えた値にセットし、更にチル
ト補正ＲＯＭデータにより液晶パネルを駆動する（ステ
ップＳ４〜Ｓ６）。
【００８１】次にＳ１５と同様に回転パルス発生器７か
らパルスが生成されるまで待機する（ステップＳ１
６）。
【００８２】パルスが生成されたら図５と同様に、ＲＦ
振幅レベルの検出値をＨレジスタに記憶し、以降は、図
５と同様に山登り制御を行う。即ち、ＬレジスタとＨレ
ジスタの内容を比較し、両者の内容が同じ値である場合
は以降の処理は行わず、Ｌレジスタの内容がＨレジスタ
の内容より大きい場合はアップダウンカウンタを１だけ
カウントダウンし、Ｌレジスタの内容がＨレジスタの内
容より小さい場合はアップダウンカウンタを１だけカウ
ントアップする（ステップＳ７〜Ｓ１１）。この更新さ
れたアップダウンカウンタの内容は次回の割り込み処理
において、チルト補正ＲＯＭのアドレス決定に用いられ
る。
【００８３】図１６に示した一連の処理を行うことによ
り、面振れ等のディスクの回転に同期したＲＦ振幅レベ
ルの変動に同期して外乱を液晶パネルに加えることがで
きる。つまり、図１６において、１ループにつき２種の
データによる駆動電圧が液晶パネルに印加されるタイミ
ングを、それぞれスピンドルモーターの回転に同期した
パルスに合わせることにより、ディスクの回転に同期し
たＲＦ振幅レベルの変動のタイミングと外乱を印加する
タイミングを合わせられるのである。
【００８４】その結果、図１４に示すように、２種類の
外乱を液晶パネルの駆動電圧に印加している間のディス
クの回転に同期したＲＦ振幅レベルの変動はそれぞれ同
一になり、同じ条件のもとで２種類の外乱によるＲＦ振
幅レベルの比較が行えるのである。即ち、小なる方向の
外乱を印加中（時点Ｔ１）のＲＦ振幅レベルと大なる方
向の外乱を印加中（時点Ｔ２）のＲＦ振幅レベルとを比
較すると、時点Ｔ１のＲＦ振幅レベルより時点Ｔ２のＲ
Ｆ振幅レベルの方が小さくなっている。
【００８５】したがって、液晶パネルの駆動電圧に２種
類の外乱を印加してどちらの外乱印加時の方がＲＦ振幅
レベルが大きくなるのかを判定することができ、ＲＦ振
幅レベルが大きくなる方向に駆動電圧を探索することが
可能となるのである。
【００８６】なお、上述した第２、第３実施形態におい
ては、ＲＦ振幅レベルの検出は外乱の印加するタイミン
グに同期して行っている。例えば、図１２のフローチャ
ートでは、Ｓ３とＳ６で外乱を印加した後、所定時間Ｔ
待機して、Ｓ４とＳ７でＬレジスタとＲレジスタにＲＦ
振幅レベルを記憶している。また図１６のフローチャー
トでは、Ｓ３とＳ６で外乱を印加した後、回転パルスが
入力されるまで待機して、Ｓ４とＳ７でＬレジスタとＲ
レジスタにＲＦ振幅レベルを記憶している。このような
タイミングでＲＦ振幅レベルを検出することにより、２
値の外乱を印加しているときのそれぞれの同じ位相での
ＲＦ振幅レベルを検出でき、どちらの外乱印加時の方が
ＲＦ振幅レベルが大きくなるのかを正確に判定すること
できる。
【００８７】なお、上述した第３実施形態においては、
外乱１周期につきディスクが２回転するように構成した
が、要はディスクの回転周期が外乱の周期の偶数倍であ
れば、どのような構成でもよい。
【００８８】図１７を用いて詳述する。図１７は、外乱
１周期Ｄａの間にディスクが３回転する場合、即ちディ
スクの回転周期が外乱の周期の奇数倍の場合を例に示し
たものである。同図を見てもわかるように、小なる方向
の外乱を印加中（時点Ｔ１）のＲＦ振幅レベルと大なる
方向の外乱を印加中（時点Ｔ２）のＲＦ振幅レベルとを
比較すると、時点Ｔ１のＲＦ振幅レベルより時点Ｔ２の
ＲＦ振幅レベルの方が小さくなっていて、２種類の外乱
を印加してどちらの外乱印加時の方がＲＦ振幅レベルが
大きくなるのかを正しく判定することができていない。
【００８９】これは、外乱印加前のディスクの回転に同
期したＲＦ信号の波形が、小なる方向の外乱を印加して
いる間（Ｄａ１）と大なる方向の外乱を印加している間
（Ｄａ２）とでは異なっていて、位相が互いに反転して
いることに起因する。
【００９０】即ち、大なる方向と小なる方向の２種類の
外乱を印加している間のＲＦ振幅レベルの変動が違うも
のになり、違った条件のもとで２種類の外乱によるＲＦ
振幅レベルの比較を行うので、ＲＦ振幅レベルの測定す
る時点によっては図１７のＴ１、Ｔ２の場合のように、
液晶パネルの駆動電圧に２種類の外乱を印加してどちら
の外乱印加時の方がＲＦ振幅レベルが大きくなるのかを
正しく判定することができなくなる場合がある。
【００９１】そこで、図１８に示すように、外乱１周期
Ｄｂの間にディスクが４回転するように、即ちディスク
の回転周期が外乱の周期の偶数倍になるように構成する
と、小なる方向の外乱を印加中（時点Ｔ１）のＲＦ振幅
レベルよりも大なる方向の外乱を印加中（時点Ｔ２）の
ＲＦ振幅レベルの方が小さくなっていて、２種類の外乱
を印加してどちらの外乱印加時の方がＲＦ振幅レベルが
大きくなるのかを正しく判定することができる。
【００９２】これは、図１７とは異なり、外乱印加前の
ディスクの回転に同期したＲＦ信号の波形が、小なる方
向の外乱を印加している間（Ｄｂ１）と大なる方向の外
乱を印加している間（Ｄｂ２）とでは同一になり、同じ
条件のもとで２種類の外乱によるＲＦ振幅レベルの比較
が行えるからである。具体的に構成例を示すと、例えば
図１６のフローチャートのステップＳ１５、Ｓ１６にお
いて、ディスク１回転に１つ出力されるパルスをそれぞ
れ同数ずつカウントしてから次のステップＳ４、Ｓ７に
移行するように構成すればよい。
【００９３】したがって、ディスクの回転周期が外乱の
周期の偶数倍になるように構成すれば、液晶パネルの駆
動電圧に２種類の外乱を印加してどちらの外乱印加時の
方がＲＦ振幅レベルが大きくなるのかを正確に判定する
ことができ、ＲＦ振幅レベルが大きくなる方向に駆動電
圧を探索することが可能となるのである。
【００９４】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１に記載の
発明によれば、チルトエラー補正制御手段の制御信号に
変動を与え、検出信号のレベルを最適化するよう制御を
行うので、チルトセンサを設けずチルトサーボをかける
ことができ、構成が簡単で、小型化に向き、再生品質の
良好なチルトサーボ制御を行うことができる。
【００９５】また、請求項２に記載の発明によれば、チ
ルトエラー補正制御手段は山登り制御により制御を行う
ので、チルトセンサを設けずチルトサーボをかけること
ができ、構成がさらに簡単で、小型化に向き、再生品質
の良好なチルトサーボ制御を行うことができる。
【００９６】また、請求項３に記載の発明によれば、チ
ルトエラー補正を光ビームの光軸上に配置された液晶パ
ネルの駆動信号を制御することにより行うので、光ピッ
クアップの傾きを制御する機構も不要となり、小型化に
有利で、信頼性が高く、再生品質の良好なチルトサーボ
制御を行うことができる。
【００９７】また、請求項４に記載の発明によれば、チ
ルトエラー補正を光ビームの光軸上に配置された液晶パ
ネルの３つの分割領域の駆動信号を制御することにより
行うので、光ピックアップの傾きを制御する機構を不要
とし、小型化に有利で、信頼性が高く、再生品質の良好
なチルトサーボ制御を行うことができる。
【００９８】また、請求項５に記載の発明によれば、検
出信号のレベル検出をＡＧＣアンプの利得制御信号によ
り行うので、別途レベル検出器を設けることが不要で、
小型化に有利であり、信頼性が高く、再生品質の良好な
チルトサーボ制御を行うことができる。
【００９９】また、請求項６に記載の発明によれば、チ
ルトエラー補正の制御信号を所定の上限値を超えないよ
う制御するので、一層、再生品質が良好で、高安定なチ
ルトサーボ制御を行うことができる。
【０１００】また、請求項７に記載の発明によれば、低
温時は液晶に印加される外乱の周波数を低く設定するの
で、液晶の応答が遅くなる低温時においても、印加され
る外乱の変化に追従することが可能となり、安定なチル
トサーボを行うことができる。
【０１０１】また、請求項８に記載の発明によれば、外
乱を液晶パネルに印加するタイミングは、ディスクの回
転に同期することになり、ＲＦ振幅レベルが大きくなる
方向に正確に駆動電圧を探索することが可能となり、安
定なチルトサーボを行うことができる。
【０１０２】また、請求項９に記載の発明によれば、外
乱を液晶パネルに印加するタイミングは、ディスクの回
転の偶数倍に同期することになり、ＲＦ振幅レベルが大
きくなる方向に正確に駆動電圧を探索することが可能と
なり、安定なチルトサーボを行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第１実施形態に係るチルトサーボ制御
装置の全体ブロック図である。
【図２】本発明の第１実施形態に係る液晶パネルの構造
を示す図である。
【図３】ラジアルチルト角とＲＦ振幅レベルの関係を示
す図である。
【図４】本発明の第１実施形態に係るチルトサーボ制御
部のブロック図である。
【図５】本発明の第１実施形態に係るチルトエラー補正
の動作を示すフローチャートである。
【図６】本発明の第１実施形態に係るチルトエラー補正
の山登り制御の動作の説明図である。
【図７】液晶パネルの位相補正量とＲＦ振幅レベルの関
係を示す図である。
【図８】本発明の第１実施形態に係るＡＧＣアンプの制
御電圧を利用したＲＦ振幅レベル検出器の具体的構成を
示す図である。
【図９】液晶の温度特性を示す図である。
【図１０】常温時と低温時において、液晶パネルの駆動
電圧に印加される外乱とＲＦ信号との関係をそれぞれ示
す図である。
【図１１】本発明の第２実施形態に係るチルトサーボ制
御装置の全体ブロック図である。
【図１２】本発明の第２実施形態に係るチルトエラー補
正の動作を示すフローチャートである。
【図１３】本発明の第３実施形態において、液晶パネル
の駆動電圧にディスクの回転周期とは無関係に印加され
る外乱と、外乱印加前のＲＦ信号と、外乱印加後のＲＦ
信号との関係を示す図である。
【図１４】本発明の第３実施形態において、液晶パネル
の駆動電圧にディスクの回転周期に同期して印加される
外乱と、外乱印加前のＲＦ信号と、外乱印加後のＲＦ信
号との関係を示す図である。
【図１５】本発明の第３実施形態に係るチルトサーボ制
御装置の全体ブロック図である。
【図１６】本発明の第３実施形態に係るチルトエラー補
正の動作を示すフローチャートである。
【図１７】本発明の第３実施形態において、液晶パネル
の駆動電圧にディスクの回転周期に同期して印加される
外乱と、外乱印加前のＲＦ信号と、外乱印加後のＲＦ信
号との関係を示す図である。
【図１８】本発明の第３実施形態において、液晶パネル
の駆動電圧にディスクの回転周期に同期して印加される
外乱と、外乱印加前のＲＦ信号と、外乱印加後のＲＦ信
号との関係を示す図である。
【符号の説明】
１ 光ディスク ２ 光ピックアップ ２Ａ 液晶パネル ３ チルトサーボ制御部 ４ システムコントロール部 ５ 液晶ドライバ ６ 温度センサ ７ 回転パルス発生器 １０１ ＲＦ振幅レベル検出器 １０２ Ｌレジスタ １０３ Ｈレジスタ １０４ コンパレータ １０５ アツプダウンカウンタ １０６ チルト補正ＲＯＭ １０７Ａ、１０７Ｂ、１０７Ｃ レジスタ １０８Ａ、１０８Ｂ、１０８Ｃ ＰＷＭ部 Ｓｒｆ ＲＦ信号 Ｓｃ 制御信号

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 光記録媒体に光ビームを照射し、当該光
    記録媒体からの反射光を検出する光ピックアップと、 前記光記録媒体の媒体面の前記光ビームの照射位置にお
    ける法線と前記光ビームの光軸とのなすチルト角により
    生ずる収差によるチルトエラーを補正するチルトエラー
    補正手段と、 前記チルトエラー補正手段の補正量を制御する制御信号
    を供給するチルトエラー補正制御手段と、 前記光ピックアップの検出信号のレベルを検出するレベ
    ル検出手段と、を備え、 前記チルトエラー補正制御手段は前記制御信号に変動を
    与え、前記レベル検出手段の出力レベルが当該変動に対
    して最適となるよう前記制御信号を調整し制御を行うこ
    とを特徴とするチルトサーボ制御装置。
  2. 【請求項２】 前記チルトエラー補正制御手段は、外乱
    として２種の前記制御信号を生成し、外乱に対応する前
    記レベル検出手段の出力レベルの大小を比較し、当該出
    力レベルが最大に近づくよう前記制御信号を所定量だけ
    増加または減少させるよう制御を行うことを特徴とする
    請求項１に記載のチルトサーボ制御装置。
  3. 【請求項３】 前記チルトエラー補正手段は、前記光ビ
    ームの光軸上に配置された収差補正用の液晶パネルであ
    り、前記チルトエラー補正制御手段の前記制御信号は、
    当該液晶パネルの駆動信号であることを特徴とする請求
    項１または２に記載のチルトサーボ制御装置。
  4. 【請求項４】 前記液晶パネルは、光ディスクの半径方
    向に対し、内周寄り、中央、外周寄りの３つの領域に分
    割され、各領域ごとに前記駆動信号により駆動すること
    ができるようにしたことを特徴とする請求項３に記載の
    チルトサーボ制御装置。
  5. 【請求項５】 前記チルトエラー補正制御手段は、前記
    光ピックアップの検出信号のレベルを一定に保つよう制
    御するＡＧＣアンプの利得制御信号に基づいて補正量を
    制御することを特徴とする請求項１から４のいずれか１
    項に記載のチルトサーボ制御装置。
  6. 【請求項６】 前記チルトエラー補正制御手段の前記制
    御信号は、変動の幅が所定の上限値を超えないように制
    限されることを特徴とする請求項３から５のいずれか１
    項に記載のチルトサーボ制御装置。
  7. 【請求項７】 前記チルトサーボ制御装置は、前記液晶
    パネルの環境温度を検出する温度検出器を備え、前記チ
    ルトエラー補正制御手段は前記温度検出器の検出結果に
    基づいて、前記制御信号の周波数を変化させることを特
    徴とする請求項３から６のいずれか１項に記載のチルト
    サーボ制御装置。
  8. 【請求項８】 前記チルトサーボ制御装置は、前記光記
    録媒体を回転させるスピンドルモーターの回転に同期し
    て周波数信号を生成する周波数信号生成手段を備え、前
    記チルトエラー補正制御手段は、前記周波数信号に基づ
    いて前記制御信号の発生するタイミングを制御すること
    を特徴とする請求項１から７のいずれか１項に記載のチ
    ルトサーボ制御装置。
  9. 【請求項９】 前記制御信号の周波数は、その周波数の
    偶数倍が前記光記録媒体を回転させるスピンドルモータ
    ーの回転周期に同期していることを特徴とする請求項１
    から８のいずれか１項に記載のチルトサーボ制御装置。
JP10092617A 1997-04-18 1998-03-20 チルトサーボ制御装置 Pending JPH113531A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10092617A JPH113531A (ja) 1997-04-18 1998-03-20 チルトサーボ制御装置
US09/061,865 US5886496A (en) 1997-04-18 1998-04-17 Tilt servo controlling apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9-102122 1997-04-18
JP10212297 1997-04-18
JP10092617A JPH113531A (ja) 1997-04-18 1998-03-20 チルトサーボ制御装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH113531A true JPH113531A (ja) 1999-01-06

Family

ID=26434013

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10092617A Pending JPH113531A (ja) 1997-04-18 1998-03-20 チルトサーボ制御装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US5886496A (ja)
JP (1) JPH113531A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6295256B1 (en) 1999-05-31 2001-09-25 Pioneer Corporation Focusing bias adjusting apparatus and method in optical recording medium playing apparatus
KR20020039505A (ko) * 2000-11-21 2002-05-27 구자홍 틸트 제어 방법 및 장치
KR20020039504A (ko) * 2000-11-21 2002-05-27 구자홍 틸트 제어 방법 및 장치
KR100368740B1 (ko) * 2001-03-28 2003-01-24 삼성전기주식회사 틸트 검출장치, 틸트 보정장치, 틸트 검출방법 및 틸트보정방법
KR100368739B1 (ko) * 2001-03-28 2003-01-24 삼성전기주식회사 틸트 검출장치
JP2006228269A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Ricoh Co Ltd 光ディスクチルト補償装置およびこれを用いた光ディスク装置
US7336570B1 (en) * 1999-01-07 2008-02-26 Sony Corporation Apparatus and method for adjusting the tilt angle of an optical pickup device
JP2008511093A (ja) * 2004-08-23 2008-04-10 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ メディアスキャニングシステムのフォーカスコントロール
JP2008516365A (ja) * 2004-10-06 2008-05-15 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 傾き補正装置を有する光ディスク装置、および傾き補正装置を有する光ディスク装置を用いて光ディスクの読出しならびに／もしくは書込みを行う方法
US7843774B2 (en) 2005-11-10 2010-11-30 Canon Kabushiki Kaisha Optical information recording and reproducing apparatus capable of coma aberration correction
JP2011028788A (ja) * 2009-07-21 2011-02-10 Sony Corp 光ディスク再生装置および光ディスク記録再生装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10302285A (ja) * 1997-04-23 1998-11-13 Pioneer Electron Corp サーチ方法
JPH1153750A (ja) * 1997-07-31 1999-02-26 Hitachi Ltd 傾き検出方法及び光ディスク装置
JPH11110769A (ja) * 1997-10-03 1999-04-23 Pioneer Electron Corp 収差補正装置及び情報再生装置
US6151174A (en) * 1997-10-06 2000-11-21 U.S. Philips Corporation Device for optically scanning a record carrier
JP3545196B2 (ja) * 1998-03-20 2004-07-21 パイオニア株式会社 チルトサーボ制御装置
JP3519618B2 (ja) * 1998-10-29 2004-04-19 パイオニア株式会社 収差補償装置、光ピックアップ、情報再生装置及び情報記録装置
US6577568B1 (en) * 1999-03-30 2003-06-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical disk apparatus using tilt and aberration correction control system
JP2000298860A (ja) * 1999-04-13 2000-10-24 Pioneer Electronic Corp 液晶チルトサーボ装置
JP3736666B2 (ja) * 1999-04-14 2006-01-18 パイオニア株式会社 チルトサーボ装置及び制御方法
JP3859107B2 (ja) 1999-04-14 2006-12-20 パイオニア株式会社 液晶チルトサーボ装置
JP3775945B2 (ja) * 1999-05-24 2006-05-17 パイオニア株式会社 液晶チルトサーボ制御装置
JP3498644B2 (ja) * 1999-09-16 2004-02-16 ティアック株式会社 チルト調整装置
JP3781262B2 (ja) * 2000-03-28 2006-05-31 パイオニア株式会社 収差補正装置及びその駆動方法
KR100910016B1 (ko) * 2001-10-25 2009-07-30 하마마츠 포토닉스 가부시키가이샤 위상 변조 장치 및 위상 변조 방법
JP2003346375A (ja) * 2002-05-27 2003-12-05 Pioneer Electronic Corp ピックアップ装置
JP2004062918A (ja) * 2002-07-24 2004-02-26 Pioneer Electronic Corp チルトサーボ装置
JP4004916B2 (ja) * 2002-10-21 2007-11-07 パイオニア株式会社 チルト角度検出装置及び方法
TWI228253B (en) * 2003-08-13 2005-02-21 Mediatek Inc Method for real time calibrating tilt control value of a pickup
JP2005135539A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Canon Inc 光ヘッドおよびそれを用いた光学的情報記録再生装置
JP4399324B2 (ja) * 2004-07-09 2010-01-13 パイオニア株式会社 収差補正装置、並びに光ピックアップの制御装置、制御方法及び制御プログラム
JP2006185482A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Toshiba Corp 光ピックアップチルト補正制御装置およびチルト補正方法
JP2006236457A (ja) * 2005-02-24 2006-09-07 Funai Electric Co Ltd 光ディスク装置
US20080205233A1 (en) * 2005-05-30 2008-08-28 Koninklijke Philips Electronics, N.V. Predicting Dvd Recordable Recording Parameters in Dual Layer Discs
JP4487972B2 (ja) * 2006-04-26 2010-06-23 パナソニック株式会社 光ディスクドライブ装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05144054A (ja) * 1991-11-15 1993-06-11 Pioneer Electron Corp 光ピツクアツプ装置及び光ピツクアツプ装置における傾斜制御装置
JP3193105B2 (ja) * 1992-02-29 2001-07-30 日本ビクター株式会社 チルトエラー検出装置
JP3176544B2 (ja) * 1995-12-13 2001-06-18 株式会社日立製作所 光ディスク装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7336570B1 (en) * 1999-01-07 2008-02-26 Sony Corporation Apparatus and method for adjusting the tilt angle of an optical pickup device
US6295256B1 (en) 1999-05-31 2001-09-25 Pioneer Corporation Focusing bias adjusting apparatus and method in optical recording medium playing apparatus
KR20020039505A (ko) * 2000-11-21 2002-05-27 구자홍 틸트 제어 방법 및 장치
KR20020039504A (ko) * 2000-11-21 2002-05-27 구자홍 틸트 제어 방법 및 장치
KR100368740B1 (ko) * 2001-03-28 2003-01-24 삼성전기주식회사 틸트 검출장치, 틸트 보정장치, 틸트 검출방법 및 틸트보정방법
KR100368739B1 (ko) * 2001-03-28 2003-01-24 삼성전기주식회사 틸트 검출장치
JP2008511093A (ja) * 2004-08-23 2008-04-10 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ メディアスキャニングシステムのフォーカスコントロール
JP2008516365A (ja) * 2004-10-06 2008-05-15 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 傾き補正装置を有する光ディスク装置、および傾き補正装置を有する光ディスク装置を用いて光ディスクの読出しならびに／もしくは書込みを行う方法
JP2006228269A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Ricoh Co Ltd 光ディスクチルト補償装置およびこれを用いた光ディスク装置
US7843774B2 (en) 2005-11-10 2010-11-30 Canon Kabushiki Kaisha Optical information recording and reproducing apparatus capable of coma aberration correction
JP2011028788A (ja) * 2009-07-21 2011-02-10 Sony Corp 光ディスク再生装置および光ディスク記録再生装置

Also Published As

Publication number Publication date
US5886496A (en) 1999-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH113531A (ja) チルトサーボ制御装置
JP3545196B2 (ja) チルトサーボ制御装置
US6137754A (en) Search method for information record medium
US5475662A (en) Optical disc apparatus with tracking error compensation
JPH1079135A (ja) 光ディスク再生装置におけるチルトサーボ装置
JP2001273663A (ja) 収差補正装置及びその駆動方法
US6295256B1 (en) Focusing bias adjusting apparatus and method in optical recording medium playing apparatus
JP2000137926A (ja) 収差補償装置、光ピックアップ、情報再生装置及び情報記録装置
US7327643B2 (en) Radial tilt compensating optical disk apparatus using tracking control loop gain
JPH10172163A (ja) チルトサーボシステム
JP2000298861A (ja) チルトサーボ装置及び制御方法
JP2000339731A (ja) 液晶チルトサーボ制御装置
JPH11185259A (ja) 光ディスク装置
KR101068658B1 (ko) 정보를 판독하기 위한 틸트 제어
US6078556A (en) System for producing a liquid crystal driving signal
JP3594811B2 (ja) 液晶パネル、光ピックアップ及び情報再生装置
US7869314B2 (en) Disc control device
JP2000132854A (ja) 光ディスク装置
JP2000030281A (ja) 液晶パネル、光ピックアップ及び情報再生装置
JPH05159318A (ja) トラッキング制御装置
US6552984B1 (en) Liquid crystal tilt servo apparatus
US7499386B2 (en) Aberration correction apparatus, and control apparatus, control method and control program of optical pickup
JP3573974B2 (ja) 光ピックアップ
KR100312722B1 (ko) 플래그 센서를 이용한 트래킹 편차 보정 장치
JP3351204B2 (ja) 光学的情報再生装置

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040413

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040614

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20041109

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041227

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20050308

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20050422