JPH11354716A - パワー半導体装置およびそれを適用した電力変換装置 - Google Patents
パワー半導体装置およびそれを適用した電力変換装置Info
- Publication number
- JPH11354716A JPH11354716A JP10161778A JP16177898A JPH11354716A JP H11354716 A JPH11354716 A JP H11354716A JP 10161778 A JP10161778 A JP 10161778A JP 16177898 A JP16177898 A JP 16177898A JP H11354716 A JPH11354716 A JP H11354716A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- module
- semiconductor device
- power semiconductor
- resin
- pps
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/531—Shapes of wire connectors
- H10W72/5363—Shapes of wire connectors the connected ends being wedge-shaped
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】パワー半導体装置のモジュール内部への水分の
浸透を防ぐことで耐湿性を向上させ、吸湿による漏れ電
流増加等の特性不良を無くす。 【解決手段】モジュールを構成する各部材の接合に縦弾
性係数が0.01〜1kgf/mm2 の樹脂材料を使用する。 【効果】本発明によればモジュールの気密性を確保する
ことが出来るので耐湿性において信頼性の高いモジュー
ルを実現することが出来る。
浸透を防ぐことで耐湿性を向上させ、吸湿による漏れ電
流増加等の特性不良を無くす。 【解決手段】モジュールを構成する各部材の接合に縦弾
性係数が0.01〜1kgf/mm2 の樹脂材料を使用する。 【効果】本発明によればモジュールの気密性を確保する
ことが出来るので耐湿性において信頼性の高いモジュー
ルを実現することが出来る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はパワー半導体装置に
係り、特に、大容量で高信頼性を達成した高耐圧用半導
体モジュールの構造に関する。
係り、特に、大容量で高信頼性を達成した高耐圧用半導
体モジュールの構造に関する。
【0002】
【従来の技術】従来からIGBT,ダイオード,GT
O,トランジスタ等のパワー半導体素子を絶縁容器内に
密封して構成したパワー半導体モジュールが知られてい
る。これらの素子はその耐圧や電流容量に応じて各種イ
ンバータ装置などに応用されている。中でもIGBTは
電圧制御型の素子であるので制御が容易であり、大電流
の高周波動作が可能であるなどの利点を有している素子
である。また、モジュール使用上の簡便性の点から多く
の場合はモジュール底面金属基板部と電流通電部が電気
的に絶縁された構造となっている。半導体素子のコーテ
ィングには多くの場合シリコーンゲルを用いモジュール
内部での絶縁性を確保している。また、モジュールの封
止には、組立の簡便性向上のため、GTO等の金属材料
と違い樹脂材料を使用している。樹脂パッケージの構成
材料には射出形成時の熱変形が小さく、形成品の熱変形
も小さいポリフェニレンサルファイト(Poly Phenylene
Sulfide :以下PPSと略す)樹脂が多く使われてい
る。また、各部材の接合には機械的強度も強く、難燃性
も高いエポキシ樹脂が一般的に使われている。
O,トランジスタ等のパワー半導体素子を絶縁容器内に
密封して構成したパワー半導体モジュールが知られてい
る。これらの素子はその耐圧や電流容量に応じて各種イ
ンバータ装置などに応用されている。中でもIGBTは
電圧制御型の素子であるので制御が容易であり、大電流
の高周波動作が可能であるなどの利点を有している素子
である。また、モジュール使用上の簡便性の点から多く
の場合はモジュール底面金属基板部と電流通電部が電気
的に絶縁された構造となっている。半導体素子のコーテ
ィングには多くの場合シリコーンゲルを用いモジュール
内部での絶縁性を確保している。また、モジュールの封
止には、組立の簡便性向上のため、GTO等の金属材料
と違い樹脂材料を使用している。樹脂パッケージの構成
材料には射出形成時の熱変形が小さく、形成品の熱変形
も小さいポリフェニレンサルファイト(Poly Phenylene
Sulfide :以下PPSと略す)樹脂が多く使われてい
る。また、各部材の接合には機械的強度も強く、難燃性
も高いエポキシ樹脂が一般的に使われている。
【0003】これらの半導体モジュールの耐湿性はモジ
ュールの気密性によって決まる。GTO等の金属材料で
封止した場合は、溶接等で完全に封止してしまうことが
可能になるが、樹脂パッケージの場合は別の樹脂材料で
異種部材間(例えばモジュールの側面と上蓋)を接合し
て気密性を確保する。気密性の確保は素子の耐圧が高い
とより必須な条件になる。例えば、絶縁耐圧が低いモジ
ュールでは、PPS樹脂の一部に呼吸穴を開けてシリコ
ーンゲルの体積変化による悪影響が発生しないよう考慮
しているが、シリコーンゲルの吸湿による体積抵抗率の
変化による悪影響をあまり考慮していない。一方、絶縁
耐圧が高いモジュールはモジュール内部に水分が浸透す
ると、半導体素子を被覆しているシリコーンゲルの体積
抵抗が小さくなり、素子特性として漏れ電流が増加する
問題が発生する。また、半導体素子をコーティングした
シリコーンゲルにクラック等の欠陥が発生、あるいは半
導体素子との密着不良が発生すると、モジュール内部に
浸透した水分が欠陥部分に凝集して漏れ電流が増加し、
劣化が進むと凝集部分で絶縁破壊が発生する。この問題
は素子耐圧が高くなるほど顕著になり対策が必要にな
る。この問題を解決するため従来は、特開昭60−178650
号に示す様にモジュールの気密性を確保する方法、ある
いは、一般的に半導体素子表面に水分の浸透速度の遅い
材料でコーティングする方法が取られていた。
ュールの気密性によって決まる。GTO等の金属材料で
封止した場合は、溶接等で完全に封止してしまうことが
可能になるが、樹脂パッケージの場合は別の樹脂材料で
異種部材間(例えばモジュールの側面と上蓋)を接合し
て気密性を確保する。気密性の確保は素子の耐圧が高い
とより必須な条件になる。例えば、絶縁耐圧が低いモジ
ュールでは、PPS樹脂の一部に呼吸穴を開けてシリコ
ーンゲルの体積変化による悪影響が発生しないよう考慮
しているが、シリコーンゲルの吸湿による体積抵抗率の
変化による悪影響をあまり考慮していない。一方、絶縁
耐圧が高いモジュールはモジュール内部に水分が浸透す
ると、半導体素子を被覆しているシリコーンゲルの体積
抵抗が小さくなり、素子特性として漏れ電流が増加する
問題が発生する。また、半導体素子をコーティングした
シリコーンゲルにクラック等の欠陥が発生、あるいは半
導体素子との密着不良が発生すると、モジュール内部に
浸透した水分が欠陥部分に凝集して漏れ電流が増加し、
劣化が進むと凝集部分で絶縁破壊が発生する。この問題
は素子耐圧が高くなるほど顕著になり対策が必要にな
る。この問題を解決するため従来は、特開昭60−178650
号に示す様にモジュールの気密性を確保する方法、ある
いは、一般的に半導体素子表面に水分の浸透速度の遅い
材料でコーティングする方法が取られていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術において
は、以下のような問題点がある。
は、以下のような問題点がある。
【0005】モジュールの気密性を確保するためにはモ
ジュールの側面、あるいは上面を構成する部材間の密着
性を向上させることが必須になる。特に従来から使用さ
れていたPPS樹脂とエポキシ樹脂との密着性は悪く、
モジュール組立後で気密性が確保されていてもヒートサ
イクル試験等でPPS/エポキシ樹脂間が剥離する問題
があった。特開昭60−178650号に示す様にモジュール内
部で空間を設けて接着面への応力を低減させる方法でも
モジュールが大型化した場合、同様にヒートサイクル試
験等でPPS/エポキシ樹脂間が剥離する問題があっ
た。また、端子/PPS樹脂界面部分も射出形成しただ
けの状態では密着性が悪く同様な問題があった。特に耐
圧の高いモジュールの場合、耐トラッキング指数の高い
PPSが必要になる。例えばトラッキング指数が250
V以上を有する材料は、樹脂剤の中にMg,Al,C
a,K等の異種材料を添加することで絶縁性を確保して
いる。このような場合は特にPPS材の機械的強度が低
下すると共に異種材料との密着性が低下する問題があ
る。
ジュールの側面、あるいは上面を構成する部材間の密着
性を向上させることが必須になる。特に従来から使用さ
れていたPPS樹脂とエポキシ樹脂との密着性は悪く、
モジュール組立後で気密性が確保されていてもヒートサ
イクル試験等でPPS/エポキシ樹脂間が剥離する問題
があった。特開昭60−178650号に示す様にモジュール内
部で空間を設けて接着面への応力を低減させる方法でも
モジュールが大型化した場合、同様にヒートサイクル試
験等でPPS/エポキシ樹脂間が剥離する問題があっ
た。また、端子/PPS樹脂界面部分も射出形成しただ
けの状態では密着性が悪く同様な問題があった。特に耐
圧の高いモジュールの場合、耐トラッキング指数の高い
PPSが必要になる。例えばトラッキング指数が250
V以上を有する材料は、樹脂剤の中にMg,Al,C
a,K等の異種材料を添加することで絶縁性を確保して
いる。このような場合は特にPPS材の機械的強度が低
下すると共に異種材料との密着性が低下する問題があ
る。
【0006】半導体素子上面を水分の浸透速度が遅い樹
脂でコーティングする従来の方法では半導体素子と金属
ワイヤーの接合界面にもその樹脂をコートすることにな
る。一般的に水分浸透速度が遅い樹脂は粘度が高くなる
ため、半導体素子と金属ワイヤー界面の信頼性を低下さ
せる問題がある。また、半導体素子上はコート材でのコ
ーティングが可能だが、端子等の電圧がかかる部分全て
をコーティングすることは難しく、水分の浸入があった
場合の端子間の絶縁耐量等の問題を解決することが出来
ない。
脂でコーティングする従来の方法では半導体素子と金属
ワイヤーの接合界面にもその樹脂をコートすることにな
る。一般的に水分浸透速度が遅い樹脂は粘度が高くなる
ため、半導体素子と金属ワイヤー界面の信頼性を低下さ
せる問題がある。また、半導体素子上はコート材でのコ
ーティングが可能だが、端子等の電圧がかかる部分全て
をコーティングすることは難しく、水分の浸入があった
場合の端子間の絶縁耐量等の問題を解決することが出来
ない。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記課題を対策し、耐湿
性良好なモジュールを得るために本発明では以下の手段
を用いた。
性良好なモジュールを得るために本発明では以下の手段
を用いた。
【0008】モジュール外周部を構成する異種材料間の
接合部分の水分の浸透速度が、外周部分を構成する主な
部材の水分の浸透速度に比べて遅くなる構造とした。つ
まり、各部材間の界面を完全に密着させ、モジュールを
構成するバルク材より水分の浸透速度を遅くした。その
ための具体的方法として各部材の接合剤に縦弾性係数が
0.01〜1kgf/mm2の樹脂材料を使用した。あるいは
縦弾性係数(kgf/mm2)と熱膨張係数(ppm/℃)の積が
1000以下の材料を使用した。このような特性を有す
る材料としてはシリコーン系の接着剤がある。さらにま
た、シリコーン系接着剤の低難燃性,低トラッキング指
数,低機械的強度に対処するためシリコーン系の接着剤
の上面や側面(外周露出部分)を難燃性,トラッキング
指数が高く、機械的強度が強いエポキシあるいはPPS
樹脂等で被覆した。
接合部分の水分の浸透速度が、外周部分を構成する主な
部材の水分の浸透速度に比べて遅くなる構造とした。つ
まり、各部材間の界面を完全に密着させ、モジュールを
構成するバルク材より水分の浸透速度を遅くした。その
ための具体的方法として各部材の接合剤に縦弾性係数が
0.01〜1kgf/mm2の樹脂材料を使用した。あるいは
縦弾性係数(kgf/mm2)と熱膨張係数(ppm/℃)の積が
1000以下の材料を使用した。このような特性を有す
る材料としてはシリコーン系の接着剤がある。さらにま
た、シリコーン系接着剤の低難燃性,低トラッキング指
数,低機械的強度に対処するためシリコーン系の接着剤
の上面や側面(外周露出部分)を難燃性,トラッキング
指数が高く、機械的強度が強いエポキシあるいはPPS
樹脂等で被覆した。
【0009】また、異種部材間の接合距離を長くするた
め、接合部分に凹凸を設けた。具体的には金属性の端子
等はサンドブラスト等で表面を荒した。樹脂材料では強
度が確保出来る厚さを保って凹凸を設けたり、何重かの
フィンのはめ込み形状とした。
め、接合部分に凹凸を設けた。具体的には金属性の端子
等はサンドブラスト等で表面を荒した。樹脂材料では強
度が確保出来る厚さを保って凹凸を設けたり、何重かの
フィンのはめ込み形状とした。
【0010】本発明の前記手段により以下の作用が得ら
れる。
れる。
【0011】樹脂封止の半導体素子ではバルクからの水
分浸透は完全に遮断することは難しい。しかし、各部材
の接合部分の水分浸透を抑制することが出来れば封止部
材バルクからの水分浸透速度で決まるレベルのモジュー
ル耐湿性を実現することが出来る。そのために、各部材
の接合剤に縦弾性係数が0.01〜1kgf/mm2 の樹脂材
料を使用した。これにより部材と接合剤の界面部分の応
力集中を緩和することが出来る。界面部分の応力は各部
材の膨張係数:αと縦弾性係数:E、サンプルの温度変
化量:ΔTの積に比例する。従来から接合部の封止材料
として使用されていたエポキシ樹脂と今回提案するシリ
コーン系の接着材の物性値を表1に示す。
分浸透は完全に遮断することは難しい。しかし、各部材
の接合部分の水分浸透を抑制することが出来れば封止部
材バルクからの水分浸透速度で決まるレベルのモジュー
ル耐湿性を実現することが出来る。そのために、各部材
の接合剤に縦弾性係数が0.01〜1kgf/mm2 の樹脂材
料を使用した。これにより部材と接合剤の界面部分の応
力集中を緩和することが出来る。界面部分の応力は各部
材の膨張係数:αと縦弾性係数:E、サンプルの温度変
化量:ΔTの積に比例する。従来から接合部の封止材料
として使用されていたエポキシ樹脂と今回提案するシリ
コーン系の接着材の物性値を表1に示す。
【0012】
【表1】
【0013】モジュールを密封するために一般的に使用
されているエポキシ樹脂はαは10〜30ppm/℃と小
さいがEが1000〜2000kgf/mm2 と大きく、一
定の温度変化でエポキシ樹脂と接合した部材との界面に
は10000〜60000の定数倍の応力がかかる。一
方、シリコーン系の材料ではαが200〜300ppm/
℃と大きいがEが0.01〜1kgf/mm2 と小さく、シリ
コーン系接着剤と接合した部材との界面には2〜300
の定数倍の応力しかかからない。このため温度変化があ
っても界面剥離等の不良が生じない。特に、耐トラッキ
ング性の高い材料では機械的強度も低下しているため、
エポキシ樹脂材使用時に発生する応力でPPSバルク材
料が破断してしまい密着不良が発生していたが、シリコ
ーン系の接着材では界面での応力が小さいことと、縦断
数係数が小さくシリコーン系接着材自身が変形すること
により界面剥離を防止する作用がある。これにより界面
での水分の浸透速度を遅くすることが出来る。
されているエポキシ樹脂はαは10〜30ppm/℃と小
さいがEが1000〜2000kgf/mm2 と大きく、一
定の温度変化でエポキシ樹脂と接合した部材との界面に
は10000〜60000の定数倍の応力がかかる。一
方、シリコーン系の材料ではαが200〜300ppm/
℃と大きいがEが0.01〜1kgf/mm2 と小さく、シリ
コーン系接着剤と接合した部材との界面には2〜300
の定数倍の応力しかかからない。このため温度変化があ
っても界面剥離等の不良が生じない。特に、耐トラッキ
ング性の高い材料では機械的強度も低下しているため、
エポキシ樹脂材使用時に発生する応力でPPSバルク材
料が破断してしまい密着不良が発生していたが、シリコ
ーン系の接着材では界面での応力が小さいことと、縦断
数係数が小さくシリコーン系接着材自身が変形すること
により界面剥離を防止する作用がある。これにより界面
での水分の浸透速度を遅くすることが出来る。
【0014】また、シリコーン系の接着材がモジュール
表面の広い面積に渡って露出した場合、難燃性が低いこ
と,トラッキング指数が低いこと,機械的強度が弱いこ
とにより製品としての性能を満足しなくなる可能性があ
る。また、モジュール内部でも金属端子挿入部分など機
械的強度が必要な場所でその強度が弱く機械的に界面剥
離が生じる可能性がある。本発明では、シリコーン系の
接着材で部材を接合した部分に必要に応じてエポキシ等
の材料を積層にすることで、難燃性,耐トラッキング
性,機械的強度はエポキシ樹脂で確保し、モジュールの
気密性はシリコーン系接着材で確保することでモジュー
ルとしての性能を確保することが出来る。材料の変更以
外の方法では、界面距離を長くすることで水分の浸透速
度を遅くすることが出来る。サンドブラスト等で表面を
荒くするとミクロな界面の距離は2倍以上、つまり浸透
速度を1/2以下にすることが出来る。また、この方法
では界面の密着性を向上させる効果もある。材料の強度
が確保されれば、何重かのフィンを接合する両面に設
け、互いにはめ込む形状にすればそのフィンの数だけ界
面距離を延ばすことが出来る。
表面の広い面積に渡って露出した場合、難燃性が低いこ
と,トラッキング指数が低いこと,機械的強度が弱いこ
とにより製品としての性能を満足しなくなる可能性があ
る。また、モジュール内部でも金属端子挿入部分など機
械的強度が必要な場所でその強度が弱く機械的に界面剥
離が生じる可能性がある。本発明では、シリコーン系の
接着材で部材を接合した部分に必要に応じてエポキシ等
の材料を積層にすることで、難燃性,耐トラッキング
性,機械的強度はエポキシ樹脂で確保し、モジュールの
気密性はシリコーン系接着材で確保することでモジュー
ルとしての性能を確保することが出来る。材料の変更以
外の方法では、界面距離を長くすることで水分の浸透速
度を遅くすることが出来る。サンドブラスト等で表面を
荒くするとミクロな界面の距離は2倍以上、つまり浸透
速度を1/2以下にすることが出来る。また、この方法
では界面の密着性を向上させる効果もある。材料の強度
が確保されれば、何重かのフィンを接合する両面に設
け、互いにはめ込む形状にすればそのフィンの数だけ界
面距離を延ばすことが出来る。
【0015】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施例を図面を用い
て説明する。
て説明する。
【0016】図1は本発明の概念を示す。横軸は各構成
材料の位置を示し、縦軸は各部分での水分浸透速度を示
す。従来技術では、水分浸透速度は各部材の界面でより
早く浸透していた。これは部材間の初期の密着不良や、
組立中、あるいは組立後の熱履歴による界面の剥離等に
よって生じていたためである。例えばA材がPPS、B
材がエポキシ樹脂、C材が金属性端子の場合。各樹脂材
料は金属のバルクに比べ浸透速度が早いが、それ以上に
PPS樹脂とエポキシ樹脂では材料の密着性が悪く多く
の場合界面剥離が起り水分浸透速度が各樹脂材のバルク
部分より早くなる。本発明では異種部材界面の密着性向
上や水分浸透経路を長くする構造等で界面の水分浸透速
度を遅くした。以下、具体的な方法につき説明する。
材料の位置を示し、縦軸は各部分での水分浸透速度を示
す。従来技術では、水分浸透速度は各部材の界面でより
早く浸透していた。これは部材間の初期の密着不良や、
組立中、あるいは組立後の熱履歴による界面の剥離等に
よって生じていたためである。例えばA材がPPS、B
材がエポキシ樹脂、C材が金属性端子の場合。各樹脂材
料は金属のバルクに比べ浸透速度が早いが、それ以上に
PPS樹脂とエポキシ樹脂では材料の密着性が悪く多く
の場合界面剥離が起り水分浸透速度が各樹脂材のバルク
部分より早くなる。本発明では異種部材界面の密着性向
上や水分浸透経路を長くする構造等で界面の水分浸透速
度を遅くした。以下、具体的な方法につき説明する。
【0017】図2は本発明を用いて作成したモジュール
の実施例の断面図を示す。半導体素子101は半田10
2によりAlN板104に銅箔103をろう材で接合し
たAlN基板105に接合される。AlN基板105は
半田によりモジュール底面ベース106に接合される。
半導体素子101と銅箔103とは金属ワイヤー107
により配線される。モジュールの側面には例えばPPS
樹脂からなるケース材108と端子109が一体になっ
たケースブロック110をシリコーンゴム系接着材11
1により封止する。この時端子109は銅箔103に半
田102により同時に接続されモジュール内部の回路を
形成する。次にシリコーンゲル112をモジュール内部に
充填し、PPS樹脂からなるモジュール上面蓋113を
シリコーンゴム系接着材114で接着。端子109とP
PS樹脂からなるモジュール上面蓋113をシリコーン
ゴム系接着材115で接着,密封した後端子109を曲
げてモジュールを完成させる。完成したモジュールの底
面ベース106とモジュール側面PPS材108,モジ
ュール上面蓋113は全てシリコーンゴム系接着材11
1,114,115により外気から完全に封止される。
このように、各部シリコーンゴム系の接着剤で密封した
部分の密着性劣化を防止することで耐湿性の高いモジュ
ールが完成する。特にトラッキング指数の高い樹脂材料
を適用した場合は本発明の効果が顕著である。尚、本実
施例ではモジュール内部全面に空間116が形成され、
モジュールの温度サイクル時のシリコーンゲル112の
体積変化を吸収する構造としているため、耐ヒートサイ
クル性に優れているが、後述の従来構造と同様に空間1
16がエポキシ樹脂で充填された構造としても、本発明
の効果が得られる。
の実施例の断面図を示す。半導体素子101は半田10
2によりAlN板104に銅箔103をろう材で接合し
たAlN基板105に接合される。AlN基板105は
半田によりモジュール底面ベース106に接合される。
半導体素子101と銅箔103とは金属ワイヤー107
により配線される。モジュールの側面には例えばPPS
樹脂からなるケース材108と端子109が一体になっ
たケースブロック110をシリコーンゴム系接着材11
1により封止する。この時端子109は銅箔103に半
田102により同時に接続されモジュール内部の回路を
形成する。次にシリコーンゲル112をモジュール内部に
充填し、PPS樹脂からなるモジュール上面蓋113を
シリコーンゴム系接着材114で接着。端子109とP
PS樹脂からなるモジュール上面蓋113をシリコーン
ゴム系接着材115で接着,密封した後端子109を曲
げてモジュールを完成させる。完成したモジュールの底
面ベース106とモジュール側面PPS材108,モジ
ュール上面蓋113は全てシリコーンゴム系接着材11
1,114,115により外気から完全に封止される。
このように、各部シリコーンゴム系の接着剤で密封した
部分の密着性劣化を防止することで耐湿性の高いモジュ
ールが完成する。特にトラッキング指数の高い樹脂材料
を適用した場合は本発明の効果が顕著である。尚、本実
施例ではモジュール内部全面に空間116が形成され、
モジュールの温度サイクル時のシリコーンゲル112の
体積変化を吸収する構造としているため、耐ヒートサイ
クル性に優れているが、後述の従来構造と同様に空間1
16がエポキシ樹脂で充填された構造としても、本発明
の効果が得られる。
【0018】図3は従来構造の代表的なモジュールの断
面構造を示す。従来構造でもモジュール底面ベース10
6に絶縁基板105を接合するまでは同じ工程で作製す
る。次にモジュール側面を形成するPPS樹脂と端子1
09、更にモジュール上面蓋113が一体になったケー
スブロック201をシリコーンゴム系接着材111によ
り封止する。この時端子109は銅箔103に半田10
2により同時に接続されモジュール内部の回路を形成す
る。次にシリコーンゲル112をモジュール内部に充填
する。最後にエポキシ樹脂202をシリコーンゲル11
2の上に直接充填してモジュールを完成させる。この
時、モジュール内部への水分の浸透経路としては水分1
のモジュール上面PPS樹脂113とモジュール側面P
PS樹脂108を接合しているエポキシ樹脂202との
各界面からの浸入する経路、水分2のモジュール上面P
PS樹脂113と端子109を接合しているエポキシ樹
脂202との各界面、水分3のモジュール上面PPS樹
脂113のバルクからの浸透、水分4のモジュール側面
PPS樹脂108のバルクからの浸透、水分5のモジュ
ール底面ベース106のバルクからの浸透、水分6のモ
ジュール側面PPS108とモジュール底面ベース10
6を接合しているシリコーンゴム系接着材108との界
面がある。従来構造ではエポキシ樹脂202とPPS樹
脂の密着性が悪いため外気の水分1,2がPPS樹脂と
エポキシ樹脂の界面203と端子とエポキシ樹脂202
の界面204から浸入する速度が最も早い。浸入した水
分によりシリコーンゲル112が吸湿した結果、ゲルの
体積抵抗率が低下し、素子特性のリーク電流が増加す
る。また、シリコーンゲル112がエポキシ樹脂202
により密封されているため、熱サイクルによりシリコー
ンゲル112にクラック状の欠陥が発生する。この欠陥
に水分が凝集することで絶縁劣化の発生率が更に高くな
る。
面構造を示す。従来構造でもモジュール底面ベース10
6に絶縁基板105を接合するまでは同じ工程で作製す
る。次にモジュール側面を形成するPPS樹脂と端子1
09、更にモジュール上面蓋113が一体になったケー
スブロック201をシリコーンゴム系接着材111によ
り封止する。この時端子109は銅箔103に半田10
2により同時に接続されモジュール内部の回路を形成す
る。次にシリコーンゲル112をモジュール内部に充填
する。最後にエポキシ樹脂202をシリコーンゲル11
2の上に直接充填してモジュールを完成させる。この
時、モジュール内部への水分の浸透経路としては水分1
のモジュール上面PPS樹脂113とモジュール側面P
PS樹脂108を接合しているエポキシ樹脂202との
各界面からの浸入する経路、水分2のモジュール上面P
PS樹脂113と端子109を接合しているエポキシ樹
脂202との各界面、水分3のモジュール上面PPS樹
脂113のバルクからの浸透、水分4のモジュール側面
PPS樹脂108のバルクからの浸透、水分5のモジュ
ール底面ベース106のバルクからの浸透、水分6のモ
ジュール側面PPS108とモジュール底面ベース10
6を接合しているシリコーンゴム系接着材108との界
面がある。従来構造ではエポキシ樹脂202とPPS樹
脂の密着性が悪いため外気の水分1,2がPPS樹脂と
エポキシ樹脂の界面203と端子とエポキシ樹脂202
の界面204から浸入する速度が最も早い。浸入した水
分によりシリコーンゲル112が吸湿した結果、ゲルの
体積抵抗率が低下し、素子特性のリーク電流が増加す
る。また、シリコーンゲル112がエポキシ樹脂202
により密封されているため、熱サイクルによりシリコー
ンゲル112にクラック状の欠陥が発生する。この欠陥
に水分が凝集することで絶縁劣化の発生率が更に高くな
る。
【0019】図4は本発明を用いて作製したモジュール
の他の実施例の断面構造の一部を示す。モジュール底面
ベース106に絶縁基板105を接合するまでは同じ工
程で作製する。次にモジュール上面を形成するPPSか
らなるケース材301に端子302が組込れた端子ブロ
ック303を半田102により銅箔103に接続し、モ
ジュール内部の回路を形成する。次にPPS樹脂からな
るモジュール側面樹脂304をシリコーンゴム系の接着
剤305で封止する。その時端子ブロック303との接合
面と、端子302とPPS樹脂との界面もシリコーンゴ
ム系の接着剤305で同時に封止する。次に端子部、ケ
ース/端子ブロック接合部のシリコーンゴム系接着剤上
面をエポキシ樹脂306で封止し、端子302を曲げ
る。最後に図示していないシリコーンゲル注入口からシ
リコーンゲル307を注入、注入口をシリコーンゴム系
接着剤で封止してモジュールを完成させる。この場合も
モジュール底面ベース材と側面及び上面のPPS樹脂材
との接合面は全てシリコーンゴム系の接着材で封止する
ことでモジュールの気密性を確保した。さらに、接着剤
の上面をエポキシ樹脂で封止することでモジュールの難
燃性,耐トラッキング性,機械的強度を確保した。
の他の実施例の断面構造の一部を示す。モジュール底面
ベース106に絶縁基板105を接合するまでは同じ工
程で作製する。次にモジュール上面を形成するPPSか
らなるケース材301に端子302が組込れた端子ブロ
ック303を半田102により銅箔103に接続し、モ
ジュール内部の回路を形成する。次にPPS樹脂からな
るモジュール側面樹脂304をシリコーンゴム系の接着
剤305で封止する。その時端子ブロック303との接合
面と、端子302とPPS樹脂との界面もシリコーンゴ
ム系の接着剤305で同時に封止する。次に端子部、ケ
ース/端子ブロック接合部のシリコーンゴム系接着剤上
面をエポキシ樹脂306で封止し、端子302を曲げ
る。最後に図示していないシリコーンゲル注入口からシ
リコーンゲル307を注入、注入口をシリコーンゴム系
接着剤で封止してモジュールを完成させる。この場合も
モジュール底面ベース材と側面及び上面のPPS樹脂材
との接合面は全てシリコーンゴム系の接着材で封止する
ことでモジュールの気密性を確保した。さらに、接着剤
の上面をエポキシ樹脂で封止することでモジュールの難
燃性,耐トラッキング性,機械的強度を確保した。
【0020】図5は端子部を例に、接着剤での封止構造
の断面構造の実施例を示す。(a)は図4に記載した構
造と同じでPPSケース剤401と端子402の界面を
まずシリコーンゴム系の接着剤403で密着性を確保、
その上面をエポキシ樹脂404で封止することでモジュー
ルの難燃性,耐トラッキング性,機械的強度を確保し
た。(b)シリコーンゴム系の接着剤403をエポキシ
樹脂404で両面コートした例で、端子ブロック上下面
で難燃性,耐トラッキング性,機械的強度を確保した。
尚、これらの実施例で接着剤403が厚い場合、熱膨張
によりエポキシ樹脂を持上げてエポキシ樹脂の剥離に至
場合があるため、接着剤403の厚さは例えば5mm以下
とするのが好ましい。(c)は端子ブロックの内側でシ
リコーンゴム系の接着剤403の密着性を確保し、モジ
ュール上面はエポキシ樹脂404で充填した。この実施
例の構造では接着剤自身の膨張により後から充填するエ
ポキシ樹脂を持上げる危険性がない。また、端子ブロッ
クの部品状態で気密性を確保することが出来、モジュー
ル組立時の工程を短縮することが出来る。これらの構造
は端子部分だけではなくモジュール側面と上面の接合部
分などに適用しても同じ効果が得られる。
の断面構造の実施例を示す。(a)は図4に記載した構
造と同じでPPSケース剤401と端子402の界面を
まずシリコーンゴム系の接着剤403で密着性を確保、
その上面をエポキシ樹脂404で封止することでモジュー
ルの難燃性,耐トラッキング性,機械的強度を確保し
た。(b)シリコーンゴム系の接着剤403をエポキシ
樹脂404で両面コートした例で、端子ブロック上下面
で難燃性,耐トラッキング性,機械的強度を確保した。
尚、これらの実施例で接着剤403が厚い場合、熱膨張
によりエポキシ樹脂を持上げてエポキシ樹脂の剥離に至
場合があるため、接着剤403の厚さは例えば5mm以下
とするのが好ましい。(c)は端子ブロックの内側でシ
リコーンゴム系の接着剤403の密着性を確保し、モジ
ュール上面はエポキシ樹脂404で充填した。この実施
例の構造では接着剤自身の膨張により後から充填するエ
ポキシ樹脂を持上げる危険性がない。また、端子ブロッ
クの部品状態で気密性を確保することが出来、モジュー
ル組立時の工程を短縮することが出来る。これらの構造
は端子部分だけではなくモジュール側面と上面の接合部
分などに適用しても同じ効果が得られる。
【0021】図6は材料を変えないで界面での水分浸透
速度を遅くさせた例を示す。例えばPPS樹脂601の
ケース材に金属からなる端子602を通してエポキシ樹
脂603で封止した場合、(a)に示す本発明を適用し
た構造で、金属端子602の表面をサンドブラストで荒
し604、水分浸透経路を長くすることが出来た。各部
材の界面の水分浸透速度を模擬的に記載する。PPS樹
脂601,エポキシ樹脂602,金属端子603のバル
クの水分浸透速度は金属端子≦エポキシ樹脂≦PPS樹
脂の順に遅い。各材料の界面はPPS樹脂とエポキシ樹
脂界面はエポキシ樹脂のバルクより早いがPPS樹脂の
バルクより遅い。また、金属端子とエポキシ樹脂の界面
はサンドブラストを実施している効果でエポキシ樹脂よ
り遅い。この構造ではPPSバルク材の水分浸透速度が
最も早く、この材料が耐湿寿命の支配的要因となるた
め、水分浸透の遅い材料を検討すればよい。ところが、
(b)に示すサンドブラスト処理をしていない従来構造
では、金属端子とエポキシ樹脂界面の水分浸透速度が最
も早く耐湿寿命が界面状態で決まり、材料選定をしても
耐湿寿命を向上させることが出来ない。
速度を遅くさせた例を示す。例えばPPS樹脂601の
ケース材に金属からなる端子602を通してエポキシ樹
脂603で封止した場合、(a)に示す本発明を適用し
た構造で、金属端子602の表面をサンドブラストで荒
し604、水分浸透経路を長くすることが出来た。各部
材の界面の水分浸透速度を模擬的に記載する。PPS樹
脂601,エポキシ樹脂602,金属端子603のバル
クの水分浸透速度は金属端子≦エポキシ樹脂≦PPS樹
脂の順に遅い。各材料の界面はPPS樹脂とエポキシ樹
脂界面はエポキシ樹脂のバルクより早いがPPS樹脂の
バルクより遅い。また、金属端子とエポキシ樹脂の界面
はサンドブラストを実施している効果でエポキシ樹脂よ
り遅い。この構造ではPPSバルク材の水分浸透速度が
最も早く、この材料が耐湿寿命の支配的要因となるた
め、水分浸透の遅い材料を検討すればよい。ところが、
(b)に示すサンドブラスト処理をしていない従来構造
では、金属端子とエポキシ樹脂界面の水分浸透速度が最
も早く耐湿寿命が界面状態で決まり、材料選定をしても
耐湿寿命を向上させることが出来ない。
【0022】図7は接合する樹脂の両面にフィンを設け
た例を示す。モジュール側面を形成するPPS樹脂70
1とモジュール上面を構成するPPS樹脂702をエポ
キシ系接着材703で接合した構造で、(a)に示す本
発明を適用した構造で、各PPS樹脂にはめ込み式のフ
ィン704を設けた。この時の各部材の界面の水分浸透
速度を模擬的に記載する。PPS樹脂とエポキシ樹脂で
は水分浸透速度はPPS樹脂の方が早い。PPS樹脂と
エポキシ樹脂界面では界面距離を長くすることでPPS
樹脂のバルクより遅い。この構造ではPPS樹脂材で水
分浸透の遅い材料を検討すればよい。ところが、(b)
に示すフィンのない構造ではPPS樹脂とエポキシ樹脂
の水分浸透速度が最も早く耐湿寿命が界面状態で決ま
り、材料選定をしても耐湿寿命を向上させることが出来
ない。
た例を示す。モジュール側面を形成するPPS樹脂70
1とモジュール上面を構成するPPS樹脂702をエポ
キシ系接着材703で接合した構造で、(a)に示す本
発明を適用した構造で、各PPS樹脂にはめ込み式のフ
ィン704を設けた。この時の各部材の界面の水分浸透
速度を模擬的に記載する。PPS樹脂とエポキシ樹脂で
は水分浸透速度はPPS樹脂の方が早い。PPS樹脂と
エポキシ樹脂界面では界面距離を長くすることでPPS
樹脂のバルクより遅い。この構造ではPPS樹脂材で水
分浸透の遅い材料を検討すればよい。ところが、(b)
に示すフィンのない構造ではPPS樹脂とエポキシ樹脂
の水分浸透速度が最も早く耐湿寿命が界面状態で決ま
り、材料選定をしても耐湿寿命を向上させることが出来
ない。
【0023】図8は本発明のモジュールを適用した電力
変換装置の一実施例を示す。この場合は、パワー半導体
装置801がヒートシンク811上に放熱性グリース8
10をはさんで実装され、2レベルインバータを構成し
ている。一般的にモジュール801は中間点(B点)を
1本の中間点配線803で配線出来るように左右を反転
させて実装する。コレクタ側配線802とエミッタ側配
線804は各々U,V,W相を配線して電源電圧809
を供給する。信号線は各IGBTモジュール801から
ゲート配線805,エミッタ補助配線806,コレクタ
補助配線807によって構成する。これら電力変換装置が
本発明のモジュールであれば、モジュール自身の耐湿性
が確保されているので設置場所を制限されることはな
く、表面をエポキシ樹脂でコートする2層構造としてい
ればさらに塵あい度の低いレベルでも使用が可能にな
る。図8に図示した以外の実装方法でも本発明のパワー
半導体モジュールはトラッキング指数を高くし、耐湿性
を向上させることが可能なため、比較的湿気,雰囲気の
ガスの影響および塵あい,金属粉等の堆積が多い環境条
件(日本電機工業会標準規格(JEM規格)では分類
C、International Electrotechnical Commissin(IE
C規格)では分類PD3)に適用することができる。こ
れらの環境としては、例えば空調設備の整っていない部
屋や、電力変換装置で気密構造になっていないインバー
タ、あるいはコンバータ装置内,電力変換装置でファン
を回転させ強制空冷を行っている装置内で清浄用のフィ
ルターがないインバータ、あるいはコンバータ装置が上
げられる。空冷時のフィルターがない構造電力変換装置
では冷却効率を向上させることが出来るのでフィンをよ
り小型に、また、ファンの回転数を下げより静かなイン
バータ、あるいはコンバータを提供することが出来る。
また、長い耐湿寿命を確保することが出来るので電圧1
000V以上の高耐圧電力変換装置にも好適である。
変換装置の一実施例を示す。この場合は、パワー半導体
装置801がヒートシンク811上に放熱性グリース8
10をはさんで実装され、2レベルインバータを構成し
ている。一般的にモジュール801は中間点(B点)を
1本の中間点配線803で配線出来るように左右を反転
させて実装する。コレクタ側配線802とエミッタ側配
線804は各々U,V,W相を配線して電源電圧809
を供給する。信号線は各IGBTモジュール801から
ゲート配線805,エミッタ補助配線806,コレクタ
補助配線807によって構成する。これら電力変換装置が
本発明のモジュールであれば、モジュール自身の耐湿性
が確保されているので設置場所を制限されることはな
く、表面をエポキシ樹脂でコートする2層構造としてい
ればさらに塵あい度の低いレベルでも使用が可能にな
る。図8に図示した以外の実装方法でも本発明のパワー
半導体モジュールはトラッキング指数を高くし、耐湿性
を向上させることが可能なため、比較的湿気,雰囲気の
ガスの影響および塵あい,金属粉等の堆積が多い環境条
件(日本電機工業会標準規格(JEM規格)では分類
C、International Electrotechnical Commissin(IE
C規格)では分類PD3)に適用することができる。こ
れらの環境としては、例えば空調設備の整っていない部
屋や、電力変換装置で気密構造になっていないインバー
タ、あるいはコンバータ装置内,電力変換装置でファン
を回転させ強制空冷を行っている装置内で清浄用のフィ
ルターがないインバータ、あるいはコンバータ装置が上
げられる。空冷時のフィルターがない構造電力変換装置
では冷却効率を向上させることが出来るのでフィンをよ
り小型に、また、ファンの回転数を下げより静かなイン
バータ、あるいはコンバータを提供することが出来る。
また、長い耐湿寿命を確保することが出来るので電圧1
000V以上の高耐圧電力変換装置にも好適である。
【0024】以上の説明では有機樹脂部剤はPPSとし
ているが、ポリブチレンテレフタレート(Poly Butylen
e Terephthalate )や芳香族ポリイミド系樹脂等の他の
樹脂剤を用いたパワー半導体装置でも本発明が有効であ
ることは言うまでもない。
ているが、ポリブチレンテレフタレート(Poly Butylen
e Terephthalate )や芳香族ポリイミド系樹脂等の他の
樹脂剤を用いたパワー半導体装置でも本発明が有効であ
ることは言うまでもない。
【0025】
【発明の効果】本発明によればモジュールの気密性を確
保することが出来るので耐湿性において信頼性の高いモ
ジュールを実現することが出来る。また、トラッキング
指数の高い樹脂材料でも優れた耐湿性を得られる、高塵
あい環境、あるいは、高電圧電力変換装置を実現出来
る。
保することが出来るので耐湿性において信頼性の高いモ
ジュールを実現することが出来る。また、トラッキング
指数の高い樹脂材料でも優れた耐湿性を得られる、高塵
あい環境、あるいは、高電圧電力変換装置を実現出来
る。
【図1】本発明の概念図。
【図2】本発明を適用したモジュールの一実施例の断面
図。
図。
【図3】従来モジュールの断面図。
【図4】本発明を適用したモジュールの他の実施例の断
面図。
面図。
【図5】本発明を適用した他の実施例の端子部分の断面
図。
図。
【図6】本発明で端子部にサンドブラストを適用した場
合の断面図。
合の断面図。
【図7】本発明で樹脂表面にはめ込み式のフィンを適用
した場合の断面図。
した場合の断面図。
【図8】本発明を適用したモジュールを実装した電力変
換装置の一実施例。
換装置の一実施例。
101…半導体素子、102…半田、103…銅箔、1
04…AlN板、105…AlN基板、106…モジュー
ル底面ベース、107…金属ワイヤー、108,304
…モジュール側面樹脂、109,302,402,60
2…端子、110,201…ケースブロック、111,1
14,115,305,403…シリコーンゴム系接着
剤、112,307…シリコーンゲル、113…モジュ
ール上面蓋樹脂、116,308…モジュール内部空
間、202,306,404,603,703…エポキシ
樹脂、203…PPS/エポキシ樹脂界面、204…モ
ジュール上面PPS樹脂/端子界面、301…モジュー
ル上面樹脂、303…端子ブロック、401…PPSケ
ース剤、601…PPS樹脂、604…サンドブラスト
面、701…モジュール側面PPS樹脂、702…モジ
ュール上面PPS樹脂、704…はめ込み式フィン、8
01…パワー半導体装置、802…コレクタ側配線、8
03…中間点配線、804…エミッタ側配線、805…
ゲート配線、806…エミッタ補助配線、807…コレ
クタ補助配線、808…負荷(モータ)、809…電源、
810…放熱性グリース、811…ヒートシンク。
04…AlN板、105…AlN基板、106…モジュー
ル底面ベース、107…金属ワイヤー、108,304
…モジュール側面樹脂、109,302,402,60
2…端子、110,201…ケースブロック、111,1
14,115,305,403…シリコーンゴム系接着
剤、112,307…シリコーンゲル、113…モジュ
ール上面蓋樹脂、116,308…モジュール内部空
間、202,306,404,603,703…エポキシ
樹脂、203…PPS/エポキシ樹脂界面、204…モ
ジュール上面PPS樹脂/端子界面、301…モジュー
ル上面樹脂、303…端子ブロック、401…PPSケ
ース剤、601…PPS樹脂、604…サンドブラスト
面、701…モジュール側面PPS樹脂、702…モジ
ュール上面PPS樹脂、704…はめ込み式フィン、8
01…パワー半導体装置、802…コレクタ側配線、8
03…中間点配線、804…エミッタ側配線、805…
ゲート配線、806…エミッタ補助配線、807…コレ
クタ補助配線、808…負荷(モータ)、809…電源、
810…放熱性グリース、811…ヒートシンク。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 隆一 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内
Claims (8)
- 【請求項1】底面が金属基板、側面及び上面が有機樹脂
で構成され、内部に複数個の半導体素子を搭載し、前記
底面の金属基板上とモジュール内部に搭載する半導体素
子との間に絶縁基板を配置した内部絶縁型のパワー半導
体装置において、モジュール外周を構成する金属基板、
あるいは有機樹脂のバルクの水分浸透速度に比べ、異種
部材間を接合した部分の水分浸透速度が同等、あるいは
遅いことを特徴としたパワー半導体装置。 - 【請求項2】底面が金属基板、側面及び上面が有機樹脂
で構成され、内部に複数個の半導体素子を搭載し、前記
底面の金属基板上とモジュール内部に搭載する半導体素
子との間に絶縁基板を配置した内部絶縁型のパワー半導
体装置において、異種部材間を接合する材料の縦弾性係
数が0.01〜1kgf/mm2 の樹脂材料で構成したことを
特徴としたパワー半導体装置。 - 【請求項3】底面が金属基板、側面及び上面が有機樹脂
で構成され、内部に複数個の半導体素子を搭載し、前記
底面の金属基板上とモジュール内部に搭載する半導体素
子との間に絶縁基板を配置した内部絶縁型のパワー半導
体装置において、異種部材間を接合する材料を縦弾性係
数(kgf/mm2 )と熱膨張係数(ppm/℃)の積が1000以
下の樹脂材料で構成したことを特徴としたパワー半導体
装置。 - 【請求項4】内部絶縁型のパワー半導体装置において、
異種部材間を接合する材料をシリコーン系の接着剤で構
成したことを特徴とする請求項1,請求項2または請求
項3に記載のパワー半導体装置。 - 【請求項5】内部絶縁型のパワー半導体装置において、
側面及び上面を構成する有機樹脂がPPS剤であること
を特徴とする請求項1,請求項2,請求項3または、請
求項4に記載のパワー半導体装置。 - 【請求項6】内部絶縁型のパワー半導体装置において、
側面及び上面を構成する有機樹脂が耐トラッキング指数
が250V以上のPPS剤であることを特徴とする請求
項1,請求項2,請求項3または、請求項4に記載のパ
ワー半導体装置。 - 【請求項7】内部絶縁型のパワー半導体装置において、
異種部材を接合した材料のモジュール外側部分をエポキ
シ樹脂でコーティングし、2層構造としたことを特徴と
する請求項1,請求項2,請求項3または、請求項4に
記載のパワー半導体装置。 - 【請求項8】請求項1から7のいずれか1項に記載の内
部絶縁型のパワー半導体装置をスイッチング素子とし、
オン/オフ動作させて制御する素子として適用したこと
を特徴とする電力変換装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10161778A JPH11354716A (ja) | 1998-06-10 | 1998-06-10 | パワー半導体装置およびそれを適用した電力変換装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10161778A JPH11354716A (ja) | 1998-06-10 | 1998-06-10 | パワー半導体装置およびそれを適用した電力変換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11354716A true JPH11354716A (ja) | 1999-12-24 |
Family
ID=15741737
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10161778A Pending JPH11354716A (ja) | 1998-06-10 | 1998-06-10 | パワー半導体装置およびそれを適用した電力変換装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11354716A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009076887A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-04-09 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
| JP2019212829A (ja) * | 2018-06-07 | 2019-12-12 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 回路ユニット、電気接続箱及び回路ユニットの製造方法 |
| JP2022081337A (ja) * | 2020-11-19 | 2022-05-31 | 富士電機株式会社 | モジュール型半導体装置およびモジュール型半導体装置の製造方法 |
-
1998
- 1998-06-10 JP JP10161778A patent/JPH11354716A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009076887A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-04-09 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
| JP2019212829A (ja) * | 2018-06-07 | 2019-12-12 | 株式会社オートネットワーク技術研究所 | 回路ユニット、電気接続箱及び回路ユニットの製造方法 |
| JP2022081337A (ja) * | 2020-11-19 | 2022-05-31 | 富士電機株式会社 | モジュール型半導体装置およびモジュール型半導体装置の製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN104285294B (zh) | 半导体装置及该半导体装置的制造方法 | |
| JP3168901B2 (ja) | パワー半導体モジュール | |
| JP3223835B2 (ja) | パワー半導体装置及びその製造方法 | |
| JP6719569B2 (ja) | 半導体装置および電力変換装置 | |
| US8558361B2 (en) | Power semiconductor module | |
| CN110021590A (zh) | 电源芯片集成模块、其制造方法及双面散热电源模块封装 | |
| CN105161477A (zh) | 一种平面型功率模块 | |
| CN115223977B (zh) | 电力半导体装置、电力半导体装置的制造方法及电力变换装置 | |
| EP1739740A2 (en) | Power semiconductor | |
| JP2913247B2 (ja) | パワー半導体モジュール及び車両用インバータ装置 | |
| US12564094B2 (en) | Power semiconductor module arrangement and method for producing the same | |
| JPH0730015A (ja) | 半導体モジュール及びその製造方法 | |
| JPH10173098A (ja) | パワー半導体装置およびその製法 | |
| JP2004221381A (ja) | 半導体装置 | |
| WO2013065462A1 (ja) | 半導体装置及びその製造方法 | |
| JPH11354716A (ja) | パワー半導体装置およびそれを適用した電力変換装置 | |
| JP2022158353A (ja) | 半導体モジュールおよび半導体モジュールの製造方法 | |
| JPH0864759A (ja) | 樹脂封止型パワーモジュール装置及びその製法 | |
| JP2007067084A (ja) | 電力用半導体素子及び半導体電力変換装置 | |
| JP6891075B2 (ja) | パワー半導体モジュール | |
| JP2008016564A (ja) | 樹脂封止型パワーモジュール | |
| JPH08186193A (ja) | 回路基板及びそれを用いた半導体装置 | |
| JP2002050728A (ja) | 半導体装置 | |
| JPH1167977A (ja) | 樹脂封止型パワーモジュール装置およびその製法 | |
| JP2003309224A (ja) | 半導体装置 |