JPH11500246A - 組立前欠陥記録排除機能を有する診断方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 組立前欠陥記録排除機能を有する診断方法（100）は、主システムの組立中そのシステムか少なくとも一回作動したと判定されるまで(116)、欠陥の記録を禁止する。この方法はそれでもシステムの欠陥／エラーの検出を警報ランプ（120）の点灯により知らせるが(112)、主システムが少なくとも一回全くエラーなしに通電されたとシステムが判定するまでは(118と122)、これらの欠陥をメモリに記録しない。このように、これらの欠陥が製造／組立中にメモリに記憶されないので、本発明の方法では、診断システムのための、メモリの抹消および／または消去をする付加的な組立ステップまたは外部制御の記録入力の必要性がなくなる。

Description

【発明の詳細な説明】 組立前欠陥記録排除機能を有する診断方法 発明の背景 本発明は、一般的に診断システムに関し、特に自動組立中の電子部品の欠陥お よび／または不具合の記録の診断と管理のための改良された方法とシステムに関 する。 多くの電気回路、特に安全システムまたは防護システムに用いられる回路は普 通、回路の欠陥を検査し、次いで検出されたいずれの欠陥をも記録するための自 己診断装置を採用している。さらに、記録された欠陥に反応して普通、警報装置 が起動し、電気回路の適切な保守点検が時宜に適した方法で実施出来るようにな っている。 しかし、このような自己検査／記録装置は一般的に主システムの製造中または 組立中に問題の多いものとなる。特に回路は、全体システムの組立中に個々に装 着される各種副部品から構成される趨勢にある。各副部品が装着されるとき、、回 路は瞬間的に始動するか、または“通電”して副部品の正しい装着を検証する。 システムが部分的に組み立てられただけのとき、自己検査回路はその特性上、不 完全回路による欠陥と診断し、欠陥の検出をメモリに記録する。 したがって、既知の製造工程は、組み立て中の欠陥はいずれも自己検査回路に よる検出および／または記録を禁止する外部制御入力を備えるか、または回路が 完全に組み立てられた後欠陥記録を排除または抹消する余計な製造工程を備えね ばならない。これらの解決策はいずれも、製造工程に加わる複雑性および／また は費用の故にあまり満足なものではない。 発明の概要 したがって、本発明の一つの目的は、組立工程中の欠陥の記録を禁止するため の外部回路を全く必要としない自己診断システムの提供にある。 本発明の別の目的は、自己診断システムに組立前欠陥記録の自動規制方法を設 けることにある。 本発明によれば、装置の運転状況を観測および評価するための手段とその運転 状況を記録するためのメモリとから構成される診断システムにおいて、欠陥状態 の記録を制御する方法が、エラーが検出されたか否かを判定するステップと、エ ラーが検出されたとき、その装置が少なくとも一度は作動していたか否かを判定 するステップとから構成される。少なくとも一回も作動をしていない装置への応 答では、本発明はそのエラーをメモリに記録しない。しかし、一度は作動してい た装置への応答では、検出したエラーをメモリに記録する。さらに、エラーが検 出されなかったとき、本発明の方法は、その装置が少なくとも一回は作動してい たか否かを判定し、一度も作動をしていない装置への応答では、その装置が一度 は作動したと検出されなかったことをメモリに記録してその装置の状態を更新す る。 さらに本発明にしたがうと、装置は複数の副回路部品を有する主回路部品から 構成されており、主回路部品が少なくとも一度は作動していたか否かを判定する ステップにより、診断システムが主回路部品の周期的組立検査の間のメモリに検 出した欠陥を記録するのを禁止する。 本発明は好適態様に関する以下の詳細な説明を添付図面とともに一読すればさ らに十分に理解されよう。 図面の簡単な説明 図１は、本発明の診断排除方法を示すフローチャートである。 図２は、本発明の方法を組み込んだ自己診断回路のブロック図である。 好適態様の詳細な説明 図１を参照すると、このフローチャートは、図２にブロック図で示した自己診 断システム10に用いられる本発明の診断排除方法全体100を示す。自己診断回路 は基本的にマイクロプロセッサ監視装置12、E2PROMのような読み取り／書き込み メモリ14およびランプ16のような警報手段を含む。自己診断システム10は、自動 車衝突検出システムに用いられる複数の回路副部品のような、主システムに使用 される各種回路副部品18a乃至18nの作動状態を監視する。各回路副部品18の状態 はメモリ14に記憶される。欠陥部品の検出はさらに警報ランプ16の点灯によって 報告され、それによって適切な担当者に保守点検または修理の必要を警告する。 各種副部品18の主システムア組立物への一般的製造／組立の間、電源20からの 電力は、各副部品18が主システムに装着および／または接続された後スイッチ22 が閉じることにより瞬間的に給電される。製造工程の間ステップ110において電 力が加えられる毎に、マイクロプロセッサ監視装置12がステップ112において一 連の診断試験を実施し、システム部品のいずれが不具合であるかを認識する。メ モリ14内の特定位置を監視装置12が使用し、主システムおよび／または個々の回 路副部品の作動状態を記憶する。 システムの初期“電源投入”に際して、このメモリ位置にはメモリチップの製 造者による“OO”または“ff”のいずれかが入っている。システムの故障が検出 されず、またメモリ14に記憶されたシステム状態がステップ114において更新さ れていないとシステムが判定したときは、ステップ116においてそのメモリ位置 に特定値が書き込まれ、システムが一度は機能良好と認識されたことをあらわす 。しかし、システムがステップ112において機能していない場合は、副部品18の いくつかが取り付けられたのみで、且つシステムがステップ118においてシステ ムは一度は機能良好であったと判定されたことを示す特定値がそのメモリ位置に 入っていないと判定した場合と同じく、警報ランプ16がステップ120において点 灯するが、メモリ14には不具合は記録されない。前述のように、この状況は完全 に組み立られていないシステムにのみ起こることである。 システムが完全に組み立てられ通電されてシステムの不調が全くない場合、ス テップ116においてシステムが一度は機能良好であった旨をあらわす特定値をそ のメモリ位置に書き込む。したがってこの時点以降、システム10がステップ112 においてエラーを検出すると、システム10はステップ118において主システムが 少なくとも一度は完全に作動していたと認識し、それに対応して検出した不具合 をステップ122においてメモリ14に記録し警報ランプ16を点灯する。 従って、本発明の診断排除方法はシステム組立中の欠陥の記録を何らの外部制 御入力および／またはハードウエアなしに効果的に禁止する。システム10はそれ でもシステムの不具合／エラーの検出を警報ランプ16の点灯により知らせるが、 主システムが最低一度は何のエラーもなく通電されたことを判定するまではこれ らの欠陥をメモリに記録することはない。さらに、これらの欠陥が製造／組立中 にメモリに記憶されないので、本発明の方法ではまたメモリ14を抹消および／ま たは消去する付加的な組立ステップの必要性がなくなる。 本発明の好適態様に関する前述の説明は例示的目的のみのためのものであり、 ここに開示した各種の構造的および作動的特性は数多の変更を受容するものであ って、それらのいずれもが添付の請求項に定義する通りの本発明の精神と範囲を 逸脱するものでないことが理解されよう。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １．装置の作動状態を監視および評価するための手段とその作動状態を記録する ためのメモリとを含む診断システムにおいて、 （a）エラーが検出されたか否かを判定するステップと、 （b）前記装置は少なくとも一度は作動したか否かを判定するステップと、 （c）少なくとも一度も作動していない前記装置に応答して、前記検出された エラーは前記メモリに記録しないステップと、 （d）少なくとも一度は作動した前記装置に応答して、前記検出されたエラー を前記メモリに記録するステップ との各ステップを含む、欠陥状態の記録を制御するための方法。 ２．エラーが検出されず且つ前記装置が一度も作動していない場合、前記装置が 一度は作動したとして検出されたことを上記メモリに記録するステップ、を更に 含む、請求項１の方法。 ３．前記装置が一度は作動したか否かを判定するステップが前記メモリ内に記憶 された作動状況にアクセスすることを含む、請求項１の方法。 ４．前記装置が複数の副回路部品を有する主回路部品を含み、前記主回路部品が 少なくとも一度は作動したか否かを判定する前記ステップは、前記主回路部品の 周期的な組立検査の間、検出された欠陥を前記診断装置が前記メモリへ記録する ことを禁止する、請求項１の方法。 ５．ステップ（c）がさらに警報手段の起動を含む、請求項１の方法。