JPH1152251A - 顕微鏡装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】落射照明による観察を行うとき、落射照明によ
る光が透過照明系から戻らない顕微鏡装置を提供する。 【解決手段】 試料５１を載置するステージ５０と、落
射照明系３０と、複数のコンデンサレンズ２２〜２４を
含む透過照明系１０と、ステージ５０直下の顕微鏡光路
に複数のコンデンサレンズ２２〜２４のいずれかを選択
的に配置するコンデンサレンズ部２０と、コンデンサレ
ンズ部２０を駆動する駆動部２５とを備え、落射照明系
３０による落射照明観察と透過照明系１０による透過照
明観察とが可能な顕微鏡装置において、顕微鏡装置には
観察状態が落射照明系３０であるか否かを検出する検出
部４５，８２と、検出部４５，８２によって落射照明系
３０であることが検出されたとき、駆動部２５を駆動
し、コンデンサレンズ２２〜２４をステージ５０直下の
顕微鏡光路から外れた退避位置へ移動させるＣＰＵ７０
とを付加した。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は顕微鏡装置に関
し、特に透過照明及び落射照明による２つの観察ができ
る顕微鏡装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、試料を載置するステージと、複数
の対物レンズを含む落射照明系と、複数のコンデンサレ
ンズを含む透過照明系と、ステージ直下の顕微鏡光路に
複数のコンデンサレンズのいずれかを選択的に配置する
コンデンサレンズ部と、コンデンサレンズ部を駆動する
駆動部とを備え、落射照明系による落射照明観察と透過
照明系による透過照明観察とを行うことができる顕微鏡
装置が知られている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記構成の顕微鏡装置
を用いて落射照明による観察を行うとき、落射照明によ
る光が試料を透過し、ステージ直下に配置されている透
過照明系のコンデンサレンズ、更にその下方に配置され
ている結像レンズに照明される。

【０００４】このとき、対物レンズによって試料面に集
光した照明光がコンデンサレンズや結像レンズで反射
し、反射光が再び試料面で再結像してしまうことがあ
る。

【０００５】その結果、反射光が落射照明系へ戻り、結
像に寄与しない光（フレア）が生じたり、コントラスト
が低下したりする。特に落射蛍光観察の場合には、Ｓ／
Ｎ比を悪化させる大きな原因となっている。

【０００６】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、その課題は落射照明による観察を行うとき、
落射照明による光が透過照明系から戻らない顕微鏡装置
を提供することである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
請求項１記載の発明の顕微鏡装置は、試料を載置するス
テージと、落射照明系と、コンデンサレンズを含む透過
照明系と、前記ステージ直下の顕微鏡光路に前記コンデ
ンサレンズを配置する切換手段と、前記切換手段を駆動
する駆動手段とを備え、前記落射照明系による落射照明
観察と前記透過照明系による透過照明観察とが可能な顕
微鏡装置において、観察状態が落射照明系であるか否か
を検出するための検出手段と、前記検出手段によって前
記落射照明系であることが検出されたとき、前記駆動手
段を駆動し、前記コンデンサレンズを前記ステージ直下
の顕微鏡光路から外れた退避位置へ移動させる制御手段
とを備えることを特徴とする。

【０００８】検出手段によって落射照明系であることが
検出されたとき、コンデンサレンズをステージ直下の顕
微鏡光路から外れた退避位置へ移動させるので、落射照
明系の光がコンデンサレンズで反射して落射照明系へ戻
ることを防止できる。ここで、ステージ直下の顕微鏡光
路から外れた退避位置とは、ステージ直下であっても光
路から外れている場合、光路上にあってもステージ直下
にはない場合及びステージ直下にも光路上にもない場合
を含む位置を意味する。また、ステージ直下とはステー
ジのすぐ下を意味する。

【０００９】請求項２の発明の顕微鏡装置は、前記切換
手段は前記顕微鏡光路の光軸と直交する軸に回転可能に
支持された回転体を備え、前記コンデンサレンズは各々
前記回転体の周方向に離間して複数個配置されているこ
とを特徴とする。

【００１０】回転体を回転させることによってコンデン
サレンズをステージ直下の顕微鏡光路に選択的に配置で
きるとともに、コンデンサレンズをステージ直下の顕微
鏡光路から外すこともできる。

【００１１】請求項３の発明の顕微鏡装置は、請求項２
に記載の顕微鏡装置において、前記複数のコンデンサレ
ンズのうち、高倍率コンデンサレンズの退避位置は、前
記ステージ直下の光路上の位置から１８０゜回転させた
光路上の位置であることを特徴とする。

【００１２】ステージ直下の光路上の位置から１８０゜
回転させた光路上に高倍率コンデンサレンズを退避させ
るので、高倍率コンデンサレンズをステージ直下から十
分に離すことができる。

【００１３】請求項４の発明の顕微鏡装置は、請求項２
に記載の顕微鏡装置において、前記切換手段は反射防止
部材を有し、前記複数のコンデンサレンズの任意の一つ
又は前記反射防止部材を光路に選択的に配置可能とした
ことを特徴とする。

【００１４】回転体を回転させることによって反射防止
部材を顕微鏡光路に選択的に配置できるので、落射照明
系からの光による反射が小さくなり、落射照明系への反
射光の戻りを防止できる。

【００１５】請求項５の発明の顕微鏡装置は、請求項１
に記載の顕微鏡装置において、前記検出手段は前記落射
照明系内の所定の光学部材の位置を検出することを特徴
とする。

【００１６】検出手段は所定の光学部材の位置を検出す
ることによって観察状態が落射照明系であるか否かを検
出することができる。

【００１７】請求項６の発明の顕微鏡装置は、請求項５
に記載の顕微鏡装置において、前記光学部材は前記落射
照明系の光源からの光を遮断するシャッタであることを
特徴とする。

【００１８】落射照明系の光源からの光を遮断するシャ
ッタが開いているときには落射照明系であることが検出
され、シャッタが閉じているときには透過照明系あるこ
とが検出される。

【００１９】請求項７の発明の顕微鏡装置は、請求項５
に記載の顕微鏡装置において、前記光学部材は前記落射
照明系の光源からの光と前記試料からの光とを分離する
フィルタブロックであることを特徴とする。

【００２０】フィルタブロックが光路上にあるときには
落射照明系であることが検出され、フィルタブロックが
光路上にないときには透過照明系であることが検出され
る。

【００２１】請求項８の発明の顕微鏡装置は、複数の対
物レンズと、これらの対物レンズを光路に選択的に配置
するレボルバと、このレボルバの回転位置検出手段とを
更に備え、前記切換手段は前記コンデンサレンズを複数
個備え、前記制御手段は前記検出手段によって落射照明
系でないことが検出されたとき、前記回転位置検出手段
からの信号に基づいて前記駆動手段を駆動し、前記対物
レンズに適した前記コンデンサレンズを光路へ移動させ
ることを特徴とする。

【００２２】落射照明系でないときには、回転位置検出
手段からの信号に基づいて対物レンズに適したコンデン
サレンズが光路上に配置され、透過照明による試料の観
察が可能となる。

【００２３】請求項９の発明の顕微鏡装置は、請求項１
に記載の顕微鏡装置において、前記切換手段は、複数の
退避位置を有し、前記制御手段はレボルバに保持された
複数の対物レンズ毎に、それらの対物レンズに適した退
避位置を記憶する記憶手段を備えることを特徴とする。

【００２４】記憶手段は対物レンズ毎に適した退避位置
を記憶しているので、対物レンズに適した退避位置への
素速い切換えを行うことができる。

【００２５】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。

【００２６】図１はこの発明の一実施形態に係る顕微鏡
装置のブロック構成図、図２はコンデンサレンズ部の拡
大図である。

【００２７】顕微鏡装置は、透過照明系１０と、落射照
明系３０と、ステージ５０と、接眼部６０と、ＣＰＵ
（制御手段）７０とを備える。

【００２８】透過照明系１０は、光源１１と、コレクタ
レンズ１２と、開口絞り１３と、結像レンズ１４〜１６
と、視野絞り１７と、ミラー１８と、コンデンサレンズ
部（切換手段）２０とを備える。

【００２９】コレクタレンズ１２は光源１１からの光を
集め、集めた光を結像レンズ１４〜１６等の光学素子に
進ませる。

【００３０】開口絞り１３は光の強さを調節する。

【００３１】視野絞り１７は光学系の像平面に置いた開
口であり、像の大きさ・形状を決める。

【００３２】ミラー１８は光源１１からの光をステージ
５０に載置された試料５１に向ける。

【００３３】コンデンサレンズ部２０はステージ５０の
下方に設けられる。コンデンサレンズ部２０は顕微鏡光
路の光軸と直交する軸に回転可能に支持された回転体２
１を備える。コンデンサレンズ部２０には複数のコンデ
ンサレンズ２２〜２４が回転体２１の周方向に離間して
配置されている。

【００３４】コンデンサレンズ部２０の回転体２１はモ
ータ等の駆動部（駆動手段）２５によって回転させる。
このようにして複数のコンデンサレンズ２２〜２４のい
ずれかが光路に選択的に配置される。この駆動部２５は
ＣＰＵ７０によって通電を制御される。

【００３５】図１では光路上に高倍率コンデンサレンズ
（例えば、倍率１０×以上）２２が配置されている。こ
の状態から回転体２１を時計方向へ回転させることで低
倍率コンデンサレンズ（例えば、倍率２×又は４×）２
３を光路上に配置でき、逆に回転体２１を反時計方向へ
回転させることで極低倍率コンデンサレンズ（例えば、
倍率０．５×又は１×）２４を光路上に配置できる。

【００３６】コンデンサレンズ部２０は検出部２６を備
え、検出部２６は光路に配置されているコンデンサレン
ズ２２〜２４の種類を検出する。

【００３７】落射照明系３０は光源３１と、コレクタレ
ンズ３２と、開口絞り３３と、結像レンズ３４，３５
と、視野絞り３６と、落射蛍光フィルタブロック４０
と、対物レンズ３７Ａとを備える。

【００３８】落射蛍光フィルタブロック４０は励起フィ
ルタ４１と、ダイクロイックミラー４２と、バリヤフィ
ルタ４３とで構成される。落射蛍光フィルタブロック４
０は例えば４つを一体化した落射蛍光フィルタカセット
ＦＣとして使用される。

【００３９】落射蛍光フィルタカセットＦＣはモータ等
の駆動部４４を備え、図面と直交する方向へ移動する。
駆動部４４はＣＰＵ７０によって通電を制御される。

【００４０】落射蛍光フィルタカセットＦＣは検出部
（検出手段）４５を備え、検出部４５は光路上に配置さ
れている落射蛍光フィルタブロック４０の種類及び有無
を検出する。

【００４１】コレクタレンズ３２と開口絞り３３との間
にはシャッタ８０が設けられている。このシャッタ８０
はモータ等の駆動部８１を備え、シャッタ８０を開閉さ
せる。駆動部８１はＣＰＵ７０によって通電を制御され
る。

【００４２】シャッタ８０は検出部（検出手段）８２を
備え、検出部８２はシャッタ８０の開閉を検出する。

【００４３】複数の対物レンズ３７Ａはステージ５０の
上方に設けられた電動レボルバ３７に取り付けられてい
る。電動レボルバ３７はモータ等の駆動部３８を備え、
後述する信号入力部７２からの指示に基づいて対物レン
ズ３７Ａを光路上に移動させる。駆動部３８はＣＰＵ７
０によって通電を制御される。

【００４４】電動レボルバ３７は検出部（回転位置検出
手段）３９を備え、検出部３９は光路に配置されている
対物レンズを検出する。

【００４５】接眼部６０は落射蛍光フィルタカセットＦ
Ｃの上方に設けられ、プリズム６１と接眼レンズ６２と
を備える。

【００４６】ＣＰＵ７０には駆動部２５，３８，４４，
８１、検出部２６，３９，４５，８２、メモリ７１及び
信号入力部７２が接続されている。

【００４７】ＣＰＵ７０は光路に落射蛍光フィルタブロ
ック４０が配置されているときは落射照明系３０であ
り、光路に落射蛍光フィルタブロック４０が配置されて
いないときには透過照明系１０であると判断する。

【００４８】また、ＣＰＵ７０はシャッタ８０が開のと
き落射照明系３０であり、閉のとき透過照明系１０であ
ると判断する。

【００４９】メモリ７１にはレボルバ３７に保持された
複数の対物レンズ３７Ａ毎に、各対物レンズ３７Ａに適
したコンデンサレンズ２２〜２４や各対物レンズ３７Ａ
に適した退避位置が記憶されている。

【００５０】信号入力部７２は照明系の選択やレボルバ
３７を回転させる指示等を行う。

【００５１】透過照明系１０による観察の場合、フィル
タブロック４０は光路から外される。光源１１から出射
された光はコレクタレンズ１２、開口絞り１３、結像レ
ンズ１４、視野絞り１７、結像レンズ１５を通り、ミラ
ー１８で偏向され、結像レンズ１６、高倍率コンデンサ
レンズ２２を通してステージ５０上の試料５１に照射さ
れる。この照明光によって得られた像は対物レンズ３７
Ａを通ってプリズム６１に入射し、接眼レンズ６２で観
察される。

【００５２】信号入力部７２からの指示によってレボル
バ３７を回転させて対物レンズ３７Ａを切り換えた場
合、光路に挿入された対物レンズ３７Ａが検出部３９に
よって認識される。

【００５３】ＣＰＵ７０はメモリ７１に記憶されてい
る、対物レンズ３７Ａに適したコンデンサレンズ２３又
はコンデンサレンズ２４に切り換えるように駆動部２５
を駆動するとともに、開口絞り１３、視野絞り１７の設
定を調節する。

【００５４】落射照明系による観察の場合、光源３１か
ら出射された光はコレクタレンズ３２、開口絞り３３、
結像レンズ３４、視野絞り３６、結像レンズ３５を通
り、励起フィルタ４１によって紫外光だけの照明光とな
り、ダイクロイックミラー４２で偏向され、対物レンズ
３７Ａを通してステージ５０上の試料５１に照射され
る。この照明光によって得られた蛍光像は光路を逆行
し、対物レンズ３７Ａ、ダイクロイックミラー４２及び
バリアフィルタ４３を通ってプリズム６１に入射し、接
眼レンズ６２で観察される。

【００５５】信号入力部７２からの指示によってレボル
バ３７を回転させて対物レンズ３７Ａを切り換えた場
合、光路に挿入された対物レンズ３７Ａが検出部３９に
よって認識される。このとき、対物レンズ３７Ａに合わ
せて開口絞り３３、視野絞り３６の設定が調整される。

【００５６】ＣＰＵ７０はメモリ７１に記憶されてい
る、対物レンズ３７Ａに適した退避位置にコンデンサレ
ンズ２２を移動させるために駆動部２５を駆動して回転
体２１を１８０゜回転させる。その結果、コンデンサレ
ンズ２２がステージ５０の直下の顕微鏡光路から離れ
る。

【００５７】この実施形態によれば、コンデンサレンズ
２２の表面がステージ５０の直下から十分に離れた退避
位置に移動するので、落射照明系３０の光は対物レンズ
３７Ａから試料５１に集光した後、コンデンサレンズ２
２の表面に集光せずに拡散する。

【００５８】したがって、コンデンサレンズ２２からの
反射光の強度が小さくなり、また反射光が試料５１で結
像することがなくなり、落射照明系３０への光の戻りが
防止されるので、フレアが起きず、コントラストが低下
することもなく、落射蛍光観察のＳ／Ｎ比の悪化が防止
される。

【００５９】また、フィルタブロック４０又はシャッタ
８０によって照明系を判断するので、照明系を間違いな
く検出することができ、操作性が向上する。

【００６０】更に、メモリ７１には対物レンズ３７Ａ毎
に適した退避位置が記憶されているので、対物レンズ３
７Ａに適した退避位置への素速い切換えを行うことがで
きる。

【００６１】図３はコンデンサレンズ部の第１の変形例
を示す図である。

【００６２】このコンデンサレンズ部１２０は、図２に
示すコンデンサレンズ部２０から極低倍率コンデンサレ
ンズ２４を取り去るとともに、極低倍率コンデンサレン
ズ２４を保持する通路を無くし、凹部１２７としたもの
である。

【００６３】凹部１２７の底面には光軸と直交しない、
反射防止面（反射防止部材）１２８が形成されている。
反射防止面１２８には、例えば細かい溝加工を行った表
面に黒の艶消し塗装が行われたり、ビロード状や細かい
植毛を有する布が貼り付けられたりしている。

【００６４】この第１の変形例によれば、光路上に反射
防止面１２８を選択的に配置することで、上記実施形態
の場合と同様に、反射の影響を小さくすることができ、
落射照明系への光の戻りが防止される。

【００６５】図４はコンデンサレンズ部の第２の変形例
を示す図である。

【００６６】このコンデンサレンズ部２２０は、凹部２
２７を図３に示す場合よりも深く形成したものである。

【００６７】この第２の変形例によれば、凹部２２７の
底面の、反射防止面２２８が第１の変形例の場合よりも
更にステージ５０の直下から離れるので、より反射の影
響を小さくすることができる。

【００６８】図５はコンデンサレンズ部の第３の変形例
を示す図である。

【００６９】このコンデンサレンズ部３２０は、反射防
止面３２８を回転体３２１の外周面かつ高倍率コンデン
サレンズ２３と極低倍率コンデンサレンズ２５との間に
形成したものである。

【００７０】反射防止面３２８は光軸と直交しないよう
に形成され、その表面に第１の変形例と同様の反射防止
処理が施されている。

【００７１】この第３の変形例によれば、上記実施形態
及び変形例の場合よりも小さい回転角度で高倍率コンデ
ンサレンズ２３及び極低倍率コンデンサレンズ２５から
反射防止面３２８に切り換えることができるので、コン
デンサレンズ部３２０をより素速く反射防止面３２８へ
切り換えることができる。

【００７２】また、この変形例では反射防止面３２８が
ステージ５０の直下の顕微鏡光路の近傍に配置されるこ
とになるので、対物レンズの種類によっては反射光の影
響を大きく受ける場合が考えられるが、その場合には図
２に示す位置へコンデンサレンズ部３２８を切り換える
ようにすればよい。

【００７３】なお、反射防止面１２８，２２８，３２８
は上記変形例に示した位置に形成する必要はなく、光路
上に配置可能な任意の位置であってもよい。

【００７４】さらに、上述の実施形態においては、コン
デンサレンズを複数備えているが、１つだけであっても
良い。

【００７５】

【発明の効果】以上に説明したように請求項１に記載の
発明の顕微鏡装置によれば、落射照明系の光がコンデン
サレンズで反射して落射照明系へ戻ることを防止でき
る。

【００７６】請求項２に記載の発明の顕微鏡装置によれ
ば、回転体を回転させることによってコンデンサレンズ
をステージ直下の顕微鏡光路に選択的に配置できるとと
もに、コンデンサレンズをステージ直下の顕微鏡光路か
ら外すこともできる。

【００７７】請求項３に記載の発明の顕微鏡装置によれ
ば、高倍率コンデンサレンズはステージ直下から十分に
離れ、光路上にあるにもかかわらず高倍率コンデンサレ
ンズからの反射光の強度が小さくなるとともに、試料面
での再結像がなくなり、落射照明系への反射光の戻りを
防止できる。

【００７８】請求項４に記載の発明の顕微鏡装置によれ
ば、反射防止部材によって落射照明系からの光による反
射が小さくなり、落射照明系への反射光の戻りを防止で
きる。

【００７９】請求項５に記載の発明の顕微鏡装置によれ
ば、検出手段は所定の光学部材の位置を検出することに
よって観察状態が落射照明系であるか否かを間違いなく
検出することができ、操作性が向上する。

【００８０】請求項６に記載の発明の顕微鏡装置によれ
ば、落射照明系の光源からの光を遮断するシャッタが開
いているときには落射照明系であることが検出され、シ
ャッタが閉じているときには透過照明系あることが検出
されるので、照明系の判別を容易かつ確実に行うことが
できる。

【００８１】請求項７に記載の発明の顕微鏡装置によれ
ば、フィルタブロックが光路上にあるときには落射照明
系であることが検出され、フィルタブロックが光路上に
ないときには透過照明系であることが検出されるので、
照明系の判別を容易かつ確実に行うことができる。

【００８２】請求項８に記載の発明の顕微鏡装置によれ
ば、落射照明系でないときには、回転位置検出手段から
の信号に基づいて対物レンズに適したコンデンサレンズ
が光路上に配置され、透過照明による試料の観察が可能
となる。

【００８３】請求項９に記載の発明の顕微鏡装置によれ
ば、記憶手段は対物レンズ毎に適した退避位置を記憶し
ているので、対物レンズに適した退避位置への素速い切
換えを行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１はこの発明の第１実施形態に係る顕微鏡装
置のブロック構成図である。

【図２】図２はコンデンサレンズ部の拡大図である。

【図３】図３はコンデンサレンズ部の第１の変形例を示
す図である。

【図４】図４はコンデンサレンズ部の第２の変形例を示
す図である。

【図５】図５はコンデンサレンズ部の第３の変形例を示
す図である。

【符号の説明】

１０ 透過照明系 ２０ コンデンサレンズ部（切換手段） ２１，１２１，２２１，３２１ 回転体 ２５ 駆動部（駆動手段） ３０ 落射照明系 ３７ レボルバ ３７Ａ 対物レンズ ３９ 検出部（回転位置検出手段） ４０ フィルタブロック ４５，８２ 検出部（検出手段） ５０ ステージ ５１ 試料 ７０ ＣＰＵ（制御手段） ７１ メモリ（記憶手段） ８０ シャッタ １２８，２２８，３２８ 反射防止面（反射防止部材）

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 試料を載置するステージと、落射照明系
   と、コンデンサレンズを含む透過照明系と、前記ステー
   ジ直下の顕微鏡光路に前記コンデンサレンズを配置する
   切換手段と、前記切換手段を駆動する駆動手段とを備
   え、前記落射照明系による落射照明観察と前記透過照明
   系による透過照明観察とが可能な顕微鏡装置において、 観察状態が落射照明系であるか否かを検出するための検
   出手段と、 前記検出手段によって前記落射照明系であることが検出
   されたとき、前記駆動手段を駆動し、前記コンデンサレ
   ンズを前記ステージ直下の顕微鏡光路から外れた退避位
   置へ移動させる制御手段とを備えることを特徴とする顕
   微鏡装置。
2. 【請求項２】 前記切換手段は前記顕微鏡光路の光軸と
   直交する軸に回転可能に支持された回転体を備え、前記
   コンデンサレンズは各々前記回転体の周方向に離間して
   複数個配置されていることを特徴とする請求項１に記載
   の顕微鏡装置。
3. 【請求項３】 前記複数のコンデンサレンズのうち、高
   倍率コンデンサレンズの退避位置は、前記ステージ直下
   の光路上の位置から１８０゜回転させた光路上の位置で
   あることを特徴とする請求項２に記載の顕微鏡装置。
4. 【請求項４】 前記切換手段は反射防止部材を有し、前
   記複数のコンデンサレンズの任意の一つ又は前記反射防
   止部材を光路に選択的に配置可能としたことを特徴とす
   る請求項２に記載の顕微鏡装置。
5. 【請求項５】 前記検出手段は前記落射照明系内の所定
   の光学部材の位置を検出することを特徴とする請求項１
   に記載の顕微鏡装置。
6. 【請求項６】 前記光学部材は前記落射照明系の光源か
   らの光を遮断するシャッタであることを特徴とする請求
   項５に記載の顕微鏡装置。
7. 【請求項７】 前記光学部材は前記落射照明系の光源か
   らの光と前記試料からの光とを分離するフィルタブロッ
   クであることを特徴とする請求項５に記載の顕微鏡装
   置。
8. 【請求項８】 複数の対物レンズと、これらの対物レン
   ズを光路に選択的に配置するレボルバと、このレボルバ
   の回転位置検出手段とを更に備え、 前記切換手段は前記コンデンサレンズを複数個備え、 前記制御手段は前記検出手段によって落射照明系でない
   ことが検出されたとき、前記回転位置検出手段からの信
   号に基づいて前記駆動手段を駆動し、前記対物レンズに
   適した前記コンデンサレンズを光路へ移動させることを
   特徴とする請求項１に記載の顕微鏡装置。
9. 【請求項９】 前記切換手段は、複数の退避位置を有
   し、前記制御手段はレボルバに保持された複数の対物レ
   ンズ毎に、それらの対物レンズに適した退避位置を記憶
   する記憶手段を備えることを特徴とする請求項１に記載
   の顕微鏡装置。