JPH1152779A - 照明装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 コンデンサーの蓄積エネルギーでフラッシュ
ランプを発光させる照明装置において、コンデンサーと
フラッシュランプの接続部の経時的な劣化を判断でき、
接続部の重大な不具合を未然に防ぐ。 【解決手段】 フラッシュランプ１、ランプ１の発光エ
ネルギーを蓄えるコンデンサー２ａ、コンデンサー２ａ
の充電電圧を検出する充電電圧検出手段５、コンデンサ
ー２ａとランプ１を接続する接続部９を有する。接続部
９よりもランプ１側にランプ１と並列に接続された放電
抵抗１１、放電抵抗１１に直列接続された開閉手段１０
ａ、ランプ発光照度を測定する光学測定手段１５を備
え、光学測定手段１５で測定されたランプ発光照度が設
定値以下になったとき、開閉手段１０ａを閉じて放電抵
抗１１によるコンデンサー２ａの放電回路を形成し、放
電開始後のコンデンサー電圧を充電電圧検出手段５で検
知する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ストロボ発光器等
のフラッシュランプを用いた照明装置に関するもので、
複写機の原稿照明装置や定着装置などとして、あるいは
プリンターの定着装置などとして適用可能なものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば複写機に使用される原稿照
明装置の一つの方式として、光源にストロボ発光器等の
フラッシュランプを使用したものが知られている。この
フラッシュランプは、予め発光エネルギーが蓄積される
コンデンサーとこのコンデンサーにエネルギーを蓄積す
るフラッシュ電源回路とを有し、トリガー回路によりフ
ラッシュランプをオンさせて放電を開始させ、フラッシ
ュランプを介し上記コンデンサーの蓄積電荷を瞬間的に
放電させて瞬間的に大きな光量を発光させるようになっ
ている。上記コンデンサーとフラッシュランプは、ソケ
ットとプラグとからなる接続部を介して接続される。フ
ラッシュランプの接続に関しては、ランプにかかる電圧
が例えば２ＫＶ程度というように高電圧であり、かつ、
流れる電流は例えば２０００Ａ程度というように高電流
であるという使用背景があり、従来から接続部の劣化や
破損が問題になっている。これは、高電圧、高電流で高
エネルギーを伝達するため、経時的な接点の劣化が起こ
り易いことによる。この接点の劣化は、ランプの発光回
数が重なることにより進行する。さらに、発光量を増大
させるために、仕様において発光電圧を高くする傾向に
あり、よって電流も増加する傾向にあるため、接点の劣
化はさらに進みやすく、最終的には炭化して導通不良に
なることがある。劣化の初期状態で接続部のメンテナン
ス、接続の再チェックを行えば、接続部の劣化や破損を
防ぐことができる。

【０００３】上記のようなフラッシュランプを用いた照
明装置において、接続部の構造を工夫することによって
接続間違いや接続不良を防止することができるフラッシ
ュランプの接続装置が提案されている。実公平７−３１
５１４号公報記載のものがそれで、フラッシュランプコ
ネクタのプラグ装着方向にプラグを付勢する弾性手段を
設け、この弾性手段の付勢力により、プラグをソケット
に押しつけ、プラグとソケットとを確実に接触させるよ
うにしたものである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記公報に記載されて
いるフラッシュランプの接続装置を用いれば、入力プラ
グの装着方向にプラグを付勢する弾性手段を介してプラ
グをソケットに押し当てて固定するため、プラグとソケ
ットとを確実に接触させることができる。しかし、弾性
手段等を用いて所定の接触圧を保持させても、接点の劣
化防止には限度があり、度重なるランプの脱着により接
続部のコンタクト同士の電気的な接触抵抗は高くなり、
アークなどの現象により劣化を加速的に増長させる。

【０００５】また、ランプの接続には、端子台などにラ
ンプ側コネクタをねじ止めするということもあるが、ね
じの締め忘れなどのセットミスを犯すことがある。セッ
トミスのまま使用すると、フラッシュランプが発光しな
いばかりか、ランプ発光エネルギーを蓄積するためのコ
ンデンサーが充電され、高電圧で、かつ、高いエネルギ
ーを蓄積したまま保持され、メンテナンス従事者が高電
圧回路に触ってメンテナンス従事者を感電させることも
あり得る。

【０００６】一方、フラッシュランプ発光装置において
は、ランプの発光不良、劣化などは頻繁に起こるもので
はないが、生じ得るものであることを意識しておく必要
がある。また、ランプが全く発光しなくなるなどの決定
的な不具合とは別に、その発光に関わる因子の多さか
ら、多少の光量変化は充分発生しうる。精密な画像照射
が必要な場合、例えば高画質画像処理装置における原稿
の照明などの場合には、多少の光量変化も画像処理装置
の品質に関わる問題になる。

【０００７】そこで本発明は、コンデンサーの蓄積エネ
ルギーによってフラッシュランプを発光させるようにし
た照明装置において、上記コンデンサーとフラッシュラ
ンプとの接続部の接点の経時的な劣化を判断することが
できるようにして、接点の破壊というような重大な不具
合を未然に防ぐことができる照明装置を提供することを
目的としている。さらに本発明は、フラッシュランプ自
体の劣化、不良などに起因して照射光量が不安定な状況
になることを早く発見することができる照明装置を提供
することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項１記載の発明は、フラッシュランプと、こ
のフラッシュランプの発光エネルギーを蓄えるコンデン
サーと、このコンデンサーの充電電圧を検出する充電電
圧検出手段と、コンデンサーとランプを接続する接続部
とを有してなる照明装置において、上記接続部よりもラ
ンプ側にランプと並列に接続された放電抵抗と、この放
電抵抗に直列に接続された開閉手段と、ランプ発光照度
を測定する光学測定手段とを備え、光学測定手段によっ
て測定されたランプ発光照度が設定値以下になったとき
に、上記開閉手段を閉じて放電抵抗によるコンデンサー
の放電回路を形成し、放電開始後のコンデンサー電圧を
上記充電電圧検出手段で検知することを特徴とする。

【０００９】請求項２記載の発明は、フラッシュランプ
と、このフラッシュランプの発光エネルギーを蓄えるコ
ンデンサーと、このコンデンサーの充電電圧を検出する
充電電圧検出手段と、コンデンサーとランプを接続する
接続部とを有してなる照明装置において、上記接続部よ
りもランプ側にランプと並列に接続された放電抵抗と、
この放電抵抗に直列に接続された開閉手段と、コンデン
サーと上記接続部の間に設けられた電流制限部材と、こ
の電流制限部材の温度を測定する温度測定手段とを備
え、温度測定手段によって測定された電流制限部材の温
度がある一定の温度よりも下がったとき、上記開閉手段
を閉じて上記放電抵抗によるコンデンサーの放電回路を
形成し、放電開始後のコンデンサー電圧を上記充電電圧
検出手段で検知することを特徴とする。

【００１０】請求項３記載の発明は、フラッシュランプ
と、このフラッシュランプの発光エネルギーを蓄えるコ
ンデンサーと、このコンデンサーの充電電圧を検出する
充電電圧検出手段と、コンデンサーとランプを接続する
接続部と、フラッシュランプによって照明された原稿画
像の潜像が形成される感光体とを有してなる画像形成装
置の照明装置において、上記接続部よりもランプ側にラ
ンプと並列に接続された放電抵抗と、この放電抵抗に直
列に接続された開閉手段と、感光体上の潜像電位を測定
する電位測定手段とを備え、電位測定手段によって測定
された潜像電位値がある設定値以上になったとき、上記
開閉手段を閉じて上記放電抵抗によるコンデンサーの放
電回路を形成し、放電開始後のコンデンサー電圧を上記
充電電圧検出手段で検知することを特徴とする。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照しながら本発明
にかかる照明装置の実施の形態について説明する。ま
ず、図２を参照しながら、本発明に適用可能なコンデン
サーとフラッシュランプとを接続する接続部９の例につ
いて説明する。図２において、フラッシュランプ（図示
せず）からの電線のうち、トリガー電極からの電線４９
にはフラッシュランプの入力用プラグ５７が取り付けら
れ、ランプの電極からの電線５０、５１にはそれぞれフ
ラッシュランプの入力用プラグ５８、５９が取り付けら
れている。これら入力用プラグ５７、５８、５９は、プ
ラグ保持手段としてのプラグホルダ６０とプラグカバー
６１により、絶縁性の弾性体６２を介し、適度な自由度
をもって保持されている。より具体的には、プラグホル
ダ６０とプラグカバー６１はねじ等により連結されて実
質一体に形成されるとともに所定の間隔をおいて対向
し、電線ホルダ５２を構成している。上記プラグホルダ
６０とプラグカバー６１との間に、上記弾性体６２と入
力用プラグ５７、５８、５９のフランジ状の部分が介在
し、弾性体６２によって入力用プラグ５７、５８、５９
が図２において左方に付勢されている。

【００１２】一方、図示されないトリガユニットからの
電線６９の端部に取り付けられたソケット６３及び図示
されないフラッシュ電源からの電線７０、７１の端部に
取り付けられたソケット６４、６５はブラケット６６に
固定されている。各ソケット６３、６４、６５にそれぞ
れプラグ５７、５８、５９が差し込まれた状態で、上記
電線ホルダ５２のプラグホルダ６０がソケット手段とし
ての上記ブラケット６６にねじ止め等の適宜の手段で結
合されている。ソケット６３とソケット６４の間隔と、
ソケット６４とソケット６５との間隔は異なっている。
また、プラグホルダ６０及びプラグカバー６１で保持さ
れているプラグ５７とプラグ５８の間隔は上記ソケット
６３とソケット６４の間隔と同じであり、プラグ５８と
プラグ５９の間隔は上記ソケット６４とソケット６５の
間隔と同じである。そのため、各ソケット６３、６４、
６５にはそれぞれプラグ５７、５８、５９を差し込むこ
とができ、逆に差し込んでもセットされず、誤接続が防
止できるように構成されている。

【００１３】前述のように、プラグホルダ６０とプラグ
カバー６１は実質一体となっているため、各ソケット６
３、６４、６５にそれぞれプラグ５７、５８、５９が差
し込まれた状態でプラグホルダ６０がブラケット６６に
結合された状態では、プラグ５７、５８、５９が弾性体
６２を圧縮しながら後退し、弾性体６２を付勢する。こ
の付勢力により、プラグ５７、５８、５９はそれぞれソ
ケット６３、６４、６５に押しつけられ、各ソケット６
３、６４、６５と各プラグ５７、５８、５９との電気的
接続が確実に行われる。

【００１４】次に、本発明に用いられる電気系統の例を
説明する。図２において、フラッシュランプ１は、例え
ば、いわゆるストロボ発光器に光源として用いられるキ
セノンランプからなる。上記フラッシュランプ１は、フ
ラッシュ電源２に接続部９を介して接続されている。フ
ラッシュランプ１には、フラッシュ電源２との関係にお
いて接続部９よりもランプ１側にランプ１と並列に放電
抵抗１１が接続され、この放電抵抗１１に直列に開閉手
段１０ａが接続されている。開閉手段１０ａとして、こ
こではリレーＲＡのメイク接点が用いられている。フラ
ッシュ電源２の内部には、フラッシュランプ１を発光さ
せるためのエネルギーを蓄積するコンデンサー２ａ、お
よび異常発生時等にこのコンデンサー２ａの蓄積エネル
ギーを放電するためのリレー（図示されず）のブレイク
接点２ｂと抵抗ｒ３の直列接続でなる放電回路が接続さ
れている。また、フラッシュ電源２には電源スイッチ１
４を介して交流電源３が供給される。交流電源３はフラ
ッシュ電源２において昇圧されかつ整流されて高電圧の
直流電源に変換され、この直流電源がコンデンサー２ａ
に蓄積される。

【００１５】図２において、中央処理ユニット（以下
「ＣＰＵ」という）４は、フラッシュランプ１の発光エ
ネルギーを蓄積するための充電信号と、フラッシュラン
プ１を発光させるためのトリガ信号をフラッシュ電源２
に出力する。フラッシュ電源２は、ＣＰＵ４からの充電
信号と出力データとしての充電電圧信号により発光エネ
ルギーをコンデンサー２ａに所定電圧まで蓄積する。充
電を完了するとフラッシュ電源２から充電完了信号をＣ
ＰＵ４に出力する。フラッシュ電源２はまた、コンデン
サー２ａの電圧を分圧する抵抗Ｒ１，Ｒ２が接続され、
この分圧値を電圧検知信号としてＣＰＵ４に入力する充
電電圧検出手段５を有している。フラッシュランプ１の
近傍にはランプ発光照度を測定する光学測定手段１５が
配置され、光学測定手段１５によって測定された光量デ
ータがＣＰＵ４に入力される。

【００１６】フラッシュ電源２内には、コンデンサー２
ａと接続部９との間にリアクトルからなる電流制限部材
１９が設けられている。電流制限部材１９はコンデンサ
ー２ａからフラッシュランプ１に流れる電流を制限する
もので、流れる電流によって発熱する。電流制限部材１
９に固着して、または電流制限部材１９の近傍に、電流
制限部材１９の温度を測定する温度測定手段１７が配置
されており、測定された温度データがＣＰＵ４に入力さ
れる。フラッシュ電源２からＣＰＵ４に発光検知信号が
入力され、ＣＰＵ４からフラッシュ電源２に異常検知信
号が入力される。ＣＰＵ４はリレー駆動回路１２を介し
て前記リレーＲＡのコイル１０ｂへの通電を制御するよ
うになっている。

【００１７】図２に示す例は、複写機、プリンタ、ファ
クシミリ等の電子写真プロセスを用いた画像形成装置の
照明装置の例であって、フラッシュランプ１の発光によ
って照明された原稿からの反射光で感光体１６を露光
し、原稿の画像を感光体１６の表面に潜像として形成す
るようになっている。なお、図２では、感光体１６をド
ラム状のものとして描いているが、原稿をフラッシュラ
ンプ１で照明する場合は原稿の全面を一度に照明し、原
稿全面の画像を感光体１６の平面部に露光する必要があ
るため、実際には平面部を有する感光体ベルトが用いら
れる。図２はあくまでも電気系統図の中に感光体１６を
概念的に描写したものである。感光体１６の表面は予め
帯電器２０によって均一に帯電され、上記露光によって
原稿の画像が潜像として形成される。この潜像は、図示
されない現像プロセス、転写プロセス、定着プロセス等
からなる所定の電子写真プロセスを経ることによって、
転写紙に原稿の画像と同じ画像が再現される。感光体ド
ラム１６はさらにクリーニングプロセスを経て再び帯電
プロセスへと進む。上記露光によって感光体１６に形成
された潜像の電位を測定する電位測定手段１８が感光体
１６の表面に対向させて配置されている。電位測定手段
１８による潜像電位データはＣＰＵ４に入力される。

【００１８】ＣＰＵ４には、フラッシュ電源２の各部を
制御して照明装置の動作を制御するプログラムや、複写
動作用のプログラムを予め格納したＲＯＭ（読み出し専
用メモリ）７が接続され、また、フラッシュランプ１の
照度のデータを書き換えて格納するＲＡＭ（随時書き込
み読み出しメモリ）８が接続されている。ＣＰＵ４には
また、各種の表示を行う表示器６が接続されている。表
示器６として、ＬＥＤ（発光ダイオード）表示パネルや
ＬＣＤ（液晶表示パネル）等を用いることができる。

【００１９】次に、以上説明した実施の形態の動作を説
明する。電源スイッチ１４をオンすることによってフラ
ッシュ電源２に交流電源３が供給され、フラッシュ電源
２では交流電源３を昇圧しかつ整流して高電圧の直流電
源に変換し、これをコンデンサー２ａに蓄積する。ＣＰ
Ｕ４からトリガ信号が出力されると、フラッシュランプ
１がトリガされ、コンデンサー２ａに蓄積されているエ
ネルギーがフラッシュランプ１を通じて瞬時に放電さ
れ、フラッシュランプ１が発光する。フラッシュランプ
１の発光によってコンデンサー２ａの蓄積エネルギーが
放出され、その電圧はほぼ０Ｖになる。従って、コンデ
ンサー２ａの充電電圧を検出する充電電圧検出手段５か
らの入力信号は０Ｖになる。トリガをかけて一定時間後
にこの電圧が０Ｖになれば発光完了である。

【００２０】ころで、コンデンサー２ａの電圧が一定で
あれば、コンデンサー２ａとフラッシュランプ１との間
のインピーダンス分が増加するに伴いフラッシュランプ
１を流れる放電電流が減少するので、フラッシュランプ
１の発光量は減少する。図５は上記インピーダンスと発
光光量との関係を示す。フラッシュランプ１の発光量は
前記光学測定手段１５によって直接測定することができ
る。光学測定手段１５として、フォトダイオードなどを
使った照度計を使用することができる。測定手段１５は
ＣＰＵ４にランプ照度データをフィードバックし、ＣＰ
Ｕ４はフラッシュ電源２にランプ光量が減少しているこ
とを知らせる。上記のような現象、すなわち発光量の減
少が現れると、その原因の一つとして接続部９の劣化が
考えられる。ただし、そのほかの原因として、フラッシ
ュランプ１自体の管壁劣化などによる光量減少も考えら
れる。

【００２１】そこで、照度の値を予めある値ａに設定し
ておき、光学測定手段１５による照度測定値が上記設定
値ａ以下になったときは、以下のような放電プログラム
を実行する。まず、フラッシュ電源２においてコンデン
サー２ａの充電を行い、充電電圧が所定の電圧Ｖ０にな
ったら充電をオフする。次に、ＣＰＵ４からの指令によ
りリレー駆動回路１２からリレーコイル１０ｂに通電し
てリレー接点１０ａを閉じ、コンデンサー２ａの蓄積エ
ネルギーを抵抗値ｒ０の放電抵抗１１を介して放電させ
る。このとき、リレーのブレイク接点２ｂはオフになっ
てこの接点２ｂと抵抗ｒ３からなる放電回路はオープン
となっている。接続部９が正常であれば、コンデンサー
２ａの充電電圧Ｖは、図３に実線で示すように、コンデ
ンサー２ａの容量と放電抵抗１１の抵抗値との積である
時定数に従ってＶ０から下降し、一定時間（コンデンサ
放電時間）経過した時点Ｔａでの電圧はＶａになる。従
って、ある時間経過した時点Ｔａでの電圧がＶａであれ
ば、ＣＰＵ４は表示器６に、例えば「接続部は正常。光
量ダウンはランプの劣化が原因。」というエラーメッセ
ージを表示させる。

【００２２】しかし、接続部９が接続不良を起こし始め
ると、図３に一点破線で示すように下降曲線が変化す
る。より具体的には、時間の経過に伴うコンデンサー充
電電圧Ｖの下降の程度が小さく、上記時点Ｔａでの電圧
Ｖａ１は、接続部９が正常時の時点Ｔａでの電圧Ｖａよ
りも高い値になる。このときの等価回路を図４に示す。
図４に示すように、接続部９が接続不良を起こすと、接
続部９には放電電流の通路にｒ１、ｒ２で示すような抵
抗分が発生し、放電回路の抵抗Ｒは、Ｒ＝ｒ０＋ｒ１＋
ｒ２となり放電時定数が大きくなる。従って、Ｖａ＜Ｖ
ａ１となる。さらに、接続部９のソケットまたはプラグ
が破壊されて電気的遮断状態、もしくはソケットとプラ
グがセットされておらず、接続部９がオープン状態にな
っている場合の放電時間Ｔとコンデンサー充電電圧Ｖと
の関係を図３に破線で示す。上記抵抗分ｒ１とｒ２は高
抵抗となり、一定時間経過時点Ｔａではほとんど電圧Ｖ
は下降せず、そのときの電圧をＶａ２としたとき、Ｖａ
２とＶ０とＶａとの関係は、Ｖ０＝Ｖａ２＞Ｖａとな
る。この状態は、接続部９において放電電流通路のどち
らか一方がオープンの状態になっても同様である。そこ
でＣＰＵ４はエラーメッセージとして、表示器６に例え
ば「接続部異常」と表示させる。

【００２３】このように、フラッシュランプ１の照度が
落ちたときに、接続部９の接点劣化を原因とするもの
か、あるいはフラッシュランプ１自体の劣化を原因とす
るものかの判断を簡単に行うことができる。そして、各
異常状態に対応したメッセージを表示器６に表示して、
使用者、メンテナンス従事者に報知することにより、迅
速なメンテナンスを行うことができる。前記照度設定値
ａは、接続部９の劣化程度が軽度であると予想される値
にしておけば、接続部９の不良による致命的なトラブ
ル、例えば接続部９の破壊等に至ることはない。

【００２４】以上の動作は図６に示されている。図６を
参照しながら再度動作を説明する。なお、図６に付され
ている「６００〜６１４」の数字は動作ステップを示し
ている。ステップ６０１（以下、ステップについては
「６０１」「７０１」のように数字のみを表示する）で
電源スイッチ１４をオン、６０２でフラッシュランプ１
の発光動作、６０３で光学測定手段１５による照度測定
を行う。６０４では照度測定値が設定値ａ以下であるか
どうかを判断し、設定値ａ以下でなければ異常なしとし
て通常の動作、例えば複写機であれば、フラッシュラン
プの発光による原稿画像の感光体への露光、これに続く
所定の電子写真プロセスを実行する。６０４で照度測定
値が設定値ａ以下であると判断された場合は、６０５で
フラッシュ電源２によりコンデンサー２ａに充電を開始
する。６０６で充電電圧Ｖが所定の設定電圧Ｖｏになる
のを待ち、充電電圧Ｖが設定電圧Ｖｏになったら、６０
７で充電をオフし、次に放電抵抗１１を有する放電回路
を介してコンデンサー２ａの蓄積エネルギーを放電させ
るために放電リレーＲＡをオンする。

【００２５】６０９ではリレーＲＡがオンしている時間
ＴＲが前記Ｔａに達するのを待ち、Ｔａに達したら、６
１０で放電リレーＲＡをオフし、６１１で充電電圧Ｖが
予め設定した値Ｖａよりも低いかどうかを判断する。充
電電圧ＶがＶａよりも低くなっていれば、６１３におい
てエラーメッセージ１として、前述の例えば「接続部は
正常。光量ダウンはランプの劣化が原因。」というよう
な表示をする。６１１で充電電圧ＶがＶａよりも高いと
判断された場合は、６１２においてエラーメッセージ２
として、前述の例えば「接続部異常」というような表示
をする。

【００２６】図２に示す実施の形態では、コンデンサー
２ａと接続部９との間に、発光電流制限部材１９（一般
的にはインダクタ）が挿入されている。通常、この電流
制限部材１９は、フラッシュランプ１の発光電流を抑え
る目的で使用される。電流制限部材１９には、電気的な
抵抗損失による銅損と、磁気抵抗損失による鉄損があ
り、これらの損失によって発熱する。この発熱量は電流
値や周波数によっても変化し、発熱量に応じて温度が変
化する。図示の実施の形態のような照明装置の場合、発
光電流周波数はほぼ一定であるので、発光電流値と温度
はある程度の比例関係になる。フラッシュランプ１の照
度が予め定めた値ａよりも低下した場合、接続部９に異
常があるのかまたはフラッシュランプ１に異常があるの
かを判断することができる。その理由は次の通りであ
る。一定のランプ電圧下において接続部９の接触抵抗が
上がると発光電流は抑えられることになり、電流制限部
材１９の温度が下がる。図１０はこれを示すもので、コ
ンデンサー２ａとランプ１との間のインピーダンスとリ
アクトルからなる電流制限部材１９の温度との関係を示
す。

【００２７】また、ランプ１自体の異常、例えば封入ガ
ス圧の変化などで電流値が変わり、電流制限部材１９の
温度が下がることもある。従って、ランプ１の照度が予
め定めた値ａよりも低下した場合は、接続部９またはフ
ラッシュランプ１の何れかに異常があるものと判断する
ことができる。そこで、図６に示す６０５〜６１４と同
じ動作を行わせることによって、接続部９に異常がある
のかまたはフラッシュランプ１に異常があるのかを判断
することができる。すなわち、温度測定手段１７による
検出信号をＣＰＵ４に入力し、ランプ電圧が一定という
条件下で電流制限部材１９の温度データがある設定値以
下になれば、前述のように、リレーＲＡに通電してリレ
ー接点１０ａを閉じ、抵抗１１を通じてコンデンサー２
ａの蓄積エネルギーを放電させながらコンデンサー充電
電圧Ｖのチェックを行うことで、接続部９の不良である
かまたはフラッシュランプ１の異常であるかを判断す
る。

【００２８】この動作の流れを図７に示す。図７に示す
ように、７０１で電源スイッチ１４をオンし、７０２で
ランプ１に発光動作を行わせ、７０３で温度測定手段１
７により電流制限部材１９の温度を測定する。温度測定
値が予め設定された値ｂ以下であるかどうかを７０４で
判断し、温度測定値が設定値ｂ以上であれば接続部９も
フラッシュランプ１も正常であると判断できるので、複
写機であれば通常の複写動作を続ける。温度測定値が設
定値ｂ以下であれば、接続部９またはフラッシュランプ
１の異常と考えられるので、次のステップ７０５に進
む。ただし、ステップ７０５は図６に示す前述の実施の
形態のステップ６０５〜６１４と同じで、コンデンサー
２ａを所定の電圧Ｖｏまで充電したあと、放電抵抗１１
を通じて放電させ、時間Ｔａで放電を停止させ、そのと
きのコンデンサー２ａの充電電圧Ｖが前述の所定の電圧
Ｖａよりも高いか低いかで、接続部９の異常であるかま
たはフラッシュランプ１の異常であるかを判定すること
ができる。接続部９が正常な接続状態でランプ１自体の
発光に問題があるのであれば、充電電圧ＶはＶａよりも
低くなる。接続部９に異常があれば充電電圧ＶはＶａよ
りも高くなるので、接続部９の異常を検出することがで
きる。このときＣＰＵ４からフラッシュ電源２へのトリ
ガ信号をオフし、表示器６に異常であることを表示し、
機械動作を停止できるように構成しておけばなおよい。

【００２９】図２において、複写機などの光学ユニット
では、フラッシュランプ１からの照射光が原稿によって
反射され、帯電器２０により均一に帯電された感光体１
６に上記反射光を照射して露光し、原稿の画像と同じ画
像を潜像として形成させる。この場合、フラッシュラン
プ１の光量変化が、形成される画像にどの程度影響する
かを判断するには、ランプ１からの光の量を測るより
も、感光体１６上の潜像電位を測定することが、より出
力画像に近い形で測定できる利点がある。感光体１６の
電位測定手段１８は、前述の光学測定手段１５、温度測
定手段１７と同様にＣＰＵ４に接続されている。複写機
などであれば、画像作像状態を測定する手段として感光
体１６の表面電位を測定する表面電位計が用いられてい
るので、上記電位測定手段１８として、上記表面電位計
を兼用してもよいし、表面電位計と同様のものを用いて
もよい。電位測定手段１８として上記表面電位計を兼用
すれば、省コスト、省スペースになる。

【００３０】コンデンサー２ａとランプ１との接続部９
に異常があったり、ランプ１自体の劣化や不良などが発
生すると原稿面への照射光量は減少する。すると、感光
体１６の面に形成される潜像電位の値が高くなり、現像
された画像は全体が暗くなって地肌汚れ画像などにな
る。接続部９の異常によるコンデンサー２ａとランプ１
との間のインピーダンスと潜像電位との関係を図１１に
示す。図１１からわかるように、接続部９に異常があっ
て上記インピーダンスが高くなるに従い、潜像電位が高
くなる。この潜像電位測定時は、一般の原稿の代わりに
基準パターンを記した基準原稿を用いて感光体１６に露
光し、原稿の画像を潜像として形成する。上記基準パタ
ーンは予め装置に設けておくとよい。上記のように、コ
ンデンサー２ａとランプ１との間のインピーダンスの変
化によって潜像電位が変化する現象を利用することによ
っても、接続部９に異常があるのかまたはフラッシュラ
ンプ１に異常があるのかを判断することができる。この
判断動作を以下説明する。

【００３１】図８において、８０１で電源スイッチ１４
をオンし、８０２で帯電器２０をオンして感光体１６に
帯電させ、８０３でランプ１に発光動作を行わせて上記
基準パターンの画像を感光体１６の表面に潜像として形
成する。８０４で電位測定手段１８により感光体１６上
に形成された潜像の電位を測定する。８０５で潜像電位
の測定値が予め定めた設定値ｃ以上であるかどうかを判
断し、測定値が設定値ｃ以下である場合は、接続部９も
フラッシュランプ１も正常であると判断できるので、複
写機であれば通常の複写動作を続ける。測定値が設定値
ｃよりも高ければ、接続部９またはフラッシュランプ１
の異常と考えられるので、次のステップ８０６に進む。
ただし、ステップ８０６は図６に示す前述の実施の形態
のステップ６０５〜６１４と同じで、コンデンサー２ａ
を所定の電圧Ｖｏまで充電したあと、放電抵抗１１を通
じて放電させ、時間Ｔａで放電を停止させ、そのときの
コンデンサー２ａの充電電圧Ｖが前述の所定の電圧Ｖａ
よりも高いか低いかで、接続部９の異常であるかまたは
フラッシュランプ１の異常であるかを判定することがで
きる。

【００３２】図６におけるステップ６０２、図７におけ
るステップ７０２、図８におけるステップ８０３の発光
動作の具体例を図９に示す。図９において、９０１で出
力データの一つとしてＣＰＵ４からフラッシュ電源２へ
発光電圧データを出力し、９０２でＣＰＵ４からフラッ
シュ電源２へ充電信号を出力する。この充電信号により
フラッシュ電源２ではコンデンサー２ａへ充電を開始す
る（９０３）。９０４で充電の完了を待ち、９０５でフ
ラッシュ電源２からＣＰＵ４へ充電完了信号を出力す
る。９０６でＣＰＵ４からフラッシュ電源２へ発光トリ
ガ信号を出力し、このトリガ信号により９０７で発光動
作が行われる。この発光動作は、複写機、ファクシミリ
等の装置本来の機能を果たすための発光動作であって、
これによって原稿画像の複写、原稿画像の伝送等が行わ
れる。

【００３３】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、コンデン
サーに蓄積された発光エネルギーでフラッシュランプを
発光させ、上記コンデンサーとランプを接続する接続部
を有してなる照明装置において、上記接続部よりもラン
プ側にランプと並列に接続された放電抵抗と、この放電
抵抗に直列に接続された開閉手段と、ランプ発光照度を
測定する光学測定手段とを備え、光学測定手段により測
定されたランプ発光照度が設定値以下になったとき、上
記開閉手段を閉じて放電抵抗によるコンデンサーの放電
回路を形成し、放電開始後のコンデンサー電圧を充電電
圧検出手段で検知するようにしたため、充電電圧検出手
段で検知された放電開始後のコンデンサー電圧が、予め
設定された値以下であるかいなかによって、上記接続部
の接続異常であるかまたはその他の異常であるかを検知
することができる。これによって、上記接続部のソケッ
トとプラグとの経時的な接続劣化が発見し易くなり、ソ
ケットとプラグの破損を未然に防止でき、また、上記接
続部の異常ではない場合、フラッシュランプの劣化であ
ることも容易に見分けることができる。

【００３４】請求項２記載の発明によれば、コンデンサ
ーに蓄積された発光エネルギーでフラッシュランプを発
光させ、上記コンデンサーとランプを接続する接続部を
有してなる照明装置において、上記接続部よりもランプ
側にランプと並列に接続された放電抵抗と、この放電抵
抗に直列に接続された開閉手段と、上記コンデンサーと
上記接続部の間に設けられた電流制限部材と、この電流
制限部材の温度を測定する温度測定手段とを備え、上記
温度測定手段によって測定された電流制限部材の温度が
ある一定の温度よりも下がったとき、開閉手段を閉じて
放電抵抗によるコンデンサーの放電回路を形成し、放電
開始後のコンデンサー電圧を充電電圧検出手段で検知す
るようにしたため、温度測定手段によって測定された電
流制限部材の温度が予め設定された値以下であるかいな
かによって、上記接続部の接続異常であるかまたはその
他の異常であるかを検知することができる。これによっ
て、上記接続部のソケットとプラグとの経時的な接続劣
化が発見し易くなり、ソケットとプラグの破損を未然に
防止でき、また、上記接続部の異常ではない場合、フラ
ッシュランプの劣化であることも容易に見分けることが
できる。

【００３５】請求項３記載の発明によれば、コンデンサ
ーに蓄積された発光エネルギーでフラッシュランプを発
光させ、上記コンデンサーとランプを接続する接続部
と、フラッシュランプによって照明された原稿画像の潜
像が形成される感光体とを有してなる画像形成装置の照
明装置において、上記接続部よりもランプ側にランプと
並列に接続された放電抵抗と、この放電抵抗に直列に接
続された開閉手段と、感光体上の潜像電位を測定する電
位測定手段とを備え、電位測定手段によって測定された
潜像電位値がある設定値以上になったとき、開閉手段を
閉じて放電抵抗によるコンデンサーの放電回路を形成
し、放電開始後のコンデンサー電圧を上記充電電圧検出
手段で検知するようにしたため、電位測定手段によって
測定された潜像電位値がある設定値以上であるかいなか
によって、上記接続部の接続異常であるかまたはその他
の異常であるかを検知することができる。これによっ
て、上記接続部のソケットとプラグとの経時的な接続劣
化が発見し易くなり、ソケットとプラグの破損を未然に
防止でき、また、上記接続部の異常ではない場合、フラ
ッシュランプの劣化であることも容易に見分けることが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明にかかる照明装置の実施の形態を示す回
路図である。

【図２】本発明に適用可能な接続部の例を示す一部断面
側面図である。

【図３】上記実施の形態において接続部が正常な場合と
異常な場合のコンデンサーの放電時間と電圧との関係を
示すグラフである。

【図４】上記実施の形態において接続部を経由してコン
デンサーの放電回路を形成した場合を示す等価回路図で
ある。

【図５】上記実施の形態においてコンデンサーとフラッ
シュランプとの間のインピーダンスと発光光量との関係
を示すグラフである。

【図６】上記実施の形態の動作例を示すフローチャート
である。

【図７】上記実施の形態の別の動作例を示すフローチャ
ートである。

【図８】上記実施の形態のさらに別の動作例を示すフロ
ーチャートである。

【図９】図６、図７、図８における発光動作を示すフロ
ーチャートである。

【図１０】上記実施の形態においてコンデンサーとフラ
ッシュランプとの間のインピーダンスと電流制限部材で
あるリアクトルの温度との関係を示すグラフである。

【図１１】上記実施の形態においてコンデンサーとフラ
ッシュランプとの間のインピーダンスと感光体に形成さ
れる潜像の電位との関係を示すグラフである。

【符号の説明】

１ フラッシュランプ ２ａ コンデンサー ５ 充電電圧検出手段 ９ 接続部 １０ａ 開閉手段 １１ 放電抵抗 １５ 光学測定手段 １６ 感光体 １７ 温度測定手段 １８ 電位測定手段 １９ 電流制限部材

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 フラッシュランプと、このフラッシュラ
   ンプの発光エネルギーを蓄えるコンデンサーと、このコ
   ンデンサーの充電電圧を検出する充電電圧検出手段と、
   上記コンデンサーとランプを接続する接続部とを有して
   なる照明装置において、 上記接続部よりもランプ側にランプと並列に接続された
   放電抵抗と、 この放電抵抗に直列に接続された開閉手段と、 ランプ発光照度を測定する光学測定手段とを備え、 光学測定手段によって測定されたランプ発光照度が設定
   値以下になったときに、上記開閉手段を閉じて上記放電
   抵抗による上記コンデンサーの放電回路を形成し、放電
   開始後のコンデンサー電圧を上記充電電圧検出手段で検
   知することを特徴とする照明装置。
2. 【請求項２】 フラッシュランプと、このフラッシュラ
   ンプの発光エネルギーを蓄えるコンデンサーと、このコ
   ンデンサーの充電電圧を検出する充電電圧検出手段と、
   上記コンデンサーとランプを接続する接続部とを有して
   なる照明装置において、 上記接続部よりもランプ側にランプと並列に接続された
   放電抵抗と、 この放電抵抗に直列に接続された開閉手段と、 上記コンデンサーと上記接続部の間に設けられた電流制
   限部材と、 この電流制限部材の温度を測定する温度測定手段とを備
   え、 上記温度測定手段によって測定された電流制限部材の温
   度がある一定の温度よりも下がったとき、上記開閉手段
   を閉じて上記放電抵抗による上記コンデンサーの放電回
   路を形成し、放電開始後のコンデンサー電圧を上記充電
   電圧検出手段で検知することを特徴とする照明装置。
3. 【請求項３】 フラッシュランプと、このフラッシュラ
   ンプの発光エネルギーを蓄えるコンデンサーと、このコ
   ンデンサーの充電電圧を検出する充電電圧検出手段と、
   上記コンデンサーとランプを接続する接続部と、上記フ
   ラッシュランプによって照明された原稿画像の潜像が形
   成される感光体とを有してなる画像形成装置の照明装置
   において、 上記接続部よりもランプ側にランプと並列に接続された
   放電抵抗と、 この放電抵抗に直列に接続された開閉手段と、 上記感光体上の潜像電位を測定する電位測定手段とを備
   え、 上記電位測定手段によって測定された潜像電位値がある
   設定値以上になったとき、上記開閉手段を閉じて上記放
   電抵抗による上記コンデンサーの放電回路を形成し、放
   電開始後のコンデンサー電圧を上記充電電圧検出手段で
   検知することを特徴とする照明装置。